JP2014041187A - Method of manufacturing display device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の実施形態は、表示装置の製造方法に関する。 Embodiments described herein relate generally to a method for manufacturing a display device.
従来のアクティブマトリクス型表示装置に用いられる基板はガラスなどの曲らない材料であり、フレキシブルディスプレイなどユーザの希望に応じた形状に変形できる表示装置のニーズを満足することが難しい。そのため、可撓性のあるプラスチックやシート材料などの上にディスプレイを形成することが試みられており、学会などでの報告も数多い。しかしながら、フレキシブル材料は熱膨張や吸湿による膨張を起こすため、この材料を基板として用い、その上に薄膜トランジスタを形成する場合、リソグラフィプロセスを重ねるにつれ、もともと形成されていたパターンと新たに形成されるパターンとの間で不一致が生じてしまう。 A substrate used in a conventional active matrix display device is a material that does not bend such as glass, and it is difficult to satisfy the need for a display device that can be deformed into a shape according to a user's request such as a flexible display. For this reason, attempts have been made to form a display on flexible plastic or sheet material, and there are many reports at academic societies and the like. However, since flexible materials cause expansion due to thermal expansion and moisture absorption, when this material is used as a substrate and a thin film transistor is formed thereon, the pattern that was originally formed and the pattern that is newly formed as the lithography process is repeated. Will be inconsistent with each other.
現在、1m角程度のガラス基板を用いたTFT−LCD用薄膜トランジスタの製造プロセスにおいては、下地基板の膨張収縮に対応するための倍率補正を露光装置で行なうことができるが、±20ppm程度となっている。典型的なフィルムの値である吸湿膨張1%(重量増加)は、300ppm例えば1m角の場合は0.3mm程度のサイズ増加となり、露光装置で対応できる量ではない。 Currently, in a TFT-LCD thin film transistor manufacturing process using a glass substrate of about 1 m square, magnification correction to cope with expansion and contraction of the base substrate can be performed by an exposure apparatus, but it is about ± 20 ppm. Yes. A typical film value of hygroscopic expansion of 1% (weight increase) is 300 ppm, for example, a size increase of about 0.3 mm in the case of 1 m square, and is not an amount that can be handled by the exposure apparatus.
これに対し、ガラスなどの基板上にゲル状のポリイミドなどを塗布してシート状薄膜を作製し、その上に薄膜トランジスタを形成し、あとで下地である基板を剥離することにより上記の問題を回避できる。これは、シート状薄膜を形成するポリイミドなどのフィルム材の膨張収縮量は、下地基板の膨張収縮量で決まるからである。 On the other hand, a gel-like polyimide is applied on a substrate such as glass to produce a sheet-like thin film, a thin film transistor is formed thereon, and then the above substrate is peeled off to avoid the above problem. it can. This is because the expansion / contraction amount of the film material such as polyimide forming the sheet-like thin film is determined by the expansion / contraction amount of the base substrate.
従来のアクティブマトリクス型表示装置において、薄膜トランジスタを作製するために使用される基板はガラスなどの硬い材料であり、その製造工程では、例えば複数の薄膜トランジスタが形成された1m角程度のパネルを所望のパネルサイズに切断する際、スクライブ・ブレイクという手法を用いている。この手法は、ガラス表面にキズをつけ、キズをつけていない側から圧力をかけることで切断する、いわば所望の形状に「割る」プロセスである。これは、硬くて厚いガラス基板の上には、切れ易く薄い薄膜が積層されているような従来構造では有効であるが、切れにくいシート状薄膜をガラス基板の切断と同時に切ることはむずかしい。 In a conventional active matrix display device, a substrate used for manufacturing a thin film transistor is a hard material such as glass. In the manufacturing process, for example, a panel of about 1 m square on which a plurality of thin film transistors are formed is a desired panel. When cutting into sizes, a technique called scribe break is used. This technique is a process of “splitting” a desired shape by scratching the glass surface and cutting by applying pressure from the non-scratched side. This is effective in the conventional structure in which a thin thin film is laminated on a hard and thick glass substrate, but it is difficult to cut a sheet-like thin film that is difficult to cut simultaneously with the cutting of the glass substrate.
