JP2014044105A - Resistance measuring device and resistance measuring method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To report a comparison result between the value of resistance value data and a predetermined comparison value in a short time.SOLUTION: A resistance measuring device includes a measurement processing part (a measuring part 2 and a processing part 6) executing first processing for measuring a resistance value on a measuring object X, to generate resistance value data Dc and display the value of the resistance value data Dc on a display part 4 and second processing for comparing the value of the resistance value data Dc with a first comparison value and reporting the comparison result, when a predetermined start condition is satisfied. The measurement processing part executes the second processing by using the resistance value data Dc generated within a second time shorter than a first time, prior to the execution of the first processing by using the resistance value data Dc generated every predetermined first time and does not display that it is defective, when the value of the resistance value data Dc is less than the first comparison value, but displays that the measuring object X is good, when the value of the resistance value data Dc is the first comparison value or more, in the second processing.

Description

本発明は、測定対象についての電気的パラメータを測定して抵抗値データを生成すると共に、抵抗値データの値を表示部に表示させる第1の処理と、抵抗値データの値と予め規定された比較値とを比較して比較結果を報知する第2の処理とを実行する抵抗測定装置および抵抗測定方法に関するものである。   The present invention generates electrical resistance value data by measuring an electrical parameter of a measurement object, and at the same time, first processing for displaying the resistance value data value on the display unit, and the resistance value data value are defined in advance. The present invention relates to a resistance measuring apparatus and a resistance measuring method for executing a second process of comparing a comparison value and reporting a comparison result.

この種の抵抗測定装置および抵抗測定方法として、出願人は、絶縁抵抗計およびその絶縁抵抗計による絶縁抵抗値の測定方法を特開2000−214194号公報に開示している。この絶縁抵抗計による絶縁抵抗値の測定に際しては、まず、被測定電気機器(測定対象)に一対のプローブを接触させた状態において、測定開始を指示するための測定レバーをオン操作する。この際には、測定電圧発生部から被測定電気機器に定格測定電圧が印加されると共に、その状態において被測定電気機器を流れる電流が電流検出部によって検出される。また、印加電圧および検出電流がA/D変換部によってそれぞれディジタルデータに変換されると共に、A/D変換部から出力された電圧データおよび電流データに基づいてCPUによって被測定電気機器の絶縁抵抗値が算出される。これにより、CPUの演算結果(絶縁抵抗値)が表示部の測定値表示領域に表示される。   As this type of resistance measuring apparatus and resistance measuring method, the applicant has disclosed an insulation resistance meter and a method for measuring an insulation resistance value using the insulation resistance meter in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-214194. When measuring the insulation resistance value with this insulation resistance meter, first, the measurement lever for instructing the start of measurement is turned on in a state where the pair of probes are in contact with the electric device to be measured (measurement object). At this time, a rated measurement voltage is applied from the measurement voltage generator to the electrical device to be measured, and the current flowing through the electrical device to be measured is detected by the current detector in that state. In addition, the applied voltage and the detected current are converted into digital data by the A / D converter, respectively, and the insulation resistance value of the electrical device to be measured by the CPU based on the voltage data and current data output from the A / D converter. Is calculated. Thereby, the calculation result (insulation resistance value) of CPU is displayed on the measured value display area of a display part.

また、この絶縁抵抗計では、上記の測定処理と同様の手順に従って測定した測定値と、予め規定された基準値とを比較して比較結果を報知することができるように構成されている。具体的には、コンパレータボタンが操作されたときに、CPUは、コンパレータ処理(比較処理)を実行している旨を報知する「COMP」とのマークを表示部に表示させると共に、記憶手段から基準値を読み出してその値を基準値表示領域に表示させる。次いで、測定レバーをオン操作する。この際には、上記の測定処理と同様の手順に従って被測定電気機器の絶縁抵抗値が測定されると共に、その測定値と基準値との大小関係が比較される。この場合、測定値が基準値以上のとき(測定された絶縁抵抗値が基準の絶縁抵抗値以上のとき)には、表示部のLoHi表示領域に「Hi」とのマークが表示される。一方、測定値よりも基準値の方が大きいとき(測定された絶縁抵抗値が基準の絶縁抵抗値よりも小さいとき)には、LoHi表示領域に「Lo」とのマークが表示されると共に、ブザーが鳴動する。これにより、被測定電気機器が所望の絶縁状態となっているかをオペレータに認識させることができる。   In addition, this insulation resistance meter is configured to be able to notify a comparison result by comparing a measured value measured in accordance with the same procedure as the above measurement process and a predetermined reference value. Specifically, when the comparator button is operated, the CPU displays a mark “COMP” for notifying that the comparator process (comparison process) is being performed on the display unit, and also from the storage means. The value is read out and displayed in the reference value display area. Next, the measurement lever is turned on. At this time, the insulation resistance value of the electric device to be measured is measured according to the same procedure as the above measurement process, and the magnitude relationship between the measured value and the reference value is compared. In this case, when the measured value is greater than or equal to the reference value (when the measured insulation resistance value is greater than or equal to the reference insulation resistance value), a mark “Hi” is displayed in the LoHi display area of the display unit. On the other hand, when the reference value is larger than the measured value (when the measured insulation resistance value is smaller than the reference insulation resistance value), a mark “Lo” is displayed in the LoHi display area, The buzzer sounds. Thereby, an operator can be made to recognize whether the to-be-measured electric equipment is a desired insulation state.

特開2000−214194号公報(第3−5頁、第1−5図)JP 2000-214194 A (page 3-5, FIG. 1-5)

しかしながら、出願人が開示している絶縁抵抗計およびその抵抗測定方法には、以下の改善すべき課題が存在する。すなわち、出願人が開示している絶縁抵抗計およびその抵抗測定方法では、コンパレータ処理に際して、被測定電気機器の絶縁抵抗値を測定するための測定処理と同様の手順に従って測定した絶縁抵抗値(測定値)と基準値との大小関係を比較している。この場合、この種の絶縁抵抗計において被測定電気機器の絶縁抵抗値を正確に測定するためには、被測定電気機器に印加する定格測定電圧のふらつきや、測定される電流のふらつきなどの影響を排除するために様々な処理を実行する必要がある。このため、処理を開始してから、比較すべき測定値の基となる電圧データおよび電流データがA/D変換部から出力されるまでにある程度長い時間を要する。したがって、単に、被測定電気機器が所望の絶縁状態となっているかを知りたいだけであっても、コンパレータ処理の結果(判定結果)が報知されるまでに長い時間を要するため、この点を改善するのが好ましい。   However, the insulation resistance meter and the resistance measurement method disclosed by the applicant have the following problems to be improved. In other words, in the insulation resistance meter and the resistance measurement method disclosed by the applicant, the insulation resistance value measured according to the same procedure as the measurement process for measuring the insulation resistance value of the electrical device under measurement during the comparator process (measurement) Value) and the reference value. In this case, in order to accurately measure the insulation resistance value of the electrical device under measurement in this type of insulation resistance meter, the influence of fluctuations in the rated measurement voltage applied to the electrical device under measurement, fluctuations in the measured current, etc. In order to eliminate this, it is necessary to execute various processes. For this reason, it takes a certain amount of time from the start of processing until the voltage data and current data, which are the basis of the measured values to be compared, are output from the A / D converter. Therefore, even if you just want to know if the electrical device under test is in the desired insulation state, it takes a long time to notify the result of the comparator process (judgment result), which improves this point. It is preferable to do this.

本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、抵抗値データの値と予め規定された比較値との比較結果を短時間で報知し得る抵抗測定装置および抵抗測定方法を提供することを主目的とする。   The present invention has been made in view of the problems to be improved, and provides a resistance measuring device and a resistance measuring method capable of notifying a comparison result between a value of resistance value data and a predetermined comparison value in a short time. The main purpose is to do.

上記目的を達成すべく、請求項1記載の抵抗測定装置は、予め規定された開始条件が満たされたときに、測定対象についての物理量としての抵抗値を測定して抵抗値データを生成すると共に、前記抵抗値データの値を表示部に表示させる第1の処理、および前記抵抗値データの値と第1の比較値とを比較して比較結果を報知する第2の処理を実行する測定処理部を備えた抵抗測定装置であって、前記測定処理部は、予め規定された第1の時間毎に生成した前記抵抗値データを用いての前記第1の処理の実行に先立ち、当該第1の時間よりも短い第2の時間内で生成した前記抵抗値データを用いて前記第2の処理を実行し、当該第2の処理において、前記抵抗値データの値が前記第1の比較値未満のときには、不良の旨を表示させずに、前記抵抗値データの値が前記第1の比較値以上のときには、前記測定対象が良好である旨の表示をする。   In order to achieve the above object, the resistance measuring apparatus according to claim 1 generates resistance value data by measuring a resistance value as a physical quantity for a measurement target when a predetermined start condition is satisfied. A first process for displaying the value of the resistance value data on a display unit, and a measurement process for executing a second process for comparing the value of the resistance value data with the first comparison value and notifying the comparison result The measurement processing unit includes a first measurement unit that executes the first process using the resistance value data generated every predetermined first time. The second processing is executed using the resistance value data generated within a second time shorter than the first time, and in the second processing, the value of the resistance value data is less than the first comparison value. In the case of When the value of the value data is equal to or greater than the first comparative value, to displays that the measurement target is good.

