JP2012185914A - Manufacturing method of plasma display and ink for plasma display - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To solve such a problem in a process of coating a PDP protective film with MgO powder in the form of ink by means of a slit coater that the MgO powder dispersed on the PDP protective film is flicked (flick without nucleus), and to provide a manufacturing method which suppresses occurrence of flick without nucleus, and to provide an ink.SOLUTION: In the manufacturing method and the ink, the ink is composed of an MgO powder, a solvent A, a solvent B and a solvent C. The solvent A evaporates at first, and then the solvents B and C evaporate substantially simultaneously. Surface tension is smallest in the solvent A, largest in the solvent B, and substantially equal in the solvent C and A.

Description

本発明は、プラズマディスプレイ製造方法およびプラズマディスプレイ用インクに関するものである。   The present invention relates to a plasma display manufacturing method and a plasma display ink.

現状、高品位テレビジョン画像を大画面で表示するためのディスプレイ装置として、プラズマディスプレイパネル(以下、PDPとも称す)を用いたディスプレイ装置への期待は高まっている。   At present, there is an increasing expectation for a display device using a plasma display panel (hereinafter also referred to as PDP) as a display device for displaying a high-definition television image on a large screen.

PDP(例えば3電極面放電型PDP)は、映像を見る人から見て表面側となる前面板とその裏側の背面板とを対向配置して、それらの周辺部を封着部材で封着した構造を有している。前面板と背面板との間に形成された放電空間には、ネオンおよびキセノンなどの放電ガスが封入されている。前面板は、ガラス基板の一方の面に形成された走査電極と維持電極とから成る表示電極と、これらの電極を覆う誘電体層と保護層とを備えている。背面板は、ガラス基板に上記表示電極と直交する方向にストライプ状に形成された複数のアドレス電極と、これらのアドレス電極を覆う下地誘電体層と、放電空間をアドレス電極毎に区画する隔壁と、隔壁の側面および下地誘電体層上に形成された赤色・緑色・青色の蛍光体層とを備えている。   In a PDP (for example, a three-electrode surface discharge type PDP), a front plate on the front side and a back plate on the back side are arranged opposite to each other as viewed from the viewer, and their peripheral portions are sealed with a sealing member. It has a structure. A discharge gas such as neon and xenon is enclosed in a discharge space formed between the front plate and the back plate. The front plate includes a display electrode formed of a scan electrode and a sustain electrode formed on one surface of the glass substrate, and a dielectric layer and a protective layer that cover these electrodes. The back plate includes a plurality of address electrodes formed in a stripe shape in a direction orthogonal to the display electrodes on the glass substrate, a base dielectric layer that covers these address electrodes, and a partition that partitions the discharge space for each address electrode And red, green, and blue phosphor layers formed on the side surfaces of the barrier ribs and the underlying dielectric layer.

表示電極とアドレス電極とは直交していて、その交差部が放電セルを成している。これらの放電セルはマトリクス状に配列されており、赤色・緑色・青色の蛍光体層を有する3個の放電セルがカラー表示のための画素となっている。このようなPDPでは、順次、走査電極とアドレス電極間、および走査電極と維持電極間に所定の電圧が印加されてガス放電を発生させている。そして、かかるガス放電で生じる紫外線により蛍光体層を励起して可視光を発光させることによってカラー画像表示を実現している。   The display electrodes and the address electrodes are orthogonal to each other, and the intersections form discharge cells. These discharge cells are arranged in a matrix, and three discharge cells having red, green, and blue phosphor layers are pixels for color display. In such a PDP, a predetermined voltage is sequentially applied between the scan electrode and the address electrode and between the scan electrode and the sustain electrode to generate gas discharge. A phosphor layer is excited by ultraviolet rays generated by such gas discharge to emit visible light, thereby realizing color image display.

このようなPDPの保護層としては、放電によるイオン衝突から誘電体層を保護すると共に、2次電子放出による蛍光体の発光を促進すべく、「壁電荷保持機能を担う薄膜層」と「初期電子放出機能を担う結晶層」との2層構造の保護層が採用される場合がある。かかる保護層の原料としては、一般的には耐スパッタ性能に優れかつ2次電子放出係数の高い酸化マグネシウム(MgO)が用いられる。   As a protective layer of such a PDP, in order to protect the dielectric layer from ion collisions caused by discharge and to promote phosphor emission by secondary electron emission, a “thin film layer having a wall charge holding function” and “initial stage” In some cases, a protective layer having a two-layer structure of “a crystal layer having an electron emission function” is employed. As a raw material for such a protective layer, generally, magnesium oxide (MgO) having excellent sputtering resistance and a high secondary electron emission coefficient is used.

このような背景において、特許文献1では、MgO薄膜層の形成に蒸着法などを用いる一方、MgO結晶層の形成に、スリットコータ法を用いている。特に、特許文献1の第一の実施形態では、直径0.5〜10μmのMgO単結晶粉体を3−メトキシ−3−メチル−1−ブタノールとα−テルピネオールとから成る混合溶媒中に分散させることよって、スリットコータ用インクを調製している。   In such a background, Patent Document 1 uses a vapor deposition method or the like for forming the MgO thin film layer, while using a slit coater method for forming the MgO crystal layer. In particular, in the first embodiment of Patent Document 1, MgO single crystal powder having a diameter of 0.5 to 10 μm is dispersed in a mixed solvent composed of 3-methoxy-3-methyl-1-butanol and α-terpineol. Therefore, the slit coater ink is prepared.

特許文献1の第1の実施形態にて作成したインクにてスリットコータ法を用いてMgO結晶層を形成する場合には、図11に示すように、「MgO薄膜層上にMgO結晶粉体が存在しない領域」、或いは「周囲領域に比べてMgO結晶粉体の被覆率が低い領域」が形成されてしまう現象(以下、「はじき現象」と称す)が発生することがある。図11は従来の“はじき現象”の態様を模式的に表した斜視図である。   When forming the MgO crystal layer using the slit coater method with the ink created in the first embodiment of Patent Document 1, as shown in FIG. 11, “MgO crystal powder is formed on the MgO thin film layer. There may occur a phenomenon in which a “non-existing region” or a “region in which the coverage of the MgO crystal powder is lower than the surrounding region” is formed (hereinafter referred to as “repelling phenomenon”). FIG. 11 is a perspective view schematically showing a conventional “repelling phenomenon”.

「はじき現象」とは、MgO薄膜層の凸部51起因により生じるものと考えられており、MgO薄膜層の凸部51は、(A)誘電体突起物、(B)MgO薄膜層の蒸着成膜中において発生するMgOスプラッシュ起因のMgO異物、(C)MgO薄膜層形成過程において混入する環境異物などによって、PDP前面板の作製過程で偶発的または不可避的に生じてしまうものである。   The “repellency phenomenon” is considered to be caused by the convex portion 51 of the MgO thin film layer. The convex portion 51 of the MgO thin film layer is formed by vapor deposition of (A) dielectric protrusions and (B) MgO thin film layer. MgO foreign matter caused by MgO splash generated in the film, (C) environmental foreign matters mixed in the MgO thin film layer forming process, and the like are accidentally or inevitably generated in the process of manufacturing the PDP front plate.

特開2009−295372号公報JP 2009-295372 A

従来の方法として、特許文献1の第1の実施形態にて作製したインクにて、スリットコータ法を用いてMgO結晶層を形成する場合には、図3に示すように、「MgO薄膜層上にMgO結晶粉体が存在しない領域」、或いは「周囲領域に比べてMgO結晶粉体の被覆率が低い領域」が形成されてしまう現象(以下、「核なしはじき現象」と称す)が発生することがある。この現象が生じると、MgO薄膜層上におけるMgO結晶粉体の被覆率の均一性が減じられ、放電遅れの抑制・放電確率の均一化が困難になるという問題があった。なお、特許文献1記載の「はじき現象」と「核なしはじき現象」とは似ているが、異なるものである。「核なしはじき現象」は、MgO薄膜層の凸部51の存在がなくても生じる。   As a conventional method, when an MgO crystal layer is formed using the slit coater method with the ink produced in the first embodiment of Patent Document 1, as shown in FIG. A region where the MgO crystal powder is not present "or a region where the coverage of the MgO crystal powder is lower than that of the surrounding region" (hereinafter referred to as "nuclear repellency phenomenon") occurs. Sometimes. When this phenomenon occurs, there is a problem that the uniformity of the coverage of the MgO crystal powder on the MgO thin film layer is reduced, and it becomes difficult to suppress the discharge delay and make the discharge probability uniform. The “repellent phenomenon” and “nuclear-free repellent phenomenon” described in Patent Document 1 are similar, but are different. The “nuclear repellency phenomenon” occurs even without the presence of the convex portion 51 of the MgO thin film layer.

本発明は、このような事情に鑑みて為されたものであり、スリットコータ法における“核なしはじき現象”を抑制するプラズマディスプレイ製造方法およびプラズマディスプレイ用インクを提供することである。   The present invention has been made in view of such circumstances, and it is an object of the present invention to provide a plasma display manufacturing method and a plasma display ink that suppress the “nuclear-free repelling phenomenon” in the slit coater method.

上記課題を解決するため、本発明は、基板上に電極と誘電体層と保護層とが形成されたプラズマディスプレイパネルの前面板の製造方法およびインクであって、
保護層の形成が、
(i)基板上に形成された誘電体層上にスパッタ法または蒸着法で第1保護層を形成する工程、
(ii)第1保護層上にMgO原料を塗布してMgO原料層を形成する工程、および、
(iii)MgO原料層を乾燥に付してMgO原料層から第2保護層を得る工程を含んで成り、
第2保護層の形成に用いられるMgO原料は、MgO粉体と3種類の溶剤とを含んで成り、各々の溶剤の20℃における表面張力の差が10mN/m以下である。
In order to solve the above problems, the present invention is a method and an ink for manufacturing a front panel of a plasma display panel in which an electrode, a dielectric layer, and a protective layer are formed on a substrate,
The formation of the protective layer
(I) forming a first protective layer on the dielectric layer formed on the substrate by sputtering or vapor deposition;
(Ii) applying an MgO raw material on the first protective layer to form an MgO raw material layer; and
(Iii) subjecting the MgO raw material layer to drying to obtain a second protective layer from the MgO raw material layer,
The MgO raw material used for forming the second protective layer comprises MgO powder and three types of solvents, and the difference in surface tension at 20 ° C. between the solvents is 10 mN / m or less.

そして、3種類の溶剤とは溶剤Aと溶剤Bと溶剤Cとから構成される。全溶剤に対して溶媒Bと溶媒Cとの和の割合が3.5質量%以上であり、溶剤Aの20℃における蒸気圧が50Pa以上、溶剤Bの20℃における蒸気圧が10Pa以上20Pa以下、溶剤Cの20℃における蒸気圧が5Pa以上15Pa未満である。これら上記を特徴とする製造方法およびインクを提供する。   The three types of solvents include solvent A, solvent B, and solvent C. The ratio of the sum of solvent B and solvent C to the total solvent is 3.5% by mass or more, the vapor pressure of solvent A at 20 ° C. is 50 Pa or more, and the vapor pressure of solvent B at 20 ° C. is 10 Pa or more and 20 Pa or less. The vapor pressure of solvent C at 20 ° C. is 5 Pa or more and less than 15 Pa. The manufacturing method and ink characterized by the above are provided.

本発明の製造方法では、第2保護層の形成に際して、MgO原料の「核なしはじき現象」を抑制することができる。換言すれば、面内の被覆率が均一なMgO結晶層を形成でき、放電遅れの抑制・放電確率の均一化を図れる。その結果、選択不良等のない良好な放電特性を持つプラズマディスプレイを得ることができる。   In the manufacturing method of the present invention, the “nuclear-free repelling phenomenon” of the MgO raw material can be suppressed when forming the second protective layer. In other words, an MgO crystal layer having a uniform in-plane coverage can be formed, and the discharge delay can be suppressed and the discharge probability can be made uniform. As a result, it is possible to obtain a plasma display having good discharge characteristics with no selection failure.

PDPの構造を模式的に示す斜視図The perspective view which shows the structure of PDP typically 本発明の製造方法で得られるPDPの前面板を模式的に表した断面図Sectional drawing which represented the front plate of PDP obtained with the manufacturing method of this invention typically “核なしはじき現象”の態様を模式的に表した斜視図Perspective view schematically showing the "nuclear repellency" mode 効果確認試験(1)における基板の外観写真を示す図The figure which shows the external appearance photograph of the board | substrate in an effect confirmation test (1) 効果確認試験(1)における到達圧力と溶媒の蒸発との関係を示す図The figure which shows the relationship between the ultimate pressure and the evaporation of a solvent in an effect confirmation test (1) 効果確認試験(1)における表面張力と溶媒混合比との関係を示す図The figure which shows the relationship between the surface tension and solvent mixing ratio in an effect confirmation test (1) “ダマ”発生メカニズムを示す図Diagram showing “dama” generation mechanism 効果確認試験(2)における基板の外観写真を示す図The figure which shows the external appearance photograph of the board | substrate in an effect confirmation test (2) 効果確認試験(2)における到達圧力と溶媒の蒸発との関係を示す図The figure which shows the relationship between the ultimate pressure and the evaporation of a solvent in an effect confirmation test (2) 効果確認試験(2)における表面張力と溶媒混合比との関係を示す図The figure which shows the relationship between the surface tension and the solvent mixing ratio in the effect confirmation test (2) “はじき現象”の態様を模式的に表した斜視図Perspective view schematically showing the mode of “repellency”

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。以下、本発明のプラズマディスプレイパネルの製造方法を詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. Hereinafter, the manufacturing method of the plasma display panel of the present invention will be described in detail.

[プラズマディスプレイパネルの構成]
まず、本発明の製造方法を経ることによって最終的に得られるプラズマディスプレイパネル(PDP)を簡単に説明する。図1はPDPの構成を断面斜視図により模式的に示した図である。
[Configuration of plasma display panel]
First, a plasma display panel (PDP) finally obtained through the manufacturing method of the present invention will be briefly described. FIG. 1 is a diagram schematically showing a configuration of a PDP by a cross-sectional perspective view.

PDP100の前面板1では、平滑で透明かつ絶縁性の前面板側の基板10(例えばガラス基板)上に、走査電極12と維持電極13とから成る表示電極11が複数形成されており、その表示電極11を覆うように、前面板側の誘電体層15が形成される。更に、その前面板側の誘電体層15上に保護層16が形成されている。なお、走査電極12および維持電極13は、それぞれ、透明電極と、この透明電極に電気的に接続されたAg等から成るバス電極とから構成されている。なお、前面板側の基板10上には、遮光層14も形成され得る。   In the front plate 1 of the PDP 100, a plurality of display electrodes 11 including scan electrodes 12 and sustain electrodes 13 are formed on a smooth, transparent and insulating substrate 10 (for example, a glass substrate) on the front plate side. A dielectric layer 15 on the front plate side is formed so as to cover the electrode 11. Further, a protective layer 16 is formed on the dielectric layer 15 on the front plate side. Scan electrode 12 and sustain electrode 13 are each composed of a transparent electrode and a bus electrode made of Ag or the like electrically connected to the transparent electrode. A light shielding layer 14 can also be formed on the substrate 10 on the front plate side.

前面板1に対向配置される背面板2では、絶縁性の背面板側の基板20上にアドレス電極21が複数形成され、このアドレス電極21を覆うように、背面板側の誘電体層22が形成されている。そして、かかる背面板側の誘電体層22上のアドレス電極21間に対応する位置に隔壁23が設けられ、誘電体層22の表面上の隣接する隔壁23の間には、赤、緑、青の各色の蛍光体層25がそれぞれ設けられている。   In the back plate 2 disposed opposite to the front plate 1, a plurality of address electrodes 21 are formed on a substrate 20 on the insulating back plate side, and a dielectric layer 22 on the back plate side is formed so as to cover the address electrodes 21. Is formed. A partition wall 23 is provided at a position corresponding to the space between the address electrodes 21 on the dielectric layer 22 on the back plate side, and red, green, blue between the adjacent partition walls 23 on the surface of the dielectric layer 22 is provided. Each color phosphor layer 25 is provided.

表示電極11とアドレス電極21とが直交し、かつ、放電空間30が形成されるように、前面板1と背面板2とは、隔壁23を挟んで対向して配置されている。放電空間30には、放電ガスとして、ヘリウム、ネオン、アルゴンまたはキセノンなどの希ガスが封入される。このような構成を有するPDP100では、隔壁23によって仕切られ、表示電極11とアドレス電極21とが交差する放電空間30が放電セル32として機能することになる。   The front plate 1 and the back plate 2 are arranged to face each other with the partition wall 23 interposed therebetween so that the display electrode 11 and the address electrode 21 are orthogonal to each other and the discharge space 30 is formed. The discharge space 30 is filled with a rare gas such as helium, neon, argon or xenon as a discharge gas. In the PDP 100 having such a configuration, the discharge space 30 that is partitioned by the partition wall 23 and intersects the display electrode 11 and the address electrode 21 functions as the discharge cell 32.

[PDPの一般的な製造法]
次に、このようなPDP100の典型的な製造方法について簡単に説明する。
[General manufacturing method of PDP]
Next, a typical manufacturing method of such a PDP 100 will be briefly described.

PDP100の製造は、前面板1の形成工程と背面板2の形成工程とに分かれている。まず、前面板1の形成工程においては、ガラス基板10上に、例えばスパッタ法などで透明電極を形成すると共に焼成法等でバス電極を形成することによって表示電極11を形成する。次いで、表示電極11を覆うように誘電体原料をガラス基板10上に塗布して加熱処理して誘電体層15を形成する。次いで、この誘電体層15上に、前述または後述する方法でMgOなどから成る膜を形成することで保護層16を形成し、前面板1を得ている。   The manufacture of the PDP 100 is divided into a front plate 1 forming step and a back plate 2 forming step. First, in the step of forming the front plate 1, the display electrode 11 is formed on the glass substrate 10 by forming a transparent electrode by, for example, a sputtering method and forming a bus electrode by a firing method or the like. Next, a dielectric material is applied on the glass substrate 10 so as to cover the display electrodes 11 and heat-treated to form the dielectric layer 15. Next, a protective layer 16 is formed on the dielectric layer 15 by forming a film made of MgO or the like by the method described above or later, and the front plate 1 is obtained.

背面板2の形成工程においては、ガラス基板上に、例えば焼成法等でアドレス電極21を形成し、その上に誘電体原料を塗布して誘電体層22を形成する。次いで、所定のパターンで低融点ガラスから成る隔壁23を形成し、その隔壁23の間に蛍光体材料を塗布して焼成することによって蛍光体層25を形成する。次いで、基板の周縁部に例えば低融点フリットガラス材料を塗布し、焼成を行うことで封着部材(図1には図示せず)を形成し、背面板2を得ている。   In the step of forming the back plate 2, the address electrode 21 is formed on a glass substrate by, for example, a firing method, and a dielectric material is applied thereon to form the dielectric layer 22. Next, the barrier ribs 23 made of low melting point glass are formed in a predetermined pattern, and the phosphor layer 25 is formed by applying a phosphor material between the barrier ribs 23 and baking it. Next, for example, a low melting point frit glass material is applied to the peripheral portion of the substrate and baked to form a sealing member (not shown in FIG. 1), whereby the back plate 2 is obtained.

得られた前面板1と背面板2とを対向するように位置合わせし、その状態で固定したまま加熱して封着部材を軟化させることによって、前面板1と背面板2とを気密に接合する、いわゆるパネル封着工程を行う。引き続いて、加熱しながら放電空間30内のガスを排気する、いわゆる排気ベーキング工程を行った後、放電空間30内に放電ガスを封入することによって、PDP100を完成させる。   The obtained front plate 1 and back plate 2 are aligned so as to face each other, and the front plate 1 and the back plate 2 are joined in an airtight manner by heating in a fixed state and softening the sealing member. A so-called panel sealing step is performed. Subsequently, after performing a so-called exhaust baking process in which the gas in the discharge space 30 is exhausted while being heated, the discharge gas is enclosed in the discharge space 30 to complete the PDP 100.

[本発明の製造方法]
本発明の方法は、上述のPDPの製造に際して、前面板の製造、特に前面板に形成される保護層の製造に関している。
[Production method of the present invention]
The method of the present invention relates to the production of a front plate, particularly the production of a protective layer formed on the front plate in the production of the above-mentioned PDP.

図1および図2を参照して、本発明の実施形態を説明する。図2は本発明の製造方法で得られるPDPの前面板を模式的に表した断面図である。   An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing a front plate of a PDP obtained by the manufacturing method of the present invention.

まず、本発明の実施に際しては、電極および誘電体層が形成された基板を用意する。より具体的には、「表示電極および誘電体層が形成されたガラス基板」を用意する。従って、まず、基板10上に、走査電極12と維持電極13とから構成される表示電極11が形成されたものを用意する。基板10としては、ソーダライムガラスや高歪み点ガラス、各種セラミックスからなる絶縁基板であることが好ましく、厚さは1.0mm〜3mm程度であることが好ましい。   First, in carrying out the present invention, a substrate on which an electrode and a dielectric layer are formed is prepared. More specifically, a “glass substrate on which a display electrode and a dielectric layer are formed” is prepared. Therefore, first, a substrate in which the display electrode 11 including the scan electrode 12 and the sustain electrode 13 is formed on the substrate 10 is prepared. The substrate 10 is preferably an insulating substrate made of soda lime glass, high strain point glass, or various ceramics, and preferably has a thickness of about 1.0 mm to 3 mm.

表示電極11の走査電極12および維持電極13には、それぞれ、ITO等から成る透明電極12a,13a(厚さ50nm〜500nm程度)が形成されていると共に、かかる透明電極上に表示電極の抵抗値を下げるべく、銀を含んで成るバス電極12b,13b(厚さ1μm〜8μm程度)が形成されている(図2参照)。従って、透明電極を薄膜プロセスなどで形成した後に、バス電極の焼成プロセスなどを経て形成する。特に、バス電極の形成に際しては、まず、銀を主成分とした導電性ペーストをスクリーン印刷法によりストライプ状に形成する。   Transparent electrodes 12a and 13a (thickness of about 50 nm to 500 nm) made of ITO or the like are formed on the scanning electrode 12 and the sustain electrode 13 of the display electrode 11, respectively, and the resistance value of the display electrode is formed on the transparent electrode. The bus electrodes 12b and 13b (thickness of about 1 μm to 8 μm) containing silver are formed (see FIG. 2). Therefore, after forming the transparent electrode by a thin film process or the like, the transparent electrode is formed through a bus electrode firing process or the like. In particular, when forming the bus electrode, first, a conductive paste mainly composed of silver is formed in a stripe shape by a screen printing method.

また、バス電極は銀を主成分とした感光性ペーストをダイコート法や印刷法により塗布した後に、100℃〜200℃で乾燥した後、露光・現像するフォトリソグラフィー法によりパターンニングすることによってストライプ状に形成しても良い。更には、ディスペンス法やインクジェット法によって形成しても良い。そして、最終的には乾燥に付した後、400℃〜600℃の焼成に付すことによって、バス電極を得る。なお、透明電極上には、Al、CuまたはCr等の金属やCr/Cu/Crのような積層体からなる金属電極を形成しても良い。   In addition, the bus electrode is formed in a stripe shape by applying a photosensitive paste mainly composed of silver by a die coating method or a printing method, drying at 100 ° C. to 200 ° C., and then patterning by a photolithography method that exposes and develops. You may form in. Further, it may be formed by a dispensing method or an ink jet method. And finally, after subjecting to drying, a bus electrode is obtained by subjecting to baking at 400 ° C. to 600 ° C. On the transparent electrode, a metal electrode made of a metal such as Al, Cu or Cr or a laminate such as Cr / Cu / Cr may be formed.

表示電極11の形成に引き続いて、誘電体層15を形成する。誘電体層15は、PDP前面板の一般的な製造で用いられる焼成法またはゾルゲル法などによって得ることができる。例えば、SiO2、B23、ZnO、Bi23を含むガラス粉末と有機溶剤とバインダ樹脂とを混合して成る誘電体原料ペーストをスクリーン印刷法で塗布し、その後、熱処理に付すことによって誘電体層を形成することができる。誘電体層15の厚さは、好ましくは5〜30μm程度であり、より好ましくは10〜20μm程度である。なお、有機溶剤としてはアルコール類(例えばイソプロピルアルコール)やケトン類(例えばメチルイソブチルケトン)を挙げることができ、バインダ樹脂としては、セルロース系樹脂またはアクリル系樹脂などを挙げることができる。 Subsequent to the formation of the display electrode 11, a dielectric layer 15 is formed. The dielectric layer 15 can be obtained by a firing method or a sol-gel method used in general production of a PDP front plate. For example, a dielectric raw material paste formed by mixing glass powder containing SiO 2 , B 2 O 3 , ZnO, Bi 2 O 3 , an organic solvent, and a binder resin is applied by screen printing, and then subjected to heat treatment. Thus, a dielectric layer can be formed. The thickness of the dielectric layer 15 is preferably about 5 to 30 μm, more preferably about 10 to 20 μm. Examples of the organic solvent include alcohols (for example, isopropyl alcohol) and ketones (for example, methyl isobutyl ketone), and examples of the binder resin include cellulose resins and acrylic resins.

誘電体層15の形成に引き続いて、保護層を形成する。従って、本発明の製造方法の工程(i)を実施する。換言すれば、誘電体層上にスパッタ法(スパッタリング法)または蒸着法で第1保護層を形成する。好ましくは、酸化マグネシウム(MgO)を含んで成る第1保護層(即ち、MgO薄膜層)を形成する。形成される第1保護層の厚さは、好ましくは約0.1〜2μm程度であり、より好ましくは約0.5〜1μm程度である。蒸着法としては、CVDまたはPVDを用いて良い。なお、スパッタ法または蒸着法に限定されず、所望のMgO薄膜層を形成できるのであれば、必要に応じて他の手法を用いても良い。   Subsequent to the formation of the dielectric layer 15, a protective layer is formed. Therefore, step (i) of the manufacturing method of the present invention is performed. In other words, the first protective layer is formed on the dielectric layer by sputtering (sputtering) or vapor deposition. Preferably, a first protective layer (that is, an MgO thin film layer) containing magnesium oxide (MgO) is formed. The thickness of the first protective layer to be formed is preferably about 0.1 to 2 [mu] m, more preferably about 0.5 to 1 [mu] m. As the vapor deposition method, CVD or PVD may be used. Note that the present invention is not limited to the sputtering method or the vapor deposition method, and other methods may be used as necessary as long as a desired MgO thin film layer can be formed.

次いで、本発明の製造方法の工程(ii)を実施する。つまり、第1保護層(好ましくはMgO薄膜層)の上に、MgO原料を塗布してMgO原料層を形成する。用いられるMgO原料は、MgO粉体と溶剤Aと溶剤Bと溶剤Cとを含んで成るものである。MgO粉体は、好ましくはMgO結晶粉体(MgO微結晶粉体)であり、より好ましくはMgO単結晶粉体である。かかるMgO結晶粉体またはMgO単結晶粉体の粒径は、好ましくは約0.2〜20μm程度、より好ましくは約0.5〜10μm程度である。なお、MgO原料に含まれるMgO粉体の量は、好ましくは0.3〜20質量%(MgO原料基準)、より好ましくは0.3〜10質量%(MgO原料基準)、更に好ましくは0.3〜5質量%(MgO原料基準)であり、例えば約1質量%(MgO原料基準)である。   Next, step (ii) of the production method of the present invention is performed. That is, the MgO raw material layer is formed by applying the MgO raw material on the first protective layer (preferably the MgO thin film layer). The MgO raw material used comprises MgO powder, solvent A, solvent B, and solvent C. The MgO powder is preferably MgO crystal powder (MgO microcrystal powder), more preferably MgO single crystal powder. The particle diameter of the MgO crystal powder or MgO single crystal powder is preferably about 0.2 to 20 μm, more preferably about 0.5 to 10 μm. The amount of the MgO powder contained in the MgO raw material is preferably 0.3 to 20% by mass (based on MgO raw material), more preferably 0.3 to 10% by mass (based on MgO raw material), and still more preferably 0.8. 3 to 5% by mass (based on MgO raw material), for example, about 1% by mass (based on MgO raw material).

MgO原料に含まれる溶剤は、溶剤Aと溶剤Bと溶剤Cであり、後述する“乾燥時の対流”の観点から、各々の蒸気圧がある程度離れており、かつ表面張力差はできるだけ少ない必要がある。溶剤A,溶剤B、溶剤Cの20℃における表面張力の差が10mN/m以下であり、全溶剤に対して溶媒Bと溶媒Cとの和の割合が3.5質量%以上であり、溶剤Aの20℃における蒸気圧が50Pa以上、溶剤Bの20℃における蒸気圧が10Pa以上20Pa以下、溶剤Cの20℃における蒸気圧が5Pa以上15Pa未満である。   Solvents contained in the MgO raw material are solvent A, solvent B, and solvent C. From the viewpoint of “convection during drying”, which will be described later, their vapor pressures must be separated to some extent and the difference in surface tension should be as small as possible. is there. The difference in surface tension between solvent A, solvent B, and solvent C at 20 ° C. is 10 mN / m or less, and the ratio of the sum of solvent B and solvent C to the total solvent is 3.5% by mass or more. The vapor pressure at 20 ° C. of A is 50 Pa or more, the vapor pressure at 20 ° C. of solvent B is 10 Pa or more and 20 Pa or less, and the vapor pressure of 20 ° C. of solvent C is 5 Pa or more and less than 15 Pa.

そして、その製造方法における溶剤Cの20℃における表面張力は、前溶剤Aの20℃における表面張力との差が5mN/m以下であり、また、溶剤Bの20℃における表面張力は、前記溶剤Aの20℃における表面張力との差が5mN/m以上10mN/m以下であり、溶剤BおよびCの表面張力は溶剤Aより大きい。   And the surface tension at 20 ° C. of the solvent C in the production method is 5 mN / m or less from the surface tension at 20 ° C. of the previous solvent A, and the surface tension at 20 ° C. of the solvent B is The difference between the surface tension of A at 20 ° C. is 5 mN / m or more and 10 mN / m or less, and the surface tension of solvents B and C is larger than that of solvent A.

また、MgO原料に含まれる全溶剤に対する溶剤Bと溶剤Cとの和の割合(即ち溶剤Bおよび溶剤Cの含有率)は、3.5質量%以上である。ここで、本明細書で言う「全溶剤」とは、溶剤が溶剤Aと溶剤Bと溶剤Cから成る場合では、「溶剤Aと溶剤Bと溶剤C」のことを実質的に意味しており、溶剤がその他の溶剤(つまり、少なくとも1種類の他の溶剤)を付加的に含む場合では「溶剤A、溶剤Bおよびその他の溶剤」のことを実質的に意味している。   The ratio of the sum of the solvent B and the solvent C to the total solvent contained in the MgO raw material (that is, the content ratio of the solvent B and the solvent C) is 3.5% by mass or more. Here, “total solvent” as used in the present specification substantially means “solvent A, solvent B, and solvent C” when the solvent is composed of solvent A, solvent B, and solvent C. In the case where the solvent additionally contains another solvent (that is, at least one other solvent), it means “solvent A, solvent B and other solvent” substantially.

なお、全溶剤に対する溶剤Bの割合は、好ましくは3.5質量%以上かつ20質量%以下であり、より好ましくは3.5質量%以上かつ12質量%以下である。溶剤Aとしては、例えば3−メトキシ−3−メチル−1−ブタノール、n−ヘプチルアルコール、2−エトキシエタノール、2−メトキシエタノール、n−ヘキシルアルコールまたは2−メチル−1−プロパノール等の有機溶剤をあげることができる。   In addition, the ratio of the solvent B with respect to the total solvent becomes like this. Preferably it is 3.5 to 20 mass%, More preferably, it is 3.5 to 12 mass%. Examples of the solvent A include organic solvents such as 3-methoxy-3-methyl-1-butanol, n-heptyl alcohol, 2-ethoxyethanol, 2-methoxyethanol, n-hexyl alcohol, and 2-methyl-1-propanol. I can give you.

また、溶剤Bは親水基を含んだ親水性の溶剤が好ましく、例えばプロピレングリコール、1,3−ブチレングリコール、1,5−ペンタンジオール等のグリコール系有機溶剤を挙げることができる。ただし、グリコール系の溶剤は、−OH基を2つ有するため、表面張力が強い傾向がある。そのため、溶剤Cは溶剤Bの表面張力を低減する役割を担うジエチレングリコールモノエチルエーテル2−(2−エトキシエトキシ)エタノール、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート酢酸2−(2−エトキシエトキシ)エチル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、1,3−ブタンジオール−3−メチルー1−アセテート等の有機溶剤を挙げることができる。   The solvent B is preferably a hydrophilic solvent containing a hydrophilic group, and examples thereof include glycol organic solvents such as propylene glycol, 1,3-butylene glycol, and 1,5-pentanediol. However, since the glycol solvent has two —OH groups, the surface tension tends to be strong. Therefore, solvent C plays the role of reducing the surface tension of solvent B, diethylene glycol monoethyl ether 2- (2-ethoxyethoxy) ethanol, diethylene glycol monoethyl ether acetate 2- (2-ethoxyethoxy) ethyl acetate, diethylene glycol monomethyl ether, Examples thereof include organic solvents such as 1,3-butanediol-3-methyl-1-acetate.

MgO原料の塗布には、スリットコータ法を用いることが好ましい。「スリットコータ法」とは、巾広のノズルからペースト状原料を圧送吐出して所定の面にペースト状原料を塗布する方法である。かかるスリットコータ法を用いる場合、MgO原料はMgO粉体の凝集防止の観点から7mPa・s以下程度の粘度を有していることが好ましい。   A slit coater method is preferably used for coating the MgO raw material. The “slit coater method” is a method in which a pasty raw material is applied to a predetermined surface by pumping and discharging a pasty raw material from a wide nozzle. When such a slit coater method is used, the MgO raw material preferably has a viscosity of about 7 mPa · s or less from the viewpoint of preventing aggregation of the MgO powder.

ここで、MgO原料は一般に非ニュートン性流体となり得るので、本明細書で用いる粘度は「ずり速度100s−1および温度25℃における粘度」を実質的に意味していることに留意されたい。MgO原料の粘度は、好ましくは3mPa・s以上かつ7mPa・s以下であり、より好ましくは4mPa・s以上かつ7mPa・s以下である。これは、前記スリットコータから7mPa・s以下の原料粘度が求められ、また、Mgo粉の沈降を抑制する点から、3mPa・s以上が望ましく、Mgo粉の粒子径に依存するが、4mPa・s以上の方が、Mgo粉の沈降を抑制する効果が大きいためである。   Here, it should be noted that the viscosity used herein substantially means “viscosity at a shear rate of 100 s −1 and a temperature of 25 ° C.” since MgO raw materials can generally be non-Newtonian fluids. The viscosity of the MgO raw material is preferably 3 mPa · s or more and 7 mPa · s or less, more preferably 4 mPa · s or more and 7 mPa · s or less. This is because a raw material viscosity of 7 mPa · s or less is required from the slit coater, and 3 mPa · s or more is desirable from the viewpoint of suppressing sedimentation of the Mgo powder, depending on the particle size of the Mgo powder, but 4 mPa · s. The above is because the effect of suppressing the sedimentation of the Mgo powder is greater.

MgO原料の塗布により形成されるMgO原料層の厚さ(以下、「Wet膜厚」とも称す)は、スリットコータ法を用いる場合には約5μm〜約13μm程度が好ましい。   The thickness of the MgO material layer formed by application of the MgO material (hereinafter also referred to as “Wet film thickness”) is preferably about 5 μm to about 13 μm when the slit coater method is used.

MgO原料層の形成が完了すると、次に、本発明の製造方法の工程(iii)を実施する。つまり、MgO原料層を乾燥に付してMgO原料層から第2保護層(即ち、MgO結晶層)を得る。ここでいう「乾燥」とは、MgO原料層に含まれている溶剤(より具体的にいえば溶剤A、溶剤B、溶剤C)を気化させてMgO原料層から除去することを実質的に意味している。例えば、MgO原料層を7〜0.1Paの減圧下または真空下に置いても良く、或いは、大気圧下で100〜400℃程度の熱処理に付しても良い。必要に応じて「減圧下または真空下」と「熱処理」とを組み合わせても良い。乾燥後に得られる第2保護層の厚さは、溶剤が抜けることに起因して、MgO原料層の厚さよりも減じられ、0.1〜5μm程度となり得る。   When the formation of the MgO raw material layer is completed, step (iii) of the manufacturing method of the present invention is then performed. That is, the MgO raw material layer is subjected to drying to obtain a second protective layer (ie, MgO crystal layer) from the MgO raw material layer. Here, “drying” substantially means that the solvent (more specifically, solvent A, solvent B, solvent C) contained in the MgO raw material layer is vaporized and removed from the MgO raw material layer. is doing. For example, the MgO raw material layer may be placed under a reduced pressure of 7 to 0.1 Pa or under vacuum, or may be subjected to a heat treatment at about 100 to 400 ° C. under atmospheric pressure. If necessary, “under reduced pressure or under vacuum” and “heat treatment” may be combined. The thickness of the second protective layer obtained after drying is reduced from the thickness of the MgO raw material layer due to the removal of the solvent, and can be about 0.1 to 5 μm.

以上の工程(i)〜(iii)によって、第1保護層(好ましくは、MgO薄膜層)と第2保護層(MgO結晶層)とから成る2層構造の保護層が形成され、前面板1が完成することになる。   Through the above steps (i) to (iii), a protective layer having a two-layer structure including a first protective layer (preferably a MgO thin film layer) and a second protective layer (MgO crystal layer) is formed, and the front plate 1 Will be completed.

前面板1の作製に対して、背面板2は次のようにして作製する。まず、ガラス基板である基板(20)上に、銀(Ag)材料を含むペーストをスクリーン印刷する方法や、銀を主成分とした金属膜を全面に形成した後、露光・現像するフォトリソグラフィー法を用いてパターニングする方法などによって前駆体層を形成し、それを所望の温度(例えば、約400〜約700℃)で焼成することによりアドレス電極21を形成する。次いで、アドレス電極21が形成された基板20上に、下地誘電体層となる誘電体層22を形成する。   In contrast to the production of the front plate 1, the back plate 2 is produced as follows. First, a method of screen-printing a paste containing silver (Ag) material on a substrate (20) which is a glass substrate, or a photolithography method of exposing and developing after forming a metal film mainly composed of silver on the entire surface A precursor layer is formed by a method such as patterning using, and the address electrode 21 is formed by baking it at a desired temperature (for example, about 400 to about 700 ° C.). Next, a dielectric layer 22 serving as a base dielectric layer is formed on the substrate 20 on which the address electrodes 21 are formed.

まず、「ガラス成分(SiO2、B23などから形成される材料)、及び、ビヒクル成分などを主成分とした誘電体原料ペースト」をダイコート法などにより塗布して誘電体ペースト層を形成する。その後、かかる誘電体ペースト層を焼成することによって誘電体層22を形成できる。次いで、隔壁23を所定のピッチで形成する。 First, a dielectric paste layer is formed by applying a “dielectric material paste mainly composed of glass components (material formed from SiO 2 , B 2 O 3, etc.) and vehicle components” by a die coating method or the like. To do. Thereafter, the dielectric layer 22 can be formed by firing the dielectric paste layer. Next, the partition walls 23 are formed at a predetermined pitch.

具体的には、誘電体層22上に隔壁形成用原料ペーストを塗布して所定の形状にパターニングすることにより、隔壁材料層を形成し、その後、それを焼成に付して隔壁23を形成する。例えば、低融点ガラス材料、ビヒクル成分およびフィラー等を主成分とした原料ペーストをダイコート法または印刷法によって塗布して約100℃〜200℃の乾燥に付した後、露光・現像するフォトリソグラフィー法でパターニングし、次いで、約400℃〜約700℃の焼成に付すことによって隔壁23を形成する。   Specifically, a partition wall forming raw material paste is applied on the dielectric layer 22 and patterned into a predetermined shape to form a partition wall material layer, which is then baked to form the partition wall 23. . For example, by a photolithography method in which a raw material paste mainly composed of a low melting point glass material, a vehicle component and a filler is applied by a die coating method or a printing method, dried at about 100 ° C. to 200 ° C., and then exposed and developed. The partition wall 23 is formed by patterning and then baking at about 400 ° C. to about 700 ° C.

なお、隔壁23は、スクリーン印刷で隔壁材料の膜を形成したのち乾燥して、感光性樹脂を含むドライフィルムにより露光・現像処理でパターン形成した後、サンドブラストにより掘削し、ドライフィルムを剥離し、焼成することでも形成することができる。次いで、蛍光体層25を形成する。隣接する隔壁23間の誘電体層22上および隔壁23の側面に蛍光体材料を含む蛍光体原料ペーストを塗布し、焼成することによって蛍光体層25を形成する。より具体的には、蛍光体粉末およびビヒクル成分等を主成分とした原料ペーストをノズル吐出法などで塗布し、次いで、約100℃の乾燥に付すことによって蛍光体層25を形成する。なお、赤色の蛍光体粉末としては[YBO3:Eu3+]、緑色の蛍光体粉末としては[Zn2SiO4:Mn]、青色の蛍光体粉末としては[BaMgAl10O17:Eu2+]を用いることができる。 The partition wall 23 is formed by screen printing to form a partition wall film, and then dried, and after patterning by exposure / development processing using a dry film containing a photosensitive resin, excavation is performed by sandblasting, and the dry film is peeled off. It can also be formed by firing. Next, the phosphor layer 25 is formed. A phosphor raw material paste containing a phosphor material is applied on the dielectric layer 22 between the adjacent barrier ribs 23 and on the side surfaces of the barrier ribs 23 and fired to form the phosphor layer 25. More specifically, the phosphor layer 25 is formed by applying a raw material paste mainly composed of phosphor powder and a vehicle component by a nozzle discharge method or the like, and then subjecting to drying at about 100 ° C. [YBO3: Eu 3+ ] is used as the red phosphor powder, [Zn 2 SiO 4 : Mn] is used as the green phosphor powder, and [BaMgAl10O17: Eu 2+ ] is used as the blue phosphor powder. Can do.

以上の工程により、基板20上に、所定の構成部材たるアドレス電極21、誘電体層22、隔壁23および蛍光体層25が形成され、背面板2が完成する。   Through the above steps, the address electrode 21, dielectric layer 22, partition wall 23, and phosphor layer 25, which are predetermined constituent members, are formed on the substrate 20, and the back plate 2 is completed.

このようにして所定の構成部材を備えた前面板1と背面板2とは、表示電極11とアドレス電極21とが直交するように対向配置させる。次いで、前面板1と背面板2の周囲をガラスフリットで封着する。そして、形成される放電空間30内を排気した後、放電ガス(ヘリウム、ネオンおよび/またはキセノンなど)を好ましくは55kPa〜80kPaの圧力で封入することによってPDP100を最終的に完成させる。   In this way, the front plate 1 and the back plate 2 provided with predetermined constituent members are arranged to face each other so that the display electrodes 11 and the address electrodes 21 are orthogonal to each other. Next, the periphery of the front plate 1 and the back plate 2 is sealed with glass frit. Then, after evacuating the discharge space 30 to be formed, the PDP 100 is finally completed by enclosing a discharge gas (such as helium, neon and / or xenon) preferably at a pressure of 55 kPa to 80 kPa.

以上、本発明の実施形態について説明してきたが、本発明はこれに限定されずに、種々の改変がなされ得ることを当業者は容易に理解されよう。例えば、第1保護層と第2保護層とから構成される保護層の「2層構造」は、第1保護層と第2保護層とが明確に区別できる態様のみならず、第1保護層と第2保護層とを明確に区別できない態様(例えば、第1保護層と第2保護層との間の界面が不明確な態様)であっても良い。   Although the embodiments of the present invention have been described above, those skilled in the art will readily understand that the present invention is not limited thereto and various modifications can be made. For example, the “two-layer structure” of the protective layer composed of the first protective layer and the second protective layer is not limited to the mode in which the first protective layer and the second protective layer can be clearly distinguished, but also the first protective layer. And a mode in which the second protective layer cannot be clearly distinguished (for example, a mode in which the interface between the first protective layer and the second protective layer is unclear) may be used.

(実施例)
第2保護層の形成に用いるMgO原料の望ましい組成および物性を調べるために試験を実施した。なお、以下で説明する試験では、MgO原料のことを便宜上「インク」と呼んでいる。
[インク溶剤成分の効果確認試験(1)]
MgOインクとして、以下の材料を含んだものを用いた。
・ MgO結晶粉体:0.5〜10μmのMgO単結晶粉体
・ 溶剤A:3−メトキシ−3−メチル−1−ブタノール
・溶剤B:プロピレングリコール
・溶剤C:ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート酢酸2−(2−エトキシエトキシ)エチル
溶剤Cによる効果を確認するために、溶剤Aと溶剤Bのみのインクも調整した。表1に試験したインクの溶媒組成を示す。
(Example)
A test was conducted to investigate the desirable composition and physical properties of the MgO raw material used for forming the second protective layer. In the tests described below, the MgO raw material is called “ink” for convenience.
[Ink solvent component effect confirmation test (1)]
An MgO ink containing the following materials was used.
MgO crystal powder: 0.5-10 μm MgO single crystal powder Solvent A: 3-methoxy-3-methyl-1-butanol Solvent B: Propylene glycol Solvent C: Diethylene glycol monoethyl ether acetate 2-acetate (2-Ethoxyethoxy) ethyl In order to confirm the effect of the solvent C, inks containing only the solvent A and the solvent B were also prepared. Table 1 shows the solvent composition of the inks tested.

Figure 2012185914
Figure 2012185914

MgO粉体濃度は全て0.7質量%とした。   The MgO powder concentration was all 0.7% by mass.

MgOインクの調製に際しては、上記材料から成る混合物2000gをMgO結晶粉体表面にチッピング等の格子欠陥を起こさないように、振幅が20μmで30分間超音波処理し、MgO結晶粉体を溶剤中に分散させた。   In preparing the MgO ink, 2000 g of the mixture composed of the above materials was sonicated for 30 minutes with an amplitude of 20 μm so as not to cause lattice defects such as chipping on the surface of the MgO crystal powder. Dispersed.

得られたMgOインクを、蒸着法で形成したMgO薄膜層(厚さ0.7μm程度)の上に塗布した。具体的には、MgOインクをスリットコータ法でWet膜厚が12μmとなるように塗布した(出願人製作のスリットコータ設備使用)。次いで、雰囲気を1Paにまで減圧することで真空乾燥に付し、それによって、溶剤を気化させMgO結晶層(厚さ1.0μm程度)を形成した。   The obtained MgO ink was applied on a MgO thin film layer (thickness of about 0.7 μm) formed by a vapor deposition method. Specifically, MgO ink was applied by a slit coater method so that the wet film thickness was 12 μm (use of slit coater equipment manufactured by the applicant). Next, the atmosphere was reduced in pressure to 1 Pa and subjected to vacuum drying, whereby the solvent was vaporized and an MgO crystal layer (thickness of about 1.0 μm) was formed.

なお、使用した基板は第1保護膜蒸着後に基板への吸水を促すため、クリーンルーム内で約2ヶ月放置した基板を使用した。図3に“核なしはじき現象”の態様を模式的に表した斜視図を示す。スリットコータ法でMgO結晶層を形成するに際しては、図3に示すような「MgO薄膜層にMgO結晶粉体が存在しない領域53」、或いは「周囲領域52に比べて被覆率が低い領域53」が形成されるといった“核なしはじき現象”が一般に生じ得る点に留意されたい。しかし、本実験で用いたインクでは、“核なしはじき”はほとんど見られなかった。ただし、副作用として後述する“ダマ”や“偏り”などの異なる現象を確認した。   The substrate used was a substrate left in a clean room for about 2 months in order to promote water absorption after the first protective film was deposited. FIG. 3 is a perspective view schematically showing an embodiment of the “nuclear-free repelling phenomenon”. When the MgO crystal layer is formed by the slit coater method, as shown in FIG. 3, the “region 53 in which no MgO crystal powder is present in the MgO thin film layer” or “the region 53 having a lower coverage than the surrounding region 52”. It should be noted that “nuclear-free repelling phenomenon” can generally occur. However, in the ink used in this experiment, “nuclear-free repelling” was hardly observed. However, different phenomena such as “dama” and “bias”, which will be described later, were confirmed as side effects.

図4は、効果確認試験(1)における基板の外観写真である。走査型の電子顕微鏡を使い、150倍で撮影した。実験1−1、実験1−2、実験1−3で作成した基板の外観を図4に示す。写真中、白色に写っているものはMgO粉体である。また、写真に対して水平方向に前面板側の電極(表示電極)11が存在している。これらをみるに、実験1−3は、MgO粉の凝集体である直径10μm程度の“ダマ”の発生が顕著である。また、溶媒Bの濃度を薄めた実験1−2においては、電極上のMgO粉が少なくなる現象が見られる。ここでは、この現象を“偏り”と呼ぶ。実験1−1においては、MgO粉が電極上にも存在しており、バランスよく分散している。   FIG. 4 is an appearance photograph of the substrate in the effect confirmation test (1). Images were taken at 150x using a scanning electron microscope. FIG. 4 shows the appearance of the substrates created in Experiment 1-1, Experiment 1-2, and Experiment 1-3. In the photograph, the white one is MgO powder. Further, an electrode (display electrode) 11 on the front plate side exists in the horizontal direction with respect to the photograph. Looking at these, in Experiment 1-3, the occurrence of “dama” having a diameter of about 10 μm, which is an aggregate of MgO powder, is remarkable. Further, in Experiment 1-2 in which the concentration of the solvent B was decreased, a phenomenon that the MgO powder on the electrode decreases was observed. Here, this phenomenon is called “bias”. In Experiment 1-1, the MgO powder is also present on the electrode and dispersed in a well-balanced manner.

これらの結果を導くために、以下の検証を実施した。今回、用いた溶媒の代表的な物性を表2に示す。   In order to derive these results, the following verification was performed. Table 2 shows typical physical properties of the solvent used this time.

Figure 2012185914
Figure 2012185914

実験1−1、1−2、1−3のインクの共通した考え方は次のとおりである。真空乾燥の過程において、まず、溶媒Aのほとんどが蒸発し、その後に、溶媒B、または溶媒Cの混合体が蒸発するものと推測される。   The common concept of the inks in Experiments 1-1, 1-2, and 1-3 is as follows. In the process of vacuum drying, it is presumed that most of the solvent A evaporates first, and then the solvent B or the mixture of the solvent C evaporates.

溶媒Bと溶媒Cの蒸発性について評価するために以下の実験を実施した。溶媒単体を直径5mmの小さいカップに30mg程度入れて、減圧乾燥を行い、チャンバー内のある到達圧力ごとに溶媒の蒸発した質量を測定した(出願人製作の減圧乾燥設備使用)。図5は、効果確認試験(1)における到達圧力と溶媒の蒸発との関係を示すグラフである。   In order to evaluate the evaporability of solvent B and solvent C, the following experiment was performed. About 30 mg of a simple solvent was put in a small cup having a diameter of 5 mm, dried under reduced pressure, and the mass of the evaporated solvent was measured for each ultimate pressure in the chamber (use of reduced pressure drying equipment manufactured by the applicant). FIG. 5 is a graph showing the relationship between ultimate pressure and solvent evaporation in the effect confirmation test (1).

横軸にチャンバー内の到達圧力、縦軸に初期溶媒質量に対する蒸発後の質量比率を示す。溶媒Bと溶媒Cは、到達圧力10〜11Paにて、初期に対する溶媒の質量比は急激に減少している。これらから、溶媒Bと溶媒Cはほぼ同時に蒸発することが推測される。   The horizontal axis represents the ultimate pressure in the chamber, and the vertical axis represents the mass ratio after evaporation relative to the initial solvent mass. In the solvent B and the solvent C, the mass ratio of the solvent with respect to the initial value rapidly decreases at an ultimate pressure of 10 to 11 Pa. From these, it is surmised that solvent B and solvent C evaporate almost simultaneously.

次に、乾燥中の表面張力を推定するために、溶媒Bと溶媒Cとの混合溶液の表面張力を測定した。図6は、効果確認試験(1)における表面張力と溶媒混合比との関係である。表面張力の測定はペンダントドロップ法で、各条件に対して5回行った。縦軸に表面張力の測定値、横軸に溶媒Bと溶媒Cとの混合比率を示す。各プロットは測定平均値を示し、最大値と最小値を各プロットに対する上下のエラーバーで示す。この結果から、溶媒Bと溶媒Cとの混合比率が1:1(50質量%)の時、混合溶媒の表面張力が31.5mN/mまで低減することが可能だと予測される。   Next, in order to estimate the surface tension during drying, the surface tension of the mixed solution of the solvent B and the solvent C was measured. FIG. 6 shows the relationship between the surface tension and the solvent mixing ratio in the effect confirmation test (1). The surface tension was measured five times for each condition by the pendant drop method. The measured value of surface tension is shown on the vertical axis, and the mixing ratio of solvent B and solvent C is shown on the horizontal axis. Each plot shows the measured average value, and the maximum and minimum values are indicated by upper and lower error bars for each plot. From this result, when the mixing ratio of the solvent B and the solvent C is 1: 1 (50% by mass), it is predicted that the surface tension of the mixed solvent can be reduced to 31.5 mN / m.

これら混合溶媒の表面張力を下げることは、すなわち、“ダマ”の発生を抑制する効果があると考えられる。図7は、“ダマ”発生メカニズムを図示したものである。ここで、参考までに“ダマ”の推定発生メカニズムについて、実験1−3を例にとって図7に記す。
(1)塗布直後
粒子と溶媒Aと溶媒Bとの混合溶媒で構成される均質な膜を形成する。
(2)乾燥初期
減圧乾燥により、溶媒Aを主成分とした溶媒の蒸発が始まる。溶媒Aは、表面張力 が溶媒Bに比べて小さい。溶媒Aが蒸発した後に残る溶媒は溶媒Bの含有量が多くなる ため、乾燥が進んだ箇所は表面張力が大きくなる。結果として、溶媒内に表面張力のバ ラツキが生じ、表面張力が低いところから高いところへ向けて対流が起きる。
(3)乾燥中期
対流の影響が大きくなり、粒子が対流する結果、ベナードセルとよばれるセルが発 生する。
(4)乾燥終期
溶媒Aのほとんどが蒸発し、残された溶媒は溶媒Bが主成分となり、表面張力差による対流は収束する。但し、ほぼ同時に残された溶媒Bは量が少ないため、粒子は対流の影響を受けたまま蒸着法で形成したMgO薄膜層上に定着する。このとき、粒子はセルの形状が少し崩れ、その結果“ダマ”となって定着する。
It is considered that reducing the surface tension of these mixed solvents has an effect of suppressing the occurrence of “dama”. FIG. 7 illustrates the “dama” generation mechanism. Here, for reference, an estimation generation mechanism of “dama” is shown in FIG. 7 by taking Experiment 1-3 as an example.
(1) Immediately after coating A homogeneous film composed of a mixed solvent of particles, solvent A and solvent B is formed.
(2) Initial stage of drying Evaporation of the solvent containing solvent A as a main component starts by drying under reduced pressure. Solvent A has a lower surface tension than solvent B. Since the solvent remaining after the solvent A evaporates increases in the content of the solvent B, the surface tension increases in the portion where the drying has progressed. As a result, surface tension variation occurs in the solvent, and convection occurs from a low surface tension to a high surface tension.
(3) Mid-drying period The effect of convection increases, and as a result of particle convection, cells called Benard cells are generated.
(4) End of drying Most of the solvent A evaporates, and the remaining solvent is mainly composed of the solvent B, and the convection due to the difference in surface tension converges. However, since the amount of the solvent B left almost simultaneously is small, the particles are fixed on the MgO thin film layer formed by the evaporation method while being influenced by convection. At this time, the shape of the cell collapses a little, and as a result, the particle becomes “dama” and is fixed.

上記の表面張力差を原因とする対流は、表面張力差が大きいほど対流が強いと考えられ、“ダマ”を抑制するには、表面張力差を小さくすることが有効だと考えられる。よって、溶媒Bの表面張力を低減する手段として、溶媒Cと混合することは、極めて有効であることがわかった。   Convection caused by the difference in surface tension is considered to be stronger as the difference in surface tension is larger, and it is considered effective to reduce the difference in surface tension in order to suppress “dama”. Therefore, it was found that mixing with the solvent C as a means for reducing the surface tension of the solvent B is extremely effective.

以上の結果から、MgO粉体の集合・凝集を防止でき、輝度が均一でスキャン特性が良好なPDPを得ることができることが分かった。
[インク溶剤成分の効果確認試験(2)]
MgOインクとして、以下の材料を含んだものを用いた。
・ MgO結晶粉体:0.5〜10μmのMgO単結晶粉体
・ 溶剤A:3−メトキシ−3−メチル−1−ブタノール
・溶剤B:プロピレングリコール
・溶剤D:ジエチレングリコールモノエチルエーテル2−(2−エトキシエトキシ)エタノール
溶剤Dによる効果を確認するために、溶剤Aと溶剤Bのみのインクも調整した。表3に試験したインクの溶媒組成を示す。
From the above results, it was found that aggregation and aggregation of MgO powder can be prevented, and a PDP with uniform brightness and good scanning characteristics can be obtained.
[Ink solvent component effect confirmation test (2)]
An MgO ink containing the following materials was used.
MgO crystal powder: 0.5-10 μm MgO single crystal powder Solvent A: 3-methoxy-3-methyl-1-butanol Solvent B: Propylene glycol Solvent D: Diethylene glycol monoethyl ether 2- (2 -Ethoxyethoxy) ethanol In order to confirm the effect of solvent D, inks of only solvent A and solvent B were also prepared. Table 3 shows the solvent composition of the inks tested.

Figure 2012185914
Figure 2012185914

MgO粉体濃度は全て0.7質量%とした。   The MgO powder concentration was all 0.7% by mass.

MgOインクの調製に際しては、上記材料から成る混合物2000gをMgO結晶粉体表面にチッピング等の格子欠陥を起こさないように、振幅が20μmで30分間超音波処理し、MgO結晶粉体を溶剤中に分散させた。   In preparing the MgO ink, 2000 g of the mixture composed of the above materials was sonicated for 30 minutes with an amplitude of 20 μm so as not to cause lattice defects such as chipping on the surface of the MgO crystal powder. Dispersed.

得られたMgOインクを、蒸着法で形成したMgO薄膜層(厚さ0.7μm程度)の上に塗布した。具体的には、MgOインクをスリットコータ法でWet膜厚が12μmとなるように塗布した(出願人製作のスリットコータ設備使用)。次いで、雰囲気を1Paにまで減圧することで真空乾燥に付し、それによって、溶剤を気化させMgO結晶層(厚さ1.0μm程度)を形成した。   The obtained MgO ink was applied on a MgO thin film layer (thickness of about 0.7 μm) formed by a vapor deposition method. Specifically, MgO ink was applied by a slit coater method so that the wet film thickness was 12 μm (use of slit coater equipment manufactured by the applicant). Next, the atmosphere was reduced in pressure to 1 Pa and subjected to vacuum drying, whereby the solvent was vaporized and an MgO crystal layer (thickness of about 1.0 μm) was formed.

なお、使用した基板は一部吸水していると考えられ、それゆえ、スリットコータ法でMgO結晶層を形成するに際しては、図3に示すような「MgO薄膜層にMgO結晶粉体が存在しない領域53」或いは「周囲領域52に比べて被覆率が低い領域53」が形成されるといった“核なしはじき現象”が一般に生じ得る点に留意されたい。しかし、本実験で用いたインクでは、“核なしはじき”はほとんど見られなかった。但し、副作用として後述する“ダマ”や“偏り”などの異なる現象を確認した。   In addition, it is considered that the used substrate partially absorbs water. Therefore, when the MgO crystal layer is formed by the slit coater method, “MgO crystal powder does not exist in the MgO thin film layer as shown in FIG. It should be noted that a “nuclear repellency phenomenon” such as “region 53” or “region 53 with a lower coverage than surrounding region 52” may generally occur. However, in the ink used in this experiment, “nuclear-free repelling” was hardly observed. However, different phenomena such as “dama” and “bias” described later were confirmed as side effects.

図8は、効果確認試験(2)における基板の外観写真である。走査型の電子顕微鏡を使い、150倍で撮影した。実験2−1、実験1−2、実験1−3で作成した基板の外観を図8に示す。写真中、白色に写っているものはMgO粉体である。また、写真に対して水平方向に前面板側の電極(表示電極)11が存在している。これらをみるに、実験1−3は、MgO粉の凝集体である直径10μm程度の“ダマ”の発生が顕著である。また、溶媒Bの濃度を薄めた実験1−2においては、電極上のMgO粉が少なくなる現象が見られる。ここでは、この現象を“偏り”と呼ぶ。実験2−1においては、MgO粉が電極上にも存在しており、バランスよく分散している。   FIG. 8 is a photograph of the appearance of the substrate in the effect confirmation test (2). Images were taken at 150x using a scanning electron microscope. FIG. 8 shows the appearance of the substrates created in Experiment 2-1, Experiment 1-2, and Experiment 1-3. In the photograph, the white one is MgO powder. Further, an electrode (display electrode) 11 on the front plate side exists in the horizontal direction with respect to the photograph. Looking at these, in Experiment 1-3, the occurrence of “dama” having a diameter of about 10 μm, which is an aggregate of MgO powder, is remarkable. Further, in Experiment 1-2 in which the concentration of the solvent B was decreased, a phenomenon that the MgO powder on the electrode decreases was observed. Here, this phenomenon is called “bias”. In Experiment 2-1, the MgO powder is also present on the electrode and dispersed in a balanced manner.

これらの結果を導くために、以下の検証を実施した。今回、用いた溶媒の代表的な物性を表4に示す。   In order to derive these results, the following verification was performed. Table 4 shows typical physical properties of the solvent used this time.

Figure 2012185914
Figure 2012185914

実験2−1,1−2、1−3のインクの共通した考え方は次の通りである。真空乾燥の過程において、まず、溶媒Aのほとんどが蒸発し、その後に、溶媒B、または溶媒Dの混合体が蒸発するものと推測される。   The common concept of the inks in Experiments 2-1, 1-2, and 1-3 is as follows. In the process of vacuum drying, it is presumed that first, most of the solvent A evaporates, and then the solvent B or the mixture of the solvent D evaporates.

溶媒Bと溶媒Dの蒸発性について評価するために以下の実験を実施した(出願人製作の減圧乾燥設備使用)。図9は、効果確認試験(2)における到達圧力と溶媒の蒸発との関係を表すグラフである。溶媒単体を直径5mmの小さいカップに30mg程度入れて、減圧乾燥を行い、チャンバー内のある到達圧力ごとに溶媒の蒸発した質量を測定した。   In order to evaluate the evaporability of solvent B and solvent D, the following experiment was carried out (using a vacuum drying facility manufactured by the applicant). FIG. 9 is a graph showing the relationship between ultimate pressure and solvent evaporation in the effect confirmation test (2). About 30 mg of a simple solvent was put in a small cup having a diameter of 5 mm, dried under reduced pressure, and the mass of the solvent evaporated was measured for each ultimate pressure in the chamber.

横軸にチャンバー内の到達圧力、縦軸に初期溶媒質量に対する蒸発後の質量比率を示す。これらから溶媒Dがチャンバー内の到達圧力20Pa程度で先に蒸発しつつ、一緒に溶媒Bも蒸発し、予測ではあるが、混合溶媒の蒸発のしかたを見る限り、最後に溶媒Bが残って蒸発が進むと考えられる。   The horizontal axis represents the ultimate pressure in the chamber, and the vertical axis represents the mass ratio after evaporation relative to the initial solvent mass. From these, the solvent D evaporates first at an ultimate pressure of about 20 Pa in the chamber, and the solvent B evaporates together. As expected, as far as the evaporation of the mixed solvent is observed, the solvent B remains at the end and evaporates. Is considered to progress.

次に、乾燥中の表面張力を推定するために、溶媒Bと溶媒Dとの混合溶液の表面張力を測定した。図10は、効果確認試験(2)における表面張力と溶媒混合比との関係を表すグラフである。表面張力の測定はペンダントドロップ法で、各条件に対して5回行った。縦軸に表面張力の測定値、横軸に溶媒Bと溶媒Dとの混合比率を示す。各プロットは測定平均値を示し、測定値の最大値と最小値を各プロットに対する上下のエラーバーで示す。この結果から、溶媒Bと溶媒Dとの混合比率が1:1(50質量%)の時、混合溶媒の表面張力が32.6mN/mまで低減することが可能だと予測される。   Next, in order to estimate the surface tension during drying, the surface tension of the mixed solution of the solvent B and the solvent D was measured. FIG. 10 is a graph showing the relationship between the surface tension and the solvent mixing ratio in the effect confirmation test (2). The surface tension was measured five times for each condition by the pendant drop method. The measured value of surface tension is shown on the vertical axis, and the mixing ratio of solvent B and solvent D is shown on the horizontal axis. Each plot shows a measured average value, and the maximum value and the minimum value of the measured value are shown by upper and lower error bars for each plot. From this result, when the mixing ratio of the solvent B and the solvent D is 1: 1 (50% by mass), it is predicted that the surface tension of the mixed solvent can be reduced to 32.6 mN / m.

上記の表面張力差を原因とする対流は、表面張力差が大きいほど対流が強いと考えられ、“ダマ”を抑制するには、表面張力差を小さくすることが有効だと考えられる。よって、溶媒Bの表面張力を低減する手段として、溶媒Dと混合することは、極めて有効であることがわかった。   Convection caused by the difference in surface tension is considered to be stronger as the difference in surface tension is larger, and it is considered effective to reduce the difference in surface tension in order to suppress “dama”. Therefore, it was found that mixing with the solvent D as a means for reducing the surface tension of the solvent B is extremely effective.

以上の結果から、MgO粉体の集合・凝集を防止でき、輝度が均一でスキャン特性が良好なPDPを得ることができることが分かった。   From the above results, it was found that aggregation and aggregation of MgO powder can be prevented, and a PDP with uniform brightness and good scanning characteristics can be obtained.

本発明の製造方法を通じて最終的に得られるPDPは、良好な放電特性を有するので、一般家庭向けのプラズマテレビおよび商業用プラズマテレビとして好適に用いることができる他、その他の各種表示デバイスとしても好適に用いることができる。また、本発明の製造方法は、PDPに限定されず、他の製品分野でも活用することができる。例えば、電池・電子部品等の分野において、ポリマー・分散剤を含有しないインクをスリットコータ法で凹凸の存在する基板に塗布して、被覆率が極めて均一な粉体層を形成するといった用途にも適用可能である。   Since the PDP finally obtained through the manufacturing method of the present invention has good discharge characteristics, it can be suitably used as a plasma television for commercial use and a commercial plasma television, and also suitable as various other display devices. Can be used. Moreover, the manufacturing method of this invention is not limited to PDP, It can utilize also in another product field. For example, in the field of batteries, electronic components, etc., the ink containing no polymer / dispersant is applied to an uneven substrate by a slit coater method to form a powder layer with a very uniform coverage. Applicable.

11 前面板側の電極(表示電極)
12 走査電極
12a 透明電極
12b バス電極
13 維持電極
14 ブラックストライプ(遮光層)
21 背面板側の電極(アドレス電極)
23 隔壁
25 蛍光体層
30 放電空間
32 放電セル
51 MgO薄膜層の凸部
11 Front panel electrode (display electrode)
12 Scan electrode 12a Transparent electrode 12b Bus electrode 13 Sustain electrode 14 Black stripe (light shielding layer)
21 Back plate electrode (address electrode)
23 partition 25 phosphor layer 30 discharge space 32 discharge cell 51 convex portion of MgO thin film layer

Claims (10)

基板上に電極と誘電体層と保護層とが形成されたプラズマディスプレイパネルの前面板を製造する方法において、
前記保護層の形成が、
(i)前記基板上に形成された前記誘電体層上にスパッタ法または蒸着法で第1保護層を形成する工程、
(ii)前記第1保護層上にMgO原料を塗布してMgO原料層を形成する工程、及び、
(iii)前記MgO原料層を乾燥に付して前記MgO原料層から第2保護層を得る工程を含んで成り、
前記MgO原料が、MgO粉体と2種類以上の溶剤を含み、かつ、各々の溶剤の20℃における表面張力の差が10mN/m以下であること、
を特徴とするプラズマディスプレイ製造方法。
In a method of manufacturing a front panel of a plasma display panel in which an electrode, a dielectric layer, and a protective layer are formed on a substrate,
Forming the protective layer,
(I) forming a first protective layer on the dielectric layer formed on the substrate by sputtering or vapor deposition;
(Ii) applying an MgO raw material on the first protective layer to form an MgO raw material layer; and
(Iii) subjecting the MgO raw material layer to drying to obtain a second protective layer from the MgO raw material layer,
The MgO raw material contains MgO powder and two or more solvents, and the difference in surface tension at 20 ° C. between the solvents is 10 mN / m or less,
A method of manufacturing a plasma display.
前記MgO原料は、溶剤Aと溶剤Bと溶剤Cとの3種類から構成され、
全溶剤に対して溶媒Bと溶媒Cとの和の割合が3.5質量%以上である、請求項1に記載のプラズマディスプレイ製造方法。
The MgO raw material is composed of three types of solvent A, solvent B, and solvent C,
The plasma display manufacturing method according to claim 1, wherein a ratio of the sum of the solvent B and the solvent C to the total solvent is 3.5% by mass or more.
前記溶剤Aの20℃における蒸気圧が50Pa以上、溶剤Bの20℃における蒸気圧が10Pa以上20Pa以下、溶剤Cの20℃における蒸気圧が5Pa以上15Pa未満である、請求項2に記載のプラズマディスプレイ製造方法。   The plasma according to claim 2, wherein the vapor pressure of the solvent A at 20 ° C is 50 Pa or more, the vapor pressure of the solvent B at 20 ° C is 10 Pa or more and 20 Pa or less, and the vapor pressure of the solvent C at 20 ° C is 5 Pa or more and less than 15 Pa. Display manufacturing method. 前記溶剤Cの20℃における表面張力は、前記溶剤Aの20℃における表面張力との差が5mN/m以下であり、かつ溶剤Aの表面張力より大きい、請求項2又は3に記載のプラズマディスプレイ製造方法。   4. The plasma display according to claim 2, wherein the surface tension of the solvent C at 20 ° C. is different from the surface tension of the solvent A at 20 ° C. by 5 mN / m or less and larger than the surface tension of the solvent A. 5. Production method. 前記溶剤Bの20℃における表面張力は、前記溶剤Aの20℃における表面張力との差が10mN/m以下であり、かつ溶剤Aの表面張力より大きい、請求項2〜4の何れか一項に記載のプラズマディスプレイ製造方法。   5. The surface tension of the solvent B at 20 ° C. is a difference between the surface tension of the solvent A at 20 ° C. of 10 mN / m or less and larger than the surface tension of the solvent A. The plasma display manufacturing method as described in any one of. 基板上に電極と誘電体層と保護層とが形成されたプラズマディスプレイパネルの前面板に用いるインクであって、
前記保護層の形成は、
(i)前記基板上に形成された前記誘電体層上にスパッタ法または蒸着法で第1保護層を形成する工程、
(ii)前記第1保護層上にMgO原料を塗布してMgO原料層を形成する工程、及び、
(iii)前記MgO原料層を乾燥に付して前記MgO原料層から第2保護層を得る工程を含んで成り、
前記MgO原料が、MgO粉体と2種類以上の溶剤を含んで成り、各々の溶剤の20℃における表面張力の差が10mN/m以下であること、
を特徴とするプラズマディスプレイ用インク。
An ink used for a front plate of a plasma display panel in which an electrode, a dielectric layer, and a protective layer are formed on a substrate,
The formation of the protective layer is as follows:
(I) forming a first protective layer on the dielectric layer formed on the substrate by sputtering or vapor deposition;
(Ii) applying an MgO raw material on the first protective layer to form an MgO raw material layer; and
(Iii) subjecting the MgO raw material layer to drying to obtain a second protective layer from the MgO raw material layer,
The MgO raw material comprises MgO powder and two or more solvents, and the difference in surface tension of each solvent at 20 ° C. is 10 mN / m or less,
Ink for plasma display characterized by.
前記MgO原料は、溶剤Aと溶剤Bと溶剤Cとの3種類から構成され、
全溶剤に対して溶媒Bと溶媒Cとの和の割合が3.5質量%以上である、請求項6に記載のプラズマディスプレイ用インク。
The MgO raw material is composed of three types of solvent A, solvent B, and solvent C,
The ink for plasma display according to claim 6, wherein a ratio of the sum of the solvent B and the solvent C to the total solvent is 3.5% by mass or more.
前記溶剤Aの20℃における蒸気圧が50Pa以上、溶剤Bの20℃における蒸気圧が10Pa以上20Pa以下、溶剤Cの20℃における蒸気圧が5Pa以上15Pa未満である、請求項7記載のプラズマディスプレイ用インク。   The plasma display according to claim 7, wherein the vapor pressure of the solvent A at 20 ° C is 50 Pa or more, the vapor pressure of the solvent B at 20 ° C is 10 Pa or more and 20 Pa or less, and the vapor pressure of the solvent C at 20 ° C is 5 Pa or more and less than 15 Pa. For ink. 前記溶剤Cの20℃における表面張力は、前記溶剤Aの20℃における表面張力との差が5mN/m以下であり、かつ溶剤Aの表面張力より大きい、請求項7又は8に記載のプラズマディスプレイ用インク。   9. The plasma display according to claim 7, wherein the surface tension of the solvent C at 20 ° C. is different from the surface tension of the solvent A at 20 ° C. by 5 mN / m or less and larger than the surface tension of the solvent A. For ink. 前記溶剤Bの20℃における表面張力は、前記溶剤Aの20℃における表面張力との差が10mN/m以下であり、かつ溶剤Aの表面張力より大きい、請求項7〜9の何れか一項に記載のプラズマディスプレイ用インク。   10. The surface tension of the solvent B at 20 ° C. is a difference between the surface tension of the solvent A at 20 ° C. of 10 mN / m or less and larger than the surface tension of the solvent A. 2. Ink for plasma display.
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