JP2013545979A - ウェブベース材料における不均一性の高速処理と検出 - Google Patents

ウェブベース材料における不均一性の高速処理と検出 Download PDF

Info

Publication number
JP2013545979A
JP2013545979A JP2013538770A JP2013538770A JP2013545979A JP 2013545979 A JP2013545979 A JP 2013545979A JP 2013538770 A JP2013538770 A JP 2013538770A JP 2013538770 A JP2013538770 A JP 2013538770A JP 2013545979 A JP2013545979 A JP 2013545979A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
feature set
inspection system
model
extracted
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013538770A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013545979A5 (ja
JP5912125B2 (ja
Inventor
ジェイ.リブニック エバン
ジー.ブリテイン ケニス
エー.ラムスン ジョン
エイチ.ジャスティス デレク
サピロ ギラーモ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
3M Innovative Properties Co
Original Assignee
3M Innovative Properties Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 3M Innovative Properties Co filed Critical 3M Innovative Properties Co
Publication of JP2013545979A publication Critical patent/JP2013545979A/ja
Publication of JP2013545979A5 publication Critical patent/JP2013545979A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5912125B2 publication Critical patent/JP5912125B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • G06T7/001Industrial image inspection using an image reference approach
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65HHANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
    • B65H43/00Use of control, checking, or safety devices, e.g. automatic devices comprising an element for sensing a variable
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N19/00Investigating materials by mechanical methods
    • G01N19/02Measuring coefficient of friction between materials
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N19/00Investigating materials by mechanical methods
    • G01N19/10Measuring moisture content, e.g. by measuring change in length of hygroscopic filament; Hygrometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N22/00Investigating or analysing materials by the use of microwaves or radio waves, i.e. electromagnetic waves with a wavelength of one millimetre or more
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N24/00Investigating or analyzing materials by the use of nuclear magnetic resonance, electron paramagnetic resonance or other spin effects
    • G01N24/08Investigating or analyzing materials by the use of nuclear magnetic resonance, electron paramagnetic resonance or other spin effects by using nuclear magnetic resonance
    • G01N24/082Measurement of solid, liquid or gas content
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N9/00Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity
    • G01N9/36Analysing materials by measuring the density or specific gravity, e.g. determining quantity of moisture
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10Image acquisition modality
    • G06T2207/10024Color image
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/20Special algorithmic details
    • G06T2207/20016Hierarchical, coarse-to-fine, multiscale or multiresolution image processing; Pyramid transform
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/20Special algorithmic details
    • G06T2207/20076Probabilistic image processing
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/20Special algorithmic details
    • G06T2207/20081Training; Learning
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • G06T2207/30124Fabrics; Textile; Paper

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Treatment Of Fiber Materials (AREA)

Abstract

不均一性欠陥の存在を検出し、各種の不均一性欠陥の深刻度を示す出力を提供するためのコンピュータ検査システムについて説明する。この検査システムのスループットを増加させる技法について説明する。ほぼ均一であると予測される所定量の材料の検査に必要な平均時間を大幅に削減するアルゴリズム及びハードウェアのアプローチについて説明する。本明細書において説明する技法は、基準特徴セットで開始し、特徴が、各種の不均一性欠陥の深刻度を計算するのに十分になるまで、必要に応じてのみ追加の特徴計算をトリガーすることによって計算する画像特徴の動的選択を含む。抽出される特徴の数及び特徴の抽出順はリアルタイムで動的に判定され、特徴抽出に伴うコストを削減する。

