JP2012060049A - Electronic component - Google Patents

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充 小田原
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic component in which adverse effect of the mounting gap to a circuit board on the surrounding electronic components can be prevented while minimizing increase in stray capacitance occurring between a coil and an external electrode.SOLUTION: A laminate 12 is a rectangular parallelepiped and has a mounting surface (lower surface S2). A coil is built in the laminate 12 and has a coil axis extending along the lower surface S2. External electrodes 14a and 14b are connected, respectively, with both ends of the coil and provided side by side in the extending direction of the coil axis. The external electrodes 14a and 14b are provided, respectively, on the side surfaces S5 and S6 in the end faces S3 and S4 and the side surfaces S5 and S6 of the laminate 12 adjoining the lower surface S2 not intersecting the coil axis, and on the lower surface S2.

Description

本発明は、電子部品に関し、より特定的には、コイルを内蔵している電子部品に関する。   The present invention relates to an electronic component, and more particularly to an electronic component having a built-in coil.

従来の電子部品としては、例えば、特許文献1に記載の積層チップインダクタが知られている。図4及び図5は、特許文献1に記載の積層チップインダクタ500,600の外観斜視図である。   As a conventional electronic component, for example, a multilayer chip inductor described in Patent Document 1 is known. 4 and 5 are external perspective views of the multilayer chip inductors 500 and 600 described in Patent Document 1. FIG.

積層チップインダクタ500は、図4に示すように、チップ502、コイル504及び外部端子電極506a,506bを備えている。チップ502は、絶縁材料シートが複数積層されて構成されており、直方体状をなしている。コイル504は、その周回中心線がチップ502の積層方向に伸びるように形成されている。外部端子電極506a,506bはそれぞれ、コイル504の両端に接続されていると共に、積層方向の両端の端面及び端面に隣接する表面(側面や実装面等)の一部を覆うように設けられている。   As shown in FIG. 4, the multilayer chip inductor 500 includes a chip 502, a coil 504, and external terminal electrodes 506a and 506b. The chip 502 is configured by laminating a plurality of insulating material sheets, and has a rectangular parallelepiped shape. The coil 504 is formed so that its center line extends in the stacking direction of the chips 502. The external terminal electrodes 506a and 506b are connected to both ends of the coil 504, and are provided so as to cover a part of the end surfaces at both ends in the stacking direction and a part of the surface (side surface, mounting surface, etc.) adjacent to the end surfaces. .

前記積層チップインダクタ500によれば、回路基板に実装する際のリフロー工程において実装ずれが発生しにくい。より詳細には、積層チップインダクタ500が回路基板に実装される際には、外部端子電極506a,506bと回路基板のランドとが半田により接続される。そして、リフロー工程において、半田は、表面張力によって、外部端子電極506a,506bの側面に形成されている部分(以下、側面部分と称す)に濡れ上がってくる。すなわち、フィレットが形成される。このようなフィレットは、表面張力により、積層チップインダクタ500を回路基板に押さえつけると共に、側面部分の法線方向に積層チップインダクタ500を引っ張る力を発生する。そして、外部端子電極506aの2つの側面部分に働く力同士が釣り合い、外部端子電極506bの2つの側面部分に働く力同士が釣り合うことにより、積層チップインダクタ500は、回路基板のランド上に実装ずれを発生することなく実装される。   According to the multilayer chip inductor 500, mounting displacement hardly occurs in a reflow process when mounting on a circuit board. More specifically, when the multilayer chip inductor 500 is mounted on the circuit board, the external terminal electrodes 506a and 506b and the land of the circuit board are connected by solder. In the reflow process, the solder wets up to the portions (hereinafter referred to as side portions) formed on the side surfaces of the external terminal electrodes 506a and 506b due to surface tension. That is, a fillet is formed. Such a fillet presses the multilayer chip inductor 500 against the circuit board due to surface tension, and generates a force that pulls the multilayer chip inductor 500 in the normal direction of the side surface portion. Then, the forces acting on the two side surface portions of the external terminal electrode 506a are balanced, and the forces acting on the two side surface portions of the external terminal electrode 506b are balanced, so that the multilayer chip inductor 500 is not mounted on the land of the circuit board. It is implemented without generating.

しかしながら、積層チップインダクタ500は、コイル504と外部端子電極506a,506bとの間に大きな浮遊容量が発生するという問題を有している。積層チップインダクタ500では、外部端子電極506a,506bは、チップ502の端面及び端面に隣接する表面の一部に設けられている。そのため、コイル504と外部端子電極506a,506bとが対向する面積が比較的に大きい。そのため、コイル504と外部端子電極506a,506bとの間には、比較的に大きな浮遊容量が発生する。   However, the multilayer chip inductor 500 has a problem that a large stray capacitance is generated between the coil 504 and the external terminal electrodes 506a and 506b. In the multilayer chip inductor 500, the external terminal electrodes 506a and 506b are provided on the end face of the chip 502 and a part of the surface adjacent to the end face. Therefore, the area where the coil 504 and the external terminal electrodes 506a and 506b face each other is relatively large. Therefore, a relatively large stray capacitance is generated between the coil 504 and the external terminal electrodes 506a and 506b.

