JP2017146175A - Particle measurement device - Google Patents
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- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 171
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 41
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims abstract description 84
- 238000011084 recovery Methods 0.000 claims abstract description 79
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 40
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 40
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 3
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000003915 air pollution Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000011362 coarse particle Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
本発明は、光散乱方式で粒子を測定する粒子測定装置に関し、特にサンプルエアをシースエアで包み込んで粒子測定領域に噴射するいわゆるシースフロー方式を採用した粒子測定装置に関するものである。 The present invention relates to a particle measuring apparatus that measures particles by a light scattering method, and more particularly to a particle measuring apparatus that employs a so-called sheath flow method that wraps sample air with sheath air and injects it into a particle measurement region.
粒子測定装置は、半導体工場や液晶工場などのクリーンルーム内の清浄度監視分野、また、大気汚染で問題視されている粒子(エアロゾル)の測定分野において使用される。粒子測定装置は、測定対象大気中に浮遊する粒子について各種の測定を行う。この粒子測定装置として、例えば特許文献1に記載の従来技術がある。測定原理として光散乱方式を採用し、さらにいわゆるシースフロー方式を採用して測定精度の向上を図るものである。 The particle measuring apparatus is used in the field of cleanliness monitoring in clean rooms such as semiconductor factories and liquid crystal factories, and in the field of measuring particles (aerosols) that are regarded as a problem due to air pollution. The particle measuring apparatus performs various measurements on particles suspended in the measurement target atmosphere. As this particle measuring apparatus, for example, there is a conventional technique described in Patent Document 1. A light scattering method is adopted as a measurement principle, and a so-called sheath flow method is adopted to improve measurement accuracy.
この特許文献1に記載の従来技術について説明する。図5は、従来技術の粒子測定装置におけるノズル部の断面図である。噴射ノズル104は、先端が細くテーパ状に形成された内部ノズル104aと、内部ノズル104aの外側に配置され、内部ノズル104aの外径よりもやや太い径を有する外部ノズル104bとの2重構造となっている。
The prior art described in Patent Document 1 will be described. FIG. 5 is a cross-sectional view of a nozzle portion in a conventional particle measuring apparatus. The
内部ノズル104aの中央開口部からは、被測定粒子を含むサンプルエア121が噴射され、同時に内部ノズル104aと外部ノズル104bとの間の環状開口部から、清浄な空気がシースエア122として噴射される。これにより、被測定粒子を含むサンプルエア121が、その外周を清浄なシースエア122で包まれた状態の合流フローとなる。この合流フローを採用することで、サンプルエア121の拡散を防ぐと共にサンプルエア121の流路断面積が非常に小さく保たれて、被測定粒子の検出感度と検出分解能を向上させる。この合流フローは、噴射ノズル104から吸引ノズル105へ向けて噴射され、噴射ノズル104から吸引ノズル105までの間に設定された粒子測定領域を通過する。
粒子測定領域では、この合流フローに光ビームが照射される。サンプルエア121に含まれる被測定粒子に光ビームが照射されたときに発生する散乱光を光電変換素子にてパルス状の電気信号に変換し、そのパルスの高さで被測定粒子の大きさを、そして、パルスの数で被測定粒子の数を測定する。
In the particle measurement region, the combined flow is irradiated with a light beam. Scattered light generated when a light beam is irradiated on the particle to be measured contained in the
そして、測定後は、この合流フローを吸引ノズル105が吸引する。サンプルエア121とシースエア122とが混合された状態の合流フローが吸引ノズル105に吸引され、外部へ排気される。従来技術はこのようにして測定を行っていた。
After the measurement, the combined flow is sucked by the
さて、近年では粒子発生源を特定するため、測定対象大気中に浮遊する粒子の大きさや数に加え、その成分や形状も測定し、単一粒子レベルで多角的に粒子を分析する複合分析を行っている。 この複合分析時では、それぞれ異なる機能及び性能を有する粒子測定装置をタンデムにつなげ、各粒子測定装置で同一のサンプルを用いて測定する。 In recent years, in order to identify the particle generation source, in addition to the size and number of particles floating in the atmosphere to be measured, the composition and shape of the particles are also measured, and a complex analysis that analyzes particles from a single particle level in a multifaceted manner. Is going. At the time of this complex analysis, particle measuring apparatuses having different functions and performances are connected in tandem, and measurement is performed using the same sample in each particle measuring apparatus.
例えば、微小粒子(粒子径:0.1μm程度)まで測定可能な高感度の粒子測定装置と、比較的大きな粗大粒子(粒子径:数μm)まで測定可能な粒子測定装置とを組み合わせた構成とすることで、高感度でワイドレンジな粒子測定が理論的に可能となる。 For example, a configuration in which a highly sensitive particle measuring device capable of measuring fine particles (particle size: about 0.1 μm) and a particle measuring device capable of measuring relatively large coarse particles (particle size: several μm) are combined. By doing so, high sensitivity and wide range particle measurement is theoretically possible.
しかしながら、上記特許文献1に記載のシースフロー方式の粒子測定装置は、測定後に吸引ノズルによってサンプルエアとシースエアとを混合状態で吸引するため、粒子測定装置からはサンプルエアとシースエアが混合された合流エアーが排気される。 However, since the sheath flow type particle measuring device described in Patent Document 1 sucks the sample air and the sheath air in a mixed state by the suction nozzle after the measurement, the particle measuring device joins the sample air and the sheath air mixed together. Air is exhausted.
したがって、特許文献1に記載の粒子測定装置の後段に他の粒子測定装置をつなげて各装置で同一サンプルを測定する場合、前段の粒子測定装置からの合流エアーを、後段の粒子測定装置が吸引すると、シースエアの分だけ流量が増大して粒子濃度が希釈されたものとなる。 Therefore, when another particle measuring device is connected to the subsequent stage of the particle measuring apparatus described in Patent Document 1 and the same sample is measured by each apparatus, the subsequent particle measuring apparatus sucks the combined air from the preceding particle measuring apparatus. Then, the flow rate is increased by the amount of the sheath air, and the particle concentration is diluted.
前段の粒子測定装置と後段の粒子測定装置とで測定された単一粒子の対応付けが非常に困難となり、単一粒子レベルでの複合的な分析は実質不可能であった。そして、他の粒子測定装置を3段、4段…と多段につなげて粒子測定を行うことは、更なる困難が予想される。 It was very difficult to associate single particles measured by the former particle measuring apparatus and the latter particle measuring apparatus, and it was impossible to perform a complex analysis at the single particle level. Further, it is expected that it is more difficult to perform particle measurement by connecting other particle measuring devices in three stages, four stages, and so on.
そこで、この問題点の解決を図る粒子測定装置が、例えば、特許文献2に開示されている。粒子測定装置を多段につなげるため、サンプルエアとシースエアとを分離して回収する。これにより、サンプルエアにおける粒子濃度の希釈を大幅に低減している。 Therefore, for example, Patent Document 2 discloses a particle measuring apparatus that solves this problem. In order to connect the particle measuring apparatus in multiple stages, the sample air and the sheath air are separated and collected. This greatly reduces the dilution of the particle concentration in the sample air.
特許文献2に記載の粒子測定装置では、サンプルエアとシースエアを分離するため、サンプルエアが流れる箇所に内部ノズルの中央開口部が位置し、また、シースエアが流れる箇所に内部ノズルと外部ノズルとの環状開口部が位置するように、分離回収ノズルの形状を設定する。 In the particle measuring apparatus described in Patent Document 2, in order to separate the sample air and the sheath air, the central opening of the internal nozzle is located at the location where the sample air flows, and the internal nozzle and the external nozzle are located where the sheath air flows. The shape of the separation and recovery nozzle is set so that the annular opening is located.
しかしながら、サンプルエアやシースエアの吸引流速が変動すると両者の流れ方向が変化して分離能力が低くなるおそれがある。更なる性能向上のため、ノズルの形状に加えて吸引流速の変動抑制も考慮し、サンプルエアとシースエアを安定的に確実に分離したいという新たな課題が見いだされた。 However, if the suction flow velocity of sample air or sheath air varies, the flow direction of both may change and the separation ability may be lowered. In order to further improve performance, in addition to the shape of the nozzle, considering the suppression of fluctuations in the suction flow rate, a new problem has been found that it is desired to stably and reliably separate sample air and sheath air.
本発明は上記の問題に鑑みてなされたものであり、その目的は、サンプルエアとシースエアとをより安定的かつ確実に分離し、多段につなげても問題なく粒子測定を行うことができ、単一粒子レベルでの複合分析能力を向上させた粒子測定装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above problems, and its purpose is to separate sample air and sheath air more stably and reliably, and to perform particle measurement without problems even when connected in multiple stages. An object of the present invention is to provide a particle measuring apparatus with improved composite analysis capability at a single particle level.
本発明の請求項1に係る発明は、
レーザ光を所定の粒子測定領域に照射するレーザ光照射手段と、
サンプルエアに含まれる被測定粒子が前記粒子測定領域で前記レーザ光を通過するときの散乱光を受光する受光手段と、
前記サンプルエアの外周を清浄なシースエアで包み込んで合流フローとし、この合流フローを前記レーザ光の照射方向に直交する方向から前記粒子測定領域に噴射するサンプルエア噴射手段と、
前記粒子測定領域を挟んで前記サンプルエア噴射手段に対向配置され、分離回収用内部ノズルと、前記分離回収用内部ノズルの外側に配置されて前記分離回収用内部ノズルの外径よりも大きい径を有する分離回収用外部ノズルとの2重構造を有し、前記サンプルエア噴射手段から噴射される前記合流フローから、前記分離回収用内部ノズルの中央開口部へは中央の前記サンプルエアを、また、前記分離回収用内部ノズルと前記分離回収用外部ノズルとの間の環状開口部へは外周側の前記シースエアを、それぞれ流入させるようにして分離回収するサンプルエア分離回収手段と、
を有し、前記受光手段で受光した散乱光の受光レベルに基づいて、前記被測定粒子についての測定を行う粒子測定装置であって、
前記サンプルエア分離回収手段は、前記中央開口部を介するサンプルエアの吸引流速と、前記環状開口部を介するシースエアの吸引流速と、を等しくするような形状および流量に設定することを特徴とする粒子測定装置とした。
The invention according to claim 1 of the present invention is
Laser light irradiation means for irradiating a predetermined particle measurement region with laser light;
Light receiving means for receiving scattered light when the particles to be measured contained in the sample air pass through the laser light in the particle measurement region;
Sample air injection means for wrapping the outer periphery of the sample air with clean sheath air to form a combined flow, and injecting the combined flow into the particle measurement region from a direction perpendicular to the irradiation direction of the laser light,
The particle measurement region is disposed opposite to the sample air ejecting means, and has a separation recovery internal nozzle and a diameter larger than the outer diameter of the separation recovery internal nozzle disposed outside the separation recovery internal nozzle. Having a double structure with an external nozzle for separation / recovery, from the combined flow injected from the sample air injection means, to the central opening of the internal nozzle for separation / recovery, the central sample air, Sample air separation and recovery means for separating and recovering the sheath air on the outer peripheral side to the annular opening between the separation and recovery inner nozzle and the separation and recovery outer nozzle, respectively,
A particle measuring apparatus for measuring the particle to be measured based on the received light level of scattered light received by the light receiving means,
The sample air separation / recovery means sets the shape and flow rate so that the suction flow rate of sample air through the central opening and the suction flow rate of sheath air through the annular opening are equal. A measuring device was used.
また、本発明の請求項2に係る発明は、
請求項1に記載の粒子測定装置において、
前記サンプルエア分離回収手段は、
前記中央開口部の有効断面積で前記サンプルエアの流量を除した値である吸引流速と、前記環状開口部の有効断面積で前記シースエアの流量を除した値である吸引流速と、を一致させることを特徴とする粒子測定装置とした。
The invention according to claim 2 of the present invention is
The particle measuring apparatus according to claim 1,
The sample air separation and recovery means includes
The suction flow rate, which is a value obtained by dividing the flow rate of the sample air by the effective sectional area of the central opening, and the suction flow rate, which is a value obtained by dividing the flow rate of the sheath air by the effective sectional area of the annular opening, are matched. The particle measuring apparatus is characterized by the above.
また、本発明の請求項3に係る発明は、
請求項2に記載の粒子測定装置において、
前記中央開口部と前記環状開口部の吸引流速を一致させるように前記サンプルエアの流量と前記シースエアの流量を制御する流量制御手段を備えることを特徴とする粒子測定装置とした。
The invention according to claim 3 of the present invention is
The particle measuring apparatus according to claim 2,
A particle measuring apparatus comprising flow rate control means for controlling the flow rate of the sample air and the flow rate of the sheath air so that the suction flow rates of the central opening and the annular opening are matched.
以上のような本発明によれば、サンプルエアとシースエアとをより安定的かつ確実に分離し、多段につなげても問題なく粒子測定を行うことができ、単一粒子レベルでの複合分析能力を向上させた粒子測定装置を提供することができる。 According to the present invention as described above, the sample air and the sheath air can be more stably and reliably separated, and particle measurement can be performed without any problem even if they are connected in multiple stages. An improved particle measuring apparatus can be provided.
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は、本実施形態における粒子測定装置の構成を示す図である。
粒子測定装置10は、レーザダイオードなどのレーザ光源となるレーザ素子11と、レーザ素子11からの出射光をコリメートし、レーザ光13を所定の粒子測定領域24に出射するレーザ光学系12とを有する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a particle measuring apparatus according to the present embodiment.
The
また、粒子測定装置10は、レーザ光13に対し、レーザ光13の照射方向に直交する方向からサンプルエア21およびシースエア22を噴射する噴射ノズル14と、粒子測定領域24を挟んで噴射ノズル14に対向配置される分離回収ノズル15とを備える。ここで粒子測定領域24は、図2で示すように、噴射ノズル14と分離回収ノズル15との間で、レーザ光13とサンプルエア21とが直交する領域といえる。
Further, the
サンプルエア21は、測定対象の粒子(被測定粒子)を含む気体であり、装置外部からダクト41を介して吸引され、噴射ノズル14へ供給される。また、噴射ノズル14には、ダクト41の他にダクト42が接続されており、このダクト42上には、エアフィルタ31及び流量制御手段32が連結されている。エアフィルタ31は、装置外部から吸引された空気から微粒子を取り除き、清浄化する。流量制御手段32は、エアフィルタ31によって清浄化された空気の流量を測定するとともに所定の流量となるように調整し、これをシースエア22として噴射ノズル14へ供給する。本発明ではシースフロー方式を採用するものであり、噴射ノズル14は、サンプルエア21の外周をシースエア22で包み込んで合流フロー23とする。
The
図2は、噴射ノズル14及び分離回収ノズル15の具体的構成を示す断面図である。噴射ノズル14は、噴射用内部ノズル14aと、噴射用内部ノズル14aの外側に配置され噴射用内部ノズル14aの外径よりも大きい径を有する噴射用外部ノズル14bとの2重構造となっている。噴射用内部ノズル14aの一端(図2の噴射ノズル14の上端)にはダクト41の一端が連結され、噴射用外部ノズル14bの一端(図2の噴射ノズル14の上端)にはダクト42の一端が連結される。すなわち、噴射用内部ノズル14aの内部流路にはサンプルエア21が流れ、その外周部である噴射用内部ノズル14aと噴射用外部ノズル14bとの間の環状流路にはシースエア22が流れる。また、噴射用外部ノズル14bの他端部(図2の噴射ノズル14の下端部)はテーパ状に形成されている。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing a specific configuration of the
これにより、サンプルエア21の外周をシースエア22で包み込んで合流フロー23とし、この合流フロー23を噴射ノズル14から光ビーム13へ向けて噴射する。この合流フロー23の中のサンプルエア21は、その外周を清浄な空気であるシースエア22により包み込まれて非常に細い気流となっており、細かい気流のサンプルエア21がレーザ光13に照射されて粒子測定が行われる。この粒子測定の詳細については後述する。
Thereby, the outer periphery of the
噴射ノズル14に対向配置された分離回収ノズル15は、噴射ノズル14と概ね同じような2重構造となっている。すなわち、分離回収ノズル15は、分離回収用内部ノズル15aと分離回収用外部ノズル15bとから構成されている。分離回収用内部ノズル15aの中央開口部を通じてサンプルエア21が吸引され、また、分離回収用内部ノズル15aと分離回収用外部ノズル15bとの間の環状開口部を通じてシースエア22が吸引される。
The separation /
分離回収用内部ノズル15a及び分離回収用外部ノズル15bの先端(図2の分離回収ノズル15の上端)は、それぞれテーパ状に形成されており、そのノズル形状は、サンプルエア21とシースエア22とが混ざらずに確実に分離して吸引する形状となっている。ここで分離回収用内部ノズル15a及び分離回収用外部ノズル15bの形状等については後述する。
The tip of the separation / recovery
分離回収用内部ノズル15aの一端(図2の分離回収ノズル15の下端)には、図1に示すダクト43の一端が連結され、分離回収用外部ノズル15bの一端(図2の分離回収ノズル15の下端)には、図1に示すダクト44の一端が連結される。図1に示すように、ダクト43は、流量制御手段33を介して装置外部に設置された真空ポンプ51に接続されており、ダクト44は、流量制御手段34を介して装置外部に設置された真空ポンプ52に接続されている。流量制御手段33及び34は、それぞれ自身が連結されたダクトを流れる気流の流量を測定し、その流量が所定の流量となるように調整する。
One end of the
続いて、粒子測定について説明する。粒子測定装置10は、サンプルエア21に含まれる被測定粒子が、それと垂直方向に照射されるレーザ光13を通過するときに発生する散乱光を受光する受光素子16を備える。受光素子16は、受光した散乱光をパルス状の電気信号に変換する光電変換素子であり、変換した電気信号を図示しない受光信号処理回路に出力する。受光信号処理回路は、受光素子16から入力されたパルスの高さから粒子の大きさを検知し、パルスの数から粒子の数を検知する散乱光信号処理を行う。
Subsequently, particle measurement will be described. The
なお、レーザ素子11及びレーザ光学系12がレーザ光照射手段に対応し、噴射ノズル14がサンプルエア噴射手段に対応し、分離回収ノズル15がサンプルエア分離回収手段に対応し、受光素子16が受光手段に対応している。
The
続いて、本発明の特徴をなす分離回収ノズル15の形状設定について説明する。分離回収ノズル15の形状は、例えば、ある流速や流量のもとでサンプルエア21とシースエア22を噴射ノズル14から実験的に流し、サンプルエア21とシースエア22の流れを把握した上で決定する。噴射ノズル14の先端から所定距離にわたり離して分離回収ノズル15が配置される。この際に、分離回収用外部ノズル15bの開口部は合流エアーを全て流入させるような径とする。
Next, the shape setting of the separation and
そして、分離回収用内部ノズル15aの先端の断面形状を、図2で示すように、分離回収ノズル15に吸引される直前のサンプルエア21の流路断面形状と同等にする。また、分離回収用内部ノズル15aおよび分離回収用外部ノズル15bの先端の断面形状は、分離回収ノズル15に吸引される直前のシースエア22の流路断面形状と同等にする。この際に分離回収用内部ノズル15aや分離回収用外部ノズル15bのテーパも決定される。
Then, the cross-sectional shape of the tip of the separation / recovery
続いて流量制御について説明する。サンプルエア21が分離回収用内部ノズル15aに回収される位置、すなわち分離回収用内部ノズル15aの先端位置(図2のA−A断面)において、吸引流速を同じにする。この点について図を参照しつつ説明する。図3は、図2のA−A断面の有効断面積の設定方法を説明するための断面図である。このA−A断面における両者の吸引流速を一致させることで、サンプルエア21とシースエア22の流れが変動しないようにする。
Next, flow control will be described. The suction flow rate is made the same at the position where the
分離回収用内部ノズル15aのA−A断面における中央開口部の回収流量や、分離回収用内部ノズル15aと分離回収用外部ノズル15bとの間のA−A断面における環状開口部の回収流量は、サンプルエア21の流量Q1を中央開口部の有効断面積A1(白抜き部)で除した値である吸引速度v1と、シースエア22の流量Q2を環状開口部の有効断面積A2(点描部)で除した値である吸引速度v2とが等しくなるような流量とする。
The recovery flow rate of the central opening in the AA cross section of the separation / recovery
ここでサンプルエア21の流量Q1の流量制御は、流量制御手段33が行う。ダクト43を流れる流量を測定してダクト43内の吸引流速を算出し、吸引流速が予め定められた値となるように流量Q1を制御する。また、シースエア22の流量Q2の流量制御は、流量制御手段34が行う。ダクト44を流れる流量を測定してダクト44内の吸引流速を算出し、吸引流速が予め定められた値となるように流量Q2を制御する。さらにはこれら流量制御手段33,34に共に接続される制御装置(図示せず)を設け、この制御装置によりダクト43,44の吸引流速が予め定められた値となるように両者の流量Q1,Q2を制御するようにしても良い。
Here, the flow rate control means 33 controls the flow rate Q1 of the
このような形状設定および流量制御を行うことで、分離回収用内部ノズル15aの中央開口部を通じて吸引されるサンプルエア21と、分離回収用内部ノズル15aと分離回収用外部ノズル15bとによる環状開口部を介して吸引されるシースエア22と、の吸引速度が等しい、すなわち、等速吸引状態となる。したがって、分離回収用内部ノズル15aの先端位置における、サンプルエア21及びシースエア22の乱れが最小化され、粒子濃度の希釈がほとんどなくなる。
By performing such shape setting and flow rate control, an annular opening formed by the
次に、本実施形態の粒子測定装置10の動作について説明する。
例えば、半導体工場や液晶工場などのクリーンルームにおける清浄度を監視するべく、クリーンルーム内の空気中に浮遊する粒子を測定する場合には、当該クリーンルーム内に図1で示すような粒子測定装置10を設置する。
Next, operation | movement of the particle |
For example, when measuring particles floating in the air in a clean room in order to monitor the cleanliness in a clean room such as a semiconductor factory or a liquid crystal factory, a
この粒子測定装置10にて粒子測定を行う際には、まず、粒子測定装置10の外部に設置された真空ポンプ51,52を駆動する。すると、流量制御手段32,33及び34によって定められた所定の流量で、サンプルエア21及びシースエア22がそれぞれ図1に示す矢印の方向に吸引される。この吸引により、噴射ノズル14からは、サンプルエア21の外周がシースエア22に包まれた合流エアー23が、レーザ光13に向けて噴射される。
When performing particle measurement with the
サンプルエア21に粒子が含まれている場合、測定対象領域24内に存在する粒子にレーザ光13が照射されて散乱光が発生する。この散乱光は受光素子16によって受光され、パルス状の電子信号に変換される。変換後の電気信号は、図示しない受光信号処理回路で処理されて、サンプルエア21中の粒子の大きさと数とが測定される。この測定結果に基づいて、クリーンルーム内の清浄度の監視が可能となる。
When the
粒子測定後のサンプルエア21は、シースエア22に包まれた状態で噴射ノズル14に対応配置された分離回収ノズル15へと向かう。分離回収ノズル15は、分離回収用内部ノズル15aと分離回収用外部ノズル15bとの2重構造によって、噴射ノズル14から噴射されるサンプルエア21とシースエア22との合流フローを、サンプルエア21とシースエア22とに分離して回収する。分離回収ノズル15によって回収されたサンプルエア21及びシースエア22は、それぞれダクト43及び44を介して真空ポンプ51及び52によって装置外部に排気される。
The
次に、図4は、粒子測定装置10に他の粒子測定装置をタンデムにつなげて使用した例である。ここでは、上述した粒子測定装置10の後段に、当該粒子測定装置10と同一構成を有し、粒子の大きさ及び数を検知可能な粒子測定装置10’をつなげた場合について説明する。
Next, FIG. 4 is an example in which another particle measuring device is connected to the
ここで、粒子測定装置10を、例えば微粒子(粒子径:0.1μm程度)まで粒子測定できる高感度な装置とし、粒子測定装置10’を、例えば比較的大きな粗大粒子(粒子径:数μm)まで粒子測定可できる装置とする。これら2つの粒子測定装置10及び10’を組み合わせることにより、高感度でワイドレンジな粒子測定が可能となる。
Here, the
粒子測定装置10と粒子測定装置10’をタンデムにつなげる場合、粒子測定装置10のダクト43と粒子測定装置10’のダクト41とをポンプ51を介さずに直接接続する。そして、粒子測定装置10’のダクト43に、ポンプ51に相当するポンプ53を接続する。
When the
なお、図4においては、サンプルエア21の流れについてのみ示している。ポンプ53を駆動すると、前段の粒子測定装置10にサンプルエア21が吸引される。粒子測定装置10では、粒子測定が行われた後、分離回収ノズル15によってサンプルエア21とシースエア22とが分離され、排気される。そして、この粒子測定装置10から排気されるサンプルエア21が、後段の粒子測定装置10’に吸引されることになる。
In FIG. 4, only the flow of the
このように、後段の粒子測定装置10’が吸引するサンプルエア21は、前段の粒子測定装置10の分離回収ノズル15によって分離回収されたサンプルエア21である。すなわち、後段の粒子測定装置10’が吸引するサンプルエア21は、前段の粒子測定装置10が吸引したサンプルエア21と、その流量及び粒子濃度が同一である。そのため、粒子測定装置10と粒子測定装置10’とは同一のサンプルエア21に対してほぼ同時に粒子測定することになり、単一粒子レベルでの多角的分析が可能となる。
As described above, the
なお、粒子測定装置10の後段につなげる粒子測定装置10’は、粒子測定装置10のような光散乱方式を用いて粒子の大きさや数を測定する装置でなくてもよい。例えば、粒子の成分を分析したり、粒子の形状を分析したりするような他の機能を有する粒子測定装置でもよい。このように、粒子測定装置10の後段に粒子の成分や形状を分析可能な他の粒子測定装置をタンデムにつなげることで、粒子発生源を特定可能になるなど、粒子の複合的な分析を容易に実現することができる。
The
このような本発明によれば、シースフロー方式を採用することで、サンプルエア21の拡散を防ぐとともに粒子測定領域24でのサンプルエア21の流路断面積を非常に小さく保つことができる。したがって、粒子の検出感度と検出分離能とを向上させることができる。
According to the present invention, by adopting the sheath flow method, it is possible to prevent the
また、粒子測定後に、分離回収ノズル15によって、合流フロー23から被測定粒子を含むサンプルエア21とシースエア22とに分離して回収し、サンプルエア21とシースエア22とを分離した状態で装置外部に排気することができる。
Further, after the particle measurement, the separation and
さらに、サンプルエア21の回収前後において、分離回収ノズル15のA−A断面における中央開口部によるサンプルエア21の吸引流速と、同じく環状開口部によるシースエア22の吸引流速とを等しくしたため、サンプルエア21及びシースエア22の乱れを最小化することができる。
Further, before and after the collection of the
なお、中央開口部と環状開口部とで有効断面積A1,A2を一致させることが望ましいが、仮に有効断面積A1,A2が一致しないような場合でも、流量制御を行って流量を調整できるため、吸引流速を中央開口部と環状開口部とで一致させることができ、形状設定の自由度を大きくすることもできる。 Although it is desirable that the effective sectional areas A1 and A2 coincide with each other between the central opening and the annular opening, even if the effective sectional areas A1 and A2 do not coincide with each other, the flow rate can be adjusted by adjusting the flow rate. The suction flow rate can be matched between the central opening and the annular opening, and the degree of freedom of shape setting can be increased.
また、他の粒子測定装置をタンデムにつなげても、後段につなげた別の粒子測定装置に、サンプルエア分離回収手段で分離回収したサンプルエアを後段の粒子測定装置に供給することができ、各装置で同一サンプルを測定することができ、前段の粒子測定装置と後段の粒子測定装置とで測定された単一粒子の対応付けを容易に行うことができる。その結果、容易に単一粒子レベルでの複合的な分析を行うことができる。 In addition, even if another particle measuring device is connected to the tandem, the sample air separated and recovered by the sample air separation and recovery means can be supplied to the subsequent particle measuring device to another particle measuring device connected to the subsequent stage. The same sample can be measured by the apparatus, and single particles measured by the former particle measuring apparatus and the latter particle measuring apparatus can be easily associated with each other. As a result, a complex analysis at the single particle level can be easily performed.
また、クリーンルームにおける清浄度監視分野だけでなく、大気汚染で問題視されている一般大気中に浮遊する微粒子(エアロゾル)の測定分野においても、本粒子測定装置を適用可能である。したがって、粒子の大きさや数だけでなく、その成分や形状を測定するなど多角的な分析が可能となり、粒子発生源を特定する研究・調査にも有用である。 Further, the present particle measuring apparatus can be applied not only to the field of cleanliness monitoring in a clean room, but also to the field of measuring fine particles (aerosol) floating in the general atmosphere, which is regarded as a problem due to air pollution. Therefore, it is possible to perform multifaceted analysis such as measuring not only the size and number of particles but also their components and shapes, which is useful for research and investigation for identifying the particle generation source.
本発明は、例えば、クリーンルーム中のクリーンエアに含まれる塵埃や、大気中に含まれるエアロゾルなど、各種の気体流に含まれる粒子の測定を可能とする。 The present invention enables measurement of particles contained in various gas flows such as dust contained in clean air in a clean room and aerosol contained in the atmosphere.
10:粒子測定装置
11:レーザ素子
12:レーザ光学系
13:レーザ光
14:噴射ノズル(サンプルエア噴射手段)
14a:噴射用内部ノズル
14b:噴射用外部ノズル
15:分離回収ノズル(サンプルエア分離回収手段)
15a:分離回収用内部ノズル
15b:分離回収用外部ノズル
16:受光素子(受光手段)
21:サンプルエア
22:シースエア
23:合流フロー
24:粒子測定領域
31:エアフィルタ
32,32,34:流量制御手段
41,42,43,44:ダクト
51,52,53:ポンプ
10: Particle measuring device 11: Laser element 12: Laser optical system 13: Laser light 14: Injection nozzle (sample air injection means)
14a: injection
15a: Internal nozzle for separation /
21: Sample air 22: Sheath air 23: Merged flow 24: Particle measurement region 31: Air filters 32, 32, 34: Flow rate control means 41, 42, 43, 44:
Claims (3)
サンプルエアに含まれる被測定粒子が前記粒子測定領域で前記レーザ光を通過するときの散乱光を受光する受光手段と、
前記サンプルエアの外周を清浄なシースエアで包み込んで合流フローとし、この合流フローを前記レーザ光の照射方向に直交する方向から前記粒子測定領域に噴射するサンプルエア噴射手段と、
前記粒子測定領域を挟んで前記サンプルエア噴射手段に対向配置され、分離回収用内部ノズルと、前記分離回収用内部ノズルの外側に配置されて前記分離回収用内部ノズルの外径よりも大きい径を有する分離回収用外部ノズルとの2重構造を有し、前記サンプルエア噴射手段から噴射される前記合流フローから、前記分離回収用内部ノズルの中央開口部へは中央の前記サンプルエアを、また、前記分離回収用内部ノズルと前記分離回収用外部ノズルとの間の環状開口部へは外周側の前記シースエアを、それぞれ流入させるようにして分離回収するサンプルエア分離回収手段と、
を有し、前記受光手段で受光した散乱光の受光レベルに基づいて、前記被測定粒子についての測定を行う粒子測定装置であって、
前記サンプルエア分離回収手段は、前記中央開口部を介するサンプルエアの吸引流速と、前記環状開口部を介するシースエアの吸引流速と、を等しくするような形状および流量に設定することを特徴とする粒子測定装置。 Laser light irradiation means for irradiating a predetermined particle measurement region with laser light;
Light receiving means for receiving scattered light when the particles to be measured contained in the sample air pass through the laser light in the particle measurement region;
Sample air injection means for wrapping the outer periphery of the sample air with clean sheath air to form a combined flow, and injecting the combined flow into the particle measurement region from a direction perpendicular to the irradiation direction of the laser light,
The particle measurement region is disposed opposite to the sample air ejecting means, and has a separation recovery internal nozzle and a diameter larger than the outer diameter of the separation recovery internal nozzle disposed outside the separation recovery internal nozzle. Having a double structure with an external nozzle for separation / recovery, from the combined flow injected from the sample air injection means, to the central opening of the internal nozzle for separation / recovery, the central sample air, Sample air separation and recovery means for separating and recovering the sheath air on the outer peripheral side to the annular opening between the separation and recovery inner nozzle and the separation and recovery outer nozzle, respectively,
A particle measuring apparatus for measuring the particle to be measured based on the received light level of scattered light received by the light receiving means,
The sample air separation / recovery means sets the shape and flow rate so that the suction flow rate of sample air through the central opening and the suction flow rate of sheath air through the annular opening are equal. measuring device.
前記サンプルエア分離回収手段は、
前記中央開口部の有効断面積で前記サンプルエアの流量を除した値である吸引流速と、前記環状開口部の有効断面積で前記シースエアの流量を除した値である吸引流速と、を一致させることを特徴とする粒子測定装置。 The particle measuring apparatus according to claim 1,
The sample air separation and recovery means includes
The suction flow rate, which is a value obtained by dividing the flow rate of the sample air by the effective sectional area of the central opening, and the suction flow rate, which is a value obtained by dividing the flow rate of the sheath air by the effective sectional area of the annular opening, are matched. The particle | grain measuring apparatus characterized by the above-mentioned.
前記中央開口部と前記環状開口部の吸引流速を一致させるように前記サンプルエアの流量と前記シースエアの流量を制御する流量制御手段を備えることを特徴とする粒子測定装置。 The particle measuring apparatus according to claim 2,
A particle measuring apparatus comprising flow rate control means for controlling the flow rate of the sample air and the flow rate of the sheath air so that the suction flow rates of the central opening and the annular opening are matched.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
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ID=59683010
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JP (1) | JP2017146175A (en) |
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