JP2012138455A - Mounting method of flexible wiring board and polyimide siloxane resin composition - Google Patents

Mounting method of flexible wiring board and polyimide siloxane resin composition Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a mounting method of a flexible wiring board in which gold plating is performed after forming a protective film, and a polyimide siloxane resin composition having improved gold-plating resistance is used suitably.SOLUTION: In the mounting method of a flexible wiring board including a step for gold-plating a wiring pattern not covered with a protective film but exposed, a polyimide siloxane resin composition is composed to contain at least (A) a polyimide siloxane resin having a substituent group (carboxyl group and/or hydroxyl group) and (B) a hardener containing an epoxy resin as an essential component. The ratio of the epoxy group in the hardener (B) to the substituent group in the polyimide siloxane resin (A) ([quantity of the epoxy group]/[quantity of the substituent group]) is 1.5 or less.

Description

本発明は、フレキシブル配線板の実装方法、及びその実装方法で好適に用いられるポリイミドシロキサン樹脂組成物に関する。特に本発明は、金メッキ処理する工程を含んで実装されるフレキシブル配線板の実装方法、及びその実装方法で好適に用いられる耐金メッキ性が改良されたポリイミドシロキサン樹脂組成物に関する。   The present invention relates to a flexible wiring board mounting method and a polyimidesiloxane resin composition suitably used in the mounting method. In particular, the present invention relates to a mounting method of a flexible wiring board that is mounted including a step of gold plating, and a polyimidesiloxane resin composition with improved gold plating resistance that is preferably used in the mounting method.

半導体素子などの電子部品を実装したフレキシブル配線板は、種々の実装方法によって製造されているが、例えば次の実装方法によって好適に製造される。すなわち、絶縁フィルム表面に導電性金属の配線パタ−ンが形成された基板を準備する工程、前記基板の少なくとも接続端子部を除く配線パターンが形成された領域の配線パターン面に硬化性樹脂組成物を塗布し、次いで加熱処理して硬化した保護膜(絶縁保護膜)を形成する工程、保護膜で覆われず露出している接続端子部を含む配線パターンを金メッキ処理する工程、配線パターンの接続端子部分に金バンプなどを用いて半導体素子などの電子部品を実装する工程、次いで電子部品を例えばアンダーフィル材を用いて保護固定化する工程を含む実装方法によって好適に製造されている。   A flexible wiring board on which an electronic component such as a semiconductor element is mounted is manufactured by various mounting methods. For example, the flexible wiring board is preferably manufactured by the following mounting method. That is, a step of preparing a substrate on which a conductive metal wiring pattern is formed on the surface of an insulating film, a curable resin composition on a wiring pattern surface of a region where a wiring pattern excluding at least connection terminal portions of the substrate is formed Next, a step of forming a protective film (insulating protective film) that is cured by heat treatment, a step of gold-plating the wiring pattern including the connection terminal portion that is exposed without being covered with the protective film, and a connection of the wiring pattern It is preferably manufactured by a mounting method including a step of mounting an electronic component such as a semiconductor element using a gold bump or the like on the terminal portion, and then a step of protecting and fixing the electronic component using, for example, an underfill material.

ところで、この方法では、金メッキ処理の際に、金メッキ処理液が保護膜と導電性金属との間隙に浸透して、変色や剥がれや腐食を生じることがあり、フレキシブル配線板の信頼性が低下しかねないという問題があった。この為、この方法に用いる硬化性樹脂組成物には、耐金メッキ性の改良が求められてきた。   By the way, in this method, during the gold plating process, the gold plating solution may permeate into the gap between the protective film and the conductive metal, causing discoloration, peeling or corrosion, and the reliability of the flexible wiring board is lowered. There was a problem that could be. For this reason, the curable resin composition used in this method has been required to be improved in gold plating resistance.

一方、フレキシブル配線板の保護膜用に、置換基としてカルボキシル基及び/または水酸基を有するポリイミドシロキサン樹脂とエポキシ樹脂及び/または多価イソシアネート化合物とを含んで構成されたポリイミドシロキサン樹脂組成物を用いることは、既に公知である。そして、特許文献1には、スズメッキ浴に浸漬しても保護膜側の銅箔の変色が抑制できるポリイミドシロキサン樹脂組成物が開示されている。また、特許文献2には、スズメッキの際の保護膜と銅箔との隙間へのスズの侵入(スズ潜り)を回避するために、先にスズメッキ処理を行なった後で保護膜を形成する実装方法が採用されることが説明され、そのような実装方法で好適に用いることができるポリイミドシロキサン樹脂組成物が開示されている。
しかしながら、保護膜を形成した後で金メッキ処理を行なう実装方法で好適に用いることができるポリイミドシロキサン溶液組成物については記載がなかった。
On the other hand, a polyimide siloxane resin composition comprising a polyimide siloxane resin having a carboxyl group and / or a hydroxyl group as a substituent and an epoxy resin and / or a polyvalent isocyanate compound is used for a protective film of a flexible wiring board. Is already known. Patent Document 1 discloses a polyimidesiloxane resin composition that can suppress discoloration of the copper foil on the protective film side even when immersed in a tin plating bath. Further, Patent Document 2 discloses a mounting in which a protective film is formed after performing a tin plating process in advance in order to avoid intrusion of tin into the gap between the protective film and the copper foil during tin plating (tin diving). It is explained that the method is adopted, and a polyimide siloxane resin composition that can be suitably used in such a mounting method is disclosed.
However, there has been no description of a polyimidesiloxane solution composition that can be suitably used in a mounting method in which gold plating is performed after forming a protective film.

特開平7−304950号公報JP 7-304950 A 特開2004−211064号公報JP 2004-211064 A

本発明は、保護膜を形成した後で金メッキ処理を行なうフレキシブル配線板の実装方法において、耐金メッキ性が改良されたポリイミドシロキサン樹脂組成物を好適に用いた実装方法を提案することである。また、保護膜を形成した後で金メッキ処理を行なうフレキシブル配線板の実装方法において好適に用いることができる耐金メッキ性が改良されたポリイミドシロキサン樹脂組成物を提案することである。   An object of the present invention is to propose a mounting method using a polyimide siloxane resin composition with improved gold plating resistance in a flexible wiring board mounting method in which gold plating is performed after forming a protective film. Another object of the present invention is to propose a polyimidesiloxane resin composition with improved gold plating resistance, which can be suitably used in a flexible wiring board mounting method in which gold plating is performed after forming a protective film.

本発明は、以下の各項に関する。
1. フィルム表面に導電性金属の配線パタ−ンが形成された基板を準備する工程、少なくとも接続端子部を除く配線パタ−ンが形成された領域にポリイミドシロキサン樹脂組成物を塗布し次いで加熱処理して保護膜を形成する工程、保護膜で覆われず露出している配線パターンを金メッキ処理する工程、及び必要に応じて接続端子部分に電子部品を実装する工程を含むフレキシブル配線板の実装方法であって、
ポリイミドシロキサン樹脂組成物が、少なくとも、置換基(カルボキシル基及び/または水酸基)を有するポリイミドシロキサン樹脂(A)とエポキシ樹脂を必須成分とする硬化剤(B)とを含んで構成され、ポリイミドシロキサン樹脂(A)の置換基に対する硬化剤(B)のエポキシ基の割合([エポキシ基の数量]/[置換基の数量])が1.5以下であることを特徴とするフレキシブル配線板の実装方法。
The present invention relates to the following items.
1. The step of preparing a substrate on which a conductive metal wiring pattern is formed on the film surface, applying a polyimide siloxane resin composition to the region where the wiring pattern excluding at least the connection terminal portion is formed, and then heat-treating A method for mounting a flexible wiring board, including a step of forming a protective film, a step of gold-plating an exposed wiring pattern that is not covered with a protective film, and a step of mounting an electronic component on a connection terminal portion as necessary. And
The polyimide siloxane resin composition comprises at least a polyimide siloxane resin (A) having a substituent (carboxyl group and / or hydroxyl group) and a curing agent (B) having an epoxy resin as an essential component. The method of mounting a flexible wiring board, wherein the ratio of the epoxy group of the curing agent (B) to the substituent of (A) ([quantity of epoxy groups] / [quantity of substituents]) is 1.5 or less .

2. 硬化剤(B)が、エポキシ樹脂を含むことを特徴とする前記項1に記載のフレキシブル配線板の実装方法。 2. Item 2. The method for mounting a flexible wiring board according to Item 1, wherein the curing agent (B) contains an epoxy resin.

3. ポリイミドシロキサン樹脂(A)の置換基当量が、2000〜5000であることを特徴とする前記項1または2に記載のフレキシブル配線板の実装方法。 3. Item 3. The method for mounting a flexible wiring board according to Item 1 or 2, wherein the polyimide siloxane resin (A) has a substituent equivalent weight of 2000 to 5000.

4. 少なくとも、置換基(カルボキシル基及び/または水酸基)を有するポリイミドシロキサン樹脂(A)とエポキシ樹脂を必須成分とする硬化剤(B)とを含んで構成され、ポリイミドシロキサン樹脂(A)の置換基に対する硬化剤(B)のエポキシ基の割合([エポキシ基の数量]/[置換基の数量])が1.5以下である、配線パターンを金メッキ処理する工程を含んで実装されるフレキシブル配線板の保護膜に用いられることを特徴とするポリイミドシロキサン樹脂組成物。 4). It comprises at least a polyimidesiloxane resin (A) having a substituent (carboxyl group and / or hydroxyl group) and a curing agent (B) having an epoxy resin as an essential component, with respect to the substituent of the polyimidesiloxane resin (A). The ratio of the epoxy group of the curing agent (B) ([quantity of epoxy group] / [quantity of substituent]) is 1.5 or less, and the flexible wiring board is mounted including the step of gold plating the wiring pattern A polyimide siloxane resin composition, which is used for a protective film.

5. 硬化剤(B)が、エポキシ樹脂と多価イソシアネート化合物とを含むことを特徴とする前記項4に記載のポリイミドシロキサン樹脂組成物。 5). Item 5. The polyimide siloxane resin composition according to item 4, wherein the curing agent (B) contains an epoxy resin and a polyvalent isocyanate compound.

6. ポリイミドシロキサン樹脂(A)の置換基当量が、2000〜5000であることを特徴とする前記項4または5に記載のポリイミドシロキサン樹脂組成物。 6). Item 6. The polyimidesiloxane resin composition according to item 4 or 5, wherein the substituent equivalent of the polyimidesiloxane resin (A) is 2000 to 5000.

本発明によって、保護膜を形成した後で金メッキ処理を行なうフレキシブル配線板の実装方法において、耐金メッキ性が改良されたポリイミドシロキサン樹脂組成物を好適に用いた実装方法を提案することができる。また、保護膜を形成した後で金メッキ処理を行なうフレキシブル配線板の実装方法において好適に用いることができる耐金メッキ性が改良されたポリイミドシロキサン樹脂組成物を提案することができる。   According to the present invention, it is possible to propose a mounting method suitably using a polyimide siloxane resin composition having improved gold plating resistance in a mounting method of a flexible wiring board in which gold plating is performed after forming a protective film. Further, it is possible to propose a polyimidesiloxane resin composition with improved gold plating resistance that can be suitably used in a flexible wiring board mounting method in which gold plating is performed after forming a protective film.

