JP2012199312A - Substrate unit and method for manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate unit having excellent signal transmission characteristics and a method for manufacturing the same.SOLUTION: The substrate unit comprises: a substrate having a through-hole which penetrates between a first surface and a second surface and is provided with a conductive wall surface; a first electronic component having a first connection pin which is press-fitted into the through-hole from the first surface; and a conductive member which is disposed in the through-hole and connects the wall surface of the through-hole and the first connection pin.

Description

本発明は、基板ユニット、及び、基板ユニットの製造方法に関する。   The present invention relates to a substrate unit and a method for manufacturing the substrate unit.

従来より、2本のスルーホールを併設し、2本のスルーホールの間をそれぞれのスルーホールの両端部分もしくは片端部分で接続することにより、スルーホールのスタブ部分を除去した多層配線基板があった。   Conventionally, there has been a multilayer wiring board in which two through holes are provided and the stub portions of the through holes are removed by connecting the two through holes at both ends or one end of each through hole. .

ここで、スタブ(stub)とは、プリント基板や半導体基板の配線において、どの端子にも接続(終端)されず、かつ、接地もされない分岐配線をいう。   Here, the stub refers to a branch wiring that is not connected (terminated) to any terminal and is not grounded in the wiring of a printed board or a semiconductor substrate.

また、基板の内層配線に接続するスルーホールを形成する方法の一つとして、貫通孔の内壁に金属膜を形成してから、配線基板の裏面側から削り取ることで、スタブとなる不要部分を除去する方法があった。   In addition, as one of the methods for forming a through-hole connected to the inner layer wiring of the board, a metal film is formed on the inner wall of the through-hole, and then scraped off from the back side of the wiring board to remove unnecessary portions that become stubs. There was a way to do it.

特開2005−183649号公報JP 2005-183649 A 米国特許第6,663,442号明細書US Pat. No. 6,663,442

ところで、スルーホールにコネクタ等のピンを差し込んでプリント基板にコネクタ等を実装する場合がある。ピンは、先端が細くなっているため、ピンの先端部にはスルーホールの導電性のある壁面と接触しない部分が生じる。   By the way, a connector or the like may be mounted on a printed circuit board by inserting a pin such as a connector into the through hole. Since the tip of the pin is thin, a portion that does not contact the conductive wall surface of the through hole occurs at the tip of the pin.

このため、上述のような従来の手法でスルーホールのスタブを低減しても、スルーホールにコネクタ等のピンを差し込む場合は、ピンの先端部にスタブが生じる。   For this reason, even if the through hole stub is reduced by the conventional method as described above, when a pin such as a connector is inserted into the through hole, a stub is generated at the tip of the pin.

このようにピンの先端部にスタブが生じると、基板における信号の伝送特性が低下し、特に、高速信号の伝送特性が大きく低下するという問題が生じる。   When a stub is generated at the tip of the pin in this way, the signal transmission characteristic on the substrate is lowered, and in particular, there is a problem that the high-speed signal transmission characteristic is greatly lowered.

そこで、信号の伝送特性の良好な基板ユニット、及び、基板ユニットの製造方法を提供することを目的とする。   Accordingly, it is an object of the present invention to provide a substrate unit with good signal transmission characteristics and a method for manufacturing the substrate unit.

本発明の実施の形態の基板ユニットは、第1の面と第2の面との間を貫通する、導電性の壁面を備えた貫通孔を有する基板と、前記貫通孔に前記第1の面から圧入される第1の接続ピンを有する第1の電子部品と、前記貫通孔内に配置され、前記貫通孔の壁面と前記第1の接続ピンとを接続させる導電性部材とを有する。   A substrate unit according to an embodiment of the present invention includes a substrate having a through-hole having a conductive wall surface that penetrates between a first surface and a second surface, and the first surface in the through-hole. A first electronic component having a first connection pin that is press-fitted from and a conductive member that is disposed in the through-hole and connects the wall surface of the through-hole and the first connection pin.

信号の伝送特性の良好な基板ユニット、及び、基板ユニットの製造方法を提供することができる。   It is possible to provide a substrate unit with good signal transmission characteristics and a method for manufacturing the substrate unit.

信号伝送路におけるスタブを示す図である。It is a figure which shows the stub in a signal transmission path. ビルドアップ基板10Aの断面構造を示す図である。It is a figure which shows the cross-section of 10 A of buildup board | substrates. (A)は、バックドリルでスタブを除去して製造するプリント基板10Bを示す図であり、(B)はプリント基板10Bの製造工程を示す図である。(A) is a figure which shows the printed circuit board 10B manufactured by removing a stub with a back drill, (B) is a figure which shows the manufacturing process of the printed circuit board 10B. 比較例1の基板ユニット10Cを示す図である。It is a figure showing substrate unit 10C of comparative example 1. 比較例2の基板ユニット10Dを示す図である。It is a figure which shows board | substrate unit 10D of the comparative example 2. 実施の形態1の基板ユニット100を含むサーバ500のブロック構成を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a block configuration of a server 500 including a board unit 100 according to the first embodiment. 実施の形態1の基板ユニット100の断面構造を示す図である。1 is a diagram showing a cross-sectional structure of a substrate unit 100 according to Embodiment 1. FIG. 実施の形態1の基板ユニット100(101)の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the board | substrate unit 100 (101) of Embodiment 1. FIG. 実施の形態1の基板ユニット100(101)の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the board | substrate unit 100 (101) of Embodiment 1. FIG. 実施の形態2の基板ユニット200の断面構造を示す図である。It is a figure which shows the cross-section of the board | substrate unit 200 of Embodiment 2. FIG. 実施の形態2の基板ユニット200(201)の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the board | substrate unit 200 (201) of Embodiment 2. FIG. 実施の形態3の基板ユニット300の断面構造を示す図である。It is a figure which shows the cross-section of the substrate unit 300 of Embodiment 3. FIG. 実施の形態3の基板ユニット300(301)の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the board | substrate unit 300 (301) of Embodiment 3. 実施の形態4の基板ユニット400の断面構造を示す図である。It is a figure which shows the cross-section of the substrate unit 400 of Embodiment 4. FIG. 実施の形態4の基板ユニット400(401)の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the board | substrate unit 400 (401) of Embodiment 4.

以下、本発明の基板ユニット、及び、基板ユニットの製造方法を適用した実施の形態について説明する。   Embodiments to which a substrate unit and a method for manufacturing a substrate unit of the present invention are applied will be described below.

ここで、実施の形態の基板ユニット、及び、基板ユニットの製造方法について説明する前に、まず、図1乃至図5を用いて、比較例のプリント基板及び基板ユニットとその問題点について説明する。   Here, before describing the substrate unit of the embodiment and the method of manufacturing the substrate unit, first, the printed circuit board and the substrate unit of the comparative example and their problems will be described with reference to FIGS.

図1は、信号伝送路におけるスタブを示す図である。例えば、バッファ1からバッファ2に伝送路3を経て信号を伝送する場合に、伝送路3の途中に、伝送路3から枝分かれして終端されていない部分3Aがあるとする。この部分3Aはスタブ3Aとなる。   FIG. 1 is a diagram illustrating a stub in a signal transmission path. For example, when a signal is transmitted from the buffer 1 to the buffer 2 via the transmission line 3, it is assumed that there is a portion 3A that is branched from the transmission line 3 and is not terminated in the middle of the transmission line 3. This portion 3A becomes a stub 3A.

スタブ3Aは、伝送信号の反射を生じさせて伝送路3のインピーダンスの不整合の原因になるとともに、アンテナとして機能して伝送信号を放射させることによりノイズ発生の原因になる。   The stub 3A causes reflection of the transmission signal to cause impedance mismatch of the transmission path 3, and also functions as an antenna to cause noise by generating the transmission signal.

半導体プロセスの微細化にともない、LSI(Large Scale Integrated circuit:大規模集積回路)の動作周波数は、年々高速化している。これに伴い、LSI外部へのアクセスも高速化が求められている。   With the miniaturization of semiconductor processes, the operating frequency of LSI (Large Scale Integrated circuit) is increasing year by year. Accordingly, speeding up access to the outside of the LSI is also required.

イーサネット(登録商標)やインフィニバンド等の伝送規格で高速化が図られているが、電気信号を用いた伝送は、限界と言われ続けている。   Although transmission speeds such as Ethernet (registered trademark) and InfiniBand have been increased, transmission using electrical signals continues to be said to be the limit.

しかしながら、現実的には、プリント基板の材料の改良、又は、ケーブルあるいはコネクタ等の低損失化により、10ギガビットイーサーでの電気信号の伝送が可能になっており、40ギガビットイーサー、又は、100ギガビットイーサーでの信号伝送が視野に入ってきている。   However, in reality, it is possible to transmit electric signals with 10 gigabit ethers by improving the material of the printed circuit board or reducing the loss of cables or connectors, and 40 gigabit ethers or 100 gigabits. The signal transmission with Ether is coming into view.

このような高速での信号伝送は、スタブによる信号の反射又はノイズ発生によって大きな影響を受ける。   Such high-speed signal transmission is greatly affected by signal reflection or noise generation by the stub.

スタブの影響は、低速での信号伝送では問題とならないが、特に10Gbpsを超える周波数の高速信号になると、mm単位の長さのスタブが信号の伝送特性に大きな影響を与えることになる。例えば、信号の周波数が20GHzの場合は、長さ0.6mmのスタブで一次共振が発生し、放射損失が生じる場合がある。   The influence of the stub is not a problem in low-speed signal transmission, but especially when the high-speed signal has a frequency exceeding 10 Gbps, the stub having a length of mm greatly affects the signal transmission characteristics. For example, when the signal frequency is 20 GHz, primary resonance may occur in a stub having a length of 0.6 mm, and radiation loss may occur.

このようなスタブは、例えば、プリント基板の内層に接続するスルーホールに生じる場合がある。このため、スタブを低減した多層基板として、銅箔、コア層、プリプレグ層等を一層ずつ積層して配線を形成しながら製造するビルドアップ基板がある。   Such a stub may occur, for example, in a through hole connected to the inner layer of the printed circuit board. For this reason, as a multilayer substrate with reduced stubs, there is a build-up substrate manufactured while laminating copper foil, core layer, prepreg layer, etc. one by one to form a wiring.

図2は、ビルドアップ基板10Aの断面構造を示す図である。ビルドアップ基板10Aは、絶縁層11、12、13、14、15と導電層21、22、23、24、25、26とを交互に積層することによって製造される。   FIG. 2 is a diagram showing a cross-sectional structure of the buildup substrate 10A. The build-up substrate 10A is manufactured by alternately stacking the insulating layers 11, 12, 13, 14, and 15 and the conductive layers 21, 22, 23, 24, 25, and 26.

導電層21、26は、ビルドアップ基板10Aの表面と裏面にそれぞれ配設される導電層であり、それぞれ、LSI4、5が実装される。LSI4、5は、それぞれ、接続部4A、5Aを介して、導電層21に接続されている。これに対して、導電層22〜25は、絶縁層11、12、13、14、15に挟まれる内層の導電層である。   The conductive layers 21 and 26 are conductive layers respectively disposed on the front surface and the back surface of the build-up substrate 10A, and the LSIs 4 and 5 are mounted thereon, respectively. The LSIs 4 and 5 are connected to the conductive layer 21 via connection portions 4A and 5A, respectively. On the other hand, the conductive layers 22 to 25 are inner conductive layers sandwiched between the insulating layers 11, 12, 13, 14, and 15.

導電層21と導電層23を接続するスルーホール6、導電層23と導電層25を接続するスルーホール7、及び、導電層25と導電層26を接続するスルーホール8は、絶縁層11〜15と導電層21〜26を一層ずつ順次積層する段階で形成される。   The through hole 6 that connects the conductive layer 21 and the conductive layer 23, the through hole 7 that connects the conductive layer 23 and the conductive layer 25, and the through hole 8 that connects the conductive layer 25 and the conductive layer 26 are the insulating layers 11-15. And the conductive layers 21 to 26 are formed one by one in sequence.

ビルドアップ基板10Aが完成した後に、LSI4、5をそれぞれ接続部4A、5Aで導電層21、26に実装すれば、LSI4、5の間は、導電層21、スルーホール6、導電層23、スルーホール7、導電層25、スルーホール8、及び導電層26で電気的に接続される。   After the build-up substrate 10A is completed, if the LSIs 4 and 5 are mounted on the conductive layers 21 and 26 by the connecting portions 4A and 5A, respectively, between the LSIs 4 and 5, the conductive layer 21, the through hole 6, the conductive layer 23, and the through The hole 7, the conductive layer 25, the through hole 8, and the conductive layer 26 are electrically connected.

このようなビルドアップ基板10Aのスルーホール6、7、8にはスタブが殆ど形成されないため、ビルドアップ基板10Aの信号の伝送特性は良好である。   Since almost no stub is formed in the through holes 6, 7, and 8 of the build-up board 10A, the signal transmission characteristics of the build-up board 10A are good.

しかしながら、ビルドアップ基板10Aは、上述のように一層ずつ積層して製造するため、高価であるという問題がある。   However, the build-up substrate 10A has a problem that it is expensive because it is manufactured by stacking one layer at a time as described above.

また、スルーホールのスタブを低減する手法として、バックドリルという手法がある。   Further, as a technique for reducing the stub of the through hole, there is a technique called back drill.

図3(A)は、バックドリルでスタブを除去して製造するプリント基板10Bを示す図であり、図3(B)はバックドリルを行う前のプリント基板10Bを示す図である。   FIG. 3A is a view showing a printed circuit board 10B manufactured by removing the stub with a back drill, and FIG. 3B is a view showing the printed circuit board 10B before the back drill is performed.

図3(A)に示すように、プリント基板10Bは、絶縁層11、12、13、14、15、導電層21、22、23、24、25、26、及びスルーホール31、32を含む。プリント基板10Bは、複数の絶縁層と複数の導電層を一度に熱溶着することによって製造される。   As illustrated in FIG. 3A, the printed circuit board 10 </ b> B includes insulating layers 11, 12, 13, 14, 15, conductive layers 21, 22, 23, 24, 25, 26, and through holes 31, 32. The printed circuit board 10B is manufactured by thermally welding a plurality of insulating layers and a plurality of conductive layers at a time.

図3(A)に示すプリント基板10Bでは、導電層21と導電層25がスルーホール31によって接続され、導電層25と導電層26がスルーホール32によって接続されている。   In the printed circuit board 10 </ b> B shown in FIG. 3A, the conductive layer 21 and the conductive layer 25 are connected by a through hole 31, and the conductive layer 25 and the conductive layer 26 are connected by a through hole 32.

ここで、バックドリルによるスルーホール31、32の形成方法について説明する。   Here, a method of forming the through holes 31 and 32 by the back drill will be described.

まず、図3(B)に示すように、プリント基板10Bの上面から下面までスルーホール31A、32Aを形成する。   First, as shown in FIG. 3B, through holes 31A and 32A are formed from the upper surface to the lower surface of the printed circuit board 10B.

スルーホール31A、32Aは、プリント基板10Bの導電層21から導電層26までを貫通する貫通孔をドリル等で穿孔し、貫通孔の壁面にメッキ処理を施すことによって形成される。メッキ処理は、例えば、まず無電解メッキ層を貫通孔の壁面に形成した後に、電解メッキ層を無電解メッキ層の上に形成することによって形成される。無電解メッキ層及び電解メッキ層としては、例えば、銅メッキ、金メッキ、又は錫メッキ等を用いればよい。   The through holes 31A and 32A are formed by drilling a through hole penetrating from the conductive layer 21 to the conductive layer 26 of the printed board 10B with a drill or the like and plating the wall surface of the through hole. The plating process is formed, for example, by first forming an electroless plating layer on the wall surface of the through hole and then forming the electroplating layer on the electroless plating layer. As the electroless plating layer and the electrolytic plating layer, for example, copper plating, gold plating, tin plating, or the like may be used.

次に、図3(B)における下側からドリルAでスルーホール31Aの不要部分を削り取るとともに、上側からドリルBでスルーホール32Aの不要部分を削り取る。このようにドリルA、Bで不要部分を削り取ることにより、図3(A)に示すスルーホール31、32が完成する。   Next, the unnecessary portion of the through hole 31A is scraped off with the drill A from the lower side in FIG. 3B, and the unnecessary portion of the through hole 32A is scraped off with the drill B from the upper side. In this way, by removing unnecessary portions with the drills A and B, the through holes 31 and 32 shown in FIG. 3A are completed.

このように、バックドリルという手法を用いれば、図3(A)に示すようなスルーホール31、32を形成することができるが、ドリルA、Bによるスルーホール31、32の深さ方向の位置合わせ精度の問題がある。   As described above, if a method called a back drill is used, the through holes 31 and 32 as shown in FIG. 3A can be formed. However, the positions of the through holes 31 and 32 in the depth direction by the drills A and B are as follows. There is a problem of alignment accuracy.

このため、バックドリルでは不要部分を完全に取り除くことが難しく、スルーホール31には導電層25の下面よりも下側に小さなスタブが残存することがあり、スルーホール32には導電層25の上面よりも上側に小さなスタブが残存することがある。   For this reason, it is difficult to completely remove unnecessary portions with the back drill, and a small stub may remain in the through hole 31 below the lower surface of the conductive layer 25, and the upper surface of the conductive layer 25 may be left in the through hole 32. Small stubs may remain on the upper side.

ところで、ブレードサーバ又は大型の通信装置等では、図4に示すようなBack−to−Back型のプレスフィットコネクタが使用される場合がある。   Incidentally, a back-to-back type press-fit connector as shown in FIG. 4 may be used in a blade server or a large communication device.

図4は、比較例1の基板ユニット10Cを示す図である。   FIG. 4 is a diagram illustrating a substrate unit 10 </ b> C of Comparative Example 1.

図4に示す基板ユニット10Cは、絶縁層11、12、13、14、15、導電層41、42、43、44、スルーホール51、52、及びプレスフィットコネクタ61、62を含む。基板ユニット10Cのうち、絶縁層11、12、13、14、15、導電層41、42、43、44、及びスルーホール51、52はプリント基板(基板)である。基板ユニット10Cに含まれる絶縁層11、12、13、14、15と導電層41、42、43、44の積層体は、複数の絶縁層(11〜15)と複数の導電層(41〜44)を一度に熱溶着することによって製造される。   The board unit 10C shown in FIG. 4 includes insulating layers 11, 12, 13, 14, and 15, conductive layers 41, 42, 43, and 44, through holes 51 and 52, and press-fit connectors 61 and 62. In the board unit 10C, the insulating layers 11, 12, 13, 14, and 15, the conductive layers 41, 42, 43, and 44, and the through holes 51 and 52 are printed boards (boards). The laminated body of the insulating layers 11, 12, 13, 14, 15 and the conductive layers 41, 42, 43, 44 included in the substrate unit 10C includes a plurality of insulating layers (11-15) and a plurality of conductive layers (41-44). ) At a time.

基板ユニット10Cの導電層は、すべて内層の導電層41〜44である。導電層41〜44は、スルーホール51、52には接続されておらず、平面視でスルーホール51、52を避けるように形成されている。   The conductive layers of the substrate unit 10 </ b> C are all inner conductive layers 41 to 44. The conductive layers 41 to 44 are not connected to the through holes 51 and 52 and are formed so as to avoid the through holes 51 and 52 in plan view.

スルーホール51、52は、基板ユニット10Cの絶縁層11から絶縁層15までを貫通する貫通孔をドリル等で穿孔し、貫通孔の壁面にメッキ処理を施すことによって形成される。メッキ処理は、例えば、まず無電解メッキ層を貫通孔の壁面に形成した後に、電解メッキ層を無電解メッキ層の上に形成することによって形成される。無電解メッキ層及び電解メッキ層としては、例えば、銅メッキ、金メッキ、又は錫メッキ等を用いればよい。   The through holes 51 and 52 are formed by drilling a through hole penetrating from the insulating layer 11 to the insulating layer 15 of the substrate unit 10C with a drill or the like and plating the wall surface of the through hole. The plating process is formed, for example, by first forming an electroless plating layer on the wall surface of the through hole and then forming the electroplating layer on the electroless plating layer. As the electroless plating layer and the electrolytic plating layer, for example, copper plating, gold plating, tin plating, or the like may be used.

プレスフィットコネクタ61、62は、Back−to−Back型のプレスフィットコネクタであり、基板ユニット10Cの両面に実装される。   The press-fit connectors 61 and 62 are Back-to-Back type press-fit connectors, and are mounted on both surfaces of the substrate unit 10C.

プレスフィットコネクタ61、62の接続ピン63、64の先端部63A、64Aは、それぞれ、基板ユニット10Cのスルーホール51、52に圧入される。これにより、接続ピン63、64は、スルーホール51、52を介して電気的に接続される。   The tip portions 63A and 64A of the connection pins 63 and 64 of the press-fit connectors 61 and 62 are press-fitted into the through holes 51 and 52 of the board unit 10C, respectively. Thereby, the connection pins 63 and 64 are electrically connected via the through holes 51 and 52.

このように、Back−to−Back型のプレスフィットコネクタ61、62を用いると、コネクタ(61、62)間にケーブル等の配線が不要になるため、接続ピン63と接続ピン64の間の配線長を短くすることが可能となる。   As described above, when the back-to-back type press-fit connectors 61 and 62 are used, wiring such as a cable is not required between the connectors (61 and 62), and therefore wiring between the connection pin 63 and the connection pin 64 is performed. The length can be shortened.

ところで、接続ピン63、64の先端部63A、64Aは細いため、先端部63A、64Aはスルーホール51、52の内壁面に接しない。   By the way, since the tip portions 63A and 64A of the connection pins 63 and 64 are thin, the tip portions 63A and 64A do not contact the inner wall surfaces of the through holes 51 and 52.

このため、先端部63A、64Aに矢印で示す部分がスタブとなり、信号の反射によるインピーダンスの不整合、又は、スタブがアンテナになって信号が放射されることによるノイズの発生が生じる場合がある。これは、信号の伝送速度が高くなるほど顕著となる。   For this reason, portions indicated by arrows at the tip portions 63A and 64A become stubs, and impedance mismatching due to signal reflection or noise due to the stub serving as an antenna and radiation may occur. This becomes more prominent as the signal transmission speed increases.

また、Back−to−Back型のプレスフィットコネクタ61、62ではなくても、基板ユニットの片面だけに実装されるプレスフィットコネクタにおいても、同様の問題が生じる。   Further, the same problem occurs in a press-fit connector mounted only on one side of the board unit, instead of the back-to-back type press-fit connectors 61 and 62.

図5は、比較例2の基板ユニット10Dを示す図である。   FIG. 5 is a diagram showing a substrate unit 10D of Comparative Example 2.

基板ユニット10Dは、絶縁層11、12、13、14、15、導電層41、42、43、44、スルーホール53、及びプレスフィットコネクタ65を含む。基板ユニット10Dのうち、絶縁層11、12、13、14、15、導電層41、42、43、44、及びスルーホール53はプリント基板(基板)である。基板ユニット10Dに含まれる絶縁層11、12、13、14、15と導電層41、42、43、44の積層体は、複数の絶縁層(11〜15)と複数の導電層(41〜44)を一度に熱溶着することによって製造される。   The board unit 10 </ b> D includes insulating layers 11, 12, 13, 14, 15, conductive layers 41, 42, 43, 44, a through hole 53, and a press-fit connector 65. In the substrate unit 10D, the insulating layers 11, 12, 13, 14, and 15, the conductive layers 41, 42, 43, and 44, and the through holes 53 are printed circuit boards (substrates). The laminated body of the insulating layers 11, 12, 13, 14, and 15 and the conductive layers 41, 42, 43, and 44 included in the substrate unit 10D includes a plurality of insulating layers (11 to 15) and a plurality of conductive layers (41 to 44). ) At a time.

基板ユニット10Dの導電層は、すべて内層の導電層41〜44である。導電層41は、スルーホール53に接続されており、導電層42〜44は、スルーホール53に接続されておらず、平面視でスルーホール53を避けるように形成されている。   The conductive layers of the substrate unit 10D are all inner conductive layers 41 to 44. The conductive layer 41 is connected to the through hole 53, and the conductive layers 42 to 44 are not connected to the through hole 53, and are formed so as to avoid the through hole 53 in plan view.

スルーホール53は、基板ユニット10Dの絶縁層11から絶縁層15までを貫通する貫通孔をドリル等で穿孔し、貫通孔の壁面にメッキ処理を施すことによって形成される。このときに、スルーホール53と導電層41は接続される。メッキ処理は、例えば、まず無電解メッキ層を貫通孔の壁面に形成した後に、電解メッキ層を無電解メッキ層の上に形成することによって形成される。無電解メッキ層及び電解メッキ層としては、例えば、銅メッキ、金メッキ、又は錫メッキ等を用いればよい。   The through hole 53 is formed by drilling a through hole penetrating from the insulating layer 11 to the insulating layer 15 of the substrate unit 10D with a drill or the like, and plating the wall surface of the through hole. At this time, the through hole 53 and the conductive layer 41 are connected. The plating process is formed, for example, by first forming an electroless plating layer on the wall surface of the through hole and then forming the electroplating layer on the electroless plating layer. As the electroless plating layer and the electrolytic plating layer, for example, copper plating, gold plating, tin plating, or the like may be used.

プレスフィットコネクタ65の接続ピン66の先端部66Aは、基板ユニット10Dのスルーホール53に圧入される。これにより、プレスフィットコネクタ65は基板ユニット10Dの一方の面に実装され、接続ピン66は、スルーホール53を介して電気的に接続される。   Tip portions 66A of the connection pins 66 of the press-fit connector 65 are press-fitted into the through holes 53 of the board unit 10D. Thereby, the press-fit connector 65 is mounted on one surface of the substrate unit 10 </ b> D, and the connection pins 66 are electrically connected via the through holes 53.

また、プレスフィットコネクタ65の雌状のコネクタ部66Bは、プレスフィットコネクタ65の凹部65Aに設けられており、コネクタ部66Bには、ケーブルコネクタ67が接続される。   The female connector portion 66B of the press-fit connector 65 is provided in the recess 65A of the press-fit connector 65, and the cable connector 67 is connected to the connector portion 66B.

ケーブルコネクタ67は、筐体67Aと、筐体67Aの内部に保持される雄状のコネクタ部68とを含む。プレスフィットコネクタ65のコネクタ部66Bには、ケーブルコネクタ67のコネクタ部68が差し込まれる。このとき、ケーブルコネクタ67の筐体67Aの一部は、プレスフィットコネクタ65の凹部65A内に圧入される。ケーブルコネクタ67のコネクタ部68には、ケーブル69が接続されている。   The cable connector 67 includes a housing 67A and a male connector portion 68 held inside the housing 67A. The connector portion 68 of the cable connector 67 is inserted into the connector portion 66B of the press-fit connector 65. At this time, a part of the housing 67 </ b> A of the cable connector 67 is press-fitted into the recess 65 </ b> A of the press-fit connector 65. A cable 69 is connected to the connector portion 68 of the cable connector 67.

このようなプレスフィットコネクタ65においても、接続ピン66の先端部66Aが細いため、先端部66Aはスルーホール53の内壁面に接しない。   Also in such a press-fit connector 65, the distal end portion 66 </ b> A of the connection pin 66 is thin, so the distal end portion 66 </ b> A does not contact the inner wall surface of the through hole 53.

このため、先端部66Aに矢印で示す部分がスタブとなり、信号の反射によるインピーダンスの不整合、又は、スタブがアンテナになって信号が放射されることによるノイズの発生が生じる場合がある。これは、信号の伝送速度が高くなるほど顕著となる。   For this reason, the portion indicated by the arrow at the tip 66A becomes a stub, and impedance mismatch due to signal reflection or noise may be generated due to the signal being emitted by the stub serving as an antenna. This becomes more prominent as the signal transmission speed increases.

以上のように、比較例1、2の基板ユニット10C、10Dに実装されるプレスフィットコネクタ61、62、65では、接続ピン63、64、66の先端部63A、64A、66Aにスタブが形成されるという問題点がある。   As described above, in the press-fit connectors 61, 62, 65 mounted on the board units 10C, 10D of Comparative Examples 1 and 2, stubs are formed at the tip portions 63A, 64A, 66A of the connection pins 63, 64, 66. There is a problem that.

このため、以下では、上述の問題点を解決する実施の形態1乃至4の基板ユニットについて説明する。   Therefore, hereinafter, the substrate units of Embodiments 1 to 4 that solve the above-described problems will be described.

<実施の形態1>
図6は、実施の形態1の基板ユニット100を含むサーバ500のブロック構成を示す図である。
<Embodiment 1>
FIG. 6 is a diagram illustrating a block configuration of the server 500 including the board unit 100 according to the first embodiment.

サーバ500は、実施の形態1の基板ユニット100を含む電子装置の一例である。サーバ500は、シャーシ510A、510B、及びスイッチモジュール520を含む。   The server 500 is an example of an electronic device that includes the board unit 100 of the first embodiment. The server 500 includes chassis 510A and 510B and a switch module 520.

シャーシ510Aは、複数のブレード600〜600、及び基板ユニット100を含む。ここで、nは2以上の任意の整数であり、シャーシ510A内のブレード600〜600の数を表す。 The chassis 510A includes a plurality of blades 600 1 to 600 n and the substrate unit 100. Here, n is an arbitrary integer of 2 or more, and represents the number of blades 600 1 to 600 n in the chassis 510A.

ブレード600は、CPU(Central Processing Unit:中央演算処理装置)610、メモリ621、622、623、624、及び通信LSI(Large Scale Integrated circuit:大規模集積回路)630を含む。CPU610、メモリ621、622、623、624、及び通信LSI630は、バス650によって接続されている。ここで、メモリ621、622、623、624は、例えば、主記憶装置としてのSRAM(Static Random Access Memory)である。 Blade 600 1, CPU including: (large scale integrated circuit Large Scale Integrated circuit) 630 (Central Processing Unit The central processing unit) 610, a memory 621, 622, 623 and 624, and a communication LSI. The CPU 610, the memories 621, 622, 623, 624, and the communication LSI 630 are connected by a bus 650. Here, the memories 621, 622, 623, and 624 are, for example, SRAMs (Static Random Access Memory) as a main storage device.

なお、ブレード600〜600の内部の構成は、ブレード600と同様であるため、図示及び説明を省略する。 The internal configuration of the blade 600 2 to 600 n are the same as the blade 600 1 are not shown and described.

ブレード600〜600には、それぞれ、プレスフィットコネクタ60A(CN(Connectorの略)と表す)が接続されている。プレスフィットコネクタ60Aと通信LSI630は、バス660によって接続されている。 Each of the blades 600 1 to 600 n is connected to a press-fit connector 60A (represented as CN (abbreviation of Connector)). The press-fit connector 60A and the communication LSI 630 are connected by a bus 660.

ここで、ブレード600〜600を特に区別しない場合には、単にブレード600と称す。 Here, when the blades 600 1 to 600 n are not particularly distinguished, they are simply referred to as the blade 600.

基板ユニット100は、所謂BP(Back Plane:バックプレーン)として用いられており、プレスフィットコネクタ150、160を含む。プレスフィットコネクタ150は第1の電子部品の一例であり、プレスフィットコネクタ160は第2の電子部品の一例である。   The board unit 100 is used as a so-called BP (Back Plane) and includes press-fit connectors 150 and 160. The press-fit connector 150 is an example of a first electronic component, and the press-fit connector 160 is an example of a second electronic component.

基板ユニット100の一方の面にはn個のプレスフィットコネクタ150が実装され、他方の面にはn個のプレスフィットコネクタ160が実装される。   The n press-fit connectors 150 are mounted on one surface of the board unit 100, and the n press-fit connectors 160 are mounted on the other surface.

このように、BPとしての基板ユニット100には、両面にプレスフィットコネクタ150、160が実装されている。このため、各基板ユニット100にBP(Back Plane)と記す。   Thus, the press-fit connectors 150 and 160 are mounted on both sides of the substrate unit 100 as the BP. For this reason, BP (Back Plane) is written on each substrate unit 100.

各プレスフィットコネクタ150、160は、複数の接続ピンを有し、各接続ピンが基板ユニット100のスルーホールに圧入されることにより、各接続ピンとスルーホールの導電性の壁面とが電気的に接続されている。なお、基板ユニット100とプレスフィットコネクタ150、160の接続部の構成については、後述する。   Each press-fit connector 150, 160 has a plurality of connection pins, and each connection pin is press-fitted into the through hole of the board unit 100, so that each connection pin and the conductive wall surface of the through hole are electrically connected. Has been. In addition, the structure of the connection part of the board | substrate unit 100 and the press fit connectors 150 and 160 is mentioned later.

ブレード600〜600は、プレスフィットコネクタ60Aとプレスフィットコネクタ150とを接続することによって基板ユニット100の配線等に電気的に接続されるとともに、基板ユニット100の一方の面(図6中左側の面)に固定されている。 The blades 600 1 to 600 n are electrically connected to the wiring or the like of the board unit 100 by connecting the press-fit connector 60A and the press-fit connector 150, and also one side of the board unit 100 (left side in FIG. 6). The surface is fixed.

なお、シャーシ510Bは、シャーシ510Aと同様の構成を有するため、説明を省略する。   The chassis 510B has a configuration similar to that of the chassis 510A, and thus description thereof is omitted.

スイッチモジュール520には、2n個のプレスフィットコネクタ60Bが実装されている。シャーシ510A、510Bの基板ユニット100のプレスフィットコネクタ160は、それぞれ、ケーブル88を介して、スイッチモジュール520のプレスフィットコネクタ60Bに接続されている。   The switch module 520 is mounted with 2n press-fit connectors 60B. The press-fit connectors 160 of the board units 100 of the chassis 510A and 510B are connected to the press-fit connectors 60B of the switch module 520 via cables 88, respectively.

シャーシ510A内のブレード600のCPU610が、同じシャーシ510A内の他のブレード600のCPU610と通信を行う場合には、CPU610同士は、それぞれの通信LSI630、プレスフィットコネクタ60A、150、及び基板ユニット100の内部の配線を介してデータを伝送する。   When the CPU 610 of the blade 600 in the chassis 510 </ b> A communicates with the CPU 610 of the other blade 600 in the same chassis 510 </ b> A, the CPU 610 communicates with the communication LSI 630, the press-fit connectors 60 </ b> A and 150, and the board unit 100. Data is transmitted via internal wiring.

また、シャーシ510A内のブレード600のCPU610が、シャーシ510B内のブレード600のCPU610と通信を行う場合には、CPU610同士は、それぞれの通信LSI630、プレスフィットコネクタ60A、150、160、60B、基板ユニット100の内部の配線、及びスイッチモジュール520を介してデータを伝送する。このとき、スイッチモジュール520は、シャーシ510A内の通信LSI630と、シャーシ510B内の通信LSI630とを接続する。   Further, when the CPU 610 of the blade 600 in the chassis 510A communicates with the CPU 610 of the blade 600 in the chassis 510B, the CPUs 610 communicate with each other by the respective communication LSIs 630, press-fit connectors 60A, 150, 160, and 60B. Data is transmitted through the internal wiring of 100 and the switch module 520. At this time, the switch module 520 connects the communication LSI 630 in the chassis 510A and the communication LSI 630 in the chassis 510B.

次に、図7を用いて実施の形態1の基板ユニット100について説明する。   Next, the substrate unit 100 according to the first embodiment will be described with reference to FIG.

図7は、実施の形態1の基板ユニット100の断面構造を示す図である。   FIG. 7 is a diagram showing a cross-sectional structure of the substrate unit 100 according to the first embodiment.

基板ユニット100は、5層の絶縁層111、112、113、114、115と、4層の導電層121、122、123、124、スルーホール130、プレスフィットコネクタ150、160、及びコイルバネ170を含む。基板ユニット100のうち、絶縁層111、112、113、114、115、導電層121、122、123、124、及びスルーホール130はプリント基板(基板)である。   The board unit 100 includes five insulating layers 111, 112, 113, 114, 115, four conductive layers 121, 122, 123, 124, a through hole 130, press-fit connectors 150, 160, and a coil spring 170. . In the substrate unit 100, the insulating layers 111, 112, 113, 114, 115, the conductive layers 121, 122, 123, 124, and the through holes 130 are printed circuit boards (substrates).

基板ユニット100には表面100Aから裏面100Bまで貫通するがスルーホール130形成されている。   A through-hole 130 is formed in the substrate unit 100 from the front surface 100A to the back surface 100B.

基板ユニット100は、例えば、FR4(Flame Retardant Type 4)又はFR5(Flame Retardant Type 5)等のガラス布基材とエポキシ樹脂で形成される基板ユニットである。   The substrate unit 100 is a substrate unit formed of a glass cloth base material such as FR4 (Flame Retardant Type 4) or FR5 (Flame Retardant Type 5) and an epoxy resin, for example.

例えば、絶縁層111、113、115は、繊維に熱硬化性樹脂を含浸させたもの、例えば、ガラス布基材にエポキシ樹脂を含浸させたプリプレグ層である。また、例えば、絶縁層12、14は、コア層である。ただし、プリプレグ層としては、繊維のものを含まないエポキシ樹脂で形成されたものでもよい。   For example, the insulating layers 111, 113, and 115 are prepreg layers in which fibers are impregnated with a thermosetting resin, for example, glass cloth base materials are impregnated with an epoxy resin. For example, the insulating layers 12 and 14 are core layers. However, the prepreg layer may be formed of an epoxy resin that does not include fibers.

導電層121、122、123、124は、例えば、銅箔である。導電層121、122、123、124は、例えば、信号伝送用の配線層、電源層、又はグランド層等として用いられる。   The conductive layers 121, 122, 123, and 124 are, for example, copper foil. The conductive layers 121, 122, 123, and 124 are used as, for example, a signal transmission wiring layer, a power supply layer, or a ground layer.

ここで、導電層121、122、123、124は、スルーホール130に接続されないため、平面視ではスルーホール130を避けるようにパターニングされる。   Here, since the conductive layers 121, 122, 123, and 124 are not connected to the through hole 130, they are patterned so as to avoid the through hole 130 in a plan view.

絶縁層111、112、113、114、115と導電層121、122、123、124は、コア層である絶縁層112と絶縁層114の両面に、それぞれ、導電層121、122と導電層123、124を形成した状態で熱硬化処理が施されることによって固着される。   The insulating layers 111, 112, 113, 114, and 115 and the conductive layers 121, 122, 123, and 124 are formed on both surfaces of the insulating layer 112 and the insulating layer 114, which are core layers, respectively. In the state where 124 is formed, it is fixed by being subjected to a thermosetting treatment.

ここで、基板ユニット100は、表面100Aと裏面100Bに導電層が形成されない4層型の基板ユニットである。これは、例えば、信号の伝送速度が数10Gbps(あるいはそれ以上)のような高速信号を伝送する場合は、良好な伝送特性を確保するために、各導電層121〜124の両面に絶縁層(111〜115)が存在することが好ましい場合があるからである。   Here, the substrate unit 100 is a four-layer substrate unit in which no conductive layer is formed on the front surface 100A and the back surface 100B. For example, when a high-speed signal such as a signal transmission speed of several tens of Gbps (or higher) is transmitted, in order to ensure good transmission characteristics, insulating layers ( This is because it may be preferable that 111-115) exist.

しかしながら、実施の形態1の基板ユニット100は、上述のように表面100Aと裏面100Bに導電層が形成されないものに限定されず、表面100Aと裏面100Bのどちらか一方又は両方に導電層を形成することにより、5層型又は6層型にしてもよい。   However, the substrate unit 100 according to the first embodiment is not limited to the case where the conductive layer is not formed on the front surface 100A and the back surface 100B as described above, and the conductive layer is formed on one or both of the front surface 100A and the back surface 100B. Depending on the situation, a 5-layer type or a 6-layer type may be used.

また、説明の便宜上、図7には2つのスルーホール130と一組のプレスフィットコネクタ150、160を示すが、基板ユニット100は、複数組のプレスフィットコネクタ150、160と、プレスフィットコネクタ150、160に応じた数のスルーホール130を含んでもよい。   For convenience of explanation, FIG. 7 shows two through-holes 130 and a set of press-fit connectors 150, 160. However, the board unit 100 includes a plurality of sets of press-fit connectors 150, 160, a press-fit connector 150, The number of through holes 130 corresponding to 160 may be included.

また、基板ユニット100は、FR4又はFR5に限られるものではなく、内層の導電層を含んでいれば、FR規格の他のグレードのものであってもよく、あるいは、他の規格のものであってもよい。   Further, the substrate unit 100 is not limited to FR4 or FR5, and may be other grades of the FR standard or other standards as long as it includes an inner conductive layer. May be.

スルーホール130は、まず、基板ユニット100の表面100Aから裏面100Bに至るまで絶縁層111〜115を貫通する貫通孔を形成し、貫通孔の壁面にメッキ処理を施すことによって形成される。このため、スルーホール130の壁部は導電壁となる。   The through hole 130 is formed by first forming a through hole penetrating the insulating layers 111 to 115 from the front surface 100A to the back surface 100B of the substrate unit 100 and plating the wall surface of the through hole. For this reason, the wall portion of the through hole 130 becomes a conductive wall.

スルーホール130を形成するためのメッキ処理は、まず無電解メッキ層を貫通孔の壁面に形成した後に、電解メッキ層を無電解メッキ層の上に形成することによって形成される。無電解メッキ層及び電解メッキ層としては、例えば、銅メッキ、金メッキ、又は錫メッキ等を用いればよい。   The plating process for forming the through hole 130 is formed by first forming an electroless plating layer on the wall surface of the through hole and then forming the electrolytic plating layer on the electroless plating layer. As the electroless plating layer and the electrolytic plating layer, for example, copper plating, gold plating, tin plating, or the like may be used.

なお、メッキ処理を行う場合には、メッキ層を形成しない部分には、メッキレジスト等を塗布すればよい。メッキレジストとしては、例えば、無電解メッキが付き難いフッ素樹脂、シリコン樹脂、又はオレフィン樹脂を用いることができる。   In the case where the plating process is performed, a plating resist or the like may be applied to a portion where the plating layer is not formed. As the plating resist, for example, a fluororesin, a silicon resin, or an olefin resin that is difficult to be electrolessly plated can be used.

プレスフィットコネクタ150、160は、それぞれ、筐体151、161、及び、接続ピン152、162を含む。   The press-fit connectors 150 and 160 include housings 151 and 161 and connection pins 152 and 162, respectively.

筐体151、161の材料としては、例えば、ポリエステル系の樹脂を用いることができる。   As a material of the casings 151 and 161, for example, a polyester resin can be used.

接続ピン152、162の材料としては、例えば、リン青銅又はニッケル合金に金メッキを施したものを用いることができる。接続ピン152、162は、それぞれ、破線で示すように筐体151、161を貫通しており、筐体151、161によって保持されている。   As a material for the connection pins 152, 162, for example, phosphor bronze or nickel alloy plated with gold can be used. The connection pins 152 and 162 pass through the casings 151 and 161 as indicated by broken lines, and are held by the casings 151 and 161.

図7には、説明の便宜上、プレスフィットコネクタ150、160の各々について、接続ピン152、162を2本ずつ示すが、プレスフィットコネクタ150、160は、例えば、接続ピン152、162を16本ずつ、又は32本ずつ有する。   For convenience of explanation, FIG. 7 shows two connection pins 152 and 162 for each of the press-fit connectors 150 and 160, but the press-fit connectors 150 and 160 include, for example, 16 connection pins 152 and 162, respectively. Or 32 each.

プレスフィットコネクタ150の接続ピン152の先端部152Aは、基板ユニット100の表面100A側からスルーホール130に圧入される。プレスフィットコネクタ160の接続ピン162の先端部162Aは、基板ユニット100の裏面100B側からスルーホール130に圧入される。   The front end 152A of the connection pin 152 of the press-fit connector 150 is press-fitted into the through hole 130 from the surface 100A side of the board unit 100. The tip 162A of the connection pin 162 of the press-fit connector 160 is press-fitted into the through hole 130 from the back surface 100B side of the board unit 100.

なお、接続ピン152の端子部152Bは、ブレード600のプレスフィットコネクタ60Aに接続され、接続ピン162の端子部162Bは、ケーブル88に接続される(図6参照)。   The terminal portion 152B of the connection pin 152 is connected to the press-fit connector 60A of the blade 600, and the terminal portion 162B of the connection pin 162 is connected to the cable 88 (see FIG. 6).

コイルバネ170は、スルーホール130の内部で、接続ピン152の先端部152Aと接続ピン162の先端部162Aとの間の空間に挿入されている。   The coil spring 170 is inserted into the space between the distal end portion 152 </ b> A of the connection pin 152 and the distal end portion 162 </ b> A of the connection pin 162 inside the through hole 130.

ここで、接続ピン152の先端部152Aと接続ピン162の先端部162Aとの間には空間が設けられる。これは、接続ピン152と接続ピン162を圧入した際に、先端部152A、162A同士が接触すると、接続ピン152又は接続ピン162に押し戻す力が働いてしまい、スルーホール130との接続不良が生じる可能性があるためである。   Here, a space is provided between the distal end portion 152A of the connection pin 152 and the distal end portion 162A of the connection pin 162. This is because when the connection pins 152 and 162 are press-fitted, if the tip portions 152A and 162A come into contact with each other, a force to push back to the connection pins 152 or the connection pins 162 acts, resulting in poor connection with the through hole 130. This is because there is a possibility.

コイルバネ170は、接続ピン152の先端部152Aと、接続ピン162の先端部162Aとを接続するために用いられるため、図7に示すように、軸方向(伸縮する方向)がスルーホール130の軸方向と略一致するように挿入されることが好ましい。   Since the coil spring 170 is used to connect the distal end portion 152A of the connection pin 152 and the distal end portion 162A of the connection pin 162, as shown in FIG. 7, the axial direction (stretching direction) is the axis of the through hole 130. It is preferably inserted so as to substantially coincide with the direction.

コイルバネ170については、ピン152、162をそれぞれスルーホール130に圧入した際に、先端部152Aと先端部162Aとの間で自然長より収縮した状態で、かつ、十分な復元力を発揮できるように、全長とバネ定数を設定すればよい。   As for the coil spring 170, when the pins 152 and 162 are respectively press-fitted into the through holes 130, the coil spring 170 is contracted from the natural length between the distal end portion 152A and the distal end portion 162A and can exhibit a sufficient restoring force. What is necessary is just to set a full length and a spring constant.

コイルバネ170は、導電性の弾性部材の一例であるとともに、導電性部材の一例である。コイルバネ170は、導電性のある材料で形成されていればよいが、例えば、スルーホール130のメッキ層の材料と同一の材料で形成されていることが好ましい。従って、コイルバネ170は、例えば、銅、金、又は錫等で形成される。   The coil spring 170 is an example of a conductive elastic member and an example of a conductive member. The coil spring 170 may be formed of a conductive material, but is preferably formed of the same material as the material of the plated layer of the through hole 130, for example. Accordingly, the coil spring 170 is made of, for example, copper, gold, tin, or the like.

次に、図8及び図9を用いて、実施の形態1の基板ユニット100の製造方法について説明する。   Next, the manufacturing method of the substrate unit 100 of Embodiment 1 is demonstrated using FIG.8 and FIG.9.

図8及び図9は、実施の形態1の基板ユニット100(101)の製造方法を示す断面図である。図8及び図9では、図7よりも基板ユニット100(101)を縮小して示す。ここで、基板ユニット101は、基板ユニット100が完成する前の製造段階における基板ユニットを表す。   8 and 9 are cross-sectional views showing a method for manufacturing substrate unit 100 (101) of the first embodiment. 8 and 9, the substrate unit 100 (101) is shown in a smaller scale than in FIG. Here, the substrate unit 101 represents a substrate unit in a manufacturing stage before the substrate unit 100 is completed.

まず、図8(A)に示すように、絶縁層111、112、113、114、115と導電層121、122、123、124を重ね合わせて熱硬化処理を施すことにより、基板ユニット101を製造する。図8(A)に示す基板ユニット101の導電層121〜124は、後にスルーホール130が形成される部分を避けるようにパターニングされている。   First, as shown in FIG. 8A, the insulating layers 111, 112, 113, 114, and 115 and the conductive layers 121, 122, 123, and 124 are overlapped and subjected to thermosetting treatment, thereby manufacturing the substrate unit 101. To do. The conductive layers 121 to 124 of the substrate unit 101 shown in FIG. 8A are patterned so as to avoid portions where the through holes 130 will be formed later.

次に、図8(B)に示すように、基板ユニット101の表面101A側から、ドリルを用いた機械加工、又は、レーザ加工等を行うことにより、貫通孔131を形成する。貫通孔131は、基板ユニット101の表面101Aから裏面101Bに至るまで絶縁層111〜115を除去することによって形成される。なお、貫通孔131の形成は、基板ユニット101の裏面101B側から行ってもよい。   Next, as shown in FIG. 8B, through holes 131 are formed from the surface 101A side of the substrate unit 101 by machining using a drill, laser processing, or the like. The through hole 131 is formed by removing the insulating layers 111 to 115 from the front surface 101A to the back surface 101B of the substrate unit 101. The through hole 131 may be formed from the back surface 101B side of the substrate unit 101.

次に、基板ユニット101を無電解メッキの溶液に含浸させて無電解メッキ層を形成し、その上に電解メッキ層を形成することにより、図8(C)に示すように、スルーホール130を形成する。   Next, the substrate unit 101 is impregnated with an electroless plating solution to form an electroless plating layer, and an electrolytic plating layer is formed thereon, thereby forming the through hole 130 as shown in FIG. Form.

なお、実施の形態1では、スルーホール130としてのメッキ層以外にはメッキ層を形成しないため、例えば、図8(A)に示す基板ユニット101を製造した段階で、基板ユニット101の外表面全体に、メッキレジストを塗布しておけばよい。   In the first embodiment, since no plating layer is formed other than the plating layer as the through hole 130, for example, when the substrate unit 101 shown in FIG. 8A is manufactured, the entire outer surface of the substrate unit 101 is formed. In addition, a plating resist may be applied.

図8(A)の段階で基板ユニット101の外表面全体にメッキレジストを形成した後に、図8(B)に示すように貫通孔131を形成すれば、貫通孔131の壁面にはメッキレジストは形成されない。このため、基板ユニット101を無電解メッキの溶液に含浸させることにより、貫通孔131の壁面だけにメッキ層としてのスルーホール130を形成することができる。   After forming a plating resist on the entire outer surface of the substrate unit 101 at the stage of FIG. 8A, if a through hole 131 is formed as shown in FIG. 8B, the plating resist is not formed on the wall surface of the through hole 131. Not formed. For this reason, by impregnating the substrate unit 101 with the electroless plating solution, the through hole 130 as a plating layer can be formed only on the wall surface of the through hole 131.

次に、図8(D)に示すように、基板ユニット101の裏面101B側からプレスフィットコネクタ160の接続ピン162の先端部162Aをスルーホール130に圧入する。これにより、プレスフィットコネクタ160は、基板ユニット101の裏面101B側に固着される。   Next, as shown in FIG. 8D, the front end portion 162 </ b> A of the connection pin 162 of the press-fit connector 160 is press-fitted into the through hole 130 from the back surface 101 </ b> B side of the substrate unit 101. As a result, the press-fit connector 160 is fixed to the back surface 101 </ b> B side of the substrate unit 101.

次に、図9(A)に示すように、基板ユニット101の表面101A側から、スルーホール130にコイルバネ170を挿入する。このとき、コイルバネ170の軸方向(伸縮方向)とスルーホール130の軸方向が略一致するようにコイルバネ170をスルーホール130に挿入することが好ましい。   Next, as illustrated in FIG. 9A, the coil spring 170 is inserted into the through hole 130 from the surface 101 </ b> A side of the substrate unit 101. At this time, it is preferable to insert the coil spring 170 into the through hole 130 so that the axial direction (stretching direction) of the coil spring 170 and the axial direction of the through hole 130 substantially coincide.

最後に、基板ユニット101の表面101A側からプレスフィットコネクタ150の接続ピン152の先端部152Aをスルーホール130に圧入することにより、図9(B)に示す基板ユニット100が完成する。   Finally, the front end portion 152A of the connection pin 152 of the press-fit connector 150 is press-fitted into the through hole 130 from the surface 101A side of the substrate unit 101, whereby the substrate unit 100 shown in FIG. 9B is completed.

以上により、図9(B)に示す基板ユニット100が形成される。図9(B)に示す基板ユニット100は、図7に示す基板ユニット100と同一である。   Thus, the substrate unit 100 shown in FIG. 9B is formed. The board unit 100 shown in FIG. 9B is the same as the board unit 100 shown in FIG.

基板ユニット100は、従来の基板ユニットとは異なり、接続ピン152、162の先端部152A、162A同士が導電性のコイルバネ170によって接続されるため、終端されない導電部分が短くなり、接続ピン152、162の先端部152A、162Aにおけるスタブを低減できる。   Unlike the conventional board unit, the front end portions 152A and 162A of the connection pins 152 and 162 are connected to each other by the conductive coil spring 170 in the board unit 100, so that the conductive portions that are not terminated are shortened, and the connection pins 152 and 162 are shortened. Stubs at the tip portions 152A and 162A of the stub can be reduced.

特に、接続ピン152、162の先端部152A、162Aの形状と、コイルバネ170の形状を最適化することにより、スタブが殆ど発生しないようにすることができる。   In particular, by optimizing the shape of the tip portions 152A and 162A of the connection pins 152 and 162 and the shape of the coil spring 170, it is possible to prevent stubs from being generated.

このため、実施の形態1によれば、スタブの発生を効果的に抑制することにより、信号の反射又はノイズ発生を抑制し、高速信号の伝送特性が良好な基板ユニット100を提供することができる。また、信号の反射又はノイズ発生が抑制されるので、長距離の信号伝送が可能になる。   Therefore, according to the first embodiment, it is possible to provide a substrate unit 100 that suppresses signal reflection or noise generation by effectively suppressing the generation of stubs and has good high-speed signal transmission characteristics. . Further, since signal reflection or noise generation is suppressed, long-distance signal transmission is possible.

また、実施の形態1によれば、ビルドアップ基板を用いる必要がなく、バックドリルのような機械加工を行う必要もない。   Further, according to the first embodiment, it is not necessary to use a build-up substrate, and it is not necessary to perform machining such as a back drill.

このため、低コストで製造の容易な基板ユニット100を提供することができる。   For this reason, it is possible to provide a substrate unit 100 that can be easily manufactured at low cost.

<実施の形態2>
実施の形態2の基板ユニット200は、コイルバネ170の代わりに、導電弾性パッド270を用いる点が実施の形態1の基板ユニット100と異なる。その他の構成は実施の形態1の基板ユニット100と同様であるため、同一又は同等の構成要素には同一符号を付し、その説明を省略する。
<Embodiment 2>
The board unit 200 of the second embodiment is different from the board unit 100 of the first embodiment in that a conductive elastic pad 270 is used instead of the coil spring 170. Since other configurations are the same as those of the substrate unit 100 of the first embodiment, the same or equivalent components are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

図10は、実施の形態2の基板ユニット200の断面構造を示す図である。   FIG. 10 is a diagram showing a cross-sectional structure of the substrate unit 200 according to the second embodiment.

基板ユニット200は、5層の絶縁層111、112、113、114、115と、4層の導電層121、122、123、124、スルーホール130、プレスフィットコネクタ150、160、及び導電弾性パッド270を含む。基板ユニット200のうち、絶縁層111、112、113、114、115、導電層121、122、123、124、及びスルーホール130はプリント基板(基板)である。   The substrate unit 200 includes five insulating layers 111, 112, 113, 114, 115, four conductive layers 121, 122, 123, 124, through holes 130, press-fit connectors 150, 160, and conductive elastic pads 270. including. In the substrate unit 200, the insulating layers 111, 112, 113, 114, and 115, the conductive layers 121, 122, 123, and 124, and the through hole 130 are printed circuit boards (substrates).

上述のように、導電弾性パッド270は、実施の形態1のコイルバネ170の代わりに用いたものであり、導電性の弾性パッドの一例であるとともに、導電性部材の一例である。導電弾性パッド270は、導電性粒子を含むシリコン製のゴム、導電性のスポンジ、又は、シリコンゴムシートの厚さ方向に金属細線を埋め込んだ異方導電性シートを用いることができる。   As described above, the conductive elastic pad 270 is used instead of the coil spring 170 of the first embodiment, and is an example of a conductive elastic pad and an example of a conductive member. As the conductive elastic pad 270, a silicon rubber containing conductive particles, a conductive sponge, or an anisotropic conductive sheet in which fine metal wires are embedded in the thickness direction of the silicon rubber sheet can be used.

導電弾性パッド270に含まれる導電材料は、例えば、スルーホール130のメッキ層の材料と同一の材料で形成されていることが好ましい。従って、導電弾性パッド270は、例えば、銅、金、又は錫等を導電材料として含むことが望ましい。   The conductive material included in the conductive elastic pad 270 is preferably formed of the same material as the material of the plated layer of the through hole 130, for example. Therefore, it is desirable that the conductive elastic pad 270 includes, for example, copper, gold, tin, or the like as a conductive material.

次に、図11を用いて、実施の形態2の基板ユニット200の製造方法について説明する。   Next, a method for manufacturing the substrate unit 200 according to the second embodiment will be described with reference to FIG.

図11は、実施の形態2の基板ユニット200(201)の製造方法を示す断面図である。図11では、図10よりも基板ユニット200(201)を縮小して示す。ここで、基板ユニット201は、基板ユニット200が完成する前の製造段階における基板ユニットを表す。   FIG. 11 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing the substrate unit 200 (201) of the second embodiment. In FIG. 11, the substrate unit 200 (201) is shown in a smaller scale than in FIG. Here, the substrate unit 201 represents a substrate unit in a manufacturing stage before the substrate unit 200 is completed.

基板ユニット200の製造工程は、絶縁層111〜115と導電層121〜124とを重ね合わせて基板ユニット201を製造した後に貫通孔131を形成し、スルーホール130を形成し、さらにプレスフィットコネクタ160を実装する工程までは、実施の形態1の基板ユニット100の製造工程と同様である。   In the manufacturing process of the substrate unit 200, the insulating layers 111 to 115 and the conductive layers 121 to 124 are overlapped to manufacture the substrate unit 201, the through holes 131 are formed, the through holes 130 are formed, and the press-fit connector 160 is further formed. The process up to mounting is the same as the manufacturing process of the substrate unit 100 of the first embodiment.

このため、プレスフィットコネクタ160を実装する工程までを表す図8(A)〜(D)を援用し、その説明を省略する。   For this reason, FIG. 8 (A)-(D) showing to the process of mounting the press fit connector 160 is used, and the description is abbreviate | omitted.

基板ユニット201の裏面201B側からプレスフィットコネクタ160の接続ピン162の先端部162Aをスルーホール130に圧入して、プレスフィットコネクタ160を基板ユニット201の裏面201B側に固着した後に、図11(A)に示す工程を行う。   After the front end portion 162A of the connection pin 162 of the press-fit connector 160 is press-fitted into the through hole 130 from the back surface 201B side of the substrate unit 201 and the press-fit connector 160 is fixed to the back surface 201B side of the substrate unit 201, FIG. ) Is performed.

図11(A)に示す工程では、基板ユニット201の表面201A側から、スルーホール130に導電弾性パッド270を挿入する。   In the step shown in FIG. 11A, the conductive elastic pad 270 is inserted into the through hole 130 from the surface 201A side of the substrate unit 201.

最後に、基板ユニット201の表面201A側からプレスフィットコネクタ150の接続ピン152の先端部152Aをスルーホール130に圧入することにより、図11(B)に示す基板ユニット200が完成する。   Finally, the front end portion 152A of the connection pin 152 of the press-fit connector 150 is press-fitted into the through hole 130 from the front surface 201A side of the substrate unit 201, whereby the substrate unit 200 shown in FIG.

以上により、図11(B)に示す基板ユニット200が形成される。図11(B)に示す基板ユニット200は、図10に示す基板ユニット200と同一である。   Thus, the substrate unit 200 shown in FIG. 11B is formed. A substrate unit 200 shown in FIG. 11B is the same as the substrate unit 200 shown in FIG.

基板ユニット200は、従来の基板ユニットとは異なり、接続ピン152、162の先端部152A、162A同士が導電弾性パッド270によって接続されるため、終端されない導電部分が短くなり、接続ピン152、162の先端部152A、162Aにおけるスタブを低減できる。   Unlike the conventional board unit, the front end portions 152A and 162A of the connection pins 152 and 162 are connected to each other by the conductive elastic pad 270 in the board unit 200, so that the conductive portions that are not terminated are shortened, and the connection pins 152 and 162 Stubs at the tip portions 152A and 162A can be reduced.

特に、導電弾性パッド270が接続ピン152、162の先端部152A、162Aの間に正確に挟まるようにすることにより、スタブが殆ど発生しないようにすることができる。   In particular, stubs can be hardly generated by accurately sandwiching the conductive elastic pad 270 between the tip portions 152A and 162A of the connection pins 152 and 162.

このため、実施の形態2によれば、スタブの発生を効果的に抑制することにより、信号の反射又はノイズ発生を抑制し、高速信号の伝送特性が良好な基板ユニット200を提供することができる。また、信号の反射又はノイズ発生が抑制されるので、長距離の信号伝送が可能になる。   Therefore, according to the second embodiment, it is possible to provide a board unit 200 that suppresses signal reflection or noise generation by effectively suppressing the occurrence of stubs and has good high-speed signal transmission characteristics. . Further, since signal reflection or noise generation is suppressed, long-distance signal transmission is possible.

また、実施の形態2によれば、ビルドアップ基板を用いる必要がなく、バックドリルのような機械加工を行う必要もない。   Further, according to the second embodiment, it is not necessary to use a build-up substrate, and it is not necessary to perform machining such as a back drill.

このため、低コストで製造の容易な基板ユニット200を提供することができる。   For this reason, it is possible to provide a substrate unit 200 that is easy to manufacture at low cost.

<実施の形態3>
実施の形態3の基板ユニット300は、プレスフィットコネクタ150、160の代わりに、プレスフィットコネクタ350、360を用い、コイルバネ170を用いない点が実施の形態1の基板ユニット100と異なる。
<Embodiment 3>
The board unit 300 of the third embodiment is different from the board unit 100 of the first embodiment in that the press-fit connectors 350 and 360 are used instead of the press-fit connectors 150 and 160 and the coil spring 170 is not used.

その他の構成は実施の形態1の基板ユニット100と同様であるため、同一又は同等の構成要素には同一符号を付し、その説明を省略する。   Since other configurations are the same as those of the substrate unit 100 of the first embodiment, the same or equivalent components are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

図12は、実施の形態3の基板ユニット300の断面構造を示す図である。   FIG. 12 is a diagram illustrating a cross-sectional structure of the substrate unit 300 according to the third embodiment.

基板ユニット300は、5層の絶縁層111、112、113、114、115と、4層の導電層121、122、123、124、スルーホール130、及びプレスフィットコネクタ350、360を含む。基板ユニット300のうち、絶縁層111、112、113、114、115、導電層121、122、123、124、及びスルーホール130はプリント基板(基板)である。   The substrate unit 300 includes five insulating layers 111, 112, 113, 114, 115, four conductive layers 121, 122, 123, 124, a through hole 130, and press-fit connectors 350, 360. In the substrate unit 300, the insulating layers 111, 112, 113, 114, 115, the conductive layers 121, 122, 123, 124, and the through holes 130 are printed circuit boards (substrates).

プレスフィットコネクタ350、360は、それぞれ、筐体351、361と、接続ピン352、362を含む。プレスフィットコネクタ350は第1の電子部品の一例であり、プレスフィットコネクタ360は第2の電子部品の一例である。   The press-fit connectors 350 and 360 include housings 351 and 361 and connection pins 352 and 362, respectively. The press-fit connector 350 is an example of a first electronic component, and the press-fit connector 360 is an example of a second electronic component.

接続ピン352は先端部352Aが凸形であり、接続ピン362は先端部362Aが凹形である。接続ピン352と接続ピン362は、スルーホール130に圧入されたときに、先端部352Aと先端部362Aの凹凸が接触又は圧着するように、寸法及び先端部352A、362Aの凸形形状と凹形形状が設定されている。   The connecting pin 352 has a convex tip 352A, and the connecting pin 362 has a concave tip 362A. The connecting pin 352 and the connecting pin 362 are dimensioned and convex and concave shapes of the leading end portions 352A and 362A so that the concave and convex portions of the leading end portion 352A and the leading end portion 362A come into contact or pressure contact when pressed into the through hole 130. The shape is set.

具体的には、例えば、実施の形態1のプレスフィットコネクタ160の接続ピン162の長さを接続ピン152と接触する程度に長くするとともに、接続ピン162の先端に凹部を形成することにより、プレスフィットコネクタ350、360を実現できる。   Specifically, for example, the length of the connection pin 162 of the press-fit connector 160 according to the first embodiment is increased to such an extent that it contacts the connection pin 152, and a recess is formed at the tip of the connection pin 162. The fit connectors 350 and 360 can be realized.

また、このときに、先端部362Aの凹型の部分が潰れて先端部352Aの凸型の部分と密着するようにしてもよい。   At this time, the concave portion of the tip portion 362A may be crushed so as to be in close contact with the convex portion of the tip portion 352A.

筐体351、361の材料としては、例えば、ポリエステル系の樹脂を用いることができる。   As a material of the housings 351 and 361, for example, a polyester resin can be used.

接続ピン352、362の材料としては、例えば、リン青銅又はニッケル合金に金メッキを施したものを用いることができる。   As a material of the connection pins 352 and 362, for example, a phosphor bronze or nickel alloy plated with gold can be used.

プレスフィットコネクタ350とプレスフィットコネクタ360は、基板ユニット300に対して同時に実装することが望ましい。接続ピン352、362は、それぞれ、破線で示すように筐体351、361を貫通し、筐体351、361によって保持されている。   The press-fit connector 350 and the press-fit connector 360 are desirably mounted on the board unit 300 at the same time. The connection pins 352 and 362 pass through the housings 351 and 361 and are held by the housings 351 and 361 as indicated by broken lines.

プレスフィットコネクタ350、360は、コネクタ352、362の先端部352A、362Aをともにスルーホール130に圧入し、双方を押圧して接続ピン352、362の先端部352A、362Aの凸形と凹形とを圧着させることによって基板ユニット300に実装される。   In the press-fit connectors 350 and 360, the tip portions 352A and 362A of the connectors 352 and 362 are both press-fitted into the through hole 130, and both are pressed to form the convex and concave shapes of the tip portions 352A and 362A of the connection pins 352 and 362. Is mounted on the substrate unit 300 by pressure bonding.

次に、図13を用いて、実施の形態3の基板ユニット300の製造方法について説明する。   Next, a method for manufacturing the substrate unit 300 according to the third embodiment will be described with reference to FIG.

図13は、実施の形態3の基板ユニット300(301)の製造方法を示す断面図である。図13では、図12よりも基板ユニット300(301)を縮小して示す。ここで、基板ユニット301は、基板ユニット300が完成する前の製造段階における基板ユニットを表す。   FIG. 13 is a cross-sectional view illustrating a method of manufacturing the substrate unit 300 (301) of the third embodiment. In FIG. 13, the substrate unit 300 (301) is shown in a smaller scale than in FIG. Here, the substrate unit 301 represents a substrate unit in a manufacturing stage before the substrate unit 300 is completed.

基板ユニット300の製造工程は、絶縁層111〜115と導電層121〜124とを重ね合わせて基板ユニット301を製造した後に貫通孔131を形成し、スルーホール130を形成する工程までは、実施の形態1の基板ユニット100の製造工程と同様である。   The manufacturing process of the substrate unit 300 is performed until the process of forming the through hole 131 and forming the through hole 130 after manufacturing the substrate unit 301 by superimposing the insulating layers 111 to 115 and the conductive layers 121 to 124. This is the same as the manufacturing process of the substrate unit 100 of the first embodiment.

このため、スルーホール130を形成する工程までを表す図8(A)〜(C)を援用し、その説明を省略する。   For this reason, FIG. 8 (A)-(C) showing to the process of forming the through hole 130 is used, and the description thereof is omitted.

図13(A)に示すように、スルーホール130を形成した基板ユニット301の表面301A側からプレスフィットコネクタ350の接続ピン352の先端部352Aをスルーホール130に圧入する。また、これと同時に、基板ユニット300の裏面301B側からプレスフィットコネクタ360の接続ピン362の先端部362Aをスルーホール130に圧入する。   As shown in FIG. 13A, the tip 352A of the connection pin 352 of the press-fit connector 350 is press-fitted into the through-hole 130 from the surface 301A side of the substrate unit 301 in which the through-hole 130 is formed. At the same time, the front end portion 362A of the connection pin 362 of the press-fit connector 360 is press-fitted into the through hole 130 from the back surface 301B side of the substrate unit 300.

次に、接続ピン352、362の先端部352A、362Aの凸形と凹形の部分が押圧されて圧着するように、プレスフィットコネクタ350、360の接続ピン352、362をスルーホール130に圧入する。これにより、図13(B)に示す基板ユニット300が完成する。   Next, the connection pins 352 and 362 of the press-fit connectors 350 and 360 are press-fitted into the through holes 130 so that the convex and concave portions of the tip portions 352A and 362A of the connection pins 352 and 362 are pressed and pressed. . Thereby, the substrate unit 300 shown in FIG. 13B is completed.

以上により、図13(B)に示す基板ユニット300が形成される。図13(B)に示す基板ユニット300は、図12に示す基板ユニット300と同一である。   Thus, the substrate unit 300 shown in FIG. 13B is formed. A substrate unit 300 shown in FIG. 13B is the same as the substrate unit 300 shown in FIG.

基板ユニット300は、従来の基板ユニットとは異なり、接続ピン352、362の先端部152A、162A同士が圧着されているため、終端されない導電部分が短くなり、接続ピン352、362の先端部352A、362Aにおけるスタブを低減できる。   Unlike the conventional substrate unit, the board unit 300 has the tip portions 152A and 162A of the connection pins 352 and 362 being crimped to each other, so that a conductive portion that is not terminated is shortened, and the tip parts 352A and 352A of the connection pins 352 and 362 are connected. The stub in 362A can be reduced.

特に、先端部362Aの凹型の部分が潰れて先端部352Aの凸型の部分と密着することにより、スタブが殆ど発生しないようにすることができる。   In particular, when the concave portion of the tip portion 362A is crushed and in close contact with the convex portion of the tip portion 352A, almost no stub can be generated.

このため、実施の形態3によれば、スタブの発生を効果的に抑制することにより、信号の反射又はノイズ発生を抑制し、高速信号の伝送特性が良好な基板ユニット300を提供することができる。また、信号の反射又はノイズ発生が抑制されるので、長距離の信号伝送が可能になる。   For this reason, according to the third embodiment, it is possible to provide a substrate unit 300 that suppresses signal reflection or noise generation by effectively suppressing the occurrence of stubs and has good high-speed signal transmission characteristics. . Further, since signal reflection or noise generation is suppressed, long-distance signal transmission is possible.

また、実施の形態3によれば、ビルドアップ基板を用いる必要がなく、バックドリルのような機械加工を行う必要もない。   Further, according to the third embodiment, it is not necessary to use a build-up substrate and it is not necessary to perform machining such as a back drill.

このため、低コストで製造の容易な基板ユニット300を提供することができる。   Therefore, it is possible to provide the board unit 300 that can be manufactured at low cost.

<実施の形態4>
実施の形態4は、プレスフィットコネクタ450を基板ユニット400の一方の面だけに実装する点と、プレスフィットコネクタ450の接続ピン452の先端部452Aとスルーホール130の壁面との間に導電性樹脂を注入する点が実施の形態1の基板ユニット100と異なる。
<Embodiment 4>
In the fourth embodiment, a conductive resin is provided between the point where the press-fit connector 450 is mounted on only one surface of the board unit 400 and the tip 452A of the connection pin 452 of the press-fit connector 450 and the wall surface of the through hole 130. Is different from the substrate unit 100 of the first embodiment.

その他の構成は実施の形態1の基板ユニット100と同様であるため、同一又は同等の構成要素には同一符号を付し、その説明を省略する。   Since other configurations are the same as those of the substrate unit 100 of the first embodiment, the same or equivalent components are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

図14は、実施の形態4の基板ユニット400の断面構造を示す図である。   FIG. 14 is a diagram showing a cross-sectional structure of the substrate unit 400 according to the fourth embodiment.

基板ユニット400は、5層の絶縁層111、112、113、114、115と、4層の導電層121、122、123、124、スルーホール130、及びプレスフィットコネクタ450を含む。基板ユニット400のうち、絶縁層111、112、113、114、115、導電層121、122、123、124、及びスルーホール130はプリント基板(基板)である。   The board unit 400 includes five insulating layers 111, 112, 113, 114, 115, four conductive layers 121, 122, 123, 124, a through hole 130, and a press-fit connector 450. In the substrate unit 400, the insulating layers 111, 112, 113, 114, 115, the conductive layers 121, 122, 123, 124, and the through holes 130 are printed circuit boards (substrates).

ここで、実施の形態4では、スルーホール130は、導電層121に接続されているが、導電層122〜124には接続されていない。   Here, in the fourth embodiment, the through hole 130 is connected to the conductive layer 121 but is not connected to the conductive layers 122 to 124.

プレスフィットコネクタ450は、筐体451と、接続ピン452を含む。プレスフィットコネクタ450は第1の電子部品の一例である。   The press-fit connector 450 includes a housing 451 and connection pins 452. The press-fit connector 450 is an example of a first electronic component.

接続ピン452は、スルーホール130に圧入されたときに、先端部452Aがスルーホール130の内部に収まるように、寸法が設定されている。   The dimensions of the connection pin 452 are set so that the tip portion 452A fits inside the through hole 130 when it is press-fitted into the through hole 130.

筐体451の材料としては、例えば、ポリエステル系の樹脂を用いることができる。   As a material of the housing 451, for example, a polyester resin can be used.

接続ピン452の材料としては、例えば、リン青銅又はニッケル合金に金メッキを施したものを用いることができる。接続ピン452は、破線で示すように筐体451の内部をL字型に貫通しており、筐体451によって保持されている。   As a material of the connection pin 452, for example, a phosphor bronze or nickel alloy plated with gold can be used. The connection pin 452 penetrates the inside of the housing 451 in an L shape as indicated by a broken line and is held by the housing 451.

プレスフィットコネクタ450は、接続ピン452の先端部452Aを基板ユニット400の裏面400B側からスルーホール130に圧入することによって基板ユニット400に実装される。   The press-fit connector 450 is mounted on the board unit 400 by press-fitting the tip 452A of the connection pin 452 into the through hole 130 from the back surface 400B side of the board unit 400.

また、接続ピン452の先端部452Aをスルーホール130に圧入した後に、基板ユニット400の表面400A側から、スルーホール130に導電性樹脂470を注入することにより、先端部452Aとスルーホール130の壁面とで区画される空間に導電性樹脂470が充填される。   In addition, after the tip 452A of the connection pin 452 is press-fitted into the through hole 130, a conductive resin 470 is injected into the through hole 130 from the surface 400A side of the substrate unit 400, whereby the tip 452A and the wall surface of the through hole 130 are filled. The space partitioned by is filled with conductive resin 470.

導電性樹脂470としては、例えば、導電フィラーとして、金粉、銅粉、ニッケル粉、銀粉、アルミ粉、メッキ粉、カーボン粉、グラファイト粉等を含む導電性接着剤を用いることができる。   As the conductive resin 470, for example, a conductive adhesive containing gold powder, copper powder, nickel powder, silver powder, aluminum powder, plating powder, carbon powder, graphite powder, or the like can be used as a conductive filler.

導電性樹脂470は、例えば、基板ユニット400にスルーホール130を形成するための貫通孔をドリル加工で形成する装置に、ドリルの代わりにシリンジ(注入器)480を実装し、スルーホール130に位置合わせをして、スルーホール130の内部に導電性樹脂470を注入するようにすればよい。   For example, the conductive resin 470 is mounted on a device that forms a through hole for forming the through hole 130 in the substrate unit 400 by drilling, and a syringe (injector) 480 is mounted instead of the drill, and the conductive resin 470 is positioned in the through hole 130. In combination, the conductive resin 470 may be injected into the through hole 130.

また、プレスフィットコネクタ450の接続ピン452の雌状のコネクタ部452Bは、プレスフィットコネクタ450の筐体451の凹部451Aに設けられており、コネクタ部452Bには、ケーブルコネクタ467が接続される。   The female connector portion 452B of the connection pin 452 of the press-fit connector 450 is provided in the recess 451A of the housing 451 of the press-fit connector 450, and the cable connector 467 is connected to the connector portion 452B.

ケーブルコネクタ467は、筐体467Aと筐体467Aの内部に保持される雄状のコネクタ部468とを含む。プレスフィットコネクタ450のコネクタ部452Bには、ケーブルコネクタ467のコネクタ部468が差し込まれる。このとき、ケーブルコネクタ467の筐体467Aの一部は、プレスフィットコネクタ450の筐体451の凹部451A内に圧入される。ケーブルコネクタ467のコネクタ部468には、ケーブル469が接続されている。   The cable connector 467 includes a housing 467A and a male connector portion 468 held inside the housing 467A. The connector portion 468 of the cable connector 467 is inserted into the connector portion 452B of the press-fit connector 450. At this time, a part of the housing 467A of the cable connector 467 is press-fitted into the recess 451A of the housing 451 of the press-fit connector 450. A cable 469 is connected to the connector portion 468 of the cable connector 467.

ここで、プレスフィットコネクタ450の接続部452は、基板ユニット400の裏面400B側からスルーホール130に圧入されており、スルーホール130は、4層の導電層121〜124のうち、最も表面400A側に位置する導電層121に接続されている。   Here, the connecting portion 452 of the press-fit connector 450 is press-fitted into the through hole 130 from the back surface 400B side of the substrate unit 400, and the through hole 130 is the most on the front surface 400A side of the four conductive layers 121-124. Is connected to the conductive layer 121 located at the bottom.

これは、スルーホール130を導電層122、123、124のいずれかに接続するよりも、接続ピン452が挿入される側(裏面400B側)から最も離れた位置(表面400A側)にある導電層121にスルーホール130を接続した方が、終端されない部分が低減されるからである。   This is because the conductive layer located farthest from the side where the connection pin 452 is inserted (the back surface 400B side) (the front surface 400A side) rather than connecting the through hole 130 to any of the conductive layers 122, 123, 124. This is because the portion that is not terminated is reduced when the through hole 130 is connected to 121.

従って、例えば、プレスフィットコネクタ450の接続部452を基板ユニット400の表面400A側からスルーホール130に圧入する場合は、スルーホール130を導電層124(最も裏面400B側に位置する導電層)に接続することが望ましい。   Therefore, for example, when the connecting portion 452 of the press-fit connector 450 is press-fitted into the through hole 130 from the front surface 400A side of the substrate unit 400, the through hole 130 is connected to the conductive layer 124 (the conductive layer located closest to the back surface 400B). It is desirable to do.

このようにすることにより、終端されない部分を低減し、スタブの発生を抑制でき、この結果、信号の伝送特性が改善される。   By doing in this way, the part which is not terminated can be reduced and the occurrence of stubs can be suppressed. As a result, the signal transmission characteristics are improved.

次に、図15を用いて、実施の形態4の基板ユニット400の製造方法について説明する。   Next, the manufacturing method of the substrate unit 400 of Embodiment 4 is demonstrated using FIG.

図15は、実施の形態4の基板ユニット400(401)の製造方法を示す断面図である。図15では、図14よりも基板ユニット400(401)を縮小して示す。ここで、基板ユニット401は、基板ユニット400が完成する前の製造段階における基板ユニットを表す。   FIG. 15 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing the substrate unit 400 (401) of the fourth embodiment. In FIG. 15, the substrate unit 400 (401) is shown in a smaller scale than in FIG. Here, the substrate unit 401 represents a substrate unit in a manufacturing stage before the substrate unit 400 is completed.

基板ユニット400の製造工程は、絶縁層111〜115と導電層121〜124とを重ね合わせて基板ユニット401を製造した後に貫通孔131を形成し、スルーホール130を形成する工程までは、実施の形態1の基板ユニット100の製造工程と同様である。   The manufacturing process of the substrate unit 400 is performed until the process of forming the through hole 131 and forming the through hole 130 after manufacturing the substrate unit 401 by superimposing the insulating layers 111 to 115 and the conductive layers 121 to 124. This is the same as the manufacturing process of the substrate unit 100 of the first embodiment.

このため、スルーホール130を形成する工程までを表す図8(A)〜(C)を援用し、その説明を省略する。   For this reason, FIG. 8 (A)-(C) showing to the process of forming the through hole 130 is used, and the description thereof is omitted.

図15(A)に示すように、スルーホール130を形成した基板ユニット401の裏面401B側からプレスフィットコネクタ450の接続ピン452の先端部452Aをスルーホール130に圧入する。   As shown in FIG. 15A, the tip end portion 452A of the connection pin 452 of the press-fit connector 450 is press-fitted into the through hole 130 from the back surface 401B side of the substrate unit 401 in which the through hole 130 is formed.

次に、基板ユニット400の表面400A側から、導電性樹脂470を注入する。導電性樹脂470は、先端部452Aとスルーホール130の壁面とで区画される空間に充填される。これにより、図15(B)に示す基板ユニット400が完成する。   Next, the conductive resin 470 is injected from the front surface 400 </ b> A side of the substrate unit 400. The conductive resin 470 is filled in a space defined by the tip 452 </ b> A and the wall surface of the through hole 130. Thereby, the substrate unit 400 shown in FIG. 15B is completed.

以上により、図15(B)に示す基板ユニット400が形成される。図15(B)に示す基板ユニット400は、図14に示す基板ユニット400と同一である。   Thus, the substrate unit 400 shown in FIG. 15B is formed. A substrate unit 400 shown in FIG. 15B is the same as the substrate unit 400 shown in FIG.

基板ユニット400は、従来の基板ユニットとは異なり、接続ピン452の先端部452Aとスルーホール130の壁面とで区画される空間に導電性樹脂470が充填されているため、終端されない導電部分が短くなり、接続ピン452の先端部452Aにおけるスタブを低減できる。   Unlike the conventional board unit, the board unit 400 is filled with the conductive resin 470 in the space defined by the tip part 452A of the connection pin 452 and the wall surface of the through hole 130, so that the conductive part that is not terminated is short. Thus, the stub at the tip portion 452A of the connection pin 452 can be reduced.

このため、実施の形態4によれば、スタブの発生を効果的に抑制することにより、信号の反射又はノイズ発生を抑制し、高速信号の伝送特性が良好な基板ユニット400を提供することができる。また、信号の反射又はノイズ発生が抑制されるので、長距離の信号伝送が可能になる。   For this reason, according to the fourth embodiment, it is possible to provide a board unit 400 that suppresses signal reflection or noise generation by effectively suppressing the occurrence of stubs and has good high-speed signal transmission characteristics. . Further, since signal reflection or noise generation is suppressed, long-distance signal transmission is possible.

また、実施の形態4によれば、ビルドアップ基板を用いる必要がなく、バックドリルのような機械加工を行う必要もない。   Further, according to the fourth embodiment, it is not necessary to use a build-up substrate, and it is not necessary to perform machining such as a back drill.

このため、低コストで製造の容易な基板ユニット400を提供することができる。   For this reason, it is possible to provide a substrate unit 400 that is inexpensive and easy to manufacture.

なお、実施の形態4では、プレスフィットコネクタ450を基板ユニット400の裏面400B側だけに実装したが、表面400A側にもプレスフィットコネクタを実装してもよい。この場合は、導電性樹脂470をスルーホール130の内部に充填せずに、表面400A側のプレスフィットコネクタの接続ピンがスルーホール130内に圧入されることを考慮して、適量の導電性樹脂470をスルーホール130に注入してから表面400A側にプレスフィットコネクタを実装すればよい。   In the fourth embodiment, the press-fit connector 450 is mounted only on the back surface 400B side of the substrate unit 400, but a press-fit connector may be mounted on the front surface 400A side. In this case, an appropriate amount of the conductive resin is taken into consideration that the connection pins of the press-fit connector on the surface 400A side are pressed into the through-hole 130 without filling the through-hole 130 with the conductive resin 470. After injecting 470 into the through-hole 130, a press-fit connector may be mounted on the surface 400A side.

以上、実施の形態1乃至4では、基板ユニット100、200、300、400が電子装置としてのサーバ500に含まれる形態について説明した。しかしながら、基板ユニット100、200、300、400を含む電子装置は、サーバ500に限られず、例えば、PC(Personal Computer)、携帯電話端末機、スマートフォン、デジタルカメラ、ビデオカメラ等であってもよい。   As described above, in the first to fourth embodiments, the configuration in which the board units 100, 200, 300, and 400 are included in the server 500 as an electronic device has been described. However, the electronic device including the substrate units 100, 200, 300, and 400 is not limited to the server 500, and may be a PC (Personal Computer), a mobile phone terminal, a smartphone, a digital camera, a video camera, or the like.

以上、本発明の例示的な実施の形態の基板ユニット、及び、基板ユニットの製造方法について説明したが、本発明は、具体的に開示された実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲から逸脱することなく、種々の変形や変更が可能である。
以上の実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
(付記1)
第1の面と第2の面との間を貫通する、導電性の壁面を備えた貫通孔を有する基板と、
前記貫通孔に前記第1の面から圧入される第1の接続ピンを有する第1の電子部品と、
前記貫通孔内に配置され、前記貫通孔の壁面と前記第1の接続ピンとを接続させる導電性部材とを有することを特徴とする基板ユニット。
(付記2)
前記基板ユニットはさらに、
前記貫通孔に前記第2の面から圧入される第2の接続ピンを有する第2の電子部品を有し、
前記導電性部材は、前記前記第1の接続ピンと前記第2の接続ピンとを接続するように前記貫通孔内に配置されることを特徴とする付記1記載の基板ユニット。
(付記3)
前記導電性部材は、前記貫通孔に充填された導電性樹脂であることを特徴とする付記1又は2記載の基板ユニット。
(付記4)
前記導電性部材は、前記貫通孔に配置された導電性の弾性部材であることを特徴とする付記1又は2記載の基板ユニット。
(付記5)
前記導電性部材は、導電性のコイルバネであることを特徴とする付記4記載の基板ユニット。
(付記6)
前記導電性部材は、導電性の弾性パッドであることを特徴とする付記4記載の基板ユニット。
(付記7)
第1の面と第2の面との間を貫通する、導電性の壁面を備えた貫通孔が形成された基板と、
前記第1の面に配置される、前記貫通孔に前記第1の面から圧入される凸形状の接続ピンを有する第1の電子部品と、
前記第2の面に配置される、前記貫通孔に前記第2の面から、前記凸形状の接続ピンに接触するように圧入される凹形状の接続ピンを有する第2の電子部品とを有することを特徴とする基板ユニット。
(付記8)
前記貫通孔に圧入された前記凸形状の接続ピン又は前記凹形状の接続ピンの少なくとも一方が潰れていることを特徴とする付記7記載の基板ユニット。
(付記9)
第1の面と第2の面との間を貫通する貫通孔が形成され、部品が搭載される基板ユニットの製造方法において、
第1の電子部品の第1の接続ピンを、前記貫通孔に前記第1の面から圧入するステップと、
前記貫通孔の壁面と前記第1の接続ピンとが接触するように、導電性部材を前記貫通孔に配置するステップを有することを特徴とする基板ユニットの製造方法。
(付記10)
第1の面と第2の面との間を貫通する貫通孔が形成され、部品が搭載される基板ユニットの製造方法において、
第1の電子部品の凸形状の接続ピンを、前記貫通孔に前記第1の面から圧入するステップと、
第2の電子部品の凹形状の接続ピンを、前記貫通孔に圧入される凸形状の接続ピンに接触するように、前記貫通孔に前記第2の面から圧入するステップを有することを特徴とする基板ユニットの製造方法。
As described above, the substrate unit and the manufacturing method of the substrate unit according to the exemplary embodiment of the present invention have been described, but the present invention is not limited to the specifically disclosed embodiment, and is claimed. Various modifications and changes can be made without departing from the scope.
Regarding the above embodiment, the following additional notes are disclosed.
(Appendix 1)
A substrate having a through-hole with a conductive wall surface that penetrates between the first surface and the second surface;
A first electronic component having a first connection pin press-fitted into the through-hole from the first surface;
A board unit comprising: a conductive member disposed in the through hole and connecting a wall surface of the through hole and the first connection pin.
(Appendix 2)
The substrate unit further includes
A second electronic component having a second connection pin press-fitted into the through-hole from the second surface;
The board unit according to claim 1, wherein the conductive member is disposed in the through hole so as to connect the first connection pin and the second connection pin.
(Appendix 3)
The board unit according to appendix 1 or 2, wherein the conductive member is a conductive resin filled in the through hole.
(Appendix 4)
The board unit according to appendix 1 or 2, wherein the conductive member is a conductive elastic member disposed in the through hole.
(Appendix 5)
The board unit according to appendix 4, wherein the conductive member is a conductive coil spring.
(Appendix 6)
The board unit according to appendix 4, wherein the conductive member is a conductive elastic pad.
(Appendix 7)
A substrate in which a through-hole having a conductive wall surface that penetrates between the first surface and the second surface is formed;
A first electronic component having a convex connection pin disposed on the first surface and press-fitted into the through-hole from the first surface;
And a second electronic component having a concave connection pin that is press-fitted from the second surface into the through hole so as to contact the convex connection pin. A board unit characterized by that.
(Appendix 8)
The board unit according to appendix 7, wherein at least one of the convex connection pin or the concave connection pin press-fitted into the through hole is crushed.
(Appendix 9)
In the method for manufacturing a substrate unit in which a through-hole penetrating between the first surface and the second surface is formed and a component is mounted,
Press-fitting a first connection pin of a first electronic component into the through hole from the first surface;
A method for manufacturing a substrate unit, comprising: placing a conductive member in the through hole so that a wall surface of the through hole and the first connection pin are in contact with each other.
(Appendix 10)
In the method for manufacturing a substrate unit in which a through-hole penetrating between the first surface and the second surface is formed and a component is mounted,
Press-fitting a convex connection pin of the first electronic component into the through-hole from the first surface;
A step of press-fitting the concave connection pin of the second electronic component into the through hole from the second surface so as to contact the convex connection pin press-fitted into the through hole; Manufacturing method of substrate unit.

100、101、200、201、300、301、400、401 基板ユニット
100A、101A、200A、201A、300A、301A、400A、401A 表面
100B、101B、200B、201B、300B、301B、400B、401B 裏面
111、112、113、114、115 絶縁層
121、122、123、124 導電層
130 スルーホール
131 貫通孔
150、160、350、360、450、60A、60B プレスフィットコネクタ
151、161、351、361、451 筐体
152、162、352、362、452 接続ピン
152A、162A、352A、362A、452A 先端部
152B、162B 端子部
170 コイルバネ
270 導電弾性パッド
451A 凹部
452B コネクタ部
467 ケーブルコネクタ
467A 筐体
468 コネクタ部
470 導電性樹脂
480 シリンジ
500 サーバ
510A、510B シャーシ
520 スイッチモジュール
600〜600 ブレード
610 CPU
621、622、623、624 メモリ
630 通信LSI
650、660 バス
100, 101, 200, 201, 300, 301, 400, 401 Substrate unit 100A, 101A, 200A, 201A, 300A, 301A, 400A, 401A Front surface 100B, 101B, 200B, 201B, 300B, 301B, 400B, 401B Back surface 111 , 112, 113, 114, 115 Insulating layer 121, 122, 123, 124 Conductive layer 130 Through hole 131 Through hole 150, 160, 350, 360, 450, 60A, 60B Press-fit connector 151, 161, 351, 361, 451 Housing 152, 162, 352, 362, 452 Connection pins 152A, 162A, 352A, 362A, 452A Tip portion 152B, 162B Terminal portion 170 Coil spring 270 Conductive elastic pad 451A Recess 452B Connector section 467 cable connector 467A housing 468 connector part 470 conductive resin 480 syringe 500 servers 510A, 510B chassis 520 switch modules 600 1 to 600 n blade 610 CPU
621, 622, 623, 624 Memory 630 Communication LSI
650, 660 bus

Claims (10)

第1の面と第2の面との間を貫通する、導電性の壁面を備えた貫通孔を有する基板と、
前記貫通孔に前記第1の面から圧入される第1の接続ピンを有する第1の電子部品と、
前記貫通孔内に配置され、前記貫通孔の壁面と前記第1の接続ピンとを接続させる導電性部材とを有することを特徴とする基板ユニット。
A substrate having a through-hole with a conductive wall surface that penetrates between the first surface and the second surface;
A first electronic component having a first connection pin press-fitted into the through-hole from the first surface;
A board unit comprising: a conductive member disposed in the through hole and connecting a wall surface of the through hole and the first connection pin.
前記基板ユニットはさらに、
前記貫通孔に前記第2の面から圧入される第2の接続ピンを有する第2の電子部品を有し、
前記導電性部材は、前記前記第1の接続ピンと前記第2の接続ピンとを接続するように前記貫通孔内に配置されることを特徴とする請求項1記載の基板ユニット。
The substrate unit further includes
A second electronic component having a second connection pin press-fitted into the through-hole from the second surface;
The board unit according to claim 1, wherein the conductive member is disposed in the through hole so as to connect the first connection pin and the second connection pin.
前記導電性部材は、前記貫通孔に充填された導電性樹脂であることを特徴とする請求項1又は2記載の基板ユニット。   The substrate unit according to claim 1, wherein the conductive member is a conductive resin filled in the through hole. 前記導電性部材は、前記貫通孔に配置された導電性の弾性部材であることを特徴とする請求項1又は2記載の基板ユニット。   The substrate unit according to claim 1, wherein the conductive member is a conductive elastic member disposed in the through hole. 前記導電性部材は、導電性のコイルバネであることを特徴とする請求項4記載の基板ユニット。   The board unit according to claim 4, wherein the conductive member is a conductive coil spring. 前記導電性部材は、導電性の弾性パッドであることを特徴とする請求項4記載の基板ユニット。   The board unit according to claim 4, wherein the conductive member is a conductive elastic pad. 第1の面と第2の面との間を貫通する、導電性の壁面を備えた貫通孔が形成された基板と、
前記第1の面に配置される、前記貫通孔に前記第1の面から圧入される凸形状の接続ピンを有する第1の電子部品と、
前記第2の面に配置される、前記貫通孔に前記第2の面から、前記凸形状の接続ピンに接触するように圧入される凹形状の接続ピンを有する第2の電子部品とを有することを特徴とする基板ユニット。
A substrate in which a through-hole having a conductive wall surface that penetrates between the first surface and the second surface is formed;
A first electronic component having a convex connection pin disposed on the first surface and press-fitted into the through-hole from the first surface;
And a second electronic component having a concave connection pin that is press-fitted from the second surface into the through hole so as to contact the convex connection pin. A board unit characterized by that.
前記貫通孔に圧入された前記凸形状の接続ピン又は前記凹形状の接続ピンの少なくとも一方が潰れていることを特徴とする請求項7記載の基板ユニット。   8. The substrate unit according to claim 7, wherein at least one of the convex connection pin or the concave connection pin press-fitted into the through hole is crushed. 第1の面と第2の面との間を貫通する貫通孔が形成され、部品が搭載される基板ユニットの製造方法において、
第1の電子部品の第1の接続ピンを、前記貫通孔に前記第1の面から圧入するステップと、
前記貫通孔の壁面と前記第1の接続ピンとが接触するように、導電性部材を前記貫通孔に配置するステップを有することを特徴とする基板ユニットの製造方法。
In the method for manufacturing a substrate unit in which a through-hole penetrating between the first surface and the second surface is formed and a component is mounted,
Press-fitting a first connection pin of a first electronic component into the through hole from the first surface;
A method for manufacturing a substrate unit, comprising: placing a conductive member in the through hole so that a wall surface of the through hole and the first connection pin are in contact with each other.
第1の面と第2の面との間を貫通する貫通孔が形成され、部品が搭載される基板ユニットの製造方法において、
第1の電子部品の凸形状の接続ピンを、前記貫通孔に前記第1の面から圧入するステップと、
第2の電子部品の凹形状の接続ピンを、前記貫通孔に圧入される凸形状の接続ピンに接触するように、前記貫通孔に前記第2の面から圧入するステップを有することを特徴とする基板ユニットの製造方法。
In the method for manufacturing a substrate unit in which a through-hole penetrating between the first surface and the second surface is formed and a component is mounted,
Press-fitting a convex connection pin of the first electronic component into the through-hole from the first surface;
A step of press-fitting the concave connection pin of the second electronic component into the through hole from the second surface so as to contact the convex connection pin press-fitted into the through hole; Manufacturing method of substrate unit.
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