JP2013242211A

JP2013242211A - Test device

Info

Publication number: JP2013242211A
Application number: JP2012115102A
Authority: JP
Inventors: Takashi Nakajo; 崇中條
Original assignee: Saginomiya Seisakusho Inc
Current assignee: Saginomiya Seisakusho Inc
Priority date: 2012-05-18
Filing date: 2012-05-18
Publication date: 2013-12-05
Anticipated expiration: 2032-05-18
Also published as: JP5999979B2

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test device for preventing software setting from being complicated and a setting error from being caused by allowing an external analyzer to easily perform system setting being the same as that of a controller without requiring complicated software setting in the external analyzer when an operation and monitoring are performed from the external analyzer.SOLUTION: A test device includes: a test device body 12 for performing a test; a controller 32 for performing the setting and execution of a test condition, etc. and the collection of test data with respect to the test device body 12; and an external analyzer 42 connected to the controller 32 in order to perform a test operation and monitoring. System setting information of the controller 32 is transferred from the controller 32 to the external analyzer 42. The external analyzer 42 acquires system setting information of the external analyzer 42 on the basis of the system setting information transferred from the controller 32.

Description

本発明は、例えば、金属材料、樹脂材料、複合材料などの材料について、また、自動車部品などの機械部品について、また、これらの完成品について行われる、疲労試験、耐久試験、特性試験などの各種の試験のための試験装置に関する。 The present invention can be applied to various materials such as fatigue tests, durability tests, and characteristic tests performed on materials such as metal materials, resin materials, and composite materials, machine parts such as automobile parts, and finished products. The present invention relates to a test apparatus for testing.

従来、試験装置として、例えば、金属材料、樹脂材料、複合材料などの材料について、また、自動車部品(駆動系や足回りの金属部品やゴム部品、ショックアブソーバなど)などの機械部品について、これらの自動車完成品などの完成品について、さらに、土木関係(橋桁、橋梁や建物用の免震ゴムなど)の構造物について、材料試験、振動試験、疲労試験、特性試験などを行うための材料試験装置、振動試験装置、疲労試験装置など各種の試験装置がある。 Conventionally, as test equipment, for example, materials such as metal materials, resin materials, composite materials, and machine parts such as automobile parts (such as drive parts and undercarriage metal parts, rubber parts, shock absorbers) Material testing equipment for conducting material tests, vibration tests, fatigue tests, characteristic tests, etc. for finished products such as finished automobiles and for civil engineering-related structures (such as bridge girders, bridges and seismic isolation rubber for buildings) There are various test devices such as vibration test devices and fatigue test devices.

以下、本明細書において、「試験装置」とは、これらの各種の試験を行うための試験装置を包含した意味で用いられる。 Hereinafter, in the present specification, the term “test apparatus” is used to include a test apparatus for performing these various tests.

ところで、従来のこのような試験装置としては、特許文献１（特開２００７−１２１０６５号公報）に開示されているような試験装置が提案されている。 By the way, as such a conventional test apparatus, a test apparatus as disclosed in Patent Document 1 (Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2007-121065) has been proposed.

すなわち、図７に示したように、この試験装置１００では、試験を行うための試験装置本体１０２と、試験装置本体１０２に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置１０４とを備えている。そして、制御装置１０４は、外部解析装置（ＰＣ）１０６に接続されており、制御装置１０４で収集された試験データーを外部解析装置１０６に転送して、試験の解析などを行うように構成されている。 That is, as shown in FIG. 7, in this test apparatus 100, a test apparatus main body 102 for performing a test, setting of test conditions, etc., execution, collection of test data, etc. are performed on the test apparatus main body 102. And a control device 104. The control device 104 is connected to an external analysis device (PC) 106, and is configured to transfer test data collected by the control device 104 to the external analysis device 106 to perform test analysis and the like. Yes.

すなわち、制御装置１０４と外部解析装置１０６との間では、通信回線（例えば、ＬＡＮ、ＧＰＩＢなど）を介して、例えば、制御コマンド、各チャネル測定データ(レンジ相対値)などを送受信している。 That is, between the control device 104 and the external analysis device 106, for example, control commands, channel measurement data (range relative values), and the like are transmitted and received via a communication line (for example, LAN, GPIB, etc.).

特開２００７−１２１０６５号公報JP 2007-121065 A

しかしながら、このような特許文献１に開示されているような従来の試験装置１００では、制御装置１０４と外部解析装置１０６では、それぞれ個別に、試験装置本体１０２の名称、チャネル名称、データー測定チャネル数、レンジフルスケールなどの情報を保持している。 However, in the conventional test apparatus 100 as disclosed in Patent Document 1, the control apparatus 104 and the external analysis apparatus 106 individually have the name of the test apparatus main body 102, the channel name, and the number of data measurement channels. Holds information such as range full scale.

ところで、複雑な試験、試験中のデーターをネットワーク経由で操作したい場合、すなわち、外部解析装置１０６から操作、モニタリングを行う場合には、制御装置１０４から送られてくる試験データーの他、上記のように、試験装置本体１０２の名称、チャネル名称、データー測定チャネル数、レンジフルスケールなどの情報が必要である。 By the way, when it is desired to operate complicated tests and data under test via a network, that is, when operation and monitoring are performed from the external analysis device 106, in addition to the test data sent from the control device 104, as described above. In addition, information such as the name of the test apparatus main body 102, the channel name, the number of data measurement channels, and the range full scale are required.

しかしながら、従来の試験装置１００では、これらの情報の設定は、外部解析装置１０６側で、制御装置１０４の情報に合わせて、手動で設定する必要があり、複雑なソフト設定が必要であった。 However, in the conventional test apparatus 100, setting of these pieces of information has to be performed manually on the external analysis apparatus 106 side in accordance with the information of the control apparatus 104, and complicated software settings are required.

