JP2013131862A - 画像処理システム及びそれを備えた顕微鏡システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】画像入力部210は、画像を取得し、この画像を記憶部220に出力する。記憶部220は、入力された画像を一時記憶する。カットオフ周波数取得部251は、光学系のパラメータに基づいて、光学系のカットオフ周波数を取得し、それをパラメータ決定部256に出力する。パラメータ決定部256は、カットオフ周波数に基づいて、コントラスト評価パラメータを決定し、それをコントラスト評価部260に出力する。コントラスト評価部260は、記憶部220から画像を取得する。コントラスト評価部260は、コントラスト評価パラメータに基づいて、画像のコントラスト評価値を算出し、合焦評価部270に出力する。合焦評価部270は、コントラスト評価値に基づいて、画像についての合焦を評価する。
【選択図】図1
Description
本発明の第1の実施形態について図面を参照して説明する。図1は、本実施形態に係る顕微鏡システム100の構成例の概略を示す。この図に示すように、顕微鏡システム100は、顕微鏡110を有する。顕微鏡110は、例えばデジタル顕微鏡である。顕微鏡110は、LED光源111と、照明光学系112と、光路制御素子113と、対物レンズ114と、図示しないステージ上に載置された標本面115と、観察光学系118と、撮像面119と、画像取得部120とを有する。観察光学系118は、ズーム光学系116と、結像光学系117とを有する。観察光路には、標本面115から撮像面119に向かって、対物レンズ114と、光路制御素子113と、ズーム光学系116と、結像光学系117とが、この順に配置されている。
第1の実施形態の変形例について説明する。ここでは、第1の実施形態との相違点について説明し、同一の部分については、同一の符号を付してその説明を省略する。本変形例に係る顕微鏡システムの構成例の概略を図6に示す。この図に示すように、本変形例に係るフィルタリング部261には、平滑化処理部263と微分演算処理部264とが設けられている。
本発明の第2の実施形態について説明する。ここでは、第1の実施形態との相違点について説明し、同一の部分については、同一の符号を付してその説明を省略する。本実施形態に係る顕微鏡システム100の構成例の概略を図8に示す。この図に示すように、本実施形態に係るフィルタリング部261は、フィルタバンクを有する。すなわち、フィルタリング部261は、第1のフィルタ265と、第2のフィルタ266と、第3のフィルタ267とを有する。また、パラメータ決定部256は、重み付け決定部258を有する。
本発明の第3の実施形態について説明する。ここでは、第1の実施形態との相違点について説明し、同一の部分については、同一の符号を付してその説明を省略する。本実施形態では、コントラスト評価部260において、正規直交規定変換による周波数分解が用いられる。本実施形態に係る顕微鏡システム100の構成例の概略を図9に示す。この図に示すように、パラメータ決定部256は、係数重み付け部259を有する。また、コントラスト評価部は、直交変換処理部268と評価部262とを有する。
Fc>F7+F8のとき、カットオフ係数=A10、
Fc>F7+2×F8のとき、カットオフ係数=A11、
Fc>F7+3×F8のとき、カットオフ係数=A12、
Fc>F7+4×F8のとき、カットオフ係数=A13、
とする。ここで、A10、A11、A12及びA13は、それぞれ所定の定数である。ここで、カットオフ係数は、カットオフ周波数Fcが低いほど低くなるように設定されている。係数重み付け部259は、決定したカットオフ係数を直交変換処理部268に出力する。
Claims (17)
- 光学系を介した標本の画像を取得する取得部と、
前記光学系の情報に基づいて、前記画像のカットオフ周波数を取得するカットオフ周波数取得部と、
前記カットオフ周波数に基づいて、前記画像に対するコントラスト評価に用いる評価パラメータを決定するパラメータ決定部と、
前記評価パラメータに基づいて前記画像に対する前記コントラスト評価を行い、コントラスト評価値を算出するコントラスト評価部と、
前記コントラスト評価値に基づいて、前記画像の合焦を評価する合焦評価部と、
を具備することを特徴とする画像処理システム。 - 前記取得部は、同一の標本について互いに異なる焦点位置を有する複数の画像を取得し、
前記コントラスト評価部は、前記複数の画像の各画素の前記コントラスト評価値を算出し、
前記合焦評価部は、前記コントラスト評価値に基づいて、前記画像のうち合焦している前記画素又は複数の前記画素からなる画素領域を選択する
ことを特徴とする請求項1に記載の画像処理システム。 - 前記パラメータ決定部は、前記カットオフ周波数に基づいて、フィルタの帯域を前記評価パラメータとして決定し、
前記コントラスト評価部は、前記画像に対して前記帯域のフィルタを用いたフィルタリング処理を行い、該フィルタリング処理によって得られた値に基づいて前記コントラスト評価値を算出する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の画像処理システム。 - 前記パラメータ決定部は、前記カットオフ周波数が高いほど前記帯域が高くなるように前記帯域を決定することを特徴とする請求項3に記載の画像処理システム。
- 前記コントラスト評価部は、異なる帯域を持つ複数のフィルタを有しており、
前記パラメータ決定部は、前記カットオフ周波数に基づいて、前記複数のフィルタのそれぞれに対する重み付け係数を、前記評価パラメータとして決定し、
前記コントラスト評価部は、前記画像に対する前記複数のフィルタを用いたフィルタリング処理を行い、該フィルタリング処理によって得られた値に前記重み付け係数を反映させた前記コントラスト評価値を算出する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の画像処理システム。 - 前記パラメータ決定部は、前記カットオフ周波数が高いほど前記重み付け係数が高くなるように前記重み付け係数を決定することを特徴とする請求項5に記載の画像処理システム。
- 前記パラメータ決定部は、前記カットオフ周波数に基づいて、カットオフ係数を前記評価パラメータとして決定し、
前記コントラスト評価部は、前記画像に対して正規直交規定変換を施して正規直交規定変換係数を取得し、該正規直交規定変換係数に対して前記カットオフ係数を反映させて前記コントラスト評価値を算出する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の画像処理システム。 - 前記正規直交規定変換は、離散コサイン変換であることを特徴とする請求項7に記載の画像処理システム。
- 前記正規直交規定変換は、Hadamard変換であることを特徴とする請求項7に記載の画像処理システム。
- 前記正規直交規定変換は、Wavelet変換であることを特徴とする請求項7に記載の画像処理システム。
- 前記パラメータ決定部は、前記カットオフ周波数が高いほど高周波数の前記正規直交規定変換係数の重みが高くなるように前記カットオフ係数を決定することを特徴とする請求項7乃至10のうち何れか1項に記載の画像処理システム。
- 前記標本の光学特性情報を取得する標本情報取得部をさらに具備し、
前記カットオフ周波数取得手段は、前記カットオフ周波数を取得する際に、前記光学特性情報を用いる
ことを特徴とする請求項1乃至11のうち何れか1項に記載の画像処理システム。 - 前記合焦評価部によって選択された画素と、該画素に対応する前記焦点位置とに基づいて、全焦点画像を作成する全焦点画像作成部をさらに具備することを特徴とする請求項2に記載の画像処理システム。
- 前記合焦評価部によって選択された画素と、該画素に対応する前記焦点位置とに基づいて、3次元再構成画像を作成する3次元再構成画像作成部をさらに具備することを特徴とする請求項2に記載の画像処理システム。
- 請求項1乃至15のうち何れか1項に記載の画像処理システムを備える顕微鏡システム。
- 前記光学系は、変倍光学系を含むことを特徴とする請求項16に記載の顕微鏡システム。
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