また、請求項2記載の抵抗測定装置は、請求項1記載の抵抗測定装置において、前記測定処理部は、前記第1の処理において前記表示部に表示させた前記抵抗値データの値と前記第1の比較値よりも小さな値に規定されている第2の比較値とを比較し、前記抵抗値データの値が前記第2の比較値以上のときには、前記測定対象が良好である旨を報知し、前記抵抗値データの値が前記第2の比較値未満のときには、前記測定対象が不良である旨を報知する第3の処理を前記第1の処理の後に実行する。   The resistance measuring device according to claim 2 is the resistance measuring device according to claim 1, wherein the measurement processing unit includes the value of the resistance value data displayed on the display unit in the first processing and the first value. A comparison is made with a second comparison value defined as a value smaller than the comparison value of 1, and when the value of the resistance value data is equal to or greater than the second comparison value, the fact that the measurement object is good is notified. When the value of the resistance value data is less than the second comparison value, a third process for notifying that the measurement target is defective is executed after the first process.

また、請求項3記載の抵抗測定装置は、請求項2記載の抵抗測定装置において、前記測定処理部は、前記第3の処理の実行に先立ち、前記測定対象が有する容量に対する充電を完了しているか否かを判定する充電状態判定処理を実行し、当該充電状態判定処理において前記容量に対する充電を完了していないと判定したときには、前記第3の処理を実行せずに、当該充電状態判定処理において前記容量に対する充電を完了していると判定したときには、前記第3の処理を実行する。   Further, the resistance measuring device according to claim 3 is the resistance measuring device according to claim 2, wherein the measurement processing unit completes charging of the capacity of the measurement object prior to execution of the third processing. A charge state determination process for determining whether or not charging is performed, and when it is determined that charging for the capacity is not completed in the charge state determination process, the charge state determination process is performed without executing the third process. When it is determined that the charging for the capacity is completed, the third process is executed.

また、請求項4記載の抵抗測定装置は、請求項3記載の抵抗測定装置において、前記測定処理部は、前記充電状態判定処理において前記第1の時間毎に生成したN番目(Nは、2以上の自然数)の前記抵抗値データの値と前記第1の時間毎に生成した(N−1)番目の前記抵抗値データの値とを比較し、前記N番目の前記抵抗値データの値が前記(N−1)番目の前記抵抗値データの値未満とする第1条件、および前記(N−1)番目の前記抵抗値データの値に対して前記N番目の前記抵抗値データの値の増加率が予め規定された所定率以下とする第2条件のうちの予め規定された少なくとも一方の条件を満たしたときには、前記容量に対する充電が完了していると判定し、前記少なくとも一方の条件を満たしていないときには、前記容量に対する充電が完了していないと判定する。   The resistance measuring device according to claim 4 is the resistance measuring device according to claim 3, wherein the measurement processing unit generates the Nth (N is 2) generated at the first time in the charging state determination processing. The value of the resistance value data of the above natural number) is compared with the value of the (N−1) th resistance value data generated every first time, and the value of the Nth resistance value data is A first condition that is less than a value of the (N−1) th resistance value data, and a value of the Nth resistance value data relative to a value of the (N−1) th resistance value data. When at least one of the second conditions of the second condition that causes the increase rate to be equal to or less than the predetermined rate is satisfied, it is determined that charging for the capacity is complete, and the at least one condition is When it does not meet, Determines that the charging that has not been completed.

また、請求項5記載の抵抗測定装置は、請求項3または4記載の抵抗測定装置において、前記測定処理部は、前記充電状態判定処理において前記容量に対する充電を完了しない状態が予め規定した時間を継続したと判定したときには、当該充電状態判定処理を終了して前記第3の処理を実行する。   Further, the resistance measuring device according to claim 5 is the resistance measuring device according to claim 3 or 4, wherein the measurement processing unit sets a predetermined time when the charging to the capacity is not completed in the charging state determination processing. When it determines with having continued, the said charge condition determination process is complete | finished and the said 3rd process is performed.

また、請求項6記載の測定装置は、請求項1から5のいずれかに記載の抵抗測定装置において、前記測定処理部は、前記第2の処理時に前記第1の比較値と比較した前記抵抗値データの値を前記表示部に表示させずに、前記第1の処理によって前記抵抗値データの値を表示させるまで当該抵抗値データの値の非表示状態を維持する。   Moreover, the measurement apparatus according to claim 6 is the resistance measurement apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the measurement processing unit compares the resistance with the first comparison value during the second process. Without displaying the value data value on the display unit, the resistance value data value is not displayed until the resistance value data value is displayed by the first processing.

また、請求項7記載の抵抗測定方法は、予め規定された開始条件が満たされたときに、測定対象についての物理量としての抵抗値を測定して抵抗値データを生成すると共に、前記抵抗値データの値を表示部に表示させる第1の処理、および前記抵抗値データの値と第1の比較値とを比較して比較結果を報知する第2の処理を実行する抵抗測定方法であって、予め規定された第1の時間毎に生成した前記抵抗値データを用いての前記第1の処理の実行に先立ち、当該第1の時間よりも短い第2の時間内で生成した前記抵抗値データを用いて前記第2の処理を実行し、当該第2の処理において、前記抵抗値データの値が前記第1の比較値未満のときには、不良の旨を表示させずに、前記抵抗値データの値が前記第1の比較値以上のときには、前記測定対象が良好である旨の表示をする。   According to a seventh aspect of the present invention, there is provided the resistance measurement method, wherein when a predetermined start condition is satisfied, a resistance value as a physical quantity for the measurement target is measured to generate resistance value data, and the resistance value data A resistance measurement method for executing a first process for displaying a value of the first value on a display unit and a second process for comparing the value of the resistance value data with a first comparison value and notifying a comparison result, Prior to the execution of the first process using the resistance value data generated every predetermined first time, the resistance value data generated within a second time shorter than the first time. In the second process, when the value of the resistance value data is less than the first comparison value, the fact that the resistance value data is not displayed is displayed. When the value is greater than or equal to the first comparison value, A constant target for the display of that is good.

請求項1記載の抵抗測定装置、および請求項7記載の抵抗測定方法によれば、予め規定された第1の時間毎に生成した抵抗値データを用いてその値を表示部に表示させる第1の処理の実行に先立ち、第1の時間よりも短い第2の時間内で生成した抵抗値データを用いてその値と第1の比較値とを比較して比較結果を報知する第2の処理を実行することにより、正確な抵抗値を表示させるために長い測定時間を要する第1の処理を開始する前に、十分に短い測定時間内に生成した抵抗値データと第1の比較値との比較結果が表示部に短時間で表示されるため、比較結果を短時間で認識させることができる。この場合、例えば、測定対象が容量を有する容量性負荷のときには、測定対象自体が良品であったとしても、その容量が充電されるまでの間は測定対象の抵抗値を正確に測定することができないこともある。したがって、この抵抗測定装置およびこの抵抗測定方法によれば、第2の処理において、抵抗値データの値が第1の比較値未満のときに不良の旨を表示しないことにより、測定時間が短いことに起因して良品の測定対象を不良判定とする誤った比較結果が表示部に表示されることを回避することができる結果、オペレータに対して正確な比較結果を認識させることができる。   According to the resistance measuring apparatus according to claim 1 and the resistance measuring method according to claim 7, the resistance value data generated every predetermined first time is used to display the value on the display unit. Prior to the execution of the process, the second process of notifying the comparison result by comparing the value with the first comparison value using the resistance value data generated within the second time shorter than the first time. Before starting the first process that requires a long measurement time to display an accurate resistance value, the resistance value data generated within a sufficiently short measurement time and the first comparison value Since the comparison result is displayed on the display unit in a short time, the comparison result can be recognized in a short time. In this case, for example, when the measurement target is a capacitive load having a capacity, even if the measurement target itself is a non-defective product, the resistance value of the measurement target can be accurately measured until the capacity is charged. There are things you can't do. Therefore, according to the resistance measuring apparatus and the resistance measuring method, in the second process, when the resistance data value is less than the first comparison value, the fact that the defect is not displayed is displayed, so that the measurement time is short. As a result, it is possible to avoid an erroneous comparison result in which a non-defective measurement target is determined to be defective from being displayed on the display unit, so that the operator can recognize an accurate comparison result.

