JP2013196606A - 図形検出装置、図形検出方法、及びプログラム - Google Patents
図形検出装置、図形検出方法、及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013196606A JP2013196606A JP2012065684A JP2012065684A JP2013196606A JP 2013196606 A JP2013196606 A JP 2013196606A JP 2012065684 A JP2012065684 A JP 2012065684A JP 2012065684 A JP2012065684 A JP 2012065684A JP 2013196606 A JP2013196606 A JP 2013196606A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plane
- edge point
- angle
- edge
- coordinates
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Image Analysis (AREA)
Abstract
【課題】ハフ変換手法を用いて図形を検出する際に、検出対象の図形の未検出の抑制と、検出対象でない図形の誤検出の抑制とを両立させる。
【解決手段】画像の各画素の輝度勾配の大きさ及び方向を算出する算出し、該算出した輝度勾配の大きさ及び方向に基づいて、画像中のエッジに対応する各画素をエッジ点として検出し、エッジ点のx−y平面上の座標をρ−θ平面上の座標に変換し、各エッジ点毎且つエッジ点の座標から変換されたρ−θ平面上の各座標毎に、ρ−θ平面上の座標の角度θが、エッジ点の輝度勾配の方向を示す角度を含む予め定められた範囲内にある場合には正の重みを設定し、ρ−θ平面上の座標の角度θが上記範囲外にある場合には負の重みを設定し、該設定した重みに応じた値をρ−θ平面を分割した分割領域毎に積算し、該積算値に基づいて画像から図形を検出する。
【選択図】図10
【解決手段】画像の各画素の輝度勾配の大きさ及び方向を算出する算出し、該算出した輝度勾配の大きさ及び方向に基づいて、画像中のエッジに対応する各画素をエッジ点として検出し、エッジ点のx−y平面上の座標をρ−θ平面上の座標に変換し、各エッジ点毎且つエッジ点の座標から変換されたρ−θ平面上の各座標毎に、ρ−θ平面上の座標の角度θが、エッジ点の輝度勾配の方向を示す角度を含む予め定められた範囲内にある場合には正の重みを設定し、ρ−θ平面上の座標の角度θが上記範囲外にある場合には負の重みを設定し、該設定した重みに応じた値をρ−θ平面を分割した分割領域毎に積算し、該積算値に基づいて画像から図形を検出する。
【選択図】図10
Description
本発明は、図形検出装置、図形検出方法、及びプログラムに係り、特に画像に含まれる図形を検出する図形検出装置、図形検出方法、及びプログラムに関する。
一般化ハフ変換手法を用いて図形を検出する際に、入力画像上の画素の輝度勾配方向の法線を有する図形パラメータと該輝度勾配方向と180度反対の方向の法線を有する図形パラメータとに限定して投票(パラメータ空間での積算処理)を行う図形検出装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
また、入力画像上の画素の輝度勾配方向に対応する法線を有する図形パラメータとその周辺パラメータに投票を行う線分・円弧の抽出方法も知られている(例えば、特許文献2参照)。
このような従来技術は何れも、入力画像上の画素の輝度勾配方向に対応する図形パラメータに限定して投票することにより、物体の輪郭線検出を効率的に行っている。図形検出の最終段では、投票結果(積算値)の最大値或いは極大値を検出(ピーク検出)して、最大値或いは極大値に対応するパラメータを図形検出結果として出力するようにしている。
しかしながら、実環境で撮像した画像から図形検出を行う場合には、照明条件などにより各画素の輝度勾配の大きさや方向が安定しないため、上記ピーク検出においてピークと見なすための積算値の閾値を低く設定して未検出を抑制する必要がある。一方、閾値を低く設定すると、意図しない図形パラメータをピークとして検出してしまう場合がある。例えば、輪郭線がかすれた領域等を含む検出対象の未検出を抑制したいところ、検出対象でない植栽など様々な方向の輝度勾配を持つ画素が混在するような領域が、ピークとして誤検出されてしまう場合がある。すなわち、従来技術では、未検出の抑制と、誤検出の抑制とを両立させることが困難であった。
