JP2012147079A - Reception circuit and electronic apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、受信回路及びそれを含む電子装置に関する。 The present invention relates to a receiving circuit and an electronic device including the receiving circuit.
高速データ転送が可能な電子装置の受信回路では、伝送線路による信号の劣化を補正するため、入力データの等化及び補間を行うことが知られている。例えば、受信信号をGmセルにより電圧信号から電流信号に変換し、2つのGmセルの異なるタイミングの出力同士を引き算することにより、アナログデジタル変換回路(ADC:Analog Digital Converter)の前段において、データの等化を行う方法が知られている。また、アナログデジタル変換回路の後段において、デジタル信号処理によりデータの補間を行う方法が知られている。 In a receiving circuit of an electronic device capable of high-speed data transfer, it is known to perform equalization and interpolation of input data in order to correct signal degradation due to a transmission line. For example, the received signal is converted from a voltage signal to a current signal by the Gm cell, and the outputs at different timings of the two Gm cells are subtracted, so that the data in the previous stage of the analog-to-digital converter (ADC) A method for performing equalization is known. In addition, a method of performing data interpolation by digital signal processing in a subsequent stage of the analog-digital conversion circuit is known.
従来のスイッチ回路では、データの補間を行うための回路が、データの等化を行うための回路とは別にADCの後段に設けられていたため、回路面積が増大してしまう場合があった。また、デジタル信号処理によるデータの補間(及び等化)を行う際の量子化ノイズを抑制するために、高分解能で高速動作が可能なADCが要求され、回路面積や消費電力が増大してしまう場合があった。 In the conventional switch circuit, since the circuit for performing data interpolation is provided after the ADC separately from the circuit for performing data equalization, the circuit area may increase. In addition, in order to suppress quantization noise when performing data interpolation (and equalization) by digital signal processing, an ADC capable of high-resolution and high-speed operation is required, which increases circuit area and power consumption. There was a case.
本発明は上記課題に鑑みなされたものであり、高速データ転送が可能な電子装置における受信回路の面積及び消費電力を低減することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to reduce the area and power consumption of a receiving circuit in an electronic device capable of high-speed data transfer.
本受信回路は、受信データを異なるタイミングでサンプリングする複数のサンプリング回路と、前記複数のサンプリング回路によりサンプリングされたそれぞれのデータを保持する複数のホールド回路と、前記複数のホールド回路からの出力に基づき、前記入力信号の等化及び補間の度合いを決定するためのパラメータを算出するパラメータ算出回路と、前記パラメータ算出回路により算出されたパラメータに基づき、前記複数のホールド回路のそれぞれの出力に対し重み付けを行う重み付け回路と、前記重み付け回路により重み付けが行われた前記ホールド回路の出力データを合成して出力する出力回路と、を備える。また、本電子装置は、上記受信回路と、上記受信回路の後段に接続されたアナログデジタル変換回路とを備える。 The receiving circuit is based on a plurality of sampling circuits that sample received data at different timings, a plurality of hold circuits that hold the respective data sampled by the plurality of sampling circuits, and outputs from the plurality of hold circuits. A parameter calculation circuit for calculating a parameter for determining the degree of equalization and interpolation of the input signal, and a weight for each output of the plurality of hold circuits based on the parameter calculated by the parameter calculation circuit A weighting circuit for performing the output, and an output circuit for combining and outputting the output data of the hold circuit weighted by the weighting circuit. The electronic apparatus includes the receiving circuit and an analog-digital conversion circuit connected to a subsequent stage of the receiving circuit.
本電子回路によれば、電子装置における受信回路の面積及び消費電力を低減することができる。 According to this electronic circuit, the area and power consumption of the receiving circuit in the electronic device can be reduced.
図1は、実施例1に係る電子装置のブロック図である。演算手段としてのCPU(Central Processing Unit)10が複数配置されている。CPU10の周辺には、HSIO(High Speed
Input Output)で示す高速入出力回路20が複数配置されている。高速入出力回路20は、外部の入出力インターフェース(不図示)に接続されており、CPU10と入出力インターフェースとの間で高速のデータ転送を実現する役割を果たす。
FIG. 1 is a block diagram of an electronic apparatus according to the first embodiment. A plurality of CPUs (Central Processing Units) 10 as arithmetic means are arranged. Around the
A plurality of high-speed input /
図2は、高速入出力回路20内の受信回路のブロック図である。受信された信号(DATA IN)は、サンプルホールド回路30に入力されている。サンプルホールド回路30は、電圧信号を電流信号に変換するためのgmセル32と、データのサンプリング及び保持(ホールド)を行うためのサンプルホールド部34を含む。サンプルホールド部34は、入力チャネルの数だけ複数設けられている。
FIG. 2 is a block diagram of a receiving circuit in the high-speed input /
サンプルホールド部34は、データのサンプリングに使用されるサンプリングスイッチSWs、回路のリセットに使用されるリセットスイッチSWr、及びこれらのスイッチに接続されたキャパシタバンクCBを含む。サンプルホールド回路30において、入力信号は最初にgmセル32に入力され、電流信号に変換された上でサンプルホールド部34へと出力される。サンプルホールド部34には、CK_Genで示すクロック生成回路40から、各種のクロック信号が入力されている。サンプルホールド回路30の出力データは、それぞれ後段のアナログデジタル変換回路(ADC:Analog digital Converter)50へと入力される。
The
ADC50の出力データは、後段のデジタル信号処理回路60へと入力される。デジタル信号処理回路60は、ADC50によりデジタル信号に変換された受信信号に基づき、各種の演算処理等を実行する。デジタル信号処理回路60の出力データ(DATA OUT)は、受信回路の出力端子から電子装置の内部回路へと出力されるとともに、等化制御回路70及び位相検出回路72に入力されている。
The output data of the
等化制御回路70は、デジタル信号処理回路60の出力データに基づき、受信信号の振幅の理想値からのずれを算出し、これを等化により補正するためのパラメータyを算出する。より詳細には、等化動作はハイパス特性を有するため、パラメータyは、出力データのDCレベルを減少させ、データの帯域に対応するACレベルを適切なところで増幅させるように決定される。位相検出回路72は、デジタル信号処理回路60の出力データに基づき、受信信号のサンプリング位相の理想値からのずれを算出する。位相検出回路72の後段に設けられたフィルタ回路74は、上記のサンプリング位相のずれを補間により補正するためのパラメータxを算出する。より詳細には、補間動作においては、出力されたデータがデジタル回路側が算出していた位相の中心とずれが生じるかどうかが感知され、そのずれを補正するようにパラメータxの値が決定される。等化制御回路70の出力パラメータy及びフィルタ回路74の出力パラメータxは、それぞれエンコーダ76へと入力される。ただし、「0<x,y<1」である。以上のように、等化制御回路70、位相検出回路72、及びフィルタ回路74は、受信回路への入力信号の等化及び補間の度合いを決定するためのパラメータを算出するパラメータ算出回路であってよい。
The
エンコーダ76は、等化制御回路70及びフィルタ回路74から与えられたデジタルのパラメータをエンコードし、各サンプルホールド部34のキャパシタバンクCBへと供給する。この信号は、各サンプルホールド部34の出力に対し重み付けを行うための信号であってよく、エンコーダ76は上記重み付けを行うための重み付け回路であってよい。