また、請求項2記載の抵抗測定装置によれば、第1の処理において表示部に表示させた抵抗値データの値と第2の比較値とを比較して比較結果を報知する第3の処理を第1の処理の後に実行することにより、十分に長い測定時間内に測定された正確な抵抗値データを用いた正確な比較結果をオペレータに認識させることができる。   According to the resistance measuring apparatus of the second aspect, the third process for comparing the resistance value data displayed on the display unit in the first process with the second comparison value and notifying the comparison result. Is executed after the first processing, the operator can recognize an accurate comparison result using accurate resistance value data measured within a sufficiently long measurement time.

また、請求項3記載の抵抗測定装置によれば、測定処理部が、充電状態判定処理において、測定対象が有する容量に対する充電を完了しているか否かを判定し、容量に対する充電を完了していると判定したときに第3の処理を実行することにより、仮に、測定対象が容量性負荷であって、その容量が大きいときであっても、その容量に対する充電の未完了に起因する不良判定を行うことを回避することができる結果、正確な判定を行うことができる。   According to the resistance measuring device of claim 3, the measurement processing unit determines whether or not the charging for the capacity of the measurement target is completed in the charging state determination process, and completes the charging for the capacity. If the measurement object is a capacitive load and the capacity is large, it is possible to determine the failure due to the incomplete charging of the capacity. As a result, it is possible to avoid making an accurate determination.

また、請求項4記載の抵抗測定装置によれば、第1の時間毎に生成したN番目の抵抗値データの値と第1の時間毎に生成した(N−1)番目の抵抗値データの値とを比較することにより、測定対象が有する容量に対して充電が完了しているか否かを確実に判定することができる。   According to the resistance measuring device of the fourth aspect, the value of the Nth resistance value data generated every first time and the value of the (N−1) th resistance value data generated every first time. By comparing the value, it can be reliably determined whether or not charging is completed for the capacity of the measurement target.

さらに、請求項5記載の抵抗測定装置によれば、測定処理部が、充電状態判定処理において測定対象が有する容量に対する充電を完了しない状態が予め規定した時間を継続したと判定したときには、充電状態判定処理を終了して第3の処理を実行することにより、長時間に亘って比較結果が表示されないという事態を回避することができる。   Furthermore, according to the resistance measuring device of claim 5, when the measurement processing unit determines that the state in which charging for the capacity of the measurement target in the charging state determination process is not completed continues for a predetermined time, the charging state By terminating the determination process and executing the third process, a situation in which the comparison result is not displayed for a long time can be avoided.

また、請求項6記載の抵抗測定装置によれば、第2の処理時に第1の比較値と比較した抵抗値データの値を表示部に表示させずに第1の処理によって抵抗値データの値を表示させるまで抵抗値データの値の非表示状態を維持することにより、測定時間が短いことに起因して不正確となる可能性がある抵抗値データの値が表示部に表示されて不正確な値がオペレータによって認識される事態を好適に回避することができる。   According to the resistance measuring apparatus of the sixth aspect, the value of the resistance value data by the first process without displaying the value of the resistance value data compared with the first comparison value at the time of the second process on the display unit. By maintaining the non-display state of the resistance value value until the value is displayed, the resistance value value that may be inaccurate due to the short measurement time is displayed on the display unit and is inaccurate. It is possible to suitably avoid a situation where a correct value is recognized by the operator.

絶縁抵抗計1の構成図である。1 is a configuration diagram of an insulation resistance meter 1. FIG. 絶縁抵抗計1において実行される絶縁抵抗測定処理10のフローチャートである。It is a flowchart of the insulation resistance measurement process 10 performed in the insulation resistance meter 1. FIG. 絶縁抵抗測定処理10における比較処理A20のフローチャートである。10 is a flowchart of a comparison process A20 in the insulation resistance measurement process 10. 絶縁抵抗測定処理10における比較処理B30のフローチャートである。12 is a flowchart of a comparison process B30 in the insulation resistance measurement process 10.

以下、添付図面を参照して、抵抗測定装置および抵抗測定方法の実施の形態について説明する。   Hereinafter, embodiments of a resistance measuring device and a resistance measuring method will be described with reference to the accompanying drawings.

図1に示す絶縁抵抗計1は、「抵抗測定装置」の一例であって、測定対象Xにおける任意の2点間の絶縁抵抗値を測定可能に構成されている。具体的には、絶縁抵抗計1は、測定部2、操作部3、表示部4、記憶部5および処理部6を備えて構成されている。測定部2は、処理部6と相まって「測定処理部」を構成する。この測定部2は、コンタクトプローブ2a,2bを介して測定対象Xに測定用電圧を印加する測定電圧発生部(図示せず)や、測定対象Xに印加している測定用電圧や測定対象Xに流れる電流を検出して測定データDa(電圧値データ)および測定データDb(電流値データ)を出力するA/D変換部(図示せず)などを備えて構成されている。   The insulation resistance meter 1 shown in FIG. 1 is an example of a “resistance measurement device”, and is configured to be able to measure an insulation resistance value between any two points in the measurement target X. Specifically, the insulation resistance meter 1 includes a measurement unit 2, an operation unit 3, a display unit 4, a storage unit 5, and a processing unit 6. The measurement unit 2 and the processing unit 6 constitute a “measurement processing unit”. The measurement unit 2 includes a measurement voltage generator (not shown) that applies a measurement voltage to the measurement target X via the contact probes 2a and 2b, a measurement voltage that is applied to the measurement target X, and the measurement target X. And an A / D converter (not shown) that outputs measurement data Da (voltage value data) and measurement data Db (current value data).

操作部3は、図示しない測定開始/停止スイッチや、絶縁抵抗計1の動作条件(測定条件)を設定するための各種操作スイッチを備え、スイッチ操作に応じて操作信号を出力する。表示部4は、一例として、LEDバックライトを有する液晶表示器で構成されて、処理部6の制御に従って、測定結果や、後述する比較処理の結果を表示する。なお、表示部4を備えた「抵抗測定装置」の例について説明するが、「表示部」を備えずに、外部装置としての「表示部」に測定結果等を表示させる構成を採用することもできる。記憶部5は、後述する比較処理に際して処理部6が使用する判定値Ra,Rb(「第1の比較値」および「第2の比較値」の一例)、処理部6の動作プログラム、および処理部6によって演算された抵抗値データDcなどを記憶する。   The operation unit 3 includes a measurement start / stop switch (not shown) and various operation switches for setting operation conditions (measurement conditions) of the insulation resistance meter 1, and outputs an operation signal according to the switch operation. The display part 4 is comprised by the liquid crystal display which has an LED backlight as an example, and displays a measurement result and the result of the comparison process mentioned later according to control of the process part 6. FIG. Although an example of a “resistance measuring device” having a display unit 4 will be described, a configuration in which measurement results and the like are displayed on a “display unit” as an external device without using a “display unit” may be adopted. it can. The storage unit 5 includes determination values Ra and Rb (an example of “first comparison value” and “second comparison value”) used by the processing unit 6 in comparison processing described later, an operation program for the processing unit 6, and processing The resistance value data Dc calculated by the unit 6 is stored.

処理部6は、絶縁抵抗計1を総括的に制御する。具体的には、処理部6は、操作部3の測定開始/停止スイッチが操作されたとき(「予め規定された開始条件が満たされたとき」の一例)に、測定部2を制御して、測定対象Xに対する測定用電圧の印加、および測定データDa,Dbの生成を開始させる。また、処理部6は、測定部2から出力された測定データDa,Dbに基づいて測定対象Xにおいてコンタクトプローブ2a,2bが接触させられている2点間の絶縁抵抗値を演算して抵抗値データDc(「抵抗値データ」の一例)を生成し(後述する絶縁抵抗測定処理10におけるステップ13,15:図2参照)、生成した抵抗値データDcを記憶部5に記憶させる。   The processing unit 6 controls the insulation resistance meter 1 as a whole. Specifically, the processing unit 6 controls the measurement unit 2 when the measurement start / stop switch of the operation unit 3 is operated (an example of “when a predetermined start condition is satisfied”). Then, application of the measurement voltage to the measurement object X and generation of the measurement data Da and Db are started. Further, the processing unit 6 calculates an insulation resistance value between the two points where the contact probes 2a and 2b are in contact with each other on the measurement target X based on the measurement data Da and Db output from the measurement unit 2, and calculates the resistance value. Data Dc (an example of “resistance value data”) is generated (steps 13 and 15 in an insulation resistance measurement process 10 to be described later: see FIG. 2), and the generated resistance value data Dc is stored in the storage unit 5.

