JP2012147655A - Switching circuit and testing method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of testing semiconductor switching devices during service to assure that the semiconductor switching devices maintain perfect functions.SOLUTION: A switching circuit 1 connecting a load to a voltage source 2 comprises one or more switching devices 6, 7, ..., n, for switching on and off power to the load, a pulldown device 4 for shorting out the load thereby isolating it from the voltage source, and a controller 3 operable while the voltage source is isolated from the load to activate at least one of the switching devices at a time. A current passes through the or each activated switching device and is measurable to test whether the or each activated switching device is operating correctly.

Description

本発明は、スイッチング回路およびその試験方法に関する。   The present invention relates to a switching circuit and a test method thereof.

スイッチング回路には、互いに並列に接続されたいくつかのスイッチングデバイスが含まれており、したがってそのスイッチング回路の電流容量が個々のスイッチングデバイスの容量の和であることがしばしばである。これは、負荷によって要求される電力が単一のスイッチングデバイスの容量を超えるアプリケーションの場合にとりわけ有用である。航空機配電システムにこのようなスイッチング回路の一例が見出され、例えば８個の半導体スイッチングデバイスを並列に提供することができる。一般に、スイッチングデバイスは、故障時開または故障時閉になることができる。個々のスイッチングデバイスは、故障の原因になり得るドライバを有している。複数のスイッチングデバイスのうちの１つまたは複数が開になり損ねた場合、他のスイッチングデバイスがバックアップスイッチとして作用することができるが、場合によっては電流過負荷に遭遇する可能性がある。複数のスイッチングデバイスのうちの１つまたは複数が閉になり損ねた場合は、スイッチング回路をスイッチオフすることが不可能になり、このような故障が発生したことが容易に明らかになる。開になり損ねた場合、その故障は、場合によっては検出することができないことがある。半導体スイッチングデバイスは製造段階で完全に試験されるが、それらが完全な機能を維持していることを保証するためには、サービス中にそれらを試験することができることが望ましい。これは、組込み試験（ＢＩＴ）としても知られている。   A switching circuit includes several switching devices connected in parallel to each other, and therefore the current capacity of the switching circuit is often the sum of the capacities of the individual switching devices. This is particularly useful for applications where the power required by the load exceeds the capacity of a single switching device. An example of such a switching circuit is found in aircraft power distribution systems, for example, eight semiconductor switching devices can be provided in parallel. In general, a switching device can be open on failure or closed on failure. Each switching device has a driver that can cause a failure. If one or more of the switching devices fail to open, other switching devices can act as backup switches, but in some cases, current overloads can be encountered. If one or more of the switching devices fail to close, it becomes impossible to switch off the switching circuit and it is readily apparent that such a failure has occurred. If it fails to open, the failure may not be detected in some cases. Although semiconductor switching devices are fully tested at the manufacturing stage, it is desirable to be able to test them during service to ensure that they maintain full functionality. This is also known as built-in testing (BIT).

本発明によれば、負荷および電圧源に接続するためのスイッチング回路であって、負荷への電力をスイッチオンおよびスイッチオフするための１つまたは複数のスイッチングデバイスと、負荷を短絡し、それにより負荷を電圧源から隔離するためのプルダウンデバイスと、一度に複数のスイッチングデバイスのうちの少なくとも１つを起動するために、負荷が短絡されている間に動作させることができるコントローラとを備え、起動された前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスを通って電流が流れ、この電流を測定して、起動された前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスが適切に動作しているかどうかを試験することができるスイッチング回路が提供される。   According to the present invention, a switching circuit for connecting to a load and a voltage source, one or more switching devices for switching on and off the power to the load, and short-circuiting the load, thereby Start-up comprising a pull-down device for isolating the load from the voltage source and a controller that can be operated while the load is short-circuited to start at least one of the plurality of switching devices at a time A current can flow through the switched switching device or individual switching device and this current can be measured to test whether the activated switching device or individual switching device is operating properly A circuit is provided.

有利には、プルダウンデバイスによって負荷なしでスイッチングデバイスを試験することができるため、スイッチング回路を設置する前、または設置した後に試験を実施することができる。   Advantageously, the switching device can be tested without load by means of a pull-down device, so that the test can be carried out before or after the switching circuit is installed.