その原因は、液晶表示装置の場合、2枚の基板の間に液晶が封入されている形状(セル構造)となっているが、シート状薄膜も2枚の基板の間にあることにある。シート状薄膜は、直接キズをつけることが可能であれば切断し得るけれども、2枚の基板の間にあるために直接触れることは困難である。 In the case of the liquid crystal display device, the cause is that the liquid crystal is sealed between the two substrates (cell structure), but the sheet-like thin film is also located between the two substrates. Although the sheet-like thin film can be cut if it can be directly scratched, it is difficult to touch it directly because it is between two substrates.
この問題を解決するために、あらかじめシート状薄膜をパターニングしておくという手段も考えられるが、薄膜トランジスタを作製するプロセスが増加してしまうこと、特にリソグラフィプロセスが増加することで、コストの大幅な増加をもたらすという問題がある。 In order to solve this problem, a method of patterning a sheet-like thin film in advance may be considered, but the process for manufacturing the thin film transistor increases, and in particular, the lithography process increases, resulting in a significant increase in cost. There is a problem of bringing about.
本発明の実施形態は、シート状薄膜及びガラス基板を備えたセル構造体の切断を低コストで行う表示装置の製造方法を提供することを目的とする。 An object of an embodiment of the present invention is to provide a manufacturing method of a display device that cuts a cell structure including a sheet-like thin film and a glass substrate at a low cost.
実施形態によれば、基板上に該基板と剥離可能なシート状薄膜を形成する工程と、
該シート状薄膜上に複数の能動素子を形成する工程と、
該シート状薄膜及び該基板に700ないし1100nmの波長を有するレーザ光を照射し該シート状膊膜を切断して複数に分割するとともに、かつ該基板表面に切り込みを形成する工程と、
該切り込みに沿って該基板を切断して複数に分割する工程と、
該基板を該シート状薄膜から剥離する工程とを具備する表示装置の製造方法が提供される。
According to the embodiment, forming a sheet-like thin film that can be peeled from the substrate on the substrate;
Forming a plurality of active elements on the sheet-like thin film;
Irradiating the sheet-like thin film and the substrate with a laser beam having a wavelength of 700 to 1100 nm to cut the sheet-like capsule into a plurality of parts, and forming a cut on the substrate surface;
Cutting the substrate along the notches and dividing the substrate into a plurality of parts;
And a step of peeling the substrate from the sheet-like thin film.
実施形態にかかる平面表示装置の製造方法は、基板上に基板と剥離可能なシート状薄膜を形成する工程、シート状薄膜上に複数の能動素子を形成する工程、シート状薄膜及び基板にレーザ光を照射しシート状膊膜を切断して複数に分割するとともに、かつ基板表面に切り込みを形成する工程、及び切り込みに沿って基板を切断して複数に分割する工程、基板をシート状薄膜から剥離する工程とを具備する。 The flat display device manufacturing method according to the embodiment includes a step of forming a sheet-like thin film that can be peeled from the substrate on the substrate, a step of forming a plurality of active elements on the sheet-like thin film, a laser beam on the sheet-like thin film and the substrate. And cutting the sheet-like film into a plurality of pieces, and forming a cut on the surface of the substrate, cutting the substrate along the cut and dividing it into a plurality of pieces, peeling the substrate from the sheet-like thin film The process to comprise.
使用されるレーザ光は700ないし1100nmの波長を有する。 The laser light used has a wavelength of 700 to 1100 nm.
実施形態によれば、液晶ディスプレイのようにシート状薄膜をガラス基板で挟んだ構成の場合、ガラス基板での吸収は小さく、シート状薄膜まで十分到達可能であるように、700nm〜1100nm程度の波長を有するレーザ光を使用する。 According to the embodiment, in the case of a configuration in which a sheet-like thin film is sandwiched between glass substrates as in a liquid crystal display, the wavelength on the order of 700 nm to 1100 nm is such that the absorption at the glass substrate is small and the sheet-like thin film can be sufficiently reached. Is used.
700ないし1100nmの波長を有するレーザ光として、例えばイットリウムアルミニウムガリウム(YAG),イットリウムアルミニウムガリウム−パラジウム(YAG−Pd)等の光源を用いたレーザ光を使用することができる。 As the laser light having a wavelength of 700 to 1100 nm, for example, laser light using a light source such as yttrium aluminum gallium (YAG), yttrium aluminum gallium-palladium (YAG-Pd) can be used.