さらに、処理部6は、生成した抵抗値データDcの値を数値やグラフによって表示部4に表示させる測定結果表示処理(「第1の処理」の一例:絶縁抵抗測定処理10におけるステップ16)を実行する。また、処理部6は、生成した抵抗値データDcの値と、記憶部5に記憶されている判定値Raとを比較して、その比較結果に応じて表示部4に測定対象Xが良好である旨を表示することで比較結果を報知する比較結果報知処理(「第2の処理」の一例:絶縁抵抗測定処理10における比較処理A20:図3参照)を実行すると共に、生成した抵抗値データDcの値と、記憶部5に記憶されている判定値Rbとを比較して、その比較結果に応じて表示部4に測定対象Xが良好である旨または不良の旨を表示することで比較結果を報知する比較結果報知処理(「第3の処理」の一例:絶縁抵抗測定処理10における比較処理B30:図4参照)を実行する。   Further, the processing unit 6 performs a measurement result display process (an example of “first process”: step 16 in the insulation resistance measurement process 10) that causes the display unit 4 to display the value of the generated resistance value data Dc as a numerical value or a graph. Run. Further, the processing unit 6 compares the generated resistance value data Dc with the determination value Ra stored in the storage unit 5, and the measurement target X is good on the display unit 4 according to the comparison result. A comparison result notification process (an example of “second process”: comparison process A20 in the insulation resistance measurement process 10: see FIG. 3) for notifying the comparison result by displaying a certain fact is executed, and the generated resistance value data Comparison is made by comparing the value of Dc and the determination value Rb stored in the storage unit 5 and displaying that the measurement object X is good or bad on the display unit 4 according to the comparison result. A comparison result notification process for notifying the result (an example of “third process”: comparison process B30 in the insulation resistance measurement process 10: see FIG. 4) is executed.

この絶縁抵抗計1の使用に際しては、まず、コンタクトプローブ2a,2bを測定対象X,X上の任意の各点にそれぞれ接触させると共に、図示しない電源スイッチを投入する。この際には、処理部6が記憶部5に記憶されている動作プログラムに従い、図2に示す絶縁抵抗測定処理10を開始する。この絶縁抵抗測定処理10では、処理部6は、まず、操作部3の測定開始/停止スイッチが操作されたか否かの監視を開始する(ステップ11)。   In using the insulation resistance meter 1, first, the contact probes 2a and 2b are brought into contact with arbitrary points on the measurement objects X and X, respectively, and a power switch (not shown) is turned on. At this time, the processing unit 6 starts the insulation resistance measurement processing 10 shown in FIG. 2 according to the operation program stored in the storage unit 5. In this insulation resistance measurement process 10, the processing unit 6 first starts monitoring whether or not the measurement start / stop switch of the operation unit 3 has been operated (step 11).

また、処理部6は、操作部3からの操作信号に基づいて測定開始/停止スイッチが操作されたと判別したときに、測定部2を制御して、測定対象Xに対する測定用電圧の印加を開始してから測定データDa,Dbが出力されるまでの時間(以下、「測定時間」ともいう)を時間Ta(「第2の時間」の一例:例えば、10ms)に設定して、測定データDa,Dbを生成する処理を開始させる(ステップ12)。この際に、測定部2は、処理部6の制御に従い、コンタクトプローブ2a,2bを介して測定対象Xへの測定用電圧の印加を開始すると共に、印加している測定用電圧、および測定用電圧を印加している状態において測定対象X,X間を流れる電流を検出して測定データDa,Dbを生成し、生成した測定データDa,Dbを処理部6に出力する。   Further, when the processing unit 6 determines that the measurement start / stop switch is operated based on the operation signal from the operation unit 3, the processing unit 6 controls the measurement unit 2 to start applying the measurement voltage to the measurement target X. The time (hereinafter also referred to as “measurement time”) from when the measurement data Da and Db are output to the time Ta (an example of “second time”: for example, 10 ms) is set to the measurement data Da. , Db generation processing is started (step 12). At this time, the measurement unit 2 starts applying the measurement voltage to the measurement target X via the contact probes 2a and 2b according to the control of the processing unit 6, and applies the measurement voltage being applied and the measurement voltage. The current flowing between the measurement objects X and X is detected while the voltage is applied to generate measurement data Da and Db, and the generated measurement data Da and Db are output to the processing unit 6.

この場合、この種の「測定装置」では、測定対象Xが容量を有している容量性負荷のときには、測定用電圧の印加を開始してから、その電圧値が所望の電圧値(定格の電圧値)に達するまでには、その容量が充電される必要があるため、ある程度の時間を要する。したがって、この絶縁抵抗計1では、一例として、測定用電圧の印加を開始してから数十ms程度の時間が経過して測定用電圧の電圧値がある程度上昇した時点において、A/D変換部が測定データDa,Dbの生成を開始する構成が採用されている。また、A/D変換部は、測定用電圧の電圧値が規定の電圧値に達した後に、処理部6によって設定された上記の「測定時間」内に複数回のサンプリング処理を実行すると共に、各サンプリング値の平均化処理やフィルタリング処理等を行うことにより、設定された「測定時間」内に、1つの測定データDaおよび1つの測定データDbを生成して出力する。   In this case, in this type of “measuring device”, when the measurement target X is a capacitive load having a capacity, the voltage value is set to a desired voltage value (rated rating) after application of the measurement voltage is started. It takes a certain amount of time to reach the voltage value) because the capacity needs to be charged. Therefore, in this insulation resistance meter 1, as an example, at the time when the voltage value of the measurement voltage rises to some extent after a time of about several tens of milliseconds has elapsed since the start of application of the measurement voltage, the A / D conversion unit Adopts a configuration in which generation of measurement data Da and Db is started. Further, the A / D conversion unit performs a plurality of sampling processes within the above “measurement time” set by the processing unit 6 after the voltage value of the measurement voltage reaches a specified voltage value, By performing averaging processing and filtering processing of each sampling value, one measurement data Da and one measurement data Db are generated and output within the set “measurement time”.

一方、処理部6は、測定部2から出力された測定データDa,Dbに基づき、コンタクトプローブ2a,2bが接触させられている2点間の絶縁抵抗値を演算して抵抗値データDc(「抵抗値データ」の一例)を生成して(ステップ13)、記憶部5に記憶させる。次いで、処理部6は、図3に示す比較処理A20を開始する。この比較処理A20では、処理部6は、まず、生成した抵抗値データDcの値(上記の2点間の絶縁抵抗値)が、記憶部5に記憶されている判定値Ra(「第1の比較値」の一例)以上であるか否かを判別する(ステップ21)。   On the other hand, the processing unit 6 calculates an insulation resistance value between two points where the contact probes 2a and 2b are in contact with each other based on the measurement data Da and Db output from the measurement unit 2, and calculates resistance value data Dc (" An example of “resistance value data” is generated (step 13) and stored in the storage unit 5. Next, the processing unit 6 starts the comparison process A20 shown in FIG. In this comparison process A20, the processing unit 6 first determines that the value of the generated resistance value data Dc (the above-described insulation resistance value between the two points) is the determination value Ra (“first first value” stored in the storage unit 5). An example of “comparison value”) is determined (step 21).

この際に、抵抗値データDcの値が判定値Ra以上のとき(判定値Raが抵抗値データDcの値以下のとき)には、処理部6は、表示部4にPASS判定表示をさせる(「測定対象Xが良好であるとの比較結果」を報知する一例であって、表示部4にPASS判定を表示させることで比較結果(判定結果)を報知する例:ステップ22)。これにより、PASS判定が表示された画面を視認したオペレータは、コンタクトプローブ2a,2bを接触させている2点間が、規定された絶縁抵抗値以上の絶縁状態で良好に絶縁されているのを直感的に認識する。   At this time, when the value of the resistance value data Dc is equal to or greater than the determination value Ra (when the determination value Ra is equal to or less than the value of the resistance value data Dc), the processing unit 6 causes the display unit 4 to display PASS determination ( An example of notifying “comparison result that measurement target X is good”, in which comparison result (determination result) is notified by displaying PASS determination on display unit 4: step 22). As a result, the operator who has visually recognized the screen on which the PASS judgment is displayed indicates that the two points contacting the contact probes 2a and 2b are well insulated with an insulation state equal to or greater than the prescribed insulation resistance value. Recognize intuitively.

一方、抵抗値データDcの値が判定値Raよりも小さかったとき(判定値Raが抵抗値データDcの値よりも大きかったとき)には、この時点では、処理部6は、測定対象Xが不良である旨を表示部4に表示させずに、この比較処理A30を終了する。これにより、例えば、測定対象Xが容量性負荷である場合において、測定対象X自体が良品であったときに、その容量が充電されるまでの間は、測定対象Xが不良である旨の比較結果が表示されることを避けることができるため、測定対象Xの良否に関しての誤判定を回避することができる結果、正確な判定を行うことができる。   On the other hand, when the value of the resistance value data Dc is smaller than the determination value Ra (when the determination value Ra is larger than the value of the resistance value data Dc), at this time, the processing unit 6 determines that the measurement target X is the measurement target X. The comparison process A30 is terminated without displaying the fact that it is defective on the display unit 4. Thereby, for example, when the measurement target X is a capacitive load, when the measurement target X itself is a non-defective product, the comparison that the measurement target X is defective until the capacity is charged. Since it is possible to avoid displaying the result, it is possible to avoid erroneous determination regarding the quality of the measurement target X, and as a result, accurate determination can be performed.

