JP2015004841A - Pixel circuit and driving method thereof - Google Patents

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誠之 久米田
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Takeshi Okuno
武志 奧野
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Eiji Kanda
栄二 神田
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Makoto Ishii
良 石井
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Naoaki Furumiya
直明 古宮
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce gradation data variation in data programming while attaining high definition by reducing a holding capacity size.SOLUTION: A driving method of a pixel circuit which comprises a light-emitting element including a capacitive component, a first transistor, a second transistor, a holding capacitor and a third transistor and in which the capacitive component and the holding capacitor are capacitively coupled, includes: an initializing step pf supplying a first voltage and writing a voltage greater than a threshold voltage of the first transistor into the holding capacitor; a compensating step of supplying a gradation data voltage and writing a threshold voltage into the holding capacitor via the first and second transistors in an ON state; a data program step of supplying a second voltage and, after turning off the second transistor, writing a voltage of first data determined by the gradation data voltage and the threshold voltage into the holding capacitor; and a light-emitting step of turning on the second transistor after turning off the third transistor, and causing the first transistor to emit the light-emitting element on the basis of the first data.

Description

本発明は電気光学装置における画素回路及びその駆動方法に関する発明である。   The present invention relates to a pixel circuit in an electro-optical device and a driving method thereof.

近年、CRTディスプレイ(Cathode Ray Tube display)に替わる表示装置として、液晶ディスプレイ(Liquid Crystal Display Device:LCD)や有機ELディスプレイ等の自発光素子を利用した有機EL表示装置が多く採用されている。特に有機ELディスプレイは低消費電力、薄型ディスプレイとして非常に注目を集めている。   2. Description of the Related Art In recent years, organic EL display devices using self-luminous elements such as a liquid crystal display (LCD) and an organic EL display are widely used as a display device replacing a CRT display (Cathode Ray Tube display). In particular, organic EL displays are attracting much attention as low power consumption and thin displays.

有機EL素子は、素子に流れる電流によって発光輝度が変化するが、アクティブマトリクスパネルで用いる薄膜トランジスタ(TFT)素子の特性ばらつき(TFT閾値電圧(VTH)ばらつき、移動度(μ)ばらつき)によって、画素毎に有機EL素子に流れる電流が異なり、表示ムラとなって表示品位を低下させる要因となる。   The light emission luminance of the organic EL element changes depending on the current flowing through the element. However, depending on the characteristics variation of the thin film transistor (TFT) element used in the active matrix panel (TFT threshold voltage (VTH) variation, mobility (μ) variation), However, the current flowing through the organic EL element is different, resulting in display unevenness and degrading display quality.

そこで、駆動トランジスタ特性ばらつきの表示への影響を抑制するため、有機ELに流す電流を一定にする定電流回路を設けてトランジスタのVTH(閾値)ばらつきを抑えるための技術、いわゆるVTH補償技術が開発されている。   Therefore, in order to suppress the influence of drive transistor characteristic variations on the display, a technology for reducing the VTH (threshold) variation of transistors by providing a constant current circuit that keeps the current flowing through the organic EL constant, a so-called VTH compensation technology has been developed. Has been.

VTH補償回路は、駆動トランジスタのVTHばらつきの影響を小さくすることができ、入力された画像データで発光素子に供給される電流量を正確に制御することができる。従って、駆動トランジスタ固有のVTHばらつきを効果的に補償でき、有機ELディスプレイの表示均一性を大幅に向上させることが可能である。しかし、VTH補償回路は6個のトランジスタと1個の保持容量で構成される回路構成が一般的に知られており、1画素あたりの素子数が多くなることから、高精細化の障害となり、また、歩留まり低減の原因にもなり得る。   The VTH compensation circuit can reduce the influence of the VTH variation of the drive transistor, and can accurately control the amount of current supplied to the light emitting element with the input image data. Therefore, it is possible to effectively compensate for the VTH variation inherent to the drive transistor, and to significantly improve the display uniformity of the organic EL display. However, the VTH compensation circuit is generally known to have a circuit configuration including six transistors and one storage capacitor, and the number of elements per pixel increases, which is an obstacle to high definition. In addition, it can be a cause of yield reduction.

特許文献1では、従来よりも少ないトランジスタと保持容量によりVTH補償回路を構成する技術が開示されている。この技術では、従来のVTH補償回路に比べて1画素あたりの素子数を少なくでき、高精細化や歩留まり向上が可能となる。   Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-228561 discloses a technique for configuring a VTH compensation circuit with fewer transistors and storage capacitors than conventional ones. With this technique, the number of elements per pixel can be reduced as compared with the conventional VTH compensation circuit, and high definition and yield improvement are possible.

特開2003−271095号公報JP 2003-271095 A

特許文献1の画素回路によると、データプログラム時に保持容量と電流制御素子の寄生容量との容量結合で階調データ電圧をサンプリングするときに、駆動トランジスタ経由でEL電源に電荷が流れる漏れ電流が発生する。これによって、階調データ電圧が減衰してしまい、保持容量に十分な電荷を保持することができない。十分な電荷を保持するためには、保持容量サイズを大きくする必要があるが、保持容量は単位画素回路に占める割合が大きいため容量サイズを大きくすると高精細化に大きなデメリットとなる。また、上記の容量結合によるデータプログラム方法はトランジスタ寄生容量の影響を受けるが、一般的にトランジスタサイズが大きい駆動トランジスタでは寄生容量が大きいため、階調データ電圧ばらつきが発生する。   According to the pixel circuit of Patent Document 1, when sampling the gradation data voltage by capacitive coupling of the storage capacitor and the parasitic capacitance of the current control element during data programming, a leakage current is generated in which charge flows to the EL power source via the drive transistor. To do. As a result, the gradation data voltage is attenuated, and a sufficient charge cannot be held in the storage capacitor. In order to hold a sufficient charge, it is necessary to increase the storage capacitor size. However, since the storage capacitor occupies a large proportion of the unit pixel circuit, increasing the capacitor size is a great disadvantage for high definition. The above-described data programming method using capacitive coupling is affected by the transistor parasitic capacitance. However, in general, a drive transistor having a large transistor size has a large parasitic capacitance, so that gradation data voltage variation occurs.

本発明は、保持容量サイズを縮小することで高精細化を図りつつ、データプログラム時の階調データばらつきを低減することを目的とする。   An object of the present invention is to reduce gradation data variation during data programming while achieving high definition by reducing the storage capacity size.

本発明の一実施形態に係る画素回路の駆動方法は、容量成分を含み、供給された電流によって階調が決まる発光素子と、ゲート電極に供給される階調データ電圧に応じて前記発光素子への供給電流の大きさを制御する第1トランジスタと、前記発光素子と前記第1トランジスタとの間に接続された第2トランジスタと、一方の電極が前記第1トランジスタのゲート電極に接続され、他方の電極が前記第2トランジスタを介して前記第1トランジスタに接続され、前記容量成分と容量結合される保持容量と、前記第1トランジスタのゲート電極と信号線との間に接続された第3トランジスタと、を有する画素回路の駆動方法であって、前記第3トランジスタをオンし、前記信号線から前記一方の電極に第1電圧を供給し、前記保持容量に前記第1トランジスタの閾値電圧よりも大きな電圧を書き込む初期化工程と、前記信号線から前記一方の電極に前記階調データ電圧を供給し、オン状態の前記第1トランジスタ及び前記第2トランジスタを介して前記保持容量に前記閾値電圧を書き込む補償工程と、前記信号線から前記一方の電極に第2電圧を供給し、前記第2トランジスタをオフした以後に前記保持容量に前記階調データ電圧と前記閾値電圧で決まる第1データの電圧を書き込むデータプログラム工程と、前記第3トランジスタをオフした以後に前記第2トランジスタをオンして前記第1トランジスタが前記第1データに基づく電流を流すことで前記発光素子が発光する発光工程と、を有する動作を行う。   A driving method of a pixel circuit according to an embodiment of the present invention includes a light emitting element that includes a capacitive component and whose gradation is determined by a supplied current, and the light emitting element according to a gradation data voltage supplied to a gate electrode. A first transistor that controls the magnitude of the supply current of the first transistor, a second transistor connected between the light emitting element and the first transistor, one electrode connected to the gate electrode of the first transistor, and the other A third capacitor connected between the gate electrode of the first transistor and a signal line; and a storage capacitor that is capacitively coupled to the capacitive component; A pixel circuit driving method including: turning on the third transistor; supplying a first voltage from the signal line to the one electrode; and supplying the first voltage to the storage capacitor. An initialization step of writing a voltage higher than a threshold voltage of the transistor, and supplying the grayscale data voltage from the signal line to the one electrode, and holding the voltage via the first transistor and the second transistor which are in the on state A compensation step of writing the threshold voltage into a capacitor; and supplying a second voltage from the signal line to the one electrode and turning off the second transistor, and then turning on the second transistor with the gradation data voltage and the threshold voltage. A data program step of writing a voltage of the determined first data, and after turning off the third transistor, turning on the second transistor and causing the first transistor to pass a current based on the first data, thereby causing the light emitting device to A light emitting step of emitting light.

この画素回路の駆動方法によれば、保持容量サイズを縮小することで高精細化を図りつつ、データプログラム時の階調データばらつきを低減することができる。   According to this pixel circuit driving method, it is possible to reduce gradation data variation during data programming while achieving high definition by reducing the storage capacitor size.

