JP2014115723A - 低電圧動作キャッシュメモリ - Google Patents
低電圧動作キャッシュメモリ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014115723A JP2014115723A JP2012267445A JP2012267445A JP2014115723A JP 2014115723 A JP2014115723 A JP 2014115723A JP 2012267445 A JP2012267445 A JP 2012267445A JP 2012267445 A JP2012267445 A JP 2012267445A JP 2014115723 A JP2014115723 A JP 2014115723A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cache
- memory cell
- memory
- lru
- way
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
【解決手段】タグにより構成されるデータ格納構造と、複数のメモリセルのブロックから構成されるキャッシュウェイを複数備えるキャッシュメモリにおいて、ブロックは、各々の出力がメモリセルの列に対応して配置される一対のビットラインの各々に至る経路に接続されるクロスカップル接続された一対のインバータと、ビットラインとインバータの出力との間に設けられた一対のスイッチ部と、スイッチ部の導通を制御する1本のワードラインと、から成るメモリセルと、隣接メモリセルのデータ保持ノード間に設けたモード制御スイッチ部の導通を制御するモード制御ラインから成る。ブロック毎に2個のメモリセルを連結して高信頼モードへと切替る回路を備え、ブロックが故障検出された際、検出ブロックを高信頼モードに切替え、故障ブロックの動作マージンを拡大する。
【選択図】図6
Description
Access Memory)等の半導体メモリは、SoCに搭載されるCMOSプロセス技術が進展し、集積回路の加工寸法(スケーリングサイズ)が縮小され、より高いチップ密度と低いチップコストが実現され、メモリ容量が増大している。
このようなスケーリングサイズの縮小は、SRAM等のメモリセルを構成するトランジスタの閾値電圧のばらつきを拡大し、メモリセルにおける読み出しや書き込みのノイズマージンを低下させ、メモリセル動作を不安定性化し、ビット誤り率を増大させている。
fuseを使用するため、コスト高になるといった問題がある。
また、非特許文献2で提案されている低電圧動作キャッシュメモリでは、追加ビットや追加回路を要するため、面積オーバヘッドが大きいといった問題がある。
Voltage Scaling)のような動作電圧を低減し、消費電力を削減する手法があるが、増加し続けるプロセスばらつきの影響による、近年の微細プロセスにおいては、SRAMが低電圧領域で十分な動作マージンを確保することは困難である。特に、キャッシュメモリは膨大な数のSRAMセルを含むため、プロセッサ内の大容量キャッシュメモリは製造ばらつきの影響を受けやすく、低電圧領域での動作信頼性を保つことは困難である。このように、キャッシュメモリは、プロセッサ全体の最低動作電圧の削減を妨害する要因となっている。
特に、RDF(Random
Dopant Fluctuation)のようなランダムばらつきは、SRAMセルの信頼性に大きな影響を与える。その結果、製造過程において生成される故障セルは、キャッシュメモリ内でランダムに分布している。キャッシュメモリ内に散在している故障セルを取り除くことにより、キャッシュメモリ全体の最低動作電圧を効果的に削減することが可能である。
しかしながら、故障セルがランダムに分布しているため、故障セルの場所を特定して何らかの制御を行うような細粒度制御は、追加サイクルや複雑な周辺回路が必要となり、コスト高になってしまう。
無効にしたSRAMブロックのキャッシュラインは使用できないため、それを含むインデックスにおいて、キャッシュラインの数、すなわち、タグのセット数(ウェイ数)である連想度が減少する。連想度が減少しても、他に割り当てられるキャッシュラインが存在する場合、問題は生じない。例えば、図2のインデックス0,1において、ウェイ0とウェイ1にキャッシュラインが存在しないが、ウェイ2とウェイ3には存在するので、このキャッシュメモリは、インデックス0,1において、連想度2で動作することが可能である。