Description

(関連出願の相互参照)
本出願は、米国特許仮出願第61/413,250号(2010年11月12日出願)の利益を請求し、この開示内容全体は本明細書に参照により組み込まれる。
(発明の分野)
本発明は、移動するウェブを検査するためのコンピュータシステムなど、自動検査システムに関する。
移動ウェブ材料の解析に関するコンピュータ検査システムは、近代の製造作業に重要であることが判明している。生産ラインの目標は、完全に均一であり、ばらつきのない材料を製造することである。しかし、不均一性は、ウェブベース材料を製造する際に一般的な問題である。これは、様々なプロセス中の変動要因又は処方エラーが原因で生じ得る。したがって、光学検査センサー(例えば、カメラ)によって捕獲されたデジタル画像に基づいて、製造された製品の品質を自動的に分類できる撮像ベースの検査システムを導入することがますます一般的になっている。最も単純な場合において、一部の検査システムは、捕獲された各デジタル画像(すなわち、「サンプル」)に、サンプル又はその一部が許容可能か、許容不可能かを示す等級を割り当てようとするアルゴリズム(「分類子」と呼ばれることが多い)を適用する。
これらの検査システムは、各欠陥が製造された材料の単一領域に局在する「点」欠陥を識別しようとすることが多い。しかし、広い領域にわたってウェブ材料が不均一なばらつきを示す「不均一性」欠陥、つまり「不均一性」と呼ばれる他の種類の欠陥が存在し得る。このような不均一性の例としては、まだら、びびり、バンディング、及び縞が挙げられる。これらのような不均一性タイプの欠陥は、本質的に分散しており、局部的ではない。その結果、このような欠陥をコンピュータ検査システムで検出し、数値化することは、局部的な点欠陥よりも困難であり得る。
製造された材料の不均一性を検出しようとする場合、検査システムは、通常、サンプル画像の収集及び処理を行って、特定の不均一性を示す特徴を抽出する。検査システムは、これらの特徴に基づいて1つ以上の分類子を適用して、不均一性の深刻度を評価する。特徴抽出は、コンピュータ集約型であり、検査プロセスの制限要因であってよい。例えば、この工程では、フィルタリング処理、形態学的処理、時間的処理、スペクトラル処理、又は統計処理を含んでよいルーチンを通して、数百万画素を含む高解像度画像をおそらく50以下の然るべき数字(又は特徴)に減らす。次に、得られた数は、対象製品の品質評価の基準を形成する。数百万の画素値を数十の有益な数字にまとめるためには相当の時間を要し得るので、現代のコンピュータであっても高速の生産速度に対してリアルタイムでは実行できない。1つの可能な手段としては、より高額なコンピュータを更に多く購入することが考えられるが、検査システムのコストを法外に高額にし、データ分散及び結果集約という実施上の更なる問題をもたらす。
一般に、本開示は、不均一性欠陥の存在を検出し、各欠陥の深刻度を示す出力を提供するためのコンピュータ検査システムについて説明する。ウェブ形態で製造された材料で特定パターンを検出し、分類するように設計された検査システムのスループットを増加させる技法について説明する。ほぼ均一であると予測される所定量の材料の検査に必要な平均時間を大幅に削減するアルゴリズム及びハードウェアのアプローチについて説明する。したがって、これらの技法は、著しい生産性の向上をもたらし得る。本明細書に記載のアルゴリズム技法には、基準特徴セットで開始し、必要に応じてのみ追加の特徴計算をトリガーして、計算する画像特徴を動的(すなわち、オンライン)に判定することが含まれる。
一実施形態では、ウェブ材料の製造時にウェブ材料をリアルタイムで検査し、不均一性欠陥の深刻度を計算するためのオンラインコンピュータ検査システムについて説明する。この検査システムは、ウェブ材料のサンプル画像から抽出する特徴をリアルタイムで選択するための動的トリガーの連鎖を定義するモデルを記憶するメモリを含む。コンピュータは、ソフトウェアを実行して、現在製造中の製造されたウェブ材料から捕獲されたサンプル画像を処理して、第1の特徴セットを抽出する。ソフトウェアはモデルを適用して、抽出された特徴がウェブ材料の不均一性欠陥の深刻度を計算するのに十分になるまで、サンプル画像から抽出する追加の特徴セットの選択を動的にトリガーする。
別の実施形態では、ウェブ材料の製造時にウェブ材料をリアルタイムで検査し、不均一性欠陥の深刻度を計算するための方法について説明する。この方法は、製造中のウェブ材料から捕獲された画像をオンラインコンピュータ検査システムで受領する工程と、検査システムで画像を処理して、第1の特徴セットを抽出する工程と、検査システムで第1の特徴セットを処理して、ウェブ材料の不均一性欠陥の深刻度レベルを計算できるかどうかを判定する工程と、を含む。この方法は、第1の特徴セットから深刻度レベルを計算できないと判定する場合、モデルを適用して、画像から抽出する第2の特徴セットを動的に選択する工程と、検査システムで画像を処理して、第2の特徴セットを抽出する工程と、検査システムで第2の特徴セットを処理して、ウェブ材料の不均一性欠陥の深刻度レベルを計算できるかどうかを判定する工程と、を更に含む。この方法は、第1の特徴セット及び第2の特徴セットから深刻度レベルを計算できると判定する場合、検査システムでウェブ材料の不均一性欠陥の深刻度レベルを計算する工程を更に含む。
本明細書に記載の技法は、ウェブ上で製造される任意の材料を含む多数の生産ラインにおいて、適用性及び有用性を有する。この技法は、均一性が重視される様々な製品に対する幅広い適用性を有する。幾つかの例としては、光学フィルム、窓用フィルム、及び研磨材が挙げられる。
本発明の1つ以上の実施形態の詳細を添付図面及び以下の説明に示す。本発明の他の特徴、目的、及び利点は、説明及び図面、並びに特許請求の範囲から明らかとなるであろう。
本明細書に記載の技法を適用し得る、ウェブ製造及び加工システムの例を示すブロック図。 例示的なウェブ製造工場における、検査システムの例示的な実施形態を示す構成図。 本明細書に記載のシステムの操作例を示すフローチャート。 特徴抽出モジュールが、連続的で、より大きい特徴セットからの結果を使用してリアルタイムで「最適な特徴セット」を構築して、追加の特徴計算をトリガーする、動的システムアーキテクチャの例を示すフローチャート。 ROC空間における3段階シーケンスの性能を示す。 基準のランダム法と欲張り最適法との違いを示すヒストグラム。 シミュレーション研究に基づいた性能結果を示すプロット。 シミュレーション研究に基づいた性能結果を示すプロット。
図1は、本明細書に記載の技法を適用し得る、システム2の例を示すブロック図である。ウェブ製造工場6A〜6N(ウェブ製造工場6)は、ウェブロール7の形態でウェブ材料を製造及び発送する製造現場を意味する。ウェブ製造工場6は、地理的に分散していてもよく、ウェブ製造工場の各々は、1つ以上の製造プロセスラインを有してもよい。一般に、ウェブロール7は、製造工場6のいずれかで製造され、追加処理のためにウェブ製造工場間で発送されてよい。完成したウェブロール10は、製品12A〜12N(製品12)に加工するために加工現場8A〜8N(加工現場8)に発送される。図1に示すように、加工制御システム4、ウェブ製造工場6A〜6M(ウェブ製造工場6)、及び加工現場8A〜8N(加工現場8)は、ウェブ材料の製造及び製品12への加工に関する情報(例えば、欠陥情報)を交換するために、コンピュータネットワーク9で相互に接続されている。
一般に、ウェブロール7、10は、既製のウェブ材料を含んでもよく、そのウェブ材料は、ある方向には一定の寸法を、またその直交方向には所定の又は不定の長さを有する任意のシート状材料であってよい。ウェブ材料の例には、金属、紙、織布、不織布、ガラス、ポリマーフィルム、フレキシブル回路又はこれらの組み合わせが含まれるが、これらに限られない。金属には、鋼又はアルミニウムなどの材料を挙げることができる。織布には一般的に様々な織物が挙げられる。不織布には、紙、濾材又は絶縁材料などが挙げられる。フィルムには、例えば積層体及びコーティングされたフィルムを含む無色(clear)かつ不透明なポリマーフィルムが挙げられる。
加工現場8は、ウェブ製造工場6からウェブロール10を受領し、顧客14A〜14N(顧客14)に販売する製品12に組み込むために、完成したウェブロール10を個々のシートに加工してよい。加工システムは、製品に関連付けられた等級レベルなど様々な基準に基づいて、所定の完成したウェブロール10をどの製品14に加工するかを判定してよい。つまり、どのシートが製品12のうちのどれに組み込まれるべきかという選択プロセスは、特定の等級レベルを各シートが満たしているかに基づき得る。本願に記載する技法に従えば、加工現場8はまた、完成したウェブロール10の異常、すなわち潜在的な欠陥に関するデータを受領してもよい。最終的に、加工現場8は、完成したウェブロール10を個々のシートに変換してもよく、それらのシートは、消費者14A〜14N(消費者14)への販売のために、製品12に組み込まれてもよい。
製品12に組み込むための個々のシートに加工する準備のできた完成したウェブロール10を生産するために、未完成のウェブロール7は、1つのウェブ製造工場、例えばウェブ製造工場6Aにて、あるいは複数の製造工場にて、多数のプロセスラインによるプロセスを受けることが必要となり得る。各プロセスに関して、ウェブロールは典型的に、ウェブがそこから製造プロセスの中へ送られるソースロールとして使用される。各プロセスの後、ウェブは通常ウェブロール7に再度収集されて、別の製品ラインに移動されるか又は別の製造工場に出荷され、次にそこで広げられ、処理され、かつ再度ロールに収集される。最終的に完成したウェブロール10が製造されるまでこのプロセスが繰り返される。多数の応用例で、各ウェブロール7のウェブ材料は、1つ以上のウェブ製造工場6の1つ以上の生産ラインで多数のコーティングを施されることがある。このコーティングは一般に、最初の製造プロセスの場合にはベースウェブ材料の露出表面に、後の製造プロセスの場合には既に施されたコーティングの露出表面に施される。コーティングの例には、接着剤、ハードコート、低接着性裏面コーティング、金属化コーティング、中性密度コーティング、電気的に導電性若しくは非導電性コーティング、又はこれらの組み合わせが挙げられる。
ウェブロール7の所与の1つの各製造プロセスの間、1つ以上の検査システムがウェブの異常情報を獲得する。例えば、図2に示されているように、生産ラインのための検査システムは、ウェブが処理されるとき、例えば、1つ以上のコーティングがウェブに塗布されるとき、連続して移動するウェブに近接して配置される1つ以上の画像取得装置を含んでもよい。画像取得装置は、連続して移動するウェブの連続的な部分を走査してデジタル画像を取得する。検査システムは、1つ以上のアルゴリズムを使用して画像を解析し、ウェブが加工される最終製品12に応じて、実際の「欠陥」を示し得るいわゆる「局部的」異常情報をもたらす。検査システムは、例えば、各欠陥が単一領域に局在する「点」欠陥に関する異常情報をもたらしてよい。別の例としては、検査システムは、ウェブ材料が点欠陥の領域よりも大きい領域に広がる不均一なばらつきを示す「不均一」欠陥、つまり「不均一性」に関する異常情報をもたらしてよい。このような不均一性の例としては、まだら、びびり、バンディング、及び縞が挙げられる。
ウェブ製造工場6内の検査システムは、ウェブ製造時にリアルタイムで不均一性欠陥の存在を検出し、各欠陥の深刻度を示す出力を提供するためのアルゴリズムを適用してよい。例えば、コンピュータ検査システムは、不均一性の存在及びそれらの深刻度に関してウェブ製造工場6内のプロセスエンジニアなどユーザーにリアルタイムのフィードバックを提供してよい。これによりユーザーは、プロセス条件を調整して、生産を大幅に遅延させたり、大量の使用不能材料を製造したりせずに問題を修正することにより、不均一性の出現に迅速に対応できる。コンピュータ検査システムは、最終的に不均一性(例えば、「良」又は「不良」)の等級ラベルを割り当てるか、連続的尺度又はより正確な標本尺度(0〜10の尺度で1.63など)に基づいて所定サンプルの不均一性深刻度の測定値を算出することにより深刻度レベルを計算するアルゴリズムを適用してよい。
