JP2015001708A - Microscope system - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily generate a map image that includes information distributed in an optical axis direction of a focal plane of an objective lens in a specimen.SOLUTION: A microscope system 1 is provided that comprises: a motor-driven stage 11 that is capable of adjusting a position of a specimen; a scanner 17 that scans a laser beam; an objective lens 19 that condenses the laser beam on the specimen; an image acquisition part 21 that detects fluorescence from the specimen to acquire an image of the specimen; an acquisition position setting part 31 that sets an acquisition position of a partial image to be acquired by the image acquisition part 21 to the specimen; a beam shape change part 15 that is capable of changing a cross-sectional shape of the laser beam; a control part 33 that causes the motor-driven stage 11 and/or the scanner 17 to move a field of view range in accordance with the acquisition position set by the acquisition position setting part 31, and causes the image acquisition part 21 to acquire the partial image by changing the cross-sectional shape of the laser beam in a direction where depth of field is expanded by the beam shape change part 15; and a map image generation part 35 that generates a map image by arraying the partial image for each acquisition position.

Description

本発明は、顕微鏡システムに関するものである。   The present invention relates to a microscope system.

従来、複数の隣接する部分画像を組み合わせて、より広い視野の画像、いわゆるマップ画像を生成する顕微鏡システムが知られている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に記載の顕微鏡システムは、試料の存在位置が対物レンズの焦点位置の光軸方向に分布している場合であっても、合成したマップ画像から試料の存在の有無を判定できるようにするため、ピンホールの口径を増加し、試料における対物レンズの焦点面以外の光軸上から発せられる蛍光も検出して部分画像を取得している。   2. Description of the Related Art Conventionally, a microscope system that generates a wider field of view image, that is, a so-called map image by combining a plurality of adjacent partial images is known (see, for example, Patent Document 1). The microscope system described in Patent Document 1 can determine whether or not a sample exists from the synthesized map image even when the sample existing position is distributed in the optical axis direction of the focal position of the objective lens. Therefore, the diameter of the pinhole is increased, and fluorescence emitted from the optical axis other than the focal plane of the objective lens in the sample is also detected to acquire a partial image.

特開2010−85420号公報JP 2010-85420 A

しかしながら、従来の顕微鏡システムでは、対物レンズの焦点位置の光軸方向に前後する部分は単位面積当たりのレーザ密度が低いため、蛍光色素を励起できない領域が存在してしまう可能性がある。また、多光子励起は対物レンズの焦点面以外では起きないため、従来の顕微鏡システムでは、多光子励起により試料における対物レンズの焦点面以外の光軸上から発せられる蛍光を検出することはできないという不都合がある。   However, in the conventional microscope system, since the laser density per unit area is low in the portion of the focal position of the objective lens that moves back and forth in the optical axis direction, there is a possibility that there may be a region where the fluorescent dye cannot be excited. In addition, since multiphoton excitation does not occur other than the focal plane of the objective lens, it is not possible to detect fluorescence emitted from the optical axis other than the focal plane of the objective lens in the sample by multiphoton excitation. There is an inconvenience.

本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって、試料における対物レンズの焦点面の光軸方向に分布する情報を含むマップ画像を簡易に生成することができる顕微鏡システムを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and provides a microscope system that can easily generate a map image including information distributed in the optical axis direction of the focal plane of an objective lens in a sample. Objective.