さらに、本発明によれば、１つまたは複数のスイッチングデバイスを含む、負荷を電圧源に接続するスイッチング回路の試験方法であって、プルダウンデバイスを起動することによって負荷を短絡するステップと、複数のスイッチングデバイスのうちの１つまたは複数を起動するステップと、起動された前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスを通って流れる電流を測定するステップと、測定された電流信号から、起動された１つまたは複数のスイッチングデバイスが適切に動作しているかどうかを決定するステップとを含む方法が提供される。   Furthermore, according to the present invention, there is provided a method for testing a switching circuit that connects a load to a voltage source, including one or more switching devices, the step of shorting the load by activating a pull-down device; Activating one or more of the switching devices, measuring the current flowing through the activated switching device or individual switching devices, and from the measured current signal, Determining whether a plurality of switching devices are operating properly.

以下、本発明の実施形態について、単なる一例にすぎないが、添付の図面を参照して説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings, which are merely examples.

本発明を例証するスイッチング回路を含む回路を概略的に示す図である。1 schematically illustrates a circuit including a switching circuit illustrating the present invention. 図１の回路上で実施される試験手順中における時間に対する電流のグラフである。2 is a graph of current against time during a test procedure performed on the circuit of FIG.

図１は、電圧源２に接続されたスイッチング回路１を備えた回路の一例を示したものである。この回路は、負荷１５に接続されている出力５を有している。この回路は、エンジン発電機によって電圧源２を提供することができるよう、例えば航空機上に提供することができ、また、負荷１５は、着陸ギヤフラップすなわち着陸装置を駆動するためなどの航空機上のコンポーネントであっても、あるいは計装またはフライト中の娯楽などの航空機内のコンポーネントであってもよい。スイッチング回路１は、個別のスイッチングデバイス６または複数のスイッチングデバイス６、７、．．．、ｎを備えることができる。スイッチングデバイスは並列に接続されている。スイッチングデバイスは、それぞれ、電界効果トランジスタなどの任意の適切な半導体スイッチングデバイスを備えることができる。スイッチング回路１を使用して電力源２が負荷１５に接続される。電圧源２およびその関連するケーブル布線または配線は、固有のインダクタンス１１を有することになる。同様に、負荷およびその関連するケーブル布線および配線も、固有のインダクタンス１４を有することになる。   FIG. 1 shows an example of a circuit including a switching circuit 1 connected to a voltage source 2. This circuit has an output 5 connected to a load 15. This circuit can be provided, for example on an aircraft, so that the voltage source 2 can be provided by an engine generator, and the load 15 is a component on the aircraft, such as for driving a landing gear flap or landing gear. Or may be a component in an aircraft such as instrumentation or in-flight entertainment. The switching circuit 1 comprises an individual switching device 6 or a plurality of switching devices 6, 7,. . . , N can be provided. The switching devices are connected in parallel. Each switching device may comprise any suitable semiconductor switching device, such as a field effect transistor. The power source 2 is connected to the load 15 using the switching circuit 1. The voltage source 2 and its associated cabling or wiring will have an inherent inductance 11. Similarly, the load and its associated cabling and wiring will also have an inherent inductance 14.

スイッチング回路には、さらに、対応する個々の制御線８、９、１０を介してスイッチングデバイス６、７、．．．、ｎの各々に接続されているコントローラ３が含まれている。また、コントローラ３は、プルダウン制御線１２を介してプルダウンデバイス４に接続されている。プルダウンデバイス４は、さらに、負荷出力５および電力戻り線１３に接続されている。プルダウン４が閉じると、それにより負荷がスイッチング回路から遮断され、したがって電流は迂回してプルダウン４を通って流れる。プルダウン回路または単純にプルダウンとも呼ばれているプルダウンデバイスは、電子スイッチ、電気機械式スイッチおよび機械式スイッチを始めとする任意の適切なスイッチを含むことができる。   The switching circuit further includes switching devices 6, 7,... Via corresponding individual control lines 8, 9, 10, respectively. . . , N connected to each of the controllers 3 is included. The controller 3 is connected to the pull-down device 4 via a pull-down control line 12. The pull-down device 4 is further connected to the load output 5 and the power return line 13. When pull-down 4 is closed, the load is thereby disconnected from the switching circuit, so that current bypasses and flows through pull-down 4. A pull-down device, also referred to as a pull-down circuit or simply pull-down, can include any suitable switch, including electronic switches, electromechanical switches, and mechanical switches.

スイッチング回路１は、接続された１つまたは複数の半導体デバイスを備えることができる半導体電力コントローラ（ＳＳＰＣ）を備えることができる。スイッチング回路１が並列に接続された複数の半導体デバイスを備えている場合、個々のデバイスを逐次スイッチオンおよびスイッチオフすることができるため、これらの複数のデバイスの各々を個別に試験することができる。一度に複数のスイッチングデバイスを起動するシーケンスなどの他の試験シーケンスを想定することも可能である。複数のスイッチングデバイスを個々に起動することにより、個々のスイッチ毎に故障を分離することができる。試験シーケンスは、フライトとフライトの間などの都合のいい任意の時間に実施することができる。また、試験シーケンスは、フライト中に、負荷１５を必要としない時間の間に実施することも可能である。   The switching circuit 1 can comprise a semiconductor power controller (SSPC) that can comprise one or more connected semiconductor devices. If the switching circuit 1 comprises a plurality of semiconductor devices connected in parallel, the individual devices can be switched on and off sequentially so that each of these devices can be tested individually. . It is also possible to envisage other test sequences, such as a sequence for starting several switching devices at once. By activating multiple switching devices individually, faults can be isolated for each individual switch. The test sequence can be performed at any convenient time, such as between flights. The test sequence can also be performed during the time during which the load 15 is not required during the flight.

複数のスイッチングデバイス６、７、．．．、ｎの各々には、対応する個々の電流制限器６１、７１、．．．、ｎ１が含まれている。電流制限器は、スイッチングデバイスの損傷を回避するために、スイッチングデバイスを通って流れる電流を通常の最大動作電流の５倍ないし１０倍程度に制限する。別法としては、すべてのスイッチングデバイスに対して単一の電流制限器を提供することも可能である。他の代替では、ハード電流トリップを提供して、トリップ限界を超えるとスイッチングデバイスをターンオフすることも可能である。   A plurality of switching devices 6, 7,. . . , N each has a corresponding individual current limiter 61, 71,. . . , N1 are included. The current limiter limits the current flowing through the switching device to about 5 to 10 times the normal maximum operating current in order to avoid damage to the switching device. Alternatively, a single current limiter can be provided for all switching devices. In another alternative, a hard current trip can be provided to turn off the switching device when the trip limit is exceeded.

プルダウン回路は、ＢＩＴ試験ルーチンのために複数のスイッチングデバイスのうちのいずれかが起動されると、いつでも起動される。個々のスイッチングデバイスおよびその駆動回路は、一度に１つのデバイスを起動するため、コントローラ３を使用することによって完全に試験することができ、それと同時に、起動されたデバイスを通って流れ、かつ、プルダウンデバイスを通って流れる電流が適切な限界内であることをチェックする。図１には電流測定回路は示されていない。特定の一実施形態では、個々のスイッチングデバイスが起動される最短時間は、電流がほぼ一定になり、ＢＩＴシステムによって要求される精度に対するこの電流の無矛盾測定を可能にするために必要な時間の長さに少なくともなるように選択される。個々のスイッチングデバイスが起動される時間の長さは、通常、入力電力源ケーブルの最大総インダクタンス１１で決まる。しかしながら、必要に応じてもっと短い時間スケールでシステムを動作させることも可能である。   The pull-down circuit is activated whenever any of the plurality of switching devices is activated for the BIT test routine. The individual switching devices and their drive circuits can be fully tested by using the controller 3 to activate one device at a time, and at the same time flow through the activated device and pull down Check that the current flowing through the device is within appropriate limits. The current measurement circuit is not shown in FIG. In one particular embodiment, the shortest time that an individual switching device is activated is the length of time required to make the current nearly constant and to allow consistent measurement of this current for the accuracy required by the BIT system. It is chosen to be at least. The length of time that each switching device is activated is typically determined by the maximum total inductance 11 of the input power source cable. However, it is possible to operate the system on a shorter time scale if necessary.