なお、この例では、上記の比較処理A20におけるステップ21,22の処理が「第2の処理」に相当する。この場合、短い「測定時間」内に測定された測定データDa,Dbに基づいて算出された絶縁抵抗値は、容量性負荷を測定対象Xとしたとき、および測定用電圧の電圧値や測定対象Xを流れる電流の電流値にふらつきが生じているときなどの原因に起因して、十分に正確な値ではない可能性がある。したがって、この絶縁抵抗計1では、上記のステップ13において演算された絶縁抵抗値については、その値を表示部4に表示させずに、後述するステップ16(図2参照)において正確な絶縁抵抗値を表示するまで、絶縁抵抗値の非表示状態を維持する構成が採用されている。   In this example, the processes in steps 21 and 22 in the comparison process A20 correspond to the “second process”. In this case, the insulation resistance value calculated based on the measurement data Da and Db measured within a short “measurement time” is obtained when the capacitive load is the measurement object X and the voltage value of the measurement voltage or the measurement object. Due to causes such as fluctuations in the current value of the current flowing through X, the value may not be sufficiently accurate. Therefore, in this insulation resistance meter 1, the insulation resistance value calculated in the above step 13 is not displayed on the display unit 4, and the accurate insulation resistance value is obtained in step 16 (see FIG. 2) described later. A configuration is adopted in which the non-display state of the insulation resistance value is maintained until is displayed.

一方、絶縁抵抗値等を正確に測定するには、上記の原因に起因して不正確な測定値が演算されることのないように、「測定時間」を十分に長く規定する必要がある。したがって、この絶縁抵抗計1では、上記したように、2点間の絶縁状態を報知するための上記の各ステップにおいては、「良品」との比較結果(判定結果)を迅速に報知するために、「測定時間」をある程度短い時間Ta(この例では、10ms)に設定して測定処理を実行するのに対して、正確な絶縁抵抗値を表示させるための以降のステップにおいては、「測定時間」を、時間Taよりも長い時間Tb(一例として、300ms:「第1の時間」の一例)に設定して測定処理を実行する。   On the other hand, in order to accurately measure an insulation resistance value and the like, it is necessary to define a “measurement time” sufficiently long so that an inaccurate measurement value is not calculated due to the above-described causes. Therefore, in this insulation resistance meter 1, as described above, in each of the above steps for notifying the insulation state between two points, in order to promptly notify the comparison result (determination result) with “good”. In the subsequent steps for displaying an accurate insulation resistance value, the “measurement time” is set to a relatively short time Ta (10 ms in this example) and the measurement process is executed. Is set to a time Tb longer than the time Ta (for example, 300 ms: an example of “first time”), and the measurement process is executed.

具体的には、処理部6は、比較結果(判定結果)を報知して上記の比較処理A20を終了した後に、「測定時間」を300msの時間Tbに設定して、測定データDa,Dbを生成する処理を開始させる(ステップ14)。具体的には、測定部2は、処理部6の制御に従い、コンタクトプローブ2a,2bを介して測定対象Xの2点間に測定用電圧を印加すると共に、印加している測定用電圧、および測定用電圧を印加している状態において測定対象Xを流れる電流を検出して測定データDa,Dbを生成し、生成した測定データDa,Dbを処理部6に出力する。   Specifically, the processing unit 6 notifies the comparison result (determination result) and ends the comparison process A20, and then sets the “measurement time” to a time Tb of 300 ms, and sets the measurement data Da and Db to The generation process is started (step 14). Specifically, the measurement unit 2 applies a measurement voltage between two points of the measurement target X via the contact probes 2a and 2b according to the control of the processing unit 6, and applies the measurement voltage being applied, and The current flowing through the measurement object X is detected in the state where the measurement voltage is applied, and the measurement data Da and Db are generated. The generated measurement data Da and Db are output to the processing unit 6.

この際には、上記の比較結果(判定結果)の報知に際して実行される測定処理時よりも十分に長い時間に亘って複数回のサンプリング処理が実行されると共に、各サンプリング値の平均化処理やフィルタリング処理等が実行されて、300ms毎に各1つの測定データDa,Dbが生成されて出力される。また、処理部6は、測定部2から出力された測定データDa,Dbに基づき、コンタクトプローブ2a,2bが接触させられている2点間の絶縁抵抗値を演算して抵抗値データDc(「抵抗値データ」の一例)を生成して(ステップ15)、記憶部5に記憶させる。次いで、処理部6は、表示部4を制御して、生成した抵抗値データDcの値を表示させる(「第1の処理」の一例:ステップ16)。これにより、十分に正確な測定結果が表示される。   In this case, the sampling process is performed a plurality of times over a sufficiently long time compared to the measurement process that is executed when the comparison result (determination result) is notified, and each sampling value is averaged. Filtering processing or the like is executed, and one piece of measurement data Da and Db is generated and output every 300 ms. Further, the processing unit 6 calculates an insulation resistance value between two points where the contact probes 2a and 2b are in contact with each other based on the measurement data Da and Db output from the measurement unit 2, and calculates resistance value data Dc (" An example of “resistance value data” is generated (step 15) and stored in the storage unit 5. Next, the processing unit 6 controls the display unit 4 to display the value of the generated resistance value data Dc (an example of “first processing”: step 16). Thereby, a sufficiently accurate measurement result is displayed.

次いで、処理部6は、図4に示す比較処理B30を開始する。この比較処理B30では、処理部6は、まず、N番目に生成した抵抗値データDcの値(300msの「測定時間」内に測定された測定データDa,Dbに基づく絶縁抵抗値:「第1の処理において表示部に表示させた抵抗値データの値」の一例)と(N−1)番目に生成した抵抗値データDcの値を比較し、測定対象Xが有する容量の充電を完了しているかを判定する充電状態判定処理(ステップ31)を行う。ここで、測定対象Xが容量性負荷であり、その容量が大きい場合、測定開始からの時間が短いときには、その容量の充電が完了する前に良否判定が行われることになり、測定対象Xが充電を完了する前に不良判定を行うこととなる。したがって、測定対象Xの良否判定を行う前に、上記した充電状態判定処理(ステップ31)を行う必要がある。   Next, the processing unit 6 starts the comparison process B30 shown in FIG. In this comparison process B30, first, the processing unit 6 first determines the value of the N-th generated resistance value data Dc (insulation resistance value based on the measurement data Da and Db measured within the “measurement time” of 300 ms: “first 1) of the resistance value data displayed on the display unit in the process of (1)) and the (N-1) th value of the resistance value data Dc generated are compared, and the charging of the capacity of the measurement object X is completed. A charge state determination process (step 31) is performed to determine whether there is any. Here, when the measurement target X is a capacitive load and the capacity is large, when the time from the start of measurement is short, the pass / fail judgment is made before the charging of the capacity is completed. A failure determination is made before the charging is completed. Therefore, before performing the pass / fail determination of the measurement target X, it is necessary to perform the above-described charging state determination process (step 31).

この場合、一般的に、容量を充電しているときは、生成される抵抗値データDcの値(絶縁抵抗値)は常に上昇するため、N番目の測定値が(N−1)番目の測定値よりも大きくなる。したがって、処理部6は、この充電状態判定処理(ステップ31)において、N番目の抵抗値データDcの値が(N−1)番目の抵抗値データDc未満とする第1条件、および(N−1)番目の抵抗値データDcの値に対してN番目の抵抗値データDcの値の増加率が予め規定された所定率以下(一例として、数%程度)とする第2条件の両方を共に満たさないときには、測定対象Xの容量が充電を完了していないと判定して、比較処理B30を終了する。なお、本例では、第2条件を「(N−1)番目の抵抗値データDcの値に対してN番目の抵抗値データDcの値の増加率が予め規定された所定率以下」と定めているが、これに代えて、「(N−1)番目の抵抗値データDcの値に対してN番目の抵抗値データDcの値の変動率が予め規定された所定率以下」若しくは「(N−1)番目の抵抗値データDcの値に対してN番目の抵抗値データDcの値の減少率が予め規定された所定率以上」などと規定することもできる。   In this case, generally, when the capacitor is charged, the value (insulation resistance value) of the generated resistance value data Dc always increases, so the Nth measurement value is the (N-1) th measurement. Larger than the value. Therefore, the processing unit 6 uses the first condition that the value of the Nth resistance value data Dc is less than the (N−1) th resistance value data Dc and (N− 1) Both of the second conditions in which the increasing rate of the value of the Nth resistance value data Dc with respect to the value of the first resistance value data Dc is equal to or less than a predetermined rate (about several percent as an example). When not satisfying, it determines with the capacity | capacitance of the measuring object X not having completed charge, and complete | finishes the comparison process B30. In this example, the second condition is defined as “the increase rate of the value of the Nth resistance value data Dc with respect to the value of the (N−1) th resistance value data Dc is equal to or less than a predetermined rate”. However, instead of this, “the fluctuation rate of the value of the Nth resistance value data Dc with respect to the value of the (N−1) th resistance value data Dc is equal to or less than a predetermined rate” or “( N-1) The rate of decrease in the value of the Nth resistance value data Dc with respect to the value of the Nth resistance value data Dc may be defined as “a predetermined rate or more that is defined in advance”.

また、処理部6は、充電状態判定処理(ステップ31)において測定対象Xの容量に対する充電を完了しない状態が予め規定した時間を継続(以下、「規定時間」ともいう。一例として、5秒間等)したと判定したときには、充電状態判定処理(ステップ31)を終了して、後述するステップ32を実行する。   In addition, the processing unit 6 continues the time defined in advance in a state where the charging of the capacity of the measurement target X is not completed in the charging state determination process (step 31) (hereinafter also referred to as “specified time”. As an example, 5 seconds or the like) ), The charging state determination process (step 31) is terminated, and step 32 to be described later is executed.

一方、処理部6は、上記の第1条件および第2条件のうちの少なくとも一方の条件を満たしたときには、測定対象Xの容量に対する充電が完了していると判定する。   On the other hand, the process part 6 determines with the charge with respect to the capacity | capacitance of the measuring object X having been completed, when at least one of said 1st conditions and 2nd conditions is satisfy | filled.

次いで、処理部6は、測定対象Xの容量に対する充電が完了していると判定したとき、およびその充電を完了しない状態が規定時間を継続したと判定したときには、生成した抵抗値データDcの値が、記憶部5に記憶されている判定値Rb(「第2の比較値」の一例)以上であるか否かを判別する(ステップ32)。この際に、処理部6は、抵抗値データDcの値が判定値Rb以上のとき(判定値Rbが抵抗値データDcの値以下のとき)には、比較結果の報知の一例として、PASS判定を表示部4に表示する(ステップ33)。これにより、オペレータは、PASS判定表示画面を視認してコンタクトプローブ2a,2bを接触させている2点間が、規定された絶縁抵抗値以上の絶縁状態で良好に絶縁されていることを認識する。   Next, when the processing unit 6 determines that the charging of the capacity of the measurement target X is completed, and when it is determined that the state in which the charging is not completed continues for the specified time, the value of the generated resistance value data Dc Is greater than or equal to a determination value Rb (an example of “second comparison value”) stored in the storage unit 5 (step 32). At this time, when the value of the resistance value data Dc is equal to or greater than the determination value Rb (when the determination value Rb is equal to or less than the value of the resistance value data Dc), the processing unit 6 performs PASS determination as an example of notification of the comparison result. Is displayed on the display unit 4 (step 33). As a result, the operator recognizes that the two points where the contact probes 2a and 2b are in contact with each other by visually recognizing the PASS determination display screen are well insulated with an insulation state equal to or greater than the prescribed insulation resistance value. .

一方、処理部6は、抵抗値データDcの値が判定値Rbよりも小さかったとき(判定値Rbが抵抗値データDcの値よりも大きかったとき)には、比較結果の報知の一例として、FAIL判定を表示部4に表示する(ステップ34)。これにより、オペレータは、FAIL判定表示画面を視認して、コンタクトプローブ2a,2bを接触させている2点間が規定された絶縁抵抗値未満の絶縁状態で、絶縁状態が不良であることを認識する。   On the other hand, when the value of the resistance value data Dc is smaller than the determination value Rb (when the determination value Rb is larger than the value of the resistance value data Dc), the processing unit 6 is an example of notifying the comparison result. The FAIL judgment is displayed on the display unit 4 (step 34). As a result, the operator visually recognizes the FAIL judgment display screen and recognizes that the insulation state between the two points where the contact probes 2a and 2b are in contact is less than the prescribed insulation resistance value and the insulation state is poor. To do.

この場合、前述したように、短い「測定時間」内に測定された測定データDa,Dbに基づいて算出された絶縁抵抗値は、十分に正確な値ではない可能性がある。したがって、この絶縁抵抗計1では、上記の比較処理A20において、上記の比較処理B30時に使用する判定値Rb(2点間の絶縁状態に応じた絶縁抵抗値として好ましい値)よりも十分に大きな値(一例として、判定値Rbの2倍から5倍程度大きい値)に規定されている判定値Raと抵抗値データDcの値と比較することで、2点間の絶縁状態を判定する構成が採用されている。これにより、「測定時間」が短いことに起因して、仮に、絶縁状態が良好ではない2点間の絶縁抵抗値が実際の絶縁抵抗値よりも大きな値であると測定されたとしても、十分に大きな値に規定されている判定値Raとの比較結果を報知することで、絶縁状態が良好であると誤って報知される事態が回避されている。   In this case, as described above, the insulation resistance value calculated based on the measurement data Da and Db measured within a short “measurement time” may not be a sufficiently accurate value. Therefore, in this insulation resistance meter 1, a value sufficiently larger than the determination value Rb (preferred value as the insulation resistance value according to the insulation state between the two points) used in the comparison process B30 in the comparison process A20. A configuration is adopted in which the insulation state between two points is determined by comparing the determination value Ra defined in (as an example, a value that is about two to five times larger than the determination value Rb) and the resistance value data Dc. Has been. As a result, even if it is measured that the insulation resistance value between two points whose insulation state is not good due to the short “measurement time” is larger than the actual insulation resistance value, it is sufficient. By notifying the comparison result with the determination value Ra defined as a large value, it is possible to avoid a situation where the insulation state is erroneously notified.

一方、上記の比較処理B30では、十分に長い「測定時間」内に測定された正確な測定データDa,Dbに基づいて演算された絶縁抵抗値を比較対象としているため、比較の基準となる判定値Rbは、2点間の絶縁状態に応じた絶縁抵抗値として好ましい値(絶縁状態が良好であるか否かを正確に比較(判定)し得る値)に規定されている。これにより、絶縁状態が良好であるにも拘わらず、過剰に大きな値に規定された判定値と比較されることで絶縁状態が良好ではないと誤って報知される事態が回避されている。なお、この例では、上記の比較処理B30におけるステップ32,33、またはステップ32,34の処理が「第3の処理」に相当する。   On the other hand, in the comparison process B30, since the insulation resistance value calculated based on the accurate measurement data Da and Db measured within a sufficiently long “measurement time” is used as a comparison object, the determination as a reference for comparison is performed. The value Rb is defined as a preferable value (a value capable of accurately comparing (determining whether or not the insulation state is good) as an insulation resistance value according to the insulation state between the two points. Thereby, although the insulation state is good, a situation in which it is erroneously notified that the insulation state is not good by being compared with the determination value defined as an excessively large value is avoided. In this example, steps 32 and 33 or steps 32 and 34 in the comparison process B30 correspond to the “third process”.

続いて、処理部6は、終了条件(一例として、測定開始/停止スイッチの操作によって測定終了を指示されたとき、または、予め設定された時間に亘って絶縁抵抗値の測定を実行したとき)が満たされたか否かを判別する(ステップ17)。この際に、終了条件が満たされていないと判別したときには、処理部6は、上記のステップ15に戻って、測定データDa,Dbに基づく絶縁抵抗値の演算(ステップ15)、演算した絶縁抵抗値の表示(ステップ16:「第1の処理」)および比較処理B30(「第3の処理」)をこの順で実行すると共に、終了条件が満たされたか否かを再び判別する(ステップ17)。また、終了条件が満たされたとき(例えば、測定開始/停止スイッチの操作されたとき)に、処理部6は、この絶縁抵抗測定処理10を終了する。   Subsequently, the processing unit 6 ends the condition (for example, when the measurement end is instructed by operating the measurement start / stop switch or when the insulation resistance value is measured for a preset time). Whether or not is satisfied is determined (step 17). At this time, if it is determined that the termination condition is not satisfied, the processing unit 6 returns to step 15 to calculate the insulation resistance value based on the measurement data Da and Db (step 15), and the calculated insulation resistance. The value display (step 16: “first process”) and the comparison process B30 (“third process”) are executed in this order, and it is determined again whether the end condition is satisfied (step 17). . In addition, when the end condition is satisfied (for example, when the measurement start / stop switch is operated), the processing unit 6 ends the insulation resistance measurement process 10.