そして、この手動で設定した情報に基づいて、外部解析装置１０６、制御装置１０４に要求するデーター測定チャネル数の決定、レンジ換算（例えば、読み取り分解能ＦＳや、１．０ＦＳなどから物理値へ換算）、試験ソフト上でのチャネル名称、単位表示などを行っていた。 Based on the manually set information, the number of data measurement channels required for the external analysis device 106 and the control device 104 is determined and converted into a range (for example, converted from a reading resolution FS or 1.0 FS to a physical value). , Channel name and unit display on the test software.

すなわち、例えば、図８、図９に示したように情報の設定などが行われるようになっている。 That is, for example, information is set as shown in FIGS.

図８は、従来の外部解析装置１０６において、外部解析装置１０６から操作、モニタリングを行うソフトのインストール作業を示すフローチャートである。 FIG. 8 is a flowchart showing installation of software for performing operation and monitoring from the external analysis device 106 in the conventional external analysis device 106.

先ず、図８のステップＳ１０１に示したように、インストールを開始し、ステップＳ１０２において、ソフト標準構成をインストールする。そして、ステップＳ１０３において、制御装置１０４の接続先（例えば、ネットワークアドレスなど）設定し、ステップＳ１０４において、制御装置１０４の型式を設定している。 First, as shown in step S101 of FIG. 8, installation is started, and in step S102, the software standard configuration is installed. In step S103, the connection destination (for example, a network address) of the control device 104 is set. In step S104, the model of the control device 104 is set.

また、ステップＳ１０５において、試験機名称、すなわち、試験装置本体１０２の名称を設定し、ステップＳ１０６において、センサー使用数と、各センサー名称設定とが行われ、ステップＳ１０７において、センサーレンジのフルスケール設定が行われ、ステップＳ１０８においてインストール作業が終了する。 In step S105, the name of the testing machine, that is, the name of the test apparatus main body 102 is set. In step S106, the number of sensors used and each sensor name are set. In step S107, the full scale setting of the sensor range is performed. In step S108, the installation operation is completed.

そして、外部解析装置１０６において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトは、例えば、図９に示したように作動される。 Then, in the external analyzer 106, software for setting information and starting a test is operated as shown in FIG. 9, for example.

すなわち、図９は、外部解析装置において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトの作動を示すフローチャートである。 That is, FIG. 9 is a flowchart showing the operation of software when setting information and starting a test in the external analyzer.

先ず、図９のステップＳ１０９に示したように、ソフトが起動され、ステップＳ１１０において、登録された接続先、すなわち、登録された制御装置１０４の接続先（例えば、ネットワークアドレスなど）へ通信が開始される。 First, as shown in step S109 of FIG. 9, the software is started, and in step S110, communication is started to the registered connection destination, that is, the connection destination of the registered control device 104 (for example, a network address). Is done.

そして、この通信を介して、ステップＳ１１１において、制御装置１０４の型式に対応した通信規則で通信が開示される。次にステップＳ１１２において、試験機名称、すなわち、試験装置本体１０２の名称が取得される。続いて、ステップＳ１１３において、センサー使用数と、各センサー名称の取得が行われ、ステップＳ１１４において、センサーレンジのフルスケールの取得が行われ、ステップＳ１１５において試験が開始される。 Then, through this communication, in step S111, communication is disclosed with a communication rule corresponding to the model of the control device 104. Next, in step S112, the name of the testing machine, that is, the name of the test apparatus main body 102 is acquired. Subsequently, in step S113, the number of sensors used and the names of the respective sensors are acquired. In step S114, the full scale of the sensor range is acquired, and the test is started in step S115.

この場合、ステップＳ１１０〜ステップＳ１１４における情報は、ソフトのインストール時における情報を使用しており、この情報の設定が実際の試験装置本体１０２と同一であるか否かはチェックされておらず、または、不完全の状態である。 In this case, the information in step S110 to step S114 uses information at the time of software installation, and it is not checked whether the setting of this information is the same as the actual test apparatus main body 102, or Incomplete state.

すなわち、従来の試験装置１００では、このように外部解析装置１０６から操作、モニタリングを行う場合、上記のように、外部解析装置１０６において、複雑なソフト設定が必要である。 That is, in the conventional test apparatus 100, when performing the operation and monitoring from the external analysis device 106 as described above, the external analysis device 106 requires complicated software settings as described above.

しかも、外部解析装置１０６のソフトにおいて、情報の設定が実際の試験装置本体１０２と同一であるか否かはチェックされておらず、または、不完全の状態である。 In addition, in the software of the external analysis device 106, it is not checked whether the information setting is the same as that of the actual test apparatus main body 102, or it is in an incomplete state.

従って、制御装置１０４のシステム設定と同じシステム設定を、外部解析装置１０６側に設定する必要があり、これによって、ソフト設定の複雑化、設定ミスの誘発を起こしていた。 Accordingly, it is necessary to set the same system setting as the system setting of the control device 104 on the external analysis device 106 side, which causes complicated software setting and induces a setting error.

また、制御装置１０４のシステム設定が変更されても、このシステム設定の情報が、外部解析装置１０６側に反映されない場合があった。このため、例えば、レンジの設定ミスなどがあり、正しいデーターを測定できない問題などが発生していた。 Further, even if the system setting of the control device 104 is changed, the information on the system setting may not be reflected on the external analysis device 106 side. For this reason, for example, there has been a problem that correct data cannot be measured due to a range setting error or the like.

