JP2015075448A - Atr素子、及び、液浸プローブ - Google Patents

Atr素子、及び、液浸プローブ Download PDF

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Abstract

【課題】近赤外領域の測定光を用い、かつ、測定光に対する吸収係数の小さい物質であっても、物質の状態を正確に特定できるATR素子を提供する。
【解決手段】ATR素子10は、周方向に連なる反射面13を有する素子本体11と、素子本体11に測定光DLを入射させる入射面19と、入射面19から入射され、素子本体11の反射面13で反射される測定光DLが外部に出射される出射面21とを備える。入射面19から入射した測定光DLは、反射面13で反射を繰り返しながら、螺旋状の通過経路を辿り、第2端面17に到達する。測定光DLは、ここで反射されて、今度は、第1端面15に向けて、反射面13で反射を繰り返しながら、螺旋状の通過経路を辿り、出射面21から外部に向けて出射される。
【選択図】図4

Description

本発明は、例えば合成樹脂の反応基の濃度変化を測定するのに好適な液浸プローブに関し、特にATR素子に関する。
ポリウレタン、ポリエステルなどの合成樹脂を作製する過程で、反応の進行程度を把握するために、測定対象である反応液が含む反応基(例えば、−NCO,−OH,−COOH)の濃度の変化をインラインで正確に測定することが求められる。
これまで、反応液中に浸漬される検知素子と、検知素子に測定光を照射する照射用光ファイバと、測定対象を通過した測定光を受光する受光用光ファイバと、を備える液浸プローブが知られている(例えば、特許文献1)。この液浸プローブは、検知素子に測定対象が充填される空隙部を設け、この空隙部に充填される測定対象を透過する測定光を受光用光ファイバで受光する。測定光は空隙部の測定対象を透過する際に一部の波長成分が吸収されるため、受光用光ファイバで受光した測定光を分析することで、反応基の濃度を測定することができる。しかし、化学反応槽の中では反応液が撹拌されているので、撹拌に伴う気泡が混じった反応液が空隙部に充填されることがあり、この気泡は反応基の濃度検知にとってノイズとなり、正確な濃度の測定が困難になる。
ここで、物質を分析・測定する手法の一つとして、ATR法(全反射減衰法:Attenuated Total Reflection))が知られている。このATR法を適用した液浸プローブも知られている(例えば、特許文献2)。
なお、ATR法による分析の要旨は、概略以下の通りである。屈折率の大きいATR素子(典型的には結晶)に測定対象を密着させ、測定光の入射角を臨界角よりも大きくとり、測定対象とATR物質の間で全反射が起きるように設定する。全反射が生じるとき、測定対象とATR素子の界面で光は測定対象の側に少しだけもぐりこんでから反射されてくる。この反射光はエバネッセント(evanescent)光と称される。測定対象において測定光を吸収する領域では、吸収の強さに応じて測定対象固有の波長における反射光のエネルギーが減少する。この反射光のスペクトルを測定することにより物質の分析・測定をすることができる。
特開2009−250825号公報 特開2004−85433号公報
上述した合成樹脂の反応基の濃度を測定することを想定すると、液浸プローブを浸漬する反応液を収容する反応槽から測定結果が伝えられる分光光度計までの距離が相当に離れることがある。この間を光ファイバで結ぶことになるので、液浸プローブに照射する測定光の波長が問題となる。
反応基の濃度を正確に測定することを念頭に置くと、例えば2500nm以上の波長域の測定光を用いることが推奨されるが、この波長域の光は光ファイバにおける減衰が大きくなるために、実用化が困難である。一方、波長が1000〜2000nmの近赤外線領域の光は、光ファイバにおける減衰が小さく、光ファイバによる導光の問題はない。しかし、近赤外線領域の光は、反応基における吸収係数が極端に小さいために、反応基の濃度測定を正確に行なうことは困難である。