上記課題を解決するために、本発明は以下の手段を採用する。
本発明は、試料が載置され、該試料の位置を調節可能な電動ステージと、該電動ステージ上に載置された前記試料に照射するレーザ光を走査するスキャナと、該スキャナにより走査されたレーザ光を前記試料に集光する対物レンズと、該対物レンズによるレーザ光の照射により前記試料において発生した蛍光を検出して該試料の画像を取得する画像取得部と、前記試料に対して前記画像取得部により所定の視野範囲ごとに分割して取得する部分画像の取得位置を設定する取得位置設定部と、レーザ光の断面形状を変更可能な形状変更部と、前記取得位置設定部によって設定された前記取得位置に合わせて前記電動ステージおよび/または前記スキャナにより前記視野範囲を移動させ、前記形状変更部により被写界深度を広げる方向にレーザ光の断面形状を変更して前記画像取得部により前記部分画像を取得させる制御部と、前記取得位置ごとに取得された前記部分画像を配列してマップ画像を生成するマップ画像生成部とを備える顕微鏡システムを提供する。
In order to solve the above problems, the present invention employs the following means.
The present invention includes a motorized stage on which a sample is mounted and the position of the sample can be adjusted, a scanner that scans a laser beam applied to the sample mounted on the motorized stage, and scanned by the scanner An objective lens that focuses laser light on the sample, an image acquisition unit that detects fluorescence generated in the sample by irradiation of laser light from the objective lens, and acquires an image of the sample; and Set by an acquisition position setting unit that sets an acquisition position of a partial image acquired by dividing the image by a predetermined visual field range by an image acquisition unit, a shape changing unit that can change a cross-sectional shape of laser light, and the acquisition position setting unit The laser beam is moved in the direction in which the visual field range is moved by the electric stage and / or the scanner in accordance with the acquired acquisition position and the depth of field is expanded by the shape changing unit. A microscope system comprising: a control unit that changes a cross-sectional shape to acquire the partial image by the image acquisition unit; and a map image generation unit that generates a map image by arranging the partial images acquired for each acquisition position. I will provide a.

本発明によれば、電動ステージに試料を載置すると、取得位置設定部により部分画像の取得位置が設定され、制御部が、電動ステージおよび/またはスキャナによりその取得位置に合わせて視野範囲を移動させる。そして、各取得位置において、レーザ光がスキャナにより走査されて対物レンズにより試料に照射され、試料からの蛍光が画像取得部により検出されて部分画像が取得される。これにより、マップ画像生成部によって、取得位置ごとに部分画像が配列されて、より広い視野範囲にわたる試料のマップ画像が生成される。   According to the present invention, when the sample is placed on the electric stage, the acquisition position of the partial image is set by the acquisition position setting unit, and the control unit moves the visual field range according to the acquisition position by the electric stage and / or the scanner. Let Then, at each acquisition position, the laser beam is scanned by the scanner and irradiated onto the sample by the objective lens, and the fluorescence from the sample is detected by the image acquisition unit to acquire a partial image. Thereby, the map image generation unit arranges the partial images for each acquisition position, and generates a map image of the sample over a wider visual field range.

この場合において、制御部が、部分画像を取得する際に形状変更部によって被写界深度を広げる方向にレーザ光の断面形状を変更することで、画像取得部により、対物レンズの焦点面から発せられる蛍光だけでなく、対物レンズの焦点面以外の光軸上から発せられる蛍光をも検出して部分画像を取得することができる。その結果、対物レンズの焦点面の光軸方向に分布する情報を含むマップ画像を生成することができる。   In this case, the control unit changes the cross-sectional shape of the laser light in the direction in which the depth of field is expanded by the shape changing unit when acquiring the partial image, so that the image acquiring unit emits from the focal plane of the objective lens. The partial image can be acquired by detecting not only the fluorescence emitted but also the fluorescence emitted from the optical axis other than the focal plane of the objective lens. As a result, a map image including information distributed in the optical axis direction of the focal plane of the objective lens can be generated.

上記構成においては、前記形状変更部が、入射したレーザ光の光束径を細くし、光束中心の密度を増大させて射出する光学部材であることとしてもよい。
このように構成することで、レーザ光の光軸に交差する方向の分解能の低下を抑え、開口数を小さくして被写界深度を広げることができる。
In the above-described configuration, the shape changing unit may be an optical member that emits light by reducing the light beam diameter of the incident laser light and increasing the density of the light beam center.
With this configuration, it is possible to suppress a decrease in resolution in the direction intersecting the optical axis of the laser light, reduce the numerical aperture, and widen the depth of field.

上記構成においては、前記形状変更部が、通過するレーザ光の光束径を制限するメカ絞り部材であることとしてもよい。
このように構成することで、レーザ光の光軸に交差する方向の分解能が低下するものの、開口数を小さくして被写界深度をより広い範囲まで広げることができる。
In the above-described configuration, the shape changing unit may be a mechanical aperture member that limits the diameter of the laser beam that passes therethrough.
With this configuration, although the resolution in the direction intersecting the optical axis of the laser light is reduced, the numerical aperture can be reduced and the depth of field can be extended to a wider range.

上記構成においては、前記形状変更部が、前記対物レンズの瞳位置に輪帯状の光束形状のレーザ光を入射させるアキシコンプリズムであることとしてもよい。
このように構成することで、レーザ光の光軸に交差する方向の分解能を増加するとともに、レーザ光を長焦点化して被写界深度を広げることができる。
In the above configuration, the shape changing unit may be an axicon prism that causes a laser beam having an annular light flux shape to enter the pupil position of the objective lens.
With this configuration, the resolution in the direction intersecting the optical axis of the laser light can be increased, and the depth of field can be increased by increasing the focal length of the laser light.

上記構成においては、前記形状変更部が、レーザ光の位相を変調して、前記試料にベッセル状のレーザ光を生成する位相変調部材であることとしてもよい。
このように構成することで、レーザ光の光軸に交差する方向の分解能を増加するとともに、レーザ光を長焦点化して被写界深度を広げることができる。
In the above configuration, the shape changing unit may be a phase modulation member that modulates the phase of the laser beam to generate a Bessel-shaped laser beam on the sample.
With this configuration, the resolution in the direction intersecting the optical axis of the laser light can be increased, and the depth of field can be increased by increasing the focal length of the laser light.

本発明によれば、試料における対物レンズの焦点面の光軸方向に分布する情報を含むマップ画像を簡易に生成することができるという効果を奏する。   According to the present invention, it is possible to easily generate a map image including information distributed in the optical axis direction of the focal plane of the objective lens in the sample.

本発明の一実施形態に係る顕微鏡システムの概略構成図である。1 is a schematic configuration diagram of a microscope system according to an embodiment of the present invention. モニタに表示される試料の観察範囲および部分画像の取得位置を示す図である。It is a figure which shows the observation range of the sample displayed on a monitor, and the acquisition position of a partial image.

以下、本発明の一実施形態に係る顕微鏡システムについて、図面を参照して説明する。
本実施形態に係る顕微鏡システム1は、図1に示されるように、レーザ走査型顕微鏡3と、レーザ走査型顕微鏡3を制御するコントローラ5とを備えている。
Hereinafter, a microscope system according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
As shown in FIG. 1, the microscope system 1 according to the present embodiment includes a laser scanning microscope 3 and a controller 5 that controls the laser scanning microscope 3.

レーザ走査型顕微鏡3は、試料(図示略)が載置される電動ステージ11と、レーザ光を発生する光源13と、光源13から発せられたレーザ光の断面形状を変更可能なビーム形状変更部(形状変更部)15と、ビーム形状変更部15を通過したレーザ光を走査するスキャナ17と、スキャナ17により走査されたレーザ光を試料に照射し、試料において発生する蛍光を集光する対物レンズ19と、対物レンズ19により集光された蛍光をレーザ光の光路から分岐するダイクロイックミラー(図示略)と、ダイクロイックミラーにより分岐された蛍光を検出して試料の画像を取得する画像取得部21と備えている。   The laser scanning microscope 3 includes an electric stage 11 on which a sample (not shown) is placed, a light source 13 that generates laser light, and a beam shape changing unit that can change the cross-sectional shape of the laser light emitted from the light source 13. (Shape changing unit) 15, a scanner 17 that scans the laser light that has passed through the beam shape changing unit 15, and an objective lens that irradiates the sample with the laser light scanned by the scanner 17 and collects fluorescence generated in the sample 19, a dichroic mirror (not shown) that branches the fluorescence condensed by the objective lens 19 from the optical path of the laser light, and an image acquisition unit 21 that detects the fluorescence branched by the dichroic mirror and acquires an image of the sample. I have.

