JP2013222057A - Manufacturing method for display device and display device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method for a display device, in which a correction error in a characteristic dispersion of a drive transistor is reduced over an entire gradation so as to suppress luminance unevenness.SOLUTION: A manufacturing method for a display device, includes: obtaining a first reference voltage on a representative voltage to luminance characteristic common to a display panel, which attains a measured luminance by applying a first signal voltage in a medium gradation area to a target pixel; obtaining a first correction parameter which causes a first signal voltage to be a first reference voltage; obtaining a second correction parameter which causes a luminance measured by applying a second signal voltage of a low gradation area to a target pixel to be a luminance corresponding to a first correction voltage on a representative voltage-luminance characteristic in which a first correction parameter is applied to a second signal voltage; and obtaining a third correction parameter which causes a light emission luminance measured by applying a third signal voltage of a high gradation area to a target pixel to be a luminance corresponding to a second correction voltage on a representative voltage-luminance characteristic in which a first correction parameter is applied to a third signal voltage.

Description

本発明は、表示装置の製造方法及び有機EL表示装置に関し、特に、アクティブマトリクス型の有機EL表示装置の製造方法及び有機EL表示装置に関する。   The present invention relates to a display device manufacturing method and an organic EL display device, and more particularly, to an active matrix organic EL display device manufacturing method and an organic EL display device.

電流量に応じて発光強度が制御される電流駆動型の発光素子を用いた画像表示装置として、有機EL素子(OLED:Organic Light Emitting Diode)を用いた画像表示装置(有機EL表示装置)が知られている。この有機EL表示装置は、薄型軽量、高速応答、広視野角、低消費電力を特徴とする高画質及び高性能の表示装置として注目されている。   As an image display device using a current-driven light-emitting element whose emission intensity is controlled according to the amount of current, an image display device (organic EL display device) using an organic EL element (OLED: Organic Light Emitting Diode) is known. It has been. This organic EL display device has attracted attention as a high-quality and high-performance display device characterized by thin and light weight, high-speed response, wide viewing angle, and low power consumption.

有機EL表示装置では、通常、画素を構成する有機EL素子がマトリクス状に配置される。複数の走査線と複数の信号線との交点に有機EL素子を設け、選択した走査線と複数の信号線との間に映像信号に対応した信号電圧を印加するようにして有機EL素子を駆動するものをパッシブマトリクス型の有機EL表示装置と呼ぶ。   In an organic EL display device, organic EL elements constituting pixels are usually arranged in a matrix. An organic EL element is provided at the intersection of a plurality of scanning lines and a plurality of signal lines, and the organic EL element is driven by applying a signal voltage corresponding to the video signal between the selected scanning lines and the plurality of signal lines. This is called a passive matrix organic EL display device.

一方、複数の走査線と複数の信号線との交点に選択用薄膜トランジスタ(TFT:Thin Film Transistor)を設け、このTFTに駆動トランジスタのゲートを接続し、選択した走査線を通じてこのTFTをオンさせて信号線から信号電圧を駆動トランジスタに入力する。この駆動トランジスタにより有機EL素子を駆動するものをアクティブマトリクス型の有機EL表示装置と呼ぶ。   On the other hand, a thin film transistor for selection (TFT) is provided at the intersection of a plurality of scanning lines and a plurality of signal lines, a gate of a driving transistor is connected to the TFT, and the TFT is turned on through the selected scanning line. A signal voltage is input to the driving transistor from the signal line. A device in which an organic EL element is driven by this driving transistor is called an active matrix type organic EL display device.

アクティブマトリクス型の有機EL表示装置は、各走査線を選択している期間のみ、それに接続された有機EL素子が発光するパッシブマトリクス型の有機ELディスプレイとは異なり、次の走査(選択)まで有機EL素子を発光させることが可能であるため、デューティ比が上がってもディスプレイの輝度減少を招くようなことはない。従って、アクティブマトリクス型の有機EL表示装置は、低電圧で駆動でき、低消費電力化が可能となる。しかしながら、アクティブマトリクス型の有機EL表示装置では、駆動トランジスタの特性のばらつきに起因して、同じ信号電圧を各画素に与えても、各画素において有機EL素子の輝度が異なり、例えば筋状の輝度ムラが発生するという欠点がある。これは、電流駆動型の有機EL素子が駆動トランジスタのドレイン(ソース)電流により輝度が決定され、当該駆動トランジスタが画素間において移動度及び閾値電圧についてばらつきを有することに起因する。   Unlike the passive matrix organic EL display in which the organic EL element connected to the active matrix organic EL display device emits light only during a period when each scanning line is selected, the organic matrix display is organic until the next scanning (selection). Since the EL element can emit light, the luminance of the display is not reduced even when the duty ratio is increased. Therefore, the active matrix organic EL display device can be driven at a low voltage and can reduce power consumption. However, in an active matrix organic EL display device, due to variations in characteristics of drive transistors, even if the same signal voltage is applied to each pixel, the luminance of the organic EL element differs in each pixel. There is a disadvantage that unevenness occurs. This is because the luminance of the current-driven organic EL element is determined by the drain (source) current of the drive transistor, and the drive transistor has variations in mobility and threshold voltage between pixels.

そこで、従来、駆動トランジスタの特性ばらつきを補正する方法として、ゲイン/オフセット法が知られている。例えば、特許文献1では、有機発光ダイオードで構成されたディスプレイの発光特性の非一様性を解消すべく、線形変換された各画素の信号電圧−輝度特性を、利得及びオフセットの2パラメータにより補正する技術が開示されている。   Therefore, conventionally, a gain / offset method is known as a method for correcting the characteristic variation of the drive transistor. For example, in Patent Document 1, the signal voltage-luminance characteristics of each linearly converted pixel are corrected by two parameters, gain and offset, in order to eliminate non-uniformity of the light emission characteristics of a display composed of organic light emitting diodes. Techniques to do this are disclosed.

また、特許文献2では、電流制御用TFTの特性ばらつきに起因するEL表示パネルの輝度ムラを解消するため、全画素点灯により取得された輝度平均値と各画素の輝度値との差分である補正値を、表示データに加算してEL表示パネルに入力させる技術が開示されている。   Further, in Patent Document 2, in order to eliminate the luminance unevenness of the EL display panel due to the characteristic variation of the current control TFT, a correction that is a difference between the luminance average value acquired by lighting all the pixels and the luminance value of each pixel is corrected. A technique is disclosed in which a value is added to display data and input to an EL display panel.

また、特許文献3では、発光素子と駆動用トランジスタとを有する複数の画素部が配置された発光装置において、駆動用トランジスタの特性バラツキに起因する発光素子の輝度ばらつきを解消すべく、画素電流測定用回路により測定された発光電流を基に、ゲインとオフセットの2パラメータにより画素部に入力されるビデオ信号を補正する技術が開示されている。   In Patent Document 3, in a light-emitting device in which a plurality of pixel portions each having a light-emitting element and a driving transistor are arranged, pixel current measurement is performed in order to eliminate variation in luminance of the light-emitting element due to characteristic variation of the driving transistor. A technique for correcting a video signal input to a pixel unit using two parameters of gain and offset based on a light emission current measured by a circuit for use is disclosed.

上述した補正技術により、輝度ムラが低減され、均一な表示を可能にすることができる。   By the correction technique described above, luminance unevenness can be reduced and uniform display can be achieved.

特表2008−535028号公報Special table 2008-535028 gazette 特開平11−282420号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-282420 特開2010−160497号公報JP 2010-160497 A

前述した電流駆動型の発光素子を有する画素で構成された表示装置では、各画素の有する駆動トランジスタ及び発光素子の信号電圧−輝度特性は非線形特性であり、当該非線形特性を表すカーブ形状が画素ごとに異なる場合を想定する必要がある。   In the above-described display device including pixels having current-driven light-emitting elements, the signal voltage-luminance characteristics of the drive transistor and the light-emitting elements included in each pixel are non-linear characteristics, and the curve shape representing the non-linear characteristics is a pixel shape. It is necessary to assume different cases.

しかしながら、特許文献2に開示された補正技術では、所定階調における輝度平均値と各画素の輝度値との差分であるオフセット補正値を表示データに加減算しているだけであり、単一のオフセット補正値だけでは、各画素の非線形特性ばらつきを全階調にわたり十分に補正できない。   However, the correction technique disclosed in Patent Document 2 only adds or subtracts an offset correction value, which is the difference between the luminance average value at a predetermined gradation and the luminance value of each pixel, to the display data, and provides a single offset. The correction value alone cannot sufficiently correct the non-linear characteristic variation of each pixel over all gradations.

また、特許文献1に開示された補正技術では、各画素の非線形特性を線形特性に近似して補正しているため、ゲイン及びオフセットという2パラメータだけでは、補正誤差が無視できず、表示画像において高精度な均一性が得られない。   Further, in the correction technique disclosed in Patent Document 1, since the nonlinear characteristics of each pixel are corrected by approximating the linear characteristics, correction errors cannot be ignored with only two parameters such as gain and offset. High precision uniformity cannot be obtained.

また、特許文献3に開示された補正技術においても、上記同様、ゲイン及びオフセットという2パラメータだけでは、補正誤差が無視できず、表示画像において高精度な均一性が得られない。   Further, in the correction technique disclosed in Patent Document 3, as described above, the correction error cannot be ignored only with the two parameters of gain and offset, and high-precision uniformity cannot be obtained in the display image.

さらに、駆動トランジスタの閾値電圧以下の低駆動電圧の範囲は、駆動トランジスタの弱反転領域となる。ここで、駆動トランジスタにおける弱反転領域とは、中階調域及び高階調域における強反転領域の非線形特性の理論式が成り立たない低階調域に相当する。よって、低階調域では、信号電圧−輝度特性が中階調域及び高階調域とは異なる非線形特性を示す。これにより、例えば、補正ゲイン及び補正オフセットが、中階調域及び高階調域における理論式を基に決定された場合、低階調域での画素間の特性ばらつきが大きくなる。つまり、上述した2つ以下のパラメータからなるゲイン/オフセット法では、低階調または高階調での補正誤差が大きくなるという課題がある。   Further, the low drive voltage range below the threshold voltage of the drive transistor is a weak inversion region of the drive transistor. Here, the weak inversion region in the driving transistor corresponds to a low gradation region in which the theoretical formula of the nonlinear characteristics of the strong inversion region in the middle gradation region and the high gradation region is not satisfied. Therefore, in the low gradation range, the signal voltage-luminance characteristics exhibit nonlinear characteristics different from those in the middle gradation range and the high gradation range. Thereby, for example, when the correction gain and the correction offset are determined based on the theoretical formulas in the middle gradation region and the high gradation region, the characteristic variation between the pixels in the low gradation region becomes large. That is, the above-described gain / offset method including two or less parameters has a problem that a correction error at a low gradation or a high gradation becomes large.

本発明は、上述した課題に鑑みてなされたものであり、駆動トランジスタの特性ばらつきの補正誤差を全階調にわたり低減して輝度ムラを抑制する表示装置の製造方法及び表示装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and provides a display device manufacturing method and a display device that reduce luminance correction correction errors over all gradations and suppress luminance unevenness. Objective.

上記課題を解決するために、本発明の一態様に係る表示装置の製造方法は、発光素子と前記発光素子の輝度を反映する電流の供給を入力電圧により制御する駆動素子とを含む画素を複数含む表示パネルに共通する代表電圧−輝度特性を表す関数を取得する第1ステップと、前記代表電圧−輝度特性の中階調域に属する1階調に対応する第1信号電圧を前記複数の画素の各々に含まれる前記駆動素子に印加し、前記複数の画素から発光される輝度を測定装置により測定する第2ステップと、前記代表電圧−輝度特性から得られる輝度が、補正対象の画素である対象画素を前記第1信号電圧で発光させたときの輝度となる場合の第1基準電圧を求め、前記第1信号電圧を前記第1基準電圧にするための第1の補正パラメータを前記対象画素について求める第3ステップと、前記代表電圧−輝度特性の、前記中階調域よりも階調が低い低階調域に属する1階調に対応する第2信号電圧を、前記対象画素に含まれる駆動素子に印加し、前記対象画素から発光される輝度を前記測定装置により測定する第4ステップと、前記対象画素を前記第2信号電圧で発光させたときの輝度が、前記第2信号電圧に前記第1の補正パラメータが加算された第1補正電圧を前記関数に入力した場合に得られる第1基準輝度となるような係数である第2の補正パラメータを前記対象画素について求める第5ステップと、前記代表電圧−輝度特性の、前記中階調域よりも階調が高い高階調域に属する1階調に対応する第3信号電圧を、前記対象画素に含まれる駆動素子に印加し、前記対象画素から発光される輝度を前記測定装置により測定する第6ステップと、前記対象画素を前記第3信号電圧で発光させたときの輝度が、前記第3信号電圧に前記第1の補正パラメータが加算された第2補正電圧を前記関数に入力した場合に得られる第2基準輝度となるような係数である第3の補正パラメータを前記対象画素について求める第7ステップと、を含むことを特徴とする。   In order to solve the above problems, a method for manufacturing a display device according to one embodiment of the present invention includes a plurality of pixels including a light-emitting element and a driving element that controls supply of a current reflecting the luminance of the light-emitting element with an input voltage. A first step of obtaining a function representing a representative voltage-luminance characteristic common to a display panel including the first signal voltage corresponding to one gradation belonging to an intermediate gradation region of the representative voltage-luminance characteristic; And a luminance obtained from the representative voltage-luminance characteristics is a pixel to be corrected, in a second step of measuring the luminance emitted from the plurality of pixels by a measuring device and applying the luminance to the driving elements included in each of the pixels. A first reference voltage is obtained when the target pixel emits light with the first signal voltage, and a first correction parameter for setting the first signal voltage to the first reference voltage is determined as the target pixel. Last A third step of obtaining and driving the second pixel voltage corresponding to one gradation belonging to a low gradation area whose gradation is lower than the middle gradation area of the representative voltage-luminance characteristics included in the target pixel; A fourth step of measuring the luminance emitted from the target pixel by the measuring device by applying to the element, and the luminance when the target pixel is caused to emit light at the second signal voltage is the second signal voltage A fifth step of obtaining, for the target pixel, a second correction parameter that is a coefficient that provides a first reference luminance obtained when the first correction voltage to which the first correction parameter is added is input to the function; Applying a third signal voltage corresponding to one gradation belonging to a high gradation area having a gradation higher than the intermediate gradation area of the representative voltage-luminance characteristics to a driving element included in the target pixel; Luminance emitted from the pixel The sixth step of measuring by the measuring device, and the luminance when the target pixel is caused to emit light at the third signal voltage are the second correction voltage obtained by adding the first correction parameter to the third signal voltage. And a seventh step of obtaining a third correction parameter for the target pixel, which is a coefficient that provides a second reference luminance obtained when input to the function.

本発明に係る表示装置の製造方法によれば、少なくともオフセット、低階調域ゲイン及び高階調域ゲインからなる3つの補正パラメータにより駆動トランジスタの特性ばらつきを高精度に補正するので、全階調域にわたり輝度ムラが低減された表示装置を製造することが可能となる。   According to the manufacturing method of the display device according to the present invention, the characteristic variation of the driving transistor is corrected with high accuracy by at least three correction parameters including the offset, the low gradation area gain, and the high gradation area gain. Accordingly, it is possible to manufacture a display device in which luminance unevenness is reduced.

本発明の実施の形態1に係る有機EL表示装置及び有機EL表示装置製造装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the organic electroluminescence display which concerns on Embodiment 1 of this invention, and an organic electroluminescence display manufacturing apparatus. 実施の形態1に係る表示パネルの表示部が有する画素の回路構成及びその周辺回路との接続を示す図である。3 is a diagram illustrating a circuit configuration of a pixel included in a display unit of the display panel according to Embodiment 1 and a connection with peripheral circuits thereof. FIG. 実施の形態1に係る制御回路及び補正パラメータ決定装置の機能構成を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram illustrating a functional configuration of a control circuit and a correction parameter determination device according to the first embodiment. 実施の形態1に係る補正パラメータテーブルの一例を示す図である。6 is a diagram illustrating an example of a correction parameter table according to Embodiment 1. FIG. 実施の形態1に係る有機EL表示装置の補正原理を説明する電圧−輝度特性を表すグラフである。4 is a graph showing voltage-luminance characteristics for explaining a correction principle of the organic EL display device according to the first embodiment. 人間の視感度に応じた電圧−輝度特性を表すグラフである。It is a graph showing the voltage-luminance characteristic according to human visibility. 中階調域でオフセット、低階調域及び高階調域でゲインを補正する方式を説明する電圧−輝度特性を表す図である。It is a figure showing the voltage-luminance characteristic explaining the system which correct | amends an offset in a middle gradation area, and a gain in a low gradation area and a high gradation area. 低階調域でオフセット、中階調域及び高階調域でゲインを補正する方式を説明する電圧−輝度特性を表す図である。It is a figure showing the voltage-luminance characteristic explaining the system which correct | amends an offset in a low gradation area, and a gain in a middle gradation area and a high gradation area. 高階調域でオフセット、低階調域及び中階調域でゲインを補正する方式を説明する電圧−輝度特性を表す図である。It is a figure showing the voltage-luminance characteristic explaining the system which correct | amends an offset in a high gradation area | region, and a gain in a low gradation area | region and a middle gradation area | region. 実施の形態1に係る補正パラメータ決定装置が補正パラメータを決定する動作の一例を示すフローチャートである。5 is a flowchart illustrating an example of an operation in which a correction parameter determination device according to Embodiment 1 determines a correction parameter. 実施の形態1に係る補正パラメータ算出部が第1の補正パラメータを算出する処理の一例を示すフローチャートである。4 is a flowchart illustrating an example of processing in which a correction parameter calculation unit according to Embodiment 1 calculates a first correction parameter. 実施の形態1に係る補正パラメータ算出部が第2の補正パラメータを算出する処理を説明するための図である。FIG. 10 is a diagram for describing processing in which a correction parameter calculation unit according to Embodiment 1 calculates a second correction parameter. 実施の形態1に係る補正パラメータ算出部が第3の補正パラメータを算出する処理の一例を示すフローチャートである。10 is a flowchart illustrating an example of processing in which a correction parameter calculation unit according to Embodiment 1 calculates a third correction parameter. 本発明の実施の形態1に係る有機EL表示装置の補正プロセスを表すブロック図である。It is a block diagram showing the correction | amendment process of the organic electroluminescence display which concerns on Embodiment 1 of this invention. 実施の形態2に係る有機EL表示装置の補正原理を説明する電圧−輝度特性を表すグラフである。6 is a graph showing voltage-luminance characteristics for explaining the correction principle of the organic EL display device according to the second embodiment. 本発明の実施の形態2に係る有機EL表示装置の補正プロセスを表すブロック図である。It is a block diagram showing the correction | amendment process of the organic electroluminescence display which concerns on Embodiment 2 of this invention. 本発明の有機EL表示装置が有する駆動トランジスタの閾値電圧を定義するためのグラフである。It is a graph for defining the threshold voltage of the drive transistor which the organic electroluminescence display of this invention has. 本発明に係る有機EL表示装置の製造方法により製造される有機EL表示装置を内蔵した薄型フラットTVの外観図である。1 is an external view of a thin flat TV incorporating an organic EL display device manufactured by a method for manufacturing an organic EL display device according to the present invention.