本発明は、以上の技術的課題に基づいてなされたもので、光ファイバによる導光が容易である近赤外領域の測定光を用い、かつ、当該測定光に対する吸収係数の小さい物質であっても、物質の状態を正確に特定できるATR素子を提供することを目的とする。
吸収係数の小さい物質を測定対象とする場合には、反射回数をできるだけ多くすることにより、測定光がプローブに入射してから出射されるまでの間に測定対象に吸収される合計の光量を増やすことが望まれる。
ATR法を適用したプローブは、反射回数が1回の単反射型のものに加えて、反射回数が複数回の多重反射型のものが知られている。ところが、これまで知られている台形状の多重反射型プローブのATR素子は、反射回数が20回程度であるために、本発明が志向する測定対象には未だ不十分である。
そこで本発明者等は、これまでに比べて格段に多い反射回数が得られる液浸プローブを実現できるATR素子を検討した。その結果、周方向に連なる側面を反射面とするATR素子を用い、当該反射面に測定光を連続的に反射させて、エバネッセント光を有効的に活用することにより、これまでの多重反射を凌駕する回数の反射が得られるであろうことを知見した。
本発明のATR素子は、この知見に基づくものであり、軸対称な立体からなり、周方向に連なる反射面と軸方向に対向する一対の端面とを有する素子本体と、素子本体に測定光を入射させる入射部と、入射部から入射され、素子本体の反射面で反射される測定光が外部に出射される出射部と、を備え、入射部から入射した測定光が、反射面で反射を繰り返しながら、螺旋状の通過経路を辿り、出射部から外部に向けて出射されるATR素子であって、入射部と出射部とが、素子本体の一対の端面のいずれか一方に配設されることを特徴とする。
本発明のATR素子によると、入射部に入射した測定光は、ATR素子の内部で反射を繰り返して出射部に達するまでに、往路と復路を辿る。つまり、入射部から入射した測定光は、反射面(周方向に連なる側面)で反射を繰り返しながら、螺旋状の通過経路を辿り、対向する他方の端面に到達する。これが往路である。他方の端面に到達した測定光は、当該端面で反射されると、反射面で反射を繰り返しながら、螺旋状の通過経路を辿り、入射した側の端面に設けられる出射部に達し、そこから外部に出射される。これが復路である。
本発明のATR素子は、このように、往路及び復路の各々において、反射を繰り返すことができるので、従来の多重反射型のATR素子では得られない回数の反射を実現する。
本発明のATR素子において、測定光が、反射面で反射を繰り返しながら、螺旋状の通過経路を辿るために、入射部は、素子本体の対称軸に直交する基準断面xにおいて、対称軸から基準断面xの外周までの距離の80%以上、100%未満の位置にあること(条件A)、及び、基準断面xと45度以下の角度をなしていること(条件B)が好ましい。
条件Aは、専ら、測定光が反射する回数を稼ぐために要求される。
条件Bは、専ら、測定光が螺旋状の通過経路を辿るために要求される。
本発明のATR素子は、素子本体が、円柱状の形態を有していることが好ましい。
円柱状の素子本体は、反射面が円弧面になり、この反射面は対称軸からの距離が一定である。
本発明のATR素子において、素子本体は、入射部及び出射部が、当該端面に窪みを形成することで設けられることが好ましい。
入射部及び出射部を窪みに形成する方が、素子本体の端面を突出させて形成するよりも容易だからである。
本発明のATR素子において、入射部及び出射部は、当該端面の外周に連なって形成されることが、反射の回数を増やす上で好ましい。
本発明は、以上説明した本発明のATR素子を用いた液浸プローブを提供する。
つまり、この液浸プローブは、軸対称な立体からなり、周方向に連なる反射面を有する素子本体と、素子本体に測定光を入射させる入射部と、入射部から入射され、素子本体の反射面で反射される測定光が外部に出射される出射部と、を備えるATR素子と、光源から出射される測定光を入射部に導く第1導光手段と、出射部から出射される測定光を所定の部位まで導く第2導光手段と、を備え、ATR素子が以上説明した本発明のATR素子からなることを特徴とする。