本発明は、上記問題を解消するためになされたもので、ハフ変換手法を用いて図形を検出する際に、検出対象の図形の未検出の抑制と、検出対象でない図形の誤検出の抑制とを両立させることができる図形検出装置、図形検出方法、及びプログラムを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の図形検出装置は、画像の各画素の輝度勾配の大きさ及び方向を算出する算出手段と、前記算出された輝度勾配の大きさ及び方向に基づいて、前記画像中のエッジに対応する各画素をエッジ点として検出するエッジ点検出手段と、前記検出されたエッジ点のx−y平面上の座標を、x軸との角度θ及び原点からの距離ρで表わされるρ−θ平面上の座標に変換する変換手段と、各エッジ点毎且つ前記エッジ点の座標から変換されたρ−θ平面上の各座標毎に、前記変換されたρ−θ平面上の座標の角度θが、前記検出されたエッジ点の輝度勾配の方向を示す角度を含む予め定められた範囲内にある場合には正の重みを設定し、前記変換されたρ−θ平面上の座標の角度θが前記範囲外にある場合には負の重みを設定して、該設定した重みに応じた値をρ−θ平面を分割した分割領域毎に積算する積算手段と、前記積算手段により積算された積算値に基づいて、前記画像から図形を検出する図形検出手段と、を備えている。
エッジ点の輝度勾配の方向は、検出する図形が有する線の法線方向に近い。従って、ρ−θ平面において、法線の方向が輝度勾配の方向に近い線に対応する座標に対して正の重みを設定し、法線の方向が輝度勾配の方向と矛盾するような線に対応する座標に対して負の重みを設定して積算すれば、法線の方向が輝度勾配の方向に近い線に対応する積算値が相対的に高くなり、法線の方向が輝度勾配の方向と矛盾するような線に対応する積算値が相対的に低くなる。これにより、法線の方向が輝度勾配の方向に近い線が検出されやすく、法線の方向が輝度勾配の方向と矛盾するような線は検出されにくくなる。従って、検出対象の図形の未検出の抑制と、検出対象でない図形の誤検出の抑制とを両立させることができる。
なお、前記図形検出手段は直線を前記図形として検出するようにしてもよい。
また、本発明の図形検出方法は、画像の各画素の輝度勾配の大きさ及び方向を算出する算出ステップと、前記算出された輝度勾配の大きさ及び方向に基づいて、前記画像中のエッジに対応する各画素をエッジ点として検出するエッジ点検出ステップと、前記検出されたエッジ点のx−y平面上の座標を、x軸との角度θ及び原点からの距離ρで表わされるρ−θ平面上の座標に変換する変換ステップと、各エッジ点毎且つ前記エッジ点の座標から変換されたρ−θ平面上の各座標毎に、前記変換されたρ−θ平面上の座標の角度θが、前記検出されたエッジ点の輝度勾配の方向を示す角度を含む予め定められた範囲内にある場合には正の重みを設定し、前記変換されたρ−θ平面上の座標の角度θが前記範囲外にある場合には負の重みを設定して、該設定した重みに応じた値をρ−θ平面を分割した分割領域毎に積算する積算ステップと、前記積算手段により積算された積算値に基づいて、前記画像から図形を検出する図形検出ステップと、を備えている。
また、本発明のプログラムは、コンピュータを、画像の各画素の輝度勾配の大きさ及び方向を算出する算出手段、前記算出された輝度勾配の大きさ及び方向に基づいて、前記画像中のエッジに対応する各画素をエッジ点として検出するエッジ点検出手段、前記検出されたエッジ点のx−y平面上の座標を、x軸との角度θ及び原点からの距離ρで表わされるρ−θ平面上の座標に変換する変換手段、各エッジ点毎且つ前記エッジ点の座標から変換されたρ−θ平面上の各座標毎に、前記変換されたρ−θ平面上の座標の角度θが、前記検出されたエッジ点の輝度勾配の方向を示す角度を含む予め定められた範囲内にある場合には正の重みを設定し、前記変換されたρ−θ平面上の座標の角度θが前記範囲外にある場合には負の重みを設定して、該設定した重みに応じた値をρ−θ平面を分割した分割領域毎に積算する積算手段、及び前記積算手段により積算された積算値に基づいて、前記画像から図形を検出する図形検出手段、として機能させるためのプログラムである。
以上説明したように本発明によれば、ハフ変換手法を用いて図形を検出する際に、検出対象の未検出の抑制と、非検出対象の誤検出の抑制とを両立させることができる、という効果が得られる。
[第1の実施の形態]
