JP2014530362A - 補償光学システムのための基準較正 - Google Patents
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Abstract
Description
理論的検討
一般的な対象物の品質メトリックが検討されてきたが、殆どの補償光学システムの相互作用マトリックスが点光源で較正されているという事実からすると、ここでの議論はそれに限定される。してみると、画面品質メトリックは、取り囲まれたエネルギー半径、In(x)であるとすることができるが、ここでI(x)は焦点面強度などである。補償光学システムの性能を記述する、共通に使用されるメトリックは、ストレール比:
上記の例示的な方法は、例えば米国特許第7639369号に記載されているような眼科用補償光学機器に実装されている。シングルモード光ファイバは、共通経路上の点源(λ=635nm)として使用されており、点拡がり関数は、上述の方法に従って最適化されてきた。CCD検出器のサンプリングは、ナイキストサンプリングに対応する。各モードのスキャン間隔は、大まかに下記波[数19]に対応して、各モードにつきαnの増加間隔で個々に調整した。
Claims (15)
- 補償光学システム(1)の基準較正設定を決定する方法であって、
前記補償光学システム(1)は、
対象物(5)からの光を検出するための検出装置(8)と、
少なくとも一つの制御可能な波面修正装置(9)であって、前記対象物(5)からの光が前記波面修正装置(9)を介して前記検出装置(8)へ通過するように配置された波面修正装置(9)と、を備え、
前記方法は、
前記波面修正装置を介して前記検出装置へ基準光ビームを供給するために、前記対象物(5)と前記波面修正装置(9)との間に光源を配置する工程(100)と、
前記波面修正装置(9)の複数の直交波面モードの各々について、
所定数の強度設定にわたって前記直交波面モードの強度を変化させるために前記波面修正装置(9)を制御する工程(101)と、
前記検出装置の一連の読取り値を取得する工程(102)であって、各読取り値は前記強度設定の一つに対応する工程と、
前記一連の読取り値における各読取り値について、前記読取り値の情報内容を表す品質メトリック値を決定し、結果として一連の品質メトリック値を決定する工程(103)と、
前記一連の品質メトリック値に基づいて最適な品質メトリック値に対応する前記波面修正装置のための基準パラメータ集合を決定する工程(106)と、を備えた、方法。 - 前記補償光学システム(1)は、さらに、波面センサ(7)であって、前記対象物(5)からの光が前記波面修正装置(9)を介して前記波面センサ(7)に至るように配置された波面センサ(7)を備え、
前記波面センサ(7)は、前記波面センサに入射する光の空間的な位相分布を示す信号を提供するように構成されており、
前記直交波面モードは、前記制御可能な波面修正装置(9)の、異なる波面修正状態と、前記波面センサ(7)からの対応する信号との間の関係を規定する相互作用マトリックスに基づいて決定される、請求項1に記載の方法。 - 前記直交波面モードは、前記相互作用マトリックスの特異値分解を用いて決定される、請求項2に記載の方法。
- 複数の異なる波面修正状態に前記波面修正装置を制御する工程と、
前記波面修正状態の各々について、前記波面センサからの対応する信号を記録する工程と、
前記複数の異なる波面修正状態と前記波面センサからの対応する信号とに基づいて前記相互作用マトリックスを決定する工程と、をさらに有する、請求項2または3に記載の方法。 - 前記複数の波面モードの各々について、
前記基準パラメータ集合を用いて前記波面修正装置を制御する工程さらに有する、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の方法。 - 前記基準パラメータ集合を決定する前記工程は、
前記一連の品質メトリック値を、前記波面モードの最小収差に対応する最大値または最小値を有する所定の関数に適合させる工程を有する、請求項1乃至5のいずれか一項に記載の方法。 - 前記検出装置(8)が撮像装置であり、前記検出装置の前記読取り値の各々が画像である、請求項1乃至6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記品質メトリック値を決定する工程は、
前記一連の画像における各画像を、空間領域からフーリエ領域に変換する工程を有する、請求項7に記載の方法。 - 前記検出装置(8)は、複数の画素を有する画像センサを有し、
前記品質メトリック値を決定する工程は、
前記画像強度の前記フーリエ変換と、前記画像センサの各画素について最大強度の位置からの距離を示す測度との積を合計する工程をさらに有する、請求項8に記載の方法。 - 前記光源は点光源であり、前記品質メトリック値の各々は、前記検出装置の、関連する読取り値のストレール比を示す、請求項1乃至9のいずれか一項に記載の方法。
- 対象物(5)からの光の収差補償検出を提供するための補償光学システム(1)であって、
前記対象物(5)からの光を検出するための検出装置(8)と、
波面センサであって、前記波面センサに入射する光の空間的な位相分布を示す信号を提供するように構成された波面センサ(7)と、
少なくとも一つの制御可能な波面修正装置(9)であって、前記対象物(5)からの光が前記波面修正装置(9)を介して前記検出装置(8)と前記波面センサ(7)とへ通過するように配置された波面修正装置(9)と、
前記波面センサ(7)と前記波面修正装置(9)とに接続された制御システム(10)であって、前記制御システム(10)は較正モードと調整モードとで動作可能であり、前記制御システムは、
前記波面修正装置に制御信号を提供するための出力(20)と、
前記波面センサからの信号を受信するための第一の入力(21)と、
前記検出装置の読取り値を受信するための第二の入力(22)と、
前記波面修正装置(9)を制御するための波面修正装置コントローラ(23)と、
前記補償光学システムのための較正パラメータを決定するための較正回路(24)と、
前記較正パラメータを記憶するためのメモリ(25)と、を備え、
前記制御システム(10)が前記較正モードで動作する場合、
前記波面修正装置コントローラ(23)は、前記波面修正装置(9)における複数の直交波面モードの各々について、前記波面修正装置(9)を制御して所定数の強度設定にわたって直交波面モードの強度を変化させ、
前記較正回路(24)は、前記複数の直交波面モードの各々について、前記検出装置から受信した一連の読取り値における、前記強度設定のいずれか一つに対応する各読取り値の情報内容を表す品質メトリック値を決定して、結果として一連の品質メトリック値を決定すると共に、前記複数の直交波面モードの各々について、前記一連の品質メトリック値に基づいて最適な品質メトリック値に対応する前記波面修正装置のための基準パラメータ集合を決定し、
前記制御システム(10)が前記調整モードで動作する場合、
前記波面修正装置コントローラ(23)は、前記波面センサ(7)および前記基準パラメータ集合からの信号に基づいて前記波面修正装置(9)を調整する、補償光学システム。 - 前記制御システム(10)が前記較正モードである場合、前記較正回路(24)は、さらに、前記制御可能な波面修正装置(9)の、異なる波面修正状態と、前記波面センサ(7)からの、対応する信号との間の関係を規定する相互作用マトリックスを決定する、請求項11に記載の補償光学システム(1)。
- 前記波面モードは、前記相互作用マトリックスに基づく、請求項11または12に記載の補償光学システム(1)。
- 前記制御システム(10)が前記較正モードである場合、前記較正回路(24)は、さらに、前記複数の波面モードの各々について、前記基準パラメータ集合を用いて前記波面修正装置(9)を制御する、請求項11乃至13のいずれか一項に記載の補償光学システム(1)。
- 前記制御システム(10)が前記較正モードである場合、前記較正回路(24)は、前記一連の品質メトリック値を、前記波面モードの最小収差に対応する最大値または最小値を有する所定の関数に適合させることにより、前記最適品質メトリック値を決定する、請求項11乃至14のいずれか一項に記載の補償光学システム(1)。
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