電動ステージ11は、図示しない3個のモータを備えており、相互に直交するX,Y,Z方向の移動軸に沿って独立して移動することができるようになっている。これにより、電動ステージ11は、載置された試料を3次元方向に移動させることができるようになっている。   The electric stage 11 includes three motors (not shown) and can move independently along movement axes in the X, Y, and Z directions orthogonal to each other. Thereby, the electric stage 11 can move the placed sample in a three-dimensional direction.

ビーム形状変更部15は、例えばビームエキスパンダ(光学部材)であり、入射したレーザ光の光束径を光学的に細くして射出するようになっている。ビームエキスパンダによりレーザ光の光束径を細くすることで、光束中心の密度を増大して長焦点化し、被写界深度を広げることができる。かつ、レーザ光のガウシアン分布の強度の弱い裾野部分が対物レンズ19の瞳を満たすので、レーザ光の断面形状を変更する前と比較して、レーザ光の光軸に交差する方向(X,Y方向)の分解能の低下を抑えることができる。また、対物レンズ19の瞳に入射するレーザ光の光束中心の密度が増大しているので散乱の影響にも強い。   The beam shape changing unit 15 is, for example, a beam expander (optical member), and emits the light beam diameter of the incident laser light by optically narrowing it. By narrowing the beam diameter of the laser beam by the beam expander, the density at the center of the beam can be increased to increase the focal length and the depth of field can be increased. In addition, since the skirt portion where the intensity of the Gaussian distribution of the laser beam is weak fills the pupil of the objective lens 19, the direction (X, Y) intersecting the optical axis of the laser beam compared to before changing the sectional shape of the laser beam. Direction) resolution can be suppressed. Further, since the density of the center of the light beam of the laser light incident on the pupil of the objective lens 19 is increased, it is strong against scattering.

スキャナ17は、例えば、近接ガルバノミラーであり、相互に直交する軸線回りに揺動可能な2枚のガルバノミラー(図示略)を対向させて構成されている。このスキャナ17は、2枚のガルバノミラーを揺動させてレーザ光を偏向することで、試料上でレーザ光を2次元的に走査することができるようになっている。   The scanner 17 is, for example, a proximity galvanometer mirror, and is configured by opposing two galvanometer mirrors (not shown) that can swing around mutually orthogonal axes. This scanner 17 can scan the laser beam two-dimensionally on the sample by swinging two galvanometer mirrors and deflecting the laser beam.

コントローラ5は、試料の画像を分割して取得する部分画像の取得位置を設定する取得位置設定部31と、取得位置設定部31によって設定された取得位置において画像取得部21により部分画像を取得するようレーザ走査型顕微鏡3を制御する制御部33と、取得位置ごとに取得された部分画像を配列してマップ画像を生成するマップ画像生成部35とを備えている。   The controller 5 acquires a partial image by the acquisition position setting unit 31 that sets the acquisition position of the partial image acquired by dividing the sample image, and by the image acquisition unit 21 at the acquisition position set by the acquisition position setting unit 31. A control unit 33 that controls the laser scanning microscope 3 and a map image generation unit 35 that generates a map image by arranging the partial images acquired for each acquisition position are provided.

また、コントローラ5には、図2に示すようなモニタ37が接続されており、画像取得部21により取得された画像やマップ画像生成部により生成した画像等をモニタ37に表示することができるようになっている。   Further, a monitor 37 as shown in FIG. 2 is connected to the controller 5 so that the image acquired by the image acquisition unit 21, the image generated by the map image generation unit, and the like can be displayed on the monitor 37. It has become.

取得位置設定部31は、図示しない入力部によりユーザが入力する指示に従い、図2に示すように、試料の画像を取得する観察範囲Kを設定するようになっている。また、取得位置設定部31は、設定した観察範囲Kを対物レンズ19の視野範囲ごとに複数の分割領域に分割し、各分割領域を画像取得部21により部分画像を取得する複数の取得位置Pとして設定するようになっている。   The acquisition position setting unit 31 sets an observation range K in which an image of the sample is acquired as shown in FIG. 2 in accordance with an instruction input by a user through an input unit (not shown). In addition, the acquisition position setting unit 31 divides the set observation range K into a plurality of divided regions for each field of view of the objective lens 19, and acquires a plurality of acquisition positions P at which the partial image is acquired by the image acquisition unit 21. Is set as.

取得位置設定部31により設定された観察範囲Kおよび取得位置Pは、モニタ37上で試料の画像に表示されるようになっている。また、取得位置設定部31により部分画像の取得位置Pが設定されると、各取得位置Pの座標情報がマップ画像生成部35に送られるようになっている。   The observation range K and the acquisition position P set by the acquisition position setting unit 31 are displayed on the sample image on the monitor 37. In addition, when the acquisition position P of the partial image is set by the acquisition position setting unit 31, coordinate information of each acquisition position P is sent to the map image generation unit 35.

制御部33は、取得位置設定部31により設定された取得位置Pに合わせて電動ステージ11およびスキャナ17により視野範囲を移動させるようになっている。取得位置Pの移動順序、すなわち部分画像の取得順序は、ユーザが設定することとしてもよいし、取得位置設定部31により設定されることとしてもよい。   The control unit 33 moves the visual field range by the electric stage 11 and the scanner 17 in accordance with the acquisition position P set by the acquisition position setting unit 31. The movement order of the acquisition position P, that is, the acquisition order of partial images may be set by the user or may be set by the acquisition position setting unit 31.

また、制御部33は、画像取得部21により各取得位置Pにおいて部分画像を取得する際に、ビーム形状変更部15により被写界深度を広げる方向にレーザ光の断面形状を変更するようになっている。   Further, when the image acquisition unit 21 acquires a partial image at each acquisition position P, the control unit 33 changes the cross-sectional shape of the laser light in the direction in which the beam shape changing unit 15 increases the depth of field. ing.

マップ画像生成部35は、画像取得部21により取得された各取得位置Pの部分画像をそれぞれの座標情報に従って配列し、観察範囲全体の2次元的なマップ画像を生成するようになっている。   The map image generation unit 35 arranges the partial images at the respective acquisition positions P acquired by the image acquisition unit 21 according to the respective coordinate information, and generates a two-dimensional map image of the entire observation range.

このように構成された顕微鏡システム1の作用について説明する。
本実施形態に係る顕微鏡システム1により試料のマップ画像を取得するには、まず、ユーザが、電動ステージ11に試料を載置し、コントローラ5を作動させて入力部により試料の観察範囲Kを指示する。
The operation of the microscope system 1 configured as described above will be described.
In order to acquire a map image of a sample by the microscope system 1 according to the present embodiment, first, the user places the sample on the electric stage 11, operates the controller 5, and instructs the observation range K of the sample from the input unit. To do.

コントローラ5においては、取得位置設定部31により、図2に示すように、ユーザの指示に従い試料の観察範囲Kが設定される。そして、取得位置設定部31により、設定した観察範囲Kが所定の視野範囲ごとに分割され、部分画像の複数の取得位置Pが設定される。   In the controller 5, the acquisition position setting unit 31 sets an observation range K of the sample in accordance with a user instruction as shown in FIG. Then, the acquisition position setting unit 31 divides the set observation range K for each predetermined visual field range, and sets a plurality of acquisition positions P of partial images.

次いで、制御部33により電動ステージ11およびスキャナ17が制御され、部分画像の最初の取得位置Pに合わせて視野範囲が移動させられる。そして、光源13から発せられたレーザ光がビーム形状変更部15により被写界深度を広げる方向に断面形状を変更された後、スキャナ17により偏向されて対物レンズ19により試料に照射される。これにより、スキャナ17の揺動動作に応じて試料上でレーザ光が2次元的に走査される。   Next, the electric stage 11 and the scanner 17 are controlled by the control unit 33, and the visual field range is moved according to the initial acquisition position P of the partial image. Then, the laser light emitted from the light source 13 is changed by the beam shape changing unit 15 in the direction in which the depth of field is expanded, then deflected by the scanner 17 and irradiated onto the sample by the objective lens 19. Thereby, the laser beam is scanned two-dimensionally on the sample according to the swinging motion of the scanner 17.

レーザ光が照射されることにより試料において蛍光が発生すると、その蛍光は対物レンズ19により集光され、スキャナ17を介してダイクロイックミラーにより分岐されて画像取得部21により検出される。これにより、画像取得部21において、試料の最初の取得位置Pの2次元的な部分画像が取得される。   When fluorescence is generated in the sample by being irradiated with the laser light, the fluorescence is collected by the objective lens 19, branched by the dichroic mirror via the scanner 17, and detected by the image acquisition unit 21. Thereby, in the image acquisition part 21, the two-dimensional partial image of the initial acquisition position P of a sample is acquired.

続いて、制御部33により電動ステージ11およびスキャナ17が制御され、部分画像の2番目の取得位置Pに合わせて視野範囲が移動させられる。そして、最初の取得位置Pと同様に、光源13から発せられたレーザ光が2次元的に走査され、試料からの蛍光が画像取得部21により検出されることにより、2番目の取得位置Pの部分画像が取得される。   Subsequently, the electric stage 11 and the scanner 17 are controlled by the control unit 33, and the visual field range is moved in accordance with the second acquisition position P of the partial image. Then, similarly to the first acquisition position P, the laser light emitted from the light source 13 is two-dimensionally scanned, and the fluorescence from the sample is detected by the image acquisition unit 21. A partial image is acquired.

このように、制御部33によりレーザ走査型顕微鏡3が制御され、画像取得位置設定部31により設定された部分画像の各取得位置Pにおいてそれぞれ部分画像が取得される。   In this manner, the laser scanning microscope 3 is controlled by the control unit 33, and partial images are acquired at each acquisition position P of the partial image set by the image acquisition position setting unit 31.

次いで、マップ画像生成部35の作動により、画像取得部21によって取得された全ての取得位置Pの部分画像がそれぞれの座標情報に従って配列され、観察範囲全体の2次元的なマップ画像が生成される。これにより、より広い視野範囲にわたるマップ画像によって試料を観察することができる。   Next, the operation of the map image generation unit 35 arranges the partial images of all the acquisition positions P acquired by the image acquisition unit 21 according to the respective coordinate information, and generates a two-dimensional map image of the entire observation range. . Thereby, a sample can be observed with the map image over a wider visual field range.

この場合において、制御部33が、各取得位置Pにおいて部分画像を取得する際に、ビーム形状変更部15によって被写界深度を広げる方向にレーザ光の断面形状を変更することで、画像取得部21により、対物レンズ19の焦点面から発せられる蛍光だけでなく、対物レンズ19の焦点面以外の光軸上から発せられる蛍光をも検出して部分画像を取得することができる。
したがって、本実施形態に係る顕微鏡システム1によれば、対物レンズ19の焦点面の光軸方向に分布する情報を含むマップ画像を簡易に生成することができる。
In this case, when the control unit 33 acquires a partial image at each acquisition position P, the beam shape changing unit 15 changes the cross-sectional shape of the laser light in the direction of widening the depth of field, whereby the image acquiring unit 21, not only the fluorescence emitted from the focal plane of the objective lens 19 but also the fluorescence emitted from the optical axis other than the focal plane of the objective lens 19 can be detected to obtain a partial image.
Therefore, according to the microscope system 1 according to the present embodiment, a map image including information distributed in the optical axis direction of the focal plane of the objective lens 19 can be easily generated.

本実施形態は以下のように変形することができる。
本実施形態においては、ビーム形状変更部15として、ビームエキスパンダを例示して説明したが、レンズ部材を用いたものではなく、焦点距離の異なる凹面ミラーを組み合わせたもの(光学部材)でもよい。
This embodiment can be modified as follows.
In the present embodiment, the beam shape changing unit 15 has been described by exemplifying a beam expander. However, a lens member is not used, but a combination of concave mirrors having different focal lengths (optical member) may be used.

また、第1変形例は、ビーム形状変更部として、光源13から発せられたレーザ光を通過させる際にレーザ光の光束径を制限するメカ絞り(メカ絞り部材)を採用することとしてもよい。   The first modification may employ a mechanical diaphragm (mechanical diaphragm member) that limits the beam diameter of the laser light when passing the laser light emitted from the light source 13 as the beam shape changing unit.

メカ絞りにより、レーザの光束のうち半径方向の外側部分をカットし開口数を小さくすることで、長焦点化して被写界深度を広げることができる。この場合、レーザ光の光軸に交差するX,Y方向の分解能が低下するものの、被写界深度をさらに広げることができ、散乱の影響にも強い。   By using the mechanical aperture to cut the outer portion in the radial direction of the laser beam and reducing the numerical aperture, the focal length can be increased and the depth of field can be increased. In this case, although the resolution in the X and Y directions intersecting the optical axis of the laser beam is reduced, the depth of field can be further increased and the influence of scattering is strong.

また、第2変形例は、ビーム形状変更部として、レーザ光の位相を変調して対物レンズ19の瞳位置に輪帯状の光束形状のレーザ光を入射させるアキシコンプリズムを採用することとしてもよい。この場合、同一屈折率、同一頂角を有する一対の円錐状のプリズムを互いに光軸を一致させて頂点どうしを対向させて配置したアキシコンプリズムを採用することとすればよい。   The second modification may employ an axicon prism that modulates the phase of the laser beam and causes the annular laser beam to be incident on the pupil position of the objective lens 19 as the beam shape changing unit. . In this case, an axicon prism in which a pair of conical prisms having the same refractive index and the same apex angle are arranged so that their optical axes coincide with each other and their vertices face each other may be adopted.

このようなアキシコンプリズムにより、光源13から発せられた円柱状の光束形状を有するレーザ光を一方のプリズムに入射して他方のプリズムから輪帯状の光束形状の平行光に変換して射出することで、長焦点化して被写界深度を広げることができる。例えば、レーザ光の断面形状を変更する前と比較して、レーザ光の光軸に交差する方向の分解能を増加するとともに、被写界深度をさらに広げることができる。   With such an axicon prism, a laser beam having a cylindrical light beam shape emitted from the light source 13 is incident on one prism, and is converted into parallel light having a ring-shaped light beam shape from the other prism and emitted. Thus, it is possible to extend the depth of field by increasing the focal length. For example, the resolution in the direction intersecting the optical axis of the laser light can be increased and the depth of field can be further expanded compared to before changing the cross-sectional shape of the laser light.

また、第3変形例は、ビーム形状変更部として、LCOS(Liquid Crystal On Silicon、位相変調部材)を採用し、レーザ光の位相を変調して試料にベッセル状のレーザ光を生成するようにしてもよい。この場合、対物レンズ19の瞳位置と共役な位置にLCOSを配置することとすればよい。   The third modification employs LCOS (Liquid Crystal On Silicon, a phase modulation member) as a beam shape changing unit, and modulates the phase of the laser beam to generate a Bessel-shaped laser beam on the sample. Also good. In this case, the LCOS may be arranged at a position conjugate with the pupil position of the objective lens 19.

LCOSにより、光源13から発せられたレーザ光の波面形状を位相変調により変化させて試料にベッセル状のレーザ光を生成することで、長焦点化して被写界深度を広げることができる。   By using LCOS to change the wavefront shape of the laser light emitted from the light source 13 by phase modulation to generate a Bessel-shaped laser light on the sample, the depth of field can be increased by increasing the focal length.

以上、本発明によれば、ピンホールを開くことにより焦点面以外の光軸から発生する蛍光を取得する従来の方法と異なり、照明側のスポットを長くすることにより、焦点面以外の領域でも効率的に蛍光を励起することができ、焦点面以外の光軸上から発する蛍光を取得したマップ画像を簡易に作成することができる。
特に、多光子励起の場合は、光子密度が極めて高い領域でのみ蛍光が発生するので、本発明のように照明側のスポットを長くすることにより、焦点面以外の領域の光子密度を高め、多光子励起による蛍光を発生させることができるので有効である。
As described above, according to the present invention, unlike the conventional method of acquiring the fluorescence generated from the optical axis other than the focal plane by opening the pinhole, by increasing the illumination-side spot, the efficiency can be improved even in the area other than the focal plane. Fluorescence can be excited automatically, and a map image obtained by acquiring fluorescence emitted from the optical axis other than the focal plane can be easily created.
In particular, in the case of multiphoton excitation, since fluorescence is generated only in a region where the photon density is extremely high, the photon density in regions other than the focal plane is increased by increasing the spot on the illumination side as in the present invention. This is effective because fluorescence can be generated by photon excitation.

1 顕微鏡システム
11 電動ステージ
15 ビーム形状変更部(形状変更部)
17 スキャナ
19 対物レンズ
21 画像取得部
31 取得位置設定部
33 制御部
35 マップ画像生成部
P 取得位置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Microscope system 11 Electric stage 15 Beam shape change part (shape change part)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 17 Scanner 19 Objective lens 21 Image acquisition part 31 Acquisition position setting part 33 Control part 35 Map image generation part P Acquisition position

Claims (5)

試料が載置され、該試料の位置を調節可能な電動ステージと、
該電動ステージ上に載置された前記試料に照射するレーザ光を走査するスキャナと、
該スキャナにより走査されたレーザ光を前記試料に集光する対物レンズと、
該対物レンズによるレーザ光の照射により前記試料において発生した蛍光を検出して該試料の画像を取得する画像取得部と、
前記試料に対して前記画像取得部により所定の視野範囲ごとに分割して取得する部分画像の取得位置を設定する取得位置設定部と、
レーザ光の断面形状を変更可能な形状変更部と、
前記取得位置設定部によって設定された前記取得位置に合わせて前記電動ステージおよび/または前記スキャナにより前記視野範囲を移動させ、前記形状変更部により被写界深度を広げる方向にレーザ光の断面形状を変更して前記画像取得部により前記部分画像を取得させる制御部と、
前記取得位置ごとに取得された前記部分画像を配列してマップ画像を生成するマップ画像生成部とを備える顕微鏡システム。
A motorized stage on which a sample is placed and the position of the sample can be adjusted;
A scanner that scans a laser beam applied to the sample placed on the electric stage;
An objective lens for condensing the laser beam scanned by the scanner onto the sample;
An image acquisition unit for detecting fluorescence generated in the sample by irradiation of laser light from the objective lens and acquiring an image of the sample;
An acquisition position setting unit that sets an acquisition position of a partial image acquired by dividing the sample for each predetermined visual field range by the image acquisition unit;
A shape changer capable of changing the cross-sectional shape of the laser beam;
The field of view range is moved by the electric stage and / or the scanner in accordance with the acquisition position set by the acquisition position setting unit, and the cross-sectional shape of the laser light is increased in the direction of expanding the depth of field by the shape changing unit. A control unit for changing and acquiring the partial image by the image acquisition unit;
A microscope system comprising: a map image generation unit that generates a map image by arranging the partial images acquired for each acquisition position.
前記形状変更部が、入射したレーザ光の光束を光学的に細くし、光束中心の密度を増大させて射出する光学部材である請求項1に記載の顕微鏡システム。   2. The microscope system according to claim 1, wherein the shape changing unit is an optical member that optically narrows an incident laser beam and emits it with an increased density at the center of the beam. 前記形状変更部が、通過するレーザ光の光束径を制限するメカ絞り部材である請求項1に記載の顕微鏡システム。   The microscope system according to claim 1, wherein the shape changing unit is a mechanical aperture member that limits a beam diameter of laser light passing therethrough. 前記形状変更部が、前記対物レンズの瞳位置に輪帯状の光束形状のレーザ光を入射させるアキシコンプリズムである請求項1に記載の顕微鏡システム。   2. The microscope system according to claim 1, wherein the shape changing unit is an axicon prism that causes laser light having an annular light flux shape to enter a pupil position of the objective lens. 前記形状変更部が、レーザ光の位相を変調して、前記試料にベッセル状のレーザ光を生成する位相変調部材である請求項1に記載の顕微鏡システム。   The microscope system according to claim 1, wherein the shape changing unit is a phase modulation member that modulates a phase of laser light to generate a Bessel-shaped laser light on the sample.
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