JP2014026575A - Test device, test method, and test program - Google Patents

Test device, test method, and test program Download PDF

Info

Publication number
JP2014026575A
JP2014026575A JP2012168232A JP2012168232A JP2014026575A JP 2014026575 A JP2014026575 A JP 2014026575A JP 2012168232 A JP2012168232 A JP 2012168232A JP 2012168232 A JP2012168232 A JP 2012168232A JP 2014026575 A JP2014026575 A JP 2014026575A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
instruction sequence
instruction
unit
sequence
instructions
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012168232A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5918062B2 (en
Inventor
Osamu Fujimaki
修 藤巻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Computertechno Ltd
Original Assignee
NEC Computertechno Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Computertechno Ltd filed Critical NEC Computertechno Ltd
Priority to JP2012168232A priority Critical patent/JP5918062B2/en
Publication of JP2014026575A publication Critical patent/JP2014026575A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5918062B2 publication Critical patent/JP5918062B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test device and the like, in which a testing having a high randomness is performed.SOLUTION: A test device 1 includes: a selection part 2 for taking out a first instruction string randomly out of a plurality of instruction strings constituted by combining instructions 7 which can be processed by an information processing device 6; an insertion part 3 for performing first processing, when the first instruction string is constituted by plural ones of the instructions, in which the instruction string is selected randomly as an insertion instruction string, the insertion instruction string is inserted between the instructions constituting the first instruction string, and the inserted instruction string is set to a second instruction string, and for setting the first instruction string to the second instruction string when the first instruction string is constituted by one of the instructions; a generation part 4 for generating a third instruction string by aligning the second instruction strings; and an execution part 5 for instructing the information processing device to perform processing of the third instruction string. The insertion part 3 performs the first processing by one or more times.

Description

本発明は、情報処理装置を試験するテスト装置等に関する。   The present invention relates to a test apparatus for testing an information processing apparatus.

特許文献1は、情報処理装置を試験(以降、「テスト」とも表す)する方法の一例を開示する。図22は、特許文献1が開示する情報処理装置を試験する方法を表す。図22に示すように、特許文献1が開示するテスト装置32は、抑止命令指定部28と、ランダム試験プログラム生成部29と、試験命令実行部30と、実行結果判定部31とを有する。   Patent Document 1 discloses an example of a method for testing an information processing apparatus (hereinafter also referred to as “test”). FIG. 22 shows a method of testing the information processing apparatus disclosed in Patent Document 1. As shown in FIG. 22, the test apparatus 32 disclosed in Patent Document 1 includes a suppression instruction specifying unit 28, a random test program generation unit 29, a test instruction execution unit 30, and an execution result determination unit 31.

抑止命令指定部28は、情報処理装置6が処理することができる命令(以降、「実行可能命令」とも表す)のうち、ランダム試験から除外する命令を記憶する。ランダム試験プログラム生成部29は、実行可能命令の中から、抑止命令指定部28が記憶する命令には含まれない命令を複数選び出し、選び出した命令列を組み合わせることにより、命令列を生成する。その命令列は、情報処理装置6がランダム試験にて処理するプログラム(以降、「ランダム試験プログラム」と表す)を表す。次に、試験命令実行部30は、情報処理装置6に、該命令列を処理することを命じる。次に、実行結果判定部31は、情報処理装置6から実行結果に関する情報を受け取り、受け取った情報に応じて情報処理装置6の状態を判定する。   The inhibition instruction designating unit 28 stores an instruction to be excluded from the random test among instructions that can be processed by the information processing apparatus 6 (hereinafter also referred to as “executable instructions”). The random test program generation unit 29 selects a plurality of instructions that are not included in the instructions stored in the inhibition instruction specification unit 28 from the executable instructions, and generates an instruction sequence by combining the selected instruction sequences. The instruction sequence represents a program (hereinafter, referred to as “random test program”) that the information processing apparatus 6 processes in the random test. Next, the test instruction execution unit 30 instructs the information processing apparatus 6 to process the instruction sequence. Next, the execution result determination unit 31 receives information related to the execution result from the information processing device 6 and determines the state of the information processing device 6 according to the received information.

しかしながら、実行可能命令には、命令を実行する前に所定の命令処理を行う前処理、あるいは、命令を実行した後に所定の命令処理を行う後処理を必要とする命令(以降、「要処理命令」と表す)が存在する。所定の命令処理は、あらかじめ、複数の命令を連続して並べることにより構成される命令列から成る(以降、前処理を構成する命令列を「前処理命令」、後処理を構成する命令列を「後処理命令」と表す)。前処理命令と後処理命令とは、所定の命令列であるため、情報処理装置6が実行する命令列におけるランダム性(乱雑さ、乱数性などとも表す)を低下させる。   However, executable instructions include pre-processing that performs predetermined instruction processing before executing the instruction, or instructions that require post-processing that performs predetermined instruction processing after executing the instruction (hereinafter referred to as “required processing instruction”). ")". Predetermined instruction processing is made up of an instruction sequence configured by sequentially arranging a plurality of instructions in advance (hereinafter, the instruction sequence constituting the pre-processing is referred to as “pre-processing instruction”, and the instruction sequence constituting the post-processing is defined as Represented as “post-processing instructions”). Since the pre-processing instruction and the post-processing instruction are predetermined instruction sequences, the randomness (also expressed as randomness, randomness, etc.) in the instruction sequence executed by the information processing device 6 is reduced.

特許文献2が開示する情報処理装置試験方法は、要処理命令と前処理命令との間、あるいは、要処理命令と後処理命令との間に、新たな命令を追加し、追加することにより得られた命令をランダム試験プログラムとして出力する。即ち、その情報処理装置試験方法において、前処理命令、あるいは、後処理命令が、所定の命令列である。そのため、要処理命令が頻出するランダム試験プログラムは、ランダム性が低下する。   The information processing apparatus test method disclosed in Patent Document 2 is obtained by adding a new instruction between a required processing instruction and a preprocessing instruction or between a required processing instruction and a postprocessing instruction. The given command is output as a random test program. That is, in the information processing apparatus test method, the pre-processing instruction or the post-processing instruction is a predetermined instruction sequence. For this reason, randomness of a random test program that frequently requires processing instructions decreases.

特許文献3が開示する論理検証方式は、予め決められた命令列を複数組み合わせ、その組み合わせをテスト命令列として出力する。該論理検証方式は、上述した方法により大規模なテスト命令列を作成する。   The logic verification method disclosed in Patent Document 3 combines a plurality of predetermined instruction sequences and outputs the combination as a test instruction sequence. In the logic verification method, a large-scale test instruction sequence is created by the method described above.

特開昭62−100846号公報JP-A-62-100846 特開平02−115940号公報Japanese Patent Laid-Open No. 02-115940 特開2002−157145号公報JP 2002-157145 A

ランダム試験を実施するためのコンピュータ・プログラム(以降、単に「プログラム」と表す)には、乱数あるいは乱数発生プログラムを使って発生させた擬似乱数(以降、これらの乱数をまとめて、「乱数」と表記する)に従い、命令をランダムに複数個選択し、選んだ複数の命令を実施する方法が存在する。ある特定の命令を実施するためには、所定の命令列を実施する前処理命令、あるいは所定の命令列を実施する後処理命令が必要になる。しかしながら、前処理命令と後処理命令とが所定の命令列を含む処理であるため、そのランダム試験を構成する命令列は、該特定の命令前後で決まってしまう。その結果、該ランダム試験において、処理のランダム性は低下する。そのため、ランダム試験としては、必ずしも目的が達成しているとは言えない。   A computer program for performing a random test (hereinafter simply referred to as “program”) includes a random number or a pseudo-random number generated by using a random number generation program (hereinafter referred to as “random number”. There is a method of selecting a plurality of instructions at random and executing the selected instructions. In order to execute a specific instruction, a pre-processing instruction for executing a predetermined instruction sequence or a post-processing instruction for executing a predetermined instruction sequence is required. However, since the pre-processing instruction and the post-processing instruction are processes including a predetermined instruction sequence, the instruction sequence constituting the random test is determined before and after the specific instruction. As a result, the randomness of the treatment decreases in the random test. For this reason, the purpose of the random test is not necessarily achieved.

そこで、本発明の主たる目的は、ランダム性の高いテストを実施するテスト装置等を提供することである。   Therefore, a main object of the present invention is to provide a test apparatus or the like for performing a test with high randomness.

前述の目的を達成するために、本発明に係るテスト装置は、以下の構成を備えることを特徴とする。   In order to achieve the above object, a test apparatus according to the present invention has the following configuration.