本発明の液浸プローブは、用いるATR素子の反射面における測定光の反射回数を稼ぐことができ、しかもエバネッセント光をも有効的に活用することができるので、測定光に対する吸収係数の小さい物質であっても、物質の状態を正確に測定するのに寄与する。
本発明の液浸プローブにおいて、第1導光手段は、光源から出射される測定光を導く第1線状導光部と、線状導光部から受交した測定光を入射部に向けて屈折させる第1屈折部と、を備え、第2導光手段は、出射部から出射される測定光をATR素子の軸線方向に沿って屈折させる第2屈折部と、第2屈折部から受交した測定光を所定の部位まで導く第2線状導光部と、を備えることが好ましい。
入射部に対応する第1屈折部を設けることにより、任意の向きから入射部に測定光を入射させることができる。例えば、入射部が素子本体の軸線方向に対して傾斜していても、軸線方向に沿って導かれる測定光を必要な角度だけ屈折させて入射部に入射させることができる。また、出射部に対応する第2屈折部についても同様であり、出射された測定光を任意の向きに引き出すことができる。なお、第1線状導光部及び第2線状導光部は、典型的には、光ファイバから構成される。また、第1屈折部、第2屈折部は、典型的には、プリズムから構成される。
また、本発明の液浸プローブにおいて、入射部と出射部とが設けられる側の素子本体を保持するホルダを備え、このホルダは、入射部と出射部を含む領域を、外部から気密に封止することが好ましい。そうすることで、測定対象が入射部及び出射部に付着するのを避けることができる。
さらに、本発明の液浸プローブにおいて、第1導光手段は、入射部に向けて測定光を平行化する光学手段を備え、第2導光手段は、出射部から出射される測定光を集光する光学手段を備えることが好ましい。
平行化する光学手段は、入射部における拡散損失を低減するのに有効であり、集光する光学手段は、信号光損失を低減するのに有効である。
本発明によれば、周方向に連なる側面を反射面とするATR素子を用い、当該反射面に対して測定光を連続的に反射させることにより、これまでには得られない回数の反射を実現する。その結果、近赤外領域の測定光を用い、かつ、当該測定光に対する吸収係数の小さい物質であっても、物質の状態を正確に測定できる。
さらに、本発明によれば、有機・無機を問わず、合成樹脂製品、液晶製品、顔料製品など、製造過程で合成反応を有するものであれば、その合成反応過程をモニタリングすることにより、所望とされる最終製品の製造を好適に行うことができ、反応生成物の製造方法を提供することができる。しかも、化学品、医薬品、粉体工業品、食品等、各分野の製造に係わるプロセス管理のみならず、業種別では、化学、ポリウレタン、ポリエステル、エポキシ、反応性ホットメルトに代表される各種樹脂並びにプラスチック、試験・分析・測定、医薬品・バイオ、教育・研究機関等の幅広い利用が可能である。
本実施形態における円柱状のATR素子を示す図であり、(a)は平面図、(b)は側面図である。 本実施形態の条件Aを説明する図である。 本実施形態の条件Bを説明する図である。 図1のATR素子における測定光の通過経路を模式的に示す図であり、(a),(b)は往路を示し、(c),(d)は復路を示す。 本実施形態における入射面、出射面の他の形態を示す図である。 本実施形態のATR素子を用いた分光光度計の構成を示す図である。 図6の分光光度計に用いられる液浸プローブの構成を示し、(a)は入射面を含む断面図であり、(b)は出射面を含む断面図である。 本実施形態の効果を確認するために行った実験の概要を示す図である。 実施例1、比較例1の結果を示すグラフであり、(a)は本実施形態による液浸プローブを用いた結果、(b)は従来の液浸プローブを用いた結果を示す。 実施例2、比較例2の結果を示すグラフであり、(a)は本実施形態による液浸プローブを用いた結果、(b)は従来の液浸プローブを用いた結果を示す。
以下、添付図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。
