JP2014008422A - Coating applicator and nozzle - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve uniformity in film thickness.SOLUTION: A coating applicator according to an embodiment includes a nozzle and a movement mechanism. The nozzle includes: a storage chamber in which a coating liquid is stored; and a slit-like flow passage communicating with the storage chamber. The coating liquid is discharged from a discharge opening formed at the front end of the flow passage. The movement mechanism allows the nozzle and a substrate to move relatively along the surface of the substrate. In addition, the nozzle includes partition plates which partition off the inside of the storage chamber into a plurality of small compartments in the longitudinal direction of the flow passage.

Description

開示の実施形態は、塗布装置およびノズルに関する。   The disclosed embodiments relate to a coating apparatus and a nozzle.

従来、半導体ウェハやガラス基板等の基板に塗布液を塗布する方法として、スピンコート法が知られている。スピンコート法は、基板を回転させた状態で基板の中心部にノズルから塗布液を滴下し、遠心力により基板上で塗布液を拡散させることによって基板上に塗布液を塗り広げて塗布膜を形成する方法である。   Conventionally, a spin coating method is known as a method of applying a coating solution to a substrate such as a semiconductor wafer or a glass substrate. In the spin coating method, the coating solution is dropped on the center of the substrate while the substrate is rotated, and the coating solution is spread on the substrate by diffusing the coating solution on the substrate by centrifugal force to form a coating film. It is a method of forming.

かかるスピンコート法は、滴下された塗布液の大部分が基板外へ飛散してしまうため、塗布液の使用効率が低かった。そこで、近年では、スピンコート法に代わる塗布方法として、スリットコート法が提案されている。   In such a spin coating method, since most of the dropped coating solution is scattered outside the substrate, the usage efficiency of the coating solution is low. Therefore, in recent years, a slit coating method has been proposed as a coating method replacing the spin coating method.

スリットコート法は、スリット状の吐出口を有するノズルを用いて塗布を行う方法である。具体的には、スリットコート法では、ノズルの吐出口からわずかに露出させた塗布液を基板に接触させ、この状態で、ノズルと基板とを相対的に移動させることによって基板上に塗布液を塗り広げて塗布膜を形成する。かかるスリットコート法によれば、基板に対して塗布液を必要な量だけ塗布することができるため、塗布液の使用効率を高めることができる(特許文献1参照)。   The slit coating method is a method of applying using a nozzle having a slit-like discharge port. Specifically, in the slit coating method, the coating liquid slightly exposed from the nozzle outlet is brought into contact with the substrate, and in this state, the nozzle and the substrate are moved relative to each other to apply the coating liquid onto the substrate. Spread coating to form a coating film. According to such a slit coating method, a necessary amount of the coating liquid can be applied to the substrate, so that the usage efficiency of the coating liquid can be increased (see Patent Document 1).

特開2011−167603号公報JP 2011-167603 A

しかしながら、上述した従来技術には、膜厚均一性を高めるという点で更なる改善の余地があった。   However, the above-described conventional technology has room for further improvement in terms of increasing the film thickness uniformity.

たとえば、上述したスリットコート法を用いて塗布を行った場合、ノズルの長手方向両端部における膜厚が、ノズルの長手方向中央部における膜厚よりも薄くなるおそれがあった。この理由の一つとしては、基板上に塗布された塗布液が表面張力によって中央に凝集することが挙げられる。   For example, when the coating is performed using the slit coating method described above, the film thickness at both longitudinal ends of the nozzle may be thinner than the film thickness at the central portion in the longitudinal direction of the nozzle. One reason for this is that the coating liquid applied on the substrate aggregates in the center due to surface tension.

実施形態の一態様は、膜厚均一性を高めることのできる塗布装置およびノズルを提供することを目的とする。   An object of one embodiment is to provide a coating apparatus and a nozzle that can improve film thickness uniformity.

実施形態の一態様に係る塗布装置は、ノズルと、移動機構とを備える。ノズルは、塗布液が貯留される貯留室と、貯留室に連通するスリット状の流路とを備え、流路の先端に形成される吐出口から塗布液を吐出する。移動機構は、ノズルと基板とを基板の表面に沿って相対的に移動させる。また、ノズルは、貯留室の内部を流路の長手方向に沿って複数の小部屋に仕切る仕切板を備える。   The coating apparatus which concerns on 1 aspect of embodiment is provided with a nozzle and a moving mechanism. The nozzle includes a storage chamber in which the coating liquid is stored and a slit-like flow path communicating with the storage chamber, and discharges the coating liquid from a discharge port formed at the tip of the flow path. The moving mechanism relatively moves the nozzle and the substrate along the surface of the substrate. The nozzle also includes a partition plate that partitions the interior of the storage chamber into a plurality of small chambers along the longitudinal direction of the flow path.

また、実施形態の一態様に係るノズルは、塗布液が貯留される貯留室と、貯留室に連通するスリット状の流路と、流路の先端に形成される吐出口と、貯留室の内部を流路の長手方向に沿って複数の小部屋に仕切る仕切板とを備える。   Further, the nozzle according to one aspect of the embodiment includes a storage chamber in which the coating liquid is stored, a slit-like flow channel communicating with the storage chamber, a discharge port formed at the tip of the flow channel, and the interior of the storage chamber And a partition plate that partitions the plurality of small rooms along the longitudinal direction of the flow path.

実施形態の一態様によれば、膜厚均一性を高めることができる。   According to one embodiment of the embodiment, the film thickness uniformity can be improved.

図1は、第1の実施形態に係る塗布装置の構成を示す模式側面図である。FIG. 1 is a schematic side view showing the configuration of the coating apparatus according to the first embodiment. 図2Aは、塗布処理の概略説明図である。FIG. 2A is a schematic explanatory diagram of the coating process. 図2Bは、塗布処理後の基板をスキャン方向から見た場合の模式図である。FIG. 2B is a schematic diagram when the substrate after the coating process is viewed from the scanning direction. 図3Aは、ノズルの構成を示す模式正断面図である。FIG. 3A is a schematic front sectional view showing the configuration of the nozzle. 図3Bは、図3AにおけるAA矢視断面図である。3B is a cross-sectional view taken along arrow AA in FIG. 3A. 図4は、圧力制御の一例を示す図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an example of pressure control. 図5は、塗布処理における各機器の状態変化を示すタイムチャートである。FIG. 5 is a time chart showing the state change of each device in the coating process. 図6Aは、塗布処理の様子を示す模式図である。FIG. 6A is a schematic diagram illustrating a state of the coating process. 図6Bは、塗布処理の様子を示す模式図である。FIG. 6B is a schematic diagram illustrating a state of the coating process. 図6Cは、塗布処理の様子を示す模式図である。FIG. 6C is a schematic diagram illustrating a state of the coating process. 図7は、塗布装置が実行する基板処理の処理手順を示すフローチャートである。FIG. 7 is a flowchart showing the processing procedure of the substrate processing executed by the coating apparatus. 図8は、塗布液充填処理に関する機器とノズルとの接続関係を示す模式図である。FIG. 8 is a schematic diagram showing a connection relationship between a device and a nozzle related to the coating liquid filling process. 図9は、ノズルの模式正面図である。FIG. 9 is a schematic front view of the nozzle. 図10Aは、液供給口の構成を示す模式正断面図である。FIG. 10A is a schematic front sectional view showing a configuration of a liquid supply port. 図10Bは、液供給口の他の構成を示す模式正断面図である。FIG. 10B is a schematic front sectional view showing another configuration of the liquid supply port. 図11は、塗布液充填処理時における圧力制御の内容を示す図である。FIG. 11 is a diagram illustrating the content of pressure control during the coating liquid filling process. 図12は、ノズル洗浄部の構成を示す模式斜視図である。FIG. 12 is a schematic perspective view illustrating the configuration of the nozzle cleaning unit. 図13Aは、液面検知方法の他の例を示す模式図である。FIG. 13A is a schematic diagram illustrating another example of the liquid level detection method. 図13Bは、液面検知方法の他の例を示す模式図である。FIG. 13B is a schematic diagram illustrating another example of the liquid level detection method. 図14Aは、液面検知方法の他の例を示す模式図である。FIG. 14A is a schematic diagram illustrating another example of the liquid level detection method. 図14Bは、液面検知方法の他の例を示す模式図である。FIG. 14B is a schematic diagram illustrating another example of the liquid level detection method. 図15は、小部屋の圧力制御方法の他の例を示す図である。FIG. 15 is a diagram illustrating another example of the small chamber pressure control method.

以下、添付図面を参照して、本願の開示する塗布装置およびノズルの実施形態を詳細に説明する。なお、以下に示す実施形態によりこの発明が限定されるものではない。   Hereinafter, embodiments of a coating apparatus and a nozzle disclosed in the present application will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In addition, this invention is not limited by embodiment shown below.

(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態に係る塗布装置の構成を示す模式側面図である。なお、以下においては、位置関係を明確にするために、互いに直交するX軸、Y軸およびZ軸を規定し、Z軸正方向を鉛直上向き方向とする。
(First embodiment)
FIG. 1 is a schematic side view showing the configuration of the coating apparatus according to the first embodiment. In the following, in order to clarify the positional relationship, the X axis, the Y axis, and the Z axis that are orthogonal to each other are defined, and the positive direction of the Z axis is the vertically upward direction.

図1に示すように、第1の実施形態に係る塗布装置1は、載置台10と、第1の移動機構20と、ノズル30と、昇降機構40とを備える。   As shown in FIG. 1, the coating apparatus 1 according to the first embodiment includes a mounting table 10, a first moving mechanism 20, a nozzle 30, and an elevating mechanism 40.

第1の移動機構20は、基板Wを水平方向に移動させる機構部であり、基板保持部21と、駆動部22とを備える。基板保持部21は、吸引口が形成された水平な上面を有し、吸引口からの吸引によって基板Wを水平な上面に吸着保持する。駆動部22は、載置台10に載置され、基板保持部21を水平方向(ここでは、X軸方向)に移動させる。第1の移動機構20は、駆動部22を用いて基板保持部21を移動させることによって、基板保持部21に保持された基板Wを水平方向に移動させる。   The first moving mechanism 20 is a mechanism unit that moves the substrate W in the horizontal direction, and includes a substrate holding unit 21 and a driving unit 22. The substrate holding unit 21 has a horizontal upper surface on which a suction port is formed, and sucks and holds the substrate W on the horizontal upper surface by suction from the suction port. The driving unit 22 is mounted on the mounting table 10 and moves the substrate holding unit 21 in the horizontal direction (here, the X-axis direction). The first moving mechanism 20 moves the substrate holding unit 21 using the driving unit 22 to move the substrate W held by the substrate holding unit 21 in the horizontal direction.

ノズル30は、基板Wの移動方向(X軸方向)と直交する方向(Y軸方向)に延在する長尺状のノズルであり、基板保持部21によって保持される基板Wの上方に配置される。かかるノズル30の構成については、後述する。   The nozzle 30 is a long nozzle extending in the direction (Y-axis direction) orthogonal to the moving direction (X-axis direction) of the substrate W, and is disposed above the substrate W held by the substrate holding unit 21. The The configuration of the nozzle 30 will be described later.

昇降機構40は、ノズル30を昇降させる機構部であり、固定部41と、駆動部42とを備える。固定部41は、ノズル30を固定する部材である。また、駆動部42は、固定部41を鉛直方向に移動させる。昇降機構40は、駆動部42を用いて固定部41を鉛直方向に移動させることによって、固定部41に固定されたノズル30を昇降させる。   The elevating mechanism 40 is a mechanism unit that elevates and lowers the nozzle 30 and includes a fixing unit 41 and a driving unit 42. The fixing portion 41 is a member that fixes the nozzle 30. The drive unit 42 moves the fixed unit 41 in the vertical direction. The elevating mechanism 40 moves the fixing unit 41 in the vertical direction by using the driving unit 42 to elevate and lower the nozzle 30 fixed to the fixing unit 41.

また、塗布装置1は、厚み測定部50aと、ノズル高さ測定部50bと、ノズル洗浄部60と、ノズル待機部80と、第2の移動機構90と、制御装置100とを備える。   In addition, the coating apparatus 1 includes a thickness measuring unit 50a, a nozzle height measuring unit 50b, a nozzle cleaning unit 60, a nozzle standby unit 80, a second moving mechanism 90, and a control device 100.

厚み測定部50aは、基板Wの上方(ここでは、昇降機構40)に配置され、基板Wの上面までの距離を測定する測定部である。また、ノズル高さ測定部50bは、基板Wの下方(ここでは、載置台10)に配置され、ノズル30の下端面までの距離を測定する。   The thickness measurement unit 50 a is a measurement unit that is disposed above the substrate W (here, the lifting mechanism 40) and measures the distance to the upper surface of the substrate W. The nozzle height measuring unit 50 b is disposed below the substrate W (here, the mounting table 10) and measures the distance to the lower end surface of the nozzle 30.

厚み測定部50aおよびノズル高さ測定部50bによる測定結果は、後述する制御装置100へ送信され、塗布処理時におけるノズル30の高さを決定するために用いられる。なお、厚み測定部50aおよびノズル高さ測定部50bとしては、たとえばレーザー変位計を用いることができる。   The measurement results by the thickness measurement unit 50a and the nozzle height measurement unit 50b are transmitted to the control device 100 described later, and are used to determine the height of the nozzle 30 during the coating process. For example, a laser displacement meter can be used as the thickness measuring unit 50a and the nozzle height measuring unit 50b.

ノズル洗浄部60は、ノズル30の先端部に付着した塗布液を除去する処理部である。かかるノズル洗浄部60の構成については、後述する。   The nozzle cleaning unit 60 is a processing unit that removes the coating liquid adhering to the tip of the nozzle 30. The configuration of the nozzle cleaning unit 60 will be described later.

ノズル待機部80は、ノズル30を収容可能な収容空間を有する。収容空間内は、シンナー雰囲気に保たれており、かかる収容空間内にノズル30を待機させておくことにより、ノズル30内の塗布液の乾燥が防止される。かかるノズル待機部80の構成についても、後述する。   The nozzle standby unit 80 has a storage space in which the nozzle 30 can be stored. The interior of the storage space is maintained in a thinner atmosphere, and drying of the coating liquid in the nozzle 30 is prevented by allowing the nozzle 30 to stand by in the storage space. The configuration of the nozzle standby unit 80 will also be described later.

第2の移動機構90は、ノズル洗浄部60およびノズル待機部80を水平方向に移動させる機構部であり、載置部91と、支持部92と、駆動部93とを備える。   The second moving mechanism 90 is a mechanism that moves the nozzle cleaning unit 60 and the nozzle standby unit 80 in the horizontal direction, and includes a placement unit 91, a support unit 92, and a drive unit 93.

