JP2013187284A - Transporting device and ceramic member - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a transporting device with an improved transporting performance.SOLUTION: A transporting device 10 is provided with a ceramic member 200. In the ceramic member 200, attraction electrodes 372, 374, 376, 378 are formed on a ceramic layer 296, and a gas communication path 630 is formed on a ceramic layer 294. A gas emission hole 650 is formed on an opposite face 233 positioned nearer a bottom face 216 than an opposite face 234.

Description

本発明は、搬送装置に関し、特に、搬送装置において被搬送体を保持するセラミック部材に関する。   The present invention relates to a transport device, and more particularly to a ceramic member that holds a body to be transported in the transport device.

搬送装置において被搬送体を保持するセラミック部材は、ピックとも呼ばれ、複数のセラミック層を一体焼成してなるものや(例えば、特許文献1,2を参照)、誘電体である被搬送体(例えば、ウェハ)を静電力によって吸着可能に構成されたものが知られている(例えば、特許文献3を参照)。更には、被搬送体の温度を調整するために、複数の突起部を表面に配置し、電熱体を内部に設けたものも提案されている(例えば、特許文献4を参照)。   The ceramic member that holds the body to be transported in the transport apparatus is also called a pick, and is formed by integrally firing a plurality of ceramic layers (see, for example, Patent Documents 1 and 2), or a body to be transported that is a dielectric ( For example, a wafer is known that can be attracted by an electrostatic force (see, for example, Patent Document 3). Furthermore, in order to adjust the temperature of a to-be-conveyed body, what has arrange | positioned several protrusion parts on the surface and provided the electric heating body inside is also proposed (for example, refer patent document 4).

特開平4−37047号公報JP-A-4-37047 特開2009−202240号公報JP 2009-202240 A 特開2011−77288号公報JP 2011-77288 A 特開2000−114343号公報JP 2000-114343 A

従来、複数のセラミック層を一体焼成してなるセラミック部材おいて被搬送体の温度を調整することについて十分な検討がなされていなかった。例えば、搬送元と搬送先との間に温度差が存在する場合、熱衝撃による被搬送体およびセラミック部材の損傷を防止するために、搬送先に合わせた被搬送体の温度調整に時間を取られてしまうという問題があった。また、負圧(真空)の環境では、常圧の環境と比較して、セラミック部材と被搬送体との間の接触面においても、表面粗さや表面うねりによる隙間を満たす気体が減少して熱伝達率が低下するため、被搬送体の温度調整を十分に行うことができないという問題があった。   Conventionally, sufficient studies have not been made to adjust the temperature of the conveyed object in a ceramic member obtained by integrally firing a plurality of ceramic layers. For example, if there is a temperature difference between the transport source and the transport destination, it takes time to adjust the temperature of the transport target in accordance with the transport destination in order to prevent damage to the transport target and the ceramic member due to thermal shock. There was a problem that would be. Also, in the negative pressure (vacuum) environment, the gas that fills the gap due to surface roughness and surface waviness also decreases at the contact surface between the ceramic member and the transported body, compared with the normal pressure environment. Since the transmission rate is reduced, there is a problem that the temperature of the conveyed object cannot be sufficiently adjusted.

本発明は、上述した課題を踏まえ、搬送性能を向上させた搬送装置を提供することを目的とする。   In view of the above-described problems, an object of the present invention is to provide a transport apparatus with improved transport performance.

本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following forms or application examples.

[適用例1]適用例1におけるセラミック部材は、絶縁性を有する複数のセラミック層を一体焼成してなり、静電力によって誘電体を吸着した状態で前記被搬送体と共に移動可能に構成した電極である吸着電極を内部に設け、搬送装置において被搬送体を保持可能に構成したセラミック部材であって、前記複数のセラミック層の層面方向に沿った面であって前記被搬送体を保持した状態で前記被搬送体に対向する面である第1の対向面および第2の対向面を有し、前記第2の対向面は、前記第1の対向面よりも前記被搬送体側に位置し、前記複数のセラミック層のうち第1のセラミック層上に前記吸着電極を形成し、前記被搬送体を冷却するガス、および前記セラミック部材の熱を前記被搬送体に伝達するガス、の少なくとも一方である処理ガスの供給を、前記セラミック部材の外部から受け付けるガス供給口を設け、前記複数のセラミック層のうち前記第1の対向面から前記第1のセラミック層よりも離れた第2のセラミック層に、前記ガス供給口に連通するガス連通路を形成し、前記ガス連通路から前記第1の対向面および前記第2の対向面の少なくとも一方へと貫通し前記処理ガスを放出可能に構成した孔である第1のガス放出孔を形成したことを特徴とする。この適用例によれば、静電力による吸着機能を実現しながら、第1の対向面および第2の対向面の少なくとも一方から処理ガスを放出することによって被搬送体の温度調整を効果的に行うことができる。その結果、被搬送体の温度調整に要する時間を短縮することができ、ひいては、搬送装置の搬送性能を向上させることができる。 [Application Example 1] The ceramic member in Application Example 1 is an electrode configured by integrally firing a plurality of insulating ceramic layers and configured to be movable together with the transported body in a state where a dielectric is adsorbed by an electrostatic force. A ceramic member that is provided with a suction electrode inside and configured to be able to hold a transported body in a transporting device, and is a surface along the layer surface direction of the plurality of ceramic layers and holding the transported body A first facing surface and a second facing surface that are surfaces facing the transported body, wherein the second facing surface is located closer to the transported body than the first facing surface; The adsorption electrode is formed on a first ceramic layer among a plurality of ceramic layers, and is at least one of a gas that cools the transported body and a gas that transfers heat of the ceramic member to the transported body processing A gas supply port for receiving the supply of gas from the outside of the ceramic member, and among the plurality of ceramic layers, the second ceramic layer separated from the first ceramic layer from the first facing surface, A hole that forms a gas communication path that communicates with a gas supply port, and is configured to be able to discharge the processing gas from the gas communication path to at least one of the first facing surface and the second facing surface. A first gas discharge hole is formed. According to this application example, the temperature of the transferred object is effectively adjusted by releasing the processing gas from at least one of the first facing surface and the second facing surface while realizing an adsorption function by electrostatic force. be able to. As a result, the time required for adjusting the temperature of the transported body can be shortened, and as a result, the transport performance of the transport device can be improved.

[適用例2]適用例1のセラミック部材において、前記層面方向に交わる方向に沿った面であって前記第1の対向面および前記第2の対向面の少なくとも一方に繋がる面である端面を有し、前記ガス連通路に連通し前記処理ガスを放出可能に構成した孔である第2のガス放出孔を前記端面に形成したとしても良い。この適用例によれば、第1の対向面および第2の対向面の少なくとも一方に加えて端面からも処理ガスを放出することによって被搬送体の温度調整を一層効果的に行うことができる。 Application Example 2 The ceramic member according to Application Example 1 has an end surface that is a surface along a direction intersecting the layer surface direction and connected to at least one of the first facing surface and the second facing surface. In addition, a second gas discharge hole, which is a hole configured to be able to discharge the processing gas through the gas communication path, may be formed in the end face. According to this application example, the temperature of the transported body can be more effectively adjusted by discharging the processing gas from the end face in addition to at least one of the first facing surface and the second facing surface.

[適用例3]適用例2のセラミック部材において、前記第2のガス放出孔は、前記第1の対向面および前記第2の対向面のうち前記端面に繋がる対向面の外周に沿った方向に向けて前記端面を貫通しても良い。この適用例によれば、被搬送体の外周に沿って処理ガスを放出することによって被搬送体の温度調整を一層効果的に行うことができる。 [Application Example 3] In the ceramic member according to Application Example 2, the second gas discharge hole extends in a direction along an outer periphery of an opposing surface connected to the end surface of the first opposing surface and the second opposing surface. You may penetrate the said end surface toward. According to this application example, the temperature of the transported body can be more effectively adjusted by releasing the processing gas along the outer periphery of the transported body.

[適用例4]適用例2または適用例3のセラミック部材において、前記搬送装置に取り付けられる側の端である基端部を有し、前記第2のガス放出孔を、前記第1の対向面および前記第2の対向面よりも前記基端部側に配置したとしても良い。この適用例によれば、基端部側に位置する被搬送体の部位に対する温度調整を一層効果的に行うことができる。 [Application Example 4] In the ceramic member of Application Example 2 or Application Example 3, the ceramic member has a base end portion which is an end attached to the transfer device, and the second gas discharge hole is formed on the first facing surface. And it is good also as arrange | positioning to the said base end part side rather than the said 2nd opposing surface. According to this application example, it is possible to more effectively adjust the temperature of the portion of the transported body located on the base end side.

[適用例5]適用例2ないし適用例4のいずれかのセラミック部材であって、前記搬送装置に取り付けられる側との間に前記第1の対向面および前記第2の対向面を配置した先端部を有し、前記第2のガス放出孔を、前記第1の対向面および前記第2の対向面よりも前記先端部側に配置したとしても良い。この適用例によれば、先端部側に位置する被搬送体の部位に対する温度調整を一層効果的に行うことができる。 Application Example 5 A ceramic member according to Application Example 2 to Application Example 4, wherein the first opposing surface and the second opposing surface are disposed between the ceramic member and the side attached to the conveying device. And the second gas discharge hole may be disposed closer to the tip than the first facing surface and the second facing surface. According to this application example, it is possible to more effectively adjust the temperature for the portion of the transported body located on the tip side.

[適用例6]適用例2ないし適用例5のいずれかのセラミック部材であって、前記セラミック部材の外周を形成する外周部を有し、前記第2のガス放出孔を前記外周部に配置したとしても良い。この適用例によれば、外周部の近傍に位置する被搬送体の部位に対する温度調整を一層効果的に行うことができる。 [Application Example 6] The ceramic member according to any one of Application Examples 2 to 5, wherein the ceramic member has an outer peripheral portion that forms an outer periphery of the ceramic member, and the second gas discharge hole is disposed in the outer peripheral portion. It is also good. According to this application example, it is possible to more effectively adjust the temperature of the portion of the transported body located in the vicinity of the outer peripheral portion.

[適用例7]適用例7の搬送装置は、適用例1ないし適用例6のいずれかのセラミック部材を用いて前記被搬送体を搬送することを特徴とする。この適用例によれば、セラミック部材における被搬送体の温度調整に要する時間を短縮することができ、ひいては、搬送装置の搬送性能を向上させることができる。 [Application Example 7] A transport apparatus according to Application Example 7 is characterized in that the transported body is transported using the ceramic member according to any one of Application Examples 1 to 6. According to this application example, it is possible to shorten the time required for adjusting the temperature of the object to be transported in the ceramic member, and as a result, it is possible to improve the transport performance of the transport device.

本発明の形態は、セラミック部材および搬送装置の形態に限るものではなく、例えば、ピック、半導体製造装置、搬送方法、セラミック部材の製造方法などの種々の形態に適用することも可能である。また、本発明は、前述の形態に何ら限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において様々な形態で実施し得ることは勿論である。   The form of this invention is not restricted to the form of a ceramic member and a conveying apparatus, For example, it is also possible to apply to various forms, such as a pick, a semiconductor manufacturing apparatus, a conveying method, and the manufacturing method of a ceramic member. Further, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and it is needless to say that the present invention can be implemented in various forms without departing from the spirit of the present invention.

搬送装置の構成を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the structure of a conveying apparatus. セラミック部材の上面を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the upper surface of a ceramic member. 図2における矢視F3から見たセラミック部材の側面を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the side surface of the ceramic member seen from the arrow F3 in FIG. 図2における矢視F4−F4から見たセラミック部材の断面を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the cross section of the ceramic member seen from arrow F4-F4 in FIG. 図4の矢視F5−F5に対応する位置から見たセラミック層を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the ceramic layer seen from the position corresponding to arrow F5-F5 of FIG. 図4の矢視F6−F6に対応する位置から見たセラミック層を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the ceramic layer seen from the position corresponding to arrow F6-F6 of FIG. 図6の矢視F7−F7に対応する位置から見たセラミック部材の断面を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the cross section of the ceramic member seen from the position corresponding to arrow F7-F7 of FIG. 図4の矢視F8−F8に対応する位置から見たセラミック層を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the ceramic layer seen from the position corresponding to arrow F8-F8 of FIG. 図4の矢視F9−F9に対応する位置から見たセラミック層を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the ceramic layer seen from the position corresponding to arrow F9-F9 of FIG. 図4の矢視F10−F10に対応する位置から見たセラミック層を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the ceramic layer seen from the position corresponding to arrow F10-F10 of FIG. 図9の矢視F11−F11に対応する位置から見たセラミック部材の断面を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the cross section of the ceramic member seen from the position corresponding to arrow F11-F11 of FIG. 第2実施形態におけるセラミック部材の上面を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the upper surface of the ceramic member in 2nd Embodiment. 第2実施形態におけるセラミック部材の部分断面を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the partial cross section of the ceramic member in 2nd Embodiment. 第3実施形態におけるセラミック部材の上面を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the upper surface of the ceramic member in 3rd Embodiment. 第3実施形態におけるセラミック部材の部分断面を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the partial cross section of the ceramic member in 3rd Embodiment. 第4実施形態におけるセラミック部材の断面を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the cross section of the ceramic member in 4th Embodiment. 第5実施形態におけるセラミック部材の上面を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the upper surface of the ceramic member in 5th Embodiment. 図15における矢視F16−F16から見たセラミック部材の断面を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the cross section of the ceramic member seen from arrow F16-F16 in FIG. セラミック部材の製造工程を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the manufacturing process of a ceramic member.

A.第1実施形態:
図1は、搬送装置10の構成を示す説明図である。搬送装置10は、被搬送体90を搬送する。本実施形態では、搬送装置10は、半導体製造装置の一部を構成する装置であり、被搬送体90は、円板状の誘電体であるシリコン製のウェハである。
A. First embodiment:
FIG. 1 is an explanatory diagram showing the configuration of the transport apparatus 10. The transport apparatus 10 transports the transported body 90. In this embodiment, the transfer apparatus 10 is an apparatus that constitutes a part of a semiconductor manufacturing apparatus, and the transferred object 90 is a silicon wafer that is a disk-shaped dielectric.

搬送装置10は、制御部100と、セラミック部材200と、アーム機構710と、移動機構720と、吸着電極駆動部830と、負圧供給部840と、電熱体駆動部850と、処理ガス供給部860とを備える。   The transfer device 10 includes a control unit 100, a ceramic member 200, an arm mechanism 710, a moving mechanism 720, an adsorption electrode driving unit 830, a negative pressure supply unit 840, an electric heating element driving unit 850, and a processing gas supply unit. 860.

搬送装置10の制御部100は、アーム機構710、移動機構720、吸着電極駆動部830、負圧供給部840、電熱体駆動部850、および処理ガス供給部860の各部の動作を制御する。本実施形態では、制御部100の機能は、コンピュータプログラムに基づいてCPU(Central Processing Unit)が動作することによって実現される。他の実施形態において、制御部100の機能は、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)がその回路構成に基づいて動作することによって実現されても良い。   The control unit 100 of the transport apparatus 10 controls the operations of the arm mechanism 710, the moving mechanism 720, the adsorption electrode driving unit 830, the negative pressure supply unit 840, the electric heating element driving unit 850, and the processing gas supply unit 860. In the present embodiment, the function of the control unit 100 is realized by a CPU (Central Processing Unit) operating based on a computer program. In another embodiment, the function of the control unit 100 may be realized by an ASIC (Application Specific Integrated Circuit) operating based on the circuit configuration.

搬送装置10のアーム機構710は、セラミック部材200と移動機構720との間を連結する機構であり、セラミック部材200を移動機構720に対して相対的に移動させ、搬送装置10の外部に対する被搬送体90の受け渡しを行う。搬送装置10の移動機構720は、セラミック部材200およびアーム機構710を搭載し、搬送装置10の外部に対して相対的に移動可能に構成された機構であり、セラミック部材200に保持された被搬送体90の移動を行う。   The arm mechanism 710 of the transport device 10 is a mechanism that connects the ceramic member 200 and the moving mechanism 720, moves the ceramic member 200 relative to the moving mechanism 720, and is transported to the outside of the transport device 10. Deliver the body 90. The moving mechanism 720 of the transfer device 10 is a mechanism that is mounted with the ceramic member 200 and the arm mechanism 710 and is relatively movable with respect to the outside of the transfer device 10, and is to be transferred held by the ceramic member 200. The body 90 is moved.

搬送装置10のセラミック部材200は、ピックとも呼ばれ、搬送装置10において被搬送体90を保持した状態で被搬送体90と共に移動可能に構成されている。セラミック部材200は、絶縁性セラミック材料を用いた複数のセラミック層を一体焼成してなる。セラミック部材200の内部には、導電性材料を用いた導体パターンが形成されている。   The ceramic member 200 of the transport apparatus 10 is also called a pick, and is configured to be movable together with the transported body 90 while holding the transported body 90 in the transport apparatus 10. The ceramic member 200 is formed by integrally firing a plurality of ceramic layers using an insulating ceramic material. Inside the ceramic member 200, a conductor pattern using a conductive material is formed.

本実施形態では、セラミック部材200に用いられる絶縁性セラミック材料の主成分は、酸化アルミニウム(アルミナ)(Al23)である。他の実施形態において、絶縁性セラミック材料の主成分は、酸化イットリア(Y23)、酸化ケイ素(SiO2)、酸化ジルコニウム(ZrO2)、酸化マグネシウム(MgO)、ムライト(3Al23・2SiO2)、またはガラスセラミック(例えば、アルミナとホウケイ酸ガラスとの混合物)であっても良い。 In this embodiment, the main component of the insulating ceramic material used for the ceramic member 200 is aluminum oxide (alumina) (Al 2 O 3 ). In another embodiment, the main component of the insulating ceramic material is yttria oxide (Y 2 O 3 ), silicon oxide (SiO 2 ), zirconium oxide (ZrO 2 ), magnesium oxide (MgO), mullite (3Al 2 O 3). 2SiO 2 ) or glass ceramic (for example, a mixture of alumina and borosilicate glass).

本実施形態では、セラミック部材200に用いられる導電性材料の主成分は、タングステン(W)である。他の実施形態において、導電性材料の主成分は、モリブデン(Mo)、タンタル(Ta)、銀(Ag)、または銅(Cu)であっても良いし、これら導電性金属の合金や、導電性炭化ケイ素(SiC)であっても良い。   In the present embodiment, the main component of the conductive material used for the ceramic member 200 is tungsten (W). In another embodiment, the main component of the conductive material may be molybdenum (Mo), tantalum (Ta), silver (Ag), or copper (Cu), an alloy of these conductive metals, conductive Silicon carbide (SiC) may be used.

本実施形態では、セラミック部材200は、吸着電極駆動部830から電力の供給を受けることによって、誘電体である被搬送体90を静電力で吸着可能に構成されている。セラミック部材200における静電吸着のための構成の詳細については後述する。   In the present embodiment, the ceramic member 200 is configured to be capable of attracting the transported body 90 that is a dielectric by electrostatic force by receiving power supply from the attracting electrode driving unit 830. Details of the configuration for electrostatic adsorption in the ceramic member 200 will be described later.

本実施形態では、セラミック部材200は、負圧供給部840から負圧(真空)の供給を受けることによって、被搬送体90を負圧で吸着可能に構成されている。セラミック部材200における負圧吸着のための構成の詳細については後述する。   In the present embodiment, the ceramic member 200 is configured to be capable of adsorbing the transport target 90 with negative pressure by receiving supply of negative pressure (vacuum) from the negative pressure supply unit 840. Details of the configuration for negative pressure adsorption in the ceramic member 200 will be described later.

本実施形態では、セラミック部材200は、電熱体駆動部850から電力の供給を受けることによって発熱可能に構成されている。セラミック部材200における発熱するための構成の詳細については後述する。   In the present embodiment, the ceramic member 200 is configured to be able to generate heat by receiving power supply from the electric heating element driving unit 850. Details of the structure for generating heat in the ceramic member 200 will be described later.

本実施形態では、セラミック部材200は、処理ガス供給部860から処理ガスの供給を受けることによって、被搬送体90に対して処理ガスを放出可能に構成されている。本実施形態では、処理ガス供給部860によってセラミック部材200に供給される処理ガスは、セラミック部材200の熱を被搬送体90に伝達させるための熱伝達用ガス(例えば、ヘリウム(He))である。セラミック部材200における処理ガスを放出するための構成の詳細については後述する。   In the present embodiment, the ceramic member 200 is configured to be able to release the processing gas to the transported body 90 by receiving the processing gas supplied from the processing gas supply unit 860. In the present embodiment, the processing gas supplied to the ceramic member 200 by the processing gas supply unit 860 is a heat transfer gas (for example, helium (He)) for transferring the heat of the ceramic member 200 to the transported body 90. is there. Details of the configuration for releasing the processing gas in the ceramic member 200 will be described later.

図2は、セラミック部材200の上面を示す説明図である。図3は、図2における矢視F3から見たセラミック部材200の側面を示す説明図である。図4は、図2における矢視F4−F4から見たセラミック部材200の断面を示す説明図である。図2には、相互に直交するXYZ軸を図示した。図2のXYZ軸は、図3および図4を始めとする他の図におけるXYZ軸に対応する。   FIG. 2 is an explanatory view showing the upper surface of the ceramic member 200. FIG. 3 is an explanatory view showing a side surface of the ceramic member 200 as viewed from the direction of the arrow F3 in FIG. FIG. 4 is an explanatory view showing a cross section of the ceramic member 200 as viewed from the direction of arrows F4-F4 in FIG. FIG. 2 shows XYZ axes orthogonal to each other. The XYZ axes in FIG. 2 correspond to the XYZ axes in other figures including FIG. 3 and FIG.

図2および図3に示すように、本実施形態では、セラミック部材200は、略U字形の板状をなす。搬送装置10におけるセラミック部材200の使用状態において、セラミック部材200におけるU字の横方向に沿った軸をX軸とし、U字の縦方向に沿った軸をY軸とし、重力方向に沿った軸をZ軸とする。セラミック部材200におけるU字の右側から左側に向かって+X軸方向、その逆を−X軸方向とする。セラミック部材200におけるU字の閉塞端から開放端に向かって+Y軸方向、その逆を−Y軸方向とする。重力方向の下方から上方に向かって+Z軸方向、その逆を−Z軸方向とする。本実施形態では、セラミック部材200におけるX軸およびY軸に平行な面上に被搬送体90が保持される。セラミック部材200の厚さ方向は、Z軸方向に対応する。   As shown in FIGS. 2 and 3, in the present embodiment, the ceramic member 200 has a substantially U-shaped plate shape. In the usage state of the ceramic member 200 in the conveying apparatus 10, the axis along the horizontal direction of the U-shape in the ceramic member 200 is the X-axis, the axis along the vertical direction of the U-shape is the Y-axis, and the axis along the gravity direction Is the Z axis. The + X axis direction from the right side to the left side of the U-shape of the ceramic member 200 is set as the -X axis direction. The + Y-axis direction from the closed end of the U-shape of the ceramic member 200 toward the open end is set as the -Y-axis direction. The + Z-axis direction from the lower side to the upper side in the direction of gravity is defined as the + Z-axis direction, and the opposite is the −Z-axis direction. In the present embodiment, the conveyed object 90 is held on a surface of the ceramic member 200 parallel to the X axis and the Y axis. The thickness direction of the ceramic member 200 corresponds to the Z-axis direction.

図4に示すように、セラミック部材200は、複数のセラミック層として、7層のセラミック層291,292,293,294,295,296,297を備える。これらのセラミック層は、底面216側から、セラミック層291、セラミック層292、セラミック層293、セラミック層294、セラミック層295、セラミック層296、セラミック層297の順に積層されている。これらのセラミック層の層面方向は、X軸およびY軸に平行な面に沿った方向である。セラミック部材200におけるセラミック層の数は7層に限られるものではなく、他の実施形態では、6層以下であっても良いし、8層以上であっても良い。   As shown in FIG. 4, the ceramic member 200 includes seven ceramic layers 291, 292, 293, 294, 295, 296, and 297 as a plurality of ceramic layers. These ceramic layers are laminated in this order from the bottom surface 216 side: ceramic layer 291, ceramic layer 292, ceramic layer 293, ceramic layer 294, ceramic layer 295, ceramic layer 296, and ceramic layer 297. The layer surface direction of these ceramic layers is a direction along a plane parallel to the X axis and the Y axis. The number of ceramic layers in the ceramic member 200 is not limited to seven. In other embodiments, the number may be six or less, or may be eight or more.

セラミック部材200は、基端面211と、基端側面213,214と、基端上面215と、底面216と、貫通孔218と、基端段差面219と、先端面222,223と、外側面224,225と、内側面221,226,227と、対向面231,232,233,234,235と、先端上面242,243と、先端段差面248,249とを有する。   The ceramic member 200 includes a base end surface 211, base end side surfaces 213 and 214, a base end top surface 215, a bottom surface 216, a through hole 218, a base end stepped surface 219, front end surfaces 222 and 223, and an outer surface 224. , 225, inner side surfaces 221, 226, 227, opposing surfaces 231, 232, 233, 234, 235, tip upper surfaces 242, 243, and tip step surfaces 248, 249.

セラミック部材200の基端面211は、X軸およびZ軸に平行であって−Y軸方向を向いた面である。基端面211は、セラミック部材200における−Y軸方向の端に位置し、搬送装置10に取り付けられる側の端である基端部を構成する。基端面211は、基端側面213,214、基端上面215、および底面216の各面に繋がる。   The base end surface 211 of the ceramic member 200 is a surface parallel to the X axis and the Z axis and facing the −Y axis direction. The base end surface 211 is located at the end in the −Y axis direction of the ceramic member 200 and constitutes a base end portion that is an end on the side attached to the transport device 10. The base end surface 211 is connected to the base end side surfaces 213 and 214, the base end top surface 215, and the bottom surface 216.

セラミック部材200の基端側面213は、−X軸方向および−Y軸方向を向いたZ軸に平行な面であり、基端面211と外側面224との間に形成されている。セラミック部材200の基端側面214は、+X軸方向および−Y軸方向を向いたZ軸に平行な面であり、基端面211と外側面225との間に形成されている。   The base end side surface 213 of the ceramic member 200 is a surface parallel to the Z axis facing the −X axis direction and the −Y axis direction, and is formed between the base end surface 211 and the outer surface 224. The base end side surface 214 of the ceramic member 200 is a surface parallel to the Z axis that faces the + X axis direction and the −Y axis direction, and is formed between the base end surface 211 and the outer surface 225.

セラミック部材200の基端上面215は、X軸およびY軸に平行であって+Z軸方向を向いた面である。基端上面215は、基端面211および基端側面213,214に繋がる。図3に示すように、基端上面215は、対向面231,232よりも+Z軸方向側に設けられている。基端上面215と対向面231との間には、基端段差面219が形成されている。本実施形態では、図2に示すように、基端上面215の+Y軸方向側、基端段差面219、および対向面231の−Y軸方向側は、被搬送体90の外形に沿った円弧状に形成されている。   The base end upper surface 215 of the ceramic member 200 is a surface parallel to the X axis and the Y axis and facing the + Z axis direction. The proximal end upper surface 215 is connected to the proximal end surface 211 and the proximal end side surfaces 213 and 214. As shown in FIG. 3, the base end upper surface 215 is provided on the + Z-axis direction side of the opposing surfaces 231 and 232. A proximal step surface 219 is formed between the proximal upper surface 215 and the opposing surface 231. In the present embodiment, as shown in FIG. 2, the + Y-axis direction side of the base end upper surface 215, the base end step surface 219, and the −Y-axis direction side of the facing surface 231 are circular along the outer shape of the conveyed object 90. It is formed in an arc shape.

セラミック部材200の底面216は、X軸およびY軸に平行であって−Z軸方向を向いた面である。底面216は、セラミック部材200の全体形状と同じ略U字形の面であり、基端面211、基端側面213,214、先端面222,223、外側面224,225、および内側面221,226,227の各面に繋がる。   The bottom surface 216 of the ceramic member 200 is a surface parallel to the X axis and the Y axis and facing the −Z axis direction. The bottom surface 216 is a substantially U-shaped surface that is the same as the overall shape of the ceramic member 200, and includes a base end surface 211, base end side surfaces 213 and 214, front end surfaces 222 and 223, outer side surfaces 224 and 225, and inner side surfaces 221 and 226, It connects to each surface of 227.

セラミック部材200の貫通孔218は、基端上面215と底面216との間をZ軸に沿って貫通する。本実施形態では、セラミック部材200は、貫通孔218を用いてアーム機構710に取り付けられる。本実施形態では、貫通孔218の個数は2個であるが、他の実施形態では、3個以上であっても良い。   The through hole 218 of the ceramic member 200 penetrates between the base end upper surface 215 and the bottom surface 216 along the Z axis. In the present embodiment, the ceramic member 200 is attached to the arm mechanism 710 using the through hole 218. In the present embodiment, the number of through-holes 218 is two, but in other embodiments, it may be three or more.

セラミック部材200の先端面222,223は、Z軸に平行であって+Y軸方向に凸状の円弧面である。先端面222,223は、セラミック部材200における+Y軸方向の端に位置し、基端面211との間に対向面231,232,234,234,235を配置した先端部を構成する。先端面222は、−X軸方向側に位置し、先端面223は、+X軸方向側に位置する。先端面222は、底面216、外側面224、内側面226、対向面231、および先端上面242に繋がる。先端面223は、底面216、外側面225、内側面227、対向面231、および先端上面243に繋がる。   The tip surfaces 222 and 223 of the ceramic member 200 are arcuate surfaces that are parallel to the Z axis and convex in the + Y axis direction. The front end surfaces 222 and 223 are positioned at the end of the ceramic member 200 in the + Y-axis direction, and constitute a front end portion in which opposed surfaces 231, 232, 234, 234, and 235 are disposed between the front end surfaces 211. The front end surface 222 is located on the −X axis direction side, and the front end surface 223 is located on the + X axis direction side. The front end surface 222 is connected to the bottom surface 216, the outer side surface 224, the inner side surface 226, the facing surface 231, and the front end upper surface 242. The tip surface 223 is connected to the bottom surface 216, the outer surface 225, the inner surface 227, the facing surface 231, and the tip upper surface 243.

セラミック部材200の外側面224は、Y軸およびZ軸に平行であって−X軸方向を向いた面であり、先端面222と基端側面213との間に形成されている。セラミック部材200の外側面225は、Y軸およびZ軸に平行であって+X軸方向を向いた面であり、先端面223と基端側面214との間に形成されている。外側面224,225は、セラミック部材200の外周を形成する外周部である。   The outer surface 224 of the ceramic member 200 is a surface that is parallel to the Y axis and the Z axis and faces the −X axis direction, and is formed between the distal end surface 222 and the proximal end side surface 213. The outer surface 225 of the ceramic member 200 is a surface parallel to the Y axis and the Z axis and facing the + X axis direction, and is formed between the distal end surface 223 and the proximal end side surface 214. The outer side surfaces 224 and 225 are outer peripheral portions that form the outer periphery of the ceramic member 200.

セラミック部材200の内側面221は、Z軸に平行であって+Y軸方向に対して凹状の円弧面であり、内側面226と内側面227との間に形成されている。セラミック部材200の内側面226は、Y軸およびZ軸に平行であって+X軸方向を向いた面であり、先端面222と内側面221との間に形成されている。セラミック部材200の内側面227は、Y軸およびZ軸に平行であって−X軸方向を向いた面であり、先端面223と内側面221との間に形成されている。内側面221,226,227は、セラミック部材200の外周を形成する外周部である。   The inner surface 221 of the ceramic member 200 is a circular arc surface that is parallel to the Z axis and concave in the + Y axis direction, and is formed between the inner surface 226 and the inner surface 227. The inner surface 226 of the ceramic member 200 is a surface parallel to the Y axis and the Z axis and facing the + X axis direction, and is formed between the tip surface 222 and the inner surface 221. The inner surface 227 of the ceramic member 200 is a surface that is parallel to the Y axis and the Z axis and faces the −X axis direction, and is formed between the tip surface 223 and the inner surface 221. The inner side surfaces 221, 226, and 227 are outer peripheral portions that form the outer periphery of the ceramic member 200.

セラミック部材200の対向面231,232,233,234,235は、X軸およびY軸に平行であって+Z軸方向を向いた面である。対向面231,232,233,234,235は、セラミック部材200に被搬送体90を保持した状態で被搬送体90に対向する。図2では、図の理解を容易にするために、対向面232,234にハッチングを施した。   The facing surfaces 231, 232, 233, 234, and 235 of the ceramic member 200 are surfaces that are parallel to the X-axis and the Y-axis and face the + Z-axis direction. The facing surfaces 231, 232, 233, 234, and 235 face the transported body 90 in a state where the transported body 90 is held on the ceramic member 200. In FIG. 2, the opposing surfaces 232 and 234 are hatched to facilitate understanding of the drawing.

対向面231,233,235は、対向面232,234よりも底面216側、すなわち、対向面232,234よりも−Z軸方向側に、位置する第1の対向面である。対向面232,233は、対向面231,233,235よりも被搬送体90側、すなわち、対向面231,233,234よりも+Z軸方向側に、位置する第2の対向面である。本実施形態では、セラミック部材200の一体焼成後に、セラミック層297を切削することによって、対向面231,232,233,234,235を形成する。   The facing surfaces 231, 233, and 235 are first facing surfaces located on the bottom 216 side of the facing surfaces 232 and 234, that is, on the −Z-axis direction side of the facing surfaces 232 and 234. The facing surfaces 232 and 233 are second facing surfaces located on the transported object 90 side with respect to the facing surfaces 231, 233 and 235, that is, on the + Z-axis direction side with respect to the facing surfaces 231, 233 and 234. In this embodiment, the opposing surfaces 231, 232, 233, 234, and 235 are formed by cutting the ceramic layer 297 after the ceramic member 200 is integrally fired.

本実施形態では、図2に示すように、対向面235は、Z軸方向から見て略U字形の平面である。対向面234は、対向面235よりも+Z軸方向に位置し、Z軸方向から見て対向面235の外周を囲繞する平面である。対向面233は、対向面234よりも−Z軸方向に位置し、Z軸方向から見て対向面234の外周を囲繞する平面である。対向面232は、対向面233よりも+Z軸方向に位置し、Z軸方向から見て対向面233の外周を囲繞する平面である。対向面231は、対向面232よりも−Z軸方向に位置し、Z軸方向から見て対向面232の外周を囲繞する平面である。本実施形態では、図4に示すように、対向面231,233,235のZ軸方向の各位置は同じであり、対向面232,234のZ軸方向の各位置は同じである。   In the present embodiment, as shown in FIG. 2, the facing surface 235 is a substantially U-shaped plane as viewed from the Z-axis direction. The facing surface 234 is a plane that is located in the + Z-axis direction relative to the facing surface 235 and surrounds the outer periphery of the facing surface 235 when viewed from the Z-axis direction. The facing surface 233 is a plane that is positioned in the −Z-axis direction relative to the facing surface 234 and surrounds the outer periphery of the facing surface 234 when viewed from the Z-axis direction. The facing surface 232 is a plane that is located in the + Z-axis direction relative to the facing surface 233 and surrounds the outer periphery of the facing surface 233 when viewed from the Z-axis direction. The facing surface 231 is a plane that is located in the −Z-axis direction with respect to the facing surface 232 and surrounds the outer periphery of the facing surface 232 when viewed from the Z-axis direction. In the present embodiment, as shown in FIG. 4, the positions of the opposing surfaces 231, 233 and 235 in the Z-axis direction are the same, and the positions of the opposing surfaces 232 and 234 in the Z-axis direction are the same.

セラミック部材200の先端上面242,243は、X軸およびY軸に平行であって+Z軸方向を向いた面である。先端上面242は、先端面222に繋がり、先端上面243は、先端面223に繋がる。図3に示すように、先端上面242,243は、対向面231,232よりも+Z軸方向側に設けられている。先端上面242と対向面231との間には先端段差面248が形成されており、先端上面243と対向面231との間には先端段差面249が形成されている。本実施形態では、図2に示すように、先端上面242,243の−Y軸方向側、先端段差面248,249、および対向面231の+Y軸方向側は、被搬送体90の外形に沿った円弧状に形成されている。   The top end surfaces 242 and 243 of the ceramic member 200 are surfaces parallel to the X axis and the Y axis and facing the + Z axis direction. The tip top surface 242 is connected to the tip surface 222, and the tip top surface 243 is connected to the tip surface 223. As shown in FIG. 3, the tip upper surfaces 242 and 243 are provided on the + Z-axis direction side of the opposing surfaces 231 and 232. A tip step surface 248 is formed between the tip top surface 242 and the facing surface 231, and a tip step surface 249 is formed between the tip top surface 243 and the facing surface 231. In the present embodiment, as shown in FIG. 2, the −Y-axis direction side of the tip upper surfaces 242 and 243, the tip step surfaces 248 and 249, and the + Y-axis direction side of the facing surface 231 are along the outer shape of the transported body 90. It is formed in a circular arc shape.

図2および図4に示すように、セラミック部材200の対向面235には、対向面235に負圧を提供することによって被搬送体90を吸着可能に構成した孔である吸着孔450が形成されている。本実施形態では、セラミック部材200の一体焼成前に、セラミック層295,296,297を切削することによって、吸着孔450を形成する。本実施形態では、吸着孔450の個数は6個であるが、他の実施形態では、5個以下であっても良いし、7個以上であっても良い。   As shown in FIG. 2 and FIG. 4, the opposing surface 235 of the ceramic member 200 is formed with an adsorption hole 450 that is a hole configured to adsorb the conveyed object 90 by providing a negative pressure to the opposing surface 235. ing. In this embodiment, before the ceramic member 200 is integrally fired, the suction holes 450 are formed by cutting the ceramic layers 295, 296, and 297. In the present embodiment, the number of the suction holes 450 is 6, but in other embodiments, the number may be 5 or less, or 7 or more.

図2および図4に示すように、セラミック部材200の対向面233には、処理ガスを放出可能に構成した孔であるガス放出孔650が形成されている。本実施形態では、セラミック部材200の一体焼成前に、セラミック層295,296,297を切削することによって、ガス放出孔650を形成する。本実施形態では、ガス放出孔650の個数は12個であるが、他の実施形態では、11個以下であっても良いし、13個以上であっても良い。   As shown in FIGS. 2 and 4, a gas discharge hole 650, which is a hole configured to be able to discharge a processing gas, is formed on the facing surface 233 of the ceramic member 200. In this embodiment, before the ceramic member 200 is integrally fired, the gas release holes 650 are formed by cutting the ceramic layers 295, 296, and 297. In the present embodiment, the number of gas discharge holes 650 is 12, but in other embodiments, it may be 11 or less, or 13 or more.

図2および図3に示すように、セラミック部材200は、給電口312,316と、負圧供給口412と、給電口512,516と、ガス供給口612とを備える。   As shown in FIGS. 2 and 3, the ceramic member 200 includes power supply ports 312 and 316, a negative pressure supply port 412, power supply ports 512 and 516, and a gas supply port 612.

セラミック部材200の給電口312,316は、相互に極性が反転した電位となる電力の供給を吸着電極駆動部830からそれぞれ受け付ける。本実施形態では、給電口312,316は、基端上面215から+Z軸方向に突出した円筒状の導電性金属端子をロウ付けして形成されており、吸着電極駆動部830に接続されたケーブルの端子(図示しない)を固定可能に構成されている。   The power supply ports 312 and 316 of the ceramic member 200 respectively receive the supply of electric power with potentials whose polarities are reversed from each other from the adsorption electrode driving unit 830. In the present embodiment, the power supply ports 312 and 316 are formed by brazing cylindrical conductive metal terminals protruding in the + Z-axis direction from the base end upper surface 215, and are cables connected to the suction electrode driving unit 830. These terminals (not shown) can be fixed.

セラミック部材200の負圧供給口412は、負圧供給部840から負圧の供給を受け付ける。本実施形態では、負圧供給口412は、基端上面215から+Z軸方向に突出した円筒状の導電性金属端子をロウ付けして形成されており、負圧供給部840に接続されたチューブの端部(図示しない)を固定可能に構成されている。   The negative pressure supply port 412 of the ceramic member 200 receives supply of negative pressure from the negative pressure supply unit 840. In the present embodiment, the negative pressure supply port 412 is formed by brazing a cylindrical conductive metal terminal protruding in the + Z-axis direction from the base end upper surface 215, and is a tube connected to the negative pressure supply unit 840. It is comprised so that fixing | fixing the edge part (not shown) of this is possible.

セラミック部材200の給電口512,516は、電熱体駆動部850から電力の供給を受け付け、一方が正極に対応し、他方が負極に対応する。本実施形態では、給電口512,516は、基端上面215から+Z軸方向に突出した円筒状の導電性金属端子をロウ付けして形成されており、電熱体駆動部850に接続されたケーブルの端子(図示しない)を固定可能に構成されている。   The power supply ports 512 and 516 of the ceramic member 200 receive supply of electric power from the electric heating element driving unit 850, one corresponding to the positive electrode and the other corresponding to the negative electrode. In the present embodiment, the power supply ports 512 and 516 are formed by brazing a cylindrical conductive metal terminal protruding in the + Z-axis direction from the base end upper surface 215, and a cable connected to the electric heater driving unit 850. These terminals (not shown) can be fixed.

セラミック部材200のガス供給口612は、処理ガス供給部860から処理ガスの供給を受け付ける。本実施形態では、ガス供給口612は、基端上面215から+Z軸方向に突出した円筒状の導電性金属端子をロウ付けして形成されており、処理ガス供給部860に接続されたチューブの端部(図示しない)を固定可能に構成されている。   The gas supply port 612 of the ceramic member 200 receives supply of processing gas from the processing gas supply unit 860. In this embodiment, the gas supply port 612 is formed by brazing a cylindrical conductive metal terminal protruding in the + Z-axis direction from the base end upper surface 215, and is a tube connected to the process gas supply unit 860. An end (not shown) is configured to be fixable.

図4に示すように、セラミック層296とセラミック層297との間には、導体パターンである吸着電極372,374,376,378が形成されている。本実施形態では、セラミック層296にセラミック層297を積層する前に、導電性材料を含有する導電体ペーストをセラミック層296にスクリーン印刷することによって、吸着電極372,374,376,378を形成する。本実施形態では、吸着電極372,374は、吸着電極376,378とは異なる極性の電位となるように構成した第1電極であり、吸着電極376,378は、吸着電極372,374とは異なる極性の電位となるように構成した第2電極である。   As shown in FIG. 4, adsorption electrodes 372, 374, 376 and 378 which are conductor patterns are formed between the ceramic layer 296 and the ceramic layer 297. In this embodiment, before laminating the ceramic layer 297 on the ceramic layer 296, the adsorption electrodes 372, 374, 376, and 378 are formed by screen-printing a conductive paste containing a conductive material on the ceramic layer 296. . In the present embodiment, the adsorption electrodes 372 and 374 are first electrodes configured to have a different polarity potential from the adsorption electrodes 376 and 378, and the adsorption electrodes 376 and 378 are different from the adsorption electrodes 372 and 374. It is the 2nd electrode comprised so that it might become a potential of polarity.

図5は、図4の矢視F5−F5に対応する位置から見たセラミック層296を示す説明図である。図5には、吸着電極372,374,376,378が形成されたセラミック層296を図示した。図5には、図の理解を容易にするために、吸着電極372,374,376,378にハッチングを施した。図5に示すように、吸着電極372,374,376,378は、吸着孔450およびガス放出孔650を避けて形成されている。   FIG. 5 is an explanatory diagram showing the ceramic layer 296 viewed from a position corresponding to the arrow F5-F5 in FIG. FIG. 5 illustrates a ceramic layer 296 in which adsorption electrodes 372, 374, 376, and 378 are formed. In FIG. 5, the adsorption electrodes 372, 374, 376, and 378 are hatched for easy understanding of the drawing. As shown in FIG. 5, the adsorption electrodes 372, 374, 376, and 378 are formed so as to avoid the adsorption holes 450 and the gas discharge holes 650.

図2、図4および図5に示すように、吸着電極372は、Z軸方向から見て、対向面232の外側寄りに沿って重なり、吸着電極376は、Z軸方向から見て、対向面232の内側寄りに沿って重なる。吸着電極372および吸着電極376の各々は、Z軸方向から見て、対向面232に対して略均等に重なるように配置されている。   As shown in FIGS. 2, 4, and 5, the adsorption electrode 372 overlaps along the outer side of the opposed surface 232 when viewed from the Z-axis direction, and the adsorption electrode 376 is opposed to the opposed surface when viewed from the Z-axis direction. It overlaps along the inner side of 232. Each of the adsorption electrode 372 and the adsorption electrode 376 is disposed so as to overlap with the opposing surface 232 substantially evenly when viewed from the Z-axis direction.

図2、図4および図5に示すように、吸着電極374は、Z軸方向から見て、対向面234の外側寄りに沿って重なり、吸着電極378は、Z軸方向から見て、対向面234の内側寄りに沿って重なる。吸着電極374および吸着電極378の各々は、Z軸方向から見て、対向面234に対して略均等に重なるように配置されている。   As shown in FIGS. 2, 4, and 5, the adsorption electrode 374 overlaps along the outer side of the opposed surface 234 when viewed from the Z-axis direction, and the adsorption electrode 378 is opposed to the opposed surface when viewed from the Z-axis direction. Overlapping along the inner side of 234. Each of the adsorption electrode 374 and the adsorption electrode 378 is disposed so as to substantially overlap the opposing surface 234 when viewed from the Z-axis direction.

図6は、図4の矢視F6−F6に対応する位置から見たセラミック層295を示す説明図である。図7は、図6の矢視F7−F7に対応する位置から見たセラミック部材200の断面を示す説明図である。図6および図7に示すように、セラミック層295とセラミック層296との間には、導体パターンであるランド332,336が形成されている。図6には、図の理解を容易にするために、ランド332,336にハッチングを施した。図6には、給電口312,316を、Z軸方向に沿ってセラミック層295上に投影した位置に一点鎖線で図示した。なお、図5には、ランド332,336を破線で図示した。   FIG. 6 is an explanatory view showing the ceramic layer 295 viewed from the position corresponding to the arrow F6-F6 in FIG. FIG. 7 is an explanatory view showing a cross section of the ceramic member 200 viewed from a position corresponding to the arrow F7-F7 in FIG. As shown in FIGS. 6 and 7, lands 332 and 336 that are conductor patterns are formed between the ceramic layer 295 and the ceramic layer 296. In FIG. 6, lands 332 and 336 are hatched for easy understanding of the drawing. In FIG. 6, the power supply ports 312 and 316 are indicated by alternate long and short dash lines at positions projected onto the ceramic layer 295 along the Z-axis direction. In FIG. 5, the lands 332 and 336 are indicated by broken lines.

本実施形態では、セラミック層295にセラミック層296を積層する前に、導電性材料を含有する導電体ペーストをセラミック層295にスクリーン印刷することによって、ランド332,336を形成する。   In this embodiment, before the ceramic layer 296 is stacked on the ceramic layer 295, the lands 332 and 336 are formed by screen-printing a conductive paste containing a conductive material on the ceramic layer 295.

ランド332は、給電口312を通じて受電可能に構成した導体である。本実施形態では、ランド332は、円筒状の給電口312の内部に露出することによって、給電口312を通じて受電可能に構成されている。   The land 332 is a conductor configured to receive power through the power supply port 312. In the present embodiment, the land 332 is configured to be able to receive power through the power supply port 312 by being exposed to the inside of the cylindrical power supply port 312.

ランド336は、給電口316を通じて受電可能に構成した導体である。本実施形態では、ランド336は、円筒状の給電口316の内部に露出することによって、給電口316を通じて受電可能に構成されている。   The land 336 is a conductor configured to be able to receive power through the power supply port 316. In the present embodiment, the land 336 is configured to be able to receive power through the power supply port 316 by being exposed to the inside of the cylindrical power supply port 316.

図7に示すように、セラミック層296にはビア352,354が形成されており、同様に、セラミック層296にはビア356,358が形成されている。図5には、ビア352,354,356,358を破線で図示した。図6には、ビア352,354,356,358を、Z軸方向に沿ってセラミック層295上に投影した位置に一点鎖線で図示した。   As shown in FIG. 7, vias 352 and 354 are formed in the ceramic layer 296, and similarly, vias 356 and 358 are formed in the ceramic layer 296. In FIG. 5, the vias 352, 354, 356, and 358 are shown by broken lines. In FIG. 6, the vias 352, 354, 356, and 358 are illustrated by alternate long and short dash lines at positions projected onto the ceramic layer 295 along the Z-axis direction.

本実施形態では、吸着電極372,374,376,378をセラミック層296に形成する前に、セラミック層292に貫通孔を形成し、その貫通孔に導電性材料を含有する導電体ペーストを穴埋め印刷することによって、ビア352,354,356,358を形成する。   In this embodiment, before the adsorption electrodes 372, 374, 376, and 378 are formed in the ceramic layer 296, a through hole is formed in the ceramic layer 292, and a conductive paste containing a conductive material is filled in the through hole. As a result, vias 352, 354, 356, and 358 are formed.

ビア352は、セラミック層296を貫通してランド332と吸着電極372との間を電気的に接続する導体である。ビア354は、セラミック層296を貫通してランド332と吸着電極374との間を電気的に接続する導体である。   The via 352 is a conductor that penetrates the ceramic layer 296 and electrically connects the land 332 and the adsorption electrode 372. The via 354 is a conductor that penetrates the ceramic layer 296 and electrically connects the land 332 and the adsorption electrode 374.

ビア356は、セラミック層296を貫通してランド336と吸着電極376との間を電気的に接続する導体である。ビア358は、セラミック層296を貫通してランド336と吸着電極378との間を電気的に接続する導体である。   The via 356 is a conductor that penetrates the ceramic layer 296 and electrically connects the land 336 and the adsorption electrode 376. The via 358 is a conductor that penetrates the ceramic layer 296 and electrically connects the land 336 and the adsorption electrode 378.

図4に示すように、セラミック層294には、負圧連通路430およびガス連通路630が形成されている。負圧連通路430は、負圧供給口412と吸着孔450との間を連通する流路である。ガス連通路630は、ガス供給口612とガス放出孔650との間を連通する流路である。本実施形態では、セラミック層294にセラミック層295を積層する前に、セラミック層294を切削することによって、負圧連通路430およびガス連通路630を形成する。   As shown in FIG. 4, a negative pressure communication path 430 and a gas communication path 630 are formed in the ceramic layer 294. The negative pressure communication path 430 is a flow path that communicates between the negative pressure supply port 412 and the suction hole 450. The gas communication path 630 is a flow path that communicates between the gas supply port 612 and the gas discharge hole 650. In this embodiment, before laminating the ceramic layer 295 on the ceramic layer 294, the negative pressure communication path 430 and the gas communication path 630 are formed by cutting the ceramic layer 294.

図8は、図4の矢視F8−F8に対応する位置から見たセラミック層294を示す説明図である。図8には、負圧供給口412、吸着孔450、ガス供給口612、およびガス放出孔650の各々を、Z軸方向に沿ってセラミック層294上に投影した位置に一点鎖線で図示した。   FIG. 8 is an explanatory view showing the ceramic layer 294 viewed from a position corresponding to the arrow F8-F8 in FIG. In FIG. 8, each of the negative pressure supply port 412, the suction hole 450, the gas supply port 612, and the gas discharge hole 650 is illustrated by a one-dot chain line at a position projected on the ceramic layer 294 along the Z-axis direction.

本実施形態では、負圧連通路430は、負圧供給口412に対応する位置から内側面221へと進んだ後、先端面222および先端面223に向けて2つに分岐して6個の吸着孔450に対応する位置を通る。本実施形態では、ガス連通路630は、ガス供給口612に対応する位置から先端面222および先端面223に向けて2つに分岐した後、一方で外側面224、先端面222、内側面226の順に沿って6個のガス放出孔650に対応する位置を通り、他方で外側面225、先端面223、内側面227の順に沿って6個のガス放出孔650に対応する位置を通る。   In the present embodiment, the negative pressure communication path 430 advances from the position corresponding to the negative pressure supply port 412 to the inner surface 221, and then branches into two toward the front end surface 222 and the front end surface 223, and six adsorptions It passes through a position corresponding to the hole 450. In the present embodiment, the gas communication path 630 branches into two from the position corresponding to the gas supply port 612 toward the front end surface 222 and the front end surface 223, and then on the other hand, the outer side surface 224, the front end surface 222, and the inner side surface 226. And passes through positions corresponding to the six gas discharge holes 650 along the order of the outer surface 225, the front end surface 223, and the inner surface 227.

図4に示すように、セラミック層291とセラミック層292との間には、導体パターンである電熱体572,574,576が形成されている。本実施形態では、セラミック層291にセラミック層292を積層する前に、導電性材料を含有する導電体ペーストをセラミック層291にスクリーン印刷することによって、電熱体572,574,576を形成する。   As shown in FIG. 4, electric heating elements 572, 574, and 576 that are conductor patterns are formed between the ceramic layer 291 and the ceramic layer 292. In this embodiment, before the ceramic layer 292 is laminated on the ceramic layer 291, the electric heaters 572, 574, and 576 are formed by screen printing a conductive paste containing a conductive material on the ceramic layer 291.

図9は、図4の矢視F9−F9に対応する位置から見たセラミック層292を示す説明図である。図10は、図4の矢視F10−F10に対応する位置から見たセラミック層291を示す説明図である。図11は、図9の矢視F11−F11に対応する位置から見たセラミック部材200の断面を示す説明図である。図10では、図の理解を容易にするために、電熱体572,574,576にハッチングを施した。   FIG. 9 is an explanatory diagram showing the ceramic layer 292 viewed from a position corresponding to the arrow F9-F9 in FIG. FIG. 10 is an explanatory diagram showing the ceramic layer 291 viewed from the position corresponding to the arrow F10-F10 in FIG. FIG. 11 is an explanatory view showing a cross section of the ceramic member 200 viewed from a position corresponding to the arrow F11-F11 in FIG. In FIG. 10, the electric heating elements 572, 574, and 576 are hatched for easy understanding of the drawing.

図10に示すように、本実施形態では、電熱体572,576は、セラミック層291の外周側に配置された第1電熱体であり、電熱体574は、電熱体572,576よりも内側に配置された第2電熱体である。本実施形態では、電熱体572,576を電熱体574よりも抵抗値が高い導電性材料で形成することによって、電熱体572,576の単位面積あたりの発熱量が電熱体574よりも大きくなるように構成されている。他の実施形態では、電熱体572,576に電熱体574より大きな電流を供給することによって、電熱体572,576の単位面積あたりの発熱量が電熱体574よりも大きくなるように構成しても良い。また、他の実施形態では、電熱体572,574,576の単位面積あたりの発熱量が同じになるように構成しても良い。   As shown in FIG. 10, in the present embodiment, the electric heating bodies 572 and 576 are first electric heating bodies arranged on the outer peripheral side of the ceramic layer 291, and the electric heating body 574 is located inside the electric heating bodies 572 and 576. It is the 2nd electric heating body arranged. In the present embodiment, the heating elements 572 and 576 are formed of a conductive material having a higher resistance value than that of the heating element 574 so that the heating value per unit area of the heating elements 572 and 576 is larger than that of the heating element 574. It is configured. In another embodiment, the electric heating elements 572 and 576 may be configured so that the heating value per unit area of the electric heating elements 572 and 576 is larger than that of the electric heating element 574 by supplying a larger current to the electric heating elements 572 and 576. good. In another embodiment, the heating elements 572, 574, and 576 may be configured to have the same heat generation amount per unit area.

図9ないし図11に示すように、セラミック層292とセラミック層293との間には、導体パターンであるランド532,536が形成されている。図9には、図の理解を容易にするために、ランド532,536にハッチングを施した。図9には、給電口512,516を、Z軸方向に沿ってセラミック層292上に投影した位置に一点鎖線で図示した。図10には、ランド532,536を、Z軸方向に沿ってセラミック層291上に投影した位置に一点鎖線で図示した。   As shown in FIGS. 9 to 11, lands 532 and 536 that are conductor patterns are formed between the ceramic layer 292 and the ceramic layer 293. In FIG. 9, lands 532 and 536 are hatched for easy understanding of the drawing. In FIG. 9, the power supply ports 512 and 516 are illustrated by dashed lines at positions projected onto the ceramic layer 292 along the Z-axis direction. In FIG. 10, the lands 532 and 536 are illustrated by dashed lines at positions projected onto the ceramic layer 291 along the Z-axis direction.

本実施形態では、セラミック層292にセラミック層293を積層する前に、導電性材料を含有する導電体ペーストをセラミック層292にスクリーン印刷することによって、ランド532,536を形成する。   In the present embodiment, before the ceramic layer 293 is laminated on the ceramic layer 292, the lands 532 and 536 are formed by screen-printing a conductive paste containing a conductive material on the ceramic layer 292.

ランド532は、給電口512を通じて受電可能に構成した導体である。本実施形態では、ランド532は、円筒状の給電口512の内部に露出することによって、給電口512を通じて受電可能に構成されている。   The land 532 is a conductor configured to be able to receive power through the power supply port 512. In the present embodiment, the land 532 is configured to be able to receive power through the power supply port 512 by being exposed to the inside of the cylindrical power supply port 512.

ランド536は、給電口516を通じて受電可能に構成した導体である。本実施形態では、ランド536は、円筒状の給電口516の内部に露出することによって、給電口516を通じて受電可能に構成されている。   The land 536 is a conductor configured to receive power through the power supply port 516. In the present embodiment, the land 536 is configured to be able to receive power through the power supply port 516 by being exposed to the inside of the cylindrical power supply port 516.

図9および図11に示すように、セラミック層292には、ビア552,553,554、およびビア556,557,558が形成されている。図9には、ビア552,553,554、およびビア556,557,558を破線で図示した。図10には、給電口512,516、ランド532,536、ビア552,553,554、およびビア556,557,558の各々を、Z軸方向に沿ってセラミック層291上に投影した位置に一点鎖線で図示した。   As shown in FIGS. 9 and 11, vias 552, 553, 554 and vias 556, 557, 558 are formed in the ceramic layer 292. In FIG. 9, vias 552, 553, 554 and vias 556, 557, 558 are illustrated by broken lines. In FIG. 10, the power supply ports 512, 516, lands 532, 536, vias 552, 553, 554, and vias 556, 557, 558 are set at positions projected onto the ceramic layer 291 along the Z-axis direction. This is illustrated with a chain line.

本実施形態では、ランド332,336をセラミック層292に形成する前に、セラミック層292に貫通孔を形成し、その貫通孔に導電性材料を含有する導電体ペーストを穴埋め印刷することによって、ビア552,553,554、およびビア556,557,558を形成する。   In the present embodiment, before the lands 332 and 336 are formed in the ceramic layer 292, through holes are formed in the ceramic layer 292, and a conductive paste containing a conductive material is filled in the through holes, thereby printing vias. 552, 553, 554 and vias 556, 557, 558 are formed.

ビア552は、セラミック層292を貫通して、電熱体572における+X軸方向側の端部と、ランド532との間を電気的に接続する導体である。ビア553は、セラミック層292を貫通して、電熱体574における+X軸方向側の端部と、ランド532との間を電気的に接続する導体である。ビア554は、セラミック層292を貫通して、電熱体576における+X軸方向側の端部と、ランド532との間を電気的に接続する導体である。   The via 552 is a conductor that penetrates the ceramic layer 292 and electrically connects the end of the electric heating element 572 on the + X axis direction side and the land 532. The via 553 is a conductor that penetrates the ceramic layer 292 and electrically connects the end portion on the + X-axis direction side of the electric heating element 574 and the land 532. The via 554 is a conductor that penetrates the ceramic layer 292 and electrically connects the end of the electric heating element 576 on the + X-axis direction side and the land 532.

ビア556は、セラミック層292を貫通して、電熱体572における−X軸方向側の端部と、ランド536との間を電気的に接続する導体である。ビア557は、セラミック層292を貫通して、電熱体574における−X軸方向側の端部と、ランド536との間を電気的に接続する導体である。ビア558は、セラミック層292を貫通して、電熱体576における−X軸方向側の端部と、ランド536との間を電気的に接続する導体である。   The via 556 is a conductor that penetrates the ceramic layer 292 and electrically connects the end of the electric heating element 572 on the −X axis direction side and the land 536. The via 557 is a conductor that penetrates the ceramic layer 292 and electrically connects the end of the electric heating element 574 on the −X axis direction side and the land 536. The via 558 is a conductor that penetrates the ceramic layer 292 and electrically connects the end of the electric heating element 576 on the −X axis direction side and the land 536.

図17は、セラミック部材200の製造工程を示す説明図である。セラミック部材200を製造する際には、始めに、セラミック層291〜297の元となるグリーンシートを用意する(工程P110)。グリーンシートは、絶縁性セラミック材料粉末に、有機バインダ、可塑剤、溶剤などを混合してシート状に成形したものである。   FIG. 17 is an explanatory view showing a manufacturing process of the ceramic member 200. When manufacturing the ceramic member 200, first, a green sheet as a base of the ceramic layers 291 to 297 is prepared (process P110). The green sheet is formed by mixing an insulating ceramic material powder with an organic binder, a plasticizer, a solvent, and the like into a sheet shape.

グリーンシートを用意した後(工程P110)、セラミック層291〜297の各々の構成に応じてグリーンシートを加工する(工程P120)。具体的には、各グリーンシートを正方形に切削加工した後、後工程(スクリーン印刷、切削加工および熱圧着など)における位置合わせに適したガイド孔を、各グリーンシートの外周付近にパンチング加工する。必要に応じて、吸着電極372,374,376,378、ランド332,336、電熱体572,574,576、ランド532,536の各形状に合わせて導電体ペーストをグリーンシートの表面にスクリーン印刷する。必要に応じて、ビア352,354,356,358、ビア552,553,554,556,557,558を形成する位置に、貫通孔であるビア孔をパンチング加工し、そのビア孔に導電体ペーストを穴埋め印刷する。必要に応じて、貫通孔218、負圧連通路430、吸着孔450、ガス連通路630、ガス放出孔650などをグリーンシートに切削加工する。   After preparing a green sheet (process P110), a green sheet is processed according to each structure of the ceramic layers 291-297 (process P120). Specifically, after cutting each green sheet into a square, a guide hole suitable for alignment in a subsequent process (such as screen printing, cutting, and thermocompression bonding) is punched near the outer periphery of each green sheet. If necessary, conductive paste is screen-printed on the surface of the green sheet in accordance with the shapes of the adsorption electrodes 372, 374, 376, 378, lands 332, 336, electric heating elements 572, 574, 576, and lands 532, 536. . As needed, via holes which are through holes are punched at positions where vias 352, 354, 356, 358 and vias 552, 553, 554, 556, 557, 558 are formed, and a conductor paste is formed in the via holes. The hole is printed. The through hole 218, the negative pressure communication path 430, the suction hole 450, the gas communication path 630, the gas discharge hole 650, and the like are cut into a green sheet as necessary.

セラミック層291〜297の各々に応じてグリーンシートを加工した後(工程P120)、セラミック層291〜297の各々に応じた複数のグリーンシートを積層し、熱圧着により隣接するセラミック層同士を接合する(工程P125)。これによって、複数のグリーンシートを積層したグリーンシート積層体が形成される。   After processing the green sheets according to each of the ceramic layers 291 to 297 (process P120), a plurality of green sheets corresponding to each of the ceramic layers 291 to 297 are stacked, and the adjacent ceramic layers are joined by thermocompression bonding. (Process P125). Thereby, a green sheet laminate in which a plurality of green sheets is laminated is formed.

グリーンシート積層体を形成した後(工程P125)、このグリーンシート積層体を、後工程の焼成に適した外形形状に切削加工する(工程P130)。   After forming the green sheet laminate (process P125), the green sheet laminate is cut into an outer shape suitable for firing in the subsequent process (process P130).

グリーンシート積層体を切削加工した後(工程P130)、グリーンシート積層体を脱脂する(工程P140)。具体的には、グリーンシート積層体を250℃の大気雰囲気中に10時間曝すことによって脱脂する。   After cutting the green sheet laminate (process P130), the green sheet laminate is degreased (process P140). Specifically, the green sheet laminate is degreased by exposing it to an air atmosphere at 250 ° C. for 10 hours.

グリーンシート積層体を脱脂した後(工程P140)、グリーンシート積層体を一体焼成する。具体的には、1400〜1600℃の還元雰囲気中にてグリーンシート積層体を焼成する(工程P150)。これによって、グリーンシートに由来するアルミナと、導電体ペーストに由来するタングステンとが同時焼結し、セラミック部材200の内部構造が形成された焼成体を得る。   After degreasing the green sheet laminate (process P140), the green sheet laminate is integrally fired. Specifically, the green sheet laminate is fired in a reducing atmosphere at 1400 to 1600 ° C. (process P150). As a result, alumina derived from the green sheet and tungsten derived from the conductive paste are simultaneously sintered to obtain a fired body in which the internal structure of the ceramic member 200 is formed.

焼成の後(工程P150)、焼成で得た焼成体をセラミック部材200へと成形する(工程P160)。具体的には、セラミック部材200に合わせて焼成体の外形形状を研磨切削加工する。対向面231,233,235については、本実施形態では、研磨切削加工で形成するが、他の実施形態では、ブラスト加工で形成しても良い。   After firing (process P150), the fired body obtained by firing is formed into a ceramic member 200 (process P160). Specifically, the outer shape of the fired body is polished and cut according to the ceramic member 200. The opposing surfaces 231, 233, and 235 are formed by polishing cutting in the present embodiment, but may be formed by blasting in other embodiments.

以上説明した第1実施形態では、第1のセラミック層であるセラミック層296上に吸着電極372,374,376,378を形成し、第2のセラミック層であるセラミック層294に、ガス供給口612に連通するガス連通路630を形成し、ガス連通路630から対向面233へと貫通する第1のガス放出孔であるガス放出孔650を形成した。この第1実施形態によれば、ガス放出孔650から対向面233へと熱伝達用ガス(処理ガス)を放出し、被搬送体90とセラミック部材200との間(特に、被搬送体90と対向面232,234との隙間)に熱伝達用ガスを介在させることによって、セラミック部材200から被搬送体90に対する熱伝達を促進することができる。したがって、静電力による吸着機能を実現しながら、被搬送体90の温度調整を効果的に行うことができる。その結果、被搬送体90の温度調整に要する時間を短縮することができ、ひいては、搬送装置10の搬送性能を向上させることができる。   In the first embodiment described above, the adsorption electrodes 372, 374, 376, and 378 are formed on the ceramic layer 296 that is the first ceramic layer, and the gas supply port 612 is connected to the ceramic layer 294 that is the second ceramic layer. A gas communication passage 630 communicating with the gas communication passage 630 is formed, and a gas discharge hole 650 that is a first gas discharge hole penetrating from the gas communication passage 630 to the facing surface 233 is formed. According to the first embodiment, the heat transfer gas (processing gas) is discharged from the gas discharge hole 650 to the facing surface 233, and between the transported body 90 and the ceramic member 200 (in particular, the transported body 90 and By interposing a heat transfer gas in the gap between the opposing surfaces 232 and 234, heat transfer from the ceramic member 200 to the conveyed object 90 can be promoted. Therefore, temperature adjustment of the to-be-conveyed body 90 can be performed effectively while realizing an adsorption function using electrostatic force. As a result, the time required for adjusting the temperature of the transported object 90 can be shortened, and as a result, the transport performance of the transport device 10 can be improved.

また、第1実施形態では、セラミック層296上に吸着電極372,374,376,378を形成し、セラミック層295上に給電口312,316を通じて受電可能に構成したランド332,336を形成し、セラミック層296を貫通して吸着電極372,374,376,378とランド332,336との間を電気的に接続するビア352,354,356,358を形成した。この第1実施形態によれば、セラミック層296上に形成した吸着電極372,374,376,378に対して、セラミック層295上に形成したランド332,336を経由し、ビア352,354,356,358を通じて給電するため、セラミック層296上における吸着電極372,374,376,378の配置や形状の自由度を向上させることができる。その結果、静電力による吸着力を向上させることができ、ひいては、搬送装置10の搬送性能を向上させることができる。   In the first embodiment, the adsorption electrodes 372, 374, 376, and 378 are formed on the ceramic layer 296, and the lands 332 and 336 that are configured to receive power through the power supply ports 312 and 316 are formed on the ceramic layer 295. Vias 352, 354, 356, and 358 that penetrate the ceramic layer 296 and electrically connect the adsorption electrodes 372, 374, 376, and 378 and the lands 332 and 336 were formed. According to the first embodiment, the suction electrodes 372, 374, 376, and 378 formed on the ceramic layer 296 are connected to the vias 352, 354, and 356 via the lands 332 and 336 formed on the ceramic layer 295. , 358, the degree of freedom in the arrangement and shape of the adsorption electrodes 372, 374, 376, and 378 on the ceramic layer 296 can be improved. As a result, it is possible to improve the attracting force due to the electrostatic force, and as a result, the transport performance of the transport device 10 can be improved.

また、吸着電極372,374,376,378をランド332,336よりも被搬送体90を保持する側(すなわち、+Z軸方向側)に配置したため、被搬送体90を保持する側(すなわち、対向面231,232,233,234,235側)により多くの電荷を発生させ、静電力による吸着力を更に向上させることができる。   Further, since the attracting electrodes 372, 374, 376, and 378 are arranged on the side (that is, the + Z axis direction side) that holds the transported body 90 relative to the lands 332 and 336, the side that holds the transported body 90 (that is, the opposite side) More charges are generated on the surfaces 231, 232, 233, 234, and 235 side, and the attractive force due to the electrostatic force can be further improved.

また、第2の対向面である対向面232,234は、第1の対向面である対向面231,233,235よりも被搬送体90側(すなわち、+Z軸方向側)に位置し、Z軸方向から見て吸着電極372,374,376,378の少なくとも一部が対向面232,234に重なるように、吸着電極372,374,376,378を配置したため、被搬送体90により近い対向面232,234により多くの電荷を発生させ、静電力による吸着力を更に向上させることができる。   Further, the opposing surfaces 232 and 234 that are the second opposing surfaces are positioned closer to the transported body 90 (that is, the + Z-axis direction side) than the opposing surfaces 231, 233, and 235 that are the first opposing surfaces, and Z Since the attracting electrodes 372, 374, 376, and 378 are arranged so that at least a part of the attracting electrodes 372, 374, 376, and 378 overlap with the facing surfaces 232 and 234 when viewed from the axial direction, the facing surface that is closer to the conveyed object 90 232 and 234 can generate a lot of electric charges and can further improve the attractive force due to electrostatic force.

また、第1電極である吸着電極372,374と、第2電極である吸着電極376,378とを、相互に異なる極性の電位になるように構成し、吸着電極372,374および吸着電極376,378の各々を、Z軸方向から見て対向面232,234に対して略均等に重なるように配置したため、セラミック部材200および被搬送体90にそれぞれ発生させる正電荷と負電荷との均衡を保つことができる。   Further, the adsorption electrodes 372 and 374 that are the first electrodes and the adsorption electrodes 376 and 378 that are the second electrodes are configured to have different polar potentials, and the adsorption electrodes 372 and 374 and the adsorption electrodes 376 and 376 are arranged. Since each of 378 is disposed so as to substantially overlap the opposing surfaces 232 and 234 when viewed from the Z-axis direction, the balance between the positive charge and the negative charge generated in the ceramic member 200 and the transported body 90 is maintained. be able to.

また、Z軸方向から見て、吸着孔450を形成した対向面235を対向面234が取り囲むため、対向面234に囲まれた対向面235にわたって負圧による吸着力を被搬送体90に対して及ぼすことができる。   Further, since the facing surface 234 surrounds the facing surface 235 in which the suction hole 450 is formed as viewed from the Z-axis direction, the suction force due to the negative pressure is exerted on the transported body 90 over the facing surface 235 surrounded by the facing surface 234. Can affect.

また、第1実施形態では、セラミック層297上に吸着電極372,374,376,378を形成して静電力による吸着力を確保した上で、セラミック層291上に形成した電熱体572,574,576に対して、セラミック層292上に形成したランド532,536を経由しビア552,553,554,556,557,558を通じて給電する。この第1実施形態によれば、セラミック層291上における電熱体572,574,576の配置や形状の自由度を向上させることができる。その結果、静電力による吸着力を阻害することなく、電熱体572,574,576による温度調整を効果的に行うことができ、ひいては、搬送装置10の搬送性能を向上させることができる。   In the first embodiment, the adsorption electrodes 372, 374, 376, and 378 are formed on the ceramic layer 297 to secure the adsorption force due to electrostatic force, and then the electric heaters 572, 574 formed on the ceramic layer 291. Power is supplied to 576 through vias 552, 553, 554, 556, 557, and 558 via lands 532 and 536 formed on the ceramic layer 292. According to the first embodiment, the degree of freedom of the arrangement and shape of the electric heating elements 572, 574, and 576 on the ceramic layer 291 can be improved. As a result, the temperature adjustment by the electric heaters 572, 574, and 576 can be effectively performed without hindering the adsorption force due to the electrostatic force, and as a result, the conveyance performance of the conveyance device 10 can be improved.

また、電熱体572,574,576を対向面231,232,233,234,235よりも底面216寄りに配置したため、対向面231,232,233,234,235における温度ムラを抑制し、電熱体572,574,576による温度調整を一層効果的に行うことができる。   Further, since the electric heating elements 572, 574, and 576 are disposed closer to the bottom surface 216 than the opposing surfaces 231, 232, 233, 234, and 235, temperature unevenness on the opposing surfaces 231, 232, 233, 234, and 235 is suppressed, and the electric heating elements Temperature adjustment by 572,574,576 can be performed more effectively.

また、第1電熱体である外周側の電熱体572,576を、第2電熱体である内側の電熱体574よりも単位面積あたりの発熱量が大きくなるように構成したため、セラミック部材200における外周側と内側との間の温度ムラを抑制し、電熱体572,574,576による温度調整を一層効果的に行うことができる。   In addition, since the outer heating elements 572 and 576 that are the first electric heaters are configured to generate a larger amount of heat per unit area than the inner heating elements 574 that are the second electric heaters, the outer periphery of the ceramic member 200 Temperature unevenness between the side and the inside can be suppressed, and temperature adjustment by the electric heating elements 572, 574, and 576 can be performed more effectively.

B.第2実施形態:
第2実施形態の説明では、第1実施形態と同様の構成については第1実施形態と同じ符号を用い、形状や配置などが異なるものの第1実施形態に対応する構成については第1実施形態の符号に英文字「A」を付した符号を用いる。
B. Second embodiment:
In the description of the second embodiment, the same reference numerals as those in the first embodiment are used for the same configurations as in the first embodiment, and the configurations corresponding to the first embodiment are different from those in the first embodiment, although the shapes and arrangements are different. A code with an English letter “A” is used.

図12Aは、第2実施形態におけるセラミック部材200Aの上面を示す説明図である。図12Bは、第2実施形態におけるセラミック部材200Aの部分断面を示す説明図である。第2実施形態のセラミック部材200Aは、基端段差面219Aにガス放出孔650Aを形成した点を除き、第1実施形態のセラミック部材200と同様である。第2実施形態の基端段差面219Aは、基端上面215と対向面231との間に形成された面であり、第1実施形態の基端段差面219に対応する。   FIG. 12A is an explanatory view showing the upper surface of the ceramic member 200A in the second embodiment. FIG. 12B is an explanatory diagram illustrating a partial cross section of a ceramic member 200A according to the second embodiment. The ceramic member 200A of the second embodiment is the same as the ceramic member 200 of the first embodiment except that a gas discharge hole 650A is formed in the base end step surface 219A. The base end step surface 219A of the second embodiment is a surface formed between the base end upper surface 215 and the facing surface 231 and corresponds to the base end step surface 219 of the first embodiment.

第2実施形態のガス放出孔650Aは、ガス連通路630Aに連通し、処理ガスを放出可能に構成した孔である。本実施形態では、図12Bに示すように、ガス放出孔650Aは、ガス連通路630Aからセラミック層295A,296AをZ軸方向に沿って貫通した後、セラミック層297Aの内部から層面方向に沿って基端段差面219Aへと貫通する。   The gas discharge hole 650A of the second embodiment is a hole that communicates with the gas communication path 630A and is configured to be able to discharge the processing gas. In this embodiment, as shown in FIG. 12B, the gas discharge hole 650A passes through the ceramic layers 295A and 296A from the gas communication path 630A along the Z-axis direction, and then extends from the inside of the ceramic layer 297A along the layer surface direction. It penetrates to the base end step surface 219A.

本実施形態では、図12Aに示すように、ガス放出孔650Aは、対向面231の外周に沿った方向に向けて基端段差面219Aを貫通する。他の実施形態では、ガス放出孔650Aは、対向面231の外周に直交する方向に向けて基端段差面219Aを貫通しても良い。   In the present embodiment, as shown in FIG. 12A, the gas discharge hole 650A penetrates the base end step surface 219A in the direction along the outer periphery of the facing surface 231. In another embodiment, the gas discharge hole 650A may penetrate the base end step surface 219A in a direction orthogonal to the outer periphery of the facing surface 231.

本実施形態では、セラミック部材200Aの一体焼成前に、セラミック層295A,296A,297Aを切削することによって、ガス放出孔650Aを形成する。本実施形態では、ガス放出孔650Aの個数は4個であるが、他の実施形態では、3個以下であっても良いし、5個以上であっても良い。   In the present embodiment, before the ceramic member 200A is integrally fired, the gas release holes 650A are formed by cutting the ceramic layers 295A, 296A, and 297A. In this embodiment, the number of gas discharge holes 650A is four, but in other embodiments, it may be three or less, or may be five or more.

以上説明した第2実施形態によれば、第1実施形態と同様に、被搬送体90の温度調整に要する時間を短縮することができる。また、端面である基端段差面219Aに第2のガス放出孔であるガス放出孔650Aを形成したため、対向面233に加えて基端段差面219Aからも処理ガスを放出することによって被搬送体90の温度調整を一層効果的に行うことができる。また、ガス放出孔650Aが対向面231の外周に沿った方向に向けて基端段差面219Aを貫通するため、被搬送体90の外周に沿って処理ガスを放出することによって被搬送体90の温度調整を一層効果的に行うことができる。また、ガス放出孔650Aを対向面231よりも基端面211側に配置したため、基端面211側に位置する被搬送体90の部位に対する温度調整を一層効果的に行うことができる。   According to the second embodiment described above, the time required for temperature adjustment of the transported object 90 can be shortened as in the first embodiment. In addition, since the gas discharge hole 650A that is the second gas discharge hole is formed in the base end step surface 219A that is the end surface, the processing target is discharged from the base end step surface 219A in addition to the facing surface 233. The temperature adjustment of 90 can be performed more effectively. Further, since the gas discharge hole 650A passes through the base end step surface 219A in the direction along the outer periphery of the facing surface 231, the processing gas is discharged along the outer periphery of the transferred object 90, thereby The temperature can be adjusted more effectively. Further, since the gas discharge hole 650A is disposed on the base end surface 211 side with respect to the facing surface 231, the temperature adjustment for the portion of the transported body 90 located on the base end surface 211 side can be performed more effectively.

C.第3実施形態:
第3実施形態の説明では、第1実施形態と同様の構成については第1実施形態と同じ符号を用い、形状や配置などが異なるものの第1実施形態に対応する構成については第1実施形態の符号に英文字「B」を付した符号を用いる。
C. Third embodiment:
In the description of the third embodiment, the same reference numerals as those in the first embodiment are used for the same configurations as in the first embodiment, and the configurations corresponding to the first embodiment are different from those in the first embodiment, although the shapes and arrangements are different. A code with an English letter “B” is used.

図13Aは、第3実施形態におけるセラミック部材200Bの上面を示す説明図である。図13Bは、第3実施形態におけるセラミック部材200Bの部分断面を示す説明図である。第3実施形態のセラミック部材200Bは、先端段差面248B,249Bにガス放出孔650Bを形成した点を除き、第1実施形態のセラミック部材200と同様である。   FIG. 13A is an explanatory view showing an upper surface of a ceramic member 200B in the third embodiment. FIG. 13B is an explanatory diagram illustrating a partial cross section of a ceramic member 200B according to the third embodiment. The ceramic member 200B of the third embodiment is the same as the ceramic member 200 of the first embodiment except that the gas discharge holes 650B are formed in the tip step surfaces 248B and 249B.

第3実施形態の先端段差面248Bは、先端上面242と対向面231との間に形成された面であり、第1実施形態の先端段差面248に対応する。第3実施形態の先端段差面249Bは、先端上面243と対向面231との間に形成された面であり、第1実施形態の先端段差面249に対応する。   The tip step surface 248B of the third embodiment is a surface formed between the tip top surface 242 and the facing surface 231 and corresponds to the tip step surface 248 of the first embodiment. The tip step surface 249B of the third embodiment is a surface formed between the tip top surface 243 and the facing surface 231 and corresponds to the tip step surface 249 of the first embodiment.

第3実施形態のガス放出孔650Bは、ガス連通路630Bに連通し、処理ガスを放出可能に構成した孔である。本実施形態では、図13Bに示すように、ガス放出孔650Bは、ガス連通路630Bからセラミック層295B,296BをZ軸方向に沿って貫通した後、セラミック層297Bの内部から層面方向に沿って先端段差面248B,249Bへと貫通する。   The gas discharge hole 650B of the third embodiment is a hole configured to communicate with the gas communication path 630B and discharge process gas. In this embodiment, as shown in FIG. 13B, the gas discharge hole 650B passes through the ceramic layers 295B and 296B from the gas communication path 630B along the Z-axis direction, and then extends from the inside of the ceramic layer 297B along the layer surface direction. It penetrates to the tip step surfaces 248B and 249B.

本実施形態では、図13Aに示すように、ガス放出孔650Bは、対向面231の外周に沿った方向に向けて先端段差面248B,249Bを貫通する。他の実施形態では、ガス放出孔650Bは、対向面231の外周に直交する方向に向けて先端段差面248B,249Bを貫通しても良い。   In the present embodiment, as shown in FIG. 13A, the gas discharge hole 650B passes through the tip step surfaces 248B and 249B in the direction along the outer periphery of the facing surface 231. In another embodiment, the gas discharge hole 650B may penetrate the tip step surfaces 248B and 249B in a direction orthogonal to the outer periphery of the facing surface 231.

本実施形態では、セラミック部材200Bの一体焼成前に、セラミック層295B,296B,297Bを切削することによって、ガス放出孔650Bを形成する。本実施形態では、ガス放出孔650Bの個数は、先端段差面248B,249Bにそれぞれ2個であるが、他の実施形態では、先端段差面248B,249Bにそれぞれ1個であっても良いし、それぞれ3個以上であっても良い。   In the present embodiment, before the ceramic member 200B is integrally fired, the gas release holes 650B are formed by cutting the ceramic layers 295B, 296B, and 297B. In the present embodiment, the number of gas discharge holes 650B is two for each of the tip step surfaces 248B and 249B. However, in another embodiment, one may be provided for each of the tip step surfaces 248B and 249B. There may be three or more of each.

以上説明した第3実施形態によれば、第1実施形態と同様に、被搬送体90の温度調整に要する時間を短縮することができる。また、端面である先端段差面248B,249Bに第2のガス放出孔であるガス放出孔650Bを形成したため、対向面233に加えて先端段差面248B,249Bからも処理ガスを放出することによって被搬送体90の温度調整を一層効果的に行うことができる。また、ガス放出孔650Bが対向面231の外周に沿った方向に向けて先端段差面248B,249Bを貫通するため、被搬送体90の外周に沿って処理ガスを放出することによって被搬送体90の温度調整を一層効果的に行うことができる。また、ガス放出孔650Bを対向面231よりも先端面222,223側に配置したため、先端面222,223側に位置する被搬送体90の部位に対する温度調整を一層効果的に行うことができる。   According to the third embodiment described above, the time required for temperature adjustment of the transported object 90 can be shortened as in the first embodiment. In addition, since the gas discharge holes 650B, which are the second gas discharge holes, are formed in the tip step surfaces 248B, 249B, which are the end surfaces, the processing gas is discharged from the tip step surfaces 248B, 249B in addition to the facing surface 233. The temperature of the carrier 90 can be adjusted more effectively. Further, since the gas discharge hole 650B penetrates the tip step surfaces 248B and 249B in the direction along the outer periphery of the facing surface 231, the processing object 90 is discharged by discharging the processing gas along the outer periphery of the transported body 90. The temperature can be adjusted more effectively. In addition, since the gas discharge hole 650B is disposed on the front end surfaces 222 and 223 side with respect to the facing surface 231, the temperature of the portion of the transported body 90 located on the front end surfaces 222 and 223 side can be more effectively adjusted.

D.第4実施形態:
第4実施形態の説明では、第1実施形態と同様の構成については第1実施形態と同じ符号を用い、形状や配置などが異なるものの第1実施形態に対応する構成については第1実施形態の符号に英文字「C」を付した符号を用いる。
D. Fourth embodiment:
In the description of the fourth embodiment, the same reference numerals as those of the first embodiment are used for the same configurations as those of the first embodiment, and the configurations corresponding to the first embodiment are different from those of the first embodiment, although the shapes and arrangements are different. A code with an English letter “C” is used.

図14は、第4実施形態におけるセラミック部材200Cの断面を示す説明図である。図14には、図2における矢視F4−F4に対応する位置から見たセラミック部材200Cの断面を図示した。第4実施形態のセラミック部材200Cは、外側面224C,225Cおよび内側面226C,227Cにガス放出孔650Cを形成した点を除き、第1実施形態のセラミック部材200と同様である。   FIG. 14 is an explanatory view showing a cross section of a ceramic member 200C in the fourth embodiment. FIG. 14 illustrates a cross section of the ceramic member 200 </ b> C viewed from a position corresponding to the arrow F <b> 4-F <b> 4 in FIG. 2. The ceramic member 200C of the fourth embodiment is the same as the ceramic member 200 of the first embodiment, except that the gas discharge holes 650C are formed on the outer side surfaces 224C and 225C and the inner side surfaces 226C and 227C.

第4実施形態の外側面224Cは、先端面222と基端側面213との間に形成された面であり、第1実施形態の外側面224に対応する。第4実施形態の外側面225Cは、先端面223と基端側面214との間に形成された面であり、第1実施形態の外側面225に対応する。   The outer surface 224C of the fourth embodiment is a surface formed between the distal end surface 222 and the proximal end side surface 213, and corresponds to the outer surface 224 of the first embodiment. The outer surface 225C of the fourth embodiment is a surface formed between the distal end surface 223 and the proximal end side surface 214, and corresponds to the outer surface 225 of the first embodiment.

第4実施形態の内側面226Cは、先端面222と内側面221との間に形成された面であり、第1実施形態の内側面226に対応する。第4実施形態の内側面227Cは、先端面223と内側面221との間に形成された面であり、第1実施形態の内側面227に対応する。   The inner side surface 226C of the fourth embodiment is a surface formed between the distal end surface 222 and the inner side surface 221 and corresponds to the inner side surface 226 of the first embodiment. The inner surface 227C of the fourth embodiment is a surface formed between the front end surface 223 and the inner surface 221 and corresponds to the inner surface 227 of the first embodiment.

第4実施形態のガス放出孔650Cは、ガス連通路630Cに連通し、処理ガスを放出可能に構成した孔である。本実施形態では、図14に示すように、ガス放出孔650Cは、ガス連通路630Cから層面方向に沿って外側面224C,225Cおよび内側面226C,227Cへとそれぞれ貫通する。   The gas discharge hole 650C of the fourth embodiment is a hole configured to communicate with the gas communication path 630C and discharge process gas. In the present embodiment, as shown in FIG. 14, the gas discharge hole 650C penetrates from the gas communication path 630C to the outer side surfaces 224C and 225C and the inner side surfaces 226C and 227C along the layer surface direction.

本実施形態では、ガス放出孔650Cは、外側面224C,225Cおよび内側面226C,227Cにそれぞれ直交する方向に向けて外側面224C,225Cおよび内側面226C,227Cをそれぞれ貫通する。他の実施形態では、ガス放出孔650Cは、被搬送体90の外形に沿った方向に向けて外側面224C,225Cおよび内側面226C,227Cをそれぞれ貫通しても良い。   In the present embodiment, the gas discharge holes 650C penetrate the outer surfaces 224C, 225C and the inner surfaces 226C, 227C in the directions orthogonal to the outer surfaces 224C, 225C and the inner surfaces 226C, 227C, respectively. In another embodiment, the gas discharge hole 650C may penetrate the outer side surfaces 224C and 225C and the inner side surfaces 226C and 227C in the direction along the outer shape of the transported body 90, respectively.

本実施形態では、セラミック部材200Cの一体焼成前に、セラミック層294Cを切削することによって、ガス放出孔650Cを形成する。本実施形態では、ガス放出孔650Cの個数は、外側面224C,225Cおよび内側面226C,227Cにそれぞれ複数であるが、他の実施形態では、それぞれ1個であっても良い。   In the present embodiment, the gas emission hole 650C is formed by cutting the ceramic layer 294C before the ceramic member 200C is integrally fired. In the present embodiment, the number of gas discharge holes 650C is plural on each of the outer side surfaces 224C and 225C and the inner side surfaces 226C and 227C. However, in the other embodiments, the number may be one.

以上説明した第4実施形態によれば、第1実施形態と同様に、被搬送体90の温度調整に要する時間を短縮することができる。また、端面である外側面224C,225Cおよび内側面226C,227Cに、第2のガス放出孔であるガス放出孔650Cを形成したため、対向面233に加えて外側面224C,225Cおよび内側面226C,227Cからも処理ガスを放出することによって被搬送体90の温度調整を一層効果的に行うことができる。また、ガス放出孔650Cを外側面224C,225Cおよび内側面226C,227Cに配置したため、外側面224C,225Cおよび内側面226C,227Cの各近傍に位置する被搬送体90の部位に対する温度調整を一層効果的に行うことができる。   According to the fourth embodiment described above, the time required for temperature adjustment of the transported object 90 can be shortened as in the first embodiment. Further, since the gas discharge holes 650C as the second gas discharge holes are formed in the outer surfaces 224C and 225C and the inner side surfaces 226C and 227C as the end surfaces, the outer surfaces 224C and 225C and the inner side surfaces 226C and 226C in addition to the facing surface 233 are formed. The temperature of the transported body 90 can be adjusted more effectively by releasing the processing gas from 227C. Further, since the gas discharge holes 650C are arranged on the outer side surfaces 224C and 225C and the inner side surfaces 226C and 227C, the temperature of the parts of the transported body 90 located near the outer side surfaces 224C and 225C and the inner side surfaces 226C and 227C is further adjusted. Can be done effectively.

なお、第4実施形態では、外側面224C,225Cおよび内側面226C,227Cにガス放出孔650Cを形成したが、他の実施形態では、外側面224C,225Cのみにガス放出孔650Cを形成しても良いし、内側面226C,227Cのみにガス放出孔650Cを形成しても良い。また、第4実施形態では、内側面221にはガス放出孔650Cを形成していないが、他の実施形態では、内側面221にガス放出孔650Cを形成しても良い。   In the fourth embodiment, the gas discharge holes 650C are formed on the outer surfaces 224C and 225C and the inner surfaces 226C and 227C. However, in other embodiments, the gas discharge holes 650C are formed only on the outer surfaces 224C and 225C. Alternatively, the gas discharge hole 650C may be formed only on the inner side surfaces 226C and 227C. In the fourth embodiment, the gas discharge hole 650C is not formed in the inner side surface 221, but in other embodiments, the gas discharge hole 650C may be formed in the inner side surface 221.

E.第5実施形態:
第5実施形態の説明では、第1実施形態と同様の構成については第1実施形態と同じ符号を用い、形状や配置などが異なるものの第1実施形態に対応する構成については第1実施形態の符号に英文字「D」を付した符号を用いる。
E. Fifth embodiment:
In the description of the fifth embodiment, the same reference numerals as in the first embodiment are used for the same configurations as in the first embodiment, and the configurations corresponding to the first embodiment are different from those in the first embodiment, although the shapes and arrangements are different. A code with an English letter “D” is used.

図15は、第5実施形態におけるセラミック部材200Dの上面を示す説明図である。図16は、図15における矢視F16−F16から見たセラミック部材200Dの断面を示す説明図である。第5実施形態のセラミック部材200Dは、対向面231,232,233および先端上面242,243に代えて対向面231Dが形成されている点、処理ガス供給部860から供給される処理ガスが被搬送体90を冷却するための冷却ガスである点を除き、第1実施形態のセラミック部材200と同様である。   FIG. 15 is an explanatory view showing an upper surface of a ceramic member 200D in the fifth embodiment. FIG. 16 is an explanatory diagram showing a cross section of the ceramic member 200D as viewed from the direction of arrows F16-F16 in FIG. The ceramic member 200D of the fifth embodiment has a facing surface 231D formed in place of the facing surfaces 231, 232, 233 and the top end surfaces 242, 243, and the processing gas supplied from the processing gas supply unit 860 is transported. Except for the point that it is a cooling gas for cooling the body 90, it is the same as the ceramic member 200 of the first embodiment.

第5実施形態の対向面231Dは、第1実施形態における対向面232および先端上面242,243を対向面231,233の位置にまで切削した形状を有し、第1実施形態の対向面231,233に対応する面を含む。対向面231Dは、対向面234よりも−Z軸方向に位置し、対向面234の外周を囲繞する。対向面231Dは、基端段差面219、先端面222,223、外側面224,225、および内側面221,226,227の各面に繋がる。対向面231Dには、ガス放出孔650が第1実施形態と同様の配置で形成されている。   The facing surface 231D of the fifth embodiment has a shape obtained by cutting the facing surface 232 and the tip upper surfaces 242 and 243 in the first embodiment to the positions of the facing surfaces 231 and 233, and the facing surface 231 of the first embodiment. The surface corresponding to 233 is included. The facing surface 231 </ b> D is located in the −Z-axis direction with respect to the facing surface 234 and surrounds the outer periphery of the facing surface 234. The facing surface 231D is connected to each of the base end step surface 219, the tip end surfaces 222, 223, the outer side surfaces 224, 225, and the inner side surfaces 221, 226, 227. In the facing surface 231D, gas discharge holes 650 are formed in the same arrangement as in the first embodiment.

第5実施形態の処理ガス供給部860は、十分に冷却された処理ガスを冷却ガスとしてセラミック部材200Dに供給する。処理ガス供給部860から供給される冷却ガスは、被搬送体90を損傷および汚染することのない気体であれば良い。本実施形態では、冷却ガスは、窒素(N2)であるが、他の実施形態では、アルゴン(Ar)、二酸化炭素(CO2)などの他の不活性ガスであっても良い。 The processing gas supply unit 860 of the fifth embodiment supplies a sufficiently cooled processing gas as a cooling gas to the ceramic member 200D. The cooling gas supplied from the processing gas supply unit 860 may be a gas that does not damage and contaminate the transported body 90. In this embodiment, the cooling gas is nitrogen (N 2 ), but in other embodiments, other inert gases such as argon (Ar) and carbon dioxide (CO 2 ) may be used.

以上説明した第5実施形態によれば、第1実施形態と同様に、被搬送体90の温度調整に要する時間を短縮することができる。また、ガス放出孔650から対向面231Dへと冷却ガス(処理ガス)を放出することによって、被搬送体90を冷却することができる。したがって、静電力による吸着機能を実現しながら、被搬送体90の温度調整を効果的に行うことができる。その結果、被搬送体90の温度調整に要する時間を短縮することができ、ひいては、搬送装置10の搬送性能を向上させることができる。   According to the fifth embodiment described above, similarly to the first embodiment, the time required for temperature adjustment of the transported body 90 can be shortened. Moreover, the to-be-conveyed body 90 can be cooled by discharging | emitting cooling gas (processing gas) from the gas discharge hole 650 to opposing surface 231D. Therefore, temperature adjustment of the to-be-conveyed body 90 can be performed effectively while realizing an adsorption function using electrostatic force. As a result, the time required for adjusting the temperature of the transported object 90 can be shortened, and as a result, the transport performance of the transport device 10 can be improved.

なお、第2実施形態のガス放出孔650A、第3実施形態のガス放出孔650B、第4実施形態のガス放出孔650Cの少なくとも一つを、第5実施形態のセラミック部材200Dに適用しても良い。これによって、被搬送体90の温度調整を一層効果的に行うことができる。   Note that at least one of the gas discharge hole 650A of the second embodiment, the gas discharge hole 650B of the third embodiment, and the gas discharge hole 650C of the fourth embodiment may be applied to the ceramic member 200D of the fifth embodiment. good. As a result, the temperature of the transported body 90 can be adjusted more effectively.

F.他の実施形態:
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこうした実施形態に何ら限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において様々な形態で実施し得ることは勿論である。例えば、上述の実施形態では、ガス放出孔650を、ガス連通路630から第1の対向面へと貫通する孔として形成したが、他の実施形態では、第2の対向面へと貫通する孔として形成しても良いし、第1の対向面および第2の対向面の両方にそれぞれ貫通する孔として形成しても良い。
F. Other embodiments:
As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to such embodiment at all, Of course, it can implement with a various form within the range which does not deviate from the meaning of this invention. For example, in the above-described embodiment, the gas discharge hole 650 is formed as a hole penetrating from the gas communication path 630 to the first facing surface, but in another embodiment, the hole penetrating to the second facing surface. Or may be formed as holes penetrating through both the first facing surface and the second facing surface.

また、セラミック部材の全体形状は、略U字形の板状に限るものではなく、円形、三角形、四角形、多角形など種々の形状であっても良い。また、対抗面、吸着電極、負圧連通路、吸着孔、電熱体、ランド、ビア、ガス連通路、およびガス放出孔の各々についての形状、配置、個数などは、上述した実施形態に限定されるものではなく、実施態様に応じて適宜変更しても良い。   The overall shape of the ceramic member is not limited to a substantially U-shaped plate shape, and may be various shapes such as a circle, a triangle, a quadrangle, and a polygon. In addition, the shape, arrangement, number, and the like of each of the facing surface, the adsorption electrode, the negative pressure communication path, the adsorption hole, the electric heating element, the land, the via, the gas communication path, and the gas discharge hole are limited to the above-described embodiment. It may be changed as appropriate according to the embodiment.

また、搬送装置10は、ガラス基板を用いて液晶基板を製造する液晶基板製造装置の一部を構成する装置であり、被搬送体90は、そのガラス基板であるとしても良い。また、搬送装置10は、ガラス基板を用いてプラズマ基板を製造するプラズマ基板製造装置の一部を構成する装置であり、被搬送体90は、そのガラス基板であるとしても良い。また、搬送装置10は、アモルファスシリコンウェハを用いて太陽電池基板を製造する太陽電池製造装置の一部を構成する装置であり、被搬送体90は、そのアモルファスシリコンウェハであるとしても良い。   Moreover, the conveying apparatus 10 is an apparatus which comprises a part of liquid crystal substrate manufacturing apparatus which manufactures a liquid crystal substrate using a glass substrate, and the to-be-conveyed body 90 is good also as the glass substrate. Moreover, the conveying apparatus 10 is an apparatus which comprises a part of plasma substrate manufacturing apparatus which manufactures a plasma substrate using a glass substrate, and the to-be-conveyed body 90 is good also as the glass substrate. Moreover, the conveying apparatus 10 is an apparatus which comprises a part of solar cell manufacturing apparatus which manufactures a solar cell substrate using an amorphous silicon wafer, and the to-be-conveyed body 90 is good also as the amorphous silicon wafer.

10…搬送装置
90…被搬送体
100…制御部
200,200A〜200D…セラミック部材
211…基端面
213…基端側面
214…基端側面
215…基端上面
216…底面
218…貫通孔
219,219A…基端段差面
221…内側面
222…先端面
223…先端面
224,224C…外側面
225,225C…外側面
226,226C…内側面
227,227C…内側面
231,231D…対向面
232…対向面
233…対向面
234…対向面
235…対向面
242…先端上面
243…先端上面
248,248B…先端段差面
249,249B…先端段差面
291〜297…セラミック層
312…給電口
316…給電口
332,336…ランド
352,354,356,358…ビア
372,374,376,378…吸着電極
412…負圧供給口
430…負圧連通路
450…吸着孔
512…給電口
516…給電口
532,536…ランド
552,553,554,556,557,558…ビア
572…電熱体
574…電熱体
576…電熱体
612…ガス供給口
630,630A,630B,630C…ガス連通路
650,650A,650B,650C…ガス放出孔
710…アーム機構
720…移動機構
830…吸着電極駆動部
840…負圧供給部
850…電熱体駆動部
860…処理ガス供給部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Conveyance apparatus 90 ... Conveyed object 100 ... Control part 200,200A-200D ... Ceramic member 211 ... Base end surface 213 ... Base end side surface 214 ... Base end side surface 215 ... Base end upper surface 216 ... Bottom surface 218 ... Through-hole 219, 219A ... proximal end face 221 ... inner side face 222 ... leading end face 223 ... leading end face 224,224C ... outer face 225,225C ... outer face 226,226C ... inner face 227,227C ... inner face 231,231D ... opposite face 232 ... opposite Surface 233 ... opposing surface 234 ... opposing surface 235 ... opposing surface 242 ... tip upper surface 243 ... tip upper surface 248, 248B ... tip stepped surfaces 249, 249B ... tip stepped surfaces 291-297 ... ceramic layer 312 ... power feeding port 316 ... power feeding port 332 , 336 ... Land 352, 354, 356, 358 ... Via 372, 374, 376 78 ... Adsorption electrode 412 ... Negative pressure supply port 430 ... Negative pressure communication passage 450 ... Adsorption hole 512 ... Power supply port 516 ... Power supply port 532, 536 ... Land 552, 553, 554, 556, 557, 558 ... Via 572 ... Electric heating element 574 ... electric heating element 576 ... electric heating element 612 ... gas supply port 630, 630A, 630B, 630C ... gas communication passage 650,650A, 650B, 650C ... gas discharge hole 710 ... arm mechanism 720 ... moving mechanism 830 ... adsorption electrode driving unit 840 ... Negative pressure supply unit 850 ... electric heating element drive unit 860 ... processing gas supply unit

Claims (7)

絶縁性を有する複数のセラミック層を一体焼成してなり、
静電力によって誘電体を吸着可能に構成した電極である吸着電極を内部に設け、
搬送装置において被搬送体を保持した状態で前記被搬送体と共に移動可能に構成したセラミック部材であって、
前記複数のセラミック層の層面方向に沿った面であって前記被搬送体を保持した状態で前記被搬送体に対向する面である第1の対向面および第2の対向面を有し、
前記第2の対向面は、前記第1の対向面よりも前記被搬送体側に位置し、
前記複数のセラミック層のうち第1のセラミック層上に前記吸着電極を形成し、
前記被搬送体を冷却するガス、および前記セラミック部材の熱を前記被搬送体に伝達するガス、の少なくとも一方である処理ガスの供給を、前記セラミック部材の外部から受け付けるガス供給口を設け、
前記複数のセラミック層のうち前記第1の対向面から前記第1のセラミック層よりも離れた第2のセラミック層に、前記ガス供給口に連通するガス連通路を形成し、
前記ガス連通路から前記第1の対向面および前記第2の対向面の少なくとも一方へと貫通し前記処理ガスを放出可能に構成した孔である第1のガス放出孔を形成したことを特徴とするセラミック部材。
A plurality of ceramic layers having insulating properties are integrally fired,
An adsorption electrode, which is an electrode configured to adsorb a dielectric by electrostatic force, is provided inside,
A ceramic member configured to be movable together with the transported body in a state where the transported body is held in the transport apparatus,
The first and second opposing surfaces which are surfaces along the layer surface direction of the plurality of ceramic layers and are opposed to the transported body in a state where the transported body is held;
The second facing surface is located closer to the transported body than the first facing surface,
Forming the adsorption electrode on a first ceramic layer of the plurality of ceramic layers;
Providing a gas supply port for receiving a supply of a processing gas which is at least one of a gas for cooling the transported body and a gas for transmitting heat of the ceramic member to the transported body from the outside of the ceramic member;
A gas communication path communicating with the gas supply port is formed in a second ceramic layer of the plurality of ceramic layers that is separated from the first ceramic layer from the first facing surface;
A first gas discharge hole which is a hole configured to penetrate the gas communication path from at least one of the first facing surface and the second facing surface to discharge the processing gas is formed. Ceramic member to be used.
請求項1に記載のセラミック部材であって、
前記層面方向に交わる方向に沿った面であって前記第1の対向面および前記第2の対向面の少なくとも一方に繋がる面である端面を有し、
前記ガス連通路に連通し前記処理ガスを放出可能に構成した孔である第2のガス放出孔を前記端面に形成したことを特徴とするセラミック部材。
The ceramic member according to claim 1,
An end surface which is a surface along a direction intersecting the layer surface direction and connected to at least one of the first facing surface and the second facing surface;
A ceramic member characterized in that a second gas discharge hole, which is a hole configured to be able to discharge the processing gas through the gas communication path, is formed in the end face.
請求項2に記載のセラミック部材であって、
前記第2のガス放出孔は、前記第1の対向面および前記第2の対向面のうち前記端面に繋がる対向面の外周に沿った方向に向けて前記端面を貫通することを特徴とするセラミック部材。
The ceramic member according to claim 2,
The second gas discharge hole penetrates through the end surface in a direction along an outer periphery of an opposing surface connected to the end surface of the first opposing surface and the second opposing surface. Element.
請求項2または請求項3に記載のセラミック部材であって、
前記搬送装置に取り付けられる側の端である基端部を有し、
前記第2のガス放出孔を、前記第1の対向面および前記第2の対向面よりも前記基端部側に配置したことを特徴とするセラミック部材。
The ceramic member according to claim 2 or claim 3, wherein
A proximal end that is an end on the side attached to the transport device;
The ceramic member, wherein the second gas discharge hole is disposed closer to the base end side than the first facing surface and the second facing surface.
請求項2ないし請求項4のいずれか一項に記載のセラミック部材であって、
前記搬送装置に取り付けられる側との間に前記第1の対向面および前記第2の対向面を配置した先端部を有し、
前記第2のガス放出孔を、前記第1の対向面および前記第2の対向面よりも前記先端部側に配置したことを特徴とするセラミック部材。
A ceramic member according to any one of claims 2 to 4,
Having a tip part in which the first opposing surface and the second opposing surface are arranged between the side attached to the transport device;
The ceramic member, wherein the second gas discharge hole is disposed closer to the tip than the first facing surface and the second facing surface.
請求項2ないし請求項5のいずれか一項に記載のセラミック部材であって、
前記セラミック部材の外周を形成する外周部を有し、
前記第2のガス放出孔を前記外周部に配置したことを特徴とするセラミック部材。
A ceramic member according to any one of claims 2 to 5,
Having an outer periphery forming an outer periphery of the ceramic member;
The ceramic member, wherein the second gas discharge hole is disposed in the outer peripheral portion.
請求項1ないし請求項6のいずれか一項に記載のセラミック部材を用いて前記被搬送体を搬送する搬送装置。   The conveying apparatus which conveys the said to-be-conveyed body using the ceramic member as described in any one of Claims 1 thru | or 6.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111916390A (en) * 2019-05-08 2020-11-10 三星电子株式会社 Robot hand, wafer transfer robot, and wafer transfer apparatus
JP2020184575A (en) * 2019-05-08 2020-11-12 三星電子株式会社Samsung Electronics Co.,Ltd. Robot hand, wafer transfer robot, and wafer transfer device

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6378546A (en) * 1986-09-22 1988-04-08 Hitachi Ltd Handling device for wafer
JPH10150100A (en) * 1996-09-19 1998-06-02 Hitachi Ltd Electrostatic chuck, method and system for processing sample using it
JPH10256344A (en) * 1997-03-13 1998-09-25 Tokyo Electron Ltd Method of cooling substrate, substrate treating apparatus and substrate transferring apparatus
JP2005136104A (en) * 2003-10-29 2005-05-26 Ngk Spark Plug Co Ltd Electrostatic chuck
JP2007073564A (en) * 2005-09-02 2007-03-22 Fujitsu Ltd Ashing apparatus
US20070151515A1 (en) * 2006-01-04 2007-07-05 Kim Jong-Jun Multi-chamber semiconductor device fabrication apparatus comprising wafer-cooling blade
JP2010123843A (en) * 2008-11-21 2010-06-03 Kyocera Corp Electrostatic chuck
JP2011061049A (en) * 2009-09-11 2011-03-24 Ngk Spark Plug Co Ltd Electrostatic chuck

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6378546A (en) * 1986-09-22 1988-04-08 Hitachi Ltd Handling device for wafer
JPH10150100A (en) * 1996-09-19 1998-06-02 Hitachi Ltd Electrostatic chuck, method and system for processing sample using it
JPH10256344A (en) * 1997-03-13 1998-09-25 Tokyo Electron Ltd Method of cooling substrate, substrate treating apparatus and substrate transferring apparatus
JP2005136104A (en) * 2003-10-29 2005-05-26 Ngk Spark Plug Co Ltd Electrostatic chuck
JP2007073564A (en) * 2005-09-02 2007-03-22 Fujitsu Ltd Ashing apparatus
US20070151515A1 (en) * 2006-01-04 2007-07-05 Kim Jong-Jun Multi-chamber semiconductor device fabrication apparatus comprising wafer-cooling blade
JP2010123843A (en) * 2008-11-21 2010-06-03 Kyocera Corp Electrostatic chuck
JP2011061049A (en) * 2009-09-11 2011-03-24 Ngk Spark Plug Co Ltd Electrostatic chuck

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111916390A (en) * 2019-05-08 2020-11-10 三星电子株式会社 Robot hand, wafer transfer robot, and wafer transfer apparatus
JP2020184575A (en) * 2019-05-08 2020-11-12 三星電子株式会社Samsung Electronics Co.,Ltd. Robot hand, wafer transfer robot, and wafer transfer device

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