上記課題を解決するために、本発明の一態様に係る表示装置の製造方法は、発光素子と前記発光素子の輝度を反映する電流の供給を入力電圧により制御する駆動素子とを含む画素を複数含む表示パネルに共通する代表電圧−輝度特性を表す関数を取得する第1ステップと、前記代表電圧−輝度特性の中階調域に属する1階調に対応する第1信号電圧(V1)を前記複数の画素の各々に含まれる前記駆動素子に印加し、前記複数の画素から発光される輝度を測定装置により測定する第2ステップと、前記代表電圧−輝度特性から得られる輝度が、補正対象の画素である対象画素を前記第1信号電圧(V1)で発光させたときの輝度(LM1)となる場合の第1基準電圧(Vr1)を求め、前記第1信号電圧(V1)を前記第1基準電圧(Vr1)にするための第1の補正パラメータ(OFS)を前記対象画素について求める第3ステップと、前記代表電圧−輝度特性の、前記中階調域よりも階調が低い低階調域に属する1階調に対応する第2信号電圧(V2)を、前記対象画素に含まれる駆動素子に印加し、前記対象画素から発光される輝度(LL1)を前記測定装置により測定する第4ステップと、前記対象画素を前記第2信号電圧で発光させたときの輝度(LL1)が、前記第2信号電圧に前記第1の補正パラメータが加算された第1補正電圧(Vc1)を前記関数に入力した場合に得られる第1基準輝度(LLB)となるような係数である第2の補正パラメータ(G)を前記対象画素について求める第5ステップと、前記代表電圧−輝度特性の、前記中階調域よりも階調が高い高階調域に属する1階調に対応する第3信号電圧(V3)を、前記対象画素に含まれる駆動素子に印加し、前記対象画素から発光される輝度(LH1)を前記測定装置により測定する第6ステップと、前記対象画素を前記第3信号電圧で発光させたときの輝度(LH1)が、前記第3信号電圧に前記第1の補正パラメータが加算された第2補正電圧(Vc2)を、前記関数に入力した場合に得られる第2基準輝度(LHB)となるような係数である第3の補正パラメータ(G)を前記対象画素について求める第7ステップと、を含むことを特徴とする。 In order to solve the above problems, a method for manufacturing a display device according to one embodiment of the present invention includes a plurality of pixels including a light-emitting element and a driving element that controls supply of a current reflecting the luminance of the light-emitting element with an input voltage. A first step of obtaining a function representing a representative voltage-luminance characteristic common to the display panel including the first signal voltage (V1) corresponding to one gradation belonging to the middle gradation region of the representative voltage-luminance characteristic; A second step of measuring the luminance emitted from the plurality of pixels by a measuring device, applied to the driving elements included in each of the plurality of pixels, and the luminance obtained from the representative voltage-luminance characteristics A first reference voltage (Vr1) is obtained when the target pixel, which is a pixel, emits light with the first signal voltage (V1) and has a luminance (LM1), and the first signal voltage (V1) is determined as the first signal voltage (V1). Reference voltage (Vr1 A third step for obtaining a first correction parameter (OFS) for the target pixel, and a first floor belonging to a low gradation region having a gradation lower than the middle gradation region of the representative voltage-luminance characteristics A fourth step of applying a second signal voltage (V2) corresponding to a tone to a driving element included in the target pixel and measuring a luminance (LL1) emitted from the target pixel by the measuring device; and the target When the luminance (LL1) when the pixel is caused to emit light at the second signal voltage is input to the function, the first correction voltage (Vc1) obtained by adding the first correction parameter to the second signal voltage is input to the function. A fifth step of obtaining a second correction parameter (G L ), which is a coefficient so as to obtain the first reference luminance (LLB), for the target pixel, and the representative voltage-luminance characteristics from the middle gradation range Also has high gradation A third signal voltage (V3) corresponding to one gradation belonging to a high gradation region is applied to the drive element included in the target pixel, and the luminance (LH1) emitted from the target pixel is measured by the measurement device. And a second correction voltage (Vc2) obtained by adding the first correction parameter to the third signal voltage when the target pixel emits light with the third signal voltage (LH1). Including a seventh correction parameter ( GH ), which is a coefficient that becomes a second reference luminance (LHB) obtained when the function is input to the function, for the target pixel. And

本態様によると、中階調域における電圧−輝度特性を基準として全階調における画素信号電圧をオフセットにより補正し、高階調域の画素信号電圧(VinH)を高階調域用のゲイン(Gain2)で補正し、低階調域の画素信号電圧(VinL)を低階調域用のゲイン(Gain1)で補正することが可能となる。よって、特に、補正困難であった低階調域の補正誤差を低減することができ、結果的に全階調にわたり高精度な画素信号電圧の補正をすることが可能となる。よって、上記表示装置の製造方法により製造された表示装置は、全階調にわたり高精度に輝度ムラが低減された画像を表示することが可能となる。   According to this aspect, the pixel signal voltage in all gradations is corrected by offset based on the voltage-luminance characteristics in the middle gradation range, and the pixel signal voltage (VinH) in the high gradation range is gained for the high gradation range (Gain 2). Thus, the pixel signal voltage (VinL) in the low gradation region can be corrected with the gain (Gain1) for the low gradation region. Therefore, it is possible to reduce the correction error in the low gradation region, which is particularly difficult to correct, and as a result, it is possible to correct the pixel signal voltage with high accuracy over all gradations. Therefore, the display device manufactured by the method for manufacturing the display device can display an image with reduced luminance unevenness with high accuracy over all gradations.

また、前記第1の補正パラメータ(OFS)は、前記第1信号電圧(V1)と前記第1基準電圧(Vr1)との差を示したオフセット電圧であり、前記第5ステップでは、前記対象画素を前記第2信号電圧(V2)で発光させたときの輝度(LL1)を前記関数に入力した場合に得られる第2基準電圧(VinL)を演算にて求め、前記第2の補正パラメータ(G)は、前記第1補正電圧及び前記第1基準電圧の電圧差(Vc1−Vr1)と、前記第2基準電圧及び前記第1基準電圧の電圧差(VinL−Vr1)との比を示したゲインであり、前記第7ステップでは、前記対象画素を前記第3信号電圧(V3)で発光させたときの輝度(LH1)を前記関数に入力した場合に得られる第3基準電圧(VinH)を演算にて求め、前記第3の補正パラメータ(G)は、前記第2補正電圧及び前記第1基準電圧の電圧差(Vc2−Vr1)と、前記第3基準電圧及び前記第1基準電圧の電圧差(VinH−Vr1)との比を示したゲインであってもよい。 The first correction parameter (OFS) is an offset voltage indicating a difference between the first signal voltage (V1) and the first reference voltage (Vr1). In the fifth step, the target pixel The second reference voltage (VinL) obtained when the luminance (LL1) when light is emitted with the second signal voltage (V2) is input to the function is obtained by calculation, and the second correction parameter (G L ) represents the ratio between the voltage difference (Vc1−Vr1) between the first correction voltage and the first reference voltage and the voltage difference (VinL−Vr1) between the second reference voltage and the first reference voltage. Gain, and in the seventh step, a third reference voltage (VinH) obtained when luminance (LH1) when the target pixel is caused to emit light at the third signal voltage (V3) is input to the function. Obtained by calculation, Correction parameters (G H), the voltage difference between the second correction voltage and said first reference voltage and (Vc2-Vr1), the voltage difference between the third reference voltage and the first reference voltage and (VinH-Vr1) It may be a gain indicating the ratio of.

本態様によると、測定した対象画素の輝度値と代表電圧−輝度とにより、第1〜第3の補正パラメータを電圧差(V1−Vr1)及び電圧比(VD1/VDL、VD2/VDH)で算出することが可能となる。よって、各補正パラメータを算出するにあたり、対象画素についての1回のみの輝度測定をすればよく、あとは演算により算出できるので、本装置の製造プロセスを短縮できる。   According to this aspect, the first to third correction parameters are calculated by the voltage difference (V1-Vr1) and the voltage ratio (VD1 / VDL, VD2 / VDH) based on the measured luminance value of the target pixel and the representative voltage-luminance. It becomes possible to do. Therefore, in calculating each correction parameter, it is only necessary to measure the luminance of the target pixel only once, and the calculation can be performed thereafter, so that the manufacturing process of the apparatus can be shortened.

また、前記第1信号電圧(V1)は、前記駆動素子が動作する弱反転領域と強反転領域との境界における前記駆動素子のゲート−ソース間電圧であることが好ましい。   The first signal voltage (V1) is preferably a gate-source voltage of the driving element at a boundary between a weak inversion region and a strong inversion region where the driving element operates.

本態様によると、駆動トランジスタの強反転領域と弱反転領域とで異なる電圧−輝度特性のカーブ形状の変化にも対応した補正が可能となる。   According to this aspect, it is possible to perform correction corresponding to a change in the curve shape of the voltage-luminance characteristic that is different between the strong inversion region and the weak inversion region of the driving transistor.

また、前記駆動素子の閾値電圧(Vth)は、前記中階調域に属する階調に対応する前記駆動素子のゲート−ソース間電圧であることが好ましい。   Further, the threshold voltage (Vth) of the driving element is preferably a gate-source voltage of the driving element corresponding to a gray level belonging to the middle gray level region.

駆動トランジスタにおいて、ゲート−ソース間電圧が閾値電圧付近において、強反転領域と弱反転領域との境界が存在する。本態様によれば、第1の補正パラメータであるオフセット電圧(OFS)を、上記閾値電圧(Vth)付近で算出することにより、強反転領域と弱反転領域とで異なる電圧−輝度特性のカーブ形状の変化にも対応した補正が可能となる。   In the drive transistor, there is a boundary between the strong inversion region and the weak inversion region when the gate-source voltage is in the vicinity of the threshold voltage. According to this aspect, the offset voltage (OFS) that is the first correction parameter is calculated in the vicinity of the threshold voltage (Vth), so that the curve shape of the voltage-luminance characteristic that is different between the strong inversion region and the weak inversion region. The correction corresponding to the change of can be made.

また、前記第2信号電圧(V2)は、各画素で表示可能な最大階調の0%以上10%以下の階調に対応する電圧であることが好ましい。   The second signal voltage (V2) is preferably a voltage corresponding to a gray scale of 0% to 10% of the maximum gray scale that can be displayed in each pixel.

本態様によると、低階調域に属する1階調に対応する第2信号電圧(V2)として、最大階調の0%以上10%以下の階調域に属する1階調に対応する電圧を印加する。これにより、人間の視感度に合った低階調域にて第2の補正パラメータを算出することができる。   According to this aspect, as the second signal voltage (V2) corresponding to one gradation belonging to the low gradation area, the voltage corresponding to one gradation belonging to the gradation area of 0% to 10% of the maximum gradation is obtained. Apply. As a result, the second correction parameter can be calculated in a low gradation range suitable for human visibility.

また、前記第3信号電圧(V3)は、各画素で表示可能な最大階調の20%以上100%以下の階調に対応する電圧であることが好ましい。   The third signal voltage (V3) is preferably a voltage corresponding to a gradation of 20% to 100% of the maximum gradation that can be displayed in each pixel.

本態様によると、高階調域に属する1階調に対応する第3信号電圧(V3)として、最大階調の20%以上100%以下の階調域に属する1階調に対応する電圧を印加する。これにより、人間の視感度に合った高階調域にて第3の補正パラメータを算出することができる。   According to this aspect, as the third signal voltage (V3) corresponding to one gradation belonging to the high gradation range, a voltage corresponding to one gradation belonging to the gradation range of 20% to 100% of the maximum gradation is applied. To do. As a result, the third correction parameter can be calculated in a high gradation range suitable for human visibility.

また、前記代表電圧−輝度特性は、前記表示パネルに含まれる複数の画素のうちの任意の一画素についての電圧−輝度特性であってもよい。   The representative voltage-luminance characteristic may be a voltage-luminance characteristic for any one of a plurality of pixels included in the display panel.

本態様によると、代表電圧−輝度特性を、表示パネルに含まれる複数の画素のうちの任意の一画素についての電圧−輝度特性としてもよい。これにより、容易に、代表電圧−輝度特性を表す関数を取得することができる。   According to this aspect, the representative voltage-luminance characteristics may be the voltage-luminance characteristics for any one of a plurality of pixels included in the display panel. Thereby, it is possible to easily obtain a function representing the representative voltage-luminance characteristics.

また、前記代表電圧−輝度特性は、前記複数の画素を含む表示パネル全体に共通して設定される特性であって、前記表示パネルに含まれる各画素の電圧−輝度特性を平均化した特性であってもよい。   The representative voltage-luminance characteristic is a characteristic that is commonly set for the entire display panel including the plurality of pixels, and is an averaged voltage-luminance characteristic of each pixel included in the display panel. There may be.

本態様によると、代表電圧−輝度特性は、複数の画素を含む表示パネル全体に共通して設定され、表示パネルに含まれる各画素の電圧−輝度特性を平均化して求められる。これにより、表示パネルに含まれる各画素の輝度が、表示パネル全体に共通する代表電圧−輝度特性となるように第1〜第3の補正パラメータを求めるので、これらの補正パラメータを用いて映像信号を補正した場合、各画素から発光される光の輝度ムラを低減できる。   According to this aspect, the representative voltage-luminance characteristics are set in common for the entire display panel including a plurality of pixels, and are obtained by averaging the voltage-luminance characteristics of each pixel included in the display panel. Accordingly, the first to third correction parameters are obtained so that the luminance of each pixel included in the display panel has a representative voltage-luminance characteristic common to the entire display panel. Therefore, the video signal is obtained using these correction parameters. Is corrected, it is possible to reduce unevenness in luminance of light emitted from each pixel.

また、前記画素に含まれる発光素子は、赤色、緑色及び青色のいずれかの色を発光し、前記第3ステップでは、前記赤色、緑色及び青色の各色について前記第1の補正パラメータを求め、前記第5ステップでは、前記赤色、緑色及び青色の各色について前記第2の補正パラメータを求め、前記第7ステップでは、前記赤色、緑色及び青色の各色について前記第3の補正パラメータを求めることが好ましい。   The light emitting element included in the pixel emits one of red, green, and blue, and in the third step, the first correction parameter is obtained for each of the red, green, and blue colors, Preferably, in the fifth step, the second correction parameter is obtained for each of the red, green, and blue colors, and in the seventh step, the third correction parameter is obtained for each of the red, green, and blue colors.

本態様によると、赤色、緑色及び青色の各色について第1〜第3の補正パラメータを求めるものである。これにより、赤色、緑色及び青色の各色について、輝度ムラを低減することができる。   According to this aspect, the first to third correction parameters are obtained for each color of red, green, and blue. Thereby, brightness unevenness can be reduced for each of red, green, and blue colors.

また、さらに、前記第3ステップで求められた前記第1の補正パラメータ、前記第5ステップで求められた前記第2の補正パラメータ及び前記第7ステップで求められた前記第3の補正パラメータを、前記表示パネルに用いられる所定のメモリに書き込む第8ステップを含むことが好ましい。   Further, the first correction parameter obtained in the third step, the second correction parameter obtained in the fifth step, and the third correction parameter obtained in the seventh step, It is preferable to include an eighth step of writing in a predetermined memory used for the display panel.

本態様によると、求められた第1〜第3の補正パラメータを、表示パネルに用いられる所定のメモリに書き込む。各画素に入力される映像信号を、この所定のメモリに格納された第1〜第3の補正パラメータを用いて補正することで、低階調域を含む全階調の補正精度を高めることができる。その結果、人間の目で認識される表示パネルの輝度ムラを低減することができる。   According to this aspect, the obtained first to third correction parameters are written in a predetermined memory used for the display panel. By correcting the video signal input to each pixel using the first to third correction parameters stored in the predetermined memory, the correction accuracy of all gradations including the low gradation region can be improved. it can. As a result, luminance unevenness of the display panel recognized by human eyes can be reduced.

また、前記測定装置はイメージセンサであってもよい。   The measuring device may be an image sensor.

本態様によると、対象画素に所定電圧を印加して輝度測定するにあたり、1回の撮像により、全対象画素の当該所定電圧印加時の輝度を高精度で測定することができる。よって、表示パネルの輝度ムラを解消すべく、全画素についての第1〜第3の補正パラメータを取得するための本装置の製造プロセスを短縮することが可能となる。   According to this aspect, when measuring the luminance by applying a predetermined voltage to the target pixel, the luminance when the predetermined voltage is applied to all the target pixels can be measured with high accuracy by one imaging. Therefore, it is possible to shorten the manufacturing process of this apparatus for obtaining the first to third correction parameters for all the pixels in order to eliminate the luminance unevenness of the display panel.

なお、本発明は、このような表示装置の製造方法として実現することができるだけでなく、その表示装置の製造方法を用いて製造された表示装置としても実現することができる。また、その表示装置の製造方法を実現する表示装置製造装置や、その表示装置製造装置に含まれる処理部が行う処理を実行させるプログラム、そのプログラムを格納する記憶媒体としても実現することができる。さらに、その表示装置の製造方法に含まれる補正パラメータの決定方法や、その補正パラメータの決定方法を実現する補正パラメータ決定装置や、その補正パラメータ決定装置に含まれる処理部が行う処理を実行させるプログラム、そのプログラムを格納する記憶媒体としても実現することができる。   The present invention can be realized not only as a method for manufacturing such a display device but also as a display device manufactured using the method for manufacturing the display device. Further, the present invention can also be realized as a display device manufacturing apparatus that realizes the display device manufacturing method, a program that executes processing performed by a processing unit included in the display device manufacturing apparatus, and a storage medium that stores the program. Furthermore, a correction parameter determination method included in the display device manufacturing method, a correction parameter determination device that realizes the correction parameter determination method, and a program that executes processing performed by a processing unit included in the correction parameter determination device It can also be realized as a storage medium for storing the program.

以下、本発明の実施の形態について図面を用いて詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

(実施の形態1)
<装置構成>
図1は、本発明の実施の形態1に係る有機EL表示装置及び有機EL表示装置製造装置の構成を示すブロック図である。同図に示すように、有機EL表示装置1は、表示部21により映像を表示させる表示装置であり、制御回路10及び表示パネル20を備えている。
(Embodiment 1)
<Device configuration>
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an organic EL display device and an organic EL display device manufacturing apparatus according to Embodiment 1 of the present invention. As shown in FIG. 1, the organic EL display device 1 is a display device that displays an image on a display unit 21, and includes a control circuit 10 and a display panel 20.

制御回路10は、表示パネル20に表示するための映像信号を制御し、表示パネル20に映像を表示させる。制御回路10の詳細な説明については後述する。   The control circuit 10 controls a video signal to be displayed on the display panel 20 and displays a video on the display panel 20. Details of the control circuit 10 will be described later.

表示パネル20は、表示部21と、走査線駆動回路22と、データ線駆動回路23とを備え、走査線駆動回路22及びデータ線駆動回路23に入力される制御回路10からの信号に基づき、映像を表示部21に表示する。ここで、表示部21は、マトリクス状に配置された複数の画素100を備えている。なお、この表示パネル20の詳細な説明については後述する。   The display panel 20 includes a display unit 21, a scanning line driving circuit 22, and a data line driving circuit 23, and is based on signals from the control circuit 10 input to the scanning line driving circuit 22 and the data line driving circuit 23. The video is displayed on the display unit 21. Here, the display unit 21 includes a plurality of pixels 100 arranged in a matrix. The detailed description of the display panel 20 will be described later.

有機EL表示装置製造装置2は、表示パネル20の輝度ムラが低減された有機EL表示装置を製造する装置である。また、有機EL表示装置製造装置2は、補正パラメータ決定装置30と、測定装置40とを備える。   The organic EL display device manufacturing apparatus 2 is an apparatus that manufactures an organic EL display device in which luminance unevenness of the display panel 20 is reduced. The organic EL display device manufacturing apparatus 2 includes a correction parameter determination device 30 and a measurement device 40.

測定装置40は、表示部21が有する複数の画素100から発光される光の輝度を測定する測定装置である。具体的には、測定装置40は、CCD(Charge Coupled Device)イメージセンサなどのイメージセンサであり、1回の撮像で、表示部21が有する全ての画素100の所定電圧印加時の輝度を高精度で測定することが可能である。よって、表示パネル20の輝度ムラを解消すべく、全画素についての補正パラメータを取得するための本装置の製造プロセスを短縮することが可能となる。なお、測定装置40は、イメージセンサに限定されず、画素100の輝度を測定することができるのであればどのような測定装置であってもよい。   The measuring device 40 is a measuring device that measures the luminance of light emitted from the plurality of pixels 100 included in the display unit 21. Specifically, the measurement device 40 is an image sensor such as a CCD (Charge Coupled Device) image sensor, and the brightness when a predetermined voltage is applied to all the pixels 100 included in the display unit 21 with high accuracy is obtained by one imaging. It is possible to measure with. Therefore, in order to eliminate the luminance unevenness of the display panel 20, it is possible to shorten the manufacturing process of this apparatus for acquiring correction parameters for all pixels. The measuring device 40 is not limited to an image sensor, and any measuring device may be used as long as it can measure the luminance of the pixel 100.

