JP2015023464A - 電力分配合成器 - Google Patents

Abstract

【課題】電気的検査が簡便に行える電力分配合成器を提供する。【解決手段】本発明の電力分配合成器（コンバイナ１）は、誘電体基板２と、誘電体基板１の一方の面に設けられた出力線路１０と、出力線路１０に電気的に接続された第１の入力線路８および第２の入力線路９と、第１の入力線路８と第２の入力線路９との間に電気的に接続された吸収抵抗４と、吸収抵抗４のうち、吸収抵抗４と第１の入力線路８との接続箇所および吸収抵抗４と第２の入力線路９との接続箇所を除く領域に電気的に接続された導体部５と、導体部５に電気的に接続された検査用端子１５と、を備える。【選択図】図１

Description

本発明は、電力分配合成器に関する。

マイクロ波帯もしくはミリ波帯の電波は、波長が１ｍから１００μｍ、周波数が３００ＭＨｚから３ＴＨｚの電波（電磁波）である。マイクロ波帯もしくはミリ波帯の電波は、衛星テレビ放送、マイクロ波通信、レーダー等の広い分野にわたって応用されている。例えば、周波数が数１０ＧＨｚ以上の準ミリ波帯からミリ波帯の電波は、航空宇宙分野で使用されている。周波数が６０ＧＨｚのミリ波帯においては、大容量高速無線通信分野への応用に注目が集まっている。周波数が７７ＧＨｚのミリ波帯においては、自動車衝突防止レーダーの実用化が始まっている。

マイクロ波帯もしくはミリ波帯の電波を用いた通信モジュールには、電力分配合成器がしばしば用いられる。電力分配合成器の具体例としては、ウィルキンソン型電力分配合成器、ブランチライン型電力分配合成器、方向性結合器などが知られている。このうち、ウィルキンソン型電力分配合成器の一例が、下記の特許文献１、特許文献２に開示されている。例えば、特許文献１のウィルキンソン型電力分配合成器は、入力線路と、入力線路から分岐した２本の分配線路と、２本の分配線路間を接続する吸収抵抗と、を備える。

特開２００２−２１７６１５号公報 特開２０１０−２５１９０４号公報

この種のウィルキンソン型電力分配合成器では、入力線路や分配線路を含む伝送路と吸収抵抗とは、異なる導電性材料で構成される（例えば、特許文献２参照）。そのため、伝送路と吸収抵抗との接続点で電気的接触不良等の不具合が生じるおそれがあり、電気的検査が必要となる。しかしながら、ウィルキンソン型電力分配合成器は、２本の分配線路が相互に接続されているため、分配線路間で導通検査を行っても、導体と抵抗体との接続点での電気的接触不良を検出することはできない。そのため、ウィルキンソン型電力分配合成器に半導体素子等の外部回路を接続し、電気的特性を測定する必要がある。このように、電気的検査に手間や時間を要するという問題があった。

本発明の一つの態様は、上記の課題を解決するためになされたものであって、電気的検査を簡便に行うことができる電力分配合成器の提供を目的の一つとする。

上記の目的を達成するために、本発明の一つの態様の電力分配合成器は、基板と、前記基板の一方の面に設けられた第１の導体線路と、前記第１の導体線路に電気的に接続された第２の導体線路および第３の導体線路と、前記第２の導体線路と前記第３の導体線路との間に電気的に接続された吸収抵抗と、前記吸収抵抗のうち、前記吸収抵抗と前記第２の導体線路との接続箇所および前記吸収抵抗と前記第３の導体線路との接続箇所を除く領域に電気的に接続された導体部と、前記導体部に電気的に接続された検査用端子と、を備える。

本発明の一つの態様の電力分配合成器は、導体部を介して吸収抵抗に電気的に接続される検査用端子を備えている。そのため、例えばプローブ等を用いて第２の導体線路と検査用端子との間、もしくは第３の導体線路と検査用端子との間で電気的検査を行うことにより、各導体線路と吸収抵抗との接続点の検査を行うことができる。この方法によれば、電力分配合成器に外部回路等を接続する必要がなく、電力分配合成器単体で検査が可能である。よって、各導体線路と接触抵抗との接続状態の検査を簡便に行うことができる。