このように、この絶縁抵抗計1、および絶縁抵抗計1による抵抗測定方法によれば、予め規定された「第1の時間(この例では、時間Tb=300ms)」毎に生成した抵抗値データDcを用いてその値を表示部4に表示させる「第1の処理(この例では、上記の絶縁抵抗測定処理10におけるステップ16)」の実行に先立ち、「第1の時間(この例では、300ms)」よりも短い「第2の時間(この例では、時間Ta=10ms)」内で生成した抵抗値データDcを用いてその値と予め規定された判定値Raとを比較して比較結果(良好である旨)を報知する「第2の処理(この例では、上記の絶縁抵抗測定処理10における比較処理A20)」を実行することにより、正確な絶縁抵抗値を表示させるために長い「測定時間」を要する「第1の処理」を開始する前に、十分に短い「測定時間」内に生成した抵抗値データDcと判定値Raとの比較結果(判定結果)が表示部4に短時間で表示されるため、比較結果を短時間で認識させることができる。   As described above, according to the insulation resistance meter 1 and the resistance measurement method using the insulation resistance meter 1, the resistance value data generated every predetermined “first time (in this example, time Tb = 300 ms)”. Prior to the execution of the “first process (in this example, step 16 in the above-described insulation resistance measurement process 10)” for displaying the value on the display unit 4 using Dc, the “first time (in this example, 300 ms) ”, and the resistance value data Dc generated within the“ second time (in this example, time Ta = 10 ms) ”is compared with the value determined in advance and the comparison value Ra is compared. By executing the “second process (in this example, the comparison process A20 in the above-described insulation resistance measurement process 10)” that informs (that it is good), a long “ `` Measurement time '' is required The comparison result (determination result) between the resistance value data Dc and the determination value Ra generated within a sufficiently short “measurement time” is displayed on the display unit 4 in a short time before the “first process” is started. The comparison result can be recognized in a short time.

また、測定対象Xが容量を有する容量性負荷のときには、測定対象X自体が良品であったとしても、その容量が充電されるまでの間は測定対象Xの絶縁抵抗値を正確に測定することができないこともある。したがって、この絶縁抵抗計1、および絶縁抵抗計1による抵抗測定方法によれば、第2の処理において、抵抗値データDcの値が第1の比較値未満のときに不良の旨を表示しないことにより、測定時間が短いことに起因して良品の測定対象Xを不良判定とする誤った比較結果が表示部4に表示されることを回避することができる結果、オペレータに対して正確な比較結果を認識させることができる。   Further, when the measurement target X is a capacitive load having a capacity, even if the measurement target X itself is a non-defective product, the insulation resistance value of the measurement target X must be accurately measured until the capacity is charged. May not be possible. Therefore, according to the insulation resistance meter 1 and the resistance measurement method using the insulation resistance meter 1, in the second process, when the value of the resistance value data Dc is less than the first comparison value, the failure is not displayed. As a result, it is possible to avoid that an erroneous comparison result in which the non-defective measurement target X is determined to be defective due to the short measurement time is displayed on the display unit 4, and as a result, an accurate comparison result for the operator Can be recognized.

さらに、この絶縁抵抗計1、および絶縁抵抗計1による抵抗測定方法によれば、「第1の処理」において表示部4に表示させた抵抗値データDcの値と予め規定された判定値Rbとを比較して比較結果を報知する「第3の処理(この例では、上記の絶縁抵抗測定処理10における比較処理B30)」を「第1の処理」の後に実行することにより、十分に長い「測定時間」内に測定された正確な抵抗値データDcを用いた正確な比較結果(判定結果)をオペレータに認識させることができる。   Further, according to the insulation resistance meter 1 and the resistance measurement method using the insulation resistance meter 1, the value of the resistance value data Dc displayed on the display unit 4 in the “first processing” and the predetermined determination value Rb By executing the “third process (in this example, the comparison process B30 in the above-described insulation resistance measurement process 10)” after the “first process” to notify the comparison result by comparing “ The operator can recognize an accurate comparison result (determination result) using the accurate resistance value data Dc measured within the “measurement time”.

また、この絶縁抵抗計1、および絶縁抵抗計1による抵抗測定方法によれば、「第2の処理」において判定値Rbよりも大きな値に規定されている判定値Raと抵抗値データDcの値とを比較することにより、つまり、「測定時間」が短いことに起因して不正確となる可能性がある抵抗値データDcと比較する「第2の処理」においては、測定対象Xの状態とは相違する比較結果とならないように、余裕(マージン)を持った判定値Raを用いると共に、「測定時間」が長いことで十分に正確である抵抗値データDcと比較する「第3の処理」においては、比較結果に基づいて測定対象Xの状態を正確に把握できるように余裕が小さい判定値Rbを用いることにより、「第2の処理」および「第3の処理」の双方において、誤った比較結果(判定結果)が報知される事態を好適に回避することができる。   In addition, according to the insulation resistance meter 1 and the resistance measurement method using the insulation resistance meter 1, the value of the determination value Ra and the resistance value data Dc defined in the “second process” is larger than the determination value Rb. In other words, in the “second process” for comparing with the resistance value data Dc that may be inaccurate due to the short “measurement time”, the state of the measurement target X is In order to avoid different comparison results, a determination value Ra having a margin (margin) is used, and the “third process” is compared with the resistance value data Dc that is sufficiently accurate because the “measurement time” is long. In the “second process” and the “third process”, the determination value Rb having a small margin is used so that the state of the measurement target X can be accurately grasped based on the comparison result. Comparison result( It can be suitably avoided that constant result) is reported.

さらに、この絶縁抵抗計1、および絶縁抵抗計1による抵抗測定方法によれば、充電状態判定処理(ステップ31)において、測定対象Xが有する容量が充電を完了しているか否かを判定し、容量に対する充電を完了していると判定したときに第3の処理を実行することにより、仮に、測定対象Xが容量性負荷であって、その容量が大きいときであっても、その容量に対する充電の未完了に起因する不良判定を行うことを回避することができる結果、正確な判定を行うことができる。   Further, according to the insulation resistance meter 1 and the resistance measurement method using the insulation resistance meter 1, in the charge state determination process (step 31), it is determined whether or not the capacity of the measurement target X has been completely charged. By performing the third process when it is determined that the charging for the capacity is completed, even if the measurement target X is a capacitive load and the capacity is large, the charging for the capacity is performed. As a result, it is possible to avoid performing the defect determination due to the incompleteness, so that an accurate determination can be performed.

また、この絶縁抵抗計1、および絶縁抵抗計1による抵抗測定方法によれば、時間Tb(第1の時間)毎に生成したN番目の抵抗値データDcの値と時間Tb(第1の時間)毎に生成した(N−1)番目の抵抗値データDcの値とを比較することにより、測定対象Xが有する容量に対して充電が完了しているか否かを確実に判定することができる。   Further, according to the insulation resistance meter 1 and the resistance measurement method using the insulation resistance meter 1, the value of the Nth resistance value data Dc generated every time Tb (first time) and the time Tb (first time) ) And the value of the (N-1) th resistance value data Dc generated every time, it is possible to reliably determine whether or not charging is completed for the capacity of the measurement target X. .

さらに、この絶縁抵抗計1、および絶縁抵抗計1による抵抗測定方法によれば、充電状態判定処理(ステップ31)において、測定対象Xが有する容量に対する充電を完了しない状態が規定時間を継続したと判定したときには、充電状態判定処理を終了して「第3の処理(この例では、上記の絶縁抵抗測定処理10における比較処理B30)」を実行(規定時間経過時の抵抗値データDcの値を表示部4に表示)することにより、長時間に亘って比較結果が表示されないという事態を回避することができる。   Further, according to the insulation resistance meter 1 and the resistance measurement method using the insulation resistance meter 1, in the charge state determination process (step 31), the state in which charging for the capacity of the measurement target X is not completed continues for the specified time. When the determination is made, the charge state determination process is terminated, and the “third process (in this example, the comparison process B30 in the insulation resistance measurement process 10)” is executed (the value of the resistance value data Dc when the specified time elapses). (Displayed on the display unit 4) can avoid a situation in which the comparison result is not displayed for a long time.

また、この絶縁抵抗計1、および絶縁抵抗計1による抵抗測定方法によれば、「第2の処理」時に判定値Raと比較した抵抗値データDcの値を表示部4に表示させずに「第1の処理」によって抵抗値データDcの値を表示させるまで抵抗値データDcの値の非表示状態を維持することにより、「測定時間」が短いことに起因して不正確となる可能性がある抵抗値データDcの値が表示部4に表示されて不正確な絶縁抵抗値がオペレータによって認識される事態を好適に回避することができる。   Further, according to the insulation resistance meter 1 and the resistance measurement method using the insulation resistance meter 1, the value of the resistance value data Dc compared with the determination value Ra at the time of the “second processing” is displayed on the display unit 4 without displaying it. By maintaining the non-display state of the resistance value data Dc until the value of the resistance value data Dc is displayed by the “first processing”, there is a possibility that the “measurement time” is short, resulting in inaccuracy. A situation in which the value of certain resistance value data Dc is displayed on the display unit 4 and an incorrect insulation resistance value is recognized by the operator can be preferably avoided.

なお、上記の例では、測定対象Xの良否判定の結果をオペレータに報知する方法として、表示部4にPASS判定表示若しくはFAIL判定表示を行う構成および方法を採用しているが、表示部4にバックライトを点灯させ、その色の差異によって良否判定の結果をオペレータに報知する構成および方法を採用することもできる。   In the above example, as a method of notifying the operator of the result of the pass / fail determination of the measurement target X, a configuration and a method for performing PASS determination display or FAIL determination display on the display unit 4 are employed. It is also possible to employ a configuration and method in which the backlight is turned on and the result of the quality determination is notified to the operator by the color difference.

また、上記の例では、測定対象X,Xにおける任意の2点間の絶縁抵抗値の測定および、その良否判定について例示しているが、容量性負荷単体の抵抗測定および、その良否判定を行うこともできる。   In the above example, the measurement of the insulation resistance value between any two points in the measurement objects X and X and the determination of pass / fail are exemplified, but the resistance measurement of the capacitive load alone and the pass / fail determination thereof are performed. You can also.

1 絶縁抵抗計
2 測定部
2a,2b コンタクトプローブ
3 操作部
4 表示部
5 記憶部
6 処理部
10 絶縁抵抗測定処理
20 比較処理A
30 比較処理B
Da,Db 測定データ
Dc 抵抗値データ
Ra,Rb 判定値
Ta,Tb 時間
X 測定対象
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Insulation resistance meter 2 Measuring part 2a, 2b Contact probe 3 Operation part 4 Display part 5 Memory | storage part 6 Processing part 10 Insulation resistance measurement process 20 Comparison process A
30 Comparison process B
Da, Db measurement data Dc Resistance value data Ra, Rb judgment value Ta, Tb Time X Measurement object

Claims (7)

予め規定された開始条件が満たされたときに、測定対象についての物理量としての抵抗値を測定して抵抗値データを生成すると共に、前記抵抗値データの値を表示部に表示させる第1の処理、および前記抵抗値データの値と第1の比較値とを比較して比較結果を報知する第2の処理を実行する測定処理部を備えた抵抗測定装置であって、
前記測定処理部は、予め規定された第1の時間毎に生成した前記抵抗値データを用いての前記第1の処理の実行に先立ち、当該第1の時間よりも短い第2の時間内で生成した前記抵抗値データを用いて前記第2の処理を実行し、当該第2の処理において、前記抵抗値データの値が前記第1の比較値未満のときには、不良の旨を表示させずに、前記抵抗値データの値が前記第1の比較値以上のときには、前記測定対象が良好である旨の表示をする抵抗測定装置。
A first process for generating a resistance value data by measuring a resistance value as a physical quantity for a measurement target and displaying a value of the resistance value data on a display unit when a predetermined start condition is satisfied And a resistance measuring device comprising a measurement processing unit that executes a second process of comparing the value of the resistance value data with a first comparison value and notifying a comparison result,
Prior to the execution of the first process using the resistance value data generated every predetermined first time, the measurement processing unit within a second time shorter than the first time. The second process is executed using the generated resistance value data, and in the second process, when the value of the resistance value data is less than the first comparison value, a failure is not displayed. A resistance measurement device that displays that the measurement object is good when the value of the resistance value data is greater than or equal to the first comparison value.
前記測定処理部は、前記測定処理部は、前記第1の処理において前記表示部に表示させた前記抵抗値データの値と前記第1の比較値よりも小さな値に規定されている第2の比較値とを比較し、前記抵抗値データの値が前記第2の比較値以上のときには、前記測定対象が良好である旨を報知し、前記抵抗値データの値が前記第2の比較値未満のときには、前記測定対象が不良である旨を報知する第3の処理を前記第1の処理の後に実行する請求項1記載の抵抗測定装置。   The measurement processing unit is defined to have a value smaller than the first comparison value and the value of the resistance value data displayed on the display unit in the first processing. When the value of the resistance value data is equal to or greater than the second comparison value, the fact that the measurement object is good is notified, and the value of the resistance value data is less than the second comparison value. The resistance measuring device according to claim 1, wherein a third process for notifying that the measurement target is defective is executed after the first process. 前記測定処理部は、前記第3の処理の実行に先立ち、前記測定対象が有する容量に対する充電を完了しているか否かを判定する充電状態判定処理を実行し、当該充電状態判定処理において前記容量に対する充電を完了していないと判定したときには、前記第3の処理を実行せずに、当該充電状態判定処理において前記容量に対する充電を完了していると判定したときには、前記第3の処理を実行する請求項2記載の抵抗測定装置。   Prior to the execution of the third process, the measurement processing unit executes a charge state determination process for determining whether or not charging for the capacity of the measurement target is completed, and the capacity is determined in the charge state determination process. If it is determined that charging for the battery is not completed, the third process is not performed, and if it is determined in the charging state determination process that charging for the capacity is completed, the third process is performed. The resistance measuring device according to claim 2. 前記測定処理部は、前記充電状態判定処理において前記第1の時間毎に生成したN番目(Nは、2以上の自然数)の前記抵抗値データの値と前記第1の時間毎に生成した(N−1)番目の前記抵抗値データの値とを比較し、前記N番目の前記抵抗値データの値が前記(N−1)番目の前記抵抗値データの値未満とする第1条件、および前記(N−1)番目の前記抵抗値データの値に対して前記N番目の前記抵抗値データの値の増加率が予め規定された所定率以下とする第2条件のうちの予め規定された少なくとも一方の条件を満たしたときには、前記容量に対する充電が完了していると判定し、前記少なくとも一方の条件を満たしていないときには、前記容量に対する充電が完了していないと判定する請求項3記載の抵抗測定装置。   The measurement processing unit generates the Nth (N is a natural number greater than or equal to 2) the resistance value data generated every first time in the charging state determination processing and every first time ( A first condition in which the value of the N-1th resistance value data is compared and the value of the Nth resistance value data is less than the value of the (N-1) th resistance value data; and Of the second condition, the rate of increase in the value of the Nth resistance value data is less than or equal to a predetermined rate with respect to the value of the (N-1) th resistance value data. 4. The method according to claim 3, wherein when at least one of the conditions is satisfied, it is determined that charging for the capacity is completed, and when at least one of the conditions is not satisfied, it is determined that charging for the capacity is not completed. Resistance measuring device. 前記測定処理部は、前記充電状態判定処理において前記容量に対する充電を完了しない状態が予め規定した時間を継続したと判定したときには、当該充電状態判定処理を終了して前記第3の処理を実行する請求項3または4記載の抵抗測定装置。   When the measurement processing unit determines that the state in which charging for the capacity is not completed continues for a predetermined time in the charging state determination process, the measurement processing unit ends the charging state determination process and executes the third process The resistance measuring apparatus according to claim 3 or 4. 前記測定処理部は、前記第2の処理時に前記第1の比較値と比較した前記抵抗値データの値を前記表示部に表示させずに、前記第1の処理によって前記抵抗値データの値を表示させるまで当該抵抗値データの値の非表示状態を維持する請求項1から5のいずれかに記載の抵抗測定装置。   The measurement processing unit displays the value of the resistance value data by the first process without displaying the value of the resistance value data compared with the first comparison value in the second process on the display unit. The resistance measuring apparatus according to claim 1, wherein the resistance value data is not displayed until the resistance value data is displayed. 予め規定された開始条件が満たされたときに、測定対象についての物理量としての抵抗値を測定して抵抗値データを生成すると共に、前記抵抗値データの値を表示部に表示させる第1の処理、および前記抵抗値データの値と第1の比較値とを比較して比較結果を報知する第2の処理を実行する抵抗測定方法であって、
予め規定された第1の時間毎に生成した前記抵抗値データを用いての前記第1の処理の実行に先立ち、当該第1の時間よりも短い第2の時間内で生成した前記抵抗値データを用いて前記第2の処理を実行し、当該第2の処理において、前記抵抗値データの値が前記第1の比較値未満のときには、不良の旨を表示させずに、前記抵抗値データの値が前記第1の比較値以上のときには、前記測定対象が良好である旨の表示をする抵抗測定方法。
A first process for generating a resistance value data by measuring a resistance value as a physical quantity for a measurement target and displaying a value of the resistance value data on a display unit when a predetermined start condition is satisfied And a resistance measurement method for executing a second process of comparing the value of the resistance value data with a first comparison value and notifying a comparison result,
Prior to the execution of the first process using the resistance value data generated every predetermined first time, the resistance value data generated within a second time shorter than the first time. In the second process, when the value of the resistance value data is less than the first comparison value, the fact that the resistance value data is not displayed is displayed. A resistance measurement method for displaying that the measurement object is good when the value is equal to or greater than the first comparison value.
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