かかる問題を解決しうる積層チップインダクタとしては、例えば、図5に記載の積層チップインダクタ600が知られている。積層チップインダクタ600では、外部端子電極606a,606bは、実装面にのみ設けられている。そのため、積層チップインダクタ600において外部端子電極606a,606bがコイル604と対向している面積は、積層チップインダクタ500において外部端子電極506a,506bがコイル504と対向している面積に比べて小さくなる。その結果、積層チップインダクタ600では、外部端子電極606a,606bとコイル604との間に発生する浮遊容量が低減される。   As a multilayer chip inductor that can solve such a problem, for example, a multilayer chip inductor 600 shown in FIG. 5 is known. In the multilayer chip inductor 600, the external terminal electrodes 606a and 606b are provided only on the mounting surface. Therefore, the area where the external terminal electrodes 606a and 606b face the coil 604 in the multilayer chip inductor 600 is smaller than the area where the external terminal electrodes 506a and 506b face the coil 504 in the multilayer chip inductor 500. As a result, in the multilayer chip inductor 600, stray capacitance generated between the external terminal electrodes 606a and 606b and the coil 604 is reduced.

しかしながら、積層チップインダクタ600は、外部端子電極606a,606bが側面部分を有していないので、回路基板に実装する際に実装ずれが発生しやすいという問題を有している。実装ずれが発生すると、回路基板上において積層チップインダクタ600が発生した磁束の方向が変化するので、積層チップインダクタ600の周囲に配置されている電子部品への磁束による影響が変化する。その結果、積層チップインダクタ600の周囲に配置されている電子部品の特性が変動してしまうおそれがある。   However, the multilayer chip inductor 600 has a problem that mounting displacement is likely to occur when mounted on a circuit board because the external terminal electrodes 606a and 606b do not have side portions. When mounting deviation occurs, the direction of the magnetic flux generated by the multilayer chip inductor 600 on the circuit board changes, so that the influence of the magnetic flux on the electronic components arranged around the multilayer chip inductor 600 changes. As a result, the characteristics of the electronic components arranged around the multilayer chip inductor 600 may vary.

特開平11−317308号公報(図1及び図3)Japanese Patent Laid-Open No. 11-317308 (FIGS. 1 and 3)

そこで、本発明の目的は、コイルと外部電極との間に発生する浮遊容量の増大を抑制しつつ、回路基板への実装ずれによる周囲の電子部品への悪影響を抑制できる電子部品を提供することである。   SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an electronic component that can suppress an adverse effect on surrounding electronic components due to mounting displacement on a circuit board while suppressing an increase in stray capacitance generated between a coil and an external electrode. It is.

本発明の一形態に係る電子部品は、直方体状をなしていると共に、実装面を有している本体と、前記本体に内蔵され、かつ、前記実装面に沿って延在するコイル軸を有するコイルと、前記コイルの両端のそれぞれと電気的に接続され、かつ、前記コイル軸が延在している方向に並ぶように設けられている第1の外部電極及び第2の外部電極と、を備えており、前記第1の外部電極及び前記第2の外部電極はそれぞれ、前記実装面に隣接する前記本体の4つの表面の内の前記コイル軸と交差していない2つの表面及び該実装面に設けられていること、を特徴とする。   An electronic component according to an aspect of the present invention has a rectangular parallelepiped shape, a main body having a mounting surface, and a coil shaft that is built in the main body and extends along the mounting surface. A coil, and a first external electrode and a second external electrode that are electrically connected to each of both ends of the coil and are arranged in a direction in which the coil axis extends. The first external electrode and the second external electrode are each of two surfaces of the four surfaces of the main body adjacent to the mounting surface that do not intersect the coil axis, and the mounting surface It is characterized by being provided in.

本発明によれば、コイルと外部電極との間に発生する浮遊容量の増大を抑制しつつ、回路基板への実装ずれによる周囲の電子部品への悪影響を抑制できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the bad influence to the surrounding electronic component by the mounting shift | offset | difference to a circuit board can be suppressed, suppressing the increase in the stray capacitance which generate | occur | produces between a coil and an external electrode.

本発明の一実施形態に係る電子部品の外観斜視図である。1 is an external perspective view of an electronic component according to an embodiment of the present invention. 図1の電子部品の積層体の分解図である。It is an exploded view of the laminated body of the electronic component of FIG. 図3(a)は、積層チップインダクタが回路基板上に実装ずれを生じた状態で実装された様子を示した図である。図3(b)は、電子部品が回路基板上に実装ずれを生じた状態で実装された様子を示した図である。FIG. 3A is a diagram illustrating a state in which the multilayer chip inductor is mounted on the circuit board in a state where mounting displacement has occurred. FIG. 3B is a diagram showing a state in which the electronic component is mounted on the circuit board in a state where mounting displacement has occurred. 特許文献1に記載の積層チップインダクタの外観斜視図である。1 is an external perspective view of a multilayer chip inductor described in Patent Document 1. FIG. 特許文献1に記載の積層チップインダクタの外観斜視図である。1 is an external perspective view of a multilayer chip inductor described in Patent Document 1. FIG.

(電子部品の構成)
本発明の一実施形態に係る電子部品の構成について説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る電子部品10の外観斜視図である。図2は、図1の電子部品10の積層体12の分解図である。
(Configuration of electronic parts)
A configuration of an electronic component according to an embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 is an external perspective view of an electronic component 10 according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is an exploded view of the laminate 12 of the electronic component 10 of FIG.