また、別の好ましい態様において、前記初期化工程及び前記補償工程において、前記発光素子のダイオード成分は逆バイアスが印加される状態であってもよい。   In another preferred aspect, a reverse bias may be applied to the diode component of the light emitting element in the initialization step and the compensation step.

この画素回路の駆動方法によれば、更に発光素子の漏れ電流を抑制することができ、黒浮きを抑えることでコントラスト比を向上させることができる。   According to this pixel circuit driving method, the leakage current of the light emitting element can be further suppressed, and the contrast ratio can be improved by suppressing black floating.

また、別の好ましい態様において、前記初期化工程において、前記第1電圧によってオンされた前記第1トランジスタを介して電流が流れることで前記保持容量に前記閾値電圧よりも大きな電圧を書き込んでもよい。   In another preferred embodiment, in the initialization step, a voltage larger than the threshold voltage may be written to the storage capacitor by causing a current to flow through the first transistor turned on by the first voltage.

この画素回路の駆動方法によれば、更に配線やスイッチ素子数を減らすことができるので、高精細化に有利である。   According to this pixel circuit driving method, the number of wirings and switch elements can be further reduced, which is advantageous for high definition.

また、別の好ましい態様において、前記第1電圧、前記第2電圧及び前記階調データ電圧は一本のデータ線で供給されてもよい。   In another preferred embodiment, the first voltage, the second voltage, and the gradation data voltage may be supplied by a single data line.

この画素回路の駆動方法によれば、更に配線やスイッチ素子数を減らすことができるので、高精細化に有利である。   According to this pixel circuit driving method, the number of wirings and switch elements can be further reduced, which is advantageous for high definition.

また、別の好ましい態様において、前記第1トランジスタ乃至前記第3トランジスタはいずれもpチャネル型トランジスタであり、前記発光素子はアノード電源に接続され、前記第1トランジスタはカソード電源に接続される回路構成の駆動方法であって、前記初期化工程において、前記第1電圧は前記階調データ電圧よりも低く、前記他方の電極は前記第1電圧よりも高い電圧を供給し、前記補償工程において、前記保持容量前記第1トランジスタを介して前記カソード電源に電流を流すことで前記閾値電圧を書き込み、前記データプログラム工程において、前記第2電圧は前記階調データ電圧よりも低くてもよい。   In another preferred embodiment, each of the first to third transistors is a p-channel transistor, the light emitting element is connected to an anode power supply, and the first transistor is connected to a cathode power supply. In the initializing step, the first voltage is lower than the gradation data voltage, the other electrode supplies a voltage higher than the first voltage, and in the compensating step, The threshold voltage is written by passing a current to the cathode power supply via the first transistor through the storage capacitor, and the second voltage may be lower than the gradation data voltage in the data programming step.

この画素回路の駆動方法によれば、保持容量サイズを縮小することで高精細化を図りつつ、データプログラム時の階調データばらつきを低減することができる。   According to this pixel circuit driving method, it is possible to reduce gradation data variation during data programming while achieving high definition by reducing the storage capacitor size.

また、別の好ましい態様において、前記第1トランジスタ乃至前記第3トランジスタはいずれもnチャネル型トランジスタであり、前記発光素子はカソード電源に接続され、前記第1トランジスタはアノード電源に接続される回路構成の駆動方法であって、前記初期化工程において、前記第1電圧は前記階調データ電圧よりも高く、前記他方の電極は前記第1電圧よりも低い電圧を供給し、前記補償工程において、前記保持容量前記第1トランジスタを介して前記アノード電源から電流を流すことで前記閾値電圧を書き込み、前記データプログラム工程において、前記第2電圧は前記階調データ電圧よりも高くてもよい。   In another preferred embodiment, each of the first to third transistors is an n-channel transistor, the light emitting element is connected to a cathode power supply, and the first transistor is connected to an anode power supply. In the initializing step, the first voltage is higher than the grayscale data voltage, and the other electrode supplies a voltage lower than the first voltage. In the compensating step, The threshold voltage is written by passing a current from the anode power supply through the first transistor through the storage capacitor, and the second voltage may be higher than the gradation data voltage in the data programming step.

この画素回路の駆動方法によれば、更にアモルファスシリコンや酸化物半導体のようなnチャネル型半導体を用いた回路を構成することが可能である。   According to this pixel circuit driving method, a circuit using an n-channel semiconductor such as amorphous silicon or an oxide semiconductor can be formed.

本発明の一実施形態に係る画素回路は、容量成分を含み、供給された電流によって階調が決まる発光素子と、ゲート電極に供給される階調データ電圧に応じて前記発光素子への供給電流の大きさを制御する第1トランジスタと、前記発光素子と前記第1トランジスタとの間に接続された第2トランジスタと、一方の電極が前記第1トランジスタのゲート電極に接続され、他方の電極が前記第2トランジスタを介して前記第1トランジスタに接続され、前記容量成分と容量結合される保持容量と、前記第1トランジスタのゲート電極と信号線との間に接続された第3トランジスタと、を有し、前記保持容量に蓄積された前記第1トランジスタの閾値電圧と前記階調データ電圧とで決まる第1データの電圧によって前記発光素子の階調が決まる。   A pixel circuit according to an embodiment of the present invention includes a light emitting element that includes a capacitance component and whose gray scale is determined by a supplied current, and a supply current to the light emitting element according to a gray scale data voltage supplied to a gate electrode. A first transistor for controlling the size of the first transistor, a second transistor connected between the light emitting element and the first transistor, one electrode connected to the gate electrode of the first transistor, and the other electrode A storage capacitor connected to the first transistor via the second transistor and capacitively coupled to the capacitance component; and a third transistor connected between a gate electrode of the first transistor and a signal line. And the gradation of the light emitting element is determined by the voltage of the first data determined by the threshold voltage of the first transistor and the gradation data voltage stored in the storage capacitor.

この画素回路の駆動方法によれば、保持容量サイズを縮小することで高精細化を図りつつ、データプログラム時の階調データばらつきを低減することができる。   According to this pixel circuit driving method, it is possible to reduce gradation data variation during data programming while achieving high definition by reducing the storage capacitor size.

本発明によれば、保持容量サイズを縮小することで高精細化を図りつつ、データプログラム時の階調データばらつきを低減することができる。   According to the present invention, it is possible to reduce variations in gradation data during data programming while achieving high definition by reducing the storage capacity size.

本発明の実施形態1における発光表示装置の構成の一例を示す概略図。Schematic which shows an example of a structure of the light emission display apparatus in Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施形態1における単位画素の回路構成の一例を示す回路図。FIG. 3 is a circuit diagram illustrating an example of a circuit configuration of a unit pixel according to the first embodiment of the present invention. 本発明の実施形態1における単位画素の動作を示す回路図。FIG. 3 is a circuit diagram illustrating an operation of a unit pixel according to the first embodiment of the present invention. 本発明の実施形態1における単位画素のタイミングチャート。2 is a timing chart of unit pixels in Embodiment 1 of the present invention. 本発明の実施形態1における発光表示装置のタイミングチャート。4 is a timing chart of the light-emitting display device according to the first embodiment of the present invention. 本発明の実施形態1における駆動方法を示した図。The figure which showed the drive method in Embodiment 1 of this invention. 本発明のVTH補償時のVTH毎のVGS電圧変化。VGS voltage change for each VTH during VTH compensation of the present invention. 本発明のデータプログラム時のμによるVGS電圧変化。VGS voltage change by μ during data programming of the present invention. 本発明の実施形態2における単位画素の回路構成の一例を示す回路図。The circuit diagram which shows an example of the circuit structure of the unit pixel in Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施形態2における単位画素の動作を示す回路図。The circuit diagram which shows the operation | movement of the unit pixel in Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施形態2における単位画素のタイミングチャート。6 is a timing chart of unit pixels in Embodiment 2 of the present invention. 本発明の実施形態2における発光表示装置のタイミングチャート。The timing chart of the light emission display apparatus in Embodiment 2 of this invention.

以下、図面を参照して本発明に係る発光素子を駆動する画素回路及びそれを用いた表示装置について説明する。但し、本発明の発光素子を駆動する画素回路及びそれを用いた表示装置は多くの異なる態様で実施することが可能であり、以下に示す実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。なお、本実施の形態で参照する図面において、同一部分又は同様な機能を有する部分には同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。   Hereinafter, a pixel circuit for driving a light emitting element according to the present invention and a display device using the same will be described with reference to the drawings. However, the pixel circuit for driving the light-emitting element of the present invention and the display device using the pixel circuit can be implemented in many different modes, and are interpreted as being limited to the description of the embodiment modes shown below. is not. Note that in the drawings referred to in this embodiment, the same portions or portions having similar functions are denoted by the same reference numerals, and repetitive description thereof is omitted.

(実施形態1)
図1〜図6を用いて、実施形態1に係る発光表示装置の構成および動作方法を説明する。図1は本発明の実施形態1における発光表示装置の構成の一例を示す概略図である。発光表示装置は画素回路100がn行m列のマトリクス状に配置されており、各画素回路はスキャンドライバ10、エミッションドライバ20、EL電源スキャンドライバ30、データドライバ40によって制御される。ここで、n=1,2,3,・・・、m=1,2,3,・・・であり、例えばn=3であれば3行目に配置された画素回路群を指し、m=3であれば3列目に配置された画素回路群を指す。図1では3行3列の画素回路を例示しているが、この形態に限定されず、n及びmの数は任意に決定することができる。
(Embodiment 1)
A configuration and an operation method of the light-emitting display device according to Embodiment 1 will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a schematic diagram illustrating an example of a configuration of a light-emitting display device according to Embodiment 1 of the present invention. In the light emitting display device, pixel circuits 100 are arranged in a matrix of n rows and m columns, and each pixel circuit is controlled by a scan driver 10, an emission driver 20, an EL power source scan driver 30, and a data driver 40. Here, n = 1, 2, 3,..., M = 1, 2, 3,..., For example, if n = 3, the pixel circuit group arranged in the third row indicates m = 3 indicates a pixel circuit group arranged in the third column. Although FIG. 1 illustrates a pixel circuit with 3 rows and 3 columns, the present invention is not limited to this mode, and the numbers of n and m can be arbitrarily determined.