本実施形態にかかるATR素子10は、図1に示すように、素子本体11と、素子本体11に一体的に設けられ、同じ側の端面に形成される入射面19及び出射面21とを備えている。
[素子本体11]
素子本体11は、軸対称の一形態である円柱状をなしており、外周面13と、対称軸yの方向に対向する一方の端面(第1端面)15及び他方の端面(第2端面)17を備えている。ここで、外周面13は、素子本体11をその周囲と区画する面であるが、ATR素子10においては、素子本体11の内部を進む光をその内側で反射する面として機能する。したがって、光の反射に係る事項については、外周面13を反射面13と称することがある。
素子本体11は、高い屈折率を有し、光を照射することにより全反射が生じうる素材を広く適用することができる。例えば、石英ガラス、サファイア、立方晶ジルコニア(cubic-ZrO)、セレン化亜鉛(ZnSe)、硫化亜鉛(ZnS)、ダイアモンドなどが該当する。この中では、コストをも考慮すると、屈折率が高く、被検体に対して不活性であることから、立方晶ジルコニア又はサファイアが好ましい。
[入射面19]
入射面19は、素子本体11の第1端面15に設けられており、ATR素子10を備える液浸プローブにより、測定対象に測定光として赤外光を照射する際に、測定光を素子本体11に入射させる面である。
入射面19は、その法線Nが反射面13に対して以下の2つの条件A,Bを満たすように形成されている。この2つの条件A,Bは、ATR素子10に入射した測定光が、反射面13で複数回の反射を繰り返すことで、第2端面17に向けて、螺旋状の通過経路を辿るために必要である。入射面19の法線Nは、測定光の光軸を代替している。
なお、実際の測定光DLは、例えば光ファイバなどにより導入される、一定の強度分布を有する光束であり、エバネッセント光の存在下で、この光束がATR素子10の反射面13により螺旋状の通過経路を辿ることになるが、以下の説明においては、簡単のため、光の入射・反射などは単純なモデルで説明する。
条件Aは、入射面19の法線Nが、図2(a)に示すように、対称軸yに直交する基準断面xの半径rの80%以上、100%未満の領域に存在することを規定する。この条件Aは、反射面13において、測定光DLがより多く反射するために要求される。つまり、図2(b)と図2(c)を比較すると判るように、測定光DLがより外周面(反射面)13の近くに入射される方が、反射面13により反射される回数が多くなる。
本実施形態の入射面19は、条件Aに従って、第1端面15の外周面13に連なって設けられている。このように、入射面19を素子本体11の最外周に設けることで、反射面13で反射される回数を増やすことができる。
次に、条件Bは、入射面19の法線Nが、基準断面xとなす角度θNSが45度以下であることを規定する。この条件Bは、測定光DLが螺旋状の通過経路を辿るために要求される。
つまり、図3(a)に示すように、法線Nが基準断面xと平行、つまり角度θNSが0度だとすれば、測定光DLは反射面13で向きが反対の反射光となるので、理論上は、測定光DLは同一の基準断面xの範囲内で反射を繰り返すことになる。
図3(a)の状態を脱して測定光DLが螺旋状の通過経路を辿るためには、角度θNSが0度を超えればよい。ただし、この角度θNSが図3(b)に示すように大きすぎると、通過経路における螺旋のピッチが大きくなるので、反射の回数を増やす上で不利である。そこで、図3(c)に示すように、角度θNSを45度以下にすることが好ましい。反射の回数は、角度θNSが小さいほど多くなるので、角度θNSは30度以下がより好ましく、15度以下がさらに好ましい。
次に、入射面19は、第1端面15に窪み20を形成することで設けられる。つまり、もともとは平坦な第1端面15の一部を切削することで、窪み20を形成し、窪み20の形成に伴って形成される壁面を入射面19とする。なお、この壁面(入射面19)は平面状に形成されている。また、入射光の干渉を低減できる範囲であれば、入射光の強度を確保する点から、この窪み20を第1端面15に平面視して同一回転方向の複数個所に設けても構わない。
