JP2012155007A - Liquid crystal device and electronic apparatus - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To suitably detect the temperature of a device with a simple configuration in a liquid crystal device.SOLUTION: A liquid crystal device comprises a pair of substrates (10, 20) which are bonded together via a sealant (52), a liquid crystal (50) interposed between the pair of substrates and temperature sensitive wiring (200) which is disposed along at least one side of at least one of the substrates and disposed on a position overlapping with the sealant in a plan view. The temperature sensitive wiring is constituted as wiring capable of detecting a temperature and can suitably detect the temperature of a device.

Description

本発明は、液晶装置及び該液晶装置を備えた、例えば液晶プロジェクター等の電子機器の技術分野に関する。   The present invention relates to a technical field of a liquid crystal device and an electronic apparatus including the liquid crystal device, such as a liquid crystal projector.

この種の液晶装置として、例えば入射した光を液晶によって変調することで画像を表示するものがある。液晶は、温度に応じて光学的特性(例えば、屈折率、誘電率、弾性係数、粘性等)が変化することが知られている。このため、例えば特許文献1では、温度センサーを備える装置が提案されている。   As this type of liquid crystal device, for example, there is a device that displays an image by modulating incident light with liquid crystal. It is known that the liquid crystal changes in optical characteristics (for example, refractive index, dielectric constant, elastic coefficient, viscosity, etc.) according to temperature. For this reason, for example, Patent Document 1 proposes an apparatus including a temperature sensor.

特開2006−201784号公報JP 2006-201784 A

しかしながら、上述した技術では、基板上に温度センサーとして新たな素子(具体的には、センサー制御電極や、センサー入力電極及びセンサー出力電極)が作り込まれている。このため、仮に温度センサーを用いて装置の温度変化を検出できたとしても、温度センサーを作り込むが故に、装置構成及び製造工程の複雑化や、製造コストの増大を招いてしまうおそれがあるという技術的問題点がある。   However, in the technique described above, new elements (specifically, sensor control electrodes, sensor input electrodes, and sensor output electrodes) are formed on the substrate as temperature sensors. For this reason, even if the temperature change of the apparatus can be detected using the temperature sensor, the temperature sensor is built in, so that there is a possibility that the apparatus configuration and the manufacturing process may be complicated and the manufacturing cost may be increased. There are technical problems.

本発明は、例えば上述した問題点に鑑みなされたものであり、簡単な構成で、好適に装置の温度を検出することが可能な液晶装置及び電子機器を提供することを課題とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, for example, and an object of the present invention is to provide a liquid crystal device and an electronic apparatus that can detect the temperature of the device with a simple configuration.

本発明の液晶装置は上記課題を解決するために、シール材を介して貼り合わされた一対の基板と、前記一対の基板間に挟持された液晶と、一方の前記基板の少なくとも一辺に沿って配置され、平面的に見て前記シール材と重なる位置に配置された感温配線とを備えている。   In order to solve the above problems, a liquid crystal device according to the present invention is disposed along at least one side of a pair of substrates bonded via a sealing material, a liquid crystal sandwiched between the pair of substrates, and the one substrate. And a temperature-sensitive wiring arranged at a position overlapping the sealing material when seen in a plan view.

本発明の液晶装置は、四辺がシール材を介して互いに貼り合わされた一対の基板を備えている。一対の基板は、例えば画素電極やトランジスター等の各種素子が形成される素子基板、及び対向電極が形成される対向基板として形成される。一対の基板間には、液晶が挟持されており、液晶分子の配向方向に応じて装置に入射した光を変調する。シール材は、例えば紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂等からなり、基板の四辺に沿って配置されている。   The liquid crystal device of the present invention includes a pair of substrates whose four sides are bonded to each other via a sealing material. The pair of substrates is formed as an element substrate on which various elements such as a pixel electrode and a transistor are formed and a counter substrate on which a counter electrode is formed. Liquid crystal is sandwiched between a pair of substrates, and light incident on the device is modulated according to the alignment direction of the liquid crystal molecules. The sealing material is made of, for example, an ultraviolet curable resin, a thermosetting resin, or the like, and is disposed along the four sides of the substrate.

ここで特に、上述した感温配線は、四辺のうち少なくとも一辺に沿って配置されている。また感温配線は、基板を平面的に見てシール材と重なる位置に配置されている。シール材と重なる領域は、液晶が存在しない領域(即ち、表示に寄与しない領域)であるため、感温配線をシール材と重なる位置に配置することで、額縁領域を広くすることなく、感温配線を配置することができる。   Here, in particular, the above-described temperature sensitive wiring is arranged along at least one side of the four sides. Further, the temperature sensitive wiring is arranged at a position overlapping the sealing material when the substrate is seen in a plan view. Since the region overlapping with the sealing material is a region where no liquid crystal exists (that is, a region that does not contribute to display), the temperature sensitive wiring is arranged at a position overlapping with the sealing material, so that the temperature sensing region is not widened and the temperature sensing region is not widened. Wiring can be arranged.

感温配線は、例えば所定の電流を流すことにより、温度を検出可能に構成されている。よって、感温配線を用いれば、装置の温度を検出することが可能である。感温配線によって検出された温度は、例えば液晶が配置されるシール内領域(言い換えれば、表示領域)や、周辺の駆動回路等において発生する熱の影響を受けている。よって、感温配線によって検出された温度は、装置全体の温度と見なすことができる。   The temperature sensitive wiring is configured to be able to detect the temperature, for example, by flowing a predetermined current. Therefore, the temperature of the apparatus can be detected by using the temperature sensitive wiring. The temperature detected by the temperature-sensitive wiring is affected by heat generated in, for example, an in-seal area (in other words, a display area) where liquid crystal is arranged, a peripheral drive circuit, and the like. Therefore, the temperature detected by the temperature sensitive wiring can be regarded as the temperature of the entire apparatus.

液晶は、温度変化に応じて光学的特性が変化する。よって、仮に装置の温度変化を考慮しなければ、信頼性や表示品質が低下してしまうおそれがある。しかるに本発明では、感温配線によって装置の温度を検出できるため、温度変化に応じた装置の制御が行える。例えば、検出された温度から液晶の応答性が悪いと判断した場合には、画像を表示するための信号としてより急峻なパルスを供給するように制御する。   The optical characteristics of the liquid crystal change according to the temperature change. Therefore, if the temperature change of the apparatus is not taken into account, the reliability and display quality may be deteriorated. However, in the present invention, since the temperature of the apparatus can be detected by the temperature sensitive wiring, the apparatus can be controlled according to the temperature change. For example, when it is determined that the responsiveness of the liquid crystal is poor from the detected temperature, control is performed so as to supply a steeper pulse as a signal for displaying an image.

以上説明したように、本発明の液晶装置によれば、簡単な構成で、好適に装置の温度を検出することが可能である。   As described above, according to the liquid crystal device of the present invention, the temperature of the device can be suitably detected with a simple configuration.

本発明の液晶装置の一態様では、前記感温配線は、前記一対の基板のうち一方の基板上に導電材料を含んで膜状に形成されており、抵抗の変化に応じて温度を検出する。   In one aspect of the liquid crystal device of the present invention, the temperature-sensitive wiring is formed in a film shape including a conductive material on one of the pair of substrates, and detects temperature according to a change in resistance. .

この態様によれば、一対の基板のうち一方の基板上には、例えばアルミ等の導電材料を含んだ膜状の感温配線が形成されている。尚、ここでの「膜状」とは、ベタ状の配線を意味するだけでなく、蛇行する配線が高い密度で配線されている場合のように、平面的に見て膜状と同様の形態とみなせる構成も含む広い概念である。   According to this aspect, the film-like temperature-sensitive wiring including a conductive material such as aluminum is formed on one of the pair of substrates. The “film-like” here means not only a solid-like wiring but also a form similar to a film-like shape in plan view, as in the case where the meandering wiring is wired at a high density. It is a broad concept that includes a configuration that can be regarded as a

感温配線は、温度変化によって抵抗が変化する。このため、感温配線の抵抗を用いて温度を検出することが可能である。具体的には、例えば外部回路から感温配線に対して所定の電流を流すことにより、感温配線の抵抗を検出することができる。そして、検出された抵抗の値から温度を推定できる。   The resistance of the temperature-sensitive wiring changes depending on the temperature change. For this reason, it is possible to detect temperature using the resistance of the temperature sensitive wiring. Specifically, for example, the resistance of the temperature sensitive wiring can be detected by flowing a predetermined current from the external circuit to the temperature sensitive wiring. Then, the temperature can be estimated from the detected resistance value.

ここで特に、上述した感温配線は、平面的に見てシール材と少なくとも部分的に重なるように配置されている。シール材と重なる領域は、液晶が存在しない領域(即ち、表示に寄与しない領域)であるため、遮光性を有する金属配線等が配置される場合が殆どである。よって、導電材料を含む感温配線を配置したとしても、装置の動作に影響はない。また、装置に既に備えられている金属配線を、そのまま感温配線として用いることもできる。よって、装置構成や製造工程の複雑化、製造コストの増大を抑制することができる。   Here, in particular, the temperature-sensitive wiring described above is arranged so as to at least partially overlap the sealing material when seen in a plan view. Since the region overlapping with the sealant is a region where no liquid crystal exists (that is, a region that does not contribute to display), a metal wiring or the like having a light shielding property is almost always disposed. Therefore, even if a temperature-sensitive wiring including a conductive material is arranged, the operation of the apparatus is not affected. Moreover, the metal wiring already provided in the apparatus can be used as the temperature sensitive wiring as it is. Therefore, it is possible to suppress the complexity of the device configuration and the manufacturing process and the increase in manufacturing cost.

上述した感温配線によれば、簡単な構成で、好適に装置の温度を検出することが可能である。   According to the temperature sensitive wiring described above, it is possible to detect the temperature of the apparatus suitably with a simple configuration.

本発明の液晶装置の一態様では、前記一方の基板上には、走査線、データ線、前記走査線及び前記データ線の交差に対応して設けられるトランジスター、前記トランジスターに対応して設けられた画素電極を含む複数の導電層が夫々積層するように形成されており、前記感温配線は、前記複数の導電層のうち、いずれかと同じ層に形成されている。   In one embodiment of the liquid crystal device of the present invention, the one substrate is provided with a scan line, a data line, a transistor provided corresponding to the intersection of the scan line and the data line, and corresponding to the transistor. A plurality of conductive layers including pixel electrodes are formed so as to be laminated, and the temperature sensitive wiring is formed in the same layer as any one of the plurality of conductive layers.

この態様によれば、一方の基板上には、走査線、データ線、トランジスター、及び画素電極である複数の導電層が夫々積層するように形成される。即ち、一方の基板は素子基板であり、本態様に係る液晶装置では、トランジスターのスイッチング制御によるアクティブマトリクス駆動を実現することができる。複数の導電層は、上述した各種配線や素子の他に、例えば蓄積容量を形成する容量電極や、各層の電気的接続を中継する中継層等を含んでいてもよい。   According to this aspect, a plurality of conductive layers that are scanning lines, data lines, transistors, and pixel electrodes are stacked on one substrate. That is, one substrate is an element substrate, and the liquid crystal device according to the present embodiment can realize active matrix driving by transistor switching control. In addition to the various wirings and elements described above, the plurality of conductive layers may include, for example, a capacitor electrode that forms a storage capacitor, a relay layer that relays electrical connection of each layer, and the like.

本態様に係る感温配線は、一方の基板上に形成される複数の導電層のうち、いずれかと同じ層に形成されている。尚、ここでの「同じ層」とは、同一の成膜工程によって形成されることを意味する。感温配線は、例えば一方の基板上に導電膜を形成した後、その導電膜を部分的に除去して、相互に分断することで形成される。   The temperature sensitive wiring according to this aspect is formed in the same layer as any one of the plurality of conductive layers formed on one substrate. Here, “the same layer” means that they are formed by the same film forming process. The temperature-sensitive wiring is formed, for example, by forming a conductive film on one substrate and then partially removing the conductive film and dividing it from each other.

上述した感温配線によれば、複数の導電層と同じ成膜工程によって形成できるため、製造工程の増加させずに済む。よって、製造工程の複雑化、製造コストの増大を確実に抑制することが可能である。   According to the temperature-sensitive wiring described above, it can be formed by the same film forming process as the plurality of conductive layers, so that it is not necessary to increase the manufacturing process. Therefore, it is possible to reliably suppress the complexity of the manufacturing process and the increase in manufacturing cost.

上述した複数の導電層を備える態様では、前記感温配線は、前記複数の導電層のうち、平面的に見た場合の密度が最も高い層と同じ層に形成されるように構成してもよい。   In the aspect including the plurality of conductive layers described above, the temperature sensitive wiring may be configured to be formed in the same layer as the layer having the highest density when viewed in plan among the plurality of conductive layers. Good.

この場合、感温配線と同じ層には、比較的高い密度で導電層が形成されることになる。よって、液晶や周辺の駆動回路等において発生した熱が、効率よく感温配線に伝達される。この結果、感温配線の温度は熱の発生源と近い温度となる。従って、装置の温度をより正確に検出することが可能となる。   In this case, a conductive layer is formed at a relatively high density in the same layer as the temperature-sensitive wiring. Therefore, heat generated in the liquid crystal, the peripheral drive circuit, and the like is efficiently transmitted to the temperature sensitive wiring. As a result, the temperature of the temperature sensitive wiring is close to the heat generation source. Therefore, the temperature of the apparatus can be detected more accurately.

尚、感温配線と同じ層である導電層が、密度が最も高い層でなくとも、他の層より密度が高い層であれば、上述した効果は相応に得られる。   Even if the conductive layer, which is the same layer as the temperature sensitive wiring, is not the highest density layer, the above-described effects can be obtained as long as the density is higher than other layers.

本発明の液晶装置の他の態様では、前記感温配線は、遮光性を有する材料を含んでいる。   In another aspect of the liquid crystal device of the present invention, the temperature sensitive wiring includes a light-shielding material.

この態様によれば、感温配線が、例えばアルミ等の遮光性を有する材料を含んで形成されるため、シール材と重なる領域における遮光を感温配線によって実現できる。従って、光漏れ等に起因する表示品質の低下を抑制できる。また、他の遮光膜を設けずに済むため、装置構成や製造工程の複雑化を防止することができる。   According to this aspect, since the temperature-sensitive wiring is formed including a light-shielding material such as aluminum, light shielding in a region overlapping with the sealing material can be realized by the temperature-sensitive wiring. Accordingly, it is possible to suppress a decrease in display quality due to light leakage or the like. Further, since it is not necessary to provide another light shielding film, it is possible to prevent the apparatus configuration and the manufacturing process from becoming complicated.

本発明の電子機器は上記課題を解決するために、上述した本発明の液晶装置(但し、その各種態様も含む)を備える。   In order to solve the above problems, an electronic apparatus according to the present invention includes the above-described liquid crystal device according to the present invention (including various aspects thereof).

本発明の電子機器によれば、上述した本発明に係る液晶装置を具備してなるので、高品質な表示が可能であり、信頼性の高い投射型表示装置、テレビ、携帯電話、電子手帳、ワードプロセッサー、ビューファインダー型又はモニター直視型のビデオテープレコーダー、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルなどの各種電子機器を実現できる。   According to the electronic device of the present invention, since the above-described liquid crystal device according to the present invention is provided, high-quality display is possible, and a reliable projection display device, a television, a mobile phone, an electronic notebook, Various electronic devices such as a word processor, a viewfinder type or a monitor direct view type video tape recorder, a workstation, a videophone, a POS terminal, and a touch panel can be realized.

本発明の作用及び他の利得は次に説明する発明を実施するための形態から明らかにされる。   The effect | action and other gain of this invention are clarified from the form for implementing invention demonstrated below.

実施形態に係る液晶装置の全体構成を示す平面図である。It is a top view which shows the whole structure of the liquid crystal device which concerns on embodiment. 図1のH−H´線断面図である。It is the HH 'sectional view taken on the line of FIG. 実施形態に係る液晶装置の画像表示領域を構成する各種素子、配線等の等価回路図である。FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of various elements, wirings, and the like that constitute an image display area of the liquid crystal device according to the embodiment. 実施形態に係る液晶装置の画素部の構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the pixel part of the liquid crystal device which concerns on embodiment. 感温配線の配置領域を示す平面図である。It is a top view which shows the arrangement | positioning area | region of a temperature sensitive wiring. 感温配線の積層構造を簡略的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows simply the laminated structure of a temperature sensitive wiring. 液晶装置を適用した電子機器の一例たるプロジェクターの構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the projector which is an example of the electronic device to which a liquid crystal device is applied.

以下では、本発明の実施形態について図を参照しつつ説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

<液晶装置>
本実施形態に係る液晶装置について図1から図6を参照して説明する。尚、以下の実施形態では、本発明の液晶装置の一例として駆動回路内蔵型のTFT(Thin Film Transistor)アクティブマトリクス駆動方式の液晶装置を挙げて説明する。
<Liquid crystal device>
The liquid crystal device according to this embodiment will be described with reference to FIGS. In the following embodiments, a liquid crystal device of a TFT (Thin Film Transistor) active matrix drive type with a built-in drive circuit will be described as an example of the liquid crystal device of the present invention.

先ず、本実施形態に係る液晶装置の全体構成について、図1及び図2を参照して説明する。ここに図1は、本実施形態に係る液晶装置の全体構成を示す平面図であり、図2は、図1のH−H´線断面図である。   First, the overall configuration of the liquid crystal device according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a plan view showing the overall configuration of the liquid crystal device according to this embodiment, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line HH ′ of FIG.

図1及び図2において、本実施形態に係る液晶装置では、本発明の「一対の基板」の一例であるTFTアレイ基板10と対向基板20とが対向配置されている。TFTアレイ基板10は、例えば石英基板、ガラス基板等の透明基板や、シリコン基板等である。対向基板20は、例えば石英基板、ガラス基板等の透明基板である。TFTアレイ基板10と対向基板20との間には、液晶層50が封入されている。液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマティック液晶を混合した液晶からなり、一対の配向膜間で所定の配向状態をとる。   1 and 2, in the liquid crystal device according to the present embodiment, a TFT array substrate 10 and an opposite substrate 20 which are an example of “a pair of substrates” of the present invention are arranged to face each other. The TFT array substrate 10 is, for example, a transparent substrate such as a quartz substrate or a glass substrate, a silicon substrate, or the like. The counter substrate 20 is a transparent substrate such as a quartz substrate or a glass substrate. A liquid crystal layer 50 is sealed between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20. The liquid crystal layer 50 is made of, for example, a liquid crystal in which one or several types of nematic liquid crystals are mixed, and takes a predetermined alignment state between a pair of alignment films.

TFTアレイ基板10と対向基板20とは、複数の画素電極が設けられた画像表示領域10aの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材52により、相互に接着されている。   The TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 are bonded to each other by a sealing material 52 provided in a sealing region located around the image display region 10a provided with a plurality of pixel electrodes.

シール材52は、両基板を貼り合わせるための、例えば紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂等からなり、製造プロセスにおいてTFTアレイ基板10上に塗布された後、紫外線照射、加熱等により硬化させられたものである。シール材52中には、TFTアレイ基板10と対向基板20との間隔(即ち、基板間ギャップ)を所定値とするためのグラスファイバー或いはガラスビーズ等のギャップ材が散布されている。尚、ギャップ材を、シール材52に混入されるものに加えて若しくは代えて、画像表示領域10a又は画像表示領域10aの周辺に位置する周辺領域に、配置するようにしてもよい。   The sealing material 52 is made of, for example, an ultraviolet curable resin, a thermosetting resin, or the like for bonding the two substrates, and is applied on the TFT array substrate 10 in the manufacturing process and then cured by ultraviolet irradiation, heating, or the like. It is. In the sealing material 52, a gap material such as glass fiber or glass beads for dispersing the distance between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 (that is, the inter-substrate gap) to a predetermined value is dispersed. Note that the gap material may be arranged in the image display region 10a or a peripheral region located around the image display region 10a in addition to or instead of the material mixed in the seal material 52.

本実施形態に係る液晶装置では特に、上述したシール材と平面的に重なるシール領域に、抵抗に応じて温度を検出可能な感温配線が設けられている。図1では、説明の便宜上、感温配線の図示を省略しているが、感温配線の具体的な構成については後に詳述する。   In the liquid crystal device according to the present embodiment, in particular, a temperature-sensitive wiring capable of detecting the temperature according to the resistance is provided in a seal region that overlaps the above-described sealing material in a planar manner. In FIG. 1, for convenience of explanation, illustration of the temperature sensitive wiring is omitted, but a specific configuration of the temperature sensitive wiring will be described in detail later.

シール材52が配置されたシール領域の内側に並行して、画像表示領域10aの額縁領域を規定する遮光性の額縁遮光膜53が、対向基板20側に設けられている。尚、このような額縁遮光膜53の一部又は全部は、TFTアレイ基板10側に内蔵遮光膜として設けられてもよい。   A light-shielding frame light-shielding film 53 that defines the frame area of the image display area 10a is provided on the counter substrate 20 side in parallel with the inside of the seal area where the sealing material 52 is disposed. A part or all of the frame light shielding film 53 may be provided as a built-in light shielding film on the TFT array substrate 10 side.

画像表示領域10aの周辺に位置する周辺領域には、データ線駆動回路101及び外部回路接続端子102がTFTアレイ基板10の一辺に沿って設けられている。走査線駆動回路104は、この一辺に隣接する2辺に沿い、且つ、額縁遮光膜53に覆われるようにして設けられている。更に、このように画像表示領域10aの両側に設けられた二つの走査線駆動回路104間をつなぐため、TFTアレイ基板10の残る一辺に沿い、且つ、額縁遮光膜53に覆われるようにして複数の配線105が設けられている。   A data line driving circuit 101 and an external circuit connection terminal 102 are provided along one side of the TFT array substrate 10 in the peripheral area located around the image display area 10a. The scanning line driving circuit 104 is provided along two sides adjacent to the one side so as to be covered with the frame light shielding film 53. Further, in order to connect the two scanning line driving circuits 104 provided on both sides of the image display region 10 a in this way, a plurality of the pixel lines are covered along the remaining side of the TFT array substrate 10 and covered with the frame light shielding film 53. Wiring 105 is provided.

TFTアレイ基板10上における対向基板20の4つのコーナー部に対向する領域には、両基板間を上下導通材で接続するための上下導通端子106が配置されている。これらにより、TFTアレイ基板10と対向基板20との間で電気的な導通をとることができる。   In a region facing the four corners of the counter substrate 20 on the TFT array substrate 10, vertical conduction terminals 106 for connecting the two substrates with a vertical conduction material are arranged. Thus, electrical conduction can be established between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20.

図2において、TFTアレイ基板10上には、駆動素子である画素スイッチング用のTFTや走査線、データ線等の配線が作り込まれた積層構造が形成される。この積層構造の詳細な構成については図2では図示を省略してあるが、この積層構造の上に、ITO(Indium Tin Oxide)等の透明材料からなる画素電極9aが、画素毎に所定のパターンで島状に形成されている。   In FIG. 2, on the TFT array substrate 10, a laminated structure in which pixel switching TFTs as drive elements, wiring lines such as scanning lines and data lines are formed is formed. Although the detailed configuration of this laminated structure is not shown in FIG. 2, pixel electrodes 9a made of a transparent material such as ITO (Indium Tin Oxide) are provided on the laminated structure with a predetermined pattern for each pixel. It is formed in an island shape.

画素電極9aは、対向電極21に対向するように、TFTアレイ基板10上の画像表示領域10aに形成されている。TFTアレイ基板10における液晶層50の面する側の表面、即ち画素電極9a上には、配向膜16が画素電極9aを覆うように形成されている。   The pixel electrode 9 a is formed in the image display area 10 a on the TFT array substrate 10 so as to face the counter electrode 21. On the surface of the TFT array substrate 10 facing the liquid crystal layer 50, that is, on the pixel electrode 9a, an alignment film 16 is formed so as to cover the pixel electrode 9a.

対向基板20におけるTFTアレイ基板10との対向面上には、遮光膜23が形成されている。遮光膜23は、例えば対向基板20における対向面上に平面的に見て、格子状に形成されている。対向基板20において、遮光膜23によって非開口領域が規定され、遮光膜23によって区切られた領域が、例えばプロジェクター用のランプや直視用のバックライトから出射された光を透過させる開口領域となる。尚、遮光膜23をストライプ状に形成し、該遮光膜23と、TFTアレイ基板10側に設けられたデータ線等の各種構成要素とによって、非開口領域を規定するようにしてもよい。   A light shielding film 23 is formed on the surface of the counter substrate 20 facing the TFT array substrate 10. For example, the light shielding film 23 is formed in a lattice shape when viewed in plan on the facing surface of the facing substrate 20. In the counter substrate 20, a non-opening area is defined by the light shielding film 23, and an area partitioned by the light shielding film 23 is an opening area through which light emitted from, for example, a projector lamp or a direct viewing backlight is transmitted. The light shielding film 23 may be formed in a stripe shape, and the non-opening region may be defined by the light shielding film 23 and various components such as data lines provided on the TFT array substrate 10 side.

遮光膜23上には、ITO等の透明材料からなる対向電極21が複数の画素電極9aと対向するように形成されている。また遮光膜23上には、画像表示領域10aにおいてカラー表示を行うために、開口領域及び非開口領域の一部を含む領域に、図2には図示しないカラーフィルターが形成されるようにしてもよい。対向基板20の対向面上における、対向電極21上には、配向膜22が形成されている。   On the light shielding film 23, a counter electrode 21 made of a transparent material such as ITO is formed so as to face the plurality of pixel electrodes 9a. Further, in order to perform color display in the image display area 10a, a color filter (not shown in FIG. 2) may be formed on the light shielding film 23 in an area including a part of the opening area and the non-opening area. Good. An alignment film 22 is formed on the counter electrode 21 on the counter surface of the counter substrate 20.

尚、図1及び図2に示したTFTアレイ基板10上には、上述したデータ線駆動回路101、走査線駆動回路104等の駆動回路に加えて、画像信号線上の画像信号をサンプリングしてデータ線に供給するサンプリング回路、複数のデータ線に所定電圧レベルのプリチャージ信号を画像信号に先行して各々供給するプリチャージ回路、製造途中や出荷時の当該液晶装置の品質、欠陥等を検査するための検査回路等を形成してもよい。   In addition to the above-described drive circuits such as the data line drive circuit 101 and the scanning line drive circuit 104, the image signal on the image signal line is sampled on the TFT array substrate 10 shown in FIGS. Sampling circuit for supplying lines, precharge circuit for supplying precharge signals of a predetermined voltage level to a plurality of data lines in advance of image signals, and inspecting the quality, defects, etc. of the liquid crystal device during manufacturing or at the time of shipment An inspection circuit or the like may be formed.

次に、本実施形態に係る液晶装置の画素部の電気的な構成について、図3を参照して説明する。ここに図3は、本実施形態に係る液晶装置の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成された複数の画素における各種素子、配線等の等価回路図である。   Next, an electrical configuration of the pixel portion of the liquid crystal device according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of various elements, wirings, and the like in a plurality of pixels formed in a matrix forming the image display area of the liquid crystal device according to this embodiment.

図3において、画像表示領域10aを構成するマトリクス状に形成された複数の画素の各々には、画素電極9a及びTFT30が形成されている。TFT30は、画素電極9aに電気的に接続されており、本実施形態に係る液晶装置の動作時に画素電極9aをスイッチング制御する。画像信号が供給されるデータ線6aは、TFT30のソースに電気的に接続されている。データ線6aに書き込む画像信号S1、S2、・・・、Snは、この順に線順次に供給しても構わないし、相隣接する複数のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するようにしてもよい。   In FIG. 3, a pixel electrode 9a and a TFT 30 are formed in each of a plurality of pixels formed in a matrix that forms the image display region 10a. The TFT 30 is electrically connected to the pixel electrode 9a, and performs switching control of the pixel electrode 9a during the operation of the liquid crystal device according to the present embodiment. The data line 6a to which the image signal is supplied is electrically connected to the source of the TFT 30. The image signals S1, S2,..., Sn to be written to the data lines 6a may be supplied line-sequentially in this order, or may be supplied for each group to a plurality of adjacent data lines 6a. May be.

TFT30のゲートには、走査線3aが電気的に接続されており、本実施形態に係る液晶装置は、所定のタイミングで、走査線3aにパルス的に走査信号G1、G2、・・・、Gmを、この順に線順次で印加するように構成されている。画素電極9aは、TFT30のドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるTFT30を一定期間だけそのスイッチを閉じることにより、データ線6aから供給される画像信号S1、S2、・・・、Snが所定のタイミングで書き込まれる。画素電極9aを介して電気光学物質の一例としての液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号S1、S2、・・・、Snは、対向基板に形成された対向電極との間で一定期間保持される。   The scanning line 3a is electrically connected to the gate of the TFT 30, and the liquid crystal device according to the present embodiment pulse-scans the scanning signals G1, G2,..., Gm to the scanning line 3a at a predetermined timing. Are applied in a line-sequential order in this order. The pixel electrode 9a is electrically connected to the drain of the TFT 30, and the image signal S1, S2,... Supplied from the data line 6a is closed by closing the switch of the TFT 30 serving as a switching element for a certain period. Sn is written at a predetermined timing. A predetermined level of image signals S1, S2,..., Sn written in the liquid crystal as an example of the electro-optical material via the pixel electrode 9a is held for a certain period with the counter electrode formed on the counter substrate. The

液晶層50(図2参照)を構成する液晶は、印加される電圧レベルにより分子集合の配向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能とする。例えば、ノーマリーホワイトモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が減少し、ノーマリーブラックモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が増加され、全体として液晶装置からは画像信号に応じたコントラストをもつ光が出射される。   The liquid crystal constituting the liquid crystal layer 50 (see FIG. 2) modulates light and enables gradation display by changing the orientation and order of the molecular assembly depending on the applied voltage level. For example, in the normally white mode, the transmittance for incident light is reduced according to the voltage applied in units of each pixel. In the normally black mode, the transmittance is applied in units of each pixel. As a result, the transmittance for incident light is increased, and light having a contrast corresponding to an image signal is emitted from the liquid crystal device as a whole.

ここで保持された画像信号がリークすることを防ぐために、画素電極9aと対向電極21(図2参照)との間に形成される液晶容量と並列に蓄積容量70が付加されている。蓄積容量70は、画像信号の供給に応じて各画素電極9aの電位を一時的に保持する保持容量として機能する容量素子である。蓄積容量70によれば、画素電極9aにおける電位保持特性が向上し、コントラスト向上やフリッカーの低減といった表示特性の向上が可能となる。   In order to prevent the image signal held here from leaking, a storage capacitor 70 is added in parallel with the liquid crystal capacitor formed between the pixel electrode 9a and the counter electrode 21 (see FIG. 2). The storage capacitor 70 is a capacitive element that functions as a storage capacitor that temporarily holds the potential of each pixel electrode 9a in response to supply of an image signal. According to the storage capacitor 70, the potential holding characteristic of the pixel electrode 9a is improved, and the display characteristics such as improvement of contrast and reduction of flicker can be improved.

次に、上述の動作を実現する画素部の具体的な構成について、図4を参照して説明する。ここに図4は、本実施形態に係る液晶装置の画素部の構成を示す断面図である。尚、図4及び図5では、各層・各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、該各層・各部材ごとに縮尺を異ならしめてある。図4では、説明の便宜上、画素電極9aより上側に位置する部分の図示を省略している。   Next, a specific configuration of the pixel portion that realizes the above-described operation will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a cross-sectional view showing the configuration of the pixel portion of the liquid crystal device according to this embodiment. In FIGS. 4 and 5, the scale of each layer / member is different for each layer / member to have a size that can be recognized on the drawing. In FIG. 4, for convenience of explanation, illustration of a portion located above the pixel electrode 9a is omitted.

図4において、TFTアレイ基板10上には、本発明の「トランジスター」の一例であるTFT30が形成されている。TFT30は、半導体層1aと、走査線3aと電気的に接続されたゲート電極3bとを含んで構成されている。   In FIG. 4, a TFT 30 which is an example of the “transistor” of the present invention is formed on the TFT array substrate 10. The TFT 30 includes a semiconductor layer 1a and a gate electrode 3b electrically connected to the scanning line 3a.

半導体層1aは、例えばポリシリコンからなり、Y方向に沿ったチャネル長を有するチャネル領域1a’、データ線側LDD領域1b及び画素電極側LDD領域1c並びにデータ線側ソースドレイン領域1d及び画素電極側ソースドレイン領域1eからなる。即ち、TFT30はLDD構造を有している。   The semiconductor layer 1a is made of, for example, polysilicon, and has a channel region 1a ′ having a channel length along the Y direction, a data line side LDD region 1b, a pixel electrode side LDD region 1c, a data line side source / drain region 1d, and a pixel electrode side. It consists of a source / drain region 1e. That is, the TFT 30 has an LDD structure.

データ線側ソースドレイン領域1d及び画素電極側ソースドレイン領域1eは、チャネル領域1a’を基準として、Y方向に沿ってほぼミラー対称に形成されている。データ線側LDD領域1bは、チャネル領域1a’及びデータ線側ソースドレイン領域1d間に形成されている。画素電極側LDD領域1cは、チャネル領域1a’及び画素電極側ソースドレイン領域1e間に形成されている。データ線側LDD領域1b、画素電極側LDD領域1c、データ線側ソースドレイン領域1d及び画素電極側ソースドレイン領域1eは、例えばイオンインプランテーション法等の不純物打ち込みによって半導体層1aに不純物を打ち込んでなる不純物領域である。データ線側LDD領域1b及び画素電極側LDD領域1cはそれぞれ、データ線側ソースドレイン領域1d及び画素電極側ソースドレイン領域1eよりも不純物の少ない低濃度な不純物領域として形成されている。このような不純物領域によれば、TFT30の非動作時において、ソース領域及びドレイン領域間に流れるオフ電流を低減し、且つTFT30の動作時に流れるオン電流の低下を抑制できる。尚、TFT30は、LDD構造を有することが好ましいが、データ線側LDD領域1b、画素電極側LDD領域1cに不純物打ち込みを行わないオフセット構造であってもよいし、ゲート電極をマスクとして不純物を高濃度に打ち込んでデータ線側ソースドレイン領域及び画素電極側ソースドレイン領域を形成する自己整合型であってもよい。   The data line side source / drain region 1d and the pixel electrode side source / drain region 1e are formed substantially in mirror symmetry along the Y direction with respect to the channel region 1a '. The data line side LDD region 1b is formed between the channel region 1a 'and the data line side source / drain region 1d. The pixel electrode side LDD region 1c is formed between the channel region 1a 'and the pixel electrode side source / drain region 1e. The data line side LDD region 1b, the pixel electrode side LDD region 1c, the data line side source / drain region 1d, and the pixel electrode side source / drain region 1e are formed by implanting impurities into the semiconductor layer 1a by an impurity implantation such as an ion implantation method. This is an impurity region. The data line side LDD region 1b and the pixel electrode side LDD region 1c are formed as low concentration impurity regions with less impurities than the data line side source / drain region 1d and the pixel electrode side source / drain region 1e, respectively. According to such an impurity region, when the TFT 30 is not operating, the off-current flowing between the source region and the drain region can be reduced, and a decrease in the on-current flowing when the TFT 30 is operating can be suppressed. The TFT 30 preferably has an LDD structure. However, the TFT 30 may have an offset structure in which no impurity implantation is performed in the data line side LDD region 1b and the pixel electrode side LDD region 1c. A self-alignment type in which the data line side source / drain region and the pixel electrode side source / drain region are formed by implanting the concentration may be used.

ゲート電極3bは、例えば導電性ポリシリコンから形成されており、図示しないコンタクトホール等によって走査線3aと電気的に接続されている。ゲート電極3b及び半導体層1a間は、ゲート絶縁膜2によって絶縁されている。   The gate electrode 3b is made of, for example, conductive polysilicon, and is electrically connected to the scanning line 3a through a contact hole (not shown). The gate electrode 3b and the semiconductor layer 1a are insulated by the gate insulating film 2.

図4において、TFTアレイ基板10上のTFT30よりも下地絶縁膜12を介して下層側には、走査線3aが設けられている。走査線3aは、例えば、Ti(チタン)、Cr(クロム)、W(タングステン)、Ta(タンタル)、Mo(モリブデン)、Pd(パラジウム)等の高融点金属のうちの少なくとも一つを含む、金属単体、合金、金属シリサイド、ポリシリサイド、これらを積層したもの等の遮光性材料からなる。これにより、走査線3aは、TFTアレイ基板10における裏面反射や、複板式のプロジェクター等で他の液晶装置から発せられ合成光学系を突き抜けてくる光などである、TFTアレイ基板10側から装置内に入射する戻り光から、TFT30のチャネル領域1a’及びその周辺を遮光する下側遮光膜としても機能する。   In FIG. 4, a scanning line 3 a is provided on the lower layer side through the base insulating film 12 than the TFT 30 on the TFT array substrate 10. The scanning line 3a includes, for example, at least one of refractory metals such as Ti (titanium), Cr (chromium), W (tungsten), Ta (tantalum), Mo (molybdenum), and Pd (palladium). It is made of a light shielding material such as a simple metal, an alloy, a metal silicide, a polysilicide, or a laminate of these. Thereby, the scanning line 3a is reflected from the back surface of the TFT array substrate 10 or light emitted from another liquid crystal device by a multi-plate projector or the like and penetrates the composite optical system from the TFT array substrate 10 side. It also functions as a lower light-shielding film that shields the channel region 1a ′ of the TFT 30 and its periphery from the return light incident on the TFT 30.

下地絶縁膜12は、走査線3aからTFT30を層間絶縁する機能の他、TFTアレイ基板10の全面に形成されることにより、TFTアレイ基板10の表面の研磨時における荒れや、洗浄後に残る汚れ等で画素スイッチング用TFT30の特性の劣化を防止する機能を有する。   The base insulating film 12 has a function of insulating the TFT 30 from the scanning line 3a as an interlayer, and is formed on the entire surface of the TFT array substrate 10 so that the surface of the TFT array substrate 10 is roughened during polishing, dirt remaining after cleaning, and the like. Thus, the pixel switching TFT 30 has a function of preventing deterioration of characteristics.

図4において、TFTアレイ基板10上のTFT30よりも第1層間絶縁膜41を介して上層側には、蓄積容量70が設けられている。   In FIG. 4, a storage capacitor 70 is provided above the TFT 30 on the TFT array substrate 10 via the first interlayer insulating film 41.

蓄積容量70は、下部容量電極71と上部容量電極300aが誘電体膜75を介して対向配置されることにより形成されている。   The storage capacitor 70 is formed by disposing the lower capacitor electrode 71 and the upper capacitor electrode 300a so as to face each other with the dielectric film 75 therebetween.

上部容量電極300aは、容量線300の一部として形成されている。容量線300は、画素電極9aが配置された画像表示領域10aからその周囲に延設されている。上部容量電極300aは、容量線300を介して定電位源と電気的に接続され、固定電位に維持された固定電位側容量電極である。上部容量電極300aは、例えばAl(アルミニウム)、Ag(銀)等の金属又は合金を含んだ非透明な金属膜から形成されており、TFT30を遮光する上側遮光膜(内蔵遮光膜)としても機能する。尚、上部容量電極300aは、例えば、Ti、Cr、W、Ta、Mo、Pd等の高融点金属のうちの少なくとも一つを含む、金属単体、合金、金属シリサイド、ポリシリサイド、これらを積層したもの等から構成されていてもよい。この場合には、上部容量電極300aの内臓遮光膜としての機能を高めることができる。   The upper capacitor electrode 300 a is formed as a part of the capacitor line 300. The capacitance line 300 extends from the image display area 10a where the pixel electrode 9a is disposed to the periphery thereof. The upper capacitor electrode 300a is a fixed potential side capacitor electrode that is electrically connected to a constant potential source via the capacitor line 300 and maintained at a fixed potential. The upper capacitor electrode 300a is formed of a non-transparent metal film containing a metal or alloy such as Al (aluminum) or Ag (silver), for example, and also functions as an upper light shielding film (built-in light shielding film) that shields the TFT 30. To do. The upper capacitor electrode 300a is formed by laminating a single metal, an alloy, a metal silicide, a polysilicide, or the like including at least one of refractory metals such as Ti, Cr, W, Ta, Mo, and Pd. You may be comprised from things. In this case, the function of the upper capacitor electrode 300a as a built-in light shielding film can be enhanced.

下部容量電極71は、TFT30の画素電極側ソースドレイン領域1e及び画素電極9aに電気的に接続された画素電位側容量電極である。より具体的には、下部容量電極71は、コンタクトホール83を介して画素電極側ソースドレイン領域1eと電気的に接続されると共に、コンタクトホール84を介して中継層93に電気的に接続されている。更に、中継層93は、コンタクトホール85を介して画素電極9aに電気的に接続されている。即ち、下部容量電極71は、中継層93と共に画素電極側ソースドレイン領域1e及び画素電極9a間の電気的な接続を中継する。下部容量電極71は、導電性のポリシリコンから形成されている。よって、蓄積容量70は、所謂MIS構造を有している。尚、下部容量電極71は、画素電位側容量電極としての機能の他、上側遮光膜としての上部容量電極300aとTFT30との間に配置される、光吸収層或いは遮光膜としての機能も有する。   The lower capacitor electrode 71 is a pixel potential side capacitor electrode electrically connected to the pixel electrode side source / drain region 1e of the TFT 30 and the pixel electrode 9a. More specifically, the lower capacitor electrode 71 is electrically connected to the pixel electrode side source / drain region 1 e through the contact hole 83 and electrically connected to the relay layer 93 through the contact hole 84. Yes. Further, the relay layer 93 is electrically connected to the pixel electrode 9 a through the contact hole 85. That is, the lower capacitor electrode 71 relays the electrical connection between the pixel electrode side source / drain region 1e and the pixel electrode 9a together with the relay layer 93. The lower capacitor electrode 71 is made of conductive polysilicon. Therefore, the storage capacitor 70 has a so-called MIS structure. The lower capacitance electrode 71 has a function as a light absorption layer or a light shielding film disposed between the upper capacitance electrode 300a as the upper light shielding film and the TFT 30 in addition to the function as the pixel potential side capacitance electrode.

誘電体膜75は、例えばHTO(High Temperature Oxide)膜、LTO(Low Temperature Oxide)膜等の酸化シリコン(SiO2)膜、或いは窒化シリコン(SiN)膜等から構成された単層構造、或いは多層構造を有している。   The dielectric film 75 is, for example, a single layer structure or a multilayer structure formed of a silicon oxide (SiO 2) film such as an HTO (High Temperature Oxide) film, an LTO (Low Temperature Oxide) film, or a silicon nitride (SiN) film. have.

尚、下部容量電極71を、上部容量電極300aと同様に金属膜から形成してもよい。即ち、蓄積容量70を、金属膜−誘電体膜(絶縁膜)−金属膜の3層構造を有する、所謂MIM構造を有するように形成してもよい。この場合には、導電性のポリシリコン等を用いて下部容量電極71を構成する場合に比べて、液晶装置の駆動時に、当該液晶装置全体で消費される消費電力を低減でき、且つ各画素部における素子の高速動作が可能になる。   The lower capacitor electrode 71 may be formed of a metal film in the same manner as the upper capacitor electrode 300a. That is, the storage capacitor 70 may be formed to have a so-called MIM structure having a three-layer structure of metal film-dielectric film (insulating film) -metal film. In this case, compared to the case where the lower capacitor electrode 71 is formed using conductive polysilicon or the like, the power consumption of the entire liquid crystal device can be reduced when the liquid crystal device is driven, and each pixel unit can be reduced. The device can be operated at high speed.

図4において、TFTアレイ基板10上の蓄積容量70よりも第2層間絶縁膜42を介して上層側には、データ線6a及び中継層93が設けられている。   In FIG. 4, a data line 6 a and a relay layer 93 are provided on the upper layer side of the storage capacitor 70 on the TFT array substrate 10 via the second interlayer insulating film 42.

データ線6aは、半導体層1aのデータ線側ソースドレイン領域1dに、第1層間絶縁膜41及び第2層間絶縁膜42を貫通するコンタクトホール81を介して電気的に接続されている。データ線6a及びコンタクトホール81内部は、例えば、Al−Si−Cu、Al−Cu等のAl(アルミニウム)含有材料、又はAl単体、若しくはAl層とTiN層等との多層膜からなる。データ線6aは、TFT30を遮光する機能も有している。   The data line 6a is electrically connected to the data line side source / drain region 1d of the semiconductor layer 1a through a contact hole 81 penetrating the first interlayer insulating film 41 and the second interlayer insulating film. The data line 6a and the inside of the contact hole 81 are made of, for example, an Al (aluminum) -containing material such as Al—Si—Cu or Al—Cu, Al alone, or a multilayer film including an Al layer and a TiN layer. The data line 6a also has a function of shielding the TFT 30 from light.

中継層93は、第2層間絶縁膜42上においてデータ線6aと同層に形成されている。データ線6a及び中継層93は、例えば金属膜等の導電材料で構成される薄膜を第2層間絶縁膜42上に薄膜形成法を用いて形成しておき、当該薄膜を部分的に除去、即ちパターニングすることによって相互に離間させた状態で形成される。従って、データ線6a及び中継層93を同一工程で形成できるため、装置の製造プロセスを簡便にできる。   The relay layer 93 is formed on the second interlayer insulating film 42 in the same layer as the data line 6a. For the data line 6a and the relay layer 93, a thin film made of a conductive material such as a metal film is formed on the second interlayer insulating film 42 by using a thin film forming method, and the thin film is partially removed. It forms in the state mutually spaced apart by patterning. Therefore, since the data line 6a and the relay layer 93 can be formed in the same process, the manufacturing process of the device can be simplified.

図4において、画素電極9aは、データ線6aよりも第3層間絶縁膜43を介して上層側に形成されている。画素電極9aは、下部容量電極71、コンタクトホール83、84及び85並びに中継層93を介して半導体層1aの画素電極側ソースドレイン領域1eに電気的に接続されている。コンタクトホール85は、層間絶縁層43を貫通するように形成された孔部の内壁にITO等の画素電極9aを構成する導電材料が成膜されることによって形成されている。画素電極9aの上側表面には、ラビング処理等の所定の配向処理が施された配向膜が設けられている。   In FIG. 4, the pixel electrode 9a is formed on the upper layer side through the third interlayer insulating film 43 relative to the data line 6a. The pixel electrode 9a is electrically connected to the pixel electrode side source / drain region 1e of the semiconductor layer 1a through the lower capacitor electrode 71, the contact holes 83, 84 and 85, and the relay layer 93. The contact hole 85 is formed by depositing a conductive material constituting the pixel electrode 9a such as ITO on the inner wall of a hole formed so as to penetrate the interlayer insulating layer 43. An alignment film subjected to a predetermined alignment process such as a rubbing process is provided on the upper surface of the pixel electrode 9a.

以上に説明した画素部の構成は、各画素部に共通であり、画像表示領域10a(図1参照)には、かかる画素部が周期的に形成されている。尚、上述した走査線3a、データ線6a、蓄積容量70、下側遮光膜11a、中継層93及びTFT30は、TFTアレイ基板10上で平面的に見て、画素電極9aに対応する各画素の開口領域(即ち、各画素において、表示に実際に寄与する光が透過又は反射される領域)を囲む非開口領域内に配置されている。即ち、これらの走査線3a、データ線6a、蓄積容量70、中継層93、下側遮光膜11a及びTFT30は、表示の妨げとならないように、各画素の開口領域ではなく、非開口領域内に配置されている。   The configuration of the pixel portion described above is common to each pixel portion, and such pixel portions are periodically formed in the image display region 10a (see FIG. 1). Note that the scanning line 3a, the data line 6a, the storage capacitor 70, the lower light shielding film 11a, the relay layer 93, and the TFT 30 described above are arranged on each TFT corresponding to the pixel electrode 9a in plan view on the TFT array substrate 10. It is arranged in a non-opening region surrounding the opening region (that is, a region where light actually contributing to display is transmitted or reflected in each pixel). That is, the scanning line 3a, the data line 6a, the storage capacitor 70, the relay layer 93, the lower light shielding film 11a, and the TFT 30 are not in the opening area of each pixel but in the non-opening area so as not to disturb the display. Has been placed.

次に、本実施形態に係る液晶装置に備えられる感温配線について、図5及び図6を参照して説明する。ここに図5は、感温配線の配置領域を示す平面図である。また図6は、感温配線の積層構造を簡略的に示す断面図である。尚、図5及び図6では、説明の便宜上、図1や図4等で示した液晶装置を構成する詳細な部材について、適宜図示を省略している。   Next, the temperature sensitive wiring provided in the liquid crystal device according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 5 is a plan view showing an arrangement region of the temperature sensitive wiring. FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing the laminated structure of the temperature sensitive wiring. In FIGS. 5 and 6, for convenience of explanation, detailed members constituting the liquid crystal device shown in FIGS. 1 and 4 are omitted as appropriate.

図5において、本実施形態に係る液晶装置には、シール材52と重なるシール領域に、感温配線配置領域200aが設けられている。感温配線配置領域200aには、例えばアルミ等の金属材料を含んだ膜状の感温配線200が設けられる。尚、感温配線200は、感温配線配置領域200aを埋めるようなベタ状の配線であってもよいし、感温配線配置領域200aを高密度で蛇行するような配線であってもよい。即ち、感温配線200は、後述する温度を検出するという機能を有する限り、その形状は限定されない。但し、感温配線200が感温配線配置領域200aを埋めるように形成されれば、感温配線200を遮光膜として機能させることができる。   In FIG. 5, the liquid crystal device according to the present embodiment is provided with a temperature-sensitive wiring arrangement region 200 a in a sealing region that overlaps with the sealing material 52. A film-like temperature-sensitive wiring 200 including a metal material such as aluminum is provided in the temperature-sensitive wiring arrangement region 200a. The temperature-sensitive wiring 200 may be a solid wiring that fills the temperature-sensitive wiring arrangement area 200a, or may be a wiring that meanders the temperature-sensitive wiring arrangement area 200a at a high density. That is, the shape of the temperature-sensitive wiring 200 is not limited as long as it has a function of detecting a temperature described later. However, if the temperature-sensitive wiring 200 is formed so as to fill the temperature-sensitive wiring arrangement region 200a, the temperature-sensitive wiring 200 can function as a light shielding film.

図6において、上述した感温配線200は、データ線駆動回路101や走査線駆動回路104が設けられるドライバー領域における第1ドライバー配線部410と同じ層に設けられている。   In FIG. 6, the above-described temperature-sensitive wiring 200 is provided in the same layer as the first driver wiring portion 410 in the driver region where the data line driving circuit 101 and the scanning line driving circuit 104 are provided.

ドライバー領域には、下層側から順に、トランジスター部35、第1ドライバー配線部410、第2ドライバー部420が設けられている。トランジスター部35は、各ドライバーにおいてスイッチング制御を行うトランジスターを有しており、画素部におけるTFT30(図4参照)と同じ層に設けられている。第1ドライバー配線部410は、画素部における下部容量電極71(図4参照)と同じ層に設けられている。第2ドライバー配線部420は、画素部における容量電極層300aと同じ層に設けられている。   In the driver region, a transistor portion 35, a first driver wiring portion 410, and a second driver portion 420 are provided in order from the lower layer side. The transistor portion 35 includes a transistor that performs switching control in each driver, and is provided in the same layer as the TFT 30 (see FIG. 4) in the pixel portion. The first driver wiring portion 410 is provided in the same layer as the lower capacitor electrode 71 (see FIG. 4) in the pixel portion. The second driver wiring portion 420 is provided in the same layer as the capacitor electrode layer 300a in the pixel portion.

感温配線200が設けられるシール領域には、下層側から順に、感温配線200、第1COM配線510、第2COM配線520が設けられている。第1COM配線510は、対向基板20側に供給する電位を伝達する配線であり、ドライバー領域における第2ドライバー配線部520と同じ層(即ち、画素部における容量電極層300aと同じ層)に設けられている。第2COM配線520は、第1COM配線510と同様に対向基板20側に供給する電位を伝達する配線であり、画素部におけるデータ線6a(図4参照)と同じ層に設けられている。   In the seal region where the temperature sensitive wiring 200 is provided, a temperature sensitive wiring 200, a first COM wiring 510, and a second COM wiring 520 are provided in order from the lower layer side. The first COM wiring 510 is a wiring that transmits a potential supplied to the counter substrate 20 side, and is provided in the same layer as the second driver wiring portion 520 in the driver region (that is, the same layer as the capacitor electrode layer 300a in the pixel portion). ing. Similar to the first COM wiring 510, the second COM wiring 520 is a wiring that transmits a potential supplied to the counter substrate 20, and is provided in the same layer as the data line 6a (see FIG. 4) in the pixel portion.

感温配線200は、例えば金属膜等の導電材料で構成される薄膜を形成した後、当該薄膜を部分的に除去、即ちパターニングすることによって、第1ドライバー配線部410と相互に離間させた状態で形成される。このようにすれば、感温配線200を第1ドライバー配線部410、更には画素部における下部容量電極71と同一工程で形成できるため、装置の製造プロセスを簡便にできる。   The temperature-sensitive wiring 200 is a state in which, after forming a thin film made of a conductive material such as a metal film, the thin film is partially removed, that is, patterned to be separated from the first driver wiring portion 410. Formed with. In this way, since the temperature-sensitive wiring 200 can be formed in the same process as the first driver wiring part 410 and the lower capacitor electrode 71 in the pixel part, the manufacturing process of the device can be simplified.

尚、感温配線200は、必ずしも第1ドライバー配線部410と同じ層に形成されずともよく、他の導電層と同じ層に形成されてもよい。例えば、感温配線200は、図6における第1COM配線510や第2COM配線520の位置に設けられても構わない。但し、感温配線200は、比較的密度の高い導電層と同じ層に形成されることが好ましい。この場合、感温配線200への熱伝導率が高められるため、後述する温度検出の機能をより精度の高いものとすることができる。   Note that the temperature-sensitive wiring 200 is not necessarily formed in the same layer as the first driver wiring portion 410, and may be formed in the same layer as other conductive layers. For example, the temperature-sensitive wiring 200 may be provided at the position of the first COM wiring 510 or the second COM wiring 520 in FIG. However, the temperature-sensitive wiring 200 is preferably formed in the same layer as the conductive layer having a relatively high density. In this case, since the thermal conductivity to the temperature-sensitive wiring 200 is increased, the temperature detection function described later can be made more accurate.

感温配線200は、例えばアルミ等の金属を含んで構成されているため、温度変化によって抵抗が変化する。このため、感温配線200の抵抗を用いて温度を検出することが可能である。具体的には、例えば外部回路から感温配線200に対して所定の電流を流すことにより、感温配線200の抵抗を検出することができる。そして、検出された抵抗の値から温度を推定できる。外部回路では、例えば検出された抵抗の値と温度の関係が示されたテーブル等を用いて温度が検出される。或いは、予め設定された数式を用いて温度が算出される。   Since the temperature-sensitive wiring 200 is configured to include a metal such as aluminum, for example, the resistance changes due to a temperature change. For this reason, it is possible to detect the temperature using the resistance of the temperature-sensitive wiring 200. Specifically, the resistance of the temperature sensitive wiring 200 can be detected by flowing a predetermined current from the external circuit to the temperature sensitive wiring 200, for example. Then, the temperature can be estimated from the detected resistance value. In the external circuit, the temperature is detected using, for example, a table showing the relationship between the detected resistance value and temperature. Alternatively, the temperature is calculated using a mathematical formula set in advance.

感温配線200によって検出された温度は、例えば液晶層50が配置される画像表示領域10aや、周辺の駆動回路等において発生する熱の影響を受けている。よって、感温配線200によって検出された温度は、装置全体の温度と見なすことができる。   The temperature detected by the temperature-sensitive wiring 200 is affected by heat generated in, for example, the image display region 10a in which the liquid crystal layer 50 is disposed, a peripheral driving circuit, or the like. Therefore, the temperature detected by the temperature sensitive wiring 200 can be regarded as the temperature of the entire apparatus.

液晶層50は、温度変化に応じて光学的特性が変化する。よって、仮に装置の温度変化を考慮しなければ、信頼性や表示品質が低下してしまうおそれがある。これに対し、本実施形態に係る液晶装置では、感温配線200によって装置の温度を検出できるため、温度変化に応じた装置の制御が行える。例えば、検出された温度から液晶層50における液晶分子の応答性が悪いと判断した場合には、画像を表示するための信号としてより急峻なパルスを供給するように制御する。このようにすれば、液晶の応答性悪化に起因する表示品質の低下を効果的に抑制することができる。   The liquid crystal layer 50 changes in optical characteristics according to a temperature change. Therefore, if the temperature change of the apparatus is not taken into account, the reliability and display quality may be deteriorated. In contrast, in the liquid crystal device according to the present embodiment, the temperature of the device can be detected by the temperature-sensitive wiring 200, so that the device can be controlled in accordance with the temperature change. For example, when it is determined from the detected temperature that the responsiveness of the liquid crystal molecules in the liquid crystal layer 50 is poor, control is performed to supply a steeper pulse as a signal for displaying an image. In this way, it is possible to effectively suppress the deterioration in display quality due to the deterioration of the responsiveness of the liquid crystal.

ここで仮に、感温配線200に代えて、別途温度センサーを設ける場合について考える。この場合、温度センサーを構成する素子を新たにTFTアレイ基板10上に作り込むことが求められてしまうため、結果的に装置構成や製造工程の複雑化を招いてしまうおそれがある。   Here, suppose that a temperature sensor is separately provided instead of the temperature-sensitive wiring 200. In this case, since it is required to newly form an element constituting the temperature sensor on the TFT array substrate 10, there is a possibility that the apparatus configuration and the manufacturing process may be complicated as a result.

これに対し、本実施形態に係る感温配線200は、平面的に見てシール材52と少なくとも部分的に重なるように配置される。シール材52と重なる領域は、液晶層50が存在しない領域(即ち、表示に寄与しない領域)であるため、遮光性を有する金属配線等が配置される場合が殆どである。よって、導電材料を含む感温配線200を配置したとしても、装置の動作に影響はない。また、既に装置に備えられている金属配線を、そのまま感温配線200として用いることもできる。よって、装置構成や製造工程の複雑化、製造コストの増大を抑制することができる。   On the other hand, the temperature-sensitive wiring 200 according to the present embodiment is disposed so as to at least partially overlap with the sealing material 52 when seen in a plan view. Since the region overlapping with the sealing material 52 is a region where the liquid crystal layer 50 does not exist (that is, a region that does not contribute to display), a metal wiring or the like having a light shielding property is almost always disposed. Therefore, even if the temperature-sensitive wiring 200 including a conductive material is disposed, the operation of the apparatus is not affected. Further, the metal wiring already provided in the apparatus can be used as the temperature-sensitive wiring 200 as it is. Therefore, it is possible to suppress the complexity of the device configuration and the manufacturing process and the increase in manufacturing cost.

以上説明したように、本実施形態に係る液晶装置によれば、感温配線200を備えているため、簡単な構成で、好適に装置の温度を検出することが可能である。   As described above, according to the liquid crystal device according to the present embodiment, since the temperature-sensitive wiring 200 is provided, the temperature of the device can be detected suitably with a simple configuration.

<電子機器>
次に、上述した液晶装置を各種の電子機器に適用する場合について説明する。ここに図7は、プロジェクターの構成例を示す平面図である。以下では、この液晶装置をライトバルブとして用いたプロジェクターについて説明する。
<Electronic equipment>
Next, a case where the above-described liquid crystal device is applied to various electronic devices will be described. FIG. 7 is a plan view showing a configuration example of the projector. Hereinafter, a projector using the liquid crystal device as a light valve will be described.

図7に示されるように、プロジェクター1100内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット1102が設けられている。このランプユニット1102から射出された投射光は、ライトガイド1104内に配置された4枚のミラー1106及び2枚のダイクロイックミラー1108によってRGBの3原色に分離され、各原色に対応するライトバルブとしての液晶パネル1110R、1110B及び1110Gに入射される。   As shown in FIG. 7, a lamp unit 1102 including a white light source such as a halogen lamp is provided inside the projector 1100. The projection light emitted from the lamp unit 1102 is separated into three primary colors of RGB by four mirrors 1106 and two dichroic mirrors 1108 arranged in the light guide 1104, and serves as a light valve corresponding to each primary color. The light enters the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G.

液晶パネル1110R、1110B及び1110Gの構成は、上述した液晶装置と同等であり、画像信号処理回路から供給されるR、G、Bの原色信号でそれぞれ駆動されるものである。そして、これらの液晶パネルによって変調された光は、ダイクロイックプリズム1112に3方向から入射される。このダイクロイックプリズム1112においては、R及びBの光が90度に屈折する一方、Gの光が直進する。従って、各色の画像が合成される結果、投射レンズ1114を介して、スクリーン等にカラー画像が投写されることとなる。   The configurations of the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G are the same as those of the liquid crystal device described above, and are driven by R, G, and B primary color signals supplied from the image signal processing circuit. The light modulated by these liquid crystal panels enters the dichroic prism 1112 from three directions. In the dichroic prism 1112, R and B light is refracted at 90 degrees, while G light travels straight. Therefore, as a result of the synthesis of the images of the respective colors, a color image is projected onto the screen or the like via the projection lens 1114.

ここで、各液晶パネル1110R、1110B及び1110Gによる表示像について着目すると、液晶パネル1110Gによる表示像は、液晶パネル1110R、1110Bによる表示像に対して左右反転することが必要となる。   Here, paying attention to the display images by the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G, the display image by the liquid crystal panel 1110G needs to be horizontally reversed with respect to the display images by the liquid crystal panels 1110R and 1110B.

尚、液晶パネル1110R、1110B及び1110Gには、ダイクロイックミラー1108によって、R、G、Bの各原色に対応する光が入射するので、カラーフィルターを設ける必要はない。   Since light corresponding to the primary colors R, G, and B is incident on the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G by the dichroic mirror 1108, it is not necessary to provide a color filter.

尚、図7を参照して説明した電子機器の他にも、モバイル型のパーソナルコンピューターや、携帯電話、液晶テレビや、ビューファインダー型、モニター直視型のビデオテープレコーダー、カーナビゲーション装置、ページャー、電子手帳、電卓、ワードプロセッサー、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルを備えた装置等が挙げられる。そして、これらの各種電子機器に適用可能なのは言うまでもない。   In addition to the electronic device described with reference to FIG. 7, a mobile personal computer, a mobile phone, an LCD TV, a viewfinder type, a monitor direct-view type video tape recorder, a car navigation device, a pager, an electronic device Examples include notebooks, calculators, word processors, workstations, videophones, POS terminals, and devices with touch panels. Needless to say, the present invention can be applied to these various electronic devices.

また、本発明は上述の各実施形態で説明した液晶装置以外にも反射型液晶装置(LCOS)、プラズマディスプレイ(PDP)、電界放出型ディスプレイ(FED、SED)、有機ELディスプレイ、デジタルマイクロミラーデバイス(DMD)、電気泳動装置等にも適用可能である。   In addition to the liquid crystal devices described in the above embodiments, the present invention includes a reflective liquid crystal device (LCOS), a plasma display (PDP), a field emission display (FED, SED), an organic EL display, and a digital micromirror device. (DMD), electrophoresis apparatus and the like are also applicable.

本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、特許請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う液晶装置、及び該液晶装置を備えた電子機器もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be appropriately changed without departing from the spirit or idea of the invention that can be read from the claims and the entire specification, and a liquid crystal device with such a change, In addition, an electronic device including the liquid crystal device is also included in the technical scope of the present invention.

3a…走査線、6a…データ線、9a…画素電極、10…TFTアレイ基板、10a…画像表示領域、20…対向基板、30…TFT、35…トランジスター部、50…液晶層、70…蓄積容量、101…データ線駆動回路、102…外部回路接続端子、104…走査線駆動回路、200…感温配線、410…第1ドライバー配線部、420…第2ドライバー配線部、510…第1COM配線部、510…第2COM配線部。   3a ... scanning line, 6a ... data line, 9a ... pixel electrode, 10 ... TFT array substrate, 10a ... image display area, 20 ... counter substrate, 30 ... TFT, 35 ... transistor part, 50 ... liquid crystal layer, 70 ... storage capacitor DESCRIPTION OF SYMBOLS 101 ... Data line drive circuit 102 ... External circuit connection terminal 104 ... Scan line drive circuit 200 ... Temperature sensitive wiring 410 ... First driver wiring part 420 ... Second driver wiring part 510 ... First COM wiring part , 510... Second COM wiring part.

Claims (6)

シール材を介して貼り合わされた一対の基板と、
前記一対の基板間に挟持された液晶と、
一方の前記基板の少なくとも一辺に沿って配置され、平面的に見て前記シール材と重なる位置に配置された感温配線と
を備えることを特徴とする液晶装置。
A pair of substrates bonded together through a sealing material;
A liquid crystal sandwiched between the pair of substrates;
A temperature-sensitive wiring, which is disposed along at least one side of one of the substrates, and disposed at a position overlapping the sealing material in plan view.
前記感温配線は、前記一対の基板のうち一方の基板上に導電材料を含んで膜状に形成されており、抵抗の変化に応じて温度を検出することを特徴とする請求項1に記載の液晶装置。   The temperature sensing wiring is formed in a film shape including a conductive material on one of the pair of substrates, and detects a temperature according to a change in resistance. LCD device. 前記一方の基板上には、走査線、データ線、前記走査線及び前記データ線の交差に対応して設けられるトランジスター、前記トランジスターに対応して設けられた画素電極を含む複数の導電層が夫々積層するように形成されており、
前記感温配線は、前記複数の導電層のうち、いずれかと同じ層に形成されている
ことを特徴とする請求項2に記載の液晶装置。
On the one substrate, a plurality of conductive layers including a scan line, a data line, a transistor provided corresponding to the intersection of the scan line and the data line, and a pixel electrode provided corresponding to the transistor, respectively. It is formed to be laminated,
The liquid crystal device according to claim 2, wherein the temperature sensitive wiring is formed in the same layer as any one of the plurality of conductive layers.
前記感温配線は、前記複数の導電層のうち、平面的に見た場合の密度が最も高い層と同じ層に形成されていることを特徴とする請求項3に記載の液晶装置。   4. The liquid crystal device according to claim 3, wherein the temperature-sensitive wiring is formed in the same layer as the layer having the highest density when viewed in plan among the plurality of conductive layers. 前記感温配線は、遮光性を有する材料を含んでいることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の液晶装置。   The liquid crystal device according to claim 1, wherein the temperature-sensitive wiring includes a light-shielding material. 請求項1から5のいずれか一項に記載の液晶装置を具備してなることを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the liquid crystal device according to claim 1.
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