以下、電子部品10の積層方向をy軸方向と定義し、電子部品10のy軸方向の負方向側の面の2辺に沿った方向をx軸方向及びz軸方向と定義する。x軸方向とy軸方向とz軸方向とは直交している。   Hereinafter, the stacking direction of the electronic component 10 is defined as the y-axis direction, and the directions along the two sides of the negative-side surface of the electronic component 10 are defined as the x-axis direction and the z-axis direction. The x-axis direction, the y-axis direction, and the z-axis direction are orthogonal to each other.

電子部品10は、図1及び図2に示すように、積層体12、外部電極14(14a,14b)、接続部19,21及びコイルL(図2参照)を備えている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the electronic component 10 includes a multilayer body 12, external electrodes 14 (14 a and 14 b), connection portions 19 and 21, and a coil L (see FIG. 2).

積層体12は、直方体状をなしており、電子部品10が回路基板に実装される際に、回路基板と対向する実装面を有している。以下では、積層体12のz軸方向の正方向側の面を上面S1と称し、積層体12のz軸方向の負方向側の面を下面S2と称す。下面S2は、前記実装面である。更に、積層体12の下面S2に隣接する4つの面を端面S3,S4及び側面S5,S6と称す。端面S3はy軸方向の正方向側に位置し、端面S4はy軸方向の負方向側に位置し、側面S5はx軸方向の正方向側に位置し、側面S6はx軸方向の負方向側に位置している。   The laminate 12 has a rectangular parallelepiped shape, and has a mounting surface that faces the circuit board when the electronic component 10 is mounted on the circuit board. Hereinafter, the surface on the positive direction side in the z-axis direction of the stacked body 12 is referred to as an upper surface S1, and the surface on the negative direction side in the z-axis direction of the stacked body 12 is referred to as a lower surface S2. The lower surface S2 is the mounting surface. Further, the four surfaces adjacent to the lower surface S2 of the laminate 12 are referred to as end surfaces S3 and S4 and side surfaces S5 and S6. The end surface S3 is located on the positive side in the y-axis direction, the end surface S4 is located on the negative direction side in the y-axis direction, the side surface S5 is located on the positive direction side in the x-axis direction, and the side surface S6 is negative in the x-axis direction. Located on the direction side.

積層体12は、図2に示すように、絶縁体層16(16a〜16j)がy軸方向の負方向側から正方向側へとこの順に積層されることにより構成されている。よって、実装面である下面S2は、絶縁体層16の外縁(z軸方向の負方向側の辺)が連なって構成されている。絶縁体層16は、磁性体材料からなる矩形状の層である。なお、磁性体材料とは、−55℃以上+125℃以下の温度範囲において、磁性体材料として機能する材料を意味する。以下では、絶縁体層16のy軸方向の負方向側の面を表面と称し、絶縁体層16のy軸方向の正方向側の面を裏面と称す。   As illustrated in FIG. 2, the stacked body 12 is configured by stacking the insulator layers 16 (16 a to 16 j) in this order from the negative direction side in the y-axis direction to the positive direction side. Therefore, the lower surface S2 that is the mounting surface is configured by a continuous outer edge (side on the negative side in the z-axis direction) of the insulating layer 16. The insulator layer 16 is a rectangular layer made of a magnetic material. The magnetic material means a material that functions as a magnetic material in a temperature range of −55 ° C. or higher and + 125 ° C. or lower. Hereinafter, the surface on the negative direction side in the y-axis direction of the insulator layer 16 is referred to as a front surface, and the surface on the positive direction side in the y-axis direction of the insulator layer 16 is referred to as a back surface.

コイルLは、積層体12に内蔵され、図2に示すように、コイル導体18(18a〜18d)及びビアホール導体v3〜v5を含んでいる。コイルLは、コイル導体18a〜18d及びビアホール導体v3〜v5が接続されることにより螺旋状をなすように構成され、下面S2に沿って延在するコイル軸を有している。電子部品10では、コイル軸は、y軸方向に延在している。   The coil L is built in the multilayer body 12 and includes coil conductors 18 (18a to 18d) and via-hole conductors v3 to v5 as shown in FIG. The coil L is configured to have a spiral shape by connecting the coil conductors 18a to 18d and the via-hole conductors v3 to v5, and has a coil axis extending along the lower surface S2. In the electronic component 10, the coil axis extends in the y-axis direction.

コイル導体18a〜18dは、図2に示すように、絶縁体層16d〜16gの表面上に設けられており、y軸方向の負方向側から平面視したときに、時計回りに旋回するコ字型の線状導体層である。すなわち、コイル導体18a〜18dは、3/4ターンのターン数を有しており、絶縁体層16d〜16gの三辺に沿っている。なお、コイル導体18のターン数は、3/4ターンに限らない。よって、コイル導体18のターン数は、例えば、1/2ターンであってもよいし、7/8ターンであってもよい。   As shown in FIG. 2, the coil conductors 18 a to 18 d are provided on the surfaces of the insulator layers 16 d to 16 g, and are U-shaped that rotate clockwise when viewed from the negative side in the y-axis direction. This is a linear conductor layer of a mold. That is, the coil conductors 18a to 18d have a number of turns of 3/4, and are along the three sides of the insulator layers 16d to 16g. The number of turns of the coil conductor 18 is not limited to 3/4 turns. Therefore, the number of turns of the coil conductor 18 may be, for example, 1/2 turn or 7/8 turn.

以下では、コイル導体18において、y軸方向の負方向側から平面視したときに、時計回りの上流側の端部を上流端とし、時計回りの下流側の端部を下流端とする。   In the following, when the coil conductor 18 is viewed in plan from the negative side in the y-axis direction, the clockwise upstream end is defined as the upstream end, and the clockwise downstream end is defined as the downstream end.