スキャンドライバ10は、データの書き込みを実行する行を選択する駆動回路であり、各行の画素回路100に対応して設けられたゲート制御線11〜13にゲート制御信号SCAN(n)を供給する。実施形態1では、ゲート制御信号SCAN(n)は駆動トランジスタM1(図2参照)とデータ線45との間に接続されたトランジスタM3(図2参照)を制御し、この例では各行毎に所定の順番で順次排他的に選択される。   The scan driver 10 is a drive circuit that selects a row in which data is written, and supplies a gate control signal SCAN (n) to gate control lines 11 to 13 provided corresponding to the pixel circuits 100 in each row. In the first embodiment, the gate control signal SCAN (n) controls the transistor M3 (see FIG. 2) connected between the drive transistor M1 (see FIG. 2) and the data line 45. In this example, the gate control signal SCAN (n) is predetermined for each row. Are sequentially selected in the order of

エミッションドライバ20は、発光素子への電源電圧を供給するタイミングを制御する駆動回路であり、各行の画素回路100に対応して設けられたエミッション制御線21〜23にエミッション制御信号EM(n)を供給する。実施形態1では、ゲート制御信号EM(n)は駆動トランジスタと発光素子との間に接続されたトランジスタM2(図2参照)を制御する。   The emission driver 20 is a drive circuit that controls the timing of supplying the power supply voltage to the light emitting elements, and sends an emission control signal EM (n) to the emission control lines 21 to 23 provided corresponding to the pixel circuits 100 in each row. Supply. In the first embodiment, the gate control signal EM (n) controls the transistor M2 (see FIG. 2) connected between the driving transistor and the light emitting element.

EL電源スキャンドライバ30は、画素回路の保持容量に対する初期化を行うための電源電圧と発光素子の発光時のカソード電圧とを切り替えて供給する回路であり、各行の画素回路100に対応して設けられたEL電源制御線31〜33にEL電源制御信号ELVSS(n)を供給する。実施形態1では、EL電源制御信号ELVSS(n)は駆動トランジスタM1のソースドレインの一方の電極に接続されており、回路動作のそれぞれの期間に応じて保持容量C1の初期化電圧又はカソード電圧を供給する(図2参照)。本実施形態では初期化電圧はカソード電源ELVSSのハイレベルに該当し、カソード電圧はカソード電源ELVSSのローレベルに該当する。   The EL power supply scan driver 30 is a circuit that switches and supplies a power supply voltage for initializing the storage capacitor of the pixel circuit and a cathode voltage at the time of light emission of the light emitting element, and is provided corresponding to the pixel circuit 100 in each row. The EL power control signal ELVSS (n) is supplied to the EL power control lines 31 to 33. In the first embodiment, the EL power supply control signal ELVSS (n) is connected to one of the source and drain electrodes of the driving transistor M1, and the initialization voltage or cathode voltage of the storage capacitor C1 is set according to each period of circuit operation. Supply (see FIG. 2). In this embodiment, the initialization voltage corresponds to the high level of the cathode power supply ELVSS, and the cathode voltage corresponds to the low level of the cathode power supply ELVSS.

データドライバ40は、入力された画像データに基づいて階調を決定し、決定した階調に応じたデータ電圧を、各列の画素回路100に対応して設けられたデータ線41〜43を介して画素回路100に供給する駆動回路である。また、データドライバ40と画素回路領域との間に設けられた切り替え回路50によって、各データ線には回路動作のそれぞれの期間に応じて階調データ電圧VDATA又は駆動トランジスタの初期化電源電圧VINITが供給される。   The data driver 40 determines a gradation based on the input image data, and applies a data voltage corresponding to the determined gradation via data lines 41 to 43 provided corresponding to the pixel circuits 100 of each column. Drive circuit to be supplied to the pixel circuit 100. In addition, the switching circuit 50 provided between the data driver 40 and the pixel circuit region causes each data line to have the gradation data voltage VDATA or the initialization power supply voltage VINIT of the driving transistor in accordance with each period of circuit operation. Supplied.

図2は本発明の実施形態1における単位画素の回路構成の一例を示す回路図である。図2は、画素回路を構成するトランジスタが全てpチャネル型である場合を示している。一つの画素回路は、駆動トランジスタM1、エミッショントランジスタM2、スイッチトランジスタM3、保持容量C1、発光素子1で構成され、発光素子1はダイオードD1と容量成分CELを含む。このように、一つの画素回路が3個のトランジスタと、1個の保持容量と、寄生容量成分を含んだ発光素子と、で構成されている。   FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of the circuit configuration of the unit pixel in Embodiment 1 of the present invention. FIG. 2 shows a case where all the transistors constituting the pixel circuit are p-channel type. One pixel circuit includes a drive transistor M1, an emission transistor M2, a switch transistor M3, a holding capacitor C1, and a light emitting element 1, and the light emitting element 1 includes a diode D1 and a capacitive component CEL. As described above, one pixel circuit includes three transistors, one storage capacitor, and a light emitting element including a parasitic capacitance component.

図2を用いて単位画素100の各々の素子の接続関係を説明する。発光素子1のアノード側の電極はアノード電源ELVDDに接続されている。ゲート電極に供給される電圧に応じて発光素子1への供給電流の大きさを制御する駆動トランジスタM1のゲート電極は、ゲート制御信号SCAN(n)で制御されるスイッチトランジスタM3を介してデータ線45に接続されている。また、発光素子1のカソード側の電極と駆動トランジスタM1のソース又はドレインの一方の電極との間には、エミッション制御信号EM(n)で制御されるスイッチトランジスタM2が接続されている。また、駆動トランジスタM1のソース又はドレインの他方の電極はカソード電源ELVSSに接続されている。階調データを保存する保持容量C1は駆動トランジスタM1のゲート電極に一方の電極が接続され、発光素子1のカソード側の電極に他方の電極が接続されており、他方の電極はスイッチトランジスタM2を介して駆動トランジスタM1のソース又はドレインの一方に接続されている。   The connection relationship of each element of the unit pixel 100 will be described with reference to FIG. The electrode on the anode side of the light emitting element 1 is connected to the anode power source ELVDD. The gate electrode of the driving transistor M1 that controls the magnitude of the supply current to the light emitting element 1 according to the voltage supplied to the gate electrode is connected to the data line via the switch transistor M3 controlled by the gate control signal SCAN (n). 45. A switch transistor M2 controlled by an emission control signal EM (n) is connected between the cathode electrode of the light emitting element 1 and one of the source and drain electrodes of the drive transistor M1. The other electrode of the source or drain of the driving transistor M1 is connected to the cathode power source ELVSS. The storage capacitor C1 for storing gradation data has one electrode connected to the gate electrode of the drive transistor M1, the other electrode connected to the cathode side electrode of the light emitting element 1, and the other electrode connected to the switch transistor M2. And is connected to one of the source and drain of the driving transistor M1.

本実施形態では、画素回路を構成するトランジスタが全てpチャネル型である場合をしめしており、「ローレベル」の制御信号がトランジスタのゲート電極に印加されるとそのトランジスタはオンとなり、導通状態となる。一方、「ハイレベル」の制御信号がトランジスタのゲート電極に印加されるとそのトランジスタはオフとなり、非導通状態となる。   In the present embodiment, the transistors constituting the pixel circuit are all p-channel type. When a “low level” control signal is applied to the gate electrode of the transistor, the transistor is turned on, Become. On the other hand, when a “high level” control signal is applied to the gate electrode of the transistor, the transistor is turned off and becomes non-conductive.

図3は本発明の実施形態1における単位画素の動作を示す回路図を示し、図4は本発明の実施形態1における単位画素のタイミングチャートを示す。図3,4では(a)初期化期間、(b)VTH補償+移動度補償期間、(c)データプログラム期間、(d)発光期間にそれぞれ分かれており、図3と図4における上記の期間は同じものを指す。また、図3における矢印は電流の向きを表す。   FIG. 3 is a circuit diagram showing the operation of the unit pixel in Embodiment 1 of the present invention, and FIG. 4 is a timing chart of the unit pixel in Embodiment 1 of the present invention. 3 and 4 are divided into (a) initialization period, (b) VTH compensation + mobility compensation period, (c) data program period, and (d) light emission period, respectively. Refers to the same thing. Moreover, the arrow in FIG. 3 represents the direction of an electric current.

(a)初期化期間
データ信号DTに初期化電圧VINITが供給され、ゲート制御信号SCAN(n)がローレベルになり、スイッチトランジスタM3がオンし、ノードN1(駆動トランジスタM1のゲート電極と保持容量C1の一方の電極とに共通するノード)に初期化電圧VINITが供給される。ここで、初期化電圧VINITは駆動トランジスタM1をオンする固定電圧である。カソード電源ELVSSにはハイレベルが供給され、エミッション制御信号EM(n)がローレベルとなりエミッショントランジスタM2がオンすることで、ノードN2(保持容量C1の他方の電極と発光素子1の容量成分CELのカソード側とに共通するノード)にカソード電源ELVSSのハイレベルが供給される。このとき、カソード電源ELVSSのハイレベルは少なくともVINITに対して駆動トランジスタM1の閾値電圧VTHよりも高い電圧、つまりVINIT+VTHよりも高い電圧が供給され、保持容量C1及び容量成分CELにはそれぞれの電極間の電位差相当の電荷が蓄積される。このとき、保持容量C1の電極間にはVTHよりも大きな電圧が印加されている。以降、本明細書では、この状態を保持容量C1にVTHよりも大きな電圧が書き込まれると表現する。
(A) Initialization period The initialization voltage VINIT is supplied to the data signal DT, the gate control signal SCAN (n) becomes low level, the switch transistor M3 is turned on, and the node N1 (the gate electrode and the storage capacitor of the drive transistor M1) The initialization voltage VINIT is supplied to a node common to one electrode of C1. Here, the initialization voltage VINIT is a fixed voltage for turning on the driving transistor M1. A high level is supplied to the cathode power source ELVSS, and the emission control signal EM (n) becomes a low level and the emission transistor M2 is turned on, whereby the node N2 (the other electrode of the storage capacitor C1 and the capacitance component CEL of the light emitting element 1) A high level of the cathode power supply ELVSS is supplied to a node common to the cathode side). At this time, a high level of the cathode power supply ELVSS is supplied to at least VINIT with a voltage higher than the threshold voltage VTH of the drive transistor M1, that is, a voltage higher than VINIT + VTH, and the holding capacitor C1 and the capacitance component CEL are connected between the respective electrodes. Charge corresponding to the potential difference is accumulated. At this time, a voltage higher than VTH is applied between the electrodes of the storage capacitor C1. Hereinafter, in this specification, this state is expressed as a voltage larger than VTH written in the storage capacitor C1.

(b)VTH補償+移動度補償期間
切り替え回路50によってデータ信号DTが初期化電圧VINITから階調データ電圧VDATAに切り替わり、ゲート制御信号SCAN(n)がローレベルに維持されることで、VDATAがノードN1に供給される。このとき、保持容量C1の容量結合によりノードN2の電位も階調データ電圧VDATAと初期化電圧VINITとの差分に応じて変化する。ここでは、VDATAとしてVINITよりも高い電圧が供給され、それぞれの画素回路において供給されたVDATAの電圧値に応じてノードN2の電位は上昇する。また、エミッション制御信号EM(n)がローレベルに維持された状態でカソード電源ELVSSがローレベルとなる。駆動トランジスタM1のソース−ドレイン間の電位差が初期化期間とは逆転し、保持容量C1及び発光素子1の容量成分CELに蓄積された電荷は駆動トランジスタM1を通じてカソード電源ELVSSに流れるように移動する。この移動によってノードN2の電位は低下し、VTH+VDATAとなり駆動トランジスタM1がオフすることで安定する。このとき、ノードN1にはVDATAが供給され、ノードN2はVTH+VDATAで安定する。つまり、保持容量C1にVTHが書き込まれる。このように、C1及びCELにはM1固有のVTHに応じた電荷が保持され、以後の発光期間において駆動トランジスタM1はVTH補償、移動度補償された電流を発光素子1に供給する。ここで、発光素子1に電流が流れないようにアノード電源ELVDDはVDATAが最も小さい値においてもVTH+VDATAよりも低い電圧に設定され、発光素子1のダイオード成分D1には逆バイアスが印加される。
(B) VTH Compensation + Mobility Compensation Period The data signal DT is switched from the initialization voltage VINIT to the gradation data voltage VDATA by the switching circuit 50, and the gate control signal SCAN (n) is maintained at the low level, so that VDATA is It is supplied to the node N1. At this time, the potential of the node N2 also changes according to the difference between the gradation data voltage VDATA and the initialization voltage VINIT due to capacitive coupling of the storage capacitor C1. Here, a voltage higher than VINIT is supplied as VDATA, and the potential of the node N2 rises according to the voltage value of VDATA supplied in each pixel circuit. Further, the cathode power source ELVSS is at a low level in a state where the emission control signal EM (n) is maintained at a low level. The potential difference between the source and drain of the drive transistor M1 is reversed from the initialization period, and the charge accumulated in the storage capacitor C1 and the capacitance component CEL of the light emitting element 1 moves so as to flow to the cathode power supply ELVSS through the drive transistor M1. By this movement, the potential of the node N2 is lowered and becomes VTH + VDATA, which is stabilized by turning off the driving transistor M1. At this time, VDATA is supplied to the node N1, and the node N2 is stabilized at VTH + VDATA. That is, VTH is written to the storage capacitor C1. In this way, charges corresponding to the VTH specific to M1 are held in C1 and CEL, and the driving transistor M1 supplies a current compensated for VTH and mobility to the light emitting element 1 in the subsequent light emission period. Here, the anode power source ELVDD is set to a voltage lower than VTH + VDATA even when VDATA is the smallest so that no current flows through the light emitting element 1, and a reverse bias is applied to the diode component D1 of the light emitting element 1.

(c)データプログラム期間
切り替え回路50によってデータ信号DTが階調データ電圧VDATAから初期化電圧VINITに切り替わり、ゲート制御信号SCAN(n)がローレベルに維持されることで、VINITがノードN1に供給される。このとき、上記と同様に保持容量C1の容量結合により保持容量C1のノードN2側の電位も初期化電圧VINITと階調データ電圧VDATAとの差分に応じて変化する。ここで、エミッション制御信号EM(n)がハイレベルでエミッショントランジスタM2がオフしており、ノードN2はフローティング状態となっているため、容量結合した保持容量C1と発光素子1の容量成分CELとの間で、保持容量C1のノードN2側の電位変化を補うように保持容量C1と発光素子1の容量成分CELとの間で電荷が移動する。このとき、スイッチトランジスタM2がオフされているため、電荷の移動はC1とCEL間だけで発生し、駆動トランジスタM1のリークや寄生容量の影響を受けない。実施形態1において、保持容量C1と発光素子1の容量成分CELが同じ容量値である場合、CELからC1に移動する電荷量は(VDATA−VINIT)/2となる。このとき、ノードN1にはVINITが供給され、ノードN2にはVTH+(VDATA+VINIT)/2が供給され、保持容量C1にはそれらの差分のVDATAとVTHによって決まる電圧が書き込まれる。ここで、ノードN2の電位はアノード電源ELVDDの電位よりも低くなるが、スイッチトランジスタM2がオフされているため、発光素子1に電流が流れることはない。この期間の終了時に、ゲート制御信号SCAN(n)がハイレベルとなりスイッチトランジスタM3がオフすることで、ノードN1はVINITに固定される。
(C) Data Program Period The data signal DT is switched from the gradation data voltage VDATA to the initialization voltage VINIT by the switching circuit 50, and the gate control signal SCAN (n) is maintained at the low level, so that VINIT is supplied to the node N1. Is done. At this time, the potential on the node N2 side of the storage capacitor C1 also changes in accordance with the difference between the initialization voltage VINIT and the gradation data voltage VDATA due to capacitive coupling of the storage capacitor C1 as described above. Here, since the emission control signal EM (n) is high and the emission transistor M2 is off and the node N2 is in a floating state, the capacitively coupled holding capacitor C1 and the capacitance component CEL of the light emitting element 1 In the meantime, the charge moves between the storage capacitor C1 and the capacitance component CEL of the light emitting element 1 so as to compensate for the potential change on the node N2 side of the storage capacitor C1. At this time, since the switch transistor M2 is turned off, the charge movement occurs only between C1 and CEL and is not affected by the leakage of the driving transistor M1 or the parasitic capacitance. In the first embodiment, when the storage capacitor C1 and the capacitance component CEL of the light emitting element 1 have the same capacitance value, the amount of charge moving from CEL to C1 is (VDATA−VINIT) / 2. At this time, VINIT is supplied to the node N1, VTH + (VDATA + VINIT) / 2 is supplied to the node N2, and a voltage determined by the difference between VDATA and VTH is written to the storage capacitor C1. Here, although the potential of the node N2 is lower than the potential of the anode power supply ELVDD, no current flows through the light emitting element 1 because the switch transistor M2 is turned off. At the end of this period, the gate control signal SCAN (n) becomes high level and the switch transistor M3 is turned off, so that the node N1 is fixed to VINIT.

(d)発光期間
エミッション制御信号EM(n)がローレベルとなりエミッショントランジスタM2がオンすることで、駆動トランジスタM1のゲート電極とソース又はドレインの一方の電極との間には保持容量C1に書き込まれた電圧が供給され、その電圧に応じて駆動トランジスタM1の電流量が決定して発光素子1が発光する。このとき、C1には上記のVDATAとVTHによって決まる電圧が書き込まれており、M1のVTH及び移動度が補償され、VDATAに依存した電流が発光素子1に供給される。
(D) Light emission period When the emission control signal EM (n) becomes a low level and the emission transistor M2 is turned on, data is written in the storage capacitor C1 between the gate electrode of the driving transistor M1 and one of the source and drain electrodes. The light-emitting element 1 emits light by determining the amount of current of the drive transistor M1 according to the voltage. At this time, the voltage determined by the VDATA and VTH is written in C1, the VTH and mobility of M1 are compensated, and a current dependent on VDATA is supplied to the light emitting element 1.

図5に本発明の実施形態1における発光表示装置のタイミングチャートを示し、図6に本発明の実施形態1における駆動方法を示した図を示す。図1および図5を用いて、複数の画素回路の動作について説明する。   FIG. 5 shows a timing chart of the light emitting display device according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 6 shows a driving method according to the first embodiment of the present invention. The operation of the plurality of pixel circuits will be described with reference to FIGS.

図5のタイミングチャートを用いて、図1における画素回路のうち1列目、1行目の画素回路100Aおよび1列目2行目の画素回路100Bの動作について説明する。まず、図5の(1)の期間では、DTにVINITが供給され、SCAN(1)がローレベルになり、ELVSS(1)に高電圧が供給されることで、画素回路100Aの初期化が行われる。このとき、画素回路100Aは(a)初期化期間に該当する。   The operation of the pixel circuit 100A in the first column and the first row and the pixel circuit 100B in the first column and the second row in the pixel circuit in FIG. 1 will be described using the timing chart of FIG. First, in the period of (1) in FIG. 5, VINIT is supplied to DT, SCAN (1) is at a low level, and a high voltage is supplied to ELVSS (1), so that initialization of the pixel circuit 100A is performed. Done. At this time, the pixel circuit 100A corresponds to (a) the initialization period.

図5の(2)の期間では、DTにVDATAが供給され、ELVSS(1)がローレベルになることで、画素回路100Aでは保持容量に駆動トランジスタ固有の閾値電圧に相当する電圧が書き込まれる。このとき、画素回路100Aは(b)VTH補償+移動度補償期間に該当する。   In the period (2) in FIG. 5, VDATA is supplied to DT and ELVSS (1) is at a low level, so that in the pixel circuit 100A, a voltage corresponding to the threshold voltage unique to the driving transistor is written in the storage capacitor. At this time, the pixel circuit 100A corresponds to (b) VTH compensation + mobility compensation period.

図5の(3)の期間では、DTにVINITが供給され、EM(1)がハイレベルになることで、画素回路100Aでは発光素子の容量成分と保持容量との間で電荷移動が起き、その結果、保持容量にVDATAとVTHによって決まる電圧が保持容量C1に書き込まれる。また、同じ期間にSCAN(2)がローレベルになり、ELVSS(2)に高電圧が供給されることで、画素回路100Bの初期化が行われる。このとき、画素回路100Aは(c)データプログラム期間に該当し、画素回路100Bは(a)初期化期間に該当する。   In the period of (3) in FIG. 5, VINIT is supplied to DT and EM (1) becomes high level, so that charge transfer occurs between the capacitance component of the light emitting element and the storage capacitor in the pixel circuit 100A. As a result, a voltage determined by VDATA and VTH is written in the storage capacitor C1 in the storage capacitor. In addition, SCAN (2) becomes low level during the same period, and a high voltage is supplied to ELVSS (2), whereby the pixel circuit 100B is initialized. At this time, the pixel circuit 100A corresponds to (c) a data program period, and the pixel circuit 100B corresponds to (a) an initialization period.

図5の(4)の期間では、DTにVDATAが供給されるが、SCAN(1)がハイレベルになり、画素回路100AのM3がオフされるため、ノードN1はVINITに固定される。また、ELVSS(2)がローレベルになることで、画素回路100Bでは保持容量に駆動トランジスタ固有の閾値電圧に相当する電圧が書き込まれる。このとき、画素回路100Aは(c)データプログラム期間と(d)発光期間の過渡期に該当し、画素回路100Bは(b)VTH補償+移動度補償期間に該当する。   In the period of (4) in FIG. 5, VDATA is supplied to DT. However, since SCAN (1) becomes high level and M3 of the pixel circuit 100A is turned off, the node N1 is fixed to VINIT. In addition, when ELVSS (2) is at a low level, in the pixel circuit 100B, a voltage corresponding to the threshold voltage unique to the driving transistor is written in the storage capacitor. At this time, the pixel circuit 100A corresponds to a transition period between (c) a data program period and (d) a light emission period, and the pixel circuit 100B corresponds to (b) a VTH compensation + mobility compensation period.

図5の(5)の期間では、DTにVINITが供給され、EM(1)がローレベルになることで画素回路100AのエミッショントランジスタM2がオンして発光素子に電流が流れて発光する。また、EM(2)がハイレベルになることで、画素回路100Bでは発光素子の容量成分と保持容量との間で電荷移動が起き、その結果、保持容量にVDATAとVTHによって決まる電圧が書き込まれる。このとき、画素回路100Aは(d)発光期間に該当し、画素回路100Bは(c)データプログラム期間に該当する。   In the period of (5) in FIG. 5, VINIT is supplied to DT, and EM (1) goes to a low level, whereby the emission transistor M2 of the pixel circuit 100A is turned on and current flows through the light emitting element to emit light. Further, when EM (2) is at a high level, in the pixel circuit 100B, charge transfer occurs between the capacitance component of the light emitting element and the storage capacitor, and as a result, a voltage determined by VDATA and VTH is written to the storage capacitor. . At this time, the pixel circuit 100A corresponds to (d) the light emission period, and the pixel circuit 100B corresponds to (c) the data program period.

以上のように本実施形態では、線順次的に初期化、VTH補償等、データプログラムと発光とが交互に繰り返され、図6に示すようなProgressive駆動で動作を行う。   As described above, in the present embodiment, data program and light emission such as line sequential initialization and VTH compensation are alternately repeated, and the operation is performed by progressive driving as shown in FIG.

次に、本発明のVTH補償、移動度補償について図7及び図8を用いて説明する。図7に本発明のVTH補償時のVTH毎のVGS電圧変化を示し、図8に本発明のデータプログラム時のμによるVGS電圧変化を示す。IDSとはドレイン−ソース間電流であり、VGSとはゲート−ソース間電圧である。図7,8においては、駆動トランジスタのELVDD側をソースとし、ELVSS側をドレインとする。図7において、カットオフ電圧1を有するトランジスタの特性をVTH1と称し、カットオフ電圧2を有するトランジスタの特性をVTH2と称する。   Next, VTH compensation and mobility compensation according to the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 7 shows changes in VGS voltage for each VTH during VTH compensation according to the present invention, and FIG. 8 shows changes in VGS voltage due to μ during data programming according to the present invention. IDS is a drain-source current, and VGS is a gate-source voltage. 7 and 8, the ELVDD side of the drive transistor is the source and the ELVSS side is the drain. In FIG. 7, the characteristic of the transistor having the cut-off voltage 1 is referred to as VTH1, and the characteristic of the transistor having the cut-off voltage 2 is referred to as VTH2.

図3,4の(a)の期間で二つのトランジスタのゲート電極には初期化電源VINITが供給され、VTH1においてはX1の状態、VTH2においてはX2の状態となり、同じゲート電圧であってもVTHのばらつきに依存して流れる電流量が異なる。   3 and 4, the initialization power supply VINIT is supplied to the gate electrodes of the two transistors in the period of (a) in FIGS. 3 and 4, and the VTH1 is in the X1 state and the VTH2 is in the X2 state. The amount of current that flows depends on the variation of the current.

次に、図3,4の(b)の期間で保持容量C1と発光素子の容量成分CELに蓄積された電荷が駆動トランジスタM1を通じてELVSSに流れることで、M1のVGSは低下して、それぞれのカットオフ電圧Y1,Y2に達するとそれぞれのM1がオフする。   Next, the charge accumulated in the storage capacitor C1 and the capacitance component CEL of the light emitting element in the period of FIGS. 3 and 4 flows to ELVSS through the driving transistor M1, so that the VGS of M1 is decreased. When the cut-off voltages Y1 and Y2 are reached, each M1 is turned off.

本実施形態では、図3,4の(b)の期間で駆動トランジスタM1のゲート電極には階調データ電圧VDATAが供給されており、図8に示すように、そのVDATAの値によってカットオフ電圧が異なる。ここで、両特性のトランジスタは同じ電流値でカットオフになるため、それぞれの閾値電圧が異なる場合だけでなく、移動度が異なるトランジスタにおいてもそのばらつきを補正する効果を奏する。   In the present embodiment, the gradation data voltage VDATA is supplied to the gate electrode of the drive transistor M1 during the period of (b) in FIGS. 3 and 4, and the cutoff voltage depends on the value of VDATA as shown in FIG. Is different. Here, since the transistors having both characteristics are cut off at the same current value, not only the case where the respective threshold voltages are different, but also the transistor having different mobility has an effect of correcting the variation.

上記のように、本実施形態に示す駆動方法によって異なるトランジスタ間のVTHだけでなく移動度のばらつきも補正することができるため、より正確にVDATAで画素回路の階調を調整することができる。   As described above, not only VTH between different transistors but also variations in mobility can be corrected by the driving method shown in this embodiment, so that the gradation of the pixel circuit can be adjusted more accurately by VDATA.

また、本実施形態では3個のトランジスタと1個の保持容量により、初期化、VTH補償、移動度補償、データプログラム、発光制御を行うことが可能である。   In this embodiment, initialization, VTH compensation, mobility compensation, data program, and light emission control can be performed using three transistors and one storage capacitor.

また、本実施形態では、上記(b)VTH補償+移動度補償期間において、階調データ電圧VDATAを駆動トランジスタM1のゲート電極に供給することで、VTH補償と移動度補償を同時に実施することが可能である。   In the present embodiment, in the (b) VTH compensation + mobility compensation period, the gradation data voltage VDATA is supplied to the gate electrode of the drive transistor M1, so that VTH compensation and mobility compensation can be performed simultaneously. Is possible.