図2の場合、キャッシュメモリのインデックス0,1においては連想度2、インデックス2,3においては連想度4、インデックス4〜7においては連想度3で動作する。
したがって、故障SRAMセルを含むSRAMブロック(故障SRAMブロック)を単に無効にして動作から除外するだけでは好ましくなく、できるだけ故障SRAMブロックを用いて、特定のインデックスにおいてデータを割り当てるキャッシュラインが存在しなくなるという問題を解決する必要がある。
提案するメモリは、1ビットが1個のメモリセルで構成されるモード(1ビット/1セルモード、以下「通常モード」と称する)と、1ビットがn(nは2以上)個のメモリセルを連結して構成されるモード(1ビット/nセルモード、以下「高信頼モード」と称する)とを動的に切り替えることができ、通常モードから高信頼モードに切り替えることにより、1ビットの動作安定性の増大および読出し動作のセル電流の増大(読出し動作の高速化)を行い、またビットエラーの自己修復が行えるメモリである(特許文献1〜3を参照)。
図4に示すメモリセル(MC01)は、電源電位VVDDAおよび接地電位VGNDAの間に直列に接続されるP型MOSトランジスタ(M00)およびN型MOSトランジスタ(M02)と、電源電位VVDDAおよび接地電位VGNDAの間に直列に接続されるP型MOSトランジスタ(M01)およびN型MOSトランジスタ(M03)とからなるラッチ回路を構成している。メモリセル(MC01)自体は、一般的な6トランジスタの構成のメモリセルである。
メモリセル(MC10)も同様に、電源電位VVDDBおよび接地電位VGNDBの間に直列に接続されるP型MOSトランジスタ(M10)およびN型MOSトランジスタ(M12)と、電源電位VVDDBおよび接地電位VGNDBの間に直列に接続されるP型MOSトランジスタ(M11)およびN型MOSトランジスタ(M13)とからなるラッチ回路を構成している。メモリセル(MC10)自体も、一般的な6トランジスタの構成のメモリセルである。
また、メモリセル(MC10)も、相補なビットライン(BL,/BL)と、ノード(N10,N11)との間にそれぞれ接続されたN型MOSトランジスタ(M14、M15)のスイッチ部を備える。N型MOSトランジスタ(M14,M15)のゲート端子は、共に共通のワードライン(WLA)に接続されており、N型MOSトランジスタ(M14,M15)のゲート電位はワードライン(WLA)により制御される。
上記状況に鑑みて、本発明は、特定のインデックスにおいてデータを割り当てるキャッシュラインが存在しなくなるという問題を解決すると共に、キャッシュメモリ全体の動作電圧を効果的に低減できる低電圧動作キャッシュメモリを提供することを目的とする。
先ず、メモリセルブロックは、各々の出力がメモリセルの列に対応して配置される一対のビットラインの各々に至る経路に接続されるクロスカップル接続された一対のインバータと、ビットラインとインバータの出力との間に設けられた一対のスイッチ部と、スイッチ部の導通を制御する1本のワードラインと、から構成されるメモリセルと、隣接するメモリセルのデータ保持ノード間にモード制御スイッチ部と、該モード制御スイッチ部の導通を制御する1本のモード制御ラインと、から構成される。
また、メモリセルブロック単位で高信頼モードに切り替えすることで、周辺回路(XYデコーダ回路、センスアンプ回路など)の面積オーバヘッドを小さくする。
例えば、4ウェイ・セットアソシアティブ方式のキャッシュメモリの場合、連想度2以上でのキャッシュ動作を可能とするように、キャッシュラインの割り当てを行う。また、8ウェイ・セットアソシアティブ方式のキャッシュメモリの場合、連想度4以上でのキャッシュ動作を可能とするように、キャッシュラインの割り当てを行う。
まず、本発明の低電圧動作キャッシュメモリの故障したメモリセルブロックにおいて、高信頼モードに切り替えて、隣接する2つのキャッシュラインのいずれかを使用する際に、偶数番号のキャッシュウェイのメモリセルブロックの場合には偶数インデックスのキャッシュラインが割り当てられ、奇数番号のキャッシュウェイのメモリセルブロックの場合には奇数インデックスのキャッシュラインが割り当てられる。