接合面における反射や屈折による測定光DLの損失を低減する観点からは、突出部分を含めて素子本体11は一体的に形成されていることが好ましいが、上記の切削加工によれば、簡便に一体的に形成することができるので好適である。
入射面19は、出射面21とともに、図5(c),(d)に示すように、平坦な第1端面15の一部を突出させて形成することもできる。この場合は、素子本体11の製作にあたって、突出部分と素子本体11の要部とを個別に作製しておいて接合する方法が考えられるが、この場合においても、接合面における反射や屈折による測定光DLの損失を低減する観点からは、突出部分を含めて素子本体11は一体的に形成されていることが好ましい。
この一体的構造を実現するにあたっては、突出部分を考慮した寸法に素子本体11を形成した後に突出部分以外の部分を切削により除去すればよい。
このように、1つの入射面19を形成する場合には、窪み20を切削加工するほうが(図1(b)参照)、突出部分以外の部分を切削加工するよりも(図5(c),(d)参照)、工数や材料費の観点から好適であるが、複数個の入射面を形成する場合には、工数や材料費の観点からは、いずれの方法も採用することができる。このことは、出射面21についても同様にあてはまる。
[出射面21]
出射面21は、入射面19から入射した測定光DLが、反射面13で複数回の反射を繰り返して螺旋状の通過経路を辿った後に、外部に取り出すために設けられている。したがって、出射面21は、通過経路に位置に設けられることになる。出射面21も、入射面19と同様に、窪み22に設けられている。
本実施形態の出射面21は、第1端面15であって、入射面19が設けられる側とは、中心を挟んで反対側に設けられている。したがって、出射面21は、入射面19と同様に、前述した条件A、条件Bを備えている。ただし、これは好ましい形態であって、基本的には、螺旋状の通過経路に対応する位置であれば機能する。
これは、上述したように、測定光DLは一定の強度分布を有する光束であることから、この光束が螺旋状の通過経路Pを通過することにより、必ず出射面21から出射されることになるからである。
[反射形態]
さて、以上説明したATR素子10は、図4(a),(b)に示すように、測定光DLが入射面19から素子本体11の内部に入射されると、反射面13で全反射を繰り返しながら、第1端面15の側から第2端面17の側に向けて、螺旋状の通過経路Pを辿り、第2端面17に到達する。ここまでが、通過経路Pの往路Pである。第2端面17に到達した測定光DLは、図4(c),(d)に示すように、第2端面17で反射し、今度は、第1端面15の側に向けて、反射面13で全反射を繰り返しながら、螺旋状の通過経路P、つまり往路Pを辿る。測定光DLは、第1端面15に設けられる出射面21から外部に向けて出射される。なお、ATR素子10の反射面13は、その一部が測定対象に接していれば良いが、螺旋状の通過経路Pの全てを有効活用する観点からは、ATR素子10を測定対象内に浸漬させて、反射面13の全周に亘り測定対象に接していることが好ましい。
以上説明したように、ATR素子10によれば、測定光DLが周方向に連なる反射面13を連続的に反射され、かつ、その反射が軸方向にも連続するので、測定光DLの反射回数を著しく多くすることができる。しかも、ATR素子10によれば、測定光DLの通過経路Pが往路Pと往路Pからなるので、通過経路Pが往路Pだけからなる場合と比べると、反射回数を倍増できる。
[出射面、反射面の変更例]
ATR素子10の入射面19と出射面21は、独立する窪み20と窪み22に各々設けられるが、本発明は、図5(a),(b)に示すように、窪み20,22を繋げることで、共通する斜面の一端に入射面19を他端に出射面21を設けることもできる。
また、前述したように、本発明は、図5(c),(d)に示すように、入射面19と出射面21を、第1端面15の一部を突出させて形成することもできる。
[分光光度計]
次に、ATR素子10を用いたFourier Transform Infrared Spectroscopy分光光度計1について、図6及び図7を参照して説明する。
