JP2013189326A - Method for manufacturing cover glass for electronic device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing a cover glass for an electronic device, which can reduce the manufacture cost of a cover glass for an electronic device (hereinafter, called a cover glass) good in dimensional accuracy.SOLUTION: A method for manufacturing a cover glass for an electronic device including an etching step of dissolving a platy glass along a processing pattern to obtain a glass substrate in a shape of a cover glass for an electronic device includes a non-photosensitive resist layer formation step of forming a non-photosensitive resist layer composed of a material having non-photosensitivity and etching resistance on a principal surface of the platy glass so as to cover at least a part of a non-dissolving region in the etching step, a photosensitive resist layer formation step of forming a photosensitive resist layer on the principal surface of the platy glass so as to cover a dissolving region in the etching step and adjoin the non-photosensitive resist layer, a patterning step of exposing and developing the photosensitive resist layer to thereby form the processing pattern on the photosensitive resist layer, and the etching step carried out after the patterning step.

Description

携帯機器(携帯型電子機器)の表示画面や内部基板のカバー部材として用いられる携帯機器用カバーガラスと、ポインティングデバイスなどのタッチセンサにおける内部基板のカバー部材として用いられるタッチセンサ用カバーガラスとを含む電子機器用カバーガラスの製造方法および製造装置に関する。   Includes a cover glass for a portable device used as a display member for a portable device (portable electronic device) or a cover member for an internal substrate, and a cover glass for a touch sensor used as a cover member for the internal substrate in a touch sensor such as a pointing device. The present invention relates to a manufacturing method and a manufacturing apparatus for a cover glass for electronic equipment.

電子機器としての例えば携帯機器の表示画面や回路基板等を保護することを主目的として、携帯機器用カバーガラスが用いられている。近年、携帯機器の薄型化や高機能化に加え、様々な形状の携帯機器の筐体及び表示画面に対応すべく、様々な形状及び機能を有する携帯機器用カバーガラスが作製されている。   For example, a cover glass for a portable device is used mainly for protecting a display screen, a circuit board, and the like of the portable device as an electronic device. In recent years, cover glasses for mobile devices having various shapes and functions have been produced in order to correspond to the casings and display screens of mobile devices having various shapes in addition to thinning and high functionality of the mobile devices.

例えば、携帯機器の表示画面近傍に設けられたスピーカまたはマイクの音声入出力用の孔を有する携帯機器用カバーガラスを作製する場合、携帯機器用カバーガラスの母材である板状ガラスの主表面に対して、孔のパターンに対応したマスキングを施した後にエッチングを行う。これにより、所望の形状の孔を携帯機器用カバーガラスに形成することができる。   For example, when producing a cover glass for a portable device having a voice input / output hole for a speaker or microphone provided in the vicinity of the display screen of the portable device, the main surface of the plate glass that is the base material of the cover glass for the portable device On the other hand, etching is performed after masking corresponding to the hole pattern. Thereby, the hole of a desired shape can be formed in the cover glass for portable devices.

板状ガラス等のガラスに対してマスキングを施す方法としては、例えば、スクリーン印刷法、ラミネートフィルム加工法(以下、フィルム貼着法)及びレジスト塗布フォトリソグラフィ法等が知られている(特許文献1)。ここで、フィルム貼着法とは、片面に粘着層が設けられたマスキングフィルムを所望のパターンに形成し、このマスキングフィルムをガラスの表面に貼り付ける方法である。また、レジスト塗布フォトリソグラフィ法とは、フォトレジスト(感光性レジスト)からなるレジスト層をガラスの表面に塗布した後に露光及び現像を行って、所望のパターンを形成する方法である。   As a method for masking glass such as plate glass, for example, a screen printing method, a laminate film processing method (hereinafter, film sticking method), a resist coating photolithography method, and the like are known (Patent Document 1). ). Here, the film sticking method is a method in which a masking film provided with an adhesive layer on one side is formed into a desired pattern, and this masking film is attached to the surface of glass. The resist coating photolithography method is a method of forming a desired pattern by applying a resist layer made of a photoresist (photosensitive resist) to the surface of glass and then performing exposure and development.

特開2006−182644号公報JP 2006-182644 A

しかしながら、フィルム貼着法を用いてマスキングを施す場合には、微細なパターンを形成することが困難であるため、高い寸法精度(例えば5〜20μm程度)が要求される孔や溝等を形成することが困難であった。   However, when masking is performed using a film sticking method, it is difficult to form a fine pattern, so holes and grooves that require high dimensional accuracy (for example, about 5 to 20 μm) are formed. It was difficult.

一方、レジスト塗布フォトリソグラフィ法を用いてマスキングを施す場合には、フィルム貼着法と比較して、微細な孔や溝等を形成することが可能である。しかしながら、フォトレジストの材料は高価であるため、フォトレジストを用いて携帯機器用カバーガラスの外形全体のパターンを形成する場合には、携帯機器用カバーガラスの製造コストが嵩むという問題が生じていた。特に、携帯機器用カバーガラスが、大型の表示画面を有する携帯機器に設けられる場合には、携帯機器用カバーガラスの外形全体のパターンを形成するために必要なフォトレジストの全面積のうち高い寸法精度が不要な部分の面積が大きく形成されることから、この問題が顕在化している。さらに携帯機器用カバーガラスの形状が孔のない場合、高い寸法精度が不要な部分の面積がさらに大きくなる傾向がある。なお、このような問題は、携帯機器用カバーガラスのみならず、タッチセンサ用カバーガラスでも生じる。   On the other hand, when masking is performed using a resist coating photolithography method, it is possible to form fine holes, grooves, and the like as compared with the film sticking method. However, since the material of the photoresist is expensive, when the pattern of the entire outer shape of the cover glass for portable devices is formed using the photoresist, there is a problem that the manufacturing cost of the cover glass for portable devices is increased. . In particular, when the cover glass for a mobile device is provided in a mobile device having a large display screen, the higher dimension of the total area of the photoresist necessary for forming a pattern of the entire outer shape of the cover glass for the mobile device. This problem has become apparent because the area of the portion that does not require accuracy is formed large. Furthermore, when the shape of the cover glass for portable devices does not have a hole, the area of a portion that does not require high dimensional accuracy tends to be further increased. Such a problem occurs not only in the cover glass for portable devices but also in the cover glass for touch sensors.

そこで、本発明は、電子機器用カバーガラスの寸法精度を維持しつつ、電子機器用カバーガラスの製造コストを低減することができる電子機器用カバーガラスの製造方法を提供することを目的とする。   Then, an object of this invention is to provide the manufacturing method of the cover glass for electronic devices which can reduce the manufacturing cost of the cover glass for electronic devices, maintaining the dimensional accuracy of the cover glass for electronic devices.

本発明の態様は、電子機器用カバーガラスの製造方法である。
前記製造方法は、
板状ガラスをエッチングして、電子機器用カバーガラスの形状を形成するための加工パターンに沿って前記板状ガラスを溶解することにより電子機器用カバーガラスの形状のガラス基板を得るエッチング工程を含む電子機器用カバーガラスのガラス基板の製造方法であって、
前記エッチング工程での非溶解領域の少なくとも一部を覆うように、非感光性及び耐エッチング性を有する材料からなる非感光性レジスト層を前記板状ガラスの主表面に形成する非感光性レジスト層形成工程と、
前記エッチング工程での溶解領域を含む領域を覆いかつ前記非感光性レジスト層と隣接するように、前記板状ガラスの主表面に感光性レジスト層を形成する感光性レジスト層形成工程と、
前記感光性レジスト層に対して露光及び現像を行うことにより、前記加工パターンを前記感光性レジスト層に形成するパターニング工程と、
前記パターニング工程の後に行われる前記エッチング工程と、を含む。
The aspect of this invention is a manufacturing method of the cover glass for electronic devices.
The manufacturing method includes:
An etching step of etching the plate glass to obtain a glass substrate in the shape of the cover glass for electronic equipment by dissolving the plate glass along a processing pattern for forming the shape of the cover glass for electronic equipment A method of manufacturing a glass substrate for a cover glass for electronic equipment,
A non-photosensitive resist layer which forms a non-photosensitive resist layer made of a material having non-photosensitivity and etching resistance on the main surface of the plate-like glass so as to cover at least a part of the non-dissolved region in the etching step Forming process;
A photosensitive resist layer forming step of forming a photosensitive resist layer on the main surface of the sheet glass so as to cover a region including the dissolved region in the etching step and to be adjacent to the non-photosensitive resist layer;
A patterning step of forming the processed pattern on the photosensitive resist layer by exposing and developing the photosensitive resist layer;
And the etching step performed after the patterning step.

上記製造方法において、前記非感光性レジスト層及び前記感光性レジスト層の一方の縁部は、他方に重なるように設けられる、ことが好ましい。   In the said manufacturing method, it is preferable that one edge part of the said non-photosensitive resist layer and the said photosensitive resist layer is provided so that it may overlap with the other.

