JP2012122839A - パラメータ選定装置、落雷模擬システム、パラメータ選定方法、及び落雷模擬方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】パラメータ選定装置14は、供試体20及び複数の外周導体22で構成される負荷回路のインダクタンスが予め定められたインダクタンス目標値以下となるためのパラメータとして、外周導体22の幅、外周導体22と供試体20との距離D、及び外周導体22の数を導出し、導出したパラメータを基準として、外周導体22への通電により発生する磁場の大きさを導出し、該磁場の大きさが予め定められた磁場目標値以下となるように外周導体22の幅、外周導体22と供試体20との距離D、及び外周導体22の数を導出する。
【選択図】図1
Description
非特許文献1には、模擬雷電流を通電する負荷回路として、外周導体(リターン導体)に電流を流すことによって模擬雷電流を供試体へ通電させるが、複数の外周導体を供試体の周囲に同軸配置する事により、外周導体を流れる電流によって発生する供試体の周囲の磁場の影響を打ち消す負荷回路が記載されている。
これは、被試験物に印加する雷サージが伝搬してくる伝送路と同じ線路定数を有し、エネルギーが最大になる(電力反射がない)条件で、ケーブル又はそのケーブルの伝搬特性を近似する集中定数負荷回路を接続することにより、被試験物のインピーダンスに依存せず雷サージが印加できる技術である。
すなわち、模擬雷電流を供試体へ通電する場合、供試体の周囲の磁場の影響を抑制し、かつ負荷回路のインダクタンスを低くする必要がある。しかし、磁場の影響の抑制と負荷回路のインダクタンスの低下は、上記のように、トレードオフの関係にあり、これらを両立させた負荷回路を構成することは容易ではなかった。
すなわち、本発明に係るパラメータ選定装置は、パラメータ選定装置落雷に対する評価対象となる構造物としての内側導体の周囲に配置された複数の外周導体に電流を印加し、予め定められた前記外周導体と前記内側導体との間に電流が流れることによって、前記構造物への落雷を模擬するための前記内側導体及び前記外周導体を含む負荷回路のパラメータ選定装置であって、前記負荷回路のインダクタンスが予め定められた第1の目標値以下となるためのパラメータとして、前記外周導体の幅、前記外周導体と前記内側導体との距離、及び前記外周導体の数の少なくとも一つを導出する第1の導出手段と、前記第1の導出手段によって導出されたパラメータを基準として、前記外周導体への通電により発生する磁場の大きさを導出し、該磁場の大きさが予め定められた第2の目標値以下となる前記外周導体の幅、前記外周導体と前記内側導体との距離、及び前記外周導体の数の少なくとも一つを導出する第2の導出手段と、を備える。
そして、第1の導出手段によって、負荷回路のインダクタンスが第1の目標値以下となるためのパラメータとして、外周導体の幅、外周導体と内側導体との距離、及び外周導体の数の少なくとも一つが導出される。
これによって、負荷回路のインダクタンスが、落雷を模擬するために適した大きさとなる。
これによって、負荷回路に発生する磁場が、落雷を模擬するために適した大きさとなる。
以下、本発明の第1実施形態について説明する。
図1は、本第1実施形態に係る落雷模擬システム10の構成を示す模式図である。
落雷模擬システム10は、落雷模擬装置12及びパラメータ選定装置14を備える。
図2に示すように、供試体20及び複数の外周導体22は、模擬雷電源24に電気的に接続される。模擬雷電源24と供試体20との間には、スイッチ26が設けられており、スイッチ26が閉じられると、予め定められた外周導体22(外周導体22S)と供試体20との間に電流(模擬雷電流)がパルス状に流れる。これによって、雷が構造物としての供試体へ落ちる(着雷する)ことを模擬する。
なお、供試体20へ着雷させる外周導体22Sは、例えば、電流が流れる細い導体構造(例えば棒状又はワイヤー状)を有しており、火花放電によって外周導体22Sから供試体20へ模擬雷電流を流す。しかし、これに限らず、供試体20へ着雷させる外周導体22Sは、供試体20と直接電気的に接続され、電流が印加されることによって外周導体22Sから供試体20へ模擬雷電流を流してもよい。
このように、磁場の発生の有無が、自然界における着雷と落雷模擬装置12による着雷とで異なる。
そこで、複数の外周導体22を供試体20の周囲に対して略同軸上に配置し、供試体20へ模擬落雷電流を流す場合に、供試体20の周囲に配置された外周導体22に電流が流れるようにすることで、模擬雷を供試体20へ落としたときに発生する磁場が、供試体20内で打ち消されるようにする。
本第1実施形態に係るパラメータ選定装置14は、供試体20の周囲に配置される複数の外周導体22に関するパラメータである、外周導体22の幅(以下、「外周導体幅W」という。)、外周導体22と供試体20との距離D、及び外周導体22の数(以下、「外周導体数N」という。)を選定するための情報処理装置である。
なお、通信回線42は、電気事業者によって提供される広域通信回線又はLAN(Local Area Network)等の構内通信網等であり、有線回線又は無線回線の何れであってもよい。
なお、ステップ100で導出される外周導体幅W、距離D、及び外周導体数Nは、負荷回路のインダクタンス及びインピーダンスがインダクタンス目標値及びインピーダンス目標値以下となるための幅(例えば、外周導体幅W=5〜30mm、距離D=0.1〜1mm、外周導体数=10〜20本)を有する値であればよい。
具体的には、平板として模擬できる領域毎に供試体20を複数に分割したモデルの各々が平板負荷50である。さらに、平板負荷50に対して外周導体幅Wの外周導体22を距離Dで対向させた電磁界解析モデルを作成し、外周導体22に電流を印加したときに平板負荷50に発生する誘導電流を解析的に算出する。なお、電磁界解析モデルで一つの平板負荷に対抗させる外周導体22の数は一つである必要はなく、複数であってもよい。
そして、複数の平板モデルによって得られた結果を結合させる。この場合、平板負荷50で模擬したモデルと供試体20との誤差を補正するために、所定の平板モデルの結果に補正係数を乗算してもよい。これにより、平板モデルによって得られた結果をより精度の高いものとすることができる。
この平板モデルによって得られた平板負荷50を流れる誘導電流に基づいて、負荷回路のインダクタンス及びインピーダンスを算出し、負荷回路のインダクタンス及びインピーダンスがインダクタンス目標値及びインピーダンス目標値以下となる外周導体幅W、外周導体22と供試体20との距離D、及び外周導体数Nを導出する。このように、平板モデルを用いることにより、より簡易かつ効率的に負荷回路のインダクタンス及びインピーダンスがインダクタンス目標値及びインピーダンス目標値以下となる外周導体幅W、外周導体22と供試体20との距離D、及び外周導体数Nを導出することができる。
上記「パラメータを基準として」とは、ステップ100によって導出された外周導体幅W、外周導体22と供試体20との距離D、及び外周導体数Nの幅の範囲内又は該範囲を含むより広い範囲内で、磁場の大きさ磁場目標値以下となる外周導体幅W、外周導体22と供試体20との距離D、及び外周導体数Nを導出することをいう。
上記誘導電流の比を算出するためのモデルとして、上述した平板モデルを用いてもよいし、供試体20を模擬した3次元モデルを用いてもよい。
ステップ106へ移行する場合は、一例として、負荷回路のインピーダンスがインピーダンス目標値を超過している場合が考えられる。そのため、外周導体22と供試体20との距離Dを短くすること、外周導体数Nを増加させることの少なくとも一方を行うことで、負荷回路のインダクタンスがインダクタンス目標値以内、インピーダンスがインピーダンス目標値以内とすることが考えられる。
この落雷模擬試験によって、例えば、航空機の燃料タンク構造の対雷(防爆)性能の向上試験や性能評価試験等のために構造物を流れる電流や電圧分布が計測されたり、落雷模擬試験による実験結果と解析結果との比較を行うことによる解析精度の検証が行われる。
従って、本第1実施形態に係るパラメータ選定装置14は、供試体20の周囲に配置された複数の外周導体22による磁場の影響を抑制し、かつインダクタンスが低い負荷回路の構成を容易に求めることができる。
以下、本発明の第2実施形態について説明する。
なお、本第2実施形態に係る落雷模擬システム10、落雷模擬装置12、及びパラメータ選定装置14の構成は、図1から図3に示される第1実施形態に係る落雷模擬システム10、落雷模擬装置12、及びパラメータ選定装置14の構成と同様であるので説明を省略する。
上記パラメータは、例えば、図6に示すように、供試体20との間で模擬雷電流が流れる外周導体22Sを基準とした、隣り合う外周導体22の間隔H(ピッチ)が含まれる。なお、隣り合う外周導体22の間隔とは、外周導体22に対して印加電流が流れる方向(図6の紙面垂直方向)に交差(直交)する方向である。
本来、外周導体22に流れる電流は着雷点に近い側の外周導体22に流れやすいが、上記のような外周導体22の疎密配置を行うことによって、着雷点により近い側の外周導体22へ電流が集中することを抑制し、着雷点よりも遠い側の外周導体22に分散して電流を通電することができる。
この結果、外周導体22を流れる電流が一カ所に集中することを抑制できるので、外周導体22を流れる電流により発生する磁場によって供試体20に流れる誘導電流の最大値を、図6(B)に示すように外周導体22を均等配置した場合に比較して小さくできる。すなわち、外周導体22を均等配置する場合よりも、外周導体22を流れる電流によって発生する磁場の影響を抑制することができる。
このように、外周導体22の材質及び寸法を異ならせることで、着雷点により近い側の外周導体22へ電流が集中することを抑制し、着雷点よりも遠い側の外周導体22に分散して電流を通電することができる。
12 落雷模擬装置
14 パラメータ選定装置
20 供試体
22 外周導体
24 模擬雷電源
50 平板負荷
Claims (9)
- 落雷に対する評価対象となる構造物としての内側導体の周囲に配置された複数の外周導体に電流を印加し、予め定められた前記外周導体と前記内側導体との間に電流が流れることによって、前記構造物への落雷を模擬するための前記内側導体及び前記外周導体を含む負荷回路のパラメータ選定装置であって、
前記負荷回路のインダクタンスが予め定められた第1の目標値以下となるためのパラメータとして、前記外周導体の幅、前記外周導体と前記内側導体との距離、及び前記外周導体の数の少なくとも一つを導出する第1の導出手段と、
前記第1の導出手段によって導出されたパラメータを基準として、前記外周導体への通電により発生する磁場の大きさを導出し、該磁場の大きさが予め定められた第2の目標値以下となる前記外周導体の幅、前記外周導体と前記内側導体との距離、及び前記外周導体の数の少なくとも一つを導出する第2の導出手段と、
を備えたパラメータ選定装置。 - 前記第1の導出手段は、前記内側導体を模擬した平板モデルを用い、前記負荷回路のインダクタンスが前記第1の目標値以下となる前記外周導体の幅、前記外周導体と前記内側導体との距離、及び前記外周導体の数の少なくとも一つを導出する請求項1記載のパラメータ選定装置。
- 前記第2の導出手段は、前記内側導体の周囲に前記外周導体が配置されない場合における前記内側導体に発生する電流の大きさと、前記内側導体の周囲に複数の前記外周導体が配置されている場合における前記内側導体に発生する電流の大きさの比が所定の目標値となった場合に、磁場の大きさが第2の目標値以下となったと判定する請求項1又は請求項2記載のパラメータ選定装置。
- 前記第1の導出手段及び前記第2の導出手段によって導出されるパラメータとして、前記外周導体に流れる電流の大きさを前記外周導体毎に異ならせるパラメータが含まれる請求項1から請求項3の何れか1項記載のパラメータ選定装置。
- 前記外周導体に流れる電流の大きさを前記外周導体毎に異ならせるパラメータは、前記内側導体との間で電流が流れる前記外周導体を基準とした、隣り合う前記外周導体の間隔である請求項4記載のパラメータ選定装置。
- 前記外周導体に流れる電流の大きさを前記外周導体毎に異ならせるパラメータは、前記外周導体の材質及びインダクタンスの少なくとも一方である請求項4記載のパラメータ選定装置。
- 請求項1から請求項6の何れか1項記載のパラメータ選定装置と、
落雷に対する評価対象となる構造物としての内側導体と、
前記パラメータ選定装置によって選定されたパラメータに基づいて、前記内側導体の周囲に配置される複数の外周導体と、
複数の前記外周導体に電流を印加し、予め定められた前記外周導体と前記内側導体との間に模擬雷電流としての電流を流す電流印加装置と、
を備えた落雷模擬システム。 - 落雷に対する評価対象となる構造物としての内側導体の周囲に配置された複数の外周導体に電流を印加し、予め定められた前記外周導体と前記内側導体との間に電流が流れることによって、前記構造物への落雷を模擬するための前記内側導体及び前記外周導体を含む負荷回路のパラメータ選定方法であって、
前記負荷回路のインダクタンスが第1の目標値以下となるためのパラメータとして、前記外周導体の幅、前記外周導体と前記内側導体との距離、及び前記外周導体の数の少なくとも一つを導出する第1工程と、
前記第1工程によって導出されたパラメータを基準として、前記外周導体への通電により、発生する磁場の大きさを導出し、該磁場の大きさが第2の目標値以下となる前記外周導体の幅、前記外周導体と前記内側導体との距離、及び前記外周導体の数の少なくとも一つを導出する第2工程と、
を含むパラメータ選定方法。 - 請求項8項記載のパラメータ選定方法によって選定されたパラメータに基づいて配置された複数の外周導体に電流を印加し、予め定められた前記外周導体と落雷に対する評価対象となる構造物としての内側導体との間に模擬落雷電流としての電流を流す落雷模擬方法。
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