JP2013105776A - Semiconductor module - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technique capable of further reducing workload on manufacturing a semiconductor module than before.SOLUTION: A semiconductor module 2 is manufactured by installing a first bus bar 50, a second bus bar 80, and a vertical semiconductor element 70 on predetermined positions of a wrapping sheet 10 and then wrapping the wrapping sheet 10 around a member to be wrapped. When the wrapping sheet 10 is wrapped around a cooler 40, one surface of the semiconductor element 70 and the first bus bar 50 are electrically connected, and the other surface of the semiconductor element 70 and the second bus bar 80 are electrically connected. For this reason, when the semiconductor module 2 is manufactured, there is no need to accurately align each component of the semiconductor element 70, the first bus bar 50, the second bus bar 80 and to stack them.

Description

本発明は、半導体素子と、半導体素子に電気的に接続されたバスバーを有する半導体モジュールに関する。   The present invention relates to a semiconductor module having a semiconductor element and a bus bar electrically connected to the semiconductor element.

特許文献1には、縦型の半導体チップのドレイン電極がバスバーに半田付けによって接合され、その半導体チップのソース電極に半田付けされた弾性導体を介して他のバスバーに電気的に接続されている半導体モジュールが開示されている。   In Patent Document 1, a drain electrode of a vertical semiconductor chip is joined to a bus bar by soldering, and is electrically connected to another bus bar via an elastic conductor soldered to the source electrode of the semiconductor chip. A semiconductor module is disclosed.

特開2007−312523号公報JP 2007-31523 A

特許文献1の半導体モジュールを製作する際には、半導体チップとバスバーと弾性導体とを正確に位置合わせして積層し、半田付けする必要がある。従って、従来の半導体モジュールを製作する際には、各要素の位置合わせ作業の負担が大きい。   When manufacturing the semiconductor module of Patent Document 1, it is necessary to accurately position and stack a semiconductor chip, a bus bar, and an elastic conductor, and solder them. Therefore, when manufacturing the conventional semiconductor module, the burden of the alignment work of each element is large.

本明細書では、半導体モジュールを製作する際の作業負担を従来よりも小さくし得る技術を開示する。   In the present specification, a technique capable of reducing the work burden when manufacturing a semiconductor module as compared with the prior art is disclosed.

本明細書で開示する半導体モジュールは、巻き付けシートと、巻き付けシートが巻き付けられる被巻き付け部材と、巻き付けシートの第1バスバー設置部に設置される第1バスバーと、巻き付けシートの第2バスバー設置部に設置される第2バスバーと、巻き付けシートの素子設置部に設置される縦型の半導体素子とを備えている。巻き付けシートを被巻き付け部材に巻き付けると、素子設置部に設置された半導体素子の一方の表面と第1バスバー設置部に設置された第1バスバーとが電気的に接続すると共に、素子設置部に設置された半導体素子の他方の表面と第2バスバー設置部に設置された第2バスバーとが電気的に接続する。巻き付けシートは、巻き付けシートの表面と裏面とを連通し、半導体素子の一方の表面と第1バスバー、又は、半導体素子の他方の表面と第2バスバーとを電気的に接続する連通孔を有している。   The semiconductor module disclosed in the present specification includes a winding sheet, a member to be wound around which the winding sheet is wound, a first bus bar installed in a first bus bar installation part of the winding sheet, and a second bus bar installation part of the winding sheet. A second bus bar to be installed and a vertical semiconductor element to be installed in the element installation part of the wound sheet are provided. When the winding sheet is wound around the member to be wound, one surface of the semiconductor element installed in the element installation unit and the first bus bar installed in the first bus bar installation unit are electrically connected and installed in the element installation unit The other surface of the formed semiconductor element and the second bus bar installed in the second bus bar installation part are electrically connected. The winding sheet communicates the front and back surfaces of the winding sheet and has a communication hole that electrically connects one surface of the semiconductor element and the first bus bar or the other surface of the semiconductor element and the second bus bar. ing.

上記の半導体モジュールは、第1バスバー設置部に第1バスバーを設置し、第2バスバー設置部に第2バスバーを設置し、素子設置部に縦型の半導体素子を設置して、巻き付けシートを被巻き付け部材に巻き付けることによって製作される。即ち、巻き付けシートを被巻き付け部材に巻き付けると、半導体素子の一方の表面と第1バスバーとが電気的に接続すると共に、半導体素子の他方の表面と第2バスバーとが電気的に接続する。従って、上記の半導体モジュールを製作する場合、半導体素子、第1バスバー、第2バスバーの各要素を互いに正確に位置合わせして積層する必要がない。各要素を正確に位置合わせして積層する必要がある従来の手法と比較して、半導体モジュールを形成する際の作業負担を小さくし得る。また、巻き付けシートを被巻き付け部材に巻き付けた際に、バスバーと半導体素子の間に巻き付けシートが位置する場合があるが、その場合は巻き付けシートに連通孔を形成することで、バスバーと半導体素子とを電気的に接続することができる。その結果、半導体素子と各バスバーとを電気的に接続することができる。   In the semiconductor module, the first bus bar is installed in the first bus bar installation section, the second bus bar is installed in the second bus bar installation section, the vertical semiconductor element is installed in the element installation section, and the winding sheet is covered. It is manufactured by winding around a winding member. That is, when the winding sheet is wound around the member to be wound, one surface of the semiconductor element and the first bus bar are electrically connected, and the other surface of the semiconductor element and the second bus bar are electrically connected. Therefore, when manufacturing the above-described semiconductor module, it is not necessary to stack the semiconductor element, the first bus bar, and the second bus bar by accurately aligning each other. Compared to a conventional method in which each element needs to be accurately aligned and stacked, the work load when forming a semiconductor module can be reduced. Also, when the winding sheet is wound around the member to be wound, the winding sheet may be located between the bus bar and the semiconductor element. In that case, by forming a communication hole in the winding sheet, the bus bar and the semiconductor element Can be electrically connected. As a result, the semiconductor element and each bus bar can be electrically connected.

上記の半導体モジュールの一態様では、第1バスバー設置部と第2バスバー設置部は、巻き付けシートの一方の表面に設けられる一方で、素子設置部は、巻き付けシートの他方の表面に設けられていてもよい。素子設置部は、巻き付けシートを被巻き付け部材に巻き付けた際に、第1バスバー設置部と対向する位置に設けられていてもよい。第2バスバー設置部は、素子設置部の裏面側に設けられていてもよい。連通孔は、第2バスバー設置部と素子設置部とを連通する位置に設けられていてもよい。これによって、素子設置部に設置される半導体素子の他方の表面と、第2バスバーに設置される第2バスバーとが、連通孔を通じて電気的に接続可能となっていてもよい。   In one aspect of the semiconductor module described above, the first bus bar installation portion and the second bus bar installation portion are provided on one surface of the winding sheet, while the element installation portion is provided on the other surface of the winding sheet. Also good. The element installation part may be provided at a position facing the first bus bar installation part when the winding sheet is wound around the member to be wound. The second bus bar installation part may be provided on the back side of the element installation part. The communication hole may be provided at a position where the second bus bar installation part and the element installation part communicate with each other. As a result, the other surface of the semiconductor element installed in the element installation section and the second bus bar installed in the second bus bar may be electrically connectable through the communication hole.

上記の被巻き付け部材は、冷却器であることが好ましい。この構成によると、冷却器である被巻き付け部材に巻き付けシートを巻き付けることにより、冷却器の表面に半導体素子が配置される。従って、半導体素子を効果的に冷却することができる。   The wound member is preferably a cooler. According to this structure, a semiconductor element is arrange | positioned on the surface of a cooler by winding a winding sheet around the to-be-wrapped member which is a cooler. Therefore, the semiconductor element can be effectively cooled.

第1実施例の半導体モジュールの構造を示す平面図であり、冷却器40に巻き付けシート10を巻き付ける前の状態を示している。It is a top view which shows the structure of the semiconductor module of 1st Example, and has shown the state before winding the winding sheet | seat 10 around the cooler 40. FIG. 第1実施例の半導体モジュールの構造を示す底面図であり、冷却器40に巻き付けシート10を巻き付ける前の状態を示している。It is a bottom view which shows the structure of the semiconductor module of 1st Example, and has shown the state before winding the winding sheet | seat 10 around the cooler 40. FIG. 第1実施例の半導体モジュールのIII−III線に沿った断面を示す図であり、冷却器40に巻き付けシート10を巻き付けた後の状態を示している。It is a figure which shows the cross section along the III-III line of the semiconductor module of 1st Example, and has shown the state after winding the winding sheet | seat 10 around the cooler 40. FIG. 第1バスバーを示す正面図。The front view which shows a 1st bus bar. 半導体素子を示す平面図。The top view which shows a semiconductor element. バネ板を示す正面図。The front view which shows a spring board. 巻き付けシートを冷却器に巻き付ける様子を示す断面図。Sectional drawing which shows a mode that a winding sheet is wound around a cooler. 第2実施例の半導体モジュールを示す断面図。Sectional drawing which shows the semiconductor module of 2nd Example. 第3実施例の半導体モジュールを示す断面図。Sectional drawing which shows the semiconductor module of 3rd Example. 第4実施例の半導体モジュールを示す平面図。The top view which shows the semiconductor module of 4th Example. 第5実施例の半導体モジュールを示す平面図。The top view which shows the semiconductor module of 5th Example. 第6実施例の半導体モジュールを示す平面図。The top view which shows the semiconductor module of 6th Example. 第7実施例の半導体モジュールを示す断面図。Sectional drawing which shows the semiconductor module of 7th Example. 第8実施例の半導体モジュールを示す断面図。Sectional drawing which shows the semiconductor module of 8th Example. 第9実施例の半導体モジュールを示す断面図。Sectional drawing which shows the semiconductor module of 9th Example. 第9実施例の半導体モジュールを他の例を示す平面図。The top view which shows the other example of the semiconductor module of 9th Example. 第9実施例の半導体モジュールを他の例を示す断面図。Sectional drawing which shows the semiconductor module of 9th Example which shows another example. 第10実施例の半導体モジュールを示す断面図。Sectional drawing which shows the semiconductor module of 10th Example. 第11実施例の半導体モジュールを示す断面図。Sectional drawing which shows the semiconductor module of 11th Example.

(第1実施例)
図1〜図3に示すように、本実施例の半導体モジュール2は、巻き付けシート10と、冷却器40と、第1バスバー50と、4本の信号線60と、半導体素子70と、第2バスバー80と、バネ板90と、押さえ板98とを備えている。本実施例では、巻き付けシート10を冷却器40に巻き付けることにより、第1バスバー50と半導体素子70の表面電極74(図5参照)とが電気的に接続し、信号線60と半導体素子70の信号パッド76(図5参照)とが電気的に接続し、第2バスバー80と半導体素子70の裏面電極(図示省略)とが電気的に接続し、半導体モジュール2が完成する。
(First embodiment)
As shown in FIGS. 1 to 3, the semiconductor module 2 of this embodiment includes a winding sheet 10, a cooler 40, a first bus bar 50, four signal lines 60, a semiconductor element 70, and a second element. A bus bar 80, a spring plate 90, and a pressing plate 98 are provided. In the present embodiment, by winding the winding sheet 10 around the cooler 40, the first bus bar 50 and the surface electrode 74 (see FIG. 5) of the semiconductor element 70 are electrically connected, and the signal line 60 and the semiconductor element 70 are connected. The signal pad 76 (see FIG. 5) is electrically connected, the second bus bar 80 and the back electrode (not shown) of the semiconductor element 70 are electrically connected, and the semiconductor module 2 is completed.

図1、図2に示すように、巻き付けシート10は、帯状の本体12を有する。本体12は、第1バスバー設置部14と、信号線設置部16と、第2バスバー設置部18と、素子設置部22と、バネ板設置部24と、押さえ板設置部28とを備える。   As shown in FIGS. 1 and 2, the winding sheet 10 has a band-shaped main body 12. The main body 12 includes a first bus bar installation unit 14, a signal line installation unit 16, a second bus bar installation unit 18, an element installation unit 22, a spring plate installation unit 24, and a pressing plate installation unit 28.

本体12は、絶縁性を有する樹脂製のシート状部材であって、帯状に形成されている。本体12は、例えば、ポリイミドで形成することができる。   The main body 12 is a resin-made sheet-like member having insulating properties, and is formed in a band shape. The main body 12 can be formed of polyimide, for example.

第1バスバー設置部14は、図1に示すように、設置される第1バスバー50を保持する。第1バスバー設置部14は、本体12の表面に形成されている2個のコーナー保持部14aと、バスバー挿通部14bとを含む。本実施例では、第1バスバー50をバスバー挿通部14bに挿通させ、第1バスバー50の先端の2個のコーナー部をそれぞれコーナー保持部14aで保持することにより、第1バスバー50を第1バスバー設置部14に設置する。   The 1st bus-bar installation part 14 hold | maintains the 1st bus-bar 50 installed, as shown in FIG. The first bus bar installation part 14 includes two corner holding parts 14 a formed on the surface of the main body 12 and a bus bar insertion part 14 b. In the present embodiment, the first bus bar 50 is inserted into the bus bar insertion portion 14b, and the two corner portions at the tip of the first bus bar 50 are respectively held by the corner holding portions 14a, whereby the first bus bar 50 is moved to the first bus bar. Install in the installation unit 14.

信号線設置部16は、図1に示すように、設置される4本の信号線60を保持する。信号線設置部16は、本体12の表面であって、第1バスバー設置部14に隣接した位置に形成されている。信号線設置部16は、信号線60を挿通可能な4個の筒部を備えている。本実施例では、4本の信号線60の先端を、信号線設置部16の筒部に挿通することにより、4本の信号線60を信号線設置部16に設置する。信号線設置部16に設置された信号線60の先端部は、第1バスバー50方向に伸びる。   As shown in FIG. 1, the signal line installation unit 16 holds the four signal lines 60 that are installed. The signal line installation part 16 is formed on the surface of the main body 12 at a position adjacent to the first bus bar installation part 14. The signal line installation part 16 includes four cylindrical parts through which the signal line 60 can be inserted. In the present embodiment, the four signal lines 60 are installed in the signal line installation unit 16 by inserting the tips of the four signal lines 60 into the cylindrical portion of the signal line installation unit 16. The tip of the signal line 60 installed in the signal line installation unit 16 extends in the direction of the first bus bar 50.

第2バスバー設置部18は、図1に示すように、設置される第2バスバー80を保持する。第2バスバー設置部18は、本体12の表面であって、第1バスバー設置部14及び信号線設置部16に対して巻き付けシート10の長手方向に所定の間隔を空けた位置に備えられている。第1バスバー設置部18の構造は、上記の第1バスバー設置部14とほぼ同様であって、2個のコーナー保持部18aと、バスバー挿通部18bとを備えている。   The 2nd bus-bar installation part 18 hold | maintains the 2nd bus-bar 80 installed, as shown in FIG. The second bus bar installation part 18 is provided on the surface of the main body 12 at a position spaced apart from the first bus bar installation part 14 and the signal line installation part 16 in the longitudinal direction of the wound sheet 10. . The structure of the 1st bus-bar installation part 18 is substantially the same as said 1st bus-bar installation part 14, and is provided with the two corner holding parts 18a and the bus-bar insertion part 18b.

素子設置部22は、図2に示すように、設置される半導体素子70を保持する。素子設置部22は、本体12の裏面であって、第2バスバー設置部18の裏側の位置に設けられている。また、素子設置部22の位置は、巻き付けシート10を冷却器40に巻き付けた際に、上記の第1バスバー設置部14と対向する位置とされている(図3参照)。図2に示すように、素子設置部22は、半導体素子70の4個のコーナー部を保持可能なコーナー保持部22aを4箇所に備えている。本実施例では、半導体素子70の4個のコーナー部をそれぞれコーナー保持部22aに保持させることにより、半導体素子70を素子設置部22に設置する。   The element installation unit 22 holds the semiconductor element 70 to be installed as shown in FIG. The element installation unit 22 is provided on the back surface of the main body 12 and on the back side of the second bus bar installation unit 18. Moreover, the position of the element installation part 22 is a position facing the first bus bar installation part 14 when the winding sheet 10 is wound around the cooler 40 (see FIG. 3). As shown in FIG. 2, the element installation portion 22 includes corner holding portions 22 a that can hold the four corner portions of the semiconductor element 70 at four locations. In the present embodiment, the four corner portions of the semiconductor element 70 are held by the corner holding portions 22a, respectively, so that the semiconductor element 70 is set in the element setting portion 22.

第2バスバー設置部18及び素子設置部22には、図1に示すように、本体12の表面に設けられる第2バスバー設置部18と、本体12の裏面に設けられる素子設置部22とを連通する連通孔20が設けられている。本実施例では、図3に示すように、連通孔20内には、導電性を有する導電層82(後述)が配置される。そのため、第2バスバー設置部18に設置された第2バスバー80と、素子設置部22に設置された半導体素子70の裏面電極とは、導電層82を介して電気的に接続される。   As shown in FIG. 1, the second bus bar installation unit 18 and the element installation unit 22 communicate with the second bus bar installation unit 18 provided on the front surface of the main body 12 and the element installation unit 22 provided on the back surface of the main body 12. A communication hole 20 is provided. In the present embodiment, as shown in FIG. 3, a conductive layer 82 (described later) having conductivity is disposed in the communication hole 20. Therefore, the second bus bar 80 installed in the second bus bar installation unit 18 and the back electrode of the semiconductor element 70 installed in the element installation unit 22 are electrically connected via the conductive layer 82.

バネ板設置部24は、図1に示すように、設置されるバネ板90を保持する。バネ板設置部24は、本体12の表面であって、上記の第2バスバー設置部18に対して巻き付けシート10の長手方向に所定の間隔を空けた位置に設けられている。バネ板設置部24の位置は、巻き付けシート10を冷却器40に巻き付けた際に、上記の第2バスバー設置部18と対向する位置とされている(図3参照)。図1に示すように、バネ板設置部24は、バネ板90の4個のコーナー部を保持可能なコーナー保持部24aを4箇所に備えている。さらに、図2に示すように、本体12のうち、バネ板設置部24の形成位置には、貫通孔26が設けられている。貫通孔26には、バネ板90の凸部92が嵌合可能となっている。本実施例では、バネ板90の4個のコーナー部をそれぞれコーナー保持部24aに保持させると共に、バネ板90の凸部92を貫通孔26に嵌合させ、凸部92の先端を本体12の裏面側に突出させる(図3参照)ことにより、バネ板90をバネ板設置部24に設置する。   As shown in FIG. 1, the spring plate installation unit 24 holds a spring plate 90 to be installed. The spring plate installation part 24 is provided on the surface of the main body 12 at a position spaced apart from the second bus bar installation part 18 in the longitudinal direction of the wound sheet 10. The position of the spring plate installing portion 24 is a position facing the second bus bar installing portion 18 when the winding sheet 10 is wound around the cooler 40 (see FIG. 3). As shown in FIG. 1, the spring plate installation portion 24 includes four corner holding portions 24 a that can hold the four corner portions of the spring plate 90. Further, as shown in FIG. 2, a through hole 26 is provided in the main body 12 at a position where the spring plate installation portion 24 is formed. The protrusion 92 of the spring plate 90 can be fitted into the through hole 26. In the present embodiment, the four corner portions of the spring plate 90 are respectively held by the corner holding portions 24a, and the convex portions 92 of the spring plates 90 are fitted into the through holes 26, and the tips of the convex portions 92 are connected to the main body 12. The spring plate 90 is installed in the spring plate installation section 24 by projecting to the back side (see FIG. 3).

押さえ板設置部28は、図2に示すように、設置される押さえ板98を保持する。押さえ板設置部28は、本体12の裏面であって、上記の貫通孔26に対して巻き付けシート10の長手方向に所定の間隔を空けた位置に備えられている。押さえ板設置部28の位置は、巻き付けシート10を冷却器40に巻き付けた際に、上記のバネ板設置部24と対向する位置とされている(図3参照)。図2に示すように、押さえ板設置部28は、押さえ板98の4個のコーナー部を保持可能なコーナー保持部28aを4箇所に備えている。本実施例では、押さえ板98の4個のコーナー部をそれぞれコーナー保持部24aに保持させることにより、押さえ板98を押さえ板設置部28に設置する。   As shown in FIG. 2, the presser plate installation unit 28 holds a presser plate 98 to be installed. The presser plate installation portion 28 is provided on the rear surface of the main body 12 at a position spaced apart from the through hole 26 in the longitudinal direction of the wound sheet 10. The position of the pressing plate installation portion 28 is a position facing the spring plate installation portion 24 when the winding sheet 10 is wound around the cooler 40 (see FIG. 3). As shown in FIG. 2, the pressing plate installation portion 28 includes four corner holding portions 28 a that can hold the four corner portions of the pressing plate 98. In the present embodiment, the presser plate 98 is installed on the presser plate installation unit 28 by holding the four corners of the presser plate 98 on the corner holding unit 24a.

冷却器40は、図3に示すように、内部に水を流すことができる角型筒状部材である。冷却器40は、例えばCuによって形成することができる。   As shown in FIG. 3, the cooler 40 is a rectangular cylindrical member capable of flowing water therein. The cooler 40 can be formed of Cu, for example.

第1バスバー50は、図1に示すように、板状の導電部材である。第1バスバー50は、例えばCuにNi又はAuをめっきした材料によって形成することができる。本実施例では、図4に示すように、第1バスバー50の先端部付近の表面には、導電性を有する導電層52が備えられている。導電層52には、軟塑性材料(例えば、Sn)が用いられている。   As shown in FIG. 1, the first bus bar 50 is a plate-like conductive member. The first bus bar 50 can be formed of, for example, a material obtained by plating Cu or Ni with Au. In the present embodiment, as shown in FIG. 4, a conductive layer 52 having conductivity is provided on the surface of the first bus bar 50 near the tip. For the conductive layer 52, a soft plastic material (for example, Sn) is used.

信号線60は、図1に示すように、線状の導電性部材である。信号線は、例えばCuによって形成することができる。本実施例では、信号線60は4本設けられている。信号線60の先端部には、図示しない圧接部が形成されている。   As shown in FIG. 1, the signal line 60 is a linear conductive member. The signal line can be formed of Cu, for example. In this embodiment, four signal lines 60 are provided. A pressure contact portion (not shown) is formed at the distal end portion of the signal line 60.

半導体素子70は、電力用のスイッチング素子であり、本実施例では縦型のMOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)が用いられている。半導体素子70は、例えば、SiC等により形成することができる。図5に示すように、半導体素子70は、平面視すると略矩形状となるように形成されている。   The semiconductor element 70 is a switching element for electric power, and a vertical MOSFET (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor) is used in this embodiment. The semiconductor element 70 can be formed of SiC or the like, for example. As shown in FIG. 5, the semiconductor element 70 is formed to have a substantially rectangular shape in plan view.

半導体素子70の表面側には、表面電極74と、4個の信号パッド76が形成されている。表面電極74と信号パッド76は、Al等の導電材料によって形成されている。また、半導体素子70の裏面側には、図示しない裏面電極が形成されている。裏面電極は、例えば、Ni/Ti/Ni/Au等の複数の金属層からなる導電材料によって形成されている。   A surface electrode 74 and four signal pads 76 are formed on the front surface side of the semiconductor element 70. The surface electrode 74 and the signal pad 76 are made of a conductive material such as Al. Further, a back surface electrode (not shown) is formed on the back surface side of the semiconductor element 70. The back electrode is formed of a conductive material composed of a plurality of metal layers such as Ni / Ti / Ni / Au.

表面電極74は、半導体素子70のセル領域(MOSFETが形成されている領域)の上方に形成されている。一方、裏面電極は、半導体素子70の裏面の全体に形成されている。信号パッド76は、半導体素子70の非セル領域(MOSFETが形成されていない領域)の上方に形成されている。信号パッド76は、外部の駆動回路から出力されるゲート信号(小電流の信号)の入力や、半導体素子70に形成された温度検出素子(図示省略)からの検出信号を出力するため等に用いられる。なお、半導体素子70の表面のうち、表面電極74と信号パッド76の周囲には絶縁層77が形成されている。絶縁層77によって、表面電極74と信号パッド76とが絶縁されている。   The surface electrode 74 is formed above the cell region (region where the MOSFET is formed) of the semiconductor element 70. On the other hand, the back electrode is formed on the entire back surface of the semiconductor element 70. The signal pad 76 is formed above the non-cell region (region where the MOSFET is not formed) of the semiconductor element 70. The signal pad 76 is used to input a gate signal (small current signal) output from an external drive circuit, or to output a detection signal from a temperature detection element (not shown) formed in the semiconductor element 70. It is done. An insulating layer 77 is formed around the surface electrode 74 and the signal pad 76 on the surface of the semiconductor element 70. The surface electrode 74 and the signal pad 76 are insulated by the insulating layer 77.

第2バスバー80は、上記の第1バスバー50と同様の板状の導電部材である。本実施例では、図1に示すように、第2バスバー80の裏面には、導電性を有する導電層82が備えられている。導電層82には、軟塑性材料(例えば、Sn)が用いられている。   The second bus bar 80 is a plate-like conductive member similar to the first bus bar 50 described above. In the present embodiment, as shown in FIG. 1, a conductive layer 82 having conductivity is provided on the back surface of the second bus bar 80. A soft plastic material (for example, Sn) is used for the conductive layer 82.

バネ板90は、図6に示すように、板状の本体91と、本体91の中央部を一方の面側に突出させて形成された凸部92とを備えている。凸部92の両側部は開口している。バネ板90は、Cu、SUS(ステンレス鋼)等で形成することができる。   As shown in FIG. 6, the spring plate 90 includes a plate-shaped main body 91 and a convex portion 92 formed by projecting the central portion of the main body 91 to one surface side. Both side portions of the convex portion 92 are open. The spring plate 90 can be formed of Cu, SUS (stainless steel), or the like.

押さえ板98は、図2に示すような板状の部材である。押さえ板98も、Cu、SUS(ステンレス鋼)等で形成することができる。   The pressing plate 98 is a plate-like member as shown in FIG. The pressing plate 98 can also be formed of Cu, SUS (stainless steel), or the like.

上記の各要素を用いて図3の半導体モジュール2を製作する方法について説明する。まず、巻き付けシート10を用意する。次いで、第1バスバー設置部14に第1バスバー50を設置し、信号線設置部16に4本の信号線60を設置する。次いで、第2バスバー設置部18に第2バスバー80を設置する。このとき、第2バスバー80の裏面に設けられている導電層82を連通孔20内に配置する。導電層82の表面は、連通孔20から本体12の裏面側に突出する。さらに、素子設置部22に半導体素子70を設置する。このとき、半導体素子70は、半導体素子70の裏面側(裏面電極側)が本体12の裏面と接触するように素子設置部22に配置される。半導体素子70が素子設置部22に設置されると、半導体素子70の裏面電極(図示省略)は、連通孔20から本体12の裏面側に突出する導電層82と接触する。なお、後述するように、巻き付けシート10を冷却器40に巻き付けると、その巻き付け圧力によって、導電層82は、半導体素子70の裏面電極に押圧され、塑性変形する。これにより、素子設置部22に設置された半導体素子70の裏面電極と、第2バスバー設置部18に設置された第2バスバー80とが、導電層82を介して電気的に接続されることとなる。次いで、バネ板設置部24にバネ板90を設置する。このとき、バネ板90の凸部92は、貫通孔26に嵌合する。凸部92の先端は、貫通孔26から本体12の裏面側に突出する。次いで、押さえ板設置部28に、押さえ板98を設置する。これにより、図1、図2に示すように、第1バスバー50、信号線60、半導体素子70、第2バスバー80、バネ板90、押さえ板98の各要素が、巻き付けシート10に保持される。   A method of manufacturing the semiconductor module 2 of FIG. 3 using each of the above elements will be described. First, the winding sheet 10 is prepared. Next, the first bus bar 50 is installed in the first bus bar installation unit 14, and the four signal lines 60 are installed in the signal line installation unit 16. Next, the second bus bar 80 is installed in the second bus bar installation unit 18. At this time, the conductive layer 82 provided on the back surface of the second bus bar 80 is disposed in the communication hole 20. The surface of the conductive layer 82 protrudes from the communication hole 20 to the back side of the main body 12. Further, the semiconductor element 70 is installed in the element installation unit 22. At this time, the semiconductor element 70 is disposed in the element installation portion 22 so that the back surface side (back electrode side) of the semiconductor element 70 is in contact with the back surface of the main body 12. When the semiconductor element 70 is installed in the element installation unit 22, the back electrode (not shown) of the semiconductor element 70 comes into contact with the conductive layer 82 that protrudes from the communication hole 20 to the back side of the main body 12. As will be described later, when the winding sheet 10 is wound around the cooler 40, the conductive layer 82 is pressed against the back electrode of the semiconductor element 70 by the winding pressure and is plastically deformed. Thereby, the back electrode of the semiconductor element 70 installed in the element installation unit 22 and the second bus bar 80 installed in the second bus bar installation unit 18 are electrically connected via the conductive layer 82. Become. Next, the spring plate 90 is installed in the spring plate installation unit 24. At this time, the convex portion 92 of the spring plate 90 is fitted into the through hole 26. The tip of the convex portion 92 protrudes from the through hole 26 to the back side of the main body 12. Next, the presser plate 98 is installed in the presser plate installation unit 28. Thereby, as shown in FIGS. 1 and 2, each element of the first bus bar 50, the signal line 60, the semiconductor element 70, the second bus bar 80, the spring plate 90, and the pressing plate 98 is held by the winding sheet 10. .

次いで、巻き付けシート10を、被巻き付け部材である冷却器40に巻き付ける。具体的には、まず、図7に示すように、巻き付けシート10のうち、第1バスバー50が設置されている側の端部を、冷却器40の表面に固定する。次いで、巻き付けシート10の他端側を引っ張って、巻き付けシート10に図7の矢印方向の引っ張り力を付加しながら、巻き付けシート10を冷却器40に巻き付けていく。なお、巻き付けシート10の巻き付けは、上記のように全部品を設置してから巻き付ける手法には限られず、各部品を設置しつつ少しずつ巻き付ける手法によって行ってもよい。   Next, the winding sheet 10 is wound around the cooler 40 which is a member to be wound. Specifically, first, as shown in FIG. 7, the end of the wound sheet 10 on the side where the first bus bar 50 is installed is fixed to the surface of the cooler 40. Next, the winding sheet 10 is wound around the cooler 40 while pulling the other end side of the winding sheet 10 and applying a pulling force in the direction of the arrow in FIG. The winding of the winding sheet 10 is not limited to the method of winding all the parts as described above, and may be performed by a method of winding each part little by little while installing each part.

巻き付けシート10を冷却器40に巻き付けると、図3に示すように、まず、冷却器40の表面に巻き付けシート10の裏面側が接触する。このとき、冷却器40の上面の上方に、第1バスバー設置部14に設置された第1バスバー50と、信号線設置部16に設置された4本の信号線60とが配置される。   When the winding sheet 10 is wound around the cooler 40, first, the back side of the winding sheet 10 contacts the surface of the cooler 40 as shown in FIG. 3. At this time, the first bus bar 50 installed in the first bus bar installation unit 14 and the four signal lines 60 installed in the signal line installation unit 16 are arranged above the upper surface of the cooler 40.

さらに巻き付けシート10を巻き付けると、素子設置部22に設置された半導体素子70の表面電極74と、第1バスバー50とが対向する。このとき、表面電極74は、第1バスバー50の表面に設けられた導電層52と接触する。巻き付けシート10を巻き付ける際には、巻き付けシート10に引っ張り力が付加される。これにより、表面電極74が導電層52に押しつけられ、導電層52が塑性変形する。これにより、半導体素子70の表面電極74と第1バスバー50とが、導電層52を介して電気的に接続される。また、同時に、半導体素子70の信号パッド76が、信号線設置部16に設置された4本の信号線60の先端の圧接部に押し付けられ、圧接部が塑性変形する。その結果、半導体素子70の4個の信号パッド76は、それぞれ、対応する信号線60と電気的に接続される。   When the winding sheet 10 is further wound, the surface electrode 74 of the semiconductor element 70 installed in the element installation unit 22 and the first bus bar 50 face each other. At this time, the surface electrode 74 is in contact with the conductive layer 52 provided on the surface of the first bus bar 50. When the winding sheet 10 is wound, a tensile force is applied to the winding sheet 10. Thereby, the surface electrode 74 is pressed against the conductive layer 52, and the conductive layer 52 is plastically deformed. Accordingly, the surface electrode 74 of the semiconductor element 70 and the first bus bar 50 are electrically connected via the conductive layer 52. At the same time, the signal pad 76 of the semiconductor element 70 is pressed against the pressure contact portions at the tips of the four signal lines 60 installed in the signal line installation portion 16, and the pressure contact portions are plastically deformed. As a result, the four signal pads 76 of the semiconductor element 70 are electrically connected to the corresponding signal lines 60, respectively.

さらに巻き付けシート10を巻き付けると、第2バスバー設置部18に設置された第2バスバーの表面と、貫通孔26から巻き付けシート10の裏面側に突出しているバネ板90の凸部92とが対向する。巻き付けシート10に付加される引っ張り力が作用することにより、バネ板90の凸部92は、第2バスバー80の表面に押し付けられる。   When the winding sheet 10 is further wound, the surface of the second bus bar installed in the second bus bar installation part 18 and the convex part 92 of the spring plate 90 protruding from the through hole 26 to the back side of the winding sheet 10 face each other. . When the tensile force applied to the winding sheet 10 acts, the convex portion 92 of the spring plate 90 is pressed against the surface of the second bus bar 80.

さらに巻き付けシート10を巻き付けると、押さえ板設置部28に設置された押さえ板98と、バネ板設置部24に設置されたバネ板90の表面とが対向する。巻き付けシート10に付加される引っ張り力により、押さえ板98は、バネ板90の表面に押し付けられる。この結果、押さえ板98によって、バネ板90の表面が押圧される。これにより、バネ板90の弾性力により、第2バスバー80、半導体素子70、第1バスバー50、及び、信号線60が互いに圧接される。その結果、半導体素子70の表面電極74と第1バスバー50とが確実に電気的に接続される。同様に、半導体素子の信号パッド76と信号線60、及び、半導体素子70の裏面電極と第2バスバー80も、確実に電気的に接続される。   When the winding sheet 10 is further wound, the pressing plate 98 installed in the pressing plate installation unit 28 and the surface of the spring plate 90 installed in the spring plate installation unit 24 face each other. The holding plate 98 is pressed against the surface of the spring plate 90 by the pulling force applied to the winding sheet 10. As a result, the surface of the spring plate 90 is pressed by the pressing plate 98. Thus, the second bus bar 80, the semiconductor element 70, the first bus bar 50, and the signal line 60 are pressed against each other by the elastic force of the spring plate 90. As a result, the surface electrode 74 of the semiconductor element 70 and the first bus bar 50 are reliably electrically connected. Similarly, the signal pad 76 and the signal line 60 of the semiconductor element, and the back electrode of the semiconductor element 70 and the second bus bar 80 are reliably electrically connected.

その状態で、巻き付けシート10の他端部を固定することにより、図3の半導体モジュール2が完成する。巻き付けシート10の他端部の固定手段は任意である。半導体モジュール2では、第1バスバー50と半導体素子70の表面電極74が電気的に接続し、信号線60と半導体素子70の信号パッド76が電気的に接続し、第2バスバー80と半導体素子70の裏面電極が電気的に接続している。また、冷却器40は、冷却器40の上方に配置された第1バスバー50を冷却することにより、その上方に配置された半導体素子70を冷却することができる。   In this state, the other end of the winding sheet 10 is fixed to complete the semiconductor module 2 shown in FIG. The fixing means of the other end part of the winding sheet | seat 10 is arbitrary. In the semiconductor module 2, the first bus bar 50 and the surface electrode 74 of the semiconductor element 70 are electrically connected, the signal line 60 and the signal pad 76 of the semiconductor element 70 are electrically connected, and the second bus bar 80 and the semiconductor element 70 are electrically connected. The back electrodes are electrically connected. The cooler 40 can cool the first bus bar 50 disposed above the cooler 40, thereby cooling the semiconductor element 70 disposed above the first bus bar 50.

以上、第1実施例の半導体モジュール2の構成とその製造方法について説明した。上記の通り、本実施例では、巻き付けシート10を冷却器40に巻き付けることにより、半導体素子70の表面電極74と第1バスバー50とが電気的に接続すると共に、半導体素子70の信号パッド76と信号線60とが電気的に接続し、さらに、半導体素子70の裏面電極と第2バスバー80とが電気的に接続する。従って、半導体モジュール2を製作する際に、半導体素子70、第1バスバー50、信号線60、第2バスバー80の各要素を互いに正確に位置合わせして積層し、接合する必要がない。各要素を正確に位置合わせして積層し、接合する必要がある従来の手法と比較して、半導体モジュール2を製造する際の作業負担を小さくすることができる。   The configuration of the semiconductor module 2 of the first embodiment and the manufacturing method thereof have been described above. As described above, in this embodiment, by winding the winding sheet 10 around the cooler 40, the surface electrode 74 of the semiconductor element 70 and the first bus bar 50 are electrically connected, and the signal pad 76 of the semiconductor element 70 The signal line 60 is electrically connected, and the back electrode of the semiconductor element 70 and the second bus bar 80 are electrically connected. Therefore, when the semiconductor module 2 is manufactured, it is not necessary to stack the elements of the semiconductor element 70, the first bus bar 50, the signal line 60, and the second bus bar 80 with accurate alignment with each other. Compared with a conventional method in which each element needs to be accurately aligned, stacked, and joined, the work load when manufacturing the semiconductor module 2 can be reduced.

また、本実施例の半導体モジュール2では、半導体素子70、第1バスバー50、信号線60、第2バスバー80の各要素を互いに圧接させることによって電気的に接続させている。即ち、半導体素子70、第1バスバー50、信号線60、第2バスバー80の各要素を半田付けによって電気的に接続させる必要がない。そのため、半導体モジュール2を製作する際の作業負担をさらに小さくすることができる。また、半田を用いないため、従来の半導体モジュールのように、高温で動作する半導体素子とバスバーとの間の線膨張差によって半田が破損し、その結果、半導体素子の冷却性能が悪化して半導体素子が破損する、という不都合も発生しなくなる。   Further, in the semiconductor module 2 of the present embodiment, the elements of the semiconductor element 70, the first bus bar 50, the signal line 60, and the second bus bar 80 are electrically connected by being brought into pressure contact with each other. That is, it is not necessary to electrically connect the elements of the semiconductor element 70, the first bus bar 50, the signal line 60, and the second bus bar 80 by soldering. Therefore, the work burden when manufacturing the semiconductor module 2 can be further reduced. Also, since no solder is used, the solder is damaged due to the difference in linear expansion between the semiconductor element operating at high temperature and the bus bar, as in the conventional semiconductor module, and as a result, the cooling performance of the semiconductor element deteriorates and the semiconductor The inconvenience that the element is damaged does not occur.

また、本実施例の半導体モジュール2では、第2バスバー設置部18が素子設置部22の裏面側に設けられ、半導体素子70の裏面電極と第2バスバー80とが連通孔20を通じて電気的に接続されている。そのため、後述する第7,第8実施例と比較して、半導体モジュール2を製作する際の冷却器40への巻き付けシート10の巻き付け回数を少なくすることができる。   Further, in the semiconductor module 2 of the present embodiment, the second bus bar installation part 18 is provided on the back side of the element installation part 22, and the back electrode of the semiconductor element 70 and the second bus bar 80 are electrically connected through the communication hole 20. Has been. Therefore, the number of windings of the winding sheet 10 around the cooler 40 when manufacturing the semiconductor module 2 can be reduced as compared with the seventh and eighth embodiments described later.

また、本実施例の半導体モジュール2では、第1バスバー50と第2バスバー80とを対向させて並行させることができる。そのため、半導体素子70に電流が流れるときに、対向する第1バスバー50と第2バスバー80とに逆向きに電流を流すことができ、その結果、寄生インダクタンスの低減を図ることができる。   Moreover, in the semiconductor module 2 of the present embodiment, the first bus bar 50 and the second bus bar 80 can be made to face each other in parallel. Therefore, when a current flows through the semiconductor element 70, the current can flow in the opposite direction to the first bus bar 50 and the second bus bar 80 facing each other, and as a result, the parasitic inductance can be reduced.

また、本実施例の半導体モジュール2では、巻き付けシート10が絶縁性を有するため、絶縁板を用いることなく各部材間を絶縁することができる。   Moreover, in the semiconductor module 2 of a present Example, since the winding sheet | seat 10 has insulation, between members can be insulated without using an insulating board.

(第2実施例)
第2実施例の半導体モジュール102について、第1実施例と異なる点を中心に説明する。図8に示すように、第2実施例では、四角筒状の冷却器40の4つの外周面のそれぞれの面の表面側に、半導体素子170a〜dが配置される点が第1実施例と異なる。なお、図8には図示していないが、第1バスバー、信号線、第2バスバー等の各要素も、四角筒状の冷却器40の4つの外周面のそれぞれの面に設けられる。従って、第2実施例では、四角筒状の冷却器40の4つの外周面をすべて利用することにより、4個の半導体素子170a〜dを有する半導体モジュールを製作することができる。
(Second embodiment)
The semiconductor module 102 of the second embodiment will be described focusing on differences from the first embodiment. As shown in FIG. 8, the second embodiment is different from the first embodiment in that the semiconductor elements 170a to 170d are arranged on the surface side of each of the four outer peripheral surfaces of the rectangular tubular cooler 40. Different. Although not shown in FIG. 8, each element such as the first bus bar, the signal line, and the second bus bar is also provided on each of the four outer peripheral surfaces of the rectangular tubular cooler 40. Therefore, in the second embodiment, a semiconductor module having four semiconductor elements 170a to 170d can be manufactured by using all of the four outer peripheral surfaces of the rectangular tubular cooler 40.

(第3実施例)
第3実施例の半導体モジュール202は、図9に示すように、冷却器240が八角筒状であって、その八角筒状の冷却器240の8つの外周面のそれぞれの面の表面側に、半導体素子270a〜hが配置されている。なお、図9には図示していないが、第1バスバー、信号線、第2バスバー等の各要素も、八角筒状の冷却器240の8つの外周面のそれぞれの面に設けられる。従って、第3実施例では、八角筒状の冷却器240の8つの外周面をすべて利用することにより、8個の半導体素子270a〜hを有する半導体モジュールを製作することができる。
(Third embodiment)
In the semiconductor module 202 of the third embodiment, as shown in FIG. 9, the cooler 240 has an octagonal cylindrical shape, and on the surface side of each of the eight outer peripheral surfaces of the octagonal cylindrical cooler 240, Semiconductor elements 270a-h are arranged. Although not shown in FIG. 9, each element such as the first bus bar, the signal line, and the second bus bar is also provided on each of the eight outer peripheral surfaces of the octagonal cylindrical cooler 240. Therefore, in the third embodiment, a semiconductor module having eight semiconductor elements 270a to 270h can be manufactured by using all eight outer peripheral surfaces of the octagonal cylindrical cooler 240.

(第4実施例)
第4実施例の半導体モジュール302は、図10に示すように、冷却器40に、冷却器40の長手方向に間隔を空けた位置に2枚の巻き付けシート310a、310bが巻き付けられている。巻き付けシート310aには、第1バスバー350a、信号線360a及び半導体素子、第2バスバー等の各要素(図示省略)が設けられている。同様に、巻き付けシート310bには、第1バスバー350b、信号線360b及び半導体素子、第2バスバー等の各要素(図示省略)が設けられている。第1バスバー350aと第1バスバー350bは、互いに逆方向に伸びるように配置されている。また、信号線360aと信号線360bも、互いに逆方向に伸びるように配置されている。従って、第4実施例でも、多数の半導体素子を有する半導体モジュールを製作することができる。
(Fourth embodiment)
In the semiconductor module 302 of the fourth embodiment, as shown in FIG. 10, two winding sheets 310 a and 310 b are wound around the cooler 40 at positions spaced apart in the longitudinal direction of the cooler 40. The winding sheet 310a is provided with each element (not shown) such as a first bus bar 350a, a signal line 360a, a semiconductor element, and a second bus bar. Similarly, the wound sheet 310b is provided with each element (not shown) such as a first bus bar 350b, a signal line 360b, a semiconductor element, and a second bus bar. The first bus bar 350a and the first bus bar 350b are arranged to extend in opposite directions. The signal line 360a and the signal line 360b are also arranged so as to extend in opposite directions. Therefore, also in the fourth embodiment, a semiconductor module having a large number of semiconductor elements can be manufactured.

(第5実施例)
第5実施例の半導体モジュール402も、図11に示すように、冷却器40に、2枚の巻き付けシート410a、410bが巻き付けられている。ただし、第5実施例では、巻き付けシート410aに備えられている第1バスバー450a及び第2バスバー(図示省略)は、冷却器40の上面側に配置されている。一方、巻き付けシート410bに備えられている第1バスバー450b及び第2バスバー(図示省略)は、冷却器40の側面側に配置されている。第1バスバー450aと第1バスバー450bとは、同じ方向に伸ばされている。第5実施例では、第1バスバー450a、450bが互いに冷却器40の異なる面に配置されているため、第1バスバー450a、450bが互いに干渉しない。第5実施例では、多数の半導体素子を有する半導体モジュールを製作することができると共に、第1バスバー450a、450bが同一方向に伸びているため、伸ばされた第1バスバー450a、450bへの外部配線の接続を比較的容易に行うことができる。
(5th Example)
Also in the semiconductor module 402 of the fifth embodiment, two winding sheets 410a and 410b are wound around the cooler 40 as shown in FIG. However, in the fifth embodiment, the first bus bar 450a and the second bus bar (not shown) provided in the winding sheet 410a are arranged on the upper surface side of the cooler 40. On the other hand, the first bus bar 450b and the second bus bar (not shown) provided in the winding sheet 410b are arranged on the side surface side of the cooler 40. The first bus bar 450a and the first bus bar 450b are extended in the same direction. In the fifth embodiment, since the first bus bars 450a and 450b are arranged on different surfaces of the cooler 40, the first bus bars 450a and 450b do not interfere with each other. In the fifth embodiment, a semiconductor module having a large number of semiconductor elements can be manufactured, and the first bus bars 450a and 450b extend in the same direction. Therefore, external wiring to the extended first bus bars 450a and 450b is possible. Can be connected relatively easily.

(第6実施例)
第6実施例の半導体モジュール502は、図12に示すように、巻き付けシート510の材質が、場所によって異なる。即ち、第6実施例では、巻き付けシート510のうち、第1バスバー50が配置される領域S1は、高熱伝導材(例えばCuフィルム)で形成されている。さらに、領域S1のうち、冷却器40と接する部分には、冷却器40と第1バスバー50との間の絶縁性を確保するために、絶縁熱伝導樹脂シートが備えられている。そのため、冷却器40による第1バスバー50の冷却効率が良くなり、その結果、半導体素子70の冷却効率も向上する。また、巻き付けシート510のうち、第2バスバー80、半導体素子70、バネ板90が配置される領域S2は、第1実施例と同様に、絶縁性樹脂(例えばポリイミド)で形成されている。また、第6実施例では、巻き付けシート510のうち、押さえ板98が配置される領域S3は、バネ板90に対向する部分が硬度の高い樹脂(例えばエンプラ)で形成されている。そのため、押さえ板98によって、半導体素子70、第1バスバー50、信号線60、第2バスバー80の各要素をより強く押圧することができる。従って、半導体素子70、第1バスバー50、信号線60、第2バスバー80の各要素を確実に接続させることができると共に、各要素同士が位置ずれすることを防ぐこともできる。
(Sixth embodiment)
As for the semiconductor module 502 of 6th Example, as shown in FIG. 12, the material of the winding sheet 510 changes with places. That is, in 6th Example, area | region S1 in which the 1st bus-bar 50 is arrange | positioned among the winding sheets 510 is formed with the high heat conductive material (for example, Cu film). Furthermore, an insulating heat conductive resin sheet is provided in a portion in contact with the cooler 40 in the region S1 in order to ensure insulation between the cooler 40 and the first bus bar 50. Therefore, the cooling efficiency of the first bus bar 50 by the cooler 40 is improved, and as a result, the cooling efficiency of the semiconductor element 70 is also improved. Further, in the wound sheet 510, the region S2 in which the second bus bar 80, the semiconductor element 70, and the spring plate 90 are disposed is formed of an insulating resin (for example, polyimide) as in the first embodiment. Further, in the sixth embodiment, in the wound sheet 510, the region S3 in which the pressing plate 98 is disposed is formed of a resin (for example, engineering plastic) having a high hardness at a portion facing the spring plate 90. Therefore, each element of the semiconductor element 70, the first bus bar 50, the signal line 60, and the second bus bar 80 can be more strongly pressed by the pressing plate 98. Therefore, it is possible to reliably connect the elements of the semiconductor element 70, the first bus bar 50, the signal line 60, and the second bus bar 80, and it is also possible to prevent the elements from being displaced from each other.

(第7実施例)
第7実施例の半導体モジュール602も、図13に示すように、巻き付けシート610の構成が第1実施例とは異なる。第1実施例の巻き付けシート10では、第2バスバー設置部18が素子設置部22の表面側に設けられ、半導体素子70と第2バスバー80が、巻き付けシート10の表裏面に重ねて備えられている。これに代えて、第7実施例の巻き付けシート610では、図13に示すように、第2バスバー設置部は、本体612の裏面であって、巻き付けシート610を冷却器40に巻き付けた際に、素子設置部22の表面側に設けられた連通孔20に対向する位置に形成されている。この場合、巻き付けシート610を冷却器40に巻き付けることにより、第2バスバー80の裏面に設けられた導電層82が連通孔20に入り込んで、半導体素子70の裏面電極と接触する。これにより、第7実施例でも、半導体素子70の裏面電極と第2バスバー80とが電気的に接続される。なお、第7実施例では、バネ板90の凸部92は、巻き付けシート610の本体612のうち、第2バスバー80が設置された部分の表面側に押し付けられる。
(Seventh embodiment)
Also in the semiconductor module 602 of the seventh embodiment, the configuration of the winding sheet 610 is different from that of the first embodiment, as shown in FIG. In the winding sheet 10 of the first embodiment, the second bus bar setting portion 18 is provided on the surface side of the element setting portion 22, and the semiconductor element 70 and the second bus bar 80 are provided so as to overlap the front and back surfaces of the winding sheet 10. Yes. Instead, in the winding sheet 610 of the seventh embodiment, as shown in FIG. 13, the second bus bar installation portion is the back surface of the main body 612, and when the winding sheet 610 is wound around the cooler 40, It is formed at a position facing the communication hole 20 provided on the surface side of the element installation portion 22. In this case, by winding the winding sheet 610 around the cooler 40, the conductive layer 82 provided on the back surface of the second bus bar 80 enters the communication hole 20 and contacts the back electrode of the semiconductor element 70. Thereby, also in the seventh embodiment, the back electrode of the semiconductor element 70 and the second bus bar 80 are electrically connected. In the seventh embodiment, the convex portion 92 of the spring plate 90 is pressed against the surface side of the portion of the main body 612 of the winding sheet 610 where the second bus bar 80 is installed.

(第8実施例)
第8実施例の半導体モジュール702も、図14に示すように、巻き付けシート710の構成が第1実施例とは異なる。第1実施例の巻き付けシート10では、素子設置部22が本体12の裏面側に備えられている。これに代えて、第8実施例の巻き付けシート710では、図14に示すように、素子設置部及び第2バスバー設置部は、いずれも、本体712の表面に備えられている。第8実施例では、本体712のうち、素子設置部の位置と、第2バスバー設置部の位置には、それぞれ、連通孔720、725が設けられている。連通孔725内には、第2バスバー80の裏面に備えられている導電層82が配置され、導電層82の一部は本体712の裏面側に突出している。従って、第8実施例では、巻き付けシート710を冷却器40に巻き付けることにより、第1バスバー50の表面に設けられた導電層52が連通孔720に入り込んで、半導体素子70の表面電極74と接触する。これにより、第8実施例でも、半導体素子70の表面電極74と第1バスバー50とが電気的に接続される。さらに、巻き付けシート710を冷却器40に巻き付けることにより、本体712の裏面側に突出した導電層82が、半導体素子70の裏面電極と接触する。これにより、第8実施例でも、半導体素子70の裏面電極と第2バスバー80とが電気的に接続される。
(Eighth embodiment)
As for the semiconductor module 702 of the eighth embodiment, as shown in FIG. 14, the configuration of the winding sheet 710 is different from that of the first embodiment. In the winding sheet 10 of the first embodiment, the element installation portion 22 is provided on the back side of the main body 12. Instead, in the wound sheet 710 of the eighth embodiment, as shown in FIG. 14, both the element installation portion and the second bus bar installation portion are provided on the surface of the main body 712. In the eighth embodiment, communication holes 720 and 725 are provided in the main body 712 at the position of the element installation portion and the position of the second bus bar installation portion, respectively. A conductive layer 82 provided on the back surface of the second bus bar 80 is disposed in the communication hole 725, and a part of the conductive layer 82 protrudes to the back surface side of the main body 712. Therefore, in the eighth embodiment, by winding the winding sheet 710 around the cooler 40, the conductive layer 52 provided on the surface of the first bus bar 50 enters the communication hole 720 and contacts the surface electrode 74 of the semiconductor element 70. To do. Thereby, also in the eighth embodiment, the surface electrode 74 of the semiconductor element 70 and the first bus bar 50 are electrically connected. Furthermore, by winding the winding sheet 710 around the cooler 40, the conductive layer 82 protruding to the back side of the main body 712 comes into contact with the back electrode of the semiconductor element 70. Thereby, also in the eighth embodiment, the back electrode of the semiconductor element 70 and the second bus bar 80 are electrically connected.

(第9実施例)
上記の各実施例では、導電層52は、第1バスバー50の表面に備えられている(図3、図13、図14等参照)。第9実施例では、導電層52が第1バスバー50の表面から脱落したり、巻き付けシート10を巻き付ける際に位置ずれしたりすることを防ぐために、以下に説明する脱落防止加工が施されている。第9実施例では、図15に示すように、第1バスバー50の表面に備えられた導電層52の周囲に粘着材53が配置されている。粘着材53は、導電層52と第1バスバー50の表面とを仮止めする。これにより、導電層52が第1バスバー50の表面から脱落したり、巻き付けシート10を巻き付ける際に位置ずれしたりすることが抑制される。また、他の例では、第1バスバー50の表面に、導電層52の裏面側を収容するための凹部(図示省略)を形成し、その凹部に導電層52を収容し、凹部に収容された導電層52の周囲に粘着材53を配置することもできる。
(Ninth embodiment)
In each of the above embodiments, the conductive layer 52 is provided on the surface of the first bus bar 50 (see FIG. 3, FIG. 13, FIG. 14, etc.). In the ninth embodiment, in order to prevent the conductive layer 52 from falling off from the surface of the first bus bar 50 or from being displaced when the winding sheet 10 is wound, a dropping prevention process described below is performed. . In the ninth embodiment, as shown in FIG. 15, an adhesive material 53 is disposed around the conductive layer 52 provided on the surface of the first bus bar 50. The adhesive material 53 temporarily fixes the conductive layer 52 and the surface of the first bus bar 50. Thereby, it is suppressed that the conductive layer 52 falls off from the surface of the first bus bar 50 or is displaced when the winding sheet 10 is wound. In another example, a recess (not shown) for accommodating the back surface side of the conductive layer 52 is formed on the surface of the first bus bar 50, the conductive layer 52 is accommodated in the recess, and is accommodated in the recess. An adhesive material 53 can also be disposed around the conductive layer 52.

さらに他の例では、図16、図17に示すように、巻き付けシート10の第1バスバー設置部14に、コーナー保持部14a、バスバー挿通部14bに加えて、導電層保持部14cを形成する。導電層保持部14cは、バスバー挿通部14bと同様に、第1バスバー50を挿通可能な筒状に形成されている。導電層保持部14には、導電層52の中央部分52を露出させるための連通孔14dが開口されている。図17に示すように、この例の導電層52は、厚みのある中央部分52aの周囲に、中央部分52aよりも薄く形成された鍔部52bを備えている。この例では、第1バスバー設置部14に第1バスバー50を設置した際に、導電層保持部14cによって、導電層52の鍔部52bの表面が抑えられるとともに、導電層52の中央部分52aが、連通孔14dから表面に露出する。導電層保持部14cによって、導電層52の鍔部52bの表面が抑えられることにより、導電層52が第1バスバー50の表面から脱落したり、巻き付けシート10を巻き付ける際に位置ずれしたりすることが抑制される。   In still another example, as shown in FIGS. 16 and 17, a conductive layer holding portion 14 c is formed in the first bus bar installation portion 14 of the wound sheet 10 in addition to the corner holding portion 14 a and the bus bar insertion portion 14 b. The conductive layer holding part 14c is formed in a cylindrical shape into which the first bus bar 50 can be inserted, similarly to the bus bar insertion part 14b. The conductive layer holding portion 14 has a communication hole 14 d that exposes the central portion 52 of the conductive layer 52. As shown in FIG. 17, the conductive layer 52 of this example includes a flange portion 52b formed thinner than the central portion 52a around the thick central portion 52a. In this example, when the first bus bar 50 is installed in the first bus bar installation portion 14, the surface of the flange portion 52b of the conductive layer 52 is suppressed by the conductive layer holding portion 14c, and the central portion 52a of the conductive layer 52 is The surface is exposed from the communication hole 14d. The surface of the flange portion 52b of the conductive layer 52 is suppressed by the conductive layer holding portion 14c, so that the conductive layer 52 falls off the surface of the first bus bar 50 or is displaced when the winding sheet 10 is wound. Is suppressed.

(第10実施例)
第10実施例は、上記の第7実施例の変形例である。上記の第7実施例では、導電層82は、第2バスバー80の裏面に備えられている(図13参照)。この点、第10実施例では、図18に示すように、半導体素子70の裏面電極上に導電層82を備えている。また、導電層82は、厚みのある中央部分82aの周囲に、中央部分82aよりも薄く形成された鍔部82bを備えている。第10実施例では、導電層82の鍔部82bが、半導体素子70の裏面電極と巻き付けシート610の本体612の裏面との間に挟まれて保持されるとともに、導電層82の中央部分82aが、連通孔20を通って本体612の表面側に突出している。第10実施例では、巻き付けシート610を冷却器40に巻き付けることにより、本体612の表面側に突出した導電層82の中央部分82aが、第2バスバー80の裏面と接触する。第10実施例では、導電層82の鍔部82bが、半導体素子70の裏面電極と巻き付けシート610の本体612の裏面との間に挟まれて保持されることにより、導電層82が半導体素子70の裏面電極上から脱落したり、巻き付けシート610を巻き付ける際に位置ずれしたりすることが抑制される。
(Tenth embodiment)
The tenth embodiment is a modification of the seventh embodiment. In the seventh embodiment, the conductive layer 82 is provided on the back surface of the second bus bar 80 (see FIG. 13). In this regard, in the tenth embodiment, a conductive layer 82 is provided on the back electrode of the semiconductor element 70 as shown in FIG. In addition, the conductive layer 82 includes a collar portion 82b formed thinner than the central portion 82a around the thick central portion 82a. In the tenth embodiment, the flange portion 82b of the conductive layer 82 is sandwiched and held between the back electrode of the semiconductor element 70 and the back surface of the main body 612 of the winding sheet 610, and the central portion 82a of the conductive layer 82 is , Projecting to the surface side of the main body 612 through the communication hole 20. In the tenth embodiment, by winding the winding sheet 610 around the cooler 40, the central portion 82 a of the conductive layer 82 protruding to the front surface side of the main body 612 comes into contact with the back surface of the second bus bar 80. In the tenth embodiment, the brim portion 82b of the conductive layer 82 is sandwiched and held between the back electrode of the semiconductor element 70 and the back surface of the main body 612 of the winding sheet 610, so that the conductive layer 82 is held in the semiconductor element 70. Are prevented from falling off from above the back electrode or from being displaced when the winding sheet 610 is wound.

(第11実施例)
第11実施例は、上記の第8実施例の変形例である。上記の第8実施例では、導電層82は、第2バスバー80の裏面に備えられているとともに、導電層82の一部が、連通孔725を通って巻き付けシート710の本体712の裏面側に突出している(図14参照)。この点、第11実施例でも、図19に示すように、導電層82は、厚みのある中央部分82aの周囲に、中央部分82aよりも薄く形成された鍔部82bを備えている。第11実施例では、導電層82の鍔部82bが、第2バスバー80の裏面と巻き付けシート710の本体712の裏面との間に挟まれて保持されるとともに、導電層82の中央部分82aが、連通孔725を通って本体712の裏面側に突出している。第11実施例では、巻き付けシート710を冷却器40に巻き付けることにより、本体712の裏面側に突出した導電層82の中央部分82aが、半導体素子70の裏面電極と接触する。第10実施例では、導電層82の鍔部82bが、第2バスバー80の裏面と巻き付けシート710の本体712の裏面との間に挟まれて保持されることにより、導電層82が第2バスバー80の裏面から脱落したり、巻き付けシート710を巻き付ける際に位置ずれしたりすることが抑制される。
(Eleventh embodiment)
The eleventh embodiment is a modification of the eighth embodiment. In the eighth embodiment, the conductive layer 82 is provided on the back surface of the second bus bar 80, and a part of the conductive layer 82 passes through the communication hole 725 on the back surface side of the main body 712 of the wound sheet 710. It protrudes (see FIG. 14). In this regard, also in the eleventh embodiment, as shown in FIG. 19, the conductive layer 82 includes a flange 82b formed thinner than the central portion 82a around the thick central portion 82a. In the eleventh embodiment, the flange portion 82b of the conductive layer 82 is sandwiched and held between the back surface of the second bus bar 80 and the back surface of the main body 712 of the wound sheet 710, and the central portion 82a of the conductive layer 82 is , Projecting to the back side of the main body 712 through the communication hole 725. In the eleventh embodiment, by winding the winding sheet 710 around the cooler 40, the central portion 82 a of the conductive layer 82 protruding to the back surface side of the main body 712 comes into contact with the back electrode of the semiconductor element 70. In the tenth embodiment, the brim portion 82b of the conductive layer 82 is sandwiched and held between the back surface of the second bus bar 80 and the back surface of the main body 712 of the wound sheet 710, so that the conductive layer 82 is held in the second bus bar. It is possible to prevent falling off from the back surface of 80 or displacement when winding the winding sheet 710.

上記の各実施例の変形例を以下に列挙する。
(1)冷却器に巻き付けた巻き付けシートの外周に、さらに、Cu等の金属フィルム又は金属板を巻き付けてもよい。この際、冷却器とモジュールとの間の絶縁が確保できるように巻き付ける。その場合、冷却器のみならず、巻き付けた金属フィルム(金属板)からも放熱を行うことができ、半導体素子の冷却効率が向上する。
(2)冷却器に巻き付けた巻き付けシートの外周に、さらに防滴シートを巻き付けてもよい。これによって、半導体素子等の各要素に水滴が付着することを防止し得る。
(3)巻き付けシートの一部又は全面に粘着材を配置してもよい。これにより、冷却器に巻き付けシートを巻き付ける際に、粘着材で巻き付けシートを固定することにより、冷却器に巻き付けた巻き付けシートの位置ずれを防ぐことができる。
(4)巻き付けシートに配線パターンを形成してもよい。
(5)一つの巻き付けシートに複数の半導体素子を設置してもよい。この場合、設置する複数の半導体素子は、すべて同じものであっても、互いに異なるものであってもよい。
(6)冷却器と巻き付けシートのうちの一方に、位置決め用のピン(突起)を設け、冷却器と巻き付けシートのうちの他方に、巻き付けシートを巻き付けた際に上記ピンが嵌合する位置決め用の穴を設けてもよい。この場合、巻き付けシートを巻き付けた際に、ピンと穴とが嵌合することにより、巻き付けシートが位置決めされる。これにより、巻き付けシートを巻き付けた際の位置ずれを防ぐことができる。
(7)上記の各実施例では、半導体素子としてMOSFETを使用しているが、半導体素子はこれには限られず、IGBT、ダイオード等、種々の半導体素子を用いることができる。
Modifications of the above embodiments are listed below.
(1) A metal film such as Cu or a metal plate may be further wound around the outer periphery of the wound sheet wound around the cooler. At this time, the winding is performed so as to ensure insulation between the cooler and the module. In that case, heat can be radiated not only from the cooler but also from the wound metal film (metal plate), and the cooling efficiency of the semiconductor element is improved.
(2) A drip-proof sheet may be further wound around the outer periphery of the wound sheet wound around the cooler. This can prevent water droplets from adhering to each element such as a semiconductor element.
(3) An adhesive material may be disposed on a part or the entire surface of the wound sheet. Thereby, when winding a winding sheet around a cooler, the position shift of the winding sheet wound around the cooler can be prevented by fixing the winding sheet with an adhesive.
(4) A wiring pattern may be formed on the winding sheet.
(5) A plurality of semiconductor elements may be installed on one winding sheet. In this case, the plurality of semiconductor elements to be installed may be the same or different from one another.
(6) A positioning pin (protrusion) is provided on one of the cooler and the wrapping sheet, and the pin is fitted when the wrapping sheet is wound on the other of the cooler and the wrapping sheet. May be provided. In this case, when the winding sheet is wound, the pin and the hole are fitted to position the winding sheet. Thereby, the position shift at the time of winding a winding sheet | seat can be prevented.
(7) In each of the above embodiments, a MOSFET is used as a semiconductor element. However, the semiconductor element is not limited to this, and various semiconductor elements such as an IGBT and a diode can be used.

以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成し得るものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。   Specific examples of the present invention have been described in detail above, but these are merely examples and do not limit the scope of the claims. The technology described in the claims includes various modifications and changes of the specific examples illustrated above. The technical elements described in this specification or the drawings exhibit technical usefulness alone or in various combinations, and are not limited to the combinations described in the claims at the time of filing. In addition, the technology exemplified in this specification or the drawings can achieve a plurality of objects at the same time, and has technical usefulness by achieving one of the objects.

2:半導体モジュール
10:巻き付けシート
12:本体
14:第1バスバー設置部
14a:コーナー保持部
14b:バスバー挿通部
14c:導電層保持部
14d:連通孔
16:信号線保持部
18:第2バスバー設置部
18a:コーナー保持部
18b:バスバー挿通部
20:連通孔
22:素子設置部
24:バネ板設置部
24a:コーナー保持部
26:貫通孔
28:押さえ板設置部
28a:コーナー保持部
40:冷却器
50:第1バスバー
52:導電層
53:粘着材
54:凹部
60:信号線
70:半導体素子
74:表面電極
76:信号パッド
77:絶縁層
80:第2バスバー
82:導電層
90:バネ板
91:本体
92:凸部
98:押さえ板
102:半導体モジュール
170a〜170d:半導体素子
202:半導体モジュール
240:冷却器
270a〜270h:半導体素子
302:半導体モジュール
310a、310b:巻き付けシート
314a、314b:第1バスバー設置部
350a、350b:第1バスバー
360a、360b:信号線
402:半導体モジュール
410a、410b:巻き付けシート
450a、450b:第1バスバー
502:半導体モジュール
510:巻き付けシート
602:半導体モジュール
610:巻き付けシート
612:本体
702:半導体モジュール
710:巻き付けシート
712:本体
720、725:連通孔
2: Semiconductor module 10: Winding sheet 12: Body 14: First bus bar installation part 14a: Corner holding part 14b: Bus bar insertion part 14c: Conductive layer holding part 14d: Communication hole 16: Signal line holding part 18: Second bus bar installation Part 18a: Corner holding part 18b: Bus bar insertion part 20: Communication hole 22: Element installation part 24: Spring plate installation part 24a: Corner holding part 26: Through hole 28: Presser plate installation part 28a: Corner holding part 40: Cooler 50: first bus bar 52: conductive layer 53: adhesive material 54: recess 60: signal line 70: semiconductor element 74: surface electrode 76: signal pad 77: insulating layer 80: second bus bar 82: conductive layer 90: spring plate 91 : Main body 92: Convex portion 98: Presser plate 102: Semiconductor modules 170 a to 170 d: Semiconductor element 202: Semiconductor module 240: Cooler 27 a to 270h: semiconductor element 302: semiconductor module 310a, 310b: winding sheet 314a, 314b: first bus bar installation part 350a, 350b: first bus bar 360a, 360b: signal line 402: semiconductor module 410a, 410b: winding sheet 450a, 450b: first bus bar 502: semiconductor module 510: winding sheet 602: semiconductor module 610: winding sheet 612: main body 702: semiconductor module 710: winding sheet 712: main bodies 720, 725: communication holes

Claims (3)

巻き付けシートと、
前記巻き付けシートが巻き付けられる被巻き付け部材と、
前記巻き付けシートの第1バスバー設置部に設置される第1バスバーと、
前記巻き付けシートの第2バスバー設置部に設置される第2バスバーと、
前記巻き付けシートの素子設置部に設置される縦型の半導体素子と、を備えており、
前記巻き付けシートを前記被巻き付け部材に巻き付けると、前記素子設置部に設置された前記半導体素子の一方の表面と前記第1バスバー設置部に設置された前記第1バスバーとが電気的に接続すると共に、前記素子設置部に設置された前記半導体素子の他方の表面と前記第2バスバー設置部に設置された前記第2バスバーとが電気的に接続し、
前記巻き付けシートは、前記巻き付けシートの表面と裏面とを連通し、前記半導体素子の一方の表面と前記第1バスバー、又は、前記半導体素子の他方の表面と前記第2バスバーとを電気的に接続する連通孔を有している、
半導体モジュール。
A wrapping sheet;
A member to be wound on which the winding sheet is wound;
A first bus bar installed in a first bus bar installation section of the wound sheet;
A second bus bar installed in a second bus bar installation part of the wound sheet;
A vertical semiconductor element installed in the element installation part of the winding sheet,
When the winding sheet is wound around the member to be wound, one surface of the semiconductor element installed in the element installation unit and the first bus bar installed in the first bus bar installation unit are electrically connected. The other surface of the semiconductor element installed in the element installation part and the second bus bar installed in the second bus bar installation part are electrically connected,
The winding sheet communicates the front surface and the back surface of the winding sheet, and electrically connects one surface of the semiconductor element and the first bus bar, or the other surface of the semiconductor element and the second bus bar. Having a communicating hole,
Semiconductor module.
前記第1バスバー設置部と前記第2バスバー設置部は、前記巻き付けシートの一方の表面に設けられる一方で、前記素子設置部は、前記巻き付けシートの他方の表面に設けられており、
前記素子設置部は、前記巻き付けシートを前記被巻き付け部材に巻き付けた際に、前記第1バスバー設置部と対向する位置に設けられ、
前記第2バスバー設置部は、前記素子設置部の裏面側に設けられ、
前記連通孔は、第2バスバー設置部と素子設置部とを連通する位置に設けられ、
前記素子設置部に設置される前記半導体素子の他方の表面と、前記第2バスバーに設置される前記第2バスバーとは、前記連通孔を通じて電気的に接続可能となる、
請求項1に記載の半導体モジュール。
The first bus bar installation part and the second bus bar installation part are provided on one surface of the winding sheet, while the element installation part is provided on the other surface of the winding sheet,
The element installation part is provided at a position facing the first bus bar installation part when the winding sheet is wound around the member to be wound.
The second bus bar installation part is provided on the back side of the element installation part,
The communication hole is provided at a position where the second bus bar installation part and the element installation part communicate with each other.
The other surface of the semiconductor element installed in the element installation part and the second bus bar installed in the second bus bar can be electrically connected through the communication hole.
The semiconductor module according to claim 1.
前記被巻き付け部材は、冷却器である、
請求項1又は2に記載の半導体モジュール。
The member to be wound is a cooler.
The semiconductor module according to claim 1 or 2.
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JP (1) JP2013105776A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014113025A (en) * 2012-10-31 2014-06-19 Toshiba Corp Semiconductor power converter and manufacturing method of the same

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