JP2012104659A - Electronic component mount substrate - Google Patents

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哲 山中
Kazuyoshi Hakamada
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a highly reliable electronic component mount substrate which reduces breaking in a solder joint part caused by influence of heat strain due to heat generated by an electronic component mounted on a surface of a substrate in which a wiring pattern is formed and suppresses inclination of the electronic component during solder joint.SOLUTION: In an electronic component mount substrate 3, an electronic component 2 is mounted on a surface of a substrate 1 in which a wiring pattern 4 is formed by solder joint. In the electronic component mount substrate 3, a heat resistant tape 6 is disposed at a position on the substrate 1, which is located between the substrate 1 and the electronic component 2 and excludes a solder joint part.

Description

本発明は、配線パターンが形成された基板の表面に、はんだ接合により電子部品が実装される電子部品実装基板に関するものである。   The present invention relates to an electronic component mounting board in which an electronic component is mounted on a surface of a substrate on which a wiring pattern is formed by solder bonding.

従来、プリント基板上に電子部品を実装する場合には、基板上に形成された配線パターンに、錫−鉛の共晶はんだを用いたはんだ付けによって、上記電子部品を接合する方法が採用されていた。この錫−鉛の共晶はんだは、融点が低く、しかも柔軟性があるため、伸びと強度のバランスが良く、はんだ付けの際に、プリント基板と電子部品端子との間の熱膨張係数の違いによるストレスを吸収することができる。また、自らが劣化すること(粒
径の粗大化)により、急激な破壊または破断を防止し、一種の緩衝剤として作用するため、はんだ付け接合部に高い信頼性を与えていた。
Conventionally, when an electronic component is mounted on a printed circuit board, a method of joining the electronic component to a wiring pattern formed on the substrate by soldering using a tin-lead eutectic solder has been employed. It was. This tin-lead eutectic solder has a low melting point and is flexible, so there is a good balance between elongation and strength. The difference in thermal expansion coefficient between the printed circuit board and the electronic component terminals during soldering Can absorb the stress caused by. Moreover, since it deteriorates itself (coarse particle size), it prevents rapid breakage or breakage and acts as a kind of buffering agent, thus giving the soldered joint high reliability.

しかしながら、鉛は人体に有害な金属である。そのため、地球環境の保護や有害物質の使用を回避しようとする国際的な要求の高まりに応じて、鉛を含有しない鉛フリーはんだの研究および開発が進められてきている。   However, lead is a metal harmful to the human body. For this reason, research and development of lead-free solders that do not contain lead have been promoted in response to increasing international demands to protect the global environment and avoid the use of harmful substances.

現在、最も一般的に使用されている無鉛はんだは、3元系の錫−銀−銅の合金である。この代表的な組成として、Sn−3.5Ag−0.7Cu、Sn−3.0Ag−0.5Cu等が実用化されている。これ以外にも、3元系のSn−Ag−Bi、Sn−Cu−Ni(Niは微量添加物)、4元系のSn−Ag−Cu−Bi、5元系のSn−Ag−Cu−Bi−Ge等の無鉛はんだ等が発表されている。   Currently, the most commonly used lead-free solder is a ternary tin-silver-copper alloy. As this typical composition, Sn-3.5Ag-0.7Cu, Sn-3.0Ag-0.5Cu, etc. are put into practical use. In addition, ternary Sn-Ag-Bi, Sn-Cu-Ni (Ni is a trace additive), quaternary Sn-Ag-Cu-Bi, quinary Sn-Ag-Cu- Lead-free solder such as Bi-Ge has been announced.

しかし、これらの鉛フリーはんだ材料は、鉛含有はんだに比べて上記ストレスの吸収作用が小さいことが知られている。そのため、通電時の温度上昇において、基板と電子部品との熱膨張率が異なるために生じるストレスを完全に吸収することができず、微小な塑性歪みが蓄積されてしまう。このようなストレスや塑性歪みが生じると、高温時のはんだの強度・剛性の低下が起きた際に、はんだが耐えることができない。   However, it is known that these lead-free solder materials have a smaller effect of absorbing the stress than lead-containing solder. For this reason, when the temperature rises during energization, the stress generated due to the different coefficients of thermal expansion between the substrate and the electronic component cannot be completely absorbed, and minute plastic strain is accumulated. If such stress or plastic strain occurs, the solder cannot withstand when the strength and rigidity of the solder decrease at high temperatures.

そのため、電子部品実装基板では、使用のたびに自身や周囲の部品からの発熱による熱歪みが発生し、各部材間の熱歪み差に起因して発生する応力が、はんだ部にも及んでしまう。このため、鉛フリーはんだにおいては、発熱のたびに塑性歪みが蓄積されて、ある時点で接合部内部にクラックが発生し、さらに使用を続けていくと、クラックは成長して接合部の断裂を起こし、電気的な接続が保てなくなるという問題がある。   For this reason, in electronic component mounting boards, thermal distortion occurs due to heat generated from itself and surrounding components each time it is used, and the stress generated due to the difference in thermal strain between each member also reaches the solder part. . For this reason, in lead-free solder, plastic strain accumulates every time heat is generated, and cracks are generated inside the joint at a certain point in time, and as the use continues further, the crack grows and breaks the joint. There is a problem that the electrical connection cannot be maintained.

さらに、鉛フリーはんだは、従来のはんだに比べて疲労試験のテータ蓄積が少なく、使用寿命を予測することが困難であるという側面もあるために、この経時劣化の問題は、電子部品を鉛フリーはんだによって接合した製品の信頼性を保証することができないという問題もある。この問題を解決するために、鉛フリーはんだの機械特性の改善やはんだ接合量・位置の最適化、使用部材の選定、または熱歪みの小さい高価な基板材料への変更など、コストの増加によって信頼性を維持させている現実がある。   In addition, lead-free solder has less fatigue test data accumulation than conventional solder, and it is difficult to predict the service life. There is also a problem that the reliability of a product joined by solder cannot be guaranteed. In order to solve this problem, reliability has been increased by increasing the cost, such as improving the mechanical properties of lead-free solder, optimizing the amount and position of solder joints, selecting the materials used, or changing to an expensive board material with low thermal distortion. There is a reality that maintains sex.

すなわち、−60〜150℃程度の温度範囲では、熱歪みが発生した場合に起こる破壊の原因は、図2に示すように、基板1と電子部品2との熱膨張率が異なるために現れる基板1、の反りにある。例えば、チップ抵抗器で多く利用されているフェライト焼結体では、100〜200GPa程度の弾性係数と、5〜10×10-6/℃程度の熱膨張率を示す。 That is, in the temperature range of about −60 to 150 ° C., the cause of the breakdown that occurs when thermal strain occurs is that the substrate 1 and the electronic component 2 appear due to different thermal expansion coefficients as shown in FIG. There is one warp. For example, a ferrite sintered body often used in a chip resistor exhibits an elastic coefficient of about 100 to 200 GPa and a thermal expansion coefficient of about 5 to 10 × 10 −6 / ° C.

一方、基板1は金属またはガラスをベースに樹脂含浸したものや、紙をベースに樹脂が含浸したものなど種類が多い。しかし、ほとんど弾性係数は5〜250GPa、熱膨張率は15〜25×10−6/℃の範囲に収まっている。このような部品構成において、高温または低温に移行すると、電子部品と基板の熱膨張率の差からストレスが発生するが、当該基板の持つ弾性係数は電子部品に比べて明らかに小さい、すなわち柔らかいため、電子部品2の変形に比べて基板1の変形量が著しく大きくなり、結果として基板1が、高温、低温において、それぞれ電子部品2側に凹状、凸状に反った状態になる。基板1が反った状態になると、はんだフィレット内の当該電子部品のコーナー部近傍の位置に、応力が集中し、局所的に大きなストレスが発生する。   On the other hand, there are many types of substrates 1 such as a metal or glass base impregnated with resin and a paper base base impregnated with resin. However, the elastic modulus is almost in the range of 5 to 250 GPa and the thermal expansion coefficient is in the range of 15 to 25 × 10 −6 / ° C. In such a component configuration, when the temperature shifts to a high temperature or low temperature, stress is generated due to the difference in thermal expansion coefficient between the electronic component and the substrate, but the elastic coefficient of the substrate is clearly smaller than that of the electronic component, that is, soft. The deformation amount of the substrate 1 is remarkably larger than the deformation of the electronic component 2. As a result, the substrate 1 is warped in a concave shape and a convex shape on the electronic component 2 side at high temperature and low temperature, respectively. When the substrate 1 is warped, stress concentrates at a position near the corner portion of the electronic component in the solder fillet, and large stress is locally generated.

