JP2014160268A - 液晶表示装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】光電流による表示不良を防ぎつつ、表示品位の良好な液晶表示装置を提供することを目的とする。
【解決手段】絶縁基板210の上に配置された第1遮光層220Aと、第1遮光層と間隔をおいて配置された第2遮光層220Bと、第1チャネル領域242C1、第2チャネル領域242C2、第1オーミックコンタクト領域242M1、中間低抵抗領域242M2および第2オーミックコンタクト領域242M3を有する半導体層242と、第1ゲート電極244Aと、第2ゲート電極244Bと、を備えた第1基板200と、第2基板300と、第1基板と第2基板との間に保持された液晶層400と、を備えている。W1A>W2Aであり、W1B>W2Bである。
【選択図】 図3
【解決手段】絶縁基板210の上に配置された第1遮光層220Aと、第1遮光層と間隔をおいて配置された第2遮光層220Bと、第1チャネル領域242C1、第2チャネル領域242C2、第1オーミックコンタクト領域242M1、中間低抵抗領域242M2および第2オーミックコンタクト領域242M3を有する半導体層242と、第1ゲート電極244Aと、第2ゲート電極244Bと、を備えた第1基板200と、第2基板300と、第1基板と第2基板との間に保持された液晶層400と、を備えている。W1A>W2Aであり、W1B>W2Bである。
【選択図】 図3
Description
この発明は、液晶表示装置に関する。
薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor)によって構成されたスイッチング素子は、液晶表示装置に広く使用されている。近年、この液晶表示装置のスイッチング素子に用いられる薄膜トランジスタには、電界効果移動度の大きい多結晶シリコンを有する半導体層が用いられている。このような薄膜トランジスタは、画素表示のスイッチング素子のみならず、周辺駆動回路のスイッチング素子としても使用されている。このような薄膜トランジスタとしては、半導体層の上にゲート電極が形成されるトップゲート型の薄膜トランジスタが主に用いられている。
このような薄膜トランジスタによって構成されたスイッチング素子を用いた液晶表示装置では、半導体層のチャネル領域の抵抗を低くすることにより、信号線の電圧が画素電極および補助容量に書き込まれる。そして、ゲート電極の電圧の制御によりチャネル領域の抵抗を高くすることにより、画素電極および補助容量の電圧が維持される。
バックライト光が選択的に透過することによって画像を表示する液晶表示装置では、半導体層のチャネル領域がバックライト光を吸収し、チャネル領域に光電流が流れてしまうことがある。このため、ゲート電極の電圧を制御しても、チャネル領域の抵抗が低くなってしまい画素電極および補助容量の電圧を維持できないことがある。これにより、液晶表示装置の表示品位の劣化を招いてしまうことがある。
このような光電流を防ぐことを目的として、例えば、特許文献1によれば、トップゲート型またはブレーナ型の薄膜トランジスタからなる画素トランジスタのソース・ドレインの端部の下層側に、少なくともこのソース・ドレインの端部を遮光する遮光層が設けられた構成が開示されている。
しかしながら、薄膜トランジスタの半導体層の下に遮光層を配置すると、遮光層と半導体層のオーミックコンタクト領域との静電容量結合により、オーミックコンタクト領域の電圧が、遮光層の電位、ひいては、チャネル領域の電位に影響を与えることがある。これにより、ゲート電極電位でチャネル領域の電位、抵抗を制御しにくくなり、スイッチング素子としての薄膜トランジスタ特性がばらつくことがあり、液晶表示装置の表示品位の劣化を招いてしまうことがある。
この発明は、上述した事情に鑑みなされたものであって、その目的は、光電流による表示不良を防ぎつつ、表示品位の良好な液晶表示装置を提供することにある。
この発明の一態様によれば、絶縁基板と、前記絶縁基板の上に配置された第1遮光層と、前記第1遮光層と間隔をおいて配置された第2遮光層と、前記第1遮光層および前記第2遮光層を覆う第1絶縁層と、前記第1絶縁層の上に配置されるとともに前記第1遮光層と対向する第1チャネル領域、前記第1絶縁層の上に配置されるとともに前記第2遮光層と対向する第2チャネル領域、第1オーミックコンタクト領域、中間低抵抗領域および第2オーミックコンタクト領域を有する半導体層と、前記半導体層を覆う第2絶縁層と、前記第2絶縁層の上に配置されるとともに前記第1チャネル領域と対向する第1ゲート電極と、前記第2絶縁層の上に配置されるとともに前記第2チャネル領域と対向する第2ゲート電極と、を備えた第1基板と、前記第1基板と対向するように配置された第2基板と、前記第1基板と前記第2基板との間に保持された液晶層と、を備え、前記第1チャネル領域は、前記第1オーミックコンタクト領域と前記中間低抵抗領域との間に配置され、前記第2チャネル領域は、前記中間低抵抗領域と前記第2オーミックコンタクト領域との間に配置され、前記第1オーミックコンタクト領域から前記中間低抵抗領域に向かう方向において、前記第1ゲート電極の幅は前記第1チャネル領域の幅と同一であり、前記第1遮光層の幅は前記第1ゲート電極の幅より広く、且つ前記第1遮光層の端部は前記第1ゲート電極の端部の外側にあり前記第1チャネル領域と前記第1オーミックコンタクト領域との境界および前記第1チャネル領域と前記中間低抵抗領域との境界より外側にあり、前記中間低抵抗領域から前記第2オーミックコンタクト領域に向かう方向において、前記第2ゲート電極の幅は前記第2チャネル領域の幅と同一であり、前記第2遮光層の幅は前記第2ゲート電極の幅より広く、且つ前記第2遮光層の端部は前記第2ゲート電極の端部の外側にあり前記第2チャネル領域と前記中間低抵抗領域との境界および前記第2チャネル領域と前記第2オーミックコンタクト領域との境界より外側にあることを特徴とする。
以下、この発明の一実施の形態に係る液晶表示装置について図面を参照して説明する。
図1に示すように、液晶表示装置は、略矩形平板状の液晶表示パネル100を備えている。液晶表示パネル100は、一対の基板すなわちアレイ基板(第1基板)200および対向基板(第2基板)300と、アレイ基板200と対向基板300との間に保持された液晶層400と、によって構成されている。これらのアレイ基板200と対向基板300とは、シール部材110によって貼り合わせられている。
液晶表示パネル100は、マトリクス状に配置された複数の画素PXによって構成された表示領域120を備えている。シール部材110は、表示領域120を囲むように配置されている。
アレイ基板200は、表示領域120において、複数の走査線Y(1、2、3、…、m)と、複数の信号線X(1、2、3、…、n)と、各画素PXにおける信号線Xと走査線Yとの交差部に配置されたスイッチング素子240と、補助容量配線AYと、スイッチング素子240に接続された画素電極250などを備えている。
対向基板300は、表示領域120において、複数の画素電極250のそれぞれに対向した対向電極350を備えている。
また、液晶表示パネル100は、表示領域120の外側に位置する非表示領域130に配置された接続部131を備えている。この接続部131は、液晶表示パネル100を駆動するために必要な各種信号を供給する信号供給源として機能する駆動ICチップやフレキシブル配線基板と接続可能である。図1に示した例では、接続部131は、対向基板300の端部300Aより外方に延在したアレイ基板200の延在部200Aの上に配置されている。
表示領域120に配置された走査線Y(1、2、3、…、m)のそれぞれは、非表示領域130に引き出されて接続部131に接続されている。また、信号線X(1、2、3、…、n)のそれぞれも同様に、非表示領域130に引き出されて接続部131に接続されている。
図2に示すように、走査線Yおよび補助容量配線AYは、第2方向D2に沿って略平行に配置されている。信号線Xは、走査線Yおよび補助容量配線AYと第1層間絶縁層(図示しない)を介して略直交するように、第1方向D1に沿って配置されている。
スイッチング素子240は、例えばトップゲート型の薄膜トランジスタを2つ直列に並べて形成されている。スイッチング素子240は、第1ゲート電極244Aおよび第2ゲート電極244Bを備えている。第1ゲート電極244Aと第2ゲート電極244Bとは、間隔をおいて配置されている。スイッチング素子240の半導体層242は、例えばポリシリコンなどによって形成可能である。半導体層242は、第1チャネル領域242C1と、第2チャネル領域242C2と、第1オーミックコンタクト領域242M1と、中間低抵抗領域242M2と、第2オーミックコンタクト領域242M3と、多結晶シリコン層242Sと、を有している。第1オーミックコンタクト領域242M1、第1チャネル領域242C1、および、中間低抵抗領域242M2は、第2方向D2に沿ってこの順に並んでいる。つまり、第1オーミックコンタクト領域242M1から中間低抵抗領域242M2に向かう方向は、第2方向D2に相当する。中間低抵抗領域242M2、第2チャネル領域242C2、および、第2オーミックコンタクト領域242M3は、第2方向D2に沿ってこの順に並んでいる。つまり、中間低抵抗領域242M2から第2オーミックコンタクト領域242M3に向かう方向は、第2方向D2に相当する。
スイッチング素子240の第1ゲート電極244Aおよび第2ゲート電極244Bは、走査線Yと一体的に形成されている。スイッチング素子240の第1オーミックコンタクト領域242M1は、信号線Xと接続されている。スイッチング素子240の第2オーミックコンタクト領域242M3は、画素電極250に接続されている。
さらに、アレイ基板200は、第1遮光層220Aおよび第2遮光層220Bを備えている。第1遮光層220Aと第2遮光層220Bとは、間隔をおいて配置され、電気的にお互いに絶縁されている。第1遮光層220Aは、第1ゲート電極244Aおよび第1チャネル領域242C1と対向するように配置されている。第2遮光層220Bは、第2ゲート電極244Bおよび第2チャネル領域242C2と対向するように配置されている。