The
図3は、データの等化を説明する図である。図3(a)は等化前の信号波形を、図3(b)は等化後の信号波形をそれぞれ示す。図3(a)に示すように、あるタイミングにおけるADC50の出力のデータはd1、d2、d3、d4となっている。d1及びd4は出力のDCレベルを示し、d2及びd3は出力のACレベルを示す。ここで、d2及びd3を代表するACレベルが低いと、データが1であるか0であるかの判別が難しくなる。そこで、等化のハイパス特性を出せるようにパラメータを調整して、d1及びd4を代表するDCレベルの振幅を小さくし、d2及びd3を代表するACレベルの振幅を増幅させることで、1または0の判別をしやすくする。図3(b)に示すように、等化後のデータがd1‘、d2’、d3‘、d4’になるように等化のパラメータ(y)が計算され、サンプルホールド回路30へとフィードバックされる。
FIG. 3 is a diagram for explaining data equalization. FIG. 3A shows a signal waveform before equalization, and FIG. 3B shows a signal waveform after equalization. As shown in FIG. 3A, the output data of the
図4は、データの補間を説明する図である。図4(a)及び図4(b)は補間前の信号波形を示し、図4(a)はデータの位相が遅れている状態を、図4(b)はデータの位相が進んでいる状態をそれぞれ示している。図4(c)は、データの補間後の信号波形を示す。図4(a)では、センター(EC:Edge Center)に対しデータの位相が遅れており、データの判別はd1=0、d2=0、d3=1となり、データが正しく判別されていない。そこで、補間のパラメータを位相が進む方向に調整するため、図4(c)の信号波形となるように補間のパラメータ(x)が計算され、サンプルホールド回路30へとフィードバックされる。同様に、図4(b)では、センター(EC)に対しデータの位相が進んでおり、データの判別はd1=0、d2=1、d3=1となり、データが正しく判別されていない。そこで、補間のパラメータを位相が遅れる方向に調整するため、図4(c)の信号波形となるように補間のパラメータ(x)が計算され、サンプルホールド回路30へとフィードバックされる。
FIG. 4 is a diagram for explaining data interpolation. 4 (a) and 4 (b) show signal waveforms before interpolation, FIG. 4 (a) shows a state in which the data phase is delayed, and FIG. 4 (b) shows a state in which the data phase is advanced. Respectively. FIG. 4C shows a signal waveform after data interpolation. In FIG. 4A, the phase of data is delayed with respect to the center (EC: Edge Center), and the data discrimination is d1 = 0, d2 = 0, d3 = 1, and the data is not correctly discriminated. Therefore, in order to adjust the interpolation parameter in the direction in which the phase advances, the interpolation parameter (x) is calculated so as to obtain the signal waveform of FIG. 4C and fed back to the
図5は、実施例1に係る受信回路の詳細構成を示す図である。図5(a)はサンプルホールド回路30の構成を、図5(b)は可変キャパシタ(キャパシタバンクCB)の詳細な構成を示す。図2と共通の構成については同一の符号を付し、詳細な説明を省略する。gmセル32には、差動プラス信号Vinp及び差動マイナス信号Vinnが入力されている。gmセル32の差動プラス信号Vinp側の出力端子をノードN1、差動マイナス信号Vinn側の出力端子をノードN2とする。ノードN1には、サンプリングスイッチSWs0及びSWS1が並列に接続され、さらにこれらのスイッチに対し、可変キャパシタC0及びC1がそれぞれ直列に接続されている。サンプリングスイッチSWs0(SWs1)と可変キャパシタC0(C1)との間のノードと電源電圧Vddとの間には、リセットスイッチSWr0(SWr1)が接続されている。ノードN2には、サンプリングスイッチSWs2及びSWS3が並列に接続され、さらにサンプリングスイッチSWs2及びSWS3に対し、可変キャパシタC2及びC3がそれぞれ直列に接続されている。サンプリングスイッチSWs2(SWs3)と可変キャパシタC2(C3)との間のノードと電源電圧Vddとの間には、リセットスイッチSWr2(SWr3)が接続されている。
FIG. 5 is a diagram illustrating a detailed configuration of the receiving circuit according to the first embodiment. 5A shows the configuration of the sample and hold
サンプリングスイッチSWs0〜SWs3は、受信データを異なるタイミングでサンプリングするためのサンプリング回路であってよい。可変キャパシタC0〜C3は、サンプリングスイッチSWs0〜SWs3によりサンプリングされたそれぞれのデータを保持するホールド回路であってよい。各サンプリングスイッチSWs0〜SWs3からは、それぞれタイミングの異なる信号(Sn、Sn−1、Sn−2、Sn−3)が入力される。Sn及びSn−1は差動プラス信号であり、Sn−3及びSn−2は差動マイナス信号である。 The sampling switches SWs0 to SWs3 may be sampling circuits for sampling received data at different timings. The variable capacitors C0 to C3 may be hold circuits that hold the respective data sampled by the sampling switches SWs0 to SWs3. Signals (S n , S n-1 , S n-2 , S n-3 ) having different timings are input from the sampling switches SWs0 to SWs3. S n and S n−1 are differential plus signals, and S n−3 and S n−2 are differential minus signals.
可変キャパシタC0〜C3には、重み付け回路としてのエンコーダ76から制御信号n0〜n3が入力される。制御信号n0〜n3は、可変キャパシタC0〜C3の容量値を変化させるための信号である。可変キャパシタC0〜C3の容量値を変化させることで、C0〜C3に蓄積可能な電荷量を変化させ、入力信号(Sn〜Sn−3)への重み付けを行うことができる。図5(b)に示すように、可変キャパシタC0〜C3は、入力端子INと出力端子OUTとの間に並列に接続された容量固定の複数のキャパシタCを含む。また、各キャパシタCには、スイッチSWが直列に接続されている。スイッチSWのオン、オフの切り替えは、制御信号n(n0〜n3)により行われる。制御信号nに対応したスイッチSWがオンになることで、キャパシタCの合成容量(可変キャパシタC0〜C3の容量)が変化する。
Control signals n0 to n3 are input to the variable capacitors C0 to C3 from an
可変キャパシタC0〜C3の出力端子は、共通のノードN3に接続されている。これにより、可変キャパシタC0〜C3の出力側の配線は、ホールド回路としてのキャパシタC0〜C3の出力データを合計して出力する出力回路であってよい。ノードN3は、ADC50に接続されている。また、ノードN3及びADC50の中間ノードN4とグランドとの間には、ホールドスイッチSWhが接続されている。
The output terminals of the variable capacitors C0 to C3 are connected to a common node N3. Thereby, the wiring on the output side of the variable capacitors C0 to C3 may be an output circuit that sums up and outputs the output data of the capacitors C0 to C3 as the hold circuit. The node N3 is connected to the
サンプルホールド回路30に含まれるスイッチのうち、サンプリングスイッチSWs0〜SWs3はクロック信号Clk_s[n]〜Clk_s[n−3]により駆動される。また、リセットスイッチSWr0〜SWr3は、それぞれクロック信号Clk_rにより駆動され、ホールドスイッチSWh0〜SWh3は、それぞれクロック信号Clk_hにより駆動される。
Of the switches included in the
ここで、データの等化及び補間のアルゴリズムについて説明する。等化処理は、4つの入力信号を2つずつ選択し、それぞれに等化のためのパラメータ「y」または「y−1」かけ合わせたものを合計し、2つの出力データを得る(ただし、「0<y<1」)。具体的には、出力データu1及びu2は以下のようにして求めることができる。
un=y(−Sn−3)+(1−y)Sn−1 …(式1)
un+1=y(−Sn−2)+(1−y)Sn …(式2)
ここでun及びun+1は差動信号のプラス側である。また、データ(電荷)の引き算は、作動マイナス信号の足し算によって実現することができる。
Here, a data equalization and interpolation algorithm will be described. In the equalization process, four input signals are selected two by two, and each of them multiplied by the parameter “y” or “y−1” for equalization is added to obtain two output data (however, “0 <y <1”). Specifically, the output data u1 and u2 can be obtained as follows.
u n = y (-S n- 3) + (1-y) S n-1 ... ( Equation 1)
u n + 1 = y (−S n−2 ) + (1−y) S n (Expression 2)
Here, u n and u n + 1 are the positive sides of the differential signal. Further, the subtraction of data (charge) can be realized by adding the operation minus signal.
また、上記の出力データun及びun+1に対し、それぞれに補間のためのパラメータ「x」または「x−1」かけ合わせたものを合計し、最終的な出力データを得る(ただし、「0<x<1」)。具体的には、出力データdnは以下のようにして求めることができる。
dn=(1−x)un−1+xun …(式3)
Further, to the output data u n and u n + 1 of the above sum to the combined over parameters for interpolation "x" or "x-1", respectively, to obtain the final output data (where "0 <X <1 "). Specifically, the output data d n can be obtained as follows.
d n = (1−x) u n−1 + xu n (Expression 3)
上記の例では、等化及び補間の処理を別々に行っていたが、両者を一度に行うことも可能である。この場合、出力データdnは以下のようにして求めることができる。
dn=x(1−y)Sn+(1−x)(1−y)Sn−1−xySn−2−(1−x)ySn−3 …(式4)
ここで、n0=x(1−y)、n1=(1−x)(1−y)、n2=xy、n3=(1−x)yとすると、式4は、
dn=n0Sn+n1Sn−1−n2Sn−2−n3Sn−3 …(式5)
と表すことができる。なお、n0+n1+n2+n3=1である。このパラメータn0〜n3は、図5におけるn0〜n3に対応しており、n0:n1:n2:n3の比によって等化及び補間の比率を決定することができる。
In the above example, equalization and interpolation processing are performed separately, but both can be performed at once. In this case, the output data d n can be obtained as follows.
d n = x (1-y ) S n + (1-x) (1-y) S n-1 -xyS n-2 - (1-x) yS n-3 ... ( Equation 4)
Here, when n0 = x (1-y), n1 = (1-x) (1-y), n2 = xy, and n3 = (1-x) y,
d n = n0S n + n1S n -1 -n2S n-2 -n3S n-3 ... ( Equation 5)
It can be expressed as. Note that n0 + n1 + n2 + n3 = 1. These parameters n0 to n3 correspond to n0 to n3 in FIG. 5, and the ratio of equalization and interpolation can be determined by the ratio of n0: n1: n2: n3.
図6は、実施例1に係る受信回路の動作を示す図である。サンプリングスイッチへのクロック信号Clk_s[n]〜Clk_s[n−3]、リセットスイッチへのクロック信号Clk_r、ホールドスイッチへのクロック信号Clk_hの信号波形を示す。また、ADC50に供給されるクロック信号ADC_sampも併せて示す。サンプルホールド回路30は、リセット、サンプリング、等化・補間、ADCラッチの4つの動作モードを備える。
FIG. 6 is a diagram illustrating the operation of the receiving circuit according to the first embodiment. The signal waveforms of the clock signal Clk_s [n] to Clk_s [n-3] to the sampling switch, the clock signal Clk_r to the reset switch, and the clock signal Clk_h to the hold switch are shown. A clock signal ADC_samp supplied to the
最初に、リセットモードにおいては、クロック信号Clk_r及びClk_hがハイレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3及びホールドスイッチSWh0〜SWh3がオン状態となる。これにより、可変キャパシタC0〜C3が所定の値(初期値)に充電される。ここで、各可変キャパシタの容量をC0〜C3、蓄積される電荷をQ0〜Q3、リセットスイッチSWrから供給される電圧をVddとすると、各可変キャパシタへの充電量は以下の通りとなる。
Q0=Vdd・C0 …(式6)
Q1=Vdd・C1 …(式7)
Q2=Vdd・C2 …(式8)
Q3=Vdd・C3 …(式9)
First, in the reset mode, the clock signals Clk_r and Clk_h are at a high level, and the reset switches SWr0 to SWr3 and the hold switches SWh0 to SWh3 are turned on. As a result, the variable capacitors C0 to C3 are charged to a predetermined value (initial value). Here, assuming that the capacitance of each variable capacitor is C0 to C3, the accumulated charge is Q0 to Q3, and the voltage supplied from the reset switch SWr is Vdd, the charge amount to each variable capacitor is as follows.
Q0 = Vdd · C0 (Formula 6)
Q1 = Vdd · C1 (Expression 7)
Q2 = Vdd · C2 (Formula 8)
Q3 = Vdd · C3 (Formula 9)
次に、サンプリングモードにおいては、リセットクロック信号Clk_rがローレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3がオフ状態となる。また、サンプリングクロックClk_s[n−3]〜Clk_s[n]が順番に一定期間だけハイレベルとなり、サンプリングスイッチSWs0〜SWs3が一時的にオン状態となる。この間、キャパシタC0〜C3からgmセル32への放電が行われ、キャパシタC0〜C3の入力端子側のノード(Vx)の電位が低下する。例えば、gmセル32から供給される差動マイナス信号の電圧をVgm、サンプリングスイッチSWs0がオン状態にある時間をt0〜t1とすると、以下の式で示される電流の積分により、Vx0pの電位はVgmpに従って低下する。なお、iC0は可変キャパシタC0から流れる電流である。
…(式10)
ここで、Vx0pにおけるpは、電位がプラスであることを示す(以下の説明においても同じ。pの代わりにnと記載した場合は電位がマイナスであることを示す)。
Next, in the sampling mode, the reset clock signal Clk_r becomes a low level, and the reset switches SWr0 to SWr3 are turned off. Further, the sampling clocks Clk_s [n-3] to Clk_s [n] are sequentially set to a high level for a certain period, and the sampling switches SWs0 to SWs3 are temporarily turned on. During this time, discharging from the capacitors C0 to C3 to the
... (Formula 10)
Here, p in Vx0p indicates that the potential is positive (the same applies in the following description. When n is described instead of p, it indicates that the potential is negative).
図7は、上記の電圧の変化を示す図である。ノードVx0pの電位が時刻t0までVddを維持し、時刻t0〜t1の間はVgmnに追従して電位が低下し、時刻t1以降はVx0p’で安定している。可変キャパシタC0の容量値を変更することにより、最終的な電圧Vx0p’の値を任意に変更することができる。サンプリングが完了した時点で各可変キャパシタC0〜C3に残る電荷Q0〜Q3は、以下の式で示される。
Q0=C0・Vx0p’=Vdd・C0−C0/Ctot∫Itot(t)・dt …(式11)
Q1=C1・Vx1p’=Vdd・C1−C1/Ctot∫Itot(t)・dt …(式12)
Q2=C2・Vx2n’=Vdd・C2−C2/Ctot∫Itot(t)・dt …(式13)
Q3=C3・Vx3n’=Vdd・C3−C3/Ctot∫Itot(t)・dt …(式14)
FIG. 7 is a diagram showing changes in the voltage. The potential of the node Vx0p maintains Vdd until time t0, the potential decreases following Vgmn during time t0 to t1, and is stable at Vx0p ′ after time t1. By changing the capacitance value of the variable capacitor C0, the final value of the voltage Vx0p ′ can be arbitrarily changed. Charges Q0 to Q3 remaining in the variable capacitors C0 to C3 when sampling is completed are expressed by the following equations.
Q0 = C0 · Vx0p ′ = Vdd · C0−C0 / Ctot∫Itot (t) · dt (Formula 11)
Q1 = C1 · Vx1p ′ = Vdd · C1−C1 / Ctot∫Itot (t) · dt (Formula 12)
Q2 = C2 · Vx2n ′ = Vdd · C2−C2 / Ctot∫Itot (t) · dt (Formula 13)
Q3 = C3 · Vx3n ′ = Vdd · C3−C3 / Ctot∫Itot (t) · dt (Formula 14)
再び図6に戻り、サンプリングモードに続く等化・補間モードでは、リセットクロック信号Clk_rがハイレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3がオン状態となる。また、クロック信号Clk_hがローレベルとなり、ホールドスイッチSWhがオフ状態となる。これにより、可変キャパシタC0〜C3に蓄積された電荷がノードN3において足し合わされ、等化及び補間が完了したデータdnが出力される。電荷の足し算は以下の式15で表され、出力電圧は以下の式16の通りとなる。
Qtot=Q0+Q1+Q2+Q3=Vdd・Ctot−Ctot/Ctot∫Itot(t)dt …(式15)
dn=Vdd−Qtot/Ctot=1/Ctot・∫Itot(t)dt …(式16)
なお、ここで算出されたデータdnは差動プラス信号である。
Returning to FIG. 6 again, in the equalization / interpolation mode following the sampling mode, the reset clock signal Clk_r becomes high level, and the reset switches SWr0 to SWr3 are turned on. Further, the clock signal Clk_h becomes low level, and the hold switch SWh is turned off. Thus, charge accumulated in the variable capacitor C0~C3 are summed at node N3, the data d n which equalization and interpolation has been completed is outputted. The addition of the charge is expressed by the following Expression 15, and the output voltage is expressed by the following Expression 16.
Qtot = Q0 + Q1 + Q2 + Q3 = Vdd · Ctot−Ctot / Ctot∫Itot (t) dt (Equation 15)
d n = Vdd−Qtot / Ctot = 1 / Ctot · ∫Itot (t) dt (Expression 16)
The data d n which is calculated here is the differential plus signal.
等化・補間モードの後半になると、クロック生成回路40からADC50へ供給されるクロック信号ADC_sampがハイレベルとなり、ADC50が駆動するADCラッチモードとなる。これにより、等化・補間が完了したアナログデータが、ADC50によりデジタルデータへと変換される。
In the second half of the equalization / interpolation mode, the clock signal ADC_samp supplied from the
実施例1に係る受信回路によれば、サンプルホールド回路30における可変キャパシタC0〜C3の容量値を、等化及び補間のパラメータに基づいて変更することで、サンプルホールド回路30においてデータの等化及び補間を行うことができる。これにより、等化及び補間のための回路を別途設ける必要がなく、回路面積を低減することができる。また、ADC50の前段において等化及び補間を行うことにより、デジタル信号の量子化ノイズを低減することができるため、ADC50に要求される分解能を抑制することができる。その結果、受信回路の面積及び消費電力を低減することができる。また、上記の受信回路を備えた電子装置によれば、同様に受信回路の面積及び消費電力の低減を図ることができる。
According to the receiving circuit according to the first embodiment, by changing the capacitance values of the variable capacitors C0 to C3 in the sample and hold
実施例1において、補間の計算(式3)の際に用いられたパラメータxは、デジタル側に出力されたdnのデータのアイパターンの中心位相の情報を持つパラメータp(eye center phase)によって計算され、x=mod1(2p)になる。具体的には「0≦p<0.5」の場合、補間のデータdnは1つ前のデータdn−1が使用される。また「0.5≦p<1」の場合、補間データdnは今の出力データdn−1が使用される。
すなわち、
dn=Sn−1・p+Sn−2・p+Sn−3・p+Sn−4・p (0≦p<0.5) …(式17)
dn=Sn・p+Sn−1・p+Sn−2・p+Sn−3・p (0.5≦p<1) …(式18)
となる。
In the first embodiment, the parameter x used in the calculation of the interpolation (Equation 3) is determined by the parameter p (eye center phase) having information on the center phase of the eye pattern of the dn data output to the digital side. And x = mod1 (2p). Specifically, in the case of “0 ≦ p <0.5”, the previous data d n−1 is used as the interpolation data d n . In the case of "0.5 ≦ p <1", the interpolation data d n now output data d n-1 is used.
That is,
d n = S n-1 · p + S n-2 · p + S n-3 · p + S n-4 · p (0 ≦ p <0.5) ... ( Equation 17)
d n = S n · p + S n-1 · p + S n-2 · p + S n-3 · p (0.5 ≦ p <1) ... ( Equation 18)
It becomes.
図8は、サンプリングクロックの切り替え回路の構成を示す図である。図8(a)はサンプリングクロックを切り替える場合の構成を、図8(b)はサンプルホールド部34の出力を切り替える場合の構成をそれぞれ示す。図8(a)では、制御信号P_controlによりサンプリングクロックの切り替えを行っている。補間パラメータpが「0≦p<0.5」である場合、クロック信号は1つ前の信号である「Clk_s[n−1]、Clk_s[n−2]、Clk_s[n−3]、Clk_s[n−4]」が採用される。補間パラメータpが「0.5≦p<1」である場合、クロック信号は現在の信号である「Clk_s[n]、Clk_s[n−1]、Clk_s[n−2]、Clk_s[n−3]」が採用される。
FIG. 8 is a diagram showing a configuration of a sampling clock switching circuit. FIG. 8A shows a configuration when the sampling clock is switched, and FIG. 8B shows a configuration when the output of the
図8(b)では、サンプルホールド部34のn番目の出力であるdnと、n−1番目の出力であるdn−1の出力先を、制御信号P−contorolにより制御している。補間パラメータpが「0≦p<0.5」である場合、dnはn番目のADCであるADCnに接続され、dn−1はn−1番目のADCであるADCn−1に接続される。補間パラメータpが「0.5≦p<1」である場合、dnはn−1番目のADCであるADCn−1に接続される。
In FIG. 8 (b), and d n is the n th output of the
以上のように、補間パラメータpの値に基づき、データの演算を必要に応じて1クロック分ずらすことにより、より精度の高い補間処理を行うことができる。 As described above, based on the value of the interpolation parameter p, a more accurate interpolation process can be performed by shifting the data operation by one clock as necessary.
実施例2は、等化及び補間の演算を電流により行う例である。 The second embodiment is an example in which equalization and interpolation calculations are performed using current.
図9は、実施例2に係る受信回路の詳細構成を示す図である。図9(a)はサンプルホールド回路30の構成を、図9(b)は電流供給回路(MOSバンクMB)及び電流制御回路80の詳細な構成を示す。実施例2に係るサンプルホールド回路30は、実施例1と異なりgmセル32を含まない。代わりに、入力端子に接続されたノードN1には差動プラス信号Vinpが、ノードN2には差動マイナス信号Vinnがそれぞれ入力されている。ノードN1には、サンプリングスイッチSWs0及びSWS1が並列に接続され、さらにこれらのスイッチに対し、ホールドスイッチSWh0及びSWh1がそれぞれ直列に接続されている。サンプリングスイッチSWs0(SWs1)とホールドスイッチSWh0(SWh1)との間のノードとグランドとの間には、リセットスイッチSWr0(SWr1)が接続されている。サンプリングスイッチSWs0(SWs1)とホールドスイッチSWh0(SWh1)との間のノードとグランドとの間には、信号をホールドするためのキャパシタCh0(Ch1)が接続されている。
FIG. 9 is a diagram illustrating a detailed configuration of the receiving circuit according to the second embodiment. 9A shows the configuration of the sample and hold
また、ノードN2には、サンプリングスイッチSWs2及びSWS3が並列に接続され、さらにこれらのスイッチに対し、ホールドスイッチSWh2及びSWh3がそれぞれ直列に接続されている。サンプリングスイッチSWs2(SWs3)とホールドスイッチSWh2(SWh3)との間のノードとグランドとの間には、リセットスイッチSWr2(SWr3)が接続されている。サンプリングスイッチSWs2(SWs3)とホールドスイッチSWh2(SWh3)との間のノードとグランドとの間には、信号をホールドするためのキャパシタCh2(Ch3)が接続されている。 Further, sampling switches SWs2 and SWS3 are connected in parallel to the node N2, and hold switches SWh2 and SWh3 are connected in series to these switches. A reset switch SWr2 (SWr3) is connected between a node between the sampling switch SWs2 (SWs3) and the hold switch SWh2 (SWh3) and the ground. A capacitor Ch2 (Ch3) for holding a signal is connected between the node between the sampling switch SWs2 (SWs3) and the hold switch SWh2 (SWh3) and the ground.
ホールドスイッチSWh0〜SWh3の出力は、それぞれ電流供給回路に対応してよいMOSバンクMBへと接続されている。MOSバンクMBは、並列に接続されたpMOSトランジスタを含み、各トランジスタのゲート端子にホールドスイッチSWh0〜SWh3の出力が入力されている。MOSバンクMBのドレイン側は、電流制御回路80を介して電源線Vddに接続されている。また、ホールドスイッチSWh0〜SWh3とMOSバンクMBとの間のノードと電源線Vddとの間には、ホールドスイッチSWhd0〜SWhd3が設けられている。各MOSバンクMBの出力は、共通のノードN3において合流し、出力端子(data)へと接続されている。
The outputs of the hold switches SWh0 to SWh3 are connected to MOS banks MB that may correspond to current supply circuits, respectively. The MOS bank MB includes pMOS transistors connected in parallel, and the outputs of the hold switches SWh0 to SWh3 are input to the gate terminals of the transistors. The drain side of the MOS bank MB is connected to the power supply line Vdd via the
電流制御回路80には、重み付け回路としてのエンコーダ76から制御信号n0〜n3が入力される。制御信号n0〜n3は、電流制御回路80(及びMOSバンクMB)の供給する電流量を変化させるための信号であり、当該電流量を変化させることで、入力信号(Sn−3〜Sn)への重み付けを行うことができる。図9(b)に示すように、MOSバンクMB0〜MB3は、電源線Vddと出力端子Outとの間に並列に接続された複数のスイッチSWを含む。スイッチSWのオン、オフの切り替えは、制御信号n(n0〜n3)により行われる。制御信号nに対応したスイッチSWがオンになることで、MOSバンクMBに供給される電流量が変化する。
Control signals n0 to n3 are input to the
図10は、実施例2に係る受信回路の動作を示す図である。最初に、リセットモードにおいては、クロック信号Clk_r及びClk_hdがハイレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3及びホールドスイッチSWhd0〜SWhd3がオン状態となる。これにより、キャパシタC0〜C3が所定の値(初期値)に充電される。次に、サンプリングモードにおいては、リセットクロック信号Clk_rがローレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3がオフ状態となる。また、サンプリングクロックClk_s[n−3]〜Clk_s[n]が順番に一定期間だけハイレベルとなり、サンプリングスイッチSWs0〜SWs3が一時的にオン状態となる。この間、入力端子からキャパシタC0〜C3への充電が行われ、キャパシタC0〜C3の入力端子側のノードの電位が上昇する。 FIG. 10 is a diagram illustrating the operation of the receiving circuit according to the second embodiment. First, in the reset mode, the clock signals Clk_r and Clk_hd are at a high level, and the reset switches SWr0 to SWr3 and the hold switches SWhd0 to SWhd3 are turned on. Thereby, the capacitors C0 to C3 are charged to a predetermined value (initial value). Next, in the sampling mode, the reset clock signal Clk_r becomes a low level, and the reset switches SWr0 to SWr3 are turned off. Further, the sampling clocks Clk_s [n-3] to Clk_s [n] are sequentially set to a high level for a certain period, and the sampling switches SWs0 to SWs3 are temporarily turned on. During this time, the capacitors C0 to C3 are charged from the input terminal, and the potential of the node on the input terminal side of the capacitors C0 to C3 rises.
サンプリングモードに続く等化・補間モードでは、クロック信号Clk_hがハイレベルとなり、ホールドスイッチSWh0〜SWh3がオン状態となる。また、クロック信号Clk_r及びクロック信号Clk_hdがローレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3及びホールドスイッチSWh0〜SWh3がオフ状態となる。これにより、各MOSバンクMB0〜MB3から供給された電流がノードN3において足し合わされ、等化及び補間が完了したデータdnが出力される。その後、等化・補間モードの後半になると、ADC50へ供給されるクロック信号ADC_sampがハイレベルとなり、ADC50が駆動するADCラッチモードとなる。これにより、等化・補間が完了した信号データが、ADC50によりデジタルデータへと変換される。
In the equalization / interpolation mode following the sampling mode, the clock signal Clk_h is at a high level, and the hold switches SWh0 to SWh3 are turned on. Further, the clock signal Clk_r and the clock signal Clk_hd become low level, and the reset switches SWr0 to SWr3 and the hold switches SWh0 to SWh3 are turned off. Thus, current supplied from the MOS bank MB0~MB3 is summed at node N3, the data d n which equalization and interpolation has been completed is outputted. Thereafter, in the latter half of the equalization / interpolation mode, the clock signal ADC_samp supplied to the
実施例2に係る電子回路によれば、実施例1と同じくADC回路の前段において等化及び補間を行うことで、受信回路の面積及び消費電力を低減することができる。 According to the electronic circuit according to the second embodiment, the area and power consumption of the receiving circuit can be reduced by performing equalization and interpolation in the previous stage of the ADC circuit as in the first embodiment.
実施例3は、等化及び補間の演算を電圧により行う例である。 The third embodiment is an example in which equalization and interpolation calculations are performed using voltages.
図11は、実施例3に係る受信回路の詳細構成を示す図である。図11(a)はサンプルホールド回路30の構成を、図11(b)は可変キャパシタC0〜C3の詳細な構成を示す。実施例3に係るサンプルホールド回路30は、実施例1と異なりgmセル32を含まない。代わりに、入力端子に接続されたノードN1には差動プラス信号Vinpが、ノードN2には差動マイナス信号Vinnがそれぞれ入力されている。ノードN1には、サンプリングスイッチSWs0及びSWS1が並列に接続されている。さらにこれらのスイッチに対し、可変キャパシタC0及びホールドスイッチSWhd0、並びに可変キャパシタC1及びホールドスイッチSWhd1がそれぞれ直列に接続されている。可変キャパシタC0(C1)及びホールドスイッチSWh0(SWh1)の間のノードとグランドとの間には、リセットスイッチSWr0(SWr1)が接続されている。サンプリングスイッチSWs0(SWs1)とホールドスイッチSWh0(SWh1)との間のノードとグランドとの間には、信号をホールドするためのキャパシタC0(C1)が接続されている。
FIG. 11 is a diagram illustrating a detailed configuration of the receiving circuit according to the third embodiment. FIG. 11A shows the configuration of the sample and hold
また、ノードN2には、サンプリングスイッチSWs2及びSWS3が並列に接続されている。さらにこれらのスイッチに対し、可変キャパシタC2及びホールドスイッチSWhd2、並びに可変キャパシタC3及びホールドスイッチSWhd3がそれぞれ直列に接続されている。可変キャパシタC2(C3)及びホールドスイッチSWh2(SWh3)の間のノードとグランドとの間には、リセットスイッチSWr2(SWr3)が接続されている。サンプリングスイッチSWs2(SWs3)とホールドスイッチSWh2(SWh3)との間のノードとグランドとの間には、信号をホールドするためのキャパシタC2(C3)が接続されている。 Also, sampling switches SWs2 and SWS3 are connected in parallel to the node N2. Further, a variable capacitor C2 and a hold switch SWhd2, and a variable capacitor C3 and a hold switch SWhd3 are connected in series to these switches. A reset switch SWr2 (SWr3) is connected between a node between the variable capacitor C2 (C3) and the hold switch SWh2 (SWh3) and the ground. A capacitor C2 (C3) for holding a signal is connected between the node between the sampling switch SWs2 (SWs3) and the hold switch SWh2 (SWh3) and the ground.
ホールドスイッチSWh0〜SWh3の出力は、共通のノードN3において合流し、ノードN3の後段に設けられた差動アンプ82の逆相入力端子に入力されている。差動アンプ82の正相入力端子は接地されている。また、差動アンプ82の出力端子は、可変キャパシタC0〜C3とサンプリングスイッチSWs0〜SWs3との間のそれぞれのノードに、ホールドスイッチSWh0〜SWh3を介して接続されている。
The outputs of the hold switches SWh0 to SWh3 merge at the common node N3 and are input to the negative phase input terminal of the
可変キャパシタC0〜C3の構成は、実施例1と同様である。可変キャパシタC0〜C3には、重み付け回路としてのエンコーダ76から制御信号n0〜n3が入力される。制御信号n0〜n3は、可変キャパシタC0〜C3の容量値を変化させるための信号であり、当該容量値を変化させることで、入力信号(Sn−3〜Sn)への重み付けを行うことができる。
The configuration of the variable capacitors C0 to C3 is the same as that of the first embodiment. Control signals n0 to n3 are input to the variable capacitors C0 to C3 from an
図12は、実施例3に係る受信回路の動作を示す図である。最初に、リセットモードにおいては、クロック信号Clk_rがハイレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3がオン状態となる。これにより、キャパシタC0〜C3が所定の値(初期値)に充電される。次に、サンプリングモードにおいては、リセットクロック信号Clk_rがローレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3がオフ状態となる。また、クロック信号Clk_hがハイレベルとなり、ホールドスイッチSWhd0〜SWhd3がオフ状態となる。さらに、サンプリングクロックClk_s[n−3]〜Clk_s[n]が順番に一定期間だけハイレベルとなり、サンプリングスイッチSWs0〜SWs3が一時的にオン状態となる。この間、入力端子からキャパシタC0〜C3への充電が行われ、キャパシタC0〜C3の入力端子側のノードの電位が上昇する。 FIG. 12 is a diagram illustrating the operation of the receiving circuit according to the third embodiment. First, in the reset mode, the clock signal Clk_r becomes high level, and the reset switches SWr0 to SWr3 are turned on. Thereby, the capacitors C0 to C3 are charged to a predetermined value (initial value). Next, in the sampling mode, the reset clock signal Clk_r becomes a low level, and the reset switches SWr0 to SWr3 are turned off. Further, the clock signal Clk_h becomes a high level, and the hold switches SWhd0 to SWhd3 are turned off. Further, the sampling clocks Clk_s [n-3] to Clk_s [n] are sequentially set to a high level for a certain period, and the sampling switches SWs0 to SWs3 are temporarily turned on. During this time, the capacitors C0 to C3 are charged from the input terminal, and the potential of the node on the input terminal side of the capacitors C0 to C3 rises.
サンプリングモードに続く等化・補間モードでは、クロック信号Clk_hnがハイレベルとなり、ホールドスイッチSWh0〜SWh3及びSWhd0〜SWhd3がオン状態となる。これにより、可変キャパシタC0〜C3の入力端子側の電圧が、オン状態となったホールドスイッチSWh0〜SWh3を介して差動アンプ82の出力端子へと供給される。このとき、各キャパシタC0〜C3からの出力が共通のノードで合流するため、実施例1と同様に重み付けされた出力(電圧)を合計して出力することができる。
In the equalization / interpolation mode following the sampling mode, the clock signal Clk_hn is at a high level, and the hold switches SWh0 to SWh3 and SWhd0 to SWhd3 are turned on. As a result, the voltage on the input terminal side of the variable capacitors C0 to C3 is supplied to the output terminal of the
実施例3に係る電子回路によれば、実施例1〜2と同じくADC回路の前段において等化及び補間を行うことで、受信回路の面積及び消費電力を低減することができる。 According to the electronic circuit according to the third embodiment, the area and power consumption of the receiving circuit can be reduced by performing equalization and interpolation in the previous stage of the ADC circuit as in the first and second embodiments.
実施例4は、サンプルホールド回路を前段と後段に分割した例である。 The fourth embodiment is an example in which the sample and hold circuit is divided into a front stage and a rear stage.
図13は、実施例4に係る受信回路の構成を示す図である。前段部分の等化回路90の構成は、実施例1(図5)とほぼ同じであるため、同一の符号を付して詳細な説明を省略する。実施例1と異なり、等化回路90は4入力2出力の回路となっている。このため、可変キャパシタC0及びC2の出力端子が共通のノードN3に接続され、C1及びC3の出力端子が共通のノードN4に接続されている。ノードN3は後段のgmセル32bに、ノードN4は後段のgmセル32cにそれぞれ接続されている。また、ノードN3及びgmセル32bの間のノードとグランドとの間には、ホールドスイッチSWhbが設けられおり、ノードN4及びgmセル32cの間のノードとグランドとの間には、ホールドスイッチSWhcが設けられている。
FIG. 13 is a diagram illustrating the configuration of the receiving circuit according to the fourth embodiment. Since the configuration of the
gmセル32bの出力端子には可変キャパシタC4が、gmセル32cの出力端子には可変キャパシタC5がそれぞれ接続されている。可変キャパシタC4及びC5の出力端子は、共通のノードN5へと接続されている。ノードN5の電位が最終的なサンプルホールド回路30の出力となる。また、ノードN5とグランドとの間には、ホールドスイッチSWhが接続されている。
The variable capacitor C4 is connected to the output terminal of the
実施例4に係る受信回路の動作は、実施例1で説明したものと同様である。すなわち、リセットモードにおいて可変キャパシタC0〜C3(C4〜C5)を充電し、サンプリングモードにおいて充電された電荷をgmセル32a(32b、32c)へと放電する。そして、等化・補間モードにおいて、各可変キャパシタC0〜C3(C4〜C5)に蓄えられた電荷を、重み付けした後に合成し、出力する。
The operation of the receiving circuit according to the fourth embodiment is the same as that described in the first embodiment. That is, the variable capacitors C0 to C3 (C4 to C5) are charged in the reset mode, and the charges charged in the sampling mode are discharged to the
ここで、実施例4に係る受信回路では、可変キャパシタC0〜C5に入力される制御信号が実施例1と異なる。すなわち、実施例4では、可変キャパシタC0及びC1に「y−1」を、可変キャパシタC2及びC3に「y」を、可変キャパシタC4に「x」を、可変キャパシタC5に「1−x」をそれぞれ入力する。これにより、受信回路の前段部である等化回路90では、式1及び式2に示した等化処理のみが行われ、受信回路の後段部である補間回路92では、式3に示した補間処理のみが行われる。
Here, in the receiving circuit according to the fourth embodiment, the control signal input to the variable capacitors C0 to C5 is different from that of the first embodiment. That is, in the fourth embodiment, “y−1” is set to the variable capacitors C0 and C1, “y” is set to the variable capacitors C2 and C3, “x” is set to the variable capacitor C4, and “1-x” is set to the variable capacitor C5. Enter each. As a result, the
実施例4に係る電子回路によれば、実施例1〜2と同じくADC回路の前段において等化及び補間を行うことで、受信回路の面積及び消費電力を低減することができる。なお、等化・補間の演算に電流を用いる場合(実施例2)や、電圧を用いる場合(実施例3)においても、実施例4のようにサンプルホールド回路30を前段部と後段部とに分け、等化及び補間を別々に行ってもよい。
According to the electronic circuit according to the fourth embodiment, the area and power consumption of the receiving circuit can be reduced by performing equalization and interpolation in the previous stage of the ADC circuit as in the first and second embodiments. Even when current is used for equalization / interpolation calculation (Example 2) or when voltage is used (Example 3), the sample-and-
以上説明した実施例に関連し、以下の付記を開示する。
(付記1)
受信データを異なるタイミングでサンプリングする複数のサンプリング回路と、前記複数のサンプリング回路によりサンプリングされたそれぞれのデータを保持する複数のホールド回路と、前記複数のホールド回路からの出力に基づき、前記入力信号の等化及び補間の度合いを決定するためのパラメータを算出するパラメータ算出回路と、前記パラメータ算出回路により算出されたパラメータに基づき、前記複数のホールド回路のそれぞれの出力に対し重み付けを行う重み付け回路と、前記重み付け回路により重み付けが行われた前記ホールド回路の出力データを合成して出力する出力回路と、を備えることを特徴とする受信回路。
(付記2)
前記ホールド回路は、前記ホールド回路の入力端子と出力端子との間に接続された可変キャパシタを含み、前記重み付け回路は、前記パラメータ算出回路により算出されたパラメータに基づき、前記可変キャパシタの容量値を変化させることを特徴とする付記1に記載の受信回路。
(付記3)
前記ホールド回路の後段に接続された差動アンプを備え、前記差動アンプの出力端子は、前記可変キャパシタの前段のノードに接続されていることを特徴とする付記2に記載の受信回路。
(付記4)
前記ホールド回路は、一端が前記ホールド回路の入力端子に接続され、他端が第1電源に接続されたキャパシタと、ゲートが前記ホールド回路の入力端子に接続され、ソースまたはドレインの一方が前記ホールド回路の出力端子に接続され、他方が第2電源に接続されたトランジスタとを含み、前記重み付け回路は、前記パラメータ算出回路により算出されたパラメータに基づき、前記第2電源から前記トランジスタに供給される電流量を変化させることを特徴とする付記1に記載の受信回路。
(付記5)
付記1〜4のいずれかに記載の受信回路と、前記受信回路の後段に接続されたアナログデジタル変換回路とを備えることを特徴とする電子装置。
(付記6)
前記ホールド回路の出力に対する重み付けは、電荷・電流・電圧のいずれかの方法によるものであることを特徴とする付記1に記載の受信回路。
(付記7)
前記複数のサンプリング回路には、差動プラス信号及び差動マイナス信号がそれぞれ入力され、前記差動プラス信号が入力された前記サンプリング回路の出力と、前記差動マイナス信号が入力された前記サンプリング回路の出力と加算することにより、データの減算を可能としたことを特徴とする付記1に記載の受信回路。
(付記8)
補間対象となるデータの位置を示す補間パラメータに基づいて、前記サンプリング回路において使用されるサンプリングクロックを少なくともクロック変化させる切り替え手段を備えることを特徴とする付記1に記載の受信回路。
In connection with the embodiment described above, the following supplementary notes are disclosed.
(Appendix 1)
A plurality of sampling circuits that sample received data at different timings, a plurality of hold circuits that hold the respective data sampled by the plurality of sampling circuits, and outputs from the plurality of hold circuits, A parameter calculation circuit for calculating a parameter for determining the degree of equalization and interpolation; a weighting circuit for weighting each output of the plurality of hold circuits based on the parameter calculated by the parameter calculation circuit; An output circuit for combining and outputting the output data of the hold circuit weighted by the weighting circuit;
(Appendix 2)
The hold circuit includes a variable capacitor connected between an input terminal and an output terminal of the hold circuit, and the weighting circuit calculates a capacitance value of the variable capacitor based on a parameter calculated by the parameter calculation circuit. The receiving circuit according to
(Appendix 3)
The receiving circuit according to
(Appendix 4)
The hold circuit has one end connected to the input terminal of the hold circuit, the other end connected to the first power supply, a gate connected to the input terminal of the hold circuit, and one of the source or drain being the hold A transistor connected to an output terminal of the circuit and the other connected to a second power supply, and the weighting circuit is supplied from the second power supply to the transistor based on a parameter calculated by the parameter calculation circuit The receiving circuit according to
(Appendix 5)
An electronic apparatus comprising: the receiving circuit according to any one of
(Appendix 6)
The receiving circuit according to
(Appendix 7)
The plurality of sampling circuits are each input with a differential plus signal and a differential minus signal, the output of the sampling circuit to which the differential plus signal is inputted, and the sampling circuit to which the differential minus signal is inputted The receiving circuit according to
(Appendix 8)
The receiving circuit according to
以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明は係る特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。 Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited to such specific embodiments, and various modifications and changes can be made within the scope of the gist of the present invention described in the claims. It can be changed.
10 CPU
20 高速入出力回路
30 サンプルホールド回路
32 gmセル
34 サンプルホールド部
40 クロック生成回路
50 アナログデジタル変換回路(ADC)
60 デジタル信号処理回路
70 等化制御回路
72 位相検出回路
74 フィルタ
76 エンコーダ
80 電流制御回路
82 差動アンプ
SWs サンプリングスイッチ
SWr リセットスイッチ
SWh ホールドスイッチ
C キャパシタ
MB MOSバンク
10 CPU
20 High-speed input /
60 Digital
Claims (5)
前記複数のサンプリング回路によりサンプリングされたそれぞれのデータを保持する複数のホールド回路と、
前記複数のホールド回路からの出力に基づき、前記入力信号の等化及び補間の度合いを決定するためのパラメータを算出するパラメータ算出回路と、
前記パラメータ算出回路により算出されたパラメータに基づき、前記複数のホールド回路のそれぞれの出力に対し重み付けを行う重み付け回路と、
前記重み付け回路により重み付けが行われた前記ホールド回路の出力データを合成して出力する出力回路と、
を備えることを特徴とする受信回路。 A plurality of sampling circuits for sampling received data at different timings;
A plurality of hold circuits for holding the respective data sampled by the plurality of sampling circuits;
A parameter calculation circuit that calculates a parameter for determining the degree of equalization and interpolation of the input signal based on outputs from the plurality of hold circuits;
A weighting circuit for weighting each output of the plurality of hold circuits based on the parameters calculated by the parameter calculation circuit;
An output circuit for combining and outputting the output data of the hold circuit weighted by the weighting circuit;
A receiving circuit comprising:
前記重み付け回路は、前記パラメータ算出回路により算出されたパラメータに基づき、前記可変キャパシタの容量値を変化させることを特徴とする請求項1に記載の受信回路。 The hold circuit includes a variable capacitor connected between an input terminal and an output terminal of the hold circuit;
The receiving circuit according to claim 1, wherein the weighting circuit changes a capacitance value of the variable capacitor based on the parameter calculated by the parameter calculation circuit.
前記差動アンプの出力端子は、前記可変キャパシタの前段のノードに接続されていることを特徴とする請求項2に記載の受信回路。 A differential amplifier connected to the subsequent stage of the hold circuit;
The receiving circuit according to claim 2, wherein an output terminal of the differential amplifier is connected to a preceding node of the variable capacitor.
一端が前記ホールド回路の入力端子に接続され、他端が第1電源に接続されたキャパシタと、
ゲートが前記ホールド回路の入力端子に接続され、ソースまたはドレインの一方が前記ホールド回路の出力端子に接続され、他方が第2電源に接続されたトランジスタとを含み、
前記重み付け回路は、前記パラメータ算出回路により算出されたパラメータに基づき、前記第2電源から前記トランジスタに供給される電流量を変化させることを特徴とする請求項1に記載の受信回路。 The hold circuit is
A capacitor having one end connected to the input terminal of the hold circuit and the other end connected to a first power source;
A transistor having a gate connected to an input terminal of the hold circuit, one of a source and a drain connected to an output terminal of the hold circuit, and the other connected to a second power source;
The receiving circuit according to claim 1, wherein the weighting circuit changes the amount of current supplied from the second power source to the transistor based on the parameter calculated by the parameter calculation circuit.
前記受信回路の後段に接続されたアナログデジタル変換回路とを備えることを特徴とする電子装置。 A receiving circuit according to any one of claims 1 to 4,
An electronic apparatus comprising: an analog-digital conversion circuit connected to a subsequent stage of the receiving circuit.
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Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013229755A (en) * | 2012-04-25 | 2013-11-07 | Fujitsu Ltd | Interpolation circuit and reception circuit |
US8823564B2 (en) | 2012-03-07 | 2014-09-02 | Asahi Kasei Microdevices Corporation | Sampling circuit, A/D converter, D/A converter, and codec |
JP2014187527A (en) * | 2013-03-22 | 2014-10-02 | Fujitsu Ltd | Receiver circuit and control method therefor |
JP2014187652A (en) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | Fujitsu Ltd | Reception circuit and communication circuit |
JP2014217040A (en) * | 2013-04-30 | 2014-11-17 | 富士通株式会社 | Interpolation circuit and reception circuit |
US8917196B2 (en) | 2012-01-24 | 2014-12-23 | Asahi Kasei Microdevices Corporation | Sampling circuit, A/D converter, D/A converter, and CODEC |
US8994408B2 (en) | 2013-04-30 | 2015-03-31 | Fujitsu Limited | Electronic circuit |
JP2015076811A (en) * | 2013-10-10 | 2015-04-20 | 富士通株式会社 | Receiver and data interpolation method |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0279613A (en) * | 1988-09-16 | 1990-03-20 | Fujitsu Ltd | Automatic equalizer |
JPH0730779A (en) * | 1993-07-12 | 1995-01-31 | Sony Corp | Transmitted signal receiver |
JP2002025203A (en) * | 2000-07-13 | 2002-01-25 | Fujitsu Ltd | Method and device for demodulation |
JP2002263104A (en) * | 2001-02-27 | 2002-09-17 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ultrasonic diagnostic device |
WO2006100981A1 (en) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Nec Corporation | Information recording medium, information reproducing device, and information reproducing method |
WO2009158537A1 (en) * | 2008-06-25 | 2009-12-30 | Qualcomm Incorporated | Discrete time multi-rate analog filter |
-
2011
- 2011-01-07 JP JP2011001883A patent/JP5678672B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0279613A (en) * | 1988-09-16 | 1990-03-20 | Fujitsu Ltd | Automatic equalizer |
JPH0730779A (en) * | 1993-07-12 | 1995-01-31 | Sony Corp | Transmitted signal receiver |
JP2002025203A (en) * | 2000-07-13 | 2002-01-25 | Fujitsu Ltd | Method and device for demodulation |
JP2002263104A (en) * | 2001-02-27 | 2002-09-17 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ultrasonic diagnostic device |
WO2006100981A1 (en) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Nec Corporation | Information recording medium, information reproducing device, and information reproducing method |
WO2009158537A1 (en) * | 2008-06-25 | 2009-12-30 | Qualcomm Incorporated | Discrete time multi-rate analog filter |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8917196B2 (en) | 2012-01-24 | 2014-12-23 | Asahi Kasei Microdevices Corporation | Sampling circuit, A/D converter, D/A converter, and CODEC |
US8823564B2 (en) | 2012-03-07 | 2014-09-02 | Asahi Kasei Microdevices Corporation | Sampling circuit, A/D converter, D/A converter, and codec |
JP2013229755A (en) * | 2012-04-25 | 2013-11-07 | Fujitsu Ltd | Interpolation circuit and reception circuit |
JP2014187527A (en) * | 2013-03-22 | 2014-10-02 | Fujitsu Ltd | Receiver circuit and control method therefor |
JP2014187652A (en) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | Fujitsu Ltd | Reception circuit and communication circuit |
JP2014217040A (en) * | 2013-04-30 | 2014-11-17 | 富士通株式会社 | Interpolation circuit and reception circuit |
US8994408B2 (en) | 2013-04-30 | 2015-03-31 | Fujitsu Limited | Electronic circuit |
US9165166B2 (en) | 2013-04-30 | 2015-10-20 | Fujitsu Limited | Interpolation circuit and receiving circuit |
JP2015076811A (en) * | 2013-10-10 | 2015-04-20 | 富士通株式会社 | Receiver and data interpolation method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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