一般的なWrite−backキャッシュメモリにおいて、{Valid bit,Dirty bit}={0,1}の状態は取り得ない。よって、上記のように、無効キャッシュラインのValid bit,Dirty bitをそれぞれ0,1にして、無効キャッシュラインを判別することに利用できる。
本発明の低電圧動作キャッシュメモリのLRU置換アルゴリズムにおいて、故障したメモリセルブロックが高信頼モード時、使用しない無効キャッシュラインのLRUツリービットをMRU(Most Recently Used)状態に固定する。
LRU置換アルゴリズムでは、LRUキャッシュラインが置換対象になるが、無効キャッシュラインを常にMRU状態に固定することにより、無効キャッシュラインが置換対象のキャッシュラインになることを回避できる。
Recently Used)置換アルゴリズムにおいて、故障したメモリセルブロックが高信頼モード時、使用しない無効キャッシュラインがM個存在する場合、使用しない無効キャッシュラインのLRUツリービットをキャッシュウェイの番号順に0(MRU),1,・・・,M−1にする。
上記の構成にすることで、プロセッサがDVS制御において、Low voltage modeからHigh voltage modeへ切り替える場合、低電圧領域で故障し、高信頼モードで動作していたSRAMブロックを通常モードへ切り替える必要がある場合に、LRUツリービットの再設定を行う必要がなく、隣接するメモリセルのデータ保持ノード間に設けられたモード制御スイッチ部をオフにするだけでよい。
また、本発明の低電圧動作キャッシュメモリによれば、故障SRAMブロックが存在した場合でも、連想度が2以上で、適切なキャッシュ動作を行うことができる。
すなわち、本発明の低電圧動作キャッシュメモリによれば、特定のインデックスにおいてデータを割り当てるキャッシュラインが存在しなくなるという問題を解決すると共に、キャッシュメモリ全体の動作電圧を効果的に低減できる。
各ウェイは、4つのSRAMブロックで構成されている。また、各SRAMブロックの個々のメモリセルは、上下に隣接したメモリセルペアとなっており、図4に示すように、6トランジスタで構成される1ビットのメモリセルペア(MC01,MC10)のデータ保持ノード間に、モード制御スイッチ部として1対のP型MOSトランジスタ(M20,M21)と、このP型MOSトランジスタの導通を制御する1本のモード制御ライン(/CTRL)とが設けられている。そして、上下に隣接したメモリセルペアは、通常モードと動作マージンが拡大される高信頼モードの2つのモードを実現する。
通常モードは、1ビットが1個のメモリセル(MC01、或いは、MC10)で構成される。一方、高信頼モードは、1ビットが2個のメモリセルのペア(MC01,MC10)で構成される。2つの動作モードの切り替えは、メモリセルのペア(MC01,MC10)の間にあるP型MOSトランジスタの導通を制御する1本のモード制御ライン(/CTRL)で行う。
このようなメモリセルペアをマトリックス状に配置したSRAMブロックによって、ウェイを構成し、図6に示すようにキャッシュメモリのデータ構造になっている。
CACHE LINEを割り当て)、奇数番号のキャッシュウェイ(ウェイ1,3,・・・,7)のメモリセルブロックの場合にはインデックス番号N+1のインデックスのキャッシュラインが割り当てられる選定パターンを示している。例えば、Nが偶数の場合、偶数番号のキャッシュウェイのメモリセルブロックの場合には偶数インデックスのキャッシュラインが割り当てられ、奇数番号のキャッシュウェイのメモリセルブロックの場合には奇数インデックスのキャッシュラインが割り当てられる。また、Nが奇数の場合、偶数番号のキャッシュウェイのメモリセルブロックの場合には奇数インデックスのキャッシュラインが割り当てられ、奇数番号のキャッシュウェイのメモリセルブロックの場合には偶数インデックスのキャッシュラインが割り当てられる。
CACHE LINEを割り当て)、その他のキャッシュウェイ(ウェイ2,3,4,5)のメモリセルブロックの場合にはインデックス番号N+1のインデックスのキャッシュラインが割り当てられる選定パターンを示している。
