JP2012208318A - Pulse generation circuit, pulse generation method, scanning circuit, display device, and electronic apparatus - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pulse generation circuit, capable of generating a pulse signal of a desired transition speed by a self circuit operation, and to provide its generation method, a scanning circuit using the pulse generation circuit, a display device using the scanning circuit, and an electronic apparatus having the display device.SOLUTION: The pulse generation circuit includes two switch elements that are connected in series between two power supplies and complementarily performs on/off operation according to an input pulse logic, and that generates a pulse signal of a desired transition speed in annihilation of pulse. Out of the two power supplies, one power supply in the same polarity side as that of the input pulse is defined as a fixed power supply voltage, and the other power supply is configured to be switchable among a plurality of power-supply voltages.

Description

本開示は、パルス生成回路、パルス生成方法、走査回路、表示装置、及び、電子機器に関し、特に、所望の遷移速度のパルス信号を生成するパルス生成回路、その生成方法、当該パルス生成回路を用いる走査回路、当該走査回路を用いる表示装置、及び、当該表示装置を有する電子機器に関する。   The present disclosure relates to a pulse generation circuit, a pulse generation method, a scanning circuit, a display device, and an electronic apparatus, and in particular, uses a pulse generation circuit that generates a pulse signal having a desired transition speed, a generation method thereof, and the pulse generation circuit. The present invention relates to a scanning circuit, a display device using the scanning circuit, and an electronic apparatus including the display device.

パルス生成回路は、立ち下がりあるいは立ち上がりの遷移速度が速い、即ち、立ち下がりあるいは立ち上がりの波形が急峻なパルス信号を生成するものとして一般的に知られている。これに対して、パルス生成回路の一種として、パルス消滅時に所望の遷移速度、即ち、立ち下がりあるいは立ち上がりの波形が緩やかなパルス信号を生成するパルス生成回路がある。   The pulse generation circuit is generally known as a circuit that generates a pulse signal having a fast falling or rising transition speed, that is, a steep falling or rising waveform. On the other hand, as one type of pulse generation circuit, there is a pulse generation circuit that generates a pulse signal with a desired transition speed, that is, a slow falling or rising waveform when the pulse disappears.

パルス消滅時の立ち下がりあるいは立ち上がりの波形が緩やかなパルス信号を生成するパルス生成回路は、一例として、表示装置の走査回路において、例えば立ち下がりの波形が緩やかな走査パルスを出力する出力回路として用いられている(例えば、特許文献1参照)。   For example, a pulse generation circuit that generates a pulse signal with a gradual falling or rising waveform when the pulse disappears is used as an output circuit that outputs a scanning pulse with a gradual falling waveform in a scanning circuit of a display device. (For example, refer to Patent Document 1).

この従来技術では、表示パネルの外部のディスクリート基板にて立ち下がりの波形が緩やかな電源電圧を生成する構成を採っている。そして、この立ち下がりの波形が緩やかな電源電圧を、表示パネル上の走査回路の出力回路における最終段バッファの電源電圧として用いて、その立ち下がりの遷移速度を利用することにより、パルス消滅時の立ち下がりの波形が緩やかな走査パルスを出力(生成)するようにしている。   This prior art employs a configuration in which a power supply voltage with a gradual falling waveform is generated on a discrete substrate outside the display panel. Then, by using the power supply voltage with a gradual falling waveform as the power supply voltage of the final stage buffer in the output circuit of the scanning circuit on the display panel, and using the transition speed of the falling edge, the pulse voltage disappears. A scanning pulse with a gradual falling waveform is output (generated).

特開2008−181039号公報JP 2008-181039 A

特許文献1に記載の従来技術のように、ディスクリート基板にて生成された電源電圧の立ち下がりの遷移速度を利用する構成を採ると、ディスクリート基板を設ける分だけ部品が増え、また、余計にコストがかかるために、表示装置の小型化や低コスト化の妨げになる。   As in the prior art described in Patent Document 1, when the configuration using the transition speed of the falling of the power supply voltage generated by the discrete board is employed, the number of parts increases by the provision of the discrete board, and the cost increases. Therefore, it becomes an obstacle to miniaturization and cost reduction of the display device.

そこで、本開示は、パルス生成回路自体の回路動作によって所望の遷移速度のパルス信号を生成可能なパルス生成回路、その生成方法、パルス生成回路を用いる走査回路、当該走査回路を用いる表示装置、及び、当該表示装置を有する電子機器を提供することを目的とする。   Therefore, the present disclosure provides a pulse generation circuit capable of generating a pulse signal having a desired transition speed by a circuit operation of the pulse generation circuit itself, a generation method thereof, a scanning circuit using the pulse generation circuit, a display device using the scanning circuit, and An object is to provide an electronic device including the display device.

上記目的を達成するために、本開示は、
2つの電源の間に直列に接続され、入力パルスの論理に応じて相補的にオン/オフ動作を行う2つのスイッチ素子を有するパルス生成回路において、
前記2つの電源のうち、前記入力パルスと同じ極性側の一方の電源を、固定の電源電圧とし、
前記2つの電源の他方の電源を、複数の電源電圧間で切り換え可能とする
構成を採っている。
In order to achieve the above object, the present disclosure provides:
In a pulse generation circuit having two switch elements connected in series between two power supplies and performing on / off operations complementarily according to the logic of an input pulse,
Of the two power supplies, one power supply on the same polarity side as the input pulse is a fixed power supply voltage,
The other power source of the two power sources can be switched between a plurality of power source voltages.

このパルス生成回路は、各種の走査回路においてその出力回路として用いられる。このパルス生成回路を用いる走査回路は、表示装置においてその走査回路として用いられる。また、この走査回路を用いる表示装置は、各種の電子機器においてその表示部として用いられる。   This pulse generation circuit is used as an output circuit in various scanning circuits. A scanning circuit using this pulse generation circuit is used as the scanning circuit in a display device. A display device using this scanning circuit is used as a display portion in various electronic devices.

上記構成のパルス生成回路において、一方の電源が固定の電源電圧であるの対して、他方の電源が複数の電源電圧間で切り換わることで、その切り換えのタイミングで、2つのスイッチ素子の共通接続ノードである出力ノードにカップリングが入る。このカップリングは、出力ノードの電位が急峻に変化するのを抑えるように作用する。このカップリングによる作用により、出力パルスの遷移速度が遅くなる。その結果、パルス生成回路は、当該回路自体の回路動作により、パルス消滅時に所望の遷移速度となるパルス信号を生成できる。   In the pulse generation circuit configured as described above, one power supply is a fixed power supply voltage, while the other power supply is switched between a plurality of power supply voltages, so that the two switch elements are connected in common at the switching timing. Coupling enters the output node, which is a node. This coupling acts to suppress a sudden change in the potential of the output node. Due to the effect of this coupling, the transition speed of the output pulse becomes slow. As a result, the pulse generation circuit can generate a pulse signal having a desired transition speed when the pulse disappears by the circuit operation of the circuit itself.

本開示によれば、他方の電源の電圧切り換え時のカップリングの作用によって出力パルスの遷移速度を遅くできるため、パルス生成回路自体の回路動作によって所望の遷移速度のパルス信号を生成できる。   According to the present disclosure, the transition speed of the output pulse can be slowed by the action of coupling at the time of switching the voltage of the other power supply, so that a pulse signal having a desired transition speed can be generated by the circuit operation of the pulse generation circuit itself.

本開示の実施形態に係る正極性のパルス信号を生成するパルス生成回路についての説明図であり、(A)はパルス生成回路の回路例を、(B)はパルス生成回路の各部の波形をそれぞれ示している。It is explanatory drawing about the pulse generation circuit which produces | generates the positive polarity pulse signal which concerns on embodiment of this indication, (A) is a circuit example of a pulse generation circuit, (B) is the waveform of each part of a pulse generation circuit, respectively Show. 負極性のパルス信号を生成するパルス生成回路についての説明図であり、(A)はパルス生成回路の回路例を、(B)はパルス生成回路の各部の波形をそれぞれ示している。It is explanatory drawing about the pulse generation circuit which produces | generates a negative polarity pulse signal, (A) is a circuit example of a pulse generation circuit, (B) has each shown the waveform of each part of a pulse generation circuit. 本開示が適用されるアクティブマトリクス型有機EL表示装置の基本的な構成の概略を示すシステム構成図である。It is a system configuration diagram showing an outline of a basic configuration of an active matrix organic EL display device to which the present disclosure is applied. 画素(画素回路)の具体的な回路構成の一例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows an example of the concrete circuit structure of a pixel (pixel circuit). 本開示が適用される有機EL表示装置の基本的な回路動作の説明に供するタイミング波形図である。It is a timing waveform diagram with which it uses for description of the basic circuit operation | movement of the organic electroluminescence display to which this indication is applied. 本開示が適用される有機EL表示装置の基本的な回路動作の動作説明図(その1)である。FIG. 7 is an operation explanatory diagram (No. 1) of basic circuit operations of an organic EL display device to which the present disclosure is applied. 本開示が適用される有機EL表示装置の基本的な回路動作の動作説明図(その2)である。It is operation | movement explanatory drawing (the 2) of basic circuit operation | movement of the organic electroluminescence display to which this indication is applied. 駆動トランジスタの閾値電圧Vthのばらつきに起因する課題の説明(A)、及び、駆動トランジスタの移動度μのばらつきに起因する課題の説明(B)に供する特性図である。FIG. 6 is a characteristic diagram for explaining (A) a problem caused by variation in threshold voltage V th of a drive transistor and (B) explaining a problem caused by variation in mobility μ of the drive transistor. 信号書込み&移動度補正の際の書込み走査信号WSのパルス波形を示す波形図である。It is a wave form diagram which shows the pulse waveform of the writing scanning signal WS in the case of signal writing & mobility correction. 書込み走査回路の構成の一例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows an example of a structure of a writing scanning circuit. 本開示が適用されるテレビジョンセットの外観を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the external appearance of the television set to which this indication is applied. 本開示が適用されるデジタルカメラの外観を示す斜視図であり、(A)は表側から見た斜視図、(B)は裏側から見た斜視図である。It is the perspective view which shows the external appearance of the digital camera to which this indication is applied, (A) is the perspective view seen from the front side, (B) is the perspective view seen from the back side. 本開示が適用されるノート型パーソナルコンピュータの外観を示す斜視図である。It is a perspective view showing appearance of a notebook personal computer to which the present disclosure is applied. 本開示が適用されるビデオカメラの外観を示す斜視図である。It is a perspective view showing appearance of a video camera to which the present disclosure is applied. 本開示が適用される携帯電話機を示す外観図であり、(A)は開いた状態での正面図、(B)はその側面図、(C)は閉じた状態での正面図、(D)は左側面図、(E)は右側面図、(F)は上面図、(G)は下面図である。It is an external view showing a mobile phone to which the present disclosure is applied, (A) is a front view in an open state, (B) is a side view thereof, (C) is a front view in a closed state, (D) Is a left side view, (E) is a right side view, (F) is a top view, and (G) is a bottom view.

以下、本開示の技術を実施するための形態(以下、「実施形態」と記述する)について図面を用いて詳細に説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
1.パルス生成回路
1−1.回路構成
1−2.回路動作
1−3.変形例
1−4.作用、効果
2.表示装置(有機EL表示装置の例)
2−1.システム構成
2−2.基本的な回路動作
2−3.書込み走査信号WSのパルス波形
2−4.書込み走査回路
3.電子機器
4.本開示の構成
Hereinafter, modes for carrying out the technology of the present disclosure (hereinafter referred to as “embodiments”) will be described in detail with reference to the drawings. The description will be given in the following order.
1. 1. Pulse generation circuit 1-1. Circuit configuration 1-2. Circuit operation 1-3. Modified example 1-4. Action, effect Display device (example of organic EL display device)
2-1. System configuration 2-2. Basic circuit operation 2-3. Pulse waveform of address scanning signal WS 2-4. 2. Write scanning circuit Electronic equipment Composition of this disclosure

<1.パルス生成回路>
[1−1.回路構成]
図1は、本開示の実施形態に係るパルス生成回路についての説明図である。図1において、(A)はパルス生成回路の回路例を、(B)はパルス生成回路の各部の波形をそれぞれ示している。
<1. Pulse generation circuit>
[1-1. Circuit configuration]
FIG. 1 is an explanatory diagram of a pulse generation circuit according to an embodiment of the present disclosure. In FIG. 1, (A) shows a circuit example of a pulse generation circuit, and (B) shows a waveform of each part of the pulse generation circuit.

図1(A)において、本開示の実施形態に係るパルス生成回路P1は、例えば2つ(2段)のバッファB11,B12が縦続接続された構成となっている。ここでは、高レベル(論理“1”)をアクティブ状態とする正極性のパルス信号を入力とし、当該パルス信号をバッファB11,B12で2回反転することにより、入力パルスと同じ正極性のパルス信号を出力するものとする。 In FIG. 1A, the pulse generation circuit P 1 according to the embodiment of the present disclosure has a configuration in which, for example, two (two stages) buffers B 11 and B 12 are connected in cascade. Here, a positive pulse signal that activates a high level (logic “1”) is input, and the pulse signal is inverted twice by the buffers B 11 and B 12 to obtain the same positive polarity as the input pulse. A pulse signal shall be output.

前段のバッファB11は、電源ラインL11と電源ラインL12との間に直列に接続され、入力パルスの論理に応じて相補的にオン/オフ動作を行う2つのスイッチ素子を有する構成となっている。2つのスイッチ素子としては、例えば、PチャネルMOSトランジスタP11及びNチャネルMOSトランジスタN11が用いられる。 The front-stage buffer B 11 is connected in series between the power supply line L 11 and the power supply line L 12, and has two switch elements that perform ON / OFF operations complementarily according to the logic of the input pulse. ing. For example, a P channel MOS transistor P 11 and an N channel MOS transistor N 11 are used as the two switch elements.

すなわち、前段のバッファB11は、PチャネルMOSトランジスタP11及びNチャネルMOSトランジスタN11から成るCMOSインバータの回路構成となっている。電源ラインL11は正側の電源電圧VDDの固定電源であり、電源ラインL12は負側の電源電圧VSSの固定電源である。 That is, the preceding-stage buffer B 11 has a circuit configuration of a CMOS inverter including a P-channel MOS transistor P 11 and an N-channel MOS transistor N 11 . The power supply line L 11 is a fixed power supply with a positive power supply voltage V DD , and the power supply line L 12 is a fixed power supply with a negative power supply voltage V SS .

この前段のバッファB11において、PチャネルMOSトランジスタP11とNチャネルMOSトランジスタN11とは、ゲート電極及びドレイン電極がそれぞれ共通に接続されている。そして、これらMOSトランジスタP11,N11のゲート共通接続ノードは、本バッファB11の入力端(入力ノード)、即ち、本実施形態に係るパルス生成回路P1の回路入力端となっている。 In the preceding buffer B 11 , the gate electrode and the drain electrode of the P channel MOS transistor P 11 and the N channel MOS transistor N 11 are connected in common. The gate common connection node of these MOS transistors P 11 and N 11 is the input terminal (input node) of the buffer B 11 , that is, the circuit input terminal of the pulse generation circuit P 1 according to the present embodiment.

また、MOSトランジスタP11,N11のドレイン共通接続ノードは、本バッファB11の出力端(出力ノード)となっている。PチャネルMOSトランジスタP11のソース電極は電源電圧VDDの電源ラインL11に接続され、NチャネルMOSトランジスタN11のソース電極は電源電圧VSSの電源ラインL12に接続されている。 The drain common connection node of the MOS transistors P 11 and N 11 is an output terminal (output node) of the buffer B 11 . The source electrode of P channel MOS transistor P 11 is connected to power supply line L 11 of power supply voltage V DD , and the source electrode of N channel MOS transistor N 11 is connected to power supply line L 12 of power supply voltage V SS .

後段(最終段)のバッファB12は、電源ラインL11と電源ラインL13との間に直列に接続され、入力パルスの論理に応じて相補的にオン/オフ動作を行う2つのスイッチ素子を有する構成となっている。前段のバッファB11と同様に、2つのスイッチ素子としては、例えば、PチャネルMOSトランジスタP12及びNチャネルMOSトランジスタN12が用いられる。 The latter stage (final stage) buffer B 12 is connected in series between the power supply line L 11 and the power supply line L 13, and includes two switch elements that complementarily perform on / off operations according to the logic of the input pulse. It is the composition which has. As with the previous buffer B 11 , for example, a P-channel MOS transistor P 12 and an N-channel MOS transistor N 12 are used as the two switch elements.

すなわち、後段のバッファB12は、PチャネルMOSトランジスタP12及びNチャネルMOSトランジスタN12から成るCMOSインバータの回路構成となっている。電源ラインL11は固定電源であり、電源ラインL13は可変電源である。この電源ラインL13の可変な電源電圧VSSPの詳細については後述する。 In other words, the subsequent buffer B 12 has a circuit configuration of a CMOS inverter including a P-channel MOS transistor P 12 and an N-channel MOS transistor N 12 . Power line L 11 is a fixed power source, the power line L 13 is a variable power supply. Details of the variable power supply voltage V SSP of the power supply line L 13 will be described later.

この後段のバッファB12において、PチャネルMOSトランジスタP12とNチャネルMOSトランジスタN12とは、ゲート電極及びドレイン電極がそれぞれ共通に接続されている。そして、これらMOSトランジスタP12,N12のゲート共通接続ノードは、本バッファB12の入力端(入力ノード)となり、前段のバッファB11の出力端、即ち、MOSトランジスタP11,N11のドレイン共通接続ノードに接続されている。 In the subsequent buffer B 12 , the gate electrode and the drain electrode of the P channel MOS transistor P 12 and the N channel MOS transistor N 12 are connected in common. The gate common connection node of these MOS transistors P 12 and N 12 becomes the input terminal (input node) of the buffer B 12 and the output terminal of the preceding buffer B 11 , that is, the drains of the MOS transistors P 11 and N 11 . Connected to the common connection node.

また、MOSトランジスタP12,N12のドレイン共通接続ノードは、本バッファB12の出力端(出力ノード)、即ち、本実施形態に係るパルス生成回路P1の回路出力端となっている。PチャネルMOSトランジスタP12のソース電極は固定電源の電源ラインL11に接続され、NチャネルMOSトランジスタN12のソース電極は可変電源の電源ラインL13に接続されている。 The drain common connection node of the MOS transistors P 12 and N 12 is an output terminal (output node) of the buffer B 12 , that is, a circuit output terminal of the pulse generation circuit P 1 according to the present embodiment. The source electrode of the P channel MOS transistor P 12 is connected to the power line L 11 of the fixed power source, and the source electrode of the N channel MOS transistor N 12 is connected to the power source line L 13 of the variable power source.

ここで、電源ラインL13は、電源電圧VSSの電源ラインL12とは分離されており、その電源電圧VSSPが複数の電源電圧間で切り換え可能となっている。一例として、正側の電源電圧VDDが15V程度であると仮定すると、電源ラインL13の電源電圧VSSPは、0V(=VSS)を第1の電源電圧とし、当該第1の電源電圧よりも高く、正側の電源電圧VDDの半分程度よりも低い電圧、例えば2V〜3V程度を第2の電源電圧とし、これら第1、第2の電源電圧間で切り換え可能となっている。但し、ここで例示した電源電圧VSSPの数値は一例に過ぎず、これらの数値に限定されるものではない。 Here, the power supply line L 13 is separated from the power supply line L 12 of the power supply voltage V SS , and the power supply voltage V SSP can be switched between a plurality of power supply voltages. As an example, assuming that the positive power supply voltage V DD is about 15 V, the power supply voltage V SSP of the power supply line L 13 is set to 0 V (= V SS ) as the first power supply voltage. The second power supply voltage can be switched between these first and second power supply voltages, for example, a voltage higher than about half of the positive power supply voltage V DD , for example, about 2V to 3V. However, the numerical values of the power supply voltage V SSP illustrated here are merely examples, and are not limited to these numerical values.

電源ラインL13の電源電圧VSSPの切り換えは、2つのスイッチ素子、即ち、MOSトランジスタP12,N12のオン/オフの切り換えタイミングに同期して、好ましくは、同じタイミングで瞬間的に行われる。そして、この瞬間的な切り換えにより、電源ラインL13の電源電圧VSSPは、第1の電源電圧から第2の電源電圧にパルス状に変化する。すなわち、電源ラインL13の電源電圧VSSPは、パルス化された可変の電源電圧となっている。 The switching of the power supply voltage V SSP of the power supply line L 13 is preferably instantaneously performed at the same timing in synchronism with the switching timing of on / off of the two switch elements, that is, the MOS transistors P 12 and N 12. . As a result of this instantaneous switching, the power supply voltage V SSP of the power supply line L 13 changes in a pulse form from the first power supply voltage to the second power supply voltage. That is, the power supply voltage V SSP of the power supply line L 13 is a pulsed variable power supply voltage.

[1−2.回路動作]
次に、上記構成の本開示の実施形態に係るパルス生成回路P1の回路動作について、図1(B)の波形図を用いて説明する。
[1-2. Circuit operation]
Next, the circuit operation of the pulse generation circuit P 1 according to the embodiment of the present disclosure having the above-described configuration will be described with reference to the waveform diagram of FIG.

パルス生成回路P1には、例えば、低レベルをVSSとし、高レベルをVDDとし、高レベル状態をアクティブ状態とする正極性のパルス信号(a)が入力されるものとする。入力されるパルス信号(a)が高レベルになると(時刻t1)、前段のバッファB11において、NチャネルMOSトランジスタN11がオン(導通)状態になり、PチャネルMOSトランジスタP11がオフ(非導通)状態になる。すると、前段のバッファB11の出力端、即ち、後段のバッファB12の入力端の電位(b)が低レベル(=VSS)になる。 For example, it is assumed that the pulse generation circuit P 1 receives a positive pulse signal (a) that sets a low level to V SS , a high level to V DD , and a high level state to an active state. When the input pulse signal (a) becomes high level (time t 1 ), the N-channel MOS transistor N 11 is turned on (conducted) in the previous buffer B 11 and the P-channel MOS transistor P 11 is turned off ( (Not conducting) state. Then, the potential (b) at the output end of the preceding stage buffer B 11 , that is, the input end of the succeeding stage buffer B 12 becomes low level (= V SS ).

また、後段のバッファB12において、入力端の電位(b)が低レベルになると、PチャネルMOSトランジスタP12がオン状態になり、NチャネルMOSトランジスタN12がオフ状態になる。このとき、可変電源の電源ラインL13の電源電圧は、第1の電源電圧VSSとなっている。そして、PチャネルMOSトランジスタP12がオン状態になることで、出力端の電位(c)は高レベル(=VDD)になる、即ち、出力端には正極性の出力パルス(c)が発生する。 In the subsequent buffer B 12 , when the potential (b) at the input terminal becomes a low level, the P-channel MOS transistor P 12 is turned on and the N-channel MOS transistor N 12 is turned off. At this time, the power supply voltage of the power line L 13 of the variable power supply has a first power supply voltage V SS. When the P-channel MOS transistor P 12 is turned on, the potential (c) at the output terminal becomes high (= V DD ), that is, a positive output pulse (c) is generated at the output terminal. To do.

続いて、正極性のパルス信号(a)が消滅すると(時刻t2)、即ち、高レベルから低レベルに遷移すると、前段のバッファB11において、PチャネルMOSトランジスタP11がオン状態になり、NチャネルMOSトランジスタN11がオフ状態になる。すると、前段のバッファB11の出力端、即ち、後段のバッファB12の入力端の電位(b)が高レベルになる。 Subsequently, when the positive polarity pulse signal (a) disappears (time t 2 ), that is, when the pulse signal (a) transitions from a high level to a low level, the P-channel MOS transistor P 11 is turned on in the preceding buffer B 11 . N-channel MOS transistor N 11 is turned off. Then, the potential (b) at the output terminal of the preceding-stage buffer B 11 , that is, the input terminal of the subsequent-stage buffer B 12 becomes high level.

また、後段のバッファB12において、入力端の電位(b)が高レベルになると、NチャネルMOSトランジスタN12がオン状態になり、PチャネルMOSトランジスタP12がオフ状態になる。このとき、MOSトランジスタN12,P12のオン/オフの切り換えタイミングに同期して(好ましくは、同じタイミングで)、可変電源の電源ラインL13の電源電圧VSSP(d)は、第1の電源電圧VSSから第2の電源電圧(例えば、2V〜3V程度)に瞬間的に(即ち、パルス状に)切り換わる。 Further, when the potential (b) at the input end of the subsequent buffer B 12 becomes high, the N-channel MOS transistor N 12 is turned on and the P-channel MOS transistor P 12 is turned off. At this time, in synchronization with the ON / OFF switching timing of the MOS transistors N 12 and P 12 (preferably at the same timing), the power supply voltage V SSP (d) of the power supply line L 13 of the variable power supply is The power supply voltage V SS is switched instantaneously (that is, in a pulse form) to the second power supply voltage (for example, about 2 V to 3 V).

ここで、電源ラインL13の電源電圧VSSP(d)が第1の電源電圧VSSに固定であれば、NチャネルMOSトランジスタN12がオン状態になることにより、出力端の電位(c)は、高レベル(=VDD)から低レベル(=VSS)に急峻に(瞬間的に)遷移する。すなわち、正極性の出力パルス(c)は、図1(B)の波形(c)に破線で示すように瞬時に消滅する。 Here, if the power supply voltage V SSP (d) of the power supply line L 13 is fixed to the first power supply voltage V SS , the N-channel MOS transistor N 12 is turned on, whereby the output terminal potential (c) Transitions abruptly (instantaneously) from a high level (= V DD ) to a low level (= V SS ). That is, the positive output pulse (c) disappears instantaneously as shown by the broken line in the waveform (c) of FIG.

これに対して、MOSトランジスタN12,P12のオン/オフの切り換えタイミングに同期して、電源ラインL13の電源電圧VSSP(d)が瞬間的に(即ち、パルス状に)切り換わることで、出力パルス(c)の立ち下がりの遷移波形は次のように変化する。すなわち、電源ラインL13の電源電圧VSSP(d)が瞬間的にパルス状に切り換わる(即ち、立ち上がる)ことで、NチャネルMOSトランジスタN12のソース電極と出力端との間に介在する寄生容量Cpによる容量カップリングによって出力端に正電位が飛び込む。 On the other hand, the power supply voltage V SSP (d) of the power supply line L 13 is switched instantaneously (that is, in a pulse form) in synchronization with the ON / OFF switching timing of the MOS transistors N 12 and P 12. Thus, the transition waveform of the falling edge of the output pulse (c) changes as follows. That is, when the power supply voltage V SSP (d) of the power supply line L 13 is instantaneously switched (that is, rises) in a pulse shape, a parasitic is interposed between the source electrode and the output terminal of the N-channel MOS transistor N 12. A positive potential jumps into the output terminal due to capacitive coupling by the capacitor C p .

この容量カップリングによって出力端に飛び込む正電位は、NチャネルMOSトランジスタN12がオンすることによって出力端の電位、即ち、出力パルス(c)が高レベルから低レベルに急峻に変化するのを抑えるように作用する。そして、この容量カップリングによる作用により、出力パルス(c)が高レベルから低レベルに立ち下がる遷移速度が遅くなる、即ち、立ち下がりの遷移波形が、容量カップリングがない場合に比べて緩やかになる。 The positive potential that jumps into the output terminal due to this capacitive coupling suppresses a sudden change in the output terminal potential, that is, the output pulse (c) from the high level to the low level when the N-channel MOS transistor N 12 is turned on. Acts as follows. As a result of the action due to the capacitive coupling, the transition speed at which the output pulse (c) falls from the high level to the low level is slow, that is, the falling transition waveform is more gradual than when there is no capacitive coupling. Become.

ここで、出力パルス(c)が高レベルから低レベルに立ち下がる遷移速度は、容量カップリングによって出力端に飛び込む正電位のカップリング量によって決まる。そして、このカップリング量は、電源ラインL13の電源電圧VSSP(d)の第2の電源電圧の電圧値によって決まる。すなわち、第2の電源電圧の電圧値を任意に設定することで、パルス生成回路P1自体の回路動作、即ち、容量カップリングを伴う回路動作により、パルス消滅時に所望の遷移速度となるパルス信号を生成することができる。 Here, the transition speed at which the output pulse (c) falls from the high level to the low level is determined by the coupling amount of the positive potential that jumps into the output terminal by capacitive coupling. This amount of coupling is determined by the voltage value of the second power supply voltage of the power supply voltage V SSP (d) of the power supply line L 13 . That is, by arbitrarily setting the voltage value of the second power supply voltage, a pulse signal that achieves a desired transition speed when the pulse disappears due to the circuit operation of the pulse generation circuit P 1 itself, that is, the circuit operation with capacitive coupling. Can be generated.

[1−3.変形例]
尚、上記実施形態では、パルス生成回路P1が正極性のパルス信号を生成する場合を例に挙げて説明したが、本開示の技術は、正極性のパルス信号の生成への適用に限られるものではなく、負極性のパルス信号を生成する場合にも同様に適用可能である。負極性のパルス信号を生成するパルス生成回路について、以下に、変形例に係るパルス生成回路P2として、図2を用いて説明する。図2において、(A)はパルス生成回路P2の回路例を、(B)はパルス生成回路P2の各部の波形をそれぞれ示している。
[1-3. Modified example]
In the above embodiment, the case where the pulse generation circuit P 1 generates a positive pulse signal has been described as an example. However, the technology of the present disclosure is limited to application to generation of a positive pulse signal. The present invention is not limited to this, and can be similarly applied to the case of generating a negative pulse signal. A pulse generation circuit that generates a negative pulse signal will be described below as a pulse generation circuit P 2 according to a modification with reference to FIG. 2 shows (A) is a circuit example of the pulse generating circuit P 2, the (B) is a pulse generating circuit P 2 of each part of the waveform, respectively.

図1(A)と図2(A)との対比から明らかなように、本変形例に係るパルス生成回路P2は、先述した実施形態に係るパルス生成回路P1と基本的な回路構成は同じになっている。すなわち、パルス生成回路P2は、例えば2つ(2段)のバッファB11,B12が縦続接続され、これらバッファB11,B12がCMOSインバータの回路構成となっている。一方、先述した実施形態に係るパルス生成回路P1とは次の点で異なっている。 As is clear from the comparison between FIG. 1A and FIG. 2A, the pulse generation circuit P 2 according to this modification example is basically the same as the pulse generation circuit P 1 according to the above-described embodiment. It is the same. That is, in the pulse generation circuit P 2 , for example, two (two stages) buffers B 11 and B 12 are connected in cascade, and these buffers B 11 and B 12 have a circuit configuration of a CMOS inverter. On the other hand, it differs from the pulse generation circuit P 1 according to the above-described embodiment in the following points.

すなわち、最終段(後段)のバッファB12において、先述した実施形態に係るパルス生成回路P1では負電源側の電源ラインL13を前段のバッファB11の電源ラインL12と分離し、当該電源ラインL13の電源電圧を可変としていた。これに対し、本変形例に係るパルス生成回路P2では、正電源側の電源ラインL14を前段のバッファB11の電源ラインL11と分離し、当該電源ラインL14の電源電圧VDDPを切り換え可能としている。電源ラインL14の電源電圧VDDPの切り換えは、MOSトランジスタN12,P12のオン/オフの切り換えタイミングに同期して(好ましくは、同じタイミングで)行われる。 That is, in the last stage (back stage) buffer B 12 , in the pulse generation circuit P 1 according to the above-described embodiment, the power source line L 13 on the negative power source side is separated from the power source line L 12 of the front stage buffer B 11 , and the power source the power supply voltage of the line L 13 has been made variable. On the other hand, in the pulse generation circuit P 2 according to this modification, the power supply line L 14 on the positive power supply side is separated from the power supply line L 11 of the preceding buffer B 11 , and the power supply voltage V DDP of the power supply line L 14 is obtained. Switchable. The power supply voltage V DDP of the power supply line L 14 is switched in synchronism (preferably at the same timing) with the on / off switching timing of the MOS transistors N 12 and P 12 .

電源ラインL14の電源電圧VDDPについては、一例として、正側の電源電圧VDDが15V程度であると仮定すると、15V(=VDD)を第1の電源電圧とし、第1の電源電圧よりも低く、正側の電源電圧VDDの半分程度よりも高い電圧、例えば12V〜13V程度を第2の電源電圧とする。そして、これら第1、第2の電源電圧間で電源ラインL14の電源電圧VDDPが切り換え可能となっている。但し、ここで例示した電源電圧VDDPの数値は一例に過ぎず、これらの数値に限定されるものではない。 As an example of the power supply voltage V DDP of the power supply line L 14 , assuming that the positive power supply voltage V DD is about 15 V, the first power supply voltage is 15 V (= V DD ). The second power supply voltage is lower than the positive power supply voltage V DD and higher than about half of the positive power supply voltage V DD , for example, about 12V to 13V. The power supply voltage V DDP of the power supply line L 14 can be switched between the first and second power supply voltages. However, the numerical values of the power supply voltage V DDP exemplified here are only examples, and are not limited to these numerical values.

上記構成のパルス生成回路P2には、例えば、低レベルをVSSとし、高レベルをVDDとし、低レベル状態をアクティブ状態とする負極性のパルス信号(a)が入力されるものとする。具体的な回路動作については、基本的に、先述した実施形態に係るパルス生成回路P1の場合と同様の回路動作が行われる。パルス生成回路P1の場合と異なるのは、入力されるパルス信号(a)が低レベルから高レベルに遷移するとき(時刻t2)の後段のバッファB12の回路動作である。 For example, the pulse generation circuit P 2 configured as described above is supplied with a negative pulse signal (a) that sets the low level to V SS , the high level to V DD , and the low level state to the active state. . As for the specific circuit operation, basically, the same circuit operation as in the case of the pulse generation circuit P 1 according to the above-described embodiment is performed. What is different from the case of the pulse generation circuit P 1 is the circuit operation of the buffer B 12 at the subsequent stage when the input pulse signal (a) transitions from the low level to the high level (time t 2 ).

具体的には、後段のバッファB12において、MOSトランジスタN12,P12のオン/オフの切り換えタイミングに同期して(好ましくは、同じタイミングで)、可変電源の電源ラインL14の電源電圧VDDP(d)は、第1の電源電圧VDDから第2の電源電圧(例えば、12V〜13V程度)に瞬間的に(即ち、パルス状に)切り換わる。 Specifically, in the subsequent buffer B 12, MOS transistors N 12, in synchronism with the switching timing of the P 12 on / off (preferably at the same time), the power supply voltage V of the power supply line L 14 of the variable power supply DDP (d) switches instantaneously (that is, in a pulse form) from the first power supply voltage V DD to the second power supply voltage (for example, about 12V to 13V).

ここで、電源ラインL14の電源電圧VDDP(d)が電源電圧VDDに固定であれば、PチャネルMOSトランジスタP12がオン状態になることで、出力端の電位(c)は、低レベル(=VSS)から高レベル(=VDD)に急峻に(瞬間的に)遷移する。すなわち、負極性の出力パルス(c)は、図2(B)の波形(c)に破線で示すように瞬時に消滅する。 Here, if the power supply voltage V DDP (d) of the power supply line L 14 is fixed to the power supply voltage V DD , the P-channel MOS transistor P 12 is turned on, so that the potential (c) at the output terminal is low. A transition is made steeply (instantaneously) from the level (= V SS ) to the high level (= V DD ). That is, the negative output pulse (c) disappears instantaneously as shown by the broken line in the waveform (c) of FIG.

これに対して、MOSトランジスタN12,P12のオン/オフの切り換えタイミングに同期して、電源ラインL14の電源電圧VDDP(d)が瞬間的に(即ち、パルス状に)切り換わることで、出力パルス(c)の立ち上がりの遷移波形は次のように変化する。すなわち、電源ラインL14の電源電圧VDDP(d)が瞬間的にパルス状に切り換わる(即ち、立ち下がる)ことで、PチャネルMOSトランジスタP12のソース電極と出力端との間に介在する寄生容量Cpによる容量カップリングによって出力端に負電位が飛び込む。 On the other hand, the power supply voltage V DDP (d) of the power supply line L 14 is switched instantaneously (that is, in a pulse form) in synchronization with the ON / OFF switching timing of the MOS transistors N 12 and P 12. Thus, the transition waveform of the rising edge of the output pulse (c) changes as follows. That is, the power supply voltage V DDP (d) of the power supply line L 14 is instantaneously switched to a pulse shape (that is, falls), thereby interposing between the source electrode and the output terminal of the P-channel MOS transistor P 12. a negative potential jump at the output end by capacitive coupling due to the parasitic capacitance C p.

この容量カップリングによって出力端に飛び込む負電位は、PチャネルMOSトランジスタP12がオンすることによって出力端の電位、即ち、出力パルス(c)が低レベルから高レベルに急峻に変化するのを抑えるように作用する。そして、この容量カップリングによる作用により、出力パルス(c)が低レベルから高レベルに立ち下がる遷移速度が遅くなる、即ち、立ち上がりの遷移波形が、容量カップリングンがない場合に比べて緩やかになる。 The negative potential jumping into the output terminal due to this capacitive coupling suppresses the sudden change of the output terminal potential, that is, the output pulse (c) from the low level to the high level when the P-channel MOS transistor P 12 is turned on. Acts as follows. As a result of the action due to the capacitive coupling, the transition speed at which the output pulse (c) falls from the low level to the high level is slow, that is, the rising transition waveform is more gradual than when there is no capacitive coupling. Become.

[1−4.作用、効果]
以上説明したように、本実施形態及びその変形例は、2つの電源の間に直列に接続され、入力パルスの論理に応じて相補的にオン/オフ動作を行う2つのスイッチ素子を有し、パルス消滅時に所望の遷移速度のパルス信号を生成するパルス生成回路において、次のように構成を採っている。すなわち、2つの電源のうち、入力パルスと同じ極性側の一方の電源を固定の電源電圧とし、他方の電源を複数の電源電圧間で切り換え可能としている。
[1-4. Action, effect]
As described above, the present embodiment and its modification have two switch elements connected in series between two power supplies and performing on / off operations complementarily according to the logic of the input pulse, A pulse generation circuit that generates a pulse signal having a desired transition speed when the pulse disappears has the following configuration. That is, of the two power supplies, one power supply on the same polarity side as the input pulse is set to a fixed power supply voltage, and the other power supply can be switched between a plurality of power supply voltages.

このように、一方の電源が固定の電源電圧であるの対して、他方の電源が複数の電源電圧間で切り換わることで、その切り換えのタイミングで、2つのスイッチ素子の共通接続ノードである出力ノードに容量カップリングが入る。この容量カップリングは、出力ノードの電位が急峻に変化するのを抑えるように作用する。この容量カップリングによる作用により、出力パルスの遷移速度が遅くなる。その結果、パルス生成回路は、当該回路自体の回路動作により、パルス消滅時に所望の遷移速度となるパルス信号を生成できる。   Thus, while one power supply is a fixed power supply voltage, the other power supply is switched between a plurality of power supply voltages, so that the output that is the common connection node of the two switch elements at the switching timing. Capacitive coupling enters the node. This capacitive coupling acts to suppress a sudden change in the potential of the output node. Due to the action of this capacitive coupling, the transition speed of the output pulse becomes slow. As a result, the pulse generation circuit can generate a pulse signal having a desired transition speed when the pulse disappears by the circuit operation of the circuit itself.

尚、上記実施形態及びその変形例では、バッファが2段縦続接続されて成るパルス生成回路を例に挙げたが、バッファの段数は1段でも良く、また、3段以上であって良い。バッファが1段構成のパルス生成回路の場合には当該バッファに対して本開示の技術を適用すれば良く、3段以上の構成のパルス生成回路の場合には、最終段のバッファに対して本開示の技術を適用すれば良い。   In the above-described embodiment and its modification, a pulse generation circuit in which two stages of buffers are cascade-connected has been described as an example. However, the number of stages of buffers may be one, or three or more. If the buffer is a pulse generation circuit having a single-stage configuration, the technique of the present disclosure may be applied to the buffer. In the case of a pulse generation circuit having a configuration of three or more stages, the main buffer is used for the final-stage buffer. The disclosed technique may be applied.

ここで、入力パルスの論理に応じて相補的にオン/オフ動作を行うとは、先述した回路動作の説明から明らかなように、論理“1”のときに一方のスイッチ素子がオン状態となり、他方のスイッチ素子がオフ状態となり、また、論理“0”のときはその逆の動作を行うことである。   Here, the complementary ON / OFF operation according to the logic of the input pulse means that one switch element is turned on when the logic is “1”, as is apparent from the description of the circuit operation described above. When the other switch element is turned off and the logic is “0”, the reverse operation is performed.

2つの電源のうち、入力パルスと同じ極性側の一方の電源は、先の実施形態にあっては電源電圧VDDの正側電源となり、その変形例にあっては電源電圧VSSの負側電源となる。また、他方の電源は、先の実施形態にあっては電源ラインL13の可変電源となり、その変形例にあっては電源ラインL14の可変電源となる。 Of the two power supplies, one power supply having the same polarity as the input pulse is the positive power supply of the power supply voltage V DD in the previous embodiment, and the negative power supply voltage VSS in the modification. Power source. The other power supply, in the above embodiment becomes a variable power supply line L 13, in the modified example thereof is variable power supply line L 14.

また、先述した実施形態及びその変形例においては、他方の電源を第1、第2の2つの電源電圧間で切り換え可能としたが、2つの電源電圧間での切り換えに限られるものではなく、3つ以上の電源電圧間で切り換えるようにしても良い。電源電圧の数を増やし、他方の電源の電源電圧を多段階に切り替えるようにすることで、生成するパルス信号の遷移速度(遷移波形)をよりきめ細かく制御することができる。   In the above-described embodiment and its modification, the other power source can be switched between the first and second power supply voltages, but is not limited to switching between the two power supply voltages. You may make it switch between three or more power supply voltages. By increasing the number of power supply voltages and switching the power supply voltage of the other power supply in multiple stages, the transition speed (transition waveform) of the generated pulse signal can be controlled more finely.

以上説明した、本実施形態及びその変形例に係るパルス生成回路、即ち、パルス消滅時に所望の遷移速度となるパルス信号を生成可能なパルス生成回路の用途としては、次のような用途が考えられる。例えば、後述する移動度補正機能を有する画素が配置されて成る表示装置において、各画素に信号を書き込むための走査を行う走査回路にその最終段バッファとして用いることができる。   As described above, the pulse generation circuit according to the present embodiment and the modification thereof, that is, the pulse generation circuit capable of generating a pulse signal having a desired transition speed when the pulse disappears can be used as follows. . For example, in a display device in which a pixel having a mobility correction function, which will be described later, is arranged, it can be used as a final stage buffer in a scanning circuit that performs scanning for writing a signal to each pixel.

あるいは、後段に波形整形回路を配置し、当該波形整形回路との組み合わせによってパルス幅を変更するパルス幅変更回路を構成する用途としても用いることができる。具体的には、前段のパルス生成回路でパルス消滅時に所望の遷移波形となるパルス信号を生成し、後段の波形整形回路において、任意のスレッショールドレベルを基準にして矩形波のパルス信号に波形整形することにより、入力パルスよりも広いパルス幅のパルス信号を生成することができる。   Alternatively, it can also be used as an application in which a waveform shaping circuit is arranged in the subsequent stage and a pulse width changing circuit that changes the pulse width in combination with the waveform shaping circuit is configured. Specifically, a pulse signal having a desired transition waveform when the pulse disappears is generated by the preceding pulse generation circuit, and a waveform of the rectangular wave pulse signal is generated in the subsequent waveform shaping circuit with reference to an arbitrary threshold level. By shaping, a pulse signal having a wider pulse width than the input pulse can be generated.

但し、ここで例示した用途は一例に過ぎず、本実施形態及びその変形例に係るパルス生成回路の用途としては、これらの用途に限られるものではない。以下に、前者の用途、即ち、移動度補正機能を有する画素が配置されて成る表示装置において、各画素に信号を書き込むための走査を行う走査回路にその最終段バッファとして用いる、本開示の適用例について具体的に説明する。   However, the use illustrated here is only an example, and the use of the pulse generation circuit according to the present embodiment and its modification is not limited to these uses. Hereinafter, in the former application, that is, in a display device in which pixels having a mobility correction function are arranged, the application of the present disclosure is used as a final stage buffer in a scanning circuit that performs scanning for writing a signal to each pixel. An example will be specifically described.

<2.表示装置>
[2−1.システム構成]
図3は、本開示が適用されるアクティブマトリクス型表示装置の基本的な構成の概略を示すシステム構成図である。
<2. Display device>
[2-1. System configuration]
FIG. 3 is a system configuration diagram illustrating an outline of a basic configuration of an active matrix display device to which the present disclosure is applied.

アクティブマトリクス型表示装置は、電気光学素子に流れる電流を、当該電気光学素子と同じ画素内に設けた能動素子、例えば絶縁ゲート型電界効果トランジスタによって制御する表示装置である。絶縁ゲート型電界効果トランジスタとしては、典型的には、TFT(Thin Film Transistor薄膜トランジスタ)が用いられる。   The active matrix display device is a display device that controls the current flowing through the electro-optical element by an active element provided in the same pixel as the electro-optical element, for example, an insulated gate field effect transistor. As the insulated gate field effect transistor, a TFT (Thin Film Transistor thin film transistor) is typically used.

ここでは、一例として、デバイスに流れる電流値に応じて発光輝度が変化する電流駆動型の電気光学素子、例えば有機EL素子を、画素(画素回路)の発光素子として用いるアクティブマトリクス型有機EL表示装置の場合を例に挙げて説明するものとする。   Here, as an example, an active matrix organic EL display device that uses a current-driven electro-optical element, for example, an organic EL element, whose light emission luminance changes according to a current value flowing through the device, as a light-emitting element of a pixel (pixel circuit). This case will be described as an example.

図3に示すように、本適用例に係る有機EL表示装置10は、有機EL素子を含む複数の画素20と、当該画素20が行列状に2次元配置されてなる画素アレイ部30と、当該画素アレイ部30の周辺に配置される駆動回路部とを有する構成となっている。駆動回路部は、書込み走査回路40、電源供給走査回路50及び信号出力回路60等からなり、画素アレイ部30の各画素20を駆動する。   As shown in FIG. 3, the organic EL display device 10 according to this application example includes a plurality of pixels 20 including organic EL elements, a pixel array unit 30 in which the pixels 20 are two-dimensionally arranged in a matrix, The driving circuit unit is arranged around the pixel array unit 30. The drive circuit unit includes a write scanning circuit 40, a power supply scanning circuit 50, a signal output circuit 60, and the like, and drives each pixel 20 of the pixel array unit 30.

ここで、有機EL表示装置10がカラー表示対応の場合は、カラー画像を形成する単位となる1つの画素(単位画素)は複数の副画素(サブピクセル)から構成され、この副画素の各々が図3の画素20に相当することになる。より具体的には、カラー表示対応の表示装置では、1つの画素は、例えば、赤色(Red;R)光を発光する副画素、緑色(Green;G)光を発光する副画素、青色(Blue;B)光を発光する副画素の3つの副画素から構成される。   Here, when the organic EL display device 10 supports color display, one pixel (unit pixel) which is a unit for forming a color image is composed of a plurality of sub-pixels (sub-pixels), and each of the sub-pixels is This corresponds to the pixel 20 in FIG. More specifically, in a display device that supports color display, one pixel includes, for example, a sub-pixel that emits red (Red) light, a sub-pixel that emits green (G) light, and blue (Blue). B) It is composed of three sub-pixels of sub-pixels that emit light.

但し、1つの画素としては、RGBの3原色の副画素の組み合わせに限られるものではなく、3原色の副画素に更に1色あるいは複数色の副画素を加えて1つの画素を構成することも可能である。より具体的には、例えば、輝度向上のために白色(White;W)光を発光する副画素を加えて1つの画素を構成したり、色再現範囲を拡大するために補色光を発光する少なくとも1つの副画素を加えて1つの画素を構成したりすることも可能である。   However, one pixel is not limited to a combination of RGB three primary color subpixels, and one pixel may be configured by adding one or more color subpixels to the three primary color subpixels. Is possible. More specifically, for example, one pixel is formed by adding a sub-pixel that emits white (W) light to improve luminance, or at least emits complementary color light to expand the color reproduction range. It is also possible to configure one pixel by adding one subpixel.

画素アレイ部30には、m行n列の画素20の配列に対して、行方向(画素行の画素の配列方向)に沿って走査線311〜31mと電源供給線321〜32mとが画素行毎に配線されている。更に、m行n列の画素20の配列に対して、列方向(画素列の画素の配列方向)に沿って信号線331〜33nが画素列毎に配線されている。 The pixel array unit 30 includes scanning lines 31 1 to 31 m and power supply lines 32 1 to 32 m along the row direction (the arrangement direction of the pixels in the pixel row) with respect to the arrangement of the pixels 20 in m rows and n columns. Are wired for each pixel row. Furthermore, signal lines 33 1 to 33 n are wired for each pixel column along the column direction (pixel arrangement direction of the pixel column) with respect to the arrangement of the pixels 20 in the m rows and the n columns.

走査線311〜31mは、書込み走査回路40の対応する行の出力端にそれぞれ接続されている。電源供給線321〜32mは、電源供給走査回路50の対応する行の出力端にそれぞれ接続されている。信号線331〜33nは、信号出力回路60の対応する列の出力端にそれぞれ接続されている。 The scanning lines 31 1 to 31 m are connected to the output ends of the corresponding rows of the writing scanning circuit 40, respectively. The power supply lines 32 1 to 32 m are connected to the output ends of the corresponding rows of the power supply scanning circuit 50, respectively. The signal lines 33 1 to 33 n are connected to the output ends of the corresponding columns of the signal output circuit 60, respectively.

画素アレイ部30は、通常、ガラス基板などの透明絶縁基板上に形成されている。これにより、有機EL表示装置10は、平面型(フラット型)のパネル構造となっている。画素アレイ部30の各画素20の駆動回路は、アモルファスシリコンTFTまたは低温ポリシリコンTFTを用いて形成することができる。低温ポリシリコンTFTを用いる場合には、図3に示すように、書込み走査回路40、電源供給走査回路50、及び、信号出力回路60についても、画素アレイ部30を形成する表示パネル(基板)70上に実装することができる。   The pixel array unit 30 is usually formed on a transparent insulating substrate such as a glass substrate. Thereby, the organic EL display device 10 has a flat panel structure. The drive circuit for each pixel 20 in the pixel array section 30 can be formed using an amorphous silicon TFT or a low-temperature polysilicon TFT. When using low-temperature polysilicon TFTs, as shown in FIG. 3, the write scanning circuit 40, the power supply scanning circuit 50, and the signal output circuit 60 also have a display panel (substrate) 70 that forms the pixel array section 30. Can be implemented on top.

書込み走査回路40は、クロックパルスckに同期してスタートパルスspを順にシフト(転送)するシフトレジスタ回路等によって構成されている。この書込み走査回路40は、画素アレイ部30の各画素20への映像信号の信号電圧書込みに際して、走査線31(311〜31m)に対して書込み走査信号WS(WS1〜WS m)を順次供給することによって画素アレイ部30の各画素20を行単位で順番に走査(線順次走査)する。書込み走査回路40の構成の詳細については後述する。 The write scanning circuit 40 is configured by a shift register circuit that sequentially shifts (transfers) the start pulse sp in synchronization with the clock pulse ck. The writing scanning circuit 40, upon a signal voltage writing of the video signal to each pixel 20 of the pixel array unit 30, the writing scanning signal WS to the scanning lines 31 (31 1 ~31 m) a (WS 1 to WS m) By sequentially supplying the pixels 20, the pixels 20 of the pixel array unit 30 are sequentially scanned (line-sequential scanning) in units of rows. Details of the configuration of the write scanning circuit 40 will be described later.

電源供給走査回路50は、クロックパルスckに同期してスタートパルスspを順にシフトするシフトレジスタ回路等によって構成されている。この電源供給走査回路50は、書込み走査回路40による線順次走査に同期して、第1電源電位Vccpと当該第1電源電位Vccpよりも低い第2電源電位Viniとで切り替わることが可能な電源電位DS(DS1〜DSm)を電源供給線32(321〜32m)に供給する。後述するように、電源電位DSのVccp/Viniの切替えにより、画素20の発光/非発光の制御が行なわれる。 The power supply scanning circuit 50 includes a shift register circuit that sequentially shifts the start pulse sp in synchronization with the clock pulse ck. The power supply scanning circuit 50 can be switched between the first power supply potential V ccp and the second power supply potential V ini that is lower than the first power supply potential V ccp in synchronization with the line sequential scanning by the write scanning circuit 40. The power supply potential DS (DS 1 to DS m ) is supplied to the power supply line 32 (32 1 to 32 m ). As will be described later, light emission / non-light emission control of the pixel 20 is performed by switching V ccp / V ini of the power supply potential DS.

信号出力回路60は、信号供給源(図示せず)から供給される輝度情報に応じた映像信号の信号電圧(以下、単に「信号電圧」と記述する場合もある)Vsigと基準電圧Vofsとを選択的に出力する。ここで、基準電圧Vofsは、映像信号の信号電圧Vsigの基準となる電位(例えば、映像信号の黒レベルに相当する電位)であり、後述する閾値補正処理の際に用いられる。 The signal output circuit 60 includes a signal voltage V sig and a reference voltage V ofs of a video signal corresponding to luminance information supplied from a signal supply source (not shown) (hereinafter may be simply referred to as “signal voltage”). And are selectively output. Here, the reference voltage V ofs is a potential serving as a reference for the signal voltage V sig of the video signal (for example, a potential corresponding to the black level of the video signal), and is used in threshold correction processing described later.

信号出力回路60から出力される信号電圧Vsig/基準電圧Vofsは、信号線33(331〜33n)を介して画素アレイ部30の各画素20に対して、書込み走査回路40による走査によって選択された画素行の単位で書き込まれる。すなわち、信号出力回路60は、信号電圧Vsigを行(ライン)単位で書き込む線順次書込みの駆動形態を採っている。 The signal voltage V sig / reference voltage V ofs output from the signal output circuit 60 is scanned by the write scanning circuit 40 with respect to each pixel 20 of the pixel array unit 30 via the signal line 33 (33 1 to 33 n ). Are written in units of pixel rows selected by. In other words, the signal output circuit 60 adopts a line sequential writing driving form in which the signal voltage V sig is written in units of rows (lines).

(画素回路)
図6は、画素(画素回路)20の具体的な回路構成の一例を示す回路図である。画素20の発光部は、デバイスに流れる電流値に応じて発光輝度が変化する電流駆動型の電気光学素子である有機EL素子21から成る。
(Pixel circuit)
FIG. 6 is a circuit diagram illustrating an example of a specific circuit configuration of the pixel (pixel circuit) 20. The light-emitting portion of the pixel 20 includes an organic EL element 21 that is a current-driven electro-optical element whose emission luminance changes according to the value of a current flowing through the device.

図6に示すように、画素20は、有機EL素子21と、有機EL素子21に電流を流すことによって当該有機EL素子21を駆動する駆動回路とによって構成されている。有機EL素子21は、全ての画素20に対して共通に配線(所謂、ベタ配線)された共通電源供給線34にカソード電極が接続されている。   As shown in FIG. 6, the pixel 20 includes an organic EL element 21 and a drive circuit that drives the organic EL element 21 by passing a current through the organic EL element 21. The organic EL element 21 has a cathode electrode connected to a common power supply line 34 that is wired in common to all the pixels 20 (so-called solid wiring).

有機EL素子21を駆動する駆動回路は、駆動トランジスタ22、書込みトランジスタ23、保持容量24、及び、補助容量25を有する構成となっている。駆動トランジスタ22及び書込みトランジスタ23としてNチャネル型のTFTを用いることができる。但し、ここで示した、駆動トランジスタ22及び書込みトランジスタ23の導電型の組み合わせは一例に過ぎず、これらの組み合わせに限られるものではない。   The drive circuit that drives the organic EL element 21 has a configuration including a drive transistor 22, a write transistor 23, a storage capacitor 24, and an auxiliary capacitor 25. N-channel TFTs can be used as the driving transistor 22 and the writing transistor 23. However, the combination of the conductivity types of the drive transistor 22 and the write transistor 23 shown here is merely an example, and is not limited to these combinations.

駆動トランジスタ22は、一方の電極(ソース/ドレイン電極)が有機EL素子21のアノード電極に接続され、他方の電極(ソース/ドレイン電極)が電源供給線32(321〜32m)に接続されている。 The drive transistor 22 has one electrode (source / drain electrode) connected to the anode electrode of the organic EL element 21 and the other electrode (source / drain electrode) connected to the power supply line 32 (32 1 to 32 m ). ing.

書込みトランジスタ23は、一方の電極(ソース/ドレイン電極)が信号線33(331〜33n)に接続され、他方の電極(ソース/ドレイン電極)が駆動トランジスタ22のゲート電極に接続されている。また、書込みトランジスタ23のゲート電極は、走査線31(311〜31m)に接続されている。 In the write transistor 23, one electrode (source / drain electrode) is connected to the signal line 33 (33 1 to 33 n ), and the other electrode (source / drain electrode) is connected to the gate electrode of the drive transistor 22. . The gate electrode of the writing transistor 23 is connected to the scanning line 31 (31 1 to 31 m ).

駆動トランジスタ22及び書込みトランジスタ23において、一方の電極とは、ソース/ドレイン領域に電気的に接続された金属配線を言い、他方の電極とは、ドレイン/ソース領域に電気的に接続された金属配線を言う。また、一方の電極と他方の電極との電位関係によって一方の電極がソース電極ともなればドレイン電極ともなり、他方の電極がドレイン電極ともなればソース電極ともなる。   In the driving transistor 22 and the writing transistor 23, one electrode is a metal wiring electrically connected to the source / drain region, and the other electrode is a metal wiring electrically connected to the drain / source region. Say. Further, depending on the potential relationship between one electrode and the other electrode, if one electrode becomes a source electrode, it becomes a drain electrode, and if the other electrode also becomes a drain electrode, it becomes a source electrode.

保持容量24は、一方の電極が駆動トランジスタ22のゲート電極に接続され、他方の電極が駆動トランジスタ22の他方の電極、及び、有機EL素子21のアノード電極に接続されている。   The storage capacitor 24 has one electrode connected to the gate electrode of the drive transistor 22, and the other electrode connected to the other electrode of the drive transistor 22 and the anode electrode of the organic EL element 21.

補助容量25は、一方の電極が有機EL素子21のアノード電極に、他方の電極が共通電源供給線34にそれぞれ接続されている。この補助容量25は、有機EL素子21の容量不足分を補い、保持容量24に対する映像信号の書込みゲインを高めるために、必要に応じて設けられるものである。すなわち、補助容量25は必須の構成要素ではなく、有機EL素子21の等価容量が十分に大きい場合は省略可能である。   The auxiliary capacitor 25 has one electrode connected to the anode electrode of the organic EL element 21 and the other electrode connected to the common power supply line 34. The auxiliary capacitor 25 is provided as necessary in order to compensate for the insufficient capacity of the organic EL element 21 and to increase the video signal write gain to the storage capacitor 24. That is, the auxiliary capacitor 25 is not an essential component and can be omitted when the equivalent capacitance of the organic EL element 21 is sufficiently large.

ここでは、補助容量25の他方の電極を共通電源供給線34に接続するとしているが、他方の電極の接続先としては、共通電源供給線34に限られるものではなく、固定電位のノードであればよい。補助容量25の他方の電極を固定電位のノードに接続することで、有機EL素子21の容量不足分を補い、保持容量24に対する映像信号の書込みゲインを高めるという所期の目的を達成することができる。   Here, the other electrode of the auxiliary capacitor 25 is connected to the common power supply line 34. However, the connection destination of the other electrode is not limited to the common power supply line 34, and may be a fixed potential node. That's fine. By connecting the other electrode of the auxiliary capacitor 25 to a node of a fixed potential, the intended purpose of compensating the shortage of the capacity of the organic EL element 21 and increasing the video signal write gain to the holding capacitor 24 can be achieved. it can.

上記構成の画素20において、書込みトランジスタ23は、書込み走査回路40から走査線31を通してゲート電極に印加されるHighアクティブの書込み走査信号WSに応答して導通状態となる。これにより、書込みトランジスタ23は、信号線33を通して信号出力回路60から供給される、輝度情報に応じた映像信号の信号電圧Vsigまたは基準電圧Vofsをサンプリングして画素20内に書き込む。この書き込まれた信号電圧Vsigまたは基準電圧Vofsは、駆動トランジスタ22のゲート電極に印加されるとともに保持容量24に保持される。 In the pixel 20 configured as described above, the writing transistor 23 becomes conductive in response to a high active writing scanning signal WS applied to the gate electrode from the writing scanning circuit 40 through the scanning line 31. Thereby, the write transistor 23 samples the signal voltage V sig of the video signal or the reference voltage V ofs supplied from the signal output circuit 60 through the signal line 33 and writes it in the pixel 20. The written signal voltage V sig or reference voltage V ofs is applied to the gate electrode of the driving transistor 22 and held in the holding capacitor 24.

駆動トランジスタ22は、電源供給線32(321〜32m)の電源電位DSが第1電源電位Vccpにあるときには、一方の電極がドレイン電極、他方の電極がソース電極となって飽和領域で動作する。これにより、駆動トランジスタ22は、電源供給線32から電流の供給を受けて有機EL素子21を電流駆動にて発光駆動する。より具体的には、駆動トランジスタ22は、飽和領域で動作することにより、保持容量24に保持された信号電圧Vsigの電圧値に応じた電流値の駆動電流を有機EL素子21に供給し、当該有機EL素子21を電流駆動することによって発光させる。 When the power supply potential DS of the power supply line 32 (32 1 to 32 m ) is at the first power supply potential V ccp , the driving transistor 22 has one electrode as a drain electrode and the other electrode as a source electrode in a saturation region. Operate. As a result, the drive transistor 22 is supplied with current from the power supply line 32 and drives the organic EL element 21 to emit light by current drive. More specifically, the drive transistor 22 operates in the saturation region, thereby supplying the organic EL element 21 with a drive current having a current value corresponding to the voltage value of the signal voltage V sig held in the storage capacitor 24. The organic EL element 21 is caused to emit light by current driving.

駆動トランジスタ22は更に、電源電位DSが第1電源電位Vccpから第2電源電位Viniに切り替わったときには、一方の電極がソース電極、他方の電極がドレイン電極となってスイッチングトランジスタとして動作する。これにより、駆動トランジスタ22は、有機EL素子21への駆動電流の供給を停止し、有機EL素子21を非発光状態にする。すなわち、駆動トランジスタ22は、有機EL素子21の発光/非発光を制御するトランジスタとしての機能をも併せ持っている。 Further, when the power supply potential DS is switched from the first power supply potential V ccp to the second power supply potential V ini , the drive transistor 22 operates as a switching transistor with one electrode serving as a source electrode and the other electrode serving as a drain electrode. As a result, the drive transistor 22 stops supplying the drive current to the organic EL element 21 and puts the organic EL element 21 into a non-light emitting state. That is, the drive transistor 22 also has a function as a transistor that controls light emission / non-light emission of the organic EL element 21.

この駆動トランジスタ22のスイッチング動作により、有機EL素子21が非発光状態となる期間(非発光期間)を設け、有機EL素子21の発光期間と非発光期間の割合(デューティ)を制御することができる。このデューティ制御により、1表示フレーム期間に亘って画素が発光することに伴う残像ボケを低減できるために、特に動画の画品位をより優れたものとすることができる。   By the switching operation of the drive transistor 22, a period during which the organic EL element 21 is in a non-light emitting state (non-light emitting period) is provided, and the ratio (duty) of the light emitting period and the non-light emitting period of the organic EL element 21 can be controlled. . By this duty control, afterimage blurring caused by light emission of pixels over one display frame period can be reduced, so that the quality of moving images can be particularly improved.

電源供給走査回路50から電源供給線32を通して選択的に供給される第1,第2電源電位Vccp,Viniのうち、第1電源電位Vccpは有機EL素子21を発光駆動する駆動電流を駆動トランジスタ22に供給するための電源電位である。また、第2電源電位Viniは、有機EL素子21に対して逆バイアスを掛けるための電源電位である。この第2電源電位Viniは、基準電圧Vofsよりも低い電位、例えば、駆動トランジスタ22の閾値電圧をVthとするときVofs−Vthよりも低い電位、好ましくは、Vofs−Vthよりも十分に低い電位に設定される。 Of the first and second power supply potentials V ccp and V ini selectively supplied from the power supply scanning circuit 50 through the power supply line 32, the first power supply potential V ccp is a drive current for driving the organic EL element 21 to emit light. The power supply potential is supplied to the driving transistor 22. The second power supply potential V ini is a power supply potential for applying a reverse bias to the organic EL element 21. The second power supply potential V ini is a potential lower than the reference voltage V ofs , for example, a potential lower than V ofs −V th when the threshold voltage of the driving transistor 22 is V th , preferably V ofs −V th. Is set to a sufficiently lower potential.

[2−2.基本的な回路動作]
続いて、上記構成の有機EL表示装置10の基本的な回路動作について、図4のタイミング波形図を基に図6及び図7の動作説明図を用いて説明する。尚、図6及び図7の動作説明図では、図面の簡略化のために、書込みトランジスタ23をスイッチのシンボルで図示している。
[2-2. Basic circuit operation]
Subsequently, a basic circuit operation of the organic EL display device 10 having the above-described configuration will be described with reference to operation explanatory diagrams of FIGS. 6 and 7 based on a timing waveform diagram of FIG. In the operation explanatory diagrams of FIGS. 6 and 7, the write transistor 23 is illustrated by a switch symbol for simplification of the drawing.

図4のタイミング波形図には、走査線31の電位(書込み走査信号)WS、電源供給線32の電位(電源電位)DS、信号線33の電位(Vsig/Vofs)、駆動トランジスタ22のゲート電位Vg及びソース電位Vsのそれぞれの変化を示している。 In the timing waveform diagram of FIG. 4, the potential of the scanning line 31 (write scanning signal) WS, the potential of the power supply line 32 (power supply potential) DS, the potential of the signal line 33 (V sig / V ofs ), Changes in the gate potential V g and the source potential V s are shown.

(前表示フレームの発光期間)
図4のタイミング波形図において、時刻t11以前は、前の表示フレームにおける有機EL素子21の発光期間となる。この前表示フレームの発光期間では、電源供給線32の電位DSが第1電源電位(以下、「高電位」と記述する)Vccpにあり、また、書込みトランジスタ23が非導通状態にある。
(Light emission period of the previous display frame)
In the timing waveform diagram of FIG. 4, before the time t 11 is the light emission period of the organic EL element 21 in the previous display frame. During the light emission period of the previous display frame, the potential DS of the power supply line 32 is at the first power supply potential (hereinafter referred to as “high potential”) V ccp , and the writing transistor 23 is in a non-conductive state.

このとき、駆動トランジスタ22は飽和領域で動作するように設計されている。これにより、図6(A)に示すように、駆動トランジスタ22のゲート−ソース間電圧Vgsに応じた駆動電流(ドレイン−ソース間電流)Idsが、電源供給線32から駆動トランジスタ22を通して有機EL素子21に供給される。従って、有機EL素子21が駆動電流Idsの電流値に応じた輝度で発光する。 At this time, the drive transistor 22 is designed to operate in a saturation region. As a result, as shown in FIG. 6A , the drive current (drain-source current) I ds corresponding to the gate-source voltage V gs of the drive transistor 22 is organically transmitted from the power supply line 32 through the drive transistor 22. It is supplied to the EL element 21. Accordingly, the organic EL element 21 emits light with a luminance corresponding to the current value of the drive current I ds .

(閾値補正準備期間)
時刻t11になると、線順次走査の新しい表示フレーム(現表示フレーム)に入る。そして、図6(B)に示すように、電源供給線32の電位DSが高電位Vccpから、信号線33の基準電圧Vofsに対してVofs−Vthよりも十分に低い第2電源電位(以下、「低電位」と記述する)Viniに切り替わる。
(Threshold correction preparation period)
At time t 11, it enters a new display frame of line sequential scanning (current display frame). Then, as shown in FIG. 6B, the second power source in which the potential DS of the power supply line 32 is sufficiently lower than V ofs −V th with respect to the reference voltage V ofs of the signal line 33 from the high potential V ccp. The potential (hereinafter referred to as “low potential”) V ini is switched.

ここで、有機EL素子21の閾値電圧をVthel、共通電源供給線34の電位(カソード電位)をVcathとする。このとき、低電位ViniをVini<Vthel+Vcathとすると、駆動トランジスタ22のソース電位Vsが低電位Viniにほぼ等しくなるために、有機EL素子21は逆バイアス状態となって消光する。 Here, the threshold voltage of the organic EL element 21 is V thel , and the potential (cathode potential) of the common power supply line 34 is V cath . At this time, if the low potential V ini is V ini <V thel + V cath , the source potential V s of the drive transistor 22 becomes substantially equal to the low potential V ini , so that the organic EL element 21 is in a reverse bias state and is quenched. To do.

次に、時刻t12で走査線31の電位WSが低電位側から高電位側に遷移することで、、図6(C)に示すように、書込みトランジスタ23が導通状態となる。このとき信号出力回路60から信号線33に対して基準電圧Vofsが供給された状態にあるために、駆動トランジスタ22のゲート電位Vgが基準電圧Vofsになる。また、駆動トランジスタ22のソース電位Vsは、基準電圧Vofsよりも十分に低い電位、即ち、低電位Viniにある。 Next, when the potential WS of the scanning line 31 transitions from the low potential side to the high potential side at time t 12 , the writing transistor 23 becomes conductive as illustrated in FIG. 6C. At this time, since the reference voltage V ofs is supplied from the signal output circuit 60 to the signal line 33, the gate potential V g of the drive transistor 22 becomes the reference voltage V ofs . The source potential V s of the drive transistor 22 is at a potential sufficiently lower than the reference voltage V ofs , that is, the low potential V ini .

このとき、駆動トランジスタ22のゲート−ソース間電圧VgsはVofs−Viniとなる。ここで、Vofs−Viniが駆動トランジスタ22の閾値電圧Vthよりも大きくないと、後述する閾値補正処理を行うことができないために、Vofs−Vini>Vthなる電位関係に設定する必要がある。 At this time, the gate-source voltage V gs of the driving transistor 22 becomes V ofs −V ini . Here, if V ofs −V ini is not larger than the threshold voltage V th of the drive transistor 22, threshold correction processing described later cannot be performed, so that a potential relationship of V ofs −V ini > V th is set. There is a need.

このように、駆動トランジスタ22のゲート電位Vgを基準電圧Vofsに固定し、かつ、ソース電位Vsを低電位Viniに固定して(確定させて)初期化する処理が、後述する閾値補正処理(閾値補正動作)を行う前の準備(閾値補正準備)の処理である。従って、基準電圧Vofs及び低電位Viniが、駆動トランジスタ22のゲート電位Vg及びソース電位Vsの各初期化電位となる。 As described above, the process of fixing the gate potential V g of the driving transistor 22 to the reference voltage V ofs and fixing (determining) the source potential V s to the low potential V ini is a threshold value described later. This is a preparation (threshold correction preparation) process before the correction process (threshold correction operation) is performed. Therefore, the reference voltage V ofs and the low potential V ini become the initialization potentials of the gate potential V g and the source potential V s of the driving transistor 22.

(閾値補正期間)
次に、時刻t13で、図6(D)に示すように、電源供給線32の電位DSが低電位Viniから高電位Vccpに切り替わると、駆動トランジスタ22のゲート電位Vgが基準電圧Vofsに保たれた状態で閾値補正処理が開始される。すなわち、ゲート電位Vgから駆動トランジスタ22の閾値電圧Vthを減じた電位に向けて駆動トランジスタ22のソース電位Vsが上昇を開始する。
(Threshold correction period)
Next, at time t 13 , as shown in FIG. 6D, when the potential DS of the power supply line 32 is switched from the low potential V ini to the high potential V ccp , the gate potential V g of the drive transistor 22 is changed to the reference voltage. The threshold correction process is started in a state where V ofs is maintained. That is, the source potential V s of the drive transistor 22 starts to increase toward the potential obtained by subtracting the threshold voltage V th of the drive transistor 22 from the gate potential V g .

ここでは、便宜上、駆動トランジスタ22のゲート電位Vgの初期化電位Vofsを基準とし、当該初期化電位Vofsから駆動トランジスタ22の閾値電圧Vthを減じた電位に向けてソース電位Vsを変化させる処理を閾値補正処理と呼んでいる。この閾値補正処理が進むと、やがて、駆動トランジスタ22のゲート−ソース間電圧Vgsが駆動トランジスタ22の閾値電圧Vthに収束する。この閾値電圧Vthに相当する電圧は保持容量24に保持される。 For convenience, the initialization potential V ofs of the gate potential V g of the driving transistor 22 as a reference, the source potential V s towards the potential obtained by subtracting the threshold voltage V th of the drive transistor 22 from the initialization potential V ofs The changing process is called a threshold correction process. As the threshold correction process proceeds, the gate-source voltage V gs of the drive transistor 22 eventually converges to the threshold voltage V th of the drive transistor 22. A voltage corresponding to the threshold voltage V th is held in the holding capacitor 24.

尚、閾値補正処理を行う期間(閾値補正期間)において、電流が専ら保持容量24側に流れ、有機EL素子21側には流れないようにするために、有機EL素子21がカットオフ状態となるように共通電源供給線34の電位Vcathを設定しておくこととする。 In the period for performing the threshold correction process (threshold correction period), the organic EL element 21 is cut off in order to prevent current from flowing exclusively to the storage capacitor 24 side and not to the organic EL element 21 side. As described above, the potential V cath of the common power supply line 34 is set.

次に、時刻t14で、走査線31の電位WSが低電位側に遷移することで、図7(A)に示すように、書込みトランジスタ23が非導通状態となる。このとき、駆動トランジスタ22のゲート電極が信号線33から電気的に切り離されることによってフローティング状態になる。しかし、ゲート−ソース間電圧Vgsが駆動トランジスタ22の閾値電圧Vthに等しいために、当該駆動トランジスタ22はカットオフ状態にある。従って、駆動トランジスタ22にドレイン−ソース間電流Idsは流れない。 Next, at time t 14 , the potential WS of the scanning line 31 transitions to the low potential side, so that the writing transistor 23 is turned off as illustrated in FIG. At this time, the gate electrode of the driving transistor 22 is electrically disconnected from the signal line 33 to be in a floating state. However, since the gate-source voltage V gs is equal to the threshold voltage V th of the drive transistor 22, the drive transistor 22 is in a cutoff state. Accordingly, the drain-source current I ds does not flow through the driving transistor 22.

(信号書込み&移動度補正期間)
次に、時刻t15で、図7(B)に示すように、信号線33の電位が基準電圧Vofsから映像信号の信号電圧Vsigに切り替わる。続いて、時刻t16で、走査線31の電位WSが高電位側に遷移することで、図7(C)に示すように、書込みトランジスタ23が導通状態になって映像信号の信号電圧Vsigをサンプリングして画素20内に書き込む。
(Signal writing & mobility correction period)
Next, at time t 15 , as shown in FIG. 7B, the potential of the signal line 33 is switched from the reference voltage V ofs to the signal voltage V sig of the video signal. Subsequently, at time t 16 , the potential WS of the scanning line 31 transitions to the high potential side, so that the writing transistor 23 becomes conductive as shown in FIG. 7C, and the signal voltage V sig of the video signal. Are sampled and written into the pixel 20.

この書込みトランジスタ23による信号電圧Vsigの書込みにより、駆動トランジスタ22のゲート電位Vgが信号電圧Vsigになる。そして、映像信号の信号電圧Vsigによる駆動トランジスタ22の駆動の際に、当該駆動トランジスタ22の閾値電圧Vthが保持容量24に保持された閾値電圧Vthに相当する電圧と相殺される。この閾値キャンセルの原理の詳細については後述する。 By writing the signal voltage V sig by the writing transistor 23, the gate potential V g of the driving transistor 22 becomes the signal voltage V sig . When the drive transistor 22 is driven by the signal voltage V sig of the video signal, the threshold voltage V th of the drive transistor 22 is canceled with the voltage corresponding to the threshold voltage V th held in the holding capacitor 24. Details of the principle of threshold cancellation will be described later.

このとき、有機EL素子21は、カットオフ状態(ハイインピーダンス状態)にある。従って、映像信号の信号電圧Vsigに応じて電源供給線32から駆動トランジスタ22に流れる電流(ドレイン−ソース間電流Ids)は、有機EL素子21の等価容量及び補助容量25に流れ込む。これにより、有機EL素子21の等価容量及び補助容量25の充電が開始される。 At this time, the organic EL element 21 is in a cutoff state (high impedance state). Therefore, the current (drain-source current I ds ) flowing from the power supply line 32 to the drive transistor 22 in accordance with the signal voltage V sig of the video signal flows into the equivalent capacitor and the auxiliary capacitor 25 of the organic EL element 21. Thereby, charging of the equivalent capacity of the organic EL element 21 and the auxiliary capacity 25 is started.

有機EL素子21の等価容量及び補助容量25が充電されることにより、駆動トランジスタ22のソース電位Vsが時間の経過とともに上昇していく。このとき既に、駆動トランジスタ22の閾値電圧Vthの画素毎のばらつきがキャンセルされており、駆動トランジスタ22のドレイン−ソース間電流Idsは当該駆動トランジスタ22の移動度μに依存したものとなる。尚、駆動トランジスタ22の移動度μは、当該駆動トランジスタ22のチャネルを構成する半導体薄膜の移動度である。 As the equivalent capacitance and the auxiliary capacitance 25 of the organic EL element 21 are charged, the source potential V s of the drive transistor 22 increases with time. At this time, the pixel-to-pixel variation in the threshold voltage V th of the drive transistor 22 has already been canceled, and the drain-source current I ds of the drive transistor 22 depends on the mobility μ of the drive transistor 22. Note that the mobility μ of the drive transistor 22 is the mobility of the semiconductor thin film constituting the channel of the drive transistor 22.

ここで、映像信号の信号電圧Vsigに対する保持容量24の保持電圧Vgsの比率、即ち、書込みゲインGが1(理想値)であると仮定する。すると、駆動トランジスタ22のソース電位VsがVofs−Vth+ΔVの電位まで上昇することで、駆動トランジスタ22のゲート‐ソース間電圧VgsはVsig−Vofs+Vth−ΔVとなる。 Here, it is assumed that the ratio of the holding voltage V gs of the holding capacitor 24 to the signal voltage V sig of the video signal, that is, the write gain G is 1 (ideal value). Then, the source potential V s of the drive transistor 22 rises to the potential of V ofs −V th + ΔV, so that the gate-source voltage V gs of the drive transistor 22 becomes V sig −V ofs + V th −ΔV.

すなわち、駆動トランジスタ22のソース電位Vsの上昇分ΔVは、保持容量24に保持された電圧(Vsig−Vofs+Vth)から差し引かれるように、換言すれば、保持容量24の充電電荷を放電するように作用する。換言すれば、ソース電位Vsの上昇分ΔVは、保持容量24に対して負帰還がかけられたことになる。従って、ソース電位Vsの上昇分ΔVは負帰還の帰還量となる。 That is, the increase ΔV of the source potential Vs of the driving transistor 22 is subtracted from the voltage (V sig −V ofs + V th ) held in the holding capacitor 24, in other words, the charge stored in the holding capacitor 24 is discharged. Acts like In other words, the increase ΔV of the source potential Vs is negatively fed back to the storage capacitor 24. Therefore, the increase ΔV of the source potential V s becomes a feedback amount of negative feedback.

このように、駆動トランジスタ22に流れるドレイン−ソース間電流Idsに応じた帰還量ΔVでゲート‐ソース間電圧Vgsに負帰還をかけることで、駆動トランジスタ22のドレイン−ソース間電流Idsの移動度μに対する依存性を打ち消すことができる。この打ち消す処理が、駆動トランジスタ22の移動度μの画素毎のばらつきを補正する移動度補正処理である。 Thus, the drain flowing through the driving transistor 22 - gate with the feedback amount ΔV corresponding to the source current I ds - by applying the negative feedback to the source voltage V gs, the drain of the driving transistor 22 - the source current I ds The dependence on mobility μ can be negated. This canceling process is a mobility correction process for correcting the variation of the mobility μ of the driving transistor 22 for each pixel.

より具体的には、駆動トランジスタ22のゲート電極に書き込まれる映像信号の信号振幅Vin(=Vsig−Vofs)が高い程ドレイン−ソース間電流Idsが大きくなるため、負帰還の帰還量ΔVの絶対値も大きくなる。従って、発光輝度レベルに応じた移動度補正処理が行われる。 More specifically, since the drain-source current I ds increases as the signal amplitude V in (= V sig −V ofs ) of the video signal written to the gate electrode of the drive transistor 22 increases, the feedback amount of negative feedback The absolute value of ΔV also increases. Therefore, mobility correction processing according to the light emission luminance level is performed.

また、映像信号の信号振幅Vinを一定とした場合、駆動トランジスタ22の移動度μが大きいほど負帰還の帰還量ΔVの絶対値も大きくなるため、画素毎の移動度μのばらつきを取り除くことができる。従って、負帰還の帰還量ΔVは、移動度補正処理の補正量とも言える。移動度補正の原理の詳細については後述する。 Furthermore, when a constant signal amplitude V in of the video signal, since the greater the absolute value of the feedback amount ΔV of the mobility μ is large enough negative feedback of the drive transistor 22, to remove the variation of the mobility μ for each pixel Can do. Therefore, it can be said that the feedback amount ΔV of the negative feedback is a correction amount of the mobility correction process. Details of the principle of mobility correction will be described later.

(発光期間)
次に、時刻t17で、走査線31の電位WSが低電位側に遷移することで、図7(D)に示すように、書込みトランジスタ23が非導通状態となる。これにより、駆動トランジスタ22のゲート電極は、信号線33から電気的に切り離されるためにフローティング状態になる。
(Light emission period)
Next, at time t 17 , the potential WS of the scanning line 31 transitions to the low potential side, so that the writing transistor 23 is turned off as illustrated in FIG. 7D. As a result, the gate electrode of the driving transistor 22 is electrically disconnected from the signal line 33 and is in a floating state.

ここで、駆動トランジスタ22のゲート電極がフローティング状態にあるときは、駆動トランジスタ22のゲート−ソース間に保持容量24が接続されていることにより、駆動トランジスタ22のソース電位Vsの変動に連動してゲート電位Vgも変動する。 Here, when the gate electrode of the drive transistor 22 is in a floating state, the storage capacitor 24 is connected between the gate and the source of the drive transistor 22, thereby interlocking with the fluctuation of the source potential V s of the drive transistor 22. Thus, the gate potential V g also varies.

このように、駆動トランジスタ22のゲート電位Vgがソース電位Vsの変動に連動して変動する動作が、換言すれば、保持容量24に保持されたゲート−ソース間電圧Vgsを保ったまま、ゲート電位Vg及びソース電位Vsが上昇する動作がブートストラップ動作である。 Thus, the operation in which the gate potential V g of the drive transistor 22 varies in conjunction with the variation of the source potential V s , in other words, while maintaining the gate-source voltage V gs retained in the retention capacitor 24. The operation of increasing the gate potential V g and the source potential V s is a bootstrap operation.

駆動トランジスタ22のゲート電極がフローティング状態になり、それと同時に、駆動トランジスタ22のドレイン−ソース間電流Idsが有機EL素子21に流れ始めることにより、当該電流Idsに応じて有機EL素子21のアノード電位が上昇する。 The gate electrode of the drive transistor 22 is in a floating state, and at the same time, the drain-source current I ds of the drive transistor 22 starts to flow through the organic EL element 21, so that the anode of the organic EL element 21 corresponds to the current I ds. The potential increases.

そして、有機EL素子21のアノード電位がVthel+Vcathを越えると、有機EL素子21に駆動電流が流れ始めるため有機EL素子21が発光を開始する。また、有機EL素子21のアノード電位の上昇は、即ち、駆動トランジスタ22のソース電位Vsの上昇に他ならない。そして、駆動トランジスタ22のソース電位Vsが上昇すると、保持容量24のブートストラップ動作により、駆動トランジスタ22のゲート電位Vgも連動して上昇する。 When the anode potential of the organic EL element 21 exceeds V thel + V cath , the drive current starts to flow through the organic EL element 21, so that the organic EL element 21 starts to emit light. The increase in the anode potential of the organic EL element 21 is none other than the increase in the source potential V s of the drive transistor 22. When the source potential V s of the driving transistor 22 rises, the gate potential V g of the driving transistor 22 also rises in conjunction with the bootstrap operation of the storage capacitor 24.

このとき、ブートストラップゲインが1(理想値)であると仮定した場合、ゲート電位Vgの上昇量はソース電位Vsの上昇量に等しくなる。故に、発光期間中、駆動トランジスタ22のゲート‐ソース間電圧Vgsは、Vsig−Vofs+Vth−ΔVで一定に保持される。そして、時刻t18で信号線33の電位が映像信号の信号電圧Vsigから基準電圧Vofsに切り替わる。 At this time, when it is assumed that the bootstrap gain is 1 (ideal value), the increase amount of the gate potential V g becomes equal to the increase amount of the source potential V s . Therefore, during the light emission period, the gate-source voltage V gs of the drive transistor 22 is kept constant at V sig −V ofs + V th −ΔV. At time t 18 , the potential of the signal line 33 is switched from the signal voltage V sig of the video signal to the reference voltage V ofs .

以上説明した一連の回路動作において、閾値補正準備、閾値補正、信号電圧Vsigの書込み(信号書込み)、及び、移動度補正の各処理動作は、1水平走査期間(1H)において実行される。また、信号書込み及び移動度補正の各処理動作は、時刻t16−t17の期間において並行して実行される。 In the series of circuit operations described above, processing operations for threshold correction preparation, threshold correction, signal voltage V sig writing (signal writing), and mobility correction are executed in one horizontal scanning period (1H). Further, the processing operations of the signal writing and mobility correction are concurrently executed in the period from time t 16 -t 17.

〔分割閾値補正〕
尚、ここでは、閾値補正処理を1回だけ実行する駆動法を採る場合を例に挙げて説明したが、この駆動法は一例に過ぎず、この駆動法に限られるものではない。例えば、閾値補正処理を移動度補正及び信号書込み処理と共に行う1H期間に加えて、当該1H期間に先行する複数の水平走査期間に亘って分割して閾値補正処理を複数回実行する、所謂、分割閾値補正を行う駆動法を採ることも可能である。
[Division threshold correction]
Here, the case where the driving method in which the threshold value correction process is executed only once is described as an example, but this driving method is only an example and is not limited to this driving method. For example, in addition to the 1H period in which the threshold correction process is performed together with the mobility correction and the signal writing process, the threshold correction process is performed a plurality of times while being divided over a plurality of horizontal scanning periods preceding the 1H period. It is also possible to adopt a driving method for performing threshold correction.

この分割閾値補正の駆動法によれば、高精細化に伴う多画素化によって1水平走査期間として割り当てられる時間が短くなったとしても、閾値補正期間として複数の水平走査期間に亘って十分な時間を確保することができる。従って、1水平走査期間として割り当てられる時間が短くなっても、閾値補正期間として十分な時間を確保できるため、閾値補正処理を確実に実行できることになる。   According to this division threshold correction driving method, even if the time allocated as one horizontal scanning period is shortened due to the increase in the number of pixels associated with high definition, sufficient time is provided for a plurality of horizontal scanning periods as the threshold correction period. Can be secured. Therefore, even if the time allocated as one horizontal scanning period is shortened, a sufficient time can be secured as the threshold correction period, so that the threshold correction process can be reliably executed.

〔閾値キャンセルの原理〕
ここで、駆動トランジスタ22の閾値キャンセル(即ち、閾値補正)の原理について説明する。駆動トランジスタ22は、飽和領域で動作するように設計されているために定電流源として動作する。これにより、有機EL素子21には駆動トランジスタ22から、次式(1)で与えられる一定のドレイン−ソース間電流(駆動電流)Idsが供給される。
ds=(1/2)・μ(W/L)Cox(Vgs−Vth2 ……(1)
ここで、Wは駆動トランジスタ22のチャネル幅、Lはチャネル長、Coxは単位面積当たりのゲート容量である。
[Principle of threshold cancellation]
Here, the principle of threshold cancellation (that is, threshold correction) of the drive transistor 22 will be described. The drive transistor 22 operates as a constant current source because it is designed to operate in the saturation region. As a result, the organic EL element 21 is supplied with a constant drain-source current (drive current) I ds given by the following equation (1) from the drive transistor 22.
I ds = (1/2) · μ (W / L) C ox (V gs −V th ) 2 (1)
Here, W is the channel width of the driving transistor 22, L is the channel length, and C ox is the gate capacitance per unit area.

図8(A)に、駆動トランジスタ22のドレイン−ソース間電流Ids対ゲート−ソース間電圧Vgsの特性を示す。図8(A)の特性図に示すように、駆動トランジスタ22の閾値電圧Vthの画素毎のばらつきに対するキャンセル処理(補正処理)を行わないと、閾値電圧VthがVth1のときに、ゲート−ソース間電圧Vgsに対応するドレイン−ソース間電流IdsがIds1になる。 FIG. 8A shows the characteristics of the drain-source current I ds versus the gate-source voltage V gs of the driving transistor 22. As shown in the characteristic diagram of FIG. 8A, if the cancel process (correction process) for the variation of the threshold voltage V th of the driving transistor 22 for each pixel is not performed, the gate is obtained when the threshold voltage V th is V th1. - a drain corresponding to the source voltage V gs - source current I ds becomes I ds1.

これに対して、閾値電圧VthがVth2(Vth2>Vth1)のとき、同じゲート−ソース間電圧Vgsに対応するドレイン−ソース間電流IdsがIds2(Ids2<Ids1)になる。すなわち、駆動トランジスタ22の閾値電圧Vthが変動すると、ゲート−ソース間電圧Vgsが一定であってもドレイン−ソース間電流Idsが変動する。 On the other hand, when the threshold voltage V th is V th2 (V th2> V th1 ), the same gate - drain corresponding to the source voltage V gs - source current I ds I ds2 (I ds2 <I ds1 ) become. That is, when the threshold voltage V th of the drive transistor 22 varies, the drain-source current I ds varies even if the gate-source voltage V gs is constant.

一方、上記構成の画素(画素回路)20では、先述したように、発光時の駆動トランジスタ22のゲート−ソース間電圧VgsはVsig−Vofs+Vth−ΔVである。従って、これを式(1)に代入すると、ドレイン−ソース間電流Idsは、次式(2)で表される。
ds=(1/2)・μ(W/L)Cox(Vsig−Vofs−ΔV)2 ……(2)
On the other hand, in the pixel (pixel circuit) 20 having the above configuration, as described above, the gate-source voltage V gs of the driving transistor 22 at the time of light emission is V sig −V ofs + V th −ΔV. Therefore, when this is substituted into the equation (1), the drain-source current I ds is expressed by the following equation (2).
I ds = (1/2) · μ (W / L) C ox (V sig −V ofs −ΔV) 2 (2)

すなわち、駆動トランジスタ22の閾値電圧Vthの項がキャンセルされており、駆動トランジスタ22から有機EL素子21に供給されるドレイン−ソース間電流Idsは、駆動トランジスタ22の閾値電圧Vthに依存しない。その結果、駆動トランジスタ22の製造プロセスのばらつきや経時変化等により、駆動トランジスタ22の閾値電圧Vthが画素毎に変動したとしても、ドレイン−ソース間電流Idsが変動しないために、有機EL素子21の発光輝度を一定に保つことができる。 That is, the term of the threshold voltage V th of the drive transistor 22 is canceled, and the drain-source current I ds supplied from the drive transistor 22 to the organic EL element 21 does not depend on the threshold voltage V th of the drive transistor 22. . As a result, even if the threshold voltage V th of the drive transistor 22 varies from pixel to pixel due to variations in the manufacturing process of the drive transistor 22 and changes over time, the drain-source current I ds does not vary. 21 emission luminance can be kept constant.

〔移動度補正の原理〕
次に、駆動トランジスタ22の移動度補正の原理について説明する。図8(B)に、駆動トランジスタ22の移動度μが相対的に大きい画素Aと、駆動トランジスタ22の移動度μが相対的に小さい画素Bとを比較した状態で特性カーブを示す。駆動トランジスタ22をポリシリコン薄膜トランジスタなどで構成した場合、画素Aや画素Bのように、画素間で移動度μがばらつくことは避けられない。
[Principle of mobility correction]
Next, the principle of mobility correction of the drive transistor 22 will be described. FIG. 8B shows a characteristic curve in a state where a pixel A having a relatively high mobility μ of the drive transistor 22 and a pixel B having a relatively low mobility μ of the drive transistor 22 are compared. When the driving transistor 22 is composed of a polysilicon thin film transistor or the like, it is inevitable that the mobility μ varies between pixels like the pixel A and the pixel B.

画素Aと画素Bで移動度μにばらつきがある状態で、駆動トランジスタ22のゲート電極に対して、例えば両画素A,Bに同レベルの信号振幅Vin(=Vsig−Vofs)を書き込んだ場合を考える。この場合、何ら移動度μの補正を行わないと、移動度μの大きい画素Aに流れるドレイン−ソース間電流Ids1′と移動度μの小さい画素Bに流れるドレイン−ソース間電流Ids2′との間には大きな差が生じてしまう。このように、移動度μの画素毎のばらつきに起因してドレイン−ソース間電流Idsに画素間で大きな差が生じると、画面のユニフォーミティ(一様性)が損なわれる。 In a state where the mobility μ varies between the pixel A and the pixel B, for example, the signal amplitude V in (= V sig −V ofs ) of the same level is written to both the pixels A and B to the gate electrode of the drive transistor 22. Consider the case. In this case, if no not corrected mobility mu, drain flows to the pixel A having the high mobility mu - source current I ds1 'and the drain flowing through the pixel B having the low mobility mu - source current I ds2' and There will be a big difference between the two. As described above, when a large difference occurs between the pixels in the drain-source current I ds due to the variation of the mobility μ from pixel to pixel, the uniformity of the screen is impaired.

ここで、先述した式(1)のトランジスタ特性式から明らかなように、移動度μが大きいとドレイン−ソース間電流Idsが大きくなる。従って、負帰還における帰還量ΔVは移動度μが大きくなるほど大きくなる。図8(B)に示すように、移動度μの大きな画素Aの帰還量ΔV1は、移動度の小さな画素Bの帰還量ΔV2に比べて大きい。 Here, as is clear from the transistor characteristic equation of the equation (1) described above, the drain-source current I ds increases when the mobility μ is large. Therefore, the feedback amount ΔV in the negative feedback increases as the mobility μ increases. As shown in FIG. 8B, the feedback amount ΔV 1 of the pixel A having a high mobility μ is larger than the feedback amount ΔV 2 of the pixel B having a low mobility μ.

そこで、移動度補正処理によって駆動トランジスタ22のドレイン−ソース間電流Idsに応じた帰還量ΔVでゲート−ソース間電圧Vgsに負帰還をかけることにより、移動度μが大きいほど負帰還が大きくかかることになる。その結果、移動度μの画素毎のばらつきを抑制することができる。 Therefore, by applying negative feedback to the gate-source voltage Vgs with a feedback amount ΔV corresponding to the drain-source current I ds of the driving transistor 22 by mobility correction processing, negative feedback is increased as the mobility μ increases. It will be. As a result, variation in mobility μ for each pixel can be suppressed.

具体的には、移動度μの大きな画素Aで帰還量ΔV1の補正をかけると、ドレイン−ソース間電流IdsはIds1′からIds1まで大きく下降する。一方、移動度μの小さな画素Bの帰還量ΔV2は小さいために、ドレイン−ソース間電流IdsはIds2′からIds2までの下降となり、それ程大きく下降しない。結果的に、画素Aのドレイン−ソース間電流Ids1と画素Bのドレイン−ソース間電流Ids2とはほぼ等しくなるために、移動度μの画素毎のばらつきが補正される。 Specifically, when applying a correction of the feedback amount [Delta] V 1 at the pixel A having the high mobility mu, drain - source current I ds larger drops from I ds1 'to I ds1. On the other hand, since the feedback amount [Delta] V 2 small pixels B mobility μ is small, the drain - source current I ds becomes lowered from I ds2 'to I ds2, not lowered so much. Consequently, the drain of the pixel A - drain-source current I ds1 and the pixel B - to become nearly equal to the source current I ds2, variations among the pixels of the mobility μ is corrected.

以上をまとめると、移動度μの異なる画素Aと画素Bがあった場合、移動度μの大きい画素Aの帰還量ΔV1は移動度μの小さい画素Bの帰還量ΔV2に比べて大きくなる。つまり、移動度μが大きい画素ほど帰還量ΔVが大きく、ドレイン−ソース間電流Idsの減少量が大きくなる。 In summary, when there are a pixel A and a pixel B having different mobility μ, the feedback amount ΔV1 of the pixel A having a high mobility μ is larger than the feedback amount ΔV2 of the pixel B having a low mobility μ. That is, the larger the mobility μ, the larger the feedback amount ΔV, and the larger the amount of decrease in the drain-source current I ds .

従って、駆動トランジスタ22のドレイン−ソース間電流Idsに応じた帰還量ΔVで、ゲート−ソース間電圧Vgsに負帰還をかけることで、移動度μの異なる画素のドレイン−ソース間電流Idsの電流値が均一化される。その結果、移動度μの画素毎のばらつきを補正することができる。すなわち、駆動トランジスタ22に流れる電流(ドレイン−ソース間電流Ids)に応じた帰還量(補正量)ΔVで、駆動トランジスタ22のゲート−ソース間電圧Vgsに対して、即ち、保持容量24に対して負帰還をかける処理が移動度補正処理となる。 Therefore, the drain of the driving transistor 22 - with the feedback amount ΔV corresponding to the source current I ds, the gate - by applying the negative feedback to the source voltage V gs, the drain of pixels having different mobilities mu - source current I ds The current value is made uniform. As a result, variation in mobility μ for each pixel can be corrected. That is, the feedback amount (correction amount) ΔV corresponding to the current flowing through the drive transistor 22 (drain-source current I ds ) with respect to the gate-source voltage V gs of the drive transistor 22, that is, the storage capacitor 24. On the other hand, the process of applying negative feedback is the mobility correction process.

[2−3.書込み走査信号WSのパルス波形]
ところで、上述した基本的な回路動作の説明から明らかなように、映像信号の信号電圧Vsigの書込み処理と並行して行われる移動度補正処理の補正期間は、書込み走査信号WSのパルス幅によって決まる。この移動度補正処理を映像信号の信号電圧Vsigに応じて適応的に行うために、書込み走査回路40において、図9に示すように、パルス消滅時の遷移波形(本例では、立ち下がり波形)が緩やかな(過渡応答が遅い)書込み走査信号WSを生成するようにしている(特許文献1参照)。
[2-3. Pulse waveform of write scan signal WS]
As is apparent from the above description of the basic circuit operation, the correction period of the mobility correction processing performed in parallel with the writing processing of the signal voltage V sig of the video signal depends on the pulse width of the writing scanning signal WS. Determined. In order to perform this mobility correction processing adaptively according to the signal voltage V sig of the video signal, the write scanning circuit 40 has a transition waveform (a falling waveform in this example) when the pulse disappears, as shown in FIG. ) Is generated (the transient response is slow), and the write scanning signal WS is generated (see Patent Document 1).

ここで、書込み走査信号WSの立ち下がり波形を緩やかにする(なまらせる)ことで、移動度補正処理を映像信号の信号電圧Vsigに応じて適応的に行うことができる理由について、図9の波形図を用いて説明する。 Here, the reason why the mobility correction process can be adaptively performed according to the signal voltage V sig of the video signal by making the falling waveform of the write scanning signal WS gentle (smoothed) is shown in FIG. This will be described with reference to waveform diagrams.

書込み走査信号WSの立ち下がり波形を緩やかな波形に設定することで、書込みトランジスタ23のゲート−ソース間電圧が、当該書込みトランジスタ23の閾値電圧Vth(WS)になったところでカットオフする、即ち、導通状態から非導通状態に移行する。ここでは、一例として、信号電圧Vsigが5Vの場合と2Vの場合とを例に挙げて説明する。 By setting the falling waveform of the write scan signal WS to a gentle waveform, the gate-source voltage of the write transistor 23 is cut off when the threshold voltage V th (WS) of the write transistor 23 is reached. , Transition from the conductive state to the non-conductive state. Here, as an example, a case where the signal voltage V sig is 5V and a case where it is 2V will be described as examples.

sig=5Vのときには、書込みトランジスタ23は、ゲート−ソース間電圧がカットオフ電圧、即ち、5V+Vth(WS)になったところでカットオフする。従って、Vsig=5Vのときの移動度補正時間は相対的に短くなる。一方、Vsig=2Vのときには、書込みトランジスタ23は、ゲート−ソース間電圧がカットオフ電圧、即ち、2V+Vth(WS)になったところでカットオフする。従って、Vsig=2Vのときの移動度補正時間は、Vsig=5Vのときよりも長くなる。 When V sig = 5V, the write transistor 23 is cut off when the gate-source voltage becomes a cut-off voltage, that is, 5V + V th (WS) . Therefore, the mobility correction time when V sig = 5 V is relatively short. On the other hand, when V sig = 2V, the write transistor 23 is cut off when the gate-source voltage becomes a cut-off voltage, that is, 2V + V th (WS) . Therefore, the mobility correction time when V sig = 2V is longer than that when V sig = 5V.

このように、書込み走査信号WSの立ち下がり波形を緩やかな波形に設定することにより、映像信号の信号電圧Vsigに対応して最適な移動度補正時間を設定できる。その結果、黒レベルから白レベルまでの、信号電圧Vsigの全レベル範囲(全階調)に亘って駆動トランジスタ22のドレイン−ソース間電流Idsの移動度μに対する依存性をより確実に打ち消すことができる、即ち、移動度μの画素毎のバラツキをより確実に補正することができる。 Thus, by setting the falling waveform of the write scanning signal WS to a gentle waveform, the optimum mobility correction time can be set corresponding to the signal voltage V sig of the video signal. As a result, the dependence on the mobility μ of the drain-source current I ds of the drive transistor 22 is more reliably canceled over the entire level range (all gradations) of the signal voltage V sig from the black level to the white level. That is, it is possible to more reliably correct the variation of the mobility μ for each pixel.

[2−4.書込み走査回路]
続いて、信号書込み&移動度補正処理のときに用いる、立ち下がり波形が緩やかな書込み走査信号WSを生成する(出力する)書込み走査回路40の具体的な構成について説明する。
[2-4. Write scanning circuit]
Next, a specific configuration of the write scan circuit 40 that generates (outputs) the write scan signal WS having a gentle falling waveform used in the signal write & mobility correction process will be described.

図10は、書込み走査回路40の構成の一例を示すブロック図である。図10に示すように、本例に係る書込み走査回路40は、シフトレジスタ41、レベルシフト回路(L/S)42、及び、出力回路43を有し、レベルシフト回路42と出力回路43とが画素アレイ部30の画素行毎に設けられた構成となっている。   FIG. 10 is a block diagram showing an example of the configuration of the write scanning circuit 40. As shown in FIG. 10, the write scanning circuit 40 according to this example includes a shift register 41, a level shift circuit (L / S) 42, and an output circuit 43. The level shift circuit 42 and the output circuit 43 include The pixel array unit 30 is provided for each pixel row.

ここでは、図面の簡略化のために図示を省略しているが、画素行毎に論理回路等も設けられる。この論理回路において、書込み走査信号WSとして、2連の走査パルス、即ち、閾値補正期間を決める走査パルスと、信号書込み&移動度補正期間を決める走査パルスとの生成が行われる。   Here, although illustration is omitted for simplification of the drawing, a logic circuit or the like is also provided for each pixel row. In this logic circuit, as the write scan signal WS, two series of scan pulses, that is, a scan pulse for determining a threshold correction period and a scan pulse for determining a signal write & mobility correction period are generated.

シフトレジスタ41は、クロックパルスckに同期してスタートパルスspを順にシフト(転送)することにより、各シフト段(転送段)から順にシフトパルスを出力する。このシフトパルスは、レベルシフト回路42及び出力回路43を通して画素アレイ部30の走査線311〜31mの各々に書込み走査信号(パルス)WSとして供給される。 The shift register 41 sequentially outputs (shifts) the shift pulse from each shift stage (transfer stage) by sequentially shifting (transferring) the start pulse sp in synchronization with the clock pulse ck. The shift pulse is supplied as a write scanning signal (pulse) WS to each of the scanning lines 31 1 to 31 m of the pixel array section 30 through the level shift circuit 42 and the output circuit 43.

レベルシフト回路42は、シフトレジスタ41から出力される論理レベルのシフトパルスを、表示パネル70上の各画素20を駆動可能なレベルのシフトパルスにレベルシフトする。このレベルシフトされたシフトパルスは、例えば上記の論理回路を経由して出力回路43に供給される。   The level shift circuit 42 level-shifts the logic level shift pulse output from the shift register 41 to a level shift pulse that can drive each pixel 20 on the display panel 70. The level-shifted shift pulse is supplied to the output circuit 43 via the logic circuit, for example.

出力回路30は、縦続接続された複数のバッファ4311〜431iによって構成されている。この出力回路30において、その最終段のバッファ431iとして、先述した実施形態に係るパルス生成回路P1の後段のバッファB12を用いることができる。本例の場合、画素20の書込みトランジスタ23としてNチャネル型のトランジスタを用いているため、パルス生成回路P1の後段のバッファB12を用いることになる。書込みトランジスタ23としてPチャネル型のトランジスタを用いる場合は、先述した変形例に係るパルス生成回路P2の後段のバッファB12を用いるようにすれば良い。 The output circuit 30 includes a plurality of cascaded buffers 431 1 to 431 i . In the output circuit 30, the buffer B 12 at the subsequent stage of the pulse generation circuit P 1 according to the above-described embodiment can be used as the buffer 431 i at the final stage. In this example, due to the use of N-channel transistor as the writing transistor 23 of the pixel 20, so that the use of the following buffer B 12 of the pulse generating circuit P 1. When using a P-channel transistor as the writing transistor 23, it is sufficient to use the following buffer B 12 of the pulse generating circuit P 2 according to the modification previously described.

上述したように、パルス消滅時の遷移波形が緩やかな書込み走査信号WSを生成する書込み走査回路40の出力回路30において、その最終段のバッファ431iとして、先述した実施形態またはその変形例に係るパルス生成回路を用いることで、次のように作用、効果を得ることができる。 As described above, in the output circuit 30 of the write scanning circuit 40 that generates the write scan signal WS having a gentle transition waveform at the time of extinction of the pulse, the buffer 431 i in the final stage is related to the above-described embodiment or its modification. By using the pulse generation circuit, the following actions and effects can be obtained.

すなわち、先述した実施形態またはその変形例に係るパルス生成回路P1,P2によれば、当該パルス生成回路P1,P2自体の回路動作、即ち、容量カップリングを伴う回路動作により、パルス消滅時に所望の遷移速度(過渡応答)となるパルス信号を生成することができる。従って、特許文献1記載の従来技術の場合のように、表示パネル70の外部のディスクリート基板にて生成した、遷移波形が緩やかな電源電圧を用いる必要が無くなる。 In other words, according to the pulse generation circuits P 1 and P 2 according to the above-described embodiment or its modification, the pulse generation circuits P 1 and P 2 themselves are operated by the circuit operation, that is, the circuit operation accompanied by capacitive coupling. A pulse signal having a desired transition speed (transient response) when extinguished can be generated. Therefore, unlike the prior art described in Patent Document 1, it is not necessary to use a power supply voltage with a gentle transition waveform generated on a discrete substrate outside the display panel 70.

換言すれば、表示パネル70の外部のディスクリート基板にて遷移波形が緩やかな電源電圧を生成する必要が無くなる。これにより、遷移波形が緩やかな電源電圧を生成するためのディスクリート基板が不要になる、即ち、表示パネル70の外部に設ける部品点数を削減できるため、表示装置の小型化及び低コスト化を図ることができる。   In other words, it is not necessary to generate a power supply voltage having a gentle transition waveform on a discrete substrate outside the display panel 70. This eliminates the need for a discrete substrate for generating a power supply voltage with a gradual transition waveform, that is, reduces the number of components provided outside the display panel 70, thereby reducing the size and cost of the display device. Can do.

尚、上記の適用例では、画素20の電気光学素子として、有機EL素子を用いた有機EL表示装置に適用した場合を例に挙げて説明したが、本開示はこの適用例に限られるものではない。すなわち、本開示は、無機EL素子、LED素子、半導体レーザー素子など、デバイスに流れる電流値に応じて発光輝度が変化する電流駆動型の電気光学素子(発光素子)を用いた表示装置にも適用できる。より具体的には、電流駆動型の電気光学素子を駆動する駆動トランジスタの移動度を補正する移動度補正機能を有する画素が配置されて成り、画素の輝度レベルに応じて適応的に移動度補正を行う構成の表示装置全般に対して適用機能である。   In the above application example, the case where the present invention is applied to an organic EL display device using an organic EL element as the electro-optical element of the pixel 20 has been described as an example. However, the present disclosure is not limited to this application example. Absent. That is, the present disclosure is also applied to a display device using a current-driven electro-optical element (light-emitting element) such as an inorganic EL element, an LED element, or a semiconductor laser element whose emission luminance changes according to the current value flowing through the device. it can. More specifically, a pixel having a mobility correction function for correcting the mobility of a drive transistor that drives a current-driven electro-optic element is arranged, and the mobility correction is adaptively performed according to the luminance level of the pixel. This function is applicable to all display devices configured to perform the above.

<3.電子機器>
以上説明した本開示による表示装置は、電子機器に入力された映像信号、若しくは、電子機器内で生成した映像信号を、画像若しくは映像として表示するあらゆる分野の電子機器の表示部(表示装置)に適用できる。一例として、図11〜図15に示す様々な電子機器、例えば、デジタルカメラ、ノート型パーソナルコンピュータ、携帯電話等の携帯端末装置、ビデオカメラなどの表示部に適用することが可能である。
<3. Electronic equipment>
The display device according to the present disclosure described above is displayed on a display unit (display device) of an electronic device in any field that displays a video signal input to the electronic device or a video signal generated in the electronic device as an image or a video. Applicable. As an example, the present invention can be applied to various electronic devices shown in FIGS. 11 to 15, such as a digital camera, a notebook personal computer, a mobile terminal device such as a mobile phone, and a display unit such as a video camera.

このように、あらゆる分野の電子機器において、その表示部として本開示による表示装置を用いることで、各種の電子機器の小型化及び低コスト化に寄与できる。すなわち、先述したように、本開示による表示装置は、表示パネル70の外部に設ける部品点数を削減できるため、表示装置の小型化及び低コスト化を図ることができる。従って、各種の電子機器において、機器本体の小型化及び低コスト化に寄与できることになる。   As described above, by using the display device according to the present disclosure as the display unit in electronic devices in various fields, it is possible to contribute to the reduction in size and cost of various electronic devices. That is, as described above, the display device according to the present disclosure can reduce the number of components provided outside the display panel 70, and thus the display device can be reduced in size and cost. Therefore, in various electronic devices, it can contribute to size reduction and cost reduction of the device main body.

本開示による表示装置は、封止された構成のモジュール形状のものをも含む。一例として、画素アレイ部に透明なガラス等の対向部が貼り付けられて形成された表示モジュールが該当する。尚、表示モジュールには、外部から画素アレイ部への信号等を入出力するための回路部やFPC(フレキシブルプリントサーキット)等が設けられていてもよい。   The display device according to the present disclosure also includes a module-shaped device having a sealed configuration. As an example, a display module formed by attaching a facing portion such as transparent glass to the pixel array portion is applicable. Note that the display module may be provided with a circuit unit for inputting / outputting a signal and the like from the outside to the pixel array unit, an FPC (flexible printed circuit), and the like.

以下に、本開示が適用される電子機器の具体例について説明する。   Specific examples of electronic devices to which the present disclosure is applied will be described below.

図11は、本開示が適用されるテレビジョンセットの外観を示す斜視図である。本適用例に係るテレビジョンセットは、フロントパネル102やフィルターガラス103等から構成される映像表示画面部101を含み、その映像表示画面部101として本開示による有機EL表示装置を用いることにより作製される。   FIG. 11 is a perspective view illustrating an appearance of a television set to which the present disclosure is applied. The television set according to this application example includes a video display screen unit 101 including a front panel 102, a filter glass 103, and the like, and is manufactured by using the organic EL display device according to the present disclosure as the video display screen unit 101. The

図12は、本開示が適用されるデジタルカメラの外観を示す斜視図であり、(A)は表側から見た斜視図、(B)は裏側から見た斜視図である。本適用例に係るデジタルカメラは、フラッシュ用の発光部111、表示部112、メニュースイッチ113、シャッターボタン114等を含み、その表示部112として本開示による表示装置を用いることにより作製される。   12A and 12B are perspective views illustrating an external appearance of a digital camera to which the present disclosure is applied, in which FIG. 12A is a perspective view seen from the front side, and FIG. 12B is a perspective view seen from the back side. The digital camera according to this application example includes a light emitting unit 111 for flash, a display unit 112, a menu switch 113, a shutter button 114, and the like, and is manufactured by using the display device according to the present disclosure as the display unit 112.

図13は、本開示が適用されるノート型パーソナルコンピュータの外観を示す斜視図である。本適用例に係るノート型パーソナルコンピュータは、本体121に、文字等を入力するとき操作されるキーボード122、画像を表示する表示部123等を含み、その表示部123として本開示による表示装置を用いることにより作製される。   FIG. 13 is a perspective view illustrating an appearance of a notebook personal computer to which the present disclosure is applied. The notebook personal computer according to this application example includes a main body 121 including a keyboard 122 operated when inputting characters and the like, a display unit 123 that displays an image, and the like, and the display device according to the present disclosure is used as the display unit 123. It is produced by this.

図14は、本開示が適用されるビデオカメラの外観を示す斜視図である。本適用例に係るビデオカメラは、本体部131、前方を向いた側面に被写体撮影用のレンズ132、撮影時のスタート/ストップスイッチ133、表示部134等を含み、その表示部134として本開示による表示装置を用いることにより作製される。   FIG. 14 is a perspective view illustrating an appearance of a video camera to which the present disclosure is applied. The video camera according to this application example includes a main body 131, a lens 132 for shooting an object on a side facing forward, a start / stop switch 133 at the time of shooting, a display unit 134, and the like. It is manufactured by using a display device.

図15は、本開示が適用される携帯端末装置、例えば携帯電話機を示す外観図であり、(A)は開いた状態での正面図、(B)はその側面図、(C)は閉じた状態での正面図、(D)は左側面図、(E)は右側面図、(F)は上面図、(G)は下面図である。本適用例に係る携帯電話機は、上側筐体141、下側筐体142、連結部(ここではヒンジ部)143、ディスプレイ144、サブディスプレイ145、ピクチャーライト146、カメラ147等を含んでいる。そして、ディスプレイ144やサブディスプレイ145として本開示による表示装置を用いることにより、本適用例に係る携帯電話機が作製される。   FIG. 15 is an external view showing a mobile terminal device to which the present disclosure is applied, for example, a mobile phone, in which (A) is a front view in an open state, (B) is a side view thereof, and (C) is closed. (D) is a left side view, (E) is a right side view, (F) is a top view, and (G) is a bottom view. A cellular phone according to this application example includes an upper casing 141, a lower casing 142, a connecting portion (here, a hinge portion) 143, a display 144, a sub-display 145, a picture light 146, a camera 147, and the like. Then, by using the display device according to the present disclosure as the display 144 or the sub display 145, the mobile phone according to the application example is manufactured.

<4.本開示の構成>
尚、本開示は以下のような構成を採ることができる。
(1)2つの電源の間に直列に接続され、入力パルスの論理に応じて相補的にオン/オフ動作を行う2つのスイッチ素子を有し、
前記2つの電源のうち、前記入力パルスと同じ極性側の一方の電源は、固定の電源電圧であり、
前記2つの電源の他方の電源は、複数の電源電圧間で切り換え可能である
パルス生成回路。
(2)前記2つの電源の他方の電源は、前記2つのスイッチ素子の切り換えタイミングに同期して電源電圧を切り換える
前記(1)に記載のパルス生成回路。
(3)前記2つの電源の他方の電源は、前記2つのスイッチ素子の切り換えタイミングと同じタイミングで電源電圧を切り換える
前記(2)に記載のパルス生成回路。
(4)前記2つのスイッチ素子は、PチャネルMOSトランジスタ及びNチャネルMOSトランジスタである
前記(1)から(3)のいずれかに記載のパルス生成回路。
(5)前記2つのスイッチ素子は、CMOSインバータを構成している
前記(4)に記載のパルス生成回路。
(6)前記他方の電源は、その切り換えのタイミングによって回路出力端に飛び込む電位の作用によって出力パルスの遷移速度を遅らせる
前記(4)または前記(5)のいずれかに記載のパルス生成回路。
(7)前記電位は、前記PチャネルMOSトランジスタまたは前記NチャネルMOSトランジスタのソース電極と前記回路出力端との間に介在する寄生容量による容量カップリングによって前記回路出力端に飛び込む
前記(6)に記載のパルス生成回路。
(8)縦続接続された複数のバッファから成り、
前記複数のバッファの最終段のバッファは、前記2つのスイッチ素子によって構成されており、
前記他方の電源は、前段のバッファの他方の電源と分離されている
前記(1)から(7)のいずれかに記載のパルス生成回路。
(9)2つの電源の間に直列に接続され、入力パルスの論理に応じて相補的にオン/オフ動作を行う2つのスイッチ素子を有するパルス生成回路におけるパルス生成に当たって、
前記2つの電源のうち、前記入力パルスと同じ極性側の一方の電源を固定の電源電圧とし、
前記2つの電源の他方の電源を複数の電源電圧間で切り換える
パルス生成方法。
(10)2つの電源の間に直列に接続され、入力パルスの論理に応じて相補的にオン/オフ動作を行う2つのスイッチ素子を有し、
前記2つの電源のうち、前記入力パルスと同じ極性側の一方の電源は、固定の電源電圧であり、
前記2つの電源の他方の電源は、複数の電源電圧間で切り換え可能である
パルス生成回路を、走査パルスを出力する最終段バッファに用いる走査回路。
(11)電気光学素子を含む画素が行列状に2次元配置されて成る画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各画素を走査する走査回路と
を備え、
前記走査回路は、その出力回路の最終段バッファとして、
2つの電源の間に直列に接続され、入力パルスの論理に応じて相補的にオン/オフ動作を行う2つのスイッチ素子を有し、
前記2つの電源のうち、前記入力パルスと同じ極性側の一方の電源は、固定の電源電圧であり、
前記2つの電源の他方の電源は、複数の電源電圧間で切り換え可能である
パルス生成回路を用いる表示装置。
(12)前記画素は、前記電気光学素子を駆動する駆動トランジスタに流れる電流に応じた補正量で当該駆動トランジスタのゲート−ソース間の電位差に負帰還をかけることによって前記駆動トランジスタの移動度を補正する移動度補正の機能を有し、
前記走査回路は、前記パルス生成回路によって生成された走査パルスにより、前記駆動トランジスタのゲートに対して信号を書き込む書込みトランジスタを駆動する
前記(11)に記載の表示装置。
(13)画素が行列状に2次元配置されて成る画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各画素を走査する走査回路と
を備え、
前記走査回路は、その最終段バッファとして、
2つの電源の間に直列に接続され、入力パルスの論理に応じて相補的にオン/オフ動作を行う2つのスイッチ素子を有し、
前記2つの電源のうち、前記入力パルスと同じ極性側の一方の電源は、固定の電源電圧であり、
前記2つの電源の他方の電源は、複数の電源電圧間で切り換え可能である
パルス生成回路を用いる表示装置を有する電子機器。
<4. Configuration of the present disclosure>
In addition, this indication can take the following structures.
(1) having two switch elements connected in series between two power supplies and performing on / off operations complementarily according to the logic of the input pulse;
Of the two power supplies, one power supply on the same polarity side as the input pulse is a fixed power supply voltage,
The other power source of the two power sources can be switched between a plurality of power source voltages.
(2) The pulse generating circuit according to (1), wherein the other power source of the two power sources switches a power source voltage in synchronization with a switching timing of the two switch elements.
(3) The pulse generation circuit according to (2), wherein the other power source of the two power sources switches the power source voltage at the same timing as the switching timing of the two switch elements.
(4) The pulse generation circuit according to any one of (1) to (3), wherein the two switch elements are a P-channel MOS transistor and an N-channel MOS transistor.
(5) The pulse generating circuit according to (4), wherein the two switch elements constitute a CMOS inverter.
(6) The pulse generation circuit according to any one of (4) and (5), wherein the other power source delays a transition speed of an output pulse by an action of a potential jumping into a circuit output terminal at a switching timing.
(7) The potential jumps into the circuit output terminal by capacitive coupling due to a parasitic capacitance interposed between the source electrode of the P-channel MOS transistor or the N-channel MOS transistor and the circuit output terminal. The pulse generation circuit described.
(8) Consists of a plurality of cascaded buffers,
The last stage buffer of the plurality of buffers is configured by the two switch elements,
The pulse generating circuit according to any one of (1) to (7), wherein the other power source is separated from the other power source of the preceding buffer.
(9) In pulse generation in a pulse generation circuit that is connected in series between two power supplies and has two switch elements that complementarily perform on / off operations according to the logic of the input pulse,
Of the two power supplies, one power supply on the same polarity side as the input pulse is a fixed power supply voltage,
A pulse generation method for switching the other power source of the two power sources between a plurality of power source voltages.
(10) having two switch elements connected in series between two power supplies and performing on / off operations complementarily according to the logic of the input pulse;
Of the two power supplies, one power supply on the same polarity side as the input pulse is a fixed power supply voltage,
The other power source of the two power sources can be switched between a plurality of power source voltages. A scanning circuit using a pulse generation circuit as a final stage buffer that outputs a scanning pulse.
(11) a pixel array unit in which pixels including electro-optic elements are two-dimensionally arranged in a matrix;
A scanning circuit that scans each pixel of the pixel array unit,
As the final stage buffer of the output circuit, the scanning circuit,
Two switch elements connected in series between two power supplies and performing ON / OFF operations complementarily according to the logic of the input pulse,
Of the two power supplies, one power supply on the same polarity side as the input pulse is a fixed power supply voltage,
The display device using a pulse generation circuit, wherein the other power source of the two power sources can be switched between a plurality of power source voltages.
(12) The pixel corrects the mobility of the driving transistor by applying negative feedback to the potential difference between the gate and the source of the driving transistor with a correction amount corresponding to the current flowing through the driving transistor that drives the electro-optic element. Has the function of mobility correction to
The display device according to (11), wherein the scanning circuit drives a writing transistor that writes a signal to a gate of the driving transistor by a scanning pulse generated by the pulse generation circuit.
(13) a pixel array unit in which pixels are two-dimensionally arranged in a matrix;
A scanning circuit that scans each pixel of the pixel array unit,
The scanning circuit, as its final stage buffer,
Two switch elements connected in series between two power supplies and performing ON / OFF operations complementarily according to the logic of the input pulse,
Of the two power supplies, one power supply on the same polarity side as the input pulse is a fixed power supply voltage,
The other power source of the two power sources can be switched between a plurality of power source voltages. Electronic equipment having a display device using a pulse generation circuit.

1,P2…パルス生成回路、B11,B12…バッファ、10…有機EL表示装置、20…画素、21…有機EL素子、22…駆動トランジスタ、23…書込みトランジスタ、24…保持容量、25…補助容量、30…画素アレイ部、31(311〜31m)…走査線、32(321〜32m)…電源供給線、33(331〜33n)…信号線、34…共通電源供給線、40…書込み走査回路、41…シフトレジスタ、42…レベルシフト回路、43…出力回路、4311〜431i…バッファ、50…電源供給走査回路、60…信号出力回路、70…表示パネル P 1 , P 2 ... pulse generation circuit, B 11 , B 12 ... buffer, 10 ... organic EL display device, 20 ... pixel, 21 ... organic EL element, 22 ... drive transistor, 23 ... write transistor, 24 ... storage capacitor, 25 ... auxiliary capacitor, 30 ... pixel array section, 31 (31 1 ~31 m) ... scanning line, 32 (32 1 ~32 m) ... power supply line, 33 (33 1 ~33 n) ... signal line, 34 ... Common power supply line, 40 ... write scanning circuit, 41 ... shift register, 42 ... level shift circuit, 43 ... output circuit, 431 1 to 431 i ... buffer, 50 ... power supply scanning circuit, 60 ... signal output circuit, 70 ... Display panel

Claims (13)

2つの電源の間に直列に接続され、入力パルスの論理に応じて相補的にオン/オフ動作を行う2つのスイッチ素子を有し、
前記2つの電源のうち、前記入力パルスと同じ極性側の一方の電源は、固定の電源電圧であり、
前記2つの電源の他方の電源は、複数の電源電圧間で切り換え可能である
パルス生成回路。
Two switch elements connected in series between two power supplies and performing ON / OFF operations complementarily according to the logic of the input pulse,
Of the two power supplies, one power supply on the same polarity side as the input pulse is a fixed power supply voltage,
The other power source of the two power sources can be switched between a plurality of power source voltages.
前記2つの電源の他方の電源は、前記2つのスイッチ素子の切り換えタイミングに同期して電源電圧を切り換える
請求項1に記載のパルス生成回路。
The pulse generation circuit according to claim 1, wherein the other power source of the two power sources switches a power source voltage in synchronization with a switching timing of the two switch elements.
前記2つの電源の他方の電源は、前記2つのスイッチ素子の切り換えタイミングと同じタイミングで電源電圧を切り換える
請求項2に記載のパルス生成回路。
The pulse generation circuit according to claim 2, wherein the other power source of the two power sources switches the power source voltage at the same timing as the switching timing of the two switch elements.
前記2つのスイッチ素子は、PチャネルMOSトランジスタ及びNチャネルMOSトランジスタである
請求項1に記載のパルス生成回路。
The pulse generation circuit according to claim 1, wherein the two switch elements are a P-channel MOS transistor and an N-channel MOS transistor.
前記2つのスイッチ素子は、CMOSインバータを構成している
請求項4に記載のパルス生成回路。
The pulse generation circuit according to claim 4, wherein the two switch elements constitute a CMOS inverter.
前記他方の電源は、その切り換えのタイミングによって回路出力端に飛び込む電位の作用によって出力パルスの遷移速度を遅らせる
請求項4に記載のパルス生成回路。
The pulse generation circuit according to claim 4, wherein the other power source delays the transition speed of the output pulse by the action of a potential jumping into the circuit output terminal at the switching timing.
前記電位は、前記PチャネルMOSトランジスタまたは前記NチャネルMOSトランジスタのソース電極と前記回路出力端との間に介在する寄生容量による容量カップリングによって前記回路出力端に飛び込む
請求項6に記載のパルス生成回路。
The pulse generation according to claim 6, wherein the potential jumps into the circuit output terminal by capacitive coupling due to a parasitic capacitance interposed between a source electrode of the P-channel MOS transistor or the N-channel MOS transistor and the circuit output terminal. circuit.
縦続接続された複数のバッファから成り、
前記複数のバッファの最終段のバッファは、前記2つのスイッチ素子によって構成されており、
前記他方の電源は、前段のバッファの他方の電源と分離されている
請求項1に記載のパルス生成回路。
Consists of multiple cascaded buffers,
The last stage buffer of the plurality of buffers is configured by the two switch elements,
The pulse generation circuit according to claim 1, wherein the other power source is separated from the other power source of the preceding buffer.
2つの電源の間に直列に接続され、入力パルスの論理に応じて相補的にオン/オフ動作を行う2つのスイッチ素子を有するパルス生成回路におけるパルス生成に当たって、
前記2つの電源のうち、前記入力パルスと同じ極性側の一方の電源を固定の電源電圧とし、
前記2つの電源の他方の電源を複数の電源電圧間で切り換える
パルス生成方法。
In pulse generation in a pulse generation circuit having two switch elements connected in series between two power supplies and performing on / off operations complementarily according to the logic of the input pulse,
Of the two power supplies, one power supply on the same polarity side as the input pulse is a fixed power supply voltage,
A pulse generation method for switching the other power source of the two power sources between a plurality of power source voltages.
2つの電源の間に直列に接続され、入力パルスの論理に応じて相補的にオン/オフ動作を行う2つのスイッチ素子を有し、
前記2つの電源のうち、前記入力パルスと同じ極性側の一方の電源は、固定の電源電圧であり、
前記2つの電源の他方の電源は、複数の電源電圧間で切り換え可能である
パルス生成回路を、走査パルスを出力する最終段バッファに用いる走査回路。
Two switch elements connected in series between two power supplies and performing ON / OFF operations complementarily according to the logic of the input pulse,
Of the two power supplies, one power supply on the same polarity side as the input pulse is a fixed power supply voltage,
The other power source of the two power sources can be switched between a plurality of power source voltages. A scanning circuit using a pulse generation circuit as a final stage buffer that outputs a scanning pulse.
電気光学素子を含む画素が行列状に2次元配置されて成る画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各画素を走査する走査回路と
を備え、
前記走査回路は、その出力回路の最終段バッファとして、
2つの電源の間に直列に接続され、入力パルスの論理に応じて相補的にオン/オフ動作を行う2つのスイッチ素子を有し、
前記2つの電源のうち、前記入力パルスと同じ極性側の一方の電源は、固定の電源電圧であり、
前記2つの電源の他方の電源は、複数の電源電圧間で切り換え可能である
パルス生成回路を用いる表示装置。
A pixel array unit in which pixels including electro-optic elements are two-dimensionally arranged in a matrix;
A scanning circuit that scans each pixel of the pixel array unit,
As the final stage buffer of the output circuit, the scanning circuit,
Two switch elements connected in series between two power supplies and performing ON / OFF operations complementarily according to the logic of the input pulse,
Of the two power supplies, one power supply on the same polarity side as the input pulse is a fixed power supply voltage,
The display device using a pulse generation circuit, wherein the other power source of the two power sources can be switched between a plurality of power source voltages.
前記画素は、前記電気光学素子を駆動する駆動トランジスタに流れる電流に応じた補正量で当該駆動トランジスタのゲート−ソース間の電位差に負帰還をかけることによって前記駆動トランジスタの移動度を補正する移動度補正の機能を有し、
前記走査回路は、前記パルス生成回路によって生成された走査パルスにより、前記駆動トランジスタのゲートに対して信号を書き込む書込みトランジスタを駆動する
請求項11に記載の表示装置。
The pixel has a mobility that corrects the mobility of the driving transistor by applying negative feedback to the potential difference between the gate and the source of the driving transistor with a correction amount corresponding to the current flowing through the driving transistor that drives the electro-optical element. Has the function of correction,
The display device according to claim 11, wherein the scanning circuit drives a writing transistor that writes a signal to a gate of the driving transistor by a scanning pulse generated by the pulse generation circuit.
画素が行列状に2次元配置されて成る画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各画素を走査する走査回路と
を備え、
前記走査回路は、その最終段バッファとして、
2つの電源の間に直列に接続され、入力パルスの論理に応じて相補的にオン/オフ動作を行う2つのスイッチ素子を有し、
前記2つの電源のうち、前記入力パルスと同じ極性側の一方の電源は、固定の電源電圧であり、
前記2つの電源の他方の電源は、複数の電源電圧間で切り換え可能である
パルス生成回路を用いる表示装置を有する電子機器。
A pixel array unit in which pixels are two-dimensionally arranged in a matrix,
A scanning circuit that scans each pixel of the pixel array unit,
The scanning circuit, as its final stage buffer,
Two switch elements connected in series between two power supplies and performing ON / OFF operations complementarily according to the logic of the input pulse,
Of the two power supplies, one power supply on the same polarity side as the input pulse is a fixed power supply voltage,
The other power source of the two power sources can be switched between a plurality of power source voltages. Electronic equipment having a display device using a pulse generation circuit.
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