特に、照射時間の短いレーザ例えばフェムト秒レーザ等を用いることにより、ガラスを切断する際の熱拡散長が短くなり、小さな切りシロで切断することができる。 In particular, by using a laser having a short irradiation time, such as a femtosecond laser, the thermal diffusion length when cutting the glass is shortened, and it is possible to cut with a small cutting edge.
図1に、切りシロを説明するための図を示す。 FIG. 1 is a diagram for explaining cutting paper.
図示するように、ここでは、本来切断すべき線101に対し、実際の切断端部102,103の最大幅wを切りシロという。
As shown in the figure, here, the maximum width w of the actual
実施形態にかかる表示装置としては、例えば液晶表示装置、及び有機EL表示素子等があげられる。 Examples of the display device according to the embodiment include a liquid crystal display device and an organic EL display element.
実施形態に使用されるシート状薄膜は可撓性を有し、例えばポリイミドフィルム等を使用することができる。 The sheet-like thin film used in the embodiment has flexibility, and for example, a polyimide film or the like can be used.
実施例
以下、実施例を示し、実施形態を具体的に説明する。
Example Hereinafter, an example is shown and an embodiment is described concretely.
実施例1
図2(a)ないし(j)に、実施例1に係る液晶表示装置の製造工程を説明するための図を示す。
Example 1
2A to 2J are views for explaining a manufacturing process of the liquid crystal display device according to the first embodiment.
まず、図2(a)に示すように、例えば550mm×670mmの大きさのガラス製のアレイ基板1,図2(d)に示すように550mm×670mmの大きさのガラス製の対向基板2を用意する。
First, as shown in FIG. 2A, for example, a
アレイ基板1上にポリイミド(PI)塗布液をスリットコート法により形成し、150℃で5分プリベークし、続いて350℃で30分キュアすることにより厚さを約10μmのPIシート状薄膜3を形成した。
A polyimide (PI) coating solution is formed on the
PIシート状薄膜3上に、原料ガスとしてSiH4+NH3+N2を使用し、基板温度Tsub350℃でプラズマCVDを行うことにより、図示しないSiNx水分拡散阻止膜を成膜した。
On the PI sheet-like
続いて、SiNx水分拡散阻止膜上に、規則正しく配置された複数の図示しないIGZO−TFTを形成した。 Subsequently, a plurality of IGZO-TFTs (not shown) arranged regularly are formed on the SiN x moisture diffusion barrier film.
なお、この例では、IGZO−TFTを使用したけれども、IGZO−TFTの代わりにポリSiTFT、アモルファス(α−)SiTFTを形成することもできる。 In this example, an IGZO-TFT is used, but a poly Si TFT and an amorphous (α-) Si TFT can be formed instead of the IGZO-TFT.
さらに、各IGZO−TFT上に、図示しない下部電極を各々形成した後、図示しない配向膜を各々形成し、ラビング処理を行った。 Further, a lower electrode (not shown) was formed on each IGZO-TFT, an alignment film (not shown) was formed, and a rubbing process was performed.