本発明の一つの態様の電力分配合成器において、前記導体部は、前記吸収抵抗の中央に電気的に接続された構成を採用してもよい。
この構成によれば、導体部の接続位置が吸収抵抗の中央となる。その結果、吸収抵抗に対して導体部が及ぼす影響が第２の導体線路側と第３の導体線路側とで等しくなる。

本発明の一つの態様の電力分配合成器において、前記導体部は、前記吸収抵抗の中央からずれた位置に電気的に接続された構成を採用してもよい。
言い換えると、本構成は、第２の導体線路と吸収抵抗との接続点から導体部までの距離と、第３の導体線路と吸収抵抗との接続点から導体部までの距離と、が異なる。そのため、第２の導体線路と吸収抵抗との接続点から導体部までの抵抗値と、第３の導体線路と吸収抵抗との接続点から導体部までの抵抗値と、が異なる。これにより、電気的接触不良がいずれの接続点で生じているかを判別できる。

本発明の一つの態様の電力分配合成器において、前記導体部と前記検査用端子とは、異なるレイヤーの異なる導電性材料で構成されていてもよい。
この構成によれば、導体部、検査用端子の各々に最適な導電性材料を適宜選択することができる。

もしくは、本発明の一つの態様の電力分配合成器において、前記導体部と前記検査用端子とは、同一のレイヤーの同一の導電性材料で構成されていてもよい。
この構成によれば、導体部と検査用端子とが一体に形成できるため、製造プロセスを簡略化することができる。

本発明の一つの態様の電力分配合成器において、前記検査用端子は、前記第２の導体線路と前記第３の導体線路と前記吸収抵抗とにより囲まれた領域に配置されていてもよい。
この構成によれば、第２の導体線路と第３の導体線路と吸収抵抗とにより囲まれた領域を有効に利用することができる。

本発明の一つの態様の電力分配合成器において、前記導体部は、途中に切断部を有していてもよい。
各導体線路と抵抗体との接続状態の検査を終了した後、再検査が必要なければ、導体部を切断することにより検査用端子を吸収抵抗から切り離してもよい。これにより、所望の電気的特性を有する電力分配合成器を実現できる。

本発明の一つの態様によれば、電気的検査を簡便に行うことができる電力分配合成器を実現できる。

本発明の第１実施形態のコンバイナの斜視図である。 コンバイナの平面図である。 コンバイナの吸収抵抗の近傍を拡大視した平面図である。 図２のＡ−Ａ’線に沿う断面図である。 図２のＢ−Ｂ’線に沿う断面図である。 検査後の吸収抵抗の近傍を拡大視した平面図である。 検査の原理を説明するための等価回路図である。 本発明の第２実施形態のコンバイナの平面図である。 コンバイナの吸収抵抗の近傍を拡大視した平面図である。 検査の原理を説明するための等価回路図である。 本発明の第３実施形態のコンバイナの平面図である。 コンバイナの断面図である。 本発明の第４実施形態のコンバイナの平面図である。

［第１実施形態］
以下、本発明の第１実施形態について、図１〜図７を用いて説明する。
本実施形態では、２つの入力信号を１つの信号に合成するウィルキンソン型コンバイナ（電力合成器）の一つの例を示す。
以下の説明では、ウィルキンソン型コンバイナを単にコンバイナと称する。
以下の各図面においては各構成要素を見やすくするため、構成要素によって寸法の縮尺を異ならせて示すことがある。

図１〜図５に示すように、第１実施形態のコンバイナ１は、誘電体基板２（基板）と、伝送路３と、吸収抵抗４と、導体部５と、検査用パッド６と、接地電極７と、を備える。伝送路３は、第１の入力線路８と、第２の入力線路９と、出力線路１０と、を含む。出力線路１０は、特許請求の範囲の「第１の導体線路」に対応する。第１の入力線路８は、特許請求の範囲の「第２の導体線路」に対応する。第２の入力線路９は、特許請求の範囲の「第３の導体線路」に対応する。

誘電体基板２には、例えば石英ガラス、パイレックス（登録商標）ガラス、シリコン、ＧａＡｓ、ポリテトラフルオロエチレン（ＰＴＦＥ）、低温同時焼成セラミックス（ＬＴＣＣ）、液晶ポリマー（ＬＣＰ）などからなる基板が用いられる。誘電体基板２の平面形状は例えば矩形であり、縦横の寸法は１ｍｍ×１ｍｍ程度である。誘電体基板２の上面２ａ（一方の面）には、伝送路３が形成されている。伝送路３を構成する第１の入力線路８、第２の入力線路９、および出力線路１０は、例えば銅等の金属膜で一体に形成されている。したがって、第１の入力線路８と第２の入力線路９と出力線路１０とは、相互に電気的に接続されている。

図２に示すように、出力線路１０側から見ると、出力線路１０の一端は２つに分岐し、一方が第１の入力線路８、他方が第２の入力線路９となっている。第１の入力線路８、第２の入力線路９の各々は、出力線路１０に近い側が外側に凸になるように湾曲し、出力線路１０から遠い側が互いに平行に直線状に延びる形状を有する。第１の入力線路８の直線部８Ａ、第２の入力線路９の直線部９Ａの幅Ｗは、例えばともに４００μｍ程度である。

図２に示すように、吸収抵抗４は、第１の入力線路８の直線部８Ａと第２の入力線路９の直線部９Ａとの間にわたって形成されている。図４、図５に示すように、吸収抵抗４は、誘電体基板２の上面２ａに形成された不純物拡散層により形成されている。第１の入力線路８の一部、および第２の入力線路９の一部は、吸収抵抗４の上面に接触している。この構成により、吸収抵抗４は、第１の入力線路８と第２の入力線路９とに電気的に接続されている。吸収抵抗４の抵抗値は、例えば１００Ω程度である。

図２に示すように、導体部５は、吸収抵抗４のうち、吸収抵抗４と第１の入力線路８との接続点Ｐ１および吸収抵抗４と第２の入力線路９との接続点Ｐ２を除く領域に、電気的に接続されている。第１実施形態では、導体部５は、吸収抵抗４の中央に電気的に接続されている。すなわち、図３に示すように、吸収抵抗４と第１の入力線路８との接続点Ｐ１から吸収抵抗４と導体部５との接続点Ｐ０までの距離Ｌ１と、吸収抵抗４と第２の入力線路９との接続点Ｐ２から吸収抵抗４と導体部５との接続点Ｐ０までの距離Ｌ２と、は等しい。

図５に示すように、導体部５は、誘電体基板２の上面２ａに形成された導電性材料により構成されている。導体部５の導電性材料としては、例えばニッケルクロム合金、窒化タンタル等が用いられる。導体部５の一方の端部は、吸収抵抗４の上面に接触している。この構成により、導体部５は、吸収抵抗４に電気的に接続されている。

図５に示すように、検査用パッド６は、誘電体基板２の上面２ａに形成された導電性材料で構成されている。検査用パッド６の導電性材料としては、伝送路３を構成する第１の入力線路８、第２の入力線路９、および出力線路１０と同様、例えば銅等の金属膜が用いられる。検査用パッド６の一部は、導体部５の上面に乗り上げる形態で導体部５に接触している。この構成により、検査用パッド６は、導体部５に電気的に接続されている。

図２に示すように、導体部５の延在方向は、第１の入力線路８と第２の入力線路９とを結ぶ吸収抵抗４の延在方向と略直交している。導体部５と検査用パッド６とは、第１の入力線路８と第２の入力線路９と吸収抵抗４とにより囲まれた領域Ｓに配置されている。

