JP2013542412A

JP2013542412A - シェール・ガス貯留層内のスイート・ゾーン識別のためのシステム及び方法

Info

Publication number: JP2013542412A
Application number: JP2013528197A
Authority: JP
Inventors: リウ、チェンビン
Original assignee: シェブロンユー．エス．エー．インコーポレイテッド
Priority date: 2010-09-13
Filing date: 2011-07-15
Publication date: 2013-11-21
Also published as: CA2809969A1; EA201390369A1; US8626447B2; AU2011302598B2; AU2011302598A1; BR112013005708A2; WO2012036783A1; CA2809969C; US20120065887A1; EP2616978A1; CN103098062A

Abstract

抗井孔内の（ケロゲン、ガス、石油などの）炭化水素が豊富なゾーンを自動的に識別するためのコンピュータ・システム及びコンピュータ実施方法が、抗井孔を取り巻く地層の物理的特性を表す、中性子データ、密度データ、放射能データ及び比抵抗データを含む検層データを獲得するステップと、中性子データ及び密度データに基づいて見掛け中性子孔隙率及び見掛け密度孔隙率を計算するステップとを含む。正規化された中性子−密度セパレーションが、計算された見掛け中性子孔隙率及び計算された見掛け密度孔隙率に基づいて計算され、地層のベースラインがデータ・タイプ毎に決定される。計算された正規化中性子−密度セパレーション、放射能データ、比抵抗データ及び決定されたベースラインを使用して、炭化水素が豊富なゾーンの存在又は非存在が決定される。データからは、質指標をさらに導出することができる。

Description

本発明は、一般に、シェール・ガス貯留層におけるスイート・ゾーン（ｓｗｅｅｔｚｏｎｅ）の識別のための方法及びシステムに関し、より詳細には、数種類の検層情報を組み合わせて、スイート・ゾーンを識別することに関する。

坑井内でケロゲンが豊富なスイート・ゾーンを素早く識別し、スイート・ゾーン領域の地図を作成し、スイート・ゾーン内に水平孔を配置することは、シェール・ガス探査及び開発における最も重要な作業の１つである。シェール・ガス・プレイが石油及びガス産業にとってますます重要になるにつれて、ケロゲンが豊富なゾーンを識別する方法が、重要性を増してきている。多くの場合、既存の方法は、それらが適用された特定の地層にのみ適用可能であり、新たな領域の探査及び開発に対して汎用的妥当性をもたない。

本発明の一実施によれば、抗井孔（ｗｅｌｌｂｏｒｅ）内で（ケロゲン、ガス、石油などの）炭化水素が豊富なゾーンを自動的に識別するためのコンピュータ実施方法が、
検層データを獲得するステップであって、この検層データは、抗井孔を取り巻く地層の物理的特性を表す、中性子データ、密度データ、放射能データ及び比抵抗データを含むステップと、
中性子データ及び密度データに基づいて、見掛け中性子孔隙率及び見掛け密度孔隙率を計算するステップと
を含む。
正規化された中性子−密度セパレーション（ｎｏｒｍａｌｉｚｅｄｎｅｕｔｒｏｎ−ｄｅｎｓｉｔｙｓｅｐａｒａｔｉｏｎ）が、計算された見掛け中性子孔隙率及び計算された見掛け密度孔隙率に基づいて計算され、ノーマル・シェールのベースラインがデータ・タイプ毎に決定される。計算された正規化中性子−密度セパレーション、放射能データ、比抵抗データ及び決定されたベースラインを使いて、炭化水素が豊富なゾーンの存在又は非存在が決定される。データからは、質指標（ｑｕａｌｉｔｙｉｎｄｅｘ）をさらに導出することができる。炭化水素が豊富なゾーンの存在又は非存在、及び質指標の計算は、坑井内で検層される各深度レベルにおいて行われる。

一実施例では、抗井孔内で炭化水素が豊富なゾーンを自動的に識別するためのコンピュータ・システムが、コンピュータ読取り可能な検層データが記憶されたコンピュータ読取り可能媒体を含み、この検層データは、抗井孔を取り巻く地層の物理的特性を表す、中性子データ、密度データ、放射能データ及び比抵抗データを含む。コンピュータ・システムのプロセッサは、中性子データ及び密度データに基づいて、見掛け中性子孔隙率及び見掛け密度孔隙率を計算し、計算された見掛け中性子孔隙率及び計算された見掛け密度孔隙率に基づいて、正規化中性子−密度セパレーションを計算し、中性子データ、密度データ、放射能データ及び比抵抗データについて、ノーマル・シェールのベースラインを計算し、計算された正規化中性子−密度セパレーション、放射能データ、比抵抗データ及び決定されたベースラインに基づいて、炭化水素が豊富なゾーンの存在又は非存在を決定するように構成及び準備される。上で概略を示した計算は、坑井内で検層される各深度レベルにおいて行われる。

上記の「課題を解決するための手段」セクションは、以下の「発明を実施するための形態」セクションでさらに説明される概念から抜粋したものを簡潔な形で紹介するために設けられている。「課題を解決するための手段」によって、本発明の主要な特徴又は必須の特徴を識別することは意図しておらず、「課題を解決するための手段」を、本発明の範囲を限定するために使用することも意図していない。さらに、本発明は、本開示のいずれかの部分で言及される不都合のいずれか又はすべてを解決する実施に限定されない。

本発明の上記及び他の特徴は、以下の説明、係属中の特許請求の範囲、及び添付の図面と関連付けることで、より理解が深まる。

本発明の一実施例による方法を説明するフローチャートである。本発明の一実施例による、決定されたスイート・ゾーン・インジケータ及びスイート・ゾーン質指標を示す１組の検層の一実例を示す図である。本発明の一実施例による方法を実行するためのシステムを概略的に示す図である。

地下地層が大量の有機物質を含み、したがって炭化水素資源の良質な採掘源として役立つ可能性があるかどうかを決定するには、地下地層を評価することが有益である。地層の特性を明らかにする１つの方法は、掘削作業中又は作業後に、地層を貫通する抗井孔に沿って特性の測定を行うこと、すなわち検層である。検層は、例えば、比抵抗／伝導率測定、超音波、ＮＭＲ、中性子、密度、ウラン濃度、及び放射線散乱を始めとする多くの技法を含む。このタイプの抗井孔データは、直接的な調査のためのコアの採取に取って代わるため、又はそれらを補うためにしばしば使用される。従来、検層抗井孔データは、地下地層の特性を明らかにして坑井の産出能力に関する判断を下すため、又は周囲の地質領域の性質についての情報を決定するために、人間の解釈者によって分析されていた。

発明者らは、様々な検層からの情報を組み合わせることによって、人間の解釈を必要とせずに、有機物質が豊富である可能性が高く、したがって炭化水素を産出する能力がある可能性が高い地層又は地層の部分を識別するための、定量的手法を追求できると判断した。

これに関連して、本発明による方法が、図１のフローチャートで説明される。ステップ１０において、検層データが獲得される。一実施例では、検層データは、中性子、密度、ウラン濃度、及び比抵抗データを含む。別の実施例では、ウラン濃度は、ガンマ線データに取って代わられるが、どちらも放射能データの一種である。理解されるように、検層データは、様々な検層技法のいずれかによって獲得することができ、又は方法が実行されるコンピュータ・システムから見てローカル若しくはリモートに記憶された既存の検層データとすることができる。特定の実例では、検層データは、シェール層から獲得したものとすることができるが、それに限定されるものではない。

ステップ１４において、密度検層データから、見掛け密度孔隙率（ＰＨＩＴ＿Ｄ）が計算される。これに関連して、式１がＰＨＩＴ＿Ｄのための計算を提示する。

PHIT_D = min(max(((ρ_{M -} ρ_B)/ (ρ_M- ρ_F)), 0.0), 1.0) 式１

式１に関して、ρ_Ｍは、岩石マトリックスの密度であり（マトリックスには、シェール層の地質に応じて、方解石マトリックス又は他の適切なマトリックスが選択される）、ρ_Ｂは、岩石の嵩密度であり、ρ_Ｆは、岩石内の流体の密度である（流体には、水を選択することができる）。理解されるように、この式は、比（ρ_Ｍ-ρ_Ｂ）／（ρ_Ｍ-ρ_Ｆ）が負である場合、０．０の値を取り、比が１よりも大きい場合、１．０の値を取り、比が０と１の間である場合、比の値を取る。すなわち、この式は、０以上１以下の孔隙率の値を計算する。

ステップ１２において、式２によって、見掛け中性子孔隙率（ＰＨＩＴ＿Ｎ）が計算される。

PHIT_N = min(max(((TNPH- TNPM)/ (TNPF- TNPM)), 0.0), 1.0) 式２

式２において、ＴＭＰＨは、岩石の中性子孔隙率の測定値であり、ＴＮＰＭは、マトリックスの中性子孔隙率であり、ＴＮＰＦは、流体の中性子孔隙率である。式１と同様に、この式は、比（ＴＮＰＨ−ＴＮＰＭ）／（ＴＮＰＦ−ＴＮＰＭ）が０と１の間の値である場合、比に等しい値を取り、他のすべての比の値については、０又は１の値を取る。

式１及び式２の結果を使用して、式３によって、正規化された中性子−密度セパレーション（ＶＷＳＨ＿ＮＤＳ）を計算することができる（ステップ１６）。

VWSH_NDS = max(min([(PHIT_N - PHIT_D) - (PHIT_N - PHIT_D)_min]/ [(PHIT_N - PHIT_D)_ns- (PHIT_N - PHIT_D)_min], 1.0), -1.0) 式３

式３において、新たに導入された量（ＰＨＩＴ＿Ｎ−ＰＨＩＴ＿Ｄ）_ｎｓは、ノーマル・シェールについての中性子−密度セパレーションであり、一方、（ＰＨＩＴ＿Ｎ−ＰＨＩＴ＿Ｄ）_ｍｉｎは、中性子−密度セパレーションの最小値を表す。一実施例では、（ＰＨＩＴ＿Ｎ−ＰＨＩＴ＿Ｄ）_ｍｉｎには、０が採用され、分子と分母における該当箇所は消去される。この式は、−１と１の間の値を取るが、ほとんどの場合、値は０と１の間である。

ステップ１８において、各量についてのベースライン値が決定される。中性子、密度、ウラン濃度、及び比抵抗データを使用する一実施例の場合、ベースラインが、これらの各々について決定される。ガンマ線データがウラン濃度データに取って代わる実施例の場合、ガンマ線検層測定値についてのベースラインが決定される。

ステップ２０ａにおいて、式４におけるｉｆ文に従って、スイート・ゾーン・インジケータ（ＲＮＲ）を生成するために、先行するステップにおいて決定された値が使用される。

RNR = 1 if (VWSH_NDS < VWSH_NDS_NSBSL ・ FVBSL and URAN > URAN_NSBSL ・ FUBSL and RD > RD_NSBSL ・FRBSL) else RNR = 0 式４

限定することなく、例を挙げると、式４において、ＶＷＳＨ＿ＮＤＳ＿ＮＳＢＳＬは、ノーマル・シェールについての正規化中性子−密度セパレーションのベースラインであり、ＵＲＡＮは、ウラン濃度であり、ＵＲＡＮ＿ＮＳＢＳは、ノーマル・シェールについてのベースラインウラン濃度でありＲＤは、検層データの比抵抗値であり、ＲＤ＿ＮＳＢＳＬは、ノーマル・シェールについてのベースライン比抵抗であり、ＦＶＢＳＬ、ＦＵＢＳＬ、及びＦＲＢＳＬは、それぞれのベースラインのための調整係数である。したがって、中性子−密度セパレーションが調整されたベースラインよりも小さく、且つウラン及び比抵抗がそれぞれの調整されたベースラインよりも大きい場合、インジケータは、値１を取り、それ以外の場合、インジケータは、値０を取る。

理解されるように、各タイプの検層についてのベースラインは、一定とすることができ、又は深度につれて変化することができ、したがって、地質又は抗井孔状態に応じて、曲線又は趨勢線によって表すことができる。一般に、ベースライン値又は曲線を決定するために、シェール区間（ｓｈａｌｅｉｎｔｅｒｖａｌ）が選択される。それぞれの調整係数ＦＶＢＳＬ、ＦＵＢＳＬ、及びＦＲＢＳＬは、測定ノイズを低減するように、また実際の地質構造における高周波数変動を低減するように選択され、それによってインジケータの信頼性を向上させる。一実施例では、これらは、モンテ・カルロ実験によって決定される。調整係数は、局所地質状態、類推、並びにデータ品質及び／又はデータ出所に基づいて、ユーザの経験によって調整することもできる。

代替ステップ２０ｂにおいて、ウラン検層にガンマ線検層が取って代わる場合、式４は、式５によって置き換えられる。

RNR = 1 if (VWSH_NDS < VWSH_NDS_NSBSL ・ FVBSL and GR > GR_NSBSL ・ FGBSL and RD > RD_NSBSL ・FRBSL) else RNR = 0 式５

式５において新たに導入された量は、ＧＲであり、ＧＲは、ガンマ線データを表し、ＧＲ＿ＮＳＢＳＬは、ノーマル・シェールについてのガンマ線のベースラインであり、ＦＧＢＳＬは、ガンマ線のベースラインのための調整係数である。すなわち、式５の場合、ガンマ線データが、式４のウラン・データに取って代わるが、それ以外についてはどちらの式も共通の原理に従って機能する。

一般に、調整係数は１に近いものが選択され、一実施例では、０．５から１．５の間の範囲に制限される。特定の一実施例では、（ＶＳＢＳＬ，ＦＵＢＳＬ，ＦＲＢＳＬ，ＦＧＢＳＬ）＝（０．６，０．９９，０．９９，０．９９）である。

理解されるように、ステップ１２とステップ１４は、任意の順序で実行することができる。同様に、ステップ１８において実行される各タイプの検層についてのベースラインの決定は、原理的に、他の計算のいずれにも先立って実行することができ、またステップ１８の結果に依存するステップ２０の計算を除いて、すべての計算の後で実行することができる。

式４又は式５の評価は、スイート・ゾーンの存在又は非存在をそれぞれ示す、１又は０の値を返す。その後、インジケータは、水平掘削作業を開始する深度を決定するための、又はさもなければ生産掘削の判断材料を提供するための基礎として使用することができる。

図２は、本発明の一実施例による、多くの検層及び導出された結果を示している。第１列は、ガンマ線測定から導出された放射線データを示している。検層の中央部分における２つの曲線の間の空間は、ウランを示しており、スペクトル・ガンマ放射（右側の曲線）と計算されたガンマ放射（左側の曲線）の間の差を表す。トレースの左側に沿ったいくつかの追加の曲線は、本明細書で説明される方法とは関係がない。

第２列は、坑井の深度を示している。第３列は、調査した多くの異なる深度における比抵抗データを示している。第４列は、中性子及び密度データを示しており、第５は、ウラン・データを示している。

一実施例では、インジケータは、識別されたスイート・ゾーンの質を定量化する質指標を用いて補足することができる。これが、図２の第６列に示されており、３０は、スイート・ゾーン・インジケータが１である領域を示し、３２は、ゾーン３０内における質指標を示す曲線である。

理解されるように、上記の式４によれば、領域３０は、正規化中性子−密度セパレーションがそのベースラインよりも小さい列５内の影付き領域、及びその影付き領域とウラン濃度がそのそれぞれのベースラインよりも大きい列６内の影付き領域との共通部分に対応する。示される実例では、比抵抗は、正規化中性子−密度セパレーションがそのベースラインよりも小さい領域に渡って、そのベースラインよりもかなり大きい。

一実施例では、スイート・ゾーン質指標は、スイート・ゾーン・インジケータを決定するために使用したデータに基づいて計算することができる。特に、質指標は、データ・タイプの各々について計算され、その後、様々な地層間での比較を可能にする全体的な質指標を計算するために、それらの計算された質指標が使用される。

SQI_NDS = min(max([VWSH_NDS_NSBSL‐VWSH_NDS]/[VWSH_NDS_NSBSL‐VWSH_NDS_min], 0), 2) 式６

SQI_URAN = min(max(([URAN‐URAN_NSBSL]/[URAN_max-URAN_NSBSL]), 0), 1) 式７

SQI_GR = min(max([GR - GR_NSBSL]/[GR_max‐GR_NSBSL], 0), 1) 式８

SQI_RD = min(max([log₁₀(RD)‐log₁₀(RD_NSBSL)]/[log₁₀(RD_max)‐log₁₀(RD_NSBSL)],0), 1) 式９

SQI = min(max([SQI_NDS ・(W_nds/(W_nds + W_uran + W_rd)) + SQI_URAN ・ (W_uran/(W_nds + W_uran+ W_rd)) + SQI_RD ・ (W_rd/(W_nds+ W_uran + W_rd))], 0), 1) 式１０

又は
SQI = min(max([SQI_NDS ・(W_nds/(W_nds + W_gr + W_rd)) + SQI_GR ・ (W_gr/(W_nds + W_gr + W_rd)) + SQI_RD ・ (W_rd/(W_nds + W_gr+ W_rd))], 0), 1) 式１１

理解されるように、式１０と式１１のどちらを選択するかは、ウラン・データが利用可能かどうかに依存する。ウラン・データが利用可能でない場合、式１１に従って、ガンマ線データが使用される。それ以外の場合、一般に、式１０のほうが好ましい。式１０及び式１１において、Ｗ量は、それぞれの重み係数であり、デフォルト値は１である。それぞれの重み係数には、下付き文字が添えられ、中性子−密度セパレーション・データを参照する場合はｎｄｓが、ウラン・データを参照する場合はｕｒａｎが、ガンマ線データを参照する場合はｇｒが、比抵抗データを参照する場合はｒｄが添えられる。オペレータは、観測された地質状態、データ品質及び／若しくは出所、又は他の要因に基づいて、量に対する異なる重み付けを選択することができる。

式６から式１１において新たに導入された量は、個々の検層及び正規化定数に基づいた、スイート・ゾーン質指標の様々な尺度である。式６において、ＳＱＩ＿ＮＤＳは、中性子−密度セパレーション・データに基づいたスイート・ゾーン質指標を参照し、ＶＷＳＨ＿ＮＤＳ_ｍｉｎは、ＶＷＳＨ＿ＮＤＳ＿ＮＳＢＳＬの最小値（デフォルトでは０）である。式７において、ＳＷＩ＿ＵＲＡＮはウラン濃度データに基づいたスイート・ゾーン質指標を参照し、ＵＲＡＮ_ｍａｘはウラン濃度データの最大値（デフォルト値はｐｐｍ単位で１０）である。式８において、ＳＱＩ＿ＧＲはガンマ線データに基づいたスイート・ゾーン質指標を参照し、ＧＲ_ｍａｘはガンマ線データの最大値（デフォルト値はＡＰＩ単位で２００）である。式９において、ＳＱＩ＿ＲＤは比抵抗データに基づいたスイート・ゾーン質指標を参照し、ＲＤ_ｍａｘは比抵抗データの最大値（デフォルト値はオーム−メートル単位で１００）である。式１０及び式１１において、ＳＱＩは、式６及び式９から、並びにウラン濃度データが利用可能かどうかに応じて式７又は式８から予め決定されたパラメータの組み合わせであるスイート・ガス質指標を参照する。

一実施例では、上述の方法はコンピュータ・システムにおいて実施することができ、方法を実行するためのコンピュータ実行可能命令は、有形なコンピュータ読取り可能媒体上に記憶することができる。

方法を実行するためのシステム２００が、図３に概略的に示されている。システムは、データ記憶デバイス又はメモリ２０２を含む。記憶されたデータは、プログラム可能な汎用コンピュータなどの、プロセッサ２０４から利用できるようにすることができる。プロセッサ２０４は、ディスプレイ２０６及びグラフィカル・ユーザ・インタフェース２０８などの、インタフェース・コンポーネントを含むことができ、本発明の実施例による上で説明された変換を実施するために使用される。グラフィカル・ユーザ・インタフェースは、データ及びデータを処理した結果を表示するため、並びに方法の態様を実施するための選択肢の中からユーザが選択を行えるようにするために使用することができる。データは、データ獲得デバイスから直接的に、又は中間記憶装置若しくは処理装置（図示されず）から、バス２１０を介してシステム２００に転送することができる。

上述の明細書では、本発明がその好ましいいくつかの実施例に関連して説明され、多くの詳細が説明を目的として提示されたが、本発明には変更を受け入れる余地があり、本発明の基本原理から逸脱することなく、本明細書で説明された他のいくつかの詳細を大幅に変更できることが当業者には明らかであろう。加えて、本明細書のいずれか１つの実施例において示され又は説明された構造的特徴又は方法ステップは、他の実施例でも同様に使用できることを理解されたい。

Claims

抗井孔内の炭化水素が豊富なゾーンを自動的に識別するコンピュータ実施方法であって、
前記抗井孔を取り巻く地層の物理的特性を表す、中性子データ、密度データ、放射能データ及び比抵抗データを含む検層データを獲得するステップと、
前記中性子データ及び密度データに基づいて、見掛け中性子孔隙率及び見掛け密度孔隙率を計算するステップと、
前記計算された見掛け中性子孔隙率及び前記計算された見掛け密度孔隙率に基づいて、正規化中性子−密度セパレーションを計算するステップと、
前記中性子データ、密度データ、放射能データ及び比抵抗データの各々について前記地層のベースラインを決定するステップと、
前記計算された正規化中性子−密度セパレーション、前記放射能データ、前記比抵抗データ及び前記決定されたベースラインを使用して、炭化水素が豊富なゾーンの存在又は非存在を決定するステップと
を含む方法。
前記放射能データが、ウラン検層データとガンマ線データから成る群から選択される、請求項１に記載の方法。
ウラン検層データが利用可能である場合、前記放射能データとして使用するためにガンマ線データよりもウラン検層データが優先的に選択され、またウラン検層データが利用可能でない場合は、前記放射能データとしてガンマ線データが使用される、請求項２に記載の方法。
前記計算された正規化中性子−密度セパレーション、前記放射能データ及び前記比抵抗データを使用して、炭化水素が豊富なゾーンの存在又は非存在を決定する前記ステップが、各々をそれぞれのベースラインと比較するステップと、前記比較に基づいて、前記炭化水素が豊富なゾーンの存在又は非存在を決定するステップとを含む、請求項１に記載の方法。
前記比較するステップは、正規化中性子−密度セパレーションがそのそれぞれのベースラインよりも小さいかどうか、前記放射能データがそのそれぞれのベースラインよりも大きいかどうか、及び前記比抵抗データがそのそれぞれのベースラインよりも大きいかどうかを決定するステップを含み、３つの条件がすべて真である場合に炭化水素が豊富なゾーンが存在すると決定される、請求項４に記載の方法。
前記比較するステップの前に、前記それぞれのベースラインの各々に、それぞれの調整係数が乗算される、請求項４に記載の方法。
前記それぞれの補正係数の各々が０．５と１．５の間である、請求項６に記載の方法。
炭化水素が豊富なゾーンの前記存在又は非存在を示すインジケータを視覚的に表示するステップをさらに含む、請求項１に記載の方法。
前記正規化中性子−密度セパレーション、前記放射能データ、及び前記比抵抗データの各々について、それぞれの質指標を決定すること、及び
前記それぞれの質指標の加重平均を求めることによって、スイート・ゾーン質指標を決定すること
によって前記スイート・ゾーン質指標を決定するステップをさらに含む、請求項１に記載の方法。
前記地層がシェール・ガス貯留層を含む、請求項１に記載の方法。
抗井孔内の炭化水素が豊富なゾーンを自動的に識別するように構成及び準備されたシステムであって、
コンピュータ読取り可能な検層データが記憶されたコンピュータ読取り可能媒体であって、前記検層データが、前記抗井孔を取り巻く地層の物理的特性を表す、中性子データ、密度データ、放射能データ及び比抵抗データを含むコンピュータ読取り可能媒体と、
プロセッサであって、
前記中性子及び密度データに基づいて見掛け中性子孔隙率及び見掛け密度孔隙率を計算し、
前記計算された見掛け中性子孔隙率及び前記計算された見掛け密度孔隙率に基づいて正規化中性子−密度セパレーションを計算し、
前記中性子、密度、放射能及び比抵抗について、前記地層のベースラインを計算し、
前記計算された正規化中性子−密度セパレーション、前記放射能データ、前記比抵抗データ及び前記決定されたベースラインに基づいて、炭化水素が豊富なゾーンの存在又は非存在を計算する
ように構成及び準備されたプロセッサと
を有するシステム。
炭化水素が豊富なゾーンの前記計算された存在又は非存在を示すインジケータを視覚的に表示するように構成及び準備されたディスプレイをさらに有する、請求項１１に記載のシステム。
前記プロセッサは、ウラン検層データが利用可能である場合、前記放射能データとしてウラン検層データを選択し、ウラン検層データが利用可能でない場合には、前記放射能データとしてガンマ線データを選択するようにさらに構成及び準備される、請求項１１に記載のシステム。