ビアホール導体v3〜v5は、図2に示すように、絶縁体層16d〜16fをy軸方向に貫通するように設けられている。ビアホール導体v3は、絶縁体層16dをy軸方向に貫通し、コイル導体18aの下流端及びコイル導体18bの上流端に接続されている。ビアホール導体v4は、絶縁体層16eをy軸方向に貫通し、コイル導体18bの下流端及びコイル導体18cの上流端に接続されている。ビアホール導体v5は、絶縁体層16fをy軸方向に貫通し、コイル導体18cの下流端及びコイル導体18dの上流端に接続されている。   As shown in FIG. 2, the via-hole conductors v <b> 3 to v <b> 5 are provided so as to penetrate the insulating layers 16 d to 16 f in the y-axis direction. The via-hole conductor v3 penetrates the insulator layer 16d in the y-axis direction and is connected to the downstream end of the coil conductor 18a and the upstream end of the coil conductor 18b. The via-hole conductor v4 penetrates the insulator layer 16e in the y-axis direction, and is connected to the downstream end of the coil conductor 18b and the upstream end of the coil conductor 18c. The via-hole conductor v5 penetrates the insulator layer 16f in the y-axis direction, and is connected to the downstream end of the coil conductor 18c and the upstream end of the coil conductor 18d.

以上のように構成されたコイルLは、図2に示すように、時計回りに旋回しながら、y軸方向の負方向側から正方向側に進行する構造を有する。   As shown in FIG. 2, the coil L configured as described above has a structure that advances from the negative direction side to the positive direction side in the y-axis direction while turning clockwise.

外部電極14a,14bはそれぞれ、コイルLの両端と電気的に接続され、かつ、積層体12の下面S2及び側面S5,S6の一部に設けられている。側面S5,S6は、下面S2に隣接する本体12の4つの面の内のコイル軸と交差していない表面である。外部電極14a,14bは、コイル軸が延在している方向(すなわち、y軸方向)に並んでいる。   The external electrodes 14a and 14b are electrically connected to both ends of the coil L, respectively, and are provided on part of the lower surface S2 and the side surfaces S5 and S6 of the multilayer body 12. The side surfaces S5 and S6 are surfaces that do not intersect the coil axis among the four surfaces of the main body 12 adjacent to the lower surface S2. The external electrodes 14a and 14b are arranged in the direction in which the coil axis extends (that is, the y-axis direction).

接続部19は、図2に示すように、接続導体20(20a,20b)及びビアホール導体v1,v2を含んでおり、コイルのy軸方向の負方向側の端部と外部電極14aとを接続している。接続導体20a,20bはそれぞれ、絶縁体層16b,16cの表面上に設けられており、絶縁体層16b,16cのz軸方向の負方向側の辺に沿って設けられている帯状の導体である。接続導体20a,20bのx軸方向の負方向側の端部及びx軸方向の正方向側の端部はそれぞれ、絶縁体層16b,16cのx軸方向の負方向側の辺及びx軸方向の正方向側の辺に接している。これにより、接続導体20a,20bは、積層体12の下面S2及び側面S5,S6において絶縁体層16間から露出している。これにより、接続導体20a,20bは、外部電極14aと接触している。   As shown in FIG. 2, the connection part 19 includes connection conductors 20 (20a, 20b) and via-hole conductors v1, v2, and connects the end of the coil on the negative side in the y-axis direction to the external electrode 14a. is doing. The connecting conductors 20a and 20b are provided on the surfaces of the insulator layers 16b and 16c, respectively, and are strip-shaped conductors provided along the negative side of the insulator layers 16b and 16c in the z-axis direction. is there. The end portions on the negative direction side in the x-axis direction and the end portions on the positive direction side in the x-axis direction of the connection conductors 20a and 20b are respectively the sides on the negative direction side in the x-axis direction and the x-axis direction of the insulator layers 16b and 16c. Is in contact with the positive side. Thereby, the connection conductors 20a and 20b are exposed from between the insulator layers 16 on the lower surface S2 and the side surfaces S5 and S6 of the multilayer body 12. Thereby, the connection conductors 20a and 20b are in contact with the external electrode 14a.

ビアホール導体v1,v2はそれぞれ、絶縁体層16b,16cをy軸方向に貫通するように設けられている。ビアホール導体v1は、接続導体20aと接続導体20bとを接続している。ビアホール導体v2は、接続導体20bとコイル導体18aの上流端とを接続している。   The via-hole conductors v1 and v2 are provided so as to penetrate the insulating layers 16b and 16c in the y-axis direction, respectively. The via-hole conductor v1 connects the connection conductor 20a and the connection conductor 20b. The via-hole conductor v2 connects the connection conductor 20b and the upstream end of the coil conductor 18a.

接続部21は、図2に示すように、接続導体22(22a,22b)及びビアホール導体v6,v7を含んでおり、コイルのy軸方向の正方向側の端部と外部電極14bとを接続している。接続導体22a,22bはそれぞれ、絶縁体層16h,16iの表面上に設けられており、絶縁体層16h,16iのz軸方向の負方向側の辺に沿って設けられている帯状の導体である。接続導体22a,22bのx軸方向の負方向側の端部及びx軸方向の正方向側の端部はそれぞれ、絶縁体層16h,16iのx軸方向の負方向側の辺及びx軸方向の正方向側の辺に接している。これにより、接続導体22a,22bは、積層体12の下面S2及び側面S5,S6において絶縁体層16間から露出している。これにより、接続導体22a,22bは、外部電極14bと接触している。   As shown in FIG. 2, the connecting portion 21 includes connecting conductors 22 (22a, 22b) and via-hole conductors v6, v7, and connects the end of the coil on the positive side in the y-axis direction to the external electrode 14b. is doing. The connection conductors 22a and 22b are provided on the surfaces of the insulator layers 16h and 16i, respectively, and are strip-shaped conductors provided along the negative side of the insulator layers 16h and 16i in the z-axis direction. is there. The end portions on the negative direction side in the x-axis direction and the end portions on the positive direction side in the x-axis direction of the connection conductors 22a and 22b are respectively the sides on the negative direction side in the x-axis direction and the x-axis direction of the insulator layers 16h and 16i. Is in contact with the positive side. Thereby, the connection conductors 22a and 22b are exposed from between the insulator layers 16 on the lower surface S2 and the side surfaces S5 and S6 of the multilayer body 12. Thereby, the connection conductors 22a and 22b are in contact with the external electrode 14b.

ビアホール導体v6,v7はそれぞれ、絶縁体層16g,16hをy軸方向に貫通するように設けられている。ビアホール導体v6は、コイル導体18dの下流端と接続導体22aとを接続している。ビアホール導体v7は、接続導体22aと接続導体22bとを接続している。   The via-hole conductors v6 and v7 are provided so as to penetrate the insulating layers 16g and 16h in the y-axis direction, respectively. The via-hole conductor v6 connects the downstream end of the coil conductor 18d and the connection conductor 22a. The via-hole conductor v7 connects the connection conductor 22a and the connection conductor 22b.

(電子部品の製造方法)
以下に、電子部品10の製造方法について図面を参照しながら説明する。
(Method for manufacturing electronic parts)
Below, the manufacturing method of the electronic component 10 is demonstrated, referring drawings.

まず、絶縁体層16となるべきセラミックグリーンシートを準備する。具体的には、酸化第二鉄(Fe23)、酸化亜鉛(ZnO)、酸化ニッケル(NiO)及び酸化銅(CuO)を所定の比率で秤量したそれぞれの材料を原材料としてボールミルに投入し、湿式調合を行う。得られた混合物を乾燥してから粉砕し、得られた粉末を800℃で1時間仮焼する。得られた仮焼粉末をボールミルにて湿式粉砕した後、乾燥してから解砕して、フェライトセラミック粉末を得る。 First, a ceramic green sheet to be the insulator layer 16 is prepared. Specifically, ferric oxide (Fe 2 O 3 ), zinc oxide (ZnO), nickel oxide (NiO), and copper oxide (CuO) were weighed at a predetermined ratio, and each material was put into a ball mill as a raw material. Wet preparation. The obtained mixture is dried and pulverized, and the obtained powder is calcined at 800 ° C. for 1 hour. The obtained calcined powder is wet pulverized by a ball mill, dried and then crushed to obtain a ferrite ceramic powder.

このフェライトセラミック粉末に対して結合剤(酢酸ビニル、水溶性アクリル等)と可塑剤、湿潤材及び分散剤を加えてボールミルで混合を行い、その後、減圧により脱泡を行う。得られたセラミックスラリーをドクターブレード法により、キャリアシート上にシート状に形成して乾燥させ、セラミックグリーンシートを作製する。   To this ferrite ceramic powder, a binder (vinyl acetate, water-soluble acrylic, etc.), a plasticizer, a wetting material and a dispersing agent are added and mixed with a ball mill, and then defoamed under reduced pressure. The obtained ceramic slurry is formed into a sheet on a carrier sheet by a doctor blade method and dried to produce a ceramic green sheet.

次に、絶縁体層16b〜16hとなるべきセラミックグリーンシートのそれぞれに、ビアホール導体v1〜v7を形成する。具体的には、セラミックグリーンシートにレーザビームを照射してビアホールを形成する。更に、ビアホールに対して、Ag,Pd,Cu,Auやこれらの合金などの導電性材料からなるペーストを印刷塗布などの方法により充填して、ビアホール導体v1〜v7を形成する。   Next, via-hole conductors v1 to v7 are formed in the ceramic green sheets to be the insulator layers 16b to 16h, respectively. Specifically, a via hole is formed by irradiating a ceramic green sheet with a laser beam. Further, the via hole conductors v1 to v7 are formed by filling the via hole with a paste made of a conductive material such as Ag, Pd, Cu, Au or an alloy thereof by a method such as printing.

次に、絶縁体層16b〜16iとなるべきセラミックグリーンシート上に、導電性材料からなるペーストをスクリーン印刷法やフォトリソグラフィ法などの方法で塗布することにより、コイル導体18(18a〜18d)及び接続導体20(20a,20b),22(22a,22b)を形成する。導電性材料からなるペーストは、例えば、Agに、ワニス及び溶剤が加えられたものである。   Next, by applying a paste made of a conductive material on the ceramic green sheets to be the insulator layers 16b to 16i by a method such as a screen printing method or a photolithography method, the coil conductors 18 (18a to 18d) and Connection conductors 20 (20a, 20b) and 22 (22a, 22b) are formed. The paste made of a conductive material is obtained by adding varnish and a solvent to Ag, for example.