本発明は、このような現状に鑑み、外部解析装置から操作、モニタリングを行う場合、外部解析装置において、複雑なソフト設定が不要で、制御装置のシステム設定と同じシステム設定を、簡単に外部解析装置側に設定することができ、これによって、ソフト設定の複雑化、設定ミスの誘発を生じない試験装置を提供することを目的とする。 In view of such a current situation, the present invention eliminates the need for complicated software settings in an external analysis device when performing operation and monitoring from an external analysis device, and easily analyzes the same system settings as the system settings of a control device. It is an object of the present invention to provide a test apparatus that can be set on the apparatus side, and that does not cause complicated software settings and induce setting errors.

また、制御装置のシステム設定が変更された場合に、このシステム設定の情報が、外部解析装置側に反映され、例えば、レンジの設定ミスなどが発生せず、正しいデーターを測定できる試験装置を提供することを目的とする。 In addition, when the system setting of the control device is changed, this system setting information is reflected on the external analyzer side, providing a test device that can measure correct data, for example, without causing a range setting error The purpose is to do.

本発明は、前述したような従来技術における課題及び目的を達成するために発明されたものであって、本発明の試験装置は、
試験を行うための試験装置本体と、
前記試験装置本体に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための制御装置と、
前記試験の操作、モニタリングを行うために、前記制御装置に接続された外部解析装置とを備えた試験装置であって、
前記制御装置のシステム設定情報が、制御装置から外部解析装置に転送されるように構成され、
前記外部解析装置が、前記制御装置から転送されたシステム設定情報に基づいて、外部解析装置におけるシステム設定情報を取得するように構成したことを特徴とする。 The present invention was invented in order to achieve the problems and objects in the prior art as described above.
A test apparatus main body for performing the test;
A control device for performing setting, execution, collection of test data, etc. for the test apparatus main body,
In order to perform the operation and monitoring of the test, a test apparatus comprising an external analyzer connected to the control device,
The system setting information of the control device is configured to be transferred from the control device to an external analysis device,
The external analysis device is configured to acquire the system setting information in the external analysis device based on the system setting information transferred from the control device.

このように構成することによって、制御装置のシステム設定情報が、制御装置から外部解析装置に転送され、外部解析装置が、制御装置から転送されたシステム設定情報に基づいて、外部解析装置におけるシステム設定情報を取得する。 With this configuration, the system setting information of the control device is transferred from the control device to the external analysis device, and the external analysis device sets the system setting in the external analysis device based on the system setting information transferred from the control device. Get information.

従って、外部解析装置から操作、モニタリングを行う場合、外部解析装置において、複雑なソフト設定が不要で、制御装置のシステム設定と同じシステム設定を、簡単に外部解析装置側に設定することができ、これによって、ソフト設定の複雑化、設定ミスの誘発を生じない。 Therefore, when performing operation and monitoring from an external analyzer, complicated software settings are not required in the external analyzer, and the same system settings as the system settings of the control device can be easily set on the external analyzer side. As a result, complication of software setting and induction of setting error do not occur.

また、制御装置のシステム設定が変更された場合に、このシステム設定の情報が、外部解析装置側に反映され、例えば、レンジの設定ミスなどが発生せず、正しいデーターを測定できる。 Further, when the system setting of the control device is changed, the information of the system setting is reflected on the external analyzer side, and for example, correct data can be measured without causing a range setting error or the like.

また、本発明の試験装置は、前記外部解析装置において、システム設定情報を更新設定した際に、前記外部解析装置の更新されたシステム設定情報が、前記制御装置に転送されるように構成したことを特徴とする。 Further, the test apparatus according to the present invention is configured such that when the system setting information is updated and set in the external analyzer, the updated system setting information of the external analyzer is transferred to the control apparatus. It is characterized by.

このように構成することによって、外部解析装置側から、例えば、レンジの設定などを変更したい場合に、外部解析装置側で変更し、更新されたシステム設定情報が、制御装置に転送されるので、レンジの設定ミスによる誤った試験が行われるのを回避することができ、正しい試験データーを得ることができる。 By configuring in this way, from the external analysis device side, for example, if you want to change the setting of the range, etc., because the system setting information changed and updated on the external analysis device side is transferred to the control device, It is possible to avoid an erroneous test due to a range setting error and to obtain correct test data.

また、本発明の試験装置は、前記制御装置のシステム設定情報と、外部解析装置との間のシステム情報の転送が、通信回線を介して行われることを特徴とする。 The test apparatus according to the present invention is characterized in that system setting information of the control apparatus and system information are transferred between the external analysis apparatus via a communication line.

このように制御装置のシステム設定情報と、外部解析装置との間のシステム情報の転送が、通信回線を介して行われるので、例えば、ＬＡＮケーブルを接続するだけで、制御装置のシステム設定情報と、外部解析装置との間のシステム情報が同期するので、接続操作が簡単であり、制御装置のシステム設定情報と、外部解析装置との間のシステム情報が同期が確実に行われ、正しい試験を実施することができる。 As described above, since the system setting information of the control device and the system information are transferred between the external analysis device via the communication line, for example, the system setting information of the control device Since the system information with the external analyzer is synchronized, the connection operation is easy, and the system setting information of the control device and the system information with the external analyzer are reliably synchronized, and the correct test is performed. Can be implemented.

本発明によれば、制御装置のシステム設定情報が、制御装置から外部解析装置に転送され、外部解析装置が、制御装置から転送されたシステム設定情報に基づいて、外部解析装置におけるシステム設定情報を取得する。 According to the present invention, the system setting information of the control device is transferred from the control device to the external analysis device, and the external analysis device converts the system setting information in the external analysis device based on the system setting information transferred from the control device. get.

