JP2014044165A - Article inspection device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an article inspection device for inspecting quality while an LED element is heated, the article inspection device being able to avoid overheat and damage of an electronic component in case of abnormal stop of an index table.SOLUTION: The LED element 2 in a pocket P is intermittently carried on a fixed table 4 as the index table 5 intermittently rotates, and is heated by the heater 11 in a rapid heating area H1. After the heated LED element 2 is carried to an inspection place A, not shown, which is located downstream, it is subjected to the inspection of the emission or non-emission of light by inspection means 3. If the index table 5 is stopped due to abnormality during this quality inspection, the heater 11 is lowered and separated from the fixed table 4. Additionally, air with room temperature is jetted to a carrying section 4F from a plurality of cooling nozzles 16, and the LED element 2 in the pocket P is cooled. Thus, the LED element 2 is prevented from being overheated and damaged by the heater 11 during the abnormal stop of the index table 5.

Description

本発明は物品検査装置に関し、より詳しくは、例えばLED素子を加熱した状態で品質検査を行うようにした物品検査装置に関する。   The present invention relates to an article inspection apparatus, and more particularly to an article inspection apparatus in which a quality inspection is performed in a state where, for example, an LED element is heated.

従来、電子部品の搬送経路上に常温領域と高温領域とを順次設けて、電子部品を搬送手段によって搬送しながら上記各領域において品質検査を行うようにした物品検査装置は公知である(例えば特許文献1)。また、加熱領域に2つの分割ヒーターを配置し、加熱領域における入口側となる分割ヒーターの加熱温度を目標温度よりも高温に設定することにより、物品を加熱する際のタクトタイムを短縮するようにした装置が提案されている(例えば特許文献2)。さらに、半導体素子を導電性接着剤によりリードフレームに接着する装置であって、搬送中にリードフレームが異常停止した際に、該リードフレームの搬送経路の下方に配置されているヒータを下降させることにより、リードフレームの過熱を防止する装置が提案されている(例えば特許文献3)。   2. Description of the Related Art Conventionally, an article inspection apparatus in which a normal temperature region and a high temperature region are sequentially provided on an electronic component transport path, and quality inspection is performed in each of the regions while the electronic component is transported by a transport unit (for example, patents). Reference 1). Further, by arranging two divided heaters in the heating region and setting the heating temperature of the divided heater on the inlet side in the heating region to be higher than the target temperature, the tact time when heating the article is shortened. An apparatus has been proposed (for example, Patent Document 2). Furthermore, when the lead frame is abnormally stopped during transportation, the heater disposed below the transportation path of the lead frame is lowered when the semiconductor element is adhered to the lead frame with a conductive adhesive. Thus, an apparatus for preventing overheating of the lead frame has been proposed (for example, Patent Document 3).

特許第4513943号公報Japanese Patent No. 4513943 特開昭62−211572号公報JP-A-62-211572 特公平4−76499号公報Japanese Examined Patent Publication No. 4-76499

ところで、上述した特許文献1の物品検査装置においては、何らかの原因により搬送手段としてのインデックステーブルが異常停止して電子部品の搬送が停止されることがある。ここで、仮に、特許文献1の装置において特許文献2に開示されている、上流側の分割ヒータの加熱温度を目標温度よりも高温に設定することによりタクトタイムを短縮する構成を採用した場合には、目標温度よりも高温に設定した領域で停止中の物品が過熱されて破損することになる。
なお、この場合に特許文献3に開示されている昇降可能なヒーターを採用して、インデックステーブルの異常停止時にヒーターを下降させることも可能である。しかしながら、そのような構成を採用したとしても、特許文献1の固定テーブルは蓄熱性があるので、その固定テーブルに蓄熱された熱によって電子部品が過熱されて破損するおそれがある。
By the way, in the article inspection apparatus of Patent Document 1 described above, an index table as a transport unit may be stopped abnormally for some reason, and transport of electronic components may be stopped. Here, in the case of adopting a configuration that shortens the tact time by setting the heating temperature of the upstream divided heater to be higher than the target temperature, which is disclosed in Patent Document 2 in the apparatus of Patent Document 1 In the region where the temperature is higher than the target temperature, the stopped article is overheated and damaged.
In this case, it is possible to employ a heater that can be raised and lowered as disclosed in Patent Document 3, and to lower the heater when the index table stops abnormally. However, even if such a configuration is adopted, since the fixed table of Patent Document 1 has heat storage properties, the electronic components may be overheated and damaged by the heat stored in the fixed table.

上述した事情に鑑み、請求項1に記載した本発明は、固定テーブルと、上記固定テーブル上に設けられるとともに複数のポケット内に物品を保持して間欠的に搬送する搬送手段と、上記搬送手段によって搬送される物品の搬送経路上となる検査位置において物品の品質検査を行う検査手段と、上記搬送手段によって搬送される物品の温度を所定の検査温度まで昇温させる加熱手段とを備え、上記搬送手段によって物品を搬送し、上記加熱手段によって物品が加熱される加熱領域を通過させることにより、上記検査温度となった物品を上記検査手段により品質検査を行うようにした物品検査装置において、
上記加熱手段は、上記加熱領域の少なくとも一部において上記検査温度よりも高温で物品を加熱する急加熱手段を有し、さらに、所要時に上記急加熱手段によって上記物品が加熱される急加熱領域の固定テーブルに冷却流体を噴射する冷却手段を設け、上記搬送手段が異常停止した際に上記冷却手段から冷却流体を噴射することにより、上記固定テーブルを介して上記急加熱領域で停止する物品を冷却することを特徴とするものである。
また、請求項2に記載した本発明は、上記請求項1の発明を前提として、上記搬送手段は、外周部にポケットが設けられた回転体を有し、該回転体を駆動手段により回転させることにより各ポケットに保持される物品を上記固定テーブルの上面に摺接させながら搬送するようになっており、上記急加熱領域の固定テーブルは、上記回転体の回転軸側となる基部と、この基部よりも厚さを薄く形成されるとともに上記基部よりも回転軸の外周部側において支持した物品と摺接する搬送部とを備え、上記冷却手段は、上記搬送部の下面に冷却気体を噴射する冷却ノズルを有することを特徴とするものである。
また、請求項3に記載した本発明は、上記請求項2の発明を前提として、上記急加熱手段は、上記固定テーブルの基部の下面に接触して該固定テーブルを加熱する上昇位置と、上記固定テーブルの基部の下面から離隔して下方に退避した下降位置とに昇降可能になっており、上記固定テーブルは、上記急加熱手段が上昇位置で上記基部に接触した状態において、上記搬送部が所定の間隔をあけて当該急加熱手段に対向するように構成され、上記冷却ノズルは、上記固定テーブルの搬送部と上記上昇位置にある急加熱手段との間に固設されており、上記搬送手段が異常停止した際には、上記急加熱手段が上昇位置から下降位置へ下降されることを特徴とするものである。
In view of the circumstances described above, the present invention described in claim 1 includes a fixed table, a conveying unit that is provided on the fixed table and that holds articles in a plurality of pockets and intermittently conveys the fixed table, and the conveying unit. Inspection means for inspecting the quality of the article at an inspection position on the conveyance path of the article conveyed by the apparatus, and heating means for raising the temperature of the article conveyed by the conveyance means to a predetermined inspection temperature, In the article inspection apparatus in which the article having the inspection temperature is subjected to quality inspection by the inspection means by conveying the article by the conveyance means and passing the heating region where the article is heated by the heating means.
The heating means includes a rapid heating means for heating the article at a temperature higher than the inspection temperature in at least a part of the heating area, and further includes a rapid heating area in which the article is heated by the rapid heating means when necessary. Cooling means for injecting a cooling fluid is provided on the fixed table, and the article stopped in the rapid heating region is cooled via the fixed table by injecting the cooling fluid from the cooling means when the conveying means stops abnormally. It is characterized by doing.
According to a second aspect of the present invention, on the premise of the first aspect of the present invention, the conveying means includes a rotating body having a pocket provided on an outer peripheral portion, and the rotating body is rotated by a driving means. Thus, the articles held in the respective pockets are conveyed while being brought into sliding contact with the upper surface of the fixed table, and the fixed table in the rapid heating region includes a base portion on the rotating shaft side of the rotating body, A cooling unit that is formed to be thinner than the base and is in sliding contact with an article supported on the outer peripheral side of the rotating shaft from the base; It has a cooling nozzle.
According to a third aspect of the present invention, on the premise of the invention of the second aspect, the rapid heating means contacts the lower surface of the base portion of the fixed table to heat the fixed table, and The fixed table can be moved up and down to a lowered position that is separated from the lower surface of the base portion of the fixed table and retracted downward, and when the rapid heating means is in contact with the base portion at the raised position, The cooling nozzle is configured to be opposed to the rapid heating means at a predetermined interval, and the cooling nozzle is fixed between the transport portion of the fixed table and the rapid heating means at the raised position. When the means abnormally stops, the rapid heating means is lowered from the raised position to the lowered position.

上記請求項1の発明によれば、何らかの原因で搬送手段が異常停止した際には冷却手段から冷却流体が噴射されるので、急加熱領域に停止した物品が過熱により破損する可能性を低減させることができる。
また、上記請求項2の発明によれば、上記固定テーブルの搬送部は基部よりも薄くなっているので、物品の冷却に要する時間を短くすることができる。
さらに、上記請求項3の発明によれば、搬送手段の異常停止時に急加熱手段を下降させるとともに、搬送部と急加熱手段との間に冷却ノズルを固設しておくことにより、物品の冷却時間を短縮することができる。
According to the first aspect of the present invention, when the conveying means stops abnormally for some reason, the cooling fluid is ejected from the cooling means, thereby reducing the possibility that the article stopped in the rapid heating region is damaged by overheating. be able to.
According to the second aspect of the present invention, since the conveying portion of the fixed table is thinner than the base portion, the time required for cooling the article can be shortened.
Furthermore, according to the third aspect of the invention, the rapid heating means is lowered when the conveying means is abnormally stopped, and the cooling nozzle is fixed between the conveying portion and the rapid heating means, thereby cooling the article. Time can be shortened.

本発明の一実施例を示す平面図。The top view which shows one Example of this invention. 図1の物品検査装置における導管と冷却ノズル等の配置状態を示す図。The figure which shows the arrangement | positioning states, such as a conduit | pipe and a cooling nozzle, in the article inspection apparatus of FIG. 図1のIII―III線に沿う要部の断面図。Sectional drawing of the principal part which follows the III-III line | wire of FIG.

以下、図示実施例について本発明を説明すると、図1ないし図3において1は回転式の物品検査装置であり、この物品検査装置1は、検査対象であるLED素子2を間欠的に搬送しながら所定の検査温度まで加熱し、該検査温度まで昇温されたLED素子2を搬送経路上の検査位置Aにおいて品質検査を行うようになっている。
物品検査装置1の検査対象となるLED素子2は、方形の平板状に形成されており、その上面に図示しない2つの端子が露出させて形成されている。検査温度まで昇温された各LED素子2が検査位置Aに搬入された際に検査手段3から各LED素子2の端子に通電することで、検査対象のLED素子2が発光するか否かの品質検査が行われるようになっている。
Hereinafter, the present invention will be described with reference to the illustrated embodiments. In FIGS. 1 to 3, reference numeral 1 denotes a rotary article inspection apparatus. The article inspection apparatus 1 intermittently conveys an LED element 2 to be inspected. The LED element 2 heated to a predetermined inspection temperature is heated to the inspection temperature, and the quality inspection is performed at the inspection position A on the transport path.
The LED element 2 to be inspected by the article inspection apparatus 1 is formed in a rectangular flat plate shape, and two terminals (not shown) are exposed on the upper surface thereof. Whether or not the LED element 2 to be inspected emits light by energizing the terminal of each LED element 2 from the inspection means 3 when each LED element 2 heated to the inspection temperature is carried into the inspection position A. Quality inspection is being conducted.