CACHE LINEを割り当て)、その他のキャッシュウェイ(ウェイ2,3,4,5)のメモリセルブロックの場合にはインデックス番号Nのインデックスのキャッシュラインが割り当てられる選定パターンを示している。
奇数番号のキャッシュウェイのメモリセルブロックの場合には奇数インデックスのキャッシュラインが割り当てられるとする(偶数インデックスのキャッシュラインは無効)。
図9に示すように、ウェイ1の2段目のSRAMブロックが故障ブロックであると、高信頼モードに切り替えた場合に、偶数インデックスのキャッシュラインは無効となり、奇数インデックス(インデックス65,67,・・・,125,127)のキャッシュラインのみ割り当てられる。その結果、インデックス番号64〜127の連想度は、7,8,7,8,・・・,7,8となる。
このように、無効キャッシュラインは、キャッシュの状態ビットの性質を利用することで容易に判別することが可能である。
一般的なWrite−backキャッシュメモリにおいて{Valid bit,Dirty bit}={0,1}の状態は取り得ない。よって、上記のように、無効キャッシュラインのValid bit,Dirty bitをそれぞれ0,1にして、無効キャッシュラインを判別することに利用する。その他のキャッシュライン状態(EMPTY,CLEAN,DIRTY)は、予め使用されているものであり、本発明では特に変更しない。
図12は、実施例1の4ウェイ・セットアソシアティブ方式のキャッシュメモリのLRU置換アルゴリズムの説明図(キャッシュミスが生じたケース)である。図12(1)は従来のLRU置換アルゴリズムによるキャッシュ動作の一例を示しており、図12(2)が本発明のキャッシュメモリに適用するように改良されたLRU置換アルゴリズムによるキャッシュ動作の一例を示している。説明を簡単にするため、ウェイを構成するいずれかのSRAMブロックが高信頼モードに切り替わるという状態を、図12のようにウェイが高信頼モードに切り替わったように図示する。
Recently Used)、すなわちLRUツリービットを0に固定する。これにより、無効キャッシュラインにデータが割り当てられることを避ける。
従来のLRU置換アルゴリズムでは、キャッシュウェイ2が論理上で無効化されている状態で、キャッシュミスが起きた場合、LRUツリー上のLRU(LRUツリービットが3)のキャッシュライン(キャッシュウェイ0)に新しいデータを割り当て、そのキャッシュラインをMRU(LRUツリービットが0)とする。他のキャッシュラインのLRUツリービットをそれぞれ1インクリメントする(WAY1:2−>3,WAY2:0−>1,WAY3:1−>2)。
なお、無効キャッシュラインが存在しなければ、従来のLRU置換アルゴリズムと同じ動作をする。
なお、無効キャッシュラインが存在しなければ、従来のLRU置換アルゴリズムと同じ動作をする。
このキャッシュメモリは、高信頼モードで0.57(V)で動作可能であることがわかっている。従って、通常モードにおいて0.57(V)で動作できないSRAMブロックのみ高信頼モードを適用することで、全体の動作電圧を低減することができる。
図14のグラフにおいて、左側が通常モード、右側が高信頼モードの場合を示しており、それぞれ32個のSRAMブロック(0〜31)の動作電圧を実測している。通常モードでは、図中に丸印を付記した5つのSRAMブロック(6,8,16,25,28)に高信頼モードを適用することにより、0.65(V)から0.57(V)へと80(mV)の動作電圧の削減効果を得ることができる。この場合、16Kbitの5つのブロックにおいて、それぞれメモリ容量が半減することから、全体のメモリ容量は、16×5×0.5=40Kbit減少し、512−40=472Kbitになる。従って、キャッシュメモリの容量オーバヘッドは、40÷512×100=7.81(%)になる。
and N. P. Jouppi, “CACTI
6.0,” Technical Report HPL-2009-85, Hewlett Packard Labs, 2009を参照。)を用いた。
本発明のキャッシュメモリに用いるメモリセルペア(14トランジスタで構成)を用いたSRAMセル(Proposed)の面積は、通常の6トランジスタで構成されるSRAMセルペア(6T
SRAM)の面積より11%大きい(詳細は、H. Fujiwara, S. Okumura, Y. Iguchi, H.