ここでは、第1遮光層220Aおよび第2遮光層220Bは、略四角形状である。第1遮光層220Aは、第1方向D1に延出した第1端部A1と、第1端部A1と向かい合う第2端部A2と、第2方向D2に延出するとともに第1端部A1および第2端部A2と接続された第3端部A3と、第3端部A3と向かい合うとともに第1端部A1および第2端部A2と接続された第4端部A4と、を有している。
第2遮光層220Bは、第1方向D1に延出した第1端部B1と、第1端部B1と向かい合う第2端部B2と、第2方向D2に延出するとともに第1端部B1および第2端部B2と接続された第3端部B3と、第3端部B3と向かい合うとともに第1端部B1および第2端部B2と接続された第4端部B4と、を有している。第2遮光層220Bの第1端部B1は、第1遮光層220Aの第2端部A2と第2方向D2に間隔をおいて向かい合っている。
また、第1ゲート電極244Aおよび第2ゲート電極244Bは、略四角形状である。第1ゲート電極244Aは、第1方向D1に延出した第1端部a1と、第1端部a1と向かい合う第2端部a2と、第2方向D2に延出するとともに第1端部a1および第2端部a2と接続された第3端部a3と、第3端部a3と向かい合うとともに走査線Yと接続された第4端部a4と、を有している。
第2ゲート電極244Bは、第1方向D1に延出した第1端部b1と、第1端部b1と向かい合う第2端部b2と、第2方向D2に延出するとともに第1端部b1および第2端部b2と接続された第3端部b3と、第3端部b3と向かい合うとともに走査線Yと接続された第4端部b4と、を有している。第2ゲート電極244Bの第1端部b1は、第1ゲート電極244Aの第2端部a2と第2方向D2に間隔をおいて向かい合っている。
ここに示した例では、第1遮光層220Aの幅W1A(つまり、第1遮光層220Aの第1端部A1と第2端部A2との間の第2方向D2に沿った長さ)は、第1ゲート電極244Aの幅W2A(つまり、第1ゲート電極244Aの第1端部a1と第2端部a2との間の第2方向D2に沿った長さ)より広い。なお、第1チャネル領域242C1の幅については図示しないが第1ゲート電極244Aの幅W2Aと実質的に同一である。
第1遮光層220Aの第1端部A1および第2端部A2の直上には、第1ゲート電極244Aは位置していない。つまり、第1遮光層220Aの第1端部A1は第1ゲート電極244Aの第1端部a1の位置より外側に位置しており、第1遮光層220Aの第2端部A2は第1ゲート電極244Aの第2端部a2の位置より外側に位置している。
また、第1遮光層220Aの幅W3A(つまり、第1遮光層220Aの第3端部A3と第4端部A4との間の第1方向D1に沿った長さ)は、第1ゲート電極244Aの幅W4A(つまり、第1ゲート電極244Aの第3端部a3と第4端部a4との間の第1方向D1に沿った長さ)より狭いが、第1チャネル領域242C1の幅WJ(つまり、第1チャネル領域242C1の第2方向D2に延出した第1端部j1と、第1端部j1と向かい合う第2端部j2との間の第1方向D1に沿った長さ)よりは広い。
第1遮光層220Aの第3端部A3および第4端部A4の直上には、第1チャネル領域242C1が位置していない。第1遮光層220Aの第3端部A3は第1ゲート電極244Aの第3端部a3の位置よりも内側、つまり第1チャネル領域242C1の側に位置しており、第1遮光層220Aの第4端部A4は第1ゲート電極244Aの第4端部a4の位置よりも内側、つまり第1チャネル領域242C1の側に位置している。
ここに示した例では、第2遮光層220Bの幅W1B(つまり、第2遮光層220Bの第1端部B1と第2端部B2との間の第2方向D2に沿った長さ)は、第2ゲート電極244Bの幅W2B(つまり、第2ゲート電極244Bの第1端部b1と第2端部b2との間の第2方向D2に沿った長さ)より広い。なお、第2チャネル領域242C2の幅については図示しないが第2ゲート電極244Bの幅W2Bと実施的に同一である。
第2遮光層220Bの第1端部B1および第2端部B2の直上には、第2ゲート電極244Bは位置していない。つまり、第2遮光層220Bの第1端部B1は第2ゲート電極244Bの第1端部b1の位置より外側に位置しており、第2遮光層220Bの第2端部B2は第2ゲート電極244Bの第2端部b2の位置より外側に位置している。
また、第2遮光層220Bの幅W3B(つまり、第2遮光層220Bの第3端部B3と第4端部B4との間の第1方向D1に沿った長さ)は、第2ゲート電極244Bの幅W4B(第2ゲート電極244Bの第3端部b3と第4端部b4との間の第1方向D1に沿った長さ)より狭いが、第2チャネル領域242C2の幅WG(つまり、第2チャネル領域242C2の第2方向D2に延出した第1端部g1と、第1端部g1と向かい合う第2端部g2との間の第1方向D1に沿った長さ)よりは広い。
第2遮光層220Bの第3端部B3および第4端部B4の直上には、第2チャネル領域242C2が位置していない。第2遮光層220Bの第3端部B3は第2ゲート電極244Bの第3端部b3の位置よりも内側、つまり第2チャネル領域242C2の側に位置しており、第2遮光層220Bの第4端部B4は第2ゲート電極244Bの第4端部b4の位置よりも内側、つまり第2チャネル領域242C2の側に位置している。
図3に示すように、アレイ基板200は、ガラスなどの光透過性を有する絶縁基板210を用いて形成される。絶縁基板210の上には、第1遮光層220Aおよび第2遮光層220Bが配置されている。この第1遮光層220Aおよび第2遮光層220Bは、第1絶縁層(以下、アンダーコート層と称する)230によって覆われている。
スイッチング素子240の半導体層242は、アンダーコート層230の上に配置されている。半導体層242は、第1オーミックコンタクト領域242M1と中間低抵抗領域242M2との間に第1チャネル領域242C1を有している。また、半導体層242は、中間低抵抗領域242M2と第2オーミックコンタクト領域242M3との間に第2チャネル領域242C2を有している。第1チャネル領域242C1は、アンダーコート層230を介して第1遮光層220Aと対向している。第2チャネル領域242C2は、アンダーコート層230を介して第2遮光層220Bと対向している。この半導体層242は、第2絶縁層(以下、ゲート絶縁層と称する)243によって覆われている。
スイッチング素子240の第1ゲート電極244Aおよび第2ゲート電極244Bは、ゲート絶縁層243の上に配置されている。第1ゲート電極244Aは、ゲート絶縁層243を介して第1チャネル領域242C1と対向している。第2ゲート電極244Bは、ゲート絶縁層243を介して第2チャネル領域242C2と対向している。つまり、第1ゲート電極244Aは、第1遮光層220Aの上方に位置し、アンダーコート層230、第1チャネル領域242C1、および、ゲート絶縁層243を介して第1遮光層220Aと対向している。第2ゲート電極244Bは、第2遮光層220Bの上方に位置し、アンダーコート層230、第2チャネル領域242C2、および、ゲート絶縁層243を介して第2遮光層220Bと対向している。第1ゲート電極244Aおよび第2ゲート電極244Bは、第1層間絶縁層245によって覆われている。
第1ゲート電極244Aの第1端部a1は、第1チャネル領域242C1と第1オーミックコンタクト領域242M1との境界の直上に位置している。また、第1ゲート電極244Aの第2端部a2は、第1チャネル領域242C1と中間低抵抗領域242M2との境界の直上に位置している。第2ゲート電極244Bの第1端部b1は、第2チャネル領域242C1と中間低抵抗領域242M2との境界の直上に位置している。また、第2ゲート電極244Bの第2端部b2は、第2チャネル領域242C2と第2オーミックコンタクト領域242M3との境界の直上に位置している。
第1オーミックコンタクト領域242M1から中間低抵抗領域242M2に向かう方向(すなわち第2方向D2)において、第1遮光層220Aの幅W1Aは、第1ゲート電極244Aおよび第1チャネル領域242C1の幅W2Aより広い。しかも、第1遮光層220Aの第1端部A1は、第1ゲート電極244Aの第1端部a1、および、第1チャネル領域242C1と第1オーミックコンタクト領域242M1との境界よりも外側に位置している。また、第1遮光層220Aの第2端部A2は、第1ゲート電極244Aの第2端部a2、および、第1チャネル領域242C1と中間低抵抗領域242M2との境界よりも外側に位置している。
また、中間低抵抗領域242M2から第2オーミックコンタクト領域242M3に向かう方向(すなわち第2方向D2)において、第2遮光層220Bの幅W1Bは、第2ゲート電極244および第2チャネル領域242C2の幅W2Bより広い。しかも、第2遮光層220Bの第1端部B1は、第2ゲート電極244Bの第1端部b1、および、第2チャネル領域242C1と中間低抵抗領域242M2との境界よりも外側に位置している。また、第2遮光層220Bの第2端部B2は、第2ゲート電極244Bの第2端部b2、および、第2チャネル領域242C2と第2オーミックコンタクト領域242M3との境界よりも外側に位置している。
信号線Xは、第1層間絶縁層245およびゲート絶縁層243に形成された第1コンタクトホールCH1を介して半導体層242の第1オーミックコンタクト領域242M1にコンタクトしている。画素電極250は、第1層間絶縁層245およびゲート絶縁層243に形成された第2コンタクトホールCH2および第2層間絶縁層248を介して半導体層242の第2オーミックコンタクト領域242M3にコンタクトしている。
画素電極250は、第2層間絶縁層248の上において、各画素PXに対応して配置されている。画素電極250は、インジウム・ティン・オキサイド(ITO)やインジウム・ジンク・オキサイド(IZO)などの光透過性を有する導電性材料によって形成されている。
また、補助容量配線AYは、ゲート絶縁層243の上に配置されている。補助容量は、スイッチング素子240の半導体層242と同層の多結晶シリコン層242S、ゲート絶縁層243および補助容量配線AYを用いて形成されている。
次に、対向基板300の構成の一例について説明するが、対向基板300の構成はここに示した例に限らず、種々の形態が適用可能であることは言うまでもない。
対向基板300は、ガラスなどの光透過性を有する絶縁基板310を用いて形成される。絶縁基板310の上には、ブラックマトリクス320、カラーフィルタ層330などが配置されている。カラーフィルタ層330の上には対向電極350が配置されている。