また、ガラス製の対向基板2上に、下部電極上と同様に図示しない配向膜を形成し、配向膜にラビング処理を施した。
Further, an alignment film (not shown) was formed on the
次に、図2(b)に示すように、PIシート状薄膜3の配向膜上にスペーサー4を形成した。
Next, as shown in FIG. 2B,
さらに、図2(c)に示すように、配向膜上に液晶5を滴下した。
Further, as shown in FIG. 2C, the
続いて、図2(e)に示すように、アレイ基板1上にスペーサー4を介して図2(d)の対向基板2を接合し、液晶5を封止して、組み立て品を得た。
Subsequently, as shown in FIG. 2 (e), the
次に、図2(f)に示すように、ガラス製の対向基板2上から、波長1064nmのYAGレーザを50kHz、100μJ/shotの条件で照射して、図2(g)に示すように、PIシート状薄膜3を切断するとともに、アレイ基板1に切り込みを付けた。
Next, as shown in FIG. 2 (f), a YAG laser with a wavelength of 1064 nm is irradiated on the
ここでは、550mm×670mmの大きさのアレイ基板1から例えば94.5mm×56.2mmの大きさのアレイ基板1’を55個切り出すための切り込みを設けている。
Here, notches are provided for cutting out 55
続いて、図2(h)に示すように、例えばブレークバー11等を用いて切り込み付近に衝撃を与えることにより、アレイ基板1を切り込みを境に切断した。ここでは、PIシート状薄膜3が予め切断されているので、アレイ基板1の切断は容易である。
Subsequently, as shown in FIG. 2H, the
図2(i)に示すように、切り出されたアレイ基板1’をPIシート状薄膜3から剥離し、図2(j)に示すように、複数の液晶表示装置10を得た。
As shown in FIG. 2 (i), the cut array substrate 1 'was peeled from the PI sheet-like
また、図2(e)に示す組み立て品を用いて、波長1064nmのYAGレーザを50
kHzで投入パワーを変化させた場合の切りシロを測定した。
In addition, using the assembly shown in FIG.
The cutting edge was measured when the input power was changed at kHz.
レーザ光の投入パワーと切りシロとの関係を表す図を図3に示す。 FIG. 3 shows a relationship between the laser beam input power and the cutting force.
図3中、101はレーザ光照射後のスクライブライン、102はガラス基板をブレイクした後の切りシロ、及び103はポリイミドの切りシロを各々示す。 In FIG. 3, 101 indicates a scribe line after laser beam irradiation, 102 indicates a cutting scissor after breaking the glass substrate, and 103 indicates a polyimide scissor.
図3より、YAGレーザ(波長1064nm)を用いた場合、50kHzで100μJ/shotより小さいと、ガラスにスクライブラインが入っておらず、ブレイク時に切りシロが大きくなることがわかる。また、高エネルギーになると、照射時に表面側の荒れが大きくなる。また、ポリイミド製のシートは80μJから120μJの間で切断できている。本条件では、100μJ/shotがよい。 FIG. 3 shows that when a YAG laser (wavelength: 1064 nm) is used, if it is smaller than 100 μJ / shot at 50 kHz, there is no scribe line in the glass, and the cutting becomes larger during breaks. Moreover, when it becomes high energy, the surface side roughness will become large at the time of irradiation. The polyimide sheet can be cut between 80 μJ and 120 μJ. Under this condition, 100 μJ / shot is good.
さらに、図2(e)に示す組み立て品を用いて、波長1064nmのYAGレーザを
100μJ/shotで周波数を変化させて測定した。
Further, by using the assembly shown in FIG. 2 (e), a YAG laser having a wavelength of 1064 nm was measured by changing the frequency at 100 μJ / shot.
レーザ光の周波数と切りシロとの関係を表す図を図4に示す。 FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the frequency of the laser light and the cutting edge.
ここで、201は、レーザ照射後のスクライブラインを示す。 Here, 201 indicates a scribe line after laser irradiation.
YAGレーザ(波長1064nm)を用いた場合、50kHzまでは切りシロが同じである。50kHzを越えると、照射時に表面側の荒れが大きくなる。これは、熱の蓄積によるものと思われる。本条件では、50kHzがよいことがわかる。 When a YAG laser (wavelength 1064 nm) is used, the cutting force is the same up to 50 kHz. If the frequency exceeds 50 kHz, surface roughness increases during irradiation. This is probably due to heat accumulation. It can be seen that 50 kHz is good under this condition.
実施例2
図5(a)ないし(j)に、実施例2に係る液晶表示装置の製造工程を説明するための図を示す。
Example 2
5A to 5J are views for explaining a manufacturing process of the liquid crystal display device according to the second embodiment.
まず、図5(a)に示すように、実施例1と同様のアレイ基板1,図5(d)に示すように実施例1と同様の対向基板2を用意する。
First, as shown in FIG. 5 (a), an array substrate similar to that of the first embodiment and a
アレイ基板1上に実施例1と同様にしてPIシート状薄膜3を形成した。
A PI sheet-like
PIシート状薄膜3上に、図示しないSiNx水分拡散阻止膜、規則正しく配置された複数の図示しないIGZO−TFTを形成した。
On the PI sheet-like
なお、実施例1と同様にIGZO−TFTの代わりにポリSiTFT、α−SiTFTを形成することもできる。 Note that a poly-Si TFT and an α-Si TFT can be formed instead of the IGZO-TFT as in the first embodiment.
さらに、各IGZO−TFT上に、図示しない下部電極を各々形成した後、図示しない配向膜を各々形成し、ラビング処理を行った。 Further, a lower electrode (not shown) was formed on each IGZO-TFT, an alignment film (not shown) was formed, and a rubbing process was performed.
また、ガラス製の対向基板2上に、下部電極上と同様に図示しない配向膜を形成し、配向膜にラビング処理を施した。
Further, an alignment film (not shown) was formed on the
次に、図5(b)に示すように、実施例1と同様にしてPIシート状薄膜3の配向膜上にスペーサー4を形成した。
Next, as shown in FIG. 5B, the
続いて、図5(c)に示すように、アレイ基板1上にスペーサー4を介して図5(d)の対向基板2を接合した。
Subsequently, as shown in FIG. 5C, the
次に、図5(e)に示すように、ガラス製の対向基板2上から、波長800nmの短パルスレーザを100μJ/shot、70fsの条件で照射して、図5(f)に示すように、PIシート状薄膜3を切断するとともに、アレイ基板1に実施例1と同様の切り込みを付けた。
Next, as shown in FIG. 5E, a short pulse laser with a wavelength of 800 nm is irradiated on the
続いて、図5(g)に示すように、実施例1と同様にしてアレイ基板1を切断した。ここでは、PIシート状薄膜3が予め切断されているので、アレイ基板1の切断は容易である。
Subsequently, as shown in FIG. 5G, the
図5(h)に示すように、切り出されたアレイ基板1’を液晶が入った容器内に浸漬する。アレイ基板1と対向基板2とのすき間に毛細管現象による浸透圧により液晶を注入した後、封止材により開口部を塞いで封止した。
As shown in FIG. 5 (h), the cut array substrate 1 'is immersed in a container containing liquid crystal. After injecting liquid crystal by osmotic pressure due to capillary action between the
その後、切り出されたアレイ基板1’をPIシート状薄膜3から剥離し、図5(j)に示すように、複数の液晶表示装置20を得た。
Thereafter, the cut out
さらに、図5(c)に示す組み立て品を用いて、波長800nmの短パルスレーザをショット当たりの照射時間を変化させて測定した。 Furthermore, using the assembly shown in FIG. 5C, a short pulse laser having a wavelength of 800 nm was measured while changing the irradiation time per shot.
レーザ光の周波数と切りシロとの関係を表す図を図6に示す。 A diagram showing the relationship between the frequency of the laser beam and the cutting edge is shown in FIG.
図中、301はレーザ光照射後のスクライブライン、302はポリイミドの切りシロを各々示す。
In the figure,
短パルスレーザ(波長800nm)を用いた場合、照射時間が短いほどプラスチック基板の切りシロが小さくなる。これは、熱の蓄積によるものと思われる。シート(ポリイミド膜)の切りシロはどの条件でも基板よりも小さいこともわかる。切りシロが小さいほどよいのであれば、70フェムト秒の条件が最も良い。
When a short pulse laser (
実施例3
図7(a)ないし(j)に、実施例3に係る液晶表示装置の製造工程を説明するための図を示す。
Example 3
7A to 7J are views for explaining the manufacturing process of the liquid crystal display device according to the third embodiment.
まず、図7(a)に示すように、実施例1と同様のアレイ基板1を用意する。
First, as shown in FIG. 7A, an
また、図7(f)に示すように、個々の液晶表示装置に相当する大きさの可撓性対向基板6を用意する。
Also, as shown in FIG. 7F, a
アレイ基板1上に実施例1と同様にしてPIシート状薄膜3を形成した。
A PI sheet-like
PIシート状薄膜3上に、図示しないSiNx水分拡散阻止膜、規則正しく配置された複数の図示しないIGZO−TFTを形成した。
On the PI sheet-like
なお、実施例1と同様にIGZO−TFTの代わりにポリSiTFT、α−SiTFTを形成することもできる。 Note that a poly-Si TFT and an α-Si TFT can be formed instead of the IGZO-TFT as in the first embodiment.
さらに、各IGZO−TFT上に、図示しない下部電極を各々形成した後、図示しない配向膜を各々形成し、ラビング処理を行った。 Further, a lower electrode (not shown) was formed on each IGZO-TFT, an alignment film (not shown) was formed, and a rubbing process was performed.
また、可撓性対向基板6上に、下部電極上と同様に図示しない配向膜を形成し、配向膜にラビング処理を施した。
Further, an alignment film (not shown) was formed on the
次に、図7(b)に示すように、実施例1と同様にしてPIシート状薄膜3の配向膜上にスペーサー4を形成した。
Next, as shown in FIG. 7B, a
その後、図7(c)に示すように、PIシート状薄膜3上から、波長800nmの短パルスレーザを100μJ/shot、70fsの条件で照射して、図7(d)に示すように、PIシート状薄膜3を切断するとともに、アレイ基板1に実施例1と同様の切り込みを付けた。
Thereafter, as shown in FIG. 7C, a short pulse laser with a wavelength of 800 nm is irradiated on the PI sheet-like
続いて、図7(e)に示すように、実施例1と同様にしてアレイ基板1を切断した。ここでは、PIシート状薄膜3が予め切断されているので、アレイ基板1の切断は容易である。
Subsequently, as shown in FIG. 7E, the
さらに、図7(g)に示すように、図7(f)に示す可撓性対向基板6を、切り出されたアレイ基板1’にスペーサー4を介して対向配置して接合した。得られた構造体を液晶が入った容器内に浸漬する。アレイ基板1と対向基板2とのすき間に毛細管現象による浸透圧により液晶を注入した後、封止材により開口部を塞いで封止した。
Further, as shown in FIG. 7 (g), the
その後、切り出されたアレイ基板1’をPIシート状薄膜3から剥離し、図7(j)に示すように、複数の液晶表示装置30を得た。
Thereafter, the cut out
実施例4
図8(a)ないし(j)に、実施例4に係る液晶表示装置の製造工程を説明するための図を示す。
Example 4
8A to 8J are views for explaining a manufacturing process of the liquid crystal display device according to the fourth embodiment.
まず、図8(a)に示すように、実施例1と同様のアレイ基板1を用意する。
First, as shown in FIG. 8A, an
また、図8(f)に示すように、個々の液晶表示装置に相当する大きさの可撓性対向基板6を用意する。
Further, as shown in FIG. 8F, a
図8(a)ないし(d)に示すように、実施例3の図4(a)ないし(d)と同様にして、アレイ基板1上にPIシート状薄膜3、図示しないSiNx水分拡散阻止膜、規則正しく配置された複数の図示しないIGZO−TFTを形成した。
As shown in FIGS. 8A to 8D, in the same manner as in FIGS. 4A to 4D of Example 3, the PI sheet-like
なお、実施例1と同様にIGZO−TFTの代わりにポリSiTFT、α−SiTFTを形成することもできる。 Note that a poly-Si TFT and an α-Si TFT can be formed instead of the IGZO-TFT as in the first embodiment.
さらに、各IGZO−TFT上に、図示しない下部電極を各々形成した後、図示しない配向膜を各々形成し、ラビング処理を行った。 Further, a lower electrode (not shown) was formed on each IGZO-TFT, an alignment film (not shown) was formed, and a rubbing process was performed.
また、可撓性対向基板6上に、下部電極上と同様に図示しない配向膜を形成し、配向膜にラビング処理を施した。
Further, an alignment film (not shown) was formed on the
次に、図8(b)に示すように、実施例1と同様にしてPIシート状薄膜3の配向膜上にスペーサー4を形成した。
Next, as shown in FIG. 8B, a
その後、図8(c)に示すように、PIシート状薄膜3上から、波長800nmの短パルスレーザを100μJ/shot、70fsの条件で照射して、図8(d)に示すように、PIシート状薄膜3を切断するとともに、アレイ基板1に実施例1と同様の切り込みを付けた。
Thereafter, as shown in FIG. 8C, a short pulse laser with a wavelength of 800 nm is irradiated on the PI sheet-like
続いて、図8(e)に示すように、実施例1と同様にしてアレイ基板1を切断した。ここでは、PIシート状薄膜3が予め切断されているので、アレイ基板1の切断は容易である。さらに続いて、PIシート状薄膜3の配向膜上に液晶を滴下した。
Subsequently, as shown in FIG. 8E, the
続いて、図8(g)に示すように、アレイ基板1上にスペーサー4を介して、図8(f)に示す可撓性対向基板2をそれぞれ接合し、開口部を塞ぐことにより、液晶5を封止した。
Subsequently, as shown in FIG. 8 (g), the
その後、図8(h)に示すように、切り出されたアレイ基板1’をPIシート状薄膜3から剥離し、図8(i)に示すように、複数の液晶表示装置40を得た。
Thereafter, as shown in FIG. 8 (h), the cut out array substrate 1 'was peeled from the PI sheet-like
実施例5
図9(a)ないし(i)に、実施例5に係る有機EL表示素子の製造工程を説明するための図を示す。
Example 5
9A to 9I are views for explaining a manufacturing process of the organic EL display element according to the fifth embodiment.
まず、図9(a)に示すように、実施例1と同様のアレイ基板1,図9(c)に示すように実施例1と同様の対向基板2を用意する。
First, as shown in FIG. 9A, an array substrate similar to that of the first embodiment and an opposing
アレイ基板1上に実施例1と同様にしてPIシート状薄膜3を形成した。
A PI sheet-like
PIシート状薄膜3上に、図示しないSiNx水分拡散阻止膜、規則正しく配置された複数の図示しないIGZO−TFTを形成した。
On the PI sheet-like
なお、実施例1と同様にIGZO−TFTの代わりにポリSiTFT、α−SiTFTを形成することもできる。 Note that a poly-Si TFT and an α-Si TFT can be formed instead of the IGZO-TFT as in the first embodiment.
さらに、図9(b)に示すように、各IGZO−TFT上に、図示しない電極及び有機EL発光層7を各々形成した。
Furthermore, as shown in FIG. 9B, electrodes (not shown) and the organic EL
続いて、図9(d)に示すように、PIシート状薄膜3上にスペーサー4を形成し,アレイ基板1上にスペーサー4を介して図9(c)に示すPENまたはPETフィルムからなる可撓性の対向基板2を対向配置して接合した。
Subsequently, as shown in FIG. 9 (d), a
対向基板2と有機EL発光層7との隙間には充填材8を詰めることができる。
A
その後、図9(e)に示すように、対向基板2上から、波長800nmの短パルスレーザを100μJ/shot、70fsの条件で照射して、図9(f)に示すようにPIシート状薄膜3を切断するとともに、アレイ基板1に切り込みを付けた。
Thereafter, as shown in FIG. 9 (e), a short pulse laser with a wavelength of 800 nm is irradiated from above the
続いて、図9(g)に示すように、実施例1と同様にしてアレイ基板1を切断した。ここでは、PIシート状薄膜3が予め切断されているので、アレイ基板1の切断は容易である。
Subsequently, as shown in FIG. 9G, the
その後、図9(h)に示すように、切り出されたアレイ基板1’をPIシート状薄膜3から剥離し、図9(i)に示すように、複数の有機EL表示素子50を得た。
Thereafter, as shown in FIG. 9 (h), the cut out array substrate 1 'was peeled from the PI sheet-like
実施例6
図10(a)ないし(h)に、実施例6に係る有機EL表示素子の製造工程を説明するための図を示す。
Example 6
FIGS. 10A to 10H are views for explaining a manufacturing process of the organic EL display element according to the sixth embodiment.
まず、図10(a)に示すように、実施例1と同様のアレイ基板1を用意する。
First, as shown in FIG. 10A, an
アレイ基板1上に実施例1と同様にしてPIシート状薄膜3を形成した。
A PI sheet-like
PIシート状薄膜3上に、図示しないSiNx水分拡散阻止膜、規則正しく配置された複数の図示しないIGZO−TFTを形成した。
On the PI sheet-like
なお、実施例1と同様にIGZO−TFTの代わりにポリSiTFT、α−SiTFTを形成することもできる。 Note that a poly-Si TFT and an α-Si TFT can be formed instead of the IGZO-TFT as in the first embodiment.
さらに、図10(b)に示すように、各IGZO−TFT上に、図示しない電極及び有機EL発光層7を各々形成した。 Furthermore, as shown in FIG. 10B, electrodes and organic EL light emitting layers 7 (not shown) were formed on each IGZO-TFT.
続いて、図10(c)に示すように、PIシート状薄膜3上に有機EL発光層7を介して薄膜9を形成することにより有機EL発光層7を封止した。
Then, as shown in FIG.10 (c), the organic EL
その後、図10(d)に示すように、薄膜9上から、波長800nmの短パルスレーザを100μJ/shot、70fsの条件で照射して、図10(e)に示すようにPIシート状薄膜3を切断するとともに、アレイ基板1に切り込みを付けた。
Thereafter, as shown in FIG. 10D, a short pulse laser with a wavelength of 800 nm is irradiated from above the
続いて、図10(f)に示すように、実施例1と同様にしてアレイ基板1を切断した。ここでは、PIシート状薄膜3が予め切断されているので、アレイ基板1の切断は容易である。
Subsequently, as shown in FIG. 10 (f), the
その後、図10(g)に示すように、切り出されたアレイ基板1’をPIシート状薄膜3から剥離し、図10(i)に示すように、複数の有機EL表示素子50を得た。
Thereafter, as shown in FIG. 10G, the cut out
また、実施例5に記載の有機EL表示素子に使用されたポリイミド膜と例えばPETからなる上側基板(フィルム)について照射される光の波長を変化させて光の吸収量を測定した。 Further, the amount of light absorbed was measured by changing the wavelength of light irradiated on the polyimide film used in the organic EL display element described in Example 5 and the upper substrate (film) made of, for example, PET.
照射される光の波長と光の吸収量との関係を表す図を図11に示す。 FIG. 11 shows the relationship between the wavelength of the irradiated light and the amount of light absorbed.
図中、401はポリイミド、402は上側基板の結果を示す。 In the figure, 401 indicates the result of polyimide, and 402 indicates the result of the upper substrate.
図11より、1100nmよりも波長が長いと、ポリイミド(PI)膜の吸収がなくなる。700nmよりも短いと、上側基板の吸収が増える。また、PI膜の吸収も増えるため、レーザ光強度の揺らぎで照射部分の温度が変わり、プロセスマージンが小さくなってしまうことがわかる。 From FIG. 11, when the wavelength is longer than 1100 nm, the absorption of the polyimide (PI) film is lost. If it is shorter than 700 nm, the absorption of the upper substrate increases. In addition, since the absorption of the PI film also increases, it can be seen that the temperature of the irradiated portion changes due to fluctuations in the intensity of the laser beam, and the process margin becomes small.
これらの実施形態又は実施例によれば、新たなプロセスを増加することなく、シート状薄膜及びガラス基板を備えたセル構造体の切断を低コストで行うことができることがわかる。 According to these embodiments or examples, it can be seen that the cell structure including the sheet-like thin film and the glass substrate can be cut at a low cost without increasing a new process.
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。 Although several embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.
1…基板、3…シート状薄膜、10,20,30,40,50,60…表示装置
DESCRIPTION OF
Claims (3)
該シート状薄膜上に複数の能動素子を形成する工程と、
該シート状薄膜及び該基板に700ないし1100nmの波長を有するレーザ光を照射し該シート状膊膜を切断して複数に分割するとともに、かつ該基板表面に切り込みを形成する工程と、
該切り込みに沿って該基板を切断して複数に分割する工程と、
該基板を該シート状薄膜から剥離する工程とを具備する表示装置の製造方法。 Forming a sheet-like thin film peelable from the substrate on the substrate;
Forming a plurality of active elements on the sheet-like thin film;
Irradiating the sheet-like thin film and the substrate with a laser beam having a wavelength of 700 to 1100 nm to cut the sheet-like capsule into a plurality of parts, and forming a cut on the substrate surface;
Cutting the substrate along the notches and dividing the substrate into a plurality of parts;
And a step of peeling the substrate from the sheet-like thin film.
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