JP2015072238A - Particle collection jig, particle collection method, and particle measuring device using the particle collection jig - Google Patents

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恭子 池田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a particle collection jig capable of promptly collecting particles over a wide range to be used for measurement of the particles.SOLUTION: A particle collection jig which is connected to a sampling nozzle 52 of a particle measuring part 300, collects particles in gas, and guides the collected particles to a particle counter of the particle measuring part 300, has: a top plate 11 the whole shape of which forms a cylindrical shape, and which constitutes one end face; a bottom plate 12 which constitutes the another end face; and a louver 13 which constitutes a side face. A hole 14 for taking the surrounding gas containing the particles in an internal space is formed through the top plate 11, an outlet 15 for guiding the gas containing the particles to the sampling nozzle 52 is formed on the bottom plate 12, and a plurality of blades 16 of the louver 13 are arranged so that the surrounding gas containing the particles is taken in the internal space while being revolved from gaps 17 among between blades.

Description

本発明は、パーティクルを捕集するパーティクル捕集治具およびパーティクル捕集方法、ならびにそれを用いたパーティクル計測装置に関する。   The present invention relates to a particle collecting jig and a particle collecting method for collecting particles, and a particle measuring apparatus using the same.

半導体デバイスを製造する際には、成膜、フォトリソグラフィ、エッチング等の種々の処理が存在するが、これらの処理においては、半導体基板上にパーティクルが付着すると、形成されたデバイスの性能が低下したり不良が発生したりするため、処理装置をクリーンルーム内に設置し、極めてパーティクルの少ない清浄な雰囲気で処理を行う必要がある。   When manufacturing a semiconductor device, there are various processes such as film formation, photolithography, and etching. In these processes, if particles adhere to the semiconductor substrate, the performance of the formed device deteriorates. Therefore, it is necessary to install the processing apparatus in a clean room and perform processing in a clean atmosphere with very few particles.

このため、クリーンルーム内や処理装置内のパーティクルの個数を計測器で計測し、発塵によるパーティクルの発生を速やかに検出し、クリーンルーム清浄度を保つことが求められている。   For this reason, it is required to measure the number of particles in a clean room or a processing apparatus with a measuring instrument, quickly detect the generation of particles due to dust generation, and maintain clean room cleanliness.

特許文献1には、クリーンルーム内で自走して、任意の箇所でノズルから空気を吸引し、計測器に導いてその箇所のパーティクルをリアルタイムで計測するクリーンルームの清浄度測定装置および方法が開示されている。   Patent Document 1 discloses a clean room cleanliness measuring apparatus and method that self-runs in a clean room, sucks air from a nozzle at an arbitrary location, guides it to a measuring instrument, and measures particles in that location in real time. ing.

特開2000−19095号公報JP 2000-19095 A

しかし、特許文献1に開示された技術では、発塵箇所のおおよその見当をつけて計測位置を決め、測定のためのノズルをその位置に配置して浮遊パーティクルをサンプリングするが、ノズルの吸引力が及ぶ範囲はノズルの極近傍に限られるため、直近のパーティクルしか捉えられず、計測位置が発塵箇所から少し外れただけで、発塵の検出を逃すことがある。   However, in the technique disclosed in Patent Document 1, the measurement position is determined by roughly registering the dust generation location, and the measurement nozzle is arranged at that position to sample floating particles. Since the range covered by is limited to the very vicinity of the nozzle, only the most recent particles can be captured, and detection of dust generation may be missed even if the measurement position deviates slightly from the dust generation location.

本発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって、パーティクルを広い範囲にわたって速やかに捕集してパーティクルの計測に供することができるパーティクル捕集治具およびパーティクル捕集方法を提供することを課題とする。
また、そのようなパーティクル捕集治具を用いたパーティクル計測装置を提供することを課題とする。
The present invention has been made in view of such circumstances, and provides a particle collecting jig and a particle collecting method that can quickly collect particles over a wide range and use them for particle measurement. Let it be an issue.
It is another object of the present invention to provide a particle measuring apparatus using such a particle collecting jig.