これは、鉛フリーはんだ5が、従来はんだに比べてストレスの緩和能力が小さく、歪みを蓄積する特性によるものである。そして、蓄積された歪は、やがてクラックに発展し、さらに温度サイクルのたびにクラックが拡大して、最終的にははんだフィレットの表層に達することになる。このように局所的にであっても、高い応力が発生する場合には、フィレット全体の断裂に繋がってしまい、大きな問題となっている。   This is due to the characteristic that the lead-free solder 5 has less stress relaxation capability than conventional solder and accumulates strain. The accumulated strain eventually develops into a crack, and the crack expands at every temperature cycle, and finally reaches the surface of the solder fillet. Thus, even if locally, when high stress is generated, it leads to the tearing of the entire fillet, which is a big problem.

この問題について種々に研究した結果、はんだフィレットの耐疲労性を高め、はんだフィレットの破壊を防ぐためには、電子部品2と基板1との間隙部7にあるはんだ5の厚みを増すことが、最も効果的であることがわかった。これは、電子部品2と基板1との間に発生する応力が均一に分散され、使用時に応力集中部に蓄積される塑性歪みの量が減少するからである。この傾向は、電子部品2、基板1の材料や大きさや厚み寸法が様々であっても変わらず、総じて塑性歪みの減少効果が得られることも分かった。   As a result of various studies on this problem, in order to increase the fatigue resistance of the solder fillet and prevent the solder fillet from being destroyed, it is most important to increase the thickness of the solder 5 in the gap 7 between the electronic component 2 and the substrate 1. It turns out to be effective. This is because the stress generated between the electronic component 2 and the substrate 1 is uniformly distributed, and the amount of plastic strain accumulated in the stress concentration portion during use is reduced. It has also been found that this tendency does not change even if the materials, sizes, and thickness dimensions of the electronic component 2 and the substrate 1 are varied, and generally an effect of reducing plastic strain can be obtained.

しかしながら、電子部品2と基板1の間隙距離を増加させることは容易なことでなない。これは、はんだ5は接合時に、一旦溶解し凝固する直前の融液形状を保って固体化するが、このときに電子部品2が自重により沈降するからである。なお、はんだ溶融時に、電子部品の電極表面を濡れ上がる力(濡れ力)が発生し、はんだ5の表面には表面張力、基板と電子部品(金属の配線パッド)の間隙にはんだ5が侵入しようとする毛細管現象が生じる。これらの力と電子部品の自重との釣り合いよりはんだフィレットが形成される。   However, it is not easy to increase the gap distance between the electronic component 2 and the substrate 1. This is because, at the time of joining, the solder 5 is solidified while maintaining the melt shape immediately before being melted and solidified, but at this time, the electronic component 2 is settled by its own weight. When the solder is melted, a force (wetting force) that wets the electrode surface of the electronic component is generated, so that the surface of the solder 5 is surface tensioned, and the solder 5 enters the gap between the substrate and the electronic component (metal wiring pad). Capillary phenomenon occurs. A solder fillet is formed by the balance between these forces and the weight of the electronic component.

この中で、電子部品2を浮かせ、基板1との間隙距離を増加させる方向に働く力は、基板1と電子部品2間の毛細管現象による毛細管力である。一方、はんだ5表面に現れる表面張力と、はんだ5と金属の界面に現れる濡れ力は、溶融はんだをフィレット側に引き出すように働く。この電子部品2を浮かせる毛細管力は、表面張力と濡れ力に比べて非常に小さいため、一般的な電子部品2においては、ほとんど基板1に接触するすれすれの位置で接合されている。また、微妙な力のバランスにより、電子部品2の位置が定まるため、そのバラツキも大きく、信頼性を低下させる一因となっている。特に疲労寿命が短い傾向にあるサイズの大きな電子部品2では、自重も大きくなり間隙距離は短くなりがちで、疲労寿命に悪影響を及ぼしている。   Among these, the force acting in the direction of floating the electronic component 2 and increasing the gap distance from the substrate 1 is a capillary force due to a capillary phenomenon between the substrate 1 and the electronic component 2. On the other hand, the surface tension appearing on the surface of the solder 5 and the wetting force appearing at the interface between the solder 5 and the metal work to draw the molten solder to the fillet side. Since the capillary force for floating the electronic component 2 is very small as compared with the surface tension and the wetting force, the general electronic component 2 is joined at a position where it almost contacts the substrate 1. Further, since the position of the electronic component 2 is determined by a delicate balance of forces, the variation is large, which is one factor that reduces the reliability. In particular, in a large-sized electronic component 2 that tends to have a short fatigue life, its own weight increases and the gap distance tends to be short, which adversely affects the fatigue life.

ところが、電子部品2を浮かせる方向に働く力は小さく、はんだ接合時に電子部品2そのものに直接力を加えない限り、間隙距離を増加させることは難しい。またはんだ接合時に、電子部品2を持ち上げておくことで、間隙距離を調整することはできるが、例えば、オートフィーダーとリフロー工程を用いたような自動制御による接合工程では、無数にある基板1の配線パターン4や部品配置パターンに対応して、個別に電子部品2を持ち上げることは難しいという問題がある。   However, the force acting in the direction of floating the electronic component 2 is small, and it is difficult to increase the gap distance unless a force is directly applied to the electronic component 2 itself at the time of soldering. Further, the gap distance can be adjusted by lifting the electronic component 2 at the time of soldering. For example, in the joining process by automatic control using an auto-feeder and a reflow process, the wiring of the numerous boards 1 There is a problem that it is difficult to individually lift the electronic components 2 corresponding to the pattern 4 and the component arrangement pattern.

さらに、はんだ接合においては、はんだ5が溶融した際に、はんだ5表面に現れる表面張力と、はんだ5と金属の界面に現れる濡れ力によって、電子部品が移動する、いわゆるセルフアライメントと呼ばれる現象がある。このセルフアライメントは、はんだ接合工程において、フィーダーによる部品の配置位置、またはマスク印刷によるはんだペーストの塗布位置が理想の位置から外れた際に、溶融はんだと電子部品とを、本来あるべき位置に引き寄せる働きをする。   Furthermore, in the solder joint, when the solder 5 is melted, there is a phenomenon called so-called self-alignment in which the electronic component moves due to the surface tension appearing on the surface of the solder 5 and the wetting force appearing on the interface between the solder 5 and the metal. . This self-alignment attracts molten solder and electronic components to their original positions when the component placement position by the feeder or the solder paste application position by mask printing deviates from the ideal position in the solder joining process. Work.

すなわち、電子部品2と基板1との間隙距離を増加させるために、電子部品2に力を掛けるか、または固定してしまうと、上記セルフアライメントによる位置ずれの補正機能が働かなくなってしまい、製品全体の信頼性が大きく低下することになる。   That is, if a force is applied to or fixed to the electronic component 2 in order to increase the gap distance between the electronic component 2 and the substrate 1, the function for correcting misalignment by self-alignment will not work. The overall reliability will be greatly reduced.

また、上記セルフアライメントによる位置ずれの補正機能自体も安定して作用しにくいという問題もある。これは、ペーストの印刷量、電子部品や配線パターンとの位置関係、加熱の状況など、それぞれのはんだペーストを厳密に同じ環境に揃えることができないために起きる。例えば、はんだ接合時の加熱は、すべての電子部品に対して均等に行うことはできないため、電子部品2側端のそれぞれのはんだ5は、その温度上昇と溶融のタイミングがずれた状態になる。そのため、はんだの溶融時には、上記セルフアライメントによる複雑な力が働き、はんだ接合時の電子部品2の水平が保たれずに傾いてしまう。また顕著な場合には、電子部品2の傾きが90°になり、立ち上がってしまう場合もある。   In addition, there is a problem in that the function of correcting misalignment by self-alignment itself is difficult to function stably. This occurs because the respective solder pastes cannot be precisely arranged in the same environment, such as the amount of paste printed, the positional relationship with electronic components and wiring patterns, and the heating conditions. For example, since the heating at the time of soldering cannot be performed uniformly for all the electronic components, the respective solders 5 on the side end of the electronic component 2 are in a state where the temperature rise and the melting timing are shifted. For this reason, when the solder is melted, a complicated force due to the self-alignment works, and the electronic component 2 is tilted without being kept horizontal at the time of soldering. Further, in the case where it is remarkable, the inclination of the electronic component 2 becomes 90 ° and may rise.

そこで、下記特許文献1においては、素子の外縁部に形成された電極と、基板表面に形成されたランドとをはんだ層により接合する際に、上記電極において上記ランドと対向する部位の厚さを略均一にする、または、上記電極において上記ランドと対向する部位の厚さを上記素子のエッジ部から離れるに伴いに増大させる方法が提案されている。   Therefore, in Patent Document 1 below, when the electrode formed on the outer edge of the element and the land formed on the substrate surface are joined by the solder layer, the thickness of the portion of the electrode facing the land is determined. There has been proposed a method for making the thickness substantially uniform or increasing the thickness of the portion of the electrode facing the land as the distance from the edge portion of the element increases.

また、下記特許文献2においては、端部に第1の電極が形成された電子部品を実装基板上に搭載し、上記実装基板上に形成された第2の電極と上記第1の電極とをはんだによって電気的接続する際に、上記電子部品と上記実装基板との間に、無機物フィラーを含有した樹脂からなる第1のスペーサを配置した電子部品の実装構造が提案されている。   Moreover, in the following Patent Document 2, an electronic component having a first electrode formed at an end portion is mounted on a mounting substrate, and the second electrode formed on the mounting substrate and the first electrode are combined. An electronic component mounting structure has been proposed in which a first spacer made of a resin containing an inorganic filler is disposed between the electronic component and the mounting substrate when electrically connected by solder.

さらに、下記特許文献3においては、回路基板上と、上記回廊基板上に搭載される電子部品と、上記回路基板に設けられた基板電極と上記電子部品に設けられた部品電極とを電気的に接続するはんだ層とを備え、上記回路基板は、上記電子部品が搭載される部位に、当該電子部品に当接する凸部を有し、当該凸部の高さは上記基板電極より高い車載用電子回路装置が提案されている。   Furthermore, in the following Patent Document 3, an electronic component mounted on a circuit board, the corridor board, a substrate electrode provided on the circuit board, and a component electrode provided on the electronic component are electrically connected. A solder layer to be connected, and the circuit board has a convex part in contact with the electronic component at a site where the electronic component is mounted, and the height of the convex part is higher than that of the substrate electrode. Circuit devices have been proposed.

特開2005−183468号公報JP 2005-183468 A 特開平11−163510号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-163510 特開2008−60182号公報JP 2008-60182 A

ところが、ランドと対応する素子の電極の厚みを制御する従来の方法においては、素子の電極に厚みを持たせて、基板と素子との間隙距離を増加させたとしても、電極の厚みを増加できる量は限られており、また応力が集中するはんだ部位の厚みが増加する効果も小さいため、寿命向上の効果は小さいという問題がある。また、電極の厚みを制御することは難しく、製造工程が複雑になるとともに、工程における条件設定に多大なコストが必要になるという問題もある。   However, in the conventional method for controlling the thickness of the electrode of the element corresponding to the land, the thickness of the electrode can be increased even if the gap between the substrate and the element is increased by increasing the thickness of the electrode of the element. Since the amount is limited and the effect of increasing the thickness of the solder portion where stress is concentrated is small, there is a problem that the effect of improving the life is small. In addition, it is difficult to control the thickness of the electrodes, and the manufacturing process becomes complicated, and there is a problem that a great deal of cost is required for setting conditions in the process.

また、チップ部品とプリント基板との間に、シリカフィラーを含有したエポキシ樹脂からなる樹脂部材を配置する従来の方法においては、プリント基板にスペーサとなる樹脂部材を直接接続するため、新たな応力の発生源となってしまうという問題がある。また樹脂部材は、特赦な配合の樹脂により形成されているため、製造工程において、基板と樹脂部材とを配置する設置工程が別途必要になり、製造コストが嵩むという問題もある。   Further, in the conventional method of arranging a resin member made of an epoxy resin containing a silica filler between a chip component and a printed board, a resin member serving as a spacer is directly connected to the printed board, so that a new stress is applied. There is a problem of becoming a source. In addition, since the resin member is formed of an ambiguous blended resin, an additional installation step for arranging the substrate and the resin member is necessary in the manufacturing process, which increases the manufacturing cost.

さらに、回路基板上のソルダーレジスト、基板電極、シルクインク、またはこれらを組み合わせて、当該回路基板上に電子部品を当接させるための凸部を設ける従来の方法においては、基板と電子部品との間隙距離の大きな増加は難しく、充分な寿命改善の効果は期待できないという問題がある。ちなみに、電子部品と基板の間隙距離は、間隙への溶融はんだの毛細管力と表面張力、および電子部品の自重によって決まるが、一般に使用される電子部品では、概ね15μm〜35μmになる。しかし、レジストやシルクスクリーン印刷を利用する方法においては、間隙距離の増加は、最大でも20μm程度であり、また製造のばらつきを考えると効果が認められない。   Furthermore, in the conventional method of providing a convex part for contacting an electronic component on the circuit board by combining solder resist, circuit board electrode, silk ink, or a combination thereof on the circuit board, There is a problem that a large increase in the gap distance is difficult and a sufficient life improvement effect cannot be expected. Incidentally, the gap distance between the electronic component and the substrate is determined by the capillary force and surface tension of the molten solder in the gap and the weight of the electronic component, but is generally 15 μm to 35 μm in a commonly used electronic component. However, in the method using resist or silk screen printing, the increase in the gap distance is about 20 μm at the maximum, and no effect is recognized in view of manufacturing variations.

本発明は、かかる事情に鑑みてなされたもので、配線パターンが形成された基板の表面に実装された電子部品の発熱による熱歪みの影響によって起こるはんだ接合部の破断を減少させ、かつはんだ接合時の傾きを抑制して、信頼性の高い電子部品実装基板を提供することを課題とするものである。   The present invention has been made in view of such circumstances, and reduces breakage of a solder joint portion caused by the influence of thermal distortion due to heat generation of an electronic component mounted on a surface of a substrate on which a wiring pattern is formed. An object of the present invention is to provide a highly reliable electronic component mounting board by suppressing the inclination of time.

上記課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、配線パターンが形成された基板の表面に、はんだ接合により電子部品が実装される電子部品実装基板において、上記基板は、当該基板と上記電子部品との間であって、かつ上記はんだ接合部を除く位置に耐熱テープが配設されていることを特徴とするものである。   In order to solve the above problems, the invention according to claim 1 is an electronic component mounting board in which an electronic component is mounted on a surface of a board on which a wiring pattern is formed by solder bonding. A heat-resistant tape is disposed between the electronic component and a position excluding the solder joint.

また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、上記耐熱テープは、ポリイミドを主成分とする基材と、この基材の片面にシリコンまたはアクリルを主成分とする接着剤が塗布されて形成されていることを特徴とするものである。   The invention according to claim 2 is the invention according to claim 1, wherein the heat-resistant tape includes a base material mainly composed of polyimide and an adhesive mainly composed of silicon or acrylic on one side of the base material. It is characterized by being formed by applying an agent.

さらに、請求項3に記載の発明は、請求項1または2に記載の発明において、上記耐熱テープは、厚さ寸法が50μm以上であるとともに、上記電子部品の50%以上の表面積において当接する幅寸法に形成されていることを特徴とするものである。   Further, the invention according to claim 3 is the invention according to claim 1 or 2, wherein the heat-resistant tape has a thickness dimension of 50 μm or more and a width that abuts on a surface area of 50% or more of the electronic component. It is characterized by being formed in dimensions.

また、請求項4に記載の発明は、配線パターンが形成された基板の表面に、はんだ接合により電子部品を実装する電子部品実装基板の製造方法であって、上記耐熱テープを上記基板と上記電子部品との間に配設した後に、上記配線パターンと上記電子部品とをはんだ接合することを特徴とするものである。   According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing an electronic component mounting board in which an electronic component is mounted on a surface of a board on which a wiring pattern is formed by solder bonding, and the heat-resistant tape is attached to the board and the electronic device. The wiring pattern and the electronic component are solder-bonded after being disposed between the components.

そして、請求項5に記載の発明は、請求項4に記載の発明において、上記耐熱テープを上記配線パターンを除く位置であって、かつ上記基板と上記電子部品との間の上記はんだ接合部を除く位置に配設した後に、ペースト状の上記はんだを上記電子部品が実装される位置の上記配線パターン上に配置して、上記配線パターンと上記電子部品とをはんだ接合することを特徴とするものである   The invention according to claim 5 is the invention according to claim 4, wherein the heat-resistant tape is located at a position excluding the wiring pattern, and the solder joint between the substrate and the electronic component is provided. A paste-like solder is disposed on the wiring pattern at a position where the electronic component is mounted after being disposed at a position other than the position, and the wiring pattern and the electronic component are soldered together. Is

請求項1〜3に記載の本発明によれば、基板が、当該基板と上記電子部品との間であって、かつ上記はんだ接合部を除く位置に耐熱テープを配設しているため、上記耐熱テープをスペーサとして、上記基板と上記電子部品との間隙距離を増加させることができる。これにより、上記基板と上記電子部品とのはんだ接合部に形成されるはんだフィレットの厚みを増加させることができ、通電時の発熱による上記基板と上記電子部品との熱膨張率の差に起因するストレスを均一に分散させて、塑性歪みの蓄積を減少させることができる。   According to this invention of Claims 1-3, since the board | substrate has arrange | positioned the heat resistant tape in the position except the said solder joint part between the said board | substrate and the said electronic components, the said Using the heat-resistant tape as a spacer, the gap distance between the substrate and the electronic component can be increased. As a result, the thickness of the solder fillet formed at the solder joint between the substrate and the electronic component can be increased, resulting from a difference in thermal expansion coefficient between the substrate and the electronic component due to heat generation during energization. Stress can be evenly distributed to reduce plastic strain accumulation.

また、上記基板と上記電子部品との間のスペーサとして、上記耐熱テープを使用するため、はんだ接合時において、融点220℃程度のはんだを溶融させる際に、上記基板と上記電子部品が、240〜260℃程度の高温に加熱されても、接着機能や強度の低下がなく、安定した間隙距離の増加を発揮することができる。この結果、上記耐熱テープを上記基板と上記電子部品との間のスペーサとして、容易に使用することができる。   In addition, since the heat-resistant tape is used as a spacer between the substrate and the electronic component, when the solder having a melting point of about 220 ° C. is melted at the time of soldering, the substrate and the electronic component become 240 to 240 ° C. Even when heated to a high temperature of about 260 ° C., there is no decrease in adhesion function or strength, and a stable increase in gap distance can be exhibited. As a result, the heat-resistant tape can be easily used as a spacer between the substrate and the electronic component.

さらに、上記耐熱テープは、柔らかく弾性係数が小さいため、はんだ接合時の熱および通電時の発熱により、上記基板および上記電子部品に対し、新たなストレスの要因となることがない。これにより、製品の信頼性を低下させる要因となることがない。   Further, since the heat resistant tape is soft and has a small elastic modulus, it does not cause a new stress on the substrate and the electronic component due to heat generated during soldering and heat generated during energization. Thereby, it does not become a factor which reduces the reliability of a product.

請求項2に記載の発明によれば、上記耐熱テープが、ポリイミドを主成分とする基材の片面に、シリコンまたはアクリルを主成分とする接着剤を塗布しているため、上記耐熱テープを上記基板または上記電子部品のどちらかに貼着し、スペーサとすることができる。これにより、上記基板に形成された配線パターンと電子部品とをはんだ結合する際に、上記耐熱テープがズレたり、外れたりすることがなく、複数の上記電子部品を実装する際にも、容易にはんだ結合することができるとともに、新たな設備や工程を増設することなく、既存の製造工程を利用することができ、製造コストの増加を防ぐことができる。   According to invention of Claim 2, since the said heat-resistant tape has apply | coated the adhesive which has a silicon | silicone or an acrylic as a main component on the single side | surface of the base material which has a polyimide as a main component, the said heat-resistant tape is the said It can be affixed to either the substrate or the electronic component as a spacer. Thereby, when soldering the wiring pattern formed on the substrate and the electronic component, the heat-resistant tape is not displaced or detached, and it is easy to mount a plurality of the electronic components. In addition to being able to solder, existing manufacturing processes can be used without adding new equipment and processes, and an increase in manufacturing costs can be prevented.

また、上記耐熱テープが上記基板または上記電子部品の一方のみに貼着されているため、上記耐熱テープがスペーサとして、上記電子部品を鉛直方向に支持し、間隙距離を増加させる以外に、上記電子部品に力が及ばない。この結果、はんだ結合の際のはんだの溶融時に、はんだ表面に現れる表面張力と、はんだと金属の界面に現れる濡れ力によって起こるセルフアライメントによって、位置ずれの補正機能を作用させることができ、製品全体の信頼性を向上させることができる。   In addition, since the heat-resistant tape is attached to only one of the substrate and the electronic component, the heat-resistant tape serves as a spacer to support the electronic component in the vertical direction and increase the gap distance. There is no power on the parts. As a result, when the solder is melted at the time of soldering, the self-alignment that occurs due to the surface tension that appears on the solder surface and the wetting force that appears at the interface between the solder and metal can act as a position offset correction function. Reliability can be improved.

請求項3に記載の発明によれば、上記耐熱テープが、厚さ寸法が50μm以上であるとともに、上記耐熱テープが、上記電子部品の50%以上の表面積において当接する幅寸法に形成されているため、上記基板と上記電子部品との間隙距離を大きく増加させることができるとともに、上記電子部品を安定させて支持することができ、はんだ接合時のセルフアライメントが2つのはんだフィレットに不均一に働くことによる上記電子部品の傾きを抑えることができる。これにより、上記基板と上記電子部品との間隙距離の増加とともに、上記電子部品の水平を保った状態によりはんだ結合することができ、高い耐熱疲労性を得ることができる。   According to the invention described in claim 3, the heat-resistant tape has a thickness dimension of 50 μm or more, and the heat-resistant tape is formed to have a width dimension that abuts on a surface area of 50% or more of the electronic component. Therefore, the gap distance between the substrate and the electronic component can be greatly increased, the electronic component can be stably supported, and self-alignment during soldering works unevenly on the two solder fillets. Therefore, the inclination of the electronic component can be suppressed. Thereby, as the gap distance between the substrate and the electronic component is increased, the electronic component can be solder-bonded in a state where the electronic component is kept horizontal, and high heat fatigue resistance can be obtained.

また、上記耐熱テープを上記電子部品の表面積に対して幅広く設置するため、上記耐熱テープは、上記基板の上記配線パターンや上記はんだの供給量が不適切であった時に起こる間隙部へのはんだの侵入や、はんだボールの発生も回避することができ、はんだ接合時の故障発生率を減少させることができる。
また、
In addition, since the heat-resistant tape is widely installed with respect to the surface area of the electronic component, the heat-resistant tape is used for the solder to the gap portion when the wiring pattern of the substrate or the supply amount of the solder is inappropriate. Intrusion and generation of solder balls can be avoided, and the failure rate during soldering can be reduced.
Also,

請求項4に記載の発明によれば、上記耐熱テープを上記基板と上記電子部品との間に配設した後に、上記配線パターンと上記電子部品とをはんだ接合するため、上記基板と上記電子部品との間隙距離を増加させ、はんだ接合によって、はんだフィレットの厚みを容易に増加させることができる。これにより、通電時の発熱による上記基板と上記電子部品との熱膨張率の差に起因するストレスが均一に分散し、塑性歪みの蓄積が減少された電子部品実装基板を製造することができる。   According to the invention described in claim 4, after the heat-resistant tape is disposed between the substrate and the electronic component, the wiring pattern and the electronic component are soldered to each other. And the thickness of the solder fillet can be easily increased by soldering. As a result, an electronic component mounting board in which stress due to the difference in coefficient of thermal expansion between the substrate and the electronic component due to heat generation upon energization is uniformly dispersed and the accumulation of plastic strain is reduced can be manufactured.

請求項5に記載の発明によれば、上記耐熱テープを上記配線パターンを除く位置であって、かつ上記基板と上記電子部品との間の上記はんだ接合部を除く位置に配設した後に、ペースト状の上記はんだを上記電子部品が実装される位置の上記配線パターン上に配置して、上記配線パターンと上記電子部品とをはんだ接合するため、上記耐熱テープを安定した状態で貼着することができる。   According to the invention described in claim 5, after the heat-resistant tape is disposed at a position excluding the wiring pattern and at a position excluding the solder joint between the substrate and the electronic component, the paste In order to solder-bond the wiring pattern and the electronic component, the heat-resistant tape can be adhered in a stable state. it can.

また、予め上記耐熱テープを上記基板または上記電子部品のいずれかに貼着するため、従来使用されているペースト状のはんだの配置、部品設置、リフローを自動で行うリフロー工程の設備を利用することができる。さらに、上記電子部品の中でも特に壊れやすい部品のみ上記耐熱テープを適用して、上記耐熱テープの使用を最小限に抑えて製造することができる。これにより、製造コストを抑えながら、製品全体の信頼性を向上させた電子部品実装基板を製造することができる。   In addition, in order to attach the heat-resistant tape in advance to either the substrate or the electronic component, use a reflow process facility that automatically performs pasted solder placement, component installation, and reflow. Can do. Furthermore, the heat-resistant tape can be applied only to components that are particularly fragile among the electronic components, and the heat-resistant tape can be used while being minimized. Thereby, it is possible to manufacture an electronic component mounting board in which the reliability of the entire product is improved while suppressing the manufacturing cost.

本発明の電子部品実装基板の一実施形態を示し、(a)は基板上にはんだと耐熱テープを配置した状態の断面概略図、(b)は(a)に電子部品を実装してハンダ接合した状態の断面概略図である。1 shows an embodiment of an electronic component mounting substrate of the present invention, (a) is a schematic cross-sectional view of a state in which solder and heat-resistant tape are arranged on the substrate, and (b) is a solder joint after mounting the electronic component on (a). It is the cross-sectional schematic of the state which carried out. 従来の電子部品実装基板を示す断面概略図である。It is the cross-sectional schematic which shows the conventional electronic component mounting board. (a)および(b)は、本発明の一実施形態により、テスト基板に2012サイズの電子部品をはんだ接合して温度サイクル試験を行った結果を示す顕微鏡写真である。(A) And (b) is a microscope picture which shows the result of having carried out the temperature cycle test by soldering the 2012 size electronic component to the test board | substrate by one Embodiment of this invention. (a)および(b)は、従来の方法により、テスト基板に2012サイズの電子部品をはんだ接合して温度サイクル試験を行った結果を示す顕微鏡写真である。(A) And (b) is a microscope picture which shows the result of having carried out the temperature cycle test by soldering the 2012 size electronic component to the test board by the conventional method. (a)および(b)は、本発明の一実施形態により、テスト基板に3216サイズの電子部品をはんだ接合して温度サイクル試験を行った結果を示す顕微鏡写真である。(A) And (b) is a microscope picture which shows the result of having carried out the temperature cycle test by solder-joining the 3216 size electronic component to the test board | substrate by one Embodiment of this invention. (a)および(b)は、従来の方法により、テスト基板に3216サイズの電子部品をはんだ接合して温度サイクル試験を行った結果を示す顕微鏡写真である。(A) And (b) is a microscope picture which shows the result of having carried out the temperature cycle test by soldering a 3216 size electronic component to a test board by the conventional method.

図1(b)に示すように、本発明に係る電子部品実装基板3の一実施形態は、配線パターン4が片面に形成された基板1と、電子部品2との間に耐熱テープ6が形成されているとともに、基板1の配線パターン4と電子部品2の端子部がはんだ5により接合され概略構成されている。   As shown in FIG. 1B, in one embodiment of the electronic component mounting substrate 3 according to the present invention, a heat-resistant tape 6 is formed between the electronic component 2 and the substrate 1 on which the wiring pattern 4 is formed on one side. In addition, the wiring pattern 4 of the substrate 1 and the terminal portion of the electronic component 2 are joined together by solder 5 so as to be roughly configured.

ここで、基板1は、0.02〜0.05mmのリジッド基板が用いられ、その組成の種類から、 紙にフェノール樹脂を含浸させた紙フェノール基板、 紙にエポキシ樹脂を含浸させた紙エポキシ基板、切り揃えたガラス繊維を重ねエポキシ樹脂を含浸させたガラスコンポジット基板、 ガラス繊維製の布(クロス)を重ねたものに、エポキシ樹脂を含浸させたガラスエポキシ基板などが用いられる。   Here, a rigid substrate having a thickness of 0.02 to 0.05 mm is used as the substrate 1. From the type of composition, a paper phenol substrate in which paper is impregnated with phenol resin, and a paper epoxy substrate in which paper is impregnated with epoxy resin A glass composite substrate in which cut glass fibers are laminated and impregnated with an epoxy resin, a glass epoxy substrate in which an epoxy resin is impregnated on a glass fiber cloth (cloth), and the like are used.

また、配線パターン4は、その主成分に銅が用いられ、基板1の片面に配線パターン4が印刷されて形成されている。そして、耐熱テープ6は、ポリイミドを主成分とする基材と、この基材の片面にシリコンまたはアクリルを主成分とする接着剤が塗布され形成されている。また、耐熱テープ6は、厚さ寸法が50μmであるとともに、電子部品2の50%の表面積において当接する幅寸法に形成されている。   The wiring pattern 4 is formed by using copper as a main component and printing the wiring pattern 4 on one surface of the substrate 1. The heat-resistant tape 6 is formed by applying a base material mainly composed of polyimide and an adhesive mainly composed of silicon or acrylic to one side of the base material. The heat-resistant tape 6 has a thickness dimension of 50 μm and a width dimension that makes contact with the surface area of 50% of the electronic component 2.

そして、はんだ5は、ペースト状の無鉛はんだが用いられている。この無鉛はんだは、3元系の錫−銀−銅の合金である。そして、その組成としては、Sn−3.5Ag−0.7Cu、Sn−3.0Ag−0.5Cu等がある。またこれ以外にも、3元系のSn−Ag−Bi、Sn−Cu−Ni(Niは微量添加物)、4元系のSn−Ag−Cu−Bi、5元系のSn−Ag−Cu−Bi−Ge等の無鉛はんだがある。   The solder 5 is a paste-like lead-free solder. This lead-free solder is a ternary tin-silver-copper alloy. And as the composition, there are Sn-3.5Ag-0.7Cu, Sn-3.0Ag-0.5Cu, and the like. In addition, ternary Sn—Ag—Bi, Sn—Cu—Ni (Ni is a trace additive), quaternary Sn—Ag—Cu—Bi, quinary Sn—Ag—Cu -There are lead-free solders such as Bi-Ge.

上記構成からなる電子部品実装基板の製造方法について説明する。
まず、図1(a)に示すように、基板1上に形成された配線パターン4上の電子部品2の端子部との接合位置に、ペースト状の鉛フリーはんだ5を配置する。そして、このはんだ5の間の位置であって、かつ配線パターン4を除く位置に、厚さ寸法50μmの耐熱テープ6の接着剤により貼着して配設する。この耐熱テープ6は、電子部品2の表面積の50%を当接する大きさにカットされたものである。また、厚さ寸法50μmの耐熱シート6を基板1に配設する場合には、配線パターン4上に配置したペースト状の鉛フリーはんだ5の高さは、耐熱テープ6の厚さ寸法より高くして配置する。
A method of manufacturing the electronic component mounting board having the above configuration will be described.
First, as shown in FIG. 1A, paste-like lead-free solder 5 is disposed at a joint position with the terminal portion of the electronic component 2 on the wiring pattern 4 formed on the substrate 1. And it sticks with the adhesive agent of the 50-micrometer-thick heat-resistant tape 6 in the position between this solder 5 and the position except the wiring pattern 4, and arrange | positions. The heat-resistant tape 6 is cut to a size that contacts 50% of the surface area of the electronic component 2. When the heat-resistant sheet 6 having a thickness of 50 μm is disposed on the substrate 1, the height of the paste-like lead-free solder 5 disposed on the wiring pattern 4 is higher than the thickness of the heat-resistant tape 6. Arrange.

次いで、電子部品2を耐熱テープ6上および配線パターン4上に配置されたペースト状のはんだ5上に配置し、リフロー炉に投入して加熱する。このリフロー炉内において、ペースト状のはんだ5が溶融して、電子部品2の端子部と、基板1の配線パターン4とが接合される。またはんだ5が溶融される際に、電子部品2は、はんだ5の高さ寸法と耐熱テープ6の厚さ寸法に差があるため、自重により鉛直方向に下降する。その際に、耐熱テープ6により支えられているため、基板1と電子部品2との間隙部7の距離を耐熱テープの厚さ寸法以上に保持され、厚みを増したはんだフィレットが形成される。   Next, the electronic component 2 is disposed on the paste-like solder 5 disposed on the heat-resistant tape 6 and the wiring pattern 4, and is put into a reflow furnace and heated. In the reflow furnace, the paste-like solder 5 is melted, and the terminal portion of the electronic component 2 and the wiring pattern 4 of the substrate 1 are joined. Further, when the solder 5 is melted, the electronic component 2 is lowered in the vertical direction by its own weight because of the difference in the height dimension of the solder 5 and the thickness dimension of the heat-resistant tape 6. At that time, since it is supported by the heat-resistant tape 6, the distance of the gap portion 7 between the substrate 1 and the electronic component 2 is maintained to be equal to or greater than the thickness dimension of the heat-resistant tape, and a solder fillet having an increased thickness is formed.

さらに、はんだ溶融時には、電子部品2が鉛直方向に下降する際、溶融したはんだ5に強い表面張力が生じて、電子部品2およびその電極部の下部に毛細管現象が起こることにより、電子部品2のはんだ接合部を引っ張って移動させるセルフアライメント現象が生じて、電子部品2のズレが補正される。このセルフアライメント現象は、はんだ溶融時に電子部品2がはんだ5のみに配設された状態のときに、電子部品2が最も大きく移動して、電子部品2のズレを補正する。また、はんだ溶融時の加熱が電子部品2に均一に伝わらなかった場合に、電子部品2にセルフアライメントによる複雑な力が働き、電子部品2が傾こうとするが、電子部品2の表面積に対して、耐熱テープ6が50%当接されているために、電子部品2の傾きが抑えられて、水平を保つことができる。   Furthermore, when the electronic component 2 descends in the vertical direction when the solder is melted, a strong surface tension is generated in the molten solder 5, and a capillary phenomenon occurs in the lower part of the electronic component 2 and its electrode part. A self-alignment phenomenon occurs in which the solder joint is pulled and moved, and the displacement of the electronic component 2 is corrected. This self-alignment phenomenon corrects the displacement of the electronic component 2 by moving the electronic component 2 most greatly when the electronic component 2 is disposed only on the solder 5 when the solder is melted. In addition, when the heating at the time of melting the solder is not uniformly transmitted to the electronic component 2, a complicated force due to self-alignment acts on the electronic component 2, and the electronic component 2 tends to tilt. Since the heat-resistant tape 6 is in contact with 50%, the inclination of the electronic component 2 is suppressed and the level can be maintained.

また、基板1側に貼り付ける際には、電子部品2や基板1の配線パターン4の状況に応じ、各電子部品2の大きさに合わせて耐熱テープ6をカットするとともに、各々の電子部品2を適宜配設する必要がある。そこで、自動のラベリング機を導入することにより、耐熱テープ5の配設枚数に関わらず、量産自動化を可能にすることができる。   Moreover, when affixing to the board | substrate 1 side, according to the condition of the electronic component 2 or the wiring pattern 4 of the board | substrate 1, while cutting the heat-resistant tape 6 according to the magnitude | size of each electronic component 2, and each electronic component 2 Must be arranged as appropriate. Therefore, by introducing an automatic labeling machine, it is possible to automate mass production regardless of the number of heat-resistant tapes 5 disposed.

なお、耐熱テープ6を配設する方法は、基板1側に貼り付ける方法以外に、電子部品2側に貼り付ける方法、または基板1と電子部品2の各々に貼り付ける方法がある。また基板1と電子部品2の各々に耐熱テープ6を貼り付ける場合には、間隙距離の増加量が多くすることができるため、はんだ接合部の耐熱疲労性をより高くすることができる。   In addition to the method of affixing the heat-resistant tape 6 on the substrate 1 side, there are a method of affixing on the electronic component 2 side or a method of affixing on each of the substrate 1 and the electronic component 2. Further, when the heat-resistant tape 6 is affixed to each of the substrate 1 and the electronic component 2, the amount of increase in the gap distance can be increased, so that the heat fatigue resistance of the solder joint can be further increased.

(実施例1)
以上の構成により製造される電子部品実装基板が、従来の製造設備および製造条件においても可能であるかを発明者らか行った試験により説明する。
Example 1
Whether or not the electronic component mounting board manufactured by the above configuration is possible with conventional manufacturing equipment and manufacturing conditions will be described by a test conducted by the inventors.

今回の試験は、市販されている厚さ寸法50μmの耐熱テープ6(YT130シリーズ/ACE GLOBAL LTD製)を用意し、この耐熱テープ6を基板1に配置する方法および電子部品2に配置する方法によって、従来のはんだ接合設備および製造条件を用いてはんだ接合を行った。なお、搭載する電子部品2は、異なる大きさのものを数種類由用意して、はんだ接合を行った。   In this test, a commercially available heat-resistant tape 6 having a thickness of 50 μm (manufactured by YT130 series / ACE GLOBAL LTD) was prepared, and the heat-resistant tape 6 was arranged on the substrate 1 and the electronic component 2. The soldering was performed using conventional soldering equipment and manufacturing conditions. In addition, several types of electronic components 2 to be mounted were prepared and soldered together.

結果としは、耐熱テープ6を基板1に配置する方法および電子部品2に配置する方法ともに、従来のはんだ接合設備および製造条件において、良好にはんだ接合することができた。これにより、はんだ接合する際に、セルフアライメントが問題なく発揮されていることが確認された。   As a result, both the method of arranging the heat-resistant tape 6 on the substrate 1 and the method of arranging the heat-resistant tape 6 on the electronic component 2 were able to be soldered satisfactorily using conventional soldering equipment and manufacturing conditions. Thus, it was confirmed that self-alignment was exhibited without problems when soldering.

また、はんだ接合後に、基板1と電子部品2との間隙距離を測定した結果、電子部品2の大きさに左右されることなく、間隙部7の距離が平均50μm増加した。そして、間隙距離のバラツキ幅も、従来の製造方法に比べて小さく、また電子部品2の傾き量のバラツキも少ない(平坦性が高い)ことが確認された。さらに、はんだフィレットの形状や外観のつや、はんだ5と配線パターン4および電子部品2の端子部とのなじみも良いことが確認された。   Further, as a result of measuring the gap distance between the substrate 1 and the electronic component 2 after soldering, the distance of the gap portion 7 increased by an average of 50 μm regardless of the size of the electronic component 2. And it was confirmed that the variation width of the gap distance is smaller than that of the conventional manufacturing method, and the variation of the inclination amount of the electronic component 2 is small (high flatness). Further, it was confirmed that the shape and appearance of the solder fillet and the familiarity between the solder 5 and the wiring pattern 4 and the terminal portion of the electronic component 2 were good.

すなわち、本願発明の製造方法は、従来の電子部品実装基板3を製造する際に用いられた製造設備および製造工程を利用することが判明した。   That is, it has been found that the manufacturing method of the present invention uses the manufacturing equipment and manufacturing process used when manufacturing the conventional electronic component mounting board 3.

(実施例2)
次に、上記の構成により製造される電子部品実装基板の温度サイクルによる耐熱疲労性について、発明者らか行った試験により説明する。
なお、今回の試験は、本発明の製造方法により製造される二つのテスト用電子部品実装基板と、従来の製造方法により製造された二つのテスト用電子部品実装基板を用いておこなった。
(Example 2)
Next, the heat fatigue resistance due to the temperature cycle of the electronic component mounting board manufactured by the above configuration will be described by a test conducted by the inventors.
This test was performed using two test electronic component mounting boards manufactured by the manufacturing method of the present invention and two test electronic component mounting boards manufactured by a conventional manufacturing method.

今回の試験に用いたテスト用電子部品実装基板の構成、および温度サイクル条件は、以下の通りである。   The configuration of the test electronic component mounting substrate used in this test and the temperature cycle conditions are as follows.

<実施1>
電子部品 :2012サイズ
基板 :ガラスコンポジット(CEM−3)
はんだ :鉛フリーはんだ(3元系の錫−銀−銅の合金)
耐熱テープ :50μm YT130シリーズ(ACE GLOBAL LTD製)
温度サイクル:低温−55℃、高温125℃で、各々15分保持

<比較1>
電子部品 :2012サイズ
基板 :ガラスコンポジット(CEM−3)
はんだ :鉛フリーはんだ(3元系の錫−銀−銅の合金)
耐熱テープ :なし
温度サイクル:低温−55℃、高温125℃で、各々15分保持

<実施2>
電子部品 :3216サイズ
基板 :ガラスコンポジット(CEM−3)
はんだ :鉛フリーはんだ(3元系の錫−銀−銅の合金)
耐熱テープ :50μm(YT130シリーズ/ACE GLOBAL LTD製)
温度サイクル:低温−55℃、高温125℃で、各々15分保持

<比較2>
電子部品 :3216サイズ
基板 :ガラスコンポジット(CEM−3)
はんだ :鉛フリーはんだ(3元系の錫−銀−銅の合金)
耐熱テープ :なし
温度サイクル:低温−55℃、高温125℃で、各々15分保持
<Implementation 1>
Electronic parts: 2012 size
Substrate: Glass composite (CEM-3)
Solder: Lead-free solder (ternary tin-silver-copper alloy)
Heat-resistant tape: 50μm YT130 series (manufactured by ACE GLOBAL LTD)
Temperature cycle: Low temperature -55 ° C, high temperature 125 ° C, hold for 15 minutes each

<Comparison 1>
Electronic parts: 2012 size
Substrate: Glass composite (CEM-3)
Solder: Lead-free solder (ternary tin-silver-copper alloy)
Heat-resistant tape: None Temperature cycle: Low temperature -55 ° C, high temperature 125 ° C, hold for 15 minutes each

<Execution 2>
Electronic parts: 3216 size
Substrate: Glass composite (CEM-3)
Solder: Lead-free solder (ternary tin-silver-copper alloy)
Heat-resistant tape: 50 μm (YT130 series / ACE GLOBAL LTD)
Temperature cycle: Low temperature -55 ° C, high temperature 125 ° C, hold for 15 minutes each

<Comparison 2>
Electronic parts: 3216 size
Substrate: Glass composite (CEM-3)
Solder: Lead-free solder (ternary tin-silver-copper alloy)
Heat-resistant tape: None Temperature cycle: Low temperature -55 ° C, high temperature 125 ° C, hold for 15 minutes each

上記の実施1及び実施2は、本発明の製造方法により製造したテスト用電子部品実装基板であり、比較1および比較2は、従来の製造方法により製造したテスト用電子部品実装基板である。そして、各々のテスト用電子部品実測基板を−55℃の低温側で15分保持し、その後125℃の高温側で15分間保持、再び−55℃の低温側で15分保持という方法で、繰り返し温度サイクル試験を行った。   Embodiments 1 and 2 above are test electronic component mounting boards manufactured by the manufacturing method of the present invention, and comparisons 1 and 2 are test electronic component mounting boards manufactured by a conventional manufacturing method. Each test electronic component actual measurement substrate is held for 15 minutes on the low temperature side of −55 ° C., then held for 15 minutes on the high temperature side of 125 ° C., and again held for 15 minutes on the low temperature side of −55 ° C. A temperature cycle test was conducted.

その結果を図3〜図6の顕微鏡写真により説明する。
まず、図3(a)は、実施1のテスト用電子部品実装基板を用いて、温度サイクル試験を300サイクル行った後のはんだフィレット部分を拡大したものであり、図3(b)は、実施1のテスト用電子部品実装基板を用いて、温度サイクル試験を450サイクル行った後のフィレット部分を拡大したものである。この図3(a)および(b)の試験結果を見る限り、はんだフィレットの破断は認められない。
The results will be described with reference to the micrographs of FIGS.
First, FIG. 3A is an enlarged view of the solder fillet portion after 300 cycles of the temperature cycle test using the test electronic component mounting substrate of Example 1, and FIG. 1 is an enlarged view of a fillet portion after 450 cycles of a temperature cycle test using the test electronic component mounting board of No. 1; As can be seen from the test results shown in FIGS. 3A and 3B, the solder fillet is not broken.

次に、図4(a)は、比較1のテスト用電子部品実装基板を用いて、温度サイクル試験を300サイクル行った後のはんだフィレット部分を拡大したものであり、図4(b)は、実施1のテスト用電子部品実装基板を用いて、温度サイクル試験を450サイクル行った後のフィレット部分を拡大したものである。この図4(a)の試験結果では、基板1と電子部品2との間隙部7の内側に亀裂が認められる。また図4(b)の試験結果では、基板1と電子部品2との間隙部7からはんだフィレット部分に亘り亀裂が生じ、はんだ結合部が破断されている。   Next, FIG. 4 (a) is an enlarged view of the solder fillet portion after 300 cycles of the temperature cycle test using the test electronic component mounting substrate of Comparative 1, and FIG. Using the electronic component mounting substrate for test of Example 1, the fillet portion after performing the temperature cycle test for 450 cycles is enlarged. In the test result of FIG. 4A, a crack is recognized inside the gap 7 between the substrate 1 and the electronic component 2. Further, in the test result of FIG. 4B, a crack is generated from the gap portion 7 between the substrate 1 and the electronic component 2 to the solder fillet portion, and the solder joint portion is broken.

そして、図5(a)は、実施2のテスト用電子部品実装基板を用いて、温度サイクル試験を300サイクル行った後のはんだフィレット部分を拡大したものであり、図5(b)は、実施2のテスト用電子部品実装基板を用いて、温度サイクル試験を450サイクル行った後のフィレット部分を拡大したものである。この図5(a)の試験結果では、はんだ5が接合されている電子部品の角部付近に亀裂が認められる。また図5(b)の試験結果では、はんだ5が接合されている電子部品の角部付近からはんだフィレット部分に亘り亀裂が認められるが、はんだ接合の破断は認められない。   FIG. 5A is an enlarged view of the solder fillet portion after 300 cycles of the temperature cycle test using the test electronic component mounting substrate of the second embodiment, and FIG. 2 is an enlarged view of a fillet portion after 450 cycles of a temperature cycle test using the test electronic component mounting board of No. 2; In the test result of FIG. 5A, cracks are recognized near the corners of the electronic component to which the solder 5 is joined. Further, in the test results of FIG. 5B, cracks are recognized from the vicinity of the corners of the electronic parts to which the solder 5 is bonded to the solder fillets, but breakage of the solder bonding is not recognized.

さらに、図6(a)は、比較2のテスト用電子部品実装基板を用いて、温度サイクル試験を300サイクル行った後のはんだフィレット部分を拡大したものであり、図6(b)は、比較2のテスト用電子部品実装基板を用いて、温度サイクル試験を450サイクル行った後のフィレット部分を拡大したものである。この図6(a)の試験結果では、はんだ5が接合されている電子部品の角部付近に亀裂が認められる。また図6(b)の試験結果では、基板1と電子部品2との間隙部7からはんだフィレット部分に亘り亀裂が生じ、はんだ結合部が破断されている。   Further, FIG. 6A is an enlarged view of the solder fillet portion after 300 cycles of the temperature cycle test using the test electronic component mounting substrate of Comparative 2, and FIG. 2 is an enlarged view of a fillet portion after 450 cycles of a temperature cycle test using the test electronic component mounting board of No. 2; In the test result of FIG. 6A, cracks are recognized near the corners of the electronic component to which the solder 5 is bonded. Further, in the test result of FIG. 6B, a crack is generated from the gap portion 7 between the substrate 1 and the electronic component 2 to the solder fillet portion, and the solder joint portion is broken.

すなわち、今回の試験により、従来の製造方法によってはんだ接合された電子部品実測基板よりも、本発明の製造方法によって、はんだ接合することにより、疲労寿命を延ばすことができることが分かった。これは、電子部品2の大きさに左右されるものではなく、また寿命を保ちにくい比較的大きな電子部品2であっても、疲労寿命を延ばすことができる。   That is, it was found from this test that the fatigue life can be extended by soldering with the manufacturing method of the present invention rather than the electronic component actual measurement board soldered with the conventional manufacturing method. This does not depend on the size of the electronic component 2, and the fatigue life can be extended even with a relatively large electronic component 2 that is difficult to maintain its life.

上述の実施形態による電子部品実装基板3によれば、上記基板1が、当該基板1と電子部品2との間のはんだ接合部を除く位置に耐熱テープ6を配設しているため、耐熱テープ6をスペーサとして、基板1と電子部品2との間隙距離を増加させることができる。これにより、実施例2の試験結果からも分かるように、基板1と電子部品2とのはんだ接合部に形成されるはんだフィレットの厚みを増加させることができ、通電時の発熱による基板1と電子部品2との熱膨張率の差のストレスを均一に分散させて、塑性歪みの蓄積を減少させることができる。   According to the electronic component mounting substrate 3 according to the above-described embodiment, since the substrate 1 has the heat-resistant tape 6 disposed at a position excluding the solder joint between the substrate 1 and the electronic component 2, By using 6 as a spacer, the gap distance between the substrate 1 and the electronic component 2 can be increased. As a result, as can be seen from the test results of Example 2, the thickness of the solder fillet formed at the solder joint between the substrate 1 and the electronic component 2 can be increased, and the substrate 1 and the electrons due to heat generation during energization can be increased. The stress due to the difference in thermal expansion coefficient with the component 2 can be evenly distributed to reduce the accumulation of plastic strain.

また、基板1と電子部品2との間のスペーサとして、耐熱テープ6を使用するため、はんだ接合時において、融点220℃程度のはんだを溶融させる際に、基板1と電子部品2とが、240〜260℃程度の高温に加熱されても、接着機能や強度の低下がなく、安定した間隙距離の増加を発揮することができる。この結果、耐熱テープ6を基板1と電子部品2との間のスペーサとして、容易に使用することができる。   Further, since the heat-resistant tape 6 is used as a spacer between the substrate 1 and the electronic component 2, when the solder having a melting point of about 220 ° C. is melted at the time of soldering, the substrate 1 and the electronic component 2 become 240 Even when heated to a high temperature of about ˜260 ° C., there is no decrease in adhesion function or strength, and a stable increase in gap distance can be exhibited. As a result, the heat-resistant tape 6 can be easily used as a spacer between the substrate 1 and the electronic component 2.

さらに、耐熱テープ6は、柔らかく弾性係数が低いため、はんだ接合時の熱および通電時の発熱により、基板1および電子部品2にストレスを与えることがない。これにより、製品の信頼性を低下させる要因となることがない。   Furthermore, since the heat-resistant tape 6 is soft and has a low elastic modulus, the substrate 1 and the electronic component 2 are not stressed by heat at the time of soldering and heat generation at the time of energization. Thereby, it does not become a factor which reduces the reliability of a product.

また、耐熱テープ6が、ポリイミドを主成分とする基材の片面に、シリコンまたはアクリルを主成分とする接着剤を塗布しているため、耐熱テープ6を基板1または電子部品2のどちらかに貼着、または各々に貼着し、スペーサとすることができる。これにより、実施例1の試験結果からも分かるように、基板1に形成された配線パターン4と電子部品2とをはんだ結合する際に、耐熱テープ6がズレたり、外れたりすることがなく、複数の電子部品2を実装する際にも、容易にはんだ結合することができるとともに、新たな設備や工程を増設することなく、既存の製造工程を利用することができ、製造コストの増加を防ぐことができる。   Further, since the heat-resistant tape 6 has an adhesive mainly composed of silicon or acrylic applied to one side of a base material mainly composed of polyimide, the heat-resistant tape 6 is applied to either the substrate 1 or the electronic component 2. Adhering or adhering to each other can be used as a spacer. Thereby, as can be seen from the test results of Example 1, the heat-resistant tape 6 is not displaced or detached when the wiring pattern 4 formed on the substrate 1 and the electronic component 2 are solder-bonded. When mounting a plurality of electronic components 2, soldering can be easily performed, and existing manufacturing processes can be used without adding new equipment and processes, preventing an increase in manufacturing costs. be able to.

そして、耐熱テープ6が基板1または電子部品2の一方のみに貼着されているため、耐熱テープ6がスペーサとして、電子部品2を鉛直方向に支持し、間隙距離を増加させる以外に、電子部品2に力が及ばない。この結果、はんだ結合の際のはんだの溶融時に、はんだ表面に現れる表面張力と、はんだと金属の界面に現れる濡れ力によって起こるセルフアライメントによって、位置ずれの補正機能を作用させることができ、製品全体の信頼性を向上させることができる。   Since the heat-resistant tape 6 is attached to only one of the substrate 1 and the electronic component 2, the heat-resistant tape 6 serves as a spacer, supports the electronic component 2 in the vertical direction, and increases the gap distance. 2 does not reach force. As a result, when the solder is melted at the time of soldering, the self-alignment that occurs due to the surface tension that appears on the solder surface and the wetting force that appears at the interface between the solder and metal can act as a position offset correction function. Reliability can be improved.

さらに、耐熱テープ6が、厚さ寸法が50μm以上であるとともに、耐熱テープ6が、電子部品2の50%以上の表面積において当接する幅寸法に形成されているため、基板1と電子部品2との間隙距離を大きく増加させることができるとともに、電子部品2を安定させて支持することができ、はんだ接合時のセルフアライメントが2つのはんだフィレットに不均一に働くことによる電子部品2の傾きをを抑えることができる。これにより、基板1と電子部品2との間隙距離の増加とともに、電子部品2の水平を保った状態によりはんだ結合することができ、高い耐熱疲労性を得ることができる。   Further, since the heat-resistant tape 6 has a thickness dimension of 50 μm or more and the heat-resistant tape 6 is formed to have a width dimension that makes contact with the surface area of 50% or more of the electronic component 2, the substrate 1 and the electronic component 2 The gap distance of the electronic component 2 can be greatly increased, the electronic component 2 can be supported stably, and the inclination of the electronic component 2 due to the non-uniform self-alignment of the solder joints acting on the two solder fillets can be reduced. Can be suppressed. Thereby, as the gap distance between the substrate 1 and the electronic component 2 is increased, the electronic component 2 can be solder-bonded in a horizontal state, and high heat fatigue resistance can be obtained.

また、耐熱テープ6を電子部品2の表面積に対して幅広く設置するため、耐熱テープ6は、基板1の配線パターン4およびはんだ5の供給量や供給位置が不適切であったり、製造時の様々な要因により接合環境が変動した際に起こる間隙部へのはんだ5の侵入や、はんだボールの発生も回避することができ、はんだ接合時の故障発生率を減少させることができる。   In addition, since the heat-resistant tape 6 is widely installed with respect to the surface area of the electronic component 2, the heat-resistant tape 6 has an inappropriate supply amount and supply position of the wiring pattern 4 and the solder 5 of the substrate 1, and various factors during manufacture. Therefore, it is possible to avoid the intrusion of the solder 5 into the gap portion and the generation of solder balls that occur when the joining environment fluctuates due to various factors, and the failure occurrence rate during solder joining can be reduced.

そして、電子部品2が実装される位置の配線パターン4上に、ペースト状のはんだ5を配置する前に、配線パターン4を除く位置であるとともに、基板1と電子部品2との間のはんだ接合部を除く位置に耐熱テープ6を配設して、配線パターン4と電子部品2とをはんだ接合するため、上記耐熱テープを安定した状態で貼着することができるとともに、基板1と電子部品2との間隙距離を増加させ、はんだ接合によって、はんだフィレットの厚みを増加させた電子部品実装基板を製造することができる。   And before arrange | positioning the paste-like solder 5 on the wiring pattern 4 of the position in which the electronic component 2 is mounted, it is a position except the wiring pattern 4, and solder joining between the board | substrate 1 and the electronic component 2 Since the heat-resistant tape 6 is disposed at a position excluding the portion and the wiring pattern 4 and the electronic component 2 are soldered together, the heat-resistant tape can be adhered in a stable state, and the substrate 1 and the electronic component 2 can be adhered. Thus, an electronic component mounting board in which the thickness of the solder fillet is increased can be manufactured by soldering.

また、予め耐熱テープ6を基板1または電子部品2のいずれか、または各々に貼着するため、従来使用されているペースト状のはんだの配置、部品設置、リフローを自動で行うリフロー工程の設備を利用することができる。さらに、電子部品2の中でも特に壊れやすい部品のみ耐熱テープ6を適用して、耐熱テープ6の使用を最小限に抑えるて製造することができる。これにより、製造コストを抑えながら、製品全体の信頼性を向上させた電子部品実装基板を製造することができる。   In addition, in order to attach the heat-resistant tape 6 to either the substrate 1 or the electronic component 2 in advance or to each, a reflow process facility that automatically performs pasted solder placement, component installation, and reflow is used. Can be used. Further, the heat-resistant tape 6 can be applied to only the fragile parts among the electronic parts 2 and the heat-resistant tape 6 can be manufactured to the minimum. Thereby, it is possible to manufacture an electronic component mounting board in which the reliability of the entire product is improved while suppressing the manufacturing cost.

なお、上記実施の形態において、厚さ寸法が50μmの耐熱テープ6を用いる場合のみ説明したが、これに限定されるものではなく、例えば、50μm〜200μm程度の耐熱テープ6であれば、対応可能である。
また、上記実施の形態において、配線パターン4が片面に形成された基板1を用いた場合のみ説明したが、これに限定されるものではなく、例えば、両面に配線パターン4が形成された基板1でも対応可能である。
In addition, in the said embodiment, although demonstrated only when the thickness dimension used the heat resistant tape 6 of 50 micrometers, it is not limited to this, For example, if it is the heat resistant tape 6 of about 50 micrometers-200 micrometers, it can respond. It is.
Moreover, in the said embodiment, although demonstrated only when the board | substrate 1 in which the wiring pattern 4 was formed in the single side was used, it is not limited to this, For example, the board | substrate 1 in which the wiring pattern 4 was formed in both surfaces But it is possible.

配線パターンが形成された基板に利用することができる。   It can be used for a substrate on which a wiring pattern is formed.

1 基板
2 電子部品
3 電子部品実装基板
4 配線パターン
5 はんだ
6 耐熱テープ
7 間隙部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Board | substrate 2 Electronic component 3 Electronic component mounting board 4 Wiring pattern 5 Solder 6 Heat-resistant tape 7 Gap part

Claims (5)

配線パターンが形成された基板の表面に、はんだ接合により電子部品が実装される電子部品実装基板において、
上記基板は、当該基板と上記電子部品との間であって、かつ上記はんだ接合部を除く位置に耐熱テープが配設されていることを特徴とする電子部品実装基板。
In an electronic component mounting board in which electronic components are mounted on the surface of the board on which the wiring pattern is formed by soldering,
An electronic component mounting substrate, wherein the substrate is disposed between the substrate and the electronic component, and a heat-resistant tape is disposed at a position excluding the solder joint portion.
上記耐熱テープは、ポリイミドを主成分とする基材と、この基材の片面にシリコンまたはアクリルを主成分とする接着剤が塗布されて形成されていることを特徴とする請求項1に記載の電子部品実装基板。   The heat-resistant tape is formed by applying a base material mainly composed of polyimide and an adhesive mainly composed of silicon or acrylic on one side of the base material. Electronic component mounting board. 上記耐熱テープは、厚さ寸法が50μm以上であるとともに、上記電子部品の50%以上の表面積において当接する幅寸法に形成されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の電子部品実装基板。   4. The heat-resistant tape according to claim 1, wherein the heat-resistant tape has a thickness dimension of 50 μm or more and a width dimension that abuts on a surface area of 50% or more of the electronic component. Electronic component mounting board. 配線パターンが形成された基板の表面に、はんだ接合により電子部品を実装する電子部品実装基板の製造方法であって、
上記耐熱テープを上記基板と上記電子部品との間に配設した後に、上記配線パターンと上記電子部品とをはんだ接合することを特徴とする電子部品実装基板の製造方法。
An electronic component mounting board manufacturing method for mounting an electronic component on a surface of a board on which a wiring pattern is formed by solder bonding,
A method of manufacturing an electronic component mounting board, comprising: arranging the heat-resistant tape between the substrate and the electronic component; and solder-bonding the wiring pattern and the electronic component.
上記耐熱テープを上記配線パターンを除く位置であって、かつ上記基板と上記電子部品との間の上記はんだ接合部を除く位置に配設した後に、ペースト状の上記はんだを上記電子部品が実装される位置の上記配線パターン上に配置して、上記配線パターンと上記電子部品とをはんだ接合することを特徴とする請求項4に記載の電子部品実装基板の製造方法。   After the heat-resistant tape is disposed at a position excluding the wiring pattern and at a position excluding the solder joint between the substrate and the electronic component, the paste-like solder is mounted on the electronic component. 5. The method of manufacturing an electronic component mounting board according to claim 4, wherein the wiring pattern and the electronic component are solder-bonded to each other on the wiring pattern at a certain position.
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