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本発明の別の実施形態は、加速度計システムを含む。本システムは、第1の試験質量および第2の試験質量を備えているセンサ要素を含む。外部加速に応答して、第1の試験質量は、第1の方向に加速するように構成することができ、第2の試験質量は、第1の方向と反対の第2の方向に加速するように構成することができる。第1の試験質量および第2の試験質量は、第1および第2の試験質量が、実質的に同じ温度およびプロセス変動に対して実質的に同じであるように、実質的に整合された構成要素として製造されることができる。本システムはまた、所定のシーケンスにおいて、電荷パルスを第1の試験質量に関連付けられている少なくとも1つの電極および第2の試験質量に関連付けられている少なくとも1つの電極に交互に印加するように構成される、力再平衡コントローラを含む。電荷パルスは、第1の試験質量に関連付けられている少なくとも1つの電極に印加され、第1の静電気力を提供し、第1の試験質量に関連付けられている第1のヌル位置に向かって、第1の試験質量を加速し、電荷パルスを第2の試験質量に関連付けられている少なくとも1つの電極に印加し、第2の静電気力を提供し、第2の試験質量に関連付けられている第2のヌル位置に向かって、第2の試験質量を加速することができる。力再平衡コントローラはさらに、電荷パルスをそれぞれの第1および第2の試験質量に関連付けられている少なくとも1つの電極に印加することに基づいて、第1のヌル位置に対する第1の試験質量の変位に関連する第1の出力信号および第2のヌル位置に対する第2の試験質量の変位に関連する第2の出力信号を発生させるように構成されることができる。第2の出力信号は、第1の出力信号と反対の極性を有する。本システムはさらに、第1の出力信号の大きさを第2の出力信号の大きさから減算し、バイアス誤差が実質的にない外部加速を計算するように構成される、加速構成要素を含む。
本明細書は、例えば、以下の項目も提供する。
(項目1)
加速度計システムであって、
第1の試験質量および第2の試験質量を備えているセンサ要素であって、外部加速に応答して、前記第1の試験質量は、第1の方向に加速するように構成され、前記第2の試験質量は、前記第1の方向と反対の第2の方向に加速するように構成されている、センサ要素と、
前記第1の試験質量に関連付けられている少なくとも1つの制御要素に制御信号を印加することにより、前記第1の試験質量に関連付けられている第1のヌル位置に向かって、前記第1の試験質量を加速するための第1の力を提供し、前記第2の試験質量に関連付けられている少なくとも1つの制御要素に制御信号を印加することにより、前記第2の試験質量に関連付けられている第2のヌル位置に向かって、前記第2の試験質量を加速するための第2の力を提供するように構成されている力再平衡コントローラであって、前記力再平衡コントローラは、前記制御信号を前記第1および第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの制御要素に印加することに基づいて、前記第1のヌル位置に対する前記第1の試験質量の変位に関連する第1の出力信号と、前記第2のヌル位置に対する前記第2の試験質量の変位に関連する第2の出力信号とを生成するようにさらに構成され、前記第2の出力信号は、前記第1の出力信号と反対の極性を有する、力再平衡コントローラと、
前記第1および第2の出力信号の両方に基づいて、前記外部加速を計算するように構成されている加速構成要素と
を備えている、システム。
(項目2)
前記加速構成要素は、前記第1の出力信号の大きさを前記第2の出力信号の大きさから減算し、前記計算された外部加速におけるバイアス誤差を実質的に相殺するように構成されている、項目1に記載のシステム。
(項目3)
前記加速構成要素は、前記第1の出力信号の大きさと前記第2の出力信号の大きさとの間の差異を規模調整(scale)し、約2の平方根だけ減少された無相関雑音を有する前記外部加速を計算するように構成されている、項目2に記載のシステム。
(項目4)
前記第1の試験質量および前記第2の試験質量は、前記第1および第2の試験質量が、温度およびプロセス変動に対して実質的に同じであるように、実質的に整合された構成要素として製造されている、項目1に記載のシステム。
(項目5)
前記第1の試験質量は、前記第1および第2の方向に、第1の支点を中心として回転するように構成され、前記第2の試験質量は、前記第1および第2の方向に、第2の支点を中心として回転するように構成されている、項目1に記載のシステム。
(項目6)
前記第1の試験質量は、質量中心を備え、前記質量中心は、前記第2の試験質量の図心位置に対する前記第2の試験質量に関連付けられた質量中心のオフセットとほぼ等しくかつ反対の距離だけ、前記第1の試験質量の図心位置からオフセットされている、項目5に記載のシステム。
(項目7)
前記第1および第2の試験質量の各々の一部は、前記第1および第2の試験質量の各々に関連付けられた質量中心を、共通軸からオフセットされた等しくかつ反対の距離にシフトするように製造中にエッチングされている、項目6に記載のシステム。
(項目8)
それぞれの第1および第2の試験質量の各々に関連付けられている前記少なくとも1つの制御要素は、前記それぞれの第1および第2の試験質量の各々に関連付けられている少なくとも1つの電極を備え、前記力再平衡コントローラは、
電荷パルスとして前記制御信号を発生させるように構成されているパルス発生器と、
所定のシーケンスにおいて、前記第1の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極と前記第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極との間で前記電荷パルスの印加を交互させることにより、それぞれの第1および第2の静電気力として、それぞれの第1および第2の力を発生させるように構成されているマルチプレクサと、
前記第1の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に関連する第1の測定される電圧に応答して、前記第1の出力信号を発生させ、前記第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に関連する第2の測定される電圧に応答して、前記第2の出力信号を発生させるように構成されているプロセッサと
を備え、前記第1および第2の測定される電圧は、それぞれの第1および第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極への前記電荷パルスの交互印加から生じる、項目1に記載のシステム。
(項目9)
前記パルス発生器は、前記第1の出力信号に基づいて、前記第1の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に対して第1のデューティサイクルで前記電荷パルスを発生させ、前記第2の出力信号に基づいて、前記第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に対して第2のデューティサイクルで前記電荷パルスを発生させるように構成されている、項目8に記載のシステム。
(項目10)
前記第1および第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極の各々は、互に対して電気的に連結されている第1の対の電極と、互に対して電気的に連結されている第2の対の電極とを備え、前記マルチプレクサは、前記電荷パルスを前記第1の対の電極に印加することにより、それぞれの第1および第2の試験質量を第1の方向に加速し、前記電荷パルスを前記第2の対の電極に印加することにより、それぞれの第1および第2の試験質量を前記第1の方向と反対の第2の方向に加速するように構成されている、項目8に記載のシステム。
(項目11)
加速度計システムの外部加速を測定する方法であって、
第1の試験質量に関連付けられている少なくとも1つの制御要素に制御信号を印加することにより、前記第1の試験質量に関連付けられている第1のヌル位置に向かって、前記第1の試験質量を加速するための第1の力を提供することであって、前記第1の試験質量は、前記外部加速に応答して、第1の方向に加速するように構成されている、ことと、
前記第1のヌル位置に対する前記第1の試験質量の変位に関連する第1の極性の第1の出力信号を発生させることと、
第2の試験質量に関連付けられている少なくとも1つの制御要素に制御信号を印加することにより、前記第2の試験質量に関連付けられている第2のヌル位置に向かって、前記第2の試験質量を加速するための第2の力を提供することであって、前記第2の試験質量は、前記外部加速に応答して、前記第1の方向と反対の第2の方向に加速するように構成されている、ことと、
前記第2のヌル位置に対する前記第2の試験質量の変位に関連する第2の極性の第2の出力信号を発生させることと、
前記第1の出力信号の大きさと前記第2の出力信号の大きさとの間の差異を生成することにより、バイアス誤差が実質的にない前記外部加速を計算することと
を含む、方法。
(項目12)
前記第1の出力信号の大きさと前記第2の出力信号の大きさとの間の差異を規模調整し、約2の平方根だけ減少された無相関雑音を有する前記外部加速を計算することをさらに含む、項目11に記載の方法。
(項目13)
前記第1の試験質量および前記第2の試験質量は、前記第1および第2の試験質量が、温度およびプロセス変動に対して実質的に同じであるように、実質的に整合された構成要素として製造されている、項目11に記載の方法。
(項目14)
前記制御信号を印加することは、
電荷パルスを前記第1の試験質量に関連付けられている少なくとも1つの電極に印加することにより、第1の静電気力を提供し、前記ヌル位置に向かって、前記第1の方向に、第1の支点を中心として前記第1の試験質量を回転させることと、
前記電荷パルスを前記第2の試験質量に関連付けられている少なくとも1つの電極に印加することにより、前記第2の極性の第2の静電気力を提供し、前記ヌル位置に向かって、前記第2の方向に、第2の支点を中心として前記第2の試験質量を回転させることと
を含み、
前記第1の試験質量は、前記第2の試験質量の図心位置に対する前記第2の試験質量に関連付けられた質量中心のオフセットとほぼ等しくかつ反対の距離だけ、前記第1の試験質量の図心位置からオフセットされている質量中心を備えている、項目11に記載の方法。
(項目15)