また、本実施形態では、上記(c)データプログラム期間において、スイッチトランジスタM3をオフして駆動トランジスタM1と保持容量C1及び発光素子の容量成分CELとを切り離すことで、M1経由の漏れ電流を抑制し、かつ、M1の寄生容量の影響を抑制したデータプログラムが可能である。その結果、保持容量C1のサイズ縮小が可能となり、高精細化と高画質化に有利となる。   In the present embodiment, in the data program period (c), the switch transistor M3 is turned off to separate the drive transistor M1, the storage capacitor C1, and the capacitance component CEL of the light emitting element, thereby suppressing the leakage current via M1. In addition, a data program in which the influence of the parasitic capacitance of M1 is suppressed is possible. As a result, the size of the storage capacitor C1 can be reduced, which is advantageous for high definition and high image quality.

(実施形態2)
図9〜図12を用いて、実施形態2に係る発光表示装置の構成および動作方法を説明する。図9に本発明の実施形態2における単位画素の回路構成の一例を示す回路図を示す。本実施形態では画素回路を構成するトランジスタが全てnチャネル型である場合を示している。実施形態1と異なる点について説明する。
(Embodiment 2)
A configuration and an operation method of the light-emitting display device according to the second embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 9 is a circuit diagram showing an example of a circuit configuration of a unit pixel in Embodiment 2 of the present invention. In this embodiment, the case where all the transistors constituting the pixel circuit are n-channel type is shown. Differences from the first embodiment will be described.

単位画素101を構成する素子は3個のトランジスタと、1個の保持容量と、寄生容量成分を含んだ発光素子と、を含んでいる。以下に図9に示した単位画素101の各々の素子の接続関係を説明する。発光素子1のカソード側の電極はカソード電源ELVSSに接続されている。ゲート電極に供給される電圧に応じて発光素子1への供給電流の大きさを制御する駆動トランジスタM1のゲート電極は、ゲート制御信号SCAN(n)で制御されるスイッチトランジスタM3を介してデータ線46に接続されている。また、発光素子1のアノード側の電極と駆動トランジスタM1のソース又はドレインの一方の電極との間には、エミッション制御信号EM(n)で制御されるスイッチトランジスタM2が接続されている。また、駆動トランジスタM1のソース又はドレインの他方の電極はアノード電源ELVDDに接続されている。階調データを保存する保持容量C1は駆動トランジスタM1のゲート電極に一方の電極が接続され、発光素子1のアノード側の電極に他方の電極が接続されており、他方の電極はスイッチトランジスタM2を介して駆動トランジスタM1のソース又はドレインの一方の電極に接続されている。   The element constituting the unit pixel 101 includes three transistors, one storage capacitor, and a light emitting element including a parasitic capacitance component. Hereinafter, the connection relationship of each element of the unit pixel 101 shown in FIG. 9 will be described. An electrode on the cathode side of the light emitting element 1 is connected to a cathode power source ELVSS. The gate electrode of the driving transistor M1 that controls the magnitude of the supply current to the light emitting element 1 according to the voltage supplied to the gate electrode is connected to the data line via the switch transistor M3 controlled by the gate control signal SCAN (n). 46. A switch transistor M2 controlled by an emission control signal EM (n) is connected between the anode-side electrode of the light emitting element 1 and one of the source and drain electrodes of the drive transistor M1. The other electrode of the source or drain of the driving transistor M1 is connected to the anode power source ELVDD. The storage capacitor C1 for storing gradation data has one electrode connected to the gate electrode of the driving transistor M1, the other electrode connected to the anode side electrode of the light emitting element 1, and the other electrode connected to the switch transistor M2. And is connected to one of the source and drain electrodes of the drive transistor M1.

図10に本発明の実施形態2における単位画素の動作を示す回路図を示し、図11に本発明の実施形態2における単位画素のタイミングチャートを示す。図10,11では(a)初期化期間、(b)VTH補償+移動度補償期間、(c)データプログラム期間、(d)発光期間にそれぞれ分かれており、図10と図11における上記の期間は同じものを指す。また、図10における矢印は電流の向きを表す。   FIG. 10 is a circuit diagram showing the operation of the unit pixel in the second embodiment of the present invention, and FIG. 11 is a timing chart of the unit pixel in the second embodiment of the present invention. 10 and 11, they are divided into (a) initialization period, (b) VTH compensation + mobility compensation period, (c) data program period, and (d) light emission period, respectively. Refers to the same thing. Moreover, the arrow in FIG. 10 represents the direction of electric current.

(a)初期化期間
データ信号DTに初期化電圧VINITが供給され、ゲート制御信号SCAN(n)がハイレベルになり、スイッチトランジスタM3がオンし、ノードN3(駆動トランジスタM1のゲート電極と保持容量C1の一方の電極とに共通するノード)に初期化電圧VINITが供給される。ここで、初期化電圧VINITは駆動トランジスタM1をオンする固定電圧である。アノード電源ELVDDには低電圧が供給され、エミッション制御信号EM(n)がハイレベルとなりエミッショントランジスタM2がオンすることで、ノードN4(保持容量C1の他方の電極と発光素子1の容量成分CELのアノード側とに共通するノード)にアノード電源ELVDDのローレベルが供給される。このとき、アノード電源ELVDDのローレベルは少なくともVINITに対して駆動トランジスタM1の閾値電圧VTHよりも低い電圧が供給され、ノードN4の電位が下がることで、保持容量C1にはVTHよりも大きな電圧が書き込まれる。
(A) Initialization period The initialization voltage VINIT is supplied to the data signal DT, the gate control signal SCAN (n) becomes high level, the switch transistor M3 is turned on, and the node N3 (the gate electrode and the storage capacitor of the drive transistor M1) The initialization voltage VINIT is supplied to a node common to one electrode of C1. Here, the initialization voltage VINIT is a fixed voltage for turning on the driving transistor M1. A low voltage is supplied to the anode power source ELVDD, the emission control signal EM (n) becomes high level, and the emission transistor M2 is turned on, whereby the node N4 (the other electrode of the holding capacitor C1 and the capacitance component CEL of the light emitting element 1). A low level of the anode power supply ELVDD is supplied to a node common to the anode side). At this time, the low level of the anode power source ELVDD is supplied with a voltage lower than the threshold voltage VTH of the drive transistor M1 at least with respect to VINIT, and the potential of the node N4 is lowered, so that a voltage higher than VTH is applied to the storage capacitor C1. Written.

(b)VTH補償+移動度補償期間
切り替え回路50によってデータ信号DTが初期化電圧VINITから階調データ電圧VDATAに切り替わり、ゲート制御信号SCAN(n)がハイレベルに維持されることで、VDATAがノードN3に供給される。このとき、保持容量C1の容量結合によりノードN4の電位も階調データ電圧VDATAと初期化電圧VINITとの差分に応じて変化する。ここでは、VDATAとしてVINITよりも低い電圧が供給され、それぞれの画素回路において供給されたVDATAの電圧値に応じてノードN4の電位は低下する。また、エミッション制御信号EM(n)がハイレベルに維持された状態でアノード電源ELVDDがハイレベルとなる。駆動トランジスタM1のソース−ドレイン間の電位差が初期化期間とは逆転し、電荷がアノード電源ELVDDから駆動トランジスタM1を通じて保持容量C1及び発光素子1の容量成分CELに流れるように移動する。この移動によってノードN4の電位は上昇し、VDATA−VTHとなり駆動トランジスタM1がオフすることで安定する。このとき、ノードN3にはVDATAが供給され、ノードN4はVDATA−VTHで安定するので、保持容量C1にはそれらの差分のVTHが書き込まれる。このように、C1及びCELにはM1固有のVTHに応じた電荷が保持され、以後の動作と関連してVTH補償、移動度補償がなされる。ここで、発光素子1に電流が流れないようにカソード電源ELVSSはVDATAが最も大きい値においてもVDATA−VTHよりも高い電圧に設定され、発光素子1のダイオード成分D1には逆バイアスが印加される。
(B) VTH Compensation + Mobility Compensation Period The data signal DT is switched from the initialization voltage VINIT to the grayscale data voltage VDATA by the switching circuit 50, and the gate control signal SCAN (n) is maintained at a high level. It is supplied to the node N3. At this time, the potential of the node N4 also changes according to the difference between the gradation data voltage VDATA and the initialization voltage VINIT due to capacitive coupling of the storage capacitor C1. Here, a voltage lower than VINIT is supplied as VDATA, and the potential of the node N4 decreases according to the voltage value of VDATA supplied in each pixel circuit. Further, the anode power source ELVDD becomes high level while the emission control signal EM (n) is maintained at high level. The potential difference between the source and drain of the drive transistor M1 is reversed from the initialization period, and the charge moves so as to flow from the anode power source ELVDD to the storage capacitor C1 and the capacitance component CEL of the light emitting element 1 through the drive transistor M1. By this movement, the potential of the node N4 rises, becomes VDATA−VTH, and is stabilized by turning off the driving transistor M1. At this time, VDATA is supplied to the node N3, and the node N4 is stabilized at VDATA−VTH. Therefore, the difference VTH is written in the storage capacitor C1. In this way, charges corresponding to VTH unique to M1 are held in C1 and CEL, and VTH compensation and mobility compensation are performed in connection with the subsequent operation. Here, the cathode power supply ELVSS is set to a voltage higher than VDATA−VTH even when VDATA is the largest so that no current flows through the light emitting element 1, and a reverse bias is applied to the diode component D1 of the light emitting element 1. .