上記製造方法において、前記感光性レジスト層形成工程では、前記感光性レジスト層を前記板状ガラスの一方の主表面に格子状に形成し、前記エッチング工程では、前記一方の主表面の領域のうち前記非感光性レジスト層に覆われた領域をそれぞれ含むように、複数の前記ガラス基板の外形を形成する、ことが好ましい。   In the manufacturing method, in the photosensitive resist layer forming step, the photosensitive resist layer is formed in a lattice shape on one main surface of the sheet glass, and in the etching step, the region of the one main surface It is preferable to form a plurality of outer shapes of the glass substrates so as to respectively include regions covered with the non-photosensitive resist layer.

上記製造方法において、前記感光性レジスト層形成工程は、前記非感光性レジスト層形成工程の前に行われることが好ましい。
また、上記製造方法において、前記非感光性レジスト層形成工程が、前記感光性レジスト層形成工程の前に行われてもよい。
In the manufacturing method, the photosensitive resist layer forming step is preferably performed before the non-photosensitive resist layer forming step.
In the above manufacturing method, the non-photosensitive resist layer forming step may be performed before the photosensitive resist layer forming step.

上記製造方法において、前記非感光性レジスト層は、アクリル樹脂(PMMA)、エポキシ樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリイミド樹脂を主成分とするレジストあるいはフィルムからなり、前記感光性レジスト層は、アクリル樹脂(PMMA)を主成分とするフォトレジストからなる、ことが好ましい。   In the manufacturing method, the non-photosensitive resist layer is made of a resist or a film mainly composed of acrylic resin (PMMA), epoxy resin, polypropylene resin, polyvinyl chloride resin, polyethylene resin, polyimide resin, and the photosensitive resist layer. The layer is preferably made of a photoresist mainly composed of acrylic resin (PMMA).

本発明によれば、寸法精度の良好な電子機器用カバーガラスの製造コストを低減することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the manufacturing cost of the cover glass for electronic devices with favorable dimensional accuracy can be reduced.

本実施形態の携帯機器用カバーガラスの斜視図。The perspective view of the cover glass for portable devices of this embodiment. 携帯機器用カバーガラスに用いられるガラス基板の平面図。The top view of the glass substrate used for the cover glass for portable devices. 図2に示すA−A線に沿う断面図。Sectional drawing which follows the AA line shown in FIG. (a)は板状ガラスの平面図、(b)はフォトレジスト層形成工程後の板状ガラスの平面図。(A) is a top view of plate glass, (b) is a top view of plate glass after a photoresist layer formation process. (a)〜(c)は図4(b)に示した板状ガラスに対してレジストパターン及び非感光性レジスト層を形成する工程を順に示す要部拡大図。(A)-(c) is a principal part enlarged view which shows the process of forming a resist pattern and a non-photosensitive resist layer in order with respect to the plate-like glass shown in FIG.4 (b). (a)〜(c)はエッチングを利用してガラス基板の外形を形成する工程を順に示す断面図。(A)-(c) is sectional drawing which shows the process of forming the external shape of a glass substrate in order using an etching. 図6(a)に示した工程の変形例を示す断面図。Sectional drawing which shows the modification of the process shown to Fig.6 (a). (a),(b)は図5(a),(c)に示した工程の変形例を示す断面図。(A), (b) is sectional drawing which shows the modification of the process shown to Fig.5 (a), (c).

(1)本実施形態の携帯機器用カバーガラス
本実施形態の携帯機器用カバーガラス(以下、カバーガラスという)の構成について図1〜図3を参照して説明する。図1は本実施形態のカバーガラスの斜視図、図2はカバーガラスに用いられるガラス基板の平面図、図3は図2に示すA−A線に沿う断面図である。なお、以下では、電子機器用カバーガラスとして、携帯機器用カバーガラスについて説明するが、本発明は、タッチセンサにおける内部基板のカバー部材として用いられるタッチセンサ用カバーガラスにも適用することができる。
(1) The cover glass for portable devices of this embodiment The structure of the cover glass for portable devices of this embodiment (henceforth a cover glass) is demonstrated with reference to FIGS. FIG. 1 is a perspective view of a cover glass of the present embodiment, FIG. 2 is a plan view of a glass substrate used for the cover glass, and FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line AA shown in FIG. In the following, a cover glass for a portable device will be described as a cover glass for an electronic device, but the present invention can also be applied to a cover glass for a touch sensor used as a cover member for an internal substrate in the touch sensor.

本実施形態のカバーガラスは、例えば、表示画面に対する操作入力(タッチパネル機能としての操作入力)が可能な携帯機器、特に携帯電話機、PDA、デジタルスティルカメラ、ビデオカメラ、またはスレートPC等の携帯機器の表示画面や回路基板等を保護するために用いられる。このため、カバーガラスは、落下あるいは表示画面への操作入力に対する仕様を満足させるべく、薄く且つ高い強度を有するガラスである必要があることから、イオン交換処理による化学強化がなされていることが好ましい。   The cover glass of the present embodiment is, for example, a portable device capable of performing an operation input (operation input as a touch panel function) on a display screen, particularly a portable device such as a mobile phone, a PDA, a digital still camera, a video camera, or a slate PC. Used to protect display screens and circuit boards. For this reason, the cover glass needs to be thin and high-strength glass in order to satisfy the specifications for dropping or operating input to the display screen. Therefore, it is preferable that the cover glass is chemically strengthened by ion exchange treatment. .

図1〜図3に示すように、本実施形態のカバーガラスは板状に形成されており、カバーガラスを構成するガラス基板10の主表面(後述する第1主表面11及び第2主表面12)は、例えば、長手方向の寸法が8〜16cm、短手方向の寸法が4〜8cmの略矩形状に形成されている。なお、ガラス基板10の主表面の形状は、略矩形状あるいは矩形状に限られず、各種携帯機器の形状や構造等に応じて適宜変更してもよい。   As shown in FIGS. 1-3, the cover glass of this embodiment is formed in plate shape, and the main surface (the 1st main surface 11 and the 2nd main surface 12 which are mentioned later) of the glass substrate 10 which comprises a cover glass. ) Is formed in, for example, a substantially rectangular shape having a longitudinal dimension of 8 to 16 cm and a lateral dimension of 4 to 8 cm. In addition, the shape of the main surface of the glass substrate 10 is not limited to a substantially rectangular shape or a rectangular shape, and may be appropriately changed according to the shape and structure of various portable devices.

ガラス基板10の板厚Tは特に限定されないが、カバーガラスを利用する各種携帯機器の重量増大の抑制や、携帯機器の薄型化の観点から、通常は、1mm以下であることが好ましく、0.7mm以下であることがより好ましい。なお、板厚Tの下限値は、カバーガラスの機械的強度を確保する観点から、0.2mm以上とすることが好ましい。   The thickness T of the glass substrate 10 is not particularly limited, but it is usually preferably 1 mm or less from the viewpoint of suppressing an increase in the weight of various portable devices using cover glass and reducing the thickness of the portable device. More preferably, it is 7 mm or less. In addition, it is preferable that the lower limit value of the plate thickness T is 0.2 mm or more from the viewpoint of ensuring the mechanical strength of the cover glass.

ガラス基板10は、携帯機器の筐体に、携帯機器の表示画面を覆うように取り付け可能に形成されている。ガラス基板10は、携帯機器の筐体に取り付けられたときに携帯機器の外側に面する第1主表面11と、携帯機器の表示画面に取り付けられたときに携帯機器の表示画面に面する第2主表面12とを有している。なお、カバーガラスを携帯機器の筐体に取り付ける際の位置ずれを抑制し適正に嵌合するために、第1主表面11及び第2主表面12の外周は、後述するパターニング工程において、高い寸法精度(例えば5〜20μm程度)でパターン形成されていることが好ましい。   The glass substrate 10 is formed to be attachable to the casing of the portable device so as to cover the display screen of the portable device. The glass substrate 10 has a first main surface 11 that faces the outside of the portable device when attached to the casing of the portable device, and a first main surface 11 that faces the display screen of the portable device when attached to the display screen of the portable device. 2 main surfaces 12. In addition, in order to suppress the position shift at the time of attaching a cover glass to the housing | casing of a portable apparatus and to fit appropriately, the outer periphery of the 1st main surface 11 and the 2nd main surface 12 is a high dimension in the patterning process mentioned later. The pattern is preferably formed with accuracy (for example, about 5 to 20 μm).

第1主表面11及び第2主表面12は、図3に示すように、ガラス基板10の板厚方向(図中Z方向)に互いに対向している。第1主表面11は、中央部11a(図2において破線で囲まれた部分)と、周縁部11b(図2において第1主表面11のうち中央部11a以外の部分)とを有している。中央部11aは、カバーガラスが携帯機器の筐体に取り付けられたときに、携帯機器の表示画面の表示領域と重なる部分である。中央部11aの形状及び位置は、表示画面の表示領域の形状及び位置等に応じて適宜変更されてもよい。また、第2主表面12は、第1主表面11と同様に、中央部12a及び周縁部12b(何れも図3に示す)を有している。なお、各主表面11,12の中央部11a,12aは、表示画面の表示領域と重なる部分であるため、形状および孔加工を要しない。このため、中央部11a,12aは、パターニング工程において、各主表面11,12の外周等と同程度の寸法精度でパターン形成されなくてもよい。   As shown in FIG. 3, the first main surface 11 and the second main surface 12 oppose each other in the plate thickness direction (Z direction in the drawing) of the glass substrate 10. The first main surface 11 has a central part 11a (a part surrounded by a broken line in FIG. 2) and a peripheral part 11b (a part other than the central part 11a in the first main surface 11 in FIG. 2). . The central portion 11a is a portion that overlaps the display area of the display screen of the mobile device when the cover glass is attached to the housing of the mobile device. The shape and position of the central portion 11a may be appropriately changed according to the shape and position of the display area of the display screen. Moreover, the 2nd main surface 12 has the center part 12a and the peripheral part 12b (all are shown in FIG. 3) similarly to the 1st main surface 11. FIG. In addition, since center part 11a, 12a of each main surface 11 and 12 is a part which overlaps with the display area of a display screen, a shape and a hole process are not required. For this reason, the central portions 11a and 12a do not have to be patterned with the same dimensional accuracy as the outer circumferences of the main surfaces 11 and 12 in the patterning step.

第1主表面11の周縁部11bには、例えばスピーカまたはマイクの音声入出力用の孔13が設けられている。孔13は、図3に示すように、ガラス基板10を板厚方向に貫通するように形成されている。孔13の配置位置は、例えばスピーカまたはマイクの配置位置に応じて適宜変更してもよい。なお、ガラス基板10が携帯機器の筐体に取り付けられる際に、スピーカまたはマイクと孔13との間で位置ずれが生じるのを抑制するために、孔13は、パターニング工程において、高い寸法精度でパターン形成されていることが好ましい。   The peripheral edge portion 11b of the first main surface 11 is provided with a voice input / output hole 13 of a speaker or a microphone, for example. As shown in FIG. 3, the hole 13 is formed so as to penetrate the glass substrate 10 in the plate thickness direction. The arrangement position of the hole 13 may be appropriately changed according to the arrangement position of the speaker or the microphone, for example. Note that the hole 13 is formed with high dimensional accuracy in the patterning process in order to prevent positional displacement between the speaker or microphone and the hole 13 when the glass substrate 10 is attached to the casing of the portable device. A pattern is preferably formed.

また、孔13の開口面13a(第1主表面11あるいは第2主表面12と同一平面をなす面)の形状は、携帯機器の筐体表面におけるスピーカまたはマイクの形状等に応じて適宜変更してもよい。   In addition, the shape of the opening surface 13a of the hole 13 (the surface that is coplanar with the first main surface 11 or the second main surface 12) is appropriately changed according to the shape of the speaker or microphone on the surface of the casing of the portable device. May be.

第1主表面11の周縁部11bあるいは第2主表面12の周縁部12bには、ガラス基板10に入射しようとする光を遮蔽するための遮蔽部(図示省略)が設けられてもよい。遮蔽部を設ける場合には、例えば、塗料を多層に積層することにより遮蔽部を形成してもよい。   A shielding part (not shown) for shielding light that is about to enter the glass substrate 10 may be provided at the peripheral edge part 11 b of the first main surface 11 or the peripheral edge part 12 b of the second main surface 12. When providing a shielding part, you may form a shielding part by laminating | stacking a coating material in multiple layers, for example.

さらに、ガラス基板10には、一対の主表面11,12のうち一方の主表面から他方の主表面に向かって窪む凹部(溝を含む)が設けられてもよい。この凹部は、例えば、携帯機器の筐体と嵌合するためのものであってもよいし、遮蔽部やタッチパネル用モジュール等を設けるためのものであってもよい。また、凹部は、当該一方の主表面からガラス基板10の側面(外周端面)に亘って切り欠き状に形成されてもよいし、ガラス基板10の側面から当該一方の主表面の面方向内側に間隔をおいて形成されてもよい。また凹部は携帯機器の表側から見たときに文字または図形として認識しうる凹部、或いは携帯機器の表側から触れたときに認識しうる凹部でもよい。   Furthermore, the glass substrate 10 may be provided with a recess (including a groove) that is recessed from one main surface to the other main surface of the pair of main surfaces 11 and 12. For example, the recess may be for fitting with a casing of a mobile device, or may be for providing a shielding unit, a touch panel module, or the like. Further, the recess may be formed in a cutout shape from the one main surface to the side surface (outer peripheral end surface) of the glass substrate 10, or from the side surface of the glass substrate 10 to the inside in the surface direction of the one main surface. It may be formed at intervals. The concave portion may be a concave portion that can be recognized as a character or a figure when viewed from the front side of the portable device, or a concave portion that can be recognized when touched from the front side of the portable device.

ガラス基板10の一対の主表面11,12のそれぞれには、後述する化学強化によって所定厚さの圧縮応力層が形成されてもよい。この圧縮応力層は、ガラス基板10を構成するガラス材料に元々含まれるアルカリ金属の一部を、よりイオン半径の大きなアルカリ金属に置換した変質層である。例えば、本実施形態のガラス基板10を構成するガラス材料に含まれるナトリウムイオンまたはカリウムイオンに置換される。   A compressive stress layer having a predetermined thickness may be formed on each of the pair of main surfaces 11 and 12 of the glass substrate 10 by chemical strengthening described later. This compressive stress layer is an altered layer in which a part of the alkali metal originally contained in the glass material constituting the glass substrate 10 is replaced with an alkali metal having a larger ionic radius. For example, it substitutes for sodium ions or potassium ions contained in the glass material constituting the glass substrate 10 of the present embodiment.

本実施形態のガラス基板10は、例えば、アルミノシリケートガラス、ソーダライムガラス、ボロシリケートガラス等で構成されていることが好ましい。中でも、ガラス基板10は、SiOと、Alと、LiOおよびNaOから選択される少なくとも1種のアルカリ金属酸化物と、を含むアルミノシリケートガラスで構成されていることが好ましい。 The glass substrate 10 of this embodiment is preferably composed of, for example, aluminosilicate glass, soda lime glass, borosilicate glass, or the like. Among these, the glass substrate 10 is made of an aluminosilicate glass containing SiO 2 , Al 2 O 3, and at least one alkali metal oxide selected from Li 2 O and Na 2 O. preferable.

(2)実施形態のカバーガラスの製造方法
次に、本実施形態のカバーガラスの製造方法について図4〜図6を参照して説明する。図4(a)は板状ガラスの平面図、図4(b)はフォトレジスト層形成工程後の板状ガラスの平面図、図5(a)〜(c)は図4(b)に示した板状ガラスに対してレジストパターン及び非感光性レジスト層を形成する工程を順に示す要部拡大図、図6(a)〜(c)はエッチングを利用してガラス基板の外形を形成する工程を順に示す断面図である。
(2) Manufacturing method of cover glass of embodiment Next, the manufacturing method of the cover glass of this embodiment is demonstrated with reference to FIGS. 4 (a) is a plan view of the sheet glass, FIG. 4 (b) is a plan view of the sheet glass after the photoresist layer forming step, and FIGS. 5 (a) to 5 (c) are shown in FIG. 4 (b). The principal part enlarged view which shows the process of forming a resist pattern and a non-photosensitive resist layer with respect to the plate-shaped glass in order, FIG.6 (a)-(c) is the process of forming the external shape of a glass substrate using an etching. FIG.

(2−1)板状ガラス作製工程
板状ガラス作製工程は、溶融ガラスから板状ガラス100(図4(a)に示す)を作製する工程であり、例えばフロート法を採ることができる。フロート法は、溶融炉で溶融された溶融ガラスを、溶融錫が貯溜されたフロートバスに供給し、その溶融ガラスをフロートバスの溶融錫上で水平方向に引き出して成形する方法である。フロート法によれば、溶融ガラスをフロートバスの溶融錫上に浮かせることにより、溶融ガラスが自然に広がって安定した厚みになるとともに、この溶融ガラスを水平方向に引き出すことにより、帯状のガラスリボンが成形される。そして、ガラスリボンは、フロートバスの下流側に設けられた徐冷炉に搬送されて徐冷された後に、所望の大きさの板状ガラス100が得られるように切断される。
(2-1) Sheet Glass Production Process The sheet glass production process is a process for producing a sheet glass 100 (shown in FIG. 4A) from molten glass, and for example, a float method can be adopted. The float process is a method in which molten glass melted in a melting furnace is supplied to a float bath in which molten tin is stored, and the molten glass is drawn on the molten tin in the float bath in the horizontal direction and molded. According to the float method, the molten glass floats on the molten tin of the float bath, and the molten glass naturally spreads to a stable thickness. Molded. And a glass ribbon is cut | disconnected so that the plate-shaped glass 100 of a desired magnitude | size may be obtained after being conveyed to the slow cooling furnace provided in the downstream of the float bath, and cooling slowly.

なお、板状ガラス100を作製する方法として、フロート法の他にダウンドロー法やプレス法等を用いてもよい。ここで、表面精度の良好な板状ガラス100が得られる点及び板状ガラス100の大量生産に適している点から、フロート法を用いることが好ましい。   As a method for producing the plate glass 100, a downdraw method, a press method, or the like may be used in addition to the float method. Here, it is preferable to use the float method from the point that the plate-like glass 100 with good surface accuracy is obtained and the point that the plate-like glass 100 is suitable for mass production.

本実施形態において作製された板状ガラス100は、例えば、長手方向(図4(a)においてX方向)の寸法が30〜100cm、短手方向(図4(a)においてY方向)の寸法が30〜100cmの略矩形状に形成されている。上記板状ガラスの寸法は任意に設定することができ、例えば、輸送および製造中の取扱いの都合および製造効率などの観点に基づいて設定してもよい。また、板状ガラス100は、板厚方向に対向する一対の主表面(第1主表面101及び第2主表面102)を有している。ここで、板状ガラス100の第1主表面101は、ガラス基板10の第1主表面11に対応する。また、板状ガラス100の第2主表面102は、ガラス基板10の第2主表面12に対応する。なお、図4(a),(b)及び図5(a)において破線で示した部分は、板状ガラス100から得られる複数のガラス基板10それぞれの第1主表面11を示している。   The plate-like glass 100 produced in the present embodiment has, for example, a dimension in the longitudinal direction (X direction in FIG. 4A) of 30 to 100 cm and a dimension in the lateral direction (Y direction in FIG. 4A). It is formed in a substantially rectangular shape of 30 to 100 cm. The dimensions of the plate glass can be set arbitrarily, and may be set based on the viewpoints of convenience of handling during transportation and manufacturing, manufacturing efficiency, and the like. Further, the sheet glass 100 has a pair of main surfaces (a first main surface 101 and a second main surface 102) that face each other in the plate thickness direction. Here, the first main surface 101 of the sheet glass 100 corresponds to the first main surface 11 of the glass substrate 10. Further, the second main surface 102 of the plate glass 100 corresponds to the second main surface 12 of the glass substrate 10. In addition, the part shown with the broken line in FIG. 4 (a), (b) and FIG. 5 (a) has shown the 1st main surface 11 of each of the several glass substrate 10 obtained from the sheet glass 100. FIG.

(2−2)形状加工工程
次に形状加工工程を行う。形状加工工程は、板状ガラス作製工程で作製された板状ガラス100から、複数のガラス基板10の外形を形成する工程である。形状加工工程は、以下の(a−1)フォトレジスト層形成工程、(a−2)パターニング工程、(a−3)非感光性レジスト層形成工程、(a−4)エッチング工程、を含む。
(2-2) Shape processing step Next, a shape processing step is performed. A shape processing process is a process of forming the external shape of the several glass substrate 10 from the plate glass 100 produced at the plate glass production process. The shape processing step includes the following (a-1) photoresist layer forming step, (a-2) patterning step, (a-3) non-photosensitive resist layer forming step, and (a-4) etching step.

形状加工工程においてエッチングを利用することにより、機械加工を利用してガラス基板の外形を形成した場合と比較して、カバーガラスの切断面における微小な傷やマイクロクラック等の発生を抑制できる。このため、微小な傷やマイクロクラック等に起因してカバーガラスの強度が低下することを防ぐことができる。   By using etching in the shape processing step, it is possible to suppress the occurrence of minute scratches, microcracks, and the like on the cut surface of the cover glass as compared with the case where the outer shape of the glass substrate is formed using machining. For this reason, it can prevent that the intensity | strength of a cover glass falls due to a micro crack, a micro crack, etc.

また、形状加工工程では、後述するフォトレジスト層110及び非感光性レジスト層120を、板状ガラス100の一対の主表面101,102の両面に形成してもよいし、後のエッチング工程において一方の主表面のみをエッチング溶液に接触させる場合には、当該一方の主表面のみに形成してもよい。以下の説明においては、フォトレジスト層110及び非感光性レジスト層120が、板状ガラス100の一対の主表面101,102の両面に形成されることを前提として説明する。   In the shape processing step, a photoresist layer 110 and a non-photosensitive resist layer 120, which will be described later, may be formed on both surfaces of the pair of main surfaces 101 and 102 of the glass sheet 100. When only the main surface is brought into contact with the etching solution, it may be formed only on the one main surface. In the following description, it is assumed that the photoresist layer 110 and the non-photosensitive resist layer 120 are formed on both surfaces of the pair of main surfaces 101 and 102 of the sheet glass 100.

(a−1)フォトレジスト層(感光性レジスト層)形成工程
フォトレジスト層形成工程では、板状ガラス100の各主表面101,102それぞれの一部の領域(後述する第2領域R2)を覆うように、フォトレジスト層(耐エッチング層)110を形成する。ここで、一部の領域とは、エッチング工程において溶解される溶解領域を含む領域である。各主表面101,102それぞれの一部の領域にフォトレジスト層110を形成することにより、各主表面101,102それぞれの全面にフォトレジスト層110を形成する場合と比べて、高価な材料を含むフォトレジストの使用量を低減することができる。このため、カバーガラスの製造コストを低減することができる。また、各主表面101,102それぞれの一部の領域に対してレジスト塗布フォトリソグラフィ法を用いたマスキングを施すことができるので、当該一部の領域に微細な孔や溝等を形成することができる。
(A-1) Photoresist layer (photosensitive resist layer) forming step In the photoresist layer forming step, a partial region (second region R2 described later) of each of the main surfaces 101 and 102 of the sheet glass 100 is covered. Thus, a photoresist layer (etching resistant layer) 110 is formed. Here, the partial region is a region including a dissolved region that is dissolved in the etching process. By forming the photoresist layer 110 in a partial region of each of the main surfaces 101 and 102, an expensive material is included as compared with the case where the photoresist layer 110 is formed on the entire surface of each of the main surfaces 101 and 102. The amount of photoresist used can be reduced. For this reason, the manufacturing cost of a cover glass can be reduced. Further, since a part of each of the main surfaces 101 and 102 can be masked using a resist coating photolithography method, a minute hole or groove can be formed in the part of the part. it can.

フォトレジスト層110としては、後のパターニング工程において、パターニング処理により部分的に除去可能であり、且つ、エッチング工程において用いるエッチング溶液に対しては溶解・除去されない性質(耐エッチャント性)を有するものから適宜選択できる。このようなフォトレジスト層110としては、少なくとも弗酸水溶液に対して難溶性または不溶性を示すフォトレジストを用いることが好ましく、例えば、アクリル樹脂(PMMA:Polymethyl methacrylate)を主成分とすることが好ましい。   The photoresist layer 110 has a property (etchant resistance) that can be partially removed by a patterning process in a later patterning process and is not dissolved or removed by an etching solution used in the etching process. It can be selected as appropriate. As such a photoresist layer 110, it is preferable to use a photoresist that is at least insoluble or insoluble in an aqueous hydrofluoric acid solution. For example, an acrylic resin (PMMA: Polymethyl methacrylate) is preferably used as a main component.

フォトレジスト層110は、例えば、スクリーン印刷法、塗布法、浸漬法あるいはキャップコート法等を利用することにより形成してもよい。ここで、スクリーン印刷法とは、開口部の有無により所定のパターンが形成されたスクリーンを各主表面101,102上に置き、当該開口部にフォトレジストを通すことにより、各主表面101,102上にフォトレジスト層110を形成する方法である。また、塗布法とは、刷毛等を用いてフォトレジスト液を各主表面101,102に塗布することにより、各主表面101,102上にフォトレジスト層110を形成する方法である。さらに、浸漬法とは、フォトレジスト液に各主表面101,102を浸漬させることにより、各主表面101,102上にフォトレジスト層110を形成する方法である。さらにまた、キャップコート法とは、毛細管現象を利用してフォトレジスト液を各主表面101,102に付着させることにより、各主表面101,102上にフォトレジスト層110を形成する方法である。   The photoresist layer 110 may be formed by using, for example, a screen printing method, a coating method, a dipping method, a cap coating method, or the like. Here, the screen printing method is a method in which a screen on which a predetermined pattern is formed depending on the presence / absence of an opening is placed on each main surface 101, 102, and a photoresist is passed through the opening, thereby allowing each main surface 101, 102 to pass. In this method, a photoresist layer 110 is formed thereon. The coating method is a method of forming a photoresist layer 110 on each main surface 101, 102 by applying a photoresist solution to each main surface 101, 102 using a brush or the like. Further, the dipping method is a method of forming the photoresist layer 110 on the main surfaces 101 and 102 by immersing the main surfaces 101 and 102 in a photoresist solution. Furthermore, the cap coat method is a method of forming a photoresist layer 110 on each main surface 101, 102 by attaching a photoresist solution to each main surface 101, 102 using a capillary phenomenon.

ここで、スクリーン印刷法は、形成されるフォトレジスト層の板状ガラス表面での位置精度の点で好ましい。またキャップコート法は部分的に塗布することが可能な点で好ましい。   Here, the screen printing method is preferable in terms of the positional accuracy of the formed photoresist layer on the plate-like glass surface. The cap coat method is preferable in that it can be partially applied.

フォトレジスト層形成工程後の板状ガラス100の一例を図4(b)に示す。図4(b)に示すように、フォトレジスト層110は、第1主表面101及び/又は第2主表面102に格子状に形成されていることが好ましい。これにより、第1主表面101及び/又は第2主表面102の全面にフォトレジスト層110を形成する場合と比べて、フォトレジストの使用量を低減することができる。特に、後述する第1領域R1と前記第2領域R2の面積比、R1の面積/(R1の面積+R2の面積)が大きい場合、フォトレジストの使用量をより多く低減することができる。   An example of the sheet glass 100 after the photoresist layer forming step is shown in FIG. As shown in FIG. 4B, the photoresist layer 110 is preferably formed in a lattice pattern on the first main surface 101 and / or the second main surface 102. Thereby, compared with the case where the photoresist layer 110 is formed in the whole surface of the 1st main surface 101 and / or the 2nd main surface 102, the usage-amount of a photoresist can be reduced. In particular, when the area ratio between the first region R1 and the second region R2, which will be described later, the area of R1 / (the area of R1 + the area of R2) is large, the amount of photoresist used can be further reduced.

ここで長辺80mm、短辺60mmの矩形形状を例に前述のフォトレジストの使用量の低減を算出する。エッチング処理によるガラス基板の外形形成に必要な切断幅W1(図6(a)に示す)を2mm、前記外形形成のパターンおよび隣接するフォトレジスト以外の材料からなる保護膜と前記外形加工用のパターンを連結するため重ね合わすための幅W2(図6(a)に示す)の合計が2mm(片側、両側4mm)のフォトレジストパターンが必要な場合、1ガラス基板を形成するために必要なフォトレジストの面積は、(80+2)×(60+2)−(80−4)×(60−4)=828mmとなる。切断幅2mm(片側1mm、両側で2mm)を含めた1ガラス基板の形成に必要な面積は(80+2)mm×(60+2)mm=5084mmなので、フォトレジストの使用量は、828/5084=0.16と約84%低減することができる計算となる。 Here, the reduction in the amount of use of the above-described photoresist is calculated using a rectangular shape having a long side of 80 mm and a short side of 60 mm as an example. The cutting width W1 (shown in FIG. 6 (a)) necessary for forming the outer shape of the glass substrate by etching is 2 mm, the outer shape forming pattern, the protective film made of a material other than the adjacent photoresist, and the outer shape processing pattern. When a photoresist pattern having a total width W2 (shown in FIG. 6 (a)) of 2 mm (one side, 4 mm on both sides) is required to form a glass substrate. Is (80 + 2) × (60 + 2) − (80−4) × (60−4) = 828 mm 2 . Since the area required for forming one glass substrate including a cutting width of 2 mm (1 mm on one side and 2 mm on both sides) is (80 + 2) mm × (60 + 2) mm = 5084 mm 2 , the amount of photoresist used is 828/5084 = 0. .16 and a calculation that can be reduced by about 84%.

なお、図4(b)において、フォトレジスト層110に区画された複数の領域(第1領域)R1は、後の非感光性レジスト層形成工程において非感光性レジスト層120が形成される領域である。複数の第1領域R1の各々は、図5(a)に示すように、ガラス基板10の第1主表面11の中央部11aの全てを含むように形成されてもよい。   In FIG. 4B, a plurality of regions (first regions) R1 partitioned by the photoresist layer 110 are regions where the non-photosensitive resist layer 120 is formed in the subsequent non-photosensitive resist layer forming step. is there. Each of the plurality of first regions R1 may be formed so as to include all of the central portion 11a of the first main surface 11 of the glass substrate 10, as shown in FIG.

また、フォトレジスト層110が形成された領域(第2領域)R2は、作製されるガラス基板10の周縁部11bを含むように形成されている。これにより、ガラス基板10の第1主表面11の周縁部11bを、レジスト塗布フォトリソグラフィ法を用いたマスキングを行うことにより、形成することができる。このため、周縁部11bにおいて高い寸法精度が要求される部分(例えば第1主表面11の外周や孔13等)を高い寸法精度でパターン形成することができるので、寸法精度の良好なカバーガラスを作製することができる。   The region (second region) R2 where the photoresist layer 110 is formed is formed so as to include the peripheral edge portion 11b of the glass substrate 10 to be manufactured. Thereby, the peripheral part 11b of the 1st main surface 11 of the glass substrate 10 can be formed by performing the masking using the resist coating photolithography method. For this reason, since the part (for example, the outer periphery of the 1st main surface 11, the hole 13, etc.) where high dimensional accuracy is requested | required in the peripheral part 11b can be pattern-formed with high dimensional accuracy, a cover glass with favorable dimensional accuracy is used. Can be produced.

(a−2)パターニング工程
パターニング工程では、フォトリソグラフィ法を用いたマスキングを行う。具体的には、フォトレジスト層110に対して露光及び現像を行うことにより、所望のレジストパターンを形成する。パターニング工程では、図5(b)に示すように、第2領域R2に形成されたフォトレジスト層110のうち、作製されるガラス基板10の外形に対応する領域以外のフォトレジスト層110(図5(b)に示す例では、ガラス基板縁部の白地部分)が除去される。このとき、ガラス基板10の孔13に対応するパターン孔111が形成される。なお、パターニング工程は、板状ガラス100の両主表面101,102にフォトレジスト層110が形成されている場合、少なくとも一方の主表面に対して実施すればよく、両主表面101,102に対して実施してもよい。また、板状ガラス100の主表面101にフォトレジスト層110を形成し、当該主表面101に対してパターニングを実施してもよい。
(A-2) Patterning step In the patterning step, masking using a photolithography method is performed. Specifically, a desired resist pattern is formed by exposing and developing the photoresist layer 110. In the patterning step, as shown in FIG. 5B, among the photoresist layer 110 formed in the second region R2, the photoresist layer 110 other than the region corresponding to the outer shape of the glass substrate 10 to be fabricated (FIG. 5). In the example shown in (b), the white background portion of the edge of the glass substrate is removed. At this time, a pattern hole 111 corresponding to the hole 13 of the glass substrate 10 is formed. When the photoresist layer 110 is formed on both the main surfaces 101 and 102 of the sheet glass 100, the patterning process may be performed on at least one of the main surfaces 101 and 102. May be implemented. Alternatively, a photoresist layer 110 may be formed on the main surface 101 of the plate glass 100 and patterning may be performed on the main surface 101.

(a−3)非感光性レジスト層形成工程
非感光性レジスト層形成工程では、図5(c)に示すように、板状ガラス100の各主表面101,102それぞれの一部の領域(第1領域R1)を覆うように、非感光性レジスト層120を形成する。ここで、一部の領域とは、エッチング工程において溶解されない領域(非溶解領域)の少なくとも一部を含む領域である。また、図5(c)に示すように、非感光性レジスト層120は、フォトレジスト層110と隣接するように形成される。非感光性レジスト層120は、後述するように耐エッチャント性を有し、且つ、フォトレジストとは異なる材料から構成されている。ここで、第1領域R1は、作製されるガラス基板10の第1主表面11の中央部11aを含む領域、すなわちガラス基板10において高い寸法精度が必須ではない部分を含む領域である。このため、第1領域R1に対して、フォトレジストとは異なる材料から構成された非感光性レジスト層120を用いてマスキングを施したとしても、寸法精度の良好なカバーガラスを作製することができる。
なお、図5(c)において、非感光性レジスト層120あるいはフォトレジスト層110が形成されていない領域(図中、白地部分の領域)は、エッチング工程において溶解される領域(溶解領域)である。
(A-3) Non-photosensitive resist layer forming step In the non-photosensitive resist layer forming step, as shown in FIG. A non-photosensitive resist layer 120 is formed so as to cover one region R1). Here, the partial region is a region including at least a part of a region that is not dissolved in the etching process (non-dissolved region). Further, as shown in FIG. 5C, the non-photosensitive resist layer 120 is formed so as to be adjacent to the photoresist layer 110. As will be described later, the non-photosensitive resist layer 120 has etchant resistance and is made of a material different from the photoresist. Here, 1st area | region R1 is an area | region including the center part 11a of the 1st main surface 11 of the glass substrate 10 produced, ie, the area | region including the part in which high dimensional accuracy is not essential in the glass substrate 10. FIG. Therefore, even if masking is performed on the first region R1 using the non-photosensitive resist layer 120 made of a material different from the photoresist, a cover glass with good dimensional accuracy can be produced. .
In FIG. 5C, a region where the non-photosensitive resist layer 120 or the photoresist layer 110 is not formed (a white portion in the drawing) is a region (dissolved region) that is dissolved in the etching process. .

また、非感光性レジスト層形成工程では、非感光性レジスト層120の縁部120a(図6(a))が、フォトレジスト層110の上面に重なるように設けられることが好ましい。これにより、板状ガラス100の第1主表面101を法線方向にみたときに、非感光性レジスト層120とフォトレジスト層110との境界が非感光性レジスト層120によって覆われているので、後の切断工程において、エッチング溶液が非感光性レジスト層120とフォトレジスト層110との境界に浸入するのを抑制することができる。このため、板状ガラス100の第1主表面101が、非感光性レジスト層120とフォトレジスト層110との境界において溶解されるのを防ぐことができる。   Further, in the non-photosensitive resist layer forming step, it is preferable that the edge 120a (FIG. 6A) of the non-photosensitive resist layer 120 is provided so as to overlap the upper surface of the photoresist layer 110. Thereby, when the first main surface 101 of the sheet glass 100 is viewed in the normal direction, the boundary between the non-photosensitive resist layer 120 and the photoresist layer 110 is covered with the non-photosensitive resist layer 120. In a subsequent cutting step, the etching solution can be prevented from entering the boundary between the non-photosensitive resist layer 120 and the photoresist layer 110. For this reason, it is possible to prevent the first main surface 101 of the glass sheet 100 from being dissolved at the boundary between the non-photosensitive resist layer 120 and the photoresist layer 110.

非感光性レジスト層120は、スクリーン印刷法あるいはラミネートフィルム加工法等を利用することにより形成されるのが好ましい。ここで、スクリーン印刷法を利用する場合には、フォトレジストよりも低価格のレジストを用いて非感光性レジスト層120を形成してもよい。これにより、第1主表面101の全面にフォトレジスト層110を形成する場合と比べて、フォトレジストの使用量を低減することができる。したがって、カバーガラスの製造コストを低減することができる。   The non-photosensitive resist layer 120 is preferably formed by using a screen printing method or a laminate film processing method. Here, when the screen printing method is used, the non-photosensitive resist layer 120 may be formed using a resist having a lower price than the photoresist. Thereby, compared with the case where the photoresist layer 110 is formed on the entire surface of the first main surface 101, the amount of the photoresist used can be reduced. Therefore, the manufacturing cost of the cover glass can be reduced.

非感光性レジスト層120としては、後のエッチング工程において用いるエッチング溶液に対しては溶解・除去されない性質(耐エッチャント性)を有し、且つ、フォトレジストとは異なる材料からなるものであれば適宜選択できる。フォトレジストとは異なる材料を非感光性レジスト120として選択することにより、フォトレジストの使用量を少なくしてカバーガラスの製造コストを低減することができる。そこで、非感光性レジスト120としては、例えば、アクリル樹脂(PMMA)、エポキシ樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリイミド樹脂を主成分とするレジストあるいはフィルムからなることが好ましい。   The non-photosensitive resist layer 120 is appropriately selected as long as it has a property (etchant resistance) that is not dissolved / removed in an etching solution used in a subsequent etching process and is made of a material different from the photoresist. You can choose. By selecting a material different from the photoresist as the non-photosensitive resist 120, the amount of the photoresist used can be reduced and the manufacturing cost of the cover glass can be reduced. Therefore, the non-photosensitive resist 120 is preferably made of, for example, a resist or film mainly composed of acrylic resin (PMMA), epoxy resin, polypropylene resin, polyvinyl chloride resin, polyethylene resin, or polyimide resin.

また、非感光性レジスト層120は、必要に応じて熱処理、光照射処理が施されるのが好ましい。   The non-photosensitive resist layer 120 is preferably subjected to heat treatment and light irradiation treatment as necessary.

(a−4)エッチング工程
エッチング工程では、パターニングされたフォトレジスト層110と、非感光性レジスト層120とが設けられた第1主表面101を、エッチング溶液に接触させてエッチングする。このとき、カバーガラスの形状を形成するための加工パターンに沿って板状ガラスが溶解されることにより、カバーガラスの形状のガラス基板が得られる。エッチング処理は、通常、板状ガラス100にエッチング溶液をシャワーリング、もしくは板状ガラスをエッチング溶液に浸漬させて行う。エッチング溶液としては、少なくとも弗酸を含むものであれば特に限定されないが、必要に応じて、塩酸等のその他の酸や、界面活性剤等の各種の添加剤が添加されていてもよい。
(A-4) Etching Step In the etching step, the first main surface 101 provided with the patterned photoresist layer 110 and the non-photosensitive resist layer 120 is etched by contacting with the etching solution. At this time, the glass substrate in the shape of the cover glass is obtained by melting the plate glass along the processing pattern for forming the shape of the cover glass. The etching process is usually performed by showering the etching solution in the plate glass 100 or immersing the plate glass in the etching solution. The etching solution is not particularly limited as long as it contains at least hydrofluoric acid. If necessary, other acids such as hydrochloric acid and various additives such as a surfactant may be added.

板状ガラス100の第1主表面101、第2主表面102に対して、エッチングを利用して複数のガラス基板10の外形を形成する方法について、図6を参照して説明する。図6は、第1主表面と第2主表面の両主表面に形状加工工程を実施した場合を示している。図6(a)は、非感光性レジスト層形成工程後の板状ガラス100の断面図である。先ず、レジストパターンが形成されたフォトレジスト層110及び非感光性レジスト層120をマスクとして、ガラス素材を溶解可能なエッチング液(例えばフッ酸を含有する酸性溶液など)を用いてウェットエッチングする。上記フッ酸を含有する酸性溶液としては、例えば、フッ酸水溶液、フッ酸と塩酸の混合溶液、フッ酸と硫酸の混合溶液、フッ化アンモニウム含有水溶液などが挙げられる。   A method for forming the outer shapes of the plurality of glass substrates 10 using etching on the first main surface 101 and the second main surface 102 of the plate glass 100 will be described with reference to FIG. FIG. 6 shows a case where the shape processing step is performed on both the first main surface and the second main surface. FIG. 6A is a cross-sectional view of the sheet glass 100 after the non-photosensitive resist layer forming step. First, wet etching is performed using an etching solution (for example, an acidic solution containing hydrofluoric acid) capable of dissolving a glass material, using the photoresist layer 110 and the non-photosensitive resist layer 120 on which a resist pattern is formed as a mask. Examples of the acidic solution containing hydrofluoric acid include a hydrofluoric acid aqueous solution, a mixed solution of hydrofluoric acid and hydrochloric acid, a mixed solution of hydrofluoric acid and sulfuric acid, and an aqueous solution containing ammonium fluoride.

このとき、第1主表面101、第2主表面102の領域のうち非感光性レジスト層120あるいはフォトレジスト層110が形成されていない領域(溶解領域)を含む部分がエッチング処理される。これにより、ガラス基板10の孔13が形成される(図6(b)参照)。また、第1主表面101、第2主表面102の領域のうち非感光性レジスト層120あるいはフォトレジスト層110が形成された領域(非溶解領域)を含む部分が、レジストパターンの外周に沿って板状ガラス100から切り抜かれることにより、ガラス基板10の外形が形成される。
そして、残った非感光性レジスト層120及びフォトレジスト層110を剥離し、洗浄する(図6(c)参照)。
At this time, a portion including a region (dissolved region) where the non-photosensitive resist layer 120 or the photoresist layer 110 is not formed in the region of the first main surface 101 and the second main surface 102 is etched. Thereby, the hole 13 of the glass substrate 10 is formed (refer FIG.6 (b)). Further, a portion including the region (non-dissolved region) where the non-photosensitive resist layer 120 or the photoresist layer 110 is formed in the region of the first main surface 101 and the second main surface 102 is along the outer periphery of the resist pattern. By cutting out from the sheet glass 100, the outer shape of the glass substrate 10 is formed.
Then, the remaining non-photosensitive resist layer 120 and the photoresist layer 110 are peeled and washed (see FIG. 6C).

このようにして、ガラス基板10の外形が形成される。
なお、図4(b)に示したように、フォトレジスト層110を格子状に形成した場合には、フォトレジスト層110に区画された第1領域をそれぞれ含むように、複数のガラス基板10の外形が形成される。
In this way, the outer shape of the glass substrate 10 is formed.
As shown in FIG. 4B, when the photoresist layer 110 is formed in a lattice shape, the plurality of glass substrates 10 are formed so as to include the first regions partitioned by the photoresist layer 110, respectively. An outline is formed.

(2−3)化学強化工程
次に、形状加工工程によって得られたガラス基板10に対して化学強化工程を行う。
化学強化工程では、ガラス基板10を複数枚、カセット(ホルダー)に装填し、溶融塩を含む化学強化処理液にカセットを浸漬させる。これにより、ガラス基板10に含まれる1種以上のアルカリ金属を、溶融塩のアルカリ金属との間でイオン交換処理を行い、ガラス基板10の表層部分に圧縮応力層を形成する。
(2-3) Chemical strengthening process Next, a chemical strengthening process is performed with respect to the glass substrate 10 obtained by the shape processing process.
In the chemical strengthening step, a plurality of glass substrates 10 are loaded into a cassette (holder), and the cassette is immersed in a chemical strengthening treatment liquid containing a molten salt. Thereby, one or more kinds of alkali metals contained in the glass substrate 10 are subjected to ion exchange treatment with the alkali metal of the molten salt, and a compressive stress layer is formed on the surface layer portion of the glass substrate 10.

溶融塩の組成および温度、ならびに、浸漬時間は、ガラス基板10のガラス組成や、ガラス基板10の表層部分に形成する圧縮応力層の厚み等に応じて適宜選択できるが、ガラス基板10のガラス組成が上述したアルミノシリケートガラスであれば、化学強化処理液の処理温度を通常300℃以上500℃以下とする低温型イオン交換法を利用することが好ましい。   The composition and temperature of the molten salt, and the immersion time can be appropriately selected according to the glass composition of the glass substrate 10, the thickness of the compressive stress layer formed on the surface layer portion of the glass substrate 10, and the like. If it is the aluminosilicate glass mentioned above, it is preferable to utilize the low temperature type ion exchange method which makes the process temperature of a chemical strengthening process liquid normally 300 to 500 degreeC.

例えば、本実施形態の化学強化工程では、溶融塩の組成および温度、ならびに、浸漬時間は、下記に例示する範囲から選択することが好ましい。
・溶融塩の組成 :硝酸カリウム(KNO)の単塩、硝酸ナトリウム(NaNO)の単塩、または、硝酸カリウムと硝酸ナトリウムを任意の重量比で混合した混合塩
・溶融塩の温度 :350℃〜450℃
・浸漬時間 :1時間〜8時間
For example, in the chemical strengthening step of the present embodiment, the composition and temperature of the molten salt and the immersion time are preferably selected from the ranges exemplified below.
Composition of molten salt: simple salt of potassium nitrate (KNO 3 ), simple salt of sodium nitrate (NaNO 3 ), or mixed salt in which potassium nitrate and sodium nitrate are mixed at an arbitrary weight ratio Temperature of molten salt: 350 ° C. to 450 ° C
・ Immersion time: 1-8 hours

この化学強化工程によってガラス基板10の各主表面11,12のそれぞれに形成される圧縮応力層の厚さは、5〜80μmである。本実施形態では、ガラス基板10のガラス組成がアルミノシリケートガラスであるため、例えばガラス基板10と同じ板厚のソーダライム系フロートガラスと比較した場合に、形成される圧縮応力層の厚さを大きくすることができる。
なお、化学強化工程によって得られたガラス基板10の機械的強度は、3点抗折強度(3点曲げ強さ)で5000kgf/cm以上が好ましく、さらに好ましくは、7000kgf/cm以上、最も好ましくは、10000kgf/cm以上である。
The thickness of the compressive stress layer formed on each of the main surfaces 11 and 12 of the glass substrate 10 by this chemical strengthening process is 5 to 80 μm. In this embodiment, since the glass composition of the glass substrate 10 is an aluminosilicate glass, the thickness of the compression stress layer formed is increased when compared with, for example, soda lime float glass having the same plate thickness as the glass substrate 10. can do.
Incidentally, the mechanical strength of the glass substrate 10 obtained by the chemical strengthening process, preferably 5000 kgf / cm 2 or more in three-point bending strength (3-point bending strength), more preferably, 7000kgf / cm 2 or more, most Preferably, it is 10,000 kgf / cm 2 or more.

このようにして、本実施形態のカバーガラスが得られる。
なお、化学強化されたガラス基板10の何れか一方の主表面の周縁部(周縁部11aまたは周縁部11b)に遮蔽部を形成する場合には、遮蔽部を形成するための印刷工程を行ってもよい。印刷方法は、印刷層を構成する塗料、印刷層の各層の厚さに応じて、例えばスクリーン印刷等の公知の様々な手法を利用することができる。ここで、塗料としては、例えば、カーボンを顔料に用いた各種インク等を用いることができる。
Thus, the cover glass of this embodiment is obtained.
In addition, when forming a shielding part in the peripheral part (peripheral part 11a or peripheral part 11b) of any one main surface of the chemically strengthened glass substrate 10, the printing process for forming a shielding part is performed. Also good. For the printing method, various known methods such as screen printing can be used according to the paint constituting the printing layer and the thickness of each layer of the printing layer. Here, as the paint, for example, various inks using carbon as a pigment can be used.

以上説明したように、本実施形態のカバーガラスの製造方法によれば、エッチング工程での非溶解領域の少なくとも一部を覆うように、非感光性及び耐エッチング性を有する材料からなる非感光性レジスト層120を板状ガラス100の第1主表面101、第2主表面102に形成する非感光性レジスト層形成工程と、エッチング工程での溶解領域を含む領域を覆いかつ非感光性レジスト層120と隣接するように、板状ガラス100の第1主表面101、第2主表面102にフォトレジスト層110を形成するフォトレジスト層形成工程と、フォトレジスト層110に対して露光及び現像を行うことにより、加工パターンをフォトレジスト層110に形成するパターニング工程と、パターニング工程の後に行われるエッチング工程と、を有している。これにより、第1主表面101、第2主表面102の各々の全面にフォトレジスト層110を形成する場合と比べて、フォトレジストの使用量を低減することができる。したがって、カバーガラスの製造コストを低減することができる。   As described above, according to the cover glass manufacturing method of the present embodiment, the non-photosensitive material made of a material having non-photosensitive property and etching resistance so as to cover at least a part of the non-dissolved region in the etching process. A non-photosensitive resist layer forming step for forming the resist layer 120 on the first main surface 101 and the second main surface 102 of the plate-like glass 100, and a non-photosensitive resist layer 120 covering a region including a dissolved region in the etching step A photoresist layer forming step of forming a photoresist layer 110 on the first main surface 101 and the second main surface 102 of the sheet glass 100 so as to be adjacent to each other, and exposing and developing the photoresist layer 110 A patterning process for forming a processed pattern on the photoresist layer 110 and an etching process performed after the patterning process. To have. Thereby, compared with the case where the photoresist layer 110 is formed in the whole surface of each of the 1st main surface 101 and the 2nd main surface 102, the usage-amount of a photoresist can be reduced. Therefore, the manufacturing cost of the cover glass can be reduced.

また、本実施形態のカバーガラスの製造方法によれば、ガラス基板10の周縁部11bを含む第2領域R2にフォトレジスト層110を形成しているので、周縁部11bを、レジスト塗布フォトリソグラフィ法を用いたマスキングを行うことにより形成することができる。このため、周縁部11bにおいて高い寸法精度が要求される部分(例えば第1主表面11の外周や孔13等)を高い寸法精度で形成することができるので、寸法精度の良好なカバーガラスを作製することができる。   Further, according to the cover glass manufacturing method of the present embodiment, since the photoresist layer 110 is formed in the second region R2 including the peripheral edge portion 11b of the glass substrate 10, the peripheral edge portion 11b is formed by resist coating photolithography. It can form by performing masking using. For this reason, since the part (for example, the outer periphery of the 1st main surface 11, the hole 13, etc.) where high dimensional accuracy is required can be formed with high dimensional accuracy in the peripheral part 11b, a cover glass with favorable dimensional accuracy is produced. can do.

さらに、本実施形態のカバーガラスの製造方法によれば、エッチングを利用することにより、ガラス基板10を板状ガラス100から切り抜いている。これにより、機械加工を利用してガラス基板を板状ガラスから切り抜いた場合と比較して、カバーガラスの切断面における微小な傷やマイクロクラック等の発生を抑制できる。このため、微小な傷やマイクロクラック等に起因してカバーガラスの強度が低下することを防ぐことができる。   Furthermore, according to the manufacturing method of the cover glass of this embodiment, the glass substrate 10 is cut out from the plate glass 100 by using etching. Thereby, compared with the case where a glass substrate is cut out from sheet glass using machining, generation | occurrence | production of the fine damage | wound, a micro crack, etc. in the cut surface of a cover glass can be suppressed. For this reason, it can prevent that the intensity | strength of a cover glass falls due to a micro crack, a micro crack, etc.

また、本形態のカバーガラスの製造方法によれば、板状ガラス100にフォトレジスト層110を形成した後に非感光性レジスト層120を形成しているので、非感光性レジスト層120を形成する際の位置決めが容易である。これは非感光性レジスト層120がフィルム貼着法の場合さらに顕著になる。フィルム貼着法による非感光性レジスト層120の形成後にフォトレジスト層を形成する場合、初めに板状ガラス100にフィルム貼着する際に位置決めマーキングになるものがないので、位置決めすることが困難となる。   In addition, according to the cover glass manufacturing method of this embodiment, since the non-photosensitive resist layer 120 is formed after the photoresist layer 110 is formed on the plate-like glass 100, the non-photosensitive resist layer 120 is formed. Is easy to position. This becomes more prominent when the non-photosensitive resist layer 120 is a film sticking method. When forming a photoresist layer after the formation of the non-photosensitive resist layer 120 by the film sticking method, it is difficult to position because there is no positioning marking when the film is first attached to the sheet glass 100. Become.

また、フォトレジスト層110の形成後に、非感光性レジスト層120がフィルム貼着法を用いることにより形成される場合には、フォトレジスト層110とフィルムの粘着剤との密着性を考えて非感光性レジスト層120の粘着剤材料を選択できる。一方、非感光性レジスト層120(フィルム貼着法を用いて形成される)の形成後にフォトレジスト層110を形成する場合、フィルムの基材とフォトレジスト層110との密着性が良好(弾かない)である必要がある。この場合、表面エネルギーの小さいフッ素系樹脂等を基材としたフィルムは使えない場合がある。   Further, when the non-photosensitive resist layer 120 is formed by using a film sticking method after the formation of the photoresist layer 110, non-photosensitive in consideration of the adhesion between the photoresist layer 110 and the adhesive of the film. An adhesive material for the conductive resist layer 120 can be selected. On the other hand, when the photoresist layer 110 is formed after the formation of the non-photosensitive resist layer 120 (formed using a film sticking method), the adhesion between the film substrate and the photoresist layer 110 is good (does not repel). ). In this case, there are cases where a film based on a fluororesin having a low surface energy cannot be used.

(3)変形例
以下、上述した実施形態についての変形例について説明する。
(3−1)変形例1
上述した実施形態の変形例1について図7を参照して説明する。図7は、図6(a)に示した工程の変形例を示す断面図である。本変形例では、形状加工工程において、(a−3)非感光性レジスト層形成工程、(a−1)フォトレジスト層形成工程、(a−2)パターニング工程、(a−4)切断工程の順に形状加工を行っている。本変形例においても、上記実施形態と同様に、第1主表面101の全面にフォトレジスト層110を形成する場合と比べて、フォトレジストの使用量を低減することができる。したがって、カバーガラスの製造コストを低減することができる。
(3) Modified Examples Hereinafter, modified examples of the above-described embodiment will be described.
(3-1) Modification 1
Modification 1 of the above-described embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 7 is a cross-sectional view showing a modification of the process shown in FIG. In this modification, in the shape processing step, (a-3) a non-photosensitive resist layer forming step, (a-1) a photoresist layer forming step, (a-2) a patterning step, and (a-4) a cutting step. Shape processing is performed in order. Also in this modified example, the amount of photoresist used can be reduced as compared with the case where the photoresist layer 110 is formed on the entire surface of the first main surface 101 as in the above embodiment. Therefore, the manufacturing cost of the cover glass can be reduced.

また、非感光性レジスト層形成工程をフォトレジスト層形成工程の前に行うことにより、図7に示すように、フォトレジスト層110の縁部110aが、非感光性レジスト層120の上面に重なるように設けられる。これにより、板状ガラス100の第1主表面101を法線方向にみたときに、非感光性レジスト層120とフォトレジスト層110との境界がフォトレジスト層110の縁部110aによって覆われるので、後の切断工程において、エッチング溶液が非感光性レジスト層120とフォトレジスト層110との境界に浸入するのを抑制することができる。このため、板状ガラス100の第1主表面101が、非感光性レジスト層120とフォトレジスト層110との境界において溶解されるのを防ぐことができる。   Further, by performing the non-photosensitive resist layer forming step before the photoresist layer forming step, the edge 110a of the photoresist layer 110 overlaps the upper surface of the non-photosensitive resist layer 120 as shown in FIG. Is provided. Thereby, when the first main surface 101 of the glass sheet 100 is viewed in the normal direction, the boundary between the non-photosensitive resist layer 120 and the photoresist layer 110 is covered by the edge portion 110a of the photoresist layer 110. In a subsequent cutting step, the etching solution can be prevented from entering the boundary between the non-photosensitive resist layer 120 and the photoresist layer 110. For this reason, it is possible to prevent the first main surface 101 of the glass sheet 100 from being dissolved at the boundary between the non-photosensitive resist layer 120 and the photoresist layer 110.

(3−2)変形例2
上述した実施形態の変形例について図8を参照して説明する。図8(a),(b)は図5(a),(c)に示した工程の変形例を示す断面図である。形状加工工程では、図8(a)に示すように、作製されるガラス基板10の第1主表面11内に複数の第1領域R1を形成してもよい。この場合、複数の第1領域R1のそれぞれは、第1主表面11の中央部11aの一部を含むように形成され、図8(b)に示すように、非感光性レジスト層120が形成される。本変形例においても、上記実施形態と同様に、第1主表面101の全面にフォトレジスト層110を形成する場合と比べて、フォトレジストの使用量を低減することができる。したがって、カバーガラスの製造コストを低減することができる。
(3-2) Modification 2
A modification of the above-described embodiment will be described with reference to FIG. 8A and 8B are cross-sectional views showing a modification of the process shown in FIGS. 5A and 5C. In the shape processing step, a plurality of first regions R1 may be formed in the first main surface 11 of the glass substrate 10 to be manufactured, as shown in FIG. In this case, each of the plurality of first regions R1 is formed so as to include a part of the central portion 11a of the first main surface 11, and the non-photosensitive resist layer 120 is formed as shown in FIG. 8B. Is done. Also in this modified example, the amount of photoresist used can be reduced as compared with the case where the photoresist layer 110 is formed on the entire surface of the first main surface 101 as in the above embodiment. Therefore, the manufacturing cost of the cover glass can be reduced.

以上、本発明の実施形態について詳細に説明したが、本発明の電子機器用カバーガラス及びその製造方法、並びに電子機器用タッチセンサモジュールは上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのは勿論である。   As mentioned above, although embodiment of this invention was described in detail, the cover glass for electronic devices of this invention, its manufacturing method, and the touch sensor module for electronic devices are not limited to the said embodiment, and do not deviate from the main point of this invention. Of course, various improvements and changes may be made in the range.

10…ガラス基板
11…第1主表面
12…第2主表面
13…孔
100…板状ガラス
101…第1主表面
102…第2主表面
110…フォトレジスト層
110a…縁部
120…非感光性レジスト層
120a…縁部
R1…第1領域
R2…第2領域
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Glass substrate 11 ... 1st main surface 12 ... 2nd main surface 13 ... Hole 100 ... Sheet glass 101 ... 1st main surface 102 ... 2nd main surface 110 ... Photoresist layer 110a ... Edge part 120 ... Non-photosensitive Resist layer 120a ... edge R1 ... first region R2 ... second region

Claims (6)

板状ガラスをエッチングして、電子機器用カバーガラスの形状を形成するための加工パターンに沿って前記板状ガラスを溶解することにより電子機器用カバーガラスの形状のガラス基板を得るエッチング工程を含む電子機器用カバーガラスのガラス基板の製造方法であって、
前記エッチング工程での非溶解領域の少なくとも一部を覆うように、非感光性及び耐エッチング性を有する材料からなる非感光性レジスト層を前記板状ガラスの主表面に形成する非感光性レジスト層形成工程と、
前記エッチング工程での溶解領域を含む領域を覆いかつ前記非感光性レジスト層と隣接するように、前記板状ガラスの主表面に感光性レジスト層を形成する感光性レジスト層形成工程と、
前記感光性レジスト層に対して露光及び現像を行うことにより、前記加工パターンを前記感光性レジスト層に形成するパターニング工程と、
前記パターニング工程の後に行われる前記エッチング工程と、
を含むことを特徴とする電子機器用カバーガラスの製造方法。
An etching step of etching the plate glass to obtain a glass substrate in the shape of the cover glass for electronic equipment by dissolving the plate glass along a processing pattern for forming the shape of the cover glass for electronic equipment A method of manufacturing a glass substrate for a cover glass for electronic equipment,
A non-photosensitive resist layer which forms a non-photosensitive resist layer made of a material having non-photosensitivity and etching resistance on the main surface of the plate-like glass so as to cover at least a part of the non-dissolved region in the etching step Forming process;
A photosensitive resist layer forming step of forming a photosensitive resist layer on the main surface of the sheet glass so as to cover a region including the dissolved region in the etching step and to be adjacent to the non-photosensitive resist layer;
A patterning step of forming the processed pattern on the photosensitive resist layer by exposing and developing the photosensitive resist layer;
The etching step performed after the patterning step;
The manufacturing method of the cover glass for electronic devices characterized by including.
前記非感光性レジスト層及び前記感光性レジスト層の一方の縁部は、他方に重なるように設けられる、
請求項1に記載の電子機器用カバーガラスの製造方法。
One edge of the non-photosensitive resist layer and the photosensitive resist layer is provided to overlap the other,
The manufacturing method of the cover glass for electronic devices of Claim 1.
前記感光性レジスト層形成工程では、前記感光性レジスト層を前記板状ガラスの主表面に格子状に形成し、
前記エッチング工程では、前記主表面の領域のうち前記非感光性レジスト層に覆われた領域をそれぞれ含むように、複数の前記ガラス基板の外形を形成する、
請求項1又は2に記載の電子機器用カバーガラスの製造方法。
In the photosensitive resist layer forming step, the photosensitive resist layer is formed in a lattice shape on the main surface of the sheet glass,
In the etching step, the outer shapes of the plurality of glass substrates are formed so as to include the regions covered with the non-photosensitive resist layer among the regions of the main surface,
The manufacturing method of the cover glass for electronic devices of Claim 1 or 2.
前記感光性レジスト層形成工程は、前記非感光性レジスト層形成工程の前に行われる、
請求項1〜3の何れか1項に記載の電子機器用カバーガラスの製造方法。
The photosensitive resist layer forming step is performed before the non-photosensitive resist layer forming step.
The manufacturing method of the cover glass for electronic devices of any one of Claims 1-3.
前記非感光性レジスト層形成工程は、前記感光性レジスト層形成工程の前に行われる、
請求項1〜3の何れか1項に記載の電子機器用カバーガラスの製造方法。
The non-photosensitive resist layer forming step is performed before the photosensitive resist layer forming step.
The manufacturing method of the cover glass for electronic devices of any one of Claims 1-3.
前記非感光性レジスト層は、アクリル樹脂(PMMA)、エポキシ樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリイミド樹脂を主成分とするレジストあるいはフィルムからなり、前記感光性レジスト層は、アクリル樹脂(PMMA)を主成分とするフォトレジストからなる、
請求項1〜5の何れか1項に記載の電子機器用カバーガラスの製造方法。
The non-photosensitive resist layer is made of a resist or film mainly composed of acrylic resin (PMMA), epoxy resin, polypropylene resin, polyvinyl chloride resin, polyethylene resin, polyimide resin, and the photosensitive resist layer is made of acrylic resin. A photoresist mainly composed of (PMMA),
The manufacturing method of the cover glass for electronic devices of any one of Claims 1-5.
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