JP2014103340A - Dividing method of tabular workpiece - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a dividing method of a tabular workpiece capable of surely dividing even a tabular workpiece which is unlikely to be cracked, into chips by applying an external force along a laser processing groove.SOLUTION: The dividing method of the tabular workpiece includes the steps of: irradiating a second surface of a tabular workpiece 11 with laser beams of a wavelength having absorptivity to form a laser processing groove 23 on the second surface; and placing the tabular workpiece 11 on support means 32 in such a manner that the laser processing groove 23 is aligned in the center of a pair of supporting points defining a gap 38 of the support means 32 including a linear gap, and dividing the tabular workpiece 11 by vertically pressing it from a first surface by means of a pressing blade 34 over an expand tape along the laser processing groove 23. In the dividing step, by pressing the tabular workpiece by means of the pressing blade 34 via a cushioning material 25, in addition to a vertical pressing force of the pressing blade 34 acting on the tabular workpiece 11, an expanding action of expanding the tabular workpiece 11 to both the sides with the pressing blade 34 as a boundary is added to the tabular workpiece 11.

Description

本発明は、半導体ウエーハや光デバイスウエーハ等の板状被加工物にレーザービームを照射して、板状被加工物をチップに分割する板状被加工物の分割方法に関する。   The present invention relates to a plate-like workpiece dividing method in which a plate-like workpiece such as a semiconductor wafer or an optical device wafer is irradiated with a laser beam to divide the plate-like workpiece into chips.

IC、LSI、LED等の複数のデバイスが分割予定ラインによって区画され表面に形成されたシリコンウエーハ、サファイアウエーハ等のウエーハは、加工装置によって個々のデバイスチップに分割され、分割されたデバイスチップは携帯電話、パソコン等の各種電気機器に広く利用されている。   A wafer such as a silicon wafer or a sapphire wafer formed on a surface by dividing a plurality of devices such as IC, LSI, LED, etc. by dividing lines is divided into individual device chips by a processing apparatus, and the divided device chips are portable. Widely used in various electric devices such as telephones and personal computers.

ウエーハの分割には、ダイサーと呼ばれる切削装置を用いたダイシング方法が広く採用されている。ダイシング方法では、ダイアモンド等の砥粒を金属や樹脂で固めて厚さ30μm程度とした切削ブレードを、30000rpm程度の高速で回転させつつウエーハへと切り込ませることでウエーハを切削し、個々のデバイスチップへと分割する。   A dicing method using a cutting device called a dicer is widely used for dividing the wafer. In the dicing method, a wafer is cut by cutting a wafer into a wafer while rotating a cutting blade having a thickness of about 30 μm by solidifying abrasive grains such as diamond with a metal or a resin at a high speed of about 30000 rpm. Divide into chips.

一方、近年では、ウエーハに対して吸収性を有する波長のパルスレーザービームをウエーハに照射することでレーザー加工溝を形成し、このレーザー加工溝に沿ってブレーキング装置(分割装置)でウエーハを割断して個々のデバイスチップへと分割する方法が提案されている。   On the other hand, in recent years, a laser processing groove is formed by irradiating a wafer with a pulsed laser beam having a wavelength that absorbs the wafer, and the wafer is cut by a breaking device (dividing device) along the laser processing groove. Thus, a method of dividing into individual device chips has been proposed.

レーザー加工装置によるレーザー加工溝の形成は、ダイサーによるダイシング方法に比べて加工速度を早くすることができるとともに、サファイアやSiC等の硬度の高い素材からなるウエーハであっても比較的容易に加工することができる。   Laser processing grooves formed by a laser processing apparatus can increase the processing speed compared to a dicing method using a dicer, and relatively easily process even a wafer made of a material having high hardness such as sapphire or SiC. be able to.

また、加工溝を例えば10μm以下等の狭い幅とすることができるので、ダイシング方法で加工する場合に対してウエーハ1枚当たりのデバイス取り量を増やすことができるという利点がある。   In addition, since the processing groove can be made to have a narrow width of, for example, 10 μm or less, there is an advantage that the amount of devices taken per wafer can be increased as compared with the case of processing by the dicing method.