前記電荷パルスを印加することは、所定のシーケンスにおいて、前記電荷パルスを、前記第1の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極と前記第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極とに交互に印加することを含む、項目14に記載の方法。
(項目16)
前記電荷パルスを前記第1の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に印加することは、前記第1の出力信号に基づく第1のデューティサイクルにおいて、前記電荷パルスを第1の対の電気的に連結されている電極と第2の対の電気的に連結されている電極とに交互に印加することにより、前記ヌル位置に向かって、前記第1の試験質量を加速することを含み、前記第1および第2の対の電気的に連結されている電極は、反対の静電気力を発生させ、前記電荷パルスを前記第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に印加することは、前記第2の出力信号に基づく第2のデューティサイクルにおいて、前記電荷パルスを第3の対の電気的に連結されている電極と第4の対の電気的に連結されている電極とに交互に印加することにより、前記ヌル位置に向かって、前記第2の試験質量を加速することを含み、前記第3および第4の対の電気的に連結されている電極は、反対の静電気力を発生させる、項目15に記載の方法。
(項目17)
加速度計システムであって、
第1の試験質量および第2の試験質量を備えているセンサ要素であって、外部加速に応答して、前記第1の試験質量は、第1の方向に加速するように構成され、前記第2の試験質量は、前記第1の方向と 反対の第2の方向に加速するように構成され、前記第1の試験質量および前記第2の試験質量は、前記第1および第2の試験質量が、温度およびプロセス変動に対して実質的に同じであるように、実質的に整合された構成要素として製造されている、センサ要素と、
所定のシーケンスにおいて、電荷パルスを前記第1の試験質量に関連付けられている少なくとも1つの電極と前記第2の試験質量に関連付けられている少なくとも1つの電極とに交互に印加するように構成されている力再平衡コントローラであって、前記電荷パルスは、前記第1の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に印加されることにより、第1の静電気力を提供し、前記第1の試験質量に関連付けられている第1のヌル位置に向かって、前記第1の試験質量を加速し、前記電荷パルスを前記第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に印加することにより、第2の静電気力を提供し、前記第2の試験質量に関連付けられている第2のヌル位置に向かって、前記第2の試験質量を加速し、前記力再平衡コントローラは、前記電荷パルスをそれぞれの第1および第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に印加することに基づいて、前記第1のヌル位置に対する前記第1の試験質量の変位に関連する第1の出力信号および前記第2のヌル位置に対する前記第2の試験質量の変位に関連する第2の出力信号を発生させるようにさらに構成され、前記第2の出力信号は、前記第1の出力信号と反対の極性を有する、力再平衡コントローラと、
前記第1の出力信号の大きさを前記第2の出力信号の大きさから減算し、バイアス誤差が実質的にない前記外部加速を計算するように構成されている加速構成要素と
を備えている、システム。
(項目18)
前記第1の試験質量は、前記第1および第2の方向に、第1の支点を中心として回転するように構成され、前記第2の試験質量は、前記第1および第2の方向に、第2の支点を中心として回転するように構成され、前記第1の試験質量は、質量中心を備え、前記質量中心は、前記第2の試験質量の図心位置に対する前記第2の試験質量に関連付けられた質量中心のオフセットとほぼ等しくかつ反対の距離だけ、前記第1の試験質量の図心位置からオフセットされている、項目17に記載のシステム。
(項目19)
前記力再平衡コントローラは、
前記電荷パルスを発生させるように構成されているパルス発生器と、
前記第1の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に関連する第1の測定される電圧に応答して、前記第1の出力信号を発生させ、前記第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に関連する第2の測定される電圧に応答して、前記第2の出力信号を発生させるように構成されているプロセッサと
を備え、
前記第1および第2の測定される電圧は、前記電荷パルスのそれぞれの第1および第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極への交互印加から生じる、項目17に記載のシステム。
(項目20)
前記第1および第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極の各々は、互に対して電気的に連結されている第1の対の電極と、互に対して電気的に連結されている第2の対の電極とを備え、マルチプレクサが、前記電荷パルスを前記第1の対の電極に印加することにより、それぞれの第1および第2の試験質量を前記第1の方向に加速し、前記電荷パルスを前記第2の対の電極に印加することにより、それぞれの第1および第2の試験質量を前記第2の方向に加速するように構成されている、項目19に記載のシステム。