本発明は、フィルム表面に導電性金属の配線パタ−ンが形成された基板を準備する工程、少なくとも接続端子部を除く配線パタ−ンが形成された領域にポリイミドシロキサン樹脂組成物を塗布し次いで加熱処理して保護膜を形成する工程、保護膜で覆われず露出している配線パターンを金メッキ処理する工程、及び必要に応じて接続端子部分に電子部品を実装する工程を含むフレキシブル配線板の実装方法であって、ポリイミドシロキサン樹脂組成物が、少なくとも、置換基(カルボキシル基及び/または水酸基)を有するポリイミドシロキサン樹脂(A)とエポキシ樹脂を必須成分とする硬化剤(B)とを含んで構成され、ポリイミドシロキサン樹脂(A)の置換基に対する硬化剤(B)のエポキシ基の割合([エポキシ基の数量]/[置換基の数量])が1.5以下であることを特徴とするフレキシブル配線板の実装方法に関する。   In the present invention, a step of preparing a substrate having a conductive metal wiring pattern formed on the film surface, at least applying a polyimide siloxane resin composition to a region where a wiring pattern excluding connection terminal portions is formed, A flexible wiring board including a step of forming a protective film by heat treatment, a step of gold-plating the exposed wiring pattern without being covered with the protective film, and a step of mounting electronic components on the connection terminal portion as necessary In the mounting method, the polyimidesiloxane resin composition includes at least a polyimidesiloxane resin (A) having a substituent (carboxyl group and / or hydroxyl group) and a curing agent (B) having an epoxy resin as an essential component. The ratio of the epoxy group of the curing agent (B) to the substituent of the polyimidesiloxane resin (A) ([quantity of epoxy groups] / [setting Implementation method of a flexible wiring board Quantity groups]) is equal to or more than 1.5.

本発明において、フィルムは、柔軟性を持った電気絶縁性の耐熱性フィルムが好適であり、通常は5〜80μm厚のポリイミドフィルムが好適に用いられる。配線パターンの形成は、フィルム表面に接着剤を介して或いは接着剤なしに銅箔やアルミ箔のような導電性金属箔を積層した積層体を用い、その導電性金属箔を感光性樹脂を用いエッチング法によって回路を形成する方法や、フィルム表面に導電性金属ペーストをスクリーン印刷して回路を形成する方法などの従来公知の方法によって好適に行なうことができる。銅箔は圧延銅箔でも電解銅箔でも構わない。配線パターンの厚みは2〜80μm程度、また配線パターンの線幅は5〜500μm程度のものが好適に用いられる。   In the present invention, the film is preferably an electrically insulating heat-resistant film having flexibility, and usually a polyimide film having a thickness of 5 to 80 μm is preferably used. The wiring pattern is formed by using a laminate in which a conductive metal foil such as copper foil or aluminum foil is laminated on the film surface with or without an adhesive, and the conductive metal foil is made of a photosensitive resin. It can be suitably performed by a conventionally known method such as a method of forming a circuit by an etching method or a method of forming a circuit by screen printing a conductive metal paste on the film surface. The copper foil may be a rolled copper foil or an electrolytic copper foil. A wiring pattern having a thickness of about 2 to 80 μm and a wiring pattern having a line width of about 5 to 500 μm is preferably used.

フィルム表面に導電性金属の配線パタ−ンが形成された基板は、少なくとも接続端子部を除く配線パタ−ンが形成された領域に、本発明の特徴であるポリイミドシロキサン樹脂組成物を塗布し次いで加熱処理して保護膜が形成される。なお、配線パターンの接続端子部は、半導体素子などの電子部品を接続するインナーリードや、基板を装置の他のユニットと接続するアウターリードなどのことであり、少なくとも接続端子部に保護膜は形成されない。   A substrate having a conductive metal wiring pattern formed on the film surface is coated with a polyimide siloxane resin composition, which is a feature of the present invention, at least in a region where a wiring pattern excluding connection terminal portions is formed. A protective film is formed by heat treatment. Note that the connection terminal part of the wiring pattern is an inner lead for connecting electronic components such as semiconductor elements, an outer lead for connecting the substrate to other units of the device, etc. A protective film is formed at least on the connection terminal part Not.

保護膜が形成された後で、保護膜で覆われず露出している配線パターンは金メッキ処理が行なわれる。金メッキ処理は、従来公知の方法を好適に採用でき、電解金メッキでもよく、また無電解金メッキでも構わない。また金メッキ処理の前にニッケルメッキ処理などの他のメッキ処理が行なわれても構わない。   After the protective film is formed, the exposed wiring pattern that is not covered with the protective film is subjected to a gold plating process. As the gold plating treatment, a conventionally known method can be suitably adopted, and electrolytic gold plating or electroless gold plating may be used. Further, other plating processes such as a nickel plating process may be performed before the gold plating process.

本発明のフレキシブル配線板の実装方法では、金メッキ処理が行なわれた後で、必ずしも必須ではないが、必要に応じて配線パターンの接続端子部分に金バンプなどを用いて半導体素子などの電子部品が実装され、次いで電子部品は例えばエポキシ樹脂系のアンダーフィル材や封止材によって保護固定化される。エポキシ樹脂系のアンダーフィル材や封止材は、通常60〜200℃程度の温度で加熱処理して硬化される。   The flexible wiring board mounting method of the present invention is not necessarily essential after the gold plating process is performed, but electronic components such as semiconductor elements are used by using gold bumps or the like in the connection terminal portions of the wiring pattern as necessary. After mounting, the electronic component is then protected and fixed by, for example, an epoxy resin-based underfill material or sealing material. Epoxy resin-based underfill materials and sealing materials are usually cured by heat treatment at a temperature of about 60 to 200 ° C.

本発明の特徴であるポリイミドシロキサン樹脂組成物は、少なくとも、置換基(カルボキシル基及び/または水酸基)を有するポリイミドシロキサン樹脂(A)とエポキシ樹脂を必須成分とする硬化剤(B)とを含んで構成され、ポリイミドシロキサン樹脂(A)の置換基に対する硬化剤(B)のエポキシ基の割合([エポキシ基の数量]/[置換基の数量])が1.5以下であることを特徴とする。   The polyimidesiloxane resin composition that is a feature of the present invention includes at least a polyimidesiloxane resin (A) having a substituent (carboxyl group and / or hydroxyl group) and a curing agent (B) containing an epoxy resin as an essential component. The ratio of the epoxy group of the curing agent (B) to the substituent of the polyimidesiloxane resin (A) ([quantity of epoxy groups] / [quantity of substituents]) is 1.5 or less. .

置換基(カルボキシル基及び/または水酸基)を有するポリイミドシロキサン樹脂(A)は、分子中に置換基のカルボキシル基及び/または水酸基を有するポリイミドシロキサン樹脂であり、分子中に置換基のカルボキシル基及び/または水酸基を有するユニットを導入することによって好適に得ることができる。限定するものではないが、例えば、溶媒中、テトラカルボン酸成分と、(a)ジアミノポリシロキサン、(b)置換基としてカルボキシル基及び/または水酸基を有するジアミン、及び必要に応じて(c)前記以外の他のジアミンからなるジアミン成分とを重合・イミド化することによって容易に得ることができる。   The polyimide siloxane resin (A) having a substituent (carboxyl group and / or hydroxyl group) is a polyimide siloxane resin having a carboxyl group and / or a hydroxyl group in the molecule, and the carboxyl group and / or the substituent in the molecule. Or it can obtain suitably by introduce | transducing the unit which has a hydroxyl group. Without limitation, for example, in a solvent, a tetracarboxylic acid component, (a) diaminopolysiloxane, (b) a diamine having a carboxyl group and / or a hydroxyl group as a substituent, and (c) said It can be easily obtained by polymerizing and imidizing with a diamine component composed of other diamines.

この反応に用いる溶媒は、テトラカルボン酸成分とジアミン成分とを好適に重合・イミド化してポリイミドシロキサンを得るための溶媒環境を与えるものであれば限定されないが、溶解性が優れる有機極性溶媒が好ましい。有機極性溶媒としては、含窒素系溶媒、例えばN,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジエチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、N−メチル−2−ピロリドン、1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン、N−メチルカプロラクタムなど、硫黄原子を含有する溶媒、例えばジメチルスルホキシド、ジエチルスルホキシド、ジメチルスルホン、ジエチルスルホン、ヘキサメチルスルホルアミドなど、フェノール系溶媒、例えばクレゾール、フェノール、キシレノールなど、ジグライム系溶媒、例えばジエチレングリコールジメチルエーテル(ジグライム)、トリエチレングリコールジメチルエーテル(トリグライム)、テトラグライムなど、酸素原子を分子内に有する溶媒、例えばアセトン、メタノール、エタノール、エチレングリコール、ジオキサン、イソホロン、テトラヒドロフランなど、ラクトン系溶媒、例えばγ−ブチルラクトン、γ−バレロラクトンなど、その他ピリジン、テトラメチル尿素などを挙げることができる。また必要に応じてベンゼン、トルエン、キシレンなどの芳香族炭化水素系溶媒やソルベントナフサ、ベンゾニトリルなど他の有機溶媒を併用してもよい。   The solvent used in this reaction is not limited as long as it provides a solvent environment for suitably polymerizing and imidizing a tetracarboxylic acid component and a diamine component to obtain polyimide siloxane, but an organic polar solvent having excellent solubility is preferable. . Examples of the organic polar solvent include nitrogen-containing solvents such as N, N-dimethylacetamide, N, N-diethylacetamide, N, N-dimethylformamide, N, N-diethylformamide, N-methyl-2-pyrrolidone, 1, Solvents containing sulfur atoms such as 3-dimethyl-2-imidazolidinone, N-methylcaprolactam, such as dimethyl sulfoxide, diethyl sulfoxide, dimethyl sulfone, diethyl sulfone, hexamethylsulfuramide, phenolic solvents such as cresol, Phenol, xylenol, etc., diglyme solvents such as diethylene glycol dimethyl ether (diglyme), triethylene glycol dimethyl ether (triglyme), tetraglyme, etc., solvents having oxygen atoms in the molecule, such as acetone, Methanol, ethanol, ethylene glycol, dioxane, isophorone, and tetrahydrofuran, lactone solvents such as γ- butyrolactone, etc. γ- valerolactone, other pyridine, and the like tetramethylurea. Moreover, you may use together other organic solvents, such as aromatic hydrocarbon type solvents, such as benzene, toluene, and xylene, solvent naphtha, and benzonitrile, as needed.

テトラカルボン酸成分としては、例えば2,3,3’,4’−ビフェニルテトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸、2,2’,3,3’−ビフェニルテトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ジフェニルエ−テルテトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸、2,2−ビス(3,4−ベンゼンジカルボン酸)ヘキサフルオロプロパン、ピロメリット酸、1,4−ビス(3,4−ベンゼンジカルボン酸)ベンゼン、2,2−ビス〔4−(3,4−フェノキシジカルボン酸)フェニル〕プロパン、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸、1,2,5,6−ナフタレンテトラカルボン酸、1,2,4,5−ナフタレンテトラカルボン酸、1,4,5,8−ナフタレンテトラカルボン酸、1,1−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)エタンなどの芳香族テトラカルボン酸、又は、それらの酸二無水物や低級アルコ−ルのエステル化物、および、シクロペンタンテトラカルボン酸、1,2,4,5−シクロヘキサンテトラカルボン酸、3−メチル−4−シクロヘキセン−1,2,4,5−テトラカルボン酸などの脂環族系テトラカルボン酸、又は、それらの酸二無水物や低級アルコ−ルのエステル化物を好適に挙げることができる。テトラカルボン酸成分は、ジアミンと反応させることが容易なテトラカルボン酸二無水物を用いることが好ましい。   Examples of the tetracarboxylic acid component include 2,3,3 ′, 4′-biphenyltetracarboxylic acid, 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic acid, and 2,2 ′, 3,3′-biphenyltetracarboxylic acid. Carboxylic acid, 3,3 ′, 4,4′-diphenyl ether tetracarboxylic acid, 3,3 ′, 4,4′-diphenylsulfone tetracarboxylic acid, 3,3 ′, 4,4′-benzophenone tetracarboxylic acid Acid, 2,2-bis (3,4-benzenedicarboxylic acid) hexafluoropropane, pyromellitic acid, 1,4-bis (3,4-benzenedicarboxylic acid) benzene, 2,2-bis [4- (3 , 4-phenoxydicarboxylic acid) phenyl] propane, 2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic acid, 1,2,5,6-naphthalenetetracarboxylic acid, 1,2,4,5-naphthalene Aromatic tetracarboxylic acids such as tetracarboxylic acid, 1,4,5,8-naphthalenetetracarboxylic acid, 1,1-bis (2,3-dicarboxyphenyl) ethane, or their acid dianhydrides or lower Alcohol esterified products and fats such as cyclopentanetetracarboxylic acid, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic acid, 3-methyl-4-cyclohexene-1,2,4,5-tetracarboxylic acid Preferable examples include cyclic tetracarboxylic acids, or acid dianhydrides and esterified products of lower alcohols. The tetracarboxylic acid component is preferably a tetracarboxylic dianhydride that can be easily reacted with a diamine.

ジアミン成分は、(a)ジアミノポリシロキサン、(b)置換基としてカルボキシル基及び/または水酸基を有するジアミン、及び必要に応じて(c)前記以外の他のジアミンによって構成される。   The diamine component is composed of (a) diaminopolysiloxane, (b) a diamine having a carboxyl group and / or a hydroxyl group as a substituent, and (c) other diamine other than the above, if necessary.

(a)ジアミノポリシロキサンとしては、分子内にシリレン骨格を有するジアミン化合物であれば特に限定されないが、好ましくは下記化学式(1)で表されるジアミン化合物である。   (A) The diaminopolysiloxane is not particularly limited as long as it is a diamine compound having a silylene skeleton in the molecule, but is preferably a diamine compound represented by the following chemical formula (1).

Figure 2012138455
化学式(1)において、Rは2価の脂肪族又は芳香族炭化水素基を示し、Rは独立に1価の脂肪族又は芳香族炭素水素基を示し、n1は2〜50の整数を示す。但し、化学式(1)中、Rは炭素数1〜6のアルキレン基又はフェニレン基、特にプロピレン基が好ましく、Rは独立に炭素数1〜5のアルキル基又はフェニル基が好ましく、n1は3〜50、特に3〜20が好ましい。ジアミノシロキサンのアミノ基は保護基で保護されていてもよい。尚、ジアミノポリシロキサンが2種以上の混合物からなる場合は、n1はアミノ当量から計算される。
Figure 2012138455
In the chemical formula (1), R 1 represents a divalent aliphatic or aromatic hydrocarbon group, R 2 independently represents a monovalent aliphatic or aromatic hydrocarbon group, and n1 represents an integer of 2 to 50. Show. However, in chemical formula (1), R 1 is preferably an alkylene group having 1 to 6 carbon atoms or a phenylene group, particularly preferably a propylene group, R 2 is independently preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms or a phenyl group, and n1 is 3-50, especially 3-20 are preferred. The amino group of diaminosiloxane may be protected with a protecting group. In addition, when diaminopolysiloxane consists of 2 or more types of mixtures, n1 is calculated from an amino equivalent.

(a)ジアミノポリシロキサンの例としては、α,ω−ビス(2−アミノエチル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(4−アミノフェニル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(4−アミノ−3−メチルフェニル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジフェニルシロキサン、α,ω−ビス(4−アミノブチル)ポリジメチルシロキサンなどが挙げられる。   Examples of (a) diaminopolysiloxane include α, ω-bis (2-aminoethyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (3-aminopropyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (4-amino). Phenyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (4-amino-3-methylphenyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (3-aminopropyl) polydiphenylsiloxane, α, ω-bis (4-aminobutyl) ) Polydimethylsiloxane and the like.

(b)置換基としてカルボキシル基及び/または水酸基を有するジアミンとは、分子中にカルボキシル基及び/または水酸基を有するジアミンであればよい。このようなジアミンをポリイミドシロキサンに導入する目的は、エポキシ基やイソシアネート基との反応による硬化反応を行わせるためである。
限定するものではないが、分子中にカルボキシル基及び/または水酸基を有する芳香族ジアミンが好適であり、好ましくは下記化学式(2)で表される芳香族ジアミンである。
(B) The diamine having a carboxyl group and / or a hydroxyl group as a substituent may be a diamine having a carboxyl group and / or a hydroxyl group in the molecule. The purpose of introducing such a diamine into polyimide siloxane is to cause a curing reaction by reaction with an epoxy group or an isocyanate group.
Although it does not limit, the aromatic diamine which has a carboxyl group and / or a hydroxyl group in a molecule | numerator is suitable, Preferably it is an aromatic diamine represented by following Chemical formula (2).

Figure 2012138455
化学式(2)において、X及びYは、それぞれ独立に、直接結合、CH、C(CH、C(CF、O、ベンゼン環、SOを示し、r1はCOOH又はOHを示し、n2は1又は2であり、n3、n4はそれぞれ独立に0、1又は2、好ましくは0又は1であり、n3及びn4の少なくとも一方は1又は2である。
Figure 2012138455
In the chemical formula (2), X and Y each independently represent a direct bond, CH 2 , C (CH 3 ) 2 , C (CF 3 ) 2 , O, a benzene ring, or SO 2 , and r1 is COOH or OH N2 is 1 or 2, n3 and n4 are each independently 0, 1 or 2, preferably 0 or 1, and at least one of n3 and n4 is 1 or 2.

化学式(2)で示されるジアミンの例としては、2,4−ジアミノフェノ−ルなどのジアミノフェノ−ル化合物類、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジハイドロキシビフェニル、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジハイドロキシビフェニル、4,4’−ジアミノ−2,2’−ジハイドロキシビフェニル、4,4’−ジアミノ−2,2’,5,5’−テトラハイドロキシビフェニルなどのヒドロキシビフェニル化合物類、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジハイドロキシジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジハイドロキシジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−2,2’−ジハイドロキシジフェニルメタン、2,2−ビス〔3−アミノ−4−ハイドロキシフェニル〕プロパン、2,2−ビス〔4−アミノ−3−ハイドロキシフェニル〕プロパン、2,2−ビス〔3−アミノ−4−ハイドロキシフェニル〕ヘキサフルオロプロパン、4,4’−ジアミノ−2,2’,5,5’−テトラハイドロキシジフェニルメタンなどのヒドロキシジフェニルアルカン化合物類、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジハイドロキシジフェニルエ−テル、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジハイドロキシジフェニルエ−テル、4,4’−ジアミノ−2,2’−ジハイドロキシジフェニルエ−テル、4,4’−ジアミノ−2,2’,5,5’−テトラハイドロキシジフェニルエ−テルなどのヒドロキシジフェニルエ−テル化合物類、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジハイドロキシジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジハイドロキシジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノ−2,2’−ジハイドロキシジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノ−2,2’,5,5’−テトラハイドロキシジフェニルスルホンなどのヒドロキシジフェニルスルホン化合物類、2,2−ビス〔4−(4−アミノ−3−ハイドロキシフェノキシ)フェニル〕プロパンなどのビス(ハイドロキシフェノキシフェニル)アルカン化合物類、4,4’−ビス(4−アミノ−3−ハイドロキシフェノキシ)ビフェニルなどのビス(ハイドロキシフェノキシ)ビフェニル化合物類、2,2−ビス〔4−(4−アミノ−3−ハイドロキシフェノキシ)フェニル〕スルホンなどのビス(ハイドロキシフェノキシフェニル)スルホン化合物類などのOH基を有するジアミン化合物を挙げることができる。   Examples of the diamine represented by the chemical formula (2) include diaminophenol compounds such as 2,4-diaminophenol, 3,3′-diamino-4,4′-dihydroxybiphenyl, 4,4 ′. -Diamino-3,3'-dihydroxybiphenyl, 4,4'-diamino-2,2'-dihydroxybiphenyl, 4,4'-diamino-2,2 ', 5,5'-tetrahydroxybiphenyl, etc. Hydroxybiphenyl compounds, 3,3′-diamino-4,4′-dihydroxydiphenylmethane, 4,4′-diamino-3,3′-dihydroxydiphenylmethane, 4,4′-diamino-2,2′-di Hydroxydiphenylmethane, 2,2-bis [3-amino-4-hydroxyphenyl] propane, 2,2-bis [4-amino-3-hydroxy Hydroxydiphenylalkane compounds such as benzyl] propane, 2,2-bis [3-amino-4-hydroxyphenyl] hexafluoropropane, 4,4′-diamino-2,2 ′, 5,5′-tetrahydroxydiphenylmethane 3,3′-diamino-4,4′-dihydroxydiphenyl ether, 4,4′-diamino-3,3′-dihydroxydiphenyl ether, 4,4′-diamino-2,2 ′ Hydroxydiphenyl ether compounds such as dihydroxydiphenyl ether, 4,4′-diamino-2,2 ′, 5,5′-tetrahydroxydiphenyl ether, 3,3′-diamino-4, 4'-dihydroxydiphenyl sulfone, 4,4'-diamino-3,3'-dihydroxydiphenyl sulfone, 4,4'-di Hydroxydiphenylsulfone compounds such as mino-2,2′-dihydroxydiphenylsulfone, 4,4′-diamino-2,2 ′, 5,5′-tetrahydroxydiphenylsulfone, 2,2-bis [4- ( Bis (hydroxyphenoxy) biphenyl compounds such as bis (hydroxyphenoxyphenyl) alkane compounds such as 4-amino-3-hydroxyphenoxy) phenyl] propane and 4,4′-bis (4-amino-3-hydroxyphenoxy) biphenyl And diamine compounds having an OH group such as bis (hydroxyphenoxyphenyl) sulfone compounds such as 2,2-bis [4- (4-amino-3-hydroxyphenoxy) phenyl] sulfone.

さらに、化学式(2)で示されるジアミンの例としては、3,5−ジアミノ安息香酸、2,4−ジアミノ安息香酸などのベンゼンカルボン酸類、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジカルボキシビフェニル、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジカルボキシビフェニル、4,4’−ジアミノ−2,2’−ジカルボキシビフェニル、4,4’−ジアミノ−2,2’,5,5’−テトラカルボキシビフェニルなどのカルボキシビフェニル化合物類、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジカルボキシジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジカルボキシジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−2,2’−ジカルボキシジフェニルメタン、2,2−ビス〔3−アミノ−4−カルボキシフェニル〕プロパン、2,2−ビス〔4−アミノ−3−カルボキシフェニル〕プロパン、2,2−ビス〔3−アミノ−4−カルボキシフェニル〕ヘキサフルオロプロパン、4,4’−ジアミノ−2,2’,5,5’−テトラカルボキシビフェニルなどのカルボキシジフェニルアルカン化合物類、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジカルボキシジフェニルエ−テル、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジカルボキシジフェニルエ−テル、4,4’−ジアミノ−2,2’−ジカルボキシジフェニルエ−テル、4,4’−ジアミノ−2,2’,5,5’−テトラカルボキシジフェニルエ−テルなどのカルボキシジフェニルエ−テル化合物類、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジカルボキシジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジカルボキシジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノ−2,2’,5,5’−テトラカルボキシジフェニルスルホンなどのカルボキシジフェニルスルホン化合物類、2,2−ビス〔4−(4−アミノ−3−カルボキシフェノキシ)フェニル〕プロパンなどのビス(カルボキシフェノキシフェニル)アルカン化合物類、4,4’−ビス(4−アミノ−3−カルボキシフェノキシ)ビフェニルなどのビス(カルボキシフェノキシ)ビフェニル化合物類、2,2−ビス〔4−(4−アミノ−3−カルボキシフェノキシ)フェニル〕スルホンなどのビス(カルボキシフェノキシフェニル)スルホン化合物類などのCOOH基を有するジアミン化合物を挙げることができる。   Furthermore, examples of the diamine represented by the chemical formula (2) include benzene carboxylic acids such as 3,5-diaminobenzoic acid and 2,4-diaminobenzoic acid, 3,3′-diamino-4,4′-dicarboxy Biphenyl, 4,4′-diamino-3,3′-dicarboxybiphenyl, 4,4′-diamino-2,2′-dicarboxybiphenyl, 4,4′-diamino-2,2 ′, 5,5 ′ Carboxyphenyl compounds such as tetracarboxybiphenyl, 3,3′-diamino-4,4′-dicarboxydiphenylmethane, 4,4′-diamino-3,3′-dicarboxydiphenylmethane, 4,4′-diamino- 2,2′-dicarboxydiphenylmethane, 2,2-bis [3-amino-4-carboxyphenyl] propane, 2,2-bis [4-amino-3-carboxy Carboxydiphenylalkane compounds such as boxyphenyl] propane, 2,2-bis [3-amino-4-carboxyphenyl] hexafluoropropane, 4,4′-diamino-2,2 ′, 5,5′-tetracarboxybiphenyl 3,3′-diamino-4,4′-dicarboxydiphenyl ether, 4,4′-diamino-3,3′-dicarboxydiphenyl ether, 4,4′-diamino-2,2 ′ -Carboxydiphenyl ether compounds such as dicarboxydiphenyl ether, 4,4'-diamino-2,2 ', 5,5'-tetracarboxydiphenyl ether, 3,3'-diamino-4, 4'-dicarboxydiphenyl sulfone, 4,4'-diamino-3,3'-dicarboxydiphenyl sulfone, 4,4'-diamino-2,2 , 5,5'-tetracarboxydiphenylsulfone and other carboxydiphenylsulfone compounds, and bis (carboxyphenoxyphenyl) alkane compounds such as 2,2-bis [4- (4-amino-3-carboxyphenoxy) phenyl] propane Bis (carboxyphenoxy) biphenyl compounds such as 4,4′-bis (4-amino-3-carboxyphenoxy) biphenyl, 2,2-bis [4- (4-amino-3-carboxyphenoxy) phenyl] sulfone Examples thereof include diamine compounds having a COOH group such as bis (carboxyphenoxyphenyl) sulfone compounds.

(c)他のジアミンは必要に応じて用いられる。(c)他のジアミンは、前記(a)ジアミノポリシロキサン及び(b)置換基としてカルボキシル基及び/または水酸基を有するジアミン以外のジアミンであれば特に限定されるものではないが、下記化学式(3)で示される複数のベンゼン環からなる芳香族ジアミンが好適である。   (C) Other diamines are used as necessary. (C) Other diamines are not particularly limited as long as they are diamines other than (a) diaminopolysiloxane and (b) a diamine having a carboxyl group and / or a hydroxyl group as a substituent. Aromatic diamines comprising a plurality of benzene rings represented by

Figure 2012138455
化学式(3)において、X及びYは、それぞれ独立に、直接結合、CH、C(CH、C(CF、O、ベンゼン環、SOを示し、n5は1又は2である。
Figure 2012138455
In the chemical formula (3), X and Y each independently represent a direct bond, CH 2 , C (CH 3 ) 2 , C (CF 3 ) 2 , O, a benzene ring, SO 2 , and n5 is 1 or 2 It is.

化学式(3)で示される芳香族ジアミンの例としては、1,4−ジアミノベンゼン、1,3−ジアミノベンゼン、2,4−ジアミノトルエン、1,4−ジアミノ−2,5−ジハロゲノベンゼンなどのベンゼン1個を含むジアミン類、ビス(4−アミノフェニル)エ−テル、ビス(3−アミノフェニル)エ−テル、ビス(4−アミノフェニル)スルホン、ビス(3−アミノフェニル)スルホン、ビス(4−アミノフェニル)メタン、ビス(3−アミノフェニル)メタン、ビス(4−アミノフェニル)スルフィド、ビス(3−アミノフェニル)スルフィド、2,2−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、2,2−ビス(3−アミノフェニル)プロパン、2,2−ビス(4−アミノフェニル)ヘキサフルオロプロパン、o−ジアニシジン、o−トリジン、トリジンスルホン酸類などのベンゼン2個を含むジアミン類、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェニル)ベンゼン、1,4−ビス(3−アミノフェニル)ベンゼン、α,α’−ビス(4−アミノフェニル)−1,4−ジイソプロピルベンゼン、α,α’−ビス(4−アミノフェニル)−1,3−ジイソプロピルベンゼンなどのベンゼン3個を含むジアミン類、2,2−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕プロパン、2,2−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕スルホン、4,4’−(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、9,9−ビス(4−アミノフェニル)フルオレン、5,10−ビス(4−アミノフェニル)アントラセンなどのベンゼン4個以上を含むジアミン類などのジアミン化合物が挙げられる。
また、ヘキサメチレンジアミン、ジアミノドデカンなど脂肪族ジアミン化合物を上記ジアミンと共に使用することができる。
Examples of the aromatic diamine represented by the chemical formula (3) include 1,4-diaminobenzene, 1,3-diaminobenzene, 2,4-diaminotoluene, 1,4-diamino-2,5-dihalogenobenzene and the like. Diamines containing one benzene, bis (4-aminophenyl) ether, bis (3-aminophenyl) ether, bis (4-aminophenyl) sulfone, bis (3-aminophenyl) sulfone, bis (4-aminophenyl) methane, bis (3-aminophenyl) methane, bis (4-aminophenyl) sulfide, bis (3-aminophenyl) sulfide, 2,2-bis (4-aminophenyl) propane, 2, 2-bis (3-aminophenyl) propane, 2,2-bis (4-aminophenyl) hexafluoropropane, o-dianisidine, o-to Diamines containing two benzenes such as gin and tolidine sulfonic acids, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-amino) Phenyl) benzene, 1,4-bis (3-aminophenyl) benzene, α, α′-bis (4-aminophenyl) -1,4-diisopropylbenzene, α, α′-bis (4-aminophenyl)- Diamines containing three benzenes such as 1,3-diisopropylbenzene, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] Hexafluoropropane, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 4,4 ′-(4-aminophenoxy) biphenyl, 9,9-bi Examples thereof include diamine compounds such as diamines containing 4 or more benzenes such as su (4-aminophenyl) fluorene and 5,10-bis (4-aminophenyl) anthracene.
In addition, aliphatic diamine compounds such as hexamethylene diamine and diaminododecane can be used together with the diamine.

使用するテトラカルボン酸成分とジアミン成分との割合は、略等モル、好ましくはジアミン成分1モルに対してテトラカルボン酸成分が0.95〜1.2、より好ましくは1.0〜1.1モル程度の割合である。   The ratio of the tetracarboxylic acid component and the diamine component used is approximately equimolar, preferably 0.95 to 1.2, more preferably 1.0 to 1.1, with respect to 1 mol of the diamine component. The molar ratio.

また、ジアミン成分は、特に限定されないが、ジアミン成分100モル%中、好ましくは20〜95モル%、より好ましくは40〜90モル%の(a)ジアミノポリシロキサン、好ましくは5〜80モル%、より好ましくは10〜60モル%の(b)置換基としてカルボキシル基及び/または水酸基を有するジアミンを使用することができる。また必要に応じて、好ましくは0〜75モル%、より好ましくは0〜40モル%の(c)前記以外の他のジアミンを使用することができる。   Further, the diamine component is not particularly limited, but in 100 mol% of the diamine component, preferably 20 to 95 mol%, more preferably 40 to 90 mol% of (a) diaminopolysiloxane, preferably 5 to 80 mol%, More preferably, a diamine having a carboxyl group and / or a hydroxyl group can be used as a substituent of 10 to 60 mol% (b). If necessary, 0 to 75 mol%, more preferably 0 to 40 mol% of (c) other diamines other than those described above can be used.

テトラカルボン酸成分とジアミン成分との「重合・イミド化」反応は、テトラカルボン酸成分とジアミン成分とが反応してイミド環を形成しながらポリイミド骨格を形成することを意味している。したがって、従来知られている重合・イミド化する方法を好適に用いることができる。例えば、溶媒中でテトラカルボン酸成分とジアミン成分とを100〜250℃程度の温度で加熱して一段で重合・イミド化することもできる。また、溶媒中でテトラカルボン酸成分とジアミン成分とを100℃以下程度の温度で反応させてポリイミド前駆体(ポリアミック酸)とし、次いで100〜250℃程度に加熱してイミド化させるか、または脱水環化試薬である無水酢酸/ピリジン系やジシクロへキシルカルボジイミド等の化学イミド化剤によってイミド化させることもできる。イミド化反応では、トルエンやキシレンなどの共沸剤を添加して反応し生成水を系外に除いても構わない。   The “polymerization / imidization” reaction between the tetracarboxylic acid component and the diamine component means that the tetracarboxylic acid component reacts with the diamine component to form an imide ring while forming a polyimide skeleton. Therefore, a conventionally known polymerization / imidization method can be suitably used. For example, the tetracarboxylic acid component and the diamine component can be heated at a temperature of about 100 to 250 ° C. in a solvent to be polymerized and imidized in one step. Further, a tetracarboxylic acid component and a diamine component are reacted in a solvent at a temperature of about 100 ° C. or less to obtain a polyimide precursor (polyamic acid), and then heated to about 100 to 250 ° C. for imidization or dehydration. It can also be imidized by a chemical imidizing agent such as acetic anhydride / pyridine system or dicyclohexylcarbodiimide as a cyclizing reagent. In the imidization reaction, an azeotropic agent such as toluene or xylene may be added and reacted to remove the generated water from the system.

ポリイミドシロキサン樹脂は、有機溶媒に少なくとも3重量%以上、好ましくは5〜60重量%程度の高濃度で溶解させることができるもので、25℃の溶液粘度(E型回転粘度計)が1〜10000ポイズ、特に1〜100ポイズであることが好ましい。また、ポリイミドシロキサン樹脂はイミド化率が高いものが好ましい。分子量の目安としての対数粘度(測定濃度:0.5g/100ミリリットル、溶媒:N−メチル−2−ピロリドン、測定温度:30℃)は、0.15以上、特に0.16〜2のものが硬化物の強度、伸度などの機械的物性の点から好ましい。また、赤外吸収スペクトルから求められるイミド化率は、90%以上特に95%以上更に実質的に100%のものが好ましい。   The polyimidesiloxane resin can be dissolved in an organic solvent at a high concentration of at least 3% by weight, preferably about 5 to 60% by weight, and the solution viscosity at 25 ° C. (E-type rotational viscometer) is 1 to 10,000. A poise, particularly 1 to 100 poise is preferred. The polyimide siloxane resin preferably has a high imidization rate. The logarithmic viscosity (measurement concentration: 0.5 g / 100 ml, solvent: N-methyl-2-pyrrolidone, measurement temperature: 30 ° C.) as a measure of molecular weight is 0.15 or more, particularly 0.16 to 2 This is preferable from the viewpoint of mechanical properties such as strength and elongation of the cured product. Further, the imidation ratio obtained from the infrared absorption spectrum is preferably 90% or more, particularly 95% or more, and substantially 100%.

本発明のポリイミドシロキサン樹脂組成物の硬化剤(B)は、エポキシ樹脂を必須成分として含むものである。したがって、硬化剤(B)はエポキシ樹脂だけでも良いが、エポキシ樹脂と多価イソシアネート化合物とを含むものを好適に用いることができる。
The curing agent (B) of the polyimidesiloxane resin composition of the present invention contains an epoxy resin as an essential component. Therefore, the curing agent (B) may be an epoxy resin alone, but those containing an epoxy resin and a polyvalent isocyanate compound can be suitably used.
,

エポキシ樹脂としては、エポキシ基を有する化合物であれば特に限定はないが、エポキシ当量が100〜4000程度であって、分子量が300〜10000程度である液状又は固体状のものが好ましい。例えば、ビスフェノールA型やビスフェノールF型のエポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン社製:エピコート806、エピコート825、エピコート828、エピコート1001、エピコート1002、エピコート1003、エピコート1004、エピコート1055、エピコート1004AF,エピコート1007、エピコート1009、エピコート1010など)、3官能以上のエポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン社製:エピコート152、エピコート154、エピコート180シリ−ズ、エピコート157シリ−ズ、エピコート1032シリ−ズ、チバガイギ−製:MT0163など)、宇部興産株式会社製のハイカーETBN1300×40、ナガセケムテックス株式会社製のデナレックスR−45EPT、2官能のビフェニル型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン社製:YX4000シリーズ)、エポキシ変性ポリシロキサン(信越化学工業社製:KF105など)などを挙げることができる。   The epoxy resin is not particularly limited as long as it is a compound having an epoxy group, but a liquid or solid resin having an epoxy equivalent of about 100 to 4000 and a molecular weight of about 300 to 10,000 is preferable. For example, bisphenol A type or bisphenol F type epoxy resin (manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd .: Epicoat 806, Epicoat 825, Epicoat 828, Epicoat 1001, Epicoat 1002, Epicoat 1003, Epicoat 1004, Epicoat 1055, Epicoat 1004AF, Epicoat 1007, Epicoat 1009, Epicoat 1010, etc.) Trifunctional or higher functional epoxy resin (Japan Epoxy Resins Co., Ltd .: Epicoat 152, Epicoat 154, Epicoat 180 Series, Epicoat 157 Series, Epicoat 1032 Series, Ciba-Geigy: MT0163, etc. ), Hibe ETBN 1300 × 40 manufactured by Ube Industries, Ltd., Denarex R-45EPT manufactured by Nagase ChemteX Corporation, bifunctional bifeni Type epoxy resin (Japan Epoxy Resins Co., Ltd.: YX4000 series), epoxy-modified polysiloxane (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., etc. KF105) and the like.

エポキシ樹脂とともに配合される多価イソシアネートとしては、1分子中にイソシアネ−ト基を2個以上有するものであればよい。このような多価イソシアネ−ト化合物としては、脂肪族、脂環族または芳香族のジイソシアネ−ト等があり、例えば1,4−テトラメチレンジイソシアネ−ト、1,5−ペンタメチレンジイソシアネ−ト、1,6−ヘキサメチレンジイソシアネ−ト、2,2,4−トリメチル−1,6−へキサメチレンジイソシアネ−ト、リジンジイソシアネ−ト、3−イソシアネ−トメチル−3,5,5−トリメチルシクロヘキシルイソシアネ−ト(イソホロンジイソシアネ−ト)、1,3−ビス(イソシアネ−トメチル)−シクロヘキサン、4,4’−ジシクロヘキシルメタンジイソシアネ−ト、トリレンジイソシアネ−ト、4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネ−ト、1,5−ナフタレンジイソシアネ−ト、トリジンジイソシアネ−ト、キシリレンジイソシアネ−ト等を挙げることができる。
更に、多価イソシアネ−ト化合物として、脂肪族、脂環族または芳香族の多価イソシアネ−トから誘導されるもの、例えばイソシアヌレ−ト変性多価イソシアネ−ト、ビュレット変性多価イソシアネ−ト、ウレタン変性多価イソシアネ−ト等であってもよい。
また、前記多価イソシアネ−ト化合物は、多価イソシアネ−トのイソシアネ−ト基をブロック化剤でブロックしたブロック多価イソシアネ−トが好適に使用される。
ブロック多価イソシアネ−トとしては、大日本インキ化学工業株式会社製のバーノックD−500(トリレンジイソシアネ−トブロック化体)、D−550(1,6−ヘキサメチレンジイソシアネ−トブロック化体)、三井武田ケミカル株式会社製のタケネートタケネートB−830(トリレンジイソシアネ−トブロック化体)、B−815N(4,4’−メチレンビス(シクロヘキシルイソシアネート)ブロック化体)、B−842N(1,3−ビス(イソシアネートメチル)シクロヘキサンブロック化体)、B−846N(1,3−ビス(イソシアネートメチル)シクロヘキサンブロック化体)、B−874N(イソホロンンジイソシアネ−トブロック化体)、第一工業製薬社製のエラストロンBN−P17(4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネ−ト ブッロク化体)、エラストロンBN−04、エラストロンBN−08、エラストロンBN−44、エラストロンBN−45(以上、ウレタン変性多価イソシアネートブッロク化体1分子当たり3〜5官能、いずれも水エマルジョン品で乾燥単離後使用可能)などを好適に挙げることができる。
The polyvalent isocyanate blended with the epoxy resin may be any one having two or more isocyanate groups in one molecule. Examples of such polyvalent isocyanate compounds include aliphatic, alicyclic or aromatic diisocyanates, such as 1,4-tetramethylene diisocyanate and 1,5-pentamethylene diisocyanate. Net, 1,6-hexamethylene diisocyanate, 2,2,4-trimethyl-1,6-hexamethylene diisocyanate, lysine diisocyanate, 3-isocyanate methyl 3,5,5-trimethylcyclohexyl isocyanate (isophorone diisocyanate), 1,3-bis (isocyanatomethyl) -cyclohexane, 4,4'-dicyclohexylmethane diisocyanate, tolylene diisocyanate Neat, 4,4'-diphenylmethane diisocyanate, 1,5-naphthalene diisocyanate, tolidine diisocyanate, xylylene diene Soshiane - door, and the like can be given.
Further, as the polyvalent isocyanate compound, those derived from aliphatic, alicyclic or aromatic polyvalent isocyanates such as isocyanurate-modified polyisocyanate, burette-modified polyisocyanate, It may be a urethane-modified polyvalent isocyanate.
As the polyvalent isocyanate compound, a block polyvalent isocyanate in which the isocyanate group of the polyvalent isocyanate is blocked with a blocking agent is preferably used.
Examples of the block polyvalent isocyanate include Burnock D-500 (tolylene diisocyanate blocked) and D-550 (1,6-hexamethylene diisocyanate blocked) manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc. ), Takenate Takenate B-830 (tolylene diisocyanate blocked), B-815N (4,4′-methylenebis (cyclohexyl isocyanate) blocked), B-842N (made by Mitsui Takeda Chemical Co., Ltd.) 1,3-bis (isocyanatemethyl) cyclohexane blocked), B-846N (1,3-bis (isocyanatemethyl) cyclohexane blocked), B-874N (isophorone diisocyanate blocked), first Elastolone BN-P17 (4,4'-diphenylmethane manufactured by Kogyo Seiyaku Co., Ltd. Isocyanate block), Elastron BN-04, Elastron BN-08, Elastron BN-44, Elastron BN-45 (above, 3 to 5 functional groups per molecule of urethane-modified polyisocyanate block, all water emulsion (It can be used after being dried and isolated with a product).

本発明のポリイミドシロキサン樹脂組成物において、ポリイミドシロキサン樹脂(A)の置換基(カルボキシル基及び/または水酸基)は架橋基としての役割を有している。そして、本発明においては、ポリイミドシロキサン樹脂(A)の置換基(カルボキシル基及び/または水酸基)と硬化剤(B)のエポキシ基の割合([エポキシ基の数量]/[置換基の数量])は、1.5以下、好ましくは1.3以下、より好ましくは1.2以下である。また、好ましくは0.2以上、より好ましくは0.3以上である。
この割合([エポキシ基の数量]/[置換基の数量])が、1.5を越えると耐金メッキ性が低下することがあるので好ましくなく、一方0.2未満では耐溶剤性などの特性が低下するので好ましくない。
In the polyimidesiloxane resin composition of the present invention, the substituent (carboxyl group and / or hydroxyl group) of the polyimidesiloxane resin (A) has a role as a crosslinking group. In the present invention, the ratio of the substituent (carboxyl group and / or hydroxyl group) of the polyimidesiloxane resin (A) to the epoxy group of the curing agent (B) ([quantity of epoxy groups] / [quantity of substituents]). Is 1.5 or less, preferably 1.3 or less, more preferably 1.2 or less. Moreover, Preferably it is 0.2 or more, More preferably, it is 0.3 or more.
If this ratio ([epoxy group quantity] / [substituent quantity]) exceeds 1.5, it is not preferable because the gold plating resistance may deteriorate. On the other hand, if it is less than 0.2, characteristics such as solvent resistance are not obtained. Is unfavorable because it decreases.

特に限定するものではないが、エポキシ樹脂の使用量は、通常、ポリイミドシロキサン樹脂100質量部に対して0.1〜30質量部程度である。また、多価イソシアネ−ト化合物の使用量は、通常、ポリイミドシロキサン樹脂100質量部に対して0〜40質量部程度である。   Although it does not specifically limit, the usage-amount of an epoxy resin is about 0.1-30 mass parts normally with respect to 100 mass parts of polyimide siloxane resins. Moreover, the usage-amount of a polyvalent isocyanate compound is about 0-40 mass parts normally with respect to 100 mass parts of polyimidesiloxane resins.

本発明のポリイミドシロキサン樹脂組成物において、置換基(カルボキシル基及び/または水酸基)を有するポリイミドシロキサン樹脂(A)は、置換基当量が2000〜5000、特に3000〜4000であることが好ましい。置換基当量は、置換基(カルボキシル基及び/または水酸基)一個当りのポリイミドシロキサンの質量である。
置換基当量が2000未満では、得られる硬化物の架橋密度が高くなって柔軟性が少なくなることがあり、5000を超えると、ポリイミドシロキサン樹脂(A)の置換基(カルボキシル基及び/または水酸基)と硬化剤(B)のエポキシ基の割合([エポキシ基の数量]/[置換基の数量])が1.5以下の範囲では、特に得られる硬化物の架橋密度が低くり、耐溶剤性などの特性が低下し易くなる。
In the polyimidesiloxane resin composition of the present invention, the polyimidesiloxane resin (A) having a substituent (carboxyl group and / or hydroxyl group) preferably has a substituent equivalent of 2000 to 5000, particularly 3000 to 4000. The substituent equivalent is the mass of polyimide siloxane per substituent (carboxyl group and / or hydroxyl group).
When the substituent equivalent is less than 2,000, the resulting cured product has a high crosslinking density and may be less flexible. When it exceeds 5,000, the polyimide siloxane resin (A) has a substituent (carboxyl group and / or hydroxyl group). When the ratio of the epoxy groups in the curing agent (B) ([quantity of epoxy groups] / [quantity of substituents]) is 1.5 or less, the resulting cured product has a low crosslink density and solvent resistance. The characteristics such as are likely to deteriorate.

本発明のポリイミドシロキサン樹脂組成物は、置換基(カルボキシル基及び/または水酸基)を有するポリイミドシロキサン樹脂(A)、及びエポキシ樹脂を必須成分とする硬化剤(B)と共に、溶媒を必須成分とした溶液組成物として好適に用いられる。溶媒は、ポリイミドシロキサン樹脂を製造する際に用いることができる溶媒を好適に用いることができる。   The polyimide siloxane resin composition of the present invention comprises a polyimide siloxane resin (A) having a substituent (carboxyl group and / or hydroxyl group), and a curing agent (B) having an epoxy resin as an essential component, and a solvent as an essential component. It is suitably used as a solution composition. As the solvent, a solvent that can be used when producing a polyimidesiloxane resin can be suitably used.

本発明のポリイミドシロキサン樹脂組成物は、固形分濃度として溶媒中に少なくとも3質量%、好ましくは5〜60質量%、より好ましくは20〜60質量%、更に好ましくは30〜60質量%溶解されていることが好適である。より高濃度の溶液組成物になるほど粘度安定性の問題が生じ易くなる。このため、60質量%を越えると粘度が高くなり通常は取り扱いが難しく作業性が悪い。ポリイミドシロキサン樹脂組成物の粘度は、25℃における溶液粘度(E型回転粘度)が、好ましくは0.1〜1000Pa・s、より好ましくは0.1〜100Pa・sである。   The polyimidesiloxane resin composition of the present invention is dissolved in a solvent at a solid content concentration of at least 3% by mass, preferably 5 to 60% by mass, more preferably 20 to 60% by mass, and still more preferably 30 to 60% by mass. It is preferable that The higher the concentration of the solution composition, the more likely the problem of viscosity stability occurs. For this reason, when it exceeds 60 mass%, a viscosity will become high and handling will be difficult normally and workability | operativity will be bad. The viscosity of the polyimidesiloxane resin composition is preferably a solution viscosity (E-type rotational viscosity) at 25 ° C. of 0.1 to 1000 Pa · s, more preferably 0.1 to 100 Pa · s.

本発明のポリイミドシロキサン樹脂組成物は、さらに用途に応じて、フェノール樹脂などの樹脂、有機または無機フィラー、着色顔料、例えばイミダゾール類や3級アミン類などの硬化触媒、例えばポリシロキサン系、フッ素変性ポリシロキサン系、ポリアクリル系、ポリビニル系などの消泡剤、例えばヒンダードフェノール系化合物、リン系化合物、ヒンダードアミン系化合物などの難燃化剤や酸化防止剤などの保護膜用の樹脂組成物に用いられる従来公知の成分を好適に用いることができる。
なお、フェノール樹脂は、本発明において保護膜を形成する際には、ポリイミドシロキサン樹脂(A)のカルボキシル基及び/または水酸基との反応性が低いために、硬化反応に実質的な関与はないと考えられる。
The polyimide siloxane resin composition of the present invention further comprises a resin such as a phenol resin, an organic or inorganic filler, a coloring pigment such as a curing catalyst such as an imidazole or a tertiary amine, such as a polysiloxane, a fluorine-modified resin. For resin compositions for protective films such as flame retardants and antioxidants such as antifoaming agents such as polysiloxane, polyacrylic and polyvinyl, such as hindered phenolic compounds, phosphorus compounds and hindered amine compounds The conventionally well-known component used can be used suitably.
In addition, when a phenol resin forms a protective film in this invention, since the reactivity with the carboxyl group and / or hydroxyl group of a polyimidesiloxane resin (A) is low, there is no substantial participation in a curing reaction. Conceivable.

有機または無機フィラーとしては、公知のものを好適に使用できる。例えば、シリカ、アルミナ、酸化チタン、硫酸バリウム、タルク、炭酸カルシウム、ガラス粉、石英粉などの無機の微粒子、エポキシ樹脂粉末、メラミン樹脂粉末、尿素樹脂粉末、グアナミン樹脂粉末、ポリエステル樹脂粉末、ポリアミド樹脂粉末、ポリイミド樹脂粉末、ゴム粒子、シリコーンパウダー等の有機の微粒子を好適に用いることができる。その粒子径(平均粒径)は、0.001〜2μmが好適である。スクリーン印刷によりパターン形成する場合には、滲み出しを抑制するためシリカなどのフィラーを加えてチキソ性を付与することが好ましい。有機または無機フィラーの配合量は、概ねポリイミドシロキサン樹脂(A)100質量部に対して、1〜200質量部、好ましくは5〜100質量部である。   As the organic or inorganic filler, known ones can be suitably used. For example, inorganic fine particles such as silica, alumina, titanium oxide, barium sulfate, talc, calcium carbonate, glass powder, quartz powder, epoxy resin powder, melamine resin powder, urea resin powder, guanamine resin powder, polyester resin powder, polyamide resin Organic fine particles such as powder, polyimide resin powder, rubber particles, and silicone powder can be suitably used. The particle diameter (average particle diameter) is preferably 0.001 to 2 μm. In the case of forming a pattern by screen printing, it is preferable to add thixotropic properties by adding a filler such as silica in order to suppress bleeding. The compounding amount of the organic or inorganic filler is generally 1 to 200 parts by mass, preferably 5 to 100 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the polyimidesiloxane resin (A).

着色顔料としては、青色顔料、緑色顔料、黄色顔料などの公知の顔料を単独な乃至複数種を混合して好適に用いることができる。その中でも、分子構造に塩素原子及び臭素原子を含まない顔料を、単独な乃至複数種用いて、青色や緑色を呈するように着色することが好ましい。分子構造に塩素原子及び臭素原子を含む化合物を組成物中に含む場合、これを用いた製品が焼却される際、有害物質が発生する可能性がある。
着色顔料の配合量は、目的の色に着色できれ限定はないが、通常ポリイミドシロキサン樹脂100質量部に対し、0.01〜5質量部程度が好ましく、0.05〜1質量部がより好ましい。
As the coloring pigment, known pigments such as a blue pigment, a green pigment, and a yellow pigment can be suitably used singly or in combination. Among these, it is preferable to use a pigment that does not contain a chlorine atom and a bromine atom in the molecular structure, and use a single pigment or a plurality of pigments so as to give blue or green color. When a compound containing a chlorine atom and a bromine atom in the molecular structure is contained in the composition, a harmful substance may be generated when a product using the compound is incinerated.
The blending amount of the color pigment is not limited as long as the target color can be colored, but is usually preferably about 0.01 to 5 parts by mass, more preferably 0.05 to 1 part by mass with respect to 100 parts by mass of the polyimidesiloxane resin. .

本発明のポリイミドシロキサン樹脂組成物は、フレキシブル配線板の少なくとも接続端子部を除いた配線パターンの表面に、例えばスクリーン印刷などによって、保護膜の厚さが3〜60μm程度となるように、塗布されて塗膜を形成し、低温で溶媒を除去し、次いで加熱処理によって、ポリイミドシロキサン樹脂(A)と硬化剤(B)とが硬化反応を行うように、例えば60〜200℃、好ましくは80〜150℃、より好ましくは100〜130℃で、5分〜5時間、好ましくは10分〜3時間、より好ましくは15分〜2時間、熱風や赤外線や遠赤外線によって加熱処理することによって、保護膜を好適に得ることができる。   The polyimidesiloxane resin composition of the present invention is applied to the surface of the wiring pattern excluding at least the connection terminal portion of the flexible wiring board so that the thickness of the protective film is about 3 to 60 μm, for example, by screen printing. The coating film is formed, the solvent is removed at a low temperature, and then the polyimidesiloxane resin (A) and the curing agent (B) undergo a curing reaction by heat treatment, for example, 60 to 200 ° C., preferably 80 to Protective film by heat treatment at 150 ° C., more preferably 100 to 130 ° C., for 5 minutes to 5 hours, preferably 10 minutes to 3 hours, more preferably 15 minutes to 2 hours, with hot air, infrared rays or far infrared rays Can be suitably obtained.

本発明のポリイミドシロキサン樹脂組成物の硬化反応では、比較的高分子量のポリイミドシロキサン樹脂の架橋基(カルボキシル基及び/または水酸基)と、エポキシ樹脂や多価イソシアネート化合物の反応基とが反応する。このために、反応場に架橋基と反応基が均一に分散していないので、理論的な量論反応は行われないと考えられる。したがって、本発明において加熱処理して得られる保護膜では、ある程度の架橋構造が形成されると共に、ポリイミドシロキサン樹脂(A)の架橋基や硬化剤(B)の反応基の相当量は、未反応の状態で残存していると思われる。
本発明の特徴は、ポリイミドシロキサン樹脂組成物の前記のような特殊な反応の結果として得られる保護膜の耐金メッキ性が、硬化剤(B)としてエポキシ樹脂と多価イソシアネート化合物とを併用している場合でも、ポリイミドシロキサン樹脂(A)の置換基(カルボキシル基及び/または水酸基)に対する硬化剤(B)のエポキシ基の割合([エポキシ基の数量]/[置換基の数量])を制御することによって達成したところにある。保護膜の耐金メッキ性には、硬化剤(B)が多価イソシアネート化合物を含有している場合であっても、その使用量による直接的な関係は見られない。
In the curing reaction of the polyimidesiloxane resin composition of the present invention, the crosslinking group (carboxyl group and / or hydroxyl group) of the relatively high molecular weight polyimidesiloxane resin reacts with the reactive group of the epoxy resin or polyvalent isocyanate compound. For this reason, since the cross-linking group and the reactive group are not uniformly dispersed in the reaction field, it is considered that the theoretical stoichiometric reaction is not performed. Therefore, in the protective film obtained by the heat treatment in the present invention, a certain amount of cross-linked structure is formed, and a considerable amount of the cross-linking group of the polyimidesiloxane resin (A) and the reactive group of the curing agent (B) is not reacted. It seems that it remains in the state.
The feature of the present invention is that the gold plating resistance of the protective film obtained as a result of the special reaction as described above of the polyimidesiloxane resin composition is a combination of an epoxy resin and a polyvalent isocyanate compound as a curing agent (B). Even if it exists, the ratio ([quantity of epoxy group] / [quantity of substituent]) of the curing agent (B) to the substituent (carboxyl group and / or hydroxyl group) of the polyimidesiloxane resin (A) is controlled. It has been achieved by The gold plating resistance of the protective film is not directly related to the amount of use even when the curing agent (B) contains a polyvalent isocyanate compound.

本発明のフレキシブル配線板の実装方法では、この様な保護膜を形成する工程の後で、保護膜で覆われず露出している配線パターンを金メッキ処理する際、金メッキ処理液が保護膜と導電性金属との間隙に浸透して、変色や剥がれや腐食を生じるという問題の発生が抑制されて、より信頼性が高いフレキシブル配線板を製造することができる。   In the flexible wiring board mounting method of the present invention, after the step of forming such a protective film, when the exposed wiring pattern that is not covered with the protective film is gold-plated, the gold plating treatment liquid is electrically conductive with the protective film. It is possible to manufacture a flexible wiring board with higher reliability by suppressing the occurrence of problems such as discoloration, peeling, and corrosion by penetrating into the gap with the conductive metal.

本発明のフレキシブル配線板の実装方法では、保護膜で覆われず露出している配線パターンを金メッキ処理する工程の後で、必ずしも必須ではないが、必要に応じて配線パターンの接続端子部分に金バンプなどを用いて半導体素子などの電子部品を実装し、さらに電子部品を例えばアンダーフィル材や封止材を用いて保護固定化することによって、フレキシブル配線板を好適に製造することができる。
本発明のフレキシブル配線板の実装方法は、いわゆるCOF方式、或いはFPC方式の実装において特に好適に採用することができる。
In the flexible wiring board mounting method of the present invention, it is not always necessary after the gold plating treatment for the exposed wiring pattern that is not covered with the protective film, but if necessary, the connecting terminal portion of the wiring pattern may be coated with gold. A flexible wiring board can be suitably manufactured by mounting electronic components such as semiconductor elements using bumps and the like, and further protecting and fixing the electronic components using, for example, an underfill material or a sealing material.
The mounting method of the flexible wiring board of the present invention can be particularly preferably employed in the so-called COF method or FPC method.

以下、本発明を実施例によって更に詳しく説明する。なお、本発明は以下の例に限定されるものではない。   Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples. In addition, this invention is not limited to the following examples.

以下の例で用いた評価方法は以下のとおりである。
[固形分濃度の測定方法]
試料の溶液組成物について、120℃で10分間、次いで250℃で60分間の順に昇温しながら加熱処理した。加熱処理前の試料重量(w1)と加熱処理後の重量(w2)から、次式により固形分濃度を算出した。
固形分濃度(%)=[w2/w1]×100
The evaluation methods used in the following examples are as follows.
[Measurement method of solid content]
The sample solution composition was heat-treated while being heated in the order of 120 ° C. for 10 minutes and then 250 ° C. for 60 minutes. From the sample weight (w1) before the heat treatment and the weight (w2) after the heat treatment, the solid content concentration was calculated by the following formula.
Solid content concentration (%) = [w2 / w1] × 100

[溶液粘度の測定方法]
E型回転粘度計を用いて、25℃における10rpmでの溶液粘度を測定した。
[Measurement method of solution viscosity]
The solution viscosity at 10 rpm at 25 ° C. was measured using an E-type rotational viscometer.

[耐金メッキ性の評価方法]
フレキシブル配線板(銅張積層板として、宇部興産社製 ユピセルN Cu箔厚/PIフィルム厚=9μm/25μmを用いたもの)上へ実施例のように配合したポリイミドシロキサン組成物を、乾燥・硬化後の膜厚が15〜20μmになるようにスクリーン印刷で塗布した。その膜を80℃×30分で乾燥後、150℃×60分で硬化させ保護膜を作成した。次いで、保護膜で覆われず露出している配線パターンを電解金/ニッケルメッキ(Au層厚/Ni層厚=0.3μm/0.5μm)し、得られたフレキシブル配線板の保護膜の端部における金メッキの潜り込み量(端部からの距離)を観察し耐金メッキ性を評価した。
潜り込み量が50μm未満を○、以上を×とした。
[Evaluation method of gold plating resistance]
Dry and cure the polyimide siloxane composition blended as in the above example on a flexible wiring board (using copper-clad laminates using Upicel N Cu foil thickness / PI film thickness = 9 μm / 25 μm manufactured by Ube Industries) It apply | coated by screen printing so that the film thickness after that might be set to 15-20 micrometers. The film was dried at 80 ° C. for 30 minutes and then cured at 150 ° C. for 60 minutes to form a protective film. Next, the exposed wiring pattern not covered with the protective film is subjected to electrolytic gold / nickel plating (Au layer thickness / Ni layer thickness = 0.3 μm / 0.5 μm), and the end of the protective film of the obtained flexible wiring board The amount of gold plating in the part (distance from the end) was observed to evaluate the resistance to gold plating.
The depth of penetration was less than 50 μm, and the above was rated as x.

[置換基当量の測定方法]
試料を梨型三つ口フラスコに精秤し、THF40mLを用いて完全に溶解させた。フラスコ内を窒素ガスで置換し、フェノールフタレイン溶液を適量加入した。次に、ミクロビューレット(KOH)をセットして攪拌下で滴定量(t1)を求めた。また、空試験の滴定量(t2)を同様に測定した。COOH基当量は以下の計算式で算出した。
置換基当量(g/eq)=
1/[{(t1−t2)×0.01×F/(S×固形分濃度)}/1000]
t1:試料溶液の0.01mol/L KOH−エタノール溶液滴定量(mL)
t2:空試料の0.01mol/L KOH−エタノール溶液滴定量(mL)
F:0.01mol/L KOH−エタノール溶液のFactor
S:試料(g)
[Method for measuring substituent equivalent]
The sample was precisely weighed in a pear-shaped three-necked flask and completely dissolved using 40 mL of THF. The inside of the flask was replaced with nitrogen gas, and an appropriate amount of a phenolphthalein solution was added. Next, a micro burette (KOH) was set and the titer (t1) was determined under stirring. Moreover, the titer (t2) of the blank test was measured in the same manner. The COOH group equivalent was calculated by the following formula.
Substituent equivalent (g / eq) =
1 / [{(t1-t2) × 0.01 × F / (S × solid content concentration)} / 1000]
t1: 0.01 mol / L KOH-ethanol solution titration of sample solution (mL)
t2: 0.01 mol / L KOH-ethanol solution titration of empty sample (mL)
F: Factor of 0.01 mol / L KOH-ethanol solution
S: Sample (g)

以下の例で用いた原材料は以下のとおりである。
硬化剤
(エポキシ樹脂)
エピコート157S70:三菱化学社製 エポキシ当量200
YX4000HK:三菱化学社製 エポキシ当量190
(イソシアネート)
バーノックD−550:DIC社製(1,6−ヘキサメチレンジイソシアネ−トブロック化体:NCO濃度6.9%)
硬化促進剤
JEFFCAT DMDEE: ハンツマン社製 (ビス[(2−モルホリノ)エチル]エーテル)
2E4MZ: 四国化成工業社製(2−エチル−4メチルイミダゾール)
フィラー
SG−95:日本タルク社製 平均粒径2.5μm
アエロジル#50:日本アエロジル社製 平均粒径30nm
The raw materials used in the following examples are as follows.
Curing agent (epoxy resin)
Epicoat 157S70: Epoxy equivalent 200 manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation
YX4000HK: Epoxy equivalent 190 manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation
(Isocyanate)
Burnock D-550: manufactured by DIC (1,6-hexamethylene diisocyanate blocked: NCO concentration 6.9%)
Curing accelerator JEFFCAT DMDEE: manufactured by Huntsman (bis [(2-morpholino) ethyl] ether)
2E4MZ: Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd. (2-ethyl-4methylimidazole)
Filler SG-95: average particle size 2.5 μm manufactured by Nippon Talc
Aerosil # 50: Nippon Aerosil Co., Ltd. average particle size 30 nm

〔参考例1〕
ポリイミドシロキサン樹脂の製造
容量500mlのガラス製フラスコに、2,3,3’,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物61.79g(0.21モル)、溶媒のトリグライム100gを仕込み、窒素雰囲気下、80℃で加熱撹拌した。α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジメチルシロキサン(アミン当量422)122.24g(0.145モル)、トリグライム40gを加え、175℃で60分加熱撹拌した。さらにこの反応溶液に、2,2−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕プロパン13.59g(0.033モル)とビス(3−カルボキシ−4−アミノフェニル)メタン8.29g(0.029モル)及びトリグライム50gを加え、175℃で20時間加熱撹拌した後、濾過を行った。得られたポリイミドシロキサン反応溶液は、ポリマ−固形分濃度52重量%、ηinh0.20の溶液であった。イミド化率は実質的に100%であった。
[Reference Example 1]
Manufacture of polyimidesiloxane resin A glass flask with a capacity of 500 ml was charged with 61.79 g (0.21 mol) of 2,3,3 ′, 4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride and 100 g of solvent triglyme under a nitrogen atmosphere. The mixture was heated and stirred at 80 ° C. 122.24 g (0.145 mol) of α, ω-bis (3-aminopropyl) polydimethylsiloxane (amine equivalent 422) and 40 g of triglyme were added, and the mixture was heated and stirred at 175 ° C. for 60 minutes. Furthermore, 13.29 g (0.033 mol) of 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane and 8.29 g (0 of bis (3-carboxy-4-aminophenyl) methane were added to this reaction solution. 0.029 mol) and 50 g of triglyme were added, and the mixture was heated and stirred at 175 ° C. for 20 hours and then filtered. The resulting polyimidesiloxane reaction solution was a solution having a polymer solid content concentration of 52% by weight and ηinh of 0.20. The imidization rate was substantially 100%.

〔参考例2〕
容量500mlのガラス製フラスコに、2,3,3’,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物60.02g(0.21モル)、溶媒のトリグライム100gを仕込み、窒素雰囲気下、80℃で加熱撹拌した。α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジメチルシロキサン(アミン当量422)118.16g(0.14モル)、トリグライム40gを加え、175℃で60分加熱撹拌した。さらにこの反応溶液に、2,2−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕プロパン12.32g(0.03モル)と3,5−ジアミノ安息香酸4.56g(0.03モル)及びトリグライム50gを加え、175℃で20時間加熱撹拌した後、濾過を行った。得られたポリイミドシロキサン反応溶液は、ポリマ−固形分濃度52重量%、ηinh0.20の溶液であった。イミド化率は実質的に100%であった。
[Reference Example 2]
A glass flask with a capacity of 500 ml is charged with 60.02 g (0.21 mol) of 2,3,3 ′, 4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride and 100 g of solvent triglyme and heated at 80 ° C. in a nitrogen atmosphere. Stir. α, ω-bis (3-aminopropyl) polydimethylsiloxane (amine equivalent 422) 118.16 g (0.14 mol) and triglyme 40 g were added, and the mixture was heated and stirred at 175 ° C. for 60 minutes. Further, this reaction solution was charged with 12.32 g (0.03 mol) of 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 4.56 g (0.03 mol) of 3,5-diaminobenzoic acid, and Triglyme (50 g) was added, and the mixture was heated and stirred at 175 ° C. for 20 hours, followed by filtration. The resulting polyimidesiloxane reaction solution was a solution having a polymer solid content concentration of 52% by weight and ηinh of 0.20. The imidization rate was substantially 100%.

〔実施例1〕
参考例1のポリイミドシロキサン樹脂溶液に、ポリイミドシロキサン樹脂100質量部に対してエポキシ樹脂のエピコート157S70を1.2質量部、エポキシ樹脂のYX4000HKを1.2質量部、微粉状シリカのアエロジル50を10.0質量部、タルクのSG−95を80.0質量部、さらに、シランカップリング剤のKBE-402を1.68重量部加えて攪拌し、均一に混合したポリイミドシロキサン樹脂組成物を得た。
前記ポリイミドシロキサン樹脂組成物に、ポリイミドシロキサン樹脂及びエポキシ樹脂の合計量100質量部に対して、さらに硬化促進剤としてビス[(2−モルホリノ)エチル]エーテル0.8質量部と、2E4MZ0.2質量部とを、シクロヘキサノンおよびジグライム混合溶媒(シクロヘキサノン:ジグライム=1:6)27gに溶解させて加えてポリイミドシロキサン樹脂組成物を得た。
この樹脂組成物をフレキシブル配線板の銅配線パターン面上にスクリーン印刷し、80℃30分および150℃60分で加熱処理して保護膜を形成した。次いで、保護膜で覆われず露出している配線パターンを金メッキ処理し、得られたフレキシブル配線板の保護膜の端部における耐金メッキ性を観察した。表1に、ポリイミドシロキサン樹脂組成物と耐金メッキ性の評価結果を示す。
[Example 1]
In the polyimidesiloxane resin solution of Reference Example 1, 1.2 parts by mass of epoxy resin Epicoat 157S70, 1.2 parts by mass of epoxy resin YX4000HK, and 10 parts of Aerosil 50 of finely divided silica are added to 100 parts by mass of polyimidesiloxane resin. 0.08 parts by mass, 80.0 parts by mass of talc SG-95, and 1.68 parts by weight of silane coupling agent KBE-402 were added and stirred to obtain a uniformly mixed polyimidesiloxane resin composition. .
In addition to 100 parts by mass of the total amount of polyimidesiloxane resin and epoxy resin in the polyimidesiloxane resin composition, 0.8 parts by mass of bis [(2-morpholino) ethyl] ether and 2E4MZ0.2 mass as a curing accelerator. Was dissolved in 27 g of a mixed solvent of cyclohexanone and diglyme (cyclohexanone: diglyme = 1: 6) to obtain a polyimidesiloxane resin composition.
This resin composition was screen-printed on the copper wiring pattern surface of the flexible wiring board and heat-treated at 80 ° C. for 30 minutes and 150 ° C. for 60 minutes to form a protective film. Next, the exposed wiring pattern not covered with the protective film was subjected to gold plating treatment, and the gold plating resistance at the end of the protective film of the obtained flexible wiring board was observed. Table 1 shows the evaluation results of the polyimidesiloxane resin composition and gold plating resistance.

〔実施例2〜4〕
硬化剤(B)の種類と添加量とを表1に示すように変更した以外は実施例1と同様に行って、ポリイミドシロキサン樹脂組成物を得た。
この樹脂組成物を用いて実施例1と同様にして、保護膜の端部における耐金メッキ性を観察した。表1に、ポリイミドシロキサン樹脂組成物と耐金メッキ性の評価結果を示す。
[Examples 2 to 4]
Except having changed the kind and addition amount of a hardening | curing agent (B) as shown in Table 1, it carried out similarly to Example 1 and obtained the polyimidesiloxane resin composition.
Using this resin composition, the gold plating resistance at the end of the protective film was observed in the same manner as in Example 1. Table 1 shows the evaluation results of the polyimidesiloxane resin composition and gold plating resistance.

〔比較例1〜2 〕
ポリイミドシロキサン樹脂(A)と硬化剤(B)の種類と添加量とを表1に示すように変更した以外は実施例1と同様に行って、ポリイミドシロキサン樹脂組成物を得た。
この樹脂組成物を用いて実施例1と同様にして、保護膜の端部における耐金メッキ性を観察した。表1に、ポリイミドシロキサン樹脂組成物と耐金メッキ性の評価結果を示す。
[Comparative Examples 1-2]
A polyimide siloxane resin composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that the types and addition amounts of the polyimide siloxane resin (A) and the curing agent (B) were changed as shown in Table 1.
Using this resin composition, the gold plating resistance at the end of the protective film was observed in the same manner as in Example 1. Table 1 shows the evaluation results of the polyimidesiloxane resin composition and gold plating resistance.

Figure 2012138455
Figure 2012138455

本発明によって、保護膜を形成した後で金メッキ処理を行なうフレキシブル配線板の実装方法において、耐金メッキ性が改良されたポリイミドシロキサン樹脂組成物を好適に用いた実装方法を提案することができる。また、保護膜を形成した後で金メッキ処理を行なうフレキシブル配線板の実装方法において好適に用いることができる耐金メッキ性が改良されたポリイミドシロキサン樹脂組成物を提案することができる。   According to the present invention, it is possible to propose a mounting method suitably using a polyimide siloxane resin composition having improved gold plating resistance in a mounting method of a flexible wiring board in which gold plating is performed after forming a protective film. Further, it is possible to propose a polyimidesiloxane resin composition with improved gold plating resistance that can be suitably used in a flexible wiring board mounting method in which gold plating is performed after forming a protective film.

Claims (6)

フィルム表面に導電性金属の配線パタ−ンが形成された基板を準備する工程、少なくとも接続端子部を除く配線パタ−ンが形成された領域にポリイミドシロキサン樹脂組成物を塗布し次いで加熱処理して保護膜を形成する工程、保護膜で覆われず露出している配線パターンを金メッキ処理する工程、及び必要に応じて接続端子部分に電子部品を実装する工程を含むフレキシブル配線板の実装方法であって、
ポリイミドシロキサン樹脂組成物が、少なくとも、置換基(カルボキシル基及び/または水酸基)を有するポリイミドシロキサン樹脂(A)とエポキシ樹脂を必須成分とする硬化剤(B)とを含んで構成され、ポリイミドシロキサン樹脂(A)の置換基に対する硬化剤(B)のエポキシ基の割合([エポキシ基の数量]/[置換基の数量])が1.5以下であることを特徴とするフレキシブル配線板の実装方法。
The step of preparing a substrate on which a conductive metal wiring pattern is formed on the film surface, applying a polyimide siloxane resin composition to the region where the wiring pattern excluding at least the connection terminal portion is formed, and then heat-treating A method for mounting a flexible wiring board, including a step of forming a protective film, a step of gold-plating an exposed wiring pattern that is not covered with a protective film, and a step of mounting an electronic component on a connection terminal portion as necessary. And
The polyimide siloxane resin composition comprises at least a polyimide siloxane resin (A) having a substituent (carboxyl group and / or hydroxyl group) and a curing agent (B) having an epoxy resin as an essential component. The method of mounting a flexible wiring board, wherein the ratio of the epoxy group of the curing agent (B) to the substituent of (A) ([quantity of epoxy groups] / [quantity of substituents]) is 1.5 or less .
硬化剤(B)が、エポキシ樹脂と多価イソシアネート化合物とを含むことを特徴とする請求項1に記載のフレキシブル配線板の実装方法。   The method for mounting a flexible wiring board according to claim 1, wherein the curing agent (B) contains an epoxy resin and a polyvalent isocyanate compound. ポリイミドシロキサン樹脂(A)の置換基当量が、2000〜5000であることを特徴とする請求項1または2に記載のフレキシブル配線板の実装方法。   The mounting method of the flexible wiring board according to claim 1 or 2, wherein the substituent equivalent of the polyimidesiloxane resin (A) is 2000 to 5000. 少なくとも、置換基(カルボキシル基及び/または水酸基)を有するポリイミドシロキサン樹脂(A)とエポキシ樹脂を必須成分とする硬化剤(B)とを含んで構成され、ポリイミドシロキサン樹脂(A)の置換基に対する硬化剤(B)のエポキシ基の割合([エポキシ基の数量]/[置換基の数量])が1.5以下である、配線パターンを金メッキ処理する工程を含んで実装されるフレキシブル配線板の保護膜に用いられることを特徴とするポリイミドシロキサン樹脂組成物。   It comprises at least a polyimidesiloxane resin (A) having a substituent (carboxyl group and / or hydroxyl group) and a curing agent (B) having an epoxy resin as an essential component, with respect to the substituent of the polyimidesiloxane resin (A). The ratio of the epoxy group of the curing agent (B) ([quantity of epoxy group] / [quantity of substituent]) is 1.5 or less, and the flexible wiring board is mounted including the step of gold plating the wiring pattern A polyimide siloxane resin composition, which is used for a protective film. 硬化剤(B)が、エポキシ樹脂と多価イソシアネート化合物とを含むことを特徴とする請求項4に記載のポリイミドシロキサン樹脂組成物。   The polyimide siloxane resin composition according to claim 4, wherein the curing agent (B) contains an epoxy resin and a polyvalent isocyanate compound. ポリイミドシロキサン樹脂(A)の置換基当量が、2000〜5000であることを特徴とする請求項4または5に記載のポリイミドシロキサン樹脂組成物。   The polyimide siloxane resin composition according to claim 4 or 5, wherein the substituent equivalent of the polyimide siloxane resin (A) is 2000 to 5000.
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