特開2005−86160号公報JP-A-2005-86160

ところが、レーザー加工溝の反対面側からエキスパンドテープ越しに押圧部材でウエーハを押圧してレーザー加工溝を起点として分割することでウエーハをチップ化する際、板状被加工物の材質によってはチップ化が困難な場合がある。   However, when the wafer is chipped by pressing the wafer with the pressing member from the opposite side of the laser machined groove over the expanded tape and dividing the wafer using the laser machined groove as the starting point, it becomes a chip depending on the material of the plate-like workpiece. May be difficult.

例えば、サファイアやセラミック等比較的割れにくい材料の場合、押圧ブレードで強く押しても割れないためレーザー加工溝を深く形成する必要があり、必然的にレーザー照射のパス数が多くなり工数が増大する。   For example, in the case of a material that is relatively difficult to break, such as sapphire and ceramic, it is necessary to form a laser processing groove deeply because it does not break even if it is strongly pressed by a pressing blade, and the number of passes of laser irradiation inevitably increases and man-hours increase.

また、裏面にAu、Ag、Cc等の金属膜が被覆されている板状被加工物の場合、金属膜を引きちぎるために、板状被加工物が分割されても更に押圧ブレードを下方へ下降させる必要がある。   Also, in the case of a plate-like workpiece that is coated with a metal film such as Au, Ag, or Cc on the back surface, even if the plate-like workpiece is divided, the pressing blade is further lowered to tear the metal film. It is necessary to let

その際、エキスパンドテープが破れたり伸びてしまい、板状被加工物が支持手段上に平坦に載置されず、分割装置でのアライメントが困難になったり、次工程以降でのハンドリングも困難になるという課題があった。   At that time, the expanded tape is torn or stretched, the plate-like workpiece is not placed flat on the support means, alignment with the dividing device becomes difficult, and handling in the subsequent steps becomes difficult. There was a problem.

本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、割れにくい板状被加工物でも、レーザー加工溝に沿って外力を付与することにより確実にチップに分割可能な板状被加工物の分割方法を提供することである。   The present invention has been made in view of the above points, and the object of the present invention is to reliably divide the chip into chips by applying an external force along the laser processing groove even on a plate-like workpiece that is difficult to break. It is providing the division | segmentation method of a flat plate-shaped workpiece.

本発明によると、第1の面と該第1の面と反対側の第2の面とを有する板状被加工物を複数のチップに分割する分割方法であって、板状被加工物の第1の面に環状フレームに装着されたエキスパンドテープを貼着してフレームユニットを形成するフレームユニット形成ステップと、該フレームユニット形成ステップを実施した後、該板状被加工物の該第2の面に該板状被加工物に対して吸収性を有する波長のレーザービームを照射して該第2の面にレーザー加工溝を形成するレーザー加工溝形成ステップと、該レーザー加工溝形成ステップを実施した後、該板状被加工物の該第2の面に形成された該レーザー加工溝が直線状の隙間を有する支持手段の該隙間を画成する一対の支点の中央に整列するように該板状被加工物を支持手段上に載置し、該レーザー加工溝に沿って該エキスパンドテープ越しに押圧ブレードで該板状被加工物を該第1の面から垂直に押圧し、該板状被加工物を分割する分割ステップと、を備え、該分割ステップは、該押圧ブレードで該押上ブレードと該エキスパンドテープの間に挿入された可撓性を有し該エキスパンドテープより弾性の高い緩衝材を押圧することにより実施され、該緩衝材を介して該押圧ブレードで該板状被加工物を押圧することで、該押圧ブレードが該板状被加工物に及ぼす垂直方向の押圧力に加えて、該板状被加工物に該押圧ブレードを境に該板状被加工物を両脇へ押し広げる拡張作用が付加されることを特徴とする板状被加工物の分割方法が提供される。   According to the present invention, there is provided a dividing method for dividing a plate-like workpiece having a first surface and a second surface opposite to the first surface into a plurality of chips, the method comprising: A frame unit forming step for forming a frame unit by sticking an expanded tape attached to an annular frame on the first surface; and after performing the frame unit forming step, the second workpiece of the plate-like workpiece A laser processing groove forming step for forming a laser processing groove on the second surface by irradiating a surface with a laser beam having a wavelength that absorbs the plate-like workpiece, and performing the laser processing groove forming step After that, the laser processing groove formed on the second surface of the plate-like workpiece is aligned with the center of a pair of fulcrums defining the gap of the support means having a linear gap. Place the plate workpiece on the support means A dividing step of dividing the plate-like workpiece by pressing the plate-like workpiece perpendicularly from the first surface with a pressing blade over the expanded tape along the laser processing groove, and The dividing step is performed by pressing a cushioning material having flexibility inserted between the lifting blade and the expanding tape and having higher elasticity than the expanding tape with the pressing blade. By pressing the plate-like workpiece with the pressing blade, in addition to the vertical pressing force exerted on the plate-like workpiece by the pressing blade, the plate-like workpiece is bordered by the pressing blade. There is provided a method for dividing a plate-like workpiece, which is provided with an expansion action of pushing the plate-like workpiece to both sides.