載置部91は、ノズル洗浄部60およびノズル待機部80を略水平に載置する板状部材である。かかる載置部91は、支持部92によって所定の高さ、具体的には、基板保持部21に保持された基板Wが載置部91の下方を通過可能な高さに支持される。駆動部93は、支持部92を水平方向に移動させる。   The placement unit 91 is a plate-like member that places the nozzle cleaning unit 60 and the nozzle standby unit 80 substantially horizontally. The placement unit 91 is supported by the support unit 92 at a predetermined height, specifically, a height at which the substrate W held by the substrate holding unit 21 can pass under the placement unit 91. The drive unit 93 moves the support unit 92 in the horizontal direction.

かかる第2の移動機構90は、駆動部93を用いて支持部92を水平方向へ移動させることによって、載置部91に載置されたノズル洗浄部60およびノズル待機部80を水平方向へ移動させる。   The second moving mechanism 90 moves the nozzle cleaning unit 60 and the nozzle standby unit 80 mounted on the mounting unit 91 in the horizontal direction by moving the support unit 92 in the horizontal direction using the driving unit 93. Let

制御装置100は、塗布装置1の動作を制御する装置である。かかる制御装置100は、たとえばコンピュータであり、図示しない制御部と記憶部とを備える。記憶部には、塗布処理等の各種の処理を制御するプログラムが格納される。制御部は記憶部に記憶されたプログラムを読み出して実行することによって塗布装置1の動作を制御する。   The control device 100 is a device that controls the operation of the coating apparatus 1. The control device 100 is a computer, for example, and includes a control unit and a storage unit (not shown). The storage unit stores a program for controlling various processes such as a coating process. The control unit controls the operation of the coating apparatus 1 by reading and executing the program stored in the storage unit.

なお、かかるプログラムは、コンピュータによって読み取り可能な記録媒体に記録されていたものであって、その記録媒体から制御装置100の記憶部にインストールされたものであってもよい。コンピュータによって読み取り可能な記録媒体としては、たとえばハードディスク(HD)、フレキシブルディスク(FD)、コンパクトディスク(CD)、マグネットオプティカルディスク(MO)、メモリカードなどがある。   Such a program may be recorded on a computer-readable recording medium and may be installed in the storage unit of the control device 100 from the recording medium. Examples of the computer-readable recording medium include a hard disk (HD), a flexible disk (FD), a compact disk (CD), a magnetic optical disk (MO), and a memory card.

次に、ノズル30の構成および塗布装置1が実行する塗布処理の内容について具体的に説明する。まず、塗布処理の概略について図2Aおよび図2Bを用いて説明する。図2Aは、塗布処理の概略説明図であり、図2Bは、塗布処理後の基板Wをスキャン方向から見た場合の模式図である。   Next, the configuration of the nozzle 30 and the content of the coating process performed by the coating apparatus 1 will be specifically described. First, an outline of the coating process will be described with reference to FIGS. 2A and 2B. FIG. 2A is a schematic explanatory diagram of the coating process, and FIG. 2B is a schematic diagram when the substrate W after the coating process is viewed from the scanning direction.

塗布装置1が実行する塗布処理は、長尺状のノズル30から露出させた塗布液を基板Wに接触させた状態で基板Wを水平方向へ移動させることにより、基板W上に塗布液を塗り広げて塗布膜を形成する処理である。   The coating process performed by the coating apparatus 1 is performed by applying the coating liquid onto the substrate W by moving the substrate W in the horizontal direction while the coating liquid exposed from the long nozzle 30 is in contact with the substrate W. This is a process of spreading and forming a coating film.

図2Aに示すように、ノズル30は、基板Wの移動方向(X軸方向)に対して直交する方向(Y軸方向)に延在する長尺状の部材であり、下端部に形成された長尺状の吐出口Dから塗布液Rを吐出する。   As shown in FIG. 2A, the nozzle 30 is a long member extending in a direction (Y-axis direction) orthogonal to the moving direction (X-axis direction) of the substrate W, and is formed at the lower end. The coating liquid R is discharged from the long discharge port D.

塗布装置1は、まず、ノズル30の吐出口Dから塗布液Rを露出させる。このとき、塗布装置1は、ノズル30内の圧力を制御することによって、吐出口Dから塗布液Rを露出させた状態を維持することができるが、かかる点については、後述する。   First, the coating apparatus 1 exposes the coating liquid R from the discharge port D of the nozzle 30. At this time, the coating apparatus 1 can maintain the state in which the coating liquid R is exposed from the discharge port D by controlling the pressure in the nozzle 30. This point will be described later.

つづいて、塗布装置1は、昇降機構40(図1参照)を用いてノズル30を下方へ移動させて、吐出口Dから露出させた塗布液Rを基板Wの上面に接触させる。そして、塗布装置1は、第1の移動機構20(図1参照)を用いて基板Wを水平に移動させる。これにより、基板Wの上面に塗布液Rを塗り広げられて塗布膜が形成される。なお、塗布装置1によって基板Wに形成される塗布膜は、10μm以上の厚膜である。   Subsequently, the coating apparatus 1 moves the nozzle 30 downward using the elevating mechanism 40 (see FIG. 1) to bring the coating liquid R exposed from the discharge port D into contact with the upper surface of the substrate W. Then, the coating apparatus 1 moves the substrate W horizontally using the first moving mechanism 20 (see FIG. 1). Thereby, the coating liquid R is spread on the upper surface of the substrate W to form a coating film. Note that the coating film formed on the substrate W by the coating apparatus 1 is a thick film of 10 μm or more.

ところで、従来のノズルを用いて基板に対する塗布液の塗布を行った場合、ノズルの長手方向に膜厚均一性の悪化が生じるおそれがあった。具体的には、図3Bに示すように、ノズルの長手方向両端部における膜厚T1が、ノズルの長手方向中央部における膜厚T2よりも薄くなるおそれがあった。この理由の一つとしては、基板W上に塗布された塗布液Rが表面張力によって中央に凝集することが挙げられる。   By the way, when the coating liquid is applied to the substrate using a conventional nozzle, there is a concern that the film thickness uniformity may deteriorate in the longitudinal direction of the nozzle. Specifically, as shown in FIG. 3B, the film thickness T1 at both ends in the longitudinal direction of the nozzle may be thinner than the film thickness T2 at the center in the longitudinal direction of the nozzle. One reason for this is that the coating liquid R applied on the substrate W aggregates in the center due to surface tension.

そこで、第1の実施形態に係る塗布装置1は、ノズル30の内部をノズル30の長手方向に沿って複数の小部屋に分割して、各小部屋内の圧力を個別に制御することとした。これにより、吐出口Dからの吐出量を小部屋ごとに、すなわち、ノズル30の長手方向に沿って調整することができるため、ノズル30の長手方向における膜厚均一性の悪化を抑えて、膜厚均一性を高めることができる。   Therefore, the coating apparatus 1 according to the first embodiment divides the inside of the nozzle 30 into a plurality of small chambers along the longitudinal direction of the nozzle 30 and individually controls the pressure in each small chamber. . Thereby, since the discharge amount from the discharge port D can be adjusted for each small room, that is, along the longitudinal direction of the nozzle 30, the deterioration of the film thickness uniformity in the longitudinal direction of the nozzle 30 is suppressed, and the film Thickness uniformity can be improved.

以下、かかるノズル30の構成および小部屋ごとに行う圧力制御の内容について具体的に説明する。図3Aは、ノズル30の構成を示す模式正断面図であり、図3Bは、図3AにおけるAA矢視断面図である。また、図4は、圧力制御の一例を示す図である。   Hereinafter, the configuration of the nozzle 30 and the content of the pressure control performed for each small room will be specifically described. 3A is a schematic front sectional view showing the configuration of the nozzle 30, and FIG. 3B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 3A. FIG. 4 is a diagram illustrating an example of pressure control.

図3Aおよび図3Bに示すように、ノズル30は、塗布液Rが貯留される貯留室Sと、この貯留室Sの下部に配置され、貯留室Sに連通するスリット状の流路Cとを備え、流路Cの先端(すなわち、ノズル30の下端面)に形成される吐出口Dから塗布液Rを吐出する。   As shown in FIGS. 3A and 3B, the nozzle 30 includes a storage chamber S in which the coating liquid R is stored, and a slit-like flow path C that is disposed below the storage chamber S and communicates with the storage chamber S. The coating liquid R is discharged from the discharge port D formed at the tip of the flow path C (that is, the lower end surface of the nozzle 30).

より具体的には、ノズル30は、ノズル30の背面部および両側面部を形成する第1本体部31と、前面部を形成する第2本体部32と、天井部を形成する蓋部33と、第1本体部31の第2本体部32との対向面に配置される長尺状のランド部34とを備える。そして、第1本体部31、第2本体部32および蓋部33によって形成されるノズル30内部の空間のうち、第1本体部31と第2本体部32とによって挟まれる幅Kの空間が貯留室Sとなり、ランド部34と第2本体部32とで挟まれる幅Kよりも幅狭な幅Gの空間が流路Cとなる。なお、流路Cの幅は、幅Gで一定であり、流路Cの先端に形成される吐出口Dの幅も幅Gである。   More specifically, the nozzle 30 includes a first main body portion 31 that forms a back surface portion and both side surface portions of the nozzle 30, a second main body portion 32 that forms a front surface portion, a lid portion 33 that forms a ceiling portion, The first main body 31 includes a long land portion 34 disposed on a surface facing the second main body 32. Of the space inside the nozzle 30 formed by the first main body portion 31, the second main body portion 32 and the lid portion 33, a space having a width K sandwiched between the first main body portion 31 and the second main body portion 32 is stored. A space having a width G narrower than the width K sandwiched between the land portion 34 and the second main body portion 32 becomes the flow path C. The width of the channel C is constant at the width G, and the width of the discharge port D formed at the tip of the channel C is also the width G.

この幅Gは、貯留室Sの内部の圧力を貯留室Sの外部の圧力と等しくした状態では、塗布液Rの表面張力が塗布液Rに作用する重力より小さくなり、所定の流量で塗布液Rが吐出口Dから滴下するような値に設定されている。具体的には、幅Gは、予め行われる試験において、幅G、塗布液Rの粘度、ノズル30の材質を変化させ、その場合の塗布液Rの状態を評価することにより求められる。   In the state where the pressure inside the storage chamber S is equal to the pressure outside the storage chamber S, the width G becomes smaller than the gravity acting on the coating liquid R, and the coating liquid is applied at a predetermined flow rate. The value is set such that R drops from the discharge port D. Specifically, the width G is obtained by changing the width G, the viscosity of the coating liquid R, and the material of the nozzle 30 in a test performed in advance, and evaluating the state of the coating liquid R in that case.

第1の実施形態に係るノズル30は、貯留室S内に仕切板38a,38bを備える。仕切板38a,38bは、いずれも略平板状の部材であり、幅広面をノズル30の長手方向へ向けた状態で、ノズル30の長手方向に沿って所定の間隔を空けて並べて配置される。これら仕切板38a,38bにより、貯留室Sは、流路Cの長手方向(Y軸方向)に沿って複数の小部屋Sa,Sb,Scに仕切られる。   The nozzle 30 according to the first embodiment includes partition plates 38 a and 38 b in the storage chamber S. Each of the partition plates 38 a and 38 b is a substantially flat plate-like member, and is arranged side by side at a predetermined interval along the longitudinal direction of the nozzle 30 with the wide surface facing the longitudinal direction of the nozzle 30. The storage chamber S is partitioned into a plurality of small rooms Sa, Sb, and Sc along the longitudinal direction (Y-axis direction) of the flow path C by the partition plates 38a and 38b.

なお、ここでは、ノズル30が2つの仕切板38a,38bを備える場合の例を示すが、ノズルが備える仕切板の個数は、2個以上でもよい。   Here, an example in which the nozzle 30 includes two partition plates 38a and 38b is shown, but the number of partition plates included in the nozzle may be two or more.

仕切板38a,38bの両側面は第1本体部31および第2本体部32にそれぞれ接し、上面は蓋部33に接している。このため、各小部屋Sa〜Scに塗布液Rが貯留されると、各小部屋Sa〜Scには、塗布液Rの液面と各小部屋Sa〜Scの内壁とによって囲まれる密閉空間が小部屋Sa〜Scごとに形成される。   Both side surfaces of the partition plates 38 a and 38 b are in contact with the first main body portion 31 and the second main body portion 32, respectively, and the upper surface is in contact with the lid portion 33. For this reason, when the coating liquid R is stored in each of the small rooms Sa to Sc, each of the small rooms Sa to Sc has a sealed space surrounded by the liquid surface of the coating liquid R and the inner walls of the small rooms Sa to Sc. It is formed for each of the small rooms Sa to Sc.

なお、各小部屋Sa〜Scは、完全に独立しているわけではなく、流路C側において互いに連通している。このため、たとえば貯留室Sに塗布液Rを充填した場合に、小部屋Sa〜Scによって塗布液Rの量にバラつきが生じることを防止することができる。   The small rooms Sa to Sc are not completely independent, but communicate with each other on the channel C side. For this reason, for example, when the storage chamber S is filled with the coating liquid R, it is possible to prevent variations in the amount of the coating liquid R caused by the small chambers Sa to Sc.

ノズル30の蓋部33には、圧力測定部36a,36b,36cと、圧力調整管37a,37b,37cとが、蓋部33を貫通してそれぞれ設けられる。圧力測定部36a〜36cは、各小部屋Sa〜Sc内の密閉空間の圧力を測定する測定部である。各圧力測定部36a〜36cは、制御装置100に電気的に接続され、測定結果が制御装置100へ入力される。   The lid 33 of the nozzle 30 is provided with pressure measuring units 36a, 36b, and 36c and pressure adjusting pipes 37a, 37b, and 37c that penetrate the lid 33, respectively. The pressure measuring units 36a to 36c are measuring units that measure the pressure in the sealed space in each of the small rooms Sa to Sc. Each pressure measuring unit 36 a to 36 c is electrically connected to the control device 100, and the measurement result is input to the control device 100.

なお、圧力測定部36a〜36cは、各小部屋Sa〜Sc内の密閉空間に連通していればどのような配置であってもよく、たとえば第1本体部31を貫通して設けられてもよい。   The pressure measuring units 36a to 36c may be arranged in any manner as long as they communicate with the sealed space in each of the small rooms Sa to Sc. For example, the pressure measuring units 36a to 36c may be provided through the first main body 31. Good.

圧力調整管37a〜37cは、各密閉空間内の圧力を調整する圧力調整部110a,110b,110cにそれぞれ接続される。   The pressure adjusting tubes 37a to 37c are connected to pressure adjusting units 110a, 110b, and 110c that adjust the pressure in each sealed space, respectively.