第1および第2の試験質量14および16を再平衡化する、反対極性静電気力に関連付けられた大きさを有する出力信号PMおよびPMの減算の結果、加速構成要素30は、したがって、バイアス誤差が実質的にない外部加速ACCを計算することができる。したがって、加速度計システム10は、バイアスの不確実性に対して、自己較正する。出力信号PMとPMとの間のそのような差異は、第1および第2の試験質量14および16の製造整合に基づくセンサ要素12と、それぞれの電圧VおよびVに基づく出力信号PMおよびPMの発生のために共通プロセッサ28とに作用する外部加速の2倍に関連付けられ、したがって、加速構成要素30による外部加速ACCの単純計算をもたらすことができる。加えて、加速構成要素30は、同様に、出力信号PMおよびPMを合計して、外部加速を相殺し、したがって、総バイアス誤差の大きさに関連付けられた合計を残すことができる。さらに、単一試験質量の代わりに、第1および第2の試験質量14および16の両方を実装することによって、加速度計システム10における無相関雑音は、実質的に2の平方根だけ減少され得る。

Claims (14)

  1. 加速度計システムであって、
    第1の試験質量および第2の試験質量を備えているセンサ要素であって、外部加速に応答して、前記第1の試験質量は、第1の方向に加速するように構成され、前記第2の試験質量は、前記第1の方向と反対の第2の方向に加速するように構成されている、センサ要素と、
    前記第1の試験質量に関連付けられている第1の対の電極であって、互に対して電気的に連結されている第1の対の電極と、前記第1の試験質量に関連付けられている第2の対の電極であって、互に対して電気的に連結されている第2の対の電極とに制御信号を印加することにより、前記第1の試験質量に関連付けられている第1のヌル位置に向かって、前記第1の試験質量を加速するための第1の力を提供し、前記第2の試験質量に関連付けられている第1の対の電極であって、互に対して電気的に連結されている第1の対の電極と、前記第2の試験質量に関連付けられている第2の対の電極であって、互に対して電気的に連結されている第2の対の電極とに制御信号を印加することにより、前記第2の試験質量に関連付けられている第2のヌル位置に向かって、前記第2の試験質量を加速するための第2の力を提供するように構成されている力再平衡コントローラであって、前記力再平衡コントローラは、前記制御信号をそれぞれの第1および第2の試験質量に関連付けられている前記第1および第2の対の電極に印加することに基づいて、前記第1のヌル位置に対する前記第1の試験質量の変位に関連する第1の出力信号と、前記第2のヌル位置に対する前記第2の試験質量の変位に関連する第2の出力信号とを生成するようにさらに構成され、前記第2の出力信号は、前記第1の出力信号と反対の極性を有する、力再平衡コントローラと、
    前記制御信号を前記第1の対の電極に印加することにより、それぞれの第1および第2の試験質量を第1の方向に加速し、前記制御信号を前記第2の対の電極に印加することにより、それぞれの第1および第2の試験質量を前記第1の方向と反対の第2の方向に加速するように構成されているマルチプレクサと、
    前記第1および第2の出力信号の両方に基づいて、前記外部加速を計算するように構成されている加速構成要素と
    を備えており、
    前記加速構成要素は、前記第1の出力信号の大きさを前記第2の出力信号の大きさから減算し、その結果の差異を規模調整して、バイアス誤差実質的に相殺されるようにするように構成されており、
    前記計算された外部加速は、約2の平方根だけ減少された無相関雑音を有するシステム。
  2. 前記第1の試験質量および前記第2の試験質量は、前記第1および第2の試験質量が、温度およびプロセス変動に対して実質的に同じであるように、実質的に整合された構成要素として製造されている、請求項1に記載のシステム。
  3. 前記第1の試験質量は、前記第1および第2の方向に、第1の支点を中心として回転するように構成され、前記第2の試験質量は、前記第1および第2の方向に、第2の支点を中心として回転するように構成されている、請求項1に記載のシステム。
  4. 前記第1の試験質量は、質量中心を備え、前記質量中心は、前記第2の試験質量の図心位置に対する前記第2の試験質量に関連付けられた質量中心のオフセットとほぼ等しくかつ反対の距離だけ、前記第1の試験質量の図心位置からオフセットされている、請求項3に記載のシステム。
  5. 前記第1および第2の試験質量の各々の一部は、前記第1および第2の試験質量の各々に関連付けられた質量中心を、共通軸からオフセットされた等しくかつ反対の距離にシフトするように製造中にエッチングされている、請求項4に記載のシステム。
  6. 記力再平衡コントローラは、
    電荷パルスとして前記制御信号を発生させるように構成されているパルス発生器を備え、
    前記マルチプレクサは、所定のシーケンスにおいて、前記第1の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極と前記第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極との間で前記電荷パルスの印加を交互させることにより、それぞれの第1および第2の静電気力として、それぞれの第1および第2の力を発生させるようにさらに構成されており、
    前記力再平衡コントローラは、
    前記第1の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に関連する第1の測定される電圧に応答して、前記第1の出力信号を発生させ、前記第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に関連する第2の測定される電圧に応答して、前記第2の出力信号を発生させるように構成されているプロセッサをさらに備え、前記第1および第2の測定される電圧は、それぞれの第1および第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極への前記電荷パルスの交互印加から生じる、請求項1に記載のシステム。
  7. 前記パルス発生器は、前記第1の出力信号に基づいて、前記第1の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に対して第1のデューティサイクルで前記電荷パルスを発生させ、前記第2の出力信号に基づいて、前記第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に対して第2のデューティサイクルで前記電荷パルスを発生させるように構成されている、請求項6に記載のシステム。
  8. 加速度計システムの外部加速を測定する方法であって、
    第1の試験質量に関連付けられている少なくとも1つの電極電荷パルスを印加することにより、前記第1の試験質量に関連付けられている第1のヌル位置に向かって、前記第1の試験質量を加速するための第1の静電気力を提供することであって、前記第1の試験質量は、前記外部加速に応答して、第1の方向に加速して、前記第1のヌル位置に向かって第1の支点を中心として前記第1の試験質量を回転させるように構成されている、ことと、
    前記第1のヌル位置に対する前記第1の試験質量の変位に関連する第1の極性の第1の出力信号を発生させることと、
    所定のシーケンスにおいて、前記電荷パルスを、前記第1の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に印加することと交互に、第2の試験質量に関連付けられている少なくとも1つの電極に前記電荷パルスを印加することにより、前記第2の試験質量に関連付けられている第2のヌル位置に向かって、前記第2の試験質量を加速するための第2の静電気力を提供することであって、前記第2の試験質量は、前記外部加速に応答して、前記第1の方向と反対の第2の方向に加速して、前記第2のヌル位置に向かって、前記第2の方向に、第2の支点を中心として前記第2の試験質量を回転させるように構成されている、ことと、
    前記第2のヌル位置に対する前記第2の試験質量の変位に関連する第2の極性の第2の出力信号を発生させることと、
    前記第1の出力信号の大きさと前記第2の出力信号の大きさとの間の差異を生成することにより、バイアス誤差が実質的にない前記外部加速を計算すること
    を含み、
    前記第1の試験質量は、前記第2の試験質量の図心位置に対する前記第2の試験質量に関連付けられた質量中心のオフセットとほぼ等しくかつ反対の距離だけ、前記第1の試験質量の図心位置からオフセットされている質量中心を備えている、方法。
  9. 前記第1の試験質量および前記第2の試験質量は、前記第1および第2の試験質量が、温度およびプロセス変動に対して実質的に同じであるように、実質的に整合された構成要素として製造されている、請求項に記載の方法。
  10. 前記電荷パルスを前記第1の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に印加することは、前記第1の出力信号に基づく第1のデューティサイクルにおいて、前記電荷パルスを第1の対の電気的に連結されている電極と第2の対の電気的に連結されている電極とに交互に印加することにより、前記ヌル位置に向かって、前記第1の試験質量を加速することを含み、前記第1および第2の対の電気的に連結されている電極は、反対の静電気力を発生させ、前記電荷パルスを前記第2の試験質量に関連付けられている前記少なくとも1つの電極に印加することは、前記第2の出力信号に基づく第2のデューティサイクルにおいて、前記電荷パルスを第3の対の電気的に連結されている電極と第4の対の電気的に連結されている電極とに交互に印加することにより、前記ヌル位置に向かって、前記第2の試験質量を加速することを含み、前記第3および第4の対の電気的に連結されている電極は、反対の静電気力を発生させる、請求項に記載の方法。
  11. 加速度計システムであって、
    第1の試験質量および第2の試験質量を備えているセンサ要素であって、外部加速に応答して、前記第1の試験質量は、第1の方向に加速するように構成され、前記第2の試験質量は、前記第1の方向と反対の第2の方向に加速するように構成され、前記第1の試験質量および前記第2の試験質量は、前記第1および第2の試験質量が、温度およびプロセス変動に対して実質的に同じであるように、実質的に整合された構成要素として製造されている、センサ要素と、