このプロセス中、検査システムは、本明細書に記載の技法を適用して、計算する画像特徴を動的に(すなわち、ウェブ材料の製造中にリアルタイムで)判定してよい。一実施例では、検査システムは、基準特徴セットの抽出から開始し、必要に応じてのみ追加の特徴計算をトリガーする。これらの技法は、取得された各サンプル画像について、連続的で、より大きい特徴セットの結果を使用してリアルタイムで「最適な特徴セット」を構築して、追加の特徴計算をトリガーする。検査システムは、基準特徴セットから開始し、続いて基準特徴セットの値に基づいて、計算する追加の特徴(存在する場合)を決定する。同様に、これらの追加の特徴セットは解析され、必要な追加の特徴が判定される。特徴抽出プロセスの各工程における決定は、本明細書において潜在的トリガーイベントと称される。一実施形態では、検査システムは、制御されたマルコフ連鎖モデル下での分類精度の期待利得を最適化するために、各潜在的トリガーイベントにおいて追加の特徴計算をトリガーするかどうかを決定する。
幾つかの実施形態では、検査システムの解析用コンピュータは、トレーニングデータに基づいて開発された連続等級付けモデルを適用して、捕獲されたデジタル画像を処理する。トレーニングデータは、通常、アルゴリズムの「トレーニングフェーズ」中に処理され、連続等級付けモデルは、トレーニングデータにとって最適になるように開発される。つまり、トレーニングフェーズ及び連続等級付けモデルの開発後にトレーニングデータを連続等級付けモデルに適用すると、トレーニングデータが高精度で分類される。トレーニングデータからモデルが開発されると、解析用コンピュータは、潜在的にはリアルタイムで、処理の「分類フェーズ」中に新たに製造された製品から取得されたサンプルにモデルを適用し、「許容可能」若しくは「許容不能」、又は「1」、「3」、若しくは「5」など不連続の等級付けラベルに限定されない、不均一性深刻度の連続図を提供する。コンピュータ検査システムは、サンプルの連続等級付けを提供してよい。例えば、コンピュータ検査システムはアルゴリズムを適用して、0〜10の尺度で1.63など連続的尺度でウェブ材料内の不均一性欠陥の深刻度測定値をもたらしてよい。更に、サンプルの連続等級付けを達成するために用いられる連続等級付けモデルは、不均一性の深刻度が粗雑に離散化された尺度でのみ判明しているトレーニング画像セットから開発されてよい。
幾つかの実施形態では、所定の製造されたウェブのデジタル画像の追加解析は、加工制御システム4によってオフラインで実行されてよい。加工制御システム4は、所定のウェブの分類に基づいて、各ウェブロール10の加工計画を選択し、生成してよい。デジタル画像の解析及び深刻度レベルの測定は、特定の不均一性はある製品(例えば、製品12A)に欠陥をもたらし得るが、この異常性は、別の製品(例えば、製品12B)では欠陥の原因になり得ないという点で用途に特有である。各加工計画は、最終的に消費者14に販売され得る製品12を作製するために、対応する完成したウェブロール10を加工処理する規定の指示を表すものである。例えば、ウェブロール10は、最終製品、例えば、ノートブックコンピュータのディスプレイに適用するための特定寸法のシートに加工され得る。別の例として、この同じウェブロール10は、携帯電話のディスプレイに適用するための最終製品に加工されてもよい。加工制御システム4は、異常に適用され得る異なる欠陥検出アルゴリズムに照らして、どの製品がウェブの最大利用率といった特定のパラメーターを最良に達成するかを識別することができる。
図2は、図1の例示的なウェブ製造工場6A内にある、ウェブプロセスライン21の一部に配置された検査システムの例示的な実施形態を示すブロック図である。この例示的な実施形態において、ウェブ20の一区間が、2つの支持ロール22、24の間に配置されている。画像取得装置26A〜26N(画像取得装置26)は、連続して移動するウェブ20にごく近接して配置され、連続して移動するウェブ20の連続的な部分を走査して画像データを取得する。取得コンピュータ27が画像取得装置26から画像データを収集し、その画像データを解析用コンピュータ28に送信する。
画像取得装置26は、移動ウェブ20の連続的な部分を読取ることができ、並びにデジタルデータストリームの形態で出力を提供することができる従来の画像デバイスであってもよい。図2に示されているように、撮像装置26は、デジタルデータストリームを直接提供するカメラ又は追加のアナログ−デジタルコンバータを有するアナログカメラであってもよい。例えばレーザースキャナなどの他のセンサが、画像収集装置として利用されてもよい。ウェブの連続的な部分は、データが単一のラインの連続によって得られているということを示す。単一のラインは、センサ要素又はピクセルの一列に位置する、連続して移動するウェブの領域を含む。画像を収集するのに好適な装置の例には、ダルサ社(Dalsa)(カナダ国オンタリオ州ワーテルロー(Waterlo))のPiranha Models、又はアトメル社(Atmel)(カリフォルニア州サンホセ(San Jose))のModel Aviiva SC2 CLなどのラインスキャンカメラが挙げられる。更なる例には、サーフェイス・インスペクション・システムズ社(Surface検査システムGmbH)(ドイツ、ミュンヘン(Munich))からの、アナログ−デジタルコンバータと連結したレーザースキャナが挙げられる。
画像データは、画像の取得を支援する光学アセンブリの利用を通じて、任意に取得することができる。この組立体はカメラの一部であってもよく、又はカメラから分離されているいずれか一方でもよい。光学的組立体は、撮像プロセス中に反射光、透過光又は反射透過光(transflected light)を利用する。反射光は、例えば、表面のスクラッチなどウェブ表面の変形によって生じた欠陥の検出に、しばしば好適である。
いくつかの実施形態において、認識マーク制御器30が認識マークリーダ29を制御して、ロール及び位置の情報をウェブ20から集める。例えば、基準マーク制御器30は、バーコード又は他のしるしをウェブ20から読み取るための1つ以上の写真光学センサを有していてもよい。加えて、認識マーク制御器30は、ウェブ20及び/又はローラ22、24と係合した1つ以上の高精度エンコーダから位置信号を受信してもよい。この位置信号に基づいて、認識マーク制御器30は、検出された各認識マークに対する位置情報を判定する。基準マーク制御器30は、検出された異常と関連付けるために、解析用コンピュータ28にロール及び位置情報を伝える。
解析用コンピュータ28は、取得用コンピュータ27からの画像データストリームを処理する。特徴抽出モジュール43は、本明細書に記載の技法に従って解析用コンピュータ28上で実行し、ウェブ材料20の製造中にリアルタイムで画像1枚単位で計算する画像の特徴を動的に判定する。つまり、製造中に取得された各画像に対して、特徴抽出モジュール43は、連続的で、より大きい特徴セットの結果を使用してリアルタイムで「最適な特徴セット」を構築して、各種の潜在的な不均一性について深刻度レベルを計算できるようになるまで追加の特徴計算をトリガーする。一実施形態では、コンピュータ化された不均一性作図モジュール39(「作図モジュール39」)が、トレーニングデータ35に基づいて開発された連続等級付けモデル34(「モデル34」)を使用するアルゴリズムを適用して抽出された特徴を処理して、不均一性欠陥の存在を検出し、各欠陥の深刻度レベルの連続図を提供する。作図モジュール39の詳細については、米国特許仮出願第61/394,655号(Ribnickら)、表題「CONTINUOUS CHARTING OF NON−UNIFORMITY SEVERITY FOR DETECTING VARIABILITY IN WEB−BASED MATERIALS」を参照されたい。
トレーニングデータ35は、通常、1人以上のエキスパート38によって等級が割り当てられた、大量の代表的なサンプルデジタル画像のセットで構成される。既に自動的に等級付けされたデータもトレーニングに使用できる。デジタル画像は、例えば、ウェブ20、又はウェブプロセスライン21で事前に製造された別のウェブから取得されたサンプルを表してよい。トレーニングサーバー36は、エキスパート38がサンプルを表す大量のデジタル画像に効率的かつ一貫して等級(すなわち、ラベル)を割り当てるのを支援する、コンピュータ化されたエキスパート等級付けツール37(「等級付けツール37」)を提供するソフトウェアを実行するための動作環境を提供してよい。エキスパート等級付けツール37の例の詳細については、米国特許仮出願第61/394,428号(Ribnickら)、表題「COMPUTER−AIDED ASSIGNMENT OF RATINGS TO DIGITAL SAMPLES OF A MANUFACTURED WEB PRODUCT」を参照されたい。
トレーニングデータ35が確立されると、トレーニングモジュール41はトレーニングデータを処理して、作図モジュール39がウェブ材料20の取得用コンピュータ27から受領した画像データのリアルタイム解析に引き続き使用するための連続等級付けモデル34を生成する。このようにして、ウェブ材料20の領域の新しい画像は、連続等級付けモデル34に従って分類できる。検出され得る欠陥の例としては、まだら、びびり、バンディング、及び縞などの不均一性、並びに斑点、かき傷、及び油たれなど点欠陥が挙げられる。
解析用コンピュータ28は、ウェブ20の情報を識別するロール及び場合によっては各異常の位置情報を含めて、ウェブ20の異常情報をデータベース32に記憶してよい。例えば、解析用コンピュータ28は、基準マーク制御器30によってもたらされる位置情報を使用して、プロセスラインの座標系内の各異常の空間位置又は画像領域を判定する。すなわち、基準マーク制御器30からの位置データに基づき、解析用コンピュータ28は、現在のプロセスラインによって使用されている座標系内の各異常に関するx、y及び、場合によってはz位置、又は範囲を判定する。例えば、座標系は、x次元が、ウェブ20を横断する距離を表し、y次元がウェブの長さに沿った距離を示し、z次元がウェブの高さを表すように定義されてもよく、これはコーティング、材料又はウェブに既に適用された他の層の数に基づいてもよい。更に、x、y、z座標系の原点は、プロセスライン内のある物理的な箇所で規定されてもよく、典型的には、ウェブ20の初期供給点の配置に関連付けられる。データベース32は、1つ以上のデータベースサーバーを実行するデータストレージファイル又は1つ以上のデータベース管理システム(DBMS)を含む、様々な形態の任意の数で実行されてもよい。データベース管理システムは、例えば、リレーショナル(RDBMS)、階層的(HDBMS)、多次元(MDBMS)、オブジェクト指向(ODBMS若しくはOODBMS)又はオブジェクトリレーショナル(ORDBMS)データベース管理システムであってもよい。一例として、データベース32は、SQLサーバー(SQL Server)(商標)によってマイクロソフト社(Microsoft Corporation)から提供されているリレーショナルデータベースとして実行される。
処理が終了すると、解析用コンピュータ28は、データベース32に収集されたデータを、ネットワーク9を介して加工制御システム4に送信してよい。例えば、解析用コンピュータ28は、連続等級付けモデル34に従った、後続のオフラインでの詳細解析のために、ロール情報、並びに異常情報及び各異常に対応する副画像を加工制御システム4に伝えてよい。例えば、この情報は、データベース32と加工管理システム4との間のデータベース同期によって通信されてもよい。いくつかの実施形態において、製品12のうちの、各異常によって欠陥が発生し得る製品を、解析用コンピュータ28ではなく加工管理システム4が判定してもよい。完成したウェブロール10についてのデータがデータベース32に収集されると、そのデータは、加工現場8に伝えられる、及び/又は除去可能、つまり水性のマークで直接ウェブの表面上にて、若しくはウェブ上の異常をマークする前若しくはその間にウェブに貼り付けられ得るカバーシート上にて、ウェブロール上の異常をマークするために使用されることができる。