圧力調整部110a〜110cは、真空ポンプなどの排気部111a〜111cと、N2などのガスを供給するガス供給源112a〜112cを、切替バルブ113a〜113cを介して圧力調整管37a〜37cに接続した構成となっている。   The pressure adjusting units 110a to 110c connect exhaust units 111a to 111c such as vacuum pumps and gas supply sources 112a to 112c for supplying a gas such as N2 to the pressure adjusting pipes 37a to 37c through switching valves 113a to 113c. It has become the composition.

各圧力調整部110a〜110cは、それぞれ制御装置100に電気的に接続されており、制御装置100からの指令により切替バルブ113a〜113cの開度を調整する。これにより、排気部111a〜111cまたはガス供給源112a〜112cのいずれかを圧力調整管37a〜37cに接続して、各小部屋Sa〜Sc内部からの排気量を調整したり、各小部屋Sa〜Sc内に供給するガスの量を調整したりすることができる。このようにして、塗布装置1は、圧力測定部36a〜36cの測定結果、すなわち、各小部屋Sa〜Sc内の圧力が所定の値となるように調整することができる。   Each of the pressure adjusting units 110a to 110c is electrically connected to the control device 100, and adjusts the opening degree of the switching valves 113a to 113c according to a command from the control device 100. Thereby, any one of the exhaust parts 111a to 111c or the gas supply sources 112a to 112c is connected to the pressure adjusting pipes 37a to 37c to adjust the exhaust amount from the inside of each small room Sa to Sc, or to each small room Sa. The amount of gas supplied into ~ Sc can be adjusted. In this way, the coating apparatus 1 can adjust the measurement results of the pressure measuring units 36a to 36c, that is, the pressure in each of the small rooms Sa to Sc to be a predetermined value.

かかる場合、小部屋Sa〜Scの内部を排気して小部屋Sa〜Sc内の圧力をノズル30の外部の圧力よりも低くすることで、小部屋Sa〜Sc内の塗布液Rを上方に引き上げ、吐出口Dから塗布液Rが滴下するのを防ぐことができる。また、小部屋Sa〜Sc内にガスを供給することで、塗布液Rの塗布後に小部屋Sa〜Sc内に残留する塗布液Rを加圧して押し出したりパージしたりすることができる。   In such a case, the inside of the small chambers Sa to Sc is evacuated so that the pressure in the small chambers Sa to Sc is lower than the pressure outside the nozzle 30, thereby lifting the coating liquid R in the small chambers Sa to Sc upward. The coating liquid R can be prevented from dripping from the discharge port D. Further, by supplying gas into the small chambers Sa to Sc, the coating liquid R remaining in the small chambers Sa to Sc after application of the coating liquid R can be pressurized and pushed out or purged.

なお、圧力調整部110a〜110cの構成については、本実施形態に限定されるものではなく、各小部屋Sa〜Sc内の圧力を制御することができれば、その構成は任意に設定できる。たとえば、排気部111a〜111cとガス供給源112a〜112cのそれぞれに圧力調整管37a〜37cと圧力調整弁を設け、それぞれ個別に蓋部33に接続するようにしてもよい。   In addition, about the structure of the pressure adjustment parts 110a-110c, it is not limited to this embodiment, If the pressure in each small room Sa-Sc can be controlled, the structure can be set arbitrarily. For example, pressure adjusting pipes 37a to 37c and pressure adjusting valves may be provided in the exhaust parts 111a to 111c and the gas supply sources 112a to 112c, respectively, and individually connected to the lid part 33.

このように、ノズル30は、貯留室Sが仕切板38a,38bによって複数の小部屋Sa〜Scに分割されている。これらの小部屋Sa〜Sc内の圧力を圧力調整部110a〜110cを用いて個別に制御することにより、ノズル30の長手方向における膜厚均一性の悪化を防止することができる。ここで、塗布処理における小部屋Sa〜Scの圧力制御の内容について説明する。   Thus, as for the nozzle 30, the storage chamber S is divided | segmented into several small chambers Sa-Sc by the partition plates 38a and 38b. By individually controlling the pressures in the small chambers Sa to Sc using the pressure adjusting units 110 a to 110 c, it is possible to prevent the film thickness uniformity in the longitudinal direction of the nozzle 30 from being deteriorated. Here, the content of the pressure control of the small rooms Sa to Sc in the coating process will be described.

なお、以下では、貯留室S外部の圧力よりも低い圧力状態を「負圧」と呼ぶ。また、負圧の値を変化させる場合において、たとえば「−400Pa」から「−450Pa」に変化させる場合のように絶対値が大きくなる方向へ変化させる場合には、「圧力を低下させる」あるいは「真空度を高める」と表現する。   Hereinafter, a pressure state lower than the pressure outside the storage chamber S is referred to as “negative pressure”. Further, when changing the negative pressure value, for example, when changing in a direction in which the absolute value increases, as in changing from “−400 Pa” to “−450 Pa”, “reducing pressure” or “ Increase the degree of vacuum.

塗布処理を行う場合、塗布装置1は、各小部屋Sa〜Scの圧力を負圧に調整する。これにより、塗布液Rには、重力に抗して塗布液Rを上方へ持ち上げる力が作用する。この力すなわち各小部屋Sa〜Scの圧力を変化させることで、塗布装置1は、塗布液Rの吐出量を変化させることができる。   When performing the coating process, the coating apparatus 1 adjusts the pressure in each of the small rooms Sa to Sc to a negative pressure. Thereby, the force which lifts the coating liquid R up against the gravity acts on the coating liquid R. By changing this force, that is, the pressure in each of the small chambers Sa to Sc, the coating apparatus 1 can change the discharge amount of the coating liquid R.

そして、第1の実施形態に係る塗布装置1は、図4に示すように、流路Cの長手方向中央部に位置する小部屋Sbの圧力が、流路Cの長手方向両端部に位置する小部屋Sa,Scの圧力よりも相対的に低くなるように圧力調整部110a〜110cを制御する。   And as for the coating device 1 which concerns on 1st Embodiment, as shown in FIG. 4, the pressure of the small chamber Sb located in the longitudinal direction center part of the flow path C is located in the longitudinal direction both ends of the flow path C. The pressure adjusting units 110a to 110c are controlled so as to be relatively lower than the pressures of the small rooms Sa and Sc.

長手方向中央部に位置する小部屋Sbの圧力を低くする、すなわち、塗布液Rを上方へ持ち上げる力を高めることで、小部屋Sbに貯留された塗布液Rは、吐出口Dから吐出されにくくなる。この結果、吐出口Dの長手方向中央部から吐出される塗布液Rの量は、吐出口Dの長手方向両端部から吐出される塗布液Rの量よりも少なくなる。   The coating liquid R stored in the small chamber Sb is difficult to be discharged from the discharge port D by reducing the pressure of the small chamber Sb located in the center in the longitudinal direction, that is, by increasing the force for lifting the coating liquid R upward. Become. As a result, the amount of the coating liquid R ejected from the central portion in the longitudinal direction of the ejection port D is smaller than the amount of the coating liquid R ejected from both longitudinal ends of the ejection port D.

このように、長手方向中央部から吐出される塗布液Rの量を相対的に少なくすることで、ノズルの長手方向両端部における膜厚T1が、ノズルの長手方向中央部における膜厚T2よりも薄くなる現象(図2B参照)を緩和することができる。したがって、第1の実施形態に係るノズル30によれば、膜厚均一性を高めることができる。   Thus, by relatively reducing the amount of the coating liquid R ejected from the central portion in the longitudinal direction, the film thickness T1 at both longitudinal ends of the nozzle is larger than the film thickness T2 at the central portion in the longitudinal direction of the nozzle. The phenomenon of thinning (see FIG. 2B) can be alleviated. Therefore, according to the nozzle 30 according to the first embodiment, the film thickness uniformity can be improved.

各小部屋Sa〜Scの圧力は、流路抵抗が長手方向に亘って均一な従来のノズルを用いて得られる膜厚プロファイル、具体的には、仕切板を備えないノズルを用いて基板Wへの塗布を行った場合の塗布液の厚み分布に基づいて決定される。すなわち、長手方向両端部における膜厚T1と長手方向中央部における膜厚T2との差が無くなるように、長手方向中央部に位置する小部屋Sbの圧力および長手方向両端部に位置する小部屋Sa,Scの圧力をそれぞれ決定することで、ノズル30の長手方向における膜厚均一性の悪化を確実に抑えることができる。   The pressure in each of the small chambers Sa to Sc is applied to the substrate W using a film thickness profile obtained by using a conventional nozzle having a uniform flow path resistance in the longitudinal direction, specifically, a nozzle having no partition plate. It is determined based on the thickness distribution of the coating solution when the coating is performed. That is, the pressure of the small chamber Sb located at the longitudinal center and the small chamber Sa located at the longitudinal both ends so that there is no difference between the film thickness T1 at both longitudinal ends and the film thickness T2 at the longitudinal central portion. , Sc can be determined, respectively, so that deterioration in film thickness uniformity in the longitudinal direction of the nozzle 30 can be reliably suppressed.

次に、塗布処理時の動作について図5および図6A〜図6Cを用いて説明する。図5は、塗布処理における各機器の状態変化を示すタイムチャートである。また、図6A〜図6Cは、塗布処理の様子を示す模式図である。   Next, the operation | movement at the time of an application | coating process is demonstrated using FIG. 5 and FIG. 6A-FIG. 6C. FIG. 5 is a time chart showing the state change of each device in the coating process. 6A to 6C are schematic views showing the state of the coating process.

なお、ノズル30内には、塗布液Rが充填された状態であるものとする。ノズル30内に充填される塗布液Rの量は、基板Wの全面に少なくとも1回以上塗布液Rを塗布することができる量以上であればよい。   The nozzle 30 is assumed to be filled with the coating liquid R. The amount of the coating liquid R filled in the nozzle 30 may be any amount that can apply the coating liquid R to the entire surface of the substrate W at least once.

また、後述する塗布液充填処理(図8のステップS101参照)においてノズル30内に塗布液Rが充填されてから次の塗布処理(図8のステップS108参照)が開始されるまでの間、各小部屋Sa〜Sc内の圧力は、所定の値P0に調整される(図5参照)。これにより、塗布液Rは、塗布処理が開始されるまでの間、吐出口Dから滴下することなくノズル30内に保持される。なお、所定の値P0は、貯留室S外部の圧力(大気圧)よりも低い負圧(たとえば、−450Pa)である。   In addition, each time after the coating liquid R is filled in the nozzle 30 in the coating liquid filling process (see step S101 in FIG. 8) to be described later, the next coating process (see step S108 in FIG. 8) is started. The pressures in the small rooms Sa to Sc are adjusted to a predetermined value P0 (see FIG. 5). Thereby, the coating liquid R is held in the nozzle 30 without dripping from the discharge port D until the coating process is started. The predetermined value P0 is a negative pressure (for example, −450 Pa) lower than the pressure outside the storage chamber S (atmospheric pressure).

塗布装置1は、塗布処理を開始すると、まず、圧力調整部110a〜110cを用いて各小部屋Sa〜Sc内の圧力をP0よりも高いP1(たとえば、−440Pa)に調整する(図5の時間t1参照)。これにより、塗布液Rに作用する重力が、塗布液Rの表面張力および各小部屋Sa〜Sc内の負圧をわずかに上回り、ノズル30内に保持されていた塗布液Rが吐出口Dから露出する。なお、これに伴い、貯留室S内に貯留された塗布液Rの液面高さがH0からH1へ低下する。   When the coating apparatus 1 starts the coating process, first, the pressure in each of the small rooms Sa to Sc is adjusted to P1 (for example, −440 Pa) higher than P0 using the pressure adjusting units 110a to 110c (FIG. 5). Time t1). Accordingly, the gravity acting on the coating liquid R slightly exceeds the surface tension of the coating liquid R and the negative pressure in each of the small chambers Sa to Sc, and the coating liquid R held in the nozzle 30 is discharged from the discharge port D. Exposed. As a result, the liquid level of the coating liquid R stored in the storage chamber S decreases from H0 to H1.

つづいて、塗布装置1は、昇降機構40(図1参照)を用いてノズル30を降下させ、図7Aに示すように、吐出口Dと基板Wとの距離(以下、「ノズルギャップ」と記載する)を所定の距離Z1とする(図5の時間t2参照)。これにより、吐出口Dから露出した塗布液Rが基板Wの上面に接液する。   Subsequently, the coating apparatus 1 lowers the nozzle 30 using the elevating mechanism 40 (see FIG. 1), and the distance between the discharge port D and the substrate W (hereinafter referred to as “nozzle gap”) as shown in FIG. 7A. Is a predetermined distance Z1 (see time t2 in FIG. 5). Thereby, the coating liquid R exposed from the discharge port D comes into contact with the upper surface of the substrate W.

なお、ノズルギャップZ0は、後述する厚み測定処理(図8のステップS107参照)によって得られる基板Wの上面までの距離に基づいて算出される。また、ノズルギャップZ1は、試験等によってあらかじめ設定された値である。   The nozzle gap Z0 is calculated based on the distance to the upper surface of the substrate W obtained by a thickness measurement process (see step S107 in FIG. 8) described later. The nozzle gap Z1 is a value set in advance by a test or the like.

つづいて、塗布装置1は、ノズル30を上昇させて、ノズルギャップをZ2(>Z1)とする(図5の時間t3参照)。これにより、吐出口Dから露出した塗布液Rは、図6Bに示すように、基板Wの上面に接液した状態で上方に引き伸ばされた状態となる。また、これに伴い、貯留室S内に貯留された塗布液Rの液面高さがH1からH2へ低下する。なお、ノズルギャップZ2は、基板Wに形成すべき塗布膜の膜厚に応じて設定される。   Subsequently, the coating apparatus 1 raises the nozzle 30 to set the nozzle gap to Z2 (> Z1) (see time t3 in FIG. 5). As a result, the coating liquid R exposed from the discharge port D is stretched upward while in contact with the upper surface of the substrate W, as shown in FIG. 6B. Further, along with this, the liquid level of the coating liquid R stored in the storage chamber S decreases from H1 to H2. The nozzle gap Z2 is set according to the thickness of the coating film to be formed on the substrate W.

その後、塗布装置1は、第1の移動機構20(図1参照)を用い、基板WのX軸負方向側の端部がノズル30の直下に配置される位置まで、基板Wを所定の速度で移動させる。これにより、図6Cに示すように、貯留室Sの塗布液Rが吐出口Dから流れ出し、基板Wの上面に塗布液Rが塗布される。   Thereafter, the coating apparatus 1 uses the first moving mechanism 20 (see FIG. 1) to move the substrate W to a predetermined speed until the end of the substrate W on the X-axis negative direction side is disposed directly below the nozzle 30. Move with. As a result, as shown in FIG. 6C, the coating liquid R in the storage chamber S flows out from the discharge port D, and the coating liquid R is applied to the upper surface of the substrate W.

