JP2012104779A - 光デバイスウエーハの分割方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 光デバイスウエーハを効率良く個々の光デバイスに分割できるとともに光デバイスの輝度の低下を招かない光デバイスウエーハの分割方法を提供することである。
【解決手段】 光デバイスウエーハを個々の光デバイスに分割する光デバイスウエーハの分割方法であって、光デバイスウエーハの表面に粘着テープを貼着する粘着テープ貼着工程と、分割予定ラインに対応するサファイア基板の内部に改質層を形成する改質層形成工程と、光デバイスウエーハに外力を付与して光デバイスウエーハを個々の光デバイスに分割する分割工程と、光デバイスウエーハの裏面に形態維持部材を貼着する形態維持工程と、光デバイスウエーハの表面に剛性を有するプレートを貼着する剛性プレート貼着工程と、サファイア基板の裏面から形態維持部材を剥離してサファイア基板の裏面を露出させる形態維持部材剥離工程と、サファイア基板の裏面を研削して改質層を除去する裏面研削工程と、を具備したことを特徴とする。
【選択図】図11

Description

本発明は、レーザビームを照射して光デバイスウエーハを個々の光デバイスに分割する光デバイスウエーハの分割方法に関する。
サファイア基板、SiC基板等の表面に窒化ガリウム(GaN)等の半導体層(エピタキシャル層)を形成し、該半導体層にLED等の複数の光デバイスが格子状に形成されたストリート(分割予定ライン)によって区画されて形成された光デバイスウエーハは、モース硬度が比較的高く切削ブレードによる分割が困難であることから、レーザビームの照射によって個々の光デバイスに分割され、分割された光デバイスは携帯電話、パソコン等の電気機器に広く利用されている。
レーザビームを用いて光デバイスウエーハを個々の光デバイスに分割する方法として、以下に説明する第1及び第2の分割方法が知られている。第1の分割方法は、基板に対して吸収性を有する波長(例えば355nm)のレーザビームを分割予定ラインに対応する領域に照射してアブレーション加工により分割の起点となる分割起点溝を形成し、その後外力を付与して光デバイスウエーハを個々の光デバイスに分割する方法である(例えば、特開平10−305420号公報参照)。
第2の分割方法は、基板に対して透過性を有する波長(例えば1064nm)のレーザビームの集光点を分割予定ラインに対応する基板の内部に位置づけて、レーザビームを分割予定ラインに沿って照射して基板内部に改質層を形成し、その後外力を付与して改質層を分割起点として光デバイスウエーハを個々の光デバイスに分割する方法である(例えば、特許第3408805号公報参照)。何れの分割方法でも、光デバイスウエーハを確実に個々の光デバイスに分割することができる。
特開平10−305420号公報 特許第3408805号公報 特開2005−123329号公報
しかし、基板の内部に改質層を形成する分割方法では、外力を付与して光デバイスウエーハを個々の光デバイスに分割すると、改質層が光デバイスの周囲に残存し、光デバイスが発する光の輝度が低下するという問題がある。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、レーザビームを照射して光デバイスウエーハを効率良く個々の光デバイスに分割できるとともに光デバイスの輝度を低下させることのない光デバイスウエーハの分割方法を提供することである。
本発明によると、サファイア基板の表面に半導体層が積層され、該半導体層に複数の光デバイスが分割予定ラインによって区画されて形成された光デバイスウエーハを個々の光デバイスに分割する光デバイスウエーハの分割方法であって、光デバイスウエーハの表面に粘着テープを貼着する粘着テープ貼着工程と、光デバイスウエーハの裏面からサファイアに対して透過性を有する波長のレーザビームを分割予定ラインに対応するサファイア基板の内部に集光点を位置づけて照射し、分割予定ラインに対応するサファイア基板の内部に改質層を形成する改質層形成工程と、光デバイスウエーハに外力を付与して分割予定ラインに対応するサファイア基板の内部に形成された改質層に沿って光デバイスウエーハを個々の光デバイスに分割する分割工程と、個々の光デバイスに分割された光デバイスウエーハの形態を維持するために光デバイスウエーハの裏面に形態維持部材を貼着する形態維持工程と、光デバイスウエーハの表面に剛性を有するプレートを紫外線の照射によって硬化するボンド剤又はワックスを介して貼着する剛性プレート貼着工程と、サファイア基板の裏面から形態維持部材を剥離してサファイア基板の裏面を露出させる形態維持部材剥離工程と、サファイア基板の裏面を研削して改質層を除去する裏面研削工程と、を具備したことを特徴とする光デバイスウエーハの分割方法が提供される。
本発明によると、改質層を形成した光デバイスウエーハに外力を付与して個々の光デバイスに分割した後、光デバイスウエーハの表面に剛性プレートを貼着してサファイア基板の裏面を研削し、光デバイスの外周領域に残存している改質層を除去するようにしたので、光デバイスの外周領域に欠けを生じさせること無く光デバイスウエーハを円滑に個々の光デバイスに分割できるとともに分割された光デバイスの輝度を低下させることがない。
本発明の分割方法を実施するのに適したレーザ加工装置の斜視図である。 レーザビーム照射ユニットのブロック図である。 光デバイスウエーハの表面側斜視図である。 光デバイスウエーハの表面に環状フレームに装着された粘着テープに貼着する様子を示す分解斜視図である。 光デバイスウエーハの裏面側からレーザビームを照射してサファイア基板内部に改質層を形成する様子を示す斜視図である。 図5の改質層形成工程を示す断面図である。 全ての分割予定ラインに沿ってサファイア基板内部に改質層が形成された状態の粘着テープを介して環状フレームで支持された光デバイスウエーハの斜視図である。 分割工程を示す縦断面図である。 分割工程実施後の粘着テープを介して環状フレームで支持された光デバイスウエーハの斜視図である。 図10(A)は形態維持工程を示す分解斜視図、図10(B)は光デバイスウエーハの裏面に形態維持部材が貼着され光デバイスウエーハの表面から粘着テープを剥離した状態の斜視図である。 図11(A)は剛性プレート貼着工程を示す分解斜視図、図11(B)は裏面に形態維持部材が貼着された光デバイスウエーハの表面に剛性プレートを貼着した状態の斜視図である。 形態維持部材剥離工程を示す分解斜視図である。 裏面研削工程を示す斜視図である。
以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1を参照すると、本発明の光デバイスウエーハの分割方法を実施するのに適したレーザ加工装置2の斜視図が示されている。
レーザ加工装置2は、静止基台4上にX軸方向に移動可能に搭載された第1スライドブロック6を含んでいる。第1スライドブロック6は、ボールねじ8及びパルスモータ10から構成される加工送り手段12により一対のガイドレール14に沿って加工送り方向、すなわちX軸方向に移動される。
第1スライドブロック6上には第2スライドブロック16がY軸方向に移動可能に搭載されている。すなわち、第2スライドブロック16はボールねじ18及びパルスモータ20から構成される割り出し送り手段22により一対のガイドレール24に沿って割り出し方向、すなわちY軸方向に移動される。
第2スライドブロック16上には円筒支持部材26を介してチャックテーブル28が搭載されており、チャックテーブル28は加工送り手段12及び割り出し送り手段22によりX軸方向及びY軸方向に移動可能である。チャックテーブル28には、チャックテーブル28に吸引保持されたウエーハを支持する環状フレームをクランプするクランプ30が設けられている。
静止基台4にはコラム32が立設されており、このコラム32にはレーザビーム照射ユニット34を収容するケーシング35が取り付けられている。レーザビーム照射ユニット34は、図2に示すように、YAGレーザ又はYVO4レーザを発振するレーザ発振器62と、繰り返し周波数設定手段64と、パルス幅調整手段66と、パワー調整手段68とを含んでいる。
レーザビーム照射ユニット34のパワー調整手段68により所定パワーに調整されたパルスレーザビームは、ケーシング35の先端に取り付けられた集光器36のミラー70で反射され、更に集光用対物レンズ72によって集光されてチャックテーブル28に保持されている光デバイスウエーハ11に照射される。
ケーシング35の先端部には、集光器36とX軸方向に整列してレーザ加工すべき加工領域を検出する撮像手段38が配設されている。撮像手段38は、可視光によって光デバイスウエーハ11の加工領域を撮像する通常のCCD等の撮像素子を含んでいる。
撮像手段38は更に、光デバイスウエーハ11に赤外線を照射する赤外線照射手段と、赤外線照射手段によって照射された赤外線を捕らえる光学系と、この光学系によって捕らえられた赤外線に対応した電気信号を出力する赤外線CCD等の赤外線撮像素子から構成される赤外線撮像手段を含んでおり、撮像した画像信号はコントローラ(制御手段)40に送信される。
コントローラ40はコンピュータによって構成されており、制御プログラムに従って演算処理する中央処理装置(CPU)42と、制御プログラム等を格納するリードオンリーメモリ(ROM)44と、演算結果等を格納する読み書き可能なランダムアクセスメモリ(RAM)46と、カウンタ48と、入力インターフェイス50と、出力インターフェイス52とを備えている。
56は案内レール14に沿って配設されたリニアスケール54と、第1スライドブロック6に配設された図示しない読み取りヘッドとから構成される加工送り量検出手段であり、加工送り量検出手段56の検出信号はコントローラ40の入力エンターフェイス50に入力される。
60はガイドレール24に沿って配設されたリニアスケール58と第2スライドブロック16に配設された図示しない読み取りヘッドとから構成される割り出し送り量検出手段であり、割り出し送り量検出手段60の検出信号はコントローラ40の入力インターフェイス50に入力される。
撮像手段38で撮像した画像信号もコントローラ40の入力インターフェイス50に入力される。一方、コントローラ40の出力インターフェイス52からはパルスモータ10、パルスモータ20、レーザビーム照射ユニット34等に制御信号が出力される。
図3を参照すると、本発明の分割方法の加工対象となる光デバイスウエーハ11の表面側斜視図が示されている。光デバイスウエーハ11は、サファイア基板13上に窒化ガリウム(GaN)等のエピタキシャル層(半導体層)15が積層されて構成されている。光デバイスウエーハ11は、エピタキシャル層15が積層された表面11aと、サファイア基板13が露出した裏面11bとを有している。
サファイア基板13は、例えばそのサイズがφ2インチで430μmの厚みを有しており、エピタキシャル層15の厚みは例えば5μmである。エピタキシャル層15にはチップサイズ0.3mm角のLED等の複数の光デバイス19が格子状に形成された分割予定ライン(ストリート)17によって区画されて形成されている。
本発明の光デバイスウエーハの分割方法では、まず図4に示すように、光デバイスウエーハ11の表面に粘着テープTを貼着する粘着テープ貼着工程を実施する。好ましくは、粘着テープTの外周部を環状フレームFに貼着して、粘着テープTを介して環状フレームFで光デバイスウエーハ11を支持する。これにより、光デバイスウエーハ11のハンドリングが容易となる。しかし、粘着テープ貼着工程では、環状フレームFの使用は必ずしも必須ではない。
次いで、サファイア基板13の内部に分割予定ライン17に沿って改質層を形成する改質層形成工程を実施する。この改質層形成工程は、図5に示すように、裏面11bが露出した光デバイスウエーハ11を粘着テープTを介してレーザ加工装置2のチャックテーブル28で吸引保持する。図5において、ケーシング35A内にレーザビーム照射ユニット34が収容されている。
粘着テープTを介して光デバイスウエーハ11を吸引保持したチャックテーブル28は、図示しない移動機構によって撮像手段38の直下に位置づけられる。そして、撮像手段38によって光デバイスウエーハ11のレーザ加工すべき加工領域を検出するアライメントを実施する。
即ち、撮像手段38及び制御手段40は、光デバイスウエーハ11の第1の方向に伸長する分割予定ライン17と、該分割予定ライン17に沿ってレーザビームを照射するレーザビーム照射ユニット34の集光器36との位置合わせを行うためのパターンマッチング等の画像処理を実行し、レーザビーム照射位置のアライメントを遂行する。
次いで、光デバイスウエーハ11に形成されている第1の方向に対して直交する方向に伸長する分割予定ライン17に対しても、同様にレーザビーム照射位置のアライメントを遂行する。
このとき、光デバイスウエーハ11の分割予定ライン17が形成されている表面11aは下側に位置しているが、撮像手段28が赤外線CCDを備えているので、裏面11b側から透かして分割予定ライン17を撮像することができる。代替実施形態として、サファイア基板13は可視光線に対して透明であるので、通常の撮像素子(CCD)で撮像しても良い。
以上のようにしてアライメント工程を実施したならば、チャックテーブル28をレーザビームを照射するレーザビーム照射ユニット34の集光器36が位置するレーザビーム照射領域に移動し、第1の方向に伸長する分割予定ライン17の一端を集光器36の直下に位置づける。
そして、集光器36により光デバイスウエーハ11の裏面11bからサファイア基板13に対して透過性を有する波長のレーザビームを分割予定ライン17に対応するサファイア基板13の内部に集光点を位置付けて照射しつつ、チャックテーブル28を矢印X方向に所定の送り速度で移動して、サファイア基板13の内部に改質層74を形成する。
図6に示すように、パルスレーザビームの集光点Pを光デバイスウエーハ11の裏面11b付近に合わせることにより、光デバイスウエーハ11の裏面近傍の内部に改質層74が形成される。t1は光デバイス19の仕上がり厚みであり、改質層74は光デバイス19の仕上がり厚みt1に至らない光デバイスウエーハ11の裏面11b側に形成される。
この改質層形成工程における加工条件は、例えば次のように設定されている。
光源 :LD励起Qスイッチ Nd:YVO4パルスレーザ
波長 :1064nm
パルスエネルギー :40μJ
集光スポット径 :φ1μm
パルス幅 :25ns
繰り返し周波数 :100kHz
スキャン速度 :100mm/s
焦点位置 :サファイア基板の裏面付近
この改質層形成工程は、第1の方向に伸長する全ての分割予定ライン17に沿って実施した後、チャックテーブル28を90度回転してから、第1の方向と直交する第2の方向に伸長する全ての分割予定ライン17に沿って実施する。全ての分割予定ライン17に沿ってサファイア基板13の内部に改質層44を形成した状態の斜視図が図7に示されている。
本発明の光デバイスウエーハ11の分割方法では、改質層形成工程実施後に、改質層74が形成された光デバイスウエーハ11に外力を付与して、改質層74を分割起点として光デバイスウエーハ11を分割予定ライン17に沿って分割する分割工程を実施する。
この分割工程では、例えば図8に示すように、円筒76の載置面上に環状フレームFを載置して、クランプ78で環状フレームFをクランプする。そして、バー形状の分割治具80を円筒76内に配設する。
分割治具80は上段保持面82aと下段保持面82bとを有しており、下段保持面82bに開口する真空吸引路84が形成されている。分割治具80の詳細構造は、特許第4361506号公報に開示されているので参照されたい。
分割治具80による分割工程を実施するには、分割治具80の真空吸引路84を矢印86で示すように真空吸引しながら、分割治具80の上段保持面82a及び下段保持面82bを下側から粘着テープTに接触させて、分割治具80を矢印A方向に移動する。即ち、分割治具80を分割しようとする分割予定ライン17と直交する方向に移動する。
これにより、改質層74が分割治具80の上段保持面82aの内側エッジの真上に移動すると、改質層74を有する分割予定ライン17の部分に曲げ応力が集中して発生し、この曲げ応力で光デバイスウエーハ11が改質層74を分割起点として分割予定ライン17に沿って割断される。
第1の方向に伸長する全ての分割予定ライン17に沿っての分割が終了すると、分割治具80を90度回転して、或いは円筒76を90度回転して、第1の方向に伸長する分割予定ライン17に直交する第2の方向に伸長する分割予定ライン17を同様に分割する。
これにより、光デバイスウエーハ11が表面に光デバイス19を有する小片21に分割される。図8で75は分割溝であり、全ての分割予定ライン17に沿って光デバイスウエーハ11が割断された状態の斜視図が図9に示されている。
分割ステップ実施後、図10(A)に示すように、光デバイスウエーハ11の裏面11bに形態維持プレート77を貼着する形態維持部材貼着工程を実施する。形態維持プレート77に替えて、粘着テープTを光デバイスウエーハ11の裏面11bに貼着するようにしてもよい。光デバイスウエーハ11の裏面11bに形態維持プレート77が貼着され、表面11aから粘着テープTが剥離された状態の斜視図が図10(B)に示されている。
形態維持工程実施後、図11(A)に示すように、裏面11bに形態維持プレート77が貼着された光デバイスウエーハ11の表面11aに剛性プレート88を貼着する剛性プレート貼着工程を実施する。
剛性プレート88としては、ガラス又はPET(ポリエチレンテレフタレート)等の樹脂を採用することができる。光デバイスウエーハ11の表面11aに剛性プレート88が貼着された状態の斜視図が図11(B)に示されている。
光デバイスウエーハ11に剛性プレート88を貼付する際に使用するボンド剤としては、例えば株式会社スリーボンドが提供する商品名「30Y−632D−3」と称する紫外線の照射によって硬化する紫外線硬化温水膨潤タイプの樹脂が好ましい。
このような樹脂を使用することにより、90℃前後の温水に剛性プレート88が貼着された光デバイスウエーハ11を浸漬することにより、後の工程で必要とされる剛性プレート88から個々のデバイス19を無理なく剥離することができる。剛性プレート88を光デバイスウエーハ11に貼着するのに、上述したボンド剤に替えてワックスを使用するようにしてもよい。
図11に示された剛性プレート貼着工程実施後、図12に示すように、光デバイスウエーハ11の裏面11bから形態維持プレート77を剥離してサファイア基板13の裏面を露出させる形態維持部材剥離工程を実施する。
形態維持部材剥離工程実施後、図13に示すように、研削装置のチャックテーブル90で光デバイスウエーハ11の剛性プレート88側を吸引保持し、研削ユニット92で光デバイスウエーハ11の裏面11bを研削する裏面研削工程を実施する。
研削ユニット92は、モータにより回転駆動されるスピンドル94と、スピンドル94の先端に固定されたホイールマウント96と、ホイールマウント96にねじ95により着脱可能に装着された研削ホイール98とを含んでいる。研削ホイール98は、環状基台100と、環状基台100の自由端部に固着された複数の研削砥石102から構成されている。
裏面研削工程では、チャックテーブル90を矢印a方向に例えば500rpmで回転しつつ、研削ホイール98をチャックテーブル90と同一方向に、即ち矢印b方向に700rpmで回転させるとともに、研削ユニット送り機構を作動して研削砥石102を光デバイスウエーハ11の裏面11bに接触させる。
そして、研削ホイール98を所定の研削送り速度(例えば0.3μm/秒)で下方に所定量研削送りしてサファイア基板13の研削を実施する。図示しない接触式又は非接触式の厚み測定ゲージによって光デバイスウエーハ11の厚みを測定しながら光デバイスウエーハ11を所望の厚み(例えば100μm)に仕上げ、サファイア基板13中に形成されていた改質層74を除去する。
裏面研削工程を実施した後、表面11aに剛性プレート88が貼着されている光デバイスウエーハ11を90℃前後の温水に浸漬することにより、紫外線硬化温水膨潤タイプの樹脂を膨潤させ、剛性プレート88から個々の光デバイス19を無理なく剥離することができ、光デバイス19を損傷させることがない。
上述した実施形態の光デバイスウエーハ11の分割方法によると、光デバイスウエーハ11の分割予定ライン17の内部にレーザビームの集光点を位置づけてレーザビームを光デバイスウエーハ11の裏面11b側から照射して、サファイア基板13の内部に改質層を形成し、光デバイスウエーハ11に外力を付与して光デバイスウエーハ11を個々の光デバイス19に分割する。
次いで、光デバイスウエーハ11の裏面11bに形態維持プレート77を貼着してウエーハの形態を維持しながら光デバイスウエーハ11を粘着テープTから剥離する。更に、光デバイスウエーハ11の表面11aに剛性プレート88を貼着してから光デバイスウエーハ11の裏面11bから形態維持プレート77を剥離する。
次いで、剛性プレート88側を研削装置のチャックテーブルで吸引保持しながら、サファイア基板13の裏面を研削して光デバイス19の外周領域に残存している改質層74を除去する。
よって、光デバイス19の外周領域に欠けを生じさせること無く、光デバイスウエーハ11を円滑に個々の光デバイス19に分割できるとともに、光デバイス19の輝度を低下させることがない。
2 レーザ加工装置
11 光デバイスウエーハ
13 サファイア基板
15 エピタキシャル層
17 分割予定ライン
19 光デバイス
28 チャックテーブル
34 レーザビーム照射ユニット
36 集光器
74 改質層
75 分割溝
77 形態維持プレート
80 分割治具
88 剛性プレート
98 研削ホイール
102 研削砥石

Claims (1)

  1. サファイア基板の表面に半導体層が積層され、該半導体層に複数の光デバイスが分割予定ラインによって区画されて形成された光デバイスウエーハを個々の光デバイスに分割する光デバイスウエーハの分割方法であって、
    光デバイスウエーハの表面に粘着テープを貼着する粘着テープ貼着工程と、
    光デバイスウエーハの裏面からサファイアに対して透過性を有する波長のレーザビームを分割予定ラインに対応するサファイア基板の内部に集光点を位置づけて照射し、分割予定ラインに対応するサファイア基板の内部に改質層を形成する改質層形成工程と、
    光デバイスウエーハに外力を付与して分割予定ラインに対応するサファイア基板の内部に形成された改質層に沿って光デバイスウエーハを個々の光デバイスに分割する分割工程と、
    個々の光デバイスに分割された光デバイスウエーハの形態を維持するために光デバイスウエーハの裏面に形態維持部材を貼着する形態維持工程と、
    光デバイスウエーハの表面に剛性を有するプレートを紫外線の照射によって硬化するボンド剤又はワックスを介して貼着する剛性プレート貼着工程と、
    サファイア基板の裏面から形態維持部材を剥離してサファイア基板の裏面を露出させる形態維持部材剥離工程と、
    サファイア基板の裏面を研削して改質層を除去する裏面研削工程と、
    を具備したことを特徴とする光デバイスウエーハの分割方法。
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