解析用コンピュータ28及びトレーニングサーバー36の構成要素は、少なくとも一部分において、1つ以上のハードウェアマイクロプロセッサ、デジタルシグナルプロセッサ(DSP)、特定用途向け集積回路(ASIC)、フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)、又は任意の他のこれらに準ずる集積若しくは個別論理回路、並びにかかる構成要素の任意の組み合わせを含む、解析用コンピュータ28の1つ以上のプロセッサによって実行されるソフトウェア命令として実装されてよい。このソフトウェア命令は、ランダムアクセスメモリ(RAM)、読み出し専用メモリ(ROM)、プログラマブル読み出し専用メモリ(PROM)、消去可能プログラマブル読み出しメモリ(EPROM)、電気的消去可能プログラマブル読み出しメモリ(EEPROM)、フラッシュメモリ、ハードディスク、CD−ROM、フロッピーディスク、カセット、磁気媒体、光媒体、又は他のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体など、コンピュータ読み取り可能な非一時的媒体に記憶されてよい。製造工場6A内への配置を例として示されているが、解析用コンピュータ28並びにトレーニングサーバー36は、製造工場外、例えば、中央位置又は加工現場に配置されてよい。例えば、解析用コンピュータ28及びトレーニングサーバー36は、加工制御システム4内で動作してよい。別の例では、上述の構成要素は、単一の計算プラットフォームで実行し、同一のソフトウェアシステムに統合されてよい。
図3は、図2の検査システムの概要を提供するフローチャートである。この例では、プロセスは、2つの一般的な処理フェーズ(トレーニングフェーズ45及びオンライン予測フェーズ47)を含む。例示のために、検査システムは、連続的尺度、又は0〜10の尺度で1.63などのより精度の高い標本尺度に基づいた所定のサンプルの不均一性深刻度の測定値の算出に関して説明される。これらの技法は、上記に限定されることなく、ウェブ材料内の不均一性欠陥の分類又は等級付けの他の形態に適用されてよい。
初めに、トレーニングモジュール41は、通常、画像セットの形態であり、場合によっては粗雑に離散化された尺度に基づいて深刻度の等級付けが既に判明している、トレーニングデータ35を入力として受領する(50)。つまり、トレーニングデータ35はウェブ20から取得されたサンプルを表すデジタル画像であってよく、コンピュータ化されたエキスパート等級付けツール37(「等級付けツール37」)は、米国特許仮出願第61/394,428号に記載の方法で個別の等級53を各デジタル画像に割り当ててよい。
次に、トレーニングモジュール41の特徴抽出ソフトウェアモジュールが各画像を処理して、特徴を抽出する(52)。特徴抽出は、各画像に固有の関連情報のコンパクトな数値表現として、各画像の数値記述子を提供する。トレーニングフェーズ中の特徴抽出はオフラインで実施されるため、特徴抽出ソフトウェアモジュールは、各トレーニング画像について特徴抽出計算一式を実行し得る。特徴は、トレーニングセット内の画像間の関係に関する有用な情報を保存しつつ、同時に無用な画像特徴を除外する任意の方法で抽出され得る。一般的な特徴抽出技法の例としては、フィルターセットを使用して画像を畳み込み積分し、フィルタリングした画像の統計値を計算する方法、又は色若しくは輝度ヒストグラムに基づいて特徴を抽出する方法が挙げられる。場合によっては、画素値を特徴として用いることができる。ただし、この場合、典型的には画像全体を記憶する必要があるため、記述子はコンパクトではない。一般に、得られた特徴は、対応する画像内の関連情報のコンパクト記述子として処理される。
本明細書に記載の技法は、任意の特定の特徴抽出法と共に用いることに限定されるものではなく、他の種類の特徴がより適切である用途に容易に適用されてよい。一般に、画像から抽出された特徴は、特定の種類の不均一性について画像に関する識別情報を含むという点において記述的である。したがって、特徴が抽出されると、各画像に対応する特徴ベクトルがこの画像に含まれる関連情報の大部分を示す。
1つの例示の特徴抽出アルゴリズムは、特に外見に関連するために、画像全域で画素特徴の小規模な共分散行列を計算することである。一旦この小規模な共分散行列(例えば、5×5)が抽出されると、画像を直接処理するのではなく、これらの行列のみに基づいて、画像間の一対比較を効率的に実行できる。例えば、グレースケール画像は、画素座標x及びyによってI(x,y)として指標化された2次元配列として定義される。各画素位置(x,y)、つまり特徴ベクトルは、画素の輝度値並びにその画素における一次導関数及び二次導関数に基づいて以下のように抽出される。
Figure 2013545979
画像導関数(勾配)は、各画素における輝度値間の前進差分又は中心差分を計算するだけで概算できる。より高次の導関数又はフィルタリングされた画像の結果を含む他の特徴は、(式1)のベクトルに組み込むことができる。同様に、全ての導関数を含める必要はない。例えば、所定の方向の導関数が特定の欠陥の情報を提供しない場合、(式1)から削除できる。最終的に、これらの画素特徴の共分散行列が画像全域で以下のように計算される。
Figure 2013545979
式中、Nは画像内の画素数であり、
Figure 2013545979
画素特徴の平均値である。これは、後続の処理工程で画像間の一対距離を計算する際に有用であり得る。これらの共分散行列記述子の場合、一対距離は以下のように計算される。
Figure 2013545979
式中、λ(CI1;CI2)は、2つの共分散行列のi番目の一般化固有値である。詳細については、O.Tuzel,F.Porikli,and P.Meer.「Region Covariance:A Fast Descriptor for Detection and Classification」,Proceedings of the European Conference on Computer Vision,2006を参照されたい。
各トレーニング画像の特徴抽出後、トレーニングモジュール41は特徴ベクトルを処理してトレーニング画像の連続等級付けを学習し、これらの不均一性の深刻度に基づいて連続等級付けモデル34を生み出す(54)。トレーニングフェーズ45の間、トレーニングモジュール41は、これらの不均一性の深刻度に基づいてトレーニング画像の連続等級付けを学習する。各レーニング画像について当初判明していることは、対応するサンプルが、特定の種類の不均一性に対して「良」若しくは「不良」、又は「1」、「3」、若しくは「5」であるかどうかを示す、エキスパート等級付けが全てである。これらのエキスパート等級付けは、トレーニング画像のしばしば大まかな順位付けを提供する。すなわち、トレーニング画像は、2若しくは3の別個の区分、又は操作者がかかる情報を提供できる場合はより多くの区分に等級付けされ得る。トレーニングモデル41は、この大まかな順位付けを入力として使用し、特定の不均一性に関する連続的尺度に沿ってトレーニング画像が最良から最悪までにランク付けされる連続等級付けを学習する。例えば、「良」の画像には「不良」と分類された画像よりも低い深刻度のランク付けを割り当てるなど、良いランク付けは、可能な限りエキスパート等級付けに留意するべきであるが、場合によっては、トレーニングモジュール41は、別個のラベルによって示唆された大まかなランク付けに反することを完全に防ぐことはできない。これは、トレーニングデータの手動分類が主観的であるために、エキスパート等級付けに誤りが含まれることがあり得るし、実際によく誤りが含まれているからである。
オンライン予測フェーズ47の間、作図モジュール39は、学習した連続等級付けモデル34を生産ラインでリアルタイムに適用する。製造中のウェブのサンプル画像が捕獲されると(56)、特徴抽出モジュール43は、画像から特徴を抽出する(58)。以下で詳述するように、特徴抽出モジュール43は、ウェブ材料20の製造中にどの画像の特徴をリアルタイムで画像1枚単位で計算するかを動的に判定する。製造中に取得された各サンプル画像について、特徴抽出モジュール43は、連続的で、より大きい特徴セットの結果を使用してリアルタイムで「最適な特徴セット」を構築して、追加の特徴計算をトリガーする。特徴抽出モジュール43は、サンプル画像から抽出する特徴をリアルタイムで選択するための動的トリガー連鎖を定義する、モデル(例えば、マルコフモデル)を記憶してよい。特徴抽出モジュール43はモデルを適用して、抽出された特徴がウェブ材料の不均一性欠陥の深刻度レベルを計算するのに十分になるまで追加の特徴セットの選択を繰り返し動的にトリガーして、サンプル画像から抽出する(59、60)。したがって、任意の所定のサンプル画像について抽出される特徴の数及び特徴の抽出順は、特徴抽出モジュール43によってリアルタイムで動的に判定される。コンピュータ検査システムは、「良」若しくは「不良」などの深刻度等級付けラベルを割り当てるか、1〜10の尺度で「1.63」などの深刻度値を生成することにより深刻度レベルを計算してよい。続いて、不均一性欠陥の計算された深刻度は、ユーザーに対する出力となってよい。例えば、抽出された特徴が、連続等級付けモデル34に基づいて割り当てられる深刻度等級にとって十分になると、深刻度等級はユーザーに対する出力となり得る。
図4は、特徴抽出モジュール43が、連続的で、より大きい特徴セットからの結果を使用してリアルタイムで「最適な特徴セット」を構築して、追加の特徴計算をトリガーする、動的システムアーキテクチャの例を示すフローチャートである。ウェブ材料の新しい画像の捕獲後、解析用コンピュータ28は、エッヂトリミング、平坦化など多少の前処理を実行し、記録又は出力ディスプレイに表示するためにある特定の統計値を計算してよい。
次に、特徴抽出モジュール43は第1のトリガーポイント60に達し、フロー中のこの時点までの新しい画像について計算される特徴を解析することによって、追加処理をトリガーするかどうかが決定される。例えば、特徴抽出モジュール43は、他の特徴抽出計算と比較して、操作者がより単純かつ高速処理と識別している基準特徴セットを適用してよい。トリガーポイント60において、特徴抽出モジュール43は、いわゆるブロブレシピを用いてある形態素(ブロブ)解析を適用して、基準特徴セットを用いて点欠陥を検出する。同時に、特徴抽出モジュール43は、基準特徴セットが、新しい画像内の不均一性のばらつきを信頼度内で評価するのに十分な証拠を提供するかどうかを判定する。例えば、現在の画像の分類を支援するためにより多くの特徴をトリガーするかどうかという判断は、単純な経験則に従って判定され得る。例えば、動的に判定された次善の特徴セットの追加による不均一性欠陥に関する画像の誤分類コストの削減予想額がある閾値を上回る場合には、特徴抽出モジュールは追加の特徴抽出をトリガーするように単純な決定規則を設定してよい。コストの削減予想額、すなわち、要求される信頼度は、以下で詳述する学習されたマルコフモデルを用いて判定できる。そうではない場合、特徴抽出モジュール43はトリガーポイント62に進み、引き続きより複雑な処理をトリガーする。つまり、第2のトリガーポイント62において、特徴抽出モジュール43は、追加の特徴を抽出するために、第2の特徴抽出セットの計算、例えば画像の平坦化/周辺化(marginalization)を実行する。この第2の特徴抽出セットの計算は、最初に実行された基準特徴セットよりも複雑で、コンピュータ集約型であり得る。特徴抽出モジュール43は、分類子とも呼ばれる画像レシピ(入力が、フロー中のこの時点までの新しい画像について抽出された特徴の一部又は全てである数学モデル)を用いて不均一性の程度及び種類を再度識別しようとする。