ここで、塗布装置1は、基板Wの移動距離に応じて各小部屋Sa〜Sc内の圧力を調整する。これにより、塗布装置1は、ノズル30の長手方向における膜厚均一性の悪化だけでなく、基板Wの移動方向(スキャン方向)における膜厚均一性の悪化を抑えることができる。   Here, the coating apparatus 1 adjusts the pressure in each of the small rooms Sa to Sc according to the moving distance of the substrate W. Thereby, the coating apparatus 1 can suppress the deterioration of the film thickness uniformity in the moving direction (scan direction) of the substrate W as well as the deterioration of the film thickness uniformity in the longitudinal direction of the nozzle 30.

たとえば、塗布装置1は、長手方向両端部に位置する小部屋Sa,Sc内の塗布液Rの液面の低下に合わせて、圧力調整部110a,110cにより小部屋Sa,Sc内の圧力を、P2(たとえば、−430Pa)からP5(たとえば、−400Pa)まで段階的に上昇させる(図5の時間t5〜t8参照)。また、塗布装置1は、P2〜P5よりもそれぞれ低い圧力(たとえば、−440〜−410Pa)で、圧力調整部110bにより小部屋Sb内の圧力を段階的に上昇させる。   For example, the coating apparatus 1 adjusts the pressure in the small chambers Sa and Sc by the pressure adjusting units 110a and 110c in accordance with the decrease in the liquid level of the coating liquid R in the small chambers Sa and Sc located at both ends in the longitudinal direction. The voltage is increased stepwise from P2 (for example, −430 Pa) to P5 (for example, −400 Pa) (see time t5 to t8 in FIG. 5). Moreover, the coating device 1 raises the pressure in the small chamber Sb stepwise by the pressure adjusting unit 110b at a pressure lower than P2 to P5 (for example, −440 to −410 Pa).

小部屋Sa〜Sc内の塗布液Rの液面が低下すると、吐出口Dに作用する塗布液Rによる水頭圧が減少する。この間、小部屋Sa〜Sc内の圧力と、小部屋Sa〜Scの外部の圧力とが変化せず一定であるとすると、水頭圧が減少した分だけ塗布液Rを吐出口Dから押し出す力が減少するので、塗布液Rの吐出量は減少する。   When the liquid level of the coating liquid R in the small chambers Sa to Sc decreases, the hydraulic head pressure due to the coating liquid R acting on the discharge port D decreases. If the pressure in the small chambers Sa to Sc and the pressure outside the small chambers Sa to Sc remain constant during this time, the force that pushes the coating liquid R out of the discharge port D by the amount that the hydraulic head pressure has decreased. Since it decreases, the discharge amount of the coating liquid R decreases.

したがって、本実施形態においては、小部屋Sa〜Sc内の塗布液Rの液面高さの低下に合わせて圧力調整部110a〜110cにより小部屋Sa〜Scの圧力を段階的に上昇させることで、液面低下による吐出口Dにおける水頭圧の減少が補われる。この結果、吐出口Dからの塗布液Rの吐出量が一定に保たれ、基板Wの面内に均一な膜厚の塗布膜を形成することができる。   Therefore, in this embodiment, the pressure of the small chambers Sa to Sc is increased stepwise by the pressure adjusting units 110a to 110c in accordance with the decrease in the liquid level of the coating liquid R in the small chambers Sa to Sc. The decrease in the water head pressure at the discharge port D due to the liquid level drop is compensated. As a result, the discharge amount of the coating liquid R from the discharge port D is kept constant, and a coating film having a uniform film thickness can be formed in the surface of the substrate W.

このように、塗布装置1は、制御装置100による制御によって、基板Wに塗布液Rを塗布する間、塗布液Rの吐出量が一定となるように、圧力調整部110a〜110cを制御して各小部屋Sa〜Sc内部の圧力を調整する。これにより、塗布装置1は、ノズル30の長手方向についてだけでなく、スキャン方向における膜厚均一性の悪化も抑えることができる。   As described above, the coating apparatus 1 controls the pressure adjusting units 110a to 110c so that the discharge amount of the coating liquid R is constant while the coating liquid R is applied to the substrate W under the control of the control apparatus 100. The pressure inside each of the small rooms Sa to Sc is adjusted. Thereby, the coating device 1 can suppress the deterioration of the film thickness uniformity not only in the longitudinal direction of the nozzle 30 but also in the scanning direction.

小部屋Sa〜Sc内の圧力の調整は、たとえばノズル30と基板Wとの相対的な移動距離に応じて行うことができる。かかる場合、ノズル30の移動距離と小部屋Sa〜Sc内の圧力設定値との相関関係をあらかじめ求めておき、この相関関係に基づいて小部屋Sa〜Sc内の圧力を個別に調整するようにすればよい。このような相関関係をあらかじめ求めておくことで、ノズル30の基板Wにおける所定位置での塗布液Rの消費量から水頭圧の減少分を求め、これにより各小部屋Sa〜Sc内の圧力を調整することができる。   The pressure in the small chambers Sa to Sc can be adjusted according to the relative movement distance between the nozzle 30 and the substrate W, for example. In such a case, a correlation between the moving distance of the nozzle 30 and the pressure set value in the small rooms Sa to Sc is obtained in advance, and the pressure in the small rooms Sa to Sc is individually adjusted based on this correlation. do it. By obtaining such a correlation in advance, a decrease in the water head pressure is obtained from the consumption amount of the coating liquid R at a predetermined position on the substrate W of the nozzle 30, and thereby the pressure in each of the small chambers Sa to Sc is obtained. Can be adjusted.

また、小部屋Sa〜Sc内の圧力の調整は、小部屋Sa〜Sc内の塗布液Rの液面高さに応じて行ってもよい。かかる場合、圧力調整部110a〜110cにより上昇されるべき小部屋Sa〜Sc内の圧力の値は、たとえば後述する液面検知部160(図8参照)により検知された塗布液Rの液面の高さに基づいて求められる。   Moreover, you may adjust the pressure in small room Sa-Sc according to the liquid level height of the coating liquid R in small room Sa-Sc. In such a case, the value of the pressure in the small chambers Sa to Sc to be raised by the pressure adjusting units 110a to 110c is, for example, the level of the coating liquid R detected by the liquid level detecting unit 160 (see FIG. 8) described later. Required based on height.

具体的には、塗布開始前の状態における塗布液Rの液面高さと、塗布開始後における塗布液Rの液面高さの差分を求める。そして、かかる差分に塗布液Rの密度を乗ずることで、吐出口Dにかかる水頭圧の減少分を求めることができる。したがって、圧力調整部110a〜110cにより、この水頭圧の減少分だけ小部屋Sa〜Sc内の圧力を上昇させることで、吐出口Dにかかる水頭圧が一定となる。これにより、吐出口Dからの塗布液Rの吐出量が一定となり、基板Wの面内に均一な膜厚の塗布膜を形成することができる。   Specifically, the difference between the liquid level height of the coating liquid R before the start of coating and the liquid level height of the coating liquid R after the start of coating is obtained. Then, by multiplying the difference by the density of the coating liquid R, a decrease in the hydraulic head pressure applied to the discharge port D can be obtained. Therefore, by increasing the pressure in the small chambers Sa to Sc by the decrease in the hydraulic head pressure by the pressure adjusting units 110a to 110c, the hydraulic head pressure applied to the discharge port D becomes constant. Thereby, the discharge amount of the coating liquid R from the discharge port D becomes constant, and a coating film having a uniform film thickness can be formed in the surface of the substrate W.

また、たとえば流路Cに他の圧力測定機構を設け、流路Cの塗布液Rに作用する水頭圧を直接求め、この水頭圧が一定となるように圧力調整部110a〜110cにより小部屋Sa〜Sc内の圧力を調整することも考えられる。   Further, for example, another pressure measuring mechanism is provided in the channel C, and the head pressure acting on the coating liquid R in the channel C is directly obtained, and the small chamber Sa is adjusted by the pressure adjusting units 110a to 110c so that the head pressure becomes constant. It is also conceivable to adjust the pressure in ~ Sc.

いずれの場合においても、圧力調整部110a〜110cにより、吐出口Dからの塗布液Rの吐出量が一定となるように、換言すれば、吐出口Dの塗布液Rに作用する水頭圧が一定となるように小部屋Sa〜Sc内の圧力を調整するので、ノズル30の長手方向についてだけでなく、スキャン方向における膜厚均一性の悪化も抑えることができる。   In any case, the pressure adjustment units 110a to 110c make the discharge amount of the coating liquid R from the discharge port D constant, in other words, the hydraulic head pressure acting on the coating liquid R at the discharge port D is constant. Since the pressures in the small chambers Sa to Sc are adjusted so that not only the longitudinal direction of the nozzle 30 but also the deterioration of the film thickness uniformity in the scanning direction can be suppressed.

また、塗布装置1は、小部屋Sa〜Sc内の圧力を調整することによって、塗布液Rに作用する重力に抗して塗布液Rを保持したり、基板Wに対する塗布液Rの吐出量を制御したりすることが可能である。このため、たとえ粘度が数1000cP程度の高粘度の塗布液を扱うために吐出口の幅を広げた場合であっても、吐出口からの液だれや、塗布時の膜厚不良を防ぐことができる。すなわち、高粘度の塗布液を、無駄なく均一に基板W上に塗布することができる。   Further, the coating apparatus 1 holds the coating liquid R against the gravity acting on the coating liquid R by adjusting the pressures in the small chambers Sa to Sc, and the discharge amount of the coating liquid R to the substrate W is adjusted. It is possible to control. For this reason, even when the width of the discharge port is widened in order to handle a highly viscous coating liquid having a viscosity of about several thousand cP, it is possible to prevent liquid dripping from the discharge port and poor film thickness at the time of coating. it can. That is, the high-viscosity coating liquid can be uniformly coated on the substrate W without waste.

基板WのX軸負方向側の端部がノズル30の直下まで移動すると、塗布装置1は、ノズル30を降下させて吐出口Dと基板Wを距離Z1まで近づける(図5の時間t9)。それと共に、塗布装置1は、圧力調整部110a〜110cにより小部屋Sa〜Sc内の圧力をP6(たとえば、−390Pa)まで上昇させることにより、基板Wに一旦塗布された塗布液Rが貯留室S側に引き込まれ、塗布欠陥が生じるのを防止する。   When the end of the substrate W on the X-axis negative direction side moves to a position directly below the nozzle 30, the coating apparatus 1 lowers the nozzle 30 to bring the ejection port D and the substrate W closer to the distance Z1 (time t9 in FIG. 5). At the same time, the coating apparatus 1 raises the pressure in the small chambers Sa to Sc to P6 (for example, −390 Pa) by the pressure adjusting units 110a to 110c, whereby the coating liquid R once applied to the substrate W is stored in the storage chamber. It is drawn into the S side to prevent application defects.

その後、塗布装置1は、ノズル30をノズルギャップZ0まで上昇させる(図5の時間t10)。これにより、吐出口Dから基板Wへの塗布液Rの供給が停止され、塗布処理が終了する。   Thereafter, the coating apparatus 1 raises the nozzle 30 to the nozzle gap Z0 (time t10 in FIG. 5). Thereby, the supply of the coating liquid R from the discharge port D to the substrate W is stopped, and the coating process is completed.

ところで、塗布装置1は、スキャン方向およびノズル30の長手方向の双方について膜厚制御を行うことができるため、基板Wの上面に対して二次元的な膜厚制御を行うことが可能である。すなわち、たとえば事前に行われる試験塗布によって、膜厚が薄い部分や厚い部分が局所的に存在した場合に、かかる部分に対して塗布液Rを局所的に厚めにまたは薄めに塗布したりすることも可能である。   Incidentally, since the coating apparatus 1 can perform film thickness control in both the scanning direction and the longitudinal direction of the nozzle 30, it is possible to perform two-dimensional film thickness control on the upper surface of the substrate W. That is, for example, when a thin or thick part is locally present by a test application performed in advance, the coating solution R is locally thickly or thinly applied to the part. Is also possible.

図3Aおよび図3Bに戻り、ノズル30の残りの構成について説明する。第2本体部32は、一部が透明部材32aで形成される。これにより、貯留室Sに貯留された塗布液Rを透明部材32aを介して視認することが可能である。塗布装置1は、ノズル30の外部から透明部材32aを介して貯留室S内部の塗布液Rの液面位置を検知する。かかる点については後述する。   Returning to FIGS. 3A and 3B, the remaining configuration of the nozzle 30 will be described. A part of the second main body 32 is formed of a transparent member 32a. Thereby, it is possible to visually recognize the coating liquid R stored in the storage chamber S through the transparent member 32a. The coating apparatus 1 detects the liquid level position of the coating liquid R inside the storage chamber S from the outside of the nozzle 30 via the transparent member 32a. This point will be described later.

また、ノズル30は、第1本体部31の内部に、貯留室S内へ充填される塗布液Rを一時的に貯留する一時貯留部35を備える。   Further, the nozzle 30 includes a temporary storage unit 35 that temporarily stores the coating liquid R filled in the storage chamber S in the first main body 31.

一時貯留部35は、塗布液Rを貯留する一時貯留室35aと、一時貯留室35aと貯留室Sとを連通する通路35bとを備える。一時貯留室35aは、貯留室Sと同程度の長さを有する長尺状の空間である。また、通路35bは、一時貯留室35aの上部から貯留室Sへ向かって斜め上方に延在する通路であり、流路Cの長手方向に沿って延在するスリット形状を有する。なお、ノズル30は、かかる一時貯留部35を備えていなくてもよい。   The temporary storage unit 35 includes a temporary storage chamber 35 a that stores the coating liquid R, and a passage 35 b that allows the temporary storage chamber 35 a and the storage chamber S to communicate with each other. The temporary storage chamber 35a is a long space having the same length as the storage chamber S. The passage 35b is a passage extending obliquely upward from the upper portion of the temporary storage chamber 35a toward the storage chamber S and has a slit shape extending along the longitudinal direction of the flow path C. The nozzle 30 may not include the temporary storage unit 35.

次に、上述してきた塗布処理を含む基板処理の処理手順について説明する。図7は、塗布装置1が実行する処理手順を示すフローチャートである。なお、図7に示す各処理手順は、塗布装置1が制御装置100の制御に基づいて実行する。制御装置100が備える制御部は、本願における圧力制御部および塗布処理制御部の一例に相当する。   Next, a substrate processing procedure including the above-described coating treatment will be described. FIG. 7 is a flowchart showing a processing procedure executed by the coating apparatus 1. Note that each processing procedure shown in FIG. 7 is executed by the coating apparatus 1 based on the control of the control apparatus 100. The control unit included in the control device 100 corresponds to an example of a pressure control unit and a coating process control unit in the present application.

ここで、図7に示すステップS101〜S109の処理は、1つのロットに含まれる複数の基板の全てについて処理が完了するまで繰り返される。なお、1つのロットの基板処理が終了すると、次のロットの基板処理が開始されるが、その前に、ノズル30の先端部を洗浄するノズル洗浄処理が行われる。かかるノズル洗浄処理については、後述する。   Here, the processing of steps S101 to S109 shown in FIG. 7 is repeated until the processing is completed for all of the plurality of substrates included in one lot. When the substrate processing for one lot is completed, the substrate processing for the next lot is started, but before that, nozzle cleaning processing for cleaning the tip of the nozzle 30 is performed. This nozzle cleaning process will be described later.

図7に示すように、塗布装置1は、ステップS101〜S104の処理とステップS105〜S107の処理とを平行して行い、ステップS104の処理およびステップS107の処理を終えた後に、上述した塗布処理を実行する(ステップS108)。まず、ステップS101〜S104の処理について説明する。   As shown in FIG. 7, the coating apparatus 1 performs the processes of steps S101 to S104 and the processes of steps S105 to S107 in parallel, and after the processes of step S104 and step S107 are finished, the coating process described above is performed. Is executed (step S108). First, the processing of steps S101 to S104 will be described.

ステップS101〜S104の処理において、塗布装置1は、まず、塗布液充填処理を行う(ステップS101)。ステップS101の塗布液充填処理において、塗布装置1は、まず、ノズル待機部80をノズル30の直下へ移動させた後、ノズル30を降下させてノズル待機部80内に配置する。そして、ノズル30をノズル待機部80内に配置した状態で、ノズル30内への塗布液の充填を行う。   In the processes of steps S101 to S104, the coating apparatus 1 first performs a coating liquid filling process (step S101). In the coating liquid filling process in step S <b> 101, the coating apparatus 1 first moves the nozzle standby unit 80 directly below the nozzle 30, then lowers the nozzle 30 and arranges it in the nozzle standby unit 80. Then, the nozzle 30 is filled with the coating liquid in a state where the nozzle 30 is disposed in the nozzle standby unit 80.

ここで、塗布液充填処理の内容について説明する。図8は、塗布液充填処理に関する機器とノズル30との接続関係を示す模式図であり、図9は、ノズル30の模式正面図である。また、図10Aは、液供給口の構成を示す模式正断面図であり、図10Bは、液供給口の他の構成を示す模式正断面図である。   Here, the content of the coating liquid filling process will be described. FIG. 8 is a schematic diagram illustrating a connection relationship between the apparatus and the nozzle 30 related to the coating liquid filling process, and FIG. 9 is a schematic front view of the nozzle 30. 10A is a schematic front sectional view showing the configuration of the liquid supply port, and FIG. 10B is a schematic front sectional view showing another configuration of the liquid supply port.

図8に示すように、ノズル待機部80は、ノズル30を収容可能な収容空間81を有する。この収容空間81にはシンナーが貯留されており、シンナーが揮発することによって、収容空間81の内部はシンナー雰囲気に保たれる。   As shown in FIG. 8, the nozzle standby unit 80 has an accommodation space 81 in which the nozzle 30 can be accommodated. Thinner is stored in the storage space 81, and the thinner is volatilized to keep the interior of the storage space 81 in a thinner atmosphere.

また、収容空間81には、ノズル30の吐出口Dの長手方向(Y軸方向)に延在する略平板状の当接部材82が設けられている。かかる当接部材82は、たとえばゴム等の耐薬品性を有する樹脂素材で形成される。   The accommodating space 81 is provided with a substantially flat contact member 82 extending in the longitudinal direction (Y-axis direction) of the discharge port D of the nozzle 30. The contact member 82 is formed of a resin material having chemical resistance such as rubber.

塗布装置1は、ノズル待機部80の収容空間81へ向けてノズル30を降下させることによって、ノズル30の先端面を当接部材82に当接させる。これにより、吐出口Dが当接部材82によって閉塞された状態となる。塗布装置1は、この状態でノズル30内に塗布液Rを充填することにより、塗布液Rの充填中に吐出口Dから塗布液Rが漏れ出ることを防止することができる。特に、ノズル30に対して空の状態から塗布液Rを充填する場合に、吐出口Dからの塗布液Rの漏えいを効果的に防止することができる。   The coating apparatus 1 causes the tip end surface of the nozzle 30 to abut against the abutting member 82 by lowering the nozzle 30 toward the accommodation space 81 of the nozzle standby unit 80. As a result, the discharge port D is closed by the contact member 82. In this state, the coating apparatus 1 can prevent the coating liquid R from leaking from the discharge port D during the filling of the coating liquid R by filling the nozzle 30 with the coating liquid R. In particular, when the coating liquid R is filled from an empty state with respect to the nozzle 30, leakage of the coating liquid R from the discharge port D can be effectively prevented.

一方、塗布装置1は、塗布液供給部120と、中間タンク130と、供給ポンプ140と、加圧部150と、液面検知部160とをさらに備える。   On the other hand, the coating apparatus 1 further includes a coating liquid supply unit 120, an intermediate tank 130, a supply pump 140, a pressurization unit 150, and a liquid level detection unit 160.

塗布液供給部120は、塗布液供給源121と、バルブ122とを備える。塗布液供給源121は、バルブ122を介して中間タンク130に接続されており、中間タンク130に対して塗布液Rを供給する。また、塗布液供給部120は、制御装置100と電気的に接続されており、かかる制御装置100によってバルブ122の開閉が制御される。   The coating liquid supply unit 120 includes a coating liquid supply source 121 and a valve 122. The coating liquid supply source 121 is connected to the intermediate tank 130 via the valve 122 and supplies the coating liquid R to the intermediate tank 130. Further, the coating liquid supply unit 120 is electrically connected to the control device 100, and the opening / closing of the valve 122 is controlled by the control device 100.

中間タンク130は、塗布液供給部120とノズル30との間に介在するタンクである。かかる中間タンク130は、タンク部131と、第1供給管132と、第2供給管133と、第3供給管134と、液面センサ135とを備える。   The intermediate tank 130 is a tank interposed between the coating liquid supply unit 120 and the nozzle 30. The intermediate tank 130 includes a tank unit 131, a first supply pipe 132, a second supply pipe 133, a third supply pipe 134, and a liquid level sensor 135.

タンク部131は、塗布液Rを貯留する。かかるタンク部131の底部には、第1供給管132および第2供給管133が設けられる。第1供給管132は、バルブ122を介して塗布液供給源121に接続し、第2供給管133は、供給ポンプ140を介してノズル30の一時貯留室35aに接続する。   The tank part 131 stores the coating liquid R. A first supply pipe 132 and a second supply pipe 133 are provided at the bottom of the tank portion 131. The first supply pipe 132 is connected to the coating liquid supply source 121 via the valve 122, and the second supply pipe 133 is connected to the temporary storage chamber 35 a of the nozzle 30 via the supply pump 140.

なお、ノズル30が一時貯留部35を備えない場合には、貯留室Sと外部とを連通する連通口をノズル30に設け、かかる連通口に対して第2供給管133を接続して、塗布液Rを貯留室Sに直接供給するようにしてもよい。   When the nozzle 30 does not include the temporary storage unit 35, a communication port that communicates between the storage chamber S and the outside is provided in the nozzle 30, and the second supply pipe 133 is connected to the communication port so that coating is performed. The liquid R may be directly supplied to the storage chamber S.

第3供給管134には、加圧部150が接続される。加圧部150は、N2などのガスを供給するガス供給源151と、バルブ152とを備え、タンク部131内へガスを供給することによってタンク部131内を加圧する。かかる加圧部150は、制御装置100と電気的に接続されており、かかる制御装置100によってバルブ152の開閉が制御される。   A pressurizing unit 150 is connected to the third supply pipe 134. The pressurizing unit 150 includes a gas supply source 151 that supplies a gas such as N 2 and a valve 152, and pressurizes the tank unit 131 by supplying gas into the tank unit 131. The pressurizing unit 150 is electrically connected to the control device 100, and the opening / closing of the valve 152 is controlled by the control device 100.

また、液面センサ135は、タンク部131に貯留された塗布液Rの液面を検知する検知部である。かかる液面センサ135は、制御装置100と電気的に接続されており、検知結果が制御装置100へ入力される。   The liquid level sensor 135 is a detection unit that detects the liquid level of the coating liquid R stored in the tank unit 131. The liquid level sensor 135 is electrically connected to the control device 100, and a detection result is input to the control device 100.

供給ポンプ140は、第2供給管133の中途部に設けられており、中間タンク130から供給される塗布液Rを所定量ずつノズル30へ供給する。かかる供給ポンプ140は、制御装置100と電気的に接続され、制御装置100によって塗布液Rのノズル30への供給量が制御される。   The supply pump 140 is provided in the middle of the second supply pipe 133 and supplies the coating liquid R supplied from the intermediate tank 130 to the nozzle 30 by a predetermined amount. The supply pump 140 is electrically connected to the control device 100, and the supply amount of the coating liquid R to the nozzle 30 is controlled by the control device 100.

液面検知部160は、ノズル30の前方に配置され、貯留室Sに貯留された塗布液Rの液面の位置(以下、「液面高さ」と記載する)を検知する。ここで、図9に示すように、ノズル30の前面部を形成する第2本体部32は、一部が透明部材32aで形成されており、貯留室Sに貯留された塗布液Rを透明部材32aを介して視認することができる。液面検知部160は、たとえばCCD(Charge Coupled Device)カメラであり、ノズル30の前方から透明部材32aを介して貯留室Sの内部を撮影することによって塗布液Rの液面の位置を検知する。液面検知部160による検知結果は、制御装置100へ入力される。これにより、塗布装置1は、塗布液Rの液面高さを容易に検知することができる。   The liquid level detection unit 160 is disposed in front of the nozzle 30 and detects the position of the liquid level of the coating liquid R stored in the storage chamber S (hereinafter referred to as “liquid level height”). Here, as shown in FIG. 9, the second main body portion 32 that forms the front surface portion of the nozzle 30 is partially formed of a transparent member 32 a, and the coating liquid R stored in the storage chamber S is transferred to the transparent member. It can be visually recognized through 32a. The liquid level detection unit 160 is, for example, a CCD (Charge Coupled Device) camera, and detects the position of the liquid level of the coating liquid R by photographing the inside of the storage chamber S from the front of the nozzle 30 via the transparent member 32a. . The detection result by the liquid level detection unit 160 is input to the control device 100. Thereby, the coating device 1 can detect the liquid level height of the coating liquid R easily.

次に、塗布液充填処理時の塗布装置1の動作について説明する。塗布装置1は、液面検知部160の検知結果に基づき、ノズル30へ充填すべき塗布液Rの量(以下、「目標量」と記載する)を決定する。そして、塗布装置1は、供給ポンプ140を動作させて、中間タンク130からノズル30の一時貯留室35aへ目標量分の塗布液Rを供給する。   Next, operation | movement of the coating device 1 at the time of a coating liquid filling process is demonstrated. The coating apparatus 1 determines the amount of coating liquid R to be filled into the nozzle 30 (hereinafter referred to as “target amount”) based on the detection result of the liquid level detection unit 160. Then, the coating apparatus 1 operates the supply pump 140 to supply the target amount of the coating liquid R from the intermediate tank 130 to the temporary storage chamber 35a of the nozzle 30.

このとき、塗布装置1は、圧力調整部110a〜110c(図3A参照)を用いて小部屋Sa〜Sc内の圧力を調整しながら、各小部屋Sa〜Scへの塗布液Rの供給を行う。ここで、塗布液充填処理時における圧力制御の内容について図11を用いて説明する。図11は、塗布液充填処理時における圧力制御の内容を示す図である。   At this time, the coating apparatus 1 supplies the coating liquid R to each of the small rooms Sa to Sc while adjusting the pressure in the small rooms Sa to Sc using the pressure adjusting units 110a to 110c (see FIG. 3A). . Here, the content of the pressure control during the coating liquid filling process will be described with reference to FIG. FIG. 11 is a diagram illustrating the content of pressure control during the coating liquid filling process.

塗布液充填処理時において、小部屋Sa〜Sc内の圧力は負圧に調整される。これにより、小部屋Sa〜Sc内に残留する塗布液Rが吐出口Dから漏れ出ることを防止することができる。   During the coating liquid filling process, the pressure in the small chambers Sa to Sc is adjusted to a negative pressure. Thereby, it is possible to prevent the coating liquid R remaining in the small chambers Sa to Sc from leaking from the discharge port D.

そして、図11に示すように、塗布装置1は、負圧に調整された各小部屋Sa〜Sc内の圧力を、液面検知部160によって検知される各小部屋Sa〜Scの液面高さに応じて徐々に低下させながら(すなわち、真空度を高めながら)、塗布液Rの供給を行う。   Then, as shown in FIG. 11, the coating apparatus 1 uses the liquid level heights of the small rooms Sa to Sc detected by the liquid level detection unit 160 based on the pressures in the small rooms Sa to Sc adjusted to the negative pressure. The coating liquid R is supplied while gradually decreasing (that is, increasing the degree of vacuum) accordingly.

具体的には、塗布液充填処理の開始時における各小部屋Sa〜Sc内の圧力は、塗布処理の終了時における各小部屋Sa〜Sc内の圧力と同じくP6(たとえば、−390Pa)である。一方、塗布液充填処理の終了時における各小部屋Sa〜Sc内の圧力は、塗布処理の開始前の圧力P0(たとえば、−450Pa)に調整される。そして、塗布装置1は、各小部屋Sa〜Scの液面高さに応じて圧力をP6〜P0まで変化させる。   Specifically, the pressure in each of the small rooms Sa to Sc at the start of the coating liquid filling process is P6 (for example, −390 Pa) as is the pressure in each of the small rooms Sa to Sc at the end of the coating process. . On the other hand, the pressure in each of the small chambers Sa to Sc at the end of the coating liquid filling process is adjusted to a pressure P0 (for example, −450 Pa) before the coating process is started. And the coating device 1 changes a pressure from P6 to P0 according to the liquid level height of each small room Sa-Sc.

このように、塗布装置1は、圧力調整部110a〜110cを制御して、小部屋Sa〜Scの内部を負圧にし、さらに、負圧にした小部屋Sa〜Scの内部の圧力を徐々に低下させながら、小部屋Sa〜Scの内部へ塗布液Rを供給する。   As described above, the coating apparatus 1 controls the pressure adjusting units 110a to 110c to make the insides of the small rooms Sa to Sc have a negative pressure, and further gradually reduce the pressures inside the small rooms Sa to Sc that have been made negative pressure. The coating liquid R is supplied into the small chambers Sa to Sc while decreasing.

小部屋Sa〜Scに塗布液Rが充填され、小部屋Sa〜Sc内の塗布液Rの液面が上昇すると、吐出口Dに作用する塗布液Rによる水頭圧が増加する。この間、小部屋Sa〜Sc内の圧力と、小部屋Sa〜Scの外部の圧力とが変化せず一定であるとすると、水頭圧が増加した分だけ塗布液Rを上方へ押し上げる力が相対的に弱まるため、塗布液Rが吐出口Dから漏れ出易くなる。   When the small chambers Sa to Sc are filled with the coating liquid R and the liquid level of the coating liquid R in the small chambers Sa to Sc rises, the hydraulic head pressure due to the coating liquid R acting on the discharge ports D increases. During this time, if the pressure in the small chambers Sa to Sc and the pressure outside the small chambers Sa to Sc do not change and are constant, the force that pushes the coating liquid R upward by the amount of increased head pressure is relative. Therefore, the coating liquid R easily leaks from the discharge port D.

これに対し、本実施形態においては、小部屋Sa〜Sc内の塗布液Rの液面高さの上昇に合わせて圧力調整部110a〜110cにより小部屋Sa〜Scの圧力を徐々に低下させることで、塗布液Rを上方へ押し上げる力を補うことができる。このため、塗布液充填処理中に、塗布液Rが吐出口Dから漏れ出ることをより確実に防止することができる。   On the other hand, in the present embodiment, the pressures of the small chambers Sa to Sc are gradually decreased by the pressure adjusting units 110a to 110c in accordance with the increase in the liquid surface height of the coating liquid R in the small chambers Sa to Sc. Thus, the force that pushes up the coating solution R upward can be supplemented. For this reason, it can prevent more reliably that the coating liquid R leaks from the discharge outlet D during a coating liquid filling process.

また、塗布装置1は、小部屋Sa〜Sc内への塗布液Rの供給が終了してから塗布処理を開始するまでの間、圧力調整部110a〜110cを制御して、小部屋Sa〜Sc内への塗布液Rの供給が終了した時点における小部屋Sa〜Sc内の圧力(すなわちP0)を維持する。このため、一連の基板処理における小部屋Sa〜Sc内の圧力制御を効率的に行うことができる。   In addition, the coating apparatus 1 controls the pressure adjusting units 110a to 110c until the coating process is started after the supply of the coating liquid R into the small chambers Sa to Sc is completed, and thereby the small chambers Sa to Sc. The pressure (that is, P0) in the small chambers Sa to Sc at the time when the supply of the coating liquid R to the inside is completed is maintained. For this reason, the pressure control in the small chambers Sa to Sc in a series of substrate processing can be efficiently performed.

なお、ここでは、液面高さに応じて圧力を変化させることとしたが、これに限ったものではなく、たとえば予め決められた時間に従って圧力を変化させてもよい。   Here, the pressure is changed according to the liquid level, but the pressure is not limited to this, and the pressure may be changed according to a predetermined time, for example.

また、塗布装置1は、ノズル30に対する塗布液Rの供給を、塗布液供給源121から直接ではなく、塗布液供給源121とノズル30との間に設けた中間タンク130から行う。これにより、ノズル30までの配管距離を短くすることができるため、たとえば塗布液の粘度が高く、塗布液供給源121からの供給が困難な場合であっても、中間タンク130からノズル30へ塗布液を容易に供給することができる。   Further, the coating apparatus 1 supplies the coating liquid R to the nozzle 30 not from the coating liquid supply source 121 but from an intermediate tank 130 provided between the coating liquid supply source 121 and the nozzle 30. Thereby, since the piping distance to the nozzle 30 can be shortened, for example, even when the viscosity of the coating liquid is high and the supply from the coating liquid supply source 121 is difficult, the coating is applied from the intermediate tank 130 to the nozzle 30. The liquid can be easily supplied.

また、塗布装置1は、中間タンク130からノズル30への供給も困難である場合には、加圧部150を用いてタンク部131内の圧力を高めることによって、中間タンク130からノズル30へ塗布液Rを供給することができる。   In addition, when the supply from the intermediate tank 130 to the nozzle 30 is difficult, the coating apparatus 1 applies the pressure from the intermediate tank 130 to the nozzle 30 by increasing the pressure in the tank unit 131 using the pressurizing unit 150. Liquid R can be supplied.

塗布液Rは、中間タンク130からノズル30の一時貯留室35aへ供給された後、通路35bを通って貯留室Sへ供給される。ここで、通路35bの先端部には、図10Aに示すように、貯留室Sに連通し、流路Cの長手方向に沿って延在するスリット状の液供給口35cが形成されている。これにより、塗布装置1は、塗布液Rを貯留室Sの長手方向に沿って均等に供給することができ、小部屋Sa〜Scごとに塗布液Rの偏りが生じることを防止することができる。   The coating liquid R is supplied from the intermediate tank 130 to the temporary storage chamber 35a of the nozzle 30 and then supplied to the storage chamber S through the passage 35b. Here, as shown in FIG. 10A, a slit-like liquid supply port 35c that communicates with the storage chamber S and extends along the longitudinal direction of the flow path C is formed at the distal end of the passage 35b. Thereby, the coating device 1 can supply the coating liquid R evenly along the longitudinal direction of the storage chamber S, and can prevent the coating liquid R from being biased for each of the small rooms Sa to Sc. .

また、液供給口35cは、ランド部34(流路C)と貯留室Sとの境界部の近傍、具体的には、ランド部34(流路C)よりも上方、かつ、仕切板38a,38bよりも下方に設けられる。このように、貯留室Sのできるだけ下側から塗布液Rを供給することにより、塗布液Rを充填する際に塗布液Rに気泡が混入することを防止することができる。   In addition, the liquid supply port 35c is in the vicinity of the boundary portion between the land portion 34 (channel C) and the storage chamber S, specifically, above the land portion 34 (channel C), and the partition plates 38a, It is provided below 38b. Thus, by supplying the coating liquid R from the lower side of the storage chamber S as much as possible, it is possible to prevent bubbles from being mixed into the coating liquid R when the coating liquid R is filled.

なお、ここでは、スリット状に形成された1つの液供給口35cが各小部屋Sa〜Scに跨って形成される場合の例を示したが、液供給口は、小部屋Sa〜Scごとにそれぞれ設けられてもよい。   In addition, although the example in case one liquid supply port 35c formed in slit shape was formed ranging over each small room Sa-Sc here, a liquid supply port is shown for every small room Sa-Sc. Each may be provided.

たとえば、図10Bに示すように、小部屋Saには液供給口35c_1が、小部屋Sbには液供給口35c_2が、小部屋Scには液供給口35c_3が、それぞれ形成される。各液供給口35c_1〜35c_3は、それぞれスリット形状を有しており、通路35bにおいて互いに連通している。このように構成することによっても、小部屋Sa〜Sc内での塗布液Rの偏りを防止することができる。   For example, as shown in FIG. 10B, a liquid supply port 35c_1 is formed in the small chamber Sa, a liquid supply port 35c_2 is formed in the small chamber Sb, and a liquid supply port 35c_3 is formed in the small chamber Sc. Each of the liquid supply ports 35c_1 to 35c_3 has a slit shape and communicates with each other in the passage 35b. Also with this configuration, it is possible to prevent the application liquid R from being biased in the small rooms Sa to Sc.

塗布装置1は、液面センサ135の検知結果に基づき、タンク部131内に貯留されている塗布液Rの量が所定量を下回ったと判定した場合には、塗布液供給部120を制御して、塗布液供給源121からタンク部131へ塗布液Rを供給する。これにより、タンク部131に塗布液Rが補充される。   When it is determined that the amount of the coating liquid R stored in the tank unit 131 is less than a predetermined amount based on the detection result of the liquid level sensor 135, the coating apparatus 1 controls the coating liquid supply unit 120. The coating liquid R is supplied from the coating liquid supply source 121 to the tank unit 131. Thereby, the coating liquid R is replenished to the tank part 131.

図7へ戻り、基板処理の説明をつづける。ステップS101の塗布液充填処理を終えると、塗布装置1は、液面検知部160の検知結果に基づき、貯留室S内に充填された塗布液Rの液面が平坦であるか否かを判定する(ステップS102)。たとえば、塗布装置1は、液面の最も高い位置と最も低い位置との差分を求め、かかる差分が所定の範囲内にあれば、液面が平坦であると判定する。   Returning to FIG. 7, the description of the substrate processing will be continued. When the coating liquid filling process in step S101 is completed, the coating apparatus 1 determines whether or not the liquid level of the coating liquid R filled in the storage chamber S is flat based on the detection result of the liquid level detection unit 160. (Step S102). For example, the coating apparatus 1 calculates a difference between the highest position and the lowest position of the liquid level, and determines that the liquid level is flat if the difference is within a predetermined range.

かかる処理において、液面が平坦でない場合(ステップS102,No)、塗布装置1は、一定時間待機した後(ステップS103)、再びステップS102の判定を行う。塗布装置1は、液面が平坦になるまで、ステップS102およびステップS103の処理を繰り返し、液面が平坦であると判定すると(ステップS102,Yes)、処理をステップS104のノズルプライミング処理へ移行する。   In this process, when the liquid level is not flat (No at Step S102), the coating apparatus 1 waits for a certain time (Step S103), and then performs the determination at Step S102 again. The coating apparatus 1 repeats the process of step S102 and step S103 until the liquid level becomes flat, and determines that the liquid level is flat (step S102, Yes), the process proceeds to the nozzle priming process of step S104. .

このように、塗布装置1は、液面検知部160による検知結果に基づいて液面が平坦化したか否かを判定し、液面が平坦化したと判定した場合に、ノズル30を用いた塗布処理を開始させることとしたため、膜厚均一性の悪化を防止することができる。すなわち、液面が平坦ではない場合、言い換えれば、貯留室S内の塗布液Rに偏りがある場合、ノズル30の吐出口Dに作用する水頭圧が不均一となり、膜厚均一性が悪化するおそれがある。このため、本実施形態のように、液面が平坦化した後に塗布処理を開始させることにより、膜厚均一性の悪化を防止することができる。   As described above, the coating apparatus 1 determines whether the liquid level is flattened based on the detection result by the liquid level detection unit 160, and uses the nozzle 30 when determining that the liquid level is flattened. Since the coating process is started, it is possible to prevent deterioration in film thickness uniformity. That is, when the liquid level is not flat, in other words, when the coating liquid R in the storage chamber S is uneven, the water head pressure acting on the discharge port D of the nozzle 30 becomes non-uniform, and the film thickness uniformity deteriorates. There is a fear. For this reason, the deterioration of film thickness uniformity can be prevented by starting the coating process after the liquid surface is flattened as in this embodiment.

つづいて、ステップS104のノズルプライミング処理について説明する。ノズルプライミング処理は、ノズル洗浄部60(図1参照)を用いてノズル30の先端を拭き取ることによって、吐出口Dの状態を整える処理のことである。かかるノズルプライミング処理を開始すると、塗布装置1は、基板Wを初期位置(図1に示す位置)へ戻すとともに、第2の移動機構90を用いてノズル洗浄部60をノズル30の直下へ移動させる。そして、塗布装置1は、ノズル洗浄部60を用いて吐出口Dから露出した塗布液Rを拭き取ることによって、吐出口Dの状態を整える。   Next, the nozzle priming process in step S104 will be described. The nozzle priming process is a process of adjusting the state of the discharge port D by wiping the tip of the nozzle 30 using the nozzle cleaning unit 60 (see FIG. 1). When the nozzle priming process is started, the coating apparatus 1 returns the substrate W to the initial position (position shown in FIG. 1) and moves the nozzle cleaning unit 60 directly below the nozzles 30 using the second moving mechanism 90. . And the coating device 1 arranges the state of the discharge outlet D by wiping off the coating liquid R exposed from the discharge outlet D using the nozzle washing | cleaning part 60. FIG.

ここで、ノズル洗浄部60の構成およびノズルプライミング処理の内容について図12を用いて説明する。図12は、ノズル洗浄部60の構成を示す模式斜視図である。   Here, the configuration of the nozzle cleaning unit 60 and the contents of the nozzle priming process will be described with reference to FIG. FIG. 12 is a schematic perspective view showing the configuration of the nozzle cleaning unit 60.

図12に示すように、ノズル洗浄部60は、シンナー吐出部61a,61bと、パッド部62a,62bと、N2噴出部63a,63bと、載置部64と、駆動部65とを備える。   As illustrated in FIG. 12, the nozzle cleaning unit 60 includes thinner discharge units 61 a and 61 b, pad units 62 a and 62 b, N 2 ejection units 63 a and 63 b, a mounting unit 64, and a driving unit 65.

シンナー吐出部61a,61bは、図示しないポンプ等を介してシンナー供給源へ接続されており、かかるシンナー供給源から供給されるシンナーをノズル30の短手方向両側からノズル30の先端部へ向けて吐出する。これにより、ノズル30の先端部に付着する塗布液を溶かすことができる。   The thinner discharge parts 61a and 61b are connected to a thinner supply source via a pump (not shown), and the thinner supplied from the thinner supply source is directed from both sides of the nozzle 30 in the short direction toward the tip of the nozzle 30. Discharge. Thereby, the coating liquid adhering to the tip part of the nozzle 30 can be dissolved.

パッド部62a,62bは、ノズル30の先端部の形状に沿って略V字状に形成され、ノズル30の先端部の短手方向両面に当接する。後述する駆動部65によってパッド部62a,62bが移動することにより、ノズル30の先端部に付着した塗布液がパッド部62a,62bによって拭き取られる。   The pad portions 62 a and 62 b are formed in a substantially V shape along the shape of the tip portion of the nozzle 30, and abut on both sides in the short side direction of the tip portion of the nozzle 30. When the pad portions 62a and 62b are moved by a driving portion 65 described later, the coating liquid adhering to the tip portion of the nozzle 30 is wiped off by the pad portions 62a and 62b.

N2噴出部63a,63bは、図示しないポンプ等を介してN2供給源へ接続されており、かかるN2供給源から供給されるN2をノズル30の短手方向両側からノズル30の先端部へ向けて噴出する。これにより、ノズル30の先端部が乾燥される。   The N2 ejection parts 63a and 63b are connected to an N2 supply source via a pump (not shown) or the like, and N2 supplied from the N2 supply source is directed from both sides in the short direction of the nozzle 30 toward the tip part of the nozzle 30. Erupts. Thereby, the front-end | tip part of the nozzle 30 is dried.

これらシンナー吐出部61a,61b、パッド部62a,62bおよびN2噴出部63a,63bは、載置部64に載置される。具体的には、ノズル30の延在方向(Y軸方向)と平行に、それぞれシンナー吐出部61a、パッド部62a、シンナー吐出部61b、パッド部62b、N2噴出部63a、N2噴出部63bの順に並べて載置される。   These thinner discharge parts 61a and 61b, pad parts 62a and 62b, and N2 ejection parts 63a and 63b are mounted on the mounting part 64. Specifically, in parallel with the extending direction of the nozzle 30 (Y-axis direction), the thinner discharge portion 61a, the pad portion 62a, the thinner discharge portion 61b, the pad portion 62b, the N2 discharge portion 63a, and the N2 discharge portion 63b, respectively. Placed side by side.

駆動部65は、載置部64をノズル30の延在方向(Y軸方向)と平行な方向に移動させることによって、載置部64に載置されたシンナー吐出部61a,61b、パッド部62a,62bおよびN2噴出部63a,63bをノズル30の延在方向と平行に移動させる。   The driving unit 65 moves the mounting unit 64 in a direction parallel to the extending direction (Y-axis direction) of the nozzle 30 to thereby perform thinner discharge units 61a and 61b and a pad unit 62a mounted on the mounting unit 64. , 62b and the N2 ejection parts 63a, 63b are moved in parallel with the extending direction of the nozzle 30.

塗布装置1は、ノズルプライミング処理を行う場合、シンナー吐出部61a,61b、パッド部62a,62bおよびN2噴出部63a,63bのうち、パッド部62a,62bのみを使用する。   When performing the nozzle priming process, the coating apparatus 1 uses only the pad parts 62a and 62b among the thinner discharge parts 61a and 61b, the pad parts 62a and 62b, and the N2 ejection parts 63a and 63b.

具体的には、塗布装置1は、昇降機構40を用いてノズル30を降下させ、ノズル30の先端部がパッド部62a,62bに当接する位置にノズル30を配置させた状態で、駆動部65を用いて載置部64をY軸負方向へ移動させる。これにより、吐出口Dから露出した塗布液Rやノズル30の先端部に付着した塗布液Rがパッド部62a,62bによって拭き取られて、吐出口Dの状態が整えられる。   Specifically, the coating apparatus 1 lowers the nozzle 30 using the elevating mechanism 40, and places the nozzle 30 at a position where the tip of the nozzle 30 abuts against the pad portions 62a and 62b. Is used to move the mounting portion 64 in the negative Y-axis direction. Thereby, the coating liquid R exposed from the discharge port D and the coating liquid R adhering to the tip of the nozzle 30 are wiped off by the pad portions 62a and 62b, and the state of the discharge port D is adjusted.

かかるノズルプライミング処理を終えた後、塗布装置1は、塗布処理を開始する(ステップS108)。このように、塗布装置1は、ノズルプライミング処理によって吐出口Dの状態を整えたうえで塗布処理を開始することにより、塗布処理開始直後における膜厚均一性を高めることができる。しかも、塗布装置1は、塗布処理を開始する直前にノズルプライミング処理を行うこととしたため、吐出口Dが整えられた状態を容易に維持しておくことができる。   After finishing the nozzle priming process, the coating apparatus 1 starts the coating process (step S108). Thus, the coating apparatus 1 can improve the film thickness uniformity immediately after the start of the coating process by starting the coating process after adjusting the state of the discharge port D by the nozzle priming process. Moreover, since the coating apparatus 1 performs the nozzle priming process immediately before starting the coating process, it is possible to easily maintain the state in which the discharge ports D are arranged.

なお、ノズル洗浄部60が備えるシンナー吐出部61a,61bおよびN2噴出部63a,63bは、ロット間において行われるノズル洗浄処理時に用いられる。すなわち、ノズル洗浄処理において、塗布装置1は、シンナー吐出部61a,61bからシンナーを、N2噴出部63a,63bからN2を噴出させた状態で、駆動部65を用いて載置部64をY軸負方向へ移動させる。これにより、ノズル洗浄部60は、ノズル30の先端部に対して、シンナー吐出部61aによるシンナー供給、パッド部62aによる拭き取り、シンナー吐出部61bによるシンナー供給、パッド部62bによる拭き取り、N2噴出部63a,63bによるN2噴出を行って、ノズル30を洗浄する。   Note that the thinner discharge portions 61a and 61b and the N2 ejection portions 63a and 63b included in the nozzle cleaning portion 60 are used during nozzle cleaning processing performed between lots. That is, in the nozzle cleaning process, the coating apparatus 1 uses the driving unit 65 to move the mounting unit 64 in the Y-axis while the thinner is ejected from the thinner discharge units 61a and 61b and N2 is ejected from the N2 ejecting units 63a and 63b. Move in the negative direction. Accordingly, the nozzle cleaning unit 60 supplies the thinner at the tip of the nozzle 30 with the thinner discharger 61a, the wiper with the pad 62a, the thinner supply with the thinner discharger 61b, the wiper with the pad 62b, and the N2 ejection part 63a. , 63b, N2 is ejected to clean the nozzle 30.

つづいて、ステップS105〜S107の処理について説明する。塗布装置1は、基板保持部21の上面に載置された基板Wを基板保持部21を用いて吸着保持した後(ステップS105)、ノズル高さ測定処理を行う(ステップS106)。かかるノズル高さ測定処理において、塗布装置1は、ノズル高さ測定部50bを用いてノズル30の下端面までの距離を測定することにより、ノズル30が規定の高さに位置しているか否かを確認する。かかる処理においてノズル高さが既定の高さからずれている場合、塗布装置1は、駆動部42を用いてノズル高さの補正を行ってもよい。   It continues and demonstrates the process of step S105-S107. The coating apparatus 1 sucks and holds the substrate W placed on the upper surface of the substrate holding unit 21 using the substrate holding unit 21 (step S105), and then performs a nozzle height measurement process (step S106). In such a nozzle height measurement process, the coating apparatus 1 uses the nozzle height measurement unit 50b to measure the distance to the lower end surface of the nozzle 30 to determine whether the nozzle 30 is positioned at a specified height. Confirm. In such a process, when the nozzle height is deviated from the predetermined height, the coating apparatus 1 may correct the nozzle height using the drive unit 42.

なお、かかるノズル高さ測定処理は、ステップS105の前に行っても構わない。また、ノズル高さ測定処理は、ロットごとに繰り返し行われる基板処理のうちの何れか1回(たとえば、最初の1回)についてのみ行うこととしてもよい。   The nozzle height measurement process may be performed before step S105. Further, the nozzle height measurement process may be performed only for any one (for example, the first one) of the substrate processes repeatedly performed for each lot.

つづいて、塗布装置1は、厚み測定処理を行う(ステップS107)。具体的には、塗布装置1は、基板保持部21に保持された基板Wを駆動部22を用いて厚み測定部50aの下方へ移動させた後、厚み測定部50aを用いて基板Wの上面までの距離を測定する。厚み測定部50aによる測定結果は、制御装置100へ送信される。   Subsequently, the coating apparatus 1 performs a thickness measurement process (step S107). Specifically, the coating apparatus 1 moves the substrate W held by the substrate holding unit 21 to the lower side of the thickness measuring unit 50a using the driving unit 22, and then uses the thickness measuring unit 50a to move the upper surface of the substrate W. Measure the distance to. A measurement result by the thickness measuring unit 50 a is transmitted to the control device 100.

なお、基板Wの外縁部は、塗布装置1へ搬送されるまでの各工程によって表面が粗くなっている可能性がある。このため、基板Wの外縁から所定距離(たとえば、2mm程度)内側の位置を厚み測定部50aの測定点とすることが好ましい。   Note that the outer edge of the substrate W may have a roughened surface due to each process until it is transferred to the coating apparatus 1. For this reason, it is preferable that a position inside a predetermined distance (for example, about 2 mm) from the outer edge of the substrate W is a measurement point of the thickness measurement unit 50a.

また、塗布装置1は、厚み測定部50aを複数(たとえば、2個)備えており、各厚み測定部50aによって得られた測定結果に基づく値(たとえば、平均値)を基板Wの上面までの距離として決定する。   In addition, the coating apparatus 1 includes a plurality of (for example, two) thickness measurement units 50a, and values (for example, average values) based on the measurement results obtained by the thickness measurement units 50a are measured up to the upper surface of the substrate W. Determine as distance.

厚み測定処理を終えると、塗布装置1は、基板Wを塗布処理開始位置(基板WのX軸正方向側の端部がノズル30の直下に配置される位置)へ移動させる。そして、塗布装置1は、ステップS104のノズルプライミング処理が完了していれば直ちに、ノズルプライミング処理が完了していなければノズルプライミング処理の完了後直ちに、塗布処理を行う(ステップS108)。塗布処理の内容については上述したため、ここでの説明は省略する。   When the thickness measurement process is finished, the coating apparatus 1 moves the substrate W to a coating process start position (a position where the end of the substrate W on the X-axis positive direction side is disposed directly below the nozzle 30). The coating apparatus 1 performs the coating process immediately after the nozzle priming process in step S104 is completed, and immediately after the nozzle priming process is completed if the nozzle priming process is not completed (step S108). Since the content of the coating process has been described above, a description thereof is omitted here.

ステップS108の塗布処理を終えると、塗布装置1は、処理をステップS101へ戻してステップS101〜S104の処理を行う。また、塗布装置1は、基板搬出処理を行った後(ステップS109)、ステップS101〜ステップS104の処理と平行してステップS105〜S107の処理を再び行う。なお、基板搬出処理は、基板保持部21による基板Wの吸着保持を解除した後、処理済の基板Wを外部装置に受け渡す処理である。   When the coating process of step S108 is completed, the coating apparatus 1 returns the process to step S101 and performs the processes of steps S101 to S104. In addition, after performing the substrate carry-out process (Step S109), the coating apparatus 1 performs the processes of Steps S105 to S107 again in parallel with the processes of Steps S101 to S104. The substrate carry-out process is a process of delivering the processed substrate W to an external device after releasing the suction holding of the substrate W by the substrate holding unit 21.

1つのロットに含まれる全ての基板Wについて上述したステップS101〜ステップS109の処理を終えたとき、塗布装置1は、1つのロットに対する一連の基板処理を終了する。   When the processing in steps S101 to S109 described above is finished for all the substrates W included in one lot, the coating apparatus 1 finishes a series of substrate processing for one lot.

上述してきたように、第1の実施形態に係る塗布装置は、ノズルと、移動機構とを備える。ノズルは、塗布液が貯留される貯留室と、貯留室に連通するスリット状の流路とを備え、流路の先端に形成される吐出口から塗布液を吐出する。移動機構は、ノズルと基板とを基板の表面に沿って相対的に移動させる。また、ノズルは、貯留室の内部を流路の長手方向に沿って複数の小部屋に仕切る仕切板を備える。したがって、第1の実施形態に係る塗布装置によれば、膜厚均一性を高めることができる。   As described above, the coating apparatus according to the first embodiment includes a nozzle and a moving mechanism. The nozzle includes a storage chamber in which the coating liquid is stored and a slit-like flow path communicating with the storage chamber, and discharges the coating liquid from a discharge port formed at the tip of the flow path. The moving mechanism relatively moves the nozzle and the substrate along the surface of the substrate. The nozzle also includes a partition plate that partitions the interior of the storage chamber into a plurality of small chambers along the longitudinal direction of the flow path. Therefore, the coating apparatus according to the first embodiment can improve the film thickness uniformity.

なお、第1の実施形態では、液面検知部160を用いて貯留室Sの内部を撮像することとしたが(図10参照)、貯留室Sは長尺状であるため、貯留室Sの内部を長手方向の一端から他端まで撮像するためには、ノズル30からある程度離れた位置に液面検知部160を配置する必要がある。そこで、液面検知部160をノズル30の近傍に配置するための構成について図13A、図13Bおよび図14A、図14Bを用いて説明する。図13A、図13Bおよび図14A、図14Bは、液面検知方法の他の例を示す模式図である。   In the first embodiment, the inside of the storage chamber S is imaged using the liquid level detection unit 160 (see FIG. 10). However, since the storage chamber S is long, In order to image the inside from one end to the other in the longitudinal direction, it is necessary to dispose the liquid level detection unit 160 at a position somewhat away from the nozzle 30. Therefore, a configuration for disposing the liquid level detection unit 160 in the vicinity of the nozzle 30 will be described with reference to FIGS. 13A, 13B, 14A, and 14B. FIG. 13A, FIG. 13B, FIG. 14A, and FIG. 14B are schematic views showing another example of the liquid level detection method.

たとえば、図13Aに示すように、塗布装置1は、ノズル30の前方から塗布液Rの液面を検知する液面検知部を複数(ここでは、液面検知部160a,160bの2台)を備えてもよい。このように、液面検知部を複数設けることで、各液面検知部が検知すべき範囲を小さくすることができるため、液面検知部をノズル30の近傍に配置することができる。   For example, as shown in FIG. 13A, the coating apparatus 1 includes a plurality of liquid level detection units (here, two liquid level detection units 160a and 160b) that detect the liquid level of the coating liquid R from the front of the nozzle 30. You may prepare. In this way, by providing a plurality of liquid level detection units, the range to be detected by each liquid level detection unit can be reduced, so that the liquid level detection unit can be disposed in the vicinity of the nozzle 30.

また、図13Bに示すように、塗布装置1は、1台の液面検知部160cと、この液面検知部160cをノズル30の長手方向(Y軸方向)に沿って移動させる駆動部161とを備えていてもよい。これによっても、液面検知部をノズル30の近傍に配置することができる。   As shown in FIG. 13B, the coating apparatus 1 includes one liquid level detection unit 160c, and a drive unit 161 that moves the liquid level detection unit 160c along the longitudinal direction (Y-axis direction) of the nozzle 30. May be provided. Also by this, a liquid level detection part can be arrange | positioned in the vicinity of the nozzle 30. FIG.

また、液面検知部をノズル30の前方に配置したくない場合には、たとえば、図14Aに示すように、液面検知部160dをノズル30の上方に下向きで配置し、光を反射または屈折させるプリズム162を介して塗布液Rの液面を撮像してもよい。   Further, when it is not desired to arrange the liquid level detection unit in front of the nozzle 30, for example, as shown in FIG. 14A, the liquid level detection unit 160d is arranged downward above the nozzle 30 to reflect or refract light. The liquid level of the coating liquid R may be imaged through the prism 162 to be moved.

このように、液面検知部160dを、塗布液Rの液面に対して所定の角度で傾斜して配置し、塗布液Rの液面と略平行な方向から見た液面の像をプリズム162を介して撮像することとしてもよい。これにより、液面検知部をノズル30の前方以外の場所に配置することができる。   In this way, the liquid level detection unit 160d is disposed at a predetermined angle with respect to the liquid level of the coating liquid R, and an image of the liquid level viewed from a direction substantially parallel to the liquid level of the coating liquid R is converted to a prism. It is good also as imaging through 162. Thereby, a liquid level detection part can be arrange | positioned in places other than the front of the nozzle 30. FIG.

また、プリズムは、ノズルと一体的に形成されてもよい。たとえば、図14Bに示すように、ノズル30_2は、前面部にプリズム162_2が設けられた透明部材32a_2を備えていてもよい。   The prism may be formed integrally with the nozzle. For example, as illustrated in FIG. 14B, the nozzle 30_2 may include a transparent member 32a_2 having a prism 162_2 on the front surface portion.

なお、ここでは、液面検知部がCCDカメラ等の撮像装置である場合の例を示したが、液面検知部は、撮像装置に限ったものではなく、たとえば赤外線センサ等の光学式センサであってもよい。   Here, an example in which the liquid level detection unit is an imaging device such as a CCD camera has been shown, but the liquid level detection unit is not limited to the imaging device, and may be an optical sensor such as an infrared sensor. There may be.

(第2の実施形態)
ところで、上述してきた第1の実施形態では、圧力調整部110a〜110cが、各小部屋Sa〜Scに対して気体を給排することによって各小部屋Sa〜Scの圧力を調整することとした。しかし、小部屋Sa〜Scの圧力制御方法は、これに限定されない。そこで、以下では、小部屋Sa〜Scの圧力制御方法の他の例について図15を用いて説明する。図15は、小部屋Sa〜Scの圧力制御方法の他の例を示す図である。
(Second Embodiment)
By the way, in 1st Embodiment mentioned above, it was decided that the pressure adjustment parts 110a-110c adjust the pressure of each small room Sa-Sc by supplying / exhausting gas with respect to each small room Sa-Sc. . However, the pressure control method for the small rooms Sa to Sc is not limited to this. Therefore, in the following, another example of the pressure control method for the small rooms Sa to Sc will be described with reference to FIG. FIG. 15 is a diagram illustrating another example of the pressure control method for the small rooms Sa to Sc.

図15に示すように、第2の実施形態に係るノズル30_1の各小部屋Sa〜Scには、塗布液Rが満杯に充填される。すなわち、ノズル30_1の内部は、塗布液Rで満たされた状態となっている。   As shown in FIG. 15, each of the small chambers Sa to Sc of the nozzle 30_1 according to the second embodiment is filled with the coating liquid R to the full. That is, the inside of the nozzle 30_1 is filled with the coating liquid R.

かかるノズル30_1の蓋部33には、圧力調整管37a〜37cに代えて、圧力調整管39a〜39cが各小部屋Sa〜Scに対応してそれぞれ接続される。圧力調整管39a〜39cも、塗布液Rで満たされた状態となっている。なお、圧力調整管39a〜39cの体積は、基板Wに対して少なくとも1回以上塗布を行うことができる塗布液Rの体積以上であることが好ましい。   Instead of the pressure adjustment pipes 37a to 37c, pressure adjustment pipes 39a to 39c are connected to the lid portion 33 of the nozzle 30_1 corresponding to the small rooms Sa to Sc, respectively. The pressure adjusting tubes 39a to 39c are also filled with the coating liquid R. The volume of the pressure adjusting tubes 39a to 39c is preferably equal to or greater than the volume of the coating liquid R that can be applied to the substrate W at least once.

圧力調整管39a〜39cは、圧力調整部170a〜170cにそれぞれ接続される。圧力調整部170a〜170cは、たとえばシリンジタイプのポンプであり、外筒171a〜171cと、ピストン172a〜172cとを備える。   The pressure adjusting tubes 39a to 39c are connected to the pressure adjusting units 170a to 170c, respectively. The pressure adjusting units 170a to 170c are, for example, syringe type pumps, and include outer cylinders 171a to 171c and pistons 172a to 172c.

外筒171a〜171cは、図示しない塗布液供給源と接続されており、かかる塗布液供給源から供給される塗布液Rが内部に充填される。ピストン172a〜172cは、各外筒171a〜171cに対してそれぞれ内挿される。   The outer cylinders 171a to 171c are connected to a coating liquid supply source (not shown), and the coating liquid R supplied from the coating liquid supply source is filled therein. The pistons 172a to 172c are inserted into the outer cylinders 171a to 171c, respectively.

各圧力調整部170a〜170cはそれぞれ制御装置100に電気的に接続されており、制御装置100からの指令によりピストン172a〜172cを進退させる。これにより、外筒171a〜171c内の塗布液Rを圧力調整管39a〜39cを介して小部屋Sa〜Sc内に供給したり、あるいは、小部屋Sa〜Sc内の塗布液Rを圧力調整管39a〜39cを介して排出したりすることができる。   Each pressure adjusting unit 170 a to 170 c is electrically connected to the control device 100, and moves the pistons 172 a to 172 c forward and backward according to a command from the control device 100. Thereby, the coating liquid R in the outer cylinders 171a to 171c is supplied into the small chambers Sa to Sc via the pressure adjusting tubes 39a to 39c, or the coating liquid R in the small chambers Sa to Sc is supplied to the pressure adjusting tubes. It can discharge | emit via 39a-39c.

小部屋Sa〜Scに対して塗布液Rを供給することにより、小部屋Sa〜Sc内の圧力は上昇し、小部屋Sa〜Sc内から塗布液Rを排出することにより、小部屋Sa〜Sc内の圧力は低下する。これにより、塗布装置1は、小部屋Sa〜Sc内の圧力を調整することができる。   By supplying the coating liquid R to the small rooms Sa to Sc, the pressure in the small rooms Sa to Sc increases. By discharging the coating liquid R from the small rooms Sa to Sc, the small rooms Sa to Sc are discharged. The pressure inside falls. Thereby, the coating device 1 can adjust the pressure in the small chambers Sa to Sc.

このように、小部屋Sa〜Scに対して塗布液Rを給排することによって小部屋Sa〜Scの圧力を調整することとすれば、圧力変化に対する吐出量変化の応答性が高まるため、膜厚制御をより精密に行うことができる。   Thus, if the pressure of the small chambers Sa to Sc is adjusted by supplying and discharging the coating liquid R to and from the small chambers Sa to Sc, the responsiveness of the change in the discharge amount with respect to the pressure change is increased. Thickness control can be performed more precisely.

また、第2の実施形態では、貯留室S内が塗布液Rで満たされた状態となっているため、貯留室S内において塗布液Rの偏りが生じるおそれがない。したがって、塗布液充填処理中あるいは塗布液充填処理後において、貯留室S内に充填された塗布液Rの偏りがなくなるまで待機する必要がない。   In the second embodiment, since the storage chamber S is filled with the coating liquid R, there is no possibility that the coating liquid R is biased in the storage chamber S. Therefore, it is not necessary to wait until the unevenness of the coating liquid R filled in the storage chamber S disappears during or after the coating liquid filling process.

なお、上述してきた各実施形態では、基板を水平方向へ移動させることによって、基板の上面に塗布液を塗布する場合の例を示したが、これに限ったものではなく、ノズルを水平方向へ移動させることによって、基板の上面に塗布液Rを塗布することとしてもよい。   In each of the embodiments described above, an example in which the coating liquid is applied to the upper surface of the substrate by moving the substrate in the horizontal direction has been described. However, the present invention is not limited to this, and the nozzle is moved in the horizontal direction. It is good also as apply | coating the coating liquid R to the upper surface of a board | substrate by moving.

また、上述してきた各実施形態では、塗布装置が1つのノズルを備える場合の例を示したが(図1参照)、塗布装置は、ノズルおよび昇降機構を、基板の移動方向に沿って複数セット備えていてもよい。   Moreover, in each embodiment mentioned above, although the example in case a coating device was provided with one nozzle was shown (refer FIG. 1), a coating device sets multiple nozzles and raising / lowering mechanisms along the moving direction of a board | substrate. You may have.

さらなる効果や変形例は、当業者によって容易に導き出すことができる。このため、本発明のより広範な態様は、以上のように表しかつ記述した特定の詳細および代表的な実施形態に限定されるものではない。したがって、添付の特許請求の範囲およびその均等物によって定義される総括的な発明の概念の精神または範囲から逸脱することなく、様々な変更が可能である。   Further effects and modifications can be easily derived by those skilled in the art. Thus, the broader aspects of the present invention are not limited to the specific details and representative embodiments shown and described above. Accordingly, various modifications can be made without departing from the spirit or scope of the general inventive concept as defined by the appended claims and their equivalents.

W 基板
R 塗布液
S 貯留室
C 流路
D 吐出口
1 塗布装置
10 載置台
20 第1の移動機構
21 基板保持部
22 駆動部
30 ノズル
31 第1本体部
32 第2本体部
33 蓋部
34 ランド部
35 一時貯留部
38a,38B 仕切板
40 昇降機構
50a 厚み測定部
50b ノズル高さ測定部
60 ノズル洗浄部
80 ノズル待機部
90 第2の移動機構
100 制御装置
110a〜110c 圧力調整部
W substrate R coating liquid S storage chamber C flow path D discharge port 1 coating device 10 mounting table 20 first moving mechanism 21 substrate holding unit 22 drive unit 30 nozzle 31 first main body unit 32 second main body unit 33 lid unit 34 land Unit 35 Temporary storage unit 38a, 38B Partition plate 40 Elevating mechanism 50a Thickness measuring unit 50b Nozzle height measuring unit 60 Nozzle cleaning unit 80 Nozzle standby unit 90 Second moving mechanism 100 Controllers 110a to 110c Pressure adjusting unit

Claims (13)

塗布液が貯留される貯留室と、前記貯留室に連通するスリット状の流路とを備え、前記流路の先端に形成される吐出口から前記塗布液を吐出するノズルと、
前記ノズルと基板とを前記基板の表面に沿って相対的に移動させる移動機構と
を備え、
前記ノズルは、
前記貯留室の内部を前記流路の長手方向に沿って複数の小部屋に仕切る仕切板
をさらに備えることを特徴とする塗布装置。
A storage chamber in which the coating liquid is stored; and a slit-shaped flow path communicating with the storage chamber; a nozzle that discharges the coating liquid from a discharge port formed at a tip of the flow path;
A moving mechanism for relatively moving the nozzle and the substrate along the surface of the substrate,
The nozzle is
A coating apparatus, further comprising: a partition plate that partitions the interior of the storage chamber into a plurality of small chambers along a longitudinal direction of the flow path.
前記貯留室は、
前記複数の小部屋が、前記流路側において互いに連通すること
を特徴とする請求項1に記載の塗布装置。
The storage chamber is
The coating apparatus according to claim 1, wherein the plurality of small chambers communicate with each other on the channel side.
前記複数の小部屋の圧力をそれぞれ調整する複数の圧力調整部と、
前記複数の圧力調整部を制御して前記小部屋の圧力を個別に調整する圧力制御部と
を備えることを特徴とする請求項1または2に記載の塗布装置。
A plurality of pressure adjusting sections that respectively adjust the pressures of the plurality of small chambers;
The coating apparatus according to claim 1, further comprising: a pressure control unit that controls the plurality of pressure adjusting units to individually adjust the pressure in the small chamber.
前記圧力制御部は、
前記複数の小部屋の圧力を負圧にし、かつ、前記流路の長手方向中央部に位置する前記小部屋の圧力が、前記流路の長手方向両端部に位置する前記小部屋の圧力よりも低くなるように前記複数の圧力調整部を制御すること
を特徴とする請求項3に記載の塗布装置。
The pressure controller is
The pressure in the plurality of small chambers is set to a negative pressure, and the pressure in the small chamber located in the longitudinal center of the flow path is greater than the pressure in the small chambers located at both longitudinal ends of the flow path. The coating apparatus according to claim 3, wherein the plurality of pressure adjusting units are controlled to be low.
前記圧力調整部は、
前記小部屋に対して気体を給排することによって前記小部屋の圧力を調整すること
を特徴とする請求項3または4に記載の塗布装置。
The pressure adjusting unit is
The coating apparatus according to claim 3, wherein the pressure of the small chamber is adjusted by supplying and discharging gas to and from the small chamber.
前記圧力調整部は、
前記小部屋に対して前記塗布液を給排することによって前記小部屋の圧力を調整すること
を特徴とする請求項3または4に記載の塗布装置。
The pressure adjusting unit is
The coating apparatus according to claim 3 or 4, wherein the pressure of the small chamber is adjusted by supplying and discharging the coating liquid to and from the small chamber.
前記貯留室は、
前記複数の小部屋に対して前記塗布液を供給する液供給口
を備え、
前記液供給口は、
前記流路の長手方向に延在するスリット形状を有すること
を特徴とする請求項1〜6のいずれか一つに記載の塗布装置。
The storage chamber is
A liquid supply port for supplying the coating liquid to the plurality of small chambers;
The liquid supply port is
The coating apparatus according to claim 1, wherein the coating apparatus has a slit shape extending in a longitudinal direction of the flow path.
前記液供給口は、
前記複数の小部屋ごとに設けられること
を特徴とする請求項7に記載の塗布装置。
The liquid supply port is
The coating apparatus according to claim 7, wherein the coating apparatus is provided for each of the plurality of small rooms.
前記貯留室に貯留された塗布液の液面を検知する液面検知部
を備えることを特徴とする請求項1〜8のいずれか一つに記載の塗布装置。
The coating apparatus according to claim 1, further comprising a liquid level detection unit configured to detect a liquid level of the coating liquid stored in the storage chamber.
前記液面検知部による検知結果に基づいて前記液面が平坦化したか否かを判定し、平坦化したと判定した場合に、前記ノズルを用いた塗布処理を開始させる塗布処理制御部
を備えることを特徴とする請求項9に記載の塗布装置。
It is determined whether or not the liquid level has been flattened based on a detection result by the liquid level detection unit, and when it is determined that the liquid level has been flattened, a coating process control unit that starts a coating process using the nozzle is provided. The coating apparatus according to claim 9.
前記貯留室は、
一部が透明部材で形成され、
前記液面検知部は、
前記ノズルの外部から前記透明部材を介して前記液面を検知すること
を特徴とする請求項9または10に記載の塗布装置。
The storage chamber is
A part is formed of a transparent member,
The liquid level detection unit is
The coating apparatus according to claim 9 or 10, wherein the liquid level is detected from the outside of the nozzle through the transparent member.
光を反射または屈折させるプリズム
を備え、
前記液面検知部は、
前記液面に対して所定の角度で傾斜して配置されるとともに、前記液面と略平行な方向から見た該液面の像を前記プリズムを介して撮像すること
を特徴とする請求項11に記載の塗布装置。
A prism that reflects or refracts light,
The liquid level detection unit is
12. The liquid surface is disposed at a predetermined angle with respect to the liquid surface, and an image of the liquid surface viewed from a direction substantially parallel to the liquid surface is captured through the prism. The coating apparatus as described in.
塗布液が貯留される貯留室と、
前記貯留室に連通するスリット状の流路と、
前記流路の先端に形成される吐出口と、
前記貯留室の内部を前記流路の長手方向に沿って複数の小部屋に仕切る仕切板と
を備えることを特徴とするノズル。
A storage chamber for storing the coating liquid;
A slit-like flow path communicating with the storage chamber;
A discharge port formed at the tip of the flow path;
A nozzle comprising: a partition plate that partitions the interior of the storage chamber into a plurality of small chambers along a longitudinal direction of the flow path.
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