以下、図面を参照して本実施の形態を詳細に説明する。図1は、本実施の形態に係る図形検出部10の構成を模式的に示した図である。図1に示すように、本実施の形態に係る図形検出部10は、画像入力部12、エッジ点検出部14、投票部16、探索部18、パラメータ出力部20を備えている。
画像入力部12は、検出対象となる図形を検出する画像を入力する。例えば、画像入力部12は、被写体を撮像する撮像装置であってもよいし、撮像装置で撮像された画像が該撮像装置や記憶手段等から入力されるインタフェースであってもよい。エッジ点検出部14は、画像入力部12に入力された画像からエッジ点を検出する。エッジ点は、入力された画像の中の低輝度領域と高輝度領域の境界(エッジ)に位置していると推定される画素をいう。投票部16は、検出されたエッジ点の各々について周知のハフ変換(後述)を行い、ハフ変換後のパラメータ空間において投票処理を行う。探索部18は、投票部16による投票結果に基づいて、ピーク検出を行う。パラメータ出力部20は、探索部18によりピーク検出して得られたパラメータを、図形検出結果として出力する。
なお、本実施形態では、図形検出部10により検出される図形が直線である場合について説明するが、検出対象は直線に限定されるものではなく、三角形や四角形或いは円形の図形であってもよい。
図形検出部10は、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、及びRAM(Random Access Memory)を備えたコンピュータにより構成されている。例えば、ROMを、図形検出部10で実行される図形検出処理を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体とし、CPUがROMに記憶されたプログラムを、RAMをワークエリアとして用いて実行することにより図形検出部10の各機能を実現するようにしてもよい。プログラムを記憶する記憶媒体は、ROMに限定されるものではなく、例えば、HDD(ハードディスク装置)や、CD−ROM、フラッシュメモリ等の記録媒体であってもよい。なお、図形検出部10は、画像入力部12、エッジ点検出部14、投票部16、探索部18、及びパラメータ出力部20の各々の機能を有する電子回路等のハードウェアにより構築されていてもよい。
次に、周知のハフ変換、直線検出(図形検出)の基本的な手法を概念的に説明する。
図3(A)は、x−y直交座標平面(以下、x−y平面という)においてプロットされた点を示す図であり、図3(B)は、該プロットされた点に対して直線当てはめ(直線検出)を行った図である。
図3(B)に示すように、直線は、パラメータ(ρ、θ)により表現できる。ここで、ρは原点からの距離を示し、θは、x軸を基準とした傾き(角度)を示す。
例えば、図4(A)に示すx−y平面上の直線L1は、ρθ直交座標表現により下記式(0)のように表わすことができる。
L1:ρ1=x・cosθ1+y・sinθ1 …(0)
x−y平面からρ−θ直交座標平面(以下、ρ−θ平面という)への変換をハフ変換といい、このハフ変換により、図4(B)に示すように、x−y平面上の直線L1が、ρ−θ平面上の1点Q1の座標値(ρ1、θ1)に変換される。従って、x−y平面上の複数の点が同一の直線上にある場合には、各点に対応するρ、θの値は同じ値となる。
また、図5(A)に示すように、x−y座標上の一点を通る傾きの異なる直線の集まり(直線群)は、図5(B)に示すように、ρ−θ平面上における1つの曲線に対応する。以下、この曲線をハフ曲線という。
そこで、図6(A)に示すx−y平面上の点に対応するハフ曲線の一例を図6(B)に示す。ここでは、x−y平面上の6つの点に対応する6本のハフ曲線がρ−θ平面上に描かれており、多くのハフ曲線が点Q1、Q2で交わっている。前述したように、x−y座標上の複数の点が同一の直線上にある場合には、各点に対応するρ、θの値は同じ値となることから、図6(C)及び図6(D)に示すように、多くのハフ曲線が交わる点Q1,Q2に対応する直線L1、L2が検出すべき直線となる。点Q1及び点Q2は、ρ−θ平面上の点の各々に対して、通過する曲線の数を積算し、その積算値が閾値を超える座標値から探索される。この積算処理を投票処理という。
直線に限らず、三角形や円などの一般図形も、パラメータ表現により図形を一意に特定でき、直線の場合と同様にハフ変換を用いてパラメータ空間に展開して投票処理により検出することができる。三角形のパラメータ表現の例としては、3頂点の座標組{(x1,y1),(x2,y2),(x3,y3)}がある。また、円形のパラメータ表現の例としては、中心座標と半径の組(xc,yc,r)がある。