Noguchi, H. Kawaguchi and M. Yoshimoto, “A
7T/14T Dependable SRAM and Its Array Structure to Avoid Half Selection,” IEEE
International Conference on VLSI Design, pp. 295-300, 2009.を参照。)。
また、評価対象である、32バイトのキャッシュラインを持つ512Kbit(64KB)の8ウェイ・セットアソシアティブ方式の場合、タグアレーの容量は4.75KBと小さく、ばらつきの影響が比較的小さいと考えられることから、面積オーバヘッドの評価においてはSTATUS
RAMと同様に6トランジスタのSRAMで構成することにした。そして、タグアレーには、0.5(V)で動作可能な、最小面積より1.3倍大きい6トランジスタのSRAMを使用すると仮定した。
ここで、MRUを0,LRUを7とする。また、実施例1と同様、説明を簡単にするため、ウェイを構成するいずれかのSRAMブロックが高信頼モードに切り替わるという状態を、ウェイが高信頼モードに切り替わったように図示する。
図15は、オンラインで高信頼モードに切り替え、無効キャッシュラインがM個(M=3)存在する場合に、M個の無効キャッシュラインのLRU状態をMRU(=0)に設定する様子を示している。また、他の無効でないキャッシュラインは、LRUツリービットの順番に従って、M(=3)からN−1(=7)にする。ここで、Nはウェイ数の8である。
図15では、キャッシュウェイ2,4,6が、高信頼モードで動作するSRAMブロックであり、論理上で無効にしたインデックスのキャッシュラインである(M=3)。キャッシュウェイ2,4,6のLRU状態を全てMRU(=0)に固定し、他のキャッシュラインのLRU状態は、LRUツリービットの順番で3から7までとなる。
図16では、キャッシュウェイ2,4,6が、高信頼モードで動作するSRAMブロックであり、論理上で無効にしたインデックスのキャッシュラインである(M=3)。キャッシュウェイ2,4,6のLRU状態を順番に、MRU(=0),1,2に固定し、他のキャッシュラインのLRU状態は、LRUツリービットの順番で3から7までとなる。
voltage modeからHigh voltage modeへ切り替える場合、低電圧領域で故障し、高信頼モードで動作していたSRAMブロックを通常モードへ切り替える必要がある。その時、図16に示すように、高信頼モードで動作しているキャッシュウェイ2,4,6のLRU状態を順番に、MRU(=0),1,2に固定しておけば、LRUツリービットの再設定を行う必要がなく(図17を参照)、データアレーとタグアレーにおけるメモリセルペアのモード制御スイッチ部(PMOSスイッチ)をオフにするだけでよい。
図19〜22では、キャッシュウェイ2(WAY2)だけが高信頼モードとなり、使用しない無効キャッシュライン数が1つの場合を示している。
図19は、従来のLRU置換アルゴリズムを適用した場合を示しており、キャッシュミスが起きて、LRUツリービットでLRU(=7)のキャッシュウェイ1がデータ更新されてMRU(=0)となり、他のキャッシュウェイのLRUツリービットの状態が1インクリメントされた様子を示している。
図23〜26では、3つのキャッシュウェイ2,4,6(WAY2、WAY4,WAY6)が高信頼モードとなり、使用しない無効キャッシュライン数が3つの場合を示している。
図23は、従来のLRU置換アルゴリズムを適用した場合を示しており、キャッシュミスが起きて、LRUツリービットでLRU(=7)のキャッシュウェイ1がデータ更新されてMRU(=0)となり、他のキャッシュウェイのLRUツリービットの状態が1インクリメントされた様子を示している。ここで、3つのキャッシュウェイ2,4,6(WAY2、WAY4,WAY6)のLRUツリービットの状態は、高信頼モードが切り替わった際に、全てMRU(=0)が設定されており、キャッシュミスが起きた際に1インクリメントされて全て1となっている。
図27〜30では、3つのキャッシュウェイ2,4,6(WAY2、WAY4,WAY6)が高信頼モードとなり、使用しない無効キャッシュライン数が3つの場合を示している。
図27は、従来のLRU置換アルゴリズムを適用した場合を示しており、キャッシュミスが起きて、LRUツリービットでLRU(=7)のキャッシュウェイ1がデータ更新されてMRU(=0)となり、他のキャッシュウェイのLRUツリービットの状態が1インクリメントされた様子を示している。ここで、3つのキャッシュウェイ2,4,6(WAY2、WAY4,WAY6)のLRUツリービットの状態は、高信頼モードが切り替わった際に、ウェイ番号の小さい順番から0,1,2と設定されており、キャッシュミスが起きた際に1インクリメントされてそれぞれ1,2,3となっている。
すなわち、使用しない無効キャッシュラインがM個存在する場合、M個の無効キャッシュラインのLRU状態は、MRU(=0)からウェイ番号順にM−1までに設定され、キャッシュミスが起きた際に割り当てた新しいデータのキャッシュラインのLRUツリービットをMとし、
他の使用するキャッシュラインのLRUツリービットを、キャッシュミスが起 きる以前の順番に従って、それぞれM+1から順に1インクリメントする。
すなわち、使用しない無効キャッシュラインがM個存在する場合、M個の無効キャッシュラインのLRU状態は、MRU(=0)からウェイ番号順にM−1までに設定され、キャッシュヒットが起きたキャッシュラインのLRUツリービットをMとし、
他の使用するキャッシュラインのLRUツリービットを、キャッシュヒットが起きる以前の順番に従って、それぞれM+1から順に1インクリメントする。
Claims (11)
- タグにより構成されるデータ格納構造を備え、複数のメモリセルブロックから構成されるキャッシュウェイを複数備えるセットアソシアティブ方式のキャッシュメモリにおいて、
前記メモリセルブロックは、
各々の出力がメモリセルの列に対応して配置される一対のビットラインの各々に至る経路に接続されるクロスカップル接続された一対のインバータと、ビットラインとインバータの出力との間に設けられた一対のスイッチ部と、スイッチ部の導通を制御する1本のワードラインと、から構成されるメモリセルと、隣接するメモリセルのデータ保持ノード間にモード制御スイッチ部と、該モード制御スイッチ部の導通を制御する1本のモード制御ラインと、から成り、
前記メモリセルブロック毎に、
1ビットが1個のメモリセルで構成される通常モードから、隣接する2個のメモリセルを連結して1ビットが2個のメモリセルで構成される高信頼モードへと切り替えできる回路構成であり、
前記メモリセルブロックがオフラインもしくはオンラインで故障検出された場合に、故障検出したメモリセルブロックを高信頼モードに切り替えて、隣接する2つのキャッシュラインのいずれかを使用するメモリセルブロックにしたことを特徴とする低電圧動作キャッシュメモリ。 - 故障したメモリセルブロックにおいて、高信頼モードに切り替えて、隣接する2つのキャッシュラインのいずれかを使用する際に、
キャッシュメモリの全てのキャッシュインデックスに、キャッシュウェイの個数の半分の連想度以上でのキャッシュ動作が可能となるように、キャッシュラインの割り当てを行うことを特徴とする請求項1に記載の低電圧動作キャッシュメモリ。 - 故障したメモリセルブロックにおいて、高信頼モードに切り替えて、隣接する2つのキャッシュラインのいずれかを使用する際に、偶数番号のキャッシュウェイのメモリセルブロックの場合には偶数インデックスのキャッシュラインが割り当てられ、奇数番号のキャッシュウェイのメモリセルブロックの場合には奇数インデックスのキャッシュラインが割り当てられることを特徴とする請求項2に記載の低電圧動作キャッシュメモリ。
- 故障したメモリセルブロックにおいて、高信頼モードに切り替えて、隣接する2つのキャッシュラインのいずれかを使用する際に、偶数番号のキャッシュウェイのメモリセルブロックの場合には奇数インデックスのキャッシュラインが割り当てられ、奇数番号のキャッシュウェイのメモリセルブロックの場合には偶数インデックスのキャッシュラインが割り当てられることを特徴とする請求項2に記載の低電圧動作キャッシュメモリ。
- 故障したメモリセルブロックにおいて、高信頼モードに切り替えて、隣接する2つのキャッシュラインのいずれかを使用する際に、キャッシュウェイの個数がN(番号は0,1,・・・,N−1)とした場合に、番号がN/2未満のキャッシュウェイのメモリセルブロックの場合には偶数インデックスのキャッシュラインが割り当てられ、番号がN/2以上のキャッシュウェイのメモリセルブロックの場合には奇数インデックスのキャッシュラインが割り当てられることを特徴とする請求項2に記載の低電圧動作キャッシュメモリ。
- 故障したメモリセルブロックにおいて、高信頼モードに切り替えて、隣接する2つのキャッシュラインのいずれかを使用する際に、キャッシュウェイの個数がN(番号は0,1,・・・,N−1)とした場合に、番号がN/2未満のキャッシュウェイのメモリセルブロックの場合には奇数インデックスのキャッシュラインが割り当てられ、番号がN/2以上のキャッシュウェイのメモリセルブロックの場合には偶数インデックスのキャッシュラインが割り当てられることを特徴とする請求項2に記載の低電圧動作キャッシュメモリ。
- 故障したメモリセルブロックにおいて、
高信頼モード時に、
隣接する2つのキャッシュラインのいずれを使用するかの識別情報として、
使用しない無効キャッシュラインのキャッシュライン状態ビットを、{Valid bit,Dirty bit}={0,1}に設定することを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の低電圧動作キャッシュメモリ。 - キャッシュメモリのLRU(Least Recently Used)置換アルゴリズムにおいて、
故障したメモリセルブロックが高信頼モード時、
使用しない無効キャッシュラインのLRUツリービットをMRU(Most Recently Used)状態に固定することを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の低電圧動作キャッシュメモリ。 - キャッシュメモリのLRU(Least Recently Used)置換アルゴリズムにおいて、
故障したメモリセルブロックが高信頼モード時、
使用しない無効キャッシュラインがM個存在する場合、
使用しない無効キャッシュラインのLRUツリービットをキャッシュウェイの番号順に0(MRU),1,・・・,M−1にすることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の低電圧動作キャッシュメモリ。 - 使用しない無効キャッシュラインがM個存在する場合、
キャッシュミスが起きた際に割り当てた新しいデータのキャッシュラインのLRUツリービットをMとし、
その他の使用するキャッシュラインのLRUツリービットを、キャッシュミスが起きる以前の順番に従って、それぞれM+1から順に1インクリメントすることを特徴とする請求項8又は9に記載の低電圧動作キャッシュメモリ。 - 使用しない無効キャッシュラインがM個存在する場合、
キャッシュヒットが起きたキャッシュラインのLRUツリービットをMとし、
その他の使用するキャッシュラインのLRUツリービットを、キャッシュミスが起きる以前の順番に従って、それぞれM+1から順に1インクリメントすることを特徴とする請求項8又は9に記載の低電圧動作キャッシュメモリ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012267445A JP6024897B2 (ja) | 2012-12-06 | 2012-12-06 | 低電圧動作キャッシュメモリ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012267445A JP6024897B2 (ja) | 2012-12-06 | 2012-12-06 | 低電圧動作キャッシュメモリ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014115723A true JP2014115723A (ja) | 2014-06-26 |
JP6024897B2 JP6024897B2 (ja) | 2016-11-16 |
Family
ID=51171683
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012267445A Expired - Fee Related JP6024897B2 (ja) | 2012-12-06 | 2012-12-06 | 低電圧動作キャッシュメモリ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6024897B2 (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06504865A (ja) * | 1991-11-18 | 1994-06-02 | ブル・エス・アー | 集積メモリ、その管理方法及び該方法から得られる情報システム |
JP2005092915A (ja) * | 2003-09-12 | 2005-04-07 | Toshiba Corp | 半導体集積回路装置およびその情報記憶方法 |
JP2007018514A (ja) * | 2005-07-06 | 2007-01-25 | Toshiba Corp | キャッシュメモリを備えた装置、欠陥キャッシュエントリの選択禁止方法、及びキャッシュ置換管理装置 |
WO2012023277A1 (ja) * | 2010-08-14 | 2012-02-23 | 公益財団法人新産業創造研究機構 | 低電圧動作の半導体メモリ |
-
2012
- 2012-12-06 JP JP2012267445A patent/JP6024897B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06504865A (ja) * | 1991-11-18 | 1994-06-02 | ブル・エス・アー | 集積メモリ、その管理方法及び該方法から得られる情報システム |
JP2005092915A (ja) * | 2003-09-12 | 2005-04-07 | Toshiba Corp | 半導体集積回路装置およびその情報記憶方法 |
JP2007018514A (ja) * | 2005-07-06 | 2007-01-25 | Toshiba Corp | キャッシュメモリを備えた装置、欠陥キャッシュエントリの選択禁止方法、及びキャッシュ置換管理装置 |
WO2012023277A1 (ja) * | 2010-08-14 | 2012-02-23 | 公益財団法人新産業創造研究機構 | 低電圧動作の半導体メモリ |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JPN6016024990; 鄭 晋旭: '低電圧動作におけるマージン拡大機能を有する連想度可変キャッシュ' 電子情報通信学会技術研究報告 ICD2011-135-ICD2011-144 第111巻,第388号, 20120112, p.55-60, 社団法人電子情報通信学会 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6024897B2 (ja) | 2016-11-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5681778B2 (ja) | プロセッサ、システムおよび方法 | |
Agarwal et al. | A process-tolerant cache architecture for improved yield in nanoscale technologies | |
Roberts et al. | On-chip cache device scaling limits and effective fault repair techniques in future nanoscale technology | |
JP5196449B2 (ja) | 半導体メモリおよびプログラム | |
BanaiyanMofrad et al. | FFT-cache: A flexible fault-tolerant cache architecture for ultra low voltage operation | |