補正パラメータ決定装置30は、測定装置40が測定した各画素100の輝度に基づき、表示部21が有する複数の画素100の輝度を均一化するための補正パラメータを決定する装置である。また、補正パラメータ決定装置30は、決定した補正パラメータを有機EL表示装置1の制御回路10に出力する。この補正パラメータ決定装置30の詳細な説明については後述する。   The correction parameter determination device 30 is a device that determines a correction parameter for making the luminance of the plurality of pixels 100 included in the display unit 21 uniform based on the luminance of each pixel 100 measured by the measurement device 40. Further, the correction parameter determination device 30 outputs the determined correction parameter to the control circuit 10 of the organic EL display device 1. A detailed description of the correction parameter determination device 30 will be described later.

次に、表示パネル20の詳細な構成について説明する。   Next, a detailed configuration of the display panel 20 will be described.

図2は、本実施の形態1に係る表示パネルの表示部が有する画素の回路構成及びその周辺回路との接続を示す図である。   FIG. 2 is a diagram illustrating a circuit configuration of a pixel included in the display unit of the display panel according to the first embodiment and a connection with peripheral circuits thereof.

画素100は、表示部21が有する一画素であり、データ線を介して供給された信号電圧により発光する機能を有する。同図に示すように、画素100は、発光素子110と、駆動トランジスタ120と、選択トランジスタ130と、保持容量140と、走査線24と、データ線25と、電源線151とを備える。   The pixel 100 is one pixel included in the display unit 21 and has a function of emitting light by a signal voltage supplied via a data line. As shown in the figure, the pixel 100 includes a light emitting element 110, a driving transistor 120, a selection transistor 130, a storage capacitor 140, a scanning line 24, a data line 25, and a power supply line 151.

また、画素100の周辺回路は、走査線駆動回路22及びデータ線駆動回路23の他に、電源150及び電源160を備えている。   The peripheral circuit of the pixel 100 includes a power supply 150 and a power supply 160 in addition to the scanning line driving circuit 22 and the data line driving circuit 23.

まず、画素100の内部回路構成について、図2を用いて説明する。   First, the internal circuit configuration of the pixel 100 will be described with reference to FIG.

発光素子110は、赤色、緑色及び青色のいずれかの色を発光する有機EL(エレクトロルミネッセンス)素子である。具体的には、発光素子110は、アノードが駆動トランジスタ120のソース及びドレインの一方に接続され、カソードが電源160に接続されている。発光素子110は、駆動トランジスタ120によって駆動された電流が流れることにより発光する機能を有する。つまり、電源線151によって発光素子110に電流が供給され、発光素子110が発光する。   The light emitting element 110 is an organic EL (electroluminescence) element that emits one of red, green, and blue colors. Specifically, the light emitting element 110 has an anode connected to one of a source and a drain of the driving transistor 120 and a cathode connected to the power source 160. The light emitting element 110 has a function of emitting light when a current driven by the driving transistor 120 flows. That is, current is supplied to the light emitting element 110 through the power supply line 151, and the light emitting element 110 emits light.

駆動トランジスタ120は、発光素子110への電流の供給を制御する電圧駆動の駆動素子である。具体的には、駆動トランジスタ120は、ゲートが選択トランジスタ130を介してデータ線25に接続され、ソース及びドレインの一方が発光素子110に接続され、ソース及びドレインの他方が電源150に接続されている。また、駆動トランジスタ120は、データ線25から供給された信号電圧を、その大きさに応じた信号電流に変換する機能を有する。   The drive transistor 120 is a voltage-driven drive element that controls supply of current to the light emitting element 110. Specifically, the driving transistor 120 has a gate connected to the data line 25 via the selection transistor 130, one of the source and the drain connected to the light emitting element 110, and the other of the source and the drain connected to the power source 150. Yes. The drive transistor 120 has a function of converting the signal voltage supplied from the data line 25 into a signal current corresponding to the magnitude thereof.

なお、図2では、駆動トランジスタ120としてn型トランジスタを図示しているが、駆動トランジスタ120はn型トランジスタに限定されず、p型トランジスタであってもよい。   In FIG. 2, an n-type transistor is illustrated as the drive transistor 120, but the drive transistor 120 is not limited to an n-type transistor, and may be a p-type transistor.

選択トランジスタ130は、ゲートが走査線24に接続され、ソース及びドレインの一方がデータ線25に接続され、ソース及びドレインの他方が駆動トランジスタ120のゲートに接続されている。選択トランジスタ130は、データ線25と駆動トランジスタ120のゲートとの導通及び非導通を切り換える。つまり、選択トランジスタ130は、画素100に対しデータ線25からの信号電圧を、走査線24がハイレベルの期間に供給する機能を有する。   The selection transistor 130 has a gate connected to the scanning line 24, one of the source and the drain connected to the data line 25, and the other of the source and the drain connected to the gate of the driving transistor 120. The selection transistor 130 switches between conduction and non-conduction between the data line 25 and the gate of the driving transistor 120. That is, the selection transistor 130 has a function of supplying the signal voltage from the data line 25 to the pixel 100 during a period in which the scanning line 24 is at a high level.

保持容量140は、電荷を蓄積するコンデンサである。保持容量140は、駆動トランジスタ120のソース及びドレインの一方と駆動トランジスタ120のゲートとの間に接続されている。つまり、保持容量140に蓄積された電荷に応じた信号電流が、駆動トランジスタ120によって、電源線151から発光素子110に流される。   The storage capacitor 140 is a capacitor that accumulates charges. The storage capacitor 140 is connected between one of the source and drain of the drive transistor 120 and the gate of the drive transistor 120. That is, a signal current corresponding to the charge accumulated in the storage capacitor 140 is caused to flow from the power supply line 151 to the light emitting element 110 by the driving transistor 120.

電源150は、駆動トランジスタ120の定電圧源であり、例えば、10Vに設定されている。電源160は、発光素子110の定電圧源であり、例えば、接地されている。本実施の形態の場合、電源150の電位は、電源160の電位よりも高く設定されている。   The power supply 150 is a constant voltage source for the drive transistor 120 and is set to 10 V, for example. The power supply 160 is a constant voltage source of the light emitting element 110, and is grounded, for example. In the present embodiment, the potential of the power source 150 is set higher than the potential of the power source 160.

走査線駆動回路22は、画素行ごとに配置された各々の走査線24に走査信号を供給する。つまり、走査線駆動回路22は、複数の画素100の各々に走査信号を供給するための複数の走査線24に接続されており、画素100の選択トランジスタ130の導通を制御する機能を有する。   The scanning line driving circuit 22 supplies a scanning signal to each scanning line 24 arranged for each pixel row. That is, the scanning line driving circuit 22 is connected to a plurality of scanning lines 24 for supplying a scanning signal to each of the plurality of pixels 100 and has a function of controlling conduction of the selection transistor 130 of the pixel 100.

データ線駆動回路23は、画素列ごとに配置された各々のデータ線25に信号電圧を供給する。つまり、データ線駆動回路23は、複数の画素100の各々に信号電圧を供給するための複数のデータ線25に接続されており、駆動トランジスタ120に流れる信号電流を決定する機能を有する。   The data line driving circuit 23 supplies a signal voltage to each data line 25 arranged for each pixel column. That is, the data line driving circuit 23 is connected to a plurality of data lines 25 for supplying a signal voltage to each of the plurality of pixels 100 and has a function of determining a signal current flowing through the driving transistor 120.

次に、制御回路10及び補正パラメータ決定装置30の詳細な構成について説明する。   Next, detailed configurations of the control circuit 10 and the correction parameter determination device 30 will be described.

図3は、実施の形態1に係る制御回路及び補正パラメータ決定装置の機能構成を示すブロック図である。   FIG. 3 is a block diagram illustrating a functional configuration of the control circuit and the correction parameter determination device according to the first embodiment.

同図に示すように、補正パラメータ決定装置30は、輝度を補正するためのパラメータを決定する装置であり、測定制御部31と補正パラメータ算出部32とを備える。   As shown in the figure, the correction parameter determination device 30 is a device that determines a parameter for correcting the luminance, and includes a measurement control unit 31 and a correction parameter calculation unit 32.

測定制御部31は、表示パネル20に含まれる複数の画素100から発光される光の輝度を、測定装置40を用いて測定する処理部である。   The measurement control unit 31 is a processing unit that measures the luminance of light emitted from the plurality of pixels 100 included in the display panel 20 using the measurement device 40.

具体的には、測定制御部31は、まず、表示パネル20に共通する代表電圧−輝度特性を表す関数を取得する。ここで、代表電圧−輝度特性は、輝度を均一化するための基準となる電圧−輝度特性である。また、電圧−輝度特性を表す関数とは、データ線から駆動トランジスタ120のゲートに供給される信号電圧と、所定の画素100からの発光輝度との関係を表す関数である。なお、代表電圧−輝度特性を表す関数は、測定等により予め定められている。   Specifically, the measurement control unit 31 first obtains a function representing a representative voltage-luminance characteristic common to the display panel 20. Here, the representative voltage-luminance characteristic is a voltage-luminance characteristic that is a reference for making the luminance uniform. The function representing the voltage-luminance characteristic is a function representing the relationship between the signal voltage supplied from the data line to the gate of the driving transistor 120 and the light emission luminance from the predetermined pixel 100. A function representing the representative voltage-luminance characteristic is determined in advance by measurement or the like.

また、測定制御部31は、制御回路10に、表示パネル20に含まれる複数の画素100を発光させ、当該複数の画素100からの発光輝度を、測定装置40に測定させることで、当該発光輝度を取得する。   In addition, the measurement control unit 31 causes the control circuit 10 to emit light from the plurality of pixels 100 included in the display panel 20 and causes the measurement device 40 to measure the light emission luminance from the plurality of pixels 100, whereby the light emission luminance. To get.

具体的には、測定制御部31は、当該代表電圧−輝度特性の中階調域に属する1階調に対応する第1信号電圧を、複数の画素100の各々が有する駆動トランジスタ120に印加し、複数の画素100からの発光輝度を、測定装置40を用いて測定することで、画素ごとの当該発光輝度を取得する。   Specifically, the measurement control unit 31 applies a first signal voltage corresponding to one gradation belonging to the middle gradation range of the representative voltage-luminance characteristic to the driving transistor 120 included in each of the plurality of pixels 100. By measuring the light emission luminance from the plurality of pixels 100 using the measuring device 40, the light emission luminance for each pixel is acquired.

また、測定制御部31は、補正パラメータを算出する対象の画素である対象画素に含まれる駆動トランジスタ120に、補正パラメータ算出部32が算出する第2信号電圧を印加し、当該対象画素からの発光輝度を、測定装置40を用いて測定することで、画素ごとの当該発光輝度を取得する。   Further, the measurement control unit 31 applies the second signal voltage calculated by the correction parameter calculation unit 32 to the drive transistor 120 included in the target pixel that is the target pixel for calculating the correction parameter, and emits light from the target pixel. By measuring the luminance using the measuring device 40, the emission luminance for each pixel is acquired.

また、測定制御部31は、対象画素に含まれる駆動トランジスタ120に、補正パラメータ算出部32が算出する第3信号電圧を印加し、当該対象画素からの発光輝度を、測定装置40を用いて測定することで、画素ごとの当該発光輝度を取得する。   In addition, the measurement control unit 31 applies the third signal voltage calculated by the correction parameter calculation unit 32 to the drive transistor 120 included in the target pixel, and measures the emission luminance from the target pixel using the measurement device 40. As a result, the emission luminance of each pixel is acquired.

補正パラメータ算出部32は、測定制御部31が取得した対象画素ごとの発光輝度と代表電圧−輝度特性を表す関数とを用いて、対象画素について第1の補正パラメータ、第2の補正パラメータ及び第3の補正パラメータを算出し、制御回路10に対し算出した第1〜第3の補正パラメータを出力する。そして、補正パラメータ算出部32は、有機EL表示装置1の記憶部13に、上記第1〜第3の補正パラメータを記憶させる。   The correction parameter calculation unit 32 uses the light emission luminance for each target pixel acquired by the measurement control unit 31 and a function representing the representative voltage-luminance characteristics, and uses the first correction parameter, the second correction parameter, and the second correction parameter for the target pixel. 3 correction parameters are calculated, and the calculated first to third correction parameters are output to the control circuit 10. The correction parameter calculation unit 32 stores the first to third correction parameters in the storage unit 13 of the organic EL display device 1.

具体的には、補正パラメータ算出部32は、代表電圧−輝度特性から得られる輝度が対象画素を第1信号電圧(図5のV1)で発光させたときの輝度となる場合の第1基準電圧(図5のVr1)を求め、第1信号電圧(V1)を第1基準電圧(Vr1)にするための第1の補正パラメータ(図5のOFS)を当該対象画素について求める。   Specifically, the correction parameter calculation unit 32 uses the first reference voltage when the luminance obtained from the representative voltage-luminance characteristics is the luminance when the target pixel emits light with the first signal voltage (V1 in FIG. 5). (Vr1 in FIG. 5) is obtained, and a first correction parameter (OFS in FIG. 5) for changing the first signal voltage (V1) to the first reference voltage (Vr1) is obtained for the target pixel.

なお、第1の補正パラメータ(OFS)は、第1信号電圧(V1)と第1基準電圧(Vr1)との差を示したオフセット電圧である。   The first correction parameter (OFS) is an offset voltage indicating the difference between the first signal voltage (V1) and the first reference voltage (Vr1).

また、補正パラメータ算出部32は、対象画素を代表電圧−輝度特性の低階調域に属する1階調に対応する第2信号電圧(V2)で発光させたときの輝度(LL1)を代表電圧−輝度特性を表す関数に入力した場合に得られる第2基準電圧(図5のVinL)を演算にて求め、第1補正電圧(Vc1)及び第1基準電圧(Vr1)の電圧差と第2基準電圧(VinL)及び第1基準電圧(Vr1)の電圧差との比を示したゲインを第2の補正パラメータ(Gain1)とする。   In addition, the correction parameter calculation unit 32 uses the luminance (LL1) when the target pixel emits light with the second signal voltage (V2) corresponding to one gradation belonging to the low gradation region of the representative voltage-luminance characteristics as the representative voltage. The second reference voltage (VinL in FIG. 5) obtained when input to the function representing the luminance characteristic is obtained by calculation, and the voltage difference between the first correction voltage (Vc1) and the first reference voltage (Vr1) and the second A gain indicating a ratio of the voltage difference between the reference voltage (VinL) and the first reference voltage (Vr1) is defined as a second correction parameter (Gain1).

また、補正パラメータ算出部32は、対象画素を代表電圧−輝度特性の高階調域に属する1階調に対応する第3信号電圧(V3)で発光させたときの輝度(LH1)を代表電圧−輝度特性を表す関数に入力した場合に得られる第3基準電圧(図5のVinH)を演算にて求め、第2補正電圧(Vc2)及び第1基準電圧(Vr1)の電圧差と第3基準電圧(VinH)及び第1基準電圧(Vr1)の電圧差との比を示したゲインを第3の補正パラメータ(Gain2)とする。   Further, the correction parameter calculation unit 32 represents the luminance (LH1) when the target pixel is caused to emit light with the third signal voltage (V3) corresponding to one gradation belonging to the high gradation region of the representative voltage-luminance characteristic. The third reference voltage (VinH in FIG. 5) obtained when input to the function representing the luminance characteristic is obtained by calculation, and the voltage difference between the second correction voltage (Vc2) and the first reference voltage (Vr1) and the third reference A gain indicating a ratio between the voltage (VinH) and the voltage difference between the first reference voltage (Vr1) is defined as a third correction parameter (Gain2).

また、補正パラメータ算出部32は、発光素子110が発光する赤色、緑色、及び青色の各色について、第1の補正パラメータ、第2の補正パラメータ及び第3の補正パラメータを求める。   Further, the correction parameter calculation unit 32 obtains a first correction parameter, a second correction parameter, and a third correction parameter for each of red, green, and blue colors emitted from the light emitting element 110.

制御回路10は、表示パネル20に映像を表示させるための処理部であり、制御部11と、補正部12と、記憶部13とを備える。   The control circuit 10 is a processing unit for displaying an image on the display panel 20, and includes a control unit 11, a correction unit 12, and a storage unit 13.

制御部11は、表示パネル20に信号を出力し、表示パネル20に映像を表示させる。具体的には、制御部11は、測定制御部31からの指示により、表示パネル20に含まれる複数の画素100を発光させる。また、制御部11は、補正パラメータ算出部32が算出した画素100ごとの第1の補正パラメータ、第2の補正パラメータ及び第3の補正パラメータを記憶部13に書き込む。   The control unit 11 outputs a signal to the display panel 20 to display an image on the display panel 20. Specifically, the control unit 11 causes the plurality of pixels 100 included in the display panel 20 to emit light according to an instruction from the measurement control unit 31. In addition, the control unit 11 writes the first correction parameter, the second correction parameter, and the third correction parameter for each pixel 100 calculated by the correction parameter calculation unit 32 in the storage unit 13.

記憶部13は、制御部11から入力される第1〜第3の補正パラメータを、複数の画素100ごとに格納する。具体的には、記憶部13は、画素100ごとの第1の補正パラメータ、第2の補正パラメータ及び第3の補正パラメータを含む補正パラメータテーブル13aを記憶している。   The storage unit 13 stores the first to third correction parameters input from the control unit 11 for each of the plurality of pixels 100. Specifically, the storage unit 13 stores a correction parameter table 13a including a first correction parameter, a second correction parameter, and a third correction parameter for each pixel 100.

図4は、実施の形態1に係る補正パラメータテーブルの一例を示す図である。   FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a correction parameter table according to the first embodiment.

同図に示されるように、補正パラメータテーブル13aは、画素ごとの第1〜第3の補正パラメータで構成される補正パラメータを含むデータテーブルである。   As shown in the figure, the correction parameter table 13a is a data table including correction parameters including first to third correction parameters for each pixel.

同図では、第1の補正パラメータはオフセットOS11〜オフセットOSmnで示され、第2の補正パラメータはゲインG11〜ゲインGmnで示され、第3の補正パラメータはゲインG11〜ゲインGmnで示されている。つまり、補正パラメータテーブル13aは、表示部21(m行×n列)のマトリクスに対応して、画素100ごとに(ゲインG、ゲインG、オフセットOS)で構成される補正パラメータを格納している。 In the figure, the first correction parameter is indicated by offset OS11 to offset OSmn, the second correction parameter is indicated by gain G L 11 to gain G L mn, and the third correction parameter is gain G H 11 to gain. It is shown as GH mn. That is, the correction parameter table 13a stores correction parameters configured by (gain G L , gain G H , offset OS) for each pixel 100 corresponding to the matrix of the display unit 21 (m rows × n columns). ing.

補正部12は、外部から入力された映像信号に対して記憶部13から複数の画素100の各々に対応する所定の補正パラメータを読み出して、複数の画素100の各々に対応する映像信号を補正する。そして、補正部12は、補正した映像信号を制御部11に出力し、制御部11は、この補正された映像信号を表示パネル20に出力することで、表示パネル20に映像を表示させる。   The correction unit 12 reads a predetermined correction parameter corresponding to each of the plurality of pixels 100 from the storage unit 13 with respect to the video signal input from the outside, and corrects the video signal corresponding to each of the plurality of pixels 100. . Then, the correction unit 12 outputs the corrected video signal to the control unit 11, and the control unit 11 outputs the corrected video signal to the display panel 20, thereby displaying the video on the display panel 20.

<補正原理及び補正パラメータ算出方法>
次に、本発明の実施の形態1に係る有機EL表示装置の補正原理を説明するにあたり、まず、本発明の有機EL表示装置及びその製造方法が解決する課題について説明する。
<Correction principle and correction parameter calculation method>
Next, in describing the correction principle of the organic EL display device according to the first embodiment of the present invention, first, problems to be solved by the organic EL display device and the manufacturing method thereof of the present invention will be described.

図5は、実施の形態1に係る有機EL表示装置の補正原理を説明する電圧−輝度特性を表すグラフである。同図に示されるように、代表電圧−輝度特性(図5では代表V−L特性)は、例えば、画素100から発光される光の輝度が、駆動トランジスタ120に供給される電圧の2乗に比例する曲線で示される特性となり、代表電圧−輝度特性に対応する信号電圧−ドレイン電流特性は、以下の式1で表される。   FIG. 5 is a graph showing voltage-luminance characteristics for explaining the correction principle of the organic EL display device according to the first embodiment. As shown in the figure, the representative voltage-luminance characteristic (representative VL characteristic in FIG. 5) is, for example, that the luminance of light emitted from the pixel 100 is the square of the voltage supplied to the drive transistor 120. The signal voltage-drain current characteristic corresponding to the representative voltage-luminance characteristic is expressed by the following equation (1).