ハフ変換による直線検出結果の組合せにより物体の輪郭検出を行う例も示す。入力された画像から輝度の変化点をエッジ点として検出し(図7(A)も参照)、検出したエッジ点にハフ変換を施して上記説明したように直線の当てはめを行い(図7(B)も参照)、当てはめた直線から画像に含まれる物体の輪郭線を検出する(図7(C)も参照)。
本実施の形態の図形検出部10は、上記説明した手法を基本として図形検出を行うが、更に、正の重み係数だけでなく負の重み係数も用いた投票を行って図形検出を行うものとする。
以下、図2を参照して、本実施の形態の図形検出処理の一例としての直線検出処理について説明する。以下では、ρ−θ平面を、パラメータ平面と呼称する。
ステップS100において、画像入力部12により入力された処理対象の画像を取得する。
ステップS102において、エッジ点検出部14は、処理対象の画像の境界位置の点であるエッジ点を検出する。エッジ点検出部14は、エッジ点の検出にあたり、まず、x−y座標上の各点(x、y)の輝度勾配の強度(エッジ強度)e、輝度勾配の方向(エッジ方向)gを算出する。
エッジ強度eは、周知の技術を用いて演算すればよい。例えば、縦方向のエッジ強度及び横方向のエッジ強度を各々演算する。この縦方向及び横方向のエッジ強度の演算には、例えば縦方向及び横方向のプレヴィットオペレータや、縦方向及び横方向のソーベルオペレータ等の微分オペレータを用いて行うことができる。
次に、エッジ点検出部14は、各点について上記演算した縦方向のエッジ強度DiffV及び横方向のエッジ強度DiffHを次の(1),(2)式に代入することでエッジ強度e、エッジ方向gを各々演算し、演算結果を不図示のメモリに記憶させる。
エッジ強度e=√((DiffV)2+(DiffH)2) …(1)
エッジ方向g=tan−1(DiffV/DiffH) …(2)
エッジ方向g=tan−1(DiffV/DiffH) …(2)
なお、(2)式で算出されるエッジ方向gは、演算対象の点においてエッジ強度が最大となる方向、すなわち図8(A)に示すように、演算対象の点を通る低輝度領域と高輝度領域の境界線に対する法線方向(図8(A)中の細矢印)を表し、(1)式で算出されるエッジ強度eは演算対象の点におけるエッジ方向gについてのエッジ強度を表している。図8(A)に示すように、輝度勾配の方向(図8(A)中の細矢印)と直線の法線の方向(図8(A)中の太矢印)とは、ほぼ一致する。
エッジ点検出部14は、エッジ強度e及びエッジ方向gに基づき、前記各点の中から低輝度領域と高輝度領域の境界線上に位置していると推定されるエッジ点を抽出する。エッジ点検出部14は、エッジ強度eが規定値以上で、且つ輝度勾配方向で極大となる点をエッジ点(x、y、e、g)として抽出する。抽出したエッジ点群をPとする。
以下、エッジ点抽出処理の一例を挙げる。例えば、上記演算された各エッジ強度e及びエッジ方向gに基づき、前記各点の中から低濃度領域と高濃度領域の境界線上に位置していると推定されるエッジ点(エッジ画素ともいう)を抽出する。具体的には、まず、画像から注目画素を選択する。次に、選択した注目画素のエッジ方向gに基づき、注目画素に対し、注目画素のエッジ方向gとおよそ同方向に存在している隣接画素を選択し、注目画素のエッジ強度eを該選択した隣接画素のエッジ強度eと比較する。
隣接画素の選択は、例えば、
(1)エッジ方向g: 0°±22.5°又は180°±22.5°→隣接画素:右隣及び左隣の画素
(2)エッジ方向g: 45°±22.5°又は225°±22.5°→隣接画素:右上及び左下の画素
(3)エッジ方向g: 90°±22.5°又は270°±22.5°→隣接画素:上隣及び下隣の画素
(4)エッジ方向g:135°±22.5°又は315°±22.5°→隣接画素:右下及び左上の画素
上記のように、エッジ方向gの角度範囲(0〜360°)を4種類の角度範囲に分割し、各角度範囲毎に選択する隣接画素を定めた隣接画素選択条件を定めておき、エッジ方向gが4種類の角度範囲のうちの何れに属しているかに応じて隣接画素を選択することで行うことができる。
(1)エッジ方向g: 0°±22.5°又は180°±22.5°→隣接画素:右隣及び左隣の画素
(2)エッジ方向g: 45°±22.5°又は225°±22.5°→隣接画素:右上及び左下の画素
(3)エッジ方向g: 90°±22.5°又は270°±22.5°→隣接画素:上隣及び下隣の画素
(4)エッジ方向g:135°±22.5°又は315°±22.5°→隣接画素:右下及び左上の画素
