JP2015013226A

JP2015013226A - 位置補正機構付きダイヘッド

Info

Publication number: JP2015013226A
Application number: JP2013139612A
Authority: JP
Inventors: 慎一江川; Shinichi Egawa
Original assignee: Toppan Printing Co Ltd
Current assignee: Toppan Inc
Priority date: 2013-07-03
Filing date: 2013-07-03
Publication date: 2015-01-22

Abstract

【課題】ダイヘッドの幅方向の左右の塗工ギャップを合わせるだけでなく、ダイヘッドの塗工ロールに対する傾きを補正する機能を備えることによって均一な塗工ギャップを得ることが可能な位置補正機能付きダイヘッドを提供する。
【解決手段】塗工ロール１を介して搬送される長尺状の基材に対して塗液を１層以上積層させて多層フィルムを製造する際に用いられるダイヘッドであり、ダイヘッド本体２１と、基準板２２と、計測手段２３と、位置情報解析手段２４と、傾き量算出手段２５ａと、塗工ギャップ量算出手段２５ｂと、ダイヘッド位置補正機構２６ａ、２６ｂと、を備えている。
【選択図】図５

Description

本発明は、基材に塗液を塗工するダイヘッドであって、詳しくはダイヘッドの位置補正機能を有することで基材の幅方向に均一に塗液を塗工可能なダイヘッドに関する。

ダイヘッドを用いてフィルム上に１以上の層を積層させて製造される多層フィルムは、近年、積層膜を構成する各層の塗工精度に対する要求が高まっている。特に塗工膜の膜厚精度に対する要求が厳しくなっており塗工幅方向におけるバラツキも極力小さくすることが望まれている。塗工幅方向に膜厚を均一にするには、ダイヘッドと塗工ロールの間隔（以下、塗工ギャップと記す）を塗工幅方向に一定にすることが重要である。

フィルムに塗液を塗工するに際し、従来の塗工ギャップを設定する方法は図１に示すようにコーティングロール１（以下、塗工ロール）と塗液を吐出するダイ６のリップとの間の塗工ギャップδ（例えば１００μｍ程度）は同塗工ギャップδの幅方向の両端部に厚さの同じシート（ゲージ）６ａおよび６ｂ或いは、くさび状ゲージ等を挟み、その抜け具合を手の感覚で或いは挿入距離を測定して設定していた。

しかしながら、塗工ギャップは手の感覚で設定するため人により異なるばかりでなく、ロールやダイリップにゲージが接触するためコーティングにとって大切なロール表面やダイリップを傷つけるおそれもあった。

上記問題に対して、従来技術では塗工ギャップを調整する方法がある（参考文献１）。

参考文献１に示される塗工ギャップの調整方法を図２、図３に示す。図２は上面図、図３は図２のＺ方向から見た側面図である。参考文献１に示される塗工ギャップの調整方法は、フィルム等に塗液を塗工するに際し、塗液吐出用ダイリップ４の先端と塗工ロール１との間の塗工ギャップ（＝δ）を調整するもので、ダイ或いはその取付け台にダイリップ４に平行な基準面Ａを設け、同基準面Ａに対向して幅方向の両端部に測定方向の位置調整が可能なレーザ測定器２、３を設け、両端部のそれぞれのレーザ測定器と基準面Ａとの間の距離ＬＬ１、ＬＲ１を測定し、両測定値ＬＬ１、ＬＲ１を一致させる。次いでレーザ測定器２、３を矢印１０、１１で示す方向に移動して塗工ロール１との間の距離ＬＬ２、ＬＲ２を測定し、両距離ＬＬ２、ＬＲ２を一致させるようにダイヘッド或いはその取付け台の幅方向の一端部を支点軸５として他端部を回動自在させ、ダイリップの塗工ロールに対する平行度を出すようにした塗工ギャップ調整方法である。

また、塗工ギャップδを設定する場合には、図３に示すようにレーザ測定器２、３がおのおのダイ後端部に設けた基準面Ａとの間の距離ＬＬ１、ＬＲ１を測定し、レーザ測定器２、３の位置の調整により両測定値ＬＬ１、ＬＲ１を一致させ、レーザ測定器２、３と基準面Ａ、即ちレーザ測定器２、３とダイリップ４が平行となるようにした後、次いで鎖線で示す位置からレーザ測定器２ｃ、３ｃが塗工ロール１との間の距離ＬＬ２、ＬＲ２を測定し、ダイヘッド６を支点軸５を中心に回動させ、塗工ロール１に対し平行度を出すようにしている。そして塗工ギャップδは予め設定してあるダイヘッド６の寸法Ｗよりδ＝ＬＲ２（＝ＬＬ２）−（ＬＲ１（＝ＬＬ１）＋Ｗ）として求め、矢印７の方向に搬送される基材８上に塗工膜９を塗工することが出来る。