    所定のシーケンスにおいて、電荷パルスを前記第1の試験質量に関連付けられている第1の対の電極と前記第2の試験質量に関連付けられている第2の対の電極とに交互に印加するように構成されている力再平衡コントローラであって、前記電荷パルスは、前記第1の対の電極に印加されることにより、第1の静電気力を提供し、前記第1の試験質量に関連付けられている第1のヌル位置に向かって、前記第1の試験質量を加速し、前記電荷パルスを前記第2の対の電極に印加することにより、第2の静電気力を提供し、前記第2の試験質量に関連付けられている第2のヌル位置に向かって、前記第2の試験質量を加速し、前記力再平衡コントローラは、前記電荷パルスを前記第1および第2の対の電極に印加することに基づいて、前記第1のヌル位置に対する前記第1の試験質量の変位に関連する第1の出力信号および前記第2のヌル位置に対する前記第2の試験質量の変位に関連する第2の出力信号を発生させるようにさらに構成され、前記第2の出力信号は、前記第1の出力信号と反対の極性を有する、力再平衡コントローラと、
    前記第1の出力信号の大きさを前記第2の出力信号の大きさから減算し、バイアス誤差が実質的にない前記外部加速を計算するように構成されている加速構成要素と
    を備えており、
    前記第1の試験質量は、第1の平面表面と、前記第1の平面表面と対向する第2の平面表面とを備えており、前記第2の試験質量は、第1の平面表面と、前記第1の平面表面と対向する第2の平面表面とを備えており、
    前記第1の対の電極のうちの第1の電極は、前記第1の試験質量の前記第1の平面表面と対向して配置され、前記第1の対の電極のうちの第2の電極は、前記第1の試験質量の前記第2の平面表面と対向して配置され、前記第2の対の電極のうちの第1の電極は、前記第2の試験質量の前記第1の平面表面と対向して配置され、前記第2の対の電極のうちの第2の電極は、前記第2の試験質量の前記第2の平面表面と対向して配置されている、システム。
  12. 前記第1の試験質量は、前記第1および第2の方向に、第1の支点を中心として回転するように構成され、前記第2の試験質量は、前記第1および第2の方向に、第2の支点を中心として回転するように構成され、前記第1の試験質量は、質量中心を備え、前記質量中心は、前記第2の試験質量の図心位置に対する前記第2の試験質量に関連付けられた質量中心のオフセットとほぼ等しくかつ反対の距離だけ、前記第1の試験質量の図心位置からオフセットされている、請求項11に記載のシステム。
  13. 前記力再平衡コントローラは、
    前記電荷パルスを発生させるように構成されているパルス発生器と、
    前記第1の試験質量に関連付けられている前記第1の対の電極に関連する第1の測定される電圧に応答して、前記第1の出力信号を発生させ、前記第2の試験質量に関連付けられている前記第2の対の電極に関連する第2の測定される電圧に応答して、前記第2の出力信号を発生させるように構成されているプロセッサと
    を備え、
    前記第1および第2の測定される電圧は、前記電荷パルスのそれぞれの第1および第2の試験質量に関連付けられている前記第1および第2の対の電極への交互印加から生じる、請求項11に記載のシステム。
  14. マルチプレクサが、前記電荷パルスを前記第1の対の電極に印加することにより、前記第1の試験質量を前記第1の方向に加速し、前記電荷パルスを前記第2の対の電極に印加することにより、前記第2の試験質量を前記第2の方向に加速するように構成されている、請求項13に記載のシステム。
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9470709B2 (en) * 2013-01-28 2016-10-18 Analog Devices, Inc. Teeter totter accelerometer with unbalanced mass
US9612255B2 (en) * 2013-02-20 2017-04-04 Northrop Grumman Guidance And Electronic Company, Inc. Range-dependent bias calibration of an accelerometer sensor system
US9612256B2 (en) * 2013-02-20 2017-04-04 Northrop Grumman Guidance And Electronics Company, Inc. Range-dependent bias calibration of an accelerometer sensor system
US9297825B2 (en) * 2013-03-05 2016-03-29 Analog Devices, Inc. Tilt mode accelerometer with improved offset and noise performance
US10006930B2 (en) 2014-06-03 2018-06-26 Northrop Grumman Systems Corporation Performance optimization of a differential capacitance based motion sensor
US9810535B2 (en) 2015-02-10 2017-11-07 Northrop Grumman Systems Corporation Vibrating-mass gyroscope systems and method
US10330697B2 (en) 2015-05-15 2019-06-25 Honeywell International Inc. Active, in-situ, calibration of MEMS accelerometers using optical forces
US9874581B2 (en) * 2015-05-15 2018-01-23 Honeywell International Inc. In-situ bias correction for MEMS accelerometers
US10078098B2 (en) 2015-06-23 2018-09-18 Analog Devices, Inc. Z axis accelerometer design with offset compensation
US9983225B2 (en) 2015-06-29 2018-05-29 Honeywell International Inc. Optical-mechanical vibrating beam accelerometer
US10759656B2 (en) * 2017-09-29 2020-09-01 Apple Inc. MEMS sensor with dual pendulous proof masses
US10648811B2 (en) * 2017-12-01 2020-05-12 Northrop Grumman Systems Corporation Vibrating-mass gyroscope system
US10816568B2 (en) 2017-12-26 2020-10-27 Physical Logic Ltd. Closed loop accelerometer
US11073393B2 (en) 2019-01-16 2021-07-27 Northrop Grumman Systems Corporation Coriolis vibratory gyroscope control system
CN109827571B (zh) * 2019-03-22 2020-09-25 北京壹氢科技有限公司 一种无转台条件下的双加速度计标定方法
US11073391B2 (en) * 2019-09-26 2021-07-27 Northrop Grumman Systems Corporation Coriolis vibratory accelerometer system

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4517841A (en) 1983-01-06 1985-05-21 Sundstrand Data Control, Inc. Accelerometer with beam resonator force transducer
US5142921A (en) * 1990-10-29 1992-09-01 Litton Systems, Inc. Force balance instrument with electrostatic charge control
EP0675375B1 (en) 1994-03-30 2001-06-13 Oxford Instruments Superconductivity Limited Proof mass support and sensing system
US5473946A (en) * 1994-09-09 1995-12-12 Litton Systems, Inc. Accelerometer using pulse-on-demand control
US5659195A (en) * 1995-06-08 1997-08-19 The Regents Of The University Of California CMOS integrated microsensor with a precision measurement circuit
JPH11118827A (ja) * 1997-10-14 1999-04-30 Denso Corp 容量式物理量検出装置
US6360602B1 (en) * 1999-07-29 2002-03-26 Litton Systems, Inc. Method and apparatus reducing output noise in a digitally rebalanced accelerometer
US6301965B1 (en) 1999-12-14 2001-10-16 Sandia Corporation Microelectromechanical accelerometer with resonance-cancelling control circuit including an idle state
US6615660B1 (en) 2001-03-07 2003-09-09 Lockheed Martin Corporation Real-time self-compensating gravity gradiometer instrument
US6701786B2 (en) * 2002-04-29 2004-03-09 L-3 Communications Corporation Closed loop analog gyro rate sensor
US6895818B2 (en) 2002-12-20 2005-05-24 Robert Bosch Gmbh Differential in-plane tunneling current sensor
JP5137404B2 (ja) * 2004-01-07 2013-02-06 ノースロップ グラマン システムズ コーポレーション 3つの軸線に沿った加速度を検知すべく採用可能な面一のプルーフマス
US7640803B1 (en) 2004-05-26 2010-01-05 Siimpel Corporation Micro-electromechanical system inertial sensor
US7069784B1 (en) 2004-12-29 2006-07-04 Honeywell International Inc. Pendulous in-plane MEMS accelerometer device
US7140250B2 (en) 2005-02-18 2006-11-28 Honeywell International Inc. MEMS teeter-totter accelerometer having reduced non-linearty
US7650238B2 (en) * 2005-05-09 2010-01-19 Northrop Grumman Corporation Environmental characteristic determination
FI119299B (fi) 2005-06-17 2008-09-30 Vti Technologies Oy Menetelmä kapasitiivisen kiihtyvyysanturin valmistamiseksi ja kapasitiivinen kiihtyvyysanturi
US7444868B2 (en) 2006-06-29 2008-11-04 Honeywell International Inc. Force rebalancing for MEMS inertial sensors using time-varying voltages
US7640786B2 (en) 2007-03-28 2010-01-05 Northrop Grumman Guidance And Electronics Company, Inc. Self-calibrating accelerometer
WO2008133183A1 (ja) * 2007-04-20 2008-11-06 Alps Electric Co., Ltd. 静電容量型加速度センサ
US7614300B2 (en) 2007-05-30 2009-11-10 Northrop Grumman Corporation System and method for mitigating errors in electrostatic force balanced instrument
US8528404B2 (en) 2007-10-11 2013-09-10 Georgia Tech Research Corporation Bulk acoustic wave accelerometers
US20090183570A1 (en) 2008-01-18 2009-07-23 Custom Sensors & Technologies, Inc. Micromachined cross-differential dual-axis accelerometer
WO2009138498A1 (de) 2008-05-15 2009-11-19 Continental Teves Ag & Co. Ohg Mikromechanischer beschleunigungssensor
US8171793B2 (en) * 2008-07-31 2012-05-08 Honeywell International Inc. Systems and methods for detecting out-of-plane linear acceleration with a closed loop linear drive accelerometer
US8186221B2 (en) * 2009-03-24 2012-05-29 Freescale Semiconductor, Inc. Vertically integrated MEMS acceleration transducer
US8539836B2 (en) * 2011-01-24 2013-09-24 Freescale Semiconductor, Inc. MEMS sensor with dual proof masses
US8825436B2 (en) * 2011-03-09 2014-09-02 Moog Inc. Inertial sensing with spatially distributed sensor array and two dimensional data processing

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