上記のように、エッジ方向gの角度範囲(0〜360°)を4種類の角度範囲に分割し、各角度範囲毎に選択する隣接画素を定めた隣接画素選択条件を定めておき、エッジ方向gが4種類の角度範囲のうちの何れに属しているかに応じて隣接画素を選択することで行うことができる。
なお、上記の条件ではエッジ方向gの値に拘わらず隣接画素として2個の画素が選択されるが、これに限られるものではなく、例えば個々の角度範囲±22.5°を若干広げる(例えば±30°等)ことで個々の角度範囲を一部オーバラップさせ、エッジ方向gが2種類の角度範囲に跨るオーバラップ領域に相当する角度であった場合には、2種類の角度範囲の何れかに対応する合計4個の画素を隣接画素として選択し、注目画素とのエッジ強度Eの比較を各々行うようにしてもよい。
次に、エッジ強度eを比較した結果、注目画素のエッジ強度eが最大であったか(注目画素のエッジ強度eが複数の隣接画素のエッジ強度eよりも大きかったか)否か判定する。なお、複数の隣接画素の中にエッジ強度eが注目画素と等しい画素が存在していた場合には、エッジ強度eが注目画素と等しい隣接画素に隣接する新たな隣接画素を前述の隣接画素選択条件を用いて選択し、選択した新たな隣接画素と注目画素のエッジ強度eを比較する。注目画素のエッジ強度eが最大であった場合には、注目画素がエッジ点(エッジ画素)であることを表す情報をメモリに記憶する。上記処理を各画素について行うことにより、最終的に全てのエッジ点が抽出される。
ステップS104において、投票部16は、パラメータ平面をδρ、δθで離散化する。ここで、離散化とは、パラメータ平面を予め定められた大きさ(δρ、δθ)の多数の格子に分割する処理をいう。パラメータ平面をM×N個に分割した場合には、該分割した分割領域毎に代表点{(ρ1、θ1)、(ρ2、θ2)、・・・(ρM、θN)}が対応付けられる。エッジ点検出部14は各分割領域に対して投票を行うため、{(ρ1、θ1)、(ρ2、θ2)、・・・(ρM、θN)}の各々に対応する投票用のカウンタV(ρ、θ)が用意される。エッジ点検出部14は、各カウンタV(ρ、θ)を初期化(ゼロクリア)する。
このように、本実施形態では、分割領域に投票して、各分割領域の投票数を算出し、算出された各分割領域の投票数に基づいて、分割領域に対して予め定められた代表点を直線候補として抽出する。このとき、ハフ曲線の交点が集中する分割領域の代表点を直線候補として抽出することによって、一点で交わるはずの同一の直線上の点が、撮像時の量子化誤差の影響等によりある範囲の中で交わることを考慮することができる。
ステップS106において、投票部16は、エッジ点群Pから、エッジ点Pi(xi、yi、ei、gi)を選択する。ここで、iは、1からエッジ点群Pに含まれるエッジ点の総数までの整数値を取り得る。投票部16は、該選択したエッジ点Piに対し、以下のステップS108〜ステップS114の処理を行う。
ステップS108において、投票部16は、エッジ点Piについて、角度θの範囲(最小値θi,min、及び最大値θi,max)を設定して、パラメータ平面の領域を限定する。最小値θi,min、及び最大値θi,maxの各々は、エッジ方向giに応じて予め経験的に定められており、θi,min<gi<θi,maxの関係を満たす。
前述したように、エッジ点の輝度勾配により、検出対象の直線の方向も、ある程度限定できる(図8(B)も参照)。従って、パラメータ平面上において、検出すべき直線に対応する点群(ハフ曲線)の範囲もある程度限定できるため(図8(C)も参照)、ここでは、最小値θi,minと、最大値θi,maxとを定めて後述するように投票に用いるようにしている。
ステップS110において、投票部16は、エッジ点Piのパラメータ平面内のθj(ここで、θjは、0〜360度の範囲内の角度)に対応するρjを算出して、ハフ変換を行う(式(0)も参照)。座標(θj、ρj)は、エッジ点Piに対応するハフ曲線上の1点の座標である。
ステップS112において、投票部16は、上記ステップS108で行った領域限定に応じて、重み係数αi,jを設定する。具体的には、θjがθi,min≦θj≦θi,maxならば、重み係数をαi,j=αp(>0)として、そうでなければ、重み係数をαi,j=αn(<0)とする。
ステップS114において、投票部16は、(ρj、θj)に該当するカウンタVに、上記設定した重み係数αi,jを積算(投票)する。ここでは、重み係数αi,jをそのまま積算したが、予め定められた基準値に重み係数αi,jを乗算した値を積算してもよい。
ステップS116において、投票部16は、エッジ点Piのハフ変換及び投票処理が終了したか否かを判定し、終了していないと判定した場合には、θjの値を変更して、ステップS110に戻り、上記処理を繰り返す。すなわち、投票部16は、予め定められた刻み間隔でθjの値を変更して(ただし、0°≦θj≦360°)、パラメータ平面内の各θに対し、ステップS110〜ステップS114を行う。これにより、エッジ点Piに対応するハフ曲線を構成する点群の各点のパラメータ平面上の座標が求められ、各座標に対応する分割領域への投票が行なわれる。
ステップS116において、投票部16は、エッジ点Piのハフ変換及び投票処理が終了したと判定した場合には、ステップS118に進み、全エッジ点の投票処理が終了したか否かを判定する。投票部16は、全エッジ点の投票処理がまだ終了していないと判定した場合には、ステップS106に戻り、エッジ点群Pから、他のエッジ点Pi(xi、yi、ei、gi)を選択し、上記処理を繰り返す。
ステップS118において、全エッジ点の投票処理が終了したと判定された場合には、ステップ120において、探索部18は、全カウンタVの積算値から、最大値Vmax又は極大値群{Vimax}を予め定められた閾値を用いて探索する。すなわち、閾値を超える積算値の中から最大値Vmax或いは極大値群{Vimax}が探索される。なお、最大値Vmax及び極大値群{Vimax}のどちらを探索するかは、予め設定しておく。
ステップ122において、パラメータ出力部20は、探索部18により最大Vmaxが探索された場合には、該最大値VmaxをカウントしたカウンタVに対応する分割領域に対して予め定められた代表点の各パラメータを直線候補として出力する。また、探索部18により極大値群{Vimax}が探索された場合には、該極大値群{Vimax}の各々の各積算値をカウントしたカウンタVに対応する分割領域の各々に対して予め定められた代表点の各々のパラメータを直線候補として出力する。
ここで、上記のように重み係数を設定して積算する投票処理を行った場合の効果について説明する。
上記では、輝度勾配の方向に応じてパラメータ平面を限定(最小値θi,min及び最大値θi,maxの設定)しているが、例えば、単に、θjが該限定した範囲内になければ、カウンタVの何れにも投票しないとするだけであれば、図9(B)に示すように、図9(A)の直線上のエッジ点の一部がかすれ等により欠落した場合と、図9(C)に示すように、植栽等のようにエッジ点の輝度勾配方向が不均一な場合との区別がつかず、エッジ点の欠落による未検出と、ランダムな輝度勾配方向を有する点群が存在する領域での誤検出の双方を抑制することは困難である。すなわち、投票後の探索に用いる閾値を低くすれば、図9(B)に示すエッジ点の欠落による未検出の抑制はできるが、図9(C)に示すように本来検出すべきでないランダムな輝度勾配方向を有する点群が存在する領域までもが直線として検出されてしまうおそれがある。
そこで、本実施形態では、エッジ点の輝度勾配方向が不均一な領域が直線として検出されないよう、本実施形態では、該輝度勾配方向に応じて、直線パラメータの範囲を限定し、θjが該範囲内の場合には、プラス(正)の重み付けをカウンタVに積算し、θjが該範囲外の場合には、マイナス(負)の重み係数をカウンタVに積算するようにしている(図10(B)も参照)。これにより、上記範囲外となる直線パラメータに対応するカウンタと、上記範囲内となる直線パラメータに対応するカウンタとで、同じ回数だけ投票されたとしても、前者の積算値を後者の積算値よりも相対的に低くすることができるため、例えエッジ点欠落を抑制するために閾値を下げたとしても、上記検出すべきでない輝度勾配が不均一な領域のパラメータが直線として誤検出されることが抑制される。
これにより、エッジ点の欠落等による未検出の抑制及び不均一な輝度勾配方向を有する点群が存在する領域の誤検出の抑制を両立させることができる。
10 図形検出部
12 画像入力部
14 エッジ点検出部
16 投票部
18 探索部
20 パラメータ出力部
12 画像入力部
14 エッジ点検出部
16 投票部
18 探索部
20 パラメータ出力部
Claims (4)
- 画像の各画素の輝度勾配の大きさ及び方向を算出する算出手段と、
前記算出された輝度勾配の大きさ及び方向に基づいて、前記画像中のエッジに対応する各画素をエッジ点として検出するエッジ点検出手段と、
前記検出されたエッジ点のx−y平面上の座標を、x軸との角度θ及び原点からの距離ρで表わされるρ−θ平面上の座標に変換する変換手段と、
各エッジ点毎且つ前記エッジ点の座標から変換されたρ−θ平面上の各座標毎に、前記変換されたρ−θ平面上の座標の角度θが、前記検出されたエッジ点の輝度勾配の方向を示す角度を含む予め定められた範囲内にある場合には正の重みを設定し、前記変換されたρ−θ平面上の座標の角度θが前記範囲外にある場合には負の重みを設定して、該設定した重みに応じた値をρ−θ平面を分割した分割領域毎に積算する積算手段と、
前記積算手段により積算された積算値に基づいて、前記画像から図形を検出する図形検出手段と、
を備えた図形検出装置。 - 前記図形検出手段は前記図形として直線を検出する請求項1に記載の図形検出装置。
- 画像の各画素の輝度勾配の大きさ及び方向を算出する算出ステップと、
前記算出された輝度勾配の大きさ及び方向に基づいて、前記画像中のエッジに対応する各画素をエッジ点として検出するエッジ点検出ステップと、
前記検出されたエッジ点のx−y平面上の座標を、x軸との角度θ及び原点からの距離ρで表わされるρ−θ平面上の座標に変換する変換ステップと、
各エッジ点毎且つ前記エッジ点の座標から変換されたρ−θ平面上の各座標毎に、前記変換されたρ−θ平面上の座標の角度θが、前記検出されたエッジ点の輝度勾配の方向を示す角度を含む予め定められた範囲内にある場合には正の重みを設定し、前記変換されたρ−θ平面上の座標の角度θが前記範囲外にある場合には負の重みを設定して、該設定した重みに応じた値をρ−θ平面を分割した分割領域毎に積算する積算ステップと、
前記積算手段により積算された積算値に基づいて、前記画像から図形を検出する図形検出ステップと、
を備えた図形検出方法。 - コンピュータを、
画像の各画素の輝度勾配の大きさ及び方向を算出する算出手段、
前記算出された輝度勾配の大きさ及び方向に基づいて、前記画像中のエッジに対応する各画素をエッジ点として検出するエッジ点検出手段、
前記検出されたエッジ点のx−y平面上の座標を、x軸との角度θ及び原点からの距離ρで表わされるρ−θ平面上の座標に変換する変換手段、
各エッジ点毎且つ前記エッジ点の座標から変換されたρ−θ平面上の各座標毎に、前記変換されたρ−θ平面上の座標の角度θが、前記検出されたエッジ点の輝度勾配の方向を示す角度を含む予め定められた範囲内にある場合には正の重みを設定し、前記変換されたρ−θ平面上の座標の角度θが前記範囲外にある場合には負の重みを設定して、該設定した重みに応じた値をρ−θ平面を分割した分割領域毎に積算する積算手段、及び
前記積算手段により積算された積算値に基づいて、前記画像から図形を検出する図形検出手段、
として機能させるためのプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012065684A JP2013196606A (ja) | 2012-03-22 | 2012-03-22 | 図形検出装置、図形検出方法、及びプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012065684A JP2013196606A (ja) | 2012-03-22 | 2012-03-22 | 図形検出装置、図形検出方法、及びプログラム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013196606A true JP2013196606A (ja) | 2013-09-30 |
Family
ID=49395409
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012065684A Pending JP2013196606A (ja) | 2012-03-22 | 2012-03-22 | 図形検出装置、図形検出方法、及びプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2013196606A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112101379A (zh) * | 2020-08-24 | 2020-12-18 | 北京配天技术有限公司 | 形状匹配方法、计算机设备及存储装置 |
CN115060754A (zh) * | 2022-04-29 | 2022-09-16 | 江苏隧锦五金制造有限公司 | 一种不锈钢制品表面质量检测方法 |
CN115060754B (zh) * | 2022-04-29 | 2024-05-24 | 上海沛圣科技有限公司 | 一种不锈钢制品表面质量检测方法 |
-
2012
- 2012-03-22 JP JP2012065684A patent/JP2013196606A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112101379A (zh) * | 2020-08-24 | 2020-12-18 | 北京配天技术有限公司 | 形状匹配方法、计算机设备及存储装置 |
CN115060754A (zh) * | 2022-04-29 | 2022-09-16 | 江苏隧锦五金制造有限公司 | 一种不锈钢制品表面质量检测方法 |
CN115060754B (zh) * | 2022-04-29 | 2024-05-24 | 上海沛圣科技有限公司 | 一种不锈钢制品表面质量检测方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4528309B2 (ja) | オブジェクト検出方法、オブジェクト検出装置、およびオブジェクト検出プログラム | |
Juneja et al. | Performance evaluation of edge detection techniques for images in spatial domain | |
JP5976198B2 (ja) | 人数計数装置および人数計数方法 | |
US9547901B2 (en) | Method and apparatus for detecting point of interest (POI) in three-dimensional (3D) point clouds | |
US9311533B2 (en) | Device and method for detecting the presence of a logo in a picture | |
TWI479431B (zh) | 物件追蹤方法 | |
CN109060836A (zh) | 基于机器视觉的高压油管接头外螺纹检测方法 | |
CN102722731A (zh) | 一种基于改进sift算法的高效图像匹配方法 | |
TWI512640B (zh) | 自動描繪物件邊緣走向之方法 | |
JP2018067120A (ja) | 指紋処理装置、指紋処理方法、プログラム、指紋処理回路 | |
US20140085260A1 (en) | Method and system for finger sensing, related screen apparatus and computer program product | |
CN105023265A (zh) | 鱼眼镜头下的棋盘格角点自动检测方法 | |
TWI500904B (zh) | 立體攝影機及用來測量立體攝影機與基準面之距離的自動測距方法 | |
US10074551B2 (en) | Position detection apparatus, position detection method, information processing program, and storage medium | |
JP2016162420A (ja) | 注目領域検出装置、注目領域検出方法及びプログラム | |
CN104992400A (zh) | 多光谱图像配准方法和装置 | |
JP2008152555A (ja) | 画像認識方法及び画像認識装置 | |
JP5290915B2 (ja) | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム | |
WO2022062853A1 (zh) | 遥感图像的配准方法、装置、设备、存储介质及系统 | |
Wang et al. | An improved RANSAC based on the scale variation homogeneity | |
Yan et al. | Quality analysis on ransac-based roof facets extraction from airborne lidar data | |
JP2013196606A (ja) | 図形検出装置、図形検出方法、及びプログラム | |
CN103034998A (zh) | 旋转对称图形的中心与旋转角检测方法及装置 | |
Dahiya et al. | Object oriented approach for building extraction from high resolution satellite images | |
JPH03282683A (ja) | ノイズ量に自動的に適応するパターン検出方法および装置 |