(c)データプログラム期間
切り替え回路50によってデータ信号DTが階調データ電圧VDATAから初期化電圧VINITに切り替わり、ゲート制御信号SCAN(n)がハイレベルに維持されることで、VINITがノードN3に供給される。このとき、上記と同様に保持容量C1の容量結合により保持容量C1のノードN4側の電位も初期化電圧VINITと階調データ電圧VDATAとの差分に応じて変化する。ここで、エミッション制御信号EM(n)がローレベルでエミッショントランジスタM2がオフしており、ノードN4はフローティング状態となっているため、容量結合した保持容量C1と発光素子1の容量成分CELとの間で、保持容量C1のノードN4側の電位変化を補うように保持容量C1と発光素子1の容量成分CELとの間で電荷が移動する。このとき、スイッチトランジスタM2がオフされているため、電荷の移動はC1とCEL間だけで発生し、駆動トランジスタM1のリークや寄生容量の影響を受けない。実施形態2において、保持容量C1と発光素子1の容量成分CELが同じ容量値である場合、C1からCELに移動する電荷量は(VDATA−VINIT)/2となる。このとき、ノードN3にはVINITが供給され、ノードN4には(VDATA−VINIT)/2−VTHが供給され、保持容量C1にはそれらの差分のVDATAとVTHによって決まる電圧が書き込まれる。ここで、ノードN4の電位はカソード電源ELVSSの電位よりも高くなるが、スイッチトランジスタM2がオフされているため、発光素子1に電流が流れることはない。この期間の終了時に、ゲート制御信号SCAN(n)がローレベルとなりスイッチトランジスタM3がオフすることで、ノードN3はVINITに固定される。
(C) Data Program Period The data signal DT is switched from the gradation data voltage VDATA to the initialization voltage VINIT by the switching circuit 50, and the gate control signal SCAN (n) is maintained at a high level, whereby VINIT is supplied to the node N3. Is done. At this time, the potential on the node N4 side of the storage capacitor C1 also changes in accordance with the difference between the initialization voltage VINIT and the gradation data voltage VDATA due to capacitive coupling of the storage capacitor C1 as described above. Here, since the emission control signal EM (n) is low and the emission transistor M2 is off and the node N4 is in a floating state, the capacitively coupled holding capacitor C1 and the capacitance component CEL of the light emitting element 1 In the meantime, charges move between the storage capacitor C1 and the capacitance component CEL of the light emitting element 1 so as to compensate for the potential change on the node N4 side of the storage capacitor C1. At this time, since the switch transistor M2 is turned off, the charge movement occurs only between C1 and CEL and is not affected by the leakage of the driving transistor M1 or the parasitic capacitance. In the second embodiment, when the storage capacitor C1 and the capacitance component CEL of the light emitting element 1 have the same capacitance value, the amount of charge transferred from C1 to CEL is (VDATA−VINIT) / 2. At this time, VINIT is supplied to the node N3, (VDATA−VINIT) / 2−VTH is supplied to the node N4, and a voltage determined by the difference between VDATA and VTH is written to the storage capacitor C1. Here, the potential of the node N4 is higher than the potential of the cathode power supply ELVSS, but no current flows through the light emitting element 1 because the switch transistor M2 is turned off. At the end of this period, the gate control signal SCAN (n) goes low and the switch transistor M3 is turned off, so that the node N3 is fixed at VINIT.

(d)発光期間
エミッション制御信号EM(n)がハイレベルとなりエミッショントランジスタM2がオンすることで、駆動トランジスタM1のゲート電極とソース又はドレインの一方の電極との間には保持容量C1に書き込まれた電圧が供給され、その電圧に応じて駆動トランジスタM1の電流量が決定して発光素子1が発光する。このとき、C1には上記のVDATAとVTHによって決まる電圧が書き込まれており、M1のVTH及び移動度が補償され、VDATAに依存した電流が発光素子1に供給される。
(D) Light emission period When the emission control signal EM (n) is at a high level and the emission transistor M2 is turned on, data is written in the storage capacitor C1 between the gate electrode of the drive transistor M1 and one of the source and drain electrodes. The light-emitting element 1 emits light by determining the amount of current of the drive transistor M1 according to the voltage. At this time, the voltage determined by the VDATA and VTH is written in C1, the VTH and mobility of M1 are compensated, and a current dependent on VDATA is supplied to the light emitting element 1.

図12に本発明の実施形態2における発光表示装置のタイミングチャートを示す。上記のように画素回路の全てのトランジスタがnチャネル型に変わることで、制御信号のハイレベル/ローレベルが逆転する。つまり、図12に示すタイミングチャートは図5のハイレベル/ローレベルが逆転したものであり、画素回路の各トランジスタの駆動は実施形態1と同様なので、ここでは説明を省略する。   FIG. 12 shows a timing chart of the light-emitting display device according to Embodiment 2 of the present invention. As described above, when all the transistors of the pixel circuit are changed to the n-channel type, the high level / low level of the control signal is reversed. That is, the timing chart shown in FIG. 12 is obtained by reversing the high level / low level shown in FIG. 5, and the driving of each transistor of the pixel circuit is the same as that in the first embodiment, and thus the description thereof is omitted here.

以上のように画素回路のトランジスタが全てnチャネル型の場合でも、本発明を実施することが可能である。nチャネル型トランジスタはpチャネル型トランジスタに比べると移動度が高いため、実施形態1で得られる利点に加えて、より高速動作が必要な回路を実現することが可能である。   As described above, the present invention can be implemented even when the transistors of the pixel circuit are all n-channel transistors. Since an n-channel transistor has higher mobility than a p-channel transistor, in addition to the advantages obtained in Embodiment 1, a circuit that requires higher speed operation can be realized.

また、nチャネル型トランジスタのみで画素回路を構成することが可能であるため、アモルファスシリコントランジスタや酸化物半導体トランジスタによって構成された表示装置にも適用することができる。   In addition, since a pixel circuit can be formed using only n-channel transistors, the present invention can be applied to a display device formed using an amorphous silicon transistor or an oxide semiconductor transistor.

本発明における実施形態1及び2においては、3個のトランジスタと1個の保持容量により構成された画素回路構成を一実施例として説明したが、本発明の趣旨から逸脱しない範囲でさまざまな形態をとることができる。例えば、本発明に付加的な機能を追加する目的でトランジスタ数、保持容量数や信号線数を増やしてもよい。   In the first and second embodiments of the present invention, the pixel circuit configuration including three transistors and one storage capacitor has been described as an example. However, various forms can be used without departing from the spirit of the present invention. Can take. For example, the number of transistors, the number of storage capacitors, and the number of signal lines may be increased for the purpose of adding an additional function to the present invention.

また、実施形態1又は2においては、初期化をELVDD又はELVSSから電圧を供給することで実施していたが、初期化の方法は本実施形態に限定されることはなく、駆動トランジスタM1の閾値電圧VTHよりも大きな電圧が保持容量C1に書き込まれればよい。例えば、ノードN2やノードN4に対してスイッチを介して電源線を接続し、初期化期間において、スイッチをオンすることで電源線から所望の電圧を供給することができる。   In the first or second embodiment, the initialization is performed by supplying a voltage from ELVDD or ELVSS. However, the initialization method is not limited to this embodiment, and the threshold value of the driving transistor M1 is not limited. A voltage larger than the voltage VTH only needs to be written in the storage capacitor C1. For example, a power supply line can be connected to the node N2 or the node N4 via a switch, and a desired voltage can be supplied from the power supply line by turning on the switch in the initialization period.

また、実施形態1又は2においては、階調データ電圧VDATAと初期化電圧VINITを同一の信号線で供給しているが、この方法に限定されることはなく、異なる信号線を用いてそれぞれの信号を供給してもよい。   In the first or second embodiment, the gradation data voltage VDATA and the initialization voltage VINIT are supplied by the same signal line. However, the present invention is not limited to this method, and different signal lines are used. A signal may be supplied.

また、実施形態1又は2におけるタイミングチャートでは、(a)〜(d)の各期間の切り替わりが同時に行われる動作を例示したが、本発明の目的が達成できる範囲内で各信号のタイミングをずらすことができる。例えば、データプログラム期間において、保持容量C1と発光素子1の容量成分CELとの間で電荷の移動が行われる際に、エミッショントランジスタM2がオフすることで駆動トランジスタM1のリークや寄生容量の影響を抑制する。データ信号DTが階調データ電圧VDATAから初期化電圧VINITに切り替わるタイミングはM2がオフするタイミングと同時もしくは、M2がオフするタイミングよりも遅くなるように制御してもよい。つまり、M2がオフした以後にデータ信号DTが階調データ電圧VDATAから初期化電圧VINITに切り替わるように制御してもよい。   In the timing chart in the first or second embodiment, the operation in which the periods (a) to (d) are simultaneously switched is illustrated. However, the timing of each signal is shifted within a range in which the object of the present invention can be achieved. be able to. For example, in the data program period, when the charge is transferred between the storage capacitor C1 and the capacitance component CEL of the light emitting element 1, the emission transistor M2 is turned off, thereby affecting the influence of the leakage of the drive transistor M1 and the parasitic capacitance. Suppress. The timing at which the data signal DT is switched from the grayscale data voltage VDATA to the initialization voltage VINIT may be controlled so as to coincide with the timing at which M2 is turned off or later than the timing at which M2 is turned off. That is, the control may be performed so that the data signal DT is switched from the gradation data voltage VDATA to the initialization voltage VINIT after M2 is turned off.

また、実施形態1又は2におけるタイミングチャートでは、データプログラム期間〜発光期間において、スイッチトランジスタM3をオフした一定期間後にエミッショントランジスタM2をオンしているが、本発明の目的が達成できる範囲内で各信号のタイミングをずらすことができる。例えば、M2をオンするタイミングはM3をオフするタイミングと同時もしくは、M3をオフするタイミングよりも遅くなるように制御してもよい。つまり、M3がオフした以後にM2をオンするように制御してもよい。 In the timing chart in the first or second embodiment, the emission transistor M2 is turned on after a certain period of time in which the switch transistor M3 is turned off in the data program period to the light emission period. Signal timing can be shifted. For example, the timing for turning on M2 may be controlled to be the same as the timing for turning off M3 or to be later than the timing for turning off M3. That is, control may be performed so that M2 is turned on after M3 is turned off.

以上のように、実施形態1及び実施形態2に記載の発明によって、保持容量サイズを縮小することで高精細化を図りつつ、データプログラム時の階調データばらつきを低減することができる。   As described above, according to the inventions described in Embodiments 1 and 2, gradation data variation during data programming can be reduced while achieving high definition by reducing the storage capacitor size.

なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。   Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be changed as appropriate without departing from the spirit of the present invention.

1:発光素子、 10:スキャンドライバ、 20:エミッションドライバ、 30:EL電源スキャンドライバ、 40:データドライバ、 100,100A,100B:画素回路、 11,12,13:ゲート制御信号線、 21,22,23:エミッション制御信号線、 31,32,33:EL電源制御線、 41,42,43:データ線、 50:切り替え回路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1: Light emitting element 10: Scan driver 20: Emission driver 30: EL power supply scan driver 40: Data driver 100, 100A, 100B: Pixel circuit 11, 12, 13: Gate control signal line 21, 22 , 23: Emission control signal line, 31, 32, 33: EL power supply control line, 41, 42, 43: Data line, 50: Switching circuit

Claims (7)

容量成分を含み、供給された電流によって階調が決まる発光素子と、
ゲート電極に供給される階調データ電圧に応じて前記発光素子への供給電流の大きさを制御する第1トランジスタと、
前記発光素子と前記第1トランジスタとの間に接続された第2トランジスタと、
一方の電極が前記第1トランジスタのゲート電極に接続され、他方の電極が前記第2トランジスタを介して前記第1トランジスタに接続され、前記容量成分と容量結合される保持容量と、
前記第1トランジスタのゲート電極と信号線との間に接続された第3トランジスタと、を有する画素回路の駆動方法であって、
前記第3トランジスタをオンし、前記信号線から前記一方の電極に第1電圧を供給し、前記保持容量に前記第1トランジスタの閾値電圧よりも大きな電圧を書き込む初期化工程と、
前記信号線から前記一方の電極に前記階調データ電圧を供給し、オン状態の前記第1トランジスタ及び前記第2トランジスタを介して前記保持容量に前記閾値電圧を書き込む補償工程と、
前記信号線から前記一方の電極に第2電圧を供給し、前記第2トランジスタをオフした以後に前記保持容量に前記階調データ電圧と前記閾値電圧で決まる第1データの電圧を書き込むデータプログラム工程と、
前記第3トランジスタをオフした以後に前記第2トランジスタをオンして前記第1トランジスタが前記第1データに基づく電流を流すことで前記発光素子が発光する発光工程と、を有することを特徴とする画素回路の駆動方法。
A light-emitting element including a capacitive component and whose gradation is determined by a supplied current;
A first transistor that controls a magnitude of a current supplied to the light emitting element in accordance with a grayscale data voltage supplied to the gate electrode;
A second transistor connected between the light emitting element and the first transistor;
One electrode is connected to the gate electrode of the first transistor, the other electrode is connected to the first transistor via the second transistor, and a storage capacitor capacitively coupled to the capacitance component;
And a third transistor connected between the gate electrode of the first transistor and a signal line.
An initialization step of turning on the third transistor, supplying a first voltage from the signal line to the one electrode, and writing a voltage larger than a threshold voltage of the first transistor to the storage capacitor;
A compensation step of supplying the grayscale data voltage from the signal line to the one electrode and writing the threshold voltage to the storage capacitor via the first transistor and the second transistor which are in an on state;
A data program step of supplying a second voltage from the signal line to the one electrode and turning off the second transistor and writing a voltage of the first data determined by the gradation data voltage and the threshold voltage to the storage capacitor. When,
And a light emitting step in which the light emitting element emits light when the second transistor is turned on after the third transistor is turned off and the first transistor passes a current based on the first data. A driving method of a pixel circuit.
前記初期化工程及び前記補償工程において、前記発光素子のダイオード成分は逆バイアスが印加される状態であることを特徴とする請求項1に記載の画素回路の駆動方法。   2. The pixel circuit driving method according to claim 1, wherein a reverse bias is applied to the diode component of the light emitting element in the initialization step and the compensation step. 前記初期化工程において、前記第1電圧によってオンされた前記第1トランジスタを介して電流が流れることで前記保持容量に前記閾値電圧よりも大きな電圧を書き込むことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の画素回路の駆動方法。   2. The initialization process, wherein a voltage larger than the threshold voltage is written to the storage capacitor when a current flows through the first transistor turned on by the first voltage. 3. A driving method of a pixel circuit according to 2. 前記第1電圧、前記第2電圧及び前記階調データ電圧は一本のデータ線で供給されることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の画素回路の駆動方法。   4. The pixel circuit driving method according to claim 1, wherein the first voltage, the second voltage, and the grayscale data voltage are supplied by a single data line. 5. 前記第1トランジスタ乃至前記第3トランジスタはいずれもpチャネル型トランジスタであり、前記発光素子はアノード電源に接続され、前記第1トランジスタはカソード電源に接続される回路構成の駆動方法であって、
前記初期化工程において、前記第1電圧は前記階調データ電圧よりも低く、前記他方の電極は前記第1電圧よりも高い電圧を供給し、
前記補償工程において、前記保持容量前記第1トランジスタを介して前記カソード電源に電流を流すことで前記閾値電圧を書き込み、
前記データプログラム工程において、前記第2電圧は前記階調データ電圧よりも低いことを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の画素回路の駆動方法。
Each of the first to third transistors is a p-channel transistor, the light emitting element is connected to an anode power source, and the first transistor is connected to a cathode power source.
In the initialization step, the first voltage is lower than the gradation data voltage, and the other electrode supplies a voltage higher than the first voltage,
In the compensation step, the threshold voltage is written by causing a current to flow to the cathode power supply via the first storage capacitor.
5. The pixel circuit driving method according to claim 1, wherein, in the data programming step, the second voltage is lower than the gradation data voltage. 6.
前記第1トランジスタ乃至前記第3トランジスタはいずれもnチャネル型トランジスタであり、前記発光素子はカソード電源に接続され、前記第1トランジスタはアノード電源に接続される回路構成の駆動方法であって、
前記初期化工程において、前記第1電圧は前記階調データ電圧よりも高く、前記他方の電極は前記第1電圧よりも低い電圧を供給し、
前記補償工程において、前記保持容量前記第1トランジスタを介して前記アノード電源から電流を流すことで前記閾値電圧を書き込み、
前記データプログラム工程において、前記第2電圧は前記階調データ電圧よりも高いことを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の画素回路の駆動方法。
The first to third transistors are all n-channel transistors, the light emitting element is connected to a cathode power supply, and the first transistor is connected to an anode power supply.
In the initialization step, the first voltage is higher than the gradation data voltage, and the other electrode supplies a voltage lower than the first voltage.
In the compensation step, the threshold voltage is written by passing a current from the anode power source through the storage capacitor and the first transistor,
5. The pixel circuit driving method according to claim 1, wherein in the data programming step, the second voltage is higher than the grayscale data voltage. 6.
容量成分を含み、供給された電流によって階調が決まる発光素子と、
ゲート電極に供給される階調データ電圧に応じて前記発光素子への供給電流の大きさを制御する第1トランジスタと、
前記発光素子と前記第1トランジスタとの間に接続された第2トランジスタと、
一方の電極が前記第1トランジスタのゲート電極に接続され、他方の電極が前記第2トランジスタを介して前記第1トランジスタに接続され、前記容量成分と容量結合される保持容量と、
前記第1トランジスタのゲート電極と信号線との間に接続された第3トランジスタと、を有し、
前記保持容量に蓄積された前記第1トランジスタの閾値電圧と前記階調データ電圧とで決まる第1データの電圧によって前記発光素子の階調が決まることを特徴とした画素回路。

A light-emitting element including a capacitive component and whose gradation is determined by a supplied current;
A first transistor that controls a magnitude of a current supplied to the light emitting element in accordance with a grayscale data voltage supplied to the gate electrode;
A second transistor connected between the light emitting element and the first transistor;
One electrode is connected to the gate electrode of the first transistor, the other electrode is connected to the first transistor via the second transistor, and a storage capacitor capacitively coupled to the capacitance component;
A third transistor connected between a gate electrode of the first transistor and a signal line;
The pixel circuit according to claim 1, wherein the gray level of the light emitting element is determined by a voltage of first data determined by a threshold voltage of the first transistor and the gray level data voltage stored in the storage capacitor.

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CN105895040B (en) * 2016-06-03 2018-12-28 深圳市华星光电技术有限公司 A kind of color offset compensating method

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