この処理はトリガーポイント60Mの連鎖として繰り返され、各トリガーポイントにおいて、いずれかの種類の不均一性が画像内に存在する程度を判定するために、より複雑な追加画像処理計算が必要かどうかが判定される。各トリガーポイントにおけるこの判定は、フロー中のこの時点までの新しい画像について計算された特徴に基づいて行われる。
場合によっては、ウェブ材料からリアルタイムで捕獲されたサンプル画像は、複数のパターンを含んでいてよい。特徴抽出モジュール43は、図4に示すプロセスセットに従って、任意の不均一性の最も正確な分類を実現する可能性の高い特徴がトリガーされるように動作する。このプロセスは、コンピュータ検査システムによって撮像された個別のサンプルそれぞれに対して実行されてよい。あるいは、特徴抽出モジュール43は、Xサンプル(Xは設定可能なパラメーター)ごとにプロセス構成要素のトリガー又は取り消しの必要性が確認される、ポーリング法の下で動作してよい。
一例において、特徴抽出モジュール43は、動的トリガーに関する制御されたマルコフモデルに従って動作するように設定される。この実施形態では、特徴抽出モジュール43は、将来のトリガーイベントに関連する任意のトリガー工程tにおいて十分な情報の要約として機能する状態ベクトルx(t)を定義する設定データを含む。完全を期すために、トリガーは、単一の画像サンプルを解析するプロセスの任意の時点で起こり、特徴抽出モジュール43が計算する追加の特徴を選択する機会を有する。
一例において、状態ベクトルは、一群の分類子{Φ(t)}i=1 を使用して定義され、式中、トリガー工程tにおいて、Φ(t)は、工程tにおいてトリガーされる特徴及び前の工程{Φ(t−1)}i=1 における分類子のみに依存する。ROC最適分類子強調アルゴリズムを用いてかかる一連の分類子群を構成できる方法の例は、国際公開第2010/059679号に記載されている。この例では、バイナリ分類子は、分類されたトレーニングデータから学習される決定規則(すなわち、複数であり得る変数に基づいた閾値)セットで構成される。しかし、一般に、任意の別個の分類子アルゴリズムを用いることができた。他の例としては、サポートベクターマシン(SVM)、ロジスティック回帰、又は決定木が挙げられる。
特徴抽出モジュール43の状態ベクトルの定義に関連して、工程tにおける状態ベクトルのi番目の要素は、Φ(t)によって割り当てられる分類子として見なされる(すなわち、x(t)=Φ(t))。一例は、x(t)∈{0,1}となるバイナリ分類子であるが、本明細書に記載の方法は、多項式の場合にも拡張できる。
特徴抽出モジュール43の設定データは、所定のトリガーイベントにおける処置を決定する制御変数、すなわち、次に計算されるように指定される、1つ以上の既に計算されていない特徴の更なるセットが含まれる。考察を単純にするために、単一の特徴fが各トリガーイベントで選択されるべきであるとする。しかし、アルゴリズムは、fが、それどころか複数の特徴を表すと見なされる場合と同様である。分類子は、現在のサンプル画像に基づいた判断によって状態ベクトルを判定し、f及び前の工程における一群の分類子にのみ依存するため、特徴抽出モジュール43は、最適に選択されるべき制御値fによってパラメーター化された条件付き分布P(x(t+1)│x(t))を用いて、現在の状態ベクトルに基づいた将来の状態ベクトルの予測を計算する。つまり、Pは、マルコフ連鎖の遷移関数と呼ばれる。特徴抽出モジュール43は、制御戦略を実施するために遷移関数を予測する。サンプル画像のトレーニングセット及び関連付けられた一連の分類子群を所与とすると、特徴抽出モジュール43は、単純なヒストグラム予測
Figure 2013545979
(式中、特徴fが選択される場合、
Figure 2013545979
はトレーニングサンプルの数であり、工程tにおける状態がx(t)であり、工程t+1における状態がx(t+1)である)を用いるように設定されてよい。ノイズの多い
Figure 2013545979
及び空間のスパースサンプリングなど高次元に付随する問題を回避するために、Nを小さくするように選択してよい。あるいは、特徴抽出モジュール43は、
Figure 2013545979
のパラメーター化又はカーネル平滑化を使用するように設定されてよい。
これらの構成要素を整えた状態で、特徴抽出モジュール43は、期待損失を最小化するfを選択する遷移関数推定値を使用して、任意のトリガーイベントにおいて動的にfを選択する。例えば、値ca│bが、aをbとして誤分類するコストとして割り当てられると仮定すると(a,b∈{0,1})、x(t)=1である場合、分類子iを用いることの期待損失は、これが誤りである(すなわち、正確な分類は0である)という仮定の下で決定される。この結果、期待損失はc1│0(0)FA となる。式中、p(0)は任意の所定のサンプルが本当に0である事前確率であり、FA は、分類子i(現在の制御値fによって明示的に指標化されて依存関係が強調される)の誤警告率(p(0│1))である。同様に、x(t)=0の場合、分類子iを用いることの期待損失は、c0│1(1)(1−CD )であり、式中、CD は分類子iの正検出率p(1│1)である。損失関数は、以下のように表現できる。
Figure 2013545979
一例として、特徴抽出モジュール43は、全トリガーイベントに対する総予測コストΣ(x,f)を最小化する制御戦略を使用する。状態のサイズ及び制御空間が大きすぎない場合、この問題は、まさに動的プログラミングによって解決できる。あるいは、f =min(x,f)を選択し、各工程で欲張り経験則を適用して妥当な準最適解決法を見付けてよい。一実施形態では、全トリガーイベントの考えられる軌道がオフラインで計算され、特徴抽出モジュール43が参照テーブルをオンラインで使用するようにプログラミングされる。このような方法では、現在のサンプルの最も顕著な特徴をトリガーするための制御されたマルコフ連鎖モデルを使用して、各サンプル画像に対して計算される特徴の数を低減させることが可能である。したがって、任意のトリガーイベントに応えて選択される特徴は、現在抽出されている特徴及び計算された遷移関数に基づいて動的に判定され得る。
上述の技法は、例えば、単項分類子の損失関数の単純合計を用いて、多項分類子のケースに容易に拡張できる。また、ca│bは、異なる欠陥区分に対して異なる基準で測定して相対的重要性を取り込んだり、特徴依存の計算時間に応じて追加因子を含めることができる。更に、上述の技法は、例示のコスト関数に関して説明してきた。他の可能性も存在する。例えば、クラスエントロピーの事後分布にペナルティーを課すコスト関数を検討してもよい。
プロセス開発ラインから収集したフィルム画像を用いて、シミュレーション研究を実施した。サンプルセット一式には、様々な不均一性を示した8767枚の画像が含まれる。不均一性は、大きく7つの区分に分類できる。びびり区分及び(大)まだら区分に加えて、小まだら、棒跡/バンディング、染み/水跡、縞、及び対角変形欠陥がある。一連の分類子群は、それぞれ別個の区分に対して設計した。つまり、ヒストグラム及びガボールフィルター処理を用いて抽出したセット26の統計及びスペクトルの特徴から選択した特徴を閾値化することにより、不均一性の有無を判定する、7つの異なるブール分類子群シーケンス(不均一性区分ごとに1つ)を設計した。分類子は、国際公開第2010/059679号に記載の技法に従って設計し、サンプルセット一式に適合させた。
各分類子群シーケンスは、所定の群シーケンスにおいて連続する各分類子が、高い精度で目的の区分に不均一性をそれぞれ割り当てる傾向にある、連続的で、より複雑な分類子(すなわち、より多くの特徴を用いる)を含むように設計した。トリガーイベントは、そのシーケンスにおける次の最も複雑な分類子セットに単一の選択した分類子群を前進させるものとして定義した。分類子群シーケンスにおける前進を可能にするのは追加の特徴であるため、これは、各トリガーイベントにおける現在のサンプルの追加特徴セットの計算に直接対応する。
図5は、ROC空間における3段階シーケンスの性能を示す。図に示すように、各群80A、80B、及び80Cは、8個の分類子で構成した。シーケンスがROCプロットの左上隅に近づいているという事実は、各工程(赤、次に緑、次に青)における性能の向上を示している。
1回のシミュレーション試験には、8767枚のセットから50枚のランダムな画像サンプルを選択する工程、及び10種類のトリガーイベントに対してそれぞれ解析する工程が含まれ、各イベントは、単一の欠陥区分の分類子群を前進させるものであった。「一歩先を行く」欲張り最適化及び全ての誤分類エラーに割り当てた単位コストと共に上述の方法を用いて、各サンプルの「最適な」10種類のトリガーを計算した。各サンプルのランダムトリガー選択(10種類のトリガーイベントを全てのトリガー候補セットからランダムに選択)とこれを比較した。平均性能を評価するために、1000回のシミュレーション試験を実施した。図6は、基準のランダム法(A)と欲張り最適法(B)との違いを示すヒストグラムである。これらのヒストグラムは、1000回の試験及び各試験あたり50枚の画像を集計したものである。
図7及び8は、シミュレーション研究に基づいた性能結果を示すプロットである。図7は、試験/画像における平均誤分類コストを図示する。上述のように、全ての誤分類には単位コストを割り当てた。図に示すように、欲張り最適の制御トリガーは、全イベントにわたってランダムトリガーよりも低い平均コストを有し、最も顕著な差異は最初の2〜3のトリガーの後に見られる。図8は、特定のトリガー戦略がコスト低減をもたらした50枚のサンプルの(試験全体にわたる)平均欠陥数を示す比較プロットである。図に示すように、欲張りトリガーは、50枚のサンプルの大部分において、平均的により良い性能を発揮した。
特徴トリガー向けの制御されたマルコフ連鎖モデルは、明らかな向上をもたらすことを示す。欲張りアルゴリズムは単純だが、効率的手法と見なされ得るため、更なる向上は、より洗練された制御値の最適化を用いることによって得られてよい。また、本調査で考慮した特徴セットは比較的小規模(26種類の特徴)である。より大規模な特徴セットから選択することが必要な場合、これらの技法は更により有利になり得る。このような場合、計算する最良の特徴を動的に検出することは、実際の生産ラインにおいて更に多くの利点を有し得る。一実施形態では、テーブル参照によってオンライン計算を実施でき、コストのかかる参照テーブルの構築はオフラインで実行できるため、この技法に伴うオンライン計算は最小限である。
別のトリガーケースは、現在の品質を継続させるように制御するために最近のフレームと画像とを比較し、変化を検出すると、より詳細な解析をトリガーする場合である。例えば、現在のウェブが「良好なウェブ」段階にある場合、しばしば差異など単純な特徴を用いて、新たな不均一性の出現を検出できる。この検出は、より詳細な解析をトリガーし、次に追加の特徴の計算を要求する。
更に、オンライン製品ライン上の材料から取得された最近のサンプル画像は、米国特許仮出願第61/394,655号(Ribnickら)、表題「CONTINUOUS CHARTING OF NON−UNIFORMITY SEVERITY FOR DETECTING VARIABILITY IN WEB−BASED MATERIALS」に記載の手順に従って作図できる。上記明細書に記載の手順に従って、新しいサンプル画像(フレーム)を作図できる。これは、既に分類されたトレーニングデータ(最近作図されたフレームで拡張可能なセット)を使用して実行できる。作図値において顕著な変化が検出されると、トリガーが実施され、新しいフレーム内の任意の不均一性の区分及び深刻度を検出するために拡張された特徴セットが要求される。
本発明の様々な実施形態について説明してきた。これらの及び他の実施形態は、以下の特許請求の範囲に含まれる。

Claims (19)

  1. ウェブ材料の製造時にこのウェブ材料をリアルタイムで検査し、不均一性欠陥の深刻度を計算するための方法であって、
    ウェブ材料製造中に捕獲された画像をオンラインコンピュータ検査システムで受領する工程と、
    前記検査システムで前記画像を処理して、第1の特徴セットを抽出する工程と、
    モデルを用いて前記検査システムで前記第1の特徴セットを処理して、このモデルに従って前記画像から抽出する第2の特徴セットを動的に選択する工程と、
    前記第2の特徴セットが前記画像から抽出される場合に、前記不均一性欠陥に関して前記画像を誤分類するコストの削減予想額を前記モデルに従って判定する工程と、
    前記コストの削減予想額が閾値を超える場合、前記検査システムで前記画像を処理して前記第2の特徴セットを抽出する工程と、
    前記画像から抽出した前記第1の特徴セット及び前記第2の特徴セットを用いて、前記検査システムで前記ウェブ材料の不均一性欠陥の深刻度レベルを計算する工程と、を含む方法。
  2. 前記モデルが、抽出する前記第2の特徴セット及び前記画像から抽出する任意の追加の特徴セットの選択を制御するための1つ以上の動的トリガーの連鎖を定義するマルコフモデルを含む、請求項1に記載の方法。
  3. 一群の分類子を指定する現在の状態ベクトルを定義する工程と、
    少なくとも1つの前記第1の特徴セットによってパラメーター化された条件付き分布を用いて前記現在の状態ベクトルに基づいて将来の状態ベクトルの予測を計算する工程であって、この条件付き分布が前記マルコフモデルの動的トリガーの遷移関数を示す、工程と、
    前記計算された遷移関数に基づいて特徴セット全体から前記第2の特徴セットを動的に選択する工程と、を更に含む、請求項2に記載の方法。
  4. 前記第2の特徴セットを動的に選択する工程が、前記第2の特徴セットを選択して、前記特徴セット全体のいずれかを選択することに伴う総予測コストを最小化することを含む、請求項3に記載の方法。
  5. 前記モデルを用いて前記検査システムで前記第2の特徴セットを処理して、前記モデルに従って前記画像から抽出する第3の特徴セットを動的に選択する工程と、
    前記第3の特徴セットが前記画像から抽出される場合に、前記不均一性欠陥に関して前記画像を誤分類するコストの第2の削減予想額を前記モデルに従って判定する工程と、
    前記コストの第2の削減予想額が前記閾値を超える場合、前記検査システムで前記画像を処理して前記第3の特徴セットを抽出する工程と、
    前記画像から抽出した前記第1の特徴セット、前記第2の特徴セット、及び前記第3の特徴セットを用いて、前記検査システムで前記ウェブ材料の不均一性欠陥の深刻度レベルを計算する工程と、を更に含む、請求項1に記載の方法。
  6. 前記深刻度レベルを計算する工程が、1つ以上の分類子を適用して、前記不均一性欠陥の等級付けラベルを判定できるかどうかを判定することを含む、請求項1に記載の方法。
  7. 前記オンラインコンピュータ検査システムで前記画像を受領する前に、コンピュータでソフトウェアを実行して、各トレーニング画像の画素値からこの各トレーニング画像の数値記述子を計算することにより、複数のトレーニング画像のそれぞれから特徴を抽出する工程であって、このトレーニング画像内に存在する不均一性欠陥の別個の等級付けラベルセットの1つがこの各画像に割り当てられている、工程と、
    前記等級付けソフトウェアで前記トレーニング画像の前記数値記述子を処理して、前記トレーニング画像に割り当てられた前記別個の等級付けラベルに基づいて、前記トレーニング画像の連続等級付けを計算する工程と、を更に含み、
    前記オンラインコンピュータ検査システムで前記深刻度レベルを計算する処理工程が、前記連続等級付けに従って前記不均一性欠陥の前記深刻度レベルを計算することを含む、請求項1に記載の方法。
  8. 前記深刻度レベルをユーザーに出力するためのユーザーインターフェースを提供する工程を更に含む、請求項1に記載の方法。
  9. ユーザーインターフェースを提供する工程が、時間の経過に従って、前記ウェブ材料の前記不均一性欠陥の深刻度レベルをグラフ化する図を更新することを含む、請求項8に記載の方法。
  10. 前記ユーザーから入力を受領する工程と、
    前記入力に応じて、前記製造されたウェブ材料のプロセス制御パラメーターを調節する工程と、を更に含む、請求項8に記載の方法。
  11. 前記画像を処理して前記第1の特徴セットを抽出する工程が、前記検査システム内に統合されたパイプライン型グラフィック処理ユニット(GPU)のハードウェア構成要素を起動して前記画像を処理し、同時に前記第1の特徴セットを抽出することを含む、請求項1に記載の方法。
  12. ウェブ材料の製造時にこのウェブ材料をリアルタイムで検査し、不均一性欠陥の深刻度を計算するためのオンラインコンピュータ検査システムであって、
    画像からどの特徴をリアルタイムで抽出するかを選択するための動的トリガーの連鎖を定義するモデルを記憶するメモリと、
    現在製造中の製造されたウェブ材料から捕獲されたサンプル画像を処理して、第1の特徴セットを抽出するソフトウェアを実行するコンピュータと、を含み、
    前記ソフトウェアが前記モデルを適用して、抽出された特徴が定義済みの信頼度内で前記ウェブ材料の不均一性欠陥の深刻度レベルを計算するのに十分になるまで、前記サンプル画像から抽出する追加の特徴セットの選択を繰り返し動的にトリガーする、検査システム。
  13. 前記ソフトウェアが前記モデルを適用して、前記新しい画像から抽出する第2の特徴セットの選択をトリガーし、
    トリガーされると、前記ソフトウェアが、前記画像から抽出された前記第1の特徴セットに基づいて、特徴セット全体から前記第2の特徴セットを動的に選択し、
    前記ソフトウェアが前記サンプル画像を処理して、前記画像から前記第2の特徴セットを抽出し、前記第1の特徴セット及び前記第2の特徴セットに基づいて前記不均一性欠陥の深刻度レベルを計算する、請求項12に記載の検査システム。
  14. 前記モデルがマルコフモデルを含む、請求項12に記載の検査システム。
  15. 前記モデルの各トリガーに対して、前記ソフトウェアが一群の分類子を指定する現在の状態ベクトルを定義し、前記サンプル画像から既に抽出された少なくとも1つの特徴によってパラメーター化された条件付き分布を用いて、前記現在の状態ベクトルに基づいて将来の状態ベクトルの予測を計算し、この条件付き分布が前記モデルの前記それぞれのトリガーの遷移関数を示し、
    前記モデルの各トリガーに対して、前記ソフトウェアが、前記計算された遷移関数に基づいて抽出する追加の特徴セットを動的に選択する、請求項12に記載の検査システム。
  16. 前記各トリガーに対して、前記ソフトウェアが、前記不均一性欠陥の深刻度レベルの計算に伴う総予測コストを最小化する追加の特徴セットを動的に選択する、請求項15に記載の検査システム。
  17. 前記深刻度レベルをユーザーに出力するためのユーザーインターフェースを更に含む、請求項12に記載の検査システム。
  18. 前記検査システム内に統合されたパイプライン型グラフィック処理ユニット(GPU)を更に含み、前記動的トリガーのそれぞれにおいて前記GPUを繰り返し起動して前記サンプル画像を処理し、同時に前記特徴を抽出するように前記ソフトウェアが設定されている、請求項11に記載の検査システム。
  19. コンピュータプロセッサに
    オンラインコンピュータ検査システムで、製造中のウェブ材料から捕獲された画像を受領させ、
    前記検査システムで前記画像を処理して、第1の特徴セットを抽出させ、
    前記検査システムで前記第1の特徴セットを処理して、前記ウェブ材料の不均一性欠陥の深刻度レベルを計算できるかどうかを判定させ、
    前記第1の特徴セットから前記深刻度レベルを計算出来ないと判定した場合に、モデルを適用して抽出する第2の特徴セットを動的に選択させ、
    モデルを用いて前記検査システムで前記第1の特徴セットを処理して、このモデルに従って前記画像から抽出する第2の特徴セットを動的に選択させ、
    前記第2の特徴セットが前記画像から抽出される場合に、前記不均一性欠陥に関して前記画像を誤分類するコストの削減予想額を前記モデルに従って判定させ、
    前記コストの削減予想額が閾値を超える場合、前記検査システムで前記画像を処理して前記第2の特徴セットを抽出させ、
    前記画像から抽出した前記第1の特徴セット及び前記第2の特徴セットを用いて、前記検査システムで前記ウェブ材料の不均一性欠陥の深刻度レベルを計算させるソフトウェア命令を含む、コンピュータ読み取り可能な非一時的媒体。
JP2013538770A 2010-11-12 2011-10-28 ウェブベース材料における不均一性の高速処理と検出 Expired - Fee Related JP5912125B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US41325010P 2010-11-12 2010-11-12
US61/413,250 2010-11-12
PCT/US2011/058250 WO2012064522A1 (en) 2010-11-12 2011-10-28 Rapid processing and detection of non-uniformities in web-based materials

