JP2012087363A - Electrode plate and method of producing electrode plate - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electrode plate high in productivity, and excellent in electric conductivity, softening temperature and surface quality, and a method of producing an electrode plate.SOLUTION: The electrode plate includes an additive element selected from the group consisting of Ti, Mg, Zr, Nb, Ca, V, Ni, Mn and Cr, and oxygen in an amount exceeding 2 mass ppm, with the remainder being copper and unavoidable impurities, and has an electric conductivity of 101.5% IACS or more.

Description

本発明は、電極板及び電極板の製造方法に関する。   The present invention relates to an electrode plate and a method for manufacturing the electrode plate.

従来の技術として、長い板状の導体からなる複数のバスバーが、経路途上で板面の長辺方向に沿って絶縁体を介して互いに隣接する隣接部を有し、固定手段によって絶縁体と共に層状化して固定された層状型バスバーが知られている(例えば、特許文献1参照)。   As a conventional technique, a plurality of bus bars made of long plate-like conductors have adjacent portions that are adjacent to each other via an insulator along the long side direction of the plate surface along the route, and are layered together with the insulator by a fixing means. There is known a layered bus bar which is fixed in a fixed manner (for example, see Patent Document 1).

この従来の層状型バスバーは、バスバーが層状に形成されているので、小型化と放熱性を両立することができる。   In this conventional layered bus bar, the bus bar is formed in layers, so that both miniaturization and heat dissipation can be achieved.

特開2004−140933号公報JP 2004-140933 A

しかし、従来の層状型バスバーは、更に放熱性を高めるためには、バスバーの面積を増大させる必要があり、重量の増大及び体積の増大を招いて製造コストを増大させる問題がある。   However, in order to further improve the heat dissipation, the conventional layered bus bar needs to increase the area of the bus bar, which causes an increase in weight and volume, resulting in an increase in manufacturing cost.

したがって、本発明の目的は、生産性が高く、導電率、放熱性、軟化温度及び表面品質に優れた電極板及び電極板の製造方法を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to provide an electrode plate having high productivity, excellent conductivity, heat dissipation, softening temperature, and surface quality, and a method for manufacturing the electrode plate.

本発明は、上記目的を達成するため、Ti、Mg、Zr、Nb、Ca、V、Ni、Mn及びCrからなる群から選択された添加元素と、2mass ppmを超える量の酸素を含み、残部が銅と不可避的不純物とからなり、導電率が101.5%IACS以上である電極板を提供する。   In order to achieve the above object, the present invention includes an additive element selected from the group consisting of Ti, Mg, Zr, Nb, Ca, V, Ni, Mn and Cr, oxygen in an amount exceeding 2 mass ppm, and the balance Provides an electrode plate comprising copper and inevitable impurities and having a conductivity of 101.5% IACS or more.

また、上記の電極板において、添加元素がTiであり、2mass ppm以上、12mass ppm以下の硫黄と、2mass ppmを超え30mass ppm以下の酸素と、4mass ppm以上、55mass ppm以下のTiを含むことが好ましい。   Further, in the above electrode plate, the additive element may be Ti, and may contain 2 mass ppm or more and 12 mass ppm or less of sulfur, 2 mass ppm or more and 30 mass ppm or less of oxygen, and 4 mass ppm or more and 55 mass ppm or less of Ti. preferable.

また、上記の電極板において、硫黄(S)及びTiが、TiO、TiO、TiS、若しくはTi−O−S結合を有する化合物又はTiO、TiO、TiS、若しくはTi−O−S結合を有する化合物の凝集物として含まれ、残部のTi及びSが固溶体として含まれることが好ましい。 In the above electrode plate, sulfur (S) and Ti have a TiO, TiO 2 , TiS, or a compound having a Ti—O—S bond, or a TiO, TiO 2 , TiS, or Ti—O—S bond. It is preferable that it is contained as an aggregate of the compound, and the remaining Ti and S are contained as a solid solution.

また、上記の電極板において、TiO、TiO、TiS、Ti−O−Sの形の化合物又は凝集物が結晶粒内に分布しており、TiOが、200nm以下のサイズを有し、TiOが、1000nm以下のサイズを有し、TiSが、200nm以下のサイズを有し、Ti−O−Sの形の化合物又は凝集物が、300nm以下のサイズを有し、500nm以下の粒子が90%以上であることが好ましい。 In the above electrode plate, compounds or aggregates in the form of TiO, TiO 2 , TiS, Ti—O—S are distributed in the crystal grains, TiO has a size of 200 nm or less, and TiO 2 Has a size of 1000 nm or less, TiS has a size of 200 nm or less, a compound or agglomerate in the form of Ti-O-S has a size of 300 nm or less, and particles of 500 nm or less are 90% The above is preferable.

本発明は、上記目的を達成するため、Ti、Mg、Zr、Nb、Ca、V、Ni、Mn及びCrからなる群から選択された添加元素と、2mass ppmを超える量の酸素を含み、残部が銅と不可避的不純物とからなる希薄銅合金材料を1100℃以上1320℃以下の溶銅温度で溶湯にする溶湯製造工程と、溶湯からワイヤロッドを作製するワイヤロッド作製工程と、ワイヤロッドに熱間圧延を施す熱間圧延工程と、熱間圧延を経たワイヤロッドに伸線加工を施す伸線加工工程と、伸線加工が施されたワイヤロッドに圧延加工を施して電極板を形成する電極板形成工程と、を含む電極板の製造方法を提供する。   In order to achieve the above object, the present invention includes an additive element selected from the group consisting of Ti, Mg, Zr, Nb, Ca, V, Ni, Mn and Cr, oxygen in an amount exceeding 2 mass ppm, and the balance Manufacturing a molten copper alloy material composed of copper and inevitable impurities at a molten copper temperature of 1100 ° C. or higher and 1320 ° C. or lower, a wire rod manufacturing step of manufacturing a wire rod from the molten metal, and heating the wire rod Hot rolling process for performing hot rolling, wire drawing process for performing wire drawing on a wire rod that has undergone hot rolling, and electrode for forming an electrode plate by rolling the wire rod that has been subjected to wire drawing And a plate forming step.

また、上記の電極板の製造方法において、熱間圧延加工における圧延ロールの温度が880℃以下550℃以上で行われることが好ましい。   In the above electrode plate manufacturing method, the temperature of the rolling roll in the hot rolling process is preferably 880 ° C. or lower and 550 ° C. or higher.

また、上記の電極板の製造方法において、電極板は、添加元素がTiであり、2mass ppm以上、12mass ppm以下の硫黄と、2mass ppmを超え30mass ppm以下の酸素と、4mass ppm以上、55mass ppm以下のTiを含むことが好ましい。   Further, in the above electrode plate manufacturing method, the electrode plate has Ti as an additive element, sulfur of 2 mass ppm or more and 12 mass ppm or less, oxygen of 2 mass ppm or more and 30 mass ppm or less, 4 mass ppm or more, 55 mass ppm It is preferable to contain the following Ti.

本発明に係る電極板及び電極板の製造方法によれば、生産性が高く、導電率、放熱性、軟化温度及び表面品質に優れた電極板及び電極板の製造方法を提供することができる。   According to the electrode plate and the method for manufacturing the electrode plate according to the present invention, it is possible to provide an electrode plate and a method for manufacturing the electrode plate that are high in productivity and excellent in conductivity, heat dissipation, softening temperature, and surface quality.

図1は、TiS粒子のSEM像を示す図である。FIG. 1 is a view showing an SEM image of TiS particles. 図2は、図1の分析結果を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing the analysis result of FIG. 図3は、TiO粒子のSEM像を示す図である。FIG. 3 is a view showing an SEM image of TiO 2 particles. 図4は、図3の分析結果を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing the analysis result of FIG. 図5は、Ti−O−S粒子のSEM像を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing an SEM image of Ti—O—S particles. 図6は、図5の分析結果を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing the analysis result of FIG. 図7は、本実施の形態に係るバスバーをパワーモジュールに接続した状態を示す概略図である。FIG. 7 is a schematic diagram showing a state where the bus bar according to the present embodiment is connected to the power module.

[実施の形態の要約]
実施の形態に係る電極板は、Ti、Mg、Zr、Nb、Ca、V、Ni、Mn及びCrからなる群から選択された添加元素と、2mass ppmを超える量の酸素を含み、残部が銅と不可避的不純物とからなり、導電率が101.5%IACS以上である。添加元素として、Mg、Zr、Nb、Ca、V、Ni、Mn、Ti及びCrからなる群から選択されたものを選んだ理由は、これらの元素は他の元素と結合しやすい活性元素であり、Sと結合しやすいためSをトラップすることができ、銅母材(マトリクス)を高純度化することができるためである。添加元素は1種類以上含まれていてもよい。また、合金の性質に悪影響を及ぼすことのないその他の元素および不純物を合金に含有させることもできる。
また、以下に説明する好適な実施の形態においては、酸素含有量が2を超え30mass ppm以下が良好であることを説明しているが、添加元素の添加量およびSの含有量によっては、合金の性質を備える範囲において、2を超え400mass ppmを含むことができる。
[Summary of embodiment]
The electrode plate according to the embodiment includes an additive element selected from the group consisting of Ti, Mg, Zr, Nb, Ca, V, Ni, Mn, and Cr, and oxygen in an amount exceeding 2 mass ppm, with the balance being copper. And unavoidable impurities, and the conductivity is 101.5% IACS or more. The reason why the elements selected from the group consisting of Mg, Zr, Nb, Ca, V, Ni, Mn, Ti, and Cr are selected as the additive elements is that these elements are active elements that are easily combined with other elements. This is because S can be trapped because it is easily combined with S, and the copper base material (matrix) can be highly purified. One or more additive elements may be included. Also, other elements and impurities that do not adversely affect the properties of the alloy can be included in the alloy.
Further, in the preferred embodiment described below, it is described that the oxygen content is more than 2 and not more than 30 mass ppm, but depending on the addition amount of the additive element and the S content, In the range having the property of, it is possible to include more than 2 and 400 mass ppm.

[実施の形態]
(電極板の構成)
本実施の形態に係る電極板は、例えば、自動車等に用いられるパワーモジュールの小型化、及び/又はパワーモジュールに供給される電流の電流密度の増大の観点から、アルミニウム(Al)よりも熱伝導率の高い材料である銅(Cu)から構成する。この電極は、例えば、電源からの直流電流をパワーモジュールに供給し、また、パワーモジュールによって直流から交流に変換された交流電流を出力するために接続されるものである。
[Embodiment]
(Configuration of electrode plate)
The electrode plate according to the present embodiment is more thermally conductive than aluminum (Al), for example, from the viewpoint of miniaturization of a power module used in an automobile or the like and / or increase in current density of current supplied to the power module. It is made of copper (Cu), which is a high-rate material. For example, the electrode is connected to supply a direct current from a power source to the power module and to output an alternating current converted from direct current to alternating current by the power module.

例えば、本実施の形態に係る電極板は、導電率101.5%IACS(万国標準軟銅(International Anneld Copper Standard)以上、抵抗率1.7241×10−8Ωmを100%とした場合の導電率)以上を満足する軟質型銅材としての軟質希薄銅合金材料を用いて構成される。 For example, the electrode plate according to the present embodiment has an electrical conductivity of 101.5% IACS (International Standard Copper Standard) or higher, and a resistivity of 1.7241 × 10 −8 Ωm as 100%. ) It is configured using a soft dilute copper alloy material as a soft type copper material satisfying the above.

また、本実施の形態に係る電極板は、SCR(Southwire Continuous Rod)連続鋳造設備を用い、表面の傷が少なく、製造範囲が広く、安定生産が可能で、加工度90%(例えば、φ8mmからφ2.6mmのワイヤへの加工)での軟化温度が148℃以下の材料を用いて構成される。   In addition, the electrode plate according to the present embodiment uses an SCR (Southward Continuous Rod) continuous casting facility, has few scratches on the surface, has a wide manufacturing range, can be stably produced, and has a workability of 90% (for example, from φ8 mm) The material is made of a material having a softening temperature of 148 ° C. or lower in processing to a wire of φ2.6 mm.

また、本実施の形態に係る電極板は、2mass ppm以上12mass ppm以下の硫黄(S)と、2mass ppm以上30mass ppm以下の酸素(O)と、4mass ppm以上55mass ppm以下のチタン(Ti)とを含む。更に、硫黄(S)及びチタン(Ti)は、TiO、TiO、TiS、若しくはTi−O−S結合を有する化合物又はTiO、TiO、TiS、若しくはTi−O−S結合を有する化合物の凝集物として電極板に含まれ、残部のTi及びSは、固溶体として電極板に含まれる。 The electrode plate according to the present embodiment includes sulfur (S) of 2 mass ppm to 12 mass ppm, oxygen (O) of 2 mass ppm to 30 mass ppm, and titanium (Ti) of 4 mass ppm to 55 mass ppm. including. Furthermore, sulfur (S) and titanium (Ti) is, TiO, agglomeration of TiO 2, TiS, or a compound having a TiO-S bond or TiO, TiO 2, TiS, or a compound having a TiO-S bond The remaining Ti and S are contained in the electrode plate as a solid solution.

また、TiO、TiO、TiS、Ti−O−Sの形の化合物又は凝集物は電極板を構成する結晶粒の内部に分布しており、TiOは、200nm以下のサイズを有し、TiOは、1000nm以下のサイズを有し、TiSは、200nm以下のサイズを有し、Ti−O−Sの形の化合物又は凝集物は、300nm以下のサイズを有する。更に、本実施の形態に係る電極板は、500nm以下の粒子を90%以上含む。結晶粒とは、銅の結晶組織のことを意味する。 Further, a compound or aggregate in the form of TiO, TiO 2 , TiS, Ti—O—S is distributed inside the crystal grains constituting the electrode plate, and TiO has a size of 200 nm or less, and TiO 2 Has a size of 1000 nm or less, TiS has a size of 200 nm or less, and compounds or aggregates in the form of Ti-O-S have a size of 300 nm or less. Furthermore, the electrode plate according to the present embodiment includes 90% or more of particles of 500 nm or less. A crystal grain means the crystal structure of copper.

(電極板の製造方法)
本実施の形態に係る電極板の製造方法は以下のとおりである。この電極板の原料としてのチタン(Ti)を含む軟質希薄銅合金材料を準備する(原料準備工程)。次に、この軟質希薄銅合金材料を1100℃以上1320℃以下の鋳造温度で溶湯にする(溶湯製造工程)。次に、溶湯からワイヤロッドを作製する(ワイヤロッド作製工程)。続いて、ワイヤロッドに880℃以下550℃以上の温度で熱間圧延加工を施す(熱間圧延工程)。更に、熱間圧延工程を経たワイヤロッドに伸線加工を施す(伸線加工工程)。次に、伸線加工が施されたワイヤロッドに圧延加工を施して電極板を形成する(電極板形成工程)。これにより、本実施の形態に係る電極板が製造される。
(Method for manufacturing electrode plate)
The method for manufacturing the electrode plate according to the present embodiment is as follows. A soft diluted copper alloy material containing titanium (Ti) as a raw material for this electrode plate is prepared (raw material preparation step). Next, this soft dilute copper alloy material is made into a molten metal at a casting temperature of 1100 ° C. or higher and 1320 ° C. or lower (melt manufacturing process). Next, a wire rod is produced from the molten metal (wire rod production process). Subsequently, the wire rod is hot-rolled at a temperature of 880 ° C. or lower and 550 ° C. or higher (hot rolling step). Further, the wire rod that has undergone the hot rolling process is subjected to a drawing process (drawing process). Next, the wire rod subjected to wire drawing is subjected to rolling to form an electrode plate (electrode plate forming step). Thereby, the electrode plate which concerns on this Embodiment is manufactured.

また、電極板の製造には、2mass ppm以上12mass ppm以下の硫黄(S)と、2mass ppmを超え30mass ppm以下の酸素(O)と、4mass ppm以上55mass ppm以下のチタン(Ti)とを含む軟質希薄銅合金材料を用いる。具体的に、φ2.6mmのサイズで130℃以上148℃以下の軟化温度を有する軟質希薄銅合金材料を用いる。2mass ppmを超え30mass ppm以下の酸素を含有していることから、この実施の形態では、いわゆる低酸素銅(LOC)を対象としている。   In addition, the production of the electrode plate includes sulfur (S) of 2 mass ppm or more and 12 mass ppm or less, oxygen (O) of more than 2 mass ppm and 30 mass ppm or less, and titanium (Ti) of 4 mass ppm or more and 55 mass ppm or less. Soft dilute copper alloy material is used. Specifically, a soft dilute copper alloy material having a softening temperature of 130 ° C. or more and 148 ° C. or less with a size of φ2.6 mm is used. In this embodiment, so-called low oxygen copper (LOC) is targeted because it contains oxygen exceeding 2 mass ppm and not more than 30 mass ppm.

以下、本実施の形態に係る電極板の実現において、本発明者が検討した内容を説明する。   Hereinafter, the contents studied by the present inventors in the realization of the electrode plate according to the present embodiment will be described.

まず、純度が6N(つまり、99.9999%)の高純度銅は、加工度90%における軟化温度は130℃である。したがって、本発明者は、安定生産することができる130℃以上148℃以下の軟化温度で軟質材の導電率が101.5%IACS以上である軟質銅を安定して製造することができる軟質希薄銅合金材料と、この軟質希薄銅合金材料の製造方法について検討した。   First, high-purity copper having a purity of 6N (that is, 99.9999%) has a softening temperature of 130 ° C. at a workability of 90%. Accordingly, the inventor of the present invention is able to stably produce soft copper having a soft material having a conductivity of 101.5% IACS or more at a softening temperature of 130 ° C. or more and 148 ° C. or less that can be stably produced. A copper alloy material and a method for producing the soft diluted copper alloy material were studied.

ここで、酸素濃度が1〜2mass ppmである高純度銅(4N)を準備して、実験室に設置した小型連続鋳造機(小型連鋳機)を用い、この銅(Cu)を銅(Cu)の溶湯にした。そして、この溶湯にチタン(Ti)を数mass ppm添加した。続いて、チタン(Ti)を添加した溶湯からφ8mmのワイヤロッドを製造した。次に、φ8mmのワイヤロッドをφ2.6mmに加工した(つまり、加工度が90%である)。このφ2.6mmのワイヤロッドの軟化温度は160℃〜168℃であり、この温度より低い軟化温度にはならなかった。また、このφ2.6mmのワイヤワイヤロッドの導電率は、101.7%IACS程度であった。つまり、ワイヤロッドに含まれる酸素濃度を低下させ、チタン(Ti)を溶湯に添加してもワイヤロッドの軟化温度を低下させることができないと共に、高純度銅(6N)の導電率102.8%IACSよりも導電率が低いという知見を本発明者は得た。   Here, high-purity copper (4N) having an oxygen concentration of 1 to 2 mass ppm was prepared, and a small continuous casting machine (small continuous casting machine) installed in a laboratory was used. ). And several mass ppm of titanium (Ti) was added to this molten metal. Subsequently, a φ8 mm wire rod was manufactured from the molten metal to which titanium (Ti) was added. Next, a φ8 mm wire rod was processed to φ2.6 mm (that is, the processing degree was 90%). The softening temperature of the φ2.6 mm wire rod was 160 ° C. to 168 ° C., and the softening temperature was not lower than this temperature. The conductivity of this φ2.6 mm wire wire rod was about 101.7% IACS. That is, even if the oxygen concentration contained in the wire rod is lowered and titanium (Ti) is added to the molten metal, the softening temperature of the wire rod cannot be lowered, and the conductivity of high purity copper (6N) is 102.8%. The inventor has found that the conductivity is lower than that of IACS.

軟化温度を低下させることができず、導電率が6Nの高純度銅より低くなった原因は、溶湯の製造中に不可避的不純物としての数mass ppm以上の硫黄(S)が含まれることに起因すると推測された。すなわち、溶湯に含まれている硫黄(S)とチタン(Ti)との間でTiS等の硫化物が十分に形成されないことに起因して、ワイヤロッドの軟化温度が低下しないものと推測された。   The reason why the softening temperature could not be lowered and the conductivity was lower than that of 6N high-purity copper was that sulfur (S) of several mass ppm or more as an inevitable impurity was contained during the production of the molten metal. I guessed that. That is, it was speculated that the softening temperature of the wire rod does not decrease due to insufficient formation of sulfides such as TiS between sulfur (S) and titanium (Ti) contained in the molten metal. .

そこで、本発明者は、電極板の軟化温度の低下と、電極板の導電率の向上とを実現すべく、以下の二つの方策を検討した。そして、以下の二つの方策を電極板の製造に併せ用いることで、本実施の形態に係る電極板を得た。   Therefore, the present inventor has studied the following two measures in order to realize a decrease in the softening temperature of the electrode plate and an improvement in the conductivity of the electrode plate. And the electrode plate which concerns on this Embodiment was obtained by using together the following two measures for manufacture of an electrode plate.

図1は、TiS粒子のSEM(Scanning Electron Microscope)像であり、図2は、図1の分析結果を示す。また、図3は、TiO粒子のSEM像であり、図4は、図3の分析結果を示す。更に、図5は、Ti−O−S粒子のSEM像であり、図6は、図5の分析結果を示す。なお、SEM像において図の中心付近に各粒子が示されている。図1〜図6は、表1の実施例1の上から三段目に示す酸素濃度、硫黄濃度、Ti濃度をもつφ8mmの銅線(ワイヤロッド)の横断面をSEM観察及びEDX分析にて評価したものである。観察条件は、加速電圧15KeV、エミッション電流10μAとした。 FIG. 1 is an SEM (Scanning Electron Microscope) image of TiS particles, and FIG. 2 shows the analysis result of FIG. FIG. 3 is an SEM image of TiO 2 particles, and FIG. 4 shows the analysis result of FIG. 5 is an SEM image of Ti—O—S particles, and FIG. 6 shows the analysis result of FIG. In the SEM image, each particle is shown near the center of the figure. 1 to 6 are SEM observation and EDX analysis of a cross section of a φ8 mm copper wire (wire rod) having oxygen concentration, sulfur concentration, and Ti concentration shown in the third row from the top in Example 1 of Table 1. It has been evaluated. The observation conditions were an acceleration voltage of 15 KeV and an emission current of 10 μA.

まず、第1の方策は、酸素濃度が2mass ppmを超える銅(Cu)に、チタン(Ti)を添加した状態で、銅(Cu)の溶湯を作製することである。この溶湯中においては、TiSとチタン(Ti)の酸化物(例えば、TiO)とTi−O−S粒子とが形成されると考えられる。これは、図1のSEM像と図2の分析結果、図3のSEM像と図4の分析結果からの考察である。なお、図2、図4、及び図6において、白金(Pt)及びパラジウム(Pd)はSEM観察する際に観察対象物に蒸着する金属元素である。 First, the first policy is to prepare a molten copper (Cu) in a state where titanium (Ti) is added to copper (Cu) having an oxygen concentration exceeding 2 mass ppm. In this molten metal, it is considered that oxides of TiS and titanium (Ti) (for example, TiO 2 ) and Ti—O—S particles are formed. This is a consideration from the SEM image of FIG. 1 and the analysis result of FIG. 2, and the SEM image of FIG. 3 and the analysis result of FIG. 2, 4, and 6, platinum (Pt) and palladium (Pd) are metal elements that are vapor-deposited on an observation object when SEM observation is performed.

次に、第2の方策は、銅(Cu)中に転位を導入することにより硫黄(S)の析出を容易にすることを目的として、熱間圧延工程における温度を通常の銅の製造条件における温度(つまり、950℃〜600℃)より低い温度(880℃〜550℃)に設定することである。このような温度設定により、転位上への硫黄(S)の析出、又はチタン(Ti)の酸化物(例えば、TiO)を核として硫黄(S)を析出させることができる。一例として、図5及び図6のように、溶銅と共にTi−O−S粒子等が形成される。 Next, the second strategy is to introduce a dislocation into copper (Cu) to facilitate the precipitation of sulfur (S), and to set the temperature in the hot rolling step under the normal copper production conditions. It is to set temperature (880 degreeC-550 degreeC) lower than temperature (namely, 950 degreeC-600 degreeC). With such a temperature setting, sulfur (S) can be deposited on dislocations, or sulfur (S) can be deposited using titanium (Ti) oxide (for example, TiO 2 ) as a nucleus. As an example, as shown in FIGS. 5 and 6, Ti—O—S particles and the like are formed together with molten copper.

以上の第1の方策及び第2の方策により、銅(Cu)に含まれる硫黄(S)が晶出すると共に析出するので、所望の軟化温度と所望の導電率とを有する銅ワイヤロッドを冷間伸線加工後に得ることができる。   By the above first and second measures, sulfur (S) contained in copper (Cu) crystallizes and precipitates, so that a copper wire rod having a desired softening temperature and a desired conductivity is cooled. It can be obtained after wire drawing.

また、本実施の形態に係る電極板は、SCR連続鋳造圧延設備を用いて製造する。ここで、SCR連続鋳造圧延設備を用いる場合における製造条件の制限として、以下の3つの条件を設けた。   In addition, the electrode plate according to the present embodiment is manufactured using an SCR continuous casting and rolling facility. Here, the following three conditions were provided as restrictions on the manufacturing conditions when using the SCR continuous casting and rolling equipment.

(1)組成について
導電率が102%IACS以上の軟質銅材を得る場合には、不可避的不純物を含む純銅(ベース素材)として、3〜12mass ppmの硫黄(S)と、2を超え30mass ppm以下の酸素(O)と、4〜25mass ppmのチタン(Ti)とを含む軟質希薄銅合金材料を用いる。
(1) About composition When obtaining a soft copper material having an electrical conductivity of 102% IACS or more, as pure copper (base material) containing inevitable impurities, 3 to 12 mass ppm of sulfur (S) and more than 2 to 30 mass ppm A soft dilute copper alloy material containing the following oxygen (O) and 4 to 25 mass ppm of titanium (Ti) is used.

通常、純銅の工業的製造において、電気銅を製造する際に硫黄(S)が銅(Cu)の中に取り込まれるので、硫黄(S)を3mass ppm以下にすることは困難である。汎用電気銅の硫黄濃度の上限は、12mass ppmである。   Usually, in the industrial production of pure copper, since sulfur (S) is taken into copper (Cu) when producing electrolytic copper, it is difficult to reduce sulfur (S) to 3 mass ppm or less. The upper limit of the sulfur concentration of general-purpose electrolytic copper is 12 mass ppm.

酸素濃度が低い場合、電極板の軟化温度が低下しにくいので、酸素濃度は2mass ppmを超えるように制御する。また、酸素濃度が高い場合、熱間圧延工程で電極板の表面に傷が生じやすくなるので、30mass ppm以下に制御する。   When the oxygen concentration is low, the softening temperature of the electrode plate is unlikely to decrease, so the oxygen concentration is controlled to exceed 2 mass ppm. Further, when the oxygen concentration is high, the surface of the electrode plate is likely to be damaged in the hot rolling process, and therefore, the oxygen concentration is controlled to 30 mass ppm or less.

(2)分散している物質について
電極板内に分散している分散粒子のサイズは小さいことが好ましく、また、電極板内に分散粒子が多く分散していることが好ましい。その理由は、分散粒子は、硫黄(S)の析出サイトとしての機能を有するからであり、析出サイトとしてはサイズが小さく、数が多いことが要求されるからである。
(2) Dispersed substance The size of the dispersed particles dispersed in the electrode plate is preferably small, and it is preferable that many dispersed particles are dispersed in the electrode plate. This is because the dispersed particles have a function as a precipitation site of sulfur (S), and the precipitation site is required to have a small size and a large number.

電極板に含まれる硫黄(S)及びチタン(Ti)は、TiO、TiO、TiS、若しくはTi−O−S結合を有する化合物又はTiO、TiO、TiS、若しくはTi−O−S結合を有する化合物の凝集物として含まれ、残部のTi及びSが固溶体として含まれる。電極板の原料である軟質希薄銅合金材料としては、TiOが200nm以下のサイズを有し、TiOが1000nm以下のサイズを有し、TiSが200nm以下のサイズを有し、Ti−O−Sの形の化合物が300nm以下のサイズを有しており、これらが結晶粒内に分布している軟質希薄銅合金材料を用いる。 Sulfur (S) and titanium (Ti) contained in the electrode plate have a TiO, TiO 2 , TiS, or a compound having a Ti—O—S bond or a TiO, TiO 2 , TiS, or Ti—O—S bond. It is contained as an agglomerate of the compound, and the remaining Ti and S are contained as a solid solution. As a soft dilute copper alloy material that is a raw material of the electrode plate, TiO has a size of 200 nm or less, TiO 2 has a size of 1000 nm or less, TiS has a size of 200 nm or less, Ti—O—S A soft dilute copper alloy material having a size of 300 nm or less and distributed in the crystal grains is used.

なお、鋳造時の溶銅の保持時間及び冷却条件に応じて結晶粒内に形成される粒子サイズが変動するので、鋳造条件も適切に設定することを要する。   In addition, since the particle size formed in a crystal grain changes according to the holding | maintenance time of molten copper at the time of casting, and cooling conditions, it is necessary to set casting conditions appropriately.

(3)鋳造条件について
SCR連続鋳造圧延により、鋳塊ロッドの加工度が90%(30mm)〜99.8%(5mm)でワイヤロッドを作製する。一例として、加工度99.3%でφ8mmのワイヤロッドを製造する条件を採用する。以下、鋳造条件(a)〜(b)について説明する。
(3) Casting conditions By SCR continuous casting and rolling, wire rods are produced with an ingot rod working degree of 90% (30 mm) to 99.8% (5 mm). As an example, a condition for manufacturing a wire rod of φ8 mm with a processing degree of 99.3% is adopted. Hereinafter, casting conditions (a) to (b) will be described.

[鋳造条件(a)]
溶解炉内での溶銅温度は1100℃以上1320℃以下に制御する。溶銅の温度が高いとブローホールが多くなり、傷が発生すると共に粒子サイズが大きくなる傾向にあるので1320℃以下に制御する。また、1100℃以上に制御する理由は、銅(Cu)が固まりやすく、製造が安定しないことが理由であるものの、溶銅温度は可能な限り低い温度が望ましい。
[Casting conditions (a)]
The molten copper temperature in the melting furnace is controlled to 1100 ° C. or higher and 1320 ° C. or lower. When the temperature of the molten copper is high, blowholes increase, and scratches are generated and the particle size tends to increase, so the temperature is controlled to 1320 ° C. or lower. The reason why the temperature is controlled to 1100 ° C. or higher is that copper (Cu) tends to harden and the production is not stable, but the molten copper temperature is preferably as low as possible.

[鋳造条件(b)]
熱間圧延加工の温度は、最初の圧延ロールにおける温度を880℃以下に制御すると共に、最終圧延ロールでの温度を550℃以上に制御する。
[Casting conditions (b)]
As for the temperature of the hot rolling process, the temperature in the first rolling roll is controlled to 880 ° C. or lower, and the temperature in the final rolling roll is controlled to 550 ° C. or higher.

通常の純銅の製造条件と異なり、溶銅中での硫黄(S)の晶出及び熱間圧延中における硫黄(S)の析出の駆動力である固溶限をより小さくすることを目的として、溶銅温度及び熱間圧延加工の温度を「鋳造条件(a)」及び「鋳造条件(b)」において説明した条件に設定することが好ましい。   Unlike normal pure copper production conditions, for the purpose of further reducing the solid solubility limit, which is the driving force for crystallization of sulfur (S) in molten copper and precipitation of sulfur (S) during hot rolling, It is preferable to set the molten copper temperature and the hot rolling temperature to the conditions described in “Casting Condition (a)” and “Casting Condition (b)”.

また、通常の熱間圧延加工における温度は、最初の圧延ロールにおいて950℃以下、最終圧延ロールにおいて600℃以上であるが、固溶限をより小さくすることを目的として、本実施の形態では、最初の圧延ロールにおいて880℃以下、最終圧延ロールにおいて550℃以上に設定する。   Further, the temperature in the normal hot rolling process is 950 ° C. or less in the first rolling roll and 600 ° C. or more in the final rolling roll, but for the purpose of reducing the solid solution limit, The first rolling roll is set to 880 ° C. or lower, and the final rolling roll is set to 550 ° C. or higher.

なお、最終圧延ロールにおける温度を550℃以上に設定する理由は、550℃未満の温度では得られるワイヤロッドの傷が多くなり、製造される電極板を製品として扱うことができないからである。熱間圧延加工における温度は、最初の圧延ロールにおいて880℃以下の温度、最終圧延ロールにおいて550℃以上の温度に制御すると共に、可能な限り低い温度であることが好ましい。このような温度設定にすることで、電極板の軟化温度(φ8〜φ2.6mmに加工した後の軟化温度)を、6Nの高純度銅(Cu)の軟化温度(つまり、130℃)に近づけることができる。   The reason why the temperature in the final rolling roll is set to 550 ° C. or higher is that the wire rod obtained at a temperature lower than 550 ° C. has many scratches, and the manufactured electrode plate cannot be handled as a product. The temperature in the hot rolling process is preferably as low as possible while controlling the temperature to 880 ° C. or lower in the first rolling roll and 550 ° C. or higher in the final rolling roll. By setting such a temperature, the softening temperature of the electrode plate (softening temperature after processing to φ8 to φ2.6 mm) is brought close to the softening temperature of 6N high-purity copper (Cu) (that is, 130 ° C.). be able to.

無酸素銅の導電率は101.7%IACS程度であり、タフピッチ銅の導電率が101.2%IACSであり、6Nの銅(Cu)の導電率は102.8%IACSである。本実施の形態においては、例えば、直径φ8mmサイズのワイヤロッドの導電率が101.5%IACS以上である。また、本実施の形態においては、冷間伸線加工後の線材(例えば、φ2.6mm)のワイヤロッドの軟化温度が130℃以上148℃である軟質希薄銅合金を製造し、この軟質希薄銅合金を電極板の製造に用いる。   The conductivity of oxygen-free copper is about 101.7% IACS, the conductivity of tough pitch copper is 101.2% IACS, and the conductivity of 6N copper (Cu) is 102.8% IACS. In the present embodiment, for example, the conductivity of a wire rod having a diameter of φ8 mm is 101.5% IACS or more. In the present embodiment, a soft dilute copper alloy in which the softening temperature of the wire rod of the wire rod (for example, φ2.6 mm) after cold drawing is 130 ° C. or higher and 148 ° C. is manufactured, and this soft dilute copper is manufactured. Alloys are used for the production of electrode plates.

工業的に用いるためには、電解銅から製造した工業的に利用される純度の軟質銅線の導電率として、98%IACS以上の導電率が要求される。また、軟化温度は工業的価値から判断して148℃以下である。6Nの銅(Cu)の軟化温度は127℃〜130℃であるので、得られたデータから軟化温度の上限値を130℃に設定する。このわずかな違いは、6Nの銅(Cu)には含まれていない不可避的不純物の存在に起因する。   In order to use industrially, the electrical conductivity of 98% IACS or more is requested | required as electrical conductivity of the soft copper wire of the purity utilized industrially manufactured from electrolytic copper. Further, the softening temperature is 148 ° C. or less judging from industrial value. Since the softening temperature of 6N copper (Cu) is 127 ° C to 130 ° C, the upper limit value of the softening temperature is set to 130 ° C from the obtained data. This slight difference is due to the presence of inevitable impurities not contained in 6N copper (Cu).

ベース材の銅(Cu)は、シャフト炉で溶解された後、還元状態で樋に流すことが好ましい。すなわち、還元ガス(例えば、CO)雰囲気下において、希薄合金の硫黄濃度、チタン濃度、及び酸素濃度を制御しつつ鋳造すると共に、材料に圧延加工を施すことにより、ワイヤロッドを安定的に製造することが好ましい。なお、銅酸化物が混入すること、及び/又は粒子サイズが所定サイズより大きいことは、製造される電極板の品質を低下させる。   After the base material copper (Cu) is melted in the shaft furnace, it is preferably flowed in a reduced state in a trough. That is, in a reducing gas (for example, CO) atmosphere, the wire rod is stably manufactured by casting while controlling the sulfur concentration, titanium concentration, and oxygen concentration of the dilute alloy and rolling the material. It is preferable. In addition, that copper oxide mixes and / or a particle size is larger than predetermined size will reduce the quality of the electrode plate manufactured.

ここで、電極板にチタン(Ti)を添加物として添加した理由は次のとおりである。すなわち、(a)チタン(Ti)は溶融銅の中で硫黄(S)と結合することにより化合物になりやすく、(b)ジルコニウム(Zr)等の他の添加金属に比べて加工が容易で扱いやすく、(c)ニオブ(Nb)などに比べて安価であり、(d)酸化物を核として析出しやすいからである。   Here, the reason for adding titanium (Ti) as an additive to the electrode plate is as follows. That is, (a) titanium (Ti) is likely to be a compound by combining with sulfur (S) in molten copper, and (b) easy to process and handle compared to other additive metals such as zirconium (Zr). This is because (c) it is cheaper than niobium (Nb) and the like, and (d) it is easy to deposit with oxide as a nucleus.

以上より、生産性が高く、導電率、軟化温度、表面品質に優れた実用的な軟質希薄銅合金材料を、本実施の形態に係る電極板の原料として得ることができる。なお、軟質希薄銅合金材料の表面にめっき層を形成することもできる。めっき層は、例えば、錫(Sn)、ニッケル(Ni)、銀(Ag)を主成分とする材料、又はPbフリーめっきを用いることができる。更に、軟質希薄銅合金材料の形状は特に限定されず、断面丸形状、棒状、又は平角導体上にすることができる。   As described above, a practical soft dilute copper alloy material having high productivity and excellent conductivity, softening temperature, and surface quality can be obtained as a raw material for the electrode plate according to the present embodiment. A plating layer can also be formed on the surface of the soft dilute copper alloy material. For the plating layer, for example, a material mainly containing tin (Sn), nickel (Ni), silver (Ag), or Pb-free plating can be used. Further, the shape of the soft dilute copper alloy material is not particularly limited, and can be a round cross-section, a rod shape, or a flat conductor.

また、本実施の形態では、SCR連続鋳造圧延法によりワイヤロッドを作製すると共に、熱間圧延にて軟質材を作製したが、双ロール式連続鋳造圧延法またはプロペルチ式連続鋳造圧延法を採用することもできる。以下に、上記の製造方法によって作製された電極板の実施例と比較例とについて説明する。   In the present embodiment, the wire rod is manufactured by the SCR continuous casting rolling method and the soft material is manufactured by hot rolling. However, the twin roll type continuous casting rolling method or the Properti type continuous casting rolling method is adopted. You can also. Below, the Example and comparative example of an electrode plate produced by said manufacturing method are demonstrated.

表1は実験条件と結果とを示す。   Table 1 shows the experimental conditions and results.

まず、実験材として、表1に示した酸素濃度、硫黄濃度、チタン濃度を有するφ8mmの銅線(ワイヤロッド、加工度99.3%)を作製した。φ8mmの銅線は、SCR連続鋳造圧延により、熱間圧延加工を施したものである。Tiは、シャフト炉で溶解された銅溶湯を還元ガス雰囲気で樋に流し、樋に流した銅溶湯を同じ還元ガス雰囲気の鋳造ポットに導き、この鋳造ポットにて、Tiを添加した後、これをノズルを通して鋳造輪と無端ベルトとの間に形成される鋳型にて鋳塊ロッドを作成した。この鋳塊ロッドを熱間圧延加工してφ8mmの銅線を作成したものである。次に、各実験材に冷間伸線加工を施した。これにより、φ2.6mmサイズの銅線を作製した。そして、φ2.6mmサイズの銅線の半軟化温度と導電率とを測定すると共に、φ8mmの銅線における分散粒子サイズを評価した。   First, as an experimental material, a φ8 mm copper wire (wire rod, workability 99.3%) having the oxygen concentration, sulfur concentration, and titanium concentration shown in Table 1 was prepared. The φ8 mm copper wire is hot-rolled by SCR continuous casting and rolling. Ti flows the molten copper melted in the shaft furnace into the reed in the reducing gas atmosphere, guides the molten copper flowing in the reed to the casting pot of the same reducing gas atmosphere, and after adding Ti in this casting pot, An ingot rod was made with a mold formed between the cast ring and the endless belt through the nozzle. This ingot rod is hot-rolled to produce a φ8 mm copper wire. Next, cold drawing was applied to each experimental material. Thus, a copper wire having a size of φ2.6 mm was produced. And while measuring the semi-softening temperature and electrical conductivity of a copper wire of φ 2.6 mm size, the dispersed particle size in the copper wire of φ 8 mm was evaluated.

酸素濃度は、酸素分析器(レコ(Leco(登録商標)酸素分析器)で測定した。硫黄、チタンの各濃度はICP発光分光分析で分析した。   The oxygen concentration was measured with an oxygen analyzer (Leco (registered trademark) oxygen analyzer), and the concentrations of sulfur and titanium were analyzed by ICP emission spectroscopic analysis.

φ2.6mmサイズにおける半軟化温度の測定は、400℃以下で各温度1時間の保持後、水中急冷し、引張試験を実施し、その結果から求めた。室温での引張試験の結果と400℃で1時間のオイルバス熱処理した軟質銅線の引張試験の結果を用いて求め、この2つの引張試験の引張強さを足して2で割った値を示す強度に対応する温度を半軟化温度と定義して求めた。   The measurement of the semi-softening temperature in the φ2.6 mm size was obtained from the result of quenching in water after holding each temperature at 400 ° C. or lower for 1 hour and conducting a tensile test. The value obtained by using the result of the tensile test at room temperature and the result of the tensile test of the soft copper wire heat-treated at 400 ° C. for 1 hour, and adding the tensile strengths of the two tensile tests and dividing by two. The temperature corresponding to the strength was determined as the semi-softening temperature.

上述のとおり、電極板内に分散している分散粒子のサイズは小さいことが好ましく、また、電極板内に分散粒子が多く分散していることが好ましい。したがって、直径500nm以下の分散粒子が90%以上である場合を合格とした。ここに「サイズ」とは化合物のサイズであり、化合物の形状の直径と短径のうちの長径のサイズを意味する。また、「粒子」とは、前記TiO、TiO、TiS、Ti−O−Sのことを示す。また、「90%」とは、全体の粒子数に対しての該当粒子数の割合を示すものである。 As described above, the size of the dispersed particles dispersed in the electrode plate is preferably small, and it is preferable that many dispersed particles are dispersed in the electrode plate. Therefore, the case where the number of dispersed particles having a diameter of 500 nm or less is 90% or more was regarded as acceptable. Here, the “size” is the size of the compound and means the size of the major axis of the diameter and minor axis of the shape of the compound. The “particles” refer to the TiO, TiO 2 , TiS, and Ti—O—S. “90%” indicates the ratio of the number of corresponding particles to the total number of particles.

表1において比較例1は、実験室でアルゴン(Ar)雰囲気において直径φ8mmの銅線を試作した結果であり、チタン(Ti)を0〜18mass ppm添加した。チタン(Ti)を添加していない銅線の半軟化温度が215℃であったのに対し、13mass ppmのチタン(Ti)を添加した銅線の軟化温度は160℃まで低下した(実験した中では最小温度である。)。表1に示すとおり、Ti濃度が15mass ppm、18mass ppmに増加するにつれ、半軟化温度も上昇しており、要求されている軟化温度である148℃以下を実現することはできなかった。また、導電率は101.5%IACS以上を満たしていないため、総合評価は不合格(以下、不合格を「×」と表す)であった。   In Table 1, Comparative Example 1 is a result of trial production of a copper wire having a diameter of 8 mm in an argon (Ar) atmosphere in a laboratory, and 0 to 18 mass ppm of titanium (Ti) was added. While the semi-softening temperature of the copper wire not added with titanium (Ti) was 215 ° C., the softening temperature of the copper wire added with 13 mass ppm of titanium (Ti) decreased to 160 ° C. Is the minimum temperature.) As shown in Table 1, as the Ti concentration increased to 15 mass ppm and 18 mass ppm, the semi-softening temperature also increased, and the required softening temperature of 148 ° C. or lower could not be realized. Moreover, since electrical conductivity did not satisfy | fill 101.5% IACS or more, comprehensive evaluation was disqualified (henceforth, disqualified is represented as "x").

そこで、比較例2として、SCR連続鋳造圧延法を用い、酸素濃度を7〜8mass ppmに調整したφ8mm銅線(ワイヤロッド)を試作した。   Therefore, as Comparative Example 2, a Φ8 mm copper wire (wire rod) having an oxygen concentration adjusted to 7 to 8 mass ppm was prototyped using the SCR continuous casting and rolling method.

比較例2においては、SCR連続鋳造圧延法で試作した中でTi濃度が最小(つまり、0mass ppm、2mass ppm)の銅線であり、導電率は102%IACS以上であったものの、半軟化温度が164℃、157℃であり、要求されている148℃以下ではなかったことから、総合評価は「×」であった。   In Comparative Example 2, it was a copper wire having a minimum Ti concentration (that is, 0 mass ppm, 2 mass ppm) among the prototype manufactured by the SCR continuous casting and rolling method, and the conductivity was 102% IACS or more, but the semi-softening temperature. Was 164 ° C. and 157 ° C., and was not less than the required 148 ° C., so the overall evaluation was “x”.

実施例1においては、酸素濃度と硫黄濃度とが略一致(つまり、酸素濃度:7〜8mass ppm、硫黄濃度:5mass ppm)すると共に、Ti濃度が4〜55mass ppmの範囲内で異なる銅線を試作した。   In Example 1, the oxygen concentration and the sulfur concentration substantially coincide (that is, the oxygen concentration: 7 to 8 mass ppm, the sulfur concentration: 5 mass ppm), and different copper wires are used within the range of the Ti concentration of 4 to 55 mass ppm. Prototype.

Ti濃度が4〜55mass ppmの範囲では、軟化温度が148℃以下であり、102%IACS以上であり、分散粒子サイズは500nm以下の粒子が90%以上であり良好であった。また、ワイヤロッドの表面もきれい(つまり、表面が滑らか)であり、いずれも製品性能を満たしていたので、総合評価は合格(以下、合格を「○」と表す)であった。   When the Ti concentration was in the range of 4 to 55 mass ppm, the softening temperature was 148 ° C. or less, 102% IACS or more, and the dispersed particle size was 90% or more for particles having a size of 500 nm or less. Moreover, since the surface of the wire rod was also clean (that is, the surface was smooth) and all satisfied the product performance, the comprehensive evaluation was a pass (hereinafter, the pass was expressed as “◯”).

ここで、導電率102%IACS以上を満たす銅線は、Ti濃度が4〜25mass ppmの場合であった。Ti濃度が13mass ppmの場合に導電率は最大値である102.4%IACSを示し、この濃度の周辺では、導電率はわずかに低い値であった。これは、Ti濃度が13mass ppmの場合に、銅(Cu)の中の硫黄分を化合物として捕捉することで、高純度銅(6N)に近い導電率を示すためである。   Here, the copper wire satisfying the conductivity of 102% IACS or more was a case where the Ti concentration was 4 to 25 mass ppm. When the Ti concentration was 13 mass ppm, the conductivity showed a maximum value of 102.4% IACS, and the conductivity was slightly lower around this concentration. This is because, when the Ti concentration is 13 mass ppm, by capturing the sulfur content in copper (Cu) as a compound, the conductivity is close to that of high-purity copper (6N).

よって、酸素濃度を高くし、チタン(Ti)を添加することで、半軟化温度と導電率との双方を満足させることができる。   Therefore, both the semi-softening temperature and the conductivity can be satisfied by increasing the oxygen concentration and adding titanium (Ti).

比較例3は、Ti濃度が25mass ppmを超える試作材である。この比較例3は、半軟化温度は要望を満たしているが、導電率が101.5%IACSを下回っているため、総合評価は×であった。   Comparative Example 3 is a prototype material having a Ti concentration exceeding 25 mass ppm. In Comparative Example 3, the semi-softening temperature satisfied the request, but the conductivity was lower than 101.5% IACS, so the overall evaluation was x.

比較例4においては、Ti濃度を60mass ppmにした銅線を試作した。比較例3に係る銅線は、導電率は要求を満たすものの、半軟化温度は148℃以上であり、製品性能を満たしていなかった。更に、ワイヤロッドの表面の傷も多く、製品として採用することは困難であった。よって、チタン(Ti)の添加量は60mass ppm未満が好ましいことが示された。   In Comparative Example 4, a copper wire having a Ti concentration of 60 mass ppm was made experimentally. Although the copper wire which concerns on the comparative example 3 satisfy | fills a request | requirement, semi-softening temperature is 148 degreeC or more, and did not satisfy | fill product performance. Furthermore, there are many scratches on the surface of the wire rod, making it difficult to adopt as a product. Therefore, it was shown that the addition amount of titanium (Ti) is preferably less than 60 mass ppm.

実施例2に係る銅線おいては、硫黄濃度を5mass ppmに設定すると共に、Ti濃度を13〜10mass ppmの範囲で制御して、酸素濃度を変更することにより酸素濃度の影響を検討した。   In the copper wire which concerns on Example 2, while setting sulfur concentration to 5 mass ppm and controlling Ti concentration in the range of 13-10 mass ppm, the influence of oxygen concentration was examined by changing oxygen concentration.

酸素濃度に関しては、2mass ppmを超え30mass ppm以下まで、大きく濃度が異なる銅線をそれぞれ作製した。ただし、酸素濃度が2mass ppm未満の銅線は生産が困難で安定的に製造できないので、総合評価は「△」とした(なお、「△」は「○」と「×」との中間の評価である。)。また、酸素濃度を30mass ppmにしても半軟化温度及び導電率の双方とも、要求を満たした。   Regarding the oxygen concentration, copper wires having greatly different concentrations from 2 mass ppm to 30 mass ppm were prepared. However, since copper wires with an oxygen concentration of less than 2 mass ppm are difficult to produce and cannot be stably manufactured, the overall evaluation is “△” (“△” is an intermediate evaluation between “○” and “×”) .) Further, even when the oxygen concentration was 30 mass ppm, both the semi-softening temperature and the conductivity met the requirements.

比較例5においては、酸素濃度が40mass ppmの場合に、ワイヤロッドの表面の傷が多く、製品として採用することができない状態であった。   In Comparative Example 5, when the oxygen concentration was 40 mass ppm, there were many scratches on the surface of the wire rod, and the product could not be used as a product.

よって、酸素濃度を2を超え30mass ppm以下の範囲にすることで、半軟化温度、導電率102%IACS以上、分散粒子サイズのいずれの特性も満足させることができ、また、ワイヤロッドの表面もきれいであり、製品性能を満足させることができることが示された。   Therefore, by setting the oxygen concentration in the range of more than 2 and 30 mass ppm or less, all the characteristics of the semi-softening temperature, the electrical conductivity of 102% IACS or more, and the dispersed particle size can be satisfied. It was shown to be clean and satisfy product performance.

実施例3は、酸素濃度とTi濃度とを互いに近づけた濃度に設定すると共に、硫黄濃度を4〜20mass ppmの範囲内で変更した銅線である。実施例3においては、硫黄濃度が2mass ppmより小さい銅線については、原料の制約上、実現できなかった。しかしながら、Ti濃度と硫黄濃度とをそれぞれ制御することで、半軟化温度及び導電率の双方とも、要求を満たすことができた。   Example 3 is a copper wire in which the oxygen concentration and the Ti concentration are set close to each other and the sulfur concentration is changed within a range of 4 to 20 mass ppm. In Example 3, a copper wire having a sulfur concentration of less than 2 mass ppm could not be realized due to restrictions on raw materials. However, by controlling the Ti concentration and the sulfur concentration, the requirements for both the semi-softening temperature and the conductivity could be satisfied.

比較例6においては、硫黄濃度が18mass ppmであり、Ti濃度が13mass ppmである場合には、半軟化温度が162℃と高く、要求される特性を満足しなかった。また、特に、ワイヤロッドの表面品質が悪く、製品化は困難であった。   In Comparative Example 6, when the sulfur concentration was 18 mass ppm and the Ti concentration was 13 mass ppm, the semi-softening temperature was as high as 162 ° C., and the required characteristics were not satisfied. In particular, the surface quality of the wire rod was poor and it was difficult to produce a product.

以上より、硫黄濃度が2〜12mass ppmの範囲の場合には、半軟化温度、導電率102%IACS以上、分散粒子サイズのいずれの特性も満足させることができ、また、ワイヤロッドの表面もきれいであり、製品性能を満足させることができることが示された。   From the above, when the sulfur concentration is in the range of 2 to 12 mass ppm, the semi-softening temperature, the conductivity of 102% IACS or more, and the dispersed particle size can be satisfied, and the surface of the wire rod is also clean. It was shown that the product performance can be satisfied.

比較例7は、6NのCuを用いた銅線である。比較例6に係る銅線においては、半軟化温度が127℃〜130℃であり、導電率が102.8%IACSであり、分散粒子サイズも500μm以下の粒子は全く認められなかった。   Comparative Example 7 is a copper wire using 6N Cu. In the copper wire according to Comparative Example 6, a particle having a semi-softening temperature of 127 ° C. to 130 ° C., a conductivity of 102.8% IACS, and a dispersed particle size of 500 μm or less was not observed at all.

表2には、製造条件としての溶融銅の温度と圧延温度とを示す。   Table 2 shows the temperature of molten copper and the rolling temperature as production conditions.

比較例8においては、溶銅温度が1330℃〜1350℃で、かつ、圧延温度が950〜600℃でφ8mmのワイヤロッドを作製した。比較例8に係るワイヤロッドは、半軟化温度及び導電率は要求を満たすものの、分散粒子サイズに関しては1000nm程度の粒子が存在しており、500nm以上の粒子も10%を超えて存在していた。よって、実施例7に係るワイヤロッドは不適と判定した。   In Comparative Example 8, a wire rod having a molten copper temperature of 1330 ° C. to 1350 ° C. and a rolling temperature of 950 to 600 ° C. and a diameter of 8 mm was produced. The wire rod according to Comparative Example 8 satisfies the requirements for the semi-softening temperature and the electrical conductivity, but the dispersed particle size has a particle size of about 1000 nm, and the particle size of 500 nm or more also exceeds 10%. . Therefore, the wire rod according to Example 7 was determined to be inappropriate.

実施例4においては、溶銅温度を1200℃〜1320℃の温度範囲で制御すると共に、圧延温度を880℃〜550℃の温度範囲に制御してφ8mmのワイヤロッドを作製した。実施例4に係るワイヤロッドは、ワイヤロッド表面の品質、分散粒子サイズが良好であり、総合評価は「○」であった。   In Example 4, the molten copper temperature was controlled in the temperature range of 1200 ° C. to 1320 ° C., and the rolling temperature was controlled in the temperature range of 880 ° C. to 550 ° C. to produce a φ8 mm wire rod. The wire rod according to Example 4 had good wire rod surface quality and dispersed particle size, and the overall evaluation was “◯”.

比較例9においては、溶銅温度を1100℃に制御すると共に、圧延温度を880℃〜550℃の温度範囲に制御してφ8mmのワイヤロッドを作製した。比較例8に係るワイヤロッドは、溶銅温度が低いことからワイヤロッドの表面の傷が多く製品としては適さなかった。これは、溶銅温度が低いことから、圧延時に傷が発生しやすいことに起因するからである。   In Comparative Example 9, the molten copper temperature was controlled to 1100 ° C., and the rolling temperature was controlled to a temperature range of 880 ° C. to 550 ° C. to produce a φ8 mm wire rod. The wire rod according to Comparative Example 8 was not suitable as a product because there were many scratches on the surface of the wire rod because the molten copper temperature was low. This is because, since the molten copper temperature is low, scratches are likely to occur during rolling.

比較例10においては、溶銅温度を1300℃に制御すると共に、圧延温度を950℃〜600℃の温度範囲に制御してφ8mmのワイヤロッドを作製した。比較例9に係るワイヤロッドは、熱間圧延工程における温度が高いことからワイヤロッドの表面の品質は良好であるものの、分散粒子サイズには大きいサイズが含まれ、総合評価は「×」になった。   In Comparative Example 10, the molten copper temperature was controlled to 1300 ° C. and the rolling temperature was controlled to a temperature range of 950 ° C. to 600 ° C. to produce a φ8 mm wire rod. The wire rod according to Comparative Example 9 has a high quality in the surface of the wire rod because the temperature in the hot rolling process is high, but the dispersed particle size includes a large size, and the overall evaluation is “x”. It was.

比較例11においては、溶銅温度を1350℃に制御すると共に、圧延温度を880℃〜550℃の温度範囲に制御してφ8mmのワイヤロッドを作製した。比較例11に係るワイヤロッドは、溶銅温度が高いことに起因して分散粒子サイズに大きなサイズが含まれ、総合評価は「×」になった。   In Comparative Example 11, the molten copper temperature was controlled to 1350 ° C., and the rolling temperature was controlled to a temperature range of 880 ° C. to 550 ° C. to produce a φ8 mm wire rod. The wire rod according to Comparative Example 11 contained a large dispersed particle size due to the high molten copper temperature, and the overall evaluation was “x”.

(バスバーについて)
図7は、本実施の形態に係るバスバーをパワーモジュールに接続した状態を示す概略図である。図7は、例えば、電極板としてのバスバー1a〜バスバー1eが接続されたパワーモジュール2の周辺部の一部を図示している。以下では、本実施の形態の電極板をバスバーに適用した場合について説明する。
(About bus bar)
FIG. 7 is a schematic diagram showing a state where the bus bar according to the present embodiment is connected to the power module. FIG. 7 illustrates a part of the periphery of the power module 2 to which, for example, the bus bars 1a to 1e as electrode plates are connected. Below, the case where the electrode plate of this Embodiment is applied to a bus bar is demonstrated.

バスバー1a〜バスバー1eは、例えば、上記に記載した板形状の電極板を、面積が大きい表面に平行な平面内においてL字形状に折り曲げ加工を施して形成され、その一方の端部がパワーモジュール2に取り付けられている。また、バスバー1a〜バスバー1eは、例えば、一方の端部にボルト3が挿入される孔が形成されている。バスバー1a〜バスバー1eの他の端部は、例えば、接続先に応じて加工される。   The bus bar 1a to the bus bar 1e are formed, for example, by bending the plate-shaped electrode plate described above into an L shape in a plane parallel to the surface having a large area, and one end portion of the bus bar 1a to the bus bar 1e is a power module. 2 is attached. Moreover, the hole by which the volt | bolt 3 is inserted is formed in the bus bar 1a-bus bar 1e, for example in one edge part. The other ends of the bus bar 1a to the bus bar 1e are processed according to the connection destination, for example.

パワーモジュール2は、自動車に搭載され、自動車の電源から供給される直流電流を交流電流に変換して自動車のモータに出力するように構成されている。このパワーモジュール2は、例えば、電源から供給された直流電流が入力するプラス入力端子2a及びマイナス入力端子2bと、電子回路によって変換された三相交流電流を出力する出力端子2c〜出力端子2eと、を備えて概略構成されている。   The power module 2 is mounted on an automobile and is configured to convert a direct current supplied from a power source of the automobile into an alternating current and output the alternating current to a motor of the automobile. The power module 2 includes, for example, a positive input terminal 2a and a negative input terminal 2b that receive a direct current supplied from a power source, and output terminals 2c to 2e that output a three-phase alternating current converted by an electronic circuit. Are generally configured.

バスバー1aは、ボルト3を用いてプラス入力端子2aに固定され、プラス入力端子2aを介してパワーモジュール2の内部の電子回路と電気的に接続している。また、バスバー1bは、ボルト3を用いてマイナス入力端子2bに固定され、マイナス入力端子2bを介してパワーモジュール2の内部の電子回路と電気的に接続している。また、バスバー1cは、ボルト3を用いて出力端子2cに固定され、出力端子2cを介してパワーモジュール2の内部の電子回路と電気的に接続している。また、バスバー1dは、ボルト3を用いて出力端子2dに固定され、出力端子2dを介してパワーモジュール2の内部の電子回路と電気的に接続している。また、バスバー1eは、ボルト3を用いて出力端子2eに固定され、出力端子2eを介してパワーモジュール2の内部の電子回路と電気的に接続している。   The bus bar 1a is fixed to the plus input terminal 2a using a bolt 3, and is electrically connected to an electronic circuit inside the power module 2 via the plus input terminal 2a. The bus bar 1b is fixed to the negative input terminal 2b using a bolt 3, and is electrically connected to an electronic circuit inside the power module 2 via the negative input terminal 2b. The bus bar 1c is fixed to the output terminal 2c using a bolt 3, and is electrically connected to an electronic circuit inside the power module 2 via the output terminal 2c. The bus bar 1d is fixed to the output terminal 2d using a bolt 3, and is electrically connected to an electronic circuit inside the power module 2 via the output terminal 2d. The bus bar 1e is fixed to the output terminal 2e using a bolt 3, and is electrically connected to an electronic circuit inside the power module 2 via the output terminal 2e.

このバスバー1a〜バスバー1eは、例えば、表1に示す実施例1の上から3番目の導電率が最も高い素材を用いて形成される。つまり、この素材から形成されたバスバー1a〜バスバー1eは、比較例1〜比較例10において作製された素材の何れよりも導電率が高いので、比較例1〜比較例10で作製された銅線から形成されたバスバーよりも電流による発熱が少なくなる。   The bus bars 1a to 1e are formed using, for example, a material having the third highest conductivity from the top in Example 1 shown in Table 1. That is, the bus bars 1a to 1e formed from this material have higher electrical conductivity than any of the materials manufactured in Comparative Examples 1 to 10, and thus the copper wires manufactured in Comparative Examples 1 to 10 are used. Heat generation due to current is less than that of bus bars formed from

また、バスバー1a〜バスバー1eは、溶銅温度が1320℃で、かつ、圧延温度が880℃〜550℃となる条件を用いて、導電率が最も高い素材からφ8mmのワイヤロッドを作製し、続いて、このワイヤロッドに伸線加工を施してφ2.6mmの素材を作製し、続いて、この素材に圧延加工を施すことにより、厚さ1.0mm、幅5.0mmのバスバーとして作製されたものである。   In addition, the bus bar 1a to the bus bar 1e are manufactured by using a condition that the molten copper temperature is 1320 ° C. and the rolling temperature is 880 ° C. to 550 ° C. to produce a wire rod of φ8 mm from the material having the highest conductivity. The wire rod was drawn to produce a φ2.6 mm material, and then rolled to the material to produce a bus bar having a thickness of 1.0 mm and a width of 5.0 mm. Is.

(実施の形態の効果)
本実施の形態に係る電極板は、銅の高純度化(99.9999質量%以上)処理を要さず、安価な連続鋳造圧延法により高い導電率を実現することができるので、低コスト化ができる。電極板は、タフピッチ銅に比べてより高い導電率の素材から形成されるので、放熱性の向上により半導体素子の温度上昇を抑制でき信頼性が向上する。添加したチタン(Ti)が不純物である硫黄(S)をトラップするので、銅母相(マトリックス)が高純度化し、素材の軟質特性が向上する。電極板の製造工程においては、焼鈍工程が不要であるので、生産性が高い。
(Effect of embodiment)
The electrode plate according to the present embodiment does not require copper purification (99.9999% by mass or more), and can achieve high conductivity by an inexpensive continuous casting and rolling method. Can do. Since the electrode plate is made of a material having a higher conductivity than that of tough pitch copper, the temperature increase of the semiconductor element can be suppressed by improving the heat dissipation, and the reliability is improved. Since the added titanium (Ti) traps sulfur (S), which is an impurity, the copper matrix (matrix) is highly purified, and the soft properties of the material are improved. In the manufacturing process of the electrode plate, the annealing process is unnecessary, and thus the productivity is high.

また、本実施の形態に係るバスバーは、断面が矩形状であるので、断面が円形状であるバスバーと比べて、高い放熱効果を有し、また、軟質特性が良いので、配線時の形状加工が容易である。   In addition, since the bus bar according to the present embodiment has a rectangular cross section, the bus bar has a higher heat dissipation effect than a bus bar having a circular cross section, and has good soft characteristics. Is easy.

なお、上記に記載のバスバー1a〜バスバー1eは、板形状であったがこれに限定されず、用途に応じて曲げ加工やワイズエッジ加工を行っても良い。   In addition, although the bus bar 1a-bus bar 1e described above was plate-shaped, it is not limited to this, You may perform a bending process or a wise edge process according to a use.

以上、本発明の実施の形態及びその変形例を説明したが、上記に記載した実施の形態及び変形例は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。また、実施の形態及び変形例の中で説明した特徴の組合せの全てが発明の課題を解決するための手段に必須であるとは限らない点に留意すべきである。   As mentioned above, although embodiment of this invention and its modification were demonstrated, embodiment and modification which were described above do not limit the invention which concerns on a claim. In addition, it should be noted that not all combinations of features described in the embodiments and the modifications are necessarily essential to the means for solving the problems of the invention.

1a〜1e…バスバー
2…パワーモジュール
2a…プラス入力端子
2b…マイナス入力端子
2c…出力端子
2d…出力端子
2e…出力端子
3…ボルト
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1a-1e ... Bus bar 2 ... Power module 2a ... Positive input terminal 2b ... Negative input terminal 2c ... Output terminal 2d ... Output terminal 2e ... Output terminal 3 ... Bolt

Claims (7)

Ti、Mg、Zr、Nb、Ca、V、Ni、Mn及びCrからなる群から選択された添加元素と、2mass ppmを超える量の酸素を含み、残部が銅と不可避的不純物とからなり、導電率が101.5%IACS以上である電極板。   It contains an additive element selected from the group consisting of Ti, Mg, Zr, Nb, Ca, V, Ni, Mn and Cr, oxygen in an amount exceeding 2 mass ppm, and the balance is made of copper and inevitable impurities. An electrode plate having a rate of 101.5% IACS or more. 前記電極板は、前記添加元素がTiであり、2mass ppm以上、12mass ppm以下の硫黄と、2mass ppmを超え30mass ppm以下の酸素と、4mass ppm以上、55mass ppm以下のTiを含む請求項1に記載の電極板。   2. The electrode plate according to claim 1, wherein the additive element is Ti, and includes 2 mass ppm or more and 12 mass ppm or less of sulfur, 2 mass ppm or more and 30 mass ppm or less of oxygen, and 4 mass ppm or more and 55 mass ppm or less of Ti. The electrode plate as described. 前記硫黄(S)及び前記Tiが、TiO、TiO、TiS、若しくはTi−O−S結合を有する化合物又は前記TiO、前記TiO、前記TiS、若しくは前記Ti−O−S結合を有する化合物の凝集物として含まれ、前記残部のTi及びSが固溶体として含まれる請求項2に記載の電極板。 The sulfur (S) and the Ti are a compound having a TiO, TiO 2 , TiS, or Ti—O—S bond, or the compound having the TiO, the TiO 2 , the TiS, or the Ti—O—S bond. The electrode plate according to claim 2, wherein the electrode plate is contained as an aggregate and the remaining Ti and S are contained as a solid solution. 前記TiO、前記TiO、前記TiS、前記Ti−O−Sの形の化合物又は凝集物が結晶粒内に分布しており、
前記TiOが、200nm以下のサイズを有し、
前記TiOが、1000nm以下のサイズを有し、
前記TiSが、200nm以下のサイズを有し、
前記Ti−O−Sの形の化合物又は凝集物が、300nm以下のサイズを有し、
500nm以下の粒子が90%以上である請求項2又は3に記載の電極板。
The TiO, the TiO 2 , the TiS, the compound of Ti—O—S or the aggregates are distributed in the crystal grains,
The TiO has a size of 200 nm or less;
The TiO 2 has a size of 1000 nm or less;
The TiS has a size of 200 nm or less;
The compound or aggregate in the form of Ti-O-S has a size of 300 nm or less,
The electrode plate according to claim 2, wherein the particle size of 500 nm or less is 90% or more.
Ti、Mg、Zr、Nb、Ca、V、Ni、Mn及びCrからなる群から選択された添加元素と、2mass ppmを超える量の酸素を含み、残部が銅と不可避的不純物とからなる希薄銅合金材料を1100℃以上1320℃以下の溶銅温度で溶湯にする溶湯製造工程と、
前記溶湯からワイヤロッドを作製するワイヤロッド作製工程と、
前記ワイヤロッドに熱間圧延を施す熱間圧延工程と、
前記熱間圧延を経た前記ワイヤロッドに伸線加工を施す伸線加工工程と、
前記伸線加工が施された前記ワイヤロッドに圧延加工を施して電極板を形成する電極板形成工程と、
を含む電極板の製造方法。
Dilute copper containing an additive element selected from the group consisting of Ti, Mg, Zr, Nb, Ca, V, Ni, Mn and Cr, oxygen in an amount exceeding 2 mass ppm, and the balance consisting of copper and inevitable impurities A molten metal manufacturing process in which the alloy material is melted at a molten copper temperature of 1100 ° C. or higher and 1320 ° C. or lower;
A wire rod production step of producing a wire rod from the molten metal;
A hot rolling step of hot rolling the wire rod;
A wire drawing process for drawing the wire rod after the hot rolling;
An electrode plate forming step of forming an electrode plate by rolling the wire rod subjected to the wire drawing;
The manufacturing method of the electrode plate containing this.
前記熱間圧延工程が、熱間圧延加工における圧延ロールの温度が880℃以下550℃以上で行われる請求項5に記載の電極板の製造方法。   The method for producing an electrode plate according to claim 5, wherein the hot rolling step is performed at a temperature of a rolling roll in a hot rolling process of 880 ° C or lower and 550 ° C or higher. 前記電極板は、前記添加元素がTiであり、2mass ppm以上、12mass ppm以下の硫黄と、2mass ppmを超え30mass ppm以下の酸素と、4mass ppm以上、55mass ppm以下のTiを含む請求項5又は6に記載の電極板の製造方法。   6. The electrode plate according to claim 5, wherein the additional element is Ti, and includes 2 mass ppm or more and 12 mass ppm or less of sulfur, 2 mass ppm or more and 30 mass ppm or less of oxygen, and 4 mass ppm or more and 55 mass ppm or less of Ti. 6. A method for producing an electrode plate according to 6.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114920555A (en) * 2022-05-16 2022-08-19 中国科学院新疆理化技术研究所 Preparation method of manganese-doped calcium zirconate high-temperature negative temperature coefficient thermistor material

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6017040A (en) * 1983-07-08 1985-01-28 Sumitomo Metal Mining Co Ltd Copper alloy for high electric conduction having low softening temperature
JPS6345339A (en) * 1987-04-24 1988-02-26 Sumitomo Metal Mining Co Ltd Copper alloy for high electrical conduction having low softening temperature
JPH10313520A (en) * 1997-05-09 1998-11-24 Sumitomo Wiring Syst Ltd Electric junction box
JP2000294040A (en) * 1999-04-09 2000-10-20 Furukawa Electric Co Ltd:The Laminated bus bar and its manufacture
JP2006274384A (en) * 2005-03-30 2006-10-12 Hitachi Cable Ltd Method for producing copper material and the copper material
JP2008255417A (en) * 2007-04-05 2008-10-23 Hitachi Cable Ltd Method for producing copper material, and copper material
JP2010265511A (en) * 2009-04-17 2010-11-25 Hitachi Cable Ltd Dilute copper alloy material, dilute copper alloy wire, dilute copper alloy twisted wire and cable using the same, coaxial cable and composite cable, and method of manufacturing dilute copper alloy material and dilute copper alloy wire

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6017040A (en) * 1983-07-08 1985-01-28 Sumitomo Metal Mining Co Ltd Copper alloy for high electric conduction having low softening temperature
JPS6345339A (en) * 1987-04-24 1988-02-26 Sumitomo Metal Mining Co Ltd Copper alloy for high electrical conduction having low softening temperature
JPH10313520A (en) * 1997-05-09 1998-11-24 Sumitomo Wiring Syst Ltd Electric junction box
JP2000294040A (en) * 1999-04-09 2000-10-20 Furukawa Electric Co Ltd:The Laminated bus bar and its manufacture
JP2006274384A (en) * 2005-03-30 2006-10-12 Hitachi Cable Ltd Method for producing copper material and the copper material
JP2008255417A (en) * 2007-04-05 2008-10-23 Hitachi Cable Ltd Method for producing copper material, and copper material
JP2010265511A (en) * 2009-04-17 2010-11-25 Hitachi Cable Ltd Dilute copper alloy material, dilute copper alloy wire, dilute copper alloy twisted wire and cable using the same, coaxial cable and composite cable, and method of manufacturing dilute copper alloy material and dilute copper alloy wire

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114920555A (en) * 2022-05-16 2022-08-19 中国科学院新疆理化技术研究所 Preparation method of manganese-doped calcium zirconate high-temperature negative temperature coefficient thermistor material

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