図４、図５に示すように、伝送路３、吸収抵抗４、導体部５、および検査用パッド６の上面を含む誘電体基板２の上面２ａは、任意の絶縁性材料からなる絶縁膜１１で覆われている。絶縁膜１１のうち、出力線路１０、第１の入力線路８、第２の入力線路９、および検査用パッド６の上面に開口部が設けられている。出力線路１０上の開口部は、出力端子１２となる。第１の入力線路８上の開口部、第２の入力線路９上の開口部は、それぞれ第１の入力端子１３、第２の入力端子１４となる。これら出力端子１２、各入力端子１３，１４には任意の外部回路（図示略）が適宜接続される。検査用パッド６上の開口部は、検査用端子１５となる。誘電体基板２の下面２ｂの全域には、例えば銅等の導電性材料からなる接地電極７が形成されている。

コンバイナ１における吸収抵抗４の作用について説明する。
本実施形態において仮に吸収抵抗４がなかったとすると、例えば第１の入力線路８から見たインピーダンスが不整合となり、第１の入力線路８に信号を入力した際、インピーダンスの不整合により生じた反射電力が第２の入力線路９に現れる。その結果、第２の入力線路９に不要な信号が混入する、各線路に接続された回路が不安定になる、等の不具合が生じる。そこで、信号が互いの線路に影響を及ぼさないようにアイソレーションが必要となる。

第１の入力線路８から信号を入力したとき、出力線路１０に出力される信号成分と、出力端で反射して第２の入力線路９に出力される信号成分と、が存在する。このとき、第１の入力線路８と第２の入力線路９との間に吸収抵抗４が存在すると、第１の入力端子１３−出力端子１２−第２の入力端子１４の経路の線路長をλ／２（λ：信号波の波長）に設定しておけば、第１の入力端子１３−出力端子１２−第２の入力端子１４の経路を通って伝わる信号と、第１の入力端子１３−吸収抵抗４−第２の入力端子１４の経路を通って伝わる信号とは位相が反転する。この場合、２つの経路を通って伝わった信号は互いに打ち消し合い、第１の入力線路８から入力された信号は第２の入力線路９に出力されない。このように、吸収抵抗４を設けることにより、第１の入力線路８と第２の入力線路９とのアイソレーションが図れる。その結果、外部回路を含めた動作が安定するとともに、高精度の信号合成が可能なコンバイナ１を実現することができる。

上記構成のコンバイナ１において、吸収抵抗４と伝送路３との電気的接続不良の検査方法について説明する。
図１に示すように、第１の入力端子１３、第２の入力端子１４のうちのいずれか一方と検査用端子１５とにプローブ１６を当てる。この例では、第１の入力端子１３と検査用端子１５のそれぞれにプローブ１６を当てる。次に、プローブ１６を通じてコンバイナ１に一定の電流を供給し、第１の入力端子１３−検査用端子１５間の電圧を測定する。

図７は、第１の入力端子１３−検査用端子１５間の等価回路図である。
第１の入力線路８と吸収抵抗４との接続点Ｐ１と検査用端子１５との間の吸収抵抗４の抵抗をＲ１とし、第２の入力線路９と吸収抵抗４との接続点Ｐ２と検査用端子１５との間の吸収抵抗４の抵抗をＲ２とする。
第１実施形態においては、接続点Ｐ１−接続点Ｐ０間の距離Ｌ１と接続点Ｐ２−接続点Ｐ０間の距離Ｌ２とが等しいため、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２とが等しい。吸収抵抗４と各入力線路８，９との電気的接続が正常な場合、図７の通り、第１の入力端子１３−検査用端子１５間に抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２とが並列接続されたことと等価になり、電流を供給したときに抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２との合成抵抗に応じた電圧が測定される。

これに対して、第１の入力線路８と吸収抵抗４との接続点Ｐ１、第２の入力線路９と吸収抵抗４との接続点Ｐ２のいずれか一方で電気的接続不良が発生した場合、第１の入力端子１３−検査用端子１５間に抵抗Ｒ１、抵抗Ｒ２のいずれか一方のみが接続されたことと等価になり、電流を供給したときに一方の抵抗Ｒ１，Ｒ２に応じた電圧が測定される。

また、第１の入力線路８と吸収抵抗４との接続点Ｐ１、第２の入力線路９と吸収抵抗４との接続点Ｐ２の双方で電気的接続不良が発生した場合、第１の入力端子１３−検査用端子１５間の導通が取れず、電圧の測定が不能である。
この例では第１の入力端子１３を用いたが、この方法に代えて、第２の入力端子１４と検査用端子１５とにプローブを当てる方法によっても、上記と同様に検査が可能である。

このように、プローブ１６による電流供給、電圧測定を行うことにより、吸収抵抗４と各入力線路８，９との電気的接続不良の有無、電気的接続不良が発生している場合の不良箇所の数（１箇所もしくは２箇所）を検査することができる。第１実施形態のコンバイナ１によれば、吸収抵抗４に電気的に接続された検査用端子１５を備えたことにより、コンバイナ１に外部回路等を接続する必要がなく、コンバイナ１の単体で検査が可能である。よって、伝送路３と吸収抵抗４との接続状態の検査を簡便に行うことができる。

検査が終了した後、吸収抵抗４を当初の設計通りに機能させるため、図６に示すように、導体部５を途中で切断して切断部５ｓを形成し、吸収抵抗４と検査用パッド６とを切り離す。「吸収抵抗４を当初の設計通りに機能させる」とは、例えば、検査用端子１５を備えていない電力分配合成器と略同等の機能を持たせる、という意味である。導体部５を切断する手段としては、例えばレーザーによる溶断等を用いることができる。この場合、導体部５をできるだけ吸収抵抗４に近い位置で切断し、導体部５の切り残し部分５ｋを短くすることが好ましい。また、導体部５の幅Ｗ５はできるだけ細い方が好ましい。これにより、導体部５の切り残し部分５ｋに起因するアイソレーション抵抗の設計値からのずれを低減できる。ただし、導体部５の切り残し部分５ｋの長さを調整することにより、アイソレーション抵抗の微調整を行うこともできる。

本実施形態では、導体部５は吸収抵抗４の中央に配置されているため、導体部５を切断した後も切り残し部分５ｋが吸収抵抗の中央に配置される。その結果、吸収抵抗４に対して切り残し部分５ｋが及ぼす影響が第１の入力線路８側と第２の入力線路９側とで等しくなる。

本実施形態では、導体部５と検査用パッド６とは異なるレイヤーの異なる導電性材料で構成されているため、導体部５、検査用パッド６の各々に最適な導電性材料を適宜選択することができる。また、導体部５と検査用パッド６とは、第１の入力線路８と第２の入力線路９と吸収抵抗４とにより囲まれた領域Ｓに配置されているため、伝送路３の中央の空いた領域Ｓを有効利用することができる。そのため、導体部５と検査用パッド６を設けても、コンバイナ１が大型化することがない。

［第２実施形態］
以下、本発明の第２実施形態について、図８〜図１０を用いて説明する。
本実施形態のコンバイナの基本構成は第１実施形態と同様であり、導体部の位置が第１実施形態と異なる。
図８〜図１０において、第１実施形態で用いた図面と共通の構成要素には同一の符号を付し、その説明を省略する。

第１実施形態において、導体部５は、吸収抵抗４の中央に電気的に接続されていた。これに対し、第２実施形態のコンバイナ２１においては、図８、図９に示すように、導体部５は、吸収抵抗４の中央からずれた位置に電気的に接続されている。具体的には、第２の入力線路９と吸収抵抗４との接続点Ｐ２から導体部５と吸収抵抗４との接続点Ｐ０までの距離Ｌ２は、第１の入力線路８と吸収抵抗４との接続点Ｐ１から導体部５と吸収抵抗４との接続点までの距離Ｌ１の２倍である。すなわち、Ｌ１：Ｌ２＝１：２である。ただし、導体部５を吸収抵抗４の中央からずらす距離は、この例に限ることはなく、適宜変更は可能である。その他の構成は、第１実施形態と同様である。

図１０は、第１の入力端子１３−検査用端子１５間の等価回路図である。
第２実施形態においては、接続点Ｐ２−接続点Ｐ０間の距離Ｌ２は接続点Ｐ１−接続点Ｐ０間の距離Ｌ１の２倍であるため、抵抗Ｒ２は抵抗Ｒ１の２倍である。すなわち、Ｒ１：Ｒ２＝１：２である。各入力線路８，９と吸収抵抗４との電気的接続が正常であれば、図１０の通り、第１の入力端子１３−検査用端子１５間に抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２とが並列接続されたことと等価になり、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２との合成抵抗に応じた電圧が測定される。

これに対し、第１の入力線路８と吸収抵抗４との接続点Ｐ１で電気的接続不良が発生した場合、抵抗Ｒ１が機能せず、第１の入力端子１３−検査用端子１５間に抵抗Ｒ２のみが接続されたことと等価になり、抵抗Ｒ２に応じた電圧が測定される。逆に、第２の入力線路９と吸収抵抗４との接続点Ｐ２で電気的接続不良が発生した場合、抵抗Ｒ２が機能せず、第１の入力端子１３−検査用端子１５間に抵抗Ｒ１のみが接続されたことと等価になり、抵抗Ｒ１に応じた電圧が測定される。第２実施形態の場合、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２とが異なるため、接続点Ｐ１で電気的接続不良が発生した場合と接続点Ｐ２で電気的接続不良が発生した場合とで、測定される電圧は異なる。

第１の入力線路８と吸収抵抗４との接続点Ｐ１、第２の入力線路９と吸収抵抗４との接続点Ｐ２の双方で電気的接続不良が発生した場合、第１の入力端子１３−検査用端子１５間の導通が取れず、電圧の測定が不能である。
ここでは第１の入力端子１３を用いた方法を説明したが、この方法に代えて、第２の入力端子１４と検査用端子１５とにプローブ１６を当てる方法によっても、上記と同様に検査が可能である。

第２実施形態のコンバイナ２１においても、伝送路３と吸収抵抗４との接続状態の検査を簡便に行うことができる、という第１実施形態と同様の効果が得られる。
さらに第２実施形態の場合、導体部５の接続位置を吸収抵抗４の中央からずらしたことにより、いずれか一方の接続点Ｐ１，Ｐ２で電気的接続不良が発生した際、接続点Ｐ１で電気的接続不良が発生しているのか、接続点Ｐ２で電気的接続不良が発生しているのかを識別できる。

［第３実施形態］
以下、本発明の第３実施形態について、図１１、図１２を用いて説明する。
本実施形態のコンバイナの基本構成は第１実施形態と同様であり、導体部および検査パッドの構成が第１実施形態と異なる。
図１１、図１２において、第１実施形態で用いた図面と共通の構成要素には同一の符号を付し、その説明を省略する。

第１実施形態において、導体部５と検査用パッド６とは、互いに異なるレイヤーの異なる導電性材料で構成されていた。これに対し、第３実施形態のコンバイナ３１においては、図１１、図１２に示すように、導体部３２と検査用パッド３３とは、同一のレイヤーの同一の導電性材料で構成されている。すなわち、導体部３２と検査用パッド３３とは、一体に形成されている。導体部３２と検査用パッド３３とは、伝送路３を構成する第１の入力線路８、第２の入力線路９、および出力線路１０と同様、例えば銅等の金属膜で構成されている。

第３実施形態のコンバイナ３１においても、伝送路３と吸収抵抗４との接続状態の検査を簡便に行うことができる、といった第１、第２実施形態と同様の効果が得られる。
さらに、第３実施形態のコンバイナ３１によれば、導体部３２と検査用パッド３３とを伝送路３と同一工程で形成できるため、製造プロセスの簡略化が図れる。

［第４実施形態］
以下、本発明の第４実施形態について、図１３を用いて説明する。
本実施形態のコンバイナの基本構成は第１実施形態と同様であり、導体部および検査パッドの配置が第１実施形態と異なる。
図１３において、第１実施形態で用いた図面と共通の構成要素には同一の符号を付し、その説明を省略する。

第１実施形態において、導体部５および検査用パッド６は、第１の入力線路８と第２の入力線路９と吸収抵抗４とにより囲まれた領域Ｓの内側に配置されていた。これに対して、第４実施形態のコンバイナ４１においては、図１３に示すように、導体部５および検査用パッド６は、第１の入力線路４２と第２の入力線路４３と吸収抵抗４とにより囲まれた領域Ｓの外側の領域Ｓ’に配置されている。

第４実施形態のコンバイナ４１は、伝送路４４の形状が第１実施形態と比べて異なっている。第１の入力線路４２のうち、第１の入力端子１３が形成された部分４２Ａは、第２の入力線路４３から離れる側に屈曲した後、下方に延びている。同様に、第２の入力線路４３のうち、第２の入力端子１４が形成された部分４３Ａは、第１の入力線路４２から離れる側に屈曲した後、下方に延びている。第１の入力線路４２と第２の入力線路４３とは、第１実施形態に比べて、第１の入力端子１３と第２の入力端子１４とが互いに離れる方向に外側に開いた形状となっている。導体部５および検査用パッド６は、第１の入力端子１３と第２の入力端子１４との間の領域Ｓ’に配置されている。その他の構成は、第１実施形態と同様である。

第４実施形態のコンバイナ４１においても、伝送路４４と吸収抵抗４との接続状態の検査を簡便に行うことができる、といった第１〜第３実施形態と同様の効果が得られる。
このように、導体部５および検査用パッド６の配置は、伝送路や吸収抵抗の形状、位置関係等に応じて適宜変更すればよい。

なお、本発明の技術範囲は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば上記実施形態で例示した伝送路、吸収抵抗、導体部、検査用パッド等の形状、寸法、数、配置、構成材料等に関しては、上記実施形態に限ることなく、適宜変更が可能である。上記実施形態では、本発明の電力分配合成器を２入力１出力のコンバイナとして用いる例として説明したが、このコンバイナを１入力２出力のディバイダ（電力分配器）として用いてもよい。すなわち、上記実施形態の第１の入力線路、第２の入力線路をそれぞれ第１の出力線路、第２の出力線路とし、出力線路を入力線路として用いれば、同一の構成のままでディバイダ（電力分配器）として用いることができる。すなわち、本発明の電力分配合成器は、使用形態によって電力分配器としても電力合成器としても用いることのできるデバイスである。

本発明は、例えば通信モジュール等に用いる電力分配合成器に利用可能である。

１，２１，３１，４１…コンバイナ（電力分配合成器）、２…誘電体基板（基板）、４…吸収抵抗、５，３２…導体部、６，３３…検査用パッド、８…第１の入力線路（第２の導体線路）、９…第２の入力線路（第３の導体線路）、１０…出力線路（第１の導体線路）、１５…検査用端子。

Claims (7)

1. 基板と、
   前記基板の一方の面に設けられた第１の導体線路と、
   前記第１の導体線路に電気的に接続された第２の導体線路および第３の導体線路と、
   前記第２の導体線路と前記第３の導体線路との間に電気的に接続された吸収抵抗と、
   前記吸収抵抗のうち、前記吸収抵抗と前記第２の導体線路との接続箇所および前記吸収抵抗と前記第３の導体線路との接続箇所を除く領域に電気的に接続された導体部と、
   前記導体部に電気的に接続された検査用端子と、
   を備えたことを特徴とする電力分配合成器。
2. 前記導体部が、前記吸収抵抗の中央に電気的に接続されたことを特徴とする請求項１に記載の電力分配合成器。
3. 前記導体部が、前記吸収抵抗の中央からずれた位置に電気的に接続されたことを特徴とする請求項１に記載の電力分配合成器。
4. 前記導体部と前記検査用端子とが、異なるレイヤーの異なる導電性材料で構成されたことを特徴とする請求項１から請求項３までのいずれか一項に記載の電力分配合成器。
5. 前記導体部と前記検査用端子とが、同一のレイヤーの同一の導電性材料で構成されたことを特徴とする請求項１から請求項３までのいずれか一項に記載の電力分配合成器。
6. 前記検査用端子が、前記第２の導体線路と前記第３の導体線路と前記吸収抵抗とにより囲まれた領域に配置されたことを特徴とする請求項１から請求項５までのいずれか一項に記載の電力分配合成器。
7. 前記導体部が、途中に切断部を有することを特徴とする請求項１から請求項６までのいずれか一項に記載の電力分配合成器。

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