特開２００３ー３００００５号公報

図２、図３に示される塗工ギャップδを設定する方法での問題点を図４を用いて説明する。図４（ａ）はダイヘッド６と塗工ロール１を側面から見た図で、図４（ｂ）は図４（ａ）の矢印１００で示される方向から見た上面図、図４（ｃ）は図４（ａ）の矢印１１０で示される方向から見た側面図である。上記参考文献１に示される塗工ギャップδのダイヘッド６を上方から見た場合は、図４（ｂ）に示すようにダイヘッド６と塗工ロール１が平行になっている。しかし側面から見た場合は図４（ｃ）に示すように塗工ロール１に対してダイヘッド６が傾いているために、上記のように水平方向の調整をするだけでは均一な塗工ギャップが調整できない（幅方向の中心部の塗工ギャップはδより小さい）。

ダイヘッド交換時にダイヘッドを載せるダイ架台の機械精度だけでは、傾きが無い様に設置することは困難である。その為、ダイヘッドが塗工ロールに対して傾いて設置されている場合が多い。従って、上記方法のように幅方向の左右の塗工ギャップを合わせてもダイヘッド中央部の塗工ギャップが左右の塗工ギャップに一致せず均一な塗工ギャップを調整することができない課題があった。

そこで本発明はダイヘッドの幅方向の左右の塗工ギャップを合わせるだけでなく、ダイヘッドの塗工ロールに対する傾きを補正する機能を備えることによって均一な塗工ギャップを得ることが可能な位置補正機能付きダイヘッドを提供することを課題とする。

そこで本発明の請求項１に記載の発明は、
塗工ロールを介して搬送される長尺状の基材に対して塗液を塗工して１層以上積層させて多層フィルムを製造する際に用いられるダイヘッドにおいて、
ダイヘッド本体と、第一の基準板と第二の基準板と、第一の計測手段と第二の計測手段と、第一のアクチュエータと第二のアクチュエータと、位置情報解析手段と、ダイヘッド高さ算出手段と、塗工ギャップ量算出手段と、第一のダイヘッド位置補正機構と、第二のダイヘッド位置補正機構と、を備え、
前記第一の基準板と第二の基準板は、前記ダイヘッド本体の幅方向の左右端に取り付けられ、且つ、第一の基準板は前記第一の計測手段と塗工ロールの間の位置に取り付けられていて、第二の基準板は前記第二の計測手段と塗工ロールの間の位置に取り付けられていて、
前記第一のアクチュエータにより前記第一の計測手段を垂直方向の複数の決められた位置に位置決めをし、第二のアクチュエータにより前記第二の計測手段を垂直方向の複数の決められた位置に位置決めをし、
第一の計測手段と第二の計測手段の前記垂直方向の複数の決められた位置において、
第一の計測手段及び第二の計測手段と前記塗工ロール面までの距離（１）と、
第一の計測手段及び第二の計測手段と第一の基準板及び第二の基準板までの距離（２）と、を計測し、
前記位置情報解析手段にて前記距離（１）及び前記距離（２）から前記塗工ロールに対するダイヘッド本体の左右端の位置情報を求め、
前記ダイヘッド高さ算出手段にて前記ダイヘッド本体の左右端の位置情報から塗工ロールに対するダイヘッド本体の左右の高さの違いを算出し、前記第一のダイヘッド位置補正機構にて前記ダイヘッドの左右端の高さの違いを無くし、且つ、高さが規定値となる様に前記ダイヘッド本体を動かし、
前記塗工ギャップ量算出手段にて前記ダイヘッド本体の左右端の位置情報から塗工ロールとダイヘッド本体の左右端のギャップ量を算出し、前記第二のダイヘッド位置補正機構
にてダイヘッド本体の左右端の塗工ギャップ量が規定値となる様に前記ダイヘッド本体を動かしてダイヘッドと塗工ロールの位置関係を補正することを特徴とする位置補正機構付きダイヘッドである。