本実施例の物品検査装置1は、略円盤状に形成されるとともに上面4Aが水平となるように支持された固定テーブル4と、固定テーブル4の上面4Aに回転可能に載置されるとともに、外周部に等ピッチでLED素子2を保持するポケットPが形成されたインデックステーブル5と、供給位置Bにおいてインデックステーブル5の各ポケットPに順次LED素子2を供給する供給手段6と、インデックステーブル5によるLED素子2の搬送経路上となる検査位置Aに設けられて各LED素子2の品質を検査する検査手段3とを備えている。   The article inspection apparatus 1 of the present embodiment is formed in a substantially disk shape and is supported on a fixed table 4 supported so that the upper surface 4A is horizontal, and is rotatably mounted on the upper surface 4A of the fixed table 4. An index table 5 having pockets P for holding the LED elements 2 at an equal pitch on the outer periphery, supply means 6 for sequentially supplying the LED elements 2 to the pockets P of the index table 5 at the supply position B, and the index table 5 And an inspection means 3 for inspecting the quality of each LED element 2 provided at an inspection position A on the transport path of the LED elements 2.

固定テーブル4は伝熱性が良好な金属からなり、上面4Aにおける外周部とその隣接箇所は円周方向に連続する環状段部4Bとなっている(図3参照)。この環状段部4Bよりも半径方向内方となる上面4Aに回転体としてのインデックステーブル5が載置されている。インデックステーブル5の外周部には、切欠き部からなるポケットPが円周方向に等ピッチで形成されており、インデックステーブル5の中心は固定テーブル4を貫通させた回転軸7の上端部に連結されている。回転軸7は、図示しない複数のギヤ等を介して駆動手段としての図示しないサーボモータに連動しており、制御手段8は上記サーボモータを介してインデックステーブル5を反時計方向に1ピッチずつ間欠的に回転させるようになっている。その際には、供給位置Bにおいて供給手段6によって各ポケットP内に順次1個ずつLED素子2が供給されるとともに、各ポケットPに保持されたLED素子2が順次下流側の検査位置Aに搬入されるようになっている。   The fixed table 4 is made of a metal having good heat conductivity, and the outer peripheral portion of the upper surface 4A and its adjacent portion are annular step portions 4B that are continuous in the circumferential direction (see FIG. 3). An index table 5 as a rotating body is placed on the upper surface 4A that is radially inward of the annular step 4B. On the outer periphery of the index table 5, pockets P formed by notches are formed at equal pitches in the circumferential direction, and the center of the index table 5 is connected to the upper end of the rotating shaft 7 that penetrates the fixed table 4. Has been. The rotating shaft 7 is linked to a servo motor (not shown) as a driving means through a plurality of gears (not shown), and the control means 8 intermittently causes the index table 5 to be turned counterclockwise by one pitch via the servo motor. It is designed to rotate. At that time, one LED element 2 is sequentially supplied into each pocket P by the supply means 6 at the supply position B, and the LED elements 2 held in each pocket P are sequentially moved to the downstream inspection position A. It comes to be brought in.

上記環状段部4Bの内周面4Cは、LED素子2がポケットP内から半径方向外方へ飛び出すのを防止するストッパとなっており、かつ、各ポケットP内のLED素子2が間欠搬送される際のガイド部となっている。そのため、供給位置BにおいてポケットP内にLED素子2が供給され、その後、インデックステーブル5が反時計方向に1ピッチずつ間欠回転されることにより、各ポケットP内のLED素子2は内周面4Cに沿った搬送経路上を下流側へ向けて間欠搬送される。そして、そのように搬送される際には、各ポケットP内のLED素子2の下面は固定テーブル4の上面4Aに支持されてそこと摺接するとともに、LED素子2における外方側の側面は環状段部4Bの内周面4Cと摺接するようになっている(図3参照)。   The inner peripheral surface 4C of the annular step 4B serves as a stopper that prevents the LED element 2 from jumping out radially outward from the pocket P, and the LED element 2 in each pocket P is intermittently conveyed. It is a guide part when Therefore, the LED element 2 is supplied into the pocket P at the supply position B, and then the index table 5 is intermittently rotated counterclockwise by one pitch, whereby the LED element 2 in each pocket P has an inner peripheral surface 4C. Is intermittently conveyed toward the downstream side on the conveyance path along the line. When transported in such a manner, the lower surface of the LED element 2 in each pocket P is supported by the upper surface 4A of the fixed table 4 and is in sliding contact therewith, and the outer side surface of the LED element 2 is annular. It comes in sliding contact with the inner peripheral surface 4C of the stepped portion 4B (see FIG. 3).

本実施例においては、インデックステーブル5の各ポケットPによってLED素子2が間欠搬送される際の搬送経路に沿って3つの領域が設定されている。つまり、上記供給位置Bから反時計回りで排出位置Cにわたって順次、急加熱領域H1、検査領域H2、及び冷却領域C1が設定されている(図2参照)。そして、急加熱領域H1となる固定テーブル4の下方側には円弧状のヒーター11が昇降自在に設けられている。このヒーター11はLED素子2を急速に加熱するための急加熱手段となっている。このヒーター11により検査温度以上の220℃で固定テーブル4を加熱すると、LED素子2が急加熱領域H1を通過する間に固定テーブル4に支持されたLED素子2は検査温度(200℃)かそれに近い温度まで加熱されるようになっている。また、検査領域H2となる固定テーブル4内にはセラミックヒータ12が埋設されており、さらに、冷却領域C1となる固定テーブル4内には、冷却手段としてのペルチェ素子13が埋設されている。   In the present embodiment, three regions are set along the conveyance path when the LED element 2 is intermittently conveyed by each pocket P of the index table 5. That is, the rapid heating region H1, the inspection region H2, and the cooling region C1 are set sequentially from the supply position B to the discharge position C counterclockwise (see FIG. 2). And the arc-shaped heater 11 is provided in the downward side of the fixed table 4 used as the rapid heating area | region H1 so that raising / lowering is possible. The heater 11 serves as a rapid heating means for rapidly heating the LED element 2. When the fixed table 4 is heated by the heater 11 at 220 ° C. which is equal to or higher than the inspection temperature, the LED element 2 supported by the fixed table 4 while the LED element 2 passes through the rapid heating region H1 is at the inspection temperature (200 ° C.) It is heated to a near temperature. Further, a ceramic heater 12 is embedded in the fixed table 4 serving as the inspection region H2, and further, a Peltier element 13 serving as a cooling unit is embedded in the fixed table 4 serving as the cooling region C1.

上記ヒーター11は、図示しない昇降機構によって固定テーブル4の下面4Dと接触する上昇位置と、下面4Dから離隔して所定量下降した下降端位置とに昇降自在となっている。上記昇降機構の作動及びヒーター11の作動は制御手段8によって制御されるようになっており、検査手段3により各LED素子2の品質検査を行う際には、制御手段8は昇降機構によってヒーター11を予め上昇端に位置させるとともに、ヒーター11を作動させる。そのため、ヒーター11の上面11Aが固定テーブル4の下面4Dと接触するので、急加熱領域H1の固定テーブル4はヒーター11により加熱される。
この状態において、インデックステーブル5が間欠回転されるのに伴って、上述したように供給位置Bにおいて各ポケットPにLED素子2が供給されるとともに、その後、ポケットP内のLED素子2は順次急加熱領域H1内を下流側へ間欠的に搬送されるようになっている。それに伴って、ヒーター11により高温に加熱された固定テーブル4の上面4AをLED素子2が摺動するので、ヒーター11からの伝熱によってLED素子2が加熱されて検査温度(200℃)か、それに近い温度まで昇温されるようになっている。つまり、インデックステーブル5により急加熱領域H1内を間欠搬送されるLED素子2は、ヒーター11によって検査温度(200℃)まで昇温されるようになっており、検査温度に昇温されたLED素子2は検査位置Aがある次の検査領域H2に搬入されるようになっている。
The heater 11 can freely move up and down to an ascending position that contacts the lower surface 4D of the fixed table 4 by an elevating mechanism (not shown) and a descending end position that is separated from the lower surface 4D and lowered by a predetermined amount. The operation of the elevating mechanism and the operation of the heater 11 are controlled by the control means 8, and when the quality inspection of each LED element 2 is performed by the inspection means 3, the control means 8 is controlled by the elevating mechanism. Is positioned at the rising end in advance, and the heater 11 is operated. Therefore, since the upper surface 11A of the heater 11 is in contact with the lower surface 4D of the fixed table 4, the fixed table 4 in the rapid heating region H1 is heated by the heater 11.
In this state, as the index table 5 is intermittently rotated, the LED elements 2 are supplied to the respective pockets P at the supply position B as described above, and thereafter, the LED elements 2 in the pockets P are sequentially abruptly turned. The inside of the heating area H1 is intermittently conveyed to the downstream side. Accordingly, since the LED element 2 slides on the upper surface 4A of the fixed table 4 heated to a high temperature by the heater 11, the LED element 2 is heated by the heat transfer from the heater 11, and the inspection temperature (200 ° C.) The temperature is raised to a temperature close to that. That is, the LED element 2 intermittently conveyed in the rapid heating region H1 by the index table 5 is heated to the inspection temperature (200 ° C.) by the heater 11, and the LED element heated to the inspection temperature. 2 is carried into the next inspection area H2 where the inspection position A is located.

検査領域H2内における下流端に近い箇所が上記検査位置Aとなっており、その検査位置Aに従来公知の検査手段3が配置されている。また、検査領域H2と急加熱領域H1との境界部には、ポケットP内のLED素子2の温度を測定する温度測定手段14が配置されている。インデックステーブル5のポケットPに保持されて間欠搬送される各LED素子2は、温度測定手段14の下部を通過する際に温度を測定されるようになっており、温度測定手段14が測定したLED素子2の温度は順次上記制御手段8に伝達されるようになっている。
温度測定手段14による温度の測定結果に基づいて、制御手段8は、検査領域H2内に搬入されたLED素子2の温度を認識できるようになっている。制御手段8は、品質検査中に上記ヒーター11が作動される際には検査領域H2のセラミックヒーター12も作動させるようになっている。そのため、LED素子2の品質検査中においては、セラミックヒーター12の温度は200℃に維持されている。したがって、検査領域H2の固定テーブル4は検査温度である200℃に維持される。そのため、急加熱領域H1から検査領域H2内に搬入されたLED素子2は、検査温度である200℃に維持された状態で検査位置Aにおいて検査手段3により発光するか否かが検査されるようになっている。検査位置Aにおける各LED素子2の検査手段3による品質検査の結果は、検査手段3から制御手段8に送信されるようになっている。
A location near the downstream end in the inspection region H2 is the inspection position A, and a conventionally known inspection means 3 is disposed at the inspection position A. In addition, temperature measuring means 14 for measuring the temperature of the LED element 2 in the pocket P is disposed at the boundary between the inspection region H2 and the rapid heating region H1. Each LED element 2 held in the pocket P of the index table 5 and intermittently transported is measured for temperature when passing through the lower part of the temperature measuring means 14, and the LED measured by the temperature measuring means 14 is measured. The temperature of the element 2 is sequentially transmitted to the control means 8.
Based on the temperature measurement result by the temperature measuring means 14, the control means 8 can recognize the temperature of the LED element 2 carried into the inspection area H2. The control means 8 operates the ceramic heater 12 in the inspection region H2 when the heater 11 is operated during the quality inspection. Therefore, during the quality inspection of the LED element 2, the temperature of the ceramic heater 12 is maintained at 200 ° C. Therefore, the fixed table 4 in the inspection area H2 is maintained at 200 ° C. which is the inspection temperature. Therefore, the LED element 2 carried into the inspection region H2 from the rapid heating region H1 is inspected to check whether or not the inspection means 3 emits light at the inspection position A while being maintained at the inspection temperature of 200 ° C. It has become. The result of the quality inspection by the inspection means 3 of each LED element 2 at the inspection position A is transmitted from the inspection means 3 to the control means 8.

検査位置Aにおいて検査手段3による品質検査が終わった各LED素子2は、インデックステーブル5の間欠搬送に伴って、検査領域H2から冷却領域C1へ搬入されるようになっている。LED素子2の品質検査を行う際には、制御手段8は冷却領域C1のペルチェ素子13にも通電させているので、冷却領域C1となる固定テーブル4は約10℃に維持されている。そのため、検査領域H2内で200℃であった各LED素子2は、検査領域H2から冷却領域C1に搬入されると急速に冷却されて略常温まで温度が低下する。そして、そのように温度が常温まで低下した状態においてLED素子2は排出位置Cにおいて排出手段15によりポケットPから排出されるようになっている。
その際、制御手段8は、上記検査手段3による品質検査結果の良否と等級に応じて排出手段15がLED素子2を排出する際の排出先を振り分けるさせるようになっている。より詳細には、上記排出手段15による排出先としては、品質の等級に応じた図示しない複数の分類ビンが配置されている。そして、排出手段15は、品質検査結果から判定した等級に応じて所要の分類ビンにLED素子2を振り分けるようになっている。分類ビンの内の1つが不良品回収ビンになっており、不良品のLED素子2は不良品回収ビンに振り分けられる。
Each LED element 2 that has undergone quality inspection by the inspection means 3 at the inspection position A is carried into the cooling region C1 from the inspection region H2 with the intermittent conveyance of the index table 5. When the quality inspection of the LED element 2 is performed, since the control unit 8 is energized also to the Peltier element 13 in the cooling region C1, the fixed table 4 that becomes the cooling region C1 is maintained at about 10 ° C. Therefore, each LED element 2 that has been 200 ° C. in the inspection region H2 is rapidly cooled and reduced in temperature to approximately room temperature when it is carried into the cooling region C1 from the inspection region H2. Then, the LED element 2 is discharged from the pocket P by the discharge means 15 at the discharge position C in such a state that the temperature is lowered to room temperature.
At that time, the control means 8 distributes the discharge destination when the discharge means 15 discharges the LED elements 2 according to the quality of the quality inspection result by the inspection means 3 and the grade. More specifically, as the discharge destination by the discharge means 15, a plurality of classification bins (not shown) corresponding to the quality grade are arranged. And the discharge means 15 distributes the LED element 2 to a required classification bin according to the grade determined from the quality inspection result. One of the classification bins is a defective product collection bin, and the defective LED element 2 is distributed to the defective product collection bin.

以上のようにして、物品検査装置1は、インデックステーブル5の各ポケットP内にLED素子2を保持して間欠搬送しながら急加熱領域H1と検査領域H2において検査温度までLED素子2を昇温させてから検査手段3により品質検査を行う。ところで、物品検査装置1によるLED素子2の品質検査中において、何らかの原因によってインデックステーブル5が異常停止されることがある。このように、品質検査中にインデックステーブル5が異常停止されると、急加熱領域H1内に停止中の各LED素子2は、220℃で加熱中のヒーター11の熱によって損傷するおそれがある。そこで、本実施例においては、このようなインデックステーブル5の異常停止時において、上記急加熱領域H1内に停止中のLED素子2がヒーター11によって過熱されて損傷するのを防止するようにしたものである。   As described above, the article inspection apparatus 1 raises the LED element 2 to the inspection temperature in the rapid heating region H1 and the inspection region H2 while holding the LED element 2 in each pocket P of the index table 5 and intermittently transporting it. After that, the quality inspection is performed by the inspection means 3. By the way, during the quality inspection of the LED element 2 by the article inspection apparatus 1, the index table 5 may be abnormally stopped for some reason. Thus, when the index table 5 is abnormally stopped during the quality inspection, each LED element 2 stopped in the rapid heating region H1 may be damaged by the heat of the heater 11 being heated at 220 ° C. Therefore, in this embodiment, when the index table 5 is abnormally stopped, the stopped LED element 2 in the rapid heating region H1 is prevented from being overheated and damaged by the heater 11. It is.

すなわち、図3に示すように、急加熱領域H1の固定テーブル4における環状段部4Bとその隣接内方側の箇所は、下面4D側が開放されて円周方向に伸びる空間部4Eとなっている。それにより、急加熱領域H1の固定テーブル4におけるLED素子2と摺接する上面4Aと環状段部4Bの内周面4Cの箇所は、肉厚が薄い搬送部4Fとなっている。空間部4Eよりも半径方向内方となる回転軸7側の箇所は肉厚が厚い基部4Gとなっている。換言すると、急加熱領域H1における固定テーブル4は、インデックステーブル5の回転中心側に厚肉の基部4Gを備えるとともに、その隣接外周側に基部4Gよりも厚さが薄い搬送部4Fを備えている。そして、基部4Gの下面が固定テーブル4の下面4Dとなっており、基部4G及び搬送部4Fの上面が固定テーブル4の上面4Aとなっている。
したがって、前述したヒーター11が上昇位置に位置した際には、固定テーブル4の下面4Dである基部4Gの下面に接触するようになっている。また、その際には、搬送部4Fとそれに対向する位置のヒーター11の上面11Aとは離隔した状態となり、該ヒーター11の上面によって空間部4Eの下方開口部が閉鎖されるようになっている。
That is, as shown in FIG. 3, the annular step portion 4B and the adjacent inner side portion of the fixed table 4 in the rapid heating region H1 are space portions 4E that open in the lower surface 4D side and extend in the circumferential direction. . Thereby, the location of the upper surface 4A in sliding contact with the LED element 2 in the fixed table 4 in the rapid heating region H1 and the inner peripheral surface 4C of the annular step portion 4B is a conveyance portion 4F having a small thickness. A portion on the rotating shaft 7 side that is radially inward of the space 4E is a thick base 4G. In other words, the fixed table 4 in the rapid heating region H1 includes a thick base portion 4G on the rotation center side of the index table 5, and a transport portion 4F that is thinner than the base portion 4G on the adjacent outer peripheral side thereof. . The lower surface of the base 4G is the lower surface 4D of the fixed table 4, and the upper surfaces of the base 4G and the transport unit 4F are the upper surface 4A of the fixed table 4.
Therefore, when the heater 11 described above is positioned at the raised position, the heater 11 comes into contact with the lower surface of the base portion 4G which is the lower surface 4D of the fixed table 4. At that time, the transport section 4F is separated from the upper surface 11A of the heater 11 at a position opposite to the transport section 4F, and the lower opening of the space 4E is closed by the upper surface of the heater 11. .

そして、図2ないし図3に示すように、本実施例においては、上記空間部4E内の円周方向複数箇所に搬送部4Fに向けて冷却ノズル16が配置されている。各冷却ノズル16は固定テーブル4の外周部に傾斜させた状態で固設されており、それによって、各冷却ノズル16の先端部は搬送部4Fの下面に近接した位置に支持されている。他方、各冷却ノズル16の基部は導管21に接続されており、この導管21にエアが給送されると、各冷却ノズル16から搬送部4Fにエアが吹き付けられるようになっている。
この導管21の上流端21Aは常温のエアを供給するポンプ22に接続される一方、導管21の下流端21Bは上記供給位置Bにおいて半径方向外方に向けて開放されている。ポンプ22の下流側となる導管21にはコルダーからなる冷却エア発生手段23が設けられている。
冷却エア発生手段23の下流側となる導管21は、冷却領域C1の固定テーブル4内を搬送経路に沿って1往復折り返して配置されており、その折り返された領域が予備冷却部21Cとなっている。この予備冷却部21Cは、LED素子2の品質検査中においては、ペルチェ素子13によって固定テーブル4とともに冷却されるようになっている。そのため、予備冷却部21C内に介在するエアは、品質検査中において10℃程度まで予め冷却されるようになっている。さらに、その予備冷却部21Cよりも下流側となる導管21は、冷却領域C1の固定テーブル4の外周部から外方へ突出させてから固定テーブル4の外周部に沿って配置され、その状態で固定テーブル4に固定されている。そして、前述したように、急加熱領域H1における導管21に上記複数の冷却ノズル16の基部が接続されている。
上記ポンプ22及び冷却エア発生手段23は、制御手段8によって作動を制御されるようになっており、前述した品質検査中においてインデックステーブル5が正常に間欠作動している時にはポンプ22、冷却エア発生手段23は作動されないようになっている。
As shown in FIGS. 2 to 3, in this embodiment, cooling nozzles 16 are arranged at a plurality of locations in the circumferential direction within the space 4 </ b> E toward the transport unit 4 </ b> F. Each cooling nozzle 16 is fixed in an inclined state on the outer peripheral portion of the fixed table 4, whereby the tip of each cooling nozzle 16 is supported at a position close to the lower surface of the transport section 4 </ b> F. On the other hand, the base of each cooling nozzle 16 is connected to a conduit 21, and when air is supplied to the conduit 21, the air is blown from each cooling nozzle 16 to the transport unit 4 </ b> F.
The upstream end 21A of the conduit 21 is connected to a pump 22 that supplies air at room temperature, while the downstream end 21B of the conduit 21 is opened radially outward at the supply position B. The conduit 21 on the downstream side of the pump 22 is provided with cooling air generating means 23 made of a corder.
The conduit 21 on the downstream side of the cooling air generating means 23 is arranged so as to be folded back and forth once along the transport path in the fixed table 4 in the cooling region C1, and the folded region serves as a preliminary cooling unit 21C. Yes. The preliminary cooling unit 21 </ b> C is cooled together with the fixed table 4 by the Peltier element 13 during the quality inspection of the LED element 2. Therefore, the air intervening in the preliminary cooling unit 21C is cooled in advance to about 10 ° C. during the quality inspection. Further, the conduit 21 on the downstream side of the preliminary cooling part 21C is arranged along the outer peripheral part of the fixed table 4 after projecting outward from the outer peripheral part of the fixed table 4 in the cooling region C1. It is fixed to the fixed table 4. As described above, the bases of the plurality of cooling nozzles 16 are connected to the conduit 21 in the rapid heating region H1.
The operation of the pump 22 and the cooling air generating means 23 is controlled by the control means 8, and when the index table 5 is normally intermittently operated during the above-described quality inspection, the pump 22 and the cooling air are generated. The means 23 are not activated.

そして、この物品検査装置1によりLED素子2の品質検査が開始されると、制御手段8は図示しない昇降機構によってヒーター11を上昇端位置まで上昇させるとともにヒーター11を作動させる。他方、ポンプ22、冷却エア発生手段23は作動されていない。そのため、固定テーブル4の下面4D(基部4Gの下面)にヒーター11の上面11Aが接触しており、しかも、上記空間部4Eの下方開口部はヒーター11の上面11Aによって閉鎖される。なお、ポンプ22と冷却エア発生手段23は作動されていないので、冷却ノズル16からはエアは噴出されていない。この状態において、上述したようにインデックステーブル5の各ポケットPによってLED素子2が間欠搬送されることにより、急加熱領域H1においてLED素子2が検査温度まで昇温されてから検査位置Aに搬入されて検査手段3による品質検査が行われるようになっている。   When the quality inspection of the LED element 2 is started by the article inspection apparatus 1, the control means 8 raises the heater 11 to the rising end position and activates the heater 11 by an elevator mechanism (not shown). On the other hand, the pump 22 and the cooling air generating means 23 are not operated. Therefore, the upper surface 11A of the heater 11 is in contact with the lower surface 4D (the lower surface of the base portion 4G) of the fixed table 4, and the lower opening of the space portion 4E is closed by the upper surface 11A of the heater 11. In addition, since the pump 22 and the cooling air generating means 23 are not operated, air is not ejected from the cooling nozzle 16. In this state, as described above, the LED elements 2 are intermittently conveyed by the respective pockets P of the index table 5, so that the LED elements 2 are heated up to the inspection temperature in the rapid heating region H <b> 1 and then carried into the inspection position A. Thus, quality inspection by the inspection means 3 is performed.

一方、LED素子2の品質検査中において何らかの原因でインデックステーブル5が異常停止された場合には、制御手段8は、ポンプ22と冷却エア発生手段23を作動させるとともに、昇降機構を介してヒーター11を下降端の位置まで下降させて、固定テーブル4からヒーター11を離隔させる。
このようにヒーター11が固定テーブル4から離隔されるので、ヒーター11の熱は固定テーブル4に伝熱されなくなる。また、ポンプ22が作動されることにより、導管21を介してポンプ22から給送されたエアが各冷却ノズル16から空間部4E内の搬送部4Fに向けて噴射される。ここで、品質検査中においては、冷却領域C1のペルチェ素子13によって予備冷却部21C内のエアは予め冷却されている。そのため、ポンプ22が作動されると、上記予備冷却部21C内で冷却されていた10℃程度のエアが冷却ノズル16から搬送部4Fに直ちに噴射されるとともに、その後、冷却エア発生手段23によって発生した冷たいエアが冷却ノズル16から継続して噴射される。そのため、急加熱領域H1内の搬送部4Fが急激に冷却され、該搬送部4F上に支持されている複数のLED素子2が急激に冷却される。そのため、急加熱領域H1内で停止中のLED素子2がヒーター11の熱によって損傷することを効率的に抑制することができる。
以上の説明から明らかなように、本実施例においては、上記複数の冷却ノズル16、導管21、ポンプ22及び冷却エア発生手段23とによって上記急加熱領域H1内のLED素子2を所要時に冷却する冷却手段が構成されている。
On the other hand, when the index table 5 is abnormally stopped for some reason during the quality inspection of the LED element 2, the control means 8 operates the pump 22 and the cooling air generation means 23, and the heater 11 via the lifting mechanism. Is lowered to the position of the lowering end, and the heater 11 is separated from the fixed table 4.
Since the heater 11 is thus separated from the fixed table 4, the heat of the heater 11 is not transferred to the fixed table 4. In addition, when the pump 22 is operated, the air fed from the pump 22 through the conduit 21 is jetted from the respective cooling nozzles 16 toward the transport unit 4F in the space 4E. Here, during the quality inspection, the air in the preliminary cooling unit 21C is cooled in advance by the Peltier element 13 in the cooling region C1. Therefore, when the pump 22 is operated, air of about 10 ° C. cooled in the preliminary cooling unit 21C is immediately injected from the cooling nozzle 16 to the transport unit 4F, and thereafter generated by the cooling air generating means 23. The cooled air is continuously ejected from the cooling nozzle 16. Therefore, the transport unit 4F in the rapid heating region H1 is rapidly cooled, and the plurality of LED elements 2 supported on the transport unit 4F are rapidly cooled. Therefore, it is possible to efficiently suppress the LED element 2 that is stopped in the rapid heating region H <b> 1 from being damaged by the heat of the heater 11.
As is apparent from the above description, in the present embodiment, the LED elements 2 in the rapid heating region H1 are cooled when necessary by the plurality of cooling nozzles 16, the conduit 21, the pump 22, and the cooling air generating means 23. A cooling means is configured.

以上のように、本実施例においては、LED素子2の品質検査中においてインデックステーブル5が異常停止した際に、ヒーター11を下降させて固定テーブル4から離隔させるとともに、上記各冷却ノズル16から冷却用のエアを搬送部4Fに向けて噴射するようになっている。これにより、搬送部4Fを急速に冷却させて、急加熱領域H1に停止中のLED素子2を検査温度200℃以下の温度まで急速に冷却させることができる。そのため、ヒーター11によってLED素子2が加熱される品質検査中に、何らかの原因でインデックステーブル5が異常停止した場合においても、急加熱領域H1内に停止した各LED素子2がヒーター11によって過熱されるのを抑制して、各LED素子2が破損する可能性を低減させることができる。   As described above, in this embodiment, when the index table 5 abnormally stops during the quality inspection of the LED element 2, the heater 11 is lowered and separated from the fixed table 4, and the cooling nozzles 16 are cooled. The air for use is jetted toward the transport unit 4F. Thereby, the conveyance part 4F can be cooled rapidly and the LED element 2 stopped in the rapid heating area | region H1 can be rapidly cooled to the temperature of 200 degrees C or less of test | inspection temperature. Therefore, even when the index table 5 abnormally stops for some reason during the quality inspection in which the LED element 2 is heated by the heater 11, each LED element 2 stopped in the rapid heating region H1 is overheated by the heater 11. The possibility that each LED element 2 is damaged can be reduced.

なお、上記実施例においては、昇降機構によってヒーター11を昇降可能として、品質検査中においてはヒーター11を上昇させて固定テーブル4に接触させ、インデックステーブル5の異常停止時にはヒーター11を下降させるように構成しているが、ヒーター11としては非接触式のものを採用しても良い。つまり、ヒーター11としては、赤外線等の輻射熱を用いたヒーターを採用することができる。この場合においては、インデックステーブル5の異常停止の際にはヒーター11を単に停止させるだけでよい。
また、上記実施例における冷却ノズル16の代わりに、固定テーブル4内に冷却用水を流通させるパイプを配設しても良い。但し、この場合には、パイプ内に冷却用水が流通するまでに時間が掛かるので、冷却効果としては上述した常温のエアを空間部4E内に噴射させる構成の方が優れている。
また、上述した実施例では、インデックステーブル5の外周部に切欠き部からなる複数のポケットPが形成されているが、各ポケットPにLED素子2を支持するための底面を設けて、該底面に支持した状態のLED素子2をヒーター11で加熱するようにしても良い。また、インデックステーブル5のポケットPとしては、LED素子2を保持可能であって、かつヒーター11からの熱をLED素子2に伝熱可能であれば、どのような構成であってもよい。
In the above embodiment, the heater 11 can be moved up and down by the lifting mechanism so that the heater 11 is raised and brought into contact with the fixed table 4 during quality inspection, and the heater 11 is lowered when the index table 5 is abnormally stopped. Although configured, the heater 11 may be a non-contact type. That is, as the heater 11, a heater using radiant heat such as infrared rays can be employed. In this case, the heater 11 may be simply stopped when the index table 5 is abnormally stopped.
Moreover, you may arrange | position the pipe which distribute | circulates the water for cooling in the fixed table 4 instead of the cooling nozzle 16 in the said Example. However, in this case, since it takes time until the cooling water circulates in the pipe, the above-described configuration in which the above-described room temperature air is injected into the space 4E is superior.
Further, in the embodiment described above, a plurality of pockets P formed of notches are formed on the outer peripheral portion of the index table 5, but a bottom surface for supporting the LED element 2 is provided in each pocket P. The LED element 2 in a state of being supported by the heater 11 may be heated by the heater 11. Further, the pocket P of the index table 5 may have any configuration as long as the LED element 2 can be held and heat from the heater 11 can be transferred to the LED element 2.

さらに、上述した実施例においては、急加熱領域H1の隣接下流側に検査領域H2を設けるとともに該検査領域H2内に検査位置Aを設けていたが、検査領域H2の隣接下流側(検査領域H2の外部)に検査位置Aを設けても良い。また、上述した検査領域H2を省略して、上記急加熱領域H1の隣接下流側の箇所に検査位置Aを設定するようにしても良い。なお、検査時点で検査温度になっていれば良いので、検査位置Aは急加熱領域H1の下流側端部にあっても良い。このような構成であっても、検査温度までLED素子2を昇温させた状態において検査位置Aで品質検査を行うことができ、かつ、インデックステーブル5の異常停止時においては上述した実施例と同様の効果を得ることができる。しかも、検査領域H2を省略し、急加熱領域H1の隣接下流側の箇所に検査位置Aを設定した構成を採用すると、検査領域H2を省略する分だけ、物品検査装置1全体を小型化することが可能である。   Further, in the above-described embodiment, the inspection region H2 is provided on the downstream side adjacent to the rapid heating region H1 and the inspection position A is provided in the inspection region H2. However, the downstream side (inspection region H2 adjacent to the inspection region H2). The inspection position A may be provided on the outside). Further, the above-described inspection region H2 may be omitted, and the inspection position A may be set at a location on the adjacent downstream side of the rapid heating region H1. The inspection position A may be at the downstream end of the rapid heating region H1, as long as the inspection temperature is reached at the time of inspection. Even with such a configuration, the quality inspection can be performed at the inspection position A in a state where the LED element 2 is heated to the inspection temperature, and when the index table 5 is abnormally stopped, Similar effects can be obtained. In addition, if the configuration in which the inspection area H2 is omitted and the inspection position A is set at a location on the adjacent downstream side of the rapid heating area H1 is adopted, the entire article inspection apparatus 1 can be reduced in size by the amount of the inspection area H2. Is possible.

1‥物品検査装置 2‥LED素子(物品)
3‥検査手段 4‥固定テーブル
5‥インデックステーブル(搬送手段) P‥ポケット
11‥ヒーター(急加熱手段) 16‥冷却ノズル(冷却手段)
A‥検査位置 H1‥急加熱領域
1. Product inspection device 2. LED element (article)
3 ... Inspection means 4 ... Fixed table 5 ... Index table (conveyance means) P ... Pocket 11 ... Heater (rapid heating means) 16 ... Cooling nozzle (cooling means)
A ... Inspection position H1 ... Rapid heating area

Claims (3)

固定テーブルと、上記固定テーブル上に設けられるとともに複数のポケット内に物品を保持して間欠的に搬送する搬送手段と、上記搬送手段によって搬送される物品の搬送経路上となる検査位置において物品の品質検査を行う検査手段と、上記搬送手段によって搬送される物品の温度を所定の検査温度まで昇温させる加熱手段とを備え、上記搬送手段によって物品を搬送し、上記加熱手段によって物品が加熱される加熱領域を通過させることにより、上記検査温度となった物品を上記検査手段により品質検査を行うようにした物品検査装置において、
上記加熱手段は、上記加熱領域の少なくとも一部において上記検査温度よりも高温で物品を加熱する急加熱手段を有し、さらに、所要時に上記急加熱手段によって上記物品が加熱される急加熱領域の固定テーブルに冷却流体を噴射する冷却手段を設け、上記搬送手段が異常停止した際に上記冷却手段から冷却流体を噴射することにより、上記固定テーブルを介して上記急加熱領域で停止する物品を冷却することを特徴とする物品検査装置。
A fixed table; a conveying means that is provided on the fixed table and holds the article in a plurality of pockets and intermittently conveys; and an inspection position on the conveyance path of the article conveyed by the conveying means. Inspection means for performing quality inspection, and heating means for raising the temperature of the article conveyed by the conveying means to a predetermined inspection temperature. The article is conveyed by the conveying means, and the article is heated by the heating means. In an article inspection apparatus in which a quality inspection is performed by the inspection means on an article that has reached the inspection temperature by passing through a heating region.
The heating means includes a rapid heating means for heating the article at a temperature higher than the inspection temperature in at least a part of the heating area, and further includes a rapid heating area in which the article is heated by the rapid heating means when necessary. Cooling means for injecting a cooling fluid is provided on the fixed table, and the article stopped in the rapid heating region is cooled via the fixed table by injecting the cooling fluid from the cooling means when the conveying means stops abnormally. An article inspection apparatus.
上記搬送手段は、外周部にポケットが設けられた回転体を有し、該回転体を駆動手段により回転させることにより各ポケットに保持される物品を上記固定テーブルの上面に摺接させながら搬送するようになっており、上記急加熱領域の固定テーブルは、上記回転体の回転軸側となる基部と、この基部よりも厚さを薄く形成されるとともに上記基部よりも回転軸の外周部側において支持した物品と摺接する搬送部とを備え、上記冷却手段は、上記搬送部の下面に冷却気体を噴射する冷却ノズルを有することを特徴とする請求項1に記載の物品検査装置。   The conveying means includes a rotating body having a pocket provided on the outer peripheral portion, and conveys an article held in each pocket by sliding the rotating body by a driving means while being in sliding contact with the upper surface of the fixed table. The fixed table for the rapid heating region is formed on the base on the rotating shaft side of the rotating body, and on the outer peripheral side of the rotating shaft with respect to the base. The article inspection apparatus according to claim 1, further comprising: a conveyance unit that is in sliding contact with the supported article, wherein the cooling unit includes a cooling nozzle that injects a cooling gas onto a lower surface of the conveyance unit. 上記急加熱手段は、上記固定テーブルの基部の下面に接触して該固定テーブルを加熱する上昇位置と、上記固定テーブルの基部の下面から離隔して下方に退避した下降位置とに昇降可能になっており、上記固定テーブルは、上記急加熱手段が上昇位置で上記基部に接触した状態において、上記搬送部が所定の間隔をあけて当該急加熱手段に対向するように構成され、上記冷却ノズルは、上記固定テーブルの搬送部と上記上昇位置にある急加熱手段との間に固設されており、上記搬送手段が異常停止した際には、上記急加熱手段が上昇位置から下降位置へ下降されることを特徴とする請求項2に記載の物品検査装置。   The rapid heating means can be moved up and down to a raised position where the fixed table comes into contact with the lower surface of the base of the fixed table to heat the fixed table and a lowered position which is separated from the lower surface of the base of the fixed table and retreats downward. The fixed table is configured such that, in a state in which the rapid heating means is in contact with the base at the ascending position, the transport unit is opposed to the rapid heating means at a predetermined interval, and the cooling nozzle is The fixed table is fixed between the conveying section of the fixed table and the rapid heating means at the raised position. When the conveying means stops abnormally, the rapid heating means is lowered from the raised position to the lowered position. The article inspection apparatus according to claim 2.
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