Figure 2013222057
Figure 2013222057

ここで、Idは駆動トランジスタ120及び発光素子110を流れる信号電流、kは定数、μは駆動トランジスタ120の移動度、Vgsは駆動トランジスタ120のゲート−ソース間電圧、及び、Vthは駆動トランジスタ120の閾値電圧である。上記式1は、Vgs>Vthである強反転領域において適用される理論式である。式1、及び、発光素子110の輝度Lが信号電流Idに比例することから、輝度Lは、(Vgs−Vth)の2乗に比例することが解る。   Here, Id is a signal current flowing through the driving transistor 120 and the light emitting element 110, k is a constant, μ is the mobility of the driving transistor 120, Vgs is a gate-source voltage of the driving transistor 120, and Vth is the driving transistor 120. It is a threshold voltage. The above equation 1 is a theoretical equation applied in the strong inversion region where Vgs> Vth. Since Equation 1 and the luminance L of the light emitting element 110 are proportional to the signal current Id, it can be seen that the luminance L is proportional to the square of (Vgs−Vth).

また、対象画素においても、電圧−輝度特性に対応する電流−電圧特性が式1で表されると仮定した場合、対象画素の輝度Lは、閾値電圧Vth及び移動度μに依存することが解る。閾値電圧Vth及び移動度μは、駆動トランジスタを構成するTFT間でばらつくので、対象画素の電圧−輝度特性は画素ごとにばらつく。よって、補正しない状態で各画素に同じ信号電圧を印加した場合には、画素間で発光輝度がばらつくため輝度ムラが発生する。この輝度ムラを解消するためには、対象画素の電圧−輝度特性を代表電圧−輝度特性に一致させるような補正パラメータにより信号電圧を補正する必要がある。   Also, in the target pixel, when it is assumed that the current-voltage characteristic corresponding to the voltage-luminance characteristic is expressed by Equation 1, it can be seen that the luminance L of the target pixel depends on the threshold voltage Vth and the mobility μ. . Since the threshold voltage Vth and the mobility μ vary between TFTs constituting the driving transistor, the voltage-luminance characteristics of the target pixel vary from pixel to pixel. Therefore, when the same signal voltage is applied to each pixel without correction, luminance unevenness occurs because the emission luminance varies between the pixels. In order to eliminate this luminance unevenness, it is necessary to correct the signal voltage with a correction parameter that matches the voltage-luminance characteristic of the target pixel with the representative voltage-luminance characteristic.

従来の補正方法では、対象画素の電圧−輝度特性を代表電圧−輝度特性に一致させるべく、オフセット(電圧加算)及びゲイン(電圧乗算)という2つの補正パラメータを抽出して信号電圧を補正している。   In the conventional correction method, in order to make the voltage-luminance characteristic of the target pixel coincide with the representative voltage-luminance characteristic, two correction parameters such as offset (voltage addition) and gain (voltage multiplication) are extracted to correct the signal voltage. Yes.

図6は、人間の視感度に応じた電圧−ドレイン電流特性を表すグラフである。同図には、人間の目がLOG関数に近い感度を有していることから、ドレイン電流がLOG関数の曲線で示された、人間の視感度に応じた電圧−ドレイン電流特性が表されている。図6に表されたグラフより、人間の目は、高階調域では輝度ムラを認識し難く、中階調域及び低階調域では輝度ムラを認識し易いことが解る。このことから、人間の視感度に合わせて補正精度を高めるには、特に、中階調域及び低階調域の補正誤差を小さく設定しておくことが好ましい。   FIG. 6 is a graph showing voltage-drain current characteristics according to human visibility. In this figure, since the human eye has a sensitivity close to the LOG function, the drain current is indicated by a curve of the LOG function, and the voltage-drain current characteristic corresponding to the human visual sensitivity is represented. Yes. From the graph shown in FIG. 6, it can be seen that the human eye does not easily recognize luminance unevenness in the high gradation range, and easily recognizes luminance unevenness in the middle gradation range and the low gradation range. For this reason, in order to increase the correction accuracy in accordance with human visibility, it is particularly preferable to set correction errors in the middle gradation region and the low gradation region to be small.

しかしながら、例えば、閾値電圧Vth以下の低階調域では、上記式1の理論式が成り立たない弱反転領域が存在する。Vgs<Vthである弱反転領域の信号電圧−ドレイン電流特性は、以下の式2で表される。   However, for example, in the low gradation region below the threshold voltage Vth, there is a weak inversion region in which the theoretical formula of Equation 1 above does not hold. The signal voltage-drain current characteristic of the weak inversion region where Vgs <Vth is expressed by the following Expression 2.

Figure 2013222057
Figure 2013222057

ここで、W及びLはそれぞれ、駆動トランジスタ120のゲート幅及びゲート長、Bはボルツマン定数、Tは温度である。上記式1及び式2が一致しないことから、中階調域及び高階調域での電圧−輝度特性と、低階調域での電圧−輝度特性とは異なることが解る。このため、例えば、図5に記載された対象画素の電圧―輝度特性である画素V−L特性(細実線)に見られるように、高階調における特性カーブと低階調における特性カーブとが中階調域を境界にして異なることが想定される。これより、例えば式1で規定される代表V−L特性(太実線)のカーブと、画素V−L特性(実線)のカーブとが一致しない場合が想定される。この場合には、例えば、上記画素V−L特性を代表V−L特性に一致させる補正方法として、図5に記載された画素V−L特性のグラフを右(正電圧方向)へ平行移動(電圧オフセット:細破線)させても低階調域及び高階調域において両特性は一致せず、さらに、上記画素V−L特性のグラフを傾斜(ゲイン)させて高階調域において両特性を一致させても、低階調域において両特性を一致させることができない。つまり、従来の、オフセット及びゲインという2つのパラメータによる補正方法では、全階調にわたり高精度な補正をすることは困難である。   Here, W and L are the gate width and gate length of the drive transistor 120, B is the Boltzmann constant, and T is the temperature. Since Equation 1 and Equation 2 do not match, it can be seen that the voltage-luminance characteristics in the middle gradation region and the high gradation region are different from the voltage-luminance properties in the low gradation region. Therefore, for example, as seen in the pixel VL characteristic (thin solid line) which is the voltage-luminance characteristic of the target pixel described in FIG. 5, the characteristic curve at the high gradation and the characteristic curve at the low gradation are medium. It is assumed that the gradation ranges are different. From this, for example, a case where the curve of the representative VL characteristic (thick solid line) defined by Equation 1 and the curve of the pixel VL characteristic (solid line) do not match is assumed. In this case, for example, as a correction method for matching the pixel VL characteristic with the representative VL characteristic, the pixel VL characteristic graph illustrated in FIG. 5 is translated to the right (positive voltage direction) ( Even if the voltage offset (thin broken line) is used, the two characteristics do not match in the low gradation area and the high gradation area, and further, both the characteristics match in the high gradation area by tilting (gaining) the graph of the pixel VL characteristics. Even if it is made, both characteristics cannot be matched in the low gradation range. That is, with the conventional correction method using two parameters of offset and gain, it is difficult to perform high-precision correction over all gradations.

よって、全階調にわたり高精度な補正をする方法として、3つ以上のパラメータによる補正方法が挙げられる。以下、図7A〜図7Cを用いて、3つのパラメータによる補正方法についての比較を行う。   Therefore, a correction method using three or more parameters can be cited as a method for performing high-accuracy correction over all gradations. Hereinafter, the correction methods based on the three parameters will be compared using FIGS. 7A to 7C.

図7Aは、中階調域でオフセット、低階調域及び高階調域でゲインを補正する方式を説明する電圧−輝度特性を表す図であり、図7Bは、低階調域でオフセット、中階調域及び高階調域でゲインを補正する方式を説明する電圧−輝度特性を表す図であり、図7Cは、高階調域でオフセット、低階調域及び中階調域でゲインを補正する方式を説明する電圧−輝度特性を表す図である。   FIG. 7A is a diagram illustrating a voltage-luminance characteristic for explaining a method of correcting the offset in the middle gradation region and the gain in the low gradation region and the high gradation region, and FIG. 7B illustrates the offset and medium in the low gradation region. FIG. 7C is a diagram illustrating a voltage-luminance characteristic for explaining a method of correcting a gain in a gradation region and a high gradation region, and FIG. 7C corrects an offset in a high gradation region and a gain in a low gradation region and a middle gradation region. It is a figure showing the voltage-luminance characteristic explaining a system.

各階調域における補正パラメータを算出するにあたり、当該補正パラメータの算出演算には、ビット数制限による演算誤差が必ず存在する。図7Bに示された補正方式では、低階調域にてオフセット補正をするため、中階調域では、(低階調域におけるオフセット演算誤差+中階調域におけるゲイン演算誤差)が発生する。さらに、高階調域では、(低階調域におけるオフセット演算誤差+中階調域におけるゲイン演算誤差+高階調域におけるゲイン演算誤差)が発生し、高階調域における補正演算誤差が大きくなる。また、図7Cに示された補正方式では、高階調域にてオフセット補正をするため、中階調域では、(高階調域におけるオフセット演算誤差+中階調域におけるゲイン演算誤差)が発生する。さらに、低階調域では、(高階調域におけるオフセット演算誤差+中階調域におけるゲイン演算誤差+低階調域におけるゲイン演算誤差)が発生し、低階調域における補正演算誤差が大きくなる。   When calculating the correction parameter in each gradation region, there is always an operation error due to the bit number limitation in the calculation operation of the correction parameter. In the correction method shown in FIG. 7B, since offset correction is performed in the low gradation range, (offset calculation error in the low gradation range + gain calculation error in the middle gradation range) occurs in the middle gradation range. . Further, in the high gradation range, (offset calculation error in the low gradation range + gain calculation error in the middle gradation range + gain calculation error in the high gradation range) occurs, and the correction calculation error in the high gradation range becomes large. Further, in the correction method shown in FIG. 7C, offset correction is performed in the high gradation range, so that (offset calculation error in the high gradation range + gain calculation error in the middle gradation range) occurs in the middle gradation range. . Further, in the low gradation range, (offset calculation error in the high gradation range + gain calculation error in the middle gradation range + gain calculation error in the low gradation range) occurs, and the correction calculation error in the low gradation range increases. .

これに対し、図7Aに示された補正方式では、高階調域では、(中階調域におけるオフセット演算誤差+高階調域におけるゲイン演算誤差)が発生し、低階調域では、(中階調域におけるオフセット演算誤差+低階調域におけるゲイン演算誤差)が発生する。図7Aに示された補正方式における高階調域及び低階調域では、他階調域でのゲイン演算誤差が重畳されないので、図7B及び図7Cに示された方式に比べて、演算誤差を小さくできる。   On the other hand, in the correction method shown in FIG. 7A, (offset calculation error in the middle gradation range + gain calculation error in the high gradation range) occurs in the high gradation range, and (middle floor) in the low gradation range. An offset calculation error in the adjustment range + a gain calculation error in the low gradation range) occurs. In the high gradation region and the low gradation region in the correction method shown in FIG. 7A, the gain operation error in the other gradation regions is not superimposed, so that the operation error is smaller than the method shown in FIGS. 7B and 7C. Can be small.

また、中階調域における輝度ムラが視認され易いことから、中階調域での演算誤差が小さくなるよう、中階調域ではオフセットのみで補正されることが好ましい。   Further, since luminance unevenness in the middle gradation range is easily visually recognized, it is preferable that correction is performed only with an offset in the middle gradation range so that a calculation error in the middle gradation range is reduced.

つまり、オフセット補正及びゲイン補正については、それぞれ演算誤差が発生すること、及び、中階調域での輝度ムラが視認され易いことから、まず、閾値電圧Vth付近である中階調域でオフセット補正をし、当該オフセット補正がされた状態で、高階調域及び低階調域でのゲイン補正を実行することが望ましい。   That is, for the offset correction and the gain correction, calculation errors occur and luminance unevenness in the middle gradation range is easily visually recognized. Therefore, first, the offset correction is performed in the middle gradation range near the threshold voltage Vth. Therefore, it is desirable to execute gain correction in the high gradation region and the low gradation region in a state where the offset correction is performed.

本発明の実施の形態1に係る有機EL表示装置の製造方法は、上記観点により規定された補正方法を含むものである。つまり、上述した従来の補正方法における課題に対し、本発明の実施の形態1に係る有機EL表示装置の製造方法は、少なくとも閾値電圧Vth付近の中階調域におけるオフセット、高階調域におけるゲイン、及び低階調域におけるゲインという3つの補正パラメータを決定する工程を含むものである。つまり、閾値電圧Vth付近の電圧をオフセットにより合わせ、高階調域用のゲイン及び低階調域用のゲインの2種類のゲインを用いることにより、特に、補正困難であった低階調域の補正誤差を低減することができ、結果的に全階調にわたり高精度な補正をすることが可能となる。これにより、駆動トランジスタの強反転領域と弱反転領域とで異なる電圧−輝度特性のカーブ形状の変化にも対応した補正が可能となる。   The manufacturing method of the organic EL display device according to the first embodiment of the present invention includes a correction method defined by the above viewpoint. That is, in contrast to the above-described problem in the conventional correction method, the method for manufacturing the organic EL display device according to the first embodiment of the present invention includes at least an offset in the middle gradation region near the threshold voltage Vth, a gain in the high gradation region, And a step of determining three correction parameters, that is, a gain in a low gradation region. That is, by adjusting the voltage near the threshold voltage Vth with an offset and using two types of gains, a gain for a high gradation region and a gain for a low gradation region, the correction in the low gradation region, which has been particularly difficult to correct, is performed. The error can be reduced, and as a result, highly accurate correction can be performed over all gradations. As a result, it is possible to perform correction corresponding to changes in the curve shape of the voltage-luminance characteristics that are different between the strong inversion region and the weak inversion region of the driving transistor.

以下、補正パラメータ決定装置30が補正パラメータを決定する処理を説明しながら、有機EL表示装置1の補正原理について詳細に説明する。   Hereinafter, the correction principle of the organic EL display device 1 will be described in detail while explaining the process in which the correction parameter determination device 30 determines the correction parameter.

図8は、実施の形態1に係る補正パラメータ決定装置が補正パラメータを決定する動作の一例を示すフローチャートである。   FIG. 8 is a flowchart illustrating an example of an operation in which the correction parameter determination device according to Embodiment 1 determines a correction parameter.

同図に示すように、まず、測定制御部31は、代表電圧−輝度特性を表す関数を取得する(S10:第1ステップ)。図5のグラフでは、代表V−L特性(太実線)が、本ステップにて取得された代表電圧−輝度特性に相当する。この代表電圧−輝度特性を表す関数を取得する処理の詳細については後述する。   As shown in the figure, first, the measurement control unit 31 obtains a function representing a representative voltage-luminance characteristic (S10: first step). In the graph of FIG. 5, the representative VL characteristic (thick solid line) corresponds to the representative voltage-luminance characteristic acquired in this step. Details of the processing for acquiring the function representing the representative voltage-luminance characteristic will be described later.

次に、補正パラメータ算出部32は、中階調域における第1の補正パラメータ(オフセット電圧)を、対象画素について算出する(S20)。図5のグラフでは、対象画素の電圧−輝度特性である画素V−L特性(細実線)と代表V−L特性(太実線)との中階調域における電圧差(OFS:白三角形と黒三角形との電圧差)が、本ステップにて算出された第1の補正パラメータに相当する。この第1の補正パラメータを算出する処理の詳細については、図9Aを用いて後述する。   Next, the correction parameter calculation unit 32 calculates the first correction parameter (offset voltage) in the middle gradation range for the target pixel (S20). In the graph of FIG. 5, the voltage difference (OFS: white triangle and black) in the middle gradation region between the pixel VL characteristic (thin solid line) which is the voltage-luminance characteristic of the target pixel and the representative VL characteristic (thick solid line). The voltage difference from the triangle) corresponds to the first correction parameter calculated in this step. Details of the processing for calculating the first correction parameter will be described later with reference to FIG. 9A.

次に、補正パラメータ算出部32は、低階調域における第2の補正パラメータ(低階調ゲイン)を、対象画素について算出する(S30)。図5のグラフでは、対象画素の電圧−輝度特性がオフセットされた電圧−輝度特性(細破線)と代表V−L特性(太実線)との低階調域における利得差(Gain1)が、本ステップにて算出された第2の補正パラメータに相当する。この第2の補正パラメータを算出する処理の詳細については、図9Bを用いて後述する。   Next, the correction parameter calculation unit 32 calculates the second correction parameter (low gradation gain) in the low gradation region for the target pixel (S30). In the graph of FIG. 5, the gain difference (Gain1) in the low gradation region between the voltage-luminance characteristic (thin broken line) obtained by offsetting the voltage-luminance characteristic of the target pixel and the representative VL characteristic (thick solid line) This corresponds to the second correction parameter calculated in the step. Details of the process of calculating the second correction parameter will be described later with reference to FIG. 9B.

次に、補正パラメータ算出部32は、高階調域における第3の補正パラメータ(高階調ゲイン)を、対象画素について算出する(S40)。図5のグラフでは、対象画素の電圧−輝度特性がオフセットされた電圧−輝度特性(細破線)と代表V−L特性(太実線)との高階調域における利得差(Gain2)が、本ステップにて算出された第3の補正パラメータに相当する。この第3の補正パラメータを算出する処理の詳細については、図9Cを用いて後述する。   Next, the correction parameter calculation unit 32 calculates a third correction parameter (high gradation gain) in the high gradation region for the target pixel (S40). In the graph of FIG. 5, the gain difference (Gain 2) in the high gradation region between the voltage-luminance characteristic (thin broken line) obtained by offsetting the voltage-luminance characteristic of the target pixel and the representative VL characteristic (thick solid line) is shown in this step. This corresponds to the third correction parameter calculated in (1). Details of the process of calculating the third correction parameter will be described later with reference to FIG. 9C.

以上により、補正パラメータ決定装置30が補正パラメータを決定する処理は、終了する。   Thus, the process of determining the correction parameter by the correction parameter determining apparatus 30 is completed.

次に、測定制御部31が代表電圧−輝度特性を表す関数を取得する処理(図8のS10)の詳細について説明する。   Next, details of the process (S10 in FIG. 8) in which the measurement control unit 31 acquires a function representing the representative voltage-luminance characteristic will be described.

具体的には、ステップS10における処理として、以下の2つの取得方法が挙げられる。まず、第1の取得方法を説明する。   Specifically, the following two acquisition methods are mentioned as the processing in step S10. First, the first acquisition method will be described.

測定制御部31は、制御部11に対し、代表電圧−輝度特性を表す関数を取得するための測定用画素へデータ電圧を印加させて当該測定用画素に電流を流させ、当該測定用画素の発光素子110を発光させ、測定装置40に対し、表示パネル20の輝度を測定させる。上記データ電圧印加及び輝度測定を、異なるデータ電圧において複数回実行させる。また、上記データ電圧印加及び輝度測定を、複数の測定用画素で一斉に実行してもよいし、測定用画素ごとに繰り返して実行してもよい。次に、測定制御部31は、上記データ電圧印加及び輝度測定において得られたデータ電圧及び対応する輝度より、測定用画素ごとの電圧−輝度特性を求める。最後に、測定制御部31は、複数の測定用画素の各々について得られた電圧−輝度特性を平均化することにより代表電圧−輝度特性を求める。   The measurement control unit 31 causes the control unit 11 to apply a data voltage to the measurement pixel for obtaining a function representing the representative voltage-luminance characteristic, and to cause a current to flow through the measurement pixel, so that the measurement pixel The light emitting element 110 is caused to emit light, and the measurement device 40 is caused to measure the luminance of the display panel 20. The data voltage application and the luminance measurement are performed a plurality of times at different data voltages. Further, the data voltage application and the luminance measurement may be performed simultaneously on a plurality of measurement pixels, or may be repeatedly performed for each measurement pixel. Next, the measurement control unit 31 obtains a voltage-luminance characteristic for each measurement pixel from the data voltage obtained in the data voltage application and luminance measurement and the corresponding luminance. Finally, the measurement control unit 31 obtains the representative voltage-luminance characteristics by averaging the voltage-luminance characteristics obtained for each of the plurality of measurement pixels.

次に、第2の取得方法を説明する。   Next, the second acquisition method will be described.