図１は、本発明の試験装置を、試験の一例として、疲労試験を行う疲労試験装置に適用した実施例を示す概略図である。FIG. 1 is a schematic view showing an embodiment in which the test apparatus of the present invention is applied to a fatigue test apparatus that performs a fatigue test as an example of a test. 図２は、図１の試験装置本体の使用状態を説明する正面図である。FIG. 2 is a front view for explaining a use state of the test apparatus main body of FIG. 図３は、本発明の試験装置における外部解析装置の画面表示の実施例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing an example of screen display of the external analyzer in the test apparatus of the present invention. 図４は、本発明の試験装置における外部解析装置から操作、モニタリングを行うソフトのインストール作業を示すフローチャートである。FIG. 4 is a flowchart showing software installation work for operating and monitoring from the external analyzer in the test apparatus of the present invention. 図５は、本発明の試験装置における外部解析装置において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトの作動を示すフローチャートである。FIG. 5 is a flowchart showing the operation of software when setting information and starting a test in the external analyzer in the test apparatus of the present invention. 図６は、本発明の試験装置における外部解析装置において、試験中の作動を説明するフローチャートである。FIG. 6 is a flowchart for explaining the operation during the test in the external analyzer in the test apparatus of the present invention. 図７は、従来の試験装置を示す概略図である。FIG. 7 is a schematic view showing a conventional test apparatus. 図８は、従来の外部解析装置１０６において、外部解析装置１０６から操作、モニタリングを行うソフトのインストール作業を示すフローチャートである。FIG. 8 is a flowchart showing installation of software for performing operation and monitoring from the external analysis device 106 in the conventional external analysis device 106. 図９は、外部解析装置において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトの作動を示すフローチャートである。FIG. 9 is a flowchart showing the operation of software when setting information and starting a test in the external analyzer.

以下、本発明の実施の形態（実施例）を図面に基づいてより詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments (examples) of the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.

図１は、本発明の試験装置を、試験の一例として、疲労試験を行う疲労試験装置に適用した実施例を示す概略図、図２は、図１の試験装置本体の使用状態を説明する正面図、
図３は、本発明の試験装置における外部解析装置の画面表示の実施例を示す図、図４は、本発明の試験装置における外部解析装置から操作、モニタリングを行うソフトのインストール作業を示すフローチャート、図５は、本発明の試験装置における外部解析装置において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトの作動を示すフローチャート、図６は、本発明の試験装置における外部解析装置において、試験中の作動を説明するフローチャートである。 FIG. 1 is a schematic view showing an embodiment in which the test apparatus of the present invention is applied to a fatigue test apparatus for performing a fatigue test as an example of a test, and FIG. 2 is a front view illustrating a use state of the test apparatus main body of FIG. Figure,
FIG. 3 is a diagram showing an embodiment of the screen display of the external analyzer in the test apparatus of the present invention, FIG. 4 is a flowchart showing the installation work of software that performs operation and monitoring from the external analyzer in the test apparatus of the present invention, FIG. 5 is a flowchart showing the operation of the software when setting information and starting a test in the external analyzer in the test apparatus of the present invention. FIG. 6 is a test in the external analyzer in the test apparatus of the present invention. It is a flowchart explaining the inside action.

図１において、符号１０は、全体で本発明の試験装置を示している。 In FIG. 1, the code | symbol 10 has shown the test apparatus of this invention on the whole.

図１〜図２に示したように、本発明の試験装置１０は、試験を行うための試験装置本体１２を備えている。この試験装置本体１２は、この実施例では、試験の一例として、疲労試験を行う疲労試験装置から構成されている。 As shown in FIGS. 1 to 2, the test apparatus 10 of the present invention includes a test apparatus main body 12 for performing a test. In this embodiment, the test apparatus main body 12 includes a fatigue test apparatus that performs a fatigue test as an example of a test.

なお、前述したように、本発明の試験装置１０は、試験装置として、例えば、金属材料、樹脂材料、複合材料などの材料について、また、自動車部品(駆動系や足回りの金属部品やゴム部品、ショックアブソーバなど)などの機械部品について、これらの自動車完成品などの完成品について、さらに、土木関係(橋桁、橋梁や建物用の免震ゴムなど)の構造物について、材料試験、振動試験、疲労試験、特性試験などを行うための材料試験装置、振動試験装置、疲労試験装置など各種の試験装置に適用することが可能である。 As described above, the test apparatus 10 of the present invention can be used as a test apparatus for materials such as metal materials, resin materials, and composite materials, as well as automobile parts (metal parts and rubber parts for driving systems and suspensions). , Shock absorbers, etc.), finished products such as finished automobiles, and civil engineering related structures (such as bridge girders, bridges and seismic isolation rubber for buildings), material tests, vibration tests, The present invention can be applied to various test apparatuses such as a material test apparatus, a vibration test apparatus, and a fatigue test apparatus for performing a fatigue test and a characteristic test.

図１に示したように、試験装置本体１２は、架台フレーム１４を備えており、この架台フレーム１４の下方にシリンダーからなるアクチュエーター１６を備えている。このアクチュエーター１６には、テストピースＡを載置するためのピストン１８と、変位を検出するための変位検出器２０とを備えている。 As shown in FIG. 1, the test apparatus main body 12 includes a gantry frame 14, and an actuator 16 composed of a cylinder is provided below the gantry frame 14. The actuator 16 includes a piston 18 for mounting the test piece A and a displacement detector 20 for detecting displacement.

また、架台フレーム１４の上方には、上方フレーム２８が立設されており、この上方フレーム２８には、上方フレーム２８と架台フレーム１４との間に、ガイドロッド２２が設けられている。 Further, an upper frame 28 is provided above the gantry frame 14, and a guide rod 22 is provided between the upper frame 28 and the gantry frame 14 in the upper frame 28.