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2013545979A true JP2013545979A (ja) 2013-12-26
JP2013545979A5 JP2013545979A5 (ja) 2014-12-04
JP5912125B2 JP5912125B2 (ja) 2016-04-27

Family

ID=46051242

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013538770A Expired - Fee Related JP5912125B2 (ja) 2010-11-12 2011-10-28 ウェブベース材料における不均一性の高速処理と検出

Country Status (8)

Country Link
US (1) US9031312B2 (ja)
EP (1) EP2638384A4 (ja)
JP (1) JP5912125B2 (ja)
KR (1) KR101800058B1 (ja)
CN (1) CN103221807B (ja)
BR (1) BR112013011107A2 (ja)
SG (1) SG190143A1 (ja)
WO (1) WO2012064522A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019144107A (ja) * 2018-02-21 2019-08-29 株式会社タナカ技研 情報処理装置、端末装置、情報処理方法、およびプログラム
JP2020073892A (ja) * 2019-12-20 2020-05-14 株式会社タナカ技研 、情報処理装置、端末装置、情報処理方法、およびプログラム

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2678665A4 (en) * 2011-02-24 2017-07-05 3M Innovative Properties Company System for detection of non-uniformities in web-based materials
DE102011108754A1 (de) * 2011-07-28 2013-01-31 Khs Gmbh Inspektionseinheit
EP2766809A4 (en) * 2011-10-10 2015-08-05 Hewlett Packard Development Co METHOD AND SYSTEMS FOR IDENTIFYING A MEASURE TO RESPOND TO ANOMALY IN A CLOUD COMPUTER SYSTEM
US10181185B2 (en) * 2016-01-11 2019-01-15 Kla-Tencor Corp. Image based specimen process control
US10388011B2 (en) * 2016-05-17 2019-08-20 Abb Schweiz Ag Real-time, full web image processing method and system for web manufacturing supervision
EP3361444A1 (en) * 2017-02-10 2018-08-15 ABB Schweiz AG Real-time, full web image processing method and system for web manufacturing supervision
CN107065545B (zh) * 2017-04-01 2020-03-24 同济大学 基于马尔科夫跳变的分布式事件触发滤波系统及设计方法
CN108227664A (zh) * 2018-02-05 2018-06-29 华侨大学 基于样本数据训练的产品质量控制设备及质量控制方法
CN113614047B (zh) 2019-02-06 2023-09-19 康宁公司 处理粘性带的方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004109105A (ja) * 2002-07-23 2004-04-08 Jfe Steel Kk 表面欠陥検出における疵種分類境界設定方法、及び欠陥検出方法
JP2006242906A (ja) * 2005-03-07 2006-09-14 Jfe Steel Kk 表面欠陥検査方法及びその装置
JP2009103508A (ja) * 2007-10-22 2009-05-14 Hitachi Ltd 欠陥分類方法及びその装置
US20090265127A1 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 3M Innovative Properties Company Preferential defect marking on a web
JP2010102690A (ja) * 2008-09-24 2010-05-06 Canon Inc 情報処理装置及び方法