即ち、本発明に係るテスト装置は、
情報処理装置が処理することができる命令を、組み合わせることによって構成された複数の命令列からランダムに第1命令列を取り出す選択部と、
前記第1命令列が複数の前記命令から構成される場合に、ランダムに前記命令列を挿入命令列として選び、該挿入命令列を、前記第1命令列を構成する前記命令間に挿入し、挿入後の命令列を第2命令列とする第1処理を行い、
前記第1命令列が1個の前記命令から構成される場合に、前記第1命令列を前記第2命令列とする挿入部と、
前記第2命令列を並べることにより第3命令列を作成する生成部と、
前記第3命令列の処理を前記情報処理装置に命ずる実施部とを備え、
前記挿入部は、1度以上前記第1処理を行う
ことを特徴とする。
That is, the test apparatus according to the present invention is
A selection unit that randomly extracts a first instruction sequence from a plurality of instruction sequences configured by combining instructions that can be processed by the information processing apparatus;
When the first instruction sequence is composed of a plurality of the instructions, the instruction sequence is randomly selected as an insertion instruction sequence, the insertion instruction sequence is inserted between the instructions constituting the first instruction sequence, Perform the first process with the inserted instruction sequence as the second instruction sequence,
When the first instruction sequence is composed of one instruction, an insertion unit that uses the first instruction sequence as the second instruction sequence;
A generator that creates a third instruction sequence by arranging the second instruction sequences;
An execution unit that instructs the information processing device to process the third instruction sequence;
The insertion unit performs the first process at least once.

また、本発明の他の見地として、本発明に係るテスト方法は、
情報処理装置が処理することができる命令を、組み合わせることによって構成された複数の命令列からランダムに第1命令列を取り出し、前記第1命令列が複数の前記命令から構成される場合に、ランダムに前記命令列を挿入命令列として選び、該挿入命令列を、前記第1命令列を構成する前記命令間に挿入し、挿入後の命令列を第2命令列とする処理を1度以上行い、前記第1命令列が1個の前記命令から構成される場合に、前記第1命令列を前記第2命令列とし、前記第2命令列を並べることにより第3命令列を作成し、前記第3命令列の処理を前記情報処理装置に命じる
ことを特徴とする。
As another aspect of the present invention, the test method according to the present invention includes:
When a first instruction sequence is randomly extracted from a plurality of instruction sequences configured by combining instructions that can be processed by the information processing apparatus, and the first instruction sequence includes a plurality of the instructions, random The instruction sequence is selected as an insertion instruction sequence, the insertion instruction sequence is inserted between the instructions constituting the first instruction sequence, and the inserted instruction sequence is processed as a second instruction sequence at least once. When the first instruction sequence is composed of one instruction, the first instruction sequence is used as the second instruction sequence, and a third instruction sequence is created by arranging the second instruction sequence, The information processing apparatus is instructed to process a third instruction sequence.

本発明に係るテスト装置等によれば、高いランダム性を有するテストを実施することができる。   According to the test apparatus and the like according to the present invention, a test having high randomness can be performed.

次に、発明を実施するための最良の形態について図面を参照して詳細に説明する。   Next, the best mode for carrying out the invention will be described in detail with reference to the drawings.

<第1の実施形態>
本発明の第1の実施形態に係るテスト装置が有する構成と、そのテスト装置が行う処理とについて、図1と図2とを参照しながら詳細に説明を行う。図1は、本発明の第1の実施形態に係るテスト装置1の構成を示すブロック図である。図2は、本発明の第1の実施形態に係るテスト装置1における処理の流れを示すフローチャートである。
<First Embodiment>
The configuration of the test apparatus according to the first embodiment of the present invention and the processing performed by the test apparatus will be described in detail with reference to FIG. 1 and FIG. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a test apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a flowchart showing the flow of processing in the test apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention.

図1を参照すると、本発明の第1の実施形態に係るテスト装置1は、選択部2と、挿入部3と、生成部4と、実施部5とを有する。テスト装置1は、ランダム試験を行う対象である情報処理装置6と繋がる。テスト装置1は、情報処理装置6が実行することができる命令(以降、「実行可能命令」とも表す)を命令7から読み取る。   Referring to FIG. 1, the test apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention includes a selection unit 2, an insertion unit 3, a generation unit 4, and an implementation unit 5. The test apparatus 1 is connected to an information processing apparatus 6 that is a target for performing a random test. The test apparatus 1 reads from the instruction 7 an instruction that can be executed by the information processing apparatus 6 (hereinafter also referred to as “executable instruction”).

例えば、情報処理装置6は、図3に示すような命令を実行する。図3は、本発明の第1の実施形態に係るテスト装置1の入力となる実行可能命令列を表す概念図である。図3におけるa1、a2、a3、a4、b1、b2、b3などの表記は、それぞれ、情報処理装置6において実行することができる1個の命令を概念的に表す。図3における1行目には、「a1、a2、a3、a4」という4個の命令が存在する。「a1、a2、a3、a4」という表記は、情報処理装置6がa1を実行し、次にa2を実行し、次にa3を実行し、次にa4を実行することを表す。以降では、命令が1個以上の実行可能命令を有するとき、一連の命令をまとめて命令列(あるいは、「実行可能命令列」)とも表現する。   For example, the information processing apparatus 6 executes a command as shown in FIG. FIG. 3 is a conceptual diagram showing an executable instruction sequence that is an input of the test apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention. The notations such as a1, a2, a3, a4, b1, b2, and b3 in FIG. 3 conceptually represent one instruction that can be executed in the information processing apparatus 6. In the first line in FIG. 3, there are four instructions “a1, a2, a3, a4”. The notation “a1, a2, a3, a4” indicates that the information processing apparatus 6 executes a1, then executes a2, then executes a3, and then executes a4. Hereinafter, when an instruction has one or more executable instructions, a series of instructions are collectively expressed as an instruction sequence (or “executable instruction sequence”).

まず、選択部2は、命令7の中から1個以上の第1命令列をランダムに選ぶ(ステップS1)。図4は、本発明の第1の実施形態に係る選択部2が選ぶ命令列を表す概念図である。図4を参照すると、例えば、選択部2は、「b1、b2、b3」、「c1」、「d1、d2」、「a1、a2、a3、a4」という4個の第1命令列を順に選ぶ。   First, the selection unit 2 randomly selects one or more first instruction sequences from the instructions 7 (step S1). FIG. 4 is a conceptual diagram showing an instruction sequence selected by the selection unit 2 according to the first embodiment of the present invention. Referring to FIG. 4, for example, the selection unit 2 sequentially selects four first instruction sequences “b1, b2, b3”, “c1”, “d1, d2”, “a1, a2, a3, a4”. Choose.

次に、挿入部3は、第1命令列が命令を2個以上有するか否かを判定する(ステップS2)。例えば、図4の例において、挿入部3は、「b1、b2、b3」という第1命令列が「b1」、「b2」、「b3」という3個の命令を有すると判定する(ステップS2においてYESと判定)。また、挿入部3は、「c1」という第1命令列が、「c1」という1個の命令を有すると判定する(ステップS2においてNOと判定)。   Next, the insertion unit 3 determines whether or not the first instruction sequence has two or more instructions (step S2). For example, in the example of FIG. 4, the insertion unit 3 determines that the first instruction sequence “b1, b2, b3” has three instructions “b1”, “b2”, and “b3” (step S2 Determined as YES). Further, the insertion unit 3 determines that the first instruction sequence “c1” has one instruction “c1” (determined NO in step S2).

挿入部3は、第1命令列が命令を2個以上有すると判定する場合(ステップS2においてYESと判定)、第1命令列における各命令間に、ランダムに選んだ1個以上の命令列を挿入することにより、第2命令列を作成する(ステップS3)。また、挿入部3は、第1命令列が命令を2個以上有さないと判定する場合(ステップS2においてNOと判定)、第1命令列を第2命令列とする(ステップS4)。   If the insertion unit 3 determines that the first instruction sequence has two or more instructions (YES in step S2), one or more randomly selected instruction sequences are inserted between the instructions in the first instruction sequence. By inserting, a second instruction sequence is created (step S3). When determining that the first instruction sequence does not include two or more instructions (determined as NO in step S2), the insertion unit 3 sets the first instruction sequence as the second instruction sequence (step S4).

図5は、本発明の第1の実施形態に係る挿入部3が作成する第2命令列を表す概念図である。図4と図5とを参照しながら、挿入部3が行う処理の例について説明する。例えば、挿入部3は、上述したように「b1、b2、b3」という第1命令列が命令を2個以上有すると判定するため、「b1」と「b2」との間と、「b2」と「b3」との間とに、ランダムに選んだ1個以上の命令列を挿入する。図5を参照すると、挿入部3は、例えば、「b1」と「b2」との間に、「c1」という命令列を2個挿入する。次に、挿入部3は、「b2」と「b3」との間に、「d1、d2」という命令列を1個挿入する。次に、挿入部3は、「b1、c1、c1、b2、d1、d2、b3」という第2命令列を作成する。また、挿入部3は、「c1」という第1命令列が命令を2個以上有さないと判定するため、「c1」という第2命令列を作成する。   FIG. 5 is a conceptual diagram showing a second instruction sequence created by the insertion unit 3 according to the first embodiment of the present invention. An example of processing performed by the insertion unit 3 will be described with reference to FIGS. 4 and 5. For example, since the insertion unit 3 determines that the first instruction sequence “b1, b2, b3” has two or more instructions as described above, between “b1” and “b2”, “b2” One or more randomly selected instruction sequences are inserted between “b3” and “b3”. Referring to FIG. 5, for example, the insertion unit 3 inserts two instruction strings “c1” between “b1” and “b2”. Next, the insertion unit 3 inserts one instruction string “d1, d2” between “b2” and “b3”. Next, the insertion unit 3 creates a second instruction sequence “b1, c1, c1, b2, d1, d2, b3”. Further, the insertion unit 3 creates the second instruction sequence “c1” in order to determine that the first instruction sequence “c1” does not have two or more instructions.

次に、生成部4は、第2命令列を並べることにより、第3命令列を作成する(ステップS5)。図5の例において、生成部4は、例えば、1行目から順に並べ、「b1、c1、c1、b2、d1、d2、b3、c1、d1、a1、a2、a3、a4、c1、d2、・・・」という第3命令列を作成する。生成部4は、必ずしも、挿入部3が作成する第2命令列を順に並べる必要はなく、第2命令列の単位でランダムに並び替えてもよいし、逆の順序で並べても良いし、一部の第2命令列だけを並べても良い。並べる方法は、上述した例には限定されない。   Next, the generation unit 4 creates a third instruction sequence by arranging the second instruction sequences (step S5). In the example of FIG. 5, the generation unit 4 arranges, for example, in order from the first row, “b1, c1, c1, b2, d1, d2, b3, c1, d1, a1, a2, a3, a4, c1, d2. , ... "is created. The generation unit 4 does not necessarily have to arrange the second instruction sequences created by the insertion unit 3 in order, may be rearranged randomly in units of the second instruction sequence, or may be arranged in the reverse order. Only the second instruction sequence of the part may be arranged. The arrangement method is not limited to the above-described example.

次に、実施部5は、情報処理装置6に第3命令列の処理を命じる(ステップS6)。例えば、上述した例においては、実施部5は、「b1、c1、c1、b2、d1、d2、b3、c1、d1、a1、a2、a3、a4、c1、d2、・・・」という命令列を情報処理装置6に命ずる。すると、情報処理装置6は、「b1、c1、c1、b2、d1、d2、b3、c1、d1、a1、a2、a3、a4、c1、d2、・・・」という命令列を処理する。   Next, the execution unit 5 commands the information processing device 6 to process the third instruction sequence (step S6). For example, in the above-described example, the execution unit 5 issues the instruction “b1, c1, c1, b2, d1, d2, b3, c1, d1, a1, a2, a3, a4, c1, d2,. Commands the information processing device 6 for the column. Then, the information processing apparatus 6 processes an instruction string “b1, c1, c1, b2, d1, d2, b3, c1, d1, a1, a2, a3, a4, c1, d2,.

特許文献1乃至特許文献3が開示するテスト装置は、ある命令を実行する前に行う一連の命令(以降、「前処理命令列」と表す)と、ある命令を実行した後に行う一連の命令(以降、「後処理命令列」と表す)とを組み合わせることにより、ランダム試験を行うための命令列を作成する。そのため、前処理命令列、あるいは、後処理命令列において、情報処理装置6が処理する命令は、必ず同じになる。そのため、特許文献1乃至特許文献3が開示するテスト装置は、ランダム試験を行う装置であるにもかかわらず、特定の命令列が複数出現する命令列を作成する。   The test devices disclosed in Patent Literature 1 to Patent Literature 3 include a series of instructions (hereinafter, referred to as “preprocessing instruction sequence”) executed before executing a certain instruction, and a series of instructions executed after executing a certain instruction ( Hereinafter, an instruction sequence for performing a random test is created by combining with “post-processing instruction sequence”. Therefore, the instructions processed by the information processing device 6 in the pre-processing instruction sequence or the post-processing instruction sequence are always the same. For this reason, the test devices disclosed in Patent Documents 1 to 3 create an instruction sequence in which a plurality of specific instruction sequences appear even though the test device is a device that performs a random test.

一方、本発明における第1の実施形態に係るテスト装置1は、情報処理装置6が処理を行う一連の命令(命令列)における各命令間に、ランダムに選んだ命令列を1個以上挿入する。即ち、本発明における第1の実施形態に係るテスト装置1は、特定の命令列を、ランダムに選んだ命令列を有する命令列に変換する。そのため、本発明における第1の実施形態に係るテスト装置1によれば、特定の命令列が出現する頻度は低減し、高いランダム性を有した命令を作成することができる。   On the other hand, the test apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention inserts one or more randomly selected instruction sequences between each instruction in a series of instructions (instruction sequences) processed by the information processing device 6. . That is, the test apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention converts a specific instruction sequence into an instruction sequence having a randomly selected instruction sequence. Therefore, according to the test apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention, the frequency with which a specific instruction sequence appears can be reduced, and an instruction having high randomness can be created.

即ち、本発明における第1の実施形態に係るテスト装置によれば、高いランダム性を有するテストを実施することができる。   That is, according to the test apparatus according to the first embodiment of the present invention, a test having high randomness can be performed.

<第2の実施形態>
次に、上述した第1の実施形態を基本とする第2の実施形態について説明する。
<Second Embodiment>
Next, a second embodiment based on the above-described first embodiment will be described.

以下の説明においては、本実施形態に係る特徴的な部分を中心に説明すると共に、上述した第1の実施形態と同様な構成については、同一の参照番号を付すことにより、重複する説明を省略する。   In the following description, the characteristic part according to the present embodiment will be mainly described, and the same components as those in the first embodiment described above will be denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted. To do.

図6と図7とを参照しながら、本発明の第2の実施形態に係るテスト装置9、そのテスト装置が行う処理とについてについて説明を行う。図6は、本発明の第2の実施形態に係るテスト装置9の構成を示すブロック図である。図7は、本発明の第2の実施形態に係るテスト装置9における処理の流れを示すフローチャートである。   The test device 9 according to the second embodiment of the present invention and the processing performed by the test device will be described with reference to FIGS. FIG. 6 is a block diagram showing the configuration of the test apparatus 9 according to the second embodiment of the present invention. FIG. 7 is a flowchart showing the flow of processing in the test apparatus 9 according to the second embodiment of the present invention.

図6を参照すると、テスト装置9は、読み取り部8を更に有する。テスト装置9は、実行可能命令を命令10から読み取る。命令10の例を図8に示す。図8は、本発明の第2の実施形態に係る読み取り部8が読み取る命令列を表す概念図である。   Referring to FIG. 6, the test apparatus 9 further includes a reading unit 8. The test device 9 reads an executable instruction from the instruction 10. An example of the instruction 10 is shown in FIG. FIG. 8 is a conceptual diagram showing an instruction sequence read by the reading unit 8 according to the second embodiment of the present invention.

図8を参照すると、命令列は、実行可能命令と、前処理命令列と、後処理命令列とから構成される。例えば、実行可能命令「b2」は、前処理命令列「b1」と、後処理命令列「b3」と関連付けされている。また、実行可能命令「d2」は、前処理命令列「d1」と関連付けされているが、後処理命令列とは関連付けされていない。   Referring to FIG. 8, the instruction sequence includes an executable instruction, a pre-processing instruction sequence, and a post-processing instruction sequence. For example, the executable instruction “b2” is associated with the pre-processing instruction sequence “b1” and the post-processing instruction sequence “b3”. The executable instruction “d2” is associated with the pre-processing instruction sequence “d1”, but is not associated with the post-processing instruction sequence.

読み取り部8は、命令10から実行可能命令と、前処理命令列と、後処理命令列とを読み取る(ステップS7)。次に、読み取り部8は、読み取った情報を、前処理命令列、実行可能命令、後処理命令列の順に並べることにより、実行可能命令列を作成する(ステップS8)。例えば、読み取り部8は、実行可能命令「b2」と、前処理命令列「b1」と、後処理命令列「b3」とを読み取り、読み取った命令を上述したように並べることにより、「b1、b2、b3」という命令列を作成する。   The reading unit 8 reads an executable instruction, a pre-processing instruction sequence, and a post-processing instruction sequence from the instruction 10 (step S7). Next, the reading unit 8 creates an executable instruction sequence by arranging the read information in the order of a pre-processing instruction sequence, an executable instruction, and a post-processing instruction sequence (step S8). For example, the reading unit 8 reads the executable instruction “b2”, the pre-processing instruction sequence “b1”, and the post-processing instruction sequence “b3”, and arranges the read instructions as described above to obtain “b1, An instruction sequence “b2, b3” is created.

読み取り部8は、第1の実施形態における入力とは異なる形式の入力であっても、テスト装置9が第1の実施形態と同様の処理を行うことを可能にする。   The reading unit 8 enables the test apparatus 9 to perform the same processing as in the first embodiment even if the input is in a format different from the input in the first embodiment.

即ち、本発明における第2の実施形態に係るテスト装置によれば、高いランダム性を有するテストを実施することができる。   That is, according to the test apparatus according to the second embodiment of the present invention, a test having high randomness can be performed.

<第3の実施形態>
次に、上述した第1の実施形態を基本とする第3の実施形態について説明する。
<Third Embodiment>
Next, a third embodiment based on the above-described first embodiment will be described.

以下の説明においては、本実施形態に係る特徴的な部分を中心に説明すると共に、上述した第1の実施形態と同様な構成については、同一の参照番号を付すことにより、重複する説明を省略する。   In the following description, the characteristic part according to the present embodiment will be mainly described, and the same components as those in the first embodiment described above will be denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted. To do.

図9と図10とを参照しながら、本発明の第3の実施形態に係るテスト装置12が有する構成と、テスト装置12が行う処理とについて説明を行う。図9は、本発明の第3の実施形態に係るテスト装置12の構成を示すブロック図である。図10は、本発明の第3の実施形態に係るテスト装置12における処理の流れを示すフローチャートである。   The configuration of the test apparatus 12 according to the third embodiment of the present invention and the processing performed by the test apparatus 12 will be described with reference to FIGS. 9 and 10. FIG. 9 is a block diagram showing the configuration of the test apparatus 12 according to the third embodiment of the present invention. FIG. 10 is a flowchart showing the flow of processing in the test apparatus 12 according to the third embodiment of the present invention.

図9を参照すると、第3の実施形態に係るテスト装置12は、挿入部11を有する。挿入部11は、第1命令列が2個以上の命令を含むと判定すると(ステップS2においてYESと判定)、第1命令列が含む各命令間に挿入する命令列(以降、「挿入命令列」と略記する)として、それぞれ、1個以上の命令列をランダムに選ぶ(ステップS9)。   Referring to FIG. 9, the test apparatus 12 according to the third embodiment has an insertion part 11. If the insertion unit 11 determines that the first instruction sequence includes two or more instructions (determined as YES in step S2), the insertion unit 11 inserts an instruction sequence inserted between the instructions included in the first instruction sequence (hereinafter referred to as “insertion instruction sequence”). Are abbreviated as “)”, one or more instruction sequences are randomly selected (step S9).

挿入部11は、選んだ各挿入命令列が2個以上の命令を含むと判定する(ステップS10にてYESと判定)と、該挿入命令列が含む各命令間に挿入する命令列として、それぞれ、1個以上の命令列をランダムに選ぶ。次に、挿入部11は、新たに選んだ命令列を、該挿入命令列が含む各命令間に、それぞれ挿入することによって得られる命令列を第2挿入命令列とする(ステップS11)。   When the insertion unit 11 determines that each selected insertion instruction sequence includes two or more instructions (determined as YES in step S10), the insertion unit 11 includes, as instruction sequences to be inserted between the instructions included in the insertion instruction sequence, respectively. One or more instruction sequences are randomly selected. Next, the insertion unit 11 sets the instruction sequence obtained by inserting the newly selected instruction sequence between the instructions included in the inserted instruction sequence as the second insertion instruction sequence (step S11).

挿入部11は、選んだ各挿入命令列が2個以上の命令を含まないと判定する(ステップS10にてNOと判定)と、該挿入命令列を第2挿入命令列とする(ステップS12)。   If the insertion unit 11 determines that each selected insertion instruction sequence does not include two or more instructions (NO in step S10), the insertion instruction sequence is set as a second insertion instruction sequence (step S12). .

次に、挿入部11は、各挿入命令列について作成した第2挿入命令列を、第1命令列が含む各命令間にそれぞれ挿入し、得られた命令列を第2命令列とする(ステップS13)。   Next, the insertion unit 11 inserts the second insertion instruction sequence created for each insertion instruction sequence between the instructions included in the first instruction sequence, and sets the obtained instruction sequence as the second instruction sequence (step S1). S13).

例えば、第2の実施形態で例示した例において、選択部2は「b1、b2、b3」という第1命令列を選ぶとする。次に、挿入部11は、「b1」と「b2」との間に挿入するランダムに選んだ第1A挿入命令列と、「b2」と「b3」との間に挿入するランダムに選んだ第1B挿入命令列とを選ぶ。第1A挿入命令列が「c1」であり、第1B挿入命令列が「d1、d2」であるとする。挿入部11は、第1A挿入命令列である「c1」に対し、選んだ第1A挿入命令列が2個以上の命令を含まないと判定するため、「c1」を第2挿入命令列とする。   For example, in the example illustrated in the second embodiment, it is assumed that the selection unit 2 selects the first instruction sequence “b1, b2, b3”. Next, the insertion unit 11 randomly selects the first A insertion instruction sequence to be inserted between “b1” and “b2” and the randomly selected first insertion sequence to be inserted between “b2” and “b3”. Select 1B insertion instruction sequence. It is assumed that the first A insertion instruction sequence is “c1” and the first B insertion instruction sequence is “d1, d2”. Since the insertion unit 11 determines that the selected first A insertion instruction sequence does not include two or more instructions with respect to “c1” that is the first A insertion instruction sequence, “c1” is used as the second insertion instruction sequence. .

挿入部11は、挿入命令列である「d1、d2」に対しては、選んだ第1B挿入命令列が2個以上の命令を含むと判定するため、「d1」と「d2」との間に、ランダムに選んだ挿入命令列を挿入する。例えば、該選んだ挿入命令列が「c1」であるとすると、挿入部11は、「d1、c1、d2」を第2挿入命令列とする。   The insertion unit 11 determines that the selected 1B insertion instruction sequence includes two or more instructions for “d1, d2” that are insertion instruction sequences, and therefore, between “d1” and “d2”. Insert a randomly selected insertion instruction sequence. For example, if the selected insertion instruction sequence is “c1”, the insertion unit 11 sets “d1, c1, d2” as the second insertion instruction sequence.

次に、挿入部11は、「b1、b2、b3」に各第2挿入命令列を挿入することによって、「b1、c1、b2、d1、c1、d2、b3」という第2命令列を作成する。   Next, the insertion unit 11 creates a second instruction sequence “b1, c1, b2, d1, c1, d2, b3” by inserting each second insertion instruction sequence into “b1, b2, b3”. To do.

本発明における第3の実施形態に係るテスト装置12は、選んだ各挿入命令列が複数の命令を含むと判定する場合、さらに、挿入命令列における各命令間に、ランダムに選んだ命令列を挿入する。そのように処理することにより、作成する命令列は、さらに、ランダム試験に適したものとなる。   When the test apparatus 12 according to the third embodiment of the present invention determines that each selected insertion instruction sequence includes a plurality of instructions, the test apparatus 12 further selects a randomly selected instruction sequence between the instructions in the insertion instruction sequence. insert. By processing in this way, the instruction sequence to be created becomes more suitable for random testing.

即ち、本発明における第3の実施形態に係るテスト装置によれば、高いランダム性を有するテストを実施することができる。   That is, according to the test apparatus according to the third embodiment of the present invention, a test having high randomness can be performed.

<第4の実施形態>
次に、上述した第3の実施形態を基本とする第4の実施形態について説明する。
<Fourth Embodiment>
Next, a fourth embodiment based on the above-described third embodiment will be described.

以下の説明においては、本実施形態に係る特徴的な部分を中心に説明すると共に、上述した第3の実施形態と同様な構成については、同一の参照番号を付すことにより、重複する説明を省略する。   In the following description, characteristic parts according to the present embodiment will be mainly described, and the same components as those in the third embodiment described above will be denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted. To do.

図11と図12とを参照しながら、本発明の第4の実施形態に係るテスト装置14が有する構成と、テスト装置14が行う処理とについて説明を行う。図11は、本発明の第4の実施形態に係るテスト装置14の構成を示すブロック図である。図12は、本発明の第4の実施形態に係るテスト装置14における処理の流れを示すフローチャートである。   The configuration of the test apparatus 14 according to the fourth embodiment of the present invention and the processing performed by the test apparatus 14 will be described with reference to FIGS. 11 and 12. FIG. 11 is a block diagram showing a configuration of a test apparatus 14 according to the fourth embodiment of the present invention. FIG. 12 is a flowchart showing the flow of processing in the test apparatus 14 according to the fourth embodiment of the present invention.

図11を参照すると、第4の実施形態に係るテスト装置14は、挿入部13を有する。挿入部13は、本発明の第3の実施形態に係るテスト装置における挿入命令列が複数の命令を含む場合において、該複数の命令間に命令列を挿入する処理を、再帰的に繰り返し実施する。   Referring to FIG. 11, the test apparatus 14 according to the fourth embodiment has an insertion unit 13. When the insertion instruction sequence includes a plurality of instructions in the test apparatus according to the third embodiment of the present invention, the insertion unit 13 recursively repeats the process of inserting the instruction sequence between the plurality of instructions. .

即ち、挿入部13は、挿入命令列における命令間にランダムに、選んだ1つ以上の命令列を挿入する(ステップS14)。そのときに、挿入部13は、選んだ命令列が2つ以上の命令を含むと判定する場合(ステップS15にてYESと判定)、選んだ各命令列を挿入命令列、即ち、ステップS14における処理の入力とする(ステップS16)。   That is, the insertion unit 13 inserts one or more selected instruction sequences at random between instructions in the insertion instruction sequence (step S14). At that time, if the insertion unit 13 determines that the selected instruction sequence includes two or more instructions (determined as YES in step S15), the insertion unit 13 inserts each selected instruction sequence in the insertion instruction sequence, that is, in step S14. It is set as the process input (step S16).

挿入部13は、選んだ命令列が2つ以上の命令を含むと判定しない場合(ステップS15にてNOと判定)、選んだ命令列に対する処理を全て終了したか否かを判定する。挿入部13は、選んだ命令列に対する処理を全て終了したと判定すると(ステップS17にてYESと判定)、処理を終える。挿入部13は、選んだ命令列に対する処理を終了していないと判定すると(ステップS17にてNOと判定)、処理を終了していない該選んだ命令列に対して、ステップS15の処理を行う。   If the insertion unit 13 does not determine that the selected instruction sequence includes two or more instructions (NO in step S15), the insertion unit 13 determines whether all the processes for the selected instruction sequence have been completed. If the insertion unit 13 determines that all the processes for the selected instruction sequence have been completed (YES in step S17), the process ends. If the insertion unit 13 determines that the process for the selected instruction sequence has not been completed (NO in step S17), the insertion unit 13 performs the process of step S15 on the selected instruction sequence that has not been completed. .

本発明における第4の実施形態に係るテスト装置14は、命令列を挿入する処理を再帰的に繰り返し実施するため、更に高いランダム性を有するテストを実施することができる。   Since the test apparatus 14 according to the fourth embodiment of the present invention recursively repeats the process of inserting an instruction sequence, a test having higher randomness can be performed.

即ち、本発明における第4の実施形態に係るテスト装置によれば、高いランダム性を有するテストを実施することができる。   That is, according to the test apparatus according to the fourth embodiment of the present invention, a test having high randomness can be performed.

<第5の実施形態>
次に、上述した第1の実施形態を基本とする第5の実施形態について説明する。
<Fifth Embodiment>
Next, a fifth embodiment based on the first embodiment described above will be described.

以下の説明においては、本実施形態に係る特徴的な部分を中心に説明すると共に、上述した第1の実施形態と同様な構成については、同一の参照番号を付すことにより、重複する説明を省略する。   In the following description, the characteristic part according to the present embodiment will be mainly described, and the same components as those in the first embodiment described above will be denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted. To do.

図13と図14とを参照しながら、本発明の第5の実施形態に係るテスト装置17が有する構成と、そのテスト装置17が行う処理とについて説明を行う。図13は、本発明の第5の実施形態に係るテスト装置17の構成を示すブロック図である。図14は、本発明の第5の実施形態に係るテスト装置17における処理の流れを示すフローチャートである。   The configuration of the test apparatus 17 according to the fifth embodiment of the present invention and the processing performed by the test apparatus 17 will be described with reference to FIGS. 13 and 14. FIG. 13 is a block diagram showing a configuration of a test apparatus 17 according to the fifth embodiment of the present invention. FIG. 14 is a flowchart showing the flow of processing in the test apparatus 17 according to the fifth embodiment of the present invention.

図13を参照すると、第5の実施形態に係るテスト装置17は、生成部15と作成部16とを有する。生成部15は、挿入部3が作成した第2命令列を情報処理装置6が処理するデータをランダムに選ぶ(ステップS18)。例えば、生成部15は、各命令を処理するために必要なデータを記憶する外部記憶装置(図13において不図示)を参照し、その中から第2命令列における各命令に要するデータを選び出しても良い。あるいは、第2命令列における各命令が数値データを処理する場合に、生成部15は、ランダムに数値データを作成しても良い。ランダムにデータを選ぶ方法は、上述した方法に限定されない。   Referring to FIG. 13, the test apparatus 17 according to the fifth embodiment includes a generation unit 15 and a creation unit 16. The generation unit 15 randomly selects data for the information processing device 6 to process the second instruction sequence created by the insertion unit 3 (step S18). For example, the generation unit 15 refers to an external storage device (not shown in FIG. 13) that stores data necessary for processing each instruction, and selects data required for each instruction in the second instruction sequence from among them. Also good. Alternatively, when each instruction in the second instruction sequence processes numerical data, the generation unit 15 may create numerical data at random. The method of selecting data at random is not limited to the method described above.

次に、作成部16は、第2命令列と、上述のように選んだデータとを関連付けすることにより、第3命令列を作成する(ステップS19)。   Next, the creating unit 16 creates a third instruction sequence by associating the second instruction sequence with the data selected as described above (step S19).

本発明における第5の実施形態に係るテスト装置17は、情報処理装置6が処理するデータをランダムに選び出す。テスト装置17は、同じ命令を処理する命令列であっても、異なるデータを作成するため、本発明における第5の実施形態に係るテスト装置17によれば、作成するテストは、さらに、ランダム試験にふさわしいプログラムとなる。   The test apparatus 17 according to the fifth embodiment of the present invention randomly selects data to be processed by the information processing apparatus 6. Since the test apparatus 17 creates different data even for instruction sequences that process the same instruction, according to the test apparatus 17 according to the fifth embodiment of the present invention, the test to be created is further a random test. It will be a suitable program.

即ち、本発明における第5の実施形態に係るテスト装置によれば、高いランダム性を有するテストを実施することができる。   That is, according to the test apparatus according to the fifth embodiment of the present invention, a test having high randomness can be performed.

<第6の実施形態>
次に、上述した第1の実施形態を基本とする第6の実施形態について説明する。
<Sixth Embodiment>
Next, a sixth embodiment based on the first embodiment described above will be described.

以下の説明においては、本実施形態に係る特徴的な部分を中心に説明すると共に、上述した第1の実施形態と同様な構成については、同一の参照番号を付すことにより、重複する説明を省略する。   In the following description, the characteristic part according to the present embodiment will be mainly described, and the same components as those in the first embodiment described above will be denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted. To do.

図15と図16とを参照しながら、本発明の第6の実施形態に係るテスト装置20が有する構成と、テスト装置20が行う処理とについて説明を行う。図15は、本発明の第6の実施形態に係るテスト装置20の構成を示すブロック図である。図16は、本発明の第6の実施形態に係るテスト装置20における処理の流れを示すフローチャートである。   The configuration of the test apparatus 20 according to the sixth embodiment of the present invention and the processing performed by the test apparatus 20 will be described with reference to FIGS. 15 and 16. FIG. 15 is a block diagram showing a configuration of a test apparatus 20 according to the sixth embodiment of the present invention. FIG. 16 is a flowchart showing the flow of processing in the test apparatus 20 according to the sixth embodiment of the present invention.

図15を参照すると、第6の実施形態に係るテスト装置20は、実施部18と判断部19とを更に有する。実施部18は、情報処理装置6における先行制御を有効にし(ステップS20)、次に、生成部4が生成する第3命令列の処理を情報処理装置6に命ずる(ステップS21)。次に、情報処理装置6は、該第3命令列の処理を実行することより得られた結果を実施部18に送る。実施部18は、情報処理装置6が送信した実行結果を受け取る(ステップS22)。実行結果は、レジスタの値や、第3命令列がアクセスしたメモリの値などを含む。   Referring to FIG. 15, the test apparatus 20 according to the sixth embodiment further includes an execution unit 18 and a determination unit 19. The execution unit 18 validates the advance control in the information processing device 6 (step S20), and then instructs the information processing device 6 to process the third instruction sequence generated by the generation unit 4 (step S21). Next, the information processing apparatus 6 sends a result obtained by executing the processing of the third instruction sequence to the execution unit 18. The implementation unit 18 receives the execution result transmitted by the information processing device 6 (step S22). The execution result includes a register value, a memory value accessed by the third instruction sequence, and the like.

次に、実施部18は、情報処理装置6における先行制御を無効にし(ステップS23)、次に、生成部4が生成する第3命令列の処理を情報処理装置6に命ずる(ステップS24)。先行制御を無効する方法は、情報処理装置6が第3命令列の各命令を実行するたびに、割り込みを発生することで実現することができる。次に、情報処理装置6は、該第3命令列の処理を実行することにより得られた結果を実施部18に送る。実施部18は、情報処理装置6が送信した実行結果を受け取る(ステップS25)。   Next, the execution unit 18 invalidates the preceding control in the information processing device 6 (step S23), and then instructs the information processing device 6 to process the third instruction sequence generated by the generation unit 4 (step S24). The method of invalidating the advance control can be realized by generating an interrupt each time the information processing apparatus 6 executes each instruction of the third instruction sequence. Next, the information processing apparatus 6 sends the result obtained by executing the processing of the third instruction sequence to the execution unit 18. The implementation unit 18 receives the execution result transmitted by the information processing device 6 (step S25).

次に、判断部19は、実施部18における上述した2つの実行結果を比較し、該2つの実行結果が一致しないと判定した場合(ステップS26にてNOと判定)に、エラー情報を出力する(ステップS27)。判断部19は、該2つの実行結果が一致すると判定した場合(ステップS26にてYESと判定)に、エラー情報を出力しない。   Next, the determination unit 19 compares the two execution results described above in the implementation unit 18 and outputs error information when it is determined that the two execution results do not match (determined NO in step S26). (Step S27). If the determination unit 19 determines that the two execution results match (determined as YES in step S26), the determination unit 19 does not output error information.

上述した例において、実施部18は、情報処理装置6が第3命令列の各命令を実行した後に、実行結果を受け取るとしたが、各命令を実行するたびに実行結果を受け取ることでも、同様の機能を実現できる。あるいは、実施部18は、情報処理装置6が第3命令列における一部の命令を実行した後に、実行結果を受け取ることもできる。   In the above-described example, the execution unit 18 receives the execution result after the information processing apparatus 6 executes each instruction of the third instruction sequence. However, the execution unit 18 may receive the execution result every time each instruction is executed. Can be realized. Alternatively, the execution unit 18 can receive the execution result after the information processing apparatus 6 executes a part of the instructions in the third instruction sequence.

即ち、本発明における第6の実施形態に係るテスト装置によれば、高いランダム性を有するテストを実施することができる。さらに、本発明における第6の実施形態に係るテスト装置によれば、情報処理装置6が第3命令列を処理するときに発生する可能性があるエラーを検出することができる。   That is, according to the test apparatus according to the sixth embodiment of the present invention, a test having high randomness can be performed. Furthermore, according to the test apparatus of the sixth embodiment of the present invention, it is possible to detect an error that may occur when the information processing apparatus 6 processes the third instruction sequence.

<第7の実施形態>
次に、上述した第1の実施形態を基本とする第7の実施形態について説明する。
<Seventh Embodiment>
Next, a seventh embodiment based on the above-described first embodiment will be described.

以下の説明においては、本実施形態に係る特徴的な部分を中心に説明すると共に、上述した第1の実施形態と同様な構成については、同一の参照番号を付すことにより、重複する説明を省略する。   In the following description, the characteristic part according to the present embodiment will be mainly described, and the same components as those in the first embodiment described above will be denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted. To do.

図17と図18とを参照しながら、本発明の第7の実施形態に係るテスト装置22が有する構成と、そのテスト装置22が行う処理とについて説明を行う。図17は、本発明の第7の実施形態に係るテスト装置22の構成を示すブロック図である。図18は、本発明の第7の実施形態に係るテスト装置22における処理の流れを示すフローチャートである。   The configuration of the test apparatus 22 according to the seventh embodiment of the present invention and the processing performed by the test apparatus 22 will be described with reference to FIGS. 17 and 18. FIG. 17 is a block diagram showing a configuration of a test apparatus 22 according to the seventh embodiment of the present invention. FIG. 18 is a flowchart showing the flow of processing in the test apparatus 22 according to the seventh embodiment of the present invention.

図17を参照すると、第7の実施形態に係るテスト装置22は、終了部21を有する。終了部21は、終了信号を受信すると(ステップS28にてYESと判定)、その後、第1の実施形態乃至第6の実施形態における処理を終了する(ステップS29)。終了部21は、終了信号を受信しないと(ステップS28にてNOと判定)、第1の実施形態乃至第6の実施形態における処理を実施する(ステップS34)。   Referring to FIG. 17, the test apparatus 22 according to the seventh embodiment includes an end unit 21. When receiving the end signal (determined as YES in Step S28), the end unit 21 thereafter ends the processing in the first to sixth embodiments (Step S29). If the end unit 21 does not receive the end signal (determined as NO in step S28), the end unit 21 performs the processing in the first to sixth embodiments (step S34).

本発明における第7の実施形態に係るテスト装置22によれば、第1の実施形態乃至第6の実施形態により得られる効果に加え、外部からランダム試験の実行を制御することが可能になる。   According to the test apparatus 22 according to the seventh embodiment of the present invention, in addition to the effects obtained by the first to sixth embodiments, it is possible to control the execution of a random test from the outside.

即ち、本発明における第7の実施形態に係るテスト装置によれば、高いランダム性を有するテストを実施することができる。   That is, according to the test apparatus according to the seventh embodiment of the present invention, a test having high randomness can be performed.

<第8の実施形態>
次に、上述した第1の実施形態を基本とする第8の実施形態について説明する。
<Eighth Embodiment>
Next, an eighth embodiment based on the above-described first embodiment will be described.

以下の説明においては、本実施形態に係る特徴的な部分を中心に説明すると共に、上述した第1の実施形態と同様な構成については、同一の参照番号を付すことにより、重複する説明を省略する。   In the following description, the characteristic part according to the present embodiment will be mainly described, and the same components as those in the first embodiment described above will be denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted. To do.

図19と図20とを参照しながら、本発明の第8の実施形態に係るテスト装置27が有する構成と、テスト装置27が行う処理とについて説明を行う。図19は、本発明の第8の実施形態に係るテスト装置27の構成を示すブロック図である。図20は、本発明の第8の実施形態に係るテスト装置27における処理の流れを示すフローチャートである。   The configuration of the test apparatus 27 according to the eighth embodiment of the present invention and the processing performed by the test apparatus 27 will be described with reference to FIGS. FIG. 19 is a block diagram showing a configuration of a test apparatus 27 according to the eighth embodiment of the present invention. FIG. 20 is a flowchart showing the flow of processing in the test apparatus 27 according to the eighth embodiment of the present invention.

図19を参照すると、本発明の第8の実施形態に係るテスト装置27は、選択部23と、挿入部24と、生成部25と、記憶部26とを有する。まず、選択部23は、命令7から、複数の実行可能命令列を選ぶ(ステップS30)。次に、挿入部24は、選んだ各々の実行可能命令列に対し、本発明における第1の実施形態にて説明したような第1処理を行う(ステップS31)。次に、挿入部24は、上述のように作成した第2命令列を記憶部26に記憶させる(ステップS32)。次に、生成部25は、記憶部26が記憶する第2命令列をランダムに取り出し、取り出した第2命令列を並べることにより第3命令列を作成する(ステップS33)。   Referring to FIG. 19, the test apparatus 27 according to the eighth embodiment of the present invention includes a selection unit 23, an insertion unit 24, a generation unit 25, and a storage unit 26. First, the selection unit 23 selects a plurality of executable instruction sequences from the instruction 7 (step S30). Next, the insertion unit 24 performs the first process as described in the first embodiment of the present invention on each selected executable instruction sequence (step S31). Next, the insertion unit 24 stores the second instruction sequence created as described above in the storage unit 26 (step S32). Next, the generation unit 25 randomly extracts the second instruction sequence stored in the storage unit 26, and creates a third instruction sequence by arranging the extracted second instruction sequences (step S33).

本発明における第8の実施形態に係るテスト装置27は、上述したように挿入部24が記憶部26に第2命令列を記憶させるため、1つの実行可能命令列に対し第1処理を実行する必要がなくなる。そのため、本発明における第8の実施形態に係るテスト装置27によれば、第1処理を減らすことができることに加え、本発明の第1の実施形態が有する効果をそのまま保持する。   In the test apparatus 27 according to the eighth embodiment of the present invention, the insertion unit 24 stores the second instruction sequence in the storage unit 26 as described above, so that the first process is executed for one executable instruction sequence. There is no need. Therefore, according to the test apparatus 27 according to the eighth embodiment of the present invention, in addition to being able to reduce the first processing, the effect of the first embodiment of the present invention is maintained as it is.

即ち、本発明における第8の実施形態に係るテスト装置によれば、高いランダム性を有するテストを実施することができる。   That is, according to the test apparatus according to the eighth embodiment of the present invention, a test having high randomness can be performed.

(ハードウェア構成例)
図21は、本発明の各実施形態に係るテスト装置を実現可能な計算処理装置のハードウェア構成を、概略的に示すブロック図である。
(Hardware configuration example)
FIG. 21 is a block diagram schematically showing a hardware configuration of a calculation processing apparatus capable of realizing the test apparatus according to each embodiment of the present invention.

次に、上述した本発明の各実施形態におけるテスト装置を、1つの計算処理装置(情報処理装置、コンピュータ)を用いて実現するハードウェア資源の構成例について説明する。但し、係るテスト装置は、物理的または機能的に少なくとも2つの計算処理装置を用いて実現してもよい。また、係るテスト装置は、専用の装置として実現してもよい。   Next, a configuration example of hardware resources for realizing the above-described test apparatus according to each embodiment of the present invention using one calculation processing apparatus (information processing apparatus, computer) will be described. However, such a test apparatus may be realized using at least two calculation processing apparatuses physically or functionally. Further, such a test apparatus may be realized as a dedicated apparatus.

図21は、本発明の第1の実施形態乃至本発明の第8の実施形態に係るテスト装置を実現可能な計算処理装置のハードウェア構成を概略的に示す図である。計算処理装置33は、中央処理演算装置(Central Processing Unit、以降「CPU」と表す)34、メモリ35、ディスク36、不揮発性記録媒体37、入力装置38、および、出力装置39を有する。   FIG. 21 is a diagram schematically showing a hardware configuration of a calculation processing apparatus capable of realizing the test apparatus according to the first embodiment to the eighth embodiment of the present invention. The calculation processing device 33 includes a central processing unit (hereinafter referred to as “CPU”) 34, a memory 35, a disk 36, a nonvolatile recording medium 37, an input device 38, and an output device 39.

不揮発性記録媒体37は、例えば、コンパクトディスク(Compact Disc)、デジタルバーサタイルディスク(Digital Versatile Disc)、ブルーレイディスク(Blu−ray Disc)、ユニバーサルシリアルバスメモリ(USBメモリ)などを指しており、電源を供給しなくても係るプログラムを保持し、持ち運びを可能にする。不揮発性記録媒体37は、上述した媒体に限定されない。また、不揮発性記録媒体37の代わりに、通信ネットワークを介して係るプログラムを持ち運びしても良い。   The nonvolatile recording medium 37 refers to, for example, a compact disc, a digital versatile disc, a Blu-ray disc, a universal serial bus memory (USB memory), and the like. Even if it is not supplied, the program is retained and can be carried. The nonvolatile recording medium 37 is not limited to the above-described medium. Further, the program may be carried via a communication network instead of the nonvolatile recording medium 37.

即ち、CPU34は、ディスク36が記憶するソフトウェア・プログラム(コンピュータ・プログラム:以下、単に「プログラム」と称する)を、実行時にメモリ35にコピーし、演算処理を実行する。CPU34は、プログラム実行に必要なデータをメモリ35から読み込む。表示が必要な場合には、CPU34は、出力装置39に出力結果を表示する。外部からプログラムを入力する場合、CPU34は、入力装置38からプログラムを読み取る。CPU34は、メモリ35にあるテストプログラム(図2、図7、図10、図12、図14、図16、図18、図20)を解釈し実行を行う。CPU34は、上述した本発明の各実施形態において説明した処理を順次行う。   That is, the CPU 34 copies a software program (computer program: hereinafter simply referred to as “program”) stored in the disk 36 to the memory 35 at the time of execution, and executes arithmetic processing. The CPU 34 reads data necessary for program execution from the memory 35. When display is necessary, the CPU 34 displays the output result on the output device 39. When inputting a program from the outside, the CPU 34 reads the program from the input device 38. The CPU 34 interprets and executes the test program (FIGS. 2, 7, 10, 12, 14, 16, 18, and 20) in the memory 35. The CPU 34 sequentially performs the processes described in the above-described embodiments of the present invention.

即ち、このような場合、本発明は、係るテストプログラムによっても成し得ると捉えることができる。更に、係るテストプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体によっても、本発明は成し得ると捕らえることができる。   That is, in such a case, it can be understood that the present invention can also be realized by such a test program. Furthermore, it can be understood that the present invention can also be realized by a computer-readable recording medium on which such a test program is recorded.

本発明の第1の実施形態に係るテスト装置の構成を示すブロック図である。1 is a block diagram illustrating a configuration of a test apparatus according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第1の実施形態に係るテスト装置における処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of a process in the test apparatus which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態に係るテスト装置の入力となる実行可能命令列を表す概念図である。It is a conceptual diagram showing the executable instruction sequence used as the input of the test apparatus which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態に係る選択部が選ぶ命令列を表す概念図である。It is a conceptual diagram showing the command sequence which the selection part concerning the 1st Embodiment of this invention selects. 本発明の第1の実施形態に係る挿入部が作成する第2命令列を表す概念図である。It is a conceptual diagram showing the 2nd command sequence which the insertion part which concerns on the 1st Embodiment of this invention produces. 本発明の第2の実施形態に係るテスト装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the test apparatus which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態に係るテスト装置における処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of a process in the test apparatus which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態に係る読み取り部が読み取る命令列を表す概念図である。It is a conceptual diagram showing the command sequence which the reading part concerning the 2nd Embodiment of this invention reads. 本発明の第3の実施形態に係るテスト装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the test apparatus which concerns on the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施形態に係るテスト装置における処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of a process in the test apparatus which concerns on the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4の実施形態に係るテスト装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the test apparatus which concerns on the 4th Embodiment of this invention. 本発明の第4の実施形態に係るテスト装置における処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of a process in the test apparatus which concerns on the 4th Embodiment of this invention. 本発明の第5の実施形態に係るテスト装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the test apparatus which concerns on the 5th Embodiment of this invention. 本発明の第5の実施形態に係るテスト装置における処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of a process in the test apparatus which concerns on the 5th Embodiment of this invention. 本発明の第6の実施形態に係るテスト装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the test apparatus which concerns on the 6th Embodiment of this invention. 本発明の第6の実施形態に係るテスト装置における処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of a process in the test apparatus which concerns on the 6th Embodiment of this invention. 本発明の第7の実施形態に係るテスト装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the test apparatus which concerns on the 7th Embodiment of this invention. 本発明の第7の実施形態に係るテスト装置における処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of a process in the test apparatus which concerns on the 7th Embodiment of this invention. 本発明の第8の実施形態に係るテスト装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the test apparatus which concerns on the 8th Embodiment of this invention. 本発明の第8の実施形態に係るテスト装置における処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of a process in the test apparatus which concerns on the 8th Embodiment of this invention. 本発明の各実施形態に係るテスト装置を実現可能な計算処理装置のハードウェア構成を、概略的に示すブロック図である。It is a block diagram which shows roughly the hardware constitutions of the calculation processing apparatus which can implement | achieve the test apparatus which concerns on each embodiment of this invention. 本発明に関連するテスト装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the test apparatus relevant to this invention.

1 テスト装置
2 選択部
3 挿入部
4 生成部
5 実施部
6 情報処理装置
7 命令
8 読み取り部
9 テスト装置
10 命令
11 挿入部
12 テスト装置
13 挿入部
14 テスト装置
15 生成部
16 作成部
17 テスト装置
18 実施部
19 判断部
20 テスト装置
21 終了部
22 テスト装置
23 選択部
24 挿入部
25 生成部
26 記憶部
27 テスト装置
28 抑止命令指定部
29 ランダム試験プログラム生成部
30 試験命令実行部
31 実行結果判定部
32 テスト装置
33 計算処理装置
34 CPU
35 メモリ
36 ディスク
37 不揮発性記録媒体
38 入力装置
39 出力装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Test apparatus 2 Selection part 3 Insertion part 4 Generation part 5 Execution part 6 Information processing apparatus 7 Instruction 8 Reading part 9 Test apparatus 10 Instruction 11 Insertion part 12 Test apparatus 13 Insertion part 14 Test apparatus 15 Generation part 16 Creation part 17 Test apparatus DESCRIPTION OF SYMBOLS 18 Execution part 19 Judgment part 20 Test apparatus 21 End part 22 Test apparatus 23 Selection part 24 Insertion part 25 Generation part 26 Storage part 27 Test apparatus 28 Suppression instruction designation part 29 Random test program generation part 30 Test instruction execution part 31 Execution result determination 31 Section 32 Test device 33 Calculation processing device 34 CPU
35 Memory 36 Disk 37 Non-volatile recording medium 38 Input device 39 Output device

Claims (10)

情報処理装置が処理することができる命令を、組み合わせることによって構成された複数の命令列からランダムに第1命令列を取り出す選択部と、
前記第1命令列が複数の前記命令から構成される場合に、ランダムに前記命令列を挿入命令列として選び、該挿入命令列を、前記第1命令列を構成する前記命令間に挿入し、挿入後の命令列を第2命令列とする第1処理を行い、
前記第1命令列が1個の前記命令から構成される場合に、前記第1命令列を前記第2命令列とする挿入部と、
前記第2命令列を並べることにより第3命令列を作成する生成部と、
前記第3命令列の処理を前記情報処理装置に命ずる実施部とを備え、
前記挿入部は、1度以上前記第1処理を行う
テスト装置。
A selection unit that randomly extracts a first instruction sequence from a plurality of instruction sequences configured by combining instructions that can be processed by the information processing apparatus;
When the first instruction sequence is composed of a plurality of the instructions, the instruction sequence is randomly selected as an insertion instruction sequence, the insertion instruction sequence is inserted between the instructions constituting the first instruction sequence, Perform the first process with the inserted instruction sequence as the second instruction sequence,
When the first instruction sequence is composed of one instruction, an insertion unit that uses the first instruction sequence as the second instruction sequence;
A generator that creates a third instruction sequence by arranging the second instruction sequences;
An execution unit that instructs the information processing device to process the third instruction sequence;
The insertion unit is a test apparatus that performs the first process at least once.
前記命令と、前記情報処理装置が前記命令を実行する前に行う前処理命令列と、前記情報処理装置が前記命令を実行した後に行う後処理命令列とが関連付けされている場合に、前記命令と前記前処理命令列と前記後処理命令列とを並べて、前記命令列とする読み取り部を更に備える
請求項1に記載のテスト装置。
The instruction, a pre-processing instruction sequence performed before the information processing apparatus executes the instruction, and a post-processing instruction sequence performed after the information processing apparatus executes the instruction; The test apparatus according to claim 1, further comprising a reading unit that arranges the pre-processing instruction sequence and the post-processing instruction sequence to form the instruction sequence.
前記挿入部は、
前記挿入命令列が複数の前記命令から構成されると判定する場合に、ランダムに前記命令列を新たな挿入命令列として選び、該新たな挿入命令列を、前記挿入命令列を構成する前記命令間に挿入することによって得られる命令列を第2挿入命令列とし、
前記挿入命令列が1つの前記命令から構成されると判定する場合に、該挿入命令列を前記第2挿入命令列とする第2処理を行い、
前記第2挿入命令列を前記第1命令列に挿入し、挿入後の命令列を前記第2命令列とする
請求項1あるは請求項2に記載のテスト装置。
The insertion part is
When it is determined that the insertion instruction sequence is composed of a plurality of the instructions, the instruction sequence is randomly selected as a new insertion instruction sequence, and the new insertion instruction sequence is selected as the instruction constituting the insertion instruction sequence. The instruction sequence obtained by inserting between them is the second insertion instruction sequence,
When it is determined that the insertion instruction sequence is composed of one instruction, a second process is performed in which the insertion instruction sequence is the second insertion instruction sequence.
3. The test apparatus according to claim 1, wherein the second instruction sequence is inserted into the first instruction sequence, and the inserted instruction sequence is the second instruction sequence. 4.
前記挿入部は、前記新たな挿入命令列が2つ以上の前記命令から構成されると判定する場合に、前記新たな挿入命令列を前記挿入命令列として、前記第2処理を繰り返し実施する
請求項3に記載のテスト装置。
When the insertion unit determines that the new insertion instruction sequence is composed of two or more instructions, the insertion unit repeatedly performs the second process using the new insertion instruction sequence as the insertion instruction sequence. Item 4. The test apparatus according to Item 3.
前記第2命令列に対するデータをランダムに選び、該選んだデータを第1データとして作成する作成部を更に備え、
前記生成部は、前記第2命令列と、前記第1データとを組み合わせ、前記第3命令列を作成する
請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載のテスト装置。
A creation unit that randomly selects data for the second instruction sequence and creates the selected data as first data;
5. The test apparatus according to claim 1, wherein the generation unit combines the second instruction sequence and the first data to create the third instruction sequence. 6.
前記実施部は、前記情報処理装置における先行制御を有効にし、前記第3命令列を前記情報処理装置に実行させることに応じて第1結果を受け取り、前記情報処理装置における先行制御を無効にし、前記第3命令列を前記情報処理装置に実行させることに応じて第2結果を受け取り、
前記第1結果と前記第2結果を比較し、一致しないと判定する場合にはエラーに関する情報を出力し、一致すると判定する場合には該エラーに関する情報を出力しない判断部を更に備える
請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載のテスト装置。
The implementation unit enables the preceding control in the information processing device, receives the first result in response to causing the information processing device to execute the third instruction sequence, invalidates the preceding control in the information processing device, Receiving a second result in response to causing the information processing apparatus to execute the third instruction sequence;
2. The information processing apparatus according to claim 1, further comprising: a determination unit that compares the first result with the second result and outputs information regarding an error when determining that they do not match and outputs no information regarding the error when determining that they match. The test apparatus according to claim 5.
終了信号を受け取ると処理を終了する終了部を更に備え、
前記終了部が前記終了信号を受け取るまで、前記選択部、前記挿入部、前記生成部、前記作成部、前記実施部、前記判断部が処理を繰り返し行う
請求項6に記載のテスト装置。
An end unit that terminates the process upon receiving the end signal;
The test apparatus according to claim 6, wherein the selection unit, the insertion unit, the generation unit, the creation unit, the implementation unit, and the determination unit repeatedly perform processing until the termination unit receives the termination signal.
前記第2命令列を記憶する記憶部を更に有し、
前記選択部は、複数の前記命令列を読み取り、
前記挿入部は、前記複数の命令列に対し、前記第1処理を行い、前記第2命令列を前記記憶部に記憶させ、
前記生成部は、前記記憶部からランダムに前記第2命令列を読み取り、読み取った前記第2命令列を並べて前記第3命令列とする
請求項1乃至請求項6に記載のテスト装置。
A storage unit for storing the second instruction sequence;
The selection unit reads a plurality of the instruction sequences,
The insertion unit performs the first process on the plurality of instruction sequences, stores the second instruction sequence in the storage unit,
The test apparatus according to claim 1, wherein the generation unit reads the second instruction sequence randomly from the storage unit, and arranges the read second instruction sequences to form the third instruction sequence.
情報処理装置が処理することができる命令を、組み合わせることによって構成された複数の命令列からランダムに第1命令列を取り出し、前記第1命令列が複数の前記命令から構成される場合に、ランダムに前記命令列を挿入命令列として選び、該挿入命令列を、前記第1命令列を構成する前記命令間に挿入し、挿入後の命令列を第2命令列とする処理を1度以上行い、前記第1命令列が1個の前記命令から構成される場合に、前記第1命令列を前記第2命令列とし、前記第2命令列を並べることにより第3命令列を作成し、前記第3命令列の処理を前記情報処理装置に命じるテスト方法。   When a first instruction sequence is randomly extracted from a plurality of instruction sequences configured by combining instructions that can be processed by the information processing apparatus, and the first instruction sequence includes a plurality of the instructions, random The instruction sequence is selected as an insertion instruction sequence, the insertion instruction sequence is inserted between the instructions constituting the first instruction sequence, and the inserted instruction sequence is processed as a second instruction sequence at least once. When the first instruction sequence is composed of one instruction, the first instruction sequence is used as the second instruction sequence, and a third instruction sequence is created by arranging the second instruction sequence, A test method for instructing the information processing apparatus to process a third instruction sequence. 情報処理装置が処理することができる命令を、組み合わせることによって構成された複数の命令列からランダムに第1命令列を取り出す選択機能と、
前記第1命令列が複数の前記命令から構成される場合に、ランダムに前記命令列を挿入命令列として選び、該挿入命令列を、前記第1命令列を構成する前記命令間に挿入し、挿入後の命令列を第2命令列とする処理を1度以上行い、
前記第1命令列が1個の前記命令から構成される場合に、前記第1命令列を前記第2命令列とする挿入機能と、
前記第2命令列を並べることにより第3命令列を作成する生成機能と、
前記第3命令列の処理を前記情報処理装置に命ずる実施機能とを、
コンピュータに実現させるテストプログラム。
A selection function for randomly extracting a first instruction sequence from a plurality of instruction sequences configured by combining instructions that can be processed by the information processing apparatus;
When the first instruction sequence is composed of a plurality of the instructions, the instruction sequence is randomly selected as an insertion instruction sequence, the insertion instruction sequence is inserted between the instructions constituting the first instruction sequence, Perform the process of setting the inserted instruction sequence as the second instruction sequence at least once,
In the case where the first instruction sequence is composed of one instruction, an insertion function that uses the first instruction sequence as the second instruction sequence;
A generation function for creating a third instruction sequence by arranging the second instruction sequences;
An execution function for instructing the information processing apparatus to process the third instruction sequence;
A test program implemented on a computer.
JP2012168232A 2012-07-30 2012-07-30 Test apparatus, test method and test program Active JP5918062B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012168232A JP5918062B2 (en) 2012-07-30 2012-07-30 Test apparatus, test method and test program

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012168232A JP5918062B2 (en) 2012-07-30 2012-07-30 Test apparatus, test method and test program

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014026575A true JP2014026575A (en) 2014-02-06
JP5918062B2 JP5918062B2 (en) 2016-05-18

Family

ID=50200131

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012168232A Active JP5918062B2 (en) 2012-07-30 2012-07-30 Test apparatus, test method and test program

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5918062B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180066714A (en) * 2016-12-09 2018-06-19 주식회사 뉴스젤리 Apparatus and method for refining data by eliminating problems that is inherent in data

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07253901A (en) * 1994-03-14 1995-10-03 Hitachi Ltd Method for testing information processor

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07253901A (en) * 1994-03-14 1995-10-03 Hitachi Ltd Method for testing information processor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180066714A (en) * 2016-12-09 2018-06-19 주식회사 뉴스젤리 Apparatus and method for refining data by eliminating problems that is inherent in data
KR101964454B1 (en) * 2016-12-09 2019-04-01 주식회사 뉴스젤리 Apparatus and method for refining data by eliminating problems that is inherent in data

Also Published As

Publication number Publication date
JP5918062B2 (en) 2016-05-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4783289B2 (en) Program generation device, program test device, program execution device, and information processing system
CN105117621B (en) The control levelling exhibitionization of Code obfuscation
JP6904043B2 (en) Input discovery for unknown program binaries
JP6728874B2 (en) Determine valid input for unknown binary program
JP2008218923A (en) Pseudo random number generator, semiconductor integrated circuit, memory media recording design data for the semiconductor integrated circuit, method for controlling pseudo random number generator, control program for pseudo random number generator, memory media recording the control program for pseudo random number generator, and controller for pseudo random number generator
JP5918062B2 (en) Test apparatus, test method and test program
JP4989418B2 (en) Program conversion apparatus, program, and program conversion method
JP6906715B2 (en) Scenario generator, scenario generator and scenario generator
WO2017204139A1 (en) Data processing apparatus, data processing method, and program recording medium
JP6912104B2 (en) Test equipment, test methods and computer programs
JP6437396B2 (en) Trace information management system, method, and program
JP2010225156A (en) Apparatus and program for collating character string
JP5356583B2 (en) Semiconductor memory device
US9684631B2 (en) Processing sytem with a secure set of executable instructions and/or addressing scheme
JP6497271B2 (en) Test data generation apparatus, method, and program
JP5174233B2 (en) Electronic signature program, electronic signature device, and electronic signature method
TWI443538B (en) Multi - hierarchical parallel multi - character string alignment device
JP2012033091A (en) Semiconductor circuit and test method for the same
JP5716051B2 (en) Semiconductor memory device
JP7040003B2 (en) Graph generation method, information processing device and graph generation program
JP2008299930A (en) Semiconductor memory
JP5758336B2 (en) Information processing apparatus, information processing method, and information processing program
JP5136257B2 (en) Route management method
JP2019185215A (en) Vector generation device and vector generation program
JP2018063496A (en) Generation program, generation method, and generation device

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20140819

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150617

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160210

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160315

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160407

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5918062

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150