そして、ガイドロッド２２の下方と上方フレーム２８との間には、ボールネジ２４が設けられており、ボールネジ２４により、ピストン１８に対して、上下動可能なクロスヘッド２６が設けられている。また、このクロスヘッド２６には、ピストン１８と対峙するように、荷重検出器３０が設けられている。 A ball screw 24 is provided between the lower side of the guide rod 22 and the upper frame 28, and a cross head 26 that is movable up and down with respect to the piston 18 by the ball screw 24 is provided. The crosshead 26 is provided with a load detector 30 so as to face the piston 18.

また、図１に示したように、本発明の試験装置１０は、試験装置本体１２に接続され、試験装置本体１２に対して、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集などを行うための試験制御装置として機能する制御装置３２を備えている。 As shown in FIG. 1, the test apparatus 10 of the present invention is connected to the test apparatus main body 12 for setting test conditions and the like, collecting test data, and the like for the test apparatus main body 12. And a control device 32 functioning as a test control device.

この実施例では、制御装置３２は、試験条件などの設定画面、試験データーなどの表示を行うためのＣＲＴ３４と、制御装置本体３６と、キーボード３８と、マウス４０を備えている。従って、この制御装置３２には、例えば、ハードディスクから構成される内部メモリーが内蔵されている。なお、制御装置本体３６に、操作用のパソコンが接続されている場合がある。 In this embodiment, the control device 32 includes a CRT 34 for displaying a setting screen for test conditions and the like, test data, a control device main body 36, a keyboard 38, and a mouse 40. Therefore, the control device 32 has an internal memory composed of, for example, a hard disk. An operation personal computer may be connected to the control device main body 36.

そして、試験装置本体１２のアクチュエーター１６の変位検出器２０と、制御装置本体３６が接続されるとともに、試験装置本体１２の荷重検出器３０と、制御装置本体３６が接続されている。 The displacement detector 20 of the actuator 16 of the test apparatus main body 12 and the control apparatus main body 36 are connected, and the load detector 30 of the test apparatus main body 12 and the control apparatus main body 36 are connected.

また、図１に示したように、この実施例の試験装置１０では、制御装置３２の制御装置本体３６に、例えば、パソコンからなる外部解析装置４２が、通信回線（例えば、ＬＡＮ、ＧＰＩＢなど）を介して接続されている。なお、外部解析装置４２は、制御装置３２と同様に、試験条件、試験データーなどの表示を行うためのＣＲＴ４６と、外部解析装置本体４８と、キーボード５０と、マウス５２を備えている。 Further, as shown in FIG. 1, in the test apparatus 10 of this embodiment, an external analysis device 42 made of, for example, a personal computer is connected to the control device main body 36 of the control device 32 by a communication line (for example, LAN, GPIB, etc.). Connected through. As with the control device 32, the external analysis device 42 includes a CRT 46 for displaying test conditions and test data, an external analysis device main body 48, a keyboard 50, and a mouse 52.

一方、本発明の試験装置１０では、制御装置３２の制御装置本体３６に接続されるとともに、試験装置本体１２のアクチュエーター１６に接続されたアクチュエーター駆動源４４が設けられている。 On the other hand, the test apparatus 10 of the present invention is provided with an actuator drive source 44 connected to the control device main body 36 of the control device 32 and connected to the actuator 16 of the test device main body 12.

このように構成される本発明の試験装置１０では、以下のように試験が行われる。 In the test apparatus 10 of the present invention configured as described above, the test is performed as follows.

すなわち、図２に示したように、ピストン１８の上面にテストピースＡを載置して、図示しない駆動機構によって、ボールネジ２４により、ピストン１８に対してクロスヘッド２６を下降して、ピストン１８の上面とクロスヘッド２６の下面との間にテストピースＡを挟持する。 That is, as shown in FIG. 2, the test piece A is placed on the upper surface of the piston 18, and the crosshead 26 is lowered with respect to the piston 18 by the ball screw 24 by a driving mechanism (not shown). The test piece A is sandwiched between the upper surface and the lower surface of the cross head 26.

そして、制御装置３２に予め記憶されたプログラムに基づいて、試験条件などの設定、実施、試験データーの収集が行われるようになっている。 Then, based on a program stored in advance in the control device 32, setting of test conditions and the like, execution, and collection of test data are performed.

すなわち、図１に示したように、制御装置３２の制御によって、制御装置３２に接続されたアクチュエーター駆動源４４を所定の条件で駆動させる。これにより、アクチュエーター駆動源４４に接続されたアクチュエーター１６が所定の条件で駆動して、テストピースＡに対して一定の振動を与えるようになっている。 That is, as shown in FIG. 1, the actuator drive source 44 connected to the control device 32 is driven under a predetermined condition by the control of the control device 32. As a result, the actuator 16 connected to the actuator drive source 44 is driven under a predetermined condition to give a constant vibration to the test piece A.

そして、アクチュエーター１６に設けられた変位検出器２０によって、テストピースＡの変位が検出され、テストピースＡの変位データーが、制御装置３２の制御装置本体３６に入力されるようになっている。一方、クロスヘッド２６に設けられた荷重検出器３０によって、テストピースＡにかかる荷重が検出され、テストピースＡにかかる荷重データーが、制御装置３２の制御装置本体３６に入力されるようになっている。 The displacement of the test piece A is detected by the displacement detector 20 provided in the actuator 16, and the displacement data of the test piece A is input to the control device main body 36 of the control device 32. On the other hand, the load applied to the test piece A is detected by the load detector 30 provided in the cross head 26, and the load data applied to the test piece A is input to the control device main body 36 of the control device 32. Yes.

また、これらの試験データーに基づいて、制御装置３２の制御装置本体３６のプログラムに基づいて、制御装置３２からアクチュエーター駆動源４４に、フィードバック指令信号が出力され、アクチュエーター駆動源４４を所定の条件で駆動させるようになっている。 Further, based on these test data, based on the program of the control device main body 36 of the control device 32, a feedback command signal is output from the control device 32 to the actuator drive source 44, and the actuator drive source 44 is set under a predetermined condition. It is designed to drive.

ところで、本発明の試験装置１０では、このように収集された試験データーが、制御装置３２内に設けられた、例えば、ハードディスクから構成される内部メモリーに保存（記憶）されるようになっている。 By the way, in the test apparatus 10 of the present invention, the test data collected in this way is stored (stored) in an internal memory provided in the control apparatus 32, for example, composed of a hard disk. .

また、この内部メモリーに保存された試験データーは、制御装置３２の制御装置本体３６に接続された外部解析装置４２に、定期的にデーター転送されて、自動的に保存されるようになっている。 The test data stored in the internal memory is periodically transferred to an external analysis device 42 connected to the control device main body 36 of the control device 32 and automatically stored. .

ところで、複雑な試験、試験中のデーターをネットワーク経由で操作したい場合、すなわち、外部解析装置４２から操作、モニタリングを行う場合には、制御装置３２から送られてくる試験データーの他、試験装置本体１２の名称、チャネル名称、データー測定チャネル数、レンジフルスケールなどの情報が必要である。 By the way, when it is desired to operate complicated tests and data under test via a network, that is, when operation and monitoring are performed from the external analysis device 42, the test device main body in addition to the test data sent from the control device 32. Information such as 12 names, channel names, number of data measurement channels, and range full scale are required.

このため、本発明の試験装置１０では、制御装置３２のシステム設定情報が、制御装置３２から外部解析装置４２に転送されるように構成され、外部解析装置４２が、制御装置３２から転送されたシステム設定情報に基づいて、外部解析装置４２におけるシステム設定情報を取得するように構成されている。 Therefore, in the test apparatus 10 of the present invention, the system setting information of the control device 32 is configured to be transferred from the control device 32 to the external analysis device 42, and the external analysis device 42 is transferred from the control device 32. Based on the system setting information, the system setting information in the external analysis device 42 is acquired.

すなわち、具体的には、図４に示したように、本発明の試験装置１０における外部解析装置４２から操作、モニタリングを行うソフトのインストール作業が行われる。 Specifically, as shown in FIG. 4, software for performing operation and monitoring is performed from the external analyzer 42 in the test apparatus 10 of the present invention.

先ず、図４のステップＳ１に示したように、インストールを開始し、ステップＳ２において、ソフト標準構成をインストールする。そして、ステップＳ３において、制御装置３２の接続先（例えば、ネットワークアドレスなど）設定し、ステップＳ４において、インストール作業が終了する。 First, as shown in step S1 of FIG. 4, installation is started, and in step S2, the software standard configuration is installed. In step S3, a connection destination (for example, a network address) of the control device 32 is set, and in step S4, the installation operation is completed.

そして、外部解析装置４２において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトは、例えば、図５に示したように作動される。 Then, in the external analysis device 42, software for setting information and starting a test is operated, for example, as shown in FIG.

すなわち、図５は、外部解析装置４２において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトの作動を示すフローチャートである。 That is, FIG. 5 is a flowchart showing the operation of the software when setting information and starting a test in the external analyzer 42.

先ず、図５のステップＳ５に示したように、ソフトが起動され、ステップＳ６において、登録された接続先、すなわち、登録された制御装置３２の接続先（例えば、ネットワークアドレスなど）へ通信が開始される。 First, as shown in step S5 of FIG. 5, the software is started, and in step S6, communication is started to the registered connection destination, that is, the connection destination of the registered control device 32 (for example, a network address). Is done.

そして、この通信を介して、ステップＳ７において、制御装置３２の型式が取得され、制御装置３２に対応した通信規則で通信が開始される、次に、ステップＳ８において、試験機名称、すなわち、試験装置本体１２の名称が取得される。 Then, via this communication, the model of the control device 32 is acquired in step S7, and communication is started with a communication rule corresponding to the control device 32. Next, in step S8, the name of the tester, that is, the test The name of the apparatus main body 12 is acquired.

続いて、ステップＳ９において、センサー使用数と、各センサー名称の取得が行われ、ステップＳ１０において、センサーレンジのフルスケールの取得が行われ、ステップＳ１１において試験が開始される。 Subsequently, in step S9, the number of sensors used and the names of the respective sensors are acquired. In step S10, the full scale of the sensor range is acquired, and the test is started in step S11.

なお、この場合、ステップＳ７〜ステップＳ１０において、外部解析装置４２は、制御装置３２の制御装置本体３６との間で通信を行い、取得した制御装置３２の情報を使用するようになっている。従って、制御装置３２のシステム設定と、外部解析装置４２のシステム設定とは、同じシステム設定となるように構成されている。 In this case, in step S7 to step S10, the external analysis device 42 communicates with the control device main body 36 of the control device 32 and uses the acquired information of the control device 32. Therefore, the system setting of the control device 32 and the system setting of the external analysis device 42 are configured to be the same system setting.

また、この場合、実施例では、ステップＳ３において、制御装置３２の接続先設定を予め行ったが、通信開始時に一定範囲のネットワークアドレスをスキャンすることによって、制御装置３２の接続先設定を不要にすることもできる。 In this case, in the embodiment, the connection destination setting of the control device 32 is performed in advance in step S3. However, the connection destination setting of the control device 32 is unnecessary by scanning a network address in a certain range at the start of communication. You can also

このように外部解析装置４２において、情報の設定を行い、試験を開始する際のソフトの作動が行われた後、試験装置１０において、試験が行われる際には、図６のフローチャートに示したように、下記のように作動される。 As described above, when the test is performed in the test apparatus 10 after setting the information in the external analysis apparatus 42 and operating the software when starting the test, the flowchart shown in FIG. The operation is as follows.

その際、図３に示したように、外部解析装置４２のＣＲＴ４６の画面表示が行われるように構成されている。 At that time, as shown in FIG. 3, the screen display of the CRT 46 of the external analysis device 42 is performed.

すなわち、ステップＳ１２において、処理が開始され、ステップＳ１３において、試験機名称、すなわち、試験装置本体１２の名称が表示される。例えば、図３に示したように、ＣＲＴ４６に、「耐久試験機Ｎｏ．１」のように、試験機名称が表示される。 That is, in step S12, the process is started, and in step S13, the name of the tester, that is, the name of the test apparatus main body 12 is displayed. For example, as shown in FIG. 3, the name of the testing machine is displayed on the CRT 46 as “Durability testing machine No. 1”.

そして、ステップＳ１４において、処理対象のセンサーチャネルが、例えば、センサーチャネル１が表示され、ステップＳ１５において、センサー名が表示される。例えば、図３に示したように、ＣＲＴ４６に、「センサー１：変位」として表示される。 In step S14, the sensor channel to be processed is displayed, for example, sensor channel 1. In step S15, the sensor name is displayed. For example, as shown in FIG. 3, “Sensor 1: Displacement” is displayed on the CRT 46.

次に、ステップＳ１６において、センサー測定値（ＡＤコンバータ分解能フルスケール）を制御装置３２から取得する。そして、ステップＳ１７において、センサー物理値が、下記の式に基づいて算出される。 Next, in step S <b> 16, a sensor measurement value (AD converter resolution full scale) is acquired from the control device 32. In step S17, the sensor physical value is calculated based on the following equation.

センサー物理値＝センサー測定値／（ＡＤコンバータ分解能フルスケール）＊レンジフルスケール Sensor physical value = Sensor measurement value / (AD converter resolution full scale) * Range full scale

そして、ステップＳ１８において、この算出されたセンサー物理値が表示される（例えば、数値、グラフなど）。例えば、図３に示したように、ＣＲＴ４６に、「センサー１：変位」の欄に、「２１．５」、また、その右に示したようなグラフが表示される。 In step S18, the calculated sensor physical value is displayed (for example, a numerical value, a graph, etc.). For example, as shown in FIG. 3, “21.5” is displayed in the column “Sensor 1: Displacement” on the CRT 46, and a graph as shown on the right is displayed.

さらに、ステップＳ１９において、センサー単位が表示される。例えば、図３に示したように、ＣＲＴ４６に、「センサー１：変位」の欄に、単位「ｍｍ」が表示される。 In step S19, the sensor unit is displayed. For example, as shown in FIG. 3, the unit “mm” is displayed on the CRT 46 in the column “Sensor 1: Displacement”.

続いて、ステップＳ２０において、表示対象センサーチャネル＝チャネル数であるか否かが判定される。そして、ステップＳ２０において、表示対象センサーチャネル＝チャネル数である場合には、ステップＳ２１において、処理が終了される。 Subsequently, in step S20, it is determined whether or not the display target sensor channel is equal to the number of channels. In step S20, if the display target sensor channel is equal to the number of channels, the process ends in step S21.

一方、ステップＳ２０において、表示対象センサーチャネル＝チャネル数でない場合には、ステップＳ２２に進み、処理対象センサーチャネル＋１を処理対象センサーチャネルとして設定して、再び、ステップＳ１５に戻り、処理対象のセンサーチャネルが、例えば、センサーチャネル２が表示され、ステップＳ１６において、センサー名が表示される。例えば、図３に示したように、ＣＲＴ４６に、「センサー２：荷重」として表示される。以降、同様なステップが繰り返される。 On the other hand, if it is determined in step S20 that the display target sensor channel is not equal to the number of channels, the process proceeds to step S22, the processing target sensor channel + 1 is set as the processing target sensor channel, and the processing returns to step S15 again. However, for example, the sensor channel 2 is displayed, and the sensor name is displayed in step S16. For example, as shown in FIG. 3, “Sensor 2: Load” is displayed on the CRT 46. Thereafter, similar steps are repeated.

なお、上記の処理を画面表示の項目変更や、測定データーが更新された時など必要に応じて繰り返し行うように構成されている。 The above processing is configured to be repeated as necessary, for example, when a screen display item is changed or measurement data is updated.

また、この実施例では、制御装置３２からの測定データー以外に必要な情報としては、試験機名称、チャネル数、センサー名、レンジフルスケール、単位であるが、その他の情報を適宜表示するようにすることも可能である。 In this embodiment, the necessary information other than the measurement data from the control device 32 is the tester name, the number of channels, the sensor name, the range full scale, and the unit, but other information is displayed as appropriate. It is also possible to do.

さらに、データーのファイルへの記録についても、詳細な説明は省略するが、表示と同様に行うように構成されている。 Further, the recording of data in a file is configured to be performed in the same manner as the display, although a detailed description is omitted.

このように構成することによって、制御装置３２のシステム設定情報が、制御装置３２から外部解析装置４２に転送され、外部解析装置４２が、制御装置３２から転送されたシステム設定情報に基づいて、外部解析装置４２におけるシステム設定情報を取得する。 With this configuration, the system setting information of the control device 32 is transferred from the control device 32 to the external analysis device 42, and the external analysis device 42 is externally connected based on the system setting information transferred from the control device 32. System setting information in the analysis device 42 is acquired.

従って、外部解析装置４２から操作、モニタリングを行う場合、外部解析装置４２において、複雑なソフト設定が不要で、制御装置のシステム設定と同じシステム設定を、簡単に外部解析装置４２側に設定することができ、これによって、ソフト設定の複雑化、設定ミスの誘発を生じない。 Therefore, when performing operation and monitoring from the external analysis device 42, complicated software settings are not required in the external analysis device 42, and the same system settings as the system settings of the control device can be easily set on the external analysis device 42 side. As a result, the software setting is not complicated and setting errors are not induced.

また、制御装置３２のシステム設定が変更された場合に、このシステム設定の情報が、外部解析装置４２側に反映され、例えば、レンジの設定ミスなどが発生せず、正しいデーターを測定できる。 Further, when the system setting of the control device 32 is changed, the information on the system setting is reflected on the external analysis device 42 side, and, for example, correct data can be measured without causing a range setting error or the like.

また、本発明の試験装置１０では、制御装置３２のシステム設定情報と、外部解析装置４２との間のシステム情報の転送が、通信回線を介して行われるので、例えば、ＬＡＮケーブルを接続するだけで、制御装置３２のシステム設定情報と、外部解析装置４２との間のシステム情報が同期するので、接続操作が簡単であり、制御装置３２のシステム設定情報と、外部解析装置４２との間のシステム情報が同期が確実に行われ、正しい試験を実施することができる。 Further, in the test apparatus 10 of the present invention, the system setting information of the control device 32 and the system information are transferred between the external analysis device 42 via a communication line, so that, for example, only a LAN cable is connected. Thus, since the system setting information of the control device 32 and the system information between the external analysis device 42 are synchronized, the connection operation is simple, and the connection between the system setting information of the control device 32 and the external analysis device 42 is simple. System information is reliably synchronized and correct testing can be performed.

以上、本発明の好ましい実施の態様を説明してきたが、本発明はこれに限定されることはなく、例えば、外部解析装置４２において、システム設定情報を更新設定した際に、外部解析装置４２の更新されたシステム設定情報が、制御装置３２に転送されるように構成してもよい。 The preferred embodiment of the present invention has been described above, but the present invention is not limited to this. For example, when the external analysis device 42 updates and sets the system setting information, the external analysis device 42 The updated system setting information may be transferred to the control device 32.

このように構成することによって、外部解析装置４２側から、例えば、レンジの設定などを変更したい場合に、外部解析装置４２側で変更し、更新されたシステム設定情報が、制御装置３２に転送されるので、レンジの設定ミスによる誤った試験が行われるのを回避することができ、正しい試験データーを得ることができる。 With this configuration, for example, when it is desired to change a range setting or the like from the external analysis device 42 side, the system setting information changed and updated on the external analysis device 42 side is transferred to the control device 32. Therefore, it is possible to avoid an erroneous test due to a range setting error, and to obtain correct test data.

また、図示しないが、外部解析装置４２を複数個設けて、これらを並列的に制御装置３２と接続して、制御装置３２のシステム設定情報が、制御装置３２から外部解析装置４２に転送されるように構成することも可能である。 Although not shown, a plurality of external analysis devices 42 are provided and connected to the control device 32 in parallel, and the system setting information of the control device 32 is transferred from the control device 32 to the external analysis device 42. It is also possible to configure as described above.

さらに、本発明において、試験装置１０は、試験装置本体１２と、制御装置３２と、外部解析装置４２と、アクチュエーター駆動源４４を含めて試験装置１０とすることも可能であるなど本発明の目的を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。 Furthermore, in the present invention, the test apparatus 10 may be the test apparatus 10 including the test apparatus main body 12, the control apparatus 32, the external analysis apparatus 42, and the actuator drive source 44. Various modifications can be made without departing from the scope of the invention.

本発明は、例えば、金属材料、樹脂材料、複合材料などの材料について、また、自動車部品などの機械部品について、また、これらの完成品について行われる、疲労試験、耐久試験、特性試験などの各種の試験のための試験装置に適用することができる。 The present invention can be applied to various materials such as fatigue tests, durability tests, and characteristic tests performed on materials such as metal materials, resin materials, and composite materials, machine parts such as automobile parts, and finished products. It can be applied to a test apparatus for testing.

１０試験装置
１２試験装置本体
１４架台フレーム
１６アクチュエーター
１８ピストン
２０変位検出器
２２ガイドロッド
２４ボールネジ
２６クロスヘッド
２８上方フレーム
３０荷重検出器
３２制御装置
３６制御装置本体
３８キーボード
４０マウス
４２外部解析装置
４４アクチュエーター駆動源
４８外部解析装置本体
５０キーボード
５２マウス
１００試験装置
１０２試験装置本体
１０４制御装置
１０６外部解析装置
Ａテストピース DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Test apparatus 12 Test apparatus main body 14 Base frame 16 Actuator 18 Piston 20 Displacement detector 22 Guide rod 24 Ball screw 26 Crosshead 28 Upper frame 30 Load detector 32 Control apparatus 36 Control apparatus main body 38 Keyboard 40 Mouse 42 External analysis apparatus 44 Actuator Drive source 48 External analysis device main body 50 Keyboard 52 Mouse 100 Test device 102 Test device main body 104 Control device 106 External analysis device A Test piece

Claims

A test apparatus main body for performing the test;
A control device for performing setting, execution, collection of test data, etc. for the test apparatus main body,
In order to perform the operation and monitoring of the test, a test apparatus comprising an external analyzer connected to the control device,
The system setting information of the control device is configured to be transferred from the control device to an external analysis device,
A test apparatus, wherein the external analysis device is configured to acquire system setting information in the external analysis device based on system setting information transferred from the control device.

2. The system according to claim 1, wherein when the system setting information is updated and set in the external analysis device, the updated system setting information of the external analysis device is transferred to the control device. Testing equipment.

The test apparatus according to claim 1, wherein the system setting information of the control apparatus and the system information are transferred between the external analysis apparatus via a communication line.