好ましくは、緩衝材は、ポリエチレンテレフタレート(PET)からなるシート状部材から構成される。好ましくは、板状被加工物は、第2の面に複数の分割予定ラインによって区画された各領域に光デバイスが形成され、第1の面に金属膜が被覆された光デバイスウエーハから構成される。   Preferably, the buffer material is composed of a sheet-like member made of polyethylene terephthalate (PET). Preferably, the plate-like workpiece includes an optical device wafer in which an optical device is formed in each region partitioned by a plurality of division lines on the second surface, and a metal film is coated on the first surface. The

本発明の板状被加工物の分割方法によると、押圧ブレードと板状被加工物との間に緩衝材を挿入して分割ステップを実施するので、押圧ブレードが板状被加工物に及ぼす垂直方向の押圧力に加えて、板状被加工物を押圧ブレードを境に両脇へ押し広げる拡張力を板状被加工物に追加して付与することができるため、垂直方向だけの押圧力では分割できなかった板状被加工物を分割することができる。   According to the plate-like workpiece dividing method of the present invention, the buffer blade is inserted between the pressing blade and the plate-like workpiece to perform the dividing step, so that the pressure blade exerts on the plate-like workpiece vertically. In addition to the pressing force in the direction, an expansion force that pushes the plate-like workpiece to both sides with the pressing blade as a boundary can be added to the plate-like workpiece, so that the pressing force only in the vertical direction A plate-like workpiece that could not be divided can be divided.

また、押圧ブレードの垂直方向への移動量が少なくてすむため、エキスパンドテープの破断や伸び等も発生しないので、その後のハンドリング等で問題が発生することもないという効果を奏する。   Further, since the amount of movement of the pressing blade in the vertical direction can be reduced, the expanded tape is not broken or stretched. Thus, there is an effect that there is no problem in subsequent handling.

光デバイスウエーハの表面側斜視図である。It is a surface side perspective view of an optical device wafer. フレームユニット形成ステップを示す分解斜視図である。It is a disassembled perspective view which shows a frame unit formation step. フレームユニットの斜視図である。It is a perspective view of a frame unit. レーザービーム照射ユニットのブロック図である。It is a block diagram of a laser beam irradiation unit. レーザー加工溝形成ステップを示す斜視図である。It is a perspective view which shows a laser processing groove | channel formation step. 本発明実施形態の分割ステップを示す断面図である。It is sectional drawing which shows the division | segmentation step of this invention embodiment. 実施形態の分割ステップを示す拡大断面図である。It is an expanded sectional view showing the division step of an embodiment. 従来の分割ステップを説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the conventional division | segmentation step.

以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1を参照すると、本発明の分割方法の加工対象となる光デバイスウエーハ11の表面側斜視図が示されている。光デバイスウエーハ11は、サファイア基板13上に窒化ガリウム(GaN)等のエピタキシャル層(発光層)15が積層されて構成されている。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Referring to FIG. 1, a front side perspective view of an optical device wafer 11 to be processed by the dividing method of the present invention is shown. The optical device wafer 11 is configured by laminating an epitaxial layer (light emitting layer) 15 such as gallium nitride (GaN) on a sapphire substrate 13.

光デバイスウエーハ11は、その裏面11bに金属から形成された反射膜21が被覆されている。光デバイスウエーハ11は、エピタキシャル層15が積層された表面(第2の面)11aと、反射膜21が被覆された裏面(第1の面)11bを有している。   The optical device wafer 11 has a back surface 11b covered with a reflective film 21 made of metal. The optical device wafer 11 has a front surface (second surface) 11a on which an epitaxial layer 15 is stacked, and a back surface (first surface) 11b covered with a reflective film 21.

サファイア基板13は例えば100μmの厚みを有しており、エピタキシャル層15は例えば5μmの厚みを有している。エピタキシャル層15にLED等の複数の光デバイス19は格子状に形成された分割予定ライン(ストリート)17によって区画されて形成されている。   The sapphire substrate 13 has a thickness of 100 μm, for example, and the epitaxial layer 15 has a thickness of 5 μm, for example. A plurality of optical devices 19 such as LEDs are divided and formed on the epitaxial layer 15 by division lines (streets) 17 formed in a lattice pattern.

本発明実施形態の分割方法を実施するのに当たり、好ましくは、図2及び図3に示すように、光デバイスウエーハ11を外周部分が環状フレームFに貼着された粘着テープであるエキスパンドテープTに貼着してフレームユニット8を形成する。エキスパンドテープTは、ポリオレフィン、塩化ビニル等を基材とする粘着テープである。   In carrying out the dividing method of the embodiment of the present invention, preferably, as shown in FIGS. 2 and 3, the optical device wafer 11 is applied to an expanded tape T which is an adhesive tape having an outer peripheral portion attached to an annular frame F. The frame unit 8 is formed by sticking. The expanded tape T is an adhesive tape based on polyolefin, vinyl chloride or the like.

フレームユニット形成ステップを実施した後、光デバイスウエーハ11の表面(第2の面)にウエーハ11に対して吸収性を有する波長のパルスレーザービームを照射して表面11aに分割予定ライン17に沿ったレーザー加工溝を形成するレーザー加工溝形成ステップを実施する。   After performing the frame unit forming step, the surface (second surface) of the optical device wafer 11 is irradiated with a pulsed laser beam having a wavelength that is absorptive with respect to the wafer 11, and the surface 11 a is aligned along the planned division line 17. A laser processing groove forming step for forming a laser processing groove is performed.

図4を参照すると、レーザー加工装置のレーザービーム照射ユニット10のブロック図が示されている。レーザービーム照射ユニット10は、レーザービーム発生ユニット12と集光器(レーザーヘッド)14とを含んでいる。   Referring to FIG. 4, a block diagram of the laser beam irradiation unit 10 of the laser processing apparatus is shown. The laser beam irradiation unit 10 includes a laser beam generation unit 12 and a condenser (laser head) 14.

レーザービーム発生ユニット12は、YAGレーザー又はYVO4レーザーを発振するレーザー発振器16と、繰り返し手段設定手段18と、パルス幅調整手段20と、パワー調整手段22とを含んでいる。   The laser beam generating unit 12 includes a laser oscillator 16 that oscillates a YAG laser or a YVO4 laser, a repetition means setting means 18, a pulse width adjusting means 20, and a power adjusting means 22.

レーザービーム発生ユニット12のパワー調整手段22により所定パワーに調整されたパルスレーザービームは、集光器14のミラー24で反射され、更に集光用対物レンズ26によって集光されてレーザー加工装置のチャックテーブル28に保持されている光デバイスウエーハ11に照射される。   The pulse laser beam adjusted to a predetermined power by the power adjusting means 22 of the laser beam generating unit 12 is reflected by the mirror 24 of the condenser 14 and further condensed by the condenser objective lens 26 to be chucked by the laser processing apparatus. The optical device wafer 11 held on the table 28 is irradiated.

レーザー加工溝形成ステップを実施する前に、好ましくは、光デバイスウエーハ11の表面(第2の面)11aにPVA(ポリビニルアルコール)、PEG(ポリエチレングリコール)等の水溶性樹脂を塗布して表面11a上に保護膜を被覆し、この保護膜を通してウエーハ11にパルスレーザービームを照射する。   Before performing the laser processing groove forming step, preferably, the surface 11a of the optical device wafer 11 is coated with a water-soluble resin such as PVA (polyvinyl alcohol) or PEG (polyethylene glycol) on the surface 11a. A protective film is coated thereon, and the wafer 11 is irradiated with a pulse laser beam through the protective film.

このようにウエーハ11の表面11aに保護膜を被覆するのは、ウエーハ11にパルスレーザービームを照射すると、パルスレーザービームが照射された領域に熱エネルギーが集中してデブリが発生し、このデブリがデバイス表面に付着するのを防止するためである。   Thus, the surface 11a of the wafer 11 is coated with the protective film because when the wafer 11 is irradiated with a pulse laser beam, debris is generated due to concentration of thermal energy in the region irradiated with the pulse laser beam. This is to prevent adhesion to the device surface.

レーザー加工溝形成ステップでは、チャックテーブル28を移動して第1の方向に伸長する分割予定ライン17の加工開始位置を集光器14の直下に位置付け、レーザービーム発生ユニット12のパワー調整手段22により所定パワーに調整されたパルスレーザービームを、図4に示す集光器14のミラー24で反射してから集光用対物レンズ26でウエーハ11の表面に照射する。   In the laser processing groove forming step, the processing start position of the division line 17 that moves in the first direction by moving the chuck table 28 is positioned directly below the condenser 14, and is adjusted by the power adjustment means 22 of the laser beam generation unit 12. The pulse laser beam adjusted to a predetermined power is reflected by the mirror 24 of the condenser 14 shown in FIG. 4 and then irradiated on the surface of the wafer 11 by the condenser objective lens 26.

このように集光器14でパルスレーザービームを光デバイスウエーハ11の表面11aに照射しながら、チャックテーブル28を所定の送り速度(例えば100mm/秒)で矢印X1方向に加工送りしながら、第1の方向に伸長する分割予定ライン17に沿ってアブレーション加工によりレーザー加工溝23を形成する。   In this way, the first collector 11 is processed and fed in the direction of the arrow X1 at a predetermined feed speed (for example, 100 mm / second) while irradiating the surface 11a of the optical device wafer 11 with the pulse laser beam by the condenser 14. A laser processing groove 23 is formed by ablation processing along the planned division line 17 extending in the direction of.

レーザービーム照射ユニット10をY軸方向にインデックス送りしながら、第1の方向に伸長する全ての分割予定ライン17に沿って同様なレーザー加工溝23を形成する。次いで、チャックテーブル28を90度回転してから、第2の方向に伸長する分割予定ライン17についてもアブレーション加工により同様なレーザー加工溝23を形成する。   While indexing the laser beam irradiation unit 10 in the Y-axis direction, similar laser processing grooves 23 are formed along all the planned division lines 17 extending in the first direction. Next, after the chuck table 28 is rotated by 90 degrees, the similar laser processing groove 23 is formed by the ablation processing on the planned dividing line 17 extending in the second direction.

尚、本実施形態のレーザー加工溝形成ステップでのレーザー加工条件は例えば以下のように設定されている。   In addition, the laser processing conditions in the laser processing groove forming step of the present embodiment are set as follows, for example.

光源 :YAGパルスレーザー
波長 :355nm(YAGレーザーの第3高調波)
出力 :3.0W
繰り返し周波数 :20kHz
送り速度 :100mm/秒
レーザー加工溝形成ステップを実施した後、光デバイスウエーハ11のレーザー加工溝23が形成された分割予定ライン17に沿って外力を付与して、光デバイスウエーハ11をレーザー加工溝23を分割起点に複数のデバイスチップに分割する分割ステップを実施する。
Light source: YAG pulse laser Wavelength: 355 nm (third harmonic of YAG laser)
Output: 3.0W
Repetition frequency: 20 kHz
Feeding speed: 100 mm / sec After performing the laser processing groove forming step, an external force is applied along the planned division line 17 in which the laser processing groove 23 of the optical device wafer 11 is formed, so that the optical device wafer 11 is made into the laser processing groove. A dividing step of dividing 23 into a plurality of device chips is performed.

この分割ステップでは、図6に示すように、エキスパンドテープTの裏面に緩衝材シート25を貼着する。 緩衝材シート25は可撓性を有し、エキスパンドテープTより弾性の高い材料から形成されている。緩衝材シート25は、好ましくはPET(ポリエチレンテレフタレート)から形成され、約200μm程度の厚みを有している。緩衝材シート25はエキスパンドテープTの裏面に必ずしも貼着する必要はなく、エキスパンドテープT上に緩衝材シート25を配設すればよい。   In this division step, as shown in FIG. 6, the cushioning material sheet 25 is adhered to the back surface of the expanded tape T. The cushioning material sheet 25 has flexibility and is made of a material having higher elasticity than the expanded tape T. The buffer material sheet 25 is preferably made of PET (polyethylene terephthalate) and has a thickness of about 200 μm. The buffer material sheet 25 is not necessarily attached to the back surface of the expanded tape T, and the buffer material sheet 25 may be disposed on the expanded tape T.

分割装置30は、支持ユニット(支持手段)32と支持ユニット32と一体的に形成された押圧ブレード34とを含んでいる。支持ユニット32は、間に細長い隙間38を形成するように配設された一対の断面L形状の支持部材36を含んでおり、支持部材36の内側に顕微鏡及びカメラを有する撮像ユニット40が配設されている。   The dividing device 30 includes a support unit (support means) 32 and a pressing blade 34 formed integrally with the support unit 32. The support unit 32 includes a pair of L-shaped support members 36 disposed so as to form an elongated gap 38 therebetween, and an imaging unit 40 having a microscope and a camera is disposed inside the support member 36. Has been.

分割ステップを実施するのにあたり、光デバイスウエーハ11をデバイス保護フィルムとして作用する離型フィルム27を介して支持ユニット32上に載置する。そして、撮像ユニット40で離型フィルム27を介して光デバイスウエーハ11の表面(第2の面)11aを撮像して、分割すべき分割予定ライン17が一対の支持部材36で規定された隙間38の中央に来るように位置付ける。   In carrying out the dividing step, the optical device wafer 11 is placed on the support unit 32 via a release film 27 that acts as a device protection film. Then, the imaging unit 40 images the surface (second surface) 11 a of the optical device wafer 11 through the release film 27, and the dividing line 17 to be divided is defined by a pair of support members 36. Position it so that it is in the middle.

ウエーハ11をこのように位置付けてから、押圧ブレード34を矢印A方向に移動して緩衝材シート25を介してウエーハ11を裏面(第1の面)11b側から垂直に押圧する。緩衝材シート25を押圧ブレード34側に配設するようにしてもよい。   After positioning the wafer 11 in this way, the pressing blade 34 is moved in the direction of arrow A, and the wafer 11 is pressed vertically from the back surface (first surface) 11b side through the cushioning material sheet 25. The buffer material sheet 25 may be disposed on the pressing blade 34 side.

緩衝材シート25を介して押圧ブレード34でウエーハ11を押圧すると、押圧ブレード34がウエーハ11に及ぼす垂直方向の押圧力に加えて、押圧ブレード34を境に矢印Bで示すように両脇へウエーハ11を押し広げる拡張作用がウエーハ11に付加されるので、ウエーハ11はレーザー加工溝23を分割起点にして分割予定ライン17に沿って分割(割断)される。   When the wafer 11 is pressed by the pressing blade 34 through the cushioning material sheet 25, the wafer is moved to both sides as indicated by an arrow B with the pressing blade 34 as a boundary in addition to the vertical pressing force exerted on the wafer 11 by the pressing blade 34. Since the expansion action of pushing 11 is added to the wafer 11, the wafer 11 is divided (cleaved) along the planned division line 17 with the laser processing groove 23 as a starting point.

このように緩衝材シート25を介して押圧ブレード34でウエーハ11を押圧することにより、ウエーハ11にウエーハ11を両脇へ押し広げる拡張作用が付加されるため、ウエーハ11の裏面11bに被覆された金属からなる反射膜21も同時に割断することができる。   In this way, by pressing the wafer 11 with the pressing blade 34 through the cushioning material sheet 25, the wafer 11 is extended to push the wafer 11 to both sides, so that the back surface 11b of the wafer 11 is covered. The reflective film 21 made of metal can also be cleaved at the same time.

ウエーハ11を図6で矢印Y方向に分割予定ライン17のピッチずつ移動しながらレーザー加工溝23を開口38の中央に位置付けて、押圧ブレード34で緩衝材シート25を介してウエーハ11を押圧し、第1の方向に伸長する分割予定ライン17に沿ってウエーハ11を次々と割断する。   The laser processing groove 23 is positioned at the center of the opening 38 while moving the wafer 11 in the arrow Y direction by the pitch of the division line 17 in FIG. 6, and the wafer 11 is pressed by the pressing blade 34 via the cushioning material sheet 25. The wafers 11 are cut one after another along the planned dividing line 17 extending in the first direction.

次いで、ウエーハ11を90度回転してから、第2の方向に伸長する分割予定ライン17に沿って同様な分割ステップを実施することにより、光デバイスウエーハ11を個々の光デバイスチップ19に分割することができる。   Next, after rotating the wafer 11 by 90 degrees, the optical device wafer 11 is divided into individual optical device chips 19 by performing the same division step along the planned division line 17 extending in the second direction. be able to.

尚、分割ステップでは、隙間38を画成する一対の支持部材36の上部エッジ36aが押圧ブレード34を押圧時の支持支点となる。本実施形態では、分割ステップで押圧ブレード34が下降した距離は約100μmであった。   In the dividing step, the upper edges 36a of the pair of support members 36 that define the gap 38 serve as a support fulcrum when the pressing blade 34 is pressed. In the present embodiment, the distance that the pressing blade 34 descends in the dividing step is about 100 μm.

本実施形態の分割ステップでは、分割装置30を固定して光デバイスウエーハ11を分割予定ライン17のピッチずつ移動するようにしているが、ウエーハ11を固定して分割装置30を移動するようにしてもよい。   In the dividing step of the present embodiment, the dividing device 30 is fixed and the optical device wafer 11 is moved by the pitch of the division line 17. However, the wafer 11 is fixed and the dividing device 30 is moved. Also good.

本実施形態の分割ステップでは、押圧ブレード34の垂直方向への移動量が少なくて済むため、エキスパンドテープTの破断や伸び等も発生しないので、その後のハンドリングでも問題が発生することはない。   In the dividing step of this embodiment, since the amount of movement of the pressing blade 34 in the vertical direction is small, the expanded tape T is not broken or stretched, so that there is no problem in subsequent handling.

比較のために、緩衝材シートを使用しない従来の分割ステップについて図8を参照して説明する。従来の分割ステップでは、エキスパンドテープTに緩衝材シートが貼着されていないため、エキスパンドテープTに押圧ブレード34を押圧すると、垂直方向の押圧力のみがウエーハ11に加わるため、押圧ブレード34の下降距離が長くなり、符号29で示すようにエキスパンドテープTが破断したり、反射膜21にバリ21aが発生したりして、裏面に金属から形成された反射膜21が被覆された光デバイスウエーハ11の分割が困難であった。   For comparison, a conventional division step that does not use a cushioning material sheet will be described with reference to FIG. In the conventional dividing step, since the cushioning material sheet is not adhered to the expanded tape T, when the pressing blade 34 is pressed against the expanded tape T, only the vertical pressing force is applied to the wafer 11, so that the pressing blade 34 is lowered. As the distance becomes longer, the expanded tape T is broken as indicated by reference numeral 29, or a burr 21a is generated on the reflective film 21, and the optical device wafer 11 is coated with the reflective film 21 formed of metal on the back surface. It was difficult to divide.

上述した実施形態では、本発明をサファイア基板を有する光デバイスウエーハ11に適用した例について説明したが、本発明の分割方法は、金属膜を有するGaNウエーハ、銅タングステンウエーハ、シリコンウエーハ等にも同様に適用可能である。更に、金属膜を有しないアルミナセラミックス、窒化アルミニウム等のセラミックスにも同様に適用可能である。   In the above-described embodiment, the example in which the present invention is applied to the optical device wafer 11 having a sapphire substrate has been described. However, the dividing method of the present invention is also applied to a GaN wafer having a metal film, a copper tungsten wafer, a silicon wafer, and the like. It is applicable to. Furthermore, the present invention can be similarly applied to ceramics such as alumina ceramics and aluminum nitride that do not have a metal film.