Mahmood et al. | Macho: A failure model-oriented adaptive cache architecture to enable near-threshold voltage scaling | |
Valero et al. | Design, performance, and energy consumption of eDRAM/SRAM macrocells for L1 data caches | |
Ganapathy et al. | Killi: Runtime fault classification to deploy low voltage caches without MBIST | |
Rajput et al. | Energy efficient 9T SRAM with R/W margin enhanced for beyond Von-Neumann computation | |
JP6024897B2 (ja) | 低電圧動作キャッシュメモリ | |
US8787075B2 (en) | Low-voltage semiconductor memory | |
JP5298373B2 (ja) | 半導体メモリのハーフセレクト防止セル配置 | |
Wang et al. | Variation-aware and adaptive-latency accesses for reliable low voltage caches | |
Mahmood et al. | Realizing near-true voltage scaling in variation-sensitive L1 caches via fault buffers | |
Ampadu et al. | Breaking the energy barrier in fault-tolerant caches for multicore systems | |
Ganapathy et al. | iRMW: A low-cost technique to reduce NBTI-dependent parametric failures in L1 data caches | |
Chien et al. | Write-energy-saving ReRAM-based nonvolatile SRAM with redundant bit-write-aware controller for last-level caches | |
Alouani et al. | Parity-based mono-copy cache for low power consumption and high reliability | |
GB2387459A (en) | Cache memory capable of selecting its size so as to exclude defective cells to present a reduced cache memory size to the processor. | |
Zhang et al. | Variation-tolerant cache by two-layer error control codes | |
US20200051634A1 (en) | Resistive address decoder and virtually addressed memory | |
Choudhury et al. | CORE-VR: A Coherence and Reusability Aware Low Voltage Fault Tolerant Cache in Multicore | |
Jung et al. | A variation-aware 0.57-V set-associative cache with mixed associativity using 7T/14T SRAM | |
Farahani et al. | Performance and power solutions for caches using 8t sram cells | |
Wang et al. | Zero-counting and adaptive-latency cache using a voltage-guardband breakthrough for energy-efficient operations |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150923 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160623 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160629 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160827 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160914 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160927 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6024897 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |