JP2012147079A - Reception circuit and electronic apparatus - Google Patents

Reception circuit and electronic apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP2012147079A
JP2012147079A JP2011001883A JP2011001883A JP2012147079A JP 2012147079 A JP2012147079 A JP 2012147079A JP 2011001883 A JP2011001883 A JP 2011001883A JP 2011001883 A JP2011001883 A JP 2011001883A JP 2012147079 A JP2012147079 A JP 2012147079A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
hold
sampling
output
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011001883A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5678672B2 (en
Inventor
Kaigun Rin
海軍 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2011001883A priority Critical patent/JP5678672B2/en
Publication of JP2012147079A publication Critical patent/JP2012147079A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5678672B2 publication Critical patent/JP5678672B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the area and power consumption of a reception circuit in an electronic apparatus.SOLUTION: The reception circuit includes: a plurality of sampling circuits (SWs) for sampling received data at different timings; a plurality of hold circuits (C) for holding the respective data sampled by the plurality of sampling circuits; parameter calculation circuits (70, 72, 74) for calculating parameters for determining the degree of equalization and interpolation of the input signal in accordance with outputs from the plurality of hold circuits; a weighting circuit (76) for weighting the outputs of the plurality of hold circuits according to the parameters calculated by the parameter calculation circuits; and an output circuit (N3) for combining and outputting the output data from the hold circuits weighted by the weighting circuit.

Description

本発明は、受信回路及びそれを含む電子装置に関する。   The present invention relates to a receiving circuit and an electronic device including the receiving circuit.

高速データ転送が可能な電子装置の受信回路では、伝送線路による信号の劣化を補正するため、入力データの等化及び補間を行うことが知られている。例えば、受信信号をGmセルにより電圧信号から電流信号に変換し、2つのGmセルの異なるタイミングの出力同士を引き算することにより、アナログデジタル変換回路(ADC:Analog Digital Converter)の前段において、データの等化を行う方法が知られている。また、アナログデジタル変換回路の後段において、デジタル信号処理によりデータの補間を行う方法が知られている。   In a receiving circuit of an electronic device capable of high-speed data transfer, it is known to perform equalization and interpolation of input data in order to correct signal degradation due to a transmission line. For example, the received signal is converted from a voltage signal to a current signal by the Gm cell, and the outputs at different timings of the two Gm cells are subtracted, so that the data in the previous stage of the analog-to-digital converter (ADC) A method for performing equalization is known. In addition, a method of performing data interpolation by digital signal processing in a subsequent stage of the analog-digital conversion circuit is known.

TinaTahmoureszadeh, Siamak Sarvari, Ali Sheikholeslami, Hirotaka Tamura, YasumotoTomita, Masaya Kibune “A Combined Anti-Aliasing Filter and 2-tap FFE in 65-nmCMOS for 2x Blind 2-10 Gb/s ADC-Based Receivers”TinaTahmoureszadeh, Siamak Sarvari, Ali Sheikholeslami, Hirotaka Tamura, YasumotoTomita, Masaya Kibune “A Combined Anti-Aliasing Filter and 2-tap FFE in 65-nmCMOS for 2x Blind 2-10 Gb / s ADC-Based Receivers”

従来のスイッチ回路では、データの補間を行うための回路が、データの等化を行うための回路とは別にADCの後段に設けられていたため、回路面積が増大してしまう場合があった。また、デジタル信号処理によるデータの補間(及び等化)を行う際の量子化ノイズを抑制するために、高分解能で高速動作が可能なADCが要求され、回路面積や消費電力が増大してしまう場合があった。   In the conventional switch circuit, since the circuit for performing data interpolation is provided after the ADC separately from the circuit for performing data equalization, the circuit area may increase. In addition, in order to suppress quantization noise when performing data interpolation (and equalization) by digital signal processing, an ADC capable of high-resolution and high-speed operation is required, which increases circuit area and power consumption. There was a case.

本発明は上記課題に鑑みなされたものであり、高速データ転送が可能な電子装置における受信回路の面積及び消費電力を低減することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to reduce the area and power consumption of a receiving circuit in an electronic device capable of high-speed data transfer.

本受信回路は、受信データを異なるタイミングでサンプリングする複数のサンプリング回路と、前記複数のサンプリング回路によりサンプリングされたそれぞれのデータを保持する複数のホールド回路と、前記複数のホールド回路からの出力に基づき、前記入力信号の等化及び補間の度合いを決定するためのパラメータを算出するパラメータ算出回路と、前記パラメータ算出回路により算出されたパラメータに基づき、前記複数のホールド回路のそれぞれの出力に対し重み付けを行う重み付け回路と、前記重み付け回路により重み付けが行われた前記ホールド回路の出力データを合成して出力する出力回路と、を備える。また、本電子装置は、上記受信回路と、上記受信回路の後段に接続されたアナログデジタル変換回路とを備える。   The receiving circuit is based on a plurality of sampling circuits that sample received data at different timings, a plurality of hold circuits that hold the respective data sampled by the plurality of sampling circuits, and outputs from the plurality of hold circuits. A parameter calculation circuit for calculating a parameter for determining the degree of equalization and interpolation of the input signal, and a weight for each output of the plurality of hold circuits based on the parameter calculated by the parameter calculation circuit A weighting circuit for performing the output, and an output circuit for combining and outputting the output data of the hold circuit weighted by the weighting circuit. The electronic apparatus includes the receiving circuit and an analog-digital conversion circuit connected to a subsequent stage of the receiving circuit.

本電子回路によれば、電子装置における受信回路の面積及び消費電力を低減することができる。   According to this electronic circuit, the area and power consumption of the receiving circuit in the electronic device can be reduced.

図1は、実施例1に係る電子装置のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of an electronic apparatus according to the first embodiment. 図2は、実施例1に係る受信回路のブロック図である。FIG. 2 is a block diagram of a receiving circuit according to the first embodiment. 図3は、データの等化を説明する図である。FIG. 3 is a diagram for explaining data equalization. 図4は、データの補間を説明する図である。FIG. 4 is a diagram for explaining data interpolation. 図5は、実施例1に係る受信回路の詳細構成を示す図である。FIG. 5 is a diagram illustrating a detailed configuration of the receiving circuit according to the first embodiment. 図6は、実施例1に係る受信回路の動作を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating the operation of the receiving circuit according to the first embodiment. 図7は、電圧の変化を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating changes in voltage. 図8は、サンプリングクロックの切り替え回路の構成を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a configuration of a sampling clock switching circuit. 図9は、実施例2に係る受信回路の詳細構成を示す図である。FIG. 9 is a diagram illustrating a detailed configuration of the receiving circuit according to the second embodiment. 図10は、実施例2に係る受信回路の動作を示す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating the operation of the receiving circuit according to the second embodiment. 図11は、実施例3に係る受信回路の詳細構成を示す図である。FIG. 11 is a diagram illustrating a detailed configuration of the receiving circuit according to the third embodiment. 図12は、実施例3に係る受信回路の動作を示す図である。FIG. 12 is a diagram illustrating the operation of the receiving circuit according to the third embodiment. 図13は、実施例4に係る受信回路の構成を示す図である。FIG. 13 is a diagram illustrating the configuration of the receiving circuit according to the fourth embodiment.

図1は、実施例1に係る電子装置のブロック図である。演算手段としてのCPU(Central Processing Unit)10が複数配置されている。CPU10の周辺には、HSIO(High Speed
Input Output)で示す高速入出力回路20が複数配置されている。高速入出力回路20は、外部の入出力インターフェース(不図示)に接続されており、CPU10と入出力インターフェースとの間で高速のデータ転送を実現する役割を果たす。
FIG. 1 is a block diagram of an electronic apparatus according to the first embodiment. A plurality of CPUs (Central Processing Units) 10 as arithmetic means are arranged. Around the CPU 10, there is an HSIO (High Speed
A plurality of high-speed input / output circuits 20 indicated by “Input Output” are arranged. The high-speed input / output circuit 20 is connected to an external input / output interface (not shown), and plays a role of realizing high-speed data transfer between the CPU 10 and the input / output interface.

図2は、高速入出力回路20内の受信回路のブロック図である。受信された信号(DATA IN)は、サンプルホールド回路30に入力されている。サンプルホールド回路30は、電圧信号を電流信号に変換するためのgmセル32と、データのサンプリング及び保持(ホールド)を行うためのサンプルホールド部34を含む。サンプルホールド部34は、入力チャネルの数だけ複数設けられている。   FIG. 2 is a block diagram of a receiving circuit in the high-speed input / output circuit 20. The received signal (DATA IN) is input to the sample and hold circuit 30. The sample and hold circuit 30 includes a gm cell 32 for converting a voltage signal into a current signal, and a sample and hold unit 34 for sampling and holding (holding) data. A plurality of sample hold units 34 are provided as many as the number of input channels.

サンプルホールド部34は、データのサンプリングに使用されるサンプリングスイッチSWs、回路のリセットに使用されるリセットスイッチSWr、及びこれらのスイッチに接続されたキャパシタバンクCBを含む。サンプルホールド回路30において、入力信号は最初にgmセル32に入力され、電流信号に変換された上でサンプルホールド部34へと出力される。サンプルホールド部34には、CK_Genで示すクロック生成回路40から、各種のクロック信号が入力されている。サンプルホールド回路30の出力データは、それぞれ後段のアナログデジタル変換回路(ADC:Analog digital Converter)50へと入力される。   The sample hold unit 34 includes a sampling switch SWs used for sampling data, a reset switch SWr used for resetting the circuit, and a capacitor bank CB connected to these switches. In the sample and hold circuit 30, the input signal is first input to the gm cell 32, converted into a current signal, and then output to the sample and hold unit 34. Various clock signals are input to the sample hold unit 34 from the clock generation circuit 40 indicated by CK_Gen. The output data of the sample hold circuit 30 is input to an analog digital converter (ADC) 50 in the subsequent stage.

ADC50の出力データは、後段のデジタル信号処理回路60へと入力される。デジタル信号処理回路60は、ADC50によりデジタル信号に変換された受信信号に基づき、各種の演算処理等を実行する。デジタル信号処理回路60の出力データ(DATA OUT)は、受信回路の出力端子から電子装置の内部回路へと出力されるとともに、等化制御回路70及び位相検出回路72に入力されている。   The output data of the ADC 50 is input to the digital signal processing circuit 60 at the subsequent stage. The digital signal processing circuit 60 executes various arithmetic processes based on the received signal converted into a digital signal by the ADC 50. Output data (DATA OUT) of the digital signal processing circuit 60 is output from the output terminal of the receiving circuit to the internal circuit of the electronic device, and is also input to the equalization control circuit 70 and the phase detection circuit 72.

等化制御回路70は、デジタル信号処理回路60の出力データに基づき、受信信号の振幅の理想値からのずれを算出し、これを等化により補正するためのパラメータyを算出する。より詳細には、等化動作はハイパス特性を有するため、パラメータyは、出力データのDCレベルを減少させ、データの帯域に対応するACレベルを適切なところで増幅させるように決定される。位相検出回路72は、デジタル信号処理回路60の出力データに基づき、受信信号のサンプリング位相の理想値からのずれを算出する。位相検出回路72の後段に設けられたフィルタ回路74は、上記のサンプリング位相のずれを補間により補正するためのパラメータxを算出する。より詳細には、補間動作においては、出力されたデータがデジタル回路側が算出していた位相の中心とずれが生じるかどうかが感知され、そのずれを補正するようにパラメータxの値が決定される。等化制御回路70の出力パラメータy及びフィルタ回路74の出力パラメータxは、それぞれエンコーダ76へと入力される。ただし、「0<x,y<1」である。以上のように、等化制御回路70、位相検出回路72、及びフィルタ回路74は、受信回路への入力信号の等化及び補間の度合いを決定するためのパラメータを算出するパラメータ算出回路であってよい。   The equalization control circuit 70 calculates a deviation from the ideal value of the amplitude of the received signal based on the output data of the digital signal processing circuit 60, and calculates a parameter y for correcting this by equalization. More specifically, since the equalization operation has a high-pass characteristic, the parameter y is determined so as to reduce the DC level of the output data and amplify the AC level corresponding to the data band at an appropriate place. The phase detection circuit 72 calculates a deviation from the ideal value of the sampling phase of the received signal based on the output data of the digital signal processing circuit 60. A filter circuit 74 provided at the subsequent stage of the phase detection circuit 72 calculates a parameter x for correcting the sampling phase shift by interpolation. More specifically, in the interpolation operation, it is detected whether or not the output data deviates from the phase center calculated by the digital circuit side, and the value of the parameter x is determined so as to correct the deviation. . The output parameter y of the equalization control circuit 70 and the output parameter x of the filter circuit 74 are input to the encoder 76, respectively. However, “0 <x, y <1”. As described above, the equalization control circuit 70, the phase detection circuit 72, and the filter circuit 74 are parameter calculation circuits that calculate parameters for determining the degree of equalization and interpolation of the input signal to the reception circuit. Good.

エンコーダ76は、等化制御回路70及びフィルタ回路74から与えられたデジタルのパラメータをエンコードし、各サンプルホールド部34のキャパシタバンクCBへと供給する。この信号は、各サンプルホールド部34の出力に対し重み付けを行うための信号であってよく、エンコーダ76は上記重み付けを行うための重み付け回路であってよい。   The encoder 76 encodes the digital parameters given from the equalization control circuit 70 and the filter circuit 74 and supplies the encoded digital parameters to the capacitor bank CB of each sample and hold unit 34. This signal may be a signal for weighting the output of each sample and hold unit 34, and the encoder 76 may be a weighting circuit for performing the weighting.

図3は、データの等化を説明する図である。図3(a)は等化前の信号波形を、図3(b)は等化後の信号波形をそれぞれ示す。図3(a)に示すように、あるタイミングにおけるADC50の出力のデータはd1、d2、d3、d4となっている。d1及びd4は出力のDCレベルを示し、d2及びd3は出力のACレベルを示す。ここで、d2及びd3を代表するACレベルが低いと、データが1であるか0であるかの判別が難しくなる。そこで、等化のハイパス特性を出せるようにパラメータを調整して、d1及びd4を代表するDCレベルの振幅を小さくし、d2及びd3を代表するACレベルの振幅を増幅させることで、1または0の判別をしやすくする。図3(b)に示すように、等化後のデータがd1‘、d2’、d3‘、d4’になるように等化のパラメータ(y)が計算され、サンプルホールド回路30へとフィードバックされる。   FIG. 3 is a diagram for explaining data equalization. FIG. 3A shows a signal waveform before equalization, and FIG. 3B shows a signal waveform after equalization. As shown in FIG. 3A, the output data of the ADC 50 at a certain timing is d1, d2, d3, and d4. d1 and d4 indicate the DC level of the output, and d2 and d3 indicate the AC level of the output. Here, if the AC level representing d2 and d3 is low, it is difficult to determine whether the data is 1 or 0. Therefore, the parameter is adjusted so that the high-pass characteristic of equalization can be obtained, the amplitude of the DC level representative of d1 and d4 is reduced, and the amplitude of the AC level representative of d2 and d3 is amplified to be 1 or 0. Make it easier to distinguish. As shown in FIG. 3B, the equalization parameter (y) is calculated so that the equalized data becomes d1 ′, d2 ′, d3 ′, and d4 ′, and is fed back to the sample and hold circuit 30. The

図4は、データの補間を説明する図である。図4(a)及び図4(b)は補間前の信号波形を示し、図4(a)はデータの位相が遅れている状態を、図4(b)はデータの位相が進んでいる状態をそれぞれ示している。図4(c)は、データの補間後の信号波形を示す。図4(a)では、センター(EC:Edge Center)に対しデータの位相が遅れており、データの判別はd1=0、d2=0、d3=1となり、データが正しく判別されていない。そこで、補間のパラメータを位相が進む方向に調整するため、図4(c)の信号波形となるように補間のパラメータ(x)が計算され、サンプルホールド回路30へとフィードバックされる。同様に、図4(b)では、センター(EC)に対しデータの位相が進んでおり、データの判別はd1=0、d2=1、d3=1となり、データが正しく判別されていない。そこで、補間のパラメータを位相が遅れる方向に調整するため、図4(c)の信号波形となるように補間のパラメータ(x)が計算され、サンプルホールド回路30へとフィードバックされる。   FIG. 4 is a diagram for explaining data interpolation. 4 (a) and 4 (b) show signal waveforms before interpolation, FIG. 4 (a) shows a state in which the data phase is delayed, and FIG. 4 (b) shows a state in which the data phase is advanced. Respectively. FIG. 4C shows a signal waveform after data interpolation. In FIG. 4A, the phase of data is delayed with respect to the center (EC: Edge Center), and the data discrimination is d1 = 0, d2 = 0, d3 = 1, and the data is not correctly discriminated. Therefore, in order to adjust the interpolation parameter in the direction in which the phase advances, the interpolation parameter (x) is calculated so as to obtain the signal waveform of FIG. 4C and fed back to the sample hold circuit 30. Similarly, in FIG. 4B, the data phase is advanced with respect to the center (EC), and the data discrimination is d1 = 0, d2 = 1, d3 = 1, and the data is not correctly discriminated. Therefore, in order to adjust the interpolation parameter in the direction in which the phase is delayed, the interpolation parameter (x) is calculated so as to obtain the signal waveform of FIG. 4C and fed back to the sample hold circuit 30.

図5は、実施例1に係る受信回路の詳細構成を示す図である。図5(a)はサンプルホールド回路30の構成を、図5(b)は可変キャパシタ(キャパシタバンクCB)の詳細な構成を示す。図2と共通の構成については同一の符号を付し、詳細な説明を省略する。gmセル32には、差動プラス信号Vinp及び差動マイナス信号Vinnが入力されている。gmセル32の差動プラス信号Vinp側の出力端子をノードN1、差動マイナス信号Vinn側の出力端子をノードN2とする。ノードN1には、サンプリングスイッチSWs0及びSWS1が並列に接続され、さらにこれらのスイッチに対し、可変キャパシタC0及びC1がそれぞれ直列に接続されている。サンプリングスイッチSWs0(SWs1)と可変キャパシタC0(C1)との間のノードと電源電圧Vddとの間には、リセットスイッチSWr0(SWr1)が接続されている。ノードN2には、サンプリングスイッチSWs2及びSWS3が並列に接続され、さらにサンプリングスイッチSWs2及びSWS3に対し、可変キャパシタC2及びC3がそれぞれ直列に接続されている。サンプリングスイッチSWs2(SWs3)と可変キャパシタC2(C3)との間のノードと電源電圧Vddとの間には、リセットスイッチSWr2(SWr3)が接続されている。   FIG. 5 is a diagram illustrating a detailed configuration of the receiving circuit according to the first embodiment. 5A shows the configuration of the sample and hold circuit 30, and FIG. 5B shows the detailed configuration of the variable capacitor (capacitor bank CB). The same components as those in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted. A differential plus signal Vinp and a differential minus signal Vinn are input to the gm cell 32. An output terminal on the differential plus signal Vinp side of the gm cell 32 is a node N1, and an output terminal on the differential minus signal Vinn side is a node N2. Sampling switches SWs0 and SWS1 are connected in parallel to the node N1, and variable capacitors C0 and C1 are connected in series to these switches. A reset switch SWr0 (SWr1) is connected between a node between the sampling switch SWs0 (SWs1) and the variable capacitor C0 (C1) and the power supply voltage Vdd. Sampling switches SWs2 and SWS3 are connected in parallel to the node N2, and variable capacitors C2 and C3 are connected in series to the sampling switches SWs2 and SWS3, respectively. A reset switch SWr2 (SWr3) is connected between the node between the sampling switch SWs2 (SWs3) and the variable capacitor C2 (C3) and the power supply voltage Vdd.

サンプリングスイッチSWs0〜SWs3は、受信データを異なるタイミングでサンプリングするためのサンプリング回路であってよい。可変キャパシタC0〜C3は、サンプリングスイッチSWs0〜SWs3によりサンプリングされたそれぞれのデータを保持するホールド回路であってよい。各サンプリングスイッチSWs0〜SWs3からは、それぞれタイミングの異なる信号(S、Sn−1、Sn−2、Sn−3)が入力される。S及びSn−1は差動プラス信号であり、Sn−3及びSn−2は差動マイナス信号である。 The sampling switches SWs0 to SWs3 may be sampling circuits for sampling received data at different timings. The variable capacitors C0 to C3 may be hold circuits that hold the respective data sampled by the sampling switches SWs0 to SWs3. Signals (S n , S n-1 , S n-2 , S n-3 ) having different timings are input from the sampling switches SWs0 to SWs3. S n and S n−1 are differential plus signals, and S n−3 and S n−2 are differential minus signals.

可変キャパシタC0〜C3には、重み付け回路としてのエンコーダ76から制御信号n0〜n3が入力される。制御信号n0〜n3は、可変キャパシタC0〜C3の容量値を変化させるための信号である。可変キャパシタC0〜C3の容量値を変化させることで、C0〜C3に蓄積可能な電荷量を変化させ、入力信号(S〜Sn−3)への重み付けを行うことができる。図5(b)に示すように、可変キャパシタC0〜C3は、入力端子INと出力端子OUTとの間に並列に接続された容量固定の複数のキャパシタCを含む。また、各キャパシタCには、スイッチSWが直列に接続されている。スイッチSWのオン、オフの切り替えは、制御信号n(n0〜n3)により行われる。制御信号nに対応したスイッチSWがオンになることで、キャパシタCの合成容量(可変キャパシタC0〜C3の容量)が変化する。 Control signals n0 to n3 are input to the variable capacitors C0 to C3 from an encoder 76 as a weighting circuit. The control signals n0 to n3 are signals for changing the capacitance values of the variable capacitors C0 to C3. By changing the capacitance values of the variable capacitors C0 to C3, the amount of charge that can be stored in C0 to C3 can be changed, and the input signals (S n to S n-3 ) can be weighted. As shown in FIG. 5B, the variable capacitors C0 to C3 include a plurality of capacitors C having a fixed capacitance connected in parallel between the input terminal IN and the output terminal OUT. Further, a switch SW is connected to each capacitor C in series. The switch SW is turned on / off by a control signal n (n0 to n3). When the switch SW corresponding to the control signal n is turned on, the combined capacitance of the capacitor C (the capacitance of the variable capacitors C0 to C3) changes.

可変キャパシタC0〜C3の出力端子は、共通のノードN3に接続されている。これにより、可変キャパシタC0〜C3の出力側の配線は、ホールド回路としてのキャパシタC0〜C3の出力データを合計して出力する出力回路であってよい。ノードN3は、ADC50に接続されている。また、ノードN3及びADC50の中間ノードN4とグランドとの間には、ホールドスイッチSWhが接続されている。   The output terminals of the variable capacitors C0 to C3 are connected to a common node N3. Thereby, the wiring on the output side of the variable capacitors C0 to C3 may be an output circuit that sums up and outputs the output data of the capacitors C0 to C3 as the hold circuit. The node N3 is connected to the ADC 50. A hold switch SWh is connected between the node N3 and the intermediate node N4 of the ADC 50 and the ground.

サンプルホールド回路30に含まれるスイッチのうち、サンプリングスイッチSWs0〜SWs3はクロック信号Clk_s[n]〜Clk_s[n−3]により駆動される。また、リセットスイッチSWr0〜SWr3は、それぞれクロック信号Clk_rにより駆動され、ホールドスイッチSWh0〜SWh3は、それぞれクロック信号Clk_hにより駆動される。   Of the switches included in the sample hold circuit 30, the sampling switches SWs0 to SWs3 are driven by clock signals Clk_s [n] to Clk_s [n-3]. The reset switches SWr0 to SWr3 are each driven by a clock signal Clk_r, and the hold switches SWh0 to SWh3 are each driven by a clock signal Clk_h.

ここで、データの等化及び補間のアルゴリズムについて説明する。等化処理は、4つの入力信号を2つずつ選択し、それぞれに等化のためのパラメータ「y」または「y−1」かけ合わせたものを合計し、2つの出力データを得る(ただし、「0<y<1」)。具体的には、出力データu1及びu2は以下のようにして求めることができる。
=y(−Sn−3)+(1−y)Sn−1 …(式1)
n+1=y(−Sn−2)+(1−y)S …(式2)
ここでu及びun+1は差動信号のプラス側である。また、データ(電荷)の引き算は、作動マイナス信号の足し算によって実現することができる。
Here, a data equalization and interpolation algorithm will be described. In the equalization process, four input signals are selected two by two, and each of them multiplied by the parameter “y” or “y−1” for equalization is added to obtain two output data (however, “0 <y <1”). Specifically, the output data u1 and u2 can be obtained as follows.
u n = y (-S n- 3) + (1-y) S n-1 ... ( Equation 1)
u n + 1 = y (−S n−2 ) + (1−y) S n (Expression 2)
Here, u n and u n + 1 are the positive sides of the differential signal. Further, the subtraction of data (charge) can be realized by adding the operation minus signal.

また、上記の出力データu及びun+1に対し、それぞれに補間のためのパラメータ「x」または「x−1」かけ合わせたものを合計し、最終的な出力データを得る(ただし、「0<x<1」)。具体的には、出力データdは以下のようにして求めることができる。
=(1−x)un−1+xu …(式3)
Further, to the output data u n and u n + 1 of the above sum to the combined over parameters for interpolation "x" or "x-1", respectively, to obtain the final output data (where "0 <X <1 "). Specifically, the output data d n can be obtained as follows.
d n = (1−x) u n−1 + xu n (Expression 3)

上記の例では、等化及び補間の処理を別々に行っていたが、両者を一度に行うことも可能である。この場合、出力データdは以下のようにして求めることができる。
=x(1−y)S+(1−x)(1−y)Sn−1−xySn−2−(1−x)ySn−3 …(式4)
ここで、n0=x(1−y)、n1=(1−x)(1−y)、n2=xy、n3=(1−x)yとすると、式4は、
=n0S+n1Sn−1−n2Sn−2−n3Sn−3 …(式5)
と表すことができる。なお、n0+n1+n2+n3=1である。このパラメータn0〜n3は、図5におけるn0〜n3に対応しており、n0:n1:n2:n3の比によって等化及び補間の比率を決定することができる。
In the above example, equalization and interpolation processing are performed separately, but both can be performed at once. In this case, the output data d n can be obtained as follows.
d n = x (1-y ) S n + (1-x) (1-y) S n-1 -xyS n-2 - (1-x) yS n-3 ... ( Equation 4)
Here, when n0 = x (1-y), n1 = (1-x) (1-y), n2 = xy, and n3 = (1-x) y, Equation 4 is
d n = n0S n + n1S n -1 -n2S n-2 -n3S n-3 ... ( Equation 5)
It can be expressed as. Note that n0 + n1 + n2 + n3 = 1. These parameters n0 to n3 correspond to n0 to n3 in FIG. 5, and the ratio of equalization and interpolation can be determined by the ratio of n0: n1: n2: n3.

図6は、実施例1に係る受信回路の動作を示す図である。サンプリングスイッチへのクロック信号Clk_s[n]〜Clk_s[n−3]、リセットスイッチへのクロック信号Clk_r、ホールドスイッチへのクロック信号Clk_hの信号波形を示す。また、ADC50に供給されるクロック信号ADC_sampも併せて示す。サンプルホールド回路30は、リセット、サンプリング、等化・補間、ADCラッチの4つの動作モードを備える。   FIG. 6 is a diagram illustrating the operation of the receiving circuit according to the first embodiment. The signal waveforms of the clock signal Clk_s [n] to Clk_s [n-3] to the sampling switch, the clock signal Clk_r to the reset switch, and the clock signal Clk_h to the hold switch are shown. A clock signal ADC_samp supplied to the ADC 50 is also shown. The sample hold circuit 30 has four operation modes: reset, sampling, equalization / interpolation, and ADC latch.

最初に、リセットモードにおいては、クロック信号Clk_r及びClk_hがハイレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3及びホールドスイッチSWh0〜SWh3がオン状態となる。これにより、可変キャパシタC0〜C3が所定の値(初期値)に充電される。ここで、各可変キャパシタの容量をC0〜C3、蓄積される電荷をQ0〜Q3、リセットスイッチSWrから供給される電圧をVddとすると、各可変キャパシタへの充電量は以下の通りとなる。
Q0=Vdd・C0 …(式6)
Q1=Vdd・C1 …(式7)
Q2=Vdd・C2 …(式8)
Q3=Vdd・C3 …(式9)
First, in the reset mode, the clock signals Clk_r and Clk_h are at a high level, and the reset switches SWr0 to SWr3 and the hold switches SWh0 to SWh3 are turned on. As a result, the variable capacitors C0 to C3 are charged to a predetermined value (initial value). Here, assuming that the capacitance of each variable capacitor is C0 to C3, the accumulated charge is Q0 to Q3, and the voltage supplied from the reset switch SWr is Vdd, the charge amount to each variable capacitor is as follows.
Q0 = Vdd · C0 (Formula 6)
Q1 = Vdd · C1 (Expression 7)
Q2 = Vdd · C2 (Formula 8)
Q3 = Vdd · C3 (Formula 9)

次に、サンプリングモードにおいては、リセットクロック信号Clk_rがローレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3がオフ状態となる。また、サンプリングクロックClk_s[n−3]〜Clk_s[n]が順番に一定期間だけハイレベルとなり、サンプリングスイッチSWs0〜SWs3が一時的にオン状態となる。この間、キャパシタC0〜C3からgmセル32への放電が行われ、キャパシタC0〜C3の入力端子側のノード(Vx)の電位が低下する。例えば、gmセル32から供給される差動マイナス信号の電圧をVgm、サンプリングスイッチSWs0がオン状態にある時間をt0〜t1とすると、以下の式で示される電流の積分により、Vx0pの電位はVgmpに従って低下する。なお、iC0は可変キャパシタC0から流れる電流である。

Figure 2012147079
…(式10)
ここで、Vx0pにおけるpは、電位がプラスであることを示す(以下の説明においても同じ。pの代わりにnと記載した場合は電位がマイナスであることを示す)。 Next, in the sampling mode, the reset clock signal Clk_r becomes a low level, and the reset switches SWr0 to SWr3 are turned off. Further, the sampling clocks Clk_s [n-3] to Clk_s [n] are sequentially set to a high level for a certain period, and the sampling switches SWs0 to SWs3 are temporarily turned on. During this time, discharging from the capacitors C0 to C3 to the gm cell 32 is performed, and the potential of the node (Vx) on the input terminal side of the capacitors C0 to C3 decreases. For example, if the voltage of the differential minus signal supplied from the gm cell 32 is Vgm, and the time during which the sampling switch SWs0 is in the on state is t0 to t1, the potential of Vx0p is Vgmp due to the integration of the current expressed by the following equation. Decrease according to. Note that i C0 is a current flowing from the variable capacitor C0.
Figure 2012147079
... (Formula 10)
Here, p in Vx0p indicates that the potential is positive (the same applies in the following description. When n is described instead of p, it indicates that the potential is negative).

図7は、上記の電圧の変化を示す図である。ノードVx0pの電位が時刻t0までVddを維持し、時刻t0〜t1の間はVgmnに追従して電位が低下し、時刻t1以降はVx0p’で安定している。可変キャパシタC0の容量値を変更することにより、最終的な電圧Vx0p’の値を任意に変更することができる。サンプリングが完了した時点で各可変キャパシタC0〜C3に残る電荷Q0〜Q3は、以下の式で示される。
Q0=C0・Vx0p’=Vdd・C0−C0/Ctot∫Itot(t)・dt …(式11)
Q1=C1・Vx1p’=Vdd・C1−C1/Ctot∫Itot(t)・dt …(式12)
Q2=C2・Vx2n’=Vdd・C2−C2/Ctot∫Itot(t)・dt …(式13)
Q3=C3・Vx3n’=Vdd・C3−C3/Ctot∫Itot(t)・dt …(式14)
FIG. 7 is a diagram showing changes in the voltage. The potential of the node Vx0p maintains Vdd until time t0, the potential decreases following Vgmn during time t0 to t1, and is stable at Vx0p ′ after time t1. By changing the capacitance value of the variable capacitor C0, the final value of the voltage Vx0p ′ can be arbitrarily changed. Charges Q0 to Q3 remaining in the variable capacitors C0 to C3 when sampling is completed are expressed by the following equations.
Q0 = C0 · Vx0p ′ = Vdd · C0−C0 / Ctot∫Itot (t) · dt (Formula 11)
Q1 = C1 · Vx1p ′ = Vdd · C1−C1 / Ctot∫Itot (t) · dt (Formula 12)
Q2 = C2 · Vx2n ′ = Vdd · C2−C2 / Ctot∫Itot (t) · dt (Formula 13)
Q3 = C3 · Vx3n ′ = Vdd · C3−C3 / Ctot∫Itot (t) · dt (Formula 14)

再び図6に戻り、サンプリングモードに続く等化・補間モードでは、リセットクロック信号Clk_rがハイレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3がオン状態となる。また、クロック信号Clk_hがローレベルとなり、ホールドスイッチSWhがオフ状態となる。これにより、可変キャパシタC0〜C3に蓄積された電荷がノードN3において足し合わされ、等化及び補間が完了したデータdが出力される。電荷の足し算は以下の式15で表され、出力電圧は以下の式16の通りとなる。
Qtot=Q0+Q1+Q2+Q3=Vdd・Ctot−Ctot/Ctot∫Itot(t)dt …(式15)
=Vdd−Qtot/Ctot=1/Ctot・∫Itot(t)dt …(式16)
なお、ここで算出されたデータdは差動プラス信号である。
Returning to FIG. 6 again, in the equalization / interpolation mode following the sampling mode, the reset clock signal Clk_r becomes high level, and the reset switches SWr0 to SWr3 are turned on. Further, the clock signal Clk_h becomes low level, and the hold switch SWh is turned off. Thus, charge accumulated in the variable capacitor C0~C3 are summed at node N3, the data d n which equalization and interpolation has been completed is outputted. The addition of the charge is expressed by the following Expression 15, and the output voltage is expressed by the following Expression 16.
Qtot = Q0 + Q1 + Q2 + Q3 = Vdd · Ctot−Ctot / Ctot∫Itot (t) dt (Equation 15)
d n = Vdd−Qtot / Ctot = 1 / Ctot · ∫Itot (t) dt (Expression 16)
The data d n which is calculated here is the differential plus signal.

等化・補間モードの後半になると、クロック生成回路40からADC50へ供給されるクロック信号ADC_sampがハイレベルとなり、ADC50が駆動するADCラッチモードとなる。これにより、等化・補間が完了したアナログデータが、ADC50によりデジタルデータへと変換される。   In the second half of the equalization / interpolation mode, the clock signal ADC_samp supplied from the clock generation circuit 40 to the ADC 50 becomes high level, and the ADC latch mode in which the ADC 50 is driven is set. As a result, the analog data that has been equalized and interpolated is converted into digital data by the ADC 50.

実施例1に係る受信回路によれば、サンプルホールド回路30における可変キャパシタC0〜C3の容量値を、等化及び補間のパラメータに基づいて変更することで、サンプルホールド回路30においてデータの等化及び補間を行うことができる。これにより、等化及び補間のための回路を別途設ける必要がなく、回路面積を低減することができる。また、ADC50の前段において等化及び補間を行うことにより、デジタル信号の量子化ノイズを低減することができるため、ADC50に要求される分解能を抑制することができる。その結果、受信回路の面積及び消費電力を低減することができる。また、上記の受信回路を備えた電子装置によれば、同様に受信回路の面積及び消費電力の低減を図ることができる。   According to the receiving circuit according to the first embodiment, by changing the capacitance values of the variable capacitors C0 to C3 in the sample and hold circuit 30 based on equalization and interpolation parameters, Interpolation can be performed. Thereby, it is not necessary to separately provide a circuit for equalization and interpolation, and the circuit area can be reduced. Also, by performing equalization and interpolation in the previous stage of the ADC 50, the quantization noise of the digital signal can be reduced, so that the resolution required for the ADC 50 can be suppressed. As a result, the area and power consumption of the receiving circuit can be reduced. In addition, according to the electronic device including the receiving circuit, the area of the receiving circuit and the power consumption can be similarly reduced.

実施例1において、補間の計算(式3)の際に用いられたパラメータxは、デジタル側に出力されたdのデータのアイパターンの中心位相の情報を持つパラメータp(eye center phase)によって計算され、x=mod1(2p)になる。具体的には「0≦p<0.5」の場合、補間のデータdは1つ前のデータdn−1が使用される。また「0.5≦p<1」の場合、補間データdは今の出力データdn−1が使用される。
すなわち、
=Sn−1・p+Sn−2・p+Sn−3・p+Sn−4・p (0≦p<0.5) …(式17)
=S・p+Sn−1・p+Sn−2・p+Sn−3・p (0.5≦p<1) …(式18)
となる。
In the first embodiment, the parameter x used in the calculation of the interpolation (Equation 3) is determined by the parameter p (eye center phase) having information on the center phase of the eye pattern of the dn data output to the digital side. And x = mod1 (2p). Specifically, in the case of “0 ≦ p <0.5”, the previous data d n−1 is used as the interpolation data d n . In the case of "0.5 ≦ p <1", the interpolation data d n now output data d n-1 is used.
That is,
d n = S n-1 · p + S n-2 · p + S n-3 · p + S n-4 · p (0 ≦ p <0.5) ... ( Equation 17)
d n = S n · p + S n-1 · p + S n-2 · p + S n-3 · p (0.5 ≦ p <1) ... ( Equation 18)
It becomes.

図8は、サンプリングクロックの切り替え回路の構成を示す図である。図8(a)はサンプリングクロックを切り替える場合の構成を、図8(b)はサンプルホールド部34の出力を切り替える場合の構成をそれぞれ示す。図8(a)では、制御信号P_controlによりサンプリングクロックの切り替えを行っている。補間パラメータpが「0≦p<0.5」である場合、クロック信号は1つ前の信号である「Clk_s[n−1]、Clk_s[n−2]、Clk_s[n−3]、Clk_s[n−4]」が採用される。補間パラメータpが「0.5≦p<1」である場合、クロック信号は現在の信号である「Clk_s[n]、Clk_s[n−1]、Clk_s[n−2]、Clk_s[n−3]」が採用される。   FIG. 8 is a diagram showing a configuration of a sampling clock switching circuit. FIG. 8A shows a configuration when the sampling clock is switched, and FIG. 8B shows a configuration when the output of the sample hold unit 34 is switched. In FIG. 8A, the sampling clock is switched by the control signal P_control. When the interpolation parameter p is “0 ≦ p <0.5”, the clock signal is the previous signal “Clk_s [n−1], Clk_s [n−2], Clk_s [n−3], Clk_s”. [N-4] "is employed. When the interpolation parameter p is “0.5 ≦ p <1,” the clock signal is “Clk_s [n], Clk_s [n−1], Clk_s [n−2], Clk_s [n−3” which are the current signals. ] ”Is adopted.

図8(b)では、サンプルホールド部34のn番目の出力であるdと、n−1番目の出力であるdn−1の出力先を、制御信号P−contorolにより制御している。補間パラメータpが「0≦p<0.5」である場合、dはn番目のADCであるADCnに接続され、dn−1はn−1番目のADCであるADCn−1に接続される。補間パラメータpが「0.5≦p<1」である場合、dはn−1番目のADCであるADCn−1に接続される。 In FIG. 8 (b), and d n is the n th output of the sample hold unit 34, the d n-1 of the destination is (n-1) th output, is controlled by the control signal P-contorol. If interpolation parameter p is "0 ≦ p <0.5", d n are connected to ADCn an n-th ADC, d n-1 are connected to ADCn-1 is a n-1 th ADC The When the interpolation parameter p is “0.5 ≦ p <1,” dn is connected to the ADCn−1 that is the n−1th ADC.

以上のように、補間パラメータpの値に基づき、データの演算を必要に応じて1クロック分ずらすことにより、より精度の高い補間処理を行うことができる。   As described above, based on the value of the interpolation parameter p, a more accurate interpolation process can be performed by shifting the data operation by one clock as necessary.

実施例2は、等化及び補間の演算を電流により行う例である。   The second embodiment is an example in which equalization and interpolation calculations are performed using current.

図9は、実施例2に係る受信回路の詳細構成を示す図である。図9(a)はサンプルホールド回路30の構成を、図9(b)は電流供給回路(MOSバンクMB)及び電流制御回路80の詳細な構成を示す。実施例2に係るサンプルホールド回路30は、実施例1と異なりgmセル32を含まない。代わりに、入力端子に接続されたノードN1には差動プラス信号Vinpが、ノードN2には差動マイナス信号Vinnがそれぞれ入力されている。ノードN1には、サンプリングスイッチSWs0及びSWS1が並列に接続され、さらにこれらのスイッチに対し、ホールドスイッチSWh0及びSWh1がそれぞれ直列に接続されている。サンプリングスイッチSWs0(SWs1)とホールドスイッチSWh0(SWh1)との間のノードとグランドとの間には、リセットスイッチSWr0(SWr1)が接続されている。サンプリングスイッチSWs0(SWs1)とホールドスイッチSWh0(SWh1)との間のノードとグランドとの間には、信号をホールドするためのキャパシタCh0(Ch1)が接続されている。   FIG. 9 is a diagram illustrating a detailed configuration of the receiving circuit according to the second embodiment. 9A shows the configuration of the sample and hold circuit 30, and FIG. 9B shows the detailed configuration of the current supply circuit (MOS bank MB) and the current control circuit 80. Unlike the first embodiment, the sample and hold circuit 30 according to the second embodiment does not include the gm cell 32. Instead, the differential positive signal Vinp is input to the node N1 connected to the input terminal, and the differential negative signal Vinn is input to the node N2. Sampling switches SWs0 and SWS1 are connected in parallel to the node N1, and hold switches SWh0 and SWh1 are connected in series to these switches. A reset switch SWr0 (SWr1) is connected between a node between the sampling switch SWs0 (SWs1) and the hold switch SWh0 (SWh1) and the ground. A capacitor Ch0 (Ch1) for holding a signal is connected between the node between the sampling switch SWs0 (SWs1) and the hold switch SWh0 (SWh1) and the ground.

また、ノードN2には、サンプリングスイッチSWs2及びSWS3が並列に接続され、さらにこれらのスイッチに対し、ホールドスイッチSWh2及びSWh3がそれぞれ直列に接続されている。サンプリングスイッチSWs2(SWs3)とホールドスイッチSWh2(SWh3)との間のノードとグランドとの間には、リセットスイッチSWr2(SWr3)が接続されている。サンプリングスイッチSWs2(SWs3)とホールドスイッチSWh2(SWh3)との間のノードとグランドとの間には、信号をホールドするためのキャパシタCh2(Ch3)が接続されている。   Further, sampling switches SWs2 and SWS3 are connected in parallel to the node N2, and hold switches SWh2 and SWh3 are connected in series to these switches. A reset switch SWr2 (SWr3) is connected between a node between the sampling switch SWs2 (SWs3) and the hold switch SWh2 (SWh3) and the ground. A capacitor Ch2 (Ch3) for holding a signal is connected between the node between the sampling switch SWs2 (SWs3) and the hold switch SWh2 (SWh3) and the ground.

ホールドスイッチSWh0〜SWh3の出力は、それぞれ電流供給回路に対応してよいMOSバンクMBへと接続されている。MOSバンクMBは、並列に接続されたpMOSトランジスタを含み、各トランジスタのゲート端子にホールドスイッチSWh0〜SWh3の出力が入力されている。MOSバンクMBのドレイン側は、電流制御回路80を介して電源線Vddに接続されている。また、ホールドスイッチSWh0〜SWh3とMOSバンクMBとの間のノードと電源線Vddとの間には、ホールドスイッチSWhd0〜SWhd3が設けられている。各MOSバンクMBの出力は、共通のノードN3において合流し、出力端子(data)へと接続されている。   The outputs of the hold switches SWh0 to SWh3 are connected to MOS banks MB that may correspond to current supply circuits, respectively. The MOS bank MB includes pMOS transistors connected in parallel, and the outputs of the hold switches SWh0 to SWh3 are input to the gate terminals of the transistors. The drain side of the MOS bank MB is connected to the power supply line Vdd via the current control circuit 80. In addition, hold switches SWhd0 to SWhd3 are provided between a node between the hold switches SWh0 to SWh3 and the MOS bank MB and the power supply line Vdd. The outputs of the MOS banks MB merge at a common node N3 and are connected to an output terminal (data).

電流制御回路80には、重み付け回路としてのエンコーダ76から制御信号n0〜n3が入力される。制御信号n0〜n3は、電流制御回路80(及びMOSバンクMB)の供給する電流量を変化させるための信号であり、当該電流量を変化させることで、入力信号(Sn−3〜S)への重み付けを行うことができる。図9(b)に示すように、MOSバンクMB0〜MB3は、電源線Vddと出力端子Outとの間に並列に接続された複数のスイッチSWを含む。スイッチSWのオン、オフの切り替えは、制御信号n(n0〜n3)により行われる。制御信号nに対応したスイッチSWがオンになることで、MOSバンクMBに供給される電流量が変化する。 Control signals n0 to n3 are input to the current control circuit 80 from an encoder 76 as a weighting circuit. The control signals n0 to n3 are signals for changing the amount of current supplied by the current control circuit 80 (and the MOS bank MB). By changing the amount of current, the input signals (S n-3 to S n). ) Can be weighted. As shown in FIG. 9B, the MOS banks MB0 to MB3 include a plurality of switches SW connected in parallel between the power supply line Vdd and the output terminal Out. The switch SW is turned on / off by a control signal n (n0 to n3). When the switch SW corresponding to the control signal n is turned on, the amount of current supplied to the MOS bank MB changes.

図10は、実施例2に係る受信回路の動作を示す図である。最初に、リセットモードにおいては、クロック信号Clk_r及びClk_hdがハイレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3及びホールドスイッチSWhd0〜SWhd3がオン状態となる。これにより、キャパシタC0〜C3が所定の値(初期値)に充電される。次に、サンプリングモードにおいては、リセットクロック信号Clk_rがローレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3がオフ状態となる。また、サンプリングクロックClk_s[n−3]〜Clk_s[n]が順番に一定期間だけハイレベルとなり、サンプリングスイッチSWs0〜SWs3が一時的にオン状態となる。この間、入力端子からキャパシタC0〜C3への充電が行われ、キャパシタC0〜C3の入力端子側のノードの電位が上昇する。   FIG. 10 is a diagram illustrating the operation of the receiving circuit according to the second embodiment. First, in the reset mode, the clock signals Clk_r and Clk_hd are at a high level, and the reset switches SWr0 to SWr3 and the hold switches SWhd0 to SWhd3 are turned on. Thereby, the capacitors C0 to C3 are charged to a predetermined value (initial value). Next, in the sampling mode, the reset clock signal Clk_r becomes a low level, and the reset switches SWr0 to SWr3 are turned off. Further, the sampling clocks Clk_s [n-3] to Clk_s [n] are sequentially set to a high level for a certain period, and the sampling switches SWs0 to SWs3 are temporarily turned on. During this time, the capacitors C0 to C3 are charged from the input terminal, and the potential of the node on the input terminal side of the capacitors C0 to C3 rises.

サンプリングモードに続く等化・補間モードでは、クロック信号Clk_hがハイレベルとなり、ホールドスイッチSWh0〜SWh3がオン状態となる。また、クロック信号Clk_r及びクロック信号Clk_hdがローレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3及びホールドスイッチSWh0〜SWh3がオフ状態となる。これにより、各MOSバンクMB0〜MB3から供給された電流がノードN3において足し合わされ、等化及び補間が完了したデータdが出力される。その後、等化・補間モードの後半になると、ADC50へ供給されるクロック信号ADC_sampがハイレベルとなり、ADC50が駆動するADCラッチモードとなる。これにより、等化・補間が完了した信号データが、ADC50によりデジタルデータへと変換される。 In the equalization / interpolation mode following the sampling mode, the clock signal Clk_h is at a high level, and the hold switches SWh0 to SWh3 are turned on. Further, the clock signal Clk_r and the clock signal Clk_hd become low level, and the reset switches SWr0 to SWr3 and the hold switches SWh0 to SWh3 are turned off. Thus, current supplied from the MOS bank MB0~MB3 is summed at node N3, the data d n which equalization and interpolation has been completed is outputted. Thereafter, in the latter half of the equalization / interpolation mode, the clock signal ADC_samp supplied to the ADC 50 becomes a high level, and the ADC latch mode in which the ADC 50 is driven is set. Thereby, the signal data that has been equalized and interpolated is converted into digital data by the ADC 50.

実施例2に係る電子回路によれば、実施例1と同じくADC回路の前段において等化及び補間を行うことで、受信回路の面積及び消費電力を低減することができる。   According to the electronic circuit according to the second embodiment, the area and power consumption of the receiving circuit can be reduced by performing equalization and interpolation in the previous stage of the ADC circuit as in the first embodiment.

実施例3は、等化及び補間の演算を電圧により行う例である。   The third embodiment is an example in which equalization and interpolation calculations are performed using voltages.

図11は、実施例3に係る受信回路の詳細構成を示す図である。図11(a)はサンプルホールド回路30の構成を、図11(b)は可変キャパシタC0〜C3の詳細な構成を示す。実施例3に係るサンプルホールド回路30は、実施例1と異なりgmセル32を含まない。代わりに、入力端子に接続されたノードN1には差動プラス信号Vinpが、ノードN2には差動マイナス信号Vinnがそれぞれ入力されている。ノードN1には、サンプリングスイッチSWs0及びSWS1が並列に接続されている。さらにこれらのスイッチに対し、可変キャパシタC0及びホールドスイッチSWhd0、並びに可変キャパシタC1及びホールドスイッチSWhd1がそれぞれ直列に接続されている。可変キャパシタC0(C1)及びホールドスイッチSWh0(SWh1)の間のノードとグランドとの間には、リセットスイッチSWr0(SWr1)が接続されている。サンプリングスイッチSWs0(SWs1)とホールドスイッチSWh0(SWh1)との間のノードとグランドとの間には、信号をホールドするためのキャパシタC0(C1)が接続されている。   FIG. 11 is a diagram illustrating a detailed configuration of the receiving circuit according to the third embodiment. FIG. 11A shows the configuration of the sample and hold circuit 30, and FIG. 11B shows the detailed configuration of the variable capacitors C0 to C3. Unlike the first embodiment, the sample and hold circuit 30 according to the third embodiment does not include the gm cell 32. Instead, the differential positive signal Vinp is input to the node N1 connected to the input terminal, and the differential negative signal Vinn is input to the node N2. Sampling switches SWs0 and SWS1 are connected in parallel to the node N1. Further, a variable capacitor C0 and a hold switch SWhd0, and a variable capacitor C1 and a hold switch SWhd1 are connected in series to these switches. A reset switch SWr0 (SWr1) is connected between a node between the variable capacitor C0 (C1) and the hold switch SWh0 (SWh1) and the ground. A capacitor C0 (C1) for holding a signal is connected between the node between the sampling switch SWs0 (SWs1) and the hold switch SWh0 (SWh1) and the ground.

また、ノードN2には、サンプリングスイッチSWs2及びSWS3が並列に接続されている。さらにこれらのスイッチに対し、可変キャパシタC2及びホールドスイッチSWhd2、並びに可変キャパシタC3及びホールドスイッチSWhd3がそれぞれ直列に接続されている。可変キャパシタC2(C3)及びホールドスイッチSWh2(SWh3)の間のノードとグランドとの間には、リセットスイッチSWr2(SWr3)が接続されている。サンプリングスイッチSWs2(SWs3)とホールドスイッチSWh2(SWh3)との間のノードとグランドとの間には、信号をホールドするためのキャパシタC2(C3)が接続されている。   Also, sampling switches SWs2 and SWS3 are connected in parallel to the node N2. Further, a variable capacitor C2 and a hold switch SWhd2, and a variable capacitor C3 and a hold switch SWhd3 are connected in series to these switches. A reset switch SWr2 (SWr3) is connected between a node between the variable capacitor C2 (C3) and the hold switch SWh2 (SWh3) and the ground. A capacitor C2 (C3) for holding a signal is connected between the node between the sampling switch SWs2 (SWs3) and the hold switch SWh2 (SWh3) and the ground.

ホールドスイッチSWh0〜SWh3の出力は、共通のノードN3において合流し、ノードN3の後段に設けられた差動アンプ82の逆相入力端子に入力されている。差動アンプ82の正相入力端子は接地されている。また、差動アンプ82の出力端子は、可変キャパシタC0〜C3とサンプリングスイッチSWs0〜SWs3との間のそれぞれのノードに、ホールドスイッチSWh0〜SWh3を介して接続されている。   The outputs of the hold switches SWh0 to SWh3 merge at the common node N3 and are input to the negative phase input terminal of the differential amplifier 82 provided at the subsequent stage of the node N3. The positive phase input terminal of the differential amplifier 82 is grounded. The output terminal of the differential amplifier 82 is connected to the respective nodes between the variable capacitors C0 to C3 and the sampling switches SWs0 to SWs3 via the hold switches SWh0 to SWh3.

可変キャパシタC0〜C3の構成は、実施例1と同様である。可変キャパシタC0〜C3には、重み付け回路としてのエンコーダ76から制御信号n0〜n3が入力される。制御信号n0〜n3は、可変キャパシタC0〜C3の容量値を変化させるための信号であり、当該容量値を変化させることで、入力信号(Sn−3〜S)への重み付けを行うことができる。 The configuration of the variable capacitors C0 to C3 is the same as that of the first embodiment. Control signals n0 to n3 are input to the variable capacitors C0 to C3 from an encoder 76 as a weighting circuit. The control signals n0 to n3 are signals for changing the capacitance values of the variable capacitors C0 to C3, and the input signals (S n-3 to S n ) are weighted by changing the capacitance values. Can do.

図12は、実施例3に係る受信回路の動作を示す図である。最初に、リセットモードにおいては、クロック信号Clk_rがハイレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3がオン状態となる。これにより、キャパシタC0〜C3が所定の値(初期値)に充電される。次に、サンプリングモードにおいては、リセットクロック信号Clk_rがローレベルとなり、リセットスイッチSWr0〜SWr3がオフ状態となる。また、クロック信号Clk_hがハイレベルとなり、ホールドスイッチSWhd0〜SWhd3がオフ状態となる。さらに、サンプリングクロックClk_s[n−3]〜Clk_s[n]が順番に一定期間だけハイレベルとなり、サンプリングスイッチSWs0〜SWs3が一時的にオン状態となる。この間、入力端子からキャパシタC0〜C3への充電が行われ、キャパシタC0〜C3の入力端子側のノードの電位が上昇する。   FIG. 12 is a diagram illustrating the operation of the receiving circuit according to the third embodiment. First, in the reset mode, the clock signal Clk_r becomes high level, and the reset switches SWr0 to SWr3 are turned on. Thereby, the capacitors C0 to C3 are charged to a predetermined value (initial value). Next, in the sampling mode, the reset clock signal Clk_r becomes a low level, and the reset switches SWr0 to SWr3 are turned off. Further, the clock signal Clk_h becomes a high level, and the hold switches SWhd0 to SWhd3 are turned off. Further, the sampling clocks Clk_s [n-3] to Clk_s [n] are sequentially set to a high level for a certain period, and the sampling switches SWs0 to SWs3 are temporarily turned on. During this time, the capacitors C0 to C3 are charged from the input terminal, and the potential of the node on the input terminal side of the capacitors C0 to C3 rises.

サンプリングモードに続く等化・補間モードでは、クロック信号Clk_hnがハイレベルとなり、ホールドスイッチSWh0〜SWh3及びSWhd0〜SWhd3がオン状態となる。これにより、可変キャパシタC0〜C3の入力端子側の電圧が、オン状態となったホールドスイッチSWh0〜SWh3を介して差動アンプ82の出力端子へと供給される。このとき、各キャパシタC0〜C3からの出力が共通のノードで合流するため、実施例1と同様に重み付けされた出力(電圧)を合計して出力することができる。   In the equalization / interpolation mode following the sampling mode, the clock signal Clk_hn is at a high level, and the hold switches SWh0 to SWh3 and SWhd0 to SWhd3 are turned on. As a result, the voltage on the input terminal side of the variable capacitors C0 to C3 is supplied to the output terminal of the differential amplifier 82 via the hold switches SWh0 to SWh3 that are turned on. At this time, since the outputs from the capacitors C0 to C3 merge at a common node, the weighted outputs (voltages) can be summed and output as in the first embodiment.

実施例3に係る電子回路によれば、実施例1〜2と同じくADC回路の前段において等化及び補間を行うことで、受信回路の面積及び消費電力を低減することができる。   According to the electronic circuit according to the third embodiment, the area and power consumption of the receiving circuit can be reduced by performing equalization and interpolation in the previous stage of the ADC circuit as in the first and second embodiments.

実施例4は、サンプルホールド回路を前段と後段に分割した例である。   The fourth embodiment is an example in which the sample and hold circuit is divided into a front stage and a rear stage.

図13は、実施例4に係る受信回路の構成を示す図である。前段部分の等化回路90の構成は、実施例1(図5)とほぼ同じであるため、同一の符号を付して詳細な説明を省略する。実施例1と異なり、等化回路90は4入力2出力の回路となっている。このため、可変キャパシタC0及びC2の出力端子が共通のノードN3に接続され、C1及びC3の出力端子が共通のノードN4に接続されている。ノードN3は後段のgmセル32bに、ノードN4は後段のgmセル32cにそれぞれ接続されている。また、ノードN3及びgmセル32bの間のノードとグランドとの間には、ホールドスイッチSWhbが設けられおり、ノードN4及びgmセル32cの間のノードとグランドとの間には、ホールドスイッチSWhcが設けられている。   FIG. 13 is a diagram illustrating the configuration of the receiving circuit according to the fourth embodiment. Since the configuration of the equalization circuit 90 in the preceding stage is almost the same as that of the first embodiment (FIG. 5), the same reference numerals are given and detailed description is omitted. Unlike the first embodiment, the equalization circuit 90 is a 4-input 2-output circuit. For this reason, the output terminals of the variable capacitors C0 and C2 are connected to the common node N3, and the output terminals of C1 and C3 are connected to the common node N4. The node N3 is connected to the downstream gm cell 32b, and the node N4 is connected to the downstream gm cell 32c. A hold switch SWhb is provided between the node between the node N3 and the gm cell 32b and the ground, and a hold switch SWhc is provided between the node between the node N4 and the gm cell 32c and the ground. Is provided.

gmセル32bの出力端子には可変キャパシタC4が、gmセル32cの出力端子には可変キャパシタC5がそれぞれ接続されている。可変キャパシタC4及びC5の出力端子は、共通のノードN5へと接続されている。ノードN5の電位が最終的なサンプルホールド回路30の出力となる。また、ノードN5とグランドとの間には、ホールドスイッチSWhが接続されている。   The variable capacitor C4 is connected to the output terminal of the gm cell 32b, and the variable capacitor C5 is connected to the output terminal of the gm cell 32c. The output terminals of the variable capacitors C4 and C5 are connected to a common node N5. The potential of the node N5 becomes the final output of the sample hold circuit 30. A hold switch SWh is connected between the node N5 and the ground.

実施例4に係る受信回路の動作は、実施例1で説明したものと同様である。すなわち、リセットモードにおいて可変キャパシタC0〜C3(C4〜C5)を充電し、サンプリングモードにおいて充電された電荷をgmセル32a(32b、32c)へと放電する。そして、等化・補間モードにおいて、各可変キャパシタC0〜C3(C4〜C5)に蓄えられた電荷を、重み付けした後に合成し、出力する。   The operation of the receiving circuit according to the fourth embodiment is the same as that described in the first embodiment. That is, the variable capacitors C0 to C3 (C4 to C5) are charged in the reset mode, and the charges charged in the sampling mode are discharged to the gm cells 32a (32b and 32c). In the equalization / interpolation mode, the electric charges stored in the variable capacitors C0 to C3 (C4 to C5) are weighted, synthesized, and output.

ここで、実施例4に係る受信回路では、可変キャパシタC0〜C5に入力される制御信号が実施例1と異なる。すなわち、実施例4では、可変キャパシタC0及びC1に「y−1」を、可変キャパシタC2及びC3に「y」を、可変キャパシタC4に「x」を、可変キャパシタC5に「1−x」をそれぞれ入力する。これにより、受信回路の前段部である等化回路90では、式1及び式2に示した等化処理のみが行われ、受信回路の後段部である補間回路92では、式3に示した補間処理のみが行われる。   Here, in the receiving circuit according to the fourth embodiment, the control signal input to the variable capacitors C0 to C5 is different from that of the first embodiment. That is, in the fourth embodiment, “y−1” is set to the variable capacitors C0 and C1, “y” is set to the variable capacitors C2 and C3, “x” is set to the variable capacitor C4, and “1-x” is set to the variable capacitor C5. Enter each. As a result, the equalization circuit 90, which is the front part of the reception circuit, performs only the equalization processing shown in Expressions 1 and 2, and the interpolation circuit 92, which is the subsequent part of the reception circuit, performs the interpolation shown in Expression 3. Only processing is performed.

実施例4に係る電子回路によれば、実施例1〜2と同じくADC回路の前段において等化及び補間を行うことで、受信回路の面積及び消費電力を低減することができる。なお、等化・補間の演算に電流を用いる場合(実施例2)や、電圧を用いる場合(実施例3)においても、実施例4のようにサンプルホールド回路30を前段部と後段部とに分け、等化及び補間を別々に行ってもよい。   According to the electronic circuit according to the fourth embodiment, the area and power consumption of the receiving circuit can be reduced by performing equalization and interpolation in the previous stage of the ADC circuit as in the first and second embodiments. Even when current is used for equalization / interpolation calculation (Example 2) or when voltage is used (Example 3), the sample-and-hold circuit 30 is arranged in the front and rear stages as in Example 4. Division, equalization and interpolation may be performed separately.

以上説明した実施例に関連し、以下の付記を開示する。
(付記1)
受信データを異なるタイミングでサンプリングする複数のサンプリング回路と、前記複数のサンプリング回路によりサンプリングされたそれぞれのデータを保持する複数のホールド回路と、前記複数のホールド回路からの出力に基づき、前記入力信号の等化及び補間の度合いを決定するためのパラメータを算出するパラメータ算出回路と、前記パラメータ算出回路により算出されたパラメータに基づき、前記複数のホールド回路のそれぞれの出力に対し重み付けを行う重み付け回路と、前記重み付け回路により重み付けが行われた前記ホールド回路の出力データを合成して出力する出力回路と、を備えることを特徴とする受信回路。
(付記2)
前記ホールド回路は、前記ホールド回路の入力端子と出力端子との間に接続された可変キャパシタを含み、前記重み付け回路は、前記パラメータ算出回路により算出されたパラメータに基づき、前記可変キャパシタの容量値を変化させることを特徴とする付記1に記載の受信回路。
(付記3)
前記ホールド回路の後段に接続された差動アンプを備え、前記差動アンプの出力端子は、前記可変キャパシタの前段のノードに接続されていることを特徴とする付記2に記載の受信回路。
(付記4)
前記ホールド回路は、一端が前記ホールド回路の入力端子に接続され、他端が第1電源に接続されたキャパシタと、ゲートが前記ホールド回路の入力端子に接続され、ソースまたはドレインの一方が前記ホールド回路の出力端子に接続され、他方が第2電源に接続されたトランジスタとを含み、前記重み付け回路は、前記パラメータ算出回路により算出されたパラメータに基づき、前記第2電源から前記トランジスタに供給される電流量を変化させることを特徴とする付記1に記載の受信回路。
(付記5)
付記1〜4のいずれかに記載の受信回路と、前記受信回路の後段に接続されたアナログデジタル変換回路とを備えることを特徴とする電子装置。
(付記6)
前記ホールド回路の出力に対する重み付けは、電荷・電流・電圧のいずれかの方法によるものであることを特徴とする付記1に記載の受信回路。
(付記7)
前記複数のサンプリング回路には、差動プラス信号及び差動マイナス信号がそれぞれ入力され、前記差動プラス信号が入力された前記サンプリング回路の出力と、前記差動マイナス信号が入力された前記サンプリング回路の出力と加算することにより、データの減算を可能としたことを特徴とする付記1に記載の受信回路。
(付記8)
補間対象となるデータの位置を示す補間パラメータに基づいて、前記サンプリング回路において使用されるサンプリングクロックを少なくともクロック変化させる切り替え手段を備えることを特徴とする付記1に記載の受信回路。
In connection with the embodiment described above, the following supplementary notes are disclosed.
(Appendix 1)
A plurality of sampling circuits that sample received data at different timings, a plurality of hold circuits that hold the respective data sampled by the plurality of sampling circuits, and outputs from the plurality of hold circuits, A parameter calculation circuit for calculating a parameter for determining the degree of equalization and interpolation; a weighting circuit for weighting each output of the plurality of hold circuits based on the parameter calculated by the parameter calculation circuit; An output circuit for combining and outputting the output data of the hold circuit weighted by the weighting circuit;
(Appendix 2)
The hold circuit includes a variable capacitor connected between an input terminal and an output terminal of the hold circuit, and the weighting circuit calculates a capacitance value of the variable capacitor based on a parameter calculated by the parameter calculation circuit. The receiving circuit according to appendix 1, wherein the receiving circuit is changed.
(Appendix 3)
The receiving circuit according to claim 2, further comprising a differential amplifier connected to a subsequent stage of the hold circuit, wherein an output terminal of the differential amplifier is connected to a node preceding the variable capacitor.
(Appendix 4)
The hold circuit has one end connected to the input terminal of the hold circuit, the other end connected to the first power supply, a gate connected to the input terminal of the hold circuit, and one of the source or drain being the hold A transistor connected to an output terminal of the circuit and the other connected to a second power supply, and the weighting circuit is supplied from the second power supply to the transistor based on a parameter calculated by the parameter calculation circuit The receiving circuit according to appendix 1, wherein the amount of current is changed.
(Appendix 5)
An electronic apparatus comprising: the receiving circuit according to any one of appendices 1 to 4; and an analog-digital conversion circuit connected to a subsequent stage of the receiving circuit.
(Appendix 6)
The receiving circuit according to claim 1, wherein the weighting of the output of the hold circuit is performed by any one of charge, current, and voltage.
(Appendix 7)
The plurality of sampling circuits are each input with a differential plus signal and a differential minus signal, the output of the sampling circuit to which the differential plus signal is inputted, and the sampling circuit to which the differential minus signal is inputted The receiving circuit according to appendix 1, wherein the subtraction of data is made possible by adding to the output.
(Appendix 8)
The receiving circuit according to appendix 1, further comprising switching means for changing at least a sampling clock used in the sampling circuit based on an interpolation parameter indicating a position of data to be interpolated.

以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明は係る特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。   Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited to such specific embodiments, and various modifications and changes can be made within the scope of the gist of the present invention described in the claims. It can be changed.

10 CPU
20 高速入出力回路
30 サンプルホールド回路
32 gmセル
34 サンプルホールド部
40 クロック生成回路
50 アナログデジタル変換回路(ADC)
60 デジタル信号処理回路
70 等化制御回路
72 位相検出回路
74 フィルタ
76 エンコーダ
80 電流制御回路
82 差動アンプ
SWs サンプリングスイッチ
SWr リセットスイッチ
SWh ホールドスイッチ
C キャパシタ
MB MOSバンク
10 CPU
20 High-speed input / output circuit 30 Sample hold circuit 32 gm cell 34 Sample hold unit 40 Clock generation circuit 50 Analog-digital conversion circuit (ADC)
60 Digital Signal Processing Circuit 70 Equalization Control Circuit 72 Phase Detection Circuit 74 Filter 76 Encoder 80 Current Control Circuit 82 Differential Amplifier SWs Sampling Switch SWr Reset Switch SWh Hold Switch C Capacitor MB MOS Bank

Claims (5)

受信データを異なるタイミングでサンプリングする複数のサンプリング回路と、
前記複数のサンプリング回路によりサンプリングされたそれぞれのデータを保持する複数のホールド回路と、
前記複数のホールド回路からの出力に基づき、前記入力信号の等化及び補間の度合いを決定するためのパラメータを算出するパラメータ算出回路と、
前記パラメータ算出回路により算出されたパラメータに基づき、前記複数のホールド回路のそれぞれの出力に対し重み付けを行う重み付け回路と、
前記重み付け回路により重み付けが行われた前記ホールド回路の出力データを合成して出力する出力回路と、
を備えることを特徴とする受信回路。
A plurality of sampling circuits for sampling received data at different timings;
A plurality of hold circuits for holding the respective data sampled by the plurality of sampling circuits;
A parameter calculation circuit that calculates a parameter for determining the degree of equalization and interpolation of the input signal based on outputs from the plurality of hold circuits;
A weighting circuit for weighting each output of the plurality of hold circuits based on the parameters calculated by the parameter calculation circuit;
An output circuit for combining and outputting the output data of the hold circuit weighted by the weighting circuit;
A receiving circuit comprising:
前記ホールド回路は、前記ホールド回路の入力端子と出力端子との間に接続された可変キャパシタを含み、
前記重み付け回路は、前記パラメータ算出回路により算出されたパラメータに基づき、前記可変キャパシタの容量値を変化させることを特徴とする請求項1に記載の受信回路。
The hold circuit includes a variable capacitor connected between an input terminal and an output terminal of the hold circuit;
The receiving circuit according to claim 1, wherein the weighting circuit changes a capacitance value of the variable capacitor based on the parameter calculated by the parameter calculation circuit.
前記ホールド回路の後段に接続された差動アンプを備え、
前記差動アンプの出力端子は、前記可変キャパシタの前段のノードに接続されていることを特徴とする請求項2に記載の受信回路。
A differential amplifier connected to the subsequent stage of the hold circuit;
The receiving circuit according to claim 2, wherein an output terminal of the differential amplifier is connected to a preceding node of the variable capacitor.
前記ホールド回路は、
一端が前記ホールド回路の入力端子に接続され、他端が第1電源に接続されたキャパシタと、
ゲートが前記ホールド回路の入力端子に接続され、ソースまたはドレインの一方が前記ホールド回路の出力端子に接続され、他方が第2電源に接続されたトランジスタとを含み、
前記重み付け回路は、前記パラメータ算出回路により算出されたパラメータに基づき、前記第2電源から前記トランジスタに供給される電流量を変化させることを特徴とする請求項1に記載の受信回路。
The hold circuit is
A capacitor having one end connected to the input terminal of the hold circuit and the other end connected to a first power source;
A transistor having a gate connected to an input terminal of the hold circuit, one of a source and a drain connected to an output terminal of the hold circuit, and the other connected to a second power source;
The receiving circuit according to claim 1, wherein the weighting circuit changes the amount of current supplied from the second power source to the transistor based on the parameter calculated by the parameter calculation circuit.
請求項1〜4のいずれかに記載の受信回路と、
前記受信回路の後段に接続されたアナログデジタル変換回路とを備えることを特徴とする電子装置。
A receiving circuit according to any one of claims 1 to 4,
An electronic apparatus comprising: an analog-digital conversion circuit connected to a subsequent stage of the receiving circuit.
JP2011001883A 2011-01-07 2011-01-07 Reception circuit and electronic device Expired - Fee Related JP5678672B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011001883A JP5678672B2 (en) 2011-01-07 2011-01-07 Reception circuit and electronic device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011001883A JP5678672B2 (en) 2011-01-07 2011-01-07 Reception circuit and electronic device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012147079A true JP2012147079A (en) 2012-08-02
JP5678672B2 JP5678672B2 (en) 2015-03-04

Family

ID=46790243

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011001883A Expired - Fee Related JP5678672B2 (en) 2011-01-07 2011-01-07 Reception circuit and electronic device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5678672B2 (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013229755A (en) * 2012-04-25 2013-11-07 Fujitsu Ltd Interpolation circuit and reception circuit
US8823564B2 (en) 2012-03-07 2014-09-02 Asahi Kasei Microdevices Corporation Sampling circuit, A/D converter, D/A converter, and codec
JP2014187527A (en) * 2013-03-22 2014-10-02 Fujitsu Ltd Receiver circuit and control method therefor
JP2014187652A (en) * 2013-03-25 2014-10-02 Fujitsu Ltd Reception circuit and communication circuit
JP2014217040A (en) * 2013-04-30 2014-11-17 富士通株式会社 Interpolation circuit and reception circuit
US8917196B2 (en) 2012-01-24 2014-12-23 Asahi Kasei Microdevices Corporation Sampling circuit, A/D converter, D/A converter, and CODEC
US8994408B2 (en) 2013-04-30 2015-03-31 Fujitsu Limited Electronic circuit
JP2015076811A (en) * 2013-10-10 2015-04-20 富士通株式会社 Receiver and data interpolation method

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0279613A (en) * 1988-09-16 1990-03-20 Fujitsu Ltd Automatic equalizer
JPH0730779A (en) * 1993-07-12 1995-01-31 Sony Corp Transmitted signal receiver
JP2002025203A (en) * 2000-07-13 2002-01-25 Fujitsu Ltd Method and device for demodulation
JP2002263104A (en) * 2001-02-27 2002-09-17 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ultrasonic diagnostic device
WO2006100981A1 (en) * 2005-03-18 2006-09-28 Nec Corporation Information recording medium, information reproducing device, and information reproducing method
WO2009158537A1 (en) * 2008-06-25 2009-12-30 Qualcomm Incorporated Discrete time multi-rate analog filter

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0279613A (en) * 1988-09-16 1990-03-20 Fujitsu Ltd Automatic equalizer
JPH0730779A (en) * 1993-07-12 1995-01-31 Sony Corp Transmitted signal receiver
JP2002025203A (en) * 2000-07-13 2002-01-25 Fujitsu Ltd Method and device for demodulation
JP2002263104A (en) * 2001-02-27 2002-09-17 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ultrasonic diagnostic device
WO2006100981A1 (en) * 2005-03-18 2006-09-28 Nec Corporation Information recording medium, information reproducing device, and information reproducing method
WO2009158537A1 (en) * 2008-06-25 2009-12-30 Qualcomm Incorporated Discrete time multi-rate analog filter

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8917196B2 (en) 2012-01-24 2014-12-23 Asahi Kasei Microdevices Corporation Sampling circuit, A/D converter, D/A converter, and CODEC
US8823564B2 (en) 2012-03-07 2014-09-02 Asahi Kasei Microdevices Corporation Sampling circuit, A/D converter, D/A converter, and codec
JP2013229755A (en) * 2012-04-25 2013-11-07 Fujitsu Ltd Interpolation circuit and reception circuit
JP2014187527A (en) * 2013-03-22 2014-10-02 Fujitsu Ltd Receiver circuit and control method therefor
JP2014187652A (en) * 2013-03-25 2014-10-02 Fujitsu Ltd Reception circuit and communication circuit
JP2014217040A (en) * 2013-04-30 2014-11-17 富士通株式会社 Interpolation circuit and reception circuit
US8994408B2 (en) 2013-04-30 2015-03-31 Fujitsu Limited Electronic circuit
US9165166B2 (en) 2013-04-30 2015-10-20 Fujitsu Limited Interpolation circuit and receiving circuit
JP2015076811A (en) * 2013-10-10 2015-04-20 富士通株式会社 Receiver and data interpolation method

Also Published As

Publication number Publication date
JP5678672B2 (en) 2015-03-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5678672B2 (en) Reception circuit and electronic device
US8487803B1 (en) Pipelined analog-to-digital converter having reduced power consumption
CN102075189B (en) Pipelined analog-to-digital converter (ADC) capable of carrying out background digital calibration
US8004435B2 (en) Discrete-time circuit
JP6195543B2 (en) Semiconductor device
JP2013179577A (en) Solid state image pickup device
CN102959950B (en) Solid camera head
CN108988860B (en) Calibration method based on SAR ADC and SAR ADC system
US8279102B2 (en) Method and apparatus for analog to digital conversion
EP2677661A1 (en) A/d converter, image sensor device, and method of generating digital signal from analog signal
EP3567720A1 (en) Mismatch and reference common-mode offset insensitive single-ended switched capacitor gain stage
US7348916B2 (en) Pipeline A/D converter and method of pipeline A/D conversion
US20160173114A1 (en) A/d converter and a/d converter calibrating method
US8471755B1 (en) Dynamic biasing in switched capacitor stages using frame capacitors
US10651811B2 (en) Mismatch and reference common-mode offset insensitive single-ended switched capacitor gain stage with reduced capacitor mismatch sensitivity
JP2003158434A (en) Artificial differential amplifier circuit and a/d converter using the same
JP6203114B2 (en) Semiconductor integrated circuit
KR101012684B1 (en) Analog to digital converter accumulating iterative divided-by-two reference voltage
JP2019097121A (en) Latched comparator
JP5186981B2 (en) Pipeline type A / D converter
CN102148618A (en) Analogue-digital converter with low-recoil noise and secondary analogue-digital converter
JP5677919B2 (en) Ramp wave generation circuit and solid-state imaging device
JP5708275B2 (en) AD converter and electronic device
JP5044595B2 (en) A / D converter and control method thereof
US20200358451A1 (en) Successive-approximation type ad converter and pipeline type ad converter

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20131007

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140317

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140408

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140528

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20141209

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20141222

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5678672

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees