JP2014238068A - Abnormality detector - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To verify whether an abnormality occurs to a mask process in a case of masking an abnormality detection process on a control target.SOLUTION: In an abnormality detector 10, a diagnostic status setting processing unit 23 sets a normal state as a diagnostic state if an abnormality detection unit 21 does not detect an abnormality in a control target, and sets an abnormal state as the diagnostic state if the abnormality detection unit 21 detects an abnormality in the control target. If a mask processing unit 22 masks a detection process performed by the abnormality detection unit 21, the diagnostic status setting processing unit 23 sets an undetected state as the diagnostic status. A mask abnormality determination processing unit 24 determines that an abnormality occurs to the mask processing unit 22 if a period for which the diagnostic status setting processing unit 23 sets the undetected state differs from a predetermined period.

Description

本発明は、制御対象の異常を検出する異常検出装置に関する。   The present invention relates to an abnormality detection device that detects an abnormality of a controlled object.

従来より、制御対象の異常の誤検出を防止する技術として、異常の検出処理をマスクすることが考えられている。例えば特許文献１には、インジェクタなどの電磁負荷の通電遮断時より一定時間内に検出された電圧異常の誤検出をマスクする技術が開示されている。   Conventionally, as a technique for preventing erroneous detection of an abnormality of a controlled object, masking of an abnormality detection process has been considered. For example, Patent Document 1 discloses a technique for masking erroneous detection of a voltage abnormality detected within a certain period of time from when an electromagnetic load such as an injector is turned off.

特開２０１２−１２７１９４号公報JP 2012-127194 A

しかしながら、従来技術においては、異常の検出処理をマスクする手段に異常が発生して、例えば、マスク時間が予め設定された時間よりも長くなってしまったり、異常の検出処理にかけたマスクが解除されなくなってしまう場合がある。このような場合には、異常の検出処理を行うべき期間にもマスクがかかってしまい、制御対象の異常を精度良く検出することができない。
そこで、本発明は、制御対象の異常検出処理にマスクをかける場合において、そのマスク処理に異常が発生していないか否かを検証することができる異常検出装置を提供する。 However, in the prior art, an abnormality occurs in the means for masking the abnormality detection process, for example, the mask time becomes longer than a preset time, or the mask subjected to the abnormality detection process is released. It may disappear. In such a case, the mask is also applied during the period in which the abnormality detection process is to be performed, and the abnormality to be controlled cannot be detected with high accuracy.
Therefore, the present invention provides an abnormality detection apparatus that can verify whether or not an abnormality has occurred in the mask process when the abnormality detection process to be controlled is masked.

本発明に係る異常検出装置によれば、ダイアグステータス設定手段は、異常検出手段が制御対象の異常を検出していない場合にはダイアグステータスとして正常状態を設定し、異常検出手段が制御対象の異常を検出している場合にはダイアグステータスとして異常状態を設定し、マスク手段が異常検出手段による検出処理をマスクしている場合にはダイアグステータスとして未検出状態を設定する。そして、マスク異常判定手段は、ダイアグステータス設定手段が未検出状態を設定している期間が所定期間と異なる場合には、マスク手段に異常が発生していると判定する。   According to the abnormality detection apparatus of the present invention, the diagnosis status setting means sets the normal state as the diagnosis status when the abnormality detection means does not detect the abnormality of the control object, and the abnormality detection means detects the abnormality of the control object. Is detected as a diagnostic status, and an undetected state is set as a diagnostic status when the masking means masks detection processing by the abnormality detecting means. Then, the mask abnormality determining means determines that an abnormality has occurred in the masking means when the period during which the diagnosis status setting means sets the undetected state is different from the predetermined period.

即ち、ダイアグステータスとして未検出状態が設定されている期間、換言すれば、制御対象の異常検出処理がマスクされている期間が所定期間と異なる場合には、マスク手段に異常が発生していることが検出されるように構成した。これにより、制御対象の異常検出処理にマスクをかける場合において、そのマスク処理に異常が発生していないか否かを検証することができる。   That is, if the period in which the undetected state is set as the diagnosis status, in other words, if the period in which the abnormality detection process to be controlled is masked is different from the predetermined period, an abnormality has occurred in the masking means. Was configured to be detected. Thereby, when applying a mask to the abnormality detection process to be controlled, it is possible to verify whether or not an abnormality has occurred in the mask process.

本実施形態に係る異常検出装置の構成を概略的に示すブロック図The block diagram which shows roughly the structure of the abnormality detection apparatus which concerns on this embodiment 制御対象が正常である場合における指令信号、電流波形の一例を示すタイミングチャートTiming chart showing an example of command signal and current waveform when control target is normal 制御対象が異常である場合における指令信号、電流波形の一例を示すタイミングチャートTiming chart showing an example of command signal and current waveform when control target is abnormal 制御対象が正常であり、かつ、マスク処理が正常である場合の一例を示すタイミングチャートTiming chart showing an example when the control target is normal and the mask process is normal 制御対象が異常であり、かつ、マスク処理が正常である場合の一例を示すタイミングチャートTiming chart showing an example when the control target is abnormal and the mask process is normal 制御対象が正常であり、かつ、マスク処理が異常である場合の一例を示すタイミングチャート（その１）Timing chart showing an example of a case where the control target is normal and the mask process is abnormal (part 1) 制御対象が異常であり、かつ、マスク処理が異常である場合の一例を示すタイミングチャート（その１）Timing chart (part 1) showing an example when the control target is abnormal and the mask process is abnormal 制御対象が正常であり、かつ、マスク処理が解除不能異常である場合の一例を示すタイミングチャート（その２）Timing chart showing an example of a case where the control target is normal and the mask process is an irreversible abnormality (part 2) 制御対象が異常であり、かつ、マスク処理が解除不能異常である場合の一例を示すタイミングチャート（その２）Timing chart showing an example of a case where the control target is abnormal and the mask process is an unresolvable abnormality (part 2) ダイアグステータスを記憶する場合のデータ構造の一例を示す図The figure which shows an example of the data structure in the case of memorizing a diagnosis status

以下、異常検出装置の一実施形態について図面を参照しながら説明する。図１に示す異常検出装置１０は、制御対象である例えば車両エンジンのインジェクタ１００の異常を検出するものであり、制御回路１１、出力回路１２などを備える。制御回路１１は、図示しないＣＰＵを主体として構成されており、異常検出装置１０の動作全般を制御する。また、この制御回路１１は、ＣＰＵにおいて制御プログラムを実行することにより、異常検出処理部２１、マスク処理部２２、ダイアグステータス設定処理部２３、マスク異常判定処理部２４をソフトウェアによって仮想的に実現する。なお、これら処理部２１〜２４は、例えば制御回路１１と一体の集積回路としてハードウェア的に実現してもよい。
出力回路１２は、インジェクタ１００の駆動を制御する駆動回路として機能するものである。出力回路１２が備える図示しない出力端子は、インジェクタ１００が備える図示しない入力端子に接続されている。出力回路１２は、制御回路１１から入力される指令信号に応じてインジェクタ１００に駆動信号を出力して当該インジェクタ１００を駆動する。 Hereinafter, an embodiment of an abnormality detection device will be described with reference to the drawings. An abnormality detection apparatus 10 shown in FIG. 1 detects an abnormality of an injector 100 of a vehicle engine that is a control target, and includes a control circuit 11, an output circuit 12, and the like. The control circuit 11 is composed mainly of a CPU (not shown) and controls the overall operation of the abnormality detection device 10. In addition, the control circuit 11 virtually implements the abnormality detection processing unit 21, the mask processing unit 22, the diagnosis status setting processing unit 23, and the mask abnormality determination processing unit 24 by software by executing a control program in the CPU. . In addition, you may implement | achieve these processing parts 21-24 as hardware as an integrated circuit integrated with the control circuit 11, for example.
The output circuit 12 functions as a drive circuit that controls the drive of the injector 100. An output terminal (not shown) included in the output circuit 12 is connected to an input terminal (not shown) included in the injector 100. The output circuit 12 drives the injector 100 by outputting a drive signal to the injector 100 according to the command signal input from the control circuit 11.

異常検出処理部２１は、異常検出手段の一例であり、この場合、出力回路１２の出力端子に流れる電流の波形に基づいてインジェクタ１００の異常を検出する。即ち、例えば図２に示すように、異常検出処理部２１は、出力端子の電流波形が出力回路１２に入力される指令信号に応じて変化している場合には、インジェクタ１００の駆動が正常であることを検出する。一方、例えば図３に示すように、異常検出処理部２１は、出力端子の電流波形が出力回路１２に入力する指令信号に応じて変化していない場合には、インジェクタ１００の駆動が異常であることを検出する。   The abnormality detection processing unit 21 is an example of an abnormality detection unit. In this case, the abnormality detection processing unit 21 detects an abnormality of the injector 100 based on the waveform of the current flowing through the output terminal of the output circuit 12. That is, for example, as shown in FIG. 2, the abnormality detection processing unit 21 performs normal driving of the injector 100 when the current waveform at the output terminal changes according to the command signal input to the output circuit 12. Detect that there is. On the other hand, for example, as shown in FIG. 3, the abnormality detection processing unit 21 has an abnormal drive of the injector 100 when the current waveform of the output terminal does not change according to the command signal input to the output circuit 12. Detect that.

マスク処理部２２は、マスク手段の一例であり、異常検出処理部２１による異常検出処理をマスクする。そして、異常検出装置１０は、マスク処理部２２が異常検出処理部２１による検出処理にマスクをかけている場合には、そのマスク期間中における検出処理の結果を、図示しない記憶媒体に記憶しないように構成されている。一方、異常検出装置１０は、マスク処理部２２が異常検出処理部２１による検出処理にマスクをかけていない場合には、その非マスク期間中における検出処理の結果を記憶媒体に記憶するように構成されている。なお、図４および図５に示すように、マスク処理部２２は、当該マスク処理部２２に異常が発生していない状態では、予め設定されたマスク設定期間Ｔ１中に異常検出処理部２１による検出処理をマスクするように構成されている。このマスク設定期間Ｔ１は、例えば、異常検出処理部２１による検出精度が低下すると想定される所定の期間で設定される。   The mask processing unit 22 is an example of a mask unit, and masks the abnormality detection process performed by the abnormality detection processing unit 21. Then, when the mask processing unit 22 is masking the detection process performed by the abnormality detection processing unit 21, the abnormality detection device 10 does not store the result of the detection process during the mask period in a storage medium (not shown). It is configured. On the other hand, the abnormality detection device 10 is configured to store the result of the detection process during the non-mask period in a storage medium when the mask processing unit 22 does not mask the detection process by the abnormality detection processing unit 21. Has been. As shown in FIGS. 4 and 5, the mask processing unit 22 is detected by the abnormality detection processing unit 21 during a preset mask setting period T <b> 1 in a state where no abnormality has occurred in the mask processing unit 22. It is configured to mask processing. The mask setting period T1 is set, for example, in a predetermined period in which the detection accuracy by the abnormality detection processing unit 21 is assumed to decrease.

ダイアグステータス設定処理部２３は、ダイアグステータス設定手段の一例である。図４および図５に示すように、ダイアグステータス設定処理部２３は、異常検出処理部２１がインジェクタ１００の異常を検出していない場合、つまり、インジェクタ１００が正常である場合にはダイアグステータスとして「正常状態」を設定する。また、ダイアグステータス設定処理部２３は、異常検出処理部２１がインジェクタ１００の異常を検出している場合にはダイアグステータスとして「異常状態」を設定する。また、ダイアグステータス設定処理部２３は、マスク処理部２２が異常検出処理部２１による検出処理をマスクしている場合には、異常検出処理部２１がインジェクタ１００の異常を検出しているか否かに関わらず、ダイアグステータスとして「未検出状態」を設定する。よって、ダイアグステータスとして「正常状態」が設定されている場合にはインジェクタ１００が正常であることを特定することができ、ダイアグステータスとして「異常状態」が設定されている場合にはインジェクタ１００が異常であることを特定することができる。しかし、ダイアグステータスとして「未検出状態」が設定されている場合には、インジェクタ１００が正常であるのか、あるいは、異常であるのかを特定することができない。   The diagnosis status setting processing unit 23 is an example of a diagnosis status setting unit. As shown in FIGS. 4 and 5, the diagnosis status setting processing unit 23 displays the diagnosis status as “diagnosis status” when the abnormality detection processing unit 21 does not detect an abnormality of the injector 100, that is, when the injector 100 is normal. Set “Normal”. The diagnosis status setting processing unit 23 sets “abnormal state” as the diagnosis status when the abnormality detection processing unit 21 detects an abnormality of the injector 100. Further, the diagnosis status setting processing unit 23 determines whether or not the abnormality detection processing unit 21 detects an abnormality of the injector 100 when the mask processing unit 22 masks the detection processing by the abnormality detection processing unit 21. Regardless, the “undetected state” is set as the diagnosis status. Therefore, when the “normal state” is set as the diagnostic status, it can be specified that the injector 100 is normal, and when the “abnormal status” is set as the diagnostic status, the injector 100 is abnormal. Can be specified. However, when “undetected state” is set as the diagnostic status, it cannot be specified whether the injector 100 is normal or abnormal.

マスク異常判定処理部２４は、マスク異常判定手段の一例である。図４および図５に示すように、マスク異常判定処理部２４は、ダイアグステータス設定処理部２３が未検出状態を設定している期間が所定期間Ｔと一致する場合には、マスク処理部２２に異常が発生しておらず正常であると判定する。一方、図６から図９に示すように、マスク異常判定処理部２４は、ダイアグステータス設定処理部２３が未検出状態を設定している期間Ｔｅ１，Ｔｅ２が所定期間Ｔと異なる場合には、マスク処理部２２に異常が発生していると判定する。   The mask abnormality determination processing unit 24 is an example of a mask abnormality determination unit. As shown in FIGS. 4 and 5, the mask abnormality determination processing unit 24 determines that the mask processing unit 22 determines that the period during which the diagnosis status setting processing unit 23 has set the undetected state coincides with a predetermined period T. It is determined that no abnormality has occurred and is normal. On the other hand, as shown in FIGS. 6 to 9, the mask abnormality determination processing unit 24 performs masking when the period Te1 and Te2 in which the diagnosis status setting processing unit 23 sets the undetected state are different from the predetermined period T. It is determined that an abnormality has occurred in the processing unit 22.

本実施形態では、この所定期間Ｔとして、図４から図７に示すようにマスク設定期間Ｔ１が設定されているほか、さらに、図８および図９に示すように、予め設定された基準期間Ｔ２も設定されている。従って、マスク異常判定処理部２４は、ダイアグステータス設定処理部２３が未検出状態を設定している期間Ｔｅ１がマスク設定期間Ｔ１と異なる場合に、マスク処理部２２に異常が発生していると判定し、ダイアグステータス設定処理部２３が未検出状態を設定している期間Ｔｅ２が基準期間Ｔ２と異なる場合にも、マスク処理部２２に異常が発生していると判定する。なお、マスク設定期間Ｔ１は、適宜変更して設定することができる。また、基準期間Ｔ２は、マスク設定期間Ｔ１よりも長い期間で適宜変更して設定することができる。   In the present embodiment, as the predetermined period T, a mask setting period T1 is set as shown in FIGS. 4 to 7, and further, as shown in FIGS. 8 and 9, a preset reference period T2 is set. Is also set. Therefore, the mask abnormality determination processing unit 24 determines that an abnormality has occurred in the mask processing unit 22 when the period Te1 in which the diagnosis status setting processing unit 23 sets the undetected state is different from the mask setting period T1. Even when the period Te2 in which the diagnosis status setting processing unit 23 sets the undetected state is different from the reference period T2, it is determined that an abnormality has occurred in the mask processing unit 22. The mask setting period T1 can be changed and set as appropriate. Further, the reference period T2 can be appropriately changed and set in a period longer than the mask setting period T1.