なお、コイル導体18(18a〜18d)及び接続導体20(20a,20b),22(22a,22b)を形成する工程とビアホールに対して導電性材料(Ag又はAg−Pt)からなるペーストを充填する工程とを、同じ工程において行ってもよい。   In addition, the process which forms the coil conductor 18 (18a-18d) and the connection conductor 20 (20a, 20b), 22 (22a, 22b) and the paste which consists of an electroconductive material (Ag or Ag-Pt) are filled with respect to a via hole. You may perform the process to perform in the same process.

次に、絶縁体層16a〜16jとなるべきセラミックグリーンシートをy軸方向の負方向側から正方向側へとこの順に並ぶように積層及び圧着して未焼成のマザー積層体を得る。具体的には、セラミックグリーンシートを1枚ずつ積層及び仮圧着する。この後、未焼成のマザー積層体に対して、静水圧プレスにて本圧着を施す。静水圧プレスの条件は、100MPaの圧力及び45℃の温度である。   Next, ceramic green sheets to be the insulator layers 16a to 16j are stacked and pressure-bonded so as to be arranged in this order from the negative direction side in the y-axis direction to the positive direction side to obtain an unfired mother stacked body. Specifically, ceramic green sheets are laminated and temporarily pressed one by one. Then, this press-bonding is performed on the unfired mother laminate by an isostatic press. The conditions of the hydrostatic press are a pressure of 100 MPa and a temperature of 45 ° C.

次に、未焼成のマザー積層体をカットして、個別の未焼成の積層体12を得る。更に、積層体12の表面に、バレル研磨処理を施して、面取りを行う。この後、未焼成の積層体12に、脱バインダー処理及び焼成を施す。脱バインダー処理は、例えば、低酸素雰囲気中においておよそ500℃で2時間の条件で行う。焼成は、例えば、870℃〜900℃で2.5時間の条件で行う。   Next, the unfired mother laminate is cut to obtain individual unfired laminates 12. Furthermore, the surface of the laminated body 12 is subjected to barrel polishing to chamfer. Thereafter, the unfired laminate 12 is subjected to binder removal processing and firing. The binder removal treatment is performed, for example, in a low oxygen atmosphere at about 500 ° C. for 2 hours. Firing is performed, for example, at 870 ° C. to 900 ° C. for 2.5 hours.

次に、めっき工法により外部電極14(14a,14b)を形成する。本実施形態では、ストライクめっき工法及び厚付めっき工法の2工程により外部電極14(14a,14b)を形成する。   Next, the external electrodes 14 (14a, 14b) are formed by a plating method. In the present embodiment, the external electrode 14 (14a, 14b) is formed by two steps of a strike plating method and a thick plating method.

ストライクめっき工法とは、めっきの密着性をよくしたり、被覆力を向上させる目的で、短時間めっきをすることである。ストライクめっき工法では、導電性メディアが入れられたバレル内に、積層体12を投入する。そして、バレルをめっき液内に浸し、所定時間の間だけ回転させる。これにより、接続導体20,22が積層体12から露出している部分に導電性メディアが接触して給電が行われる。   The strike plating method is to perform plating for a short time for the purpose of improving the adhesion of plating or improving the covering power. In the strike plating method, the laminate 12 is put into a barrel in which a conductive medium is placed. Then, the barrel is immersed in the plating solution and rotated only for a predetermined time. As a result, the conductive media comes into contact with the portions where the connection conductors 20 and 22 are exposed from the multilayer body 12, and power is supplied.

厚付めっき工法では、導電性メディアが入れられたバレル内に、積層体12を投入する。そして、バレルをめっき液内に浸し、所定時間の間だけ回転させる。これにより、接続導体20,22が積層体12から露出している部分に導電性メディアが接触して給電が行われる。   In the thick plating method, the laminate 12 is put into a barrel in which a conductive medium is placed. Then, the barrel is immersed in the plating solution and rotated only for a predetermined time. As a result, the conductive media comes into contact with the portions where the connection conductors 20 and 22 are exposed from the multilayer body 12, and power is supplied.

ここで、接続導体20,22はそれぞれ、下面S2及び側面S5,S6の一部において積層体12から露出している。そのため、外部電極14は、接続導体20,22が積層体12から露出している部分を覆うように形成される。その結果、外部電極14は、下面S2及び側面S5,S6の一部にまたがって形成される。以上の工程を経て、電子部品10が完成する。   Here, the connection conductors 20 and 22 are exposed from the multilayer body 12 at portions of the lower surface S2 and the side surfaces S5 and S6, respectively. Therefore, the external electrode 14 is formed so as to cover the portion where the connection conductors 20 and 22 are exposed from the multilayer body 12. As a result, the external electrode 14 is formed across a part of the lower surface S2 and the side surfaces S5 and S6. The electronic component 10 is completed through the above steps.

(効果)
以上のような電子部品10によれば、以下に説明するように、コイルLと外部電極14との間に発生する浮遊容量の増大を抑制しつつ、回路基板への実装ずれによる周囲の電子部品への悪影響を抑制できる。図3(a)は、積層チップインダクタ600が回路基板100上に実装ずれを生じた状態で実装された様子を示した図である。図3(b)は、電子部品10が回路基板100上に実装ずれを生じた状態で実装された様子を示した図である。図3(a)及び図3(b)において、点線は、積層チップインダクタ600及び電子部品10が回路基板100上に実装ずれを生じることなく実装された様子を示した図である。
(effect)
According to the electronic component 10 as described above, as described below, while suppressing an increase in stray capacitance generated between the coil L and the external electrode 14, surrounding electronic components due to mounting displacement on the circuit board are suppressed. The adverse effect on can be suppressed. FIG. 3A is a diagram illustrating a state in which the multilayer chip inductor 600 is mounted on the circuit board 100 in a state where mounting displacement has occurred. FIG. 3B is a diagram illustrating a state in which the electronic component 10 is mounted on the circuit board 100 in a state where mounting displacement has occurred. In FIGS. 3A and 3B, the dotted line is a diagram illustrating a state in which the multilayer chip inductor 600 and the electronic component 10 are mounted on the circuit board 100 without causing a mounting shift.

特許文献1に記載の図5の積層チップインダクタ600では、チップ602の実装面にのみ外部端子電極606a,606bが設けられている。そのため、リフロー工程において、外部からの衝撃などによって、図3(a)に示すように、積層チップインダクタ600が回路基板100の法線方向を中心として回転することがある。この場合、積層チップインダクタ600が発生した磁束φ1も、積層チップインダクタ600と共に回転してしまう。その結果、実装ずれを生じていない積層チップインダクタ600が発生した磁束φ1は、電子部品102a,102bを通過していたのに対して、実装ずれを生じた積層チップインダクタ600が発生した磁束φ1は、電子部品102c,102dを通過するようになる。すなわち、実装ずれによって、磁束φ1が通過する電子部品が変化してしまう。ここで、回路基板100の設計時に、電子部品102a,102bには、磁束φ1が通過することが想定されて、磁束による特性の変動が小さな電子部品が選択されることが多い。一方、電子部品102c,102dには、磁束φ1が通過することが想定されていないので、磁束による特性の変動が小さな電子部品が選択されない。そのため、積層チップインダクタ600に実装ずれが発生すると、磁束φ1が電子部品102c,102dを通過するようになり、電子部品102c,102dの特性が大きく変動してしまう。   In the multilayer chip inductor 600 of FIG. 5 described in Patent Document 1, external terminal electrodes 606 a and 606 b are provided only on the mounting surface of the chip 602. Therefore, in the reflow process, the multilayer chip inductor 600 may rotate around the normal direction of the circuit board 100 as shown in FIG. In this case, the magnetic flux φ1 generated by the multilayer chip inductor 600 also rotates together with the multilayer chip inductor 600. As a result, the magnetic flux φ1 generated by the multilayer chip inductor 600 that does not cause mounting deviation passes through the electronic components 102a and 102b, whereas the magnetic flux φ1 that is generated by the multilayer chip inductor 600 that causes mounting deviation is Then, the electronic components 102c and 102d pass. That is, the electronic component through which the magnetic flux φ1 passes changes due to mounting deviation. Here, when the circuit board 100 is designed, it is assumed that the magnetic flux φ1 passes through the electronic components 102a and 102b, and an electronic component having a small variation in characteristics due to the magnetic flux is often selected. On the other hand, since it is not assumed that the magnetic flux φ1 passes through the electronic components 102c and 102d, an electronic component whose characteristic variation due to the magnetic flux is small is not selected. Therefore, when mounting deviation occurs in the multilayer chip inductor 600, the magnetic flux φ1 passes through the electronic components 102c and 102d, and the characteristics of the electronic components 102c and 102d greatly vary.

一方、電子部品10では、積層体12の下面S2及び側面S5,S6の一部に外部電極14a,14bが設けられている。そのため、電子部品10が回路基板100の法線方向を中心として回転することが抑制される。ただし、外部電極14a,14bは、端面S3,S4には設けられていないので、電子部品10は、図3(b)に示すように、コイル軸が延在している方向(図3(b)の左右方向)にずれることがある。ただし、実装ずれを生じていない電子部品10が発生した磁束φ2、及び、実装ずれを生じた電子部品10が発生した磁束φ2は共に、電子部品102a,102bを通過している。すなわち、電子部品10では、実装ずれによって、磁束φ2が通過する電子部品が変化しない。よって、電子部品10では、電子部品102c,102dの特性が大きく変動しない。以上より、電子部品10では、回路基板100への実装ずれによる周囲の電子部品への悪影響を抑制できる。   On the other hand, in the electronic component 10, external electrodes 14a and 14b are provided on a part of the lower surface S2 and the side surfaces S5 and S6 of the multilayer body 12. Therefore, the electronic component 10 is prevented from rotating around the normal direction of the circuit board 100. However, since the external electrodes 14a and 14b are not provided on the end faces S3 and S4, as shown in FIG. 3B, the electronic component 10 has a direction in which the coil axis extends (FIG. 3B ) In the left-right direction). However, both the magnetic flux φ2 generated by the electronic component 10 that does not cause mounting deviation and the magnetic flux φ2 generated by the electronic component 10 that causes mounting deviation pass through the electronic components 102a and 102b. That is, in the electronic component 10, the electronic component through which the magnetic flux φ2 passes does not change due to the mounting deviation. Therefore, in the electronic component 10, the characteristics of the electronic components 102c and 102d do not vary greatly. As described above, in the electronic component 10, adverse effects on the surrounding electronic components due to mounting displacement on the circuit board 100 can be suppressed.

また、電子部品10では、外部電極14a,14bは、積層体12の下面S2及び側面S5,S6に設けられている。すなわち、電子部品10の外部電極14a,14bは、積層チップインダクタ600の外部端子電極606a,606bに比べて、積層体12の側面S5,S6に設けられている部分の面積だけ大きい。そのため、電子部品10においてコイルLと外部電極14a,14bとの間に発生する浮遊容量は、積層チップインダクタ600のコイル604と外部端子電極606a,606bとの間に発生する浮遊容量よりも大きくなってしまう。ただし、外部電極14a,14bは、図2に示すように、側面S5,S6において、コイル導体18の主面ではなくコイル導体18の側面と対向しているので、コイル導体18と非常に小さな面積で対向している。よって、電子部品10の浮遊容量の積層チップインダクタ600の浮遊容量に対する増加量はわずかである。以上より、電子部品10では、回路基板100への実装ずれによる周囲の電子部品への悪影響を抑制したとしても、コイルLと外部電極14との間に発生する浮遊容量の増加を抑制できる。   In the electronic component 10, the external electrodes 14a and 14b are provided on the lower surface S2 and the side surfaces S5 and S6 of the multilayer body 12. That is, the external electrodes 14a and 14b of the electronic component 10 are larger than the external terminal electrodes 606a and 606b of the multilayer chip inductor 600 by the area of the portions provided on the side surfaces S5 and S6 of the multilayer body 12. Therefore, the stray capacitance generated between the coil L and the external electrodes 14a and 14b in the electronic component 10 is larger than the stray capacitance generated between the coil 604 of the multilayer chip inductor 600 and the external terminal electrodes 606a and 606b. End up. However, as shown in FIG. 2, the external electrodes 14a and 14b are opposed to the side surfaces of the coil conductor 18 instead of the main surface of the coil conductor 18 at the side surfaces S5 and S6. Are facing each other. Therefore, the increase amount of the stray capacitance of the electronic component 10 with respect to the stray capacitance of the multilayer chip inductor 600 is slight. As described above, in the electronic component 10, even if the adverse effect on the surrounding electronic components due to the mounting deviation on the circuit board 100 is suppressed, an increase in stray capacitance generated between the coil L and the external electrode 14 can be suppressed.

以上のように、本発明は、電子部品に有用であり、特に、コイルと外部電極との間に発生する浮遊容量の増大を抑制しつつ、回路基板への実装ずれによる周囲の電子部品への悪影響を抑制できる点において優れている。   As described above, the present invention is useful for electronic components. In particular, while suppressing an increase in stray capacitance generated between the coil and the external electrode, the present invention can be applied to surrounding electronic components due to mounting displacement on the circuit board. It is excellent in that adverse effects can be suppressed.

L コイル
S1 上面
S2 下面
S3,S4 端面
S5,S6 側面
v1〜v7 ビアホール導体
10 電子部品
12 積層体
14a,14b 外部電極
16a〜16j 絶縁体層
18a〜18d コイル導体
19,21 接続部
20a,20b,22a,22b 接続導体
L coil S1 upper surface S2 lower surface S3, S4 end surface S5, S6 side surface v1-v7 via-hole conductor 10 electronic component 12 laminated body 14a, 14b external electrode 16a-16j insulator layer 18a-18d coil conductor 19, 21 connecting portion 20a, 20b, 22a, 22b Connecting conductor

Claims (4)

直方体状をなしていると共に、実装面を有している本体と、
前記本体に内蔵され、かつ、前記実装面に沿って延在するコイル軸を有するコイルと、
前記コイルの両端のそれぞれと電気的に接続され、かつ、前記コイル軸が延在している方向に並ぶように設けられている第1の外部電極及び第2の外部電極と、
を備えており、
前記第1の外部電極及び前記第2の外部電極はそれぞれ、前記実装面に隣接する前記本体の4つの表面の内の前記コイル軸と交差していない2つの表面及び該実装面に設けられていること、
を特徴とする電子部品。
A main body having a rectangular parallelepiped shape and a mounting surface;
A coil having a coil axis built in the main body and extending along the mounting surface;
A first external electrode and a second external electrode that are electrically connected to both ends of the coil and are arranged in a direction in which the coil axis extends;
With
The first external electrode and the second external electrode are respectively provided on two surfaces of the four surfaces of the main body adjacent to the mounting surface that do not intersect the coil axis and on the mounting surface. Being
Electronic parts characterized by
前記本体は、複数の絶縁体層が積層されることにより構成されており、
前記コイルは、前記絶縁体層上に設けられている複数のコイル導体が接続されて螺旋状をなしており、
前記実装面は、前記複数の絶縁体層の外縁が連なって構成されている表面であること、
を特徴とする請求項1に記載の電子部品。
The main body is configured by laminating a plurality of insulator layers,
The coil is spirally connected with a plurality of coil conductors provided on the insulator layer,
The mounting surface is a surface formed by connecting outer edges of the plurality of insulator layers;
The electronic component according to claim 1.
前記絶縁体層上に設けられている第1の接続導体を含む第1の接続部であって、前記コイルの一端と前記第1の外部電極とを接続する第1の接続部を、
更に備えており、
前記第1の接続導体は、前記実装面において前記絶縁体層間から露出することにより前記第1の外部電極と接触していること、
を特徴とする請求項2に記載の電子部品。
A first connecting portion including a first connecting conductor provided on the insulator layer, the first connecting portion connecting one end of the coil and the first external electrode;
In addition,
The first connection conductor is in contact with the first external electrode by being exposed from the insulator layer on the mounting surface;
The electronic component according to claim 2.
前記第1の外部電極は、めっき工法により形成されていること、
を特徴とする請求項3に記載の電子部品。
The first external electrode is formed by a plating method;
The electronic component according to claim 3.
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