なお、カラーフィルタ層330は、アレイ基板200側に備えられていてもよい(カラーフィルタ・オン・アレイ構造)。また、対向基板300は、カラーフィルタ層330と対向電極350との間にオーバーコート層などを備えて構成してもよい。
対向電極350は、画素電極250に対向するように配置されている。この対向電極350は、ITOやIZOなどの光透過性を有する導電性材料によって形成されている。
これらのアレイ基板200と対向基板300とは、アレイ基板200と対向基板300との間に配置された複数のスペーサ(図示しない)によって所定のセルギャップをおいて配置されている。液晶層400は、スペーサによって形成されたセルギャップに保持され、セルギャップに封入された液晶分子を含む液晶材料で構成されている。
これらのアレイ基板200および対向基板300の表面は、液晶層400に含まれる液晶分子の配向を制御するための配向膜260および360によってそれぞれ覆われている。また、アレイ基板200および対向基板300の外面には、それぞれ光学素子270および370が設けられている。これらの光学素子270および370は、液晶層400の特性に合わせて偏光方向を設定した偏光板などを含んでいる。
さらに、液晶表示装置は、液晶表示パネル100に対してアレイ基板200側に配置されたバックライトユニットBLを有している。このバックライトユニットBLの構造については詳述しないが、種々の形態が適用可能であり、光源として発光ダイオードを利用したものや冷陰極管を利用したものなどのいずれでも適用可能である。
このような液晶表示装置において、スイッチング素子240の第1ゲート電極244Aおよび第2ゲート電極244Bの電圧を制御し、半導体層242の第1チャネル領域242C1および第2チャネル領域242C2の抵抗を低くすることにより、信号線Xの電圧が画素電極250と補助容量配線AYおよびゲート絶縁層243とで補助容量を形成する多結晶シリコン層242Sに書き込まれる。その後、第1ゲート電極244Aおよび第2ゲート電極244Bの電圧を制御し、半導体層242の第1チャネル領域242C1および第2チャネル領域242C2の抵抗を高くすることによって、画素電極250と補助容量配線AYおよびゲート絶縁層243とで補助容量を形成する多結晶シリコン層242Sの電圧が維持される。
画素電極250の電位と対向電極350の電位との間に電位差が形成されると、画素電極250と対向電極350との間に電界が形成される。液晶層400を構成する液晶分子の配向方向が変化し、液晶層400を透過する光に対する変調率が変化する。このようにして選択的にバックライト光を液晶表示パネル100で選択的に透過し、画像を表示する。
第1実施形態において、第1遮光層220Aおよび第2遮光層220Bがそれぞれ第1チャネル領域242C1および第2チャネル領域242C2と対向するように配置されており、第1チャネル領域242C1および第2チャネル領域242C2がバックライトユニットBLのバックライト光を吸収しないため、第1チャネル領域242C1および第2チャネル領域242C2に光電流が流れることを防ぐことができる。このため、光電流による表示不良を防ぐことができる。
なお、チャネル領域の電位、抵抗はゲート電極電位によって制御される。遮光層の電位もチャネル領域の電位に影響するが、この遮光層の電位は、静電容量結合により、チャネル領域の電位を制御すべきゲート電極電位の他に、このゲート電極電位とは無関係なオーミック領域や中間低抵抗領域の電位の影響を受ける。したがって、チャネル領域の電位、ひいては薄膜トランジスタの特性を安定に制御するためには、チャネル領域に影響を及ぼす遮光層の電位に対しても、ゲート電極電位とは無関係なオーミック領域や中間低抵抗領域の電位の影響を低減することが必要とされる。
もし、第1遮光層220Aと第2遮光層220Bが電気的に接続されていると、第1遮光層220A及び第2遮光層220Bの電位は、静電容量結合の影響で、第1オーミックコンタクト領域242M1、中間低抵抗領域242M2、そして第2オーミックコンタクト領域242M3の電位の影響を受ける。
しかし、第1実施形態において、第1遮光層220Aが第2遮光層220Bと間隔をおいて配置されており電気的に絶縁されているため、第1遮光層220Aの電位は、静電容量結合により第1オーミックコンタクト領域242M1の電位及び中間低抵抗領域242M2の電位の影響は受けるが、第2オーミックコンタクト領域242M3の電位の影響は受けない。一方、第2遮光層220Bの電位は、中間低抵抗領域242M2の電位及び第2オーミックコンタクト領域242M3の電位の影響は受けるが、第1オーミックコンタクト領域242M1の電位の影響は受けない。
なお、半導体層242の中間低抵抗領域242M2の電位は、第1オーミックコンタクト領域242M1の電位および第2オーミックコンタクト領域242M3の電位の中間の電位である。
このため、前述のように第1遮光層220Aと第2遮光層220Bが電気的に接続されて、第1遮光層220A及び第2遮光層220Bの電位が、静電容量結合の影響で、第1オーミックコンタクト領域242M1、中間低抵抗領域242M2、そして第2オーミックコンタクト領域242M3の電位の影響を受ける場合と比較して、本第1実施形態では例えば第1オーミックコンタクト領域242M1がソース電極、第2オーミックコンタクト領域242M3がドレイン電極として働く場合は、第1遮光層220Aの電位は第1オーミックコンタクト領域242M1の電位及び中間低抵抗領域242M2の電位の影響は受けるが、第2オーミックコンタクト領域242M3の電位の影響は受けないため、ひいては第1チャネル領域242C1に与える影響を小さくすることができる。逆に第1オーミックコンタクト領域242M1がドレイン電極、第2オーミックコンタクト領域242M3がソース電極として働く場合は、第2遮光層220Bの電位は中間低抵抗領域242M2の電位及び第2オーミックコンタクト領域242M3の電位の影響は受けるが、第1オーミックコンタクト領域242M1の電位の影響は受けないため、ひいては第2チャネル領域242C2に与える影響を小さくすることができる。
そして、静電容量結合により第1遮光層220Aまたは第2遮光層220Bを介して、第1チャネル領域242C1あるいは第2チャネル領域242C2のどちらか一方への、第1オーミックコンタクト領域242M1、中間低抵抗領域242M2、第2オーミックコンタクト領域242M3の電位の影響を小さくすることにより、スイッチング素子240全体の特性ばらつきを小さくすることができる。
このため、第1実施形態によれば、スイッチング素子240の特性のばらつきを小さくすることができ、表示品位の良好な液晶表示装置を提供することができる。
したがって、第1実施形態によれば、光電流による表示不良を防ぎつつ、表示品位の良好な液晶表示装置を提供することができる。
なお、第1実施形態において、2つのゲート電極、つまり、第1ゲート電極244Aおよび第2ゲート電極244Bを有している例を説明したが、この例に限らず、3つ以上のゲート電極を有していてもよい。
次に、第1実施形態の第1変形例に係る液晶表示装置について図4を参照して説明する。なお、第1変形例において、図2に示した例と同様の構成については、同一の符号を付して詳細な説明を省略する。第1変形例においては、適用した第1遮光層220Aおよび第2遮光層220Bの形状が図2に示した例の形状と異なるが、第1ゲート電極244Aおよび第2ゲート電極244Bなどの他の構成については図2に示した例と同一形状である。
ここでは、図4に示すように、第1遮光層220Aおよび第2遮光層220Bは、略四角形状である。第1遮光層220Aは、第1端部A1と、第2端部A2と、第3端部A3と第4端部A4と、を有している。第2遮光層220Bは、第1端部B1と、第2端部B2と、第3端部B3と、第4端部A4と、を有している。
第1変形例においても図2に示した例と同様に、第1遮光層220Aの第2方向D2に沿った幅W1Aは、第1ゲート電極244Aの第2方向D2に沿った幅W2Aより広い。第1遮光層220Aの第1端部A1は第1ゲート電極244Aの第1端部a1の位置より外側に位置しており、第1遮光層220Aの第2端部A2は第1ゲート電極244Aの第2端部a2の位置より外側に位置している。
一方で、第1遮光層220Aの第1方向D1に沿った幅W3Aは、第1ゲート電極244Aの第1方向D1に沿った幅4Aより広い。第1遮光層220Aの第3端部A3は第1ゲート電極244Aの第3端部a3の位置より外側に位置しており、第1遮光層220Aの第4端部A4は第1ゲート電極244Aの第4端部a4の位置より外側の走査線Yの上に位置している。
また、図2に示した例と同様に、第2遮光層220Bの第2方向D2に沿った幅W1Bは、第2ゲート電極244Bの第2方向D2に沿った幅W2Bより広い。第2遮光層220Bの第1端部B1は第2ゲート電極244Bの第1端部b1の位置より外側に位置しており、第2遮光層220Bの第2端部B2は第2ゲート電極244Bの第2端部b2の位置より外側に位置している。
一方で、第2遮光層220Bの第1方向D1に沿った幅W3Bは、第2ゲート電極244Bの第1方向D1に沿った幅4Bより広い。第2遮光層220Bの第3端部B3は第2ゲート電極244Bの第3端部b3の位置より外側に位置しており、第2遮光層220Bの第4端部B4は第1ゲート電極244Bの第4端部b4の位置より外側の走査線Yの上に位置している。
なお、図4に示した画素をIII−III線で切断した構成は、図3に示した構成と同じであり、図示を省略する。
このような図4に示した第1変形例においても、図2に示した例と同様の効果を得ることができる。
次に、第1実施形態の第2変形例に係る液晶表示装置について図5を参照して説明する。なお、第2変形例において、図2に示した例と同様の構成については、同一の符号を付して詳細な説明を省略する。第2変形例においては、適用した第1遮光層220Aおよび第2遮光層220Bの形状が図2に示した例の形状と異なるが、第1ゲート電極244Aおよび第2ゲート電極244Bなどの他の構成については図2に示した例と同一形状である。
ここでは、図5に示すように、第1遮光層220Aおよび第2遮光層220Bは、略四角形状である。第1遮光層220Aは、第1端部A1と、第2端部A2と、第3端部A3と、第4端部A4と、を有している。第2遮光層220Bは、第1端部B1と、第2端部B2と、第3端部B3と、第4端部B4と、を有している。
第2変形例においても図2に示した例と同様に、第1遮光層220Aの第1方向D1に沿った幅W3Aは、第1ゲート電極244Aの第1方向D1に沿った幅W4Aより狭いが、第1チャネル領域242C1の第1方向D1に沿った幅WJよりは広い。第1遮光層220Aの第3端部A3の直上には、第1チャネル領域242C1が位置せず、第1ゲート電極244Aの第3端部a3の位置よりも内側に位置している。つまり、第3端部A3の直上には第1ゲート電極244Aが位置している。第1遮光層220Aの第4端部A4の直上には、第1チャネル領域242C1が位置せず、第1ゲート電極244Aの第4端部a4よりも内側に位置している。つまり、第4端部A4の直上には第1ゲート電極244Aが位置している。
第1遮光層220Aの第2方向D2に沿った幅W1Aは、第1ゲート電極244Aの第2方向D2に沿った幅W2Aより狭い。第1遮光層220Aの第1端部A1は、第1ゲート電極244Aの第1端部a1よりも内側に位置している。第1遮光層220Aの第2端部A2は、第1ゲート電極244Aの第2端部a2よりも内側に位置している。
図2に示した例と同様に、第2遮光層220の第1方向D1に沿った幅W3Bは、第2ゲート電極244Bの第1方向D1に沿った幅4Bより狭いが、第2チャネル領域242C2の第1方向D1に沿った幅WGよりは広い。第2遮光層220Bの第3端部B3の直上には、第2チャネル領域242C2が位置せず、第2ゲート電極244Bの第3端部b3の位置よりも内側に位置している。つまり、第3端部B3の直上には第2ゲート電極244Bが位置している。第2遮光層220Bの第4端部B4の直上には、第2チャネル領域242C2が位置せず、第2ゲート電極244Bの第4端部b4よりも内側に位置している。つまり、第4端部B4の直上には第2ゲート電極244Bが位置している。
第2遮光層220Bの第2方向D2に沿った幅W1Bは、第2ゲート電極244Bの幅W2Bより狭い。第2遮光層220Bの第1端部B1は、第1ゲート電極244Bの第1端部b1よりも内側に位置している。第2遮光層220Bの第2端部B2は、第2ゲート電極244Bの第2端部b2よりも内側に位置している。
図6には、図5に示した画素をVI−VI線で切断したアレイ基板の断面が図示されている。
第1ゲート電極244Aの第1端部a1は、第1チャネル領域242C1と第1オーミックコンタクト領域242M1との境界の直上に位置している。また、第1ゲート電極244Aの第2端部a2は、第1チャネル領域242C1と中間低抵抗領域242M2との境界の直上に位置している。第2ゲート電極244Bの第1端部b1は、第2チャネル領域242C1と中間低抵抗領域242M2との境界の直上に位置している。また、第2ゲート電極244Bの第2端部b2は、第2チャネル領域242C2と第2オーミックコンタクト領域242M3との境界の直上に位置している。
第1オーミックコンタクト領域242M1から中間低抵抗領域242M2に向かう方向(すなわち第2方向D2)において、第1遮光層220Aの幅W1Aは、第1ゲート電極244Aおよび第1チャネル領域242C1の幅W2Aより狭い。しかも、第1遮光層220Aの第1端部A1は、第1ゲート電極244Aの第1端部a1、および、第1チャネル領域242C1と第1オーミックコンタクト領域242M1との境界よりも内側に位置している。また、第1遮光層220Aの第2端部A2は、第1ゲート電極244Aの第2端部a2、および、第1チャネル領域242C1と中間低抵抗領域242M2との境界よりも内側に位置している。
また、中間低抵抗領域242M2から第2オーミックコンタクト領域242M3に向かう方向(すなわち第2方向D2)において、第2遮光層220Bの幅W1Bは、第2ゲート電極244および第2チャネル領域242C2の幅W2Bより狭い。しかも、第2遮光層220Bの第1端部B1は、第2ゲート電極244Bの第1端部b1、および、第2チャネル領域242C1と中間低抵抗領域242M2との境界よりも内側に位置している。また、第2遮光層220Bの第2端部B2は、第2ゲート電極244Bの第2端部b2、および、第2チャネル領域242C2と第2オーミックコンタクト領域242M3との境界よりも内側に位置している。
第2変形例においても、図2に示した例と同様に、第1遮光層220Aおよび第2遮光層220Bがそれぞれ第1チャネル領域242C1および第2チャネル領域242C2と対向するように配置されており、第1チャネル領域242C1および第2チャネル領域242C2がバックライトユニットBLのバックライト光を吸収しないため、第1チャネル領域242C1および第2チャネル領域242C2に光電流が流れることを防ぐことができる。これにより、光電流による表示不良を防ぐことができる。
また、第2変形例においても、図2に示した例と同様に、第1遮光層220Aと第2遮光層220Bが電気的に接続されて、第1遮光層220A及び第2遮光層220Bの電位が、静電容量結合の影響で、第1オーミックコンタクト領域242M1、中間低抵抗領域242M2、そして第2オーミックコンタクト領域242M3の電位の影響を受ける場合と比較して、本第2実施形態でも例えば第1オーミックコンタクト領域242M1がソース電極、第2オーミックコンタクト領域242M3がドレイン電極として働く場合は、第1遮光層220Aの電位は第1オーミックコンタクト領域242M1の電位及び中間低抵抗領域242M2の電位の影響は受けるが、第2オーミックコンタクト領域242M3の電位の影響は受けないため、ひいては第1チャネル領域242C1に与える影響を小さくすることができる。逆に第1オーミックコンタクト領域242M1がドレイン電極、第2オーミックコンタクト領域242M3がソース電極として働く場合は、第2遮光層220Bの電位は中間低抵抗領域242M2の電位及び第2オーミックコンタクト領域242M3の電位の影響は受けるが、第1オーミックコンタクト領域242M1の電位の影響は受けないため、ひいては第2チャネル領域242C2に与える影響を小さくすることができる。
そして、静電容量結合により第1遮光層220Aまたは第2遮光層220Bを介して、第1チャネル領域242C1あるいは第2チャネル領域242C2のどちらか一方への、第1オーミックコンタクト領域242M1、中間低抵抗領域242M2、第2オーミックコンタクト領域242M3の電位の影響を小さくすることにより、スイッチング素子240全体の特性ばらつきを小さくすることができ、表示品位の良好な液晶表示装置を提供することができる。
さらに、第2変形例において、第1遮光層220Aが第1チャネル領域242C1と対向し、第1遮光層220Aの幅W1Aが第1ゲート電極244Aの幅W2Aより狭く、且つ、第1遮光層220Aの第1端部A1および第2端部A2が第1ゲート電極244Aの第1端部a1および第2端部a2より内側にあるため、第1遮光層220Aと第1オーミックコンタクト領域242M1および中間低抵抗領域242M2との間の距離が大きくなり、静電容量結合によって第1遮光層220Aの電位に対して、第1オーミックコンタクト領域242M1の電位および中間低抵抗領域242M2の電位が及ぼす影響を抑制することができる。このため、変形例によれば、さらに、スイッチング素子240の特性のばらつきを小さくすることができる。
また、第2遮光層220Aが第2チャネル領域242C1と対向し、第2遮光層220Bの幅W1Bが第2ゲート電極244Bの幅W2Bより狭く、且つ、第2遮光層220Bの第1端部B1および第2端部B2が第2ゲート電極244Bの第1端部b1および第2端部b2より内側にあるため、第2遮光層220Bと中間低抵抗領域242M2および第2オーミックコンタクト領域242M3との間の距離が大きくなり、静電容量結合によって第2遮光層220Bの電位に対して、中間低抵抗領域242M2の電位および第2オーミックコンタクト領域242M3の電位が及ぼす影響を抑制することができる。このため、第2変形例によれば、さらに、スイッチング素子240の特性のばらつきを小さくすることができる。
さらに、第2変形例において、第1遮光層220Aの幅W1Aが第1ゲート電極244Aの幅W2Aより狭く、第1遮光層220Aの第1端部A1および第2端部A2が第1チャネル領域242C1と第1オーミックコンタクト領域242M1との境界および第1チャネル領域242C1と中間低抵抗領域242M2との境界より内側にあり、第1遮光層220Aと第1オーミックコンタクト領域242M1および中間低抵抗領域242M2とが対向しないため、さらに、静電容量結合によって第1遮光層220Aの電位に対して、第1オーミックコンタクト領域242M1の電位および中間低抵抗領域242M2の電位が及ぼす影響を抑制することができる。このため、さらに、スイッチング素子240の特性のばらつきを小さくすることができる。
また、第2遮光層220Bの幅W1Bが第2ゲート電極244Bの幅W2Bより狭く、第2遮光層220Bの第1端部B1および第2端部B2が第2チャネル領域242C2と中間低抵抗領域M2との境界および第2チャネル領域242C2と第2オーミックコンタクト領域242M3との境界より内側にあり、第2遮光層220Bと中間低抵抗領域242M2および第2オーミックコンタクト領域242M3とが対向しなくなり、さらに、
静電容量結合によって第2遮光層220Bの電位に対して、中間低抵抗領域242M2の電位および第2オーミックコンタクト領域242M3の電位が及ぼす影響を抑制することができる。このため、第2変形例によれば、さらに、スイッチング素子240の特性のばらつきを小さくすることができる。
静電容量結合によって第2遮光層220Bの電位に対して、中間低抵抗領域242M2の電位および第2オーミックコンタクト領域242M3の電位が及ぼす影響を抑制することができる。このため、第2変形例によれば、さらに、スイッチング素子240の特性のばらつきを小さくすることができる。
したがって、第2変形例によれば、光電流による表示不良を防ぎつつ、表示品位の良好な液晶表示装置を提供することができる。
次に、第1実施形態の第3変形例に係る液晶表示装置について図7を参照して説明する。なお、第3変形例において、図2に示した例と同様の構成については、同一の符号を付して詳細な説明を省略する。第3変形例においては、適用した第1遮光層220Aおよび第2遮光層220Bの形状が図2に示した例の形状と異なるが、第1ゲート電極244Aおよび第2ゲート電極244Bなどの他の構成については図2に示した例と同一形状である。
ここでは、図7に示すように、第1遮光層220Aおよび第2遮光層220Bは、略四角形状である。第1遮光層220Aは、第1端部A1と、第2端部A2と、第3端部A3と、第4端部A4と、を有している。第2遮光層220Bは、第1端部B1と、第2端部B2と、第3端部B3と、第4端部B4と、を有している。
第3変形例において、第1遮光層220Aの第2方向D2に沿った幅W1Aは、第1ゲート電極244Aの第2方向D2に沿った幅W2Aより狭い。第1遮光層220Aの第1端部A1は第1ゲート電極244Aの第1端部a1の位置より内側に位置しており、第1遮光層220Aの第2端部A2は第1ゲート電極244Aの第2端部a2の位置より内側に位置している。
一方、第1遮光層220Aの第1方向D1に沿った幅W3Aは、第1ゲート電極244Aの第1方向D1に沿った幅4Aより広い。第1遮光層220Aの第3端部A3は第1ゲート電極244Aの第3端部a3の位置より外側に位置しており、第1遮光層220Aの第4端部A4は第1ゲート電極244Aの第4端部a4の位置より外側の走査線Yの上に位置している。
第2遮光層220Bの第2方向D2に沿った幅W1Bは、第2ゲート電極244Bの第2方向D2に沿った幅W2Bより狭い。第2遮光層220Bの第1端部B1は第2ゲート電極244Bの第1端部b1の位置より内側に位置しており、第2遮光層220Bの第2端部B2は第2ゲート電極244Bの第2端部b2の位置より内側に位置している。
一方で、第2遮光層220の第1方向D1に沿った幅W3Bは、第2ゲート電極244Bの第1方向D1に沿って幅4Bより広い。第2遮光層220Bの第3端部B3は第2ゲート電極244Bの第3端部b3の位置より外側に位置しており、第2遮光層220Bの第4端部B4は第1ゲート電極244Bの第4端部b4の位置より外側の走査線Yの上に位置している。
なお、図7に示した画素をVI−VI線で切断した構成は、図6に示した構成と同じであり、図示を省略する。
このような図7に示した第3変形例においても、図2に示した例と同様の効果を得ることができる。
次に、第1ゲート電極244Aと対向する第1遮光層220Aと、第1遮光層220Aと間隔をおいて配置された第2ゲート電極244Bと対向する第2遮光層220Bと、を有する液晶表示装置についての効果を検証した。
ここでは、3つのサンプルA1、サンプルA2およびサンプルA3を用意した。サンプルA1は、図8に示したように、遮光層に相当する部材を備えていない。サンプルA2は、図9に示したように、第1ゲート電極244Aおよび第2ゲート電極244Bに跨って対向する単一の遮光層220を備えている。サンプルA3は、図10に示したように、第1ゲート電極244Aと対向する第1遮光層220Aと、第2ゲート電極244Bと対向する第2遮光層220Bと、を備えており、図2に示した例と実質的に同一構成である。以下に、サンプルA1乃至A3の構成について簡単に説明する。
サンプルA1において絶縁基板210の上にアンダーコート層230として50nmの窒化シリコン(SiN)および300nmの酸化シリコン(SiO)を形成した。
サンプルA2およびサンプルA3において絶縁基板210の上の50nmのモリブデン−タングステン(MoW)からなる遮光層220を形成した。サンプルA2において、各画素PXに1つの遮光層220を形成した。サンプルA3において、各画素PXに第1遮光層220Aおよび第2遮光層220Bを形成した。そして、遮光層220の上にアンダーコート層230として50nmの窒化シリコン(SiN)および300nmの酸化シリコン(SiO)を形成した。
サンプルA1、サンプルA2およびサンプルA3においてアンダーコート層230の上に第1チャネル領域242C1と、第2チャネル領域242C2と、第1チャネル領域242C1および第2チャネル領域242C2の両側に不純物としてボロン添加して低抵抗化した第1オーミックコンタクト領域242M1、中間低抵抗領域242M2および第2オーミックコンタクト領域242M3と、を有する50nmの多結晶の半導体層242を形成した。さらに、半導体層242の上にゲート絶縁層243として150nmの酸化シリコンを形成した。ゲート絶縁層243の上に300nmのMoWからなる第1ゲート電極244A、第2ゲート電極244B、走査線Yおよび補助容量配線AYを形成し、これらの上に第1層間絶縁層245として200nmの窒化シリコンおよび400nmの酸化シリコンを形成した。そして、第1層間絶縁層245の上には、50nm/400nm/50nmのMo/Al/Moの積層からなる信号線Xを形成した。さらに、信号線Xの上に3000nmの透明樹脂からなる第2層間絶縁層248を形成し、その上に50nmのITOからなる画素電極250を形成した。サンプルA1、サンプルA2およびサンプルA3において、スイッチング素子240は、2個直列に配置したP型の薄膜トランジスタによって構成されている。
図8に示すように、サンプルA1において、第1ゲート電極244Aおよび第2ゲート電極244Bは、略四角形状である。第1ゲート電極244Aは、第1端部a1と、第2端部a2と、第3端部a3と、第4端部a4と、を有している。第2ゲート電極244Bは、第1端部b1と、第2端部b2と、第3端部b3と、第4端部b4と、を有している。半導体層242は、第2方向D2に延出した第1端部h1と、第1端部h1と向かい合う第2端部h2と、を有している。
第1ゲート電極244Aの第2方向D2に沿った幅W2Aおよび第2ゲート電極244Bの第2方向D2に沿った幅W2Bは、5μmである。第1ゲート電極244Aと第2ゲート電極244Bとの間の第2方向D2に沿った距離D(第1ゲート電極244Aの第2端部a2と第2ゲート電極244Bの第1端部b1との間の第2方向D2に沿った長さ)は、10μmである。半導体層242の第1方向D1に沿った幅WH(半導体層242の第1端部h1と第2端部h2との間の第1方向D1に沿った長さ)は、5μmである。半導体層242の第1端部h1と第1ゲート電極244Aの第3端部a3および第2ゲート電極244Bの第3端部b3との間の第1方向D1に沿った距離Mは、7μmである。
図9に示すように、サンプルA2において、第1ゲート電極244Aおよび第2ゲート電極244Bは、略四角形状である。第1ゲート電極244Aは、第1端部a1と、第2端部a2と、第3端部a3と、第4端部a4と、を有している。第2ゲート電極244Bは、第1端部b1と、第2端部b2と、第3端部b3と、第4端部b4と、を有している。遮光層220は、四角形状である。遮光層220は、第1方向D1に延出した第1端部C1、第1端部C1と向かい合う第2端部C2と、第2方向D2に延出するとともに第1端部C1および第2端部C2とを接続する第3端部C3と、第3端部C3と向かい合うとともに第1端部C1および第2端部C2と接続する第4端部C4と、を有する。半導体層242は、第2方向D2に延出した第1端部h1と、第1端部h1と向かい合う第2端部h2と、を有している。
第1ゲート電極244Aの第2方向D2に沿った幅W2Aおよび第2ゲート電極244Bの第2方向D2に沿った幅W2Bは、5μmである。第1ゲート電極244Aと第2ゲート電極244Bとの間の第2方向D2に沿った距離Dは、10μmである。遮光層220の第2方向D2に沿った幅L(遮光層220の第1端部C1と第2端部C2との間の第2方向D2に沿った長さ)は、24μmである。半導体層242の第1方向D1に沿った幅WHは、5μmである。半導体層242の第1端部h1と遮光層220の第3端部C3との間の第1方向D1に沿った距離N1は、5μmである。半導体層242の第2端部h2と遮光層220の第4端部C4との間の第1方向D1に沿った距離N2は、5μmである。
第1ゲート電極244Aの第1端部a1は、遮光層220の第1端部C1の位置より内側に位置している。第2ゲート電極244Bの第2端部b2は、遮光層220の第2端部C2の位置より内側に位置している。第1ゲート電極244Aの第1端部a1と遮光層220の第1端部C1との間の第2方向D2に沿った距離N3は、2μmである。第2ゲート電極244Aの第2端部b2と遮光層220の第2端部C2との間の第2方向D2に沿った距離N4は、2μmである。
図10に示すように、サンプルA3において、第1ゲート電極244Aおよび第2ゲート電極244Bは、略四角形状である。第1ゲート電極244Aは、第1端部a1と、第2端部a2と、第3端部a3と、第4端部a4と、を有している。第2ゲート電極244Bは、第1端部b1と、第2端部b2と、第3端部b3と、第4端部b4と、を有している。第1遮光層220Aおよび第2遮光層220Bは、四角形状である。第1遮光層220Aは、第1端部A1、第2端部A2と、第3端部A3と、第4端部A4と、を有する。第2遮光層220Bは、第1端部B1、第2端部B2と、第3端部B3と、第4端部B4と、を有する。半導体層242は、第2方向D2に延出した第1端部h1と、第1端部h1と向かい合う第2端部g2と、を有している。
第1ゲート電極244Aの第2方向D2に沿った幅W2Aおよび第2ゲート電極244Bの第2方向D2に沿った幅W2Bは、5μmである。第1ゲート電極244Aと第2ゲート電極244Bとの間の第2方向D2に沿った距離Dは、10μmである。第1遮光層220Aの第2方向D2に沿った幅W1Aおよび第2遮光層220Bの第2方向D2に沿った幅W1Bは、9μmである。半導体層242の第1方向D1に沿った幅WHは、5μmである。半導体層242の第1端部h1と第1遮光層220Aの第3端部A3および第2遮光層220Bの第3端部B3との間の第1方向D1に沿った距離T1は、5μmである。半導体層242の第2端部h2と第1遮光層220Aの第4端部A4および第2遮光層220Bの第4端部B4との間の第1方向D1に沿った距離T2は、5μmである。
第1ゲート電極244Aの第1端部a1は、第1遮光層220Aの第1端部A1の位置より内側に位置しており、第1ゲート電極244Aの第2端部a2は、第1遮光層220Aの第2端部A2の位置より内側に位置している。第2ゲート電極244Bの第1端部b1は、第2遮光層220Bの第1端部B1の位置より内側に位置しており、第2ゲート電極244Bの第2端部b2は、第2遮光層220Bの第2端部B2の位置より内側に位置している。第1遮光層220Aの第1端部A1と第1ゲート電極244Aの第1端部a1との間の第2方向D2に沿った距離T3は、2μmである。第1遮光層220Aの第2端部A2と第1ゲート電極244Aの第2端部a2との間の第2方向D2に沿った距離T4は、2μmである。第2遮光層220Bの第1端部B1と第2ゲート電極244Bの第1端部b1との間の第2方向D2に沿った距離T5は、2μmである。第2遮光層220Bの第2端部B2と第2ゲート電極244Bの第2端部b2との間の第2方向D2に沿った距離T6は、2μmである。
ここで、サンプルA1、サンプルA2およびサンプルA3において、Vds(ソース電極の電位に対するドレイン電極の電位)=−10V、−5V、−0.05Vについて、Ids(ドレイン電流)と、Vgs(ソース電極の電位に対するゲート電極の電位)との関係を測定した。すなわち、サンプルA1、サンプルA2およびサンプルA3において、スイッチング素子240の特性を測定した。その測定結果を図11、図12、図13に示す。
図11、図12、図13に示すように、サンプルA2において、Vdsの絶対値が大きくなるに伴い、トランスファ特性カーブが立ち上がるVgs、本例ではVgs=0V近傍の特性カーブの立ち上がりのばらつきが大きいことが分かる。これに対して、サンプルA1およびサンプルA3において、Vdsの絶対値が大きくなっても、Vgs=0V近傍の特性カーブの立ち上がりのばらつきが小さいことが分かる。
ここで、Vgs=0VにおけるVds=−0.05Vのときのドレイン電流Idsと、Vds=−10VのときのIdsとの比を図14に示す。図14に示すように、サンプルA2のIds比は、サンプルA1のIds電流比と比較して大きいことが分かる。これに対して、サンプルA3のIds比は、サンプルA1のIds比と略同等であることが分かる。
これにより、第1遮光層220Aおよび第1遮光層220Aと間隔おいて配置された第2遮光層220Bを備えた液晶表示パネル100は、第1遮光層220Aおよび第2遮光層220Bを備えていない液晶表示パネル100と同等のスイッチング素子240の特性を得ることができることが確認された。
次に、第2実施形態に係る液晶表示装置について図15を参照して説明する。なお、第2実施形態において、上述の第1実施形態に係る液晶表示装置と同様の構成については、同一の符号を付して詳細な説明を省略する。第2実施形態においては、適用したスイッチング素子240および遮光層の形状が第1実施形態の形状と異なるが他の構成ついては第1実施形態と同一形状である。
第2実施形態において、図15に示すように、スイッチング素子240は、ゲート電極244を備えている。スイッチング素子240の半導体層242は、チャネル領域242Cと、第1オーミックコンタクト領域242M1と、第2オーミックコンタクト領域242M3と、多結晶シリコン層242Sと、を有している。第1オーミックコンタクト領域242M1、チャネル領域242C、第2オーミックコンタクト領域242M3は、第2方向D2に沿ってこの順に並んでいる。つまり、第1オーミックコンタクト領域242M1から第2オーミックコンタクト領域242M3に向かう方向は、第2方向D2に相当する。
スイッチング素子240のゲート電極244は、走査線Yと一体的に形成されている。スイッチング素子240の第1オーミックコンタクト領域242M1は、信号線Xと接続されている。スイッチング素子240の第2オーミックコンタクト領域242M3は、画素電極250に接続されている。
さらに、アレイ基板200は、遮光層220を備えている。遮光層220は、ゲート電極244およびチャネル領域242Cと対向するように配置されている。
ここでは、遮光層220は、略四角形状である。遮光層220は、第1方向D1に延出した第1端部E1と、第1端部E1と向かい合う第2端部E2と、第2方向D2に延出するとともに第1端部E1および第2端部E2と接続された第3端部E3と、第3端部E3と向かい合うとともに第1端部E1および第2端部E2と接続された第4端部E4と、を有している。
また、ゲート電極244は、略四角形状である。ゲート電極244は、第1方向D1に延出した第1端部e1と、第1端部e1と向かい合う第2端部e2と、第2方向D2に延出するとともに第1端部e1および第2端部e2と接続された第3端部e3と、第3端部e3と向かい合うとともに走査線Yと接続された第4端部e4と、を有している。
ここに示した例では、遮光層220の幅W1E(つまり、遮光層220の第1端部D1と第2端部D2との間の第2方向D2に沿った長さ)は、ゲート電極244の幅W2E(つまり、ゲート電極244の第1端部e1と第2端部e2との間の第2方向D2に沿った長さ)より狭い。なお、チャネル領域242Cの幅については図示しないがゲート電極244の幅W2Eと実質的に同一である。遮光層220の第1端部E1および第2端部E2の直上には、第1ゲート電極244Aは位置している。つまり、遮光層220の第1端部E1はゲート電極244の第1端部e1の位置より内側に位置しており、遮光層220の第2端部E2はゲート電極244の第2端部e2の位置より内側に位置している。
また、遮光層220の幅W3E(つまり、遮光層220の第3端部E3と第4端部E4との間の第1方向D1に沿った長さ)は、ゲート電極244の幅W4E(つまり、ゲート電極244の第3端部e3と第4端部e4との間の第1方向D1に沿った長さ)より狭いが、チャネル領域242Cの幅WM(つまり、半導体242の第1端部m1と第2端部m2との間の第1方向D1に沿った長さ)よりは広い。
遮光層220の第3端部E3および第4端部E4の直上には、チャネル領域242Cが位置せず、ゲート電極244の第3端部e3の位置よりも内側に位置している。つまり、第3端部E3の直上にはゲート電極244が位置している。遮光層の第4端部E4の直上には、チャネル領域242Cが位置せず、ゲート電極244の第4端部e4の位置よりも内側している。つまり、第4端部E4の直情にはゲート電極244が位置している。
図16に示すように、アレイ基板200の絶縁基板210の上には、遮光層220が配置されている。この遮光層220は、アンダーコート層230によって覆われている。
スイッチング素子240の半導体層242は、アンダーコート層230の上に配置されている。半導体層242は、第1オーミックコンタクト領域242M1と第2オーミックコンタクト領域242M3との間にチャネル領域242Cを有している。チャネル領域242Cは、アンダーコート層230を介して遮光層220と対向している。この半導体層242は、ゲート絶縁層243によって覆われている。
スイッチング素子240のゲート電極244は、ゲート絶縁層243の上に配置され、ゲート絶縁層243を介してチャネル領域242Cに対向している。つまり、ゲート電極244は、遮光層220の上方に位置し、アンダーコート層230、チャネル領域242C、および、ゲート絶縁層243を介して遮光層220に対向している。ゲート電極244は、第1層間絶縁層245によって覆われている。
ゲート電極244の第1端部e1は、チャネル領域242Cと第1オーミックコンタクト領域242M1との境界の直上に位置している。また、ゲート電極244の第2端部e2は、チャネル領域242Cと第2オーミックコンタクト領域242M3との境界の直上に位置している。
第1オーミックコンタクト領域242M1から第2オーミックコンタクト領域242M3に向かう方向(すなわち第2方向D2)において、遮光層220の幅W1Eは、ゲート電極244およびチャネル領域242Cの幅W2Eより狭い。しかも、遮光層220の第1端部E1は、ゲート電極244の第1端部e1、および、チャネル領域242Cと第1オーミックコンタクト領域242M1との境界よりも内側に位置している。また、遮光層220の第2端部E2は、ゲート電極244の第2端部e2、および、チャネル領域242Cと第2オーミックコンタクト領域242M3との境界より内側に位置している。
第2実施形態において、遮光層220がチャネル領域242Cと対向するように配置されており、チャネル領域242CがバックライトユニットBLのバックライト光を吸収しないため、チャネル領域242Cに光電流が流れてしまうことを防ぐことができる。これにより、光電流による表示不良を防ぐことができる。
また、第2実施形態において、遮光層220がチャネル領域242Cと対向し、遮光層220の幅W1Eがゲート電極244の幅W2Edより狭く、且つ、遮光層220の第1端部E1および第2端部E2がゲート電極244の第1端部e1および第2端部e2より内側にあるため、遮光層220と半導体層242の第1オーミックコンタクト領域242M1および第2オーミックコンタクト領域242M3との間の距離が大きくなり、静電容量結合によって遮光層220の電位に対して、第1オーミックコンタクト領域242M1の電位および第2オーミックコンタクト領域242M3の電位が及ぼす影響を抑制することができる。これにより、遮光層220を配置しても、半導体層242のチャネル領域242Cの電位に与える影響を小さくすることができる。したがって、第2実施形態によれば、スイッチング素子240の特性のばらつきを小さくすることができ、表示品位の良好な液晶表示装置を提供することができる。
さらに、第2実施形態において、遮光層220の幅W1Eがゲート電極244の幅W2Eより狭く、遮光層220の第1端部E1および第2端部E2がチャネル領域242Cと第1オーミックコンタクト領域242M1との境界およびチャネル領域242Cと第2オーミックコンタクト領域242M3との境界より内側にあり、遮光層220と半導体層242の第1オーミックコンタクト領域242M1と第2オーミックコンタクト領域242M3とが対向しないため、静電容量結合によって遮光層220の電位に対して、第1オーミックコンタクト領域242M1の電位および第2オーミックコンタクト領域242M3の電位が及ぼす影響を抑制することができる。このため、さらに、スイッチング素子240の特性のばらつきを小さくすることができる。
したがって、第2実施形態によれば、光電流による表示不良を防ぎつつ、表示品位の良好な液晶表示装置を提供することができる。
次に、第2実施形態の変形例に係る液晶表示装置について図17を参照して説明する。なお、変形例において、図15に示した例と同様の構成については、同一の符号を付して詳細な説明を省略する。変形例においては、適用した遮光層220の形状が図15に示した例の形状と異なるが、ゲート電極244などの他の構成については図15に示した例と同一形状である。
ここでは、図17に示すように、遮光層220は、略四角形状である。第1遮光層220は、第1端部E1と、第2端部E2と、第3端部E3と、第4端部E4と、を有している。また、ゲート電極244は、略四角形状である。ゲート電極244は、第1端部e1と、第2端部e2と、第3端部e3と、第4端部e4と、を有している。
変形例においても図15に示した例と同様に、遮光層220の第2方向D2に沿った幅W1Eは、ゲート電極244の第2方向D2に沿った幅W2Eより狭い。遮光層220の第1端部E1はゲート電極244の第1端部e1の位置より内側に位置しており、遮光層220の第2端部E2はゲート電極244の第2端部e2の位置より内側に位置している。
一方、遮光層220の第1方向D1に沿った幅W3Eは、ゲート電極244の第1方向D1に沿った幅W4Eより広い。遮光層220の第3端部E3はゲート電極244の第3端部e3の位置より外側に位置しており、遮光層220の第4端部E4はゲート電極244の第4端部e4の位置より外側の走査線Yの上に位置している。
なお、図17に示した画素をXVI−XVI線で切断した構成は、図16に示した構成と同じであり、図示を省略する。
このような図17に示した変形例においても、図15に示した例と同様の効果を得ることができる。
次に、スイッチング素子240がゲート電極244を有し、遮光層220の幅W1Eをゲート電極244の幅W2Eより狭くした液晶表示装置についての効果を検証した。
ここでは、3つのサンプルB1、サンプルB2、サンプルB3を用意した。サンプルA1は、図18に示したように、遮光層に相当する部材を備えていない。サンプルA2は、図19に示したように、ゲート電極244と対向する遮光層を備えている。サンプルA3は、図20に示したように、ゲート電極244と対向する遮光層を備えており、図15に示した例と実質的に同一構成である。以下に、サンプルA1乃至A3の構成について簡単に説明する。
サンプルB1において絶縁基板210の上にアンダーコート層230として50nmの窒化シリコン(SiN)および300nmの酸化シリコン(SiO)を形成した。
サンプルB2およびサンプルB3において絶縁基板210の上に、50nmのモリブデン−タングステン(MoW)からなる遮光層220を形成した。そして、遮光層220の上に、アンダーコート層230として50nmの窒化シリコン(SiN)および300nmの酸化シリコン(SiO)を形成した。
サンプルB1、サンプルB2およびサンプルB3においてアンダーコート層230の上にチャネル領域242Cと、チャネル領域242Cの両側に不純物として添加して低抵抗化した第1オーミックコンタクト領域242M1および第2オーミックコンタクト領域242M3を有する50nmの多結晶の半導体層242を形成した。さらに、半導体層242の上にゲート絶縁層243として150nmの酸化シリコンを形成した。ゲート絶縁層243の上に300nmのMoWからなるゲート電極244および走査線Yを形成し、ゲート電極244の上に第1層間絶縁層245として200nmの窒化シリコンおよび400nmの酸化シリコンを形成した。そして、第1層間絶縁層245の上には、50nm/400nm/50nmのMo/Al/Moの積層からなる信号線Xを形成した。さらに、信号線Xの上に3000nmの第2層間絶縁層248を形成し、その上に50nmのITOからなる画素電極250を形成した。サンプルB1、サンプルB2およびサンプルB3において、スイッチング素子240は、P型の薄膜トランジスタによって構成されている。
図18に示すように、サンプルB1において、ゲート電極244は、四角形状である。第1ゲート電極244は、第1端部e1と、第2端部e2と、第3端部e3と、第4端部e4と、を有している。半導体層242は、第2方向D2に延出した第1端部h1と、第1端部h1と向かい合う第2端部h2と、を有している。
ゲート電極244の第2方向D2に沿った幅W2Eは、7μmである。半導体層242の第1方向D1に沿った幅WHは、5μmである。半導体層242の第1端部h1とゲート電極244の第3端部e3との間の第1方向D1に沿った距離Mは、7μmである。
図19に示すように、サンプルB2において、ゲート電極244は、四角形状である。ゲート電極244は、第1端部e1と、第2端部e2と、第3端部e3と、第4端部e4と、を有している。遮光層220は、略四角形状である。遮光層220は、第1端部E1と、第2端部E2と、第3端部E3と、第4端部E4と、を有している。半導体層242は、第2方向D2に延出した第1端部h1と、第1端部h1と向かい合う第2端部h2と、を有している。
ゲート電極244の第2方向D2に沿った幅W2Eは、7μmである。遮光層220の第2方向D2に沿った幅W1Eは、11μmである。半導体層の第1方向D1に沿った幅WHは、5μmである。半導体層242の第1端部h1と遮光層220の第3端部E3との間の第1方向D1に沿った距離N1は、5μmである。半導体層242の第2端部h2と遮光層220の第4端部E4との間の第1方向D1に沿った距離N2は、5μmである。
ゲート電極244の第1端部e1は、遮光層220の第1端部E1の位置より内側に位置している。ゲート電極244の第2端部e2は、遮光層220の第2端部E2の位置より内側に位置している。遮光層220の第1端部E1とゲート電極244の第1端部e1との間の第2方向D2の距離N3は、2μmである。遮光層220の第2端部E2とゲート電極244の第2端部e2との間の第2方向D2の距離N4は、2μmである。
図20に示すように、サンプル3において、ゲート電極244は、四角形状である。ゲート電極244は、第1端部e1と、第2端部e2と、第3端部e3と、第4端部e4と、を有している。遮光層220は、略四角形状である。遮光層220は、第1端部E1と、第2端部E2と、第3端部E3と、第4端部E4と、を有している。半導体層242は、第2方向D2に延出した第1端部h1と、第1端部h1と向かい合う第2端部g2と、を有している。
ゲート電極244の第2方向D2に沿った幅W2Eは、7μmである。遮光層220の第2方向D2に沿った幅W1Eは、3μmである。半導体層の第1方向D1に沿った幅WHは、5μmである。半導体層242の第1端部h1と遮光層220の第3端部E3との間の第1方向D1の距離N1は、5μmである。半導体層242の第2端部h2と遮光層220の第4端部E4との間の第1方向D1の距離N2は、5μmである。
ゲート電極244の第1端部e1は、遮光層220の第1端部E1の位置より外側に位置している。ゲート電極244の第2端部e2は、遮光層220の第2端部E2の位置より外側に位置している。遮光層220の第1端部E1とゲート電極244の第1端部e1との間の第2方向D2の距離N3は、2μmである。遮光層220の第2端部E2とゲート電極244の第2端部e2との間の第2方向D2の距離N4は、2μmである。
ここで、サンプルB1、サンプルB2およびサンプルB3において、Vds(ソース電極246の電位に対するドレイン電極247の電位)=−10V、−5V、−0.05Vについて、Ids(ドレイン電流)と、Vgs(ソース電極246の電位に対するゲート電極胃244の電位)との関係を測定した。すなわち、サンプルB1、サンプルB2およびサンプルB3において、スイッチング素子240の特性を測定した。その測定結果を図21、図22、図23に示す。
図21、図22、図23に示すように、サンプルB2において、Vdsの絶対値が大きくなるに伴い、トランスファ特性カーブが立ち上がるVgs、本例ではVgs=0V近傍の特性カーブの立ち上がりのばらつきが大きいことが分かる。これに対して、サンプルB1およびサンプルB3において、Vdsの絶対値が大きくなっても、Vgs=0V近傍の特性カーブの立ち上がりのばらつきが小さいことが分かる。
ここで、Vgs=0VにおけるVds=−0.05VのときのIdsと、Vds=−10VのときのIdsとの比を図24に示す。図24に示すように、サンプルB2のIds比は、サンプルB1のIds比と比較して大きいことが分かる。これに対して、サンプルB3のIds比は、サンプルB1のIds比と略同等であることが分かる。
これにより、ゲート電極244と、ゲート電極244の幅W2Eより狭い幅W1Eを有する遮光層220と、を備えた液晶表示装置は、遮光層220を備えていない液晶表示パネル100と同等のスイッチング素子240の特性のばらつきを抑制することができることが確認された。
以上より、本実施形態によれば、表示品位の良好な液晶表示装置を提供することができる。
なお、この発明は、上記実施形態そのものに限定されるものではなく、その実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
本実施形態において、液晶モードの一例として、アレイ基板200が画素電極250を備え、対向基板300が画素電極250と対向する対向電極350を備え、縦電界(基板の主面にほぼ垂直な電界)を利用して液晶分子をスイッチングするモード、例えばTN(Twisted Nematic)モードを例に説明したがこの例に限らない。一方の基板が画素電極250および画素電極250と電気的に絶縁され且つ画素電極250に対向する対向電極350を備え、横電界(基板の主面にほぼ平行な電界)を利用して液晶分子をスイッチングするモード、例えばFFS(Field Fringe Switching)モードについてもこの発明を適用可能である。
以下に、原出願の当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
[1]絶縁基板と、前記絶縁基板の上に配置された第1遮光層と、前記第1遮光層と間隔をおいて配置された第2遮光層と、前記第1遮光層および前記第2遮光層を覆う第1絶縁層と、前記第1絶縁層の上に配置されるとともに前記第1遮光層と対向する第1チャネル領域および前記第1絶縁層の上に配置されるとともに前記第2遮光層と対向する第2チャネル領域を有する半導体層と、前記半導体層を覆う第2絶縁層と、前記第2絶縁層の上に配置されるとともに前記第1チャネル領域と対向する第1ゲート電極と、前記第2絶縁層の上に配置されるとともに前記第2チャネル領域と対向する第2ゲート電極と、を備えた第1基板と、
前記第1基板と対向するように配置された第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に保持された液晶層と、
を備えたことを特徴とする液晶表示装置。
前記第1基板と対向するように配置された第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に保持された液晶層と、
を備えたことを特徴とする液晶表示装置。
[2]前記半導体層は、さらに、第1オーミックコンタクト領域、中間低抵抗領域および第2オーミックコンタクト領域を有し、
前記第1チャネル領域は、前記第1オーミックコンタクト領域と前記中間低抵抗領域との間に配置され、
前記第2チャネル領域は、前記中間低抵抗領域と前記第2オーミックコンタクト領域との間に配置され、
前記第1オーミックコンタクト領域から前記中間低抵抗領域に向かう方向において、前記第1遮光層の幅は、前記第1ゲート電極の幅より狭く、且つ前記第1遮光層の端部は、前記第1ゲート電極の端部の内側にあり、
前記中間低抵抗領域から前記第2オーミックコンタクト領域に向かう方向において、前記第2遮光層の幅は、前記第2ゲート電極の幅より狭く、且つ前記第2遮光層の端部は、前記第2ゲート電極の端部の内側にあることを特徴とする[1]に記載の液晶表示装置。
前記第1チャネル領域は、前記第1オーミックコンタクト領域と前記中間低抵抗領域との間に配置され、
前記第2チャネル領域は、前記中間低抵抗領域と前記第2オーミックコンタクト領域との間に配置され、
前記第1オーミックコンタクト領域から前記中間低抵抗領域に向かう方向において、前記第1遮光層の幅は、前記第1ゲート電極の幅より狭く、且つ前記第1遮光層の端部は、前記第1ゲート電極の端部の内側にあり、
前記中間低抵抗領域から前記第2オーミックコンタクト領域に向かう方向において、前記第2遮光層の幅は、前記第2ゲート電極の幅より狭く、且つ前記第2遮光層の端部は、前記第2ゲート電極の端部の内側にあることを特徴とする[1]に記載の液晶表示装置。
[3]前記第1オーミックコンタクト領域から前記中間低抵抗領域に向かう方向において、前記第1遮光層の端部は、前記第1チャネル領域と前記第1オーミックコンタクト領域との境界および前記第1チャネル領域と前記中間低抵抗領域との境界より内側にあり、
前記中間低抵抗領域から前記第2オーミックコンタクト領域に向かう方向において、前記第2遮光層の端部は、前記第2チャネル領域と前記中間低抵抗領域との境界および前記第2チャネル領域と前記第2オーミックコンタクト領域との境界より内側にあることを特徴とする[2]に記載の液晶表示装置。
前記中間低抵抗領域から前記第2オーミックコンタクト領域に向かう方向において、前記第2遮光層の端部は、前記第2チャネル領域と前記中間低抵抗領域との境界および前記第2チャネル領域と前記第2オーミックコンタクト領域との境界より内側にあることを特徴とする[2]に記載の液晶表示装置。
[4]絶縁基板と、前記絶縁基板の上に配置された遮光層と、前記遮光層を覆う第1絶縁層と、前記第1絶縁層の上に配置されるとともに前記遮光層と対向するチャネル領域、第1オーミックコンタクト領域および第2オーミックコンタクト領域を有する半導体層と、前記半導体層を覆う第2絶縁層と、前記第2絶縁層の上に配置されるとともに前記チャネル領域と対向するゲート電極と、を備えた第1基板と、
前記第1基板と対向するように配置された第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に保持された液晶層と、を備え、
前記チャネル領域は、前記第1オーミックコンタクト領域と前記第2オーミックコンタクト領域との間に配置され、
前記第1オーミックコンタクト領域から前記第2オーミックコンタクト領域に向かう方向において、前記遮光層の幅は、前記ゲート電極の幅より狭く、且つ前記遮光層の端部は、前記ゲート電極の端部の内側にあることを特徴とする液晶表示装置。
前記第1基板と対向するように配置された第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に保持された液晶層と、を備え、
前記チャネル領域は、前記第1オーミックコンタクト領域と前記第2オーミックコンタクト領域との間に配置され、
前記第1オーミックコンタクト領域から前記第2オーミックコンタクト領域に向かう方向において、前記遮光層の幅は、前記ゲート電極の幅より狭く、且つ前記遮光層の端部は、前記ゲート電極の端部の内側にあることを特徴とする液晶表示装置。
[5]前記第1オーミックコンタクト領域から前記第2オーミックコンタクト領域に向かう方向において、前記遮光層の端部は、前記チャネル領域と前記第1オーミックコンタクト領域との境界および前記チャネル領域と前記第2オーミックコンタクト領域との境界より内側にあることを特徴とする[4]に記載の液晶表示装置。
210…絶縁基板 244A…第1ゲート電極 244B…第2ゲート電極244B 240…スイッチング素子240 220A…第1遮光層 220B…第2遮光層 200…アレイ基板 300…対向基板 400…液晶層
Claims (3)
- 絶縁基板と、前記絶縁基板の上に配置された第1遮光層と、前記第1遮光層と間隔をおいて配置された第2遮光層と、前記第1遮光層および前記第2遮光層を覆う第1絶縁層と、前記第1絶縁層の上に配置されるとともに前記第1遮光層と対向する第1チャネル領域、前記第1絶縁層の上に配置されるとともに前記第2遮光層と対向する第2チャネル領域、第1オーミックコンタクト領域、中間低抵抗領域および第2オーミックコンタクト領域を有する半導体層と、前記半導体層を覆う第2絶縁層と、前記第2絶縁層の上に配置されるとともに前記第1チャネル領域と対向する第1ゲート電極と、前記第2絶縁層の上に配置されるとともに前記第2チャネル領域と対向する第2ゲート電極と、を備えた第1基板と、
前記第1基板と対向するように配置された第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に保持された液晶層と、
を備え、
前記第1チャネル領域は、前記第1オーミックコンタクト領域と前記中間低抵抗領域との間に配置され、
前記第2チャネル領域は、前記中間低抵抗領域と前記第2オーミックコンタクト領域との間に配置され、
前記第1オーミックコンタクト領域から前記中間低抵抗領域に向かう方向において、前記第1ゲート電極の幅は前記第1チャネル領域の幅と同一であり、前記第1遮光層の幅は前記第1ゲート電極の幅より広く、且つ前記第1遮光層の端部は前記第1ゲート電極の端部の外側にあり前記第1チャネル領域と前記第1オーミックコンタクト領域との境界および前記第1チャネル領域と前記中間低抵抗領域との境界より外側にあり、
前記中間低抵抗領域から前記第2オーミックコンタクト領域に向かう方向において、前記第2ゲート電極の幅は前記第2チャネル領域の幅と同一であり、前記第2遮光層の幅は前記第2ゲート電極の幅より広く、且つ前記第2遮光層の端部は前記第2ゲート電極の端部の外側にあり前記第2チャネル領域と前記中間低抵抗領域との境界および前記第2チャネル領域と前記第2オーミックコンタクト領域との境界より外側にあることを特徴とする液晶表示装置。 - 前記第1オーミックコンタクト領域から前記中間低抵抗領域に向かう方向に直交した方向において、前記第1遮光層の幅は前記第1ゲート電極の幅より狭く、前記第1遮光層の他の端部は前記第1ゲート電極の端部の内側にあり、
前記中間低抵抗領域から前記第2オーミックコンタクト領域に向かう方向に直交した方向において、前記第2遮光層の幅は前記第2ゲート電極の幅より狭く、前記第2遮光層の他の端部は前記第2ゲート電極の端部の内側にあることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。 - 前記第1オーミックコンタクト領域から前記中間低抵抗領域に向かう方向に直交した方向において、前記第1遮光層の幅は前記第1ゲート電極の幅より広く、前記第1遮光層の他の端部は前記第1ゲート電極の端部の外側にあり、
前記中間低抵抗領域から前記第2オーミックコンタクト領域に向かう方向に直交した方向において、前記第2遮光層の幅は前記第2ゲート電極の幅より広く、前記第2遮光層の他の端部は前記第2ゲート電極の端部の外側にあることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014082855A JP2014160268A (ja) | 2014-04-14 | 2014-04-14 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014082855A JP2014160268A (ja) | 2014-04-14 | 2014-04-14 | 液晶表示装置 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009213520A Division JP5528039B2 (ja) | 2009-09-15 | 2009-09-15 | 液晶表示装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014160268A true JP2014160268A (ja) | 2014-09-04 |
Family
ID=51611944
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2014082855A Pending JP2014160268A (ja) | 2014-04-14 | 2014-04-14 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
2014
- 2014-04-14 JP JP2014082855A patent/JP2014160268A/ja active Pending
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|
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