測定制御部31は、制御部11に対し複数の測定用画素へ共通のデータ電圧を同時に印加させて当該複数の測定用画素に一斉に電流を流させ、当該複数の測定用画素の発光素子110を同時発光させ、測定装置40に対し、上記複数の測定用画素の合計輝度を測定させる。上記データ電圧印加及び輝度測定を、異なるデータ電圧において複数回実行させる。次に、測定制御部31は、上記データ電圧印加及び輝度測定において得られた合計輝度値を複数の測定用画素数で除算する。最後に、上記除算処理をデータ電圧ごとに実行させることにより、代表電圧−輝度特性を求める。   The measurement control unit 31 causes the control unit 11 to simultaneously apply a common data voltage to the plurality of measurement pixels to cause a current to flow through the plurality of measurement pixels at the same time, and the light emitting elements 110 of the plurality of measurement pixels. Are simultaneously emitted, and the measurement apparatus 40 is caused to measure the total luminance of the plurality of measurement pixels. The data voltage application and the luminance measurement are performed a plurality of times at different data voltages. Next, the measurement control unit 31 divides the total luminance value obtained in the data voltage application and luminance measurement by a plurality of measurement pixels. Finally, the division process is executed for each data voltage to obtain the representative voltage-luminance characteristics.

上述した2通りの方法で代表電圧−輝度特性を求めることにより、表示パネル20に含まれる全ての画素100の電流を測定するのではなく、選択された複数の測定用画素についてのみ電流を測定するので、表示パネル20全体に共通する代表電圧−輝度特性を設定するまでの時間を大幅に短縮することができる。   By obtaining the representative voltage-luminance characteristics by the two methods described above, the current is measured only for a plurality of selected measurement pixels, instead of measuring the current of all the pixels 100 included in the display panel 20. Therefore, it is possible to greatly shorten the time required to set the representative voltage-luminance characteristics common to the entire display panel 20.

なお、代表電圧−輝度特性を取得する上記第1及び第2の具体的方法は、本発明の有機EL表示装置ごとにしなくてもよい。例えば、代表電圧−輝度特性として、同一条件で製造される他の有機EL表示装置の製造方法において取得された代表電圧−輝度特性を自己の有機EL表示装置の代表電圧−輝度特性としてそのまま利用してもよい。これにより、ある有機EL表示装置の製造方法で求められた代表電圧−輝度特性を、当該装置と同一条件で製造される他の有機EL表示装置の製造方法で利用するので、複数の表示パネルの補正パラメータを測定するたびに代表電圧−輝度特性を設定する手間を省くことができる。その結果、本装置の製造プロセスを短縮できる。   Note that the first and second specific methods for obtaining the representative voltage-luminance characteristics need not be applied to each organic EL display device of the present invention. For example, as the representative voltage-luminance characteristic, the representative voltage-luminance characteristic acquired in the manufacturing method of another organic EL display device manufactured under the same conditions is used as it is as the representative voltage-luminance characteristic of its own organic EL display device. May be. As a result, the representative voltage-luminance characteristics obtained by a manufacturing method of a certain organic EL display device are used in a manufacturing method of another organic EL display device manufactured under the same conditions as the device. It is possible to save the trouble of setting the representative voltage-luminance characteristics every time the correction parameter is measured. As a result, the manufacturing process of the apparatus can be shortened.

また、代表電圧−輝度特性を、表示パネル20に含まれる複数の画素のうちの任意の一画素についての電圧−輝度特性としてもよい。これによっても、容易に、代表電圧−輝度特性を表す関数を取得することができるので、本装置の製造プロセスを短縮できる。   The representative voltage-luminance characteristic may be a voltage-luminance characteristic for any one of a plurality of pixels included in the display panel 20. This also makes it possible to easily obtain a function representing the representative voltage-luminance characteristics, thereby shortening the manufacturing process of the apparatus.

次に、補正パラメータ算出部32が第1の補正パラメータを算出する処理(図8のS20)の詳細について、図5及び図9Aを参照しながら説明する。   Next, details of the process (S20 in FIG. 8) in which the correction parameter calculation unit 32 calculates the first correction parameter will be described with reference to FIGS. 5 and 9A.

図9Aは、実施の形態1に係る補正パラメータ算出部が第1の補正パラメータを算出する処理の一例を示すフローチャートである。   FIG. 9A is a flowchart illustrating an example of a process in which the correction parameter calculation unit according to Embodiment 1 calculates a first correction parameter.

まず、測定制御部31は、制御回路10に、当該代表電圧−輝度特性の中階調域に属する1階調に対応する第1信号電圧(V1)を、対象画素に含まれる駆動素子である駆動トランジスタ120に印加させ、当該画素から発光される輝度(LM1)を、測定装置40を用いて測定する(S210:第2ステップ)。ここで、第1信号電圧(V1)は、駆動トランジスタの弱反転領域と強反転領域との境界である閾値電圧Vth付近の電圧値に設定することが好ましい。図5のグラフでは、対象画素の電圧−輝度特性(細実線)上の電圧V1が第1信号電圧に相当する。   First, the measurement control unit 31 is a drive element that includes, in the target pixel, the first signal voltage (V1) corresponding to one gradation belonging to the middle gradation region of the representative voltage-luminance characteristic. The luminance (LM1) emitted from the pixel is applied to the driving transistor 120 and measured using the measuring device 40 (S210: second step). Here, the first signal voltage (V1) is preferably set to a voltage value in the vicinity of the threshold voltage Vth that is a boundary between the weak inversion region and the strong inversion region of the driving transistor. In the graph of FIG. 5, the voltage V1 on the voltage-luminance characteristics (thin solid line) of the target pixel corresponds to the first signal voltage.

次に、補正パラメータ算出部32は、代表電圧−輝度特性の輝度が、対象画素の輝度(LM1)となる第1基準電圧(Vr1)を算出する(S220:第3ステップ)。図5のグラフでは、代表電圧−輝度特性(太実線)上の基準電圧Vr1が第1基準電圧に相当する。   Next, the correction parameter calculation unit 32 calculates a first reference voltage (Vr1) at which the luminance of the representative voltage-luminance characteristic becomes the luminance (LM1) of the target pixel (S220: third step). In the graph of FIG. 5, the reference voltage Vr1 on the representative voltage-luminance characteristic (thick solid line) corresponds to the first reference voltage.

次に、補正パラメータ算出部32は、第1信号電圧(V1)を第1基準電圧(Vr1)にする第1の補正パラメータ(OFS)を対象画素について算出する(S230:第3ステップ)。つまり、第1の補正パラメータ(OFS)は、中階調域における対象画素の電圧−輝度特性と代表電圧−輝度特性とを合わせるオフセット電圧であり、以下の式3で表される。   Next, the correction parameter calculation unit 32 calculates a first correction parameter (OFS) for changing the first signal voltage (V1) to the first reference voltage (Vr1) for the target pixel (S230: third step). That is, the first correction parameter (OFS) is an offset voltage that combines the voltage-luminance characteristics and the representative voltage-luminance characteristics of the target pixel in the middle gradation range, and is expressed by the following Expression 3.

第1の補正パラメータ(OFS)=第1信号電圧(V1)−第1基準電圧(Vr1)
(式3)
First correction parameter (OFS) = first signal voltage (V1) −first reference voltage (Vr1)
(Formula 3)

以上により、補正パラメータ算出部32が第1の補正パラメータを算出する処理(図8のS20)を終了する。   Thus, the correction parameter calculation unit 32 ends the process of calculating the first correction parameter (S20 in FIG. 8).

次に、補正パラメータ算出部32が第2の補正パラメータを算出する処理(図8のS30)の詳細について、図5及び図9Bを参照しながら説明する。   Next, details of the process (S30 in FIG. 8) in which the correction parameter calculation unit 32 calculates the second correction parameter will be described with reference to FIGS. 5 and 9B.

図9Bは、実施の形態1に係る補正パラメータ算出部が第2の補正パラメータを算出する処理の一例を示すフローチャートである。   FIG. 9B is a flowchart illustrating an example of a process in which the correction parameter calculation unit according to Embodiment 1 calculates a second correction parameter.

まず、測定制御部31は、制御回路10に、当該代表電圧−輝度特性の低階調域に属する1階調に対応する第2信号電圧(V2)での対象画素の輝度(LL1)を、測定装置40を用いて測定する(S310:第4ステップ)。ここで、第2信号電圧(V2)は、駆動トランジスタの閾値電圧Vthより小さい弱反転領域での電圧値に設定することが好ましい。   First, the measurement control unit 31 gives the control circuit 10 the luminance (LL1) of the target pixel at the second signal voltage (V2) corresponding to one gradation belonging to the low gradation region of the representative voltage-luminance characteristic. Measurement is performed using the measuring device 40 (S310: fourth step). Here, the second signal voltage (V2) is preferably set to a voltage value in a weak inversion region that is smaller than the threshold voltage Vth of the driving transistor.

次に、補正パラメータ算出部32は、対象画素を第2信号電圧(V2)で発光させたときの輝度(LL1)を代表電圧−輝度特性を表す関数に入力した場合に得られる第2基準電圧(VinL)を演算にて求め、第2信号電圧(V2)に第1の補正パラメータ(OFS)が加算された第1補正電圧(Vc1)及び第1基準電圧(Vr1)の電圧差(Vc1−Vr1)と、第2基準電圧(VinL)及び第1基準電圧(Vr1)の電圧差(VinL−Vr1)との比を示したゲインを第2の補正パラメータ(G)とする。(S320:第5ステップ)。つまり、補正パラメータ(G)は以下の式4で表される。 Next, the correction parameter calculation unit 32 receives the second reference voltage obtained when the luminance (LL1) when the target pixel is caused to emit light with the second signal voltage (V2) is input to the function representing the representative voltage-luminance characteristics. (VinL) is calculated and the voltage difference (Vc1−) between the first correction voltage (Vc1) obtained by adding the first correction parameter (OFS) to the second signal voltage (V2) and the first reference voltage (Vr1). A gain indicating a ratio between Vr1) and a voltage difference (VinL−Vr1) between the second reference voltage (VinL) and the first reference voltage (Vr1) is defined as a second correction parameter (G L ). (S320: 5th step). That is, the correction parameter (G L ) is expressed by the following formula 4.

=(Vc1−Vr1)/(VinL−Vr1)
=(第2信号電圧V2−第1の補正パラメータOFS−第1基準電圧Vr1)
/(第2基準電圧VinL−第1基準電圧Vr1) (式4)
G L = (Vc1−Vr1) / (VinL−Vr1)
= (Second signal voltage V2-first correction parameter OFS-first reference voltage Vr1)
/ (Second reference voltage VinL−first reference voltage Vr1) (Formula 4)

図5のグラフでは、上記(Vc1−Vr1)はVD1であり、上記(VinL−Vr1)はVDLに相当する。   In the graph of FIG. 5, (Vc1-Vr1) is VD1, and (VinL-Vr1) is equivalent to VDL.

以上により、補正パラメータ算出部32が第2の補正パラメータを算出する処理(図8のS30)を終了する。   Thus, the correction parameter calculation unit 32 ends the process of calculating the second correction parameter (S30 in FIG. 8).

次に、補正パラメータ算出部32が第3の補正パラメータを算出する処理(図8のS40)の詳細について、図5及び図9Cを参照しながら説明する。   Next, details of the process (S40 in FIG. 8) in which the correction parameter calculation unit 32 calculates the third correction parameter will be described with reference to FIGS. 5 and 9C.

図9Cは、実施の形態1に係る補正パラメータ算出部が第3の補正パラメータを算出する処理の一例を示すフローチャートである。   FIG. 9C is a flowchart illustrating an example of a process in which the correction parameter calculation unit according to Embodiment 1 calculates a third correction parameter.

まず、測定制御部31は、制御回路10に、当該代表電圧−輝度特性の高階調域に属する1階調に対応する第3信号電圧(V3)での対象画素の輝度(LH1)を、測定装置40を用いて測定する(S410:第6ステップ)。ここで、第3信号電圧(V3)は、駆動トランジスタの閾値電圧Vthより大きい強反転領域での電圧値に設定することが好ましい。   First, the measurement control unit 31 causes the control circuit 10 to measure the luminance (LH1) of the target pixel at the third signal voltage (V3) corresponding to one gradation belonging to the high gradation region of the representative voltage-luminance characteristic. Measurement is performed using the device 40 (S410: sixth step). Here, the third signal voltage (V3) is preferably set to a voltage value in a strong inversion region that is larger than the threshold voltage Vth of the driving transistor.

次に、補正パラメータ算出部32は、対象画素を第3信号電圧(V3)で発光させたときの輝度(LH1)を代表電圧−輝度特性を表す関数に入力した場合に得られる第3基準電圧(VinH)を演算にて求め、第3信号電圧(V3)に第1の補正パラメータ(OFS)が加算された第2補正電圧(Vc2)及び第1基準電圧(Vr1)の電圧差(Vc2−Vr1)と、第3基準電圧(VinH)及び第1基準電圧(Vr1)の電圧差(VinH−Vr1)との比を示したゲインを第3の補正パラメータ(G)とする。(S420:第7ステップ)。つまり、補正パラメータ(G)は以下の式5で表される。 Next, the correction parameter calculation unit 32 receives the third reference voltage obtained when the luminance (LH1) when the target pixel is caused to emit light at the third signal voltage (V3) is input to the function representing the representative voltage-luminance characteristics. (VinH) is obtained by calculation, and the voltage difference (Vc2−) between the second correction voltage (Vc2) obtained by adding the first correction parameter (OFS) to the third signal voltage (V3) and the first reference voltage (Vr1). A gain indicating a ratio between Vr1) and a voltage difference (VinH−Vr1) between the third reference voltage (VinH) and the first reference voltage (Vr1) is defined as a third correction parameter ( GH ). (S420: 7th step). That is, the correction parameter ( GH ) is expressed by the following formula 5.

=(Vc2−Vr1)/(VinH−Vr1)
=(第3信号電圧V3−第1の補正パラメータOFS−第1基準電圧Vr1)
/(第3基準電圧VinH−第1基準電圧Vr1) (式5)
G H = (Vc2−Vr1) / (VinH−Vr1)
= (Third signal voltage V3-first correction parameter OFS-first reference voltage Vr1)
/ (Third reference voltage VinH−First reference voltage Vr1) (Formula 5)

図5のグラフでは、上記(Vc2−Vr1)はVD2であり、上記(VinH−Vr1)はVDHに相当する。   In the graph of FIG. 5, (Vc2-Vr1) is VD2, and (VinH-Vr1) is equivalent to VDH.

以上により、補正パラメータ算出部32が第3の補正パラメータを算出する処理(図8のS40)を終了する。   Thus, the correction parameter calculation unit 32 ends the process of calculating the third correction parameter (S40 in FIG. 8).

以上、図8に記載された第1の補正パラメータ(OFS)、第2の補正パラメータ(G)及び第3の補正パラメータ(G)の算出処理(ステップS20〜ステップS40)を、全画素について実行し、最後に、算出された第1〜第3の補正パラメータを、記憶部13に書き込むことにより、図4に記載された補正パラメータテーブルが完成する。 As described above, the calculation process (step S20 to step S40) of the first correction parameter (OFS), the second correction parameter (G L ), and the third correction parameter (G H ) described in FIG. And finally, the calculated first to third correction parameters are written in the storage unit 13 to complete the correction parameter table shown in FIG.

上述した補正パラメータの算出プロセスを含む本発明の有機EL表示装置の製造方法により製造された有機EL表示装置は、上記補正パラメータを用いて映像信号を補正して各画素に補正信号電圧を供給することが可能となる。これにより、全階調にわたり高精度に輝度ムラが低減された画像を表示することが可能となる。   The organic EL display device manufactured by the organic EL display device manufacturing method of the present invention including the correction parameter calculation process described above corrects a video signal using the correction parameter and supplies a correction signal voltage to each pixel. It becomes possible. As a result, it is possible to display an image with reduced luminance unevenness with high accuracy over all gradations.

<補正方法>
次に、上記製造方法により製造された有機EL表示装置が、製造工程にて算出された補正パラメータを用いて補正信号電圧を生成するプロセスを図5及び図10を用いて説明する。
<Correction method>
Next, a process in which the organic EL display device manufactured by the above manufacturing method generates a correction signal voltage using the correction parameter calculated in the manufacturing process will be described with reference to FIGS.

図10は、本発明の実施の形態1に係る有機EL表示装置の補正プロセスを表すブロック図である。同図に記載されたブロック図は、制御回路10の有する補正部12の動作フローを表している。   FIG. 10 is a block diagram showing a correction process of the organic EL display device according to the first embodiment of the present invention. The block diagram shown in the figure represents an operation flow of the correction unit 12 included in the control circuit 10.

制御回路10は、外部からの映像信号を受信し、当該映像信号から各画素100が表示すべき階調データを取得する。補正部12は、この階調データで各画素100の発光素子110を発光させるための補正された信号電圧を、以下のプロセスにより決定する。   The control circuit 10 receives an external video signal and acquires gradation data to be displayed by each pixel 100 from the video signal. The correction unit 12 determines a corrected signal voltage for causing the light emitting element 110 of each pixel 100 to emit light with this gradation data by the following process.

まず、補正部12は、対象画素が図5における代表V−L特性を有する画素であるものと仮定して、上記階調データを表示するための補正前の信号電圧(入力値)を決定する。このときの階調データが、図5に記載されたグラフにおいて、低階調域の輝度LL1で発光素子110を発光させるデータであるとすると、補正部12は、入力値をVinLとする。   First, the correction unit 12 determines a signal voltage (input value) before correction for displaying the gradation data, assuming that the target pixel is a pixel having the representative VL characteristic in FIG. . If the gradation data at this time is data for causing the light emitting element 110 to emit light with the luminance LL1 in the low gradation region in the graph shown in FIG. 5, the correction unit 12 sets the input value to VinL.

次に、補正部12は、減算器211により、入力値VinLから第1基準電圧Vr1を減算し(VinL−Vr1)を算出する。   Next, the correction unit 12 subtracts the first reference voltage Vr1 from the input value VinL by the subtractor 211 to calculate (VinL−Vr1).

次に、補正部12は、乗算器212により算出した(VinL−Vr1)に第2の補正パラメータであるゲインGを乗じたG(VinL−Vr1)と、乗算器213により第3の補正パラメータであるゲインGを乗じたG(VinL−Vr1)とを算出する。 Next, the correction unit 12 is calculated by the multiplier 212 and (VinL-Vr1) G multiplied by the gain G L is the second correction parameter L (VinL-Vr1), the third corrected by the multiplier 213 calculating the G H multiplied by the gain G H is a parameter (VinL-Vr1).

次に、補正部12は、比較選択器214により、減算器211で算出した(VinL−Vr1)の値が負の場合には、乗算器212により算出したG(VinL−Vr1)を選択し、減算器211で算出した(VinL−Vr1)の値が正の場合には、乗算器213により算出したG(VinL−Vr1)を選択する。本例の場合、入力値VinL<第1基準電圧Vr1であるので、補正部12は、G(VinL−Vr1)を選択する。 Next, when the value of (VinL−Vr1) calculated by the subtractor 211 is negative, the correction unit 12 selects G L (VinL−Vr1) calculated by the multiplier 212. When the value of (VinL−Vr1) calculated by the subtractor 211 is positive, G H (VinL−Vr1) calculated by the multiplier 213 is selected. In this example, since the input value VinL <the first reference voltage Vr1, the correction unit 12 selects G L (VinL−Vr1).

次に、補正部12は、加算器215により、選択したG(VinL−Vr1)に第1の補正パラメータであるオフセット(OFS)及び基準値(Vr1)を加算する。図5及び式4より、補正部12の出力である画素電圧値(補正信号電圧)は以下の式6のようになる。 Next, the correction unit 12 uses the adder 215 to add the offset (OFS) and the reference value (Vr1), which are the first correction parameters, to the selected G L (VinL−Vr1). 5 and Expression 4, the pixel voltage value (correction signal voltage) that is the output of the correction unit 12 is expressed by Expression 6 below.

補正信号電圧=G(VinL−Vr1)+OFS+Vr1=Vc1+OFS(式6) Correction signal voltage = G L (VinL−Vr1) + OFS + Vr1 = Vc1 + OFS (Formula 6)

上記式6におけるOFSは、式3における第1の補正パラメータであり、上記補正信号電圧は、結果的には図5におけるV2となる。上記補正部12の補正動作により、対象画素の発光素子110を、階調データを反映した輝度LL1で発光させるための補正信号電圧V2が算出される。   OFS in Equation 6 is the first correction parameter in Equation 3, and the correction signal voltage eventually becomes V2 in FIG. By the correction operation of the correction unit 12, a correction signal voltage V2 for causing the light emitting element 110 of the target pixel to emit light with the luminance LL1 reflecting the gradation data is calculated.

なお、高階調域のデータに対して信号電圧を補正する場合も、補正部12は同様の補正プロセスを実行する。例えば、高階調域の輝度LH1で発光素子110を発光させるデータの場合には、上記補正プロセスにより、補正部12は、補正信号電圧としてV3を算出する。   Note that the correction unit 12 performs the same correction process when correcting the signal voltage for data in the high gradation range. For example, in the case of data for causing the light emitting element 110 to emit light with the luminance LH1 in the high gradation range, the correction unit 12 calculates V3 as the correction signal voltage by the correction process.

以上のように、本発明の表示装置及びその製造方法により、本発明の表示装置は、中階調域で算出されたオフセット電圧、低階調域で算出された低階調ゲイン及び高階調域で算出された高階調ゲインを用いて高精度な信号電圧の補正を実行でき、輝度ムラが低減された高品質な画像を表示することが可能となる。   As described above, according to the display device of the present invention and the method for manufacturing the same, the display device of the present invention is capable of providing the offset voltage calculated in the middle gradation region, the low gradation gain and the high gradation region calculated in the low gradation region. It is possible to correct the signal voltage with high accuracy using the high gradation gain calculated in step 1, and to display a high-quality image with reduced luminance unevenness.

なお、上述した補正パラメータ算出方法では、低階調域ゲインG及び高階調域ゲインGを求めるにあたり、上記式4及び式5のように、中階調域の第1基準電圧Vr1を用いたが、これに限られない。中階調域の第1基準電圧Vr1を用いずに、例えば、対象画素の電圧−輝度特性上の低階調域における2点間の傾きと、代表電圧−輝度特性上の低階調域における2点間の傾きとを比較して低階調域ゲインGを算出してもよい。この場合には、測定制御部31は、低階調域において2点の輝度計測を実施することになる。 Use In the above-described correction parameter calculation method, when determining the low gradation region gain G L and the high Choiki gain G H, as in the above formula 4 and formula 5, the first reference voltage Vr1 of medium gradation region However, it is not limited to this. Without using the first reference voltage Vr1 in the middle gradation range, for example, the slope between two points in the low gradation range on the voltage-luminance characteristics of the target pixel and the low gradation range on the representative voltage-luminance characteristics. The low gradation range gain GL may be calculated by comparing the slope between two points. In this case, the measurement control unit 31 performs luminance measurement at two points in the low gradation range.

(実施の形態2)
実施の形態1では、補正誤差を低減するために各階調域に対応した3つの補正パラメータを設定したが、本実施の形態では、更なる補正誤差の低減を目的として、階調域をさらに細分化して4つ以上の補正パラメータを設定する場合について説明する。
(Embodiment 2)
In the first embodiment, three correction parameters corresponding to each gradation area are set in order to reduce the correction error. However, in this embodiment, the gradation area is further subdivided for the purpose of further reducing the correction error. A case will be described in which four or more correction parameters are set.

本実施の形態に係る制御回路及び補正パラメータ決定装置の構成は、図3に示された制御回路10及び補正パラメータ決定装置30と同じであるため、詳細な説明は省略する。   The configuration of the control circuit and the correction parameter determination device according to the present embodiment is the same as that of the control circuit 10 and the correction parameter determination device 30 shown in FIG.

本発明の実施の形態2に係る有機EL表示装置の製造方法は、表示階調域を、低階調域、中階調域1、中階調域2及び高階調域という4つの階調域に分割し、中階調域1及び中階調域2におけるオフセット、高階調域におけるゲイン、中階調域におけるゲイン及び低階調域におけるゲインという5つの補正パラメータにより補正を行うものである。つまり、補正パラメータを生成すべき階調域を細分化することにより、全階調域の補正誤差をさらに低減することが可能となる。これにより、駆動トランジスタの強反転領域と弱反転領域とで異なる電圧−輝度特性のカーブ形状の変化にも高精度に対応した補正が可能となる。   In the method of manufacturing the organic EL display device according to the second embodiment of the present invention, the display gradation area is divided into four gradation areas, that is, a low gradation area, a medium gradation area 1, a medium gradation area 2, and a high gradation area. The correction is performed by five correction parameters, namely, an offset in the middle gradation area 1 and the intermediate gradation area 2, a gain in the high gradation area, a gain in the intermediate gradation area, and a gain in the low gradation area. That is, it is possible to further reduce the correction error in the entire gradation range by subdividing the gradation range in which the correction parameter is to be generated. As a result, it is possible to perform a correction corresponding to the change in the curve shape of the voltage-luminance characteristic which is different between the strong inversion region and the weak inversion region of the driving transistor with high accuracy.

以下、補正パラメータ決定装置が補正パラメータを決定する処理を説明しながら、本実施の形態に係る有機EL表示装置の補正原理について詳細に説明する。なお、測定制御部31及び補正パラメータ算出部32の動作が、実施の形態1と同じ動作である場合には説明を省略する。   Hereinafter, the correction principle of the organic EL display device according to the present embodiment will be described in detail while explaining the process in which the correction parameter determination device determines the correction parameter. In addition, description is abbreviate | omitted when operation | movement of the measurement control part 31 and the correction parameter calculation part 32 is the same operation | movement as Embodiment 1. FIG.

図11は、実施の形態2に係る有機EL表示装置の補正原理を説明する電圧−輝度特性を表すグラフである。   FIG. 11 is a graph showing voltage-luminance characteristics for explaining the correction principle of the organic EL display device according to the second embodiment.

まず、測定制御部31は、代表電圧−輝度特性を表す関数を取得する。図11のグラフでは、代表V−L特性(太実線)が、本ステップにて取得された代表電圧−輝度特性に相当する。   First, the measurement control unit 31 acquires a function representing the representative voltage-luminance characteristic. In the graph of FIG. 11, the representative VL characteristic (thick solid line) corresponds to the representative voltage-luminance characteristic acquired in this step.

次に、補正パラメータ算出部32は、中階調域1における第1の補正パラメータ(OFS1)を、対象画素について算出する。図11のグラフでは、対象画素の電圧−輝度特性である画素V−L特性(細実線)と代表V−L特性(太実線)との中階調域における電圧差(OFS1)が、本ステップにて算出された第1の補正パラメータに相当する。   Next, the correction parameter calculation unit 32 calculates the first correction parameter (OFS1) in the middle gradation range 1 for the target pixel. In the graph of FIG. 11, the voltage difference (OFS1) in the middle gradation range between the pixel VL characteristic (thin solid line) and the representative VL characteristic (thick solid line), which is the voltage-luminance characteristic of the target pixel, is shown in this step. This corresponds to the first correction parameter calculated in (1).

次に、補正パラメータ算出部32は、低階調域における第2の補正パラメータ(低階調ゲイン)を、対象画素について算出する。図11のグラフでは、対象画素の電圧−輝度特性がOFS1でオフセットされた電圧−輝度特性(細破線)と代表V−L特性(太実線)との低階調域における利得差(Gain1)が、本ステップにて算出された第2の補正パラメータに相当する。   Next, the correction parameter calculation unit 32 calculates the second correction parameter (low gradation gain) in the low gradation region for the target pixel. In the graph of FIG. 11, the gain difference (Gain1) in the low gradation range between the voltage-luminance characteristic (thin broken line) in which the voltage-luminance characteristic of the target pixel is offset by OFS1 and the representative VL characteristic (thick solid line) is shown. This corresponds to the second correction parameter calculated in this step.

次に、補正パラメータ算出部32は、中階調域2における第3の補正パラメータ(中階調2ゲイン)を、対象画素について算出する。図11のグラフでは、対象画素の電圧−輝度特性がオフセットされた電圧−輝度特性(細破線)と代表V−L特性(太実線)との中階調域2における利得差(Gain2)が、本ステップにて算出された第3の補正パラメータに相当する。   Next, the correction parameter calculation unit 32 calculates a third correction parameter (medium gradation 2 gain) in the intermediate gradation area 2 for the target pixel. In the graph of FIG. 11, the gain difference (Gain2) in the middle gradation region 2 between the voltage-luminance characteristic (thin broken line) in which the voltage-luminance characteristic of the target pixel is offset and the representative VL characteristic (thick solid line) is This corresponds to the third correction parameter calculated in this step.

次に、補正パラメータ算出部32は、中階調域2における第4の補正パラメータ(OFS2)を、対象画素について算出する。図11のグラフでは、対象画素の電圧−輝度特性である画素V−L特性(細実線)と代表V−L特性(太実線)との中階調域2における電圧差(OFS2)が、本ステップにて算出された第4の補正パラメータに相当する。   Next, the correction parameter calculation unit 32 calculates the fourth correction parameter (OFS2) in the middle gradation range 2 for the target pixel. In the graph of FIG. 11, the voltage difference (OFS2) in the middle gradation region 2 between the pixel VL characteristic (thin solid line) and the representative VL characteristic (thick solid line), which is the voltage-luminance characteristic of the target pixel, is represented by this graph. This corresponds to the fourth correction parameter calculated in the step.

次に、補正パラメータ算出部32は、高階調域における第5の補正パラメータ(高階調ゲイン)を、対象画素について算出する。図11のグラフでは、対象画素の電圧−輝度特性がOFS2でオフセットされた電圧−輝度特性(細破線)と代表V−L特性(太実線)との高階調域における利得差(Gain3)が、本ステップにて算出された第5の補正パラメータに相当する。   Next, the correction parameter calculation unit 32 calculates a fifth correction parameter (high gradation gain) in the high gradation range for the target pixel. In the graph of FIG. 11, the gain difference (Gain3) in the high gradation region between the voltage-luminance characteristic (thin broken line) in which the voltage-luminance characteristic of the target pixel is offset by OFS2 and the representative VL characteristic (thick solid line) is This corresponds to the fifth correction parameter calculated in this step.

以上により、補正パラメータ決定装置が補正パラメータを決定する処理は、終了する。   Thus, the process of determining the correction parameter by the correction parameter determination device is completed.

次に、補正パラメータ算出部32が第1の補正パラメータを算出する処理の詳細について、図11を参照しながら説明する。   Next, details of the process in which the correction parameter calculation unit 32 calculates the first correction parameter will be described with reference to FIG.

まず、測定制御部31は、制御回路10に、当該代表電圧−輝度特性の中階調域1に属する1階調に対応する第1信号電圧(V1)を、対象画素に含まれる駆動素子である駆動トランジスタ120に印加させ、当該画素から発光される輝度(LM1)を、測定装置40を用いて測定する。ここで、第1信号電圧は、駆動トランジスタの閾値電圧Vth付近の電圧値に設定することが好ましい。図10のグラフでは、対象画素の電圧−輝度特性(細実線)上の電圧V1が第1信号電圧に相当する。   First, the measurement control unit 31 causes the control circuit 10 to apply the first signal voltage (V1) corresponding to one gradation belonging to the middle gradation range 1 of the representative voltage-luminance characteristic to the control element 10 using a drive element included in the target pixel. The luminance (LM 1) emitted from the pixel is applied to a certain driving transistor 120 and measured using the measuring device 40. Here, the first signal voltage is preferably set to a voltage value near the threshold voltage Vth of the driving transistor. In the graph of FIG. 10, the voltage V1 on the voltage-luminance characteristics (thin solid line) of the target pixel corresponds to the first signal voltage.

次に、補正パラメータ算出部32は、代表電圧−輝度特性の輝度が、対象画素の輝度(LM1)となる第1基準電圧(Vr1)を算出する。図11のグラフでは、代表電圧−輝度特性(太実線)上の基準電圧Vr1が第1基準電圧に相当する。   Next, the correction parameter calculation unit 32 calculates a first reference voltage (Vr1) in which the luminance of the representative voltage-luminance characteristic is the luminance (LM1) of the target pixel. In the graph of FIG. 11, the reference voltage Vr1 on the representative voltage-luminance characteristic (thick solid line) corresponds to the first reference voltage.

次に、補正パラメータ算出部32は、第1信号電圧(V1)を第1基準電圧(Vr1)にする第1の補正パラメータ(OFS1)を対象画素について算出する。つまり、第1の補正パラメータ(OFS1)は、中階調域1における対象画素の電圧−輝度特性と代表電圧−輝度特性とを合わせるオフセット電圧であり、以下の式7で表される。   Next, the correction parameter calculation unit 32 calculates a first correction parameter (OFS1) for changing the first signal voltage (V1) to the first reference voltage (Vr1) for the target pixel. That is, the first correction parameter (OFS1) is an offset voltage that combines the voltage-luminance characteristics and the representative voltage-luminance characteristics of the target pixel in the middle gradation range 1, and is expressed by the following Expression 7.

第1の補正パラメータ(OFS1)=第1信号電圧(V1)−第1基準電圧(Vr1)
(式7)
First correction parameter (OFS1) = first signal voltage (V1) −first reference voltage (Vr1)
(Formula 7)

以上により、補正パラメータ算出部32が第1の補正パラメータを算出する処理を終了する。   Thus, the correction parameter calculation unit 32 ends the process of calculating the first correction parameter.

次に、補正パラメータ算出部32が第2の補正パラメータを算出する処理の詳細について、図11を参照しながら説明する。   Next, details of the process in which the correction parameter calculation unit 32 calculates the second correction parameter will be described with reference to FIG.

まず、測定制御部31は、制御回路10に、当該代表電圧−輝度特性の低階調域に属する1階調に対応する第2信号電圧(V2)での対象画素の輝度(LL1)を、測定装置40を用いて測定する。ここで、第2信号電圧は、駆動トランジスタの閾値電圧Vthより小さい弱反転領域での電圧値に設定することが好ましい。   First, the measurement control unit 31 gives the control circuit 10 the luminance (LL1) of the target pixel at the second signal voltage (V2) corresponding to one gradation belonging to the low gradation region of the representative voltage-luminance characteristic. Measurement is performed using the measuring device 40. Here, the second signal voltage is preferably set to a voltage value in a weak inversion region that is smaller than the threshold voltage Vth of the driving transistor.

次に、補正パラメータ算出部32は、対象画素を第2信号電圧(V2)で発光させたときの輝度(LL1)を代表電圧−輝度特性を表す関数に入力した場合に得られる第2基準電圧(VinL)を演算にて求め、第2信号電圧(V2)に第1の補正パラメータ(OFS1)が加算された第1補正電圧(Vc1)及び第1基準電圧(Vr1)の電圧差(Vc1−Vr1)と、第2基準電圧(VinL)及び第1基準電圧(Vr1)の電圧差(VinL−Vr1)との比を示したゲインを第2の補正パラメータ(G)とする。つまり、補正パラメータ(G)は以下の式8で表される。 Next, the correction parameter calculation unit 32 receives the second reference voltage obtained when the luminance (LL1) when the target pixel is caused to emit light with the second signal voltage (V2) is input to the function representing the representative voltage-luminance characteristics. (VinL) is obtained by calculation, and the voltage difference (Vc1−) between the first correction voltage (Vc1) obtained by adding the first correction parameter (OFS1) to the second signal voltage (V2) and the first reference voltage (Vr1). A gain indicating a ratio between Vr1) and a voltage difference (VinL−Vr1) between the second reference voltage (VinL) and the first reference voltage (Vr1) is defined as a second correction parameter (G L ). That is, the correction parameter (G L ) is expressed by the following formula 8.

=(Vc1−Vr1)/(VinL−Vr1)
=(第2信号電圧V2−第1の補正パラメータOFS1−第1基準電圧Vr1)
/(第2基準電圧VinL−第1基準電圧Vr1) (式8)
G L = (Vc1−Vr1) / (VinL−Vr1)
= (Second signal voltage V2-first correction parameter OFS1-first reference voltage Vr1)
/ (Second reference voltage VinL−first reference voltage Vr1) (Equation 8)

図11のグラフでは、上記(Vc1−Vr1)はVD1であり、上記(VinL−Vr1)はVDLに相当する。   In the graph of FIG. 11, (Vc1-Vr1) is VD1, and (VinL-Vr1) is equivalent to VDL.

以上により、補正パラメータ算出部32が第2の補正パラメータを算出する処理を終了する。   Thus, the correction parameter calculation unit 32 ends the process of calculating the second correction parameter.

次に、補正パラメータ算出部32が第3の補正パラメータを算出する処理の詳細について、図11を参照しながら説明する。   Next, details of the process in which the correction parameter calculation unit 32 calculates the third correction parameter will be described with reference to FIG.

まず、測定制御部31は、制御回路10に、当該代表電圧−輝度特性の中階調域2に属する1階調に対応する第3信号電圧(V3)での対象画素の輝度(LM2)を、測定装置40を用いて測定する。   First, the measurement control unit 31 gives the control circuit 10 the luminance (LM2) of the target pixel at the third signal voltage (V3) corresponding to one gradation belonging to the middle gradation region 2 of the representative voltage-luminance characteristic. Measure using the measuring device 40.

次に、補正パラメータ算出部32は、対象画素を第3信号電圧(V3)で発光させたときの輝度(LM2)を代表電圧−輝度特性を表す関数に入力した場合に得られる第3基準電圧(VinM)を演算にて求め、第3信号電圧(V3)に第1の補正パラメータ(OFS1)が加算された第2補正電圧(Vc2)及び第1基準電圧(Vr1)の電圧差(Vc2−Vr1)と、第3基準電圧(VinM)及び第1基準電圧(Vr1)の電圧差(VinM−Vr1)との比を示したゲインを第3の補正パラメータ(G)とする。つまり、補正パラメータ(G)は以下の式9で表される。 Next, the correction parameter calculation unit 32 receives the third reference voltage obtained when the luminance (LM2) when the target pixel is caused to emit light with the third signal voltage (V3) is input to the function representing the representative voltage-luminance characteristics. (VinM) is obtained by calculation, and the voltage difference (Vc2−) between the second correction voltage (Vc2) obtained by adding the first correction parameter (OFS1) to the third signal voltage (V3) and the first reference voltage (Vr1). A gain indicating a ratio between Vr1) and a voltage difference (VinM−Vr1) between the third reference voltage (VinM) and the first reference voltage (Vr1) is defined as a third correction parameter (G M ). That is, the correction parameter (G M ) is expressed by the following formula 9.

=(Vc2−Vr1)/(VinM−Vr1)
=(第3信号電圧V3−第1の補正パラメータOFS1−第1基準電圧Vr1)
/(第3基準電圧VinM−第1基準電圧Vr1) (式9)
G M = (Vc2−Vr1) / (VinM−Vr1)
= (Third signal voltage V3-first correction parameter OFS1-first reference voltage Vr1)
/ (Third reference voltage VinM−First reference voltage Vr1) (Equation 9)

図11のグラフでは、上記(Vc2−Vr1)はVD2であり、上記(VinM−Vr1)はVDMに相当する。   In the graph of FIG. 11, (Vc2-Vr1) is VD2, and (VinM-Vr1) is equivalent to VDM.

以上により、補正パラメータ算出部32が第3の補正パラメータを算出する処理を終了する。   Thus, the correction parameter calculation unit 32 ends the process of calculating the third correction parameter.

次に、補正パラメータ算出部32が第4の補正パラメータを算出する処理の詳細について、図11を参照しながら説明する。   Next, details of the process in which the correction parameter calculation unit 32 calculates the fourth correction parameter will be described with reference to FIG.

まず、測定制御部31は、制御回路10に、当該代表電圧−輝度特性の中階調域2に属する1階調に対応する第4信号電圧(V3)を、対象画素に含まれる駆動素子である駆動トランジスタ120に印加させ、当該画素から発光される輝度(LM2)を、測定装置40を用いて測定する。図10のグラフでは、対象画素の電圧−輝度特性(細実線)上の電圧V3が第4信号電圧に相当する。   First, the measurement control unit 31 causes the control circuit 10 to apply the fourth signal voltage (V3) corresponding to one gradation belonging to the middle gradation range 2 of the representative voltage-luminance characteristic to the control element 10 using a drive element included in the target pixel. The luminance (LM2) emitted from the pixel is applied to a certain driving transistor 120 and measured using the measuring device 40. In the graph of FIG. 10, the voltage V3 on the voltage-luminance characteristic (thin solid line) of the target pixel corresponds to the fourth signal voltage.

次に、補正パラメータ算出部32は、代表電圧−輝度特性の輝度が、対象画素の輝度(LM2)となる第2基準電圧(Vr2)を算出する。図10のグラフでは、代表電圧−輝度特性(太実線)上の基準電圧Vr2が第2基準電圧に相当する。   Next, the correction parameter calculation unit 32 calculates a second reference voltage (Vr2) in which the luminance of the representative voltage-luminance characteristic is the luminance (LM2) of the target pixel. In the graph of FIG. 10, the reference voltage Vr2 on the representative voltage-luminance characteristic (thick solid line) corresponds to the second reference voltage.

次に、補正パラメータ算出部32は、第4信号電圧(V3)を第2基準電圧(Vr2)にする第4の補正パラメータ(OFS2)を対象画素について算出する。つまり、第4の補正パラメータ(OFS2)は、中階調域2における対象画素の電圧−輝度特性と代表電圧−輝度特性とを合わせるオフセット電圧であり、以下の式10で表される。   Next, the correction parameter calculation unit 32 calculates the fourth correction parameter (OFS2) for setting the fourth signal voltage (V3) to the second reference voltage (Vr2) for the target pixel. That is, the fourth correction parameter (OFS2) is an offset voltage that combines the voltage-luminance characteristics and the representative voltage-luminance characteristics of the target pixel in the middle gradation range 2, and is expressed by the following Expression 10.

第4の補正パラメータ(OFS2)=第4信号電圧(V3)−第2基準電圧(Vr2)
(式10)
Fourth correction parameter (OFS2) = fourth signal voltage (V3) −second reference voltage (Vr2)
(Formula 10)

以上により、補正パラメータ算出部32が第4の補正パラメータを算出する処理を終了する。   Thus, the correction parameter calculation unit 32 ends the process of calculating the fourth correction parameter.

次に、補正パラメータ算出部32が第5の補正パラメータを算出する処理の詳細について、図11を参照しながら説明する。   Next, details of the process in which the correction parameter calculation unit 32 calculates the fifth correction parameter will be described with reference to FIG.

まず、測定制御部31は、制御回路10に、当該代表電圧−輝度特性の高階調域に属する1階調に対応する第5信号電圧(V4)での対象画素の輝度(LH1)を、測定装置40を用いて測定する。   First, the measurement control unit 31 causes the control circuit 10 to measure the luminance (LH1) of the target pixel at the fifth signal voltage (V4) corresponding to one gradation belonging to the high gradation region of the representative voltage-luminance characteristic. Measurement is performed using the device 40.

次に、補正パラメータ算出部32は、対象画素を第5信号電圧(V4)で発光させたときの輝度(LH1)を代表電圧−輝度特性を表す関数に入力した場合に得られる第4基準電圧(VinH)を演算にて求め、第5信号電圧(V4)に第4の補正パラメータ(OFS2)が加算された第3補正電圧(Vc3)及び第2基準電圧(Vr2)の電圧差(Vc3−Vr2)と、第4基準電圧(VinH)及び第2基準電圧(Vr2)の電圧差(VinH−Vr2)との比を示したゲインを第5の補正パラメータ(G)とする。つまり、補正パラメータ(G)は以下の式11で表される。 Next, the correction parameter calculation unit 32 inputs the fourth reference voltage obtained when the luminance (LH1) when the target pixel emits light with the fifth signal voltage (V4) is input to the function representing the representative voltage-luminance characteristics. (VinH) is obtained by calculation, and the voltage difference (Vc3−) between the third correction voltage (Vc3) obtained by adding the fourth correction parameter (OFS2) to the fifth signal voltage (V4) and the second reference voltage (Vr2). A gain indicating a ratio between Vr2) and a voltage difference (VinH−Vr2) between the fourth reference voltage (VinH) and the second reference voltage (Vr2) is defined as a fifth correction parameter ( GH ). That is, the correction parameter ( GH ) is expressed by the following equation 11.

=(Vc3−Vr2)/(VinH−Vr2)
=(第5信号電圧V4−第4の補正パラメータOFS2−第2基準電圧Vr2)
/(第4基準電圧VinH−第2基準電圧Vr2) (式11)
GH = (Vc3-Vr2) / (VinH-Vr2)
= (5th signal voltage V4-4th correction parameter OFS2-2nd reference voltage Vr2)
/ (Fourth reference voltage VinH−second reference voltage Vr2) (formula 11)

図11のグラフでは、上記(Vc3−Vr2)はVD3であり、上記(VinH−Vr2)はVDHに相当する。   In the graph of FIG. 11, (Vc3-Vr2) is VD3, and (VinH-Vr2) is equivalent to VDH.

以上により、補正パラメータ算出部32が第5の補正パラメータを算出する処理を終了する。   Thus, the correction parameter calculation unit 32 ends the process of calculating the fifth correction parameter.

以上、本実施の形態に係る第1の補正パラメータ(OFS1)、第2の補正パラメータ(G)、第3の補正パラメータ(G)、第4の補正パラメータ(OFS2)及び第5の補正パラメータ(G)の算出処理を、全画素について実行することにより補正パラメータテーブルが完成する。 As described above, the first correction parameter (OFS1), the second correction parameter (G L ), the third correction parameter (G M ), the fourth correction parameter (OFS2), and the fifth correction according to the present embodiment. The correction parameter table is completed by executing the parameter ( GH ) calculation process for all pixels.

<補正方法>
上記製造方法により製造された有機EL表示装置が補正パラメータを用いて補正信号電圧を生成するプロセスを図11及び図12を用いて説明する。
<Correction method>
A process in which the organic EL display device manufactured by the above manufacturing method generates the correction signal voltage using the correction parameter will be described with reference to FIGS.

図12は、本発明の実施の形態2に係る有機EL表示装置の補正プロセスを表すブロック図である。同図に記載されたブロック図は、制御回路10の有する補正部12の動作フローを表している。   FIG. 12 is a block diagram showing a correction process of the organic EL display device according to the second embodiment of the present invention. The block diagram shown in the figure represents an operation flow of the correction unit 12 included in the control circuit 10.

制御回路10は、外部からの映像信号を受信し、当該映像信号から各画素100が表示すべき階調データを取得する。補正部12は、この階調データで各画素100の発光素子110を発光させるための信号電圧を、以下のプロセスにより決定する。   The control circuit 10 receives an external video signal and acquires gradation data to be displayed by each pixel 100 from the video signal. The correction unit 12 determines a signal voltage for causing the light emitting element 110 of each pixel 100 to emit light based on the gradation data by the following process.

まず、補正部12は、対象画素が代表V−L特性を有する画素であるものと仮定して、上記階調データを表示するための補正前の信号電圧(入力値)を決定する。このときの階調データが、図11に記載されたグラフにおいて、低階調域の輝度LL1で発光素子110を発光させるデータであるとすると、補正部12は、入力値をVinLとする。   First, the correction unit 12 determines a signal voltage (input value) before correction for displaying the gradation data, assuming that the target pixel is a pixel having a representative VL characteristic. If the gradation data at this time is data for causing the light emitting element 110 to emit light with the luminance LL1 in the low gradation region in the graph illustrated in FIG. 11, the correction unit 12 sets the input value to VinL.

次に、補正部12は、減算器221及び226により、それぞれ、入力値VinLから第1基準電圧Vr1及び第2基準電圧Vr2を減算し(VinL−Vr1)及び(VinL−Vr2)を算出する。   Next, the correction unit 12 subtracts the first reference voltage Vr1 and the second reference voltage Vr2 from the input value VinL by the subtracters 221 and 226, respectively, and calculates (VinL−Vr1) and (VinL−Vr2).

次に、補正部12は、乗算器222により、算出した(VinL−Vr1)に第2の補正パラメータであるゲインGを乗じたG(VinL−Vr1)と、乗算器223により、第3の補正パラメータであるゲインGを乗じたG(VinL−Vr1)と、乗算器227により、算出した(VinL−Vr2)に第5の補正パラメータであるゲインGを乗じたG(VinL−Vr2)とを算出する。 Next, the correction unit 12 uses the multiplier 222 to multiply the calculated (VinL−Vr1) by the gain GL that is the second correction parameter, GL (VinL−Vr1), and the multiplier 223 to the correction parameter a is the gain G M obtained by multiplying the G M (VinL-Vr1), by the multiplier 227, the calculated (VinL-Vr2) to the fifth is a correction parameter gain G H multiplied by G H (VinL -Vr2).

次に、補正部12は、比較選択器224により、減算器221で算出した(VinL−Vr1)の値が負の場合には、乗算器222により算出したG(VinL−Vr1)を選択し、減算器221で算出した(VinL−Vr1)の値が正の場合には、乗算器223により算出したG(VinL−Vr1)を選択する。本例の場合、入力値VinL<第1基準電圧Vr1であるので、補正部12は、G(VinL−Vr1)を選択する。 Next, the correction unit 12, the comparison selector 224, when the value of which is calculated by the subtracter 221 (VinL-Vr1) is negative, and selects the calculated G L (VinL-Vr1) by the multiplier 222 , the value of which is calculated by the subtracter 221 (VinL-Vr1) is the case of positive, selects the calculated G M (VinL-Vr1) by the multiplier 223. In this example, since the input value VinL <the first reference voltage Vr1, the correction unit 12 selects G L (VinL−Vr1).

次に、補正部12は、加算器225により、選択したG(VinL−Vr1)に第1の補正パラメータであるオフセット(OFS1)及び基準値(Vr1)を加算する。図11及び式8より、加算器225の出力は以下の式12のようになる。 Next, the correction unit 12 uses the adder 225 to add the offset (OFS1) and the reference value (Vr1) that are the first correction parameters to the selected G L (VinL−Vr1). 11 and Expression 8, the output of the adder 225 is expressed by Expression 12 below.

加算器225の出力=G(VinL−Vr1)+OFS1+Vr1=Vc1+OFS1
(式12)
Output of adder 225 = G L (VinL−Vr1) + OFS1 + Vr1 = Vc1 + OFS1
(Formula 12)

上記式12におけるOFS1は、式7における第1の補正パラメータであり、上記加算器225の出力は、図11におけるV2となる。   OFS1 in Equation 12 is the first correction parameter in Equation 7, and the output of the adder 225 is V2 in FIG.

また、補正部12は、加算器228により、乗算器227の出力であるG(VinL−Vr1)に第4の補正パラメータであるオフセット(OFS2)及び基準値(Vr2)を加算する。 Further, the correction unit 12 adds the offset (OFS2) and the reference value (Vr2), which are the fourth correction parameters, to GH (VinL−Vr1) that is the output of the multiplier 227 by the adder 228.

次に、補正部12は、比較選択器229により、減算器226で算出した(VinL−Vr2)の値が負の場合には、加算器225により算出したV2を選択し、減算器226で算出した(VinL−Vr2)の値が正の場合には、加算器228の出力を選択する。本例の場合、入力値VinL<第2基準電圧Vr2であるので、補正部12は、V2を選択する。   Next, when the value of (VinL−Vr2) calculated by the subtractor 226 is negative by the comparison selector 229, the correction unit 12 selects V2 calculated by the adder 225 and calculates by the subtractor 226. When the value of (VinL−Vr2) is positive, the output of the adder 228 is selected. In this example, since the input value VinL <the second reference voltage Vr2, the correction unit 12 selects V2.

上記補正部12の補正動作により、対象画素の発光素子110を、階調データを反映した輝度LL1で発光させるための補正信号電圧V2が算出される。   By the correction operation of the correction unit 12, a correction signal voltage V2 for causing the light emitting element 110 of the target pixel to emit light with the luminance LL1 reflecting the gradation data is calculated.

なお、高階調域及び中階調域のデータに対して信号電圧を補正する場合も、補正部12は同様の補正プロセスを実行する。   Note that the correction unit 12 performs the same correction process when correcting the signal voltage with respect to the data of the high gradation region and the intermediate gradation region.

以上のように、本発明の実施の形態2に係る有機EL表示装置及びその製造方法により、本発明の表示装置は、中階調域1及び中階調域2で算出された2つのオフセット電圧、低階調域で算出された低階調ゲイン、中階調域で算出された中階調ゲイン及び高階調域で算出された高階調ゲインを用いて、より高精度な信号電圧の補正を実行でき、輝度ムラが低減された高品質な画像を表示することが可能となる。   As described above, according to the organic EL display device and the manufacturing method thereof according to Embodiment 2 of the present invention, the display device of the present invention has two offset voltages calculated in the intermediate gradation region 1 and the intermediate gradation region 2. Using the low gradation gain calculated in the low gradation area, the medium gradation gain calculated in the middle gradation area, and the high gradation gain calculated in the high gradation area, the signal voltage can be corrected with higher accuracy. It can be executed and a high quality image with reduced luminance unevenness can be displayed.

なお、上述した補正パラメータ算出方法では、低階調域ゲインG、中階調域ゲインG及び高階調域ゲインGを求めるにあたり、上記式8、9及び11のように、中階調域1の第1基準電圧Vr1及び中階調域2の第2基準電圧Vr2を用いたが、これに限られない。第1基準電圧Vr1及び第2基準電圧Vr2を用いずに、例えば、対象画素の電圧−輝度特性上の低階調域における2点間の傾きと、代表電圧−輝度特性上の低階調域における2点間の傾きとを比較して低階調域ゲインGを算出してもよい。この場合には、測定制御部31は、低階調域において2点の輝度計測を実施することになる。 In the above-described correction parameter calculation method, the low gradation area gain G L, Upon obtaining the medium gradation range gain G M and higher order Choiki gain G H, as in the above formulas 8,9 and 11, medium gradation Although the first reference voltage Vr1 in the area 1 and the second reference voltage Vr2 in the middle gradation area 2 are used, the present invention is not limited to this. Without using the first reference voltage Vr1 and the second reference voltage Vr2, for example, the slope between two points in the low gradation region on the voltage-luminance characteristics of the target pixel and the low gradation region on the representative voltage-luminance characteristics The low gradation range gain GL may be calculated by comparing the slope between the two points. In this case, the measurement control unit 31 performs luminance measurement at two points in the low gradation range.

以上、実施の形態1及び2に係る有機EL表示装置及びその製造方法のように、第1〜第3の補正パラメータを、表示パネル20に用いられる所定のメモリである記憶部13に書き込む。これにより、各画素100に入力される信号電圧を、この所定のメモリに格納された第1〜第3の補正パラメータを用いて補正することで、低階調域を含む全階調の補正精度を高めることができる。その結果、人間の目で認識される表示パネル20の輝度ムラを低減することができる。   As described above, the first to third correction parameters are written in the storage unit 13 which is a predetermined memory used in the display panel 20 as in the organic EL display device and the manufacturing method thereof according to the first and second embodiments. Thus, the correction accuracy of all gradations including the low gradation region is obtained by correcting the signal voltage input to each pixel 100 using the first to third correction parameters stored in the predetermined memory. Can be increased. As a result, the luminance unevenness of the display panel 20 recognized by human eyes can be reduced.

以上、本発明の表示装置の製造方法及び表示装置について、実施の形態1及び2に基づいて説明したが、本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではない。   As mentioned above, although the manufacturing method and display apparatus of the display apparatus of this invention were demonstrated based on Embodiment 1 and 2, this invention is not limited to embodiment mentioned above.

つまり、今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。   That is, the embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

例えば、実施の形態1及び2では、補正パラメータ決定装置30は、表示パネル20に含まれる全ての画素100について、第1〜第3の補正パラメータを決定することとした。しかし、補正パラメータ決定装置30は、表示パネル20に含まれる一部の画素100についてのみ、第1〜第3の補正パラメータを決定することにしてもよい。   For example, in the first and second embodiments, the correction parameter determination device 30 determines the first to third correction parameters for all the pixels 100 included in the display panel 20. However, the correction parameter determination device 30 may determine the first to third correction parameters for only some of the pixels 100 included in the display panel 20.

また、実施の形態1及び2では、補正パラメータ算出部32は、算出した第1〜第3の補正パラメータを、記憶部13に記憶させることとした。しかし、補正パラメータ算出部32は、第1〜第3の補正パラメータを記憶部13に記憶させることなく、処理を終了することにしてもよい。   In the first and second embodiments, the correction parameter calculation unit 32 stores the calculated first to third correction parameters in the storage unit 13. However, the correction parameter calculation unit 32 may end the process without storing the first to third correction parameters in the storage unit 13.

また、実施の形態1及び2では、各画素での電圧−輝度特性を利用して、各画素における電圧と輝度との関係から、補正パラメータを決定することとした。しかし、輝度の代わりに、発光素子110に流れる電流の値を用いて、各画素での電圧−電流特性を利用することで、各画素における電圧と電流との関係から、補正パラメータを決定することにしてもよい。輝度と電流とは比例関係にあるので、実施の形態1及び2での輝度を電流に置き換えることで、同様の方法で補正パラメータを決定することができる。   In the first and second embodiments, the correction parameter is determined from the relationship between the voltage and the luminance at each pixel by using the voltage-luminance characteristics at each pixel. However, the correction parameter is determined from the relationship between the voltage and current in each pixel by using the voltage-current characteristics of each pixel using the value of the current flowing through the light emitting element 110 instead of the luminance. It may be. Since the luminance and the current are in a proportional relationship, the correction parameter can be determined by a similar method by replacing the luminance in the first and second embodiments with the current.

なお、本発明の表示装置の製造方法において、第1の補正パラメータであるオフセット電圧を設定するのは、駆動トランジスタ120の閾値電圧値の付近である中階調領域が好ましい。ここで、本発明の表示装置の製造方法及び表示装置においては、駆動トランジスタ120の閾値電圧Vthは、以下のように定義される。   In the method for manufacturing a display device of the present invention, it is preferable to set the offset voltage that is the first correction parameter in the middle gradation region in the vicinity of the threshold voltage value of the drive transistor 120. Here, in the display device manufacturing method and the display device of the present invention, the threshold voltage Vth of the drive transistor 120 is defined as follows.

図13は、本発明の表示装置が有する駆動トランジスタの閾値電圧を定義するためのグラフである。同図には、駆動トランジスタ120のゲート−ソース間電圧Vgsとドレイン電流Idとの関係が表されている。   FIG. 13 is a graph for defining the threshold voltage of the drive transistor included in the display device of the present invention. The figure shows the relationship between the gate-source voltage Vgs of the drive transistor 120 and the drain current Id.

ここで、Vgs>Vthの強反転領域では、前述した式1の理論式が適用されることから、式1を変換して以下の式13が得られる。   Here, in the strong inversion region where Vgs> Vth, the above-described theoretical formula of Formula 1 is applied. Therefore, Formula 1 is converted to obtain Formula 13 below.

Figure 2013222057
Figure 2013222057

上記式13より、Id1/2−Vgsのグラフが直線となる領域が存在する。この直線のX軸切片がVthと定義される。ここで、上記直線は、Id1/2−Vgsのグラフの微分値が最大となる点での接線と定義される。上記定義により、閾値電圧Vthは、弱反転領域と強反転領域との境界点となる。 From the above equation 13, there is a region where the graph of Id 1/2 -Vgs is a straight line. The X-axis intercept of this straight line is defined as Vth. Here, the straight line is defined as a tangent at a point where the differential value of the graph of Id 1/2 -Vgs is maximized. According to the above definition, the threshold voltage Vth is a boundary point between the weak inversion region and the strong inversion region.

また、代表電圧−輝度特性の低階調域に属する1階調に対応する第2信号電圧(V2)は、好ましくは、各画素100で表示可能な最大階調の0%以上10%以下の階調に対応する電圧であることが好ましい。これにより、人間の視感度に合った低階調域にて第2の補正パラメータを算出することができる。   The second signal voltage (V2) corresponding to one gradation belonging to the low gradation region of the representative voltage-luminance characteristic is preferably 0% or more and 10% or less of the maximum gradation that can be displayed in each pixel 100. A voltage corresponding to the gradation is preferable. As a result, the second correction parameter can be calculated in a low gradation range suitable for human visibility.

また、代表電圧−輝度特性の高階調域に属する1階調に対応する第3信号電圧(V3)は、好ましくは、各画素100で表示可能な最大階調の20%以上100%以下の階調に対応する電圧であることが好ましい。これにより、人間の視感度に合った高階調域にて第3の補正パラメータを算出することができる。   The third signal voltage (V3) corresponding to one gradation belonging to the high gradation region of the representative voltage-luminance characteristic is preferably a level that is 20% or more and 100% or less of the maximum gradation that can be displayed in each pixel 100. It is preferable that the voltage corresponds to the tone. As a result, the third correction parameter can be calculated in a high gradation range suitable for human visibility.