分光光度計1は、図6に示すように、ATR素子10を備えるATRプローブ30と、光源3と、分光器5と、光検出器7と、データ処理・表示装置9と、を備えている。光源3とATRプローブ30の間、ATRプローブ30と分光器5の間、分光器5と光検出器7の間、光検出器7とデータ処理・表示装置9の間は、光ファイバにより接続されている。
光源3は、測定光DLを生成し、かつ、ATRプローブ30(ATR素子10)に向けて出射する。光源3としては、特に限定されるものではなく、ハロゲンタングステンランプ、その他の公知の光源を用いることができる。
測定光DLを、ATR素子10の入射面19に入射させる前に、コリメートレンズ4を通過させることによって平行化することが、入射面19における拡散損失を低減するのに有効である。
また、測定光DLを入射面19に入射させる際には、入射面19に対して垂直にすることが、入射面19における反射損失を低減するのに有効である。
さらに、出射面21から出射される測定光DLが光ファイバ37に入射される前に、集光レンズ6を通過させることによって集光することが、信号光損失を低減するのに有効である。
分光器5は、ATRプローブ30から出射される光線を受光するとともに、波長別に分ける。分光器5としては、特に限定されるものではなく、回折格子分光器、FTIR分光器、その他の公知の分光器を用いることができる。
光検出器7は、分光器5で分光された光を受光して検出する。光検出器7としては、特に限定されるものではなく、フォトダイオード、アバランシェ・フォトダイオード、光電子倍増管、その他の公知の光検出器を用いることができる。
データ処理・表示装置9は、光検出器7から受光した赤外光に基づいてスベクトル情報を生成するとともに、生成されたスペクトル情報を画像情報として表示する。データ処理・表示装置9については、特に限定されるものではなく、データ処理部分については、パーソナルコンピュータを用いることができ、また、表示部分については、パーソナルコンピュータに付随する表示装置を用いることができる。
ATRプローブ30は、図7に示すように、ATR素子10の第1端面15の側にホルダ31を備えている。
ホルダ31は、第1端面15の側を保持するとともに、入射面19に照射する測定光DLを光源3から導く光ファイバ35を固定する。また、ホルダ31は、出射面21から出射される測定光DLを分光器5に導く光ファイバ37を固定する。
ホルダ31とATR素子10の間に、Oリング39を設けることにより外部から気密に封止して、保持部分の内部へ測定対象が侵入して入射面19及び出射面21に付着するのを防止する。
ATR素子10は、第1端面15に入射面19と出射面21を設けているので、光ファイバ35と光ファイバ37を一方の端面である第1端面15に配置できるとともに、内部を気密に封止するホルダ31を一つだけ設ければ足りる。
なお、図7に示すように、本発明は、プリズム23により測定光DLを屈折させて入射面19に入射させること、また、出射面21から出射した測定光DLをプリズム23により屈折させることを許容する。プリズム23を用いることにより、光ファイバ35を対称軸yに平行に引き回すことができる。
分光光度計1は、図8に示すように、ATRプローブ30を液状の測定対象Sに浸漬した状態で、光源3からの測定光DLが光ファイバ35を介してATR素子10の入射面19に入射され、出射面21から出射された測定光DLが光ファイバ37で受光されとともに分光器5に導かれる。以後、光検出器7及びデータ処理・表示装置9を経て、測定対象のスペクトル情報を表示させることで、測定対象の反応状態を把握することができる。
この過程において、ATR素子10の中では、測定光DLは、反射面13で反射する回数が多いために、測定対象Sに対する固有の波長が吸収される程度が顕著となる。加えてATRプローブ30は、ATR素子10の外周面13に接する測定対象Sを測定するものであるから、気泡の存在による測定誤差が生ずるおそれが小さい。したがって、ATR素子10を用いる分光光度計1は、高い精度の測定が可能になる。
分光光度計1の測定対象Sは任意であるが、反応基(例えば、−NCO,−OH,−COOH)を含む、合成樹脂の製造過程の反応液を測定対象Sにすると、反応の進行程度を正確に把握することができる。
したがって、有機・無機を問わず、合成樹脂製品、液晶製品、顔料製品など、製造過程で合成反応を有するものであれば、その合成反応過程をモニタリングすることにより、所望とされる最終製品の製造を好適に行うことができ、化学品、医薬品、粉体工業品、食品等、各分野の製造に係わるプロセス管理のみならず、業種別では、化学、ポリウレタン、ポリエステル、エポキシ、反応性ホットメルトに代表される各種樹脂並びにプラスチック、試験・分析・測定、医薬品・バイオ、教育・研究機関等の幅広い利用が可能である。
[実施例]
以下、本発明を実施例に基づいてより詳細に説明する。
(実施例1)
本実施形態に従うATR素子10の効果を確認する実験、特にATR素子10の周囲に意図的に気泡を生じさせる実験を行った。
実験に用いたATR素子(図1)の製作条件は以下の通りである。
材質:サファイア
形状:円柱(直径20mm、測定対象Sに浸漬する有効長30mm)
角度θNS:2.5度(推定螺旋ピッチ1.75mm)
測定光入射半径位置:0.915r(反射経路は推定12角形状)
推定反射回数:411回
また、分光光度計を構成した条件は以下の通りである。
光源:ハロゲンタングステンランプ Ocean Optics社製「HL−2000」
分光器:回折格子分光器 HORIBA社製「microHR」,600線/mm
光検出器:APD検出器 AUREA社製 「SPD−A−M1」
実験は、測定を開始して所定の時間が経過してから気泡を吹き付ける、というものである(図8参照)。なお、蒸留水を測定対象Sとして用い、分光器5の分光波長は1400nmである。
(比較例1)
実施例1と同様にして、測定対象Sが充填される空隙部Tを有する透過型プローブ(Hellma社製の「IN237P10」)130についても行った。
結果を図9に示すが、比較例1(図9(b))は気泡の吹き付けを開始してから、測定結果が大きくぶれているのに対して、本実施形態に従う実施例1(図9(a))は、気泡の吹付の前後で測定結果に差異はないことが確認された。すなわち、本実施形態においては、気泡の有無により測定結果に影響がないことが分かる。
(実施例2)
実施例1のATR素子10を測定対象Sである蒸留水中に浸漬させ、吸光度スペクトルを測定した(図10(a))。
測定条件は、実施例1の分光光度計を用い、分光器の選択波長を1nm刻みで1000nmから1700nmの範囲に亘って行った。
(比較例2)
実施例2と同様にして、Hellma社製のATR素子「661.820−NIR」を用いて、吸光度スペクトルを測定した(図10(b))。
実施例2と比較例2の測定結果を図10に併せて示す。比較例(図10(b))の吸光度スペクトルでは、何らのピークも認めることができないのに対して、実施例2(図10(a))の吸光度スペクトルには、1070,1140,1210,1440nm付近に明確なピークが存在する。これらのピークは、水特有の(−OH)結合に由来すると推察される。図示は省略するが、実施例2によるスペクトルは、繰り返し測定した時の再現性が高いことが確認されていることから、本実施形態の分光光度計を用いて種々の物質のスペクトルの考察を深めることで、本実施形態によるATR素子10の周囲に存在する物質を同定できるようになることが期待される。
以上、本発明の好適な実施形態を説明したが、本発明の主旨を逸脱しない限り、上記実施の形態で挙げた構成を取捨選択したり、他の構成に適宜変更することが可能である。
例えば、素子本体11は第1端面15及び第2端面17が対称軸yに対して直交するが、本発明はこれに限定されず、対称軸yに対して傾斜していてもよい。また、素子本体11は第1端面15と第2端面17が互いに平行をなしているが、本発明はこれに限定されず、例えば、互いに向きが逆に傾斜していてもよい。