また、マスク異常判定処理部２４は、例えば図４および図５に示すように、ダイアグステータス設定処理部２３が設定するダイアグステータスが予め設定された所定のタイミングＳ１，Ｓ２，Ｓ３・・・で切り替わっている場合には、マスク処理部２２に異常が発生していない、つまり、マスク処理部２２が正常であると判定する。一方、マスク異常判定処理部２４は、例えば図６から図９に示すように、ダイアグステータスがタイミングＳ１，Ｓ２，Ｓ３・・・で切り替わっていない場合には、マスク処理部２２に異常が発生していると判定する。なお、タイミングＳ１，Ｓ２，Ｓ３・・・は、マスク処理部２２が正常である場合においてダイアグステータスが切り替わるべきタイミングを、予め演算して設定するものとする。   Further, as shown in FIGS. 4 and 5, for example, the mask abnormality determination processing unit 24 is switched at predetermined timings S1, S2, S3,... In which the diagnostic status set by the diagnostic status setting processing unit 23 is set in advance. If it is determined that there is no abnormality in the mask processing unit 22, that is, it is determined that the mask processing unit 22 is normal. On the other hand, the mask abnormality determination processing unit 24 generates an abnormality in the mask processing unit 22 when the diagnosis status is not switched at timings S1, S2, S3..., For example, as shown in FIGS. It is determined that Note that the timings S1, S2, S3... Are set in advance by calculating the timing at which the diagnosis status should be switched when the mask processing unit 22 is normal.

図１０に示すように、異常検出装置１０は、設定されたダイアグステータスを２ビットのデータとして記憶媒体に記憶するように構成されている。即ち、例えば図１０（ａ）に示す例では、異常検出装置１０は、正常状態を「００」、異常状態Ａを「０１」、異常状態Ｂを「１０」、未検出状態を「１１」と定義して記憶する。なお、この場合、異常検出処理部２１は、制御対象にどのような異常が発生しているのかをきめ細かく検出できるように構成されており、例えば電流波形の形状の相違に基づいて、制御対象の特定の異常ａおよび特定の異常ｂを検出するように構成されている。即ち、異常検出処理部２１は、電流波形が異常ａに対応する特定の波形を示している場合には、制御対象の異常として異常ａを検出する。また、異常検出処理部２１は、電流波形が異常ｂに対応する特定の波形を示している場合には、制御対象の異常として異常ｂを検出する。そして、ダイアグステータス設定処理部２３は、異常検出処理部２１がインジェクタ１００の異常ａを検出している場合にはダイアグステータスとして「異常状態Ａ」を設定し、異常検出処理部２１がインジェクタ１００の異常ｂを検出している場合にはダイアグステータスとして「異常状態Ｂ」を設定するように構成されている。   As shown in FIG. 10, the abnormality detection apparatus 10 is configured to store the set diagnosis status in a storage medium as 2-bit data. That is, for example, in the example illustrated in FIG. 10A, the abnormality detection device 10 sets the normal state as “00”, the abnormal state A as “01”, the abnormal state B as “10”, and the undetected state as “11”. Define and remember. In this case, the abnormality detection processing unit 21 is configured to be able to finely detect what kind of abnormality has occurred in the controlled object. For example, based on the difference in the shape of the current waveform, A specific abnormality a and a specific abnormality b are detected. That is, the abnormality detection processing unit 21 detects the abnormality a as an abnormality to be controlled when the current waveform indicates a specific waveform corresponding to the abnormality a. Further, the abnormality detection processing unit 21 detects the abnormality b as an abnormality to be controlled when the current waveform indicates a specific waveform corresponding to the abnormality b. The diagnosis status setting processing unit 23 sets “abnormal state A” as the diagnosis status when the abnormality detection processing unit 21 detects the abnormality “a” of the injector 100, and the abnormality detection processing unit 21 sets the abnormality detection unit 21 of the injector 100. When the abnormality b is detected, “abnormal state B” is set as the diagnosis status.

また、図１０（ｂ）に示す例では、異常検出装置１０は、正常状態を「００」、異常状態を「０１」、未検出状態を「１１」と定義して記憶する。さらに、異常検出装置１０は、マスク異常判定処理部２４がマスク処理部２２に異常が発生していると判定した場合には、その状態を示す「マスク異常状態」を「１０」と定義して記憶する。なお、図１０に示すデータ構造は一例にすぎず、例えばデータのビット数を増やすことにより、さらに多数のモードを記憶することができる。   In the example shown in FIG. 10B, the abnormality detection device 10 defines and stores the normal state as “00”, the abnormal state as “01”, and the undetected state as “11”. Further, when the mask abnormality determination processing unit 24 determines that an abnormality has occurred in the mask processing unit 22, the abnormality detection device 10 defines a “mask abnormal state” indicating the state as “10”. Remember. Note that the data structure shown in FIG. 10 is merely an example, and a larger number of modes can be stored, for example, by increasing the number of data bits.

次に、異常検出装置１０による動作について、いくつかの具体例を説明する。
図４は、インジェクタ１００の駆動が正常であり、かつ、マスク処理部２２が正常である場合を示す。この場合、ダイアグステータスは、マスク設定期間Ｔ１以外の期間では正常状態が設定され、マスク設定期間Ｔ１中では未検出状態が設定される。
図６は、インジェクタ１００の駆動が正常であり、かつ、マスク処理部２２が異常である場合を示す。この場合、異常検出処理部２１による検出処理に実際にマスクがかけられる期間が長くなる異常が発生しており、ダイアグステータスとして未検出状態が設定される期間Ｔｅ１がマスク設定期間Ｔ１よりも長くなっている。従って、異常検出装置１０は、マスク処理部２２に異常が発生していると判定する。なお、ダイアグステータスとして未検出状態が設定される期間がマスク設定期間Ｔ１よりも短くなる場合にも、異常検出装置１０は、マスク処理部２２に異常が発生していると判定する。 Next, some specific examples of the operation by the abnormality detection apparatus 10 will be described.
FIG. 4 shows a case where the injector 100 is normally driven and the mask processing unit 22 is normal. In this case, the diagnosis status is set to a normal state during a period other than the mask setting period T1, and is set to an undetected state during the mask setting period T1.
FIG. 6 shows a case where the drive of the injector 100 is normal and the mask processing unit 22 is abnormal. In this case, an abnormality has occurred in which the period during which the mask is actually applied to the detection process by the abnormality detection processing unit 21 has occurred, and the period Te1 in which the undetected state is set as the diagnosis status is longer than the mask setting period T1. ing. Therefore, the abnormality detection apparatus 10 determines that an abnormality has occurred in the mask processing unit 22. Note that the abnormality detection apparatus 10 also determines that an abnormality has occurred in the mask processing unit 22 when the period in which the undetected state is set as the diagnosis status is shorter than the mask setting period T1.

図８は、インジェクタ１００の駆動が正常であり、かつ、マスク処理部２２が異常である場合を示す。この場合、異常検出処理部２１による検出処理に実際にかけられたマスクが解除されない異常が発生しており、ダイアグステータスとして未検出状態が設定される期間Ｔｅ２が継続して基準期間Ｔ２よりも長くなっている。従って、異常検出装置１０は、マスク処理部２２に異常が発生していると判定する。   FIG. 8 shows a case where the drive of the injector 100 is normal and the mask processing unit 22 is abnormal. In this case, there is an abnormality in which the mask actually applied to the detection process by the abnormality detection processing unit 21 is not released, and the period Te2 in which the undetected state is set as the diagnosis status continues and becomes longer than the reference period T2. ing. Therefore, the abnormality detection apparatus 10 determines that an abnormality has occurred in the mask processing unit 22.

本実施形態に係る異常検出装置１０によれば、ダイアグステータスとして「未検出状態」が設定されている期間、換言すれば、制御対象の異常検出処理がマスクされている期間が所定期間Ｔと異なる場合には、マスク処理部２２に異常が発生していることが検出されるように構成した。これにより、制御対象の異常検出処理にマスクをかける場合において、そのマスク処理に異常が発生していないか否かを検証することができる。
また、異常検出装置１０によれば、所定期間Ｔとして、例えば予め設定されたマスク設定期間Ｔ１や基準期間Ｔ２などを適宜設定することができ、これらマスク設定期間Ｔ１あるいは基準期間Ｔ２という具体的な基準とダイアグステータスとして未検出状態が設定される期間とを比較することにより、マスク処理の異常を精度良く検出することができる。
また、異常検出装置１０によれば、ダイアグステータスが予め設定された所定のタイミング、つまり、正常時において切り替わるべきタイミングで切り替わっていない場合にもマスク処理に異常が発生していると判定する。これにより、マスク処理に異常が発生していないか否かを一層精度良く検証することができる。 According to the abnormality detection apparatus 10 according to the present embodiment, the period in which the “undetected state” is set as the diagnosis status, in other words, the period in which the abnormality detection process of the control target is masked is different from the predetermined period T. In this case, the mask processing unit 22 is configured to detect that an abnormality has occurred. Thereby, when applying a mask to the abnormality detection process to be controlled, it is possible to verify whether or not an abnormality has occurred in the mask process.
Further, according to the abnormality detection apparatus 10, as the predetermined period T, for example, a preset mask setting period T1, a reference period T2, or the like can be set as appropriate, and a specific setting such as the mask setting period T1 or the reference period T2 can be set. By comparing the reference and the period in which the undetected state is set as the diagnosis status, it is possible to accurately detect an abnormality in the mask process.
Further, according to the abnormality detection apparatus 10, it is determined that an abnormality has occurred in the mask process even when the diagnosis status is not switched at a predetermined timing set in advance, that is, at a timing at which the diagnosis status should be switched in a normal state. Thereby, it can be verified with higher accuracy whether or not an abnormality has occurred in the mask processing.

この種の異常検出装置においては、マスク期間中におけるダイアグステータスを当該マスク期間の直前のダイアグステータスでラッチつまり保持するように設定する場合がある。そのため、例えば図９に示す例では、制御対象に異常が発生しているにも関わらず、未検出状態で設定されたダイアグステータスが直前の正常状態でラッチされてしまい、制御対象に異常が発生していることを認識することができない。本実施形態に係る異常検出装置１０によれば、このような場合には、マスク処理に異常が発生していることが検出されるので、マスク処理の異常が検出された時点で、直ちに、システムをフェールセーフ状態に移行させるための処理を行うことができる。
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の実施形態に適用することができる。例えば、制御対象はインジェクタ１００に限られず、イグナイタや燃料ポンプなど他の要素であってもよい。 In this type of abnormality detection apparatus, there is a case where the diagnosis status during the mask period is set to be latched, that is, held by the diagnosis status immediately before the mask period. Therefore, for example, in the example shown in FIG. 9, the diagnosis status set in the undetected state is latched in the previous normal state even though the abnormality is occurring in the control target, and the control target is abnormal. I can't recognize what I am doing. According to the abnormality detection apparatus 10 according to the present embodiment, in such a case, it is detected that an abnormality has occurred in the mask processing. Therefore, immediately after the abnormality in the mask processing is detected, the system Can be performed to shift to the fail-safe state.
In addition, this invention is not limited to embodiment mentioned above, It can apply to various embodiment in the range which does not deviate from the summary. For example, the control target is not limited to the injector 100, but may be another element such as an igniter or a fuel pump.

図面中、１０は異常検出装置、２１は異常検出処理部（異常検出手段）、２２はマスク処理部（マスク手段）、２３はダイアグステータス設定処理部（ダイアグステータス設定手段）、２４はマスク異常判定処理部（マスク異常判定手段）を示す。   In the drawing, 10 is an abnormality detection device, 21 is an abnormality detection processing unit (abnormality detection unit), 22 is a mask processing unit (masking unit), 23 is a diagnosis status setting processing unit (diagnosis status setting unit), and 24 is a mask abnormality determination. A processing unit (mask abnormality determination means) is shown.

Claims (4)

制御対象の異常を検出する異常検出手段（２１）と、
前記異常検出手段による検出処理をマスクするマスク手段（２２）と、
前記異常検出手段が前記制御対象の異常を検出していない場合にはダイアグステータスとして正常状態を設定し、前記異常検出手段が前記制御対象の異常を検出している場合にはダイアグステータスとして異常状態を設定し、前記マスク手段が前記異常検出手段による検出処理をマスクしている場合にはダイアグステータスとして未検出状態を設定するダイアグステータス設定手段（２３）と、
前記ダイアグステータス設定手段が前記未検出状態を設定している期間が所定期間と異なる場合に前記マスク手段に異常が発生していると判定するマスク異常判定手段（２４）と、
を備える異常検出装置。 An abnormality detection means (21) for detecting an abnormality of the control object;
Mask means (22) for masking detection processing by the abnormality detection means;
When the abnormality detection means has not detected an abnormality of the control object, a normal state is set as a diagnosis status, and when the abnormality detection means has detected an abnormality of the control object, an abnormality state as a diagnosis status Diag status setting means (23) for setting an undetected state as a diag status when the mask means is masking detection processing by the abnormality detecting means,
A mask abnormality determination means (24) for determining that an abnormality has occurred in the mask means when the period in which the diagnosis status setting means sets the non-detected state is different from a predetermined period;
An abnormality detection device comprising: 前記マスク手段は、予め設定されたマスク設定期間中に前記異常検出手段による検出処理をマスクするように構成されており、
前記マスク異常判定手段は、前記ダイアグステータス設定手段が前記未検出状態を設定している期間が前記マスク設定期間と異なる場合に前記マスク手段に異常が発生していると判定する請求項１に記載の異常検出装置。 The mask means is configured to mask detection processing by the abnormality detection means during a preset mask setting period,
2. The mask abnormality determination unit according to claim 1, wherein the mask unit determines that an abnormality has occurred when a period during which the diagnosis status setting unit sets the undetected state is different from the mask setting period. Anomaly detection device. 前記マスク異常判定手段は、前記ダイアグステータス設定手段が前記未検出状態を設定している期間が予め設定された基準期間と異なる場合に前記マスク手段に異常が発生していると判定する請求項１に記載の異常検出装置。   2. The mask abnormality determination unit determines that an abnormality has occurred in the mask unit when a period during which the diagnosis status setting unit sets the undetected state is different from a preset reference period. The abnormality detection device described in 1. 前記マスク異常判定手段は、前記ダイアグステータス設定手段が設定する前記ダイアグステータスが予め設定された所定のタイミングで切り替わっていない場合にも前記マスク手段に異常が発生していると判定する請求項１から３の何れか１項に記載の異常検出装置。   The mask abnormality determination means determines that an abnormality has occurred in the mask means even when the diagnosis status set by the diagnosis status setting means is not switched at a predetermined timing set in advance. 4. The abnormality detection device according to any one of 3 above.
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