また、実施の形態1及び2で説明した処理は、発光素子110が発光する赤色、緑色及び青色の各色について行われる。つまり、補正パラメータ算出部32は、当該赤色、緑色及び青色の各色について、第1〜第3の補正パラメータを求める。そして、補正パラメータ算出部32は、当該赤色、緑色及び青色の各色について、算出した第1〜第3の補正パラメータを制御部11に出力し、制御部11に、当該補正パラメータを記憶部13に書き込ませる。   Further, the processing described in Embodiments 1 and 2 is performed for each of red, green, and blue colors emitted from the light emitting element 110. That is, the correction parameter calculation unit 32 obtains first to third correction parameters for each of the red, green, and blue colors. Then, the correction parameter calculation unit 32 outputs the calculated first to third correction parameters for the red, green, and blue colors to the control unit 11, and the correction parameter is stored in the storage unit 13. Let it be written.

これにより、赤色、緑色、及び青色の各色について、輝度が均一になるように補正を行うことができる。   Thereby, it can correct | amend so that a brightness | luminance may become uniform about each color of red, green, and blue.

また、補正パラメータが記憶部13に書き込まれた有機EL表示装置1では、補正部12は、外部から入力された映像信号に対して記憶部13から複数の画素100の各々に対応する第1〜第3の補正パラメータを読み出して、複数の画素100の各々に対応する信号電圧を補正する。そして、補正部12は、補正した信号電圧を制御部11に出力し、制御部11はこの補正された信号電圧を表示パネル20に出力することで、表示パネル20に映像を表示させる。   Further, in the organic EL display device 1 in which the correction parameters are written in the storage unit 13, the correction unit 12 performs first to first corresponding to each of the plurality of pixels 100 from the storage unit 13 with respect to the video signal input from the outside. The third correction parameter is read, and the signal voltage corresponding to each of the plurality of pixels 100 is corrected. Then, the correction unit 12 outputs the corrected signal voltage to the control unit 11, and the control unit 11 outputs the corrected signal voltage to the display panel 20, thereby displaying an image on the display panel 20.

なお、例えば、有機EL表示装置1は、図14に記載されたような薄型フラットTVに内蔵される。本発明に係る有機EL表示装置1の製造方法により、表示パネル20の輝度ムラを全階調にわたり高精度に低減することができる有機EL表示装置1を備えた薄型フラットTVが実現される。   For example, the organic EL display device 1 is built in a thin flat TV as shown in FIG. By the manufacturing method of the organic EL display device 1 according to the present invention, a thin flat TV including the organic EL display device 1 capable of reducing the luminance unevenness of the display panel 20 over all gradations with high accuracy is realized.

本発明は、特に有機EL表示装置を内蔵する有機ELフラットパネルディスプレイの製造方法に有用であり、全階調にわたり高精度に表示パネルの輝度ムラを低減することができる有機EL表示装置の製造方法等として用いるのに最適である。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention is particularly useful for a method for manufacturing an organic EL flat panel display incorporating an organic EL display device, and a method for manufacturing an organic EL display device capable of reducing luminance unevenness of the display panel with high accuracy over all gradations. And so on.

1 有機EL表示装置
2 有機EL表示装置製造装置
10 制御回路
11 制御部
12 補正部
13 記憶部
13a 補正パラメータテーブル
20 表示パネル
21 表示部
22 走査線駆動回路
23 データ線駆動回路
24 走査線
25 データ線
30 補正パラメータ決定装置
31 測定制御部
32 補正パラメータ算出部
40 測定装置
100 画素
110 発光素子
120 駆動トランジスタ
130 選択トランジスタ
140 保持容量
150、160 電源
151 電源線
211、221、226 減算器
212、213、222、223、227 乗算器
214、224、229 比較選択器
215、225、228 加算器
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Organic EL display apparatus 2 Organic EL display apparatus manufacturing apparatus 10 Control circuit 11 Control part 12 Correction | amendment part 13 Memory | storage part 13a Correction | amendment parameter table 20 Display panel 21 Display part 22 Scan line drive circuit 23 Data line drive circuit 24 Scan line 25 Data line DESCRIPTION OF SYMBOLS 30 Correction parameter determination apparatus 31 Measurement control part 32 Correction parameter calculation part 40 Measurement apparatus 100 Pixel 110 Light emitting element 120 Drive transistor 130 Selection transistor 140 Holding capacity 150,160 Power supply 151 Power supply line 211,221,226 Subtractor 212,213,222 223, 227 Multiplier 214, 224, 229 Comparison selector 215, 225, 228 Adder

Claims (12)

発光素子と前記発光素子の輝度を反映する電流の供給を入力電圧により制御する駆動素子とを含む画素を複数含む表示パネルに共通する代表電圧−輝度特性を表す関数を取得する第1ステップと、
前記代表電圧−輝度特性の中階調域に属する1階調に対応する第1信号電圧を前記複数の画素の各々に含まれる前記駆動素子に印加し、前記複数の画素から発光される輝度を測定装置により測定する第2ステップと、
前記代表電圧−輝度特性から得られる輝度が、補正対象の画素である対象画素を前記第1信号電圧で発光させたときの輝度となる場合の第1基準電圧を求め、前記第1信号電圧を前記第1基準電圧にするための第1の補正パラメータを前記対象画素について求める第3ステップと、
前記代表電圧−輝度特性の、前記中階調域よりも階調が低い低階調域に属する1階調に対応する第2信号電圧を、前記対象画素に含まれる駆動素子に印加し、前記対象画素から発光される輝度を前記測定装置により測定する第4ステップと、
前記対象画素を前記第2信号電圧で発光させたときの輝度が、前記第2信号電圧に前記第1の補正パラメータが加算された第1補正電圧を前記関数に入力した場合に得られる第1基準輝度となるような係数である第2の補正パラメータを前記対象画素について求める第5ステップと、
前記代表電圧−輝度特性の、前記中階調域よりも階調が高い高階調域に属する1階調に対応する第3信号電圧を、前記対象画素に含まれる駆動素子に印加し、前記対象画素から発光される輝度を前記測定装置により測定する第6ステップと、
前記対象画素を前記第3信号電圧で発光させたときの輝度が、前記第3信号電圧に前記第1の補正パラメータが加算された第2補正電圧を前記関数に入力した場合に得られる第2基準輝度となるような係数である第3の補正パラメータを前記対象画素について求める第7ステップと、
を含む
表示装置の製造方法。
A first step of obtaining a function representing a representative voltage-luminance characteristic common to a display panel including a plurality of pixels including a light emitting element and a driving element that controls supply of a current reflecting the luminance of the light emitting element by an input voltage;
A first signal voltage corresponding to one gradation belonging to the middle gradation region of the representative voltage-luminance characteristic is applied to the driving element included in each of the plurality of pixels, and luminance emitted from the plurality of pixels is increased. A second step of measuring with a measuring device;
A first reference voltage is obtained when the luminance obtained from the representative voltage-luminance characteristic is the luminance when the target pixel, which is a correction target pixel, emits light with the first signal voltage, and the first signal voltage is determined. A third step of obtaining a first correction parameter for the target pixel to obtain the first reference voltage;
Applying a second signal voltage corresponding to one gradation belonging to a low gradation area whose gradation is lower than the intermediate gradation area of the representative voltage-luminance characteristics to a driving element included in the target pixel; A fourth step of measuring the luminance emitted from the target pixel by the measuring device;
A brightness obtained when the target pixel emits light at the second signal voltage is obtained when a first correction voltage obtained by adding the first correction parameter to the second signal voltage is input to the function. A fifth step of obtaining a second correction parameter for the target pixel, which is a coefficient that provides a reference luminance;
Applying a third signal voltage corresponding to one gradation belonging to a high gradation area having a gradation higher than the intermediate gradation area of the representative voltage-luminance characteristics to a driving element included in the target pixel; A sixth step of measuring the luminance emitted from the pixel by the measuring device;
The luminance obtained when the target pixel is caused to emit light at the third signal voltage is obtained when a second correction voltage obtained by adding the first correction parameter to the third signal voltage is input to the function. A seventh step of obtaining a third correction parameter for the target pixel, which is a coefficient that provides a reference luminance;
A method for manufacturing a display device.
前記第1の補正パラメータは、前記第1信号電圧と前記第1基準電圧との差を示したオフセット電圧であり、
前記第5ステップでは、
前記対象画素を前記第2信号電圧で発光させたときの輝度を前記関数に入力した場合に得られる第2基準電圧を演算にて求め、
前記第2の補正パラメータは、前記第1補正電圧及び前記第1基準電圧の電圧差と、前記第2基準電圧及び前記第1基準電圧の電圧差との比を示したゲインであり、
前記第7ステップでは、
前記対象画素を前記第3信号電圧で発光させたときの輝度を前記関数に入力した場合に得られる第3基準電圧を演算にて求め、
前記第3の補正パラメータは、前記第2補正電圧及び前記第1基準電圧の電圧差と、前記第3基準電圧及び前記第1基準電圧の電圧差との比を示したゲインである
請求項1記載の表示装置の製造方法。
The first correction parameter is an offset voltage indicating a difference between the first signal voltage and the first reference voltage;
In the fifth step,
Obtaining a second reference voltage obtained by inputting the luminance when the target pixel is caused to emit light at the second signal voltage into the function;
The second correction parameter is a gain indicating a ratio between a voltage difference between the first correction voltage and the first reference voltage and a voltage difference between the second reference voltage and the first reference voltage.
In the seventh step,
Obtaining a third reference voltage obtained by inputting the luminance when the target pixel is caused to emit light at the third signal voltage into the function by calculation;
The third correction parameter is a gain indicating a ratio between a voltage difference between the second correction voltage and the first reference voltage and a voltage difference between the third reference voltage and the first reference voltage. The manufacturing method of the display apparatus of description.
前記第1信号電圧は、前記駆動素子が動作する弱反転領域と強反転領域との境界における前記駆動素子のゲート−ソース間電圧である
請求項1または2に記載の表示装置の製造方法。
The method for manufacturing a display device according to claim 1, wherein the first signal voltage is a gate-source voltage of the drive element at a boundary between a weak inversion region and a strong inversion region in which the drive element operates.
前記駆動素子の閾値電圧は、前記中階調域に属する階調に対応する前記駆動素子のゲート−ソース間電圧である
請求項1〜3のいずれか1項に記載の表示装置の製造方法。
4. The method of manufacturing a display device according to claim 1, wherein the threshold voltage of the driving element is a gate-source voltage of the driving element corresponding to a gradation belonging to the middle gradation range. 5.
前記第2信号電圧は、各画素で表示可能な最大階調の0%以上10%以下の階調に対応する電圧である
請求項1〜4のいずれか1項に記載の表示装置の製造方法。
5. The method for manufacturing a display device according to claim 1, wherein the second signal voltage is a voltage corresponding to a gradation of 0% or more and 10% or less of a maximum gradation that can be displayed in each pixel. .
前記第3信号電圧は、各画素で表示可能な最大階調の20%以上100%以下の階調に対応する電圧である
請求項1〜5のいずれか1項に記載の表示装置の製造方法。
The method for manufacturing a display device according to claim 1, wherein the third signal voltage is a voltage corresponding to a gradation of 20% to 100% of a maximum gradation that can be displayed in each pixel. .
前記代表電圧−輝度特性は、前記表示パネルに含まれる複数の画素のうちの任意の一画素についての電圧−輝度特性である
請求項1〜6のいずれか1項に記載の表示装置の製造方法。
The method for manufacturing a display device according to claim 1, wherein the representative voltage-luminance characteristic is a voltage-luminance characteristic for any one of a plurality of pixels included in the display panel. .
前記代表電圧−輝度特性は、前記複数の画素を含む表示パネル全体に共通して設定される特性であって、前記表示パネルに含まれる各画素の電圧−輝度特性を平均化した特性である
請求項1〜6のいずれか1項に記載の表示装置の製造方法。
The representative voltage-luminance characteristic is a characteristic that is commonly set for the entire display panel including the plurality of pixels, and is an averaged voltage-luminance characteristic of each pixel included in the display panel. Item 7. A method for manufacturing a display device according to any one of Items 1 to 6.
前記画素に含まれる発光素子は、赤色、緑色及び青色のいずれかの色を発光し、
前記第3ステップでは、前記赤色、緑色及び青色の各色について前記第1の補正パラメータを求め、
前記第5ステップでは、前記赤色、緑色及び青色の各色について前記第2の補正パラメータを求め、
前記第7ステップでは、前記赤色、緑色及び青色の各色について前記第3の補正パラメータを求める
請求項1〜8のいずれか1項に記載の表示装置の製造方法。
The light emitting element included in the pixel emits one of red, green and blue colors,
In the third step, the first correction parameter is obtained for each of the red, green, and blue colors,
In the fifth step, the second correction parameter is obtained for each of the red, green, and blue colors,
The method for manufacturing a display device according to claim 1, wherein in the seventh step, the third correction parameter is obtained for each of the red, green, and blue colors.
さらに、
前記第3ステップで求められた前記第1の補正パラメータ、前記第5ステップで求められた前記第2の補正パラメータ及び前記第7ステップで求められた前記第3の補正パラメータを、前記表示パネルに用いられる所定のメモリに書き込む第8ステップを含む
請求項1〜9のいずれか1項に記載の表示装置の製造方法。
further,
The first correction parameter obtained in the third step, the second correction parameter obtained in the fifth step, and the third correction parameter obtained in the seventh step are displayed on the display panel. The method for manufacturing a display device according to claim 1, further comprising an eighth step of writing in a predetermined memory to be used.
前記測定装置はイメージセンサである
請求項1〜10のいずれか1項に記載の表示装置の製造方法。
The method for manufacturing a display device according to claim 1, wherein the measurement device is an image sensor.
発光素子と前記発光素子への電流の供給を制御する電圧駆動の駆動素子とを含む複数の画素と、
前記複数の画素の各々に信号電圧を供給するための複数のデータ線と、
前記複数の画素の各々に走査信号を供給するための複数の走査線と、
前記複数のデータ線に前記信号電圧を供給するデータ線駆動回路と、
前記複数の走査線に前記走査信号を供給する走査線駆動回路と、
所定の補正パラメータを前記複数の画素毎に格納する記憶部と、
外部から入力された映像信号に対して前記記憶部から前記複数の画素の各々に対応する前記所定の補正パラメータを読み出して、前記複数の画素の各々に対応する映像信号を補正する補正部と、を備え、
前記所定の補正パラメータは、
発光素子と前記発光素子への電流の供給を制御する電圧駆動の駆動素子とを含む画素を複数含む表示パネルに共通する代表電圧−輝度特性を表す関数を取得する第1ステップと、
前記代表電圧−輝度特性の中階調域に属する1階調に対応する第1信号電圧を前記複数の画素の各々に含まれる前記駆動素子に印加し、前記複数の画素から発光される輝度を測定装置により測定する第2ステップと、
前記代表電圧−輝度特性から得られる輝度が、補正対象の画素である対象画素を前記第1信号電圧で発光させたときの輝度となる場合の第1基準電圧を求め、前記第1信号電圧を前記第1基準電圧にするための第1の補正パラメータを前記対象画素について求める第3ステップと、
前記代表電圧−輝度特性の、前記中階調域よりも階調が低い低階調域に属する1階調に対応する第2信号電圧を、前記対象画素に含まれる駆動素子に印加し、前記対象画素から発光される輝度を前記測定装置により測定する第4ステップと、
前記対象画素を前記第2信号電圧で発光させたときの輝度が、前記第2信号電圧に前記第1の補正パラメータが加算された第1補正電圧を前記関数に入力した場合に得られる第1基準輝度となるような係数である第2の補正パラメータを前記対象画素について求める第5ステップと、
前記代表電圧−輝度特性の、前記中階調域よりも階調が高い高階調域に属する1階調に対応する第3信号電圧を、前記対象画素に含まれる駆動素子に印加し、前記対象画素から発光される輝度を前記測定装置により測定する第6ステップと、
前記対象画素を前記第3信号電圧で発光させたときの輝度が、前記第3信号電圧に前記第1の補正パラメータが加算された第2補正電圧を、前記関数に入力した場合に得られる第2基準輝度となるような係数である第3の補正パラメータを前記対象画素について求める第7ステップと、により生成され、
前記第1の補正パラメータは、前記第1信号電圧と前記第1基準電圧との差を示したオフセット電圧であり、
前記第2の補正パラメータは、前記第1補正電圧及び前記第1基準電圧の電圧差と、前記対象画素を前記第2信号電圧で発光させたときの輝度を前記代表電圧−輝度特性を表す関数に入力した場合に得られる第2基準電圧及び前記第1基準電圧の電圧差との比を示したゲインであり、
前記第3の補正パラメータは、前記第2補正電圧及び前記第1基準電圧の電圧差と、前記対象画素を前記第3信号電圧で発光させたときの輝度を前記代表電圧−輝度特性を表す関数に入力した場合に得られる前記第3基準電圧及び前記第1基準電圧の電圧差との比を示したゲインである
表示装置。
A plurality of pixels including a light-emitting element and a voltage-driven drive element that controls supply of current to the light-emitting element;
A plurality of data lines for supplying a signal voltage to each of the plurality of pixels;
A plurality of scanning lines for supplying a scanning signal to each of the plurality of pixels;
A data line driving circuit for supplying the signal voltage to the plurality of data lines;
A scanning line driving circuit for supplying the scanning signal to the plurality of scanning lines;
A storage unit for storing predetermined correction parameters for each of the plurality of pixels;
A correction unit that reads out the predetermined correction parameter corresponding to each of the plurality of pixels from the storage unit with respect to a video signal input from the outside, and corrects the video signal corresponding to each of the plurality of pixels; With
The predetermined correction parameter is:
A first step of obtaining a function representing a representative voltage-luminance characteristic common to a display panel including a plurality of pixels including a light-emitting element and a voltage-driven drive element that controls supply of current to the light-emitting element;
A first signal voltage corresponding to one gradation belonging to the middle gradation region of the representative voltage-luminance characteristic is applied to the driving element included in each of the plurality of pixels, and luminance emitted from the plurality of pixels is increased. A second step of measuring with a measuring device;
A first reference voltage is obtained when the luminance obtained from the representative voltage-luminance characteristic is the luminance when the target pixel, which is a correction target pixel, emits light with the first signal voltage, and the first signal voltage is determined. A third step of obtaining a first correction parameter for the target pixel to obtain the first reference voltage;
Applying a second signal voltage corresponding to one gradation belonging to a low gradation area whose gradation is lower than the intermediate gradation area of the representative voltage-luminance characteristics to a driving element included in the target pixel; A fourth step of measuring the luminance emitted from the target pixel by the measuring device;
A brightness obtained when the target pixel emits light at the second signal voltage is obtained when a first correction voltage obtained by adding the first correction parameter to the second signal voltage is input to the function. A fifth step of obtaining a second correction parameter for the target pixel, which is a coefficient that provides a reference luminance;
Applying a third signal voltage corresponding to one gradation belonging to a high gradation area having a gradation higher than the intermediate gradation area of the representative voltage-luminance characteristics to a driving element included in the target pixel; A sixth step of measuring the luminance emitted from the pixel by the measuring device;
The luminance obtained when the target pixel is caused to emit light with the third signal voltage is obtained when a second correction voltage obtained by adding the first correction parameter to the third signal voltage is input to the function. And a seventh step for obtaining a third correction parameter for the target pixel, which is a coefficient that gives 2 reference luminances,
The first correction parameter is an offset voltage indicating a difference between the first signal voltage and the first reference voltage;
The second correction parameter is a function representing a voltage difference between the first correction voltage and the first reference voltage, and a luminance when the target pixel emits light with the second signal voltage, representing the representative voltage-luminance characteristic. Is a gain indicating a ratio between a voltage difference between the second reference voltage and the first reference voltage obtained when input to
The third correction parameter is a function representing a voltage difference between the second correction voltage and the first reference voltage, and luminance when the target pixel is caused to emit light with the third signal voltage, representing the representative voltage-luminance characteristics. A display device, which is a gain indicating a ratio of a voltage difference between the third reference voltage and the first reference voltage obtained when input to the display device.
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