このように、本発明によれば、有機・無機を問わず、合成樹脂製品、液晶製品、顔料製品など、製造過程で合成反応を有するものであれば、その合成反応過程をモニタリングすることにより、所望とされる最終製品の製造を好適に行うことができ、化学品、医薬品、粉体工業品、食品等、各分野の製造に係わるプロセス管理のみならず、業種別では、化学、ポリウレタン、ポリエステル、エポキシ、反応性ホットメルトに代表される各種樹脂並びにプラスチック、試験・分析・測定、医薬品・バイオ、教育・研究機関等の幅広い利用が可能である。
1 分光光度計
3 光源
4 コリメートレンズ
5 分光器
6 集光レンズ
7 光検出器
9 データ処理・表示装置
10 ATR素子
11 素子本体
13 外周面,反射面
15 第1端面
17 第2端面
19 入射面
21 出射面
20,22 窪み
23 プリズム
30 ATRプローブ
31 ホルダ
35,37 光ファイバ
39 Oリング
DL 測定光
N 法線
T 空隙部
P 通過経路
往路
復路

Claims (9)

  1. 軸対称な立体からなり、周方向に連なる反射面と軸方向に対向する一対の端面とを有する素子本体と、
    前記素子本体に測定光を入射させる入射部と、
    前記入射部から入射され、前記素子本体の前記側面で反射される前記測定光が外部に出射される出射部と、を備え、
    前記入射部から入射した前記測定光が、前記反射面で反射を繰り返しながら、螺旋状の通過経路を辿り、前記出射部から外部に向けて出射されるATR素子であって、
    前記入射部と前記出射部とが、前記素子本体の一対の前記端面のいずれか一方に配設される、
    ことを特徴とするATR素子。
  2. 前記入射部は、
    前記素子本体の対称軸に直交する基準断面(x)において、前記対称軸から前記基準断面の外周までの距離の80%以上、100%未満の位置にあり、
    前記基準断面とは、0度を超え、45度以下の角度をなしている、
    請求項1に記載のATR素子。
  3. 前記素子本体は、
    円柱状の形態を有している、
    請求項1又は請求項2に記載のATR素子。
  4. 前記入射部及び前記出射部は、前記端面に窪みを形成することで設けられ、
    請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載のATR素子。
  5. 前記入射部及び前記出射部は、前記端面の外周に連なって形成される、
    請求項4に記載のATR素子。
  6. 軸対称な立体からなり、周方向に連なる反射面を有する素子本体と、前記素子本体に測定光を入射させる入射部と、前記入射部から入射され、前記素子本体の前記反射面で反射される前記測定光が外部に出射される出射部と、を備えるATR素子と、
    光源から出射される前記測定光を前記入射部に導く第1導光手段と、
    前記出射部から出射される前記測定光を所定の部位まで導く第2導光手段と、を備え、
    前記ATR素子が、請求項1〜5のいずれか一項に記載のATR素子である、
    ことを特徴とする液浸プローブ。
  7. 前記第1導光手段は、
    前記光源から出射される前記測定光を導く第1線状導光部と、前記線状導光部から受交した前記測定光を前記入射部に向けて屈折させる第1屈折部と、を備え、
    前記第2導光手段は、
    前記出射部から出射される前記測定光を前記ATR素子の軸線方向に沿って屈折させる第2屈折部と、前記第2屈折部から受交した前記測定光を所定の部位まで導く第2線状導光部と、を備える、
    請求項6に記載の液浸プローブ。
  8. 前記入射部と前記出射部とが設けられる側の前記素子本体を保持するホルダを備え、
    前記ホルダは、前記入射部と前記出射部を含む領域を、外部から気密に封止する、
    請求項6又は請求項7に記載の液浸プローブ。
  9. 前記第1導光手段は、
    前記入射部に向けて前記測定光を平行化する光学手段を備え、
    前記第2導光手段は、
    前記出射部から出射される前記測定光を集光する光学手段を備える、
    請求項6〜請求項8のいずれか一項に記載のの液浸プローブ。
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