上記課題を解決するため、本発明の第1の観点では、パーティクル計測部のサンプリングノズルに接続され、気体中のパーティクルを捕集して前記パーティクル計測部のパーティクルカウンタに導くパーティクル捕集治具であって、前記パーティクル捕集治具は、全体形状が筒状をなし、かつ、一方の端面を構成する第1の板部材と、他方の端面を構成する第2の板部材と、側面を構成するルーバーとを有し、前記第1の板部材には、パーティクルを含む周辺の気体を内部空間に取り込む孔が形成され、前記第2の板部材には、パーティクルを含む気体を前記サンプリングノズルに導く排出口が形成され、前記ルーバーは、複数のブレードを有し、前記複数のブレードは、それらの間の隙間から、パーティクルを含む周辺の気体を旋回させながら内部空間に取り込まれるように配置されていることを特徴とするパーティクル捕集治具を提供する。   In order to solve the above problems, in a first aspect of the present invention, a particle collecting jig connected to a sampling nozzle of a particle measuring unit and collecting particles in a gas and leading the particles to a particle counter of the particle measuring unit. The particle collecting jig has a cylindrical shape as a whole, a first plate member constituting one end surface, a second plate member constituting the other end surface, and a side surface. The first plate member has a hole for taking in surrounding gas containing particles into the internal space, and the second plate member has gas containing particles in the sampling nozzle. A discharge port is formed, and the louver has a plurality of blades, and the plurality of blades do not swirl surrounding gas including particles from gaps between them. To provide a particle collecting jig, characterized in being arranged as incorporated into Luo interior space.

本発明の第2の観点では、パーティクル計測部のサンプリングノズルから気体中のパーティクルをサンプリングして前記パーティクル計測部のパーティクルカウンタに導く際に、気体中のパーティクルを捕集するパーティクル捕集方法であって、全体形状が筒状をなし、かつ、一方の端面を構成する第1の板部材と、他方の端面を構成する第2の板部材と、側面を構成するルーバーとを有するパーティクル捕集治具を前記サンプリングノズルに接続し、前記第1の板部材に形成された孔から、パーティクルを含む周辺の気体を内部空間に取り込み、前記ルーバーの複数のブレードの間の隙間から、パーティクルを含む周辺の気体を旋回させながら内部空間に取り込み、内部空間に取り込んだパーティクルを含む気体を前記第2の板部材に形成された排出口から前記サンプリングノズルに導くことを特徴とするパーティクル捕集方法を提供する。   According to a second aspect of the present invention, there is provided a particle collecting method for collecting particles in a gas when sampling particles in the gas from a sampling nozzle of the particle measuring unit and guiding the particles to the particle counter of the particle measuring unit. In addition, the overall shape is cylindrical, and includes a first plate member that constitutes one end surface, a second plate member that constitutes the other end surface, and a louver that constitutes a side surface. A tool is connected to the sampling nozzle, the surrounding gas containing particles is taken into the internal space from the hole formed in the first plate member, and the periphery containing the particles from the gaps between the plurality of blades of the louver. The gas containing the particles taken in the internal space is formed in the second plate member while swirling the gas in the internal space It provides a particle collecting method characterized by guiding the evacuation port to the sampling nozzle.

上記第1の観点および第2の観点において、前記パーティクル捕集治具は、全体形状が円筒状をなし、前記複数のブレードは、円周方向に対して斜めに配置されていることが好ましい。また、前記複数のブレードの円周方向に対する角度は、15〜80°であることが好ましい。また、前記パーティクル捕集治具は、縦に配置されていることが好ましい。   In the first and second aspects, it is preferable that the particle collecting jig has a cylindrical shape as a whole, and the plurality of blades are disposed obliquely with respect to a circumferential direction. The angle of the plurality of blades with respect to the circumferential direction is preferably 15 to 80 °. The particle collecting jig is preferably arranged vertically.

本発明の第3の観点では、サンプリングノズルからパーティクルを含む気体をサンプリングしてパーティクルカウンタによりパーティクルの個数を計測するパーティクル計測部と、前記サンプリングノズルに接続され、気体中のパーティクルを捕集するパーティクル捕集治具とを具備し、前記パーティクル捕集治具は、全体形状が筒状をなし、かつ、一方の端面を構成する第1の板部材と、他方の端面を構成する第2の板部材と、側面を構成するルーバーとを有し、前記第1の板部材には、パーティクルを含む周辺の気体を内部空間に取り込む孔が形成され、前記第2の板部材には、パーティクルを含む気体を前記サンプリングノズルに導く排出口が形成され、前記ルーバーは、複数のブレードを有し、前記複数のブレードは、それらの間の隙間から、パーティクルを含む周辺の気体を旋回させながら内部空間に取り込まれるように配置されていることを特徴とするパーティクル計測装置を提供する。   In a third aspect of the present invention, a particle measuring unit that samples a gas containing particles from a sampling nozzle and measures the number of particles by a particle counter, and a particle that is connected to the sampling nozzle and collects particles in the gas A collecting jig, and the particle collecting jig has a cylindrical shape as a whole, a first plate member constituting one end face, and a second plate constituting the other end face. A member and a louver forming a side surface, the first plate member has a hole for taking in surrounding gas containing particles into the internal space, and the second plate member contains particles. A discharge port is formed to guide gas to the sampling nozzle, and the louver has a plurality of blades, and the plurality of blades are between them. From between, to provide a particle measuring apparatus characterized by being arranged to be taken into the internal space while swirling the gas in the vicinity, including the particles.

上記第3の観点において、前記パーティクル計測部としては、凝縮核計測器を好適に用いることができる。   In the third aspect, a condensed nucleus measuring instrument can be suitably used as the particle measuring unit.

本発明によれば、第1の板部材の孔および側面を構成するルーバーのブレード間の隙間から周辺の気体を捕集するので、広範囲にわたってパーティクルをサンプリングすることができ、また、孔からの下降気流および隙間からの旋回気流が合わさることにより、パーティクルを速やかにパーティクル計測部のパーティクルカウンタに導くことができる。このため、発塵を効率的に検出することができ、発塵を検出するための計測位置の許容範囲を広げることもできる。   According to the present invention, the surrounding gas is collected from the gap between the holes of the first plate member and the blades of the louvers constituting the side surfaces, so that it is possible to sample particles over a wide range and to descend from the holes. By combining the airflow and the swirling airflow from the gap, the particles can be promptly guided to the particle counter of the particle measuring unit. For this reason, dust generation can be detected efficiently, and the tolerance | permissible_range of the measurement position for detecting dust generation can also be expanded.

本発明の一実施形態に係るパーティクル捕集治具を備えたパーティクル計測装置を示す斜視図である。It is a perspective view showing a particle measuring device provided with a particle collecting jig concerning one embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態に係るパーティクル捕集治具を示す水平断面図である。It is a horizontal sectional view showing the particle collection jig concerning one embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態に係るパーティクル捕集治具に気体(空気)が取り込まれる際の気流を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the airflow at the time of gas (air) being taken in by the particle collection jig | tool which concerns on one Embodiment of this invention. パーティクル捕集治具の熱流体シミュレーションを行う際のモデルを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the model at the time of performing the thermofluid simulation of a particle collecting jig. パーティクル捕集治具の熱流体シミュレーションを行う際のシミュレーション条件を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the simulation conditions at the time of performing the thermofluid simulation of a particle collecting jig. 気流の状態をシミュレーションした結果を示す図である。It is a figure which shows the result of having simulated the state of the airflow. パーティクル捕集治具を用いた場合と用いない場合について、サンプリングノズルの上方で発塵した場合のパーティクルの挙動をシミュレーションした結果を示す図である。It is a figure which shows the result of having simulated the behavior of the particle at the time of generating a dust above a sampling nozzle about the case where a particle collection jig | tool is used and the case where it does not use. パーティクル捕集治具を用いた場合と用いない場合について、サンプリングノズルから離れた周囲部分で発塵した場合のパーティクルの挙動をシミュレーションした結果を示す図である。It is a figure which shows the result of having simulated the behavior of the particle at the time of generating dust in the surrounding part away from the sampling nozzle about the case where a particle collection jig is used, and the case where it is not used.

以下、添付図面を参照して本発明の実施形態について説明する。
以下の実施形態では、本発明を半導体デバイスの製造設備として用いるクリーンルームや処理装置内のパーティクルを計測するパーティクル計測装置に適用した例を示す。本実施形態のパーティクル計測装置は、クリーンルームの清浄空気の環境下や、所定の気体雰囲気に置かれる。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
In the following embodiments, examples in which the present invention is applied to a particle measuring apparatus that measures particles in a clean room or processing apparatus using semiconductor device manufacturing equipment will be described. The particle measuring apparatus according to the present embodiment is placed in a clean air environment or a predetermined gas atmosphere in a clean room.

図1は、本発明の一実施形態に係るパーティクル捕集治具を備えたパーティクル計測装置を示す斜視図、図2は、パーティクル捕集治具を示す水平断面図である。   FIG. 1 is a perspective view showing a particle measuring apparatus provided with a particle collecting jig according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a horizontal sectional view showing the particle collecting jig.

図1に示すように、本実施形態のパーティクル計測装置100は、パーティクル捕集治具200と、パーティクル計測部300とを有する。   As shown in FIG. 1, the particle measuring apparatus 100 according to the present embodiment includes a particle collecting jig 200 and a particle measuring unit 300.

パーティクル捕集治具200は、パーティクル計測部300のサンプリングノズルの先端に取り付けられるものであり、全体形状が円筒状をなしており、一方の端面を構成する天板11と、他方の端面を構成する底板12と、周面を構成するルーバー13とを有する。パーティクル捕集治具200は、縦に配置されている。   The particle collecting jig 200 is attached to the tip of the sampling nozzle of the particle measuring unit 300, has an overall shape of a cylindrical shape, and constitutes the top plate 11 constituting one end face and the other end face. And a louver 13 constituting the peripheral surface. The particle collecting jig 200 is arranged vertically.

天板11には、パーティクル捕集治具200の内部空間にその上方からパーティクルを含む気体(空気)を取り込むための複数の孔14が形成されている。孔14の大きさや数は、適切に気体(空気)を取り込めるように適宜設定される。   The top plate 11 is formed with a plurality of holes 14 for taking in gas (air) containing particles from above into the internal space of the particle collecting jig 200. The size and number of the holes 14 are appropriately set so that gas (air) can be taken in appropriately.

また、底板12の中央には、パーティクル計測部300のサンプリングノズルにパーティクルを含む気体(空気)を導く排出口15が設けられている。   Further, in the center of the bottom plate 12, a discharge port 15 that guides a gas (air) containing particles to the sampling nozzle of the particle measuring unit 300 is provided.

ルーバー13は、複数のブレード16が間隔をおいて円周方向(接線方向)に対して斜めに配置されて構成されている。そして、複数のブレード16の間の隙間17からパーティクル捕集治具200の内部空間に周囲の気体(空気)を旋回させた状態で取り込むようになっている。ブレード16の円周方向(接線方向)に対する角度θ(図2参照)は、適切な旋回流が形成されるように適宜設定される。角度θは15〜80°の範囲が好ましく、30°近傍が最も好ましい。また、気体(空気)の吸い込み量に応じて適切な旋回流に調節することができるように、ブレード16の角度θを可変にすることも好ましい。   The louver 13 is configured such that a plurality of blades 16 are arranged obliquely with respect to the circumferential direction (tangential direction) at intervals. The surrounding gas (air) is taken in from the gaps 17 between the plurality of blades 16 into the internal space of the particle collecting jig 200 in a swirled state. The angle θ (see FIG. 2) with respect to the circumferential direction (tangential direction) of the blade 16 is appropriately set so that an appropriate swirl flow is formed. The angle θ is preferably in the range of 15 to 80 °, and most preferably in the vicinity of 30 °. It is also preferable to make the angle θ of the blade 16 variable so that it can be adjusted to an appropriate swirl flow according to the amount of gas (air) sucked.

また、ルーバー13のブレード16の枚数や隙間17の幅、さらにはルーバー13の半径方向の長さ(深さ)等は、パーティクル捕集治具200の径や形成しようとする旋回流の状態に応じて適宜設定することが好ましい。   In addition, the number of blades 16 of the louver 13, the width of the gap 17, and the length (depth) of the louver 13 in the radial direction are determined by the diameter of the particle collecting jig 200 and the state of the swirling flow to be formed. Accordingly, it is preferable to set appropriately.

なお、パーティクル捕集治具200の大きさは特に限定されないが、直径が10〜100mm、高さが10〜300mm程度が好ましい。   In addition, although the magnitude | size of the particle collection jig | tool 200 is not specifically limited, A diameter is 10-100 mm and height is about 10-300 mm.

パーティクル計測部300は、気中のパーティクルの個数を計測する計測部本体51と、パーティクルを含む気体(空気)をサンプリングするサンプリングノズル52と、吸引ポンプ53とを有する。計測部本体51は、パーティクルの個数をカウントするパーティクルカウンタを有している。パーティクルカウンタとしては一般的に用いる光学式のパーティクルカウンタ、例えばレーザーパーティクルカウンタを用いることが好ましい。レーザーパーティクルカウンタは、レーザー光を照射した際の粒子による光散乱を利用してパーティクルを計測するものである。   The particle measuring unit 300 includes a measuring unit main body 51 that measures the number of particles in the air, a sampling nozzle 52 that samples gas (air) containing particles, and a suction pump 53. The measurement unit main body 51 has a particle counter that counts the number of particles. As the particle counter, a generally used optical particle counter, for example, a laser particle counter is preferably used. The laser particle counter measures particles using light scattering by particles when irradiated with laser light.

また、パーティクル計測部300として、凝縮核計測器(CNCまたはCPC)を好適に用いることができる。凝縮核計測器の計測部本体51は、微小パーティクルをアルコールや水等の過飽和蒸気中に通し、粒子を核として蒸気分子を凝縮させることにより、粒子を成長させ、パーティクルカウンタにて成長した粒子を検出するものである。光散乱による検出器の検出限界の粒径は通常1μm程度であるが、凝縮核計測器では粒子を成長させるため、数nmの粒子も検出可能である。   Further, as the particle measuring unit 300, a condensed nucleus measuring instrument (CNC or CPC) can be suitably used. The measuring unit main body 51 of the condensation nucleus measuring instrument passes fine particles through supersaturated steam such as alcohol or water, condenses the vapor molecules using the particles as nuclei, grows the particles, and then grows the particles grown by the particle counter. It is to detect. The particle size at the detection limit of the detector by light scattering is usually about 1 μm. However, since the condensed nucleus measuring device grows particles, it can detect particles of several nm.

サンプリングノズル52には、パーティクル捕集治具200の排出口15が接続され、パーティクル計測部300の吸引ポンプ53を作動させた際に、天板11の孔14およびルーバー13の隙間17からパーティクルを含む周辺の気体(空気)がパーティクル捕集治具200の内部空間に取り込まれ、底板12の排出口15およびサンプリングノズル52を経て計測部本体51へ供給される。   The sampling nozzle 52 is connected to the discharge port 15 of the particle collecting jig 200. When the suction pump 53 of the particle measuring unit 300 is operated, particles are extracted from the hole 14 of the top plate 11 and the gap 17 of the louver 13. The surrounding gas (air) is taken into the internal space of the particle collecting jig 200 and supplied to the measurement unit main body 51 through the discharge port 15 and the sampling nozzle 52 of the bottom plate 12.

次に、以上のように構成されたパーティクル計測装置100の動作について説明する。
まず、排出口15をサンプリングノズル52に接続することにより、パーティクル捕集治具200をパーティクル計測部300に取り付けて、パーティクル計測装置100を構成し、パーティクル計測装置100をクリーンルームや処理装置の所定の位置に配置する。
Next, the operation of the particle measuring apparatus 100 configured as described above will be described.
First, by connecting the discharge port 15 to the sampling nozzle 52, the particle collecting jig 200 is attached to the particle measuring unit 300 to constitute the particle measuring device 100. Place in position.

この状態で、パーティクル計測部300の吸引ポンプ53を作動させる。そうすると、パーティクルを含む周辺の気体(空気)が、サンプリングノズル52に接続されたパーティクル捕集治具200を介して計測部本体51へ供給される。   In this state, the suction pump 53 of the particle measuring unit 300 is operated. Then, ambient gas (air) containing particles is supplied to the measurement unit main body 51 via the particle collecting jig 200 connected to the sampling nozzle 52.

このとき、パーティクル捕集治具200においては、天板11の孔14およびルーバー13におけるブレード16の隙間17からパーティクルを含む周辺の気体(空気)がパーティクル捕集治具200の内部空間に取り込まれる。具体的には、図3(a)に概略を示すように、パーティクル捕集治具200の上面および周面から内部空間に気体(空気)が取り込まれる。また、ルーバー13の複数のブレード16が円周方向(接線方向)に対して斜めに配置されているので、パーティクル捕集治具200の周面の隙間17から内部空間に取り込まれる気流は、上から見た図3(b)に示すように旋回流となる。   At this time, in the particle collecting jig 200, surrounding gas (air) including particles is taken into the internal space of the particle collecting jig 200 from the hole 14 of the top plate 11 and the gap 17 of the blade 16 in the louver 13. . Specifically, as schematically shown in FIG. 3A, gas (air) is taken into the internal space from the upper surface and peripheral surface of the particle collecting jig 200. Further, since the plurality of blades 16 of the louver 13 are arranged obliquely with respect to the circumferential direction (tangential direction), the airflow taken into the internal space from the gap 17 on the circumferential surface of the particle collecting jig 200 is As shown in FIG. 3B, a swirling flow is obtained.

このように、天板11の孔14および側面を構成するルーバー13のブレード16間の隙間17から周辺の気体(空気)を捕集するので、広範囲にわたってパーティクルをサンプリングすることができ、また、孔14からの下降気流および隙間17からの旋回気流が合わさることにより、パーティクルを速やかに計測部本体51に導くことができる。このため、発塵を効率的に検出することができ、発塵を検出するための計測位置の許容範囲を広げることもできる。   As described above, the surrounding gas (air) is collected from the gap 17 between the hole 14 of the top plate 11 and the blade 16 of the louver 13 constituting the side surface, so that particles can be sampled over a wide range. By combining the descending airflow from 14 and the swirling airflow from the gap 17, the particles can be quickly guided to the measurement unit main body 51. For this reason, dust generation can be detected efficiently, and the tolerance | permissible_range of the measurement position for detecting dust generation can also be expanded.

次に、本実施形態のパーティクル捕集治具の熱流体シミュレーション結果について説明する。
ここでは、図4(a),(b)に示すようなモデルの捕集治具を用い、図5に示すシミュレーション条件で、熱流体ソフトウェアのFLUENTを用いて、三次元定常流れ場におけるパーティクルの動きを解析した。周囲の環境は大気圧(空気)とし、排出口の直径は4mm、排出口からの吸引量は約2.8L/minとした。
Next, the thermal fluid simulation result of the particle collecting jig of this embodiment will be described.
Here, using a model collecting jig as shown in FIGS. 4A and 4B and using the thermal fluid software FLUENT under the simulation conditions shown in FIG. The movement was analyzed. The surrounding environment was atmospheric pressure (air), the diameter of the discharge port was 4 mm, and the amount of suction from the discharge port was about 2.8 L / min.

まず、気流の状態をシミュレーションした結果を図6に示す。(a)は上部からの流線を示し、(b)は周囲からの流線を示す。図6に示すように、本実施形態のパーティクル捕集治具を用いることにより、周辺の空気を広範囲に取り込みながら、捕集治具の内部空間に竜巻状の旋回流が形成されることがわかる。   First, the result of simulating the state of airflow is shown in FIG. (A) shows streamlines from the top, and (b) shows streamlines from the surroundings. As shown in FIG. 6, it can be seen that by using the particle collecting jig of the present embodiment, a tornado-like swirl flow is formed in the internal space of the collecting jig while taking in a wide range of ambient air. .

次に、パーティクル計測部のサンプリングノズルの先端から50mm上方で発塵した場合のパーティクルの挙動をシミュレーションした結果を、パーティクル捕集治具を用いない従来の場合と比較して図7に示す。図7に示すように、パーティクル捕集治具を用いない従来の場合は、10秒後でもほとんどパーティクルが捕集されていないが、本実施形態のパーティクル捕集治具を用いることにより、サンプリングノズルの上方に存在するパーティクルを速やかに捕集することができることが確認された。   Next, FIG. 7 shows a result of simulating the behavior of particles when dust is generated 50 mm above the tip of the sampling nozzle of the particle measuring unit, compared with the conventional case where no particle collecting jig is used. As shown in FIG. 7, in the conventional case where no particle collecting jig is used, almost no particles are collected even after 10 seconds, but by using the particle collecting jig of this embodiment, a sampling nozzle is used. It was confirmed that the particles existing above can be quickly collected.

次に、パーティクル計測部のサンプリングノズルから離れた周囲部分で発塵した場合のパーティクルの挙動をシミュレーションした結果を、パーティクル捕集治具を用いない従来の場合と比較して図8に示す。図8に示すように、パーティクル捕集治具を用いない従来の場合は、10秒後でもほとんどパーティクルが捕集されていないが、本実施形態のパーティクル捕集治具を用いることにより、サンプリングノズルの周囲に存在するパーティクルを速やかに捕集することができることが確認された。   Next, FIG. 8 shows the result of simulating the behavior of particles when dust is generated in the surrounding part away from the sampling nozzle of the particle measuring unit, compared with the conventional case where no particle collecting jig is used. As shown in FIG. 8, in the conventional case where no particle collecting jig is used, almost no particles are collected even after 10 seconds, but by using the particle collecting jig of this embodiment, a sampling nozzle is used. It was confirmed that particles existing around the can be quickly collected.

なお、本発明は上記実施形態に限定されることなく種々変形可能である。例えば、上記実施形態では、パーティクル捕集治具として、全体形状が円筒状のものを用いたが、角筒状のものであってもよい。   The present invention can be variously modified without being limited to the above embodiment. For example, in the above embodiment, the particle collecting jig has a cylindrical shape as a whole, but may have a rectangular tube shape.

また、上記実施形態では、パーティクル捕集治具を縦に配置し、天板に給気用の孔を設け底板に排出口を設けた例を示したが、これに限らず、パーティクル捕集治具を横に配置してもよい。   In the above embodiment, the example in which the particle collecting jig is arranged vertically, the top plate is provided with the air supply hole, and the bottom plate is provided with the discharge port is not limited to this. Tools may be placed sideways.

11;天板
12;底板
13;ルーバー
14;孔
15;排出口
16;ブレード
17;隙間
51;計測部本体
52;サンプリングノズル
53;吸引ポンプ
100;パーティクル計測装置
200;パーティクル捕集治具
300;パーティクル計測部
11; Top plate 12; Bottom plate 13; Louver 14; Hole 15; Discharge port 16; Blade 17; Clearance 51; Measuring unit main body 52; Sampling nozzle 53; Suction pump 100; Particle measuring device 200; Particle measurement unit

Claims (10)

パーティクル計測部のサンプリングノズルに接続され、気体中のパーティクルを捕集して前記パーティクル計測部のパーティクルカウンタに導くパーティクル捕集治具であって、
前記パーティクル捕集治具は、全体形状が筒状をなし、かつ、
一方の端面を構成する第1の板部材と、他方の端面を構成する第2の板部材と、側面を構成するルーバーとを有し、
前記第1の板部材には、パーティクルを含む周辺の気体を内部空間に取り込む孔が形成され、
前記第2の板部材には、パーティクルを含む気体を前記サンプリングノズルに導く排出口が形成され、
前記ルーバーは、複数のブレードを有し、前記複数のブレードは、それらの間の隙間から、パーティクルを含む周辺の気体を旋回させながら内部空間に取り込まれるように配置されていることを特徴とするパーティクル捕集治具。
A particle collecting jig connected to the sampling nozzle of the particle measuring unit and collecting particles in the gas and leading them to the particle counter of the particle measuring unit,
The particle collecting jig has a cylindrical shape as a whole, and
A first plate member constituting one end surface, a second plate member constituting the other end surface, and a louver constituting a side surface,
The first plate member is formed with a hole for taking a surrounding gas containing particles into the internal space,
In the second plate member, a discharge port that guides a gas containing particles to the sampling nozzle is formed,
The louver has a plurality of blades, and the plurality of blades are arranged so as to be taken into an internal space while swirling surrounding gas including particles from a gap between them. Particle collection jig.
前記パーティクル捕集治具は、全体形状が円筒状をなし、前記複数のブレードは、円周方向に対して斜めに配置されていることを特徴とする請求項1に記載のパーティクル捕集治具。   2. The particle collecting jig according to claim 1, wherein the particle collecting jig has a cylindrical shape as a whole, and the plurality of blades are arranged obliquely with respect to a circumferential direction. . 前記複数のブレードの円周方向に対する角度は、15〜80°であることを特徴とする請求項2に記載のパーティクル捕集治具。   The particle collecting jig according to claim 2, wherein an angle of the plurality of blades with respect to a circumferential direction is 15 to 80 °. 前記パーティクル捕集治具は、縦に配置されていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のパーティクル捕集治具。   The particle collecting jig according to any one of claims 1 to 3, wherein the particle collecting jig is arranged vertically. パーティクル計測部のサンプリングノズルから気体中のパーティクルをサンプリングして前記パーティクル計測部のパーティクルカウンタに導く際に、気体中のパーティクルを捕集するパーティクル捕集方法であって、
全体形状が筒状をなし、かつ、一方の端面を構成する第1の板部材と、他方の端面を構成する第2の板部材と、側面を構成するルーバーとを有するパーティクル捕集治具を前記サンプリングノズルに接続し、
前記第1の板部材に形成された孔から、パーティクルを含む周辺の気体を内部空間に取り込み、
前記ルーバーの複数のブレードの間の隙間から、パーティクルを含む周辺の気体を旋回させながら内部空間に取り込み、
内部空間に取り込んだパーティクルを含む気体を前記第2の板部材に形成された排出口から前記サンプリングノズルに導くことを特徴とするパーティクル捕集方法。
A particle collecting method for collecting particles in a gas when sampling particles in a gas from a sampling nozzle of a particle measuring unit and guiding the particles to a particle counter of the particle measuring unit,
A particle collecting jig having a cylindrical shape as a whole and having a first plate member constituting one end face, a second plate member constituting the other end face, and a louver constituting a side face. Connected to the sampling nozzle,
From the holes formed in the first plate member, the surrounding gas containing particles is taken into the internal space,
From the gaps between the blades of the louver, the surrounding gas containing particles is swirled into the internal space,
A particle collecting method, wherein a gas containing particles taken into an internal space is led to the sampling nozzle from an outlet formed in the second plate member.
前記パーティクル捕集治具は、全体形状が円筒状をなし、前記複数のブレードは、円周方向に対して斜めに配置されていることを特徴とする請求項5に記載のパーティクル捕集方法。   6. The particle collecting method according to claim 5, wherein the particle collecting jig has a cylindrical shape as a whole, and the plurality of blades are arranged obliquely with respect to a circumferential direction. 前記複数のブレードの円周方向に対する角度は、15〜80°であることを特徴とする請求項6に記載のパーティクル捕集方法。   The particle collecting method according to claim 6, wherein an angle of the plurality of blades with respect to a circumferential direction is 15 to 80 °. 前記パーティクル捕集治具は、縦に配置されていることを特徴とする請求項5から請求項7のいずれか1項に記載のパーティクル捕集方法。   The particle collection method according to claim 5, wherein the particle collection jig is arranged vertically. サンプリングノズルからパーティクルを含む気体をサンプリングしてパーティクルカウンタによりパーティクルの個数を計測するパーティクル計測部と、
前記サンプリングノズルに接続され、気体中のパーティクルを捕集するパーティクル捕集治具と
を具備し、
前記パーティクル捕集治具は、全体形状が筒状をなし、かつ、
一方の端面を構成する第1の板部材と、他方の端面を構成する第2の板部材と、側面を構成するルーバーとを有し、
前記第1の板部材には、パーティクルを含む周辺の気体を内部空間に取り込む孔が形成され、
前記第2の板部材には、パーティクルを含む気体を前記サンプリングノズルに導く排出口が形成され、
前記ルーバーは、複数のブレードを有し、前記複数のブレードは、それらの間の隙間から、パーティクルを含む周辺の気体を旋回させながら内部空間に取り込まれるように配置されていることを特徴とするパーティクル計測装置。
A particle measuring unit that samples a gas containing particles from a sampling nozzle and measures the number of particles by a particle counter;
A particle collecting jig connected to the sampling nozzle and collecting particles in the gas;
The particle collecting jig has a cylindrical shape as a whole, and
A first plate member constituting one end surface, a second plate member constituting the other end surface, and a louver constituting a side surface,
The first plate member is formed with a hole for taking a surrounding gas containing particles into the internal space,
In the second plate member, a discharge port that guides a gas containing particles to the sampling nozzle is formed,
The louver has a plurality of blades, and the plurality of blades are arranged so as to be taken into an internal space while swirling surrounding gas including particles from a gap between them. Particle measuring device.
前記パーティクル計測部は、凝縮核計測器であることを特徴とする請求項9に記載のパーティクル計測装置。   The particle measuring apparatus according to claim 9, wherein the particle measuring unit is a condensed nucleus measuring instrument.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106979910A (en) * 2016-01-19 2017-07-25 中国计量学院 A kind of PM2.5 concentration detection apparatus caught based on micro particles
JP2017198570A (en) * 2016-04-28 2017-11-02 日本特殊陶業株式会社 Fine particle sensor

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