8 フレームユニット
10 レーザービーム照射ユニット
11 光デバイスウエーハ
12 レーザービーム発生ユニット
14 集光器
17 分割予定ライン
19 光デバイス
23 レーザー加工溝
25 緩衝材シート
30 分割装置
32 支持ユニット(支持手段)
34 押圧ブレード
36 支持部材
38 隙間
40 撮像ユニット
8 Frame unit 10 Laser beam irradiation unit 11 Optical device wafer 12 Laser beam generating unit 14 Condenser 17 Dividing line 19 Optical device 23 Laser processing groove 25 Buffer material sheet 30 Splitting device 32 Support unit (support means)
34 Pressing blade 36 Support member 38 Gap 40 Imaging unit

Claims (3)

第1の面と該第1の面と反対側の第2の面とを有する板状被加工物を複数のチップに分割する分割方法であって、
板状被加工物の第1の面に環状フレームに装着されたエキスパンドテープを貼着してフレームユニットを形成するフレームユニット形成ステップと、
該フレームユニット形成ステップを実施した後、該板状被加工物の該第2の面に該板状被加工物に対して吸収性を有する波長のレーザービームを照射して該第2の面にレーザー加工溝を形成するレーザー加工溝形成ステップと、
該レーザー加工溝形成ステップを実施した後、該板状被加工物の該第2の面に形成された該レーザー加工溝が直線状の隙間を有する支持手段の該隙間を画成する一対の支点の中央に整列するように該板状被加工物を支持手段上に載置し、該レーザー加工溝に沿って該エキスパンドテープ越しに押圧ブレードで該板状被加工物を該第1の面から垂直に押圧し、該板状被加工物を分割する分割ステップと、を備え、
該分割ステップは、該押圧ブレードで該押上ブレードと該エキスパンドテープの間に挿入された可撓性を有し該エキスパンドテープより弾性の高い緩衝材を押圧することにより実施され、
該緩衝材を介して該押圧ブレードで該板状被加工物を押圧することで、該押圧ブレードが該板状被加工物に及ぼす垂直方向の押圧力に加えて、該板状被加工物に該押圧ブレードを境に該板状被加工物を両脇へ押し広げる拡張作用が付加されることを特徴とする板状被加工物の分割方法。
A dividing method of dividing a plate-like workpiece having a first surface and a second surface opposite to the first surface into a plurality of chips,
A frame unit forming step of forming a frame unit by attaching an expanded tape attached to an annular frame on the first surface of the plate-like workpiece;
After performing the frame unit forming step, the second surface of the plate-like workpiece is irradiated with a laser beam having a wavelength that is absorptive with respect to the plate-like workpiece. A laser processing groove forming step for forming a laser processing groove;
After carrying out the laser processing groove forming step, a pair of fulcrums defining the gap of the support means in which the laser processing groove formed on the second surface of the plate-like workpiece has a linear gap The plate-like workpiece is placed on the support means so as to be aligned with the center of the plate, and the plate-like workpiece is removed from the first surface with a pressing blade over the expanding tape along the laser machining groove. A step of pressing vertically to divide the plate-like workpiece,
The dividing step is performed by pressing a cushioning material having flexibility inserted between the lifting blade and the expanding tape and having higher elasticity than the expanding tape with the pressing blade,
By pressing the plate workpiece with the pressing blade through the cushioning material, in addition to the vertical pressing force exerted on the plate workpiece by the pressing blade, the plate workpiece is applied to the plate workpiece. A method for dividing a plate-like workpiece, wherein an expansion action is added to push the plate-like workpiece to both sides with the pressing blade as a boundary.
前記緩衝材は、ポリエチレンテレフタレートからなるシート状部材から構成される請求項1記載の板状被加工物の分割方法。   The said buffer material is a division | segmentation method of the plate-shaped workpiece of Claim 1 comprised from the sheet-like member which consists of a polyethylene terephthalate. 前記板状被加工物は、前記第2の面に複数の分割予定ラインによって区画された各領域に光デバイスが形成され、前記第1の面に金属膜が被覆された光デバイスウエーハから構成される請求項1又は2記載の板状被加工物の分割方法。   The plate-like workpiece includes an optical device wafer in which an optical device is formed in each region partitioned by a plurality of division lines on the second surface, and a metal film is coated on the first surface. The method for dividing a plate-like workpiece according to claim 1 or 2.
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