本発明の請求項２に記載の発明は、
前記第一の計測手段及び第二の計測手段は、垂直方向に移動しながら、前記塗工ロールの表面までの距離及び前記第一の基準板と第二の基準板までの距離を計測し、前記塗工ロールと前記第一の基準板と第二の基準板までの距離（Ｘ軸）と、前記第一の計測手段及び第二の計測手段の移動距離（Ｙ軸）をＸ−Ｙ座標系に変換して、前記位置情報解析手段によって塗工ロールに対するダイヘッドの位置を求めることを特徴とする請求項１に記載の位置補正機構付きダイヘッドである。

本発明の位置補正機構付きダイヘッドによれば、塗工ロールとダイヘッド本体の左右端の位置を求めることで、塗工ロールに対するダイヘッド本体の高さを調整することが可能となる。また、塗工ギャップを所望するものにすることが可能となる。その結果、幅方向の塗工ギャップを均一にすることが可能となり、幅方向の塗膜の厚みを一定にすることが出来る。

従来の塗工ギャップを設定する方法を示す図。参考文献１に示される塗工ギャップの調整方法を示す上面図。参考文献１に示される塗工ギャップの調整方法を示す図で、図２のＺ方向から見た側面図。塗工ギャップδを設定する方法での問題点を説明するための図。（ａ）は、ダイヘッド６と塗工ロール１を側面から見た図。（ｂ）は、図４（ａ）の矢印１００で示される方向から見た上面図。（ｃ）は、図４（ａ）の矢印１１０で示される方向から見た側面図。本発明の位置補正機構付きダイヘッド２０の概略構成を示す図。図５のダイヘッド本体２１を矢印１１１の方向から見た図で、本発明に係る基準板２２を説明するための図。（ａ）は、本発明に係る第一の計測手段２３ａを説明するための図。（ｂ）は、第二の計測手段２３ｂを説明するための図。本発明に係る第一の計測手段２３ａ、第二の計測手段２３ｂが垂直方向に移動することを示す図。（ａ）は、第一のアクチュエータ３０ａにより第一の計測手段２３ａを矢印２７ａで示す垂直方向に複数決められた位置に位置決めすることを示す図。（ｂ）は、第二のアクチュエータ３０ｂにより第二の計測手段２３ｂを矢印２７ｂで示す垂直方向に複数決められた位置に位置決めすることを示す図。本発明に係る第一の計測手段２３ａによる計測方法を説明するための図。塗工ロール１と第一の基準板までの距離（Ｘ軸）と、計測手段２３ａの移動距離（Ｙ軸）をＸ−Ｙ座標系に変換することを示す図。（ａ）は、塗工ロール１の表面までの計測データと、第一の基準板、第二の基準板までの計測データを示す図。（ｂ）は、求められた塗工ロール１の形状３４と第一の基準板の位置３２ａを示す図。本発明に係るダイヘッド高さ算出手段によって前記位置情報から塗工ロールに対するダイヘッド本体の高さを算出する方法を示す図。（ａ）は、Ａ側（左端）の計測データから算出された第一の基準板２２ａの（垂直方向の）中心と、塗工ロール１の頂点と、の垂直方向のズレ量（Ｙ１）を示す図。（ｂ）は、Ｂ側（右端）の計測データから算出された第二の基準板２２ｂの（垂直方向の）中心と、塗工ロール１の頂点と、の垂直方向のズレ量（Ｙ２）を示す図。塗工ギャップ量算出手段によって前記位置情報から塗工ロール１とダイヘッド本体２１の塗工ギャップ量を算出する方法を示す図。（ａ）は、Ａ側の計測データから算出された第一の基準板２２ａの（垂直方向の）中心と、塗工ロール１の頂点と、の水平方向の間隔（Ｘ１）を示す図。（ｂ）は、Ｂ側の計測データから算出された第二の基準板２２ｂの（垂直方向の）中心と、塗工ロール１の頂点と、の水平方向の間隔（Ｘ２）を示す図。本発明に係る第一のダイヘッド位置補正機構２６ａを説明するための図。（ａ）は、第一のダイヘッド位置補正機構２６ａを説明するための模式図。（ｂ）は、塗工ロール１とダイヘッド２１が平行になるように高さを補正することを示す図。本発明に係る第二のダイヘッド位置補正機構２６ｂを説明するための図。（ａ）は、第二のダイヘッド位置補正機構２６ｂを説明するための模式図。（ｂ）は、塗工ロール１の全幅にわたって塗工ギャップを規定値（＝δ）とすることを示す図。本発明に係るダイヘッドの位置を補正する場合のフロー図。

以下、図面を参照して本発明に係る位置補正機構付きダイヘッドを実施するための形態を説明する。

図５は本発明の位置補正機構付きダイヘッド２０の概略構成を示す図である。本発明の位置補正機構付きダイヘッド２０は塗工ロール１を介して搬送される図示しない長尺状の基材に対して塗液を１層以上積層させて多層フィルムを製造する際に用いられるダイヘッドであり、ダイヘッド本体２１と、第一の基準板２２ａと第二の基準板２２ｂと、第一の計測手段２３ａと第二の計測手段２３ｂと、第一のアクチュエータ３０ａ第一のアクチュエータ３０ｂと、位置情報解析手段２４と、ダイヘッド高さ算出手段２５ａと、塗工ギャップ量算出手段２５ｂと、第一のダイヘッド位置補正機構２６ａと第二のダイヘッド位置補正機構２６ｂと、を備えている。

図６は図５のダイヘッド本体２１を矢印１１１の方向から見た図で、第一の基準板２２ａと第二の基準板２２ｂを説明するための図である。第一の基準板２２ａと第二の基準板２２ｂは、前記ダイヘッド本体の幅方向の左右端に取り付けられ、且つ、第一の基準板は前記第一の計測手段と塗工ロールの間の位置に取り付けられていてその形状は限定されるのもではなく、丸形、角形どちらでも良い。尚、第一の計測手段２３ａと第二の計測手段２３ｂはダイヘッド本体２１の幅方向の左右端に取り付けられており、第一の計測手段２３ａと第二の計測手段２３ｂには例えばレーザ変位計を用いることが出来る。

第一の計測手段２３ａと第二の計測手段２３ｂはダイヘッド本体２１に対して塗工ロール１の反対側に設けられ、Ａ側の第一の計測手段２３ａは図７（ａ）に示すように、
（１）第一の計測手段２３ａと塗工ロール１のロール面までの距離Ｌ１と、
（２）第一の計測手段２３ａと第一の基準板２２ａまでの距離Ｌ２と、を計測する。

また、Ｂ側の第二の計測手段２３ｂは図７（ｂ）に示すように、
（１）第二の計測手段２３ｂと塗工ロール１のロール面までの距離Ｒ１と、
（２）第二の計測手段２３ｂと第二の基準板２２ｂまでの距離Ｒ２と、を計測する。

第一の計測手段２３ａ、第二の計測手段２３ｂはそれぞれ矢印２７ａ、２７ｂで示される方向に（垂直方向）に移動する機構を有し、前記第一の基準板２２ａ、第二の基準板２２ｂと塗工ロール１のロール面を２次元で計測する。図８は垂直方向に移動する機構を示す図で、第一のアクチュエータ３０ａにより前記第一の計測手段２３ａを矢印２７ａで示す垂直方向に複数決められた位置に位置決め（図８（ａ））をし、また第二のアクチュエータ３０ｂにより前記第二の計測手段２３ｂを矢印２７ｂで示す垂直方向に複数決められた位置に位置決めすることが出来る（図８（ｂ））。

第一の計測手段２３ａと第二の計測手段２３ｂによる計測方法は同じであるから、第一の計測手段２３ａを例として計測方法を図９を用いて説明する。

第一の計測手段２３ａは矢印２７ａで示す垂直方向に移動しながら、塗工ロール１のロール面までの距離（１）及び第一の基準板２２ａまでの距離（２）を計測する。即ち、例えば第一の基準板２２ａの上方から基準板を経て基準板の下方に移動する。その場合、先ず塗工ロール１のロール面までの距離（１）、第一の基準板２２ａまでの距離（２）、更に再び塗工ロール１のロール面までの距離（１）を計測する。移動方向はこの逆であっても構わない。この場合、第一の基準板２２ａの取り付け位置は正確でなければならない。