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4728800A (en) * 1985-04-24 1988-03-01 Young Engineering, Inc. Apparatus and method for detecting defects in a moving web
DE69209609T2 (de) * 1991-05-03 1996-10-31 Eastman Kodak Co Steuerung für das aufwickeln von bahnen
US5911139A (en) 1996-03-29 1999-06-08 Virage, Inc. Visual image database search engine which allows for different schema
FR2761475B1 (fr) * 1997-03-28 1999-06-11 Lorraine Laminage Procede d'inspection de surface d'une bande en defilement par segmentation d'image en zones suspectes
US5893055A (en) * 1997-05-30 1999-04-06 Abb Industrial Systems, Inc. Two-dimensional web property variation modeling and control
US5999636A (en) * 1997-10-10 1999-12-07 Printprobe Technology, Llc Apparatus and process for inspecting print material
CA2318196C (en) * 1998-02-10 2008-04-22 Abb Industrial Systems, Inc. Method for extracting and classifying sheet variation patterns from two-dimensional sheet measurements
US6445834B1 (en) 1998-10-19 2002-09-03 Sony Corporation Modular image query system
US6539106B1 (en) * 1999-01-08 2003-03-25 Applied Materials, Inc. Feature-based defect detection
JP4173246B2 (ja) 1999-04-28 2008-10-29 株式会社リコー 類似画像表示方法及び類似画像表示処理プログラムを格納した記録媒体
WO2001041068A1 (fr) * 1999-11-29 2001-06-07 Olympus Optical Co., Ltd. Systeme de detection de defaut
US6999614B1 (en) * 1999-11-29 2006-02-14 Kla-Tencor Corporation Power assisted automatic supervised classifier creation tool for semiconductor defects
KR100355404B1 (ko) 1999-12-03 2002-10-11 삼성전자 주식회사 주파수 공간상에서의 가보 필터를 이용한 질감표현방법 및질감기반 영상 검색방법
JP3386025B2 (ja) * 1999-12-15 2003-03-10 株式会社ニコン 画像特徴抽出装置、画像特徴抽出方法、監視検査システム、半導体露光システム、およびインターフェースシステム
US7113994B1 (en) 2000-01-24 2006-09-26 Microsoft Corporation System and method of proxy authentication in a secured network
US7099860B1 (en) 2000-10-30 2006-08-29 Microsoft Corporation Image retrieval systems and methods with semantic and feature based relevance feedback
US6950547B2 (en) * 2001-02-12 2005-09-27 3M Innovative Properties Company Web inspection method and device
US6681060B2 (en) 2001-03-23 2004-01-20 Intel Corporation Image retrieval using distance measure
US6847733B2 (en) 2001-05-23 2005-01-25 Eastman Kodak Company Retrieval and browsing of database images based on image emphasis and appeal
US7283659B1 (en) 2002-01-09 2007-10-16 Kla-Tencor Technologies Corporation Apparatus and methods for searching through and analyzing defect images and wafer maps
JP4155496B2 (ja) 2002-04-25 2008-09-24 大日本スクリーン製造株式会社 分類支援装置、分類装置およびプログラム
JP4118703B2 (ja) 2002-05-23 2008-07-16 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥分類装置及び欠陥自動分類方法並びに欠陥検査方法及び処理装置
FI20021578A (fi) 2002-09-03 2004-03-04 Honeywell Oy Paperin karakterisointi
US7162071B2 (en) 2002-12-20 2007-01-09 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Progressive self-learning defect review and classification method
US7359544B2 (en) * 2003-02-12 2008-04-15 Kla-Tencor Technologies Corporation Automatic supervised classifier setup tool for semiconductor defects
US7602962B2 (en) * 2003-02-25 2009-10-13 Hitachi High-Technologies Corporation Method of classifying defects using multiple inspection machines
US7027934B2 (en) * 2003-09-24 2006-04-11 3M Innovative Properties Company Apparatus and method for automated web inspection
US20050135667A1 (en) 2003-12-22 2005-06-23 Abb Oy. Method and apparatus for labeling images and creating training material
US7545985B2 (en) * 2005-01-04 2009-06-09 Microsoft Corporation Method and system for learning-based quality assessment of images
JP2008175588A (ja) * 2007-01-16 2008-07-31 Kagawa Univ 外観検査装置
JP4629118B2 (ja) * 2008-03-03 2011-02-09 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥検査装置およびこの欠陥検査装置に用いるパラメータ調整方法。
JP5255953B2 (ja) * 2008-08-28 2013-08-07 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥検査方法及び装置
WO2010059679A2 (en) 2008-11-19 2010-05-27 3M Innovative Properties Company Constructing enhanced hybrid classifiers from parametric classifier families using receiver operating characteristics
JP5294114B2 (ja) * 2009-01-26 2013-09-18 株式会社メガオプト 光学モジュール

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004109105A (ja) * 2002-07-23 2004-04-08 Jfe Steel Kk 表面欠陥検出における疵種分類境界設定方法、及び欠陥検出方法
JP2006242906A (ja) * 2005-03-07 2006-09-14 Jfe Steel Kk 表面欠陥検査方法及びその装置
JP2009103508A (ja) * 2007-10-22 2009-05-14 Hitachi Ltd 欠陥分類方法及びその装置
US20090265127A1 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 3M Innovative Properties Company Preferential defect marking on a web
JP2010102690A (ja) * 2008-09-24 2010-05-06 Canon Inc 情報処理装置及び方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019144107A (ja) * 2018-02-21 2019-08-29 株式会社タナカ技研 情報処理装置、端末装置、情報処理方法、およびプログラム
JP2020073892A (ja) * 2019-12-20 2020-05-14 株式会社タナカ技研 、情報処理装置、端末装置、情報処理方法、およびプログラム
JP7084634B2 (ja) 2019-12-20 2022-06-15 株式会社タナカ技研 、情報処理装置、端末装置、情報処理方法、およびプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
KR20130141584A (ko) 2013-12-26
BR112013011107A2 (pt) 2016-08-02
JP5912125B2 (ja) 2016-04-27
CN103221807B (zh) 2015-08-12
CN103221807A (zh) 2013-07-24
US9031312B2 (en) 2015-05-12
US20130236082A1 (en) 2013-09-12
SG190143A1 (en) 2013-07-31
WO2012064522A1 (en) 2012-05-18
EP2638384A4 (en) 2017-04-19
EP2638384A1 (en) 2013-09-18
KR101800058B1 (ko) 2017-11-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5912125B2 (ja) ウェブベース材料における不均一性の高速処理と検出
KR101800057B1 (ko) 트레이닝 영상에 등급을 배정하는 방법 및 장치
JP2014511530A (ja) ウェブベース材料内の不均一性の検出システム
JP5546317B2 (ja) 外観検査装置、外観検査用識別器の生成装置及び外観検査用識別器生成方法ならびに外観検査用識別器生成用コンピュータプログラム
JP2013541779A (ja) ウェブベースの材料のばらつきを検出するための、不均一性の厳しさ度の連続的なチャート化
US20190213725A1 (en) Board defect filtering method and device thereof and computer-readable recording medium
JP6420529B2 (ja) パッチ・ツー・パッチ比較を含む欠陥検出のための装置及び方法
JP2007517232A (ja) ウェブに基づく物品の歩留まりの最大化
Eshkevari et al. Automatic dimensional defect detection for glass vials based on machine vision: A heuristic segmentation method
Medina et al. Automated visual classification of frequent defects in flat steel coils
CN114651172A (zh) 使用卷积上下文属性以寻找半导体缺陷
KR101203325B1 (ko) 시트-기반 물품에 대한 재고품 제어
Moganam et al. Perceptron Neural Network Based Machine Learning Approaches for Leather Defect Detection and Classification.
TWI822968B (zh) 濾色器檢查裝置、檢查裝置、濾色器檢查方法及檢查方法
CN115668290A (zh) 使用深度学习来检查片材物品
DEMIRCIOGLU et al. METAL SURFACE TEXTURE CLASSIFICATION WITH GABOR FILTER BANKS AND XAI.
Torkzadeh et al. Automatic Visual Inspection System based on Image Processing and Neural Network for Quality Control of Sandwich Panel
Vasagam et al. Region Wise Surface Level Defect Detection and Ranking of Crust Leather Images Based on Image Processing Techniques
CN118037091A (zh) 一种基于计算机视觉技术的智能化报工质检方法及系统

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20141010

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20141010

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150624

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150804

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151023

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160301

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160331

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5912125

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees