JP2015026287A - はんだ付け検査装置、はんだ付け検査方法および電子部品 - Google Patents
はんだ付け検査装置、はんだ付け検査方法および電子部品 Download PDFInfo
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Abstract
Description
電子部品に備えられた接続子、フレーム及び該接続子と該フレームとを接続するはんだからなるはんだ付け部に対して、互いに異なる角度で光を照射する複数の光源と、
前記接続子、フレーム及びはんだ付け部が反射した光を受光し、前記接続子、前記フレーム及び前記はんだ付け部が撮像された全体画像を生成する撮像部と、
前記撮像部が生成した全体画像において前記接続子を基準とする相対位置が予め決められた画像領域を、前記はんだ付け部に対応する前記全体画像内の領域であるはんだ付け領域として抽出するはんだ付け領域抽出部と、
前記はんだ付け領域抽出部が抽出したはんだ付け領域の画素値に関する情報を、学習済みのニューラルネットワークに適用することにより、前記はんだ付け部のはんだ付けの良否を判定する判定部と、
を備える。
前記はんだ付け領域は、前記全体画像内に複数あり、
前記学習済みのニューラルネットワークは、前記はんだ付け領域毎にあり、
前記はんだ付け領域抽出部は、前記全体画像からはんだ付け領域を複数抽出し、
前記判定部は、前記はんだ付け領域抽出部が抽出した複数のはんだ付け領域それぞれの画素値に関する情報を、対応する学習済みのニューラルネットワークに適用することにより、はんだ付けの良否を判定する。
前記複数の光源は前記はんだ付け部に対して順次切り替えて光を照射し、
前記判定部は、前記光源が照射する毎に前記撮像部が撮像して得た複数の全体画像それぞれに含まれる、全体画像上の位置が同じはんだ付け領域の画素値に関する情報を、同じ学習済みのニューラルネットワークの入力層に含まれる別々のニューロンの入力値として与えることにより、前記はんだ付け部のはんだ付けの良否を判定する。
前記複数の光源は全て青色光源であり、前記はんだ付け部に対して順次切り替えて青色光を照射する。
前記接続子及び前記フレームは銅を含む。
前記はんだ付け領域抽出部は、前記接続子の境界を前記全体画像から抽出し、該境界の位置に基づいて、前記はんだ付け領域を抽出する。
前記複数の光源に含まれる第1の光源は、前記はんだ付け部に対して垂直に光を照射し、
前記はんだ付け領域抽出部は、前記第1の光源を照射したときに前記撮像部が生成した全体画像に基づいて、前記接続子の境界を前記全体画像から抽出し、該境界の位置に基づいて、前記はんだ付け領域を抽出する。
電子部品の機種と前記接続子の種類が関連付けられて記憶されており、前記接続子の種類毎にニューラルネットワークを識別するニューラルネットワーク識別情報が記憶されている記憶部と、
前記電子部品の機種を取得する機種取得部と、
前記機種取得部が取得した機種が前記記憶部において関連付けられた接続子の種類に対応するニューラルネットワーク識別情報を読み出す読出部と、
前記判定部は、前記読出部が読み出したニューラルネットワーク識別情報が識別するニューラルネットワークを用いて、はんだ付けの良否を判定する。
前記判定部は、前記はんだ付け領域抽出部が抽出した領域をブロックに分割し、分割したブロック毎の画素値に関する情報を前記ニューラルネットワークの入力層の別々のニューロンに入力することにより、はんだ付けの良否を判定する。
前記ブロック毎の画素値に関する情報は、ブロック毎の輝度値の平均値である。
前記判定部は、前記ニューラルネットワークに適用する前に、前記全体画像を2値化画像に変換し、変換後の2値化画像からはんだ付けされた画像領域を抽出し、該抽出した画像領域の面積が所定の範囲内の場合に、前記ニューラルネットワークに適用し、前記抽出した画像領域の面積が所定の範囲外の場合に、前記ニューラルネットワークに適用せずに前記はんだ付けが不良であると判定する。
検査者により前記はんだ付けの良否を判定され良否毎に分類された前記はんだ付け領域の画素値に関する情報を用いて、前記ニューラルネットワークの学習を実行する学習実行部を備える。
電子部品に備えられた接続子、フレーム及び該接続子と該フレームとを接続するはんだからなるはんだ付け部に対して、複数の光源から互いに異なる角度で光を照射する手順と、
撮像部が、前記接続子、フレーム及びはんだ付け部が反射した光を受光し、前記接続子、前記フレーム及び前記はんだ付け部が撮像された全体画像を生成する手順と、
はんだ付け領域抽出部が、前記撮像部が生成した全体画像において前記接続子を基準とする相対位置が予め決められた画像領域を、前記はんだ付け部に対応する前記全体画像内の領域であるはんだ付け領域として抽出する手順と、
判定部が、前記はんだ付け領域抽出部が抽出したはんだ付け領域の画素値に関する情報を、学習済みのニューラルネットワークに適用することにより、前記はんだ付け部のはんだ付けの良否を判定する手順と、
を有する。
接続子、フレーム及び該接続子と該フレームとを接続するはんだからなるはんだ付け部を備える電子部品であって、前記はんだ付け部に対して、複数の光源から互いに異なる角度で光を照射する手順と、撮像部が、前記接続子、フレーム及びはんだ付け部が反射した光を受光し、前記接続子、前記フレーム及び前記はんだ付け部が撮像された全体画像を生成する手順と、
はんだ付け領域抽出部が、前記撮像部が生成した全体画像において前記接続子を基準とする相対位置が予め決められた画像領域を、前記はんだ付け部に対応する前記全体画像内の領域であるはんだ付け領域として抽出する手順と、
判定部が、前記はんだ付け領域抽出部が抽出したはんだ付け領域の画素値に関する情報を、学習済みのニューラルネットワークに適用することにより、前記はんだ付け部のはんだ付けの良否を判定する手順と、
を有するはんだ付け検査方法により検査された電子部品である。
11 光学部品
12 ハーフミラー
13 撮像部
2 情報処理部
21 記憶部
22 はんだ付け領域抽出部
23 判定部
25 データ振分部
26 学習実行部
27 入力部
28 機種取得部
29 読出部
L1 第1の光源
L2 第2の光源
L3 第3の光源
S2 第2光源指示部材
S3 第3光源指示部材
Claims (14)
- 電子部品に備えられた接続子、フレーム及び該接続子と該フレームとを接続するはんだからなるはんだ付け部に対して、互いに異なる角度で光を照射する複数の光源と、
前記接続子、フレーム及びはんだ付け部が反射した光を受光し、前記接続子、前記フレーム及び前記はんだ付け部が撮像された全体画像を生成する撮像部と、
前記撮像部が生成した全体画像において前記接続子を基準とする相対位置が予め決められた画像領域を、前記はんだ付け部に対応する前記全体画像内の領域であるはんだ付け領域として抽出するはんだ付け領域抽出部と、
前記はんだ付け領域抽出部が抽出したはんだ付け領域の画素値に関する情報を、学習済みのニューラルネットワークに適用することにより、前記はんだ付け部のはんだ付けの良否を判定する判定部と、
を備えることを特徴とするはんだ付け検査装置。 - 前記はんだ付け領域は、前記全体画像内に複数あり、
前記学習済みのニューラルネットワークは、前記はんだ付け領域毎にあり、
前記はんだ付け領域抽出部は、前記全体画像からはんだ付け領域を複数抽出し、
前記判定部は、前記はんだ付け領域抽出部が抽出した複数のはんだ付け領域それぞれの画素値に関する情報を、対応する学習済みのニューラルネットワークに適用することにより、はんだ付けの良否を判定する
ことを特徴とする請求項1に記載のはんだ付け検査装置。 - 前記複数の光源は前記はんだ付け部に対して順次切り替えて光を照射し、
前記判定部は、前記光源が照射する毎に前記撮像部が撮像して得た複数の全体画像それぞれに含まれる、全体画像上の位置が同じはんだ付け領域の画素値に関する情報を、同じ学習済みのニューラルネットワークの入力層に含まれる別々のニューロンの入力値として与えることにより、前記はんだ付け部のはんだ付けの良否を判定する
ことを特徴とする請求項1または2に記載のはんだ付け検査装置。 - 前記複数の光源は全て青色光源であり、前記はんだ付け部に対して順次切り替えて青色光を照射することを特徴とする請求項3に記載のはんだ付け検査装置。
- 前記接続子及び前記フレームは銅を含むことを特徴とする請求項4に記載のはんだ付け検査装置。
- 前記はんだ付け領域抽出部は、前記接続子の境界を前記全体画像から抽出し、該境界の位置に基づいて、前記はんだ付け領域を抽出する
ことを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載のはんだ付け検査装置。 - 前記複数の光源に含まれる第1の光源は、前記はんだ付け部に対して垂直に光を照射し、
前記はんだ付け領域抽出部は、前記第1の光源を照射したときに前記撮像部が生成した全体画像に基づいて、前記接続子の境界を前記全体画像から抽出し、該境界の位置に基づいて、前記はんだ付け領域を抽出する
ことを特徴とする請求項6に記載のはんだ付け検査装置。 - 電子部品の機種と前記接続子の種類が関連付けられて記憶されており、前記接続子の種類毎にニューラルネットワークを識別するニューラルネットワーク識別情報が記憶されている記憶部と、
前記電子部品の機種を取得する機種取得部と、
前記機種取得部が取得した機種が前記記憶部において関連付けられた接続子の種類に対応するニューラルネットワーク識別情報を読み出す読出部と、
前記判定部は、前記読出部が読み出したニューラルネットワーク識別情報が識別するニューラルネットワークを用いて、はんだ付けの良否を判定する
ことを特徴とする請求項1から7のいずれか1項に記載のはんだ付け検査装置。 - 前記判定部は、前記はんだ付け領域抽出部が抽出した領域をブロックに分割し、分割したブロック毎の画素値に関する情報を前記ニューラルネットワークの入力層の別々のニューロンに入力することにより、はんだ付けの良否を判定する
ことを特徴とする請求項1から8のいずれか1項に記載のはんだ付け検査装置。 - 前記ブロック毎の画素値に関する情報は、ブロック毎の輝度値の平均値である
ことを特徴とする請求項9に記載のはんだ付け検査装置。 - 前記判定部は、前記ニューラルネットワークに適用する前に、前記全体画像を2値化画像に変換し、変換後の2値化画像からはんだ付けされた画像領域を抽出し、該抽出した画像領域の面積が所定の範囲内の場合に、前記ニューラルネットワークに適用し、前記抽出した画像領域の面積が所定の範囲外の場合に、前記ニューラルネットワークに適用せずに前記はんだ付けが不良であると判定する
ことを特徴とする請求項1から10のいずれか1項に記載のはんだ付け検査装置。 - 検査者により前記はんだ付けの良否を判定され良否毎に分類された前記はんだ付け領域の画素値に関する情報を用いて、前記ニューラルネットワークの学習を実行する学習実行部を備える
ことを特徴とする請求項1から11のいずれか1項に記載のはんだ付け検査装置。 - 電子部品に備えられた接続子、フレーム及び該接続子と該フレームとを接続するはんだからなるはんだ付け部に対して、複数の光源から互いに異なる角度で光を照射する手順と、
撮像部が、前記接続子、フレーム及びはんだ付け部が反射した光を受光し、前記接続子、前記フレーム及び前記はんだ付け部が撮像された全体画像を生成する手順と、
はんだ付け領域抽出部が、前記撮像部が生成した全体画像において前記接続子を基準とする相対位置が予め決められた画像領域を、前記はんだ付け部に対応する前記全体画像内の領域であるはんだ付け領域として抽出する手順と、
判定部が、前記はんだ付け領域抽出部が抽出したはんだ付け領域の画素値に関する情報を、学習済みのニューラルネットワークに適用することにより、前記はんだ付け部のはんだ付けの良否を判定する手順と、
を有することを特徴とするはんだ付け検査方法。 - 接続子、フレーム及び該接続子と該フレームとを接続するはんだからなるはんだ付け部を備える電子部品であって、前記はんだ付け部に対して、複数の光源から互いに異なる角度で光を照射する手順と、撮像部が、前記接続子、フレーム及びはんだ付け部が反射した光を受光し、前記接続子、前記フレーム及び前記はんだ付け部が撮像された全体画像を生成する手順と、
はんだ付け領域抽出部が、前記撮像部が生成した全体画像において前記接続子を基準とする相対位置が予め決められた画像領域を、前記はんだ付け部に対応する前記全体画像内の領域であるはんだ付け領域として抽出する手順と、
判定部が、前記はんだ付け領域抽出部が抽出したはんだ付け領域の画素値に関する情報を、学習済みのニューラルネットワークに適用することにより、前記はんだ付け部のはんだ付けの良否を判定する手順と、
を有するはんだ付け検査方法により検査された電子部品。
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