計測した結果は、図１０に示すように塗工ロール１のロール面と第一の基準板２２ａまでの距離（Ｘ軸）と、第一の計測手段２３ａの移動距離（Ｙ軸）をＸ−Ｙ座標系に変換して、位置情報解析手段２４によって塗工ロール１の位置とダイヘッド２１（正確には第一の基準板２２ａ）の位置を求める。

位置情報解析手段２４は前記（１）及び（２）の計測値Ｌ１（図９の場合は５個のＬ１）、Ｌ２（図９の場合は２個のＬ２）から塗工ロール１に対するダイヘッド本体２１の位置を解析する手段である。図１０（ａ）に示すように第一の計測手段２３ａによって求められた塗工ロール１のロール面までの計測データは符号３１ａ、３１ｂで示されるものであって、第一の基準板２２ａまでの計測データは符号３２で示されるものとなる。第一の基準板２２ａで隠れた符号３３の部分は一般的に用いられているスプライン補間法を用いて形状が求められる。このようにして図１０（ｂ）に示しように塗工ロール１の形状は破線３４として求めることが出来、また、ダイヘッド本体２１の位置は破線３２ａとして求めることが出来る。その結果、前記位置情報解析手段にて前記距離（１）及び前記距離（２）から前記塗工ロール１に対するダイヘッド本体２１の左右端の位置情報を求めることが出来る。

ダイヘッド高さ算出手段２５ａは前記位置情報から塗工ロール１に対するダイヘッド本体の高さを算出する手段である。図１１にダイヘッド高さ算出手段にて前記ダイヘッド本体２１の左右端の位置情報から塗工ロール１対するダイヘッド本体２１の左右の高さの違いを算出する方法を示す。図１１（ａ）は、２つの計測手段の内の第一の計測手段２３ａによって求められたＡ側の計測データから算出された第一の基準板２２ａの（垂直方向の）中心と、塗工ロール１のロール面の頂点との垂直方向のズレ量（Ｙ１）を示し、図１１（ｂ）は、２つの計測手段の内の第二の計測手段２３ｂによって求められたＢ側の計測データから算出された第二の基準板２２ｂの（垂直方向の）中心と、塗工ロール１のロール面の頂点と、の垂直方向のズレ量（Ｙ２）を示す。この場合はＹ１＞Ｙ２であり、ダイヘッド高さ算出手段２５ａは（Ｙ１―Ｙ２）を高さの差として算出する。この場合、第一の基準板２２ａの（垂直方向の）中心ではなく、第一の基準板２２ａの上端、下端でも良いが、第一の基準板２２ａの上下幅と取り付け位置が正確でなければならない。

塗工ギャップ量算出手段２５ｂは、前記位置情報から塗工ロールとダイヘッド本体の間隔（塗工ギャップ）を算出する手段である。図１２に塗工ギャップ量算出手段によって前記位置情報から塗工ロール１とダイヘッド本体２１の塗工ギャップ量を算出する方法を示す。図１２（ａ）は、２つの計測手段の内の第一の計測手段２３ａによって求められたＡ側の計測データから算出された第一の基準板２２ａの（垂直方向の）中心と、塗工ロール
１のロール面の頂点と、の水平方向の間隔（Ｘ１）を示し、図１２（ｂ）は、２つの計測手段の内の第二の計測手段２３ｂによって求められたＢ側の計測データから算出された第二の基準板２２ｂの（垂直方向の）中心と、塗工ロール１のロール面の頂点と、の水平方向の間隔（Ｘ２）を示す。

ダイヘッド位置補正機構は上記高さを補正する第一のダイヘッド位置補正機構２６ａと塗工ギャップを補正する第二のダイヘッド位置補正機構２６ｂとで構成されている。先ず、第一のダイヘッド位置補正機構２６ａについて説明する。図１３（ａ）は図５の矢印１１１の方向から見たダイヘッド２１を示し、第一のダイヘッド位置補正機構２６ａを説明するための模式図であって、ダイヘッド本体２１の塗工ロール１に対する高さを誇張して示している。

図１３（ａ）に示される第一のダイヘッド位置補正機構２６ａはダイヘッド架台４０に設けられた高さ補正機構２６ａ―１、あるいは２６ａ−２によって、調整軸３６ａ―１あるいは３６ａ−２を軸としてダイヘッド本体２１を矢印３７ａ−１あるいは３７ａ―２の方向に移動するものである。

ダイヘッド２１の左右端が塗工ロール１に対して図１３（ａ）に示されるような高さである場合は、図１３（ｂ）に示すように上記高さ算出手段２５ａによって求められた高さの差、即ち（Ｙ１―Ｙ２）の分だけ調整軸３６ａ―１を軸として、第一のダイヘッド位置補正機構２６ａ―１にて矢印３７ａ−１に示す方向に駆動して、ダイヘッドの左右端の高さの違いを無くし、且つ、高さが規定値となる様に前記ダイヘッド本体２１を動かし、塗工ロール１とダイヘッド２１が平行になるように高さを補正する。この場合の第一のダイヘッド位置補正機構２６ａ―１や２６ａ−２にはピエゾアクチュエーターを用い、それに印加する電圧を制御することによって補正量を調整することが出来る。

次に、第二のダイヘッド位置補正機構２６ｂについて説明する。図１４（ａ）は図５の矢印１０１の方向から見たダイヘッド２１を示し、第二のダイヘッド位置補正機構２６ｂを説明するための模式図であって、塗工ロール１に対してダイヘッド２１のＡ側とＢ側の塗工ギャップを誇張して示している。説明を容易にするため、図１４（ａ）はダイヘッド架台４０が大きく傾いているが、ダイヘッド本体２１は種々の条件で傾きが発生する。

図１４（ａ）に示される第二のダイヘッド位置補正機構２６ｂはダイヘッド架台４０に設けられた塗工ギャップ補正機構２６ｂ―１と２６ｂ−２によって、ダイヘッド本体２１を矢印３７ｂ−１、３７ｂ―２の方向に移動するものである。そして、前記塗工ギャップ量算出手段２６ｂにて前記ダイヘッド本体２１の左右端の位置情報から塗工ロール１とダイヘッド本体２１の左右端のギャップ量を算出し、前記第二のダイヘッド位置補正機構にてダイヘッド本体の左右端の塗工ギャップ量が規定値となる様に前記ダイヘッド本体２１を移動した結果、図１４（ｂ）に示すように、塗工ロール１の全幅にわたって塗工ギャップを規定値の間隔（＝δ）とすることが出来る。

以上、本発明の位置補正機構付きダイヘッドを構成する各部の説明をしたが、次にダイヘッドの位置を補正する場合のフローを図１５のフロー図を用いて説明する。

先ず、ダイヘッド本体２１をダイヘッド架台４０へ設置する（Ｓ１）。次に第一の計測手段２３ａ、第二の計測手段２３ｂによってダイヘッド本体２１（正確には第一の基準板２２ａ、第二の基準板２２ｂ）と塗工ロール１までの距離を第一の計測手段２２ａ、第二の計測手段２２ｂによって計測する（Ｓ２）。計測したデータから位置情報解析手段によって塗工ロール１とダイヘッド本体２１の位置を算出する（Ｓ３）。

求めた塗工ロール１とダイヘッド本体２１の左右端の位置情報から、塗工ロール１に対するダイヘッド本体２１の高さを高さ算出手段２５ａによって算出する（Ｓ４）。算出した高さからダイヘッド本体２１の高さを第一のダイヘッド位置補正手段２６ａによって補正し（Ｓ５）、更に、前記第二のダイヘッド位置補正機構２６ｂにてダイヘッド本体の左右端の塗工ギャップ量が規定値の塗工ギャップ（＝δ）となる様に前記ダイヘッド本体を動かしてダイヘッドと塗工ロールの位置関係を補正する（Ｓ６）。

以上のように本発明による位置補正機構付きダイヘッドによれば、塗工ロール１に対するダイヘッド本体２１を左右端の高さの差がなく、更に塗工ギャップを補正することが可能であるため、塗工ギャップを規定値にすることが可能となる。その結果、幅方向にわたって均一な膜厚の塗膜を得ることが出来る。

１・・・コーティングロール（塗工ロール）
２、３・・・レーザ測定器
２ｃ、３ｃ・・・移動したレーザ測定器
４・・・塗液吐出用ダイリップ
５・・・支点軸
６・・・ダイヘッド
６ａ、６ｂ・・・シート（ゲージ）
７・・・基材の搬送方向
８・・・基材
９・・・塗工膜
１０、１１・・・レーザ測定器を移動する方向
２０・・・本発明の位置補正機構付きダイヘッド
２１・・・ダイヘッド本体
２２・・・基準板
２２ａ・・・Ａ側の第一の基準板
２２ｂ・・・Ｂ側の第二の基準板
２３・・・計測手段
２３ａ・・・Ａ側の第一の計測手段
２３ｂ・・・Ｂ側の第二の計測手段
２４・・・位置情報解析手段
２５ａ・・・高さ算出手段
２５ｂ・・・塗工ギャップ量算出手段
２６ａ、２６ｂ・・・ダイヘッド位置補正機構
２６ａ―１、２６ａ−２・・・高さ補正機構
２６ｂ―１、２６ｂ−２・・・塗工ギャップ補正機構
２７ａ、２７ｂ・・・第一の計測手段、第二の計測手段が移動する方向
３０・・・アクチュエータ
３１ａ、３１ｂ・・・計測手段によって求められた塗工ロールの表面までの計測データ
３２・・・計測手段によって求められた基準板までの計測データ
３２ａ・・・求められたダイヘッド本体（正確には基準板）の位置
３３・・・基準板で隠れた部分
３４・・・求められた塗工ロールの形状
３６ａ―１、３６ａ−２・・・調整軸
３７ａ−１、３７ａ―２・・・ダイヘッド本体の移動方向（高さ補正時）
３７ｂ−１、３７ｂ―２・・・ダイヘッド本体の移動方向（塗工ギャップ補正時）
４０・・・ダイヘッド架台
１００・・・ダイヘッドを上面から見た方向
１１０・・・ダイヘッドを側面から見た方向

Claims

塗工ロールを介して搬送される長尺状の基材に対して塗液を塗工して１層以上積層させて多層フィルムを製造する際に用いられるダイヘッドにおいて、
ダイヘッド本体と、第一の基準板と第二の基準板と、第一の計測手段と第二の計測手段と、第一のアクチュエータと第二のアクチュエータと、位置情報解析手段と、ダイヘッド高さ算出手段と、塗工ギャップ量算出手段と、第一のダイヘッド位置補正機構と、第二のダイヘッド位置補正機構と、を備え、
前記第一の基準板と第二の基準板は、前記ダイヘッド本体の幅方向の左右端に取り付けられ、且つ、第一の基準板は前記第一の計測手段と塗工ロールの間の位置に取り付けられていて、第二の基準板は前記第二の計測手段と塗工ロールの間の位置に取り付けられていて、
前記第一のアクチュエータにより前記第一の計測手段を垂直方向の複数の決められた位置に位置決めをし、第二のアクチュエータにより前記第二の計測手段を垂直方向の複数の決められた位置に位置決めをし、
第一の計測手段と第二の計測手段の前記垂直方向の複数の決められた位置において、
第一の計測手段及び第二の計測手段と前記塗工ロール面までの距離（１）と、
第一の計測手段及び第二の計測手段と第一の基準板及び第二の基準板までの距離（２）と、を計測し、
前記位置情報解析手段にて前記距離（１）及び前記距離（２）から前記塗工ロールに対するダイヘッド本体の左右端の位置情報を求め、
前記ダイヘッド高さ算出手段にて前記ダイヘッド本体の左右端の位置情報から塗工ロールに対するダイヘッド本体の左右の高さの違いを算出し、前記第一のダイヘッド位置補正機構にて前記ダイヘッドの左右端の高さの違いを無くし、且つ、高さが規定値となる様に前記ダイヘッド本体を動かし、
前記塗工ギャップ量算出手段にて前記ダイヘッド本体の左右端の位置情報から塗工ロールとダイヘッド本体の左右端のギャップ量を算出し、前記第二のダイヘッド位置補正機構にてダイヘッド本体の左右端の塗工ギャップ量が規定値となる様に前記ダイヘッド本体を動かしてダイヘッドと塗工ロールの位置関係を補正することを特徴とする位置補正機構付きダイヘッド。
前記第一の計測手段及び第二の計測手段は、垂直方向に移動しながら、前記塗工ロールの表面までの距離及び前記第一の基準板と第二の基準板までの距離を計測し、前記塗工ロールと前記第一の基準板と第二の基準板までの距離（Ｘ軸）と、前記第一の計測手段及び第二の計測手段の移動距離（Ｙ軸）をＸ−Ｙ座標系に変換して、前記位置情報解析手段によって塗工ロールに対するダイヘッドの位置を求めることを特徴とする請求項１に記載の位置補正機構付きダイヘッド。