プルダウンデバイスは、ＢＩＴ試験の間、プルダウンデバイスが単一の主スイッチングデバイスから電流を吸い込む際に、負荷に対する出力５に展開する電圧が、システムがオンの場合の通常の出力電圧と比較して無視することができるように設計される。このように設計することにより、システムがオフになった場合に負荷が重大な電圧に遭遇しないことが保証される。これは、個々のスイッチングデバイスより小さいインピーダンス、好ましくははるかに小さいインピーダンスを有するプルダウンデバイス４を使用することによって達成される。実際には、電流制限器６１、７１、．．．、ｎ１が動作している間は、スイッチングデバイス６、７、．．．、ｎは、プルダウンデバイス４より大きい実効インピーダンスを有している。通常のシステム動作の間、スイッチングデバイス６、７、．．．、ｎを起動するコントローラ３には、通常、すべてのスイッチングデバイスを同時にターンオンおよびターンオフすることが期待される。   The pull-down device ignores the voltage developed at output 5 to the load when the pull-down device draws current from a single main switching device during the BIT test compared to the normal output voltage when the system is on Designed to be able to do. This design ensures that the load will not encounter a significant voltage when the system is turned off. This is achieved by using a pull-down device 4 that has a smaller impedance, preferably a much smaller impedance, than the individual switching devices. In practice, current limiters 61, 71,. . . , N1 is in operation, the switching devices 6, 7,. . . , N has a larger effective impedance than the pull-down device 4. During normal system operation, the switching devices 6, 7,. . . , N is normally expected to turn on and off all switching devices simultaneously.

本発明の実施形態は、直流システムだけでなく、交流システムにも適用される。交流システムに適用される場合、電圧源２は交流電圧である。スイッチングデバイスは交流スイッチであり（適宜交流電流制限器を備えている）、また、プルダウン回路は交流電流を吸い込むことができる。直流実施形態の場合、プルダウンデバイスは、例えば電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）またはバイポーラトランジスタあるいは絶縁ゲートバイポーラトランジスタを備えている。他のタイプのスイッチングデバイスを使用することができる。交流実施形態の場合、プルダウンデバイスは、例えばトライアックまたは半導体リレーを備えることができる。   The embodiment of the present invention is applied not only to a DC system but also to an AC system. When applied to an AC system, the voltage source 2 is an AC voltage. The switching device is an AC switch (with an AC current limiter as appropriate), and the pull-down circuit can sink AC current. In the case of a direct current embodiment, the pull-down device comprises, for example, a field effect transistor (FET) or a bipolar transistor or an insulated gate bipolar transistor. Other types of switching devices can be used. For AC embodiments, the pull-down device can comprise, for example, a triac or a semiconductor relay.

図２は、試験手順が実施される際にスイッチングデバイスを通って流れる出力電流を示したものである。１つのピークしか示されていないが、一例示的実施形態では８個のスイッチングデバイスが提供されており、したがって試験の結果は、電圧源２からの総入力電流になり、図２に示されているような単一のパルスが８個連続して示されることになる。個々のスイッチングデバイス６、７、．．．、ｎの適切な動作は、個々の個別電流パルスの振幅が適切な限界内であることをチェックすることによって決定することができる。   FIG. 2 shows the output current flowing through the switching device when the test procedure is performed. Although only one peak is shown, in one exemplary embodiment eight switching devices are provided, so the result of the test is the total input current from voltage source 2 and is shown in FIG. There will be 8 consecutive single pulses. The individual switching devices 6, 7,. . . , N can be determined by checking that the amplitude of each individual current pulse is within appropriate limits.

試験手順は、プルダウンデバイス４を起動することによって負荷を短絡することによって開始される。プルダウンデバイスは、通常、ＢＩＴ試験が継続している間、オンを維持する。図に示されている例では約２５０μｓで第１のスイッチングデバイス６が閉になり、このスイッチングデバイス６を通って流れる電流が、電圧源２によって提供される電流、例えばこの例では約１００アンペアまで速やかに上昇する。次に、第１のスイッチングデバイス６が開き、短い時間の後に第２のスイッチングデバイス７が閉になり、この第２のスイッチングデバイス７を通って流れる電流が測定される。すべてのスイッチングデバイスが試験されるまでこの手順が連続的に繰り返される。図２に示されている電流プロファイルとは異なる電流プロファイルは、対応するスイッチングデバイスの故障を示すことができる。   The test procedure is started by shorting the load by activating the pull-down device 4. The pull-down device typically remains on for the duration of the BIT test. In the example shown in the figure, the first switching device 6 is closed in about 250 μs, and the current flowing through this switching device 6 is up to the current provided by the voltage source 2, for example up to about 100 amperes in this example It rises promptly. Next, the first switching device 6 is opened, and after a short time, the second switching device 7 is closed, and the current flowing through the second switching device 7 is measured. This procedure is repeated continuously until all switching devices have been tested. A current profile different from the current profile shown in FIG. 2 can indicate a failure of the corresponding switching device.

有利には、本発明の実施形態によれば、スイッチングデバイスの動作を個々に評価することができる。半導体電力コントローラの総合的な動作をチェックするだけの単純なＢＩＴ試験では、通常、開路状態のまま動けなくなった故障したデバイスを検出することはできない。本発明の技術的な利点は、単一のデバイス故障を検出するだけでなく、個々のデバイスの電流制限性能を個別にチェックすることができることである。したがって本発明は、インサービス動作中に完全なＢＩＴ適用範囲を提供することができる。   Advantageously, according to an embodiment of the invention, the operation of the switching device can be evaluated individually. A simple BIT test that only checks the overall operation of the semiconductor power controller typically cannot detect a failed device that has remained stuck. The technical advantage of the present invention is that not only a single device failure can be detected, but the current limiting performance of each individual device can be individually checked. Thus, the present invention can provide full BIT coverage during in-service operation.

一代替実施形態では、スイッチングデバイスは電流制限制御を有していない。この場合、電力源２のインダクタンスおよびケーブルインダクタンス１１を高速電流トリップ回路と組み合わせて利用し、それにより試験パルス中に電流が危険なレベルまで上昇するのを防止することができる。言い換えると、この実施形態のコントローラ３は、電流過負荷を回避するだけの十分な速さでスイッチングデバイスを開閉するシーケンスを起動するように動作する。   In an alternative embodiment, the switching device does not have current limit control. In this case, the inductance of the power source 2 and the cable inductance 11 can be used in combination with a fast current trip circuit, thereby preventing the current from rising to a dangerous level during the test pulse. In other words, the controller 3 of this embodiment operates to activate a sequence for opening and closing the switching device at a speed sufficient to avoid current overload.

１ スイッチング回路
２ 電圧源（電力源）
３ コントローラ
４ プルダウンデバイス（プルダウン）
５ 出力（負荷出力）
６、７、．．．、ｎ スイッチングデバイス
８、９、１０ 制御線
１１、１４ インダクタンス
１２ プルダウン制御線
１３ 電力戻り線
１５ 負荷
６１、７１、．．．、ｎ１ 電流制限器 1 Switching circuit 2 Voltage source (power source)
3 Controller 4 Pull-down device (pull-down)
5 outputs (load output)
6, 7,. . . , N Switching device 8, 9, 10 Control line 11, 14 Inductance 12 Pull-down control line 13 Power return line 15 Load 61, 71,. . . , N1 current limiter

Claims (17)

負荷および電圧源に接続するためのスイッチング回路であって、前記負荷への電力をスイッチオンおよびスイッチオフするための１つまたは複数のスイッチングデバイスと、前記負荷を短絡し、それにより前記負荷を前記電圧源から隔離するためのプルダウンデバイスと、一度に前記複数のスイッチングデバイスのうちの少なくとも１つを起動するために、前記負荷が短絡されている間に動作させることができるコントローラとを備え、起動された前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスを通って電流が流れ、前記電流を測定して、起動された前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスが適切に動作しているかどうかを試験することができるスイッチング回路。 A switching circuit for connecting to a load and a voltage source, one or more switching devices for switching on and off power to the load, and short-circuiting the load, thereby connecting the load to the load A pull-down device for isolating from a voltage source and a controller operable to activate at least one of the plurality of switching devices at a time while the load is short-circuited, Switching through which the current flows through the switched switching device or individual switching device and the current can be measured to test whether the activated switching device or individual switching device is operating properly circuit. 前記プルダウンデバイスが、前記負荷に並列に配置されたスイッチを含み、前記スイッチが閉じると前記負荷が短絡される、請求項１記載のスイッチング回路。 The switching circuit according to claim 1, wherein the pull-down device includes a switch arranged in parallel with the load, and the load is short-circuited when the switch is closed. 前記プルダウンデバイスが、電界効果トランジスタ、バイポーラトランジスタ、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ、トライアックおよび半導体リレーのうちの任意の１つまたは複数を含む、電子スイッチ、電気機械式スイッチおよび／または機械式スイッチを含む、請求項２記載のスイッチング回路。 The pull-down device comprises an electronic switch, an electromechanical switch, and / or a mechanical switch, including any one or more of a field effect transistor, a bipolar transistor, an insulated gate bipolar transistor, a triac, and a semiconductor relay. Item 3. The switching circuit according to Item 2. 前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスが個々に起動される、請求項１乃至３のいずれか記載のスイッチング回路。 The switching circuit according to claim 1, wherein the switching device or individual switching devices are activated individually. 前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスを通って流れる電流を制限するための電流制限器をさらに備える、請求項１乃至４のいずれか記載のスイッチング回路。 The switching circuit according to claim 1, further comprising a current limiter for limiting a current flowing through the switching device or the individual switching device. 前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスがその中に配置された電流制限器を有する、請求項５記載のスイッチング回路。 6. A switching circuit according to claim 5, wherein the switching device or individual switching devices have a current limiter disposed therein. システムインダクタンスを使用して、前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスを通って流れる電流が制限される、請求項１乃至４のいずれか記載のスイッチング回路。 5. A switching circuit according to any one of the preceding claims, wherein system inductance is used to limit the current flowing through the switching device or individual switching devices. 前記プルダウンデバイスのインピーダンスが前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスのインピーダンスより小さい、請求項１乃至７のいずれか記載のスイッチング回路。 The switching circuit according to claim 1, wherein an impedance of the pull-down device is smaller than an impedance of the switching device or individual switching devices. 通常の動作状態における出力電圧と比較すると、試験状態下の前記スイッチング回路の出力電圧を無視することができる、請求項１乃至８のいずれか記載のスイッチング回路。 The switching circuit according to claim 1, wherein the output voltage of the switching circuit under a test state can be ignored when compared with an output voltage in a normal operation state. 前記回路を交流電圧源または直流電圧源に接続することができる、請求項１乃至９のいずれか記載のスイッチング回路。 The switching circuit according to claim 1, wherein the circuit can be connected to an AC voltage source or a DC voltage source. 前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスが半導体スイッチングデバイスを備える、請求項１乃至１０のいずれか記載のスイッチング回路。 The switching circuit according to claim 1, wherein the switching device or the individual switching device comprises a semiconductor switching device. １つまたは複数のスイッチングデバイスを含む、負荷を電圧源に接続するスイッチング回路の試験方法であって、プルダウンデバイスを起動することによって前記負荷を短絡するステップと、前記複数のスイッチングデバイスのうちの１つまたは複数を起動するステップと、起動された前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスを通って流れる電流を測定するステップと、測定された電流信号から、起動された１つまたは複数のスイッチングデバイスが適切に動作しているかどうかを決定するステップとを含む方法。 A method of testing a switching circuit that connects a load to a voltage source, including one or more switching devices, shorting the load by activating a pull-down device; and one of the plurality of switching devices Activating one or more, measuring the current flowing through the activated switching device or individual switching devices, and from the measured current signal, the activated one or more switching devices are suitable Determining whether it is operating. 前記スイッチングデバイスが逐次連続的に起動される、請求項１２記載の方法。 The method of claim 12, wherein the switching device is activated sequentially and continuously. 前記１つまたは複数のスイッチングデバイスが、前記１つまたは複数のスイッチングデバイスを通って流れる電流が実質的に一定になるのに十分な時間の長さにわたって起動される、請求項１２記載の方法。 The method of claim 12, wherein the one or more switching devices are activated for a length of time sufficient for the current flowing through the one or more switching devices to be substantially constant. 個々のスイッチングデバイスを通って流れる電流を制限するステップをさらに含む、請求項１２乃至１４のいずれか記載の方法。 15. A method according to any of claims 12 to 14, further comprising the step of limiting the current flowing through the individual switching devices. 実質的に、本明細書において添付の図面を参照して説明されているスイッチング回路。 A switching circuit substantially as herein described with reference to the accompanying drawings. 実質的に、本明細書において添付の図面を参照して説明されているスイッチング回路の試験方法。 A method for testing a switching circuit substantially as herein described with reference to the accompanying drawings.
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