JP2013076623A - Flatness measuring method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a flatness measuring method capable of accurately finding out flatness of a surface of a measuring object.SOLUTION: In the flatness measuring method, a laser measuring apparatus including a laser displacement meter, while scanning a laser beam, measures and inputs information on distances in an irradiation direction of the laser beam between the surface of the measuring object and a liquid level to be a measurement reference surface at a plurality of positions. Then, the distance information at the plurality of positions measured by the laser displacement meter and the position information of the plurality of positions scanned by the laser displacement meter are inputted to a computer. The computer calculates the flatness by searching such target parallel planes that, when measurement data expressing the position information and the distance information at respective measured positions as coordinates are expressed by points on a coordinate space, all points are held between two parallel planes and a distance between the two parallel planes is minimum, while changing an inclination of the two parallel planes.

Description

本発明は、測定対象物の表面の平面度を測定する平面度測定方法に関する。   The present invention relates to a flatness measuring method for measuring the flatness of a surface of a measurement object.

液晶ディスプレイやプラズマディスプレイなどのフラットパネルディスプレイ(以下、「FPD」という。)に用いるガラス基板には、厚さが例えば0.5〜0.7mmと薄いガラス板が用いられている。このFPD用ガラス基板は、例えば第1世代では300×400mmのサイズであるが、第10世代では2850×3050mmのサイズになっている。   As a glass substrate used for a flat panel display (hereinafter referred to as “FPD”) such as a liquid crystal display or a plasma display, a thin glass plate having a thickness of, for example, 0.5 to 0.7 mm is used. For example, the FPD glass substrate has a size of 300 × 400 mm in the first generation, but has a size of 2850 × 3050 mm in the tenth generation.

このような第8世代以降の大きなサイズのFPD用ガラス基板を製造するには、オーバーフローダウンドロー法が最もよく使用される。オーバーフローダウンドロー法は、成形炉において溶融ガラスを成形体の上部から溢れさせることにより成形体の下方において板状ガラスを成形する工程と、板状ガラスを徐冷炉において徐冷する工程とを含む。徐冷炉は、対になったローラ間に板状ガラスを引き込むことにより所望の厚さに引き伸ばした後、板状ガラスの内部歪や熱収縮を低減するように、板状ガラスを徐冷する。この後、板状ガラスは、所定の寸法に切断されてガラス板とされて他のガラス板上に積層されて保管される。あるいはガラス板は次工程に搬送される。オーバーフローダウンドロー法については、例えば、下記特許文献1に記載されている。   The overflow downdraw method is most often used to manufacture such a large glass substrate for FPD of the eighth generation or later. The overflow downdraw method includes a step of forming a sheet glass below the formed body by causing the molten glass to overflow from the upper part of the formed body in a forming furnace, and a step of gradually cooling the sheet glass in a slow cooling furnace. The slow cooling furnace draws the sheet glass between the pair of rollers and stretches the sheet glass to a desired thickness, and then slowly cools the sheet glass so as to reduce internal distortion and thermal shrinkage of the sheet glass. Thereafter, the plate-like glass is cut into a predetermined size to form a glass plate, which is laminated and stored on another glass plate. Or a glass plate is conveyed by the following process. The overflow downdraw method is described in Patent Document 1 below, for example.

このようなダウンドロー法に用いる成形体は精度良く作製され、成形体の表面は平面度が高いことが望まれている。これは、成形体の表面では、溶融ガラスが流れるため、板状ガラスが目標厚さになるように精度良く、しかも、場所によって厚さのばらつきがないように成形し、ひいてはガラス基板の厚さムラが生じないようにするためである。   It is desired that a molded body used in such a downdraw method is produced with high accuracy and that the surface of the molded body has high flatness. This is because the molten glass flows on the surface of the molded body, so that the glass sheet is accurately formed so as to have the target thickness and the thickness does not vary depending on the location. This is to prevent unevenness.

一方、測定の基準となる基準平面として液面を利用しつつ、測定精度の向上はもちろん、測定の操作性の向上およびを測定対象の制限の少ない実用的な平面度測定装置が知られている(特許文献2)。
上記平面度測定装置は、被測定面に沿って移動自在な平面度測定装置本体と、該平面度測定装置本体から独立して準理想平面となる基準液面を形成する液槽とを設け、前記平面度測定装置本体に、被測定面を機械的に倣う倣い手段および基準液面に対する上下動を計測する光式変位センサを上下動自在に装着し、基準液面と被測定面の差を測定することにより被測定面の平面度を測定する。
On the other hand, there is known a practical flatness measuring device that uses the liquid level as a reference plane as a measurement reference and improves measurement operability and has few restrictions on the measurement target as well as improving measurement accuracy. (Patent Document 2).
The flatness measuring device is provided with a flatness measuring device main body movable along the surface to be measured, and a liquid tank that forms a reference liquid surface that becomes a quasi-ideal plane independently from the flatness measuring device main body, The flatness measuring device main body is equipped with a copying means for mechanically copying the surface to be measured and an optical displacement sensor for measuring the vertical movement with respect to the reference liquid surface so as to be movable up and down. The flatness of the surface to be measured is measured by measuring.

特開2009−196879号公報JP 2009-196879 A 特開2008−224322号公報JP 2008-224322 A

しかし、上記平面度測定装置は被測定面を機械的に倣う倣い手段を用いて計測を行うので、精度の高い測定結果を得ることができない場合がある。また、上記平面度測定装置では、測定精度を高めるために倣い手段である測定輪の接触点の位置と、液面上の測定点とを垂直軸に対して一致させることが必要である。しかし、成形体のように測定対象物の被測定面が傾斜している場合、測定輪の接触点は、傾斜した被測定面において、液面上の測定点を通過する垂直軸上に位置しないため、精度高く測定することができない場合がある。   However, since the flatness measuring apparatus performs measurement using a copying unit that mechanically follows the surface to be measured, it may not be possible to obtain a highly accurate measurement result. Further, in the flatness measuring apparatus, it is necessary to match the position of the contact point of the measuring wheel, which is a copying means, with the measuring point on the liquid surface with respect to the vertical axis in order to increase the measurement accuracy. However, when the surface to be measured of the measurement object is inclined like a molded body, the contact point of the measurement wheel is not located on the vertical axis passing through the measurement point on the liquid level in the inclined surface to be measured. Therefore, there are cases where it is impossible to measure with high accuracy.

そこで、本発明は、従来技術とは異なる方式を用いて、測定対象物の表面の平面度を精度良く求めることができる平面度測定方法を提供することを目的とする。   Therefore, an object of the present invention is to provide a flatness measurement method capable of accurately obtaining the flatness of the surface of a measurement object using a method different from that of the prior art.

本発明の一態様は、測定対象物の表面の平面度を測定する平面度測定方法である。
当該方法は、
レーザ変位計を含むレーザ測定装置が、レーザ光を走査しながら、複数の位置における前記測定対象物の表面と測定基準面とする液面との間の、前記レーザ光の照射方向における距離の情報を測定して取り込むステップと、
前記レーザ変位計が測定した複数の位置における前記距離の情報と、前記レーザ変位計が走査した前記複数の位置の位置情報をコンピュータが取り込み、前記コンピュータが、測定した前記位置それぞれにおける前記位置情報と前記距離の情報を座標として表した測定データを、座標空間上の点で表したとき、前記点すべてが2つの平行平面の間に挟まれ、かつ前記2つの平行平面の間の距離が最小となる目標平行平面を、前記2つの平行平面の傾きを変えながら探索することにより、前記平面度を算出するステップと、を有する。
One embodiment of the present invention is a flatness measurement method for measuring the flatness of a surface of a measurement object.
The method is
Information on the distance in the irradiation direction of the laser light between the surface of the measurement object and the liquid surface as the measurement reference surface at a plurality of positions while the laser measuring device including the laser displacement meter scans the laser light Measuring and capturing
The computer captures the distance information at the plurality of positions measured by the laser displacement meter and the position information of the plurality of positions scanned by the laser displacement meter, and the computer captures the position information at each of the measured positions. When the measurement data representing the distance information as coordinates is represented by points on the coordinate space, all the points are sandwiched between two parallel planes, and the distance between the two parallel planes is the minimum. And searching for a target parallel plane, while changing the inclination of the two parallel planes, to calculate the flatness.

上記形態の平面度測定方法では、測定対象物の表面の平面度を精度良く求めることができる。   In the flatness measuring method of the said form, the flatness of the surface of a measuring object can be calculated | required accurately.

本実施形態の平面度測定方法を実施するシステムの概要を説明ずる図である。It is a figure explaining the outline | summary of the system which implements the flatness measuring method of this embodiment. 図1に示すシステムで用いるレーザフォーカス方式のレーザ変位計の構成を説明する図である。It is a figure explaining the structure of the laser displacement meter of a laser focus system used with the system shown in FIG. 図1に示すシステムで用いるデータ処理装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the data processor used with the system shown in FIG. (a)〜(c)は、本実施形態の平面度測定方法において行われる平行平面間距離の算出及び平面度の求め方を説明する図である。(A)-(c) is a figure explaining the calculation method of the distance between parallel planes calculated | required in the flatness measuring method of this embodiment, and the calculation method of flatness. 本実施形態の平面度測定方法の一例のフローを示す図である。It is a figure which shows the flow of an example of the flatness measuring method of this embodiment. (a)は、本実施形態に用いる成形体の外観斜視図であり、(b)は、溶融ガラスから板状ガラスを成形するときの成形体を流れる溶融ガラスの状態を示す図である。(A) is an external appearance perspective view of the molded object used for this embodiment, (b) is a figure which shows the state of the molten glass which flows through a molded object when shape | molding sheet glass from molten glass.

以下、本実施形態の平面度測定方法について説明する。
図1は、本実施形態の平面度測定方法を実施するシステム10の概要を説明ずる図である。
システム10は、レーザ測定装置12と、データ処理装置14と、水槽16と、を主に有する。測定対象物である後述する板状ガラスを成形する成形体18は水等の透明性を有する液体が収納された水槽16に沈められ液中に置かれる。本実施形態では、測定対象物として成形体18が用いられるが、ガラス板を用いることもできる。また、成形体18およびガラス板以外の対象物を測定対象物に用いることもできる。
Hereinafter, the flatness measurement method of this embodiment will be described.
FIG. 1 is a diagram for explaining the outline of a system 10 that implements the flatness measurement method of the present embodiment.
The system 10 mainly includes a laser measurement device 12, a data processing device 14, and a water tank 16. A molded body 18 for molding a sheet glass, which will be described later, which is an object to be measured, is submerged in a water tank 16 in which a liquid having transparency such as water is stored, and is placed in the liquid. In this embodiment, although the molded object 18 is used as a measuring object, a glass plate can also be used. Moreover, objects other than the molded object 18 and a glass plate can also be used for a measurement object.

レーザ測定装置12は、成形体18の表面と、測定基準面とする液面との間の距離の測定を行う。例えば、レーザ測定装置12は、レーザフォーカス方式の2つのレーザ変位計を用いて、成形体18の表面と液面の距離を別々に測定する。図2は、レーザフォーカス方式のレーザ変位計の構成を説明する図である。レーザフォーカス方式は、レーザ光源12a、ハーフミラー12b、コリメートレンズ12c、フォーカスレンズ12d、ピンホール12e、及び受光素子12fを備える。レーザ光源12aから出射されたレーザ光Lは、ハーフミラー12bを透過して、コリメートレンズ12cで平行光にされた後、フォーカスレンズ12dで光束が絞られて、測定対象物の表面に照射される。測定対象物の表面で反射された反射光は、フォーカスレンズ12d、コリメートレンズ12cを通り、ハーフミラー12bで反射された後、ピンホール12eを通過する。しかし、測定対象物の表面においてレーザ光がフォーカスされたときのみしか、ピンホール12eを通過して受光素子12fに受光されない。したがって、受光素子12fで最大の受光信号を得られるまで、フォーカスレンズ12dの位置を変化させる。これより、受光信号が最大となるときのフォーカスレンズ12dの位置から、フォーカスレンズ12dの位置と測定対象物の表面との間の距離が得られるので、この距離を用いて、レーザ光源12aから測定対象物の表面までの距離を測定することができる。レーザフォーカス方式は、例えば以下のアドレスに開示されているように、周知の方式である。
1317345340658_0.html
(2011年9月14日検索)
本実施形態ではレーザフォーカス方式のレーザ変位計を用いるが、この他に、周知の三角測距方式のレーザ変位計を用いることもできる。三角測距方式のレーザ変位計は、例えば、以下のアドレスに開示されている。
1317345340658_1.html
(2011年9月14日検索)
本実施形態では、2つのレーザ変位計を用いるが、成形体18の表面と、測定基準面とする液面との間の距離の測定を1つのレーザ変位計を用いて測定できるのであれば、1つのレーザ変位計を用いることもできる。
The laser measuring device 12 measures the distance between the surface of the molded body 18 and the liquid level as the measurement reference surface. For example, the laser measuring device 12 measures the distance between the surface of the molded body 18 and the liquid surface separately using two laser displacement meters of the laser focus method. FIG. 2 is a diagram for explaining the configuration of a laser displacement meter of the laser focus method. The laser focus method includes a laser light source 12a, a half mirror 12b, a collimator lens 12c, a focus lens 12d, a pinhole 12e, and a light receiving element 12f. The laser light L emitted from the laser light source 12a is transmitted through the half mirror 12b and converted into parallel light by the collimator lens 12c, and then the light beam is focused by the focus lens 12d and irradiated onto the surface of the measurement object. . The reflected light reflected from the surface of the measurement object passes through the focus lens 12d and the collimating lens 12c, is reflected by the half mirror 12b, and then passes through the pinhole 12e. However, only when the laser beam is focused on the surface of the measurement object, it passes through the pinhole 12e and is received by the light receiving element 12f. Therefore, the position of the focus lens 12d is changed until the maximum light receiving signal is obtained by the light receiving element 12f. As a result, the distance between the position of the focus lens 12d and the surface of the object to be measured can be obtained from the position of the focus lens 12d when the light reception signal becomes maximum, and measurement is performed from the laser light source 12a using this distance. The distance to the surface of the object can be measured. The laser focus method is a well-known method as disclosed in, for example, the following addresses.
1317345340658_0.html
(Search on September 14, 2011)
In this embodiment, a laser focus type laser displacement meter is used, but in addition to this, a known triangulation type laser displacement meter can also be used. The laser displacement meter of the triangulation system is disclosed at the following address, for example.
1317345340658_1.html
(Search on September 14, 2011)
In the present embodiment, two laser displacement meters are used, but if the measurement of the distance between the surface of the molded body 18 and the liquid surface as the measurement reference surface can be measured using one laser displacement meter, One laser displacement meter can also be used.

レーザ測定装置12は、測定対象物である成形体18の表面と、測定基準面とする液面16aとの間の距離の測定を行う。具体的には、レーザ測定装置12は、レーザ変位計のレーザ光Lを、成形体18と液面16aに対して相対的に走査(スキャン)しながら、複数の測定位置において、成形体18の表面と測定基準面とする液面16aとの間の距離を測定する。相対的に走査とは、レーザ光Lが、成形体18と液面16aに対して移動すればよく、成形体18と液面16aを固定した状態でレーザ光Lが移動してもよいし、レーザ光Lを固定した状態で、成形体18と液面16aが移動してもよい。しかし、液面16aが波うたないようにする点で、成形体18と液面16aを固定した状態でレーザ光Lが移動する走査が好ましい。走査は、図1に示すように液面16aのX方向とY方向にレーザ光Lを移動させながら成形体18の表面を2次元的に走査することが、後述する平面度を精度良く取得する点で好ましい。レーザ測定装置12は、測定した全ての位置におけるレーザ光Lの走査位置の情報、具体的には、液面16a上のX方向の位置座標であるX座標、液面16a上のY方向の位置座標であるY座標の位置情報と、測定により得られたレーザ光Lの照射方向における距離の情報(成形体18の表面と液面との間の距離の情報)とをデータ処理装置14に供給する。すなわち、レーザ測定装置12は、レーザ変位計が測定した距離の情報と、レーザ変位計が走査した測定位置の位置情報をデータ処理装置14に供給する。   The laser measurement device 12 measures the distance between the surface of the molded body 18 that is a measurement object and the liquid surface 16a that is the measurement reference surface. Specifically, the laser measurement device 12 scans the laser beam L of the laser displacement meter relative to the molded body 18 and the liquid surface 16a, and at a plurality of measurement positions, the laser beam L is measured. The distance between the surface and the liquid level 16a as the measurement reference surface is measured. In the relative scanning, the laser beam L may be moved with respect to the molded body 18 and the liquid surface 16a, or the laser beam L may be moved with the molded body 18 and the liquid surface 16a fixed. The molded body 18 and the liquid surface 16a may move while the laser beam L is fixed. However, scanning in which the laser light L moves in a state where the molded body 18 and the liquid surface 16a are fixed is preferable in terms of preventing the liquid surface 16a from wavy. As shown in FIG. 1, the surface of the molded body 18 is two-dimensionally scanned while moving the laser light L in the X and Y directions of the liquid surface 16a as shown in FIG. This is preferable. The laser measuring device 12 has information on the scanning position of the laser beam L at all measured positions, specifically, the X coordinate that is the position coordinate in the X direction on the liquid surface 16a, and the position in the Y direction on the liquid surface 16a. The position information of the Y coordinate, which is the coordinates, and the distance information in the irradiation direction of the laser light L obtained by measurement (the information of the distance between the surface of the molded body 18 and the liquid surface) are supplied to the data processing device 14. To do. That is, the laser measurement device 12 supplies the data processing device 14 with the information on the distance measured by the laser displacement meter and the position information on the measurement position scanned by the laser displacement meter.

データ処理装置14は、データ処理装置14内のメモリに記録されたソフトウェアを読み取ることによりコンピュータ上に形成されるソフトウェアモジュールによって構成される。
図3は、データ処理装置14の構成を示す図である。データ処理装置14は、CPU14a、メモリ14b、及び入出力部14cを有するコンピュータである。コンピュータの入出力部14cは、レーザ測定装置12と接続されるとともに、プリンタやディスプレイ等の出力装置15と接続されている。
メモリ14cには、本実施形態で行う後述するデータ処理を実行するプログラムが記録されており、このプログラムをコンピュータが呼び出して実行することにより、処理コントロール部14d、データ選択部14e、平面算出部14f、距離算出部14g、及び平面度算出部14hが形成される。すなわち、処理コントロール部14d、データ選択部14e、平面算出部14f、距離算出部14g、及び平面度算出部14hは、コンピュータの実行により機能するソフトウェアモジュールである。従って、これらの部分の計算は、実質的にはCPU14aが担当する。また、メモリ14bは、レーザ測定装置12から供給された距離の情報と測定位置の位置情報を測定データとして記録する。
The data processing device 14 is configured by a software module formed on a computer by reading software recorded in a memory in the data processing device 14.
FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of the data processing device 14. The data processing device 14 is a computer having a CPU 14a, a memory 14b, and an input / output unit 14c. The input / output unit 14c of the computer is connected to the laser measuring device 12 and to an output device 15 such as a printer or a display.
The memory 14c stores a program for executing data processing (to be described later) performed in the present embodiment. When the computer calls and executes this program, the processing control unit 14d, the data selection unit 14e, and the plane calculation unit 14f are recorded. A distance calculation unit 14g and a flatness calculation unit 14h are formed. That is, the process control unit 14d, the data selection unit 14e, the plane calculation unit 14f, the distance calculation unit 14g, and the flatness calculation unit 14h are software modules that function by execution of a computer. Accordingly, the calculation of these parts is substantially handled by the CPU 14a. The memory 14b records the distance information and the position information of the measurement position supplied from the laser measurement device 12 as measurement data.

処理コントロール部14dは、後述する平面度の算出に伴う各処理を指示、制御する部分である。処理コントロール部14dは、例えば、3点を表す3つの座標データの組の選択が所定の条件を満たすか否かを判定し、上記判定結果が肯定になるまで、後述する平行平面間距離の算出を繰り返し行うように各部分に指示を出し動作を制御する。
データ選択部14eは、3つの座標データの組を選択する。この3つの座標データは、後述するように、平面を算出するために用いる。選択される座標データは、図1に示すX方向のX座標、Y方向のY座標と、レーザ変位計のレーザ光の照射方向であるZ方向のZ座標を含むXYZ座標空間における座標データである。3つの座標データの選択の方法は、特に制限されず、例えば、XYZ座標空間上の3つの座標データの組を全くランダムに選択する方法、あるいは測定データの中から3つのデータの組の座標データを選択する方法であってもよい。また、後述する2つの平行な平面の傾きが予め設定された傾きであり、後述するように選択が繰り返されるたびに、傾きの角度が一定角度ずつ変化するような3つの座標データの組の選択であってもよい。
平面算出部14fは、選択された3つの座標データから、平面を求める。この平面は、3つの座標データの値が座標値として表される座標空間上の3点としたとき、この3点を用いて定まる平面である。
The process control unit 14d is a part that instructs and controls each process associated with the calculation of flatness described later. For example, the process control unit 14d determines whether or not selection of a set of three coordinate data representing three points satisfies a predetermined condition, and calculates a parallel plane distance described later until the determination result is affirmative. The operation is controlled by giving an instruction to each part so as to repeat.
The data selection unit 14e selects a set of three coordinate data. These three coordinate data are used to calculate a plane as will be described later. The selected coordinate data is coordinate data in the XYZ coordinate space including the X coordinate in the X direction and the Y coordinate in the Y direction shown in FIG. 1 and the Z coordinate in the Z direction that is the irradiation direction of the laser light of the laser displacement meter. . The method of selecting the three coordinate data is not particularly limited. For example, a method of selecting three coordinate data sets on the XYZ coordinate space at random, or coordinate data of three data sets from measurement data. The method of selecting may be used. Also, selection of a set of three coordinate data such that the inclination of two parallel planes to be described later is a preset inclination and the inclination angle changes by a certain angle each time selection is repeated as will be described later. It may be.
The plane calculation unit 14f calculates a plane from the three selected coordinate data. This plane is a plane determined by using these three points when the three coordinate data values are three points on the coordinate space represented as coordinate values.

距離算出部14gは、平面算出部14fで定まる平面を異なる方向に平行移動することにより2つの平行な平面P1,P2を作り、この2つの平行な平面P1,P2が、測定データの値によってXYZ座標空間上で表される点を全て挟む最も短い距離を算出する。この距離を平行平面間距離と呼ぶ。距離算出部14gは、算出した平行平面間距離をメモリ14bに記録するとともに、今回算出した平行平面間距離を、既に算出して平行平面間距離の最小の距離としてメモリ14bに記録した平面度候補と比較する。距離算出部14gは、今回算出した平行平面間距離が平面度候補に比べて小さい場合、この平行平面間距離を平面度候補として更新してメモリ14bに記録する。メモリ14bに記録した平面度候補が、今回算出した平行平面間距離以下である場合、平面度候補はそのまま維持される。こうして、距離算出部14gは、平面度候補を設定する。
なお、距離算出部14gがはじめて平行平面間距離を算出する場合、メモリ14bには、平面度候補は記録されていないので、はじめて算出した平行平面間距離が平面度候補として設定され、メモリ14bに記録される。
The distance calculation unit 14g creates two parallel planes P 1 and P 2 by translating the plane determined by the plane calculation unit 14f in different directions, and the two parallel planes P 1 and P 2 are measured data. The shortest distance between all the points represented in the XYZ coordinate space is calculated by the value of. This distance is called the distance between parallel planes. The distance calculation unit 14g records the calculated distance between parallel planes in the memory 14b, and also calculates the distance between the parallel planes calculated this time and has already calculated and recorded in the memory 14b as the minimum distance between the parallel planes. Compare with When the distance between parallel planes calculated this time is smaller than the flatness candidate, the distance calculation unit 14g updates the parallel plane distance as a flatness candidate and records it in the memory 14b. If the flatness candidate recorded in the memory 14b is less than or equal to the distance between the parallel planes calculated this time, the flatness candidate is maintained as it is. Thus, the distance calculation unit 14g sets the flatness candidate.
When the distance calculation unit 14g calculates the distance between the parallel planes for the first time, since the flatness candidate is not recorded in the memory 14b, the calculated distance between the parallel planes is set as the flatness candidate for the first time, and is stored in the memory 14b. To be recorded.

図4(a)〜(c)は、平行平面間距離の算出及び平面度の算出を説明する図である。例えば、測定データの位置情報と測定した位置における距離の情報をX座標、Y座標及びZ座標として含む測定データを、X座標、Y座標及びZ座標を各座標軸とする3次元座標空間上の点で表す。このとき上記座標空間上の点によって図4(a)に示すようななだらかな凹凸を有する面P0が形成された場合、この面P0の凹凸を全て挟むような2つの平行な平面P1,P2のうち、平行な平面間の距離が最も短くなるように平行な平面を定める。図4(b)に示す例は、距離算出部14gが、平面間距離の最も短い距離として平行平面間距離D1を算出する様子を示している。しかし、図4(b)の例では、平面P1,P2の向きが面P0の傾斜に沿うような平面でないため、平行平面間距離D1が平面度とはならない。
このような平行平面間距離の算出は、データ選択部14eで新たな3つの座標データの組が選択される度に行われる。
4A to 4C are diagrams illustrating the calculation of the distance between parallel planes and the calculation of flatness. For example, a point on a three-dimensional coordinate space in which measurement data including position information of measurement data and distance information at the measured position as X coordinates, Y coordinates, and Z coordinates is used as each coordinate axis. Represented by In this case if the surface P 0 with gentle irregularities as shown in FIG. 4 (a) by a point on the coordinate space is formed, two parallel planes P 1, such as to sandwich all the irregularities of the surface P 0 , P 2 , the parallel planes are determined so that the distance between the parallel planes is the shortest. Example shown in FIG. 4 (b), the distance calculating unit 14g is shows how to calculate the parallel plane distance D 1 as the shortest distance of the plane distance. However, in the example of FIG. 4B, since the directions of the planes P 1 and P 2 are not planes along the inclination of the plane P 0 , the parallel plane distance D 1 does not become flatness.
Such calculation of the distance between the parallel planes is performed every time a new set of three coordinate data is selected by the data selection unit 14e.

平面度算出部14hは、処理コントロール部14dの指示に基づいて、メモリ14bに記憶されている平面度候補を平面度として求める。処理コントロール部14dの指示は、3点を表す3つの座標データの組の選択が所定の条件を満たすとき、平面度算出部14hに送られる。所定の条件とは、例えば、上述したように、全くランダムな3つの座標データの組を選択する方法を用いる場合、選択の総回数が予め設定された回数、例えば100万回を越えるか否かをいう。また、測定データの中から3つの座標データの組を選択する方法を用いる場合、例えば、全測定データから3つのデータの組み合わせを全て選択したか否かをいう。また、2つの平行な平面P1,P2の傾きが予め設定された傾きであり、選択が繰り返されるたびに、傾きの角度が一定角度ずつ変化するように3つのデータの組を選択する方法を用いる場合、2つの平行な平面P1,P2の傾きが予め設定された全範囲、例えば−180度〜+180度の全範囲を変化したか否かをいう。
図4(c)に示すように、最小距離Dminは、面P0の傾斜に沿うような傾きを持った2つの平行な平面P1,P2間の平面間距離である。このような2つの平行平面が目標平行平面である。したがって、平面度算出部14hは、平行平面間距離の中で、最小となる距離Dminを成形体18の測定対象面の平面度として算出する。
The flatness calculation unit 14h obtains the flatness candidate stored in the memory 14b as the flatness based on an instruction from the process control unit 14d. The instruction of the processing control unit 14d is sent to the flatness calculation unit 14h when selection of a set of three coordinate data representing three points satisfies a predetermined condition. The predetermined condition is, for example, whether or not the total number of selections exceeds a preset number of times, for example, 1 million, when using a method of selecting a set of three completely random coordinate data as described above. Say. Further, when using a method of selecting a set of three coordinate data from measurement data, for example, it means whether or not all combinations of three data are selected from all measurement data. A method of selecting three data sets so that the inclinations of the two parallel planes P 1 and P 2 are preset inclinations, and the inclination angle changes by a constant angle each time selection is repeated. Is used, it means whether or not the inclination of the two parallel planes P 1 and P 2 has changed over the entire preset range, for example, the entire range of −180 degrees to +180 degrees.
As shown in FIG. 4 (c), the minimum distance D min is a plan distance between inclined along such inclination with two parallel planes P 1, P 2 of the surface P 0. Such two parallel planes are target parallel planes. Therefore, the flatness calculation unit 14h calculates the minimum distance Dmin among the parallel plane distances as the flatness of the measurement target surface of the molded body 18.

このように、本実施形態のシステム10では、XYZ座標空間上で上記測定データを点で表したとき、この点すべてが2つの平行平面の間に挟まれ、かつこの2つの平行な平面の間の平面間距離が最小となる目標平行平面を、2つの平行な平面の傾きを変えながら探索することにより、平面度を算出する。このため、本実施形態は、精度の高い平面度をデータ処理によって算出することができる。
測定対象物である成形体18は、水等の透明性を有する液体の中に置かれ、液面は液体の液面である。したがって、本実施形態のシステム10では、液面は水平面となるので、水平面を基準にした測定を用いて精度の高い平面度を算出することができる。
As described above, in the system 10 of the present embodiment, when the measurement data is represented by a point in the XYZ coordinate space, all of the points are sandwiched between the two parallel planes, and between the two parallel planes. The degree of flatness is calculated by searching for a target parallel plane that minimizes the distance between the planes while changing the inclination of the two parallel planes. For this reason, this embodiment can calculate flatness with high accuracy by data processing.
The molded body 18 that is a measurement object is placed in a transparent liquid such as water, and the liquid level is the liquid level. Therefore, in the system 10 of this embodiment, since the liquid level becomes a horizontal plane, it is possible to calculate the flatness with high accuracy using the measurement based on the horizontal plane.

本実施形態では、成形体18は、透明性を有する液体、例えば水等の中に置かれ、液面は上記液体の液面である。しかし、成形体18は、透明性を有する液体の中に置かれなくてもよい。例えば、透明性を有する液体を収納した透明性を有する容器を、レーザ変位計と成形体18との間に配置し、上記容器内の液体の液面までの距離をレーザ光及び反射光で測定するとともに、上記容器及び液体を透過するレーザ光及び反射光を用いて成形体18の表面までの距離を測定することにより、液面と成形体18の表面との間の距離を測定することもできる。   In the present embodiment, the molded body 18 is placed in a liquid having transparency, such as water, and the liquid level is the level of the liquid. However, the molded body 18 may not be placed in a liquid having transparency. For example, a transparent container containing a transparent liquid is disposed between the laser displacement meter and the molded body 18, and the distance to the liquid level of the liquid in the container is measured with laser light and reflected light. In addition, the distance between the liquid surface and the surface of the molded body 18 may be measured by measuring the distance to the surface of the molded body 18 using laser light and reflected light that pass through the container and the liquid. it can.

図5は、本実施形態の平面度測定方法のフローを示す図である。
まず、レーザ測定装置12は、レーザ変位計が成形体18の表面に照射するレーザ光Lを走査しながら、複数の位置における成形体18の表面と測定基準面とする液面との間の距離の情報を測定する。(ステップS10)。測定により得られた位置情報と距離の情報は、データ処理装置14に供給される。
FIG. 5 is a diagram showing a flow of the flatness measuring method of the present embodiment.
First, the laser measuring device 12 scans the laser beam L applied to the surface of the molded body 18 by the laser displacement meter, and the distance between the surface of the molded body 18 and the liquid surface as the measurement reference plane at a plurality of positions. Measure information. (Step S10). The position information and distance information obtained by the measurement are supplied to the data processing device 14.

データ処理装置14は、入出力部14cを介して供給された位置情報と距離の情報を測定データとしてメモリ14bに取り込んで記録する。これにより、コンピュータによる測定データの取り込みが行われる(ステップS20)。   The data processing device 14 captures and records the position information and distance information supplied via the input / output unit 14c as measurement data in the memory 14b. Thereby, the measurement data is taken in by the computer (step S20).

次に、データ選択部14eは、3つの座標データの組を選択する(ステップS30)。3つの座標データの組の選択方法は特に制限されないが、少なくとも同じ組を選択しないように組が選択される。選択方法は、XYZ座標空間上の3つの座標データの組を全くランダムに選択する方法、あるいは測定データの中から3つのデータの組の座標データを選択する方法であってもよい。また、2つの平行な平面の傾きが予め設定された傾きであり、選択が繰り返されるたびに、傾きの角度が一定角度ずつ変化するような3つの座標データの組の選択方法である。   Next, the data selection unit 14e selects a set of three coordinate data (step S30). The method for selecting the three sets of coordinate data is not particularly limited, but the sets are selected so that at least the same set is not selected. The selection method may be a method of selecting a set of three coordinate data on the XYZ coordinate space at random, or a method of selecting coordinate data of a set of three data from measurement data. Further, this is a method of selecting a set of three coordinate data in which the inclinations of two parallel planes are inclinations set in advance and the inclination angle changes by a certain angle each time selection is repeated.

次に、平面算出部14fは、選択された3つの座標データを用いて2つの平行な平面P1,P2を求める(ステップS40)。具体的には、平面算出部14fは、選択された3つの座標データの値が座標値として表されるXYZ座標空間上の3点によって作られる平面を定め、この平面を、平面に垂直な異なる2方向に移動して、お互いに平行な平面P1,P2を求める。 Next, the plane calculation unit 14f obtains two parallel planes P 1 and P 2 using the selected three coordinate data (step S40). Specifically, the plane calculation unit 14f determines a plane formed by three points on the XYZ coordinate space in which the values of the selected three coordinate data are expressed as coordinate values, and this plane is different from the plane perpendicular to the plane. Moving in two directions, planes P 1 and P 2 parallel to each other are obtained.

次に、距離算出部14gは、平面P1,P2間の距離を縮め、全測定データのそれぞれの値が座標値として表されるXYZ座標空間上の点により表される点が全て平面P1,P2間に挟まれる最も短い距離である平行平面間距離を算出する(ステップS50)。この平行平面間距離が例えば、図2(b)における平行平面間距離D1となる。算出された平行平面間距離は、メモリ14bに記録される。
さらに、距離算出部14gは、算出した平行平面間距離を、以前算出して平行平面間距離の最小値としてメモリ14bに記録した平面度候補との比較を行う。距離算出部14gは、今回算出した平行平面間距離が平面度候補に比べて小さい場合、この平行平面間距離を平面度候補として更新しメモリ14bに記録する。メモリ14bに記録した平面度候補が、今回算出した平行平面間距離以下である場合、平面度候補は、そのまま維持される。こうして、距離算出部14gは、平面度候補を設定する(ステップS55)。なお、距離算出部14gがはじめて平行平面間距離を算出する場合、メモリ14bには、平面度候補は記録されていないので、はじめて算出した平行平面間距離が平面度候補として設定され、メモリ14bに記録される。
Next, the distance calculation unit 14g reduces the distance between the planes P 1 and P 2 , and all the points represented by the points in the XYZ coordinate space in which the values of all the measurement data are expressed as coordinate values are all in the plane P. 1, to calculate the parallel plane distance is the shortest distance to be sandwiched between P 2 (step S50). This parallel plane distance is, for example, the parallel plane distance D 1 in FIG. The calculated distance between parallel planes is recorded in the memory 14b.
Further, the distance calculation unit 14g compares the calculated distance between parallel planes with the flatness candidate previously calculated and recorded in the memory 14b as the minimum value of the parallel plane distance. When the distance between parallel planes calculated this time is smaller than the flatness candidate, the distance calculation unit 14g updates the parallel plane distance as a flatness candidate and records it in the memory 14b. If the flatness candidate recorded in the memory 14b is less than or equal to the distance between the parallel planes calculated this time, the flatness candidate is maintained as it is. Thus, the distance calculation unit 14g sets the flatness candidate (step S55). When the distance calculation unit 14g calculates the distance between the parallel planes for the first time, since the flatness candidate is not recorded in the memory 14b, the calculated distance between the parallel planes is set as the flatness candidate for the first time, and is stored in the memory 14b. To be recorded.

次に、処理コントロール部14dは、3点の座標データの組の選択が所定の条件を満たすか否かを判定する(ステップS60)。所定の条件とは、例えば、上述したように、全くランダムな3つの座標データの組を選択する方法を用いる場合、選択の総回数が予め設定された回数、例えば100万回を越えるか否かをいう。また、測定データの中から3つの座標データの組を選択する方法を用いる場合、例えば、全測定データから3つのデータの組み合わせを全て選択したか否かをいう。また、2つの平行な平面P1,P2の傾きが予め設定された傾きであり、選択が繰り返されるたびに、傾きの角度が一定角度ずつ変化するように3つのデータの組を選択する方法を用いる場合、2つの平行な平面P1,P2の傾きが予め設定された全範囲、例えば−180度〜+180度の全範囲を変化したか否かをいう。
上記判定の結果が否定である場合(NOである場合)、処理コントロール部14dは、ステップS30に戻って、データ選択部14eが先に選択した座標データの組と異なる座標データの組を新たに選択するように指示する。
Next, the process control unit 14d determines whether or not the selection of the three-point coordinate data set satisfies a predetermined condition (step S60). The predetermined condition is, for example, whether or not the total number of selections exceeds a preset number of times, for example, 1 million, when using a method of selecting a set of three completely random coordinate data as described above. Say. Further, when using a method of selecting a set of three coordinate data from measurement data, for example, it means whether or not all combinations of three data are selected from all measurement data. A method of selecting three data sets so that the inclinations of the two parallel planes P 1 and P 2 are preset inclinations, and the inclination angle changes by a constant angle each time selection is repeated. Is used, it means whether or not the inclination of the two parallel planes P 1 and P 2 has changed over the entire preset range, for example, the entire range of −180 degrees to +180 degrees.
If the result of the determination is negative (if NO), the process control unit 14d returns to step S30 and newly sets a coordinate data set different from the coordinate data set previously selected by the data selection unit 14e. Instruct to select.

上記判定の結果が肯定である場合(YESである場合)、平面度算出部14hが平面度を求めるように、処理コントロール部14dは指示をする。これにより、平面度算出部14hは、距離算出部14gで設定されメモリ14bに記録されている平面度候補を呼び出して、平面度として求める(ステップS70)。求めた平面度は、出力装置15に送られ、平面度が画面表示され、あるいはプリント出力される。   If the result of the determination is affirmative (if YES), the process control unit 14d instructs the flatness calculation unit 14h to obtain the flatness. Thereby, the flatness calculation unit 14h calls the flatness candidates set by the distance calculation unit 14g and recorded in the memory 14b, and obtains them as flatness (step S70). The obtained flatness is sent to the output device 15, and the flatness is displayed on the screen or printed out.

このように、コンピュータで形成されるデータ処理装置14は、3つの座標データの組の選択が所定の条件を満たすまで繰り返し行い、この選択を行う度に、選択された3つの座標データから2つの平行な平面P1,P2を求めることにより平行平面間距離Dk(k=1〜Nの整数)を求め、3つの座標データの選択が所定条件を満たすとき、求められた平行平面間距離Dkのうち最小の距離Dminを平面度として求める。
本実施形態では、距離算出部14gは、平行平面間距離を算出する度に、平面度候補を設定する。しかし、距離算出部14gは平行平面間距離を算出する度に、平面度候補を設定しなくてもよい。この場合、ステップS60における判定が肯定であるとき、平面度算出部14hは、平行平面間距離を算出するたびにメモリ14bに記録した複数の平行平面間距離の中から最小の距離を求め、この最小の距離を平面度として求めることもできる。
As described above, the data processing device 14 formed by the computer repeatedly performs the selection of the three coordinate data sets until a predetermined condition is satisfied, and each time this selection is performed, two data are selected from the selected three coordinate data. The parallel plane distances D k (k = 1 to N) are obtained by calculating the parallel planes P 1 and P 2, and when the selection of the three coordinate data satisfies a predetermined condition, the calculated parallel plane distances The minimum distance D min among D k is obtained as flatness.
In this embodiment, the distance calculation unit 14g sets a flatness candidate every time the distance between parallel planes is calculated. However, the distance calculation unit 14g may not set the flatness candidate every time the distance between parallel planes is calculated. In this case, when the determination in step S60 is affirmative, the flatness calculating unit 14h obtains the minimum distance from the plurality of parallel plane distances recorded in the memory 14b each time the parallel plane distance is calculated. The minimum distance can be obtained as flatness.

本実施形態で用いる測定対象物の表面は、溶融ガラスからダウンドロー法により板状ガラスを成形する成形体18の表面であり、成形体18の表面は、ダウンドロー法において溶融ガラスが流れる面である。成形体18の溶融ガラスが流れる表面は、ガラス板の凹凸を形成しないように高い平面度を有することが望ましい。この点で、本実施形態のシステム10において、成形体18を測定対象物にすることは有効である。しかし、測定対象物は、これ以外の対象物であってもよい。例えば、測定対象物の表面は、ガラス板の表面であってもよい。   The surface of the measurement object used in the present embodiment is the surface of a molded body 18 that forms a sheet glass from molten glass by a downdraw method, and the surface of the molded body 18 is a surface through which the molten glass flows in the downdraw method. is there. It is desirable that the surface of the molded body 18 through which the molten glass flows has high flatness so as not to form irregularities on the glass plate. In this respect, in the system 10 of the present embodiment, it is effective to use the molded body 18 as a measurement object. However, the measurement object may be another object. For example, the surface of the measurement object may be the surface of a glass plate.

(成形体)
図6(a)は、成形体18の外観斜視図である。図6(b)は、溶融ガラスMGから板状ガラスGを成形するときの成形体18を流れる溶融ガラスの状態を示す図である。
成形体18は、A方向に長尺状に細長く、断面が五角形の楔形形状を成している。成形体18は、供給溝18a、上面18b、側面18c、下部傾斜面18d、及び、最下端稜線18eを備える。成形体18の供給溝18aには、溶融ガラスMGが流れるので、溶融ガラスMGが上方から下方斜めに流れるように、傾斜溝18aが傾斜する。このため、成形体18は、A方向に進むほど、最下端稜線18eと上面18bとの間の距離は短くなっている。すなわち、最下端稜線18eを水平面上に置いたとき、上面18bは、A方向に向かって下方に傾斜している。
(Molded body)
FIG. 6A is an external perspective view of the molded body 18. FIG. 6B is a diagram showing a state of the molten glass flowing through the molded body 18 when the sheet glass G is formed from the molten glass MG.
The molded body 18 is elongated in the A direction and has a wedge shape with a pentagonal cross section. The molded body 18 includes a supply groove 18a, an upper surface 18b, a side surface 18c, a lower inclined surface 18d, and a lowermost edge line 18e. Since the molten glass MG flows through the supply groove 18a of the molded body 18, the inclined groove 18a is inclined so that the molten glass MG flows obliquely downward from above. For this reason, the distance between the lowest edge ridge line 18e and the upper surface 18b of the molded body 18 decreases as it advances in the A direction. That is, when the lowermost edge line 18e is placed on the horizontal plane, the upper surface 18b is inclined downward in the A direction.

成形体18の上部には、溶融ガラスが流れる供給溝18aが設けられ、供給溝18aの溝深さはA方向に行くほど浅くなって、最終的に供給溝18aはなくなっている。したがって、このような供給溝18aを流れる溶融ガラスMGは、図6(b)に示すように、溝の途中で供給溝18aから供給溝18aの両側に設けられた上面18b、18bに二手にわかれて溢れ出す。上面18b、18bから溢れ出した溶融ガラスは、側面18c、18cを経て下部傾斜面18d、18dを流れ、最下端稜線18eに至る。
最下端稜線18eにおいて、二手に分かれて流れた溶融ガラスMGが合流して1つの板状ガラスが成形される。このとき、搬送ローラ20により板状ガラスGの幅方向の両端部が引っ張られ、かつ、搬送ローラ20により冷却される。これにより、板状ガラスGは一定の厚さ一定の幅を有するガラスとして図示されない徐冷炉に搬送される。徐冷炉において、歪みや反り等の変形が生じないように調整された雰囲気温度と搬送速度の条件の下、板状ガラスGは徐冷される。この後、図示されない切断装置で板状ガラスGは一定の長さに切断され、さらに、切断された板状ガラスGが所定のサイズのガラス板になるように採断されてガラス板が成形される。
A supply groove 18a through which molten glass flows is provided in the upper part of the molded body 18, and the groove depth of the supply groove 18a becomes shallower in the A direction, and finally the supply groove 18a disappears. Accordingly, the molten glass MG flowing through the supply groove 18a is split into two upper surfaces 18b and 18b provided on both sides of the supply groove 18a from the supply groove 18a in the middle of the groove, as shown in FIG. 6 (b). Overflowing. The molten glass overflowing from the upper surfaces 18b and 18b flows through the lower inclined surfaces 18d and 18d via the side surfaces 18c and 18c, and reaches the lowermost edge line 18e.
At the lowest edge ridge line 18e, the molten glass MG that has flowed in two hands merges to form one plate-like glass. At this time, both ends of the sheet glass G in the width direction are pulled by the transport roller 20 and cooled by the transport roller 20. Thereby, the sheet glass G is conveyed to the slow cooling furnace which is not illustrated as glass which has a fixed thickness and a fixed width. In the slow cooling furnace, the glass sheet G is slowly cooled under the conditions of the atmospheric temperature and the conveyance speed adjusted so as not to cause deformation such as distortion and warpage. Thereafter, the sheet glass G is cut to a certain length by a cutting device (not shown), and the cut sheet glass G is cut into a glass plate of a predetermined size to form a glass plate. The

このように、成形体18は、板状ガラスを溶融ガラスMGから成形するので、成形体18の溶融ガラスが流れる上面18b、側面18c、下部傾斜面18dにおける平面度が目標どおり精度よく製作されていることが、板状ガラスGの厚さ、さらにはガラス板の厚さをムラ無く一定にする上で重要である。このため、成形体18の上面18b、側面18c、下部傾斜面18dの平面度を測定することは重要である。特に、成形体18の上面18bはA方向に向かって下方に傾斜しているので、傾斜した状態でも平面度が正確に測定できることが必要である。本実施形態のシステム10では、測定対象物の表面が傾斜していても精度の高い平面度を算出することができるので、成形体18の上面18bの平面度を測定する上で、システム10で行う平面度測定方法は有用である。また、下降傾斜面18dも水平面に平行に置くことは難しく、傾斜した測定面となるので、システム10で行う平面度測定方法は有用である。   Thus, since the molded object 18 shape | molds plate-shaped glass from molten glass MG, the flatness in the upper surface 18b through which the molten glass of the molded object 18 flows, the side surface 18c, and the lower inclined surface 18d is manufactured with high precision as a target. It is important that the thickness of the plate glass G and further the thickness of the glass plate are made uniform. For this reason, it is important to measure the flatness of the upper surface 18b, the side surface 18c, and the lower inclined surface 18d of the molded body 18. In particular, since the upper surface 18b of the molded body 18 is inclined downward in the A direction, it is necessary that the flatness can be accurately measured even in the inclined state. In the system 10 of this embodiment, even when the surface of the measurement object is inclined, it is possible to calculate the flatness with high accuracy. Therefore, in measuring the flatness of the upper surface 18b of the molded body 18, the system 10 The flatness measurement method to be performed is useful. Further, it is difficult to place the descending inclined surface 18d parallel to the horizontal plane, and the inclined measuring surface becomes an inclined measuring surface. Therefore, the flatness measuring method performed by the system 10 is useful.

以上、本発明の平面度測定方法について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。   The flatness measuring method of the present invention has been described in detail above. However, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications and changes may be made without departing from the spirit of the present invention. It is.

10 システム
12 レーザ測定装置
12a レーザ光源
12b ハーフミラー
12c コリメートレンズ
12d フォーカスレンズ
12e ピンホール
12f 受光素子
14 データ処理装置
14a CPU
14b メモリ
14c 入出力部
14d 処理コントロール部
14e データ選択部
14f 平面算出部
14g 距離算出部
14h 平面度算出部
15 出力装置
16 水槽
16a 液面
18 成形体
18a 供給溝
18b 上面
18c 側面
18d 下部傾斜面
18e 最下端稜線
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 System 12 Laser measuring apparatus 12a Laser light source 12b Half mirror 12c Collimating lens 12d Focus lens 12e Pinhole 12f Light receiving element 14 Data processing apparatus 14a CPU
14b Memory 14c Input / output unit 14d Processing control unit 14e Data selection unit 14f Plane calculation unit 14g Distance calculation unit 14h Flatness calculation unit 15 Output device 16 Water tank 16a Liquid surface 18 Molded body 18a Supply groove 18b Upper surface 18c Side surface 18d Lower inclined surface 18e Bottom edge ridgeline

Claims (6)

測定対象物の表面の平面度を測定する平面度測定方法であって、
レーザ変位計を含むレーザ測定装置が、レーザ光を走査しながら、複数の位置における前記測定対象物の表面と測定基準面とする液面との間の、前記レーザ光の照射方向における距離の情報を測定して取り込むステップと、
前記レーザ変位計が測定した複数の位置における前記距離の情報と、前記レーザ変位計が走査した前記複数の位置の位置情報をコンピュータが取り込み、前記コンピュータが、測定した前記位置それぞれにおける前記位置情報と前記距離の情報を座標として表した測定データを、座標空間上の点で表したとき、前記点すべてが2つの平行平面の間に挟まれ、かつ、該2つの平行平面の間の距離が最小となる目標平行平面を、前記2つの平行平面の傾きを変えながら探索することにより、前記平面度を算出するステップと、を有することを特徴とする平面度測定方法。
A flatness measurement method for measuring the flatness of the surface of a measurement object,
Information on the distance in the irradiation direction of the laser light between the surface of the measurement object and the liquid surface as the measurement reference surface at a plurality of positions while the laser measuring device including the laser displacement meter scans the laser light Measuring and capturing
The computer captures the distance information at the plurality of positions measured by the laser displacement meter and the position information of the plurality of positions scanned by the laser displacement meter, and the computer captures the position information at each of the measured positions. When the measurement data representing the distance information as coordinates is represented by points on the coordinate space, all of the points are sandwiched between two parallel planes, and the distance between the two parallel planes is the minimum. And a step of calculating the flatness by searching for a target parallel plane, while changing the inclination of the two parallel planes.
前記測定対象物は、透明性を有する液体の中に置かれ、前記液面は前記液体の液面である、請求項1に記載の平面度測定方法。   The flatness measurement method according to claim 1, wherein the measurement object is placed in a liquid having transparency, and the liquid level is a liquid level of the liquid. 前記コンピュータは、前記2つの平行平面の傾きを変えることにより前記2つの平行平面の間の距離が最小となる最小距離を、前記平面度として求める、請求項1または2に記載の平面度測定方法。   The flatness measurement method according to claim 1, wherein the computer obtains, as the flatness, a minimum distance that minimizes a distance between the two parallel planes by changing an inclination of the two parallel planes. . 前記コンピュータは、前記複数の測定データの中から3つのデータの選択を行なう処理を、前記測定データの中から選択される3つのデータの組み合わせが全て選択されるまで繰り返し行い、前記選択を行う度に、選択された前記3つのデータから前記2つの平行平面を求めることにより前記2つの平行平面間の距離が最も短くなる距離を平行平面間距離として求め、前記3つのデータの組み合わせを全て選択したとき、求められた前記平行平面間距離のうち最小の距離を前記平面度として求める、請求項1〜3のいずれか1項に記載の平面度測定方法。   The computer repeatedly performs a process of selecting three data from the plurality of measurement data until all combinations of three data selected from the measurement data are selected, and each time the selection is performed. Further, by obtaining the two parallel planes from the selected three data, the distance between the two parallel planes is determined as the distance between the parallel planes, and all combinations of the three data are selected. The flatness measurement method according to any one of claims 1 to 3, wherein a minimum distance among the obtained distances between the parallel planes is obtained as the flatness. 前記測定対象物は、溶融ガラスからダウンドロー法により板状ガラスを成形する成形体であり、前記成形体の表面は、ダウンドロー法において溶融ガラスが流れる面である、請求項1〜4のいずれか1項に記載の平面度測定方法。   The said measurement object is a molded object which shape | molds plate-like glass from a molten glass by a downdraw method, The surface of the said molded object is a surface through which a molten glass flows in a downdraw method. The flatness measuring method according to claim 1. 前記測定対象物の表面は、ガラス板の表面である、請求項1〜4のいずれか1項に記載の平面度測定方法。   The flatness measurement method according to claim 1, wherein the surface of the measurement object is a surface of a glass plate.
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