JP2012014751A - Glass plate heat treatment setter and manufacturing method of glass substrate for information recording medium using the same - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a glass plate heat treatment setter capable of enhancing smoothness and reducing surface defects and a manufacturing method of glass substrate for information recording medium using the same.SOLUTION: A glass plate heat treatment setter ST according to the invention is used for heat treatment of a lamination body which is formed by stacking plural lamination pairs, each of which includes a glass plate heat treatment setter ST and a glass plate to be treated placed thereon. The glass plate heat treatment setter ST is a plate-like member having an upper surface SFa and a lower surface SFb facing each other in parallel and an edge ED formed from the upper surface SFa to the lower surface SFb, in which surface roughness of the edge ED is smaller than the surface roughness of the upper surface SFa and the lower surface SFb.

Description

本発明は、ガラス板熱処理用セッタに関し、特に、ガラス板に生じる欠陥を低減することができるガラス板熱処理用セッタに関する。そして、本発明は、このガラス板熱処理用セッタを用いて情報記録媒体用ガラス基板を製造する情報記録媒体用ガラス基板の製造方法に関する。   The present invention relates to a glass plate heat treatment setter, and more particularly to a glass plate heat treatment setter capable of reducing defects generated in a glass plate. And this invention relates to the manufacturing method of the glass substrate for information recording media which manufactures the glass substrate for information recording media using this setter for glass plate heat processing.

ガラス基板は、その物性から種々の基板として利用されている。例えば、ガラス基板は、平面ディスプレイパネルの基板および情報記録媒体の基板等として用いられている。例えば、この情報記録媒体の基板として用いられる場合では、磁気、光および光磁気等を利用した記録層がガラス基板上に形成され、情報記録媒体とされ、その代表的には、ハードディスクドライブに用いられる磁気ディスクがある。このハードディスクドライブに用いられる磁気ディスクでは、近年、記録密度の向上を図るために、磁気ヘッドの浮上量の低減が要請されており、従来のアルミニウム基板に代わって、表面の平滑性に優れ、表面の欠陥が少ないことから、特にガラス基板が多く用いられるようになってきている。   Glass substrates are used as various substrates due to their physical properties. For example, glass substrates are used as flat display panel substrates and information recording medium substrates. For example, when used as a substrate for this information recording medium, a recording layer using magnetism, light, magneto-magnetism, etc. is formed on a glass substrate to form an information recording medium, typically used for a hard disk drive. There is a magnetic disk to be played. In recent years, the magnetic disk used in this hard disk drive has been required to reduce the flying height of the magnetic head in order to improve the recording density, and has an excellent surface smoothness instead of the conventional aluminum substrate. In particular, glass substrates are often used because of the small number of defects.

このような種々の用途に利用されるガラス基板は、熱処理工程を経て製造されることが多い。このガラス基板に所定の熱処理を施す熱処理工程では、ガラス基板を加熱炉内に搬送し、そして、熱処理中にガラス基板を支えるために、ガラス基板熱処理用セッタが一般に用いられる。このガラス基板熱処理用セッタは、一般的には、熱処理中に発生する反りを抑制するために、熱処理に応じた熱膨張および熱収縮の少ない耐熱性材料から成り、平坦かつ平滑な載置面を備えた板状体である。熱処理が施されるガラス基板は、このガラス基板熱処理用セッタの載置面上に載置され、加熱炉内へ搬送され、加熱処理される。   Glass substrates used for such various applications are often manufactured through a heat treatment process. In the heat treatment step of applying a predetermined heat treatment to the glass substrate, a glass substrate heat treatment setter is generally used to transport the glass substrate into a heating furnace and support the glass substrate during the heat treatment. This setter for heat treatment of a glass substrate is generally made of a heat-resistant material with little thermal expansion and contraction in accordance with the heat treatment in order to suppress warpage occurring during the heat treatment, and has a flat and smooth mounting surface. A plate-shaped body provided. The glass substrate to be heat-treated is placed on the placement surface of the setter for heat-treating glass substrate, conveyed into a heating furnace, and heat-treated.

このようなガラス基板熱処理用セッタは、例えば、特許文献1に開示されている。この特許文献1に開示のガラス基板熱処理用セッタは、ガラス基板を表面に載置した状態で搬送手段により加熱炉に送給される矩形平板状のガラス基板熱処理用セッタであって、側縁における端部の該側縁に沿う方向と直交する縦断面の輪郭形状が、相互に平行な表面および裏面のそれぞれの始端位置を境界として、それらの始端位置からそれぞれ外方側に移行するに連れて肉厚方向中央部に漸次近づく直線から成る漸近線と、それらの漸近線の外方向の端部に連なる凸状湾曲線とからなり、上記表面および裏面と各漸近線との成す角度θが10〜30゜であるとともに、各漸近線の外方側の端部に凸状湾曲線が滑らかに連なり、かつ各漸近線の長さが凸状湾曲線の長さよりも長尺であるものである。このようなガラス基板熱処理用セッタは、特許文献1によれば、ガラス基板を載置させるセッタの端部が、このセッタを加熱炉に導くための搬送手段に当接あるいは衝突することに起因して、セッタの端部に欠けや割れが発生するという不具合を可及的に抑制することができる。   Such a glass substrate heat treatment setter is disclosed in, for example, Patent Document 1. The setter for heat treatment of a glass substrate disclosed in Patent Document 1 is a setter for heat treatment of a rectangular flat glass substrate that is fed to a heating furnace by a conveying means in a state where the glass substrate is placed on the surface, As the contour shape of the longitudinal cross section perpendicular to the direction along the side edge of the end portion moves from the start end position to the outer side, respectively, with the start end positions of the front and back surfaces parallel to each other as boundaries. It consists of asymptotic lines consisting of straight lines that gradually approach the central portion in the thickness direction, and convex curved lines that continue to the outer ends of these asymptotic lines, and the angle θ between the front and back surfaces and each asymptotic line is 10 It is ˜30 °, and the convex curve line is smoothly connected to the outer end of each asymptotic line, and the length of each asymptotic line is longer than the length of the convex curve line. . According to Patent Document 1, such a setter for heat treatment of a glass substrate is caused by the end of the setter on which the glass substrate is placed abutting or colliding with a conveying means for guiding the setter to a heating furnace. Thus, it is possible to suppress as much as possible the problem of chipping or cracking at the end of the setter.

特許第4399720号公報Japanese Patent No. 4399720

ところで、例えば、ハードディスクドライブのような情報記録媒体の記録面から記録ヘッドを浮上させて前記記録層に対しデータを読み書きする記録ヘッド浮上型の情報記録装置では、前記情報記録媒体の記録層と前記浮上させた記録ヘッドとの間における例えばヘッドクラッシュならびにデータの書き込みエラーおよび読み取りエラー等の不具合を避けるために、前記記録層の表面における平滑性や低表面欠陥性が求められ、その結果、前記記録面を形成する情報記録媒体用ガラス基板もその平滑性の向上やその表面欠陥の低減が求められている。   By the way, for example, in a recording head floating type information recording apparatus that floats a recording head from the recording surface of an information recording medium such as a hard disk drive and reads / writes data to / from the recording layer, the recording layer of the information recording medium and the recording layer In order to avoid defects such as head crashes and data write errors and read errors with the levitated recording head, smoothness and low surface defect on the surface of the recording layer are required, and as a result, the recording A glass substrate for an information recording medium that forms a surface is also required to have improved smoothness and reduced surface defects.

特に、ハードディスクドライブの場合では、近年では、その記録密度の向上を図るため、磁気ヘッドと磁気記録層の表面との間の浮上量は、例えば数nm〜十数nm程度の極めて短い間隔が要請されており、このため、情報記録媒体用ガラス基板もこれに対応可能な高度な平滑性や低表面欠陥性が要求されている。   In particular, in the case of hard disk drives, in recent years, in order to improve the recording density, the flying height between the magnetic head and the surface of the magnetic recording layer is required to be an extremely short interval of, for example, several nm to several tens of nm. For this reason, the glass substrate for information recording media is also required to have high smoothness and low surface defect that can cope with it.

本発明は、上述の事情に鑑みて為された発明であり、その目的は、より平滑性の向上および表面欠陥の低減を図ることができるガラス板熱処理用セッタおよびこれを用いた情報記録媒体用ガラス基板の製造方法を提供することである。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and its object is to provide a setter for heat treatment of a glass plate capable of further improving smoothness and reducing surface defects, and an information recording medium using the setter. It is providing the manufacturing method of a glass substrate.

本発明者は、種々の調査および検討した結果、情報記録媒体用ガラス基板の製造工程において、比較的初期の段階で実施される熱処理工程(アニール)に使用されるガラス基板熱処理用セッタの表面粗さが最終的に得られる情報記録媒体用ガラス基板における表面欠陥の原因となることを突き止め、上記目的は、以下の本発明により達成されることを見出した。すなわち、本発明の一態様にかかるガラス板熱処理用セッタは、処理対象のガラス板と前記ガラス板を載置したガラス板熱処理用セッタとを積層した一対の積層対体を複数さらに積層した積層体を形成し、前記積層体の状態で所定の熱処理を行うように用いられる前記ガラス板熱処理用セッタであって、平行で互いに対向する上表面および下表面と前記上表面から前記下表面に至る端面とを備える板状体であり、前記端面の表面粗さは、前記上表面の表面粗さおよび前記下表面の表面粗さよりも小さいことを特徴とする。   As a result of various investigations and examinations, the present inventor has found that the surface roughness of the setter for glass substrate heat treatment used in the heat treatment step (annealing) performed at a relatively early stage in the manufacturing process of the glass substrate for information recording medium. Was found to be the cause of surface defects in the finally obtained glass substrate for information recording media, and the above object was found to be achieved by the present invention described below. That is, the setter for glass plate heat treatment according to one aspect of the present invention is a laminate in which a plurality of pairs of laminates in which a glass plate to be treated and a setter for glass plate heat treatment on which the glass plate is placed are further laminated. The glass plate heat treatment setter used to perform a predetermined heat treatment in the state of the laminated body, wherein the upper surface and the lower surface that are parallel to each other and the end surface that extends from the upper surface to the lower surface The surface roughness of the end surface is smaller than the surface roughness of the upper surface and the surface roughness of the lower surface.

このような構成のガラス板熱処理用セッタでは、積層体を形成する際にガラス板とガラス板熱処理用セッタとが接触した場合や、熱処理後に前記積層体からガラス板とガラス板熱処理用セッタとを分別する際にガラス板とガラス板熱処理用セッタとが接触した場合に、ガラス板熱処理用セッタの端面におけるその表面粗さが上下表面の表面粗さよりも小さいので、ガラス板熱処理用セッタがガラス板に欠陥を生じさせることがより低減され、また接触に伴うガラス板の欠け屑やガラス板熱処理用セッタの欠け屑の発生も低減される。このため、このような構成のガラス板熱処理用セッタは、ガラス板から生成される所定のガラス基板、例えば情報記録媒体用ガラス基板に対し、より平滑性の向上および表面欠陥の低減を図ることができる。   In the glass plate heat treatment setter having such a configuration, when the glass plate and the glass plate heat treatment setter are in contact with each other when forming the laminate, or after the heat treatment, the glass plate and the glass plate heat treatment setter are removed from the laminate. When the glass plate and the setter for heat treatment of glass plate come into contact with each other, the surface roughness of the end surface of the setter for heat treatment of glass plate is smaller than the surface roughness of the upper and lower surfaces. Further, the occurrence of defects in the glass plate is reduced, and the generation of chipping on the glass plate and the setter for heat treatment of the glass plate due to contact is also reduced. For this reason, the setter for heat treatment of a glass plate having such a configuration can improve smoothness and reduce surface defects with respect to a predetermined glass substrate generated from the glass plate, for example, a glass substrate for information recording media. it can.

また、他の一態様では、上述のガラス板熱処理用セッタにおいて、前記端面の表面粗さのRa値は、0.005μm≦Ra≦0.4μmであることを特徴とする。   According to another aspect, in the setter for glass plate heat treatment described above, the Ra value of the surface roughness of the end face is 0.005 μm ≦ Ra ≦ 0.4 μm.

このような構成のガラス板熱処理用セッタは、後述の実施例から明らかなように、ガラス板から生成される所定のガラス基板に対し、より平滑性の向上および表面欠陥の低減を図ることができる。   The glass plate heat-treating setter having such a configuration can improve the smoothness and reduce the surface defects with respect to a predetermined glass substrate generated from the glass plate, as will be apparent from examples described later. .

また、他の一態様では、これら上述のガラス板熱処理用セッタにおいて、前記上表面、前記端面および前記下表面は、前記上表面の法線方向を含む縦断面の輪郭線が常に微分係数を持つように連続して連なっていることを特徴とする。   According to another aspect, in the above-described setter for glass plate heat treatment, the upper surface, the end surface, and the lower surface always have a differential line with a contour line of a longitudinal section including a normal direction of the upper surface. It is characterized by being continuously connected.

このような構成のガラス板熱処理用セッタは、輪郭線に微分係数の存在しない特異点がなく、その表面にいわゆる角がないので、ガラス板から生成される所定のガラス基板に対し、より平滑性の向上および表面欠陥の低減を図ることができる。   The setter for glass plate heat treatment having such a configuration has no singular point having a differential coefficient in the contour line and has no so-called corner on the surface thereof, so that it is more smooth than a predetermined glass substrate generated from the glass plate. Can be improved and surface defects can be reduced.

また、他の一態様では、これら上述のガラス板熱処理用セッタにおいて、前記端面は、前記上表面から前記下表面に至る厚さをtとした場合に0.15t≦R≦0.5tであるR面取りで形成されていることを特徴とする。   According to another aspect, in the setter for glass plate heat treatment described above, the end surface satisfies 0.15 t ≦ R ≦ 0.5 t, where t is the thickness from the upper surface to the lower surface. It is formed by R chamfering.

このような構成のガラス板熱処理用セッタは、後述の実施例から明らかなように、ガラス板から生成される所定のガラス基板に対し、より平滑性の向上および表面欠陥の低減を図ることができる。   The glass plate heat-treating setter having such a configuration can improve the smoothness and reduce the surface defects with respect to a predetermined glass substrate generated from the glass plate, as will be apparent from examples described later. .

また、他の一態様にかかる、処理対象の複数のガラス板に所定の熱処理を行う熱処理工程を少なくとも備え、情報記録媒体用ガラス基板を製造する情報記録媒体用ガラス基板の製造方法において、前記熱処理工程は、前記複数のガラス板と、前記ガラス板を載置するための複数のガラス板熱処理用セッタとを、前記ガラス板熱処理用セッタを最下層として、交互に積層して積層体を形成する交互積層工程と、前記積層体を加熱する加熱工程と、前記加熱工程後の前記積層体から、前記複数のガラス板と、前記複数のガラス板熱処理用セッタとにそれぞれ分別する積層分別工程とを備え、前記ガラス板熱処理用セッタは、上述のいずれかのガラス板熱処理用セッタであることを特徴とする。   Moreover, in the manufacturing method of the glass substrate for information recording media which comprises at least the heat processing process which performs predetermined heat processing to the several glass plate of the process target concerning other one aspect | mode, the said heat processing in the manufacturing method of the glass substrate for information recording media. The step forms a laminate by alternately laminating the plurality of glass plates and a plurality of glass plate heat treatment setters for placing the glass plates, with the glass plate heat treatment setter as the bottom layer. An alternating lamination step, a heating step for heating the laminate, and a lamination separation step for separating the plurality of glass plates and the plurality of glass plate heat treatment setters from the laminate after the heating step, respectively. The glass plate heat treatment setter is any one of the glass plate heat treatment setters described above.

このような構成の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法は、熱処理工程に上述のいずれかのガラス板熱処理用セッタを用いるので、ガラス板熱処理用セッタがガラス板に欠陥を生じさせることがより低減され、また接触に伴うガラス板の欠け屑やガラス板熱処理用セッタの欠け屑の発生も低減される。このため、このような構成の情報記録媒体用ガラス基板の製造方法は、ガラス板から生成される所定のガラス基板、例えば情報記録媒体用ガラス基板に対し、より平滑性の向上および表面欠陥の低減を図ることができる。   Since the manufacturing method of the glass substrate for information recording media having such a configuration uses any of the above-described glass plate heat treatment setters in the heat treatment step, it is further reduced that the glass plate heat treatment setter causes defects in the glass plate. In addition, the generation of chipping on the glass plate and chipping on the setter for heat treatment of the glass plate due to the contact is reduced. For this reason, the manufacturing method of the glass substrate for information recording media having such a configuration improves the smoothness and reduces surface defects with respect to a predetermined glass substrate generated from a glass plate, for example, a glass substrate for information recording media. Can be achieved.

本発明にかかるガラス板熱処理用セッタおよびこれを用いた情報記録媒体用ガラス基板の製造方法は、ガラス板から生成される情報記録媒体用ガラス基板に対し、より平滑性の向上および表面欠陥の低減を図ることができる。   The setter for heat treatment of a glass plate and a method for producing a glass substrate for an information recording medium using the same according to the present invention are improved in smoothness and reduced in surface defects with respect to a glass substrate for an information recording medium produced from a glass plate. Can be achieved.

実施形態におけるガラス板熱処理用セッタを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the setter for glass plate heat processing in embodiment. 実施形態のガラス板熱処理用セッタを用いた熱処理工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the heat processing process using the setter for glass plate heat processing of embodiment. 本実施形態におけるセッタを用いた情報記録媒体用ガラス基板の製造方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the manufacturing method of the glass substrate for information recording media using the setter in this embodiment. 実施形態の情報記録媒体用ガラス基板を用いた磁気記録媒体の一例である磁気ディスクを示す一部断面斜視図である。It is a partial cross section perspective view showing a magnetic disk which is an example of a magnetic recording medium using the glass substrate for information recording media of an embodiment. 第1なしい第5実施例における各セッタの断面形状を示す図である。It is a figure which shows the cross-sectional shape of each setter in 1st new 5th Example.

以下、本発明にかかる実施の一形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、適宜、その説明を省略する。   Hereinafter, an embodiment according to the present invention will be described with reference to the drawings. In addition, the structure which attached | subjected the same code | symbol in each figure shows that it is the same structure, The description is abbreviate | omitted suitably.

(実施形態)
図1は、実施形態におけるガラス板熱処理用セッタを説明するための図である。図1(A)は、実施形態のガラス板熱処理用セッタを示す断面図および端部を拡大した拡大断面図であり、図1(B)は、比較のための端部の拡大断面図である。図2は、実施形態のガラス板熱処理用セッタを用いた熱処理工程を説明するための図である。
(Embodiment)
Drawing 1 is a figure for explaining a setter for glass plate heat treatment in an embodiment. FIG. 1A is a cross-sectional view showing a setter for heat treatment of a glass plate according to an embodiment and an enlarged cross-sectional view in which an end is enlarged, and FIG. 1B is an enlarged cross-sectional view of an end for comparison. . Drawing 2 is a figure for explaining the heat treatment process using the setter for glass plate heat treatment of an embodiment.

本実施形態におけるガラス板熱処理用セッタSTは、処理対象のガラス板に所定の熱処理を施す場合に、前記ガラス板を炉内へ搬入して前記炉内で前記ガラス板を加熱した後に前記炉外へ前記ガラス板を搬出する際に、前記ガラス板を支えるために用いられるものである。   In the present embodiment, the setter ST for heat treatment of a glass plate, when subjecting a glass plate to be treated to a predetermined heat treatment, carries the glass plate into a furnace and heats the glass plate in the furnace. It is used to support the glass plate when unloading the glass plate.

このようなガラス板熱処理用セッタSTは、図1(A)に示すように、所定の厚さおよび所定の形状を有し、互いに対向する上表面SFaおよび下表面SFbと、上表面SFaから下表面SFbに至る端面EDとを備える板状体である。上表面SFaと下表面SFbとは、互いに平行である。すなわち、端面EDは、上表面SFaが下表面FSbと非平行となっている上表面SFaの周縁部から始まり、下表面SFbが上表面FSaと非平行となっている下表面SFbの周縁部で終わる。前記所定の厚さおよび前記所定の形状は、本ガラス板熱処理用セッタSTが前記処理対象のガラス板を支えることから、この目的に適した任意の厚さおよび任意の形状でよい。前記所定の形状は、例えば、好ましくは、平面視における前記ガラス板の形状と相似形であって前記ガラス板よりやや大きい形状である。本実施形態では、ガラス板は、情報記録媒体用ガラス基板へ加工されることから、平面視において円板形状であり、このため、本実施形態のガラス板熱処理用セッタSTの前記所定の形状は、平面視において、これよりやや大径の円板形状である。前記上表面SFaおよび下表面SFbの一方または両方は、ガラス板を載置するための載置面であり、平坦かつ所定の表面粗さで形成されている。   Such a glass plate heat treatment setter ST has a predetermined thickness and a predetermined shape as shown in FIG. 1 (A), and an upper surface SFa and a lower surface SFb facing each other, and a lower surface from the upper surface SFa. It is a plate-shaped body provided with end surface ED which reaches surface SFb. The upper surface SFa and the lower surface SFb are parallel to each other. That is, the end surface ED starts from the peripheral portion of the upper surface SFa where the upper surface SFa is not parallel to the lower surface FSb, and is the peripheral portion of the lower surface SFb where the lower surface SFb is not parallel to the upper surface FSa. End. The predetermined thickness and the predetermined shape may be any thickness and arbitrary shape suitable for this purpose because the setter ST for heat treatment of the glass plate supports the glass plate to be processed. The predetermined shape is, for example, preferably a shape similar to the shape of the glass plate in plan view and slightly larger than the glass plate. In the present embodiment, the glass plate is processed into a glass substrate for an information recording medium, and thus has a disk shape in plan view. Therefore, the predetermined shape of the setter ST for heat treatment of a glass plate of the present embodiment is In plan view, it has a slightly larger disk shape. One or both of the upper surface SFa and the lower surface SFb is a mounting surface on which a glass plate is mounted, and is flat and has a predetermined surface roughness.

そして、ガラス板熱処理用セッタSTは、熱処理に用いられることから、熱処理に応じて熱膨張および熱収縮の少ない耐熱性材料(例えば、アルミナ系のセラミックスやパイレックス(登録商標)等の耐熱ガラス等)で形成される。   And since the setter ST for glass plate heat treatment is used for heat treatment, a heat-resistant material with little thermal expansion and contraction according to the heat treatment (for example, heat-resistant glass such as alumina-based ceramics or Pyrex (registered trademark)). Formed with.

ここで、本実施形態のガラス板熱処理用セッタSTは、端面EDの表面粗さは、上表面SFaの表面粗さおよび下表面SFbの表面粗さよりも小さくされている。すなわち、本実施形態のガラス板熱処理用セッタSTにおける端面EDは、図1(B)のように、上表面SFaおよび下表面SFbよりも粗いものではなく、図1(A)に示すように、上表面SFaおよび下表面SFbよりも滑らかなものとなっている。表面粗さは、例えば、JIS B 0601に規定された算術平均粗さであるRa値で表される。このような本実施形態のガラス板熱処理用セッタSTにおける端面EDは、上表面SFaの表面粗さおよび下表面SFbの表面粗さよりも小さくなるように、公知の常套手段を用いて研磨することによって形成することができる。   Here, in the setter ST for heat treatment of a glass plate of the present embodiment, the surface roughness of the end surface ED is smaller than the surface roughness of the upper surface SFa and the surface roughness of the lower surface SFb. That is, the end surface ED in the setter ST for heat treatment of a glass plate of the present embodiment is not rougher than the upper surface SFa and the lower surface SFb as shown in FIG. 1 (B), and as shown in FIG. It is smoother than the upper surface SFa and the lower surface SFb. The surface roughness is represented by, for example, an Ra value that is an arithmetic average roughness defined in JIS B 0601. The end surface ED in the setter ST for heat treatment of glass plate according to this embodiment is polished by using known conventional means so as to be smaller than the surface roughness of the upper surface SFa and the surface roughness of the lower surface SFb. Can be formed.

そして、処理対象の複数のガラス板に所定の熱処理を行う所定の熱処理工程において、本実施形態のガラス板熱処理用セッタSTは、例えば、図2に示すように用いられる。   Then, in a predetermined heat treatment step of performing a predetermined heat treatment on a plurality of glass plates to be processed, the setter ST for glass plate heat treatment of the present embodiment is used as shown in FIG. 2, for example.

熱処理工程の前に実施される所定の前工程から引き継ぐ図2に示す熱処理工程では、まず、交互積層工程が行われ、次に、加熱工程が行われ、次に、積層分別工程が行われる。そして、この熱処理工程が終了すると、熱処理工程の後に実施される所定の後処理工程へ引き継がれる。   In the heat treatment step shown in FIG. 2 inherited from a predetermined previous step performed before the heat treatment step, first, an alternate lamination step is performed, then a heating step is performed, and then a lamination separation step is performed. And when this heat treatment process is completed, it is taken over to a predetermined post-treatment process performed after the heat treatment process.

前記交互積層工程は、処理対象の複数のガラス板Gと、ガラス板Gを載置するための複数のガラス板熱処理用セッタSTとを、ガラス板熱処理用セッタSTを最下層として、交互に積層して積層体LSを形成するものである。このガラス板Gは、情報記録媒体用ガラス基板を製造する場合には、情報記録媒体用ガラス基板として加工が施されていないガラスであり、ブランク材と呼ばれるものである。   In the alternate lamination process, a plurality of glass plates G to be processed and a plurality of glass plate heat treatment setters ST for placing the glass plates G are alternately laminated with the glass plate heat treatment setter ST as the lowermost layer. Thus, the laminated body LS is formed. When manufacturing the glass substrate for information recording media, this glass plate G is glass which is not processed as a glass substrate for information recording media, and is called a blank material.

より具体的には、図2の左側に示すように、予め複数のガラス板(ブランク材)Gを重ねたガラス板スタックが用意されるとともに、予め複数のガラス板熱処理用セッタSTを重ねたガラス板熱処理用セッタスタックが用意される。次に、最初にガラス板熱処理用セッタスタックから1枚のガラス板熱処理用セッタSTがロボットアームRAによって取り上げられ、所定の位置に配置される。ロボットアームRAは、ガラス板熱処理用センタSTおよびガラス板Gを取り上げ、移動し、そして、離すことができるように構成されている。ロボットアームRAは、例えば、先端を移動可能なリンク機構と、前記先端に取り付けられた、ワーク(ここではガラス板熱処理用センタSTおよびガラス板G)に吸引力を作用させることで前記ワークを着脱することができるワーク着脱部とを備えて構成される。前記吸引力は、例えば、ポンプ等で空気を引くことによって生成することができる。次に、ガラス板スタックから1枚のガラス板GがロボットアームRAによって取り上げられ、前記所定の位置に配置されたガラス板熱処理用セッタST上に積層するように、配置される。次に、ガラス板熱処理用セッタスタックから次の1枚のガラス板熱処理用セッタSTがロボットアームRAによって取り上げられ、前記ガラス板熱処理用セッタST上に積層されたガラス板G上に積層するように、配置される。次に、同様に、ガラス板スタックから次の1枚のガラス板GがロボットアームRAによって取り上げられ、前記ガラス板G上に積層されたガラス板熱処理用セッタST上に積層するように、配置される。以下同様に、ガラス板熱処理用セッタSTとガラス板Gとが1枚ずつ交互に積まれ、所定枚数のガラス板Gを積み、ガラス板熱処理用セッタSTを最下層およびその間に挟み込んだ積層体LSが形成される。   More specifically, as shown on the left side of FIG. 2, a glass plate stack in which a plurality of glass plates (blank materials) G are previously stacked is prepared, and a plurality of glass plate heat treatment setters ST are previously stacked. A setter stack for plate heat treatment is prepared. Next, one glass plate heat treatment setter ST is first picked up from the glass plate heat treatment setter stack by the robot arm RA and placed at a predetermined position. The robot arm RA is configured to pick up, move, and release the glass plate heat treatment center ST and the glass plate G. The robot arm RA, for example, attaches and detaches the work by applying a suction force to the work (here, the glass plate heat treatment center ST and the glass plate G) attached to the tip and a link mechanism capable of moving the tip. And a workpiece attaching / detaching portion that can be configured. The suction force can be generated, for example, by drawing air with a pump or the like. Next, one glass plate G is picked up from the glass plate stack by the robot arm RA and arranged so as to be stacked on the glass plate heat treatment setter ST arranged at the predetermined position. Next, the next glass plate heat treatment setter ST is picked up by the robot arm RA from the glass plate heat treatment setter stack and laminated on the glass plate G laminated on the glass plate heat treatment setter ST. Placed. Next, similarly, the next one glass plate G is picked up from the glass plate stack by the robot arm RA and arranged so as to be laminated on the glass plate heat treatment setter ST laminated on the glass plate G. The Similarly, a laminate LS in which the setters ST for glass plate heat treatment and the glass plates G are alternately stacked one by one, a predetermined number of glass plates G are stacked, and the setter ST for glass plate heat treatment is sandwiched between the lowermost layer and the lower layer. Is formed.

前記加熱工程は、前記交互積層工程によって形成された積層体LSを加熱するものである。より具体的には、前記交互積層工程によって形成された積層体LSは、例えば、図2の中央に示すように、電気炉等の加熱炉内へ搬送され、次に、所定の時間、所定の温度で加熱され、そして、加熱が終わると、加熱炉から搬出される。例えば、情報記録媒体用ガラス基板を製造する場合では、加熱工程によって、熱処理工程の前工程であるプレス形成の際に生じた残存応力が開放され、反りが解消されるとともに、アモルファスガラスの結晶化が促進される。   The heating process heats the stacked body LS formed by the alternate stacking process. More specifically, for example, as shown in the center of FIG. 2, the stacked body LS formed by the alternate stacking step is transported into a heating furnace such as an electric furnace, and then, for a predetermined time, for a predetermined time. It is heated at the temperature, and when the heating is finished, it is taken out from the heating furnace. For example, in the case of manufacturing a glass substrate for information recording media, the heating process releases the residual stress generated during press forming, which is the previous process of the heat treatment process, eliminates warping, and crystallizes amorphous glass. Is promoted.

前記積層分別工程は、前記加熱工程後の積層体LSから、複数のガラス板Gと、複数のガラス板熱処理用セッタSTとにそれぞれ分別するものである。より具体的には、前記加熱炉から搬出された積層体LSは、図2の右側に示すように、ロボットアームRAによって上から順に一枚ずつ取り上げられ、ガラス板Gを取り上げた場合にはガラス板G用の所定の置き場に置かれるとともに、ガラス板熱処理用セッタSTを取り上げた場合にはガラス板熱処理用セッタ用の所定の置き場に置かれる。これによって、積層体LSが、複数のガラス板Gと、複数のガラス板熱処理用セッタSTとにそれぞれ分別される。   The lamination separation step separates the laminated body LS after the heating step into a plurality of glass plates G and a plurality of glass plate heat treatment setters ST. More specifically, as shown on the right side of FIG. 2, the laminate LS unloaded from the heating furnace is picked up one by one from the top by the robot arm RA. In addition to being placed in a predetermined place for the plate G, when the setter ST for heat-treating the glass plate is taken up, it is placed in a predetermined place for the setter for heat-treating the glass plate. Thereby, the stacked body LS is separated into a plurality of glass plates G and a plurality of glass plate heat treatment setters ST, respectively.

このような本実施形態のガラス板熱処理用セッタSTでは、例えば、図2の左側にP1で示すように、積層体LSを形成する際にガラス板Gとガラス板熱処理用セッタSTとが接触した場合や、図2の右側にP2で示すように、熱処理後に積層体LSからガラス板Gとガラス板熱処理用セッタSTとを分別する際にガラス板Gとガラス板熱処理用セッタSTとが接触した場合に、ガラス板熱処理用セッタSTの端面におけるその表面粗さが上下表面SFa、SFbの表面粗さよりも小さいので、ガラス板熱処理用セッタSTがガラス板Gに欠陥を生じさせることがより低減され、また接触に伴うガラス板Gの欠け屑やガラス板熱処理用セッタSTの欠け屑の発生も低減される。このため、このような構成のガラス板熱処理用セッタSTは、ガラス板Gから生成される最終的な所定のガラス基板、例えば情報記録媒体用ガラス基板に対し、より平滑性の向上および表面欠陥の低減を図ることができる。   In such a glass plate heat treatment setter ST of this embodiment, for example, as shown by P1 on the left side of FIG. 2, the glass plate G and the glass plate heat treatment setter ST are in contact with each other when the laminate LS is formed. In some cases, as indicated by P2 on the right side of FIG. 2, the glass plate G and the glass plate heat treatment setter ST are in contact with each other when the glass plate G and the glass plate heat treatment setter ST are separated from the laminate LS after the heat treatment. In this case, since the surface roughness of the end surface of the glass plate heat treatment setter ST is smaller than the surface roughness of the upper and lower surfaces SFa and SFb, the glass plate heat treatment setter ST is less likely to cause defects in the glass plate G. Moreover, the generation | occurrence | production of the chip of the glass plate G accompanying the contact and the chip of the setter ST for glass plate heat processing are also reduced. For this reason, the setter ST for heat treatment of a glass plate having such a configuration is improved in smoothness and surface defects with respect to a final predetermined glass substrate generated from the glass plate G, for example, a glass substrate for information recording media. Reduction can be achieved.

<情報記録媒体用ガラス基板の製造方法>
次に、本実施形態におけるセッタSTを用いた情報記録媒体用ガラス基板の製造方法について説明する。図3は、本実施形態におけるセッタを用いた情報記録媒体用ガラス基板の製造方法を示すフローチャートである。
<Method for producing glass substrate for information recording medium>
Next, the manufacturing method of the glass substrate for information recording media using setter ST in this embodiment is demonstrated. FIG. 3 is a flowchart showing a method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium using the setter in the present embodiment.

(ガラス溶融工程)
図3に示す情報記録媒体用ガラス基板の製造において、まず、ガラス素材を溶融するガラス溶融工程が行われる(S11)。情報記録媒体用ガラス基板の材料として、例えば、SiO、NaO、CaOを主成分とするソーダライムガラス、SiO、Al、R’O(R’は、K、Na、Liのうちから選択される1または複数の元素)を主成分とするアルミノシリケートガラスやボロシリケートガラス、LiO−SiO系ガラス、LiO−Al−SiO系ガラス、および、RO−Al−SiO系ガラス(Rは、Mg、Ca、Sr、Baのうちから選択される1つの元素)等が挙げられる。この中でも、特に、アルミノシリケートガラスやボロシリケートガラスは、耐衝撃性および耐振動性に優れるため、好ましい。
(Glass melting process)
In the production of the information recording medium glass substrate shown in FIG. 3, first, a glass melting step of melting a glass material is performed (S11). As the material of the glass substrate for information recording medium, for example, soda lime glass mainly composed of SiO 2 , Na 2 O, CaO, SiO 2 , Al 2 O 3 , R ′ 2 O (R ′ is K, Na, Aluminosilicate glass or borosilicate glass mainly composed of one or more elements selected from Li), Li 2 O—SiO 2 glass, Li 2 O—Al 2 O 3 —SiO 2 glass, and , RO—Al 2 O 3 —SiO 2 glass (R is one element selected from Mg, Ca, Sr, and Ba). Among these, aluminosilicate glass and borosilicate glass are particularly preferable because they are excellent in impact resistance and vibration resistance.

(成型工程)
次に、ガラス溶融工程で溶融したガラス素材から所定のガラス板G(ブランク材B)を成型する成型工程が行われる(S12)。この成型工程では、まず、ガラス溶融工程で溶融したガラスが下型に流し込まれ、次に、これが上型によってプレス成形される。これによって例えば円板状のブランク材Bが得られる。なお、この円板状のブランク材Bは、プレス成形によらず、例えばダウンドロー法やフロート法で形成されたシートガラスを研削砥石で切り出すことによって作製されてもよい。ブランク材Bの大きさは、所望の寸法(サイズ)であってよく、特に限定されない。ブランク材Bは、例えば、外径が2.5インチ、1.8インチ、1インチおよび0.8インチ等の種々の大きさであってよい。また、ブランク材Bの厚さも、所望の寸法であってよく、特に限定されない。ブランク材Bは、例えば、2mm、1mm、0.63mm等の種々の厚さであってよい。
(Molding process)
Next, the shaping | molding process which shape | molds the predetermined | prescribed glass plate G (blank material B) from the glass raw material fuse | melted at the glass melting process is performed (S12). In this molding step, first, the glass melted in the glass melting step is poured into the lower die, and then this is press-molded by the upper die. Thereby, for example, a disc-shaped blank material B is obtained. In addition, this disc-shaped blank B may be produced by cutting out a sheet glass formed by, for example, a downdraw method or a float method with a grinding stone, without using press molding. The magnitude | size of the blank material B may be a desired dimension (size), and is not specifically limited. The blank material B may have various sizes such as, for example, an outer diameter of 2.5 inches, 1.8 inches, 1 inch, and 0.8 inches. Moreover, the thickness of the blank material B may also be a desired dimension, and is not specifically limited. The blank material B may have various thicknesses such as 2 mm, 1 mm, and 0.63 mm.

(熱処理工程)
次に、成型工程で得られたブランク材Bを所定の温度で加熱する熱処理工程が行われる(S13)。この熱処理工程では、複数のブランク材(プレスガラス基板や切り出しガラス基板)Bと本実施形態の複数のセッタSTとが1枚ずつ交互に積層され、この交互に積層された積層体LSが高温電気炉内へ搬送され、そして、高温電気炉内を通過させられる。これによってブランク材Bの反りが解消されるとともにブランク材Bのガラス結晶化が促進され、ガラス基板GSが生成される。
(Heat treatment process)
Next, a heat treatment step for heating the blank material B obtained in the molding step at a predetermined temperature is performed (S13). In this heat treatment step, a plurality of blank materials (press glass substrate or cut glass substrate) B and a plurality of setters ST of the present embodiment are alternately laminated one by one, and this alternately laminated laminate LS is heated at high temperature. It is transported into the furnace and passed through a high temperature electric furnace. Thereby, the warp of the blank material B is eliminated, and the glass crystallization of the blank material B is promoted, and the glass substrate GS is generated.

(第1ラッピング工程)
次に、熱処理工程で熱処理されたガラス基板GSを研磨加工する第1ラッピング工程が行われる(S14)。この第1ラッピング工程では、ガラス基板GSの両表面(上面および下面)が研磨加工される。これによってガラス基板GSの平行度、平坦度および厚みが予備調整される。
(First lapping process)
Next, the 1st lapping process which polishes the glass substrate GS heat-processed at the heat processing process is performed (S14). In the first lapping step, both surfaces (upper surface and lower surface) of the glass substrate GS are polished. This preliminarily adjusts the parallelism, flatness and thickness of the glass substrate GS.

(コアリング加工工程)
次に、情報記録媒体用ガラス基板を作成するために、第1ラッピング工程を経たガラス基板GSに貫通孔を開けるコアリング加工工程が行われる(S15)。このコアリング加工工程では、第1ラッピング工程後のガラス基板GSにおける中心部に例えばコアドリル等で研削することによって貫通孔(穴)が開けられる。このコアドリルは、カッター部にダイヤモンド砥石等を備えた工具である。
(Coring process)
Next, in order to create a glass substrate for an information recording medium, a coring process step of opening a through hole in the glass substrate GS that has undergone the first lapping step is performed (S15). In this coring process, a through hole (hole) is formed by grinding, for example, with a core drill or the like at the center of the glass substrate GS after the first lapping process. This core drill is a tool provided with a diamond grindstone or the like in a cutter portion.

(内外径加工工程)
次に、コアリング加工されたガラス基板の内径および外径を加工する内外径加工工程が行われる(S16)。この内外径加工工程では、ガラス基板GSの外周端面およびコアリング加工で開口された貫通孔の内周端面を例えば鼓状のダイヤモンド等の研削砥石で研削することによって内径および外径が加工される。これによって内径(内直径)および外径(外直径)が所定の寸法に調整される。
(Inner / outer diameter machining process)
Next, an inner / outer diameter processing step for processing the inner and outer diameters of the coring-processed glass substrate is performed (S16). In this inner and outer diameter processing step, the inner and outer diameters are processed by grinding the outer peripheral end surface of the glass substrate GS and the inner peripheral end surface of the through hole opened by coring with a grinding wheel such as a drum-shaped diamond. . Accordingly, the inner diameter (inner diameter) and the outer diameter (outer diameter) are adjusted to predetermined dimensions.

(第2ラッピング工程)
次に、内外径加工されたガラス基板GSを更に研磨加工する第2ラッピング工程が行われる(S17)。この第2ラッピング工程では、ガラス基板GSの両表面が再び研磨加工される。これによってガラス基板GSの平行度、平坦度および厚みが所定の寸法に微調整される。
(Second wrapping process)
Next, a second lapping process for further polishing the glass substrate GS having the inner and outer diameters processed is performed (S17). In the second lapping step, both surfaces of the glass substrate GS are polished again. Thereby, the parallelism, flatness and thickness of the glass substrate GS are finely adjusted to predetermined dimensions.

第1および第2ラッピング工程において、ガラス基板GSの表裏の表面を研磨する研磨機は、例えば遊星歯車機構を利用した両面研磨機と呼ばれる公知の研磨機を使用することができる。この両面研磨機は、互いに平行になるように上下に配置された円盤状の上定盤および下定盤を備えており、互いに逆方向に回転する。この上定盤および下定盤における互いに対向する各対向面には、ガラス基板GSの主表面を研磨するための複数のダイヤモンドペレットが貼り付けられている。上定盤と下定盤との間には、下定盤の外周に円環状に設けてあるインターナルギアと下定盤の回転軸の周囲に設けてあるサンギアとに結合して回転する複数のキャリアがある。このキャリアには、複数の穴が設けてあり、複数のガラス基板GSがこれら複数の穴にそれぞれ嵌め込まれて配置される。上定盤、下定盤、インターナルギアおよびサンギアは、それぞれ、別駆動で動作することができる。   In the first and second lapping processes, a known polishing machine called a double-side polishing machine using a planetary gear mechanism can be used as a polishing machine that polishes the front and back surfaces of the glass substrate GS. This double-side polishing machine includes a disk-shaped upper surface plate and a lower surface plate that are arranged vertically so as to be parallel to each other, and rotate in opposite directions. A plurality of diamond pellets for polishing the main surface of the glass substrate GS are attached to the opposing surfaces of the upper and lower surface plates facing each other. Between the upper surface plate and the lower surface plate, there are a plurality of carriers that rotate in combination with an internal gear provided in an annular shape on the outer periphery of the lower surface plate and a sun gear provided around the rotation axis of the lower surface plate. . The carrier is provided with a plurality of holes, and a plurality of glass substrates GS are respectively fitted into the plurality of holes. Each of the upper surface plate, the lower surface plate, the internal gear, and the sun gear can be operated by separate driving.

研磨機の研磨動作では、上定盤および下定盤がそれぞれ互いに逆方向に回転し、ダイヤモンドペレットを介して上定盤および下定盤間に挟まれているキャリアは、複数のガラス基板GSを保持した状態で、自転しながら上定盤および下定盤の回転中心に対して下定盤と同じ方向に公転する。このように動作している研磨機において、研削液を上定盤とガラス基板GSとの間および下定盤とガラス基板GSとの間にそれぞれ供給することによってガラス基板GSの研磨が行われる。   In the polishing operation of the polishing machine, the upper surface plate and the lower surface plate rotate in opposite directions, and the carrier sandwiched between the upper surface plate and the lower surface plate via the diamond pellets holds a plurality of glass substrates GS. In this state, it revolves in the same direction as the lower surface plate with respect to the rotation center of the upper surface plate and lower surface plate while rotating. In the polishing machine operating in this way, the glass substrate GS is polished by supplying the grinding liquid between the upper surface plate and the glass substrate GS and between the lower surface plate and the glass substrate GS, respectively.

この両面研磨機を使用する際、ガラス基板GSに加わる上下定盤による加重および上下定盤の各回転数が所望の研磨状態に応じて適宜に調整される。第1および第2ラッピング工程における加重は、好ましくは60g/cmから120g/cmである。また、上下定盤の各回転数は、10rpmから30rpm程度とされ、上定盤の回転数は、好ましくは、下定盤の回転数より30%から40%程度遅くされる。上下定盤による加重を大きくし、上下定盤の回転数を速くすることによって、研磨量は、多くなるが、加重を大きくし過ぎると面粗さが良好とならず、また、回転数が速過ぎると平坦度が良好とならない。また、加重が小さく上下定盤の回転数が遅いと研磨量が少なく製造効率が低くなる。 When using this double-side polishing machine, the weight applied by the upper and lower surface plates applied to the glass substrate GS and the number of rotations of the upper and lower surface plates are appropriately adjusted according to the desired polishing state. The weight in the first and second lapping steps is preferably 60 g / cm 2 to 120 g / cm 2 . Further, the number of rotations of the upper and lower surface plates is set to about 10 to 30 rpm, and the number of rotations of the upper surface plate is preferably made 30 to 40% slower than the number of rotations of the lower surface plate. By increasing the load on the upper and lower surface plates and increasing the rotational speed of the upper and lower surface plates, the polishing amount increases, but if the load is increased too much, the surface roughness will not be good and the rotational speed will be high. If it passes, flatness will not become favorable. Further, when the load is small and the rotation speed of the upper and lower surface plates is slow, the polishing amount is small and the production efficiency is lowered.

第2ラッピング工程を終えた時点で、大きなうねり、欠けおよびひび等の欠陥は、除去され、ガラス基板GSの主表面の面粗さは、好ましくは、Ra値が0.2μmから0.4μm程度であり、主表面の平坦度は、好ましくは、7〜10μmである。このような面状態にしておくことによって、次の第1ポリッシング工程での研磨を効率よく行うことができる。   When the second lapping process is completed, defects such as large undulations, chips and cracks are removed, and the surface roughness of the main surface of the glass substrate GS is preferably about 0.2 μm to 0.4 μm in Ra value. The flatness of the main surface is preferably 7 to 10 μm. By maintaining such a surface state, it is possible to efficiently perform polishing in the next first polishing step.

ここで、本願における表面粗さは、原子間力顕微鏡(デジタルインスツルメンツ社製ナノスコープ)を用いて、1μm×1μmの範囲を測定した値である。また、本願における平坦度は、平坦度測定装置で測定した値であり、ガラス基板GSの表面の最も高い位置と最も低い位置との高低差(PV値)である。   Here, the surface roughness in this application is the value which measured the range of 1 micrometer x 1 micrometer using the atomic force microscope (Digital Instruments company nanoscope). The flatness in the present application is a value measured by a flatness measuring device, and is a difference in height (PV value) between the highest position and the lowest position on the surface of the glass substrate GS.

なお、第1ラッピング工程では、第2ラッピング工程を効率よく行うことができるように、大まかに大きなうねり、欠けおよびひびが除去される。このため、第1ラッピング工程で使用されるダイヤモンドペレットは、好ましくは、粗さ#1300メッシュから#1700メッシュより粗い#800メッシュから#1200メッシュ程度である。第1ラッピング工程が完了した時点での面粗さは、好ましくは、Ra値が0.4μmから0.8μm程度であり、主表面の平坦度は、好ましくは、10〜15μmである。   In the first lapping step, roughly large undulations, chips and cracks are removed so that the second lapping step can be performed efficiently. For this reason, the diamond pellet used in the first lapping step is preferably about # 800 mesh to # 1200 mesh, which is coarser than # 1300 mesh to # 1700 mesh. The surface roughness at the time when the first lapping step is completed preferably has an Ra value of about 0.4 μm to 0.8 μm, and the flatness of the main surface is preferably 10 to 15 μm.

また、第1ラッピング工程の後および第2ラッピング工程の後に、ガラス基板GSの表面に残った研磨剤やガラス粉を除去するために、洗浄工程を行うことが好ましい。   Moreover, it is preferable to perform a washing | cleaning process in order to remove the abrasive | polishing agent and glass powder which remained on the surface of the glass substrate GS after a 1st lapping process and a 2nd lapping process.

(端面研磨加工工程)
次に、第2ラッピング工程後のガラス基板GSにおける端面を研磨加工する端面研磨加工工程が行われる(S18)。この端面研磨加工工程では、第2ラッピング工程を終えたガラス基板GSにおける外周面および内周面が例えば端面研磨機で研磨加工される。
(End polishing process)
Next, an end surface polishing step for polishing the end surface of the glass substrate GS after the second lapping step is performed (S18). In this end surface polishing process, the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the glass substrate GS after the second lapping step are polished by, for example, an end surface polishing machine.

(第1ポリッシング工程)
次に、端面研磨加工工程を経たガラス基板GSに第1ポリッシング工程が行われる(S19)。この第1ポリッシング工程では、次の化学強化工程後に行われる第2ポリッシング工程で最終的に必要とされる面粗さを効率よく得ることができるように、面粗さを向上させるとともに最終的な形状を効率よく得ることができる研磨を行う。この第1ポリッシング工程における研磨では、ラッピング工程で使用されたダイヤモンドペレットおよび研削液に代えて、パッドと研磨液を使用することを除き、第1および2ラッピング工程で使用された研磨機と同一の構成の研磨機が使用される。
(First polishing process)
Next, a first polishing process is performed on the glass substrate GS that has undergone the end face polishing process (S19). In the first polishing step, the surface roughness is improved and the final surface roughness required in the second polishing step performed after the next chemical strengthening step can be efficiently obtained. Polishing is performed so that the shape can be obtained efficiently. The polishing in the first polishing process is the same as the polishing machine used in the first and second lapping processes except that a pad and a polishing liquid are used instead of the diamond pellets and the grinding liquid used in the lapping process. A construction grinder is used.

第1ポリッシング工程で用いられるパッドは、好ましくは、硬度Aで80から90程度の硬質パッドであり、例えば発泡ウレタンが使用される。パッドの硬度が研磨による発熱によって柔らかくなると研磨面の形状変化が大きくなるため、硬質パッドを用いることが好ましい。研磨材は、好ましくは、その粒径が0.6μmから2.5μmの酸化セリウムを、水に分散させてスラリー状にしたものである。この研磨材の水と研磨剤との混合比率は、好ましくは、概ね1:9から3:7程度である。   The pad used in the first polishing step is preferably a hard pad having a hardness A of about 80 to 90, and for example, urethane foam is used. Since the change in the shape of the polishing surface increases when the hardness of the pad becomes soft due to heat generated by polishing, it is preferable to use a hard pad. The abrasive is preferably a slurry obtained by dispersing cerium oxide having a particle size of 0.6 to 2.5 μm in water. The mixing ratio of water and abrasive in this abrasive is preferably about 1: 9 to 3: 7.

第1ポリッシング工程において、上下定盤によるガラス基板への加重は、好ましくは、90g/cmから110g/cmである。上下定盤によるガラス基板への加重は、外周端部の形状に大きく影響する。この加重を大きくしていくと、外周端部の内側が下がり外側に向かって上がる傾向を示す。また、この加重を小さくしていくと、外周端部は、平面に近くなるとともに面ダレが大きくなる傾向を示す。こうした傾向を観察しながら前記加重が決められる。 In the first polishing step, the weight applied to the glass substrate by the upper and lower surface plates is preferably 90 g / cm 2 to 110 g / cm 2 . The weight applied to the glass substrate by the upper and lower surface plates greatly affects the shape of the outer peripheral edge. When this weight is increased, the inner side of the outer peripheral end portion tends to decrease and increase toward the outer side. Moreover, when this weight is reduced, the outer peripheral end portion tends to become closer to a plane and the surface sagging increases. The weight is determined while observing such a tendency.

また、面粗さを向上させるために、好ましくは、上下定盤の回転数は、25rpmから50rpmであり、上定盤の回転数は、下定盤の回転数より30%から40%遅くされる。   Further, in order to improve the surface roughness, the rotation speed of the upper and lower surface plates is preferably 25 rpm to 50 rpm, and the rotation speed of the upper surface plate is made 30% to 40% slower than the rotation speed of the lower surface plate. .

上記研磨条件によって研磨量は、好ましくは、30μmから40μmである。30μm未満では、キズや欠陥を充分に除去することができず、好ましくない。また、40μmを超える場合では、面粗さをRmaxが2nmから60nm、Raが2nmから4nmの範囲とすることができるが、必要以上に研磨を行うことになり、製造効率が低下するため、好ましくない。   The polishing amount is preferably 30 to 40 μm depending on the polishing conditions. If it is less than 30 μm, scratches and defects cannot be sufficiently removed, which is not preferable. Further, in the case of exceeding 40 μm, the surface roughness can be in the range of Rmax from 2 nm to 60 nm and Ra from 2 nm to 4 nm. However, it is preferable because polishing is performed more than necessary and manufacturing efficiency is reduced. Absent.

(化学強化工程)
次に、第1ポリッシング工程を経たガラス基板GSに化学強化層を形成する化学強化工程が行われる(S20)。この化学強化工程では、第1ポリッシング工程後のガラス基板GSが化学強化液に浸漬される。これによってガラス基板GSの内周端面および外周端面に化学強化層が形成される。この内周端面および外周端面に化学強化層を形成することによって、耐衝撃性、耐振動性および耐熱性等が向上し、かつ、主表面の化学強化による反りや表面の粗面化が防止される。
(Chemical strengthening process)
Next, a chemical strengthening step for forming a chemically strengthened layer on the glass substrate GS that has undergone the first polishing step is performed (S20). In this chemical strengthening step, the glass substrate GS after the first polishing step is immersed in the chemical strengthening solution. Thereby, a chemically strengthened layer is formed on the inner peripheral end face and the outer peripheral end face of the glass substrate GS. By forming a chemically strengthened layer on the inner and outer peripheral end faces, impact resistance, vibration resistance, heat resistance, etc. are improved, and warpage and surface roughening due to chemical strengthening of the main surface are prevented. The

この化学強化工程では、いわゆるイオン交換法が行われる。より具体的には、加熱された化学強化液にガラス基板GSを浸漬することによって、ガラス基板GSに含まれる例えばリチウムイオンおよびナトリウムイオン等のアルカリ金属イオンが、それよりイオン半径の大きなカリウムイオン等のアルカリ金属イオンによって置換される。イオン半径の違いによって生じる歪みによってイオン交換された領域に圧縮応力が発生し、ガラス基板GSの内周端面および外周端面が強化される。   In this chemical strengthening step, a so-called ion exchange method is performed. More specifically, by immersing the glass substrate GS in a heated chemical strengthening solution, alkali metal ions such as lithium ions and sodium ions contained in the glass substrate GS are replaced with potassium ions having a larger ion radius. It is replaced by the alkali metal ion. Compressive stress is generated in the ion-exchanged region due to strain caused by the difference in ion radius, and the inner peripheral end surface and the outer peripheral end surface of the glass substrate GS are strengthened.

この化学強化液に特に制限はなく、公知の化学強化処理液を用いることができる。化学強化液として、通常、カリウムイオンを含む溶融塩またはカリウムイオンとナトリウムイオンとを含む溶融塩が用いられる。カリウムイオンやナトリウムイオンを含む溶融塩として、カリウムやナトリウムの硝酸塩、炭酸塩、硫酸塩およびこれらの混合溶融塩等が挙げられる。この中でも、融点が低く、ガラス基板の変形を防止することができるという観点から、硝酸塩が好ましい。   There is no restriction | limiting in particular in this chemical strengthening liquid, A well-known chemical strengthening process liquid can be used. As the chemical strengthening liquid, a molten salt containing potassium ions or a molten salt containing potassium ions and sodium ions is usually used. Examples of the molten salt containing potassium ion or sodium ion include potassium, sodium nitrate, carbonate, sulfate, and mixed molten salts thereof. Among these, nitrate is preferable from the viewpoint that the melting point is low and deformation of the glass substrate can be prevented.

(第2ポリッシング工程)
次に、化学強化工程を経たガラス基板GSに第2ポリッシング工程が行われる(S21)。この第2ポリッシング工程は、化学強化工程後のガラス基板GSにおける表面をさらに精密に研磨する工程であり、第1ポリッシング工程と同様の研磨方法で行われる。第2ポリッシング工程で使用されるパッドは、好ましくは、第1ポリッシング工程で使用されるパッドより柔らかい硬度65から80(Asker−C)程度の軟質パッドであり、例えば発泡ウレタンやスウェード等である。研磨材は、第1ポリッシング工程と同様の酸化セリウム等を用いることができるが、ガラス基板GSの表面をより滑らかにするため、好ましくは、粒径がより細かくバラツキが少ない研磨剤が用いられる。研磨液は、粒径の平均粒子径が40nmから70nmの研磨剤を水に分散させてスラリー状にしたものであり、好ましくは、水と研磨剤との混合比率は、概ね1:9から3:7程度である。
(Second polishing step)
Next, a second polishing process is performed on the glass substrate GS that has undergone the chemical strengthening process (S21). This second polishing step is a step of further precisely polishing the surface of the glass substrate GS after the chemical strengthening step, and is performed by the same polishing method as the first polishing step. The pad used in the second polishing process is preferably a soft pad having a hardness of about 65 to 80 (Asker-C), which is softer than the pad used in the first polishing process, such as urethane foam or suede. As the abrasive, cerium oxide or the like similar to that in the first polishing step can be used, but in order to make the surface of the glass substrate GS smoother, an abrasive having a finer particle size and less variation is preferably used. The polishing liquid is a slurry in which an abrasive having an average particle size of 40 nm to 70 nm is dispersed in water, and preferably the mixing ratio of water and abrasive is approximately 1: 9 to 3 : About 7.

上下定盤によるガラス基板GSへの加重は、好ましくは、90g/cmから110g/cmである。上下定盤の回転数は、好ましくは、15rpmから35rpmであり、好ましくは、上定盤の回転数は、下定盤の回転数より30%から40%遅くされる。 The weight applied to the glass substrate GS by the upper and lower surface plates is preferably 90 g / cm 2 to 110 g / cm 2 . The number of rotations of the upper and lower surface plates is preferably 15 rpm to 35 rpm, and preferably the number of rotations of the upper surface plate is 30% to 40% slower than the number of rotations of the lower surface plate.

第2ポリッシング工程における上記の研磨条件を調整することによって、目標値である平坦度が3μm以下であって、表面粗さRa値が0.1nmとすることができる。   By adjusting the polishing conditions in the second polishing step, the target flatness can be 3 μm or less, and the surface roughness Ra value can be 0.1 nm.

第2ポリッシング工程での研磨量は、好ましくは、2μmから5μmである。研磨量をこの範囲とすることによって、表面に発生した微小な荒れやうねり、これまでの工程で生じた微小な傷痕といった微小な欠陥を効率良く除去することができる。   The polishing amount in the second polishing step is preferably 2 μm to 5 μm. By setting the polishing amount within this range, it is possible to efficiently remove minute defects such as minute roughness and undulation generated on the surface, and minute scratches generated in the previous steps.

(洗浄工程)
次に、第2ポリッシング工程を経たガラス基板GSを洗浄する洗浄工程が行われる(S22)。この洗浄工程後のガラス基板GSは、例えば、情報記録媒体の基板として用いられる情報記録媒体用ガラス基板101とされる。この洗浄工程では、洗浄方法は、第2ポリッシング工程後のガラス基板GSにおける表面を清浄に洗浄することができる洗浄方法であれば、特に限定されない。例えば、この洗浄工程では、スクラブ洗浄が行われる。
(Washing process)
Next, a cleaning process for cleaning the glass substrate GS that has undergone the second polishing process is performed (S22). The glass substrate GS after the cleaning step is, for example, an information recording medium glass substrate 101 used as an information recording medium substrate. In this cleaning process, the cleaning method is not particularly limited as long as the cleaning method can cleanly clean the surface of the glass substrate GS after the second polishing process. For example, scrub cleaning is performed in this cleaning process.

スクラブ洗浄が施されたガラス基板GSに対して、必要により超音波による洗剤洗浄および乾燥処理が行われる。乾燥処理は、ガラス基板GS表面に残る洗浄液をIPA(イソプロピルアルコール)等を用いて除去し、基板表面を乾燥する処理である。例えば、スクラブ洗浄後のガラス基板GSに、水リンス洗浄工程が2分間行われ、洗浄液の残渣が除去される。次に、IPA洗浄工程が2分間行われ、基板上の水が除去される。最後に、IPA蒸気乾燥工程が2分間行われ、基板に付着している液状IPAがIPA蒸気により除去されつつ乾燥される。基板の乾燥処理は、これに限定されるものではなく、スピン乾燥、エアーナイフ乾燥等のガラス基板GSの乾燥方法として一般的に知られた方法であってよい。   The glass substrate GS that has been subjected to scrub cleaning is subjected to ultrasonic detergent cleaning and drying treatment as necessary. The drying process is a process of removing the cleaning liquid remaining on the surface of the glass substrate GS using IPA (isopropyl alcohol) or the like and drying the substrate surface. For example, the glass substrate GS after scrub cleaning is subjected to a water rinse cleaning process for 2 minutes, and the residue of the cleaning liquid is removed. Next, an IPA cleaning process is performed for 2 minutes to remove water on the substrate. Finally, the IPA vapor drying process is performed for 2 minutes, and the liquid IPA adhering to the substrate is dried while being removed by the IPA vapor. The substrate drying process is not limited to this, and may be a generally known method for drying the glass substrate GS such as spin drying or air knife drying.

(検査工程)
そして、洗浄工程を経たガラス基板GSに対し所定の検査を行う検査工程が行われる(S23)。この検査工程では、目視によるキズ、割れおよび異物の付着等の検査が行われる。目視では判別できないような異物の付着等は、光学表面アナライザ(OSA(Optical Surface Analyzer)、KLA−TENCOL社製、OSA6100)を用いることによって検査される。
(Inspection process)
And the test | inspection process which performs a predetermined test | inspection with respect to the glass substrate GS which passed through the washing | cleaning process is performed (S23). In this inspection process, inspections such as visual scratches, cracks, and adhesion of foreign substances are performed. Adhesion of foreign matter that cannot be discerned visually is inspected by using an optical surface analyzer (OSA (Optical Surface Analyzer), manufactured by KLA-TENCOL, OSA6100).

この検査工程で良品と判定されたガラス基板GSは、異物等が表面に付着しないように、清浄な環境の中で、ガラス基板収納カセットに収納され、真空パックされた後に、例えば、情報記録媒体用ガラス基板101として出荷される。   The glass substrate GS determined to be a non-defective product in this inspection process is stored in a glass substrate storage cassette and vacuum-packed in a clean environment so that foreign matter or the like does not adhere to the surface. Shipped as a glass substrate 101 for use.

<磁気記録媒体>
次に、本実施形態の情報記録媒体用ガラス基板を用いた磁気記録媒体について説明する。
<Magnetic recording medium>
Next, a magnetic recording medium using the glass substrate for information recording medium of this embodiment will be described.

図4は、実施形態の情報記録媒体用ガラス基板を用いた磁気記録媒体の一例である磁気ディスクを示す一部断面斜視図である。この磁気ディスクDは、円形の情報記録媒体用ガラス基板101の表面に形成された磁性膜102を備えている。磁性膜102の形成には、公知の常套手段による形成方法が用いられる。例えば、磁性粒子を分散させた熱硬化性樹脂を情報記録媒体用ガラス基板101上にスピンコートすることによって磁性膜102を形成する形成方法や、情報記録媒体用ガラス基板101上にスパッタリングによって磁性膜102を形成する形成方法や、情報記録媒体用ガラス基板101上に無電解めっきによって磁性膜102を形成する形成方法等が挙げられる。磁性膜102の膜厚は、スピンコート法による場合では、約0.3μm〜1.2μm程度であり、スパッタリング法による場合では、約0.04μm〜0.08μm程度であり、無電解めっき法による場合では、約0.05μm〜0.1μm程度である。薄膜化および高密度化の観点から、スパッタリング法による膜形成が好ましく、また、無電解めっき法による膜形成が好ましい。   FIG. 4 is a partial cross-sectional perspective view showing a magnetic disk as an example of a magnetic recording medium using the glass substrate for information recording medium of the embodiment. The magnetic disk D includes a magnetic film 102 formed on the surface of a circular glass substrate 101 for an information recording medium. For the formation of the magnetic film 102, a known method is used. For example, a method of forming the magnetic film 102 by spin-coating a thermosetting resin in which magnetic particles are dispersed on the glass substrate 101 for information recording medium, or a magnetic film by sputtering on the glass substrate 101 for information recording medium. Examples thereof include a forming method for forming 102 and a forming method for forming the magnetic film 102 on the glass substrate 101 for information recording medium by electroless plating. The thickness of the magnetic film 102 is about 0.3 μm to 1.2 μm in the case of the spin coating method, and about 0.04 μm to 0.08 μm in the case of the sputtering method, and is based on the electroless plating method. In some cases, the thickness is about 0.05 μm to 0.1 μm. From the viewpoint of thinning and densification, film formation by sputtering is preferable, and film formation by electroless plating is preferable.

磁性膜102に用いる磁性材料は、公知の任意の材料を用いることができ、特に限定されない。磁性材料は、例えば、高い保持力を得るために結晶異方性の高いCoを基本とし、残留磁束密度を調整する目的でNiやCrを加えたCo系合金等が好ましい。より具体的には、Coを主成分とするCoPt、CoCr、CoNi、CoNiCr、CoCrTa、CoPtCr、CoNiPt、CoNiCrPt、CoNiCrTa、CoCrPtTa、CoCrPtB、CoCrPtSiO等が挙げられる。磁性膜102は、ノイズの低減を図るために、非磁性膜(例えば、Cr、CrMo、CrV等)で分割された多層構成(例えば、CoPtCr/CrMo/CoPtCr、CoCrPtTa/CrMo/CoCrPtTa等)であってもよい。磁性膜102に用いる磁性材料は、上記磁性材料の他、フェライト系や鉄−希土類系であってもよく、また、SiO、BN等からなる非磁性膜中にFe、Co、FeCo、CoNiPt等の磁性粒子を分散した構造のグラニュラー等であってもよい。また、磁性膜102への記録には、内面型および垂直型のいずれかの記録形式が用いられてよい。 The magnetic material used for the magnetic film 102 can be any known material and is not particularly limited. The magnetic material is preferably, for example, a Co-based alloy based on Co having high crystal anisotropy in order to obtain a high coercive force, and Ni or Cr added for the purpose of adjusting the residual magnetic flux density. More specifically, CoPt, CoCr, CoNi, CoNiCr, CoCrTa, CoPtCr, CoNiPt, CoNiCrPt, CoNiCrTa, CoCrPtTa, CoCrPtB, CoCrPtSiO, and the like whose main component is Co can be given. The magnetic film 102 has a multilayer structure (for example, CoPtCr / CrMo / CoPtCr, CoCrPtTa / CrMo / CoCrPtTa, etc.) divided by a nonmagnetic film (for example, Cr, CrMo, CrV, etc.) in order to reduce noise. May be. Magnetic material used for the magnetic layer 102, in addition to the magnetic material, ferrite or iron - may be a rare earth, also, Fe in a non-magnetic film made of SiO 2, BN, etc., Co, FeCo, CoNiPt and the like A granular material having a structure in which the magnetic particles are dispersed may be used. In addition, for recording on the magnetic film 102, either an inner surface type or a vertical type recording format may be used.

また、磁気ヘッドの滑りをよくするために、磁性膜102の表面には、潤滑剤が薄くコーティングされてもよい。潤滑剤として、例えば液体潤滑剤であるパーフロロポリエーテル(PFPE)をフレオン系などの溶媒で希釈したものが挙げられる。   In order to improve the sliding of the magnetic head, the surface of the magnetic film 102 may be thinly coated with a lubricant. Examples of the lubricant include those obtained by diluting perfluoropolyether (PFPE), which is a liquid lubricant, with a freon-based solvent.

さらに必要により磁性膜102に対し下地層や保護層が設けられてもよい。磁気ディスクDにおける下地層は、磁性膜102に応じて適宜に選択される。下地層の材料として、例えば、Cr、Mo、Ta、Ti、W、V、B、Al、Ni等の非磁性金属から選ばれる少なくとも一種以上の材料が挙げられる。例えば、Coを主成分とする磁性膜102の場合には、下地層の材料は、磁気特性向上等の観点からCr単体やCr合金であることが好ましい。また、下地層は、単層とは限らず、同一または異種の層を積層した複数層構造であってもよい。このような複数層構造の下地層は、例えば、Cr/Cr、Cr/CrMo、Cr/CrV、NiAl/Cr、NiAl/CrMo、NiAl/CrV等の多層下地層が挙げられる。磁性膜102の摩耗や腐食を防止する保護層として、例えば、Cr層、Cr合金層、カーボン層、水素化カーボン層、ジルコニア層、シリカ層等が挙げられる。これら保護層は、下地層および磁性膜102と共にインライン型スパッタ装置で連続して形成することができる。また、これら保護層は、単層としてもよく、あるいは、同一または異種の層からなる複数層構成であってもよい。なお、上記保護層上に、あるいは、上記保護層に代えて、他の保護層が形成されてもよい。例えば、上記保護層に代えて、Cr層の上にSiO層が形成されてもよい。このようなSiO層は、Cr層の上にテトラアルコキシシランをアルコール系の溶媒で希釈した中に、コロイダルシリカ微粒子を分散して塗布し、さらに焼成することによって形成される。 Furthermore, an underlayer or a protective layer may be provided on the magnetic film 102 as necessary. The underlayer in the magnetic disk D is appropriately selected according to the magnetic film 102. Examples of the material for the underlayer include at least one material selected from nonmagnetic metals such as Cr, Mo, Ta, Ti, W, V, B, Al, and Ni. For example, in the case of the magnetic film 102 containing Co as a main component, the material of the underlayer is preferably Cr alone or a Cr alloy from the viewpoint of improving magnetic characteristics. Further, the underlayer is not limited to a single layer, and may have a multilayer structure in which the same or different layers are stacked. Examples of such an underlayer having a multilayer structure include multilayer underlayers such as Cr / Cr, Cr / CrMo, Cr / CrV, NiAl / Cr, NiAl / CrMo, and NiAl / CrV. Examples of the protective layer that prevents wear and corrosion of the magnetic film 102 include a Cr layer, a Cr alloy layer, a carbon layer, a hydrogenated carbon layer, a zirconia layer, and a silica layer. These protective layers can be continuously formed with the underlayer and the magnetic film 102 by an in-line sputtering apparatus. These protective layers may be a single layer, or may be a multi-layer structure composed of the same or different layers. Note that another protective layer may be formed on the protective layer or instead of the protective layer. For example, instead of the protective layer, a SiO 2 layer may be formed on the Cr layer. Such a SiO 2 layer is formed by dispersing and applying colloidal silica fine particles in a tetraalkoxysilane diluted with an alcohol-based solvent on the Cr layer and further baking.

このような本実施形態における情報記録媒体用ガラス基板101を基体とした磁気記録媒体は、情報記録媒体用ガラス基板101が上述したようにより高い平滑性を有しかつ低表面欠陥であるので、高速回転時に磁気ヘッドを安定に動作させることができる。   Such a magnetic recording medium based on the information recording medium glass substrate 101 according to the present embodiment has a high smoothness and a low surface defect as described above. The magnetic head can be stably operated during rotation.

なお、上述では、本実施形態における情報記録媒体用ガラス基板101を磁気記録媒体に用いた場合について説明したが、これに限定されるものではなく、本実施形態における情報記録媒体用ガラス基板101は、光磁気ディスクや光ディスク等にも用いることが可能である。   In the above description, the case where the glass substrate 101 for information recording medium in the present embodiment is used as a magnetic recording medium has been described. However, the present invention is not limited to this, and the glass substrate 101 for information recording medium in the present embodiment is It can also be used for magneto-optical disks and optical disks.

(実施例および比較例)
次に、第1ないし第5実施例および比較例について説明する。図5は、第1なしい第5実施例における各セッタの断面形状を示す図である。図5(A)は、第1実施例のセッタであり、図5(B)は、第2実施例のセッタであり、図5(C)は、第3実施例のセッタであり、図5(D)は、第4実施例のセッタであり、そして、図5(E)は、第5実施例のセッタである。
(Examples and Comparative Examples)
Next, first to fifth examples and comparative examples will be described. FIG. 5 is a diagram showing a cross-sectional shape of each setter in the first and fifth embodiments. 5A is the setter of the first embodiment, FIG. 5B is the setter of the second embodiment, and FIG. 5C is the setter of the third embodiment. (D) is the setter of the fourth embodiment, and FIG. 5 (E) is the setter of the fifth embodiment.

<第1ないし第5実施例>
第1ないし第5実施例に対応するガラス基板GSa〜GSeは、第1ないし第5実施例における各セッタSTa〜STeを用いた図3に示す製造方法によって作成された。各製造工程(S11〜S23)は、次の通りである。
<First to fifth embodiments>
Glass substrates GSa to GSe corresponding to the first to fifth examples were produced by the manufacturing method shown in FIG. 3 using the setters STa to STe in the first to fifth examples. Each manufacturing process (S11-S23) is as follows.

(ガラス溶融工程S11および成形工程S12)
ガラス溶融工程S11および成形工程S12では、ガラス材料としてガラス転移温度Tgが480℃であるアルミノシリケートガラスが用いられ、溶融ガラスをプレス成形することによって、外径がφ68mmであって厚さが1.3mmであるブランク材Bが作製された。
(Glass melting step S11 and molding step S12)
In the glass melting step S11 and the molding step S12, an aluminosilicate glass having a glass transition temperature Tg of 480 ° C. is used as a glass material. By press molding the molten glass, the outer diameter is φ68 mm and the thickness is 1. The blank material B which is 3 mm was produced.

(熱処理工程S13)
熱処理工程S13では、ブランク材Bと実施例のセッタSTとを交互に合計50枚積層した積層体が約430℃の電気炉内に搬送され、2時間の熱処理が行われた。前記実施例のセッタSTとして、5種類の第1ないし第5実施例のセッタSTa〜STeが用意された。これら第1ないし第5実施例のセッタSTa〜STeは、アルミナを概略形状に焼結形成した後に、#3000番の砥石で両表面を研削加工するとともに、端面を#4000番の砥石で研削加工した後にアルミナブラシで研磨加工することによって、外径φ70mm、厚さ2mmで作成された。これら第1ないし第5実施例のセッタSTa〜STeにおける両表面の表面粗さは、Ra値が0.5μmであり、これら端部の表面粗さは、Ra値が0.4μmであった。表面粗さのRa値は、JIS B 0601に規定された算術平均粗さであり、測定カットオフ値が0.8mmであって測定長さが4mmである条件で測定された。
(Heat treatment step S13)
In the heat treatment step S13, a laminate in which a total of 50 blanks B and the setters ST of the example were alternately laminated was conveyed into an electric furnace at about 430 ° C., and heat treatment was performed for 2 hours. Five types of setters STa to STe of the first to fifth embodiments were prepared as the setter ST of the embodiment. In the setters STa to STe of the first to fifth embodiments, after sintering and forming alumina into a schematic shape, both surfaces are ground with a # 3000 grindstone and end faces are ground with a # 4000 grindstone. After that, by polishing with an alumina brush, the outer diameter was 70 mm and the thickness was 2 mm. The surface roughness of both surfaces in the setters STa to STe of the first to fifth examples had an Ra value of 0.5 μm, and the surface roughness of these end portions had an Ra value of 0.4 μm. The Ra value of the surface roughness is an arithmetic average roughness defined in JIS B 0601, and was measured under the condition that the measurement cutoff value is 0.8 mm and the measurement length is 4 mm.

第1実施例のセッタSTaにおける端部の断面形状は、図5(A)に示すように、C0.5のC面取りである。   The cross-sectional shape of the end of the setter STa of the first embodiment is a C chamfer of C0.5, as shown in FIG.

第2実施例のセッタSTaにおける端部の断面形状は、図5(B)に示すように、R0.2のR面取りである(R0.2、厚さt=2mm;t/2、0.1t)。   The cross-sectional shape of the end of the setter STa of the second embodiment is an R chamfer of R0.2 (R0.2, thickness t = 2 mm; t / 2,. 1t).

第3実施例のセッタSTaにおける端部の断面形状は、図5(C)に示すように、R0.3のR面取りである(R0.3、厚さt=2mm;t/2、0.15t)。   As shown in FIG. 5C, the cross-sectional shape of the end portion of the setter STa of the third embodiment is an R chamfer of R0.3 (R0.3, thickness t = 2 mm; t / 2,. 15t).

第4実施例のセッタSTaにおける端部の断面形状は、図5(D)に示すように、R0.7のR面取りである(R0.7、厚さt=2mm;t/2、0.35t)。   As shown in FIG. 5D, the cross-sectional shape of the end portion of the setter STa of the fourth embodiment is an R chamfer of R0.7 (R0.7, thickness t = 2 mm; t / 2,. 35t).

第5実施例のセッタSTaにおける端部の断面形状は、図5(A)に示すように、R1のR面取りである(R1、厚さt=2mm;t/2、0.5t)。   The cross-sectional shape of the end of the setter STa of the fifth embodiment is an R chamfer of R1 (R1, thickness t = 2 mm; t / 2, 0.5t) as shown in FIG.

(第1ラッピング工程S14)
第1ラッピング工程S14では、ガラス基板GSの両表面が研磨機(HAMAI社製)を用いて研磨加工された。研磨条件は、ダイヤモンドペレットとして#1200メッシュを用い、荷重を100g/cmとし、上定盤の回転数を30rpmとし、そして、下定盤の回転数を10rpmとした。研磨量は、100μmであった。
(First wrapping step S14)
In the first lapping step S14, both surfaces of the glass substrate GS were polished using a polishing machine (manufactured by HAMAI). Polishing conditions, using a # 1200 mesh as diamond pellets, load and 100 g / cm 2, and 30rpm rotation rate of the upper stool and was 10rpm rotation rate of the lower stool. The polishing amount was 100 μm.

これによって得られたガラス基板GS100枚に対する平均の平坦度は、15μmであり、表面粗さは、Ra値が0.50μmであった。   The average flatness with respect to 100 glass substrates GS obtained in this way was 15 μm, and the surface roughness Ra value was 0.50 μm.

(コアリング工程S15)
コアリング工程S15では、円筒状のダイヤモンド砥石を用いてガラス基板GSの中心部に、直径18mmの円穴が開けられた。
(Coring process S15)
In the coring step S15, a circular hole having a diameter of 18 mm was formed in the center of the glass substrate GS using a cylindrical diamond grindstone.

(内外径加工工程S16)
内外径加工工程S16では、鼓状のダイヤモンド砥石によって内径加工および外径加工が行われ、ガラス基板GSの内径が20mmとされ、その外径が65mmとされた。
(Inner / outer diameter machining step S16)
In the inner / outer diameter processing step S16, inner diameter processing and outer diameter processing were performed with a drum-shaped diamond grindstone, the inner diameter of the glass substrate GS was set to 20 mm, and the outer diameter was set to 65 mm.

(第2ラッピング工程S17)
第2ラッピング工程S17では、ガラス基板GSの両表面が研磨機(HAMAI社製)を用いて研磨加工された。研磨条件は、ダイヤモンドペレットとして#1200メッシュを用い、荷重を100g/cmとし、上定盤の回転数を30rpmとし、そして、下定盤の回転数を10rpmとした。
(Second wrapping step S17)
In the second lapping step S17, both surfaces of the glass substrate GS were polished using a polishing machine (manufactured by HAMAI). Polishing conditions, using a # 1200 mesh as diamond pellets, load and 100 g / cm 2, and 30rpm rotation rate of the upper stool and was 10rpm rotation rate of the lower stool.

これによって得られたガラス基板GS100枚に対する平均の平坦度は、10μmであり、表面粗さは、Ra値が0.25μmであった。   The average flatness with respect to 100 glass substrates GS thus obtained was 10 μm, and the surface roughness Ra value was 0.25 μm.

(端面研磨加工工程S18)
端面研磨加工工程S18では、100枚のガラス基板GSが重ねられ、端面研磨機を用いて、この内周端面および外周端面が研磨された。研磨機のブラシ毛は、直径0.2mmのナイロン繊維を用いた。研磨液は、粒径3μmの酸化セリウムを用いた。これによって得られたガラス基板GSにおける内周端面の面粗さは、Ra値が0.03μmであった。
(End face polishing step S18)
In the end surface polishing step S18, 100 glass substrates GS were stacked, and the inner peripheral end surface and the outer peripheral end surface were polished using an end surface polishing machine. Nylon fibers having a diameter of 0.2 mm were used for the brush bristles of the polishing machine. As the polishing liquid, cerium oxide having a particle diameter of 3 μm was used. The Ra roughness of the surface roughness of the inner peripheral end face of the glass substrate GS thus obtained was 0.03 μm.

(第1ポリッシング工程S19)
第1ポリッシング工程S19では、研磨機(HAMAI社製)が用いられ、このパッドに硬度Aで80度の発泡ウレタンが用いられた。研磨材として、平均粒径1.5μmの酸化セリウムを水に分散させてスラリー状にしたものが用いられた。水と研磨剤との混合比率は、2:8であった。そして、研磨条件は、荷重を100g/cmとし、上定盤の回転数を30rpmとし、下定盤の回転数を10rpmとした。研磨量は、30μmであった。これによって得られたガラス基板GS100枚に対する平均の平坦度は、4μmであり、表面粗さは、Ra値が0.7nmであった。
(First polishing step S19)
In the first polishing step S19, a polishing machine (manufactured by HAMAI) was used, and urethane foam having a hardness A of 80 degrees was used for this pad. As the abrasive, cerium oxide having an average particle diameter of 1.5 μm dispersed in water to form a slurry was used. The mixing ratio of water and abrasive was 2: 8. The polishing conditions were a load of 100 g / cm 2 , a rotation speed of the upper surface plate of 30 rpm, and a rotation speed of the lower surface plate of 10 rpm. The polishing amount was 30 μm. The average flatness with respect to 100 glass substrates GS obtained in this manner was 4 μm, and the surface roughness Ra value was 0.7 nm.

(化学強化工程S20)
化学強化工程S20では、ガラス基板GSが化学強化液に浸漬された。この化学強化液として、硝酸カリウム(KNO)と硝酸ナトリウム(NaNO)との混合溶融塩が用いられた。その混合比は、質量比で1:1であった。また、化学強化液の温度は、400℃であり、浸漬時間は、40分とされた。
(Chemical strengthening step S20)
In the chemical strengthening step S20, the glass substrate GS was immersed in the chemical strengthening solution. As this chemical strengthening liquid, a mixed molten salt of potassium nitrate (KNO 3 ) and sodium nitrate (NaNO 3 ) was used. The mixing ratio was 1: 1 by mass ratio. Moreover, the temperature of the chemical strengthening solution was 400 ° C., and the immersion time was 40 minutes.

(第2ポリッシュ工程S21)
第2ポリッシュ工程S21では、研磨機(HAMAI社製)が用いられ、このパッドに硬度Aで70度の発泡ウレタンが用いられた。研磨材として、平均粒径60nmの酸化セリウムを水に分散させてスラリー状にしたものが用いられた。水と研磨剤との混合比率は、2:8であった。そして、研磨条件は、荷重を90g/cmとし、上定盤の回転数を30rpmとし、下定盤の回転数を10rpmとした。主表面の研磨量は、5μmであった。
(Second polishing step S21)
In the second polishing step S21, a polishing machine (manufactured by HAMAI) was used, and urethane foam having a hardness A of 70 degrees was used for this pad. As the abrasive, cerium oxide having an average particle diameter of 60 nm was dispersed in water to form a slurry. The mixing ratio of water and abrasive was 2: 8. The polishing conditions were a load of 90 g / cm 2 , a rotation speed of the upper surface plate of 30 rpm, and a rotation speed of the lower surface plate of 10 rpm. The polishing amount of the main surface was 5 μm.

(洗浄工程S22)
洗浄工程S22では、スクラブ洗浄が行われた。洗浄液として、KOHとNaOHを100:100に混合した薬液を超純水(DI水)で希釈し、洗浄能力を高めるために非イオン界面活性剤を添加した洗浄液が用いられた。洗浄液の供給は、スプレー噴霧によって行われた。そして、ガラス基板GS表面に残る洗浄液を除去するために、水リンス洗浄工程が2分間行われ、IPA(イソプロピルアルコール)洗浄工程が超音波槽で2分間行われ、その後、IPA蒸気により表面が乾燥された。
(Washing step S22)
In the cleaning step S22, scrub cleaning was performed. As a cleaning solution, a cleaning solution in which a chemical solution in which KOH and NaOH were mixed at 100: 100 was diluted with ultrapure water (DI water) and a nonionic surfactant was added to improve the cleaning capability was used. The cleaning liquid was supplied by spraying. Then, in order to remove the cleaning liquid remaining on the surface of the glass substrate GS, a water rinse cleaning process is performed for 2 minutes, an IPA (isopropyl alcohol) cleaning process is performed for 2 minutes in an ultrasonic bath, and then the surface is dried by IPA vapor. It was done.

<第1および第2比較例>
第1および第2比較例に対応する情報記録媒体用ガラス基板GSf、GSgは、熱処理工程S13を除き、上述した、第1ないし第5実施例に対応する情報記録媒体用ガラス基板GSa〜GSeの各工程によって作成された。
<First and second comparative examples>
The information recording medium glass substrates GSf and GSg corresponding to the first and second comparative examples are the above-described information recording medium glass substrates GSa to GSe corresponding to the first to fifth embodiments, except for the heat treatment step S13. Created by each process.

第1および第2比較例における熱処理工程S13では、第1および第2比較例における各セッタSTf、STgを用いて行われた。   The heat treatment step S13 in the first and second comparative examples was performed using the setters STf and STg in the first and second comparative examples.

比較例における熱処理工程S13では、ブランク材Bと比較例のセッタSTとを交互に合計50枚積層した積層体が約430℃の電気炉内に搬送され、2時間の熱処理が行われた。前記比較例のセッタSTとして、2種類の第1および第2比較例のセッタSTf、STgが用意された。第1比較例のセッタSTfは、アルミナを概略形状に焼結形成した後に、#3000番の砥石で両表面を研削加工するとともに、#1000番の砥石で端部を研削加工することによって、外径φ70mm、厚さ2mmで作成された。この第1比較例のセッタSTfにおける両表面の表面粗さは、Ra値が0.5μmであり、端部の表面粗さは、Ra値が0.6μmであった。また、第2比較例のセッタSTgは、アルミナを概略形状に焼結形成した後に、#3000番の砥石で両表面および端部のそれぞれを研削加工することによって、外径φ70mm、厚さ2mmで作成された。この第2比較例のセッタSTgにおける両表面および端部の各表面粗さは、共にRa値が0.5μmであった。表面粗さのRa値は、JIS B 0601に規定された算術平均粗さであり、測定カットオフ値が0.8mmであって測定長さが4mmである条件で測定された。   In the heat treatment step S13 in the comparative example, a laminate in which the blank material B and the setter ST of the comparative example were alternately laminated in total was transported into an electric furnace at about 430 ° C., and heat treatment was performed for 2 hours. As the setter ST of the comparative example, two types of setters STf and STg of the first and second comparative examples were prepared. The setter STf of the first comparative example was formed by sintering alumina into a rough shape, grinding both surfaces with a # 3000 grindstone, and grinding the ends with a # 1000 grindstone. It was prepared with a diameter of 70 mm and a thickness of 2 mm. The surface roughness of both surfaces in the setter STf of the first comparative example had a Ra value of 0.5 μm, and the surface roughness of the end portion had a Ra value of 0.6 μm. Further, the setter STg of the second comparative example is formed by sintering alumina into a schematic shape, and then grinding both surfaces and ends with a # 3000 grindstone so that the outer diameter is 70 mm and the thickness is 2 mm. Created. The surface roughness of both surfaces and end portions in the setter STg of the second comparative example had a Ra value of 0.5 μm. The Ra value of the surface roughness is an arithmetic average roughness defined in JIS B 0601, and was measured under the condition that the measurement cutoff value is 0.8 mm and the measurement length is 4 mm.

第1および第2比較例のセッタSTf、STgにおける端部の断面形状は、C0.5のC面取りである。   The cross-sectional shape of the end portions of the setters STf and STg of the first and second comparative examples is C chamfering of C0.5.

<実施例と比較例との結果>
このようにして第1ないし第5実施例における各セッタSTa〜STeを用いた情報記録媒体用ガラス基板の製造方法による第1ないし第5実施例に対応する各ガラス基板GSa〜GSeが100枚づつ作成され、そして、第1および第2比較例における各セッタSTf、STgを用いた情報記録媒体用ガラス基板の製造方法による第1および第2比較例に対応する各ガラス基板GSf、GSgが100枚づつ作成された。前記洗浄工程S22後におけるガラス基板100枚のそれぞれが光学式表面欠陥測定装置(OSA)を用いて評価され、その平均の欠陥数の結果を表1に示す。
<Results of Examples and Comparative Examples>
Thus, 100 glass substrates GSa to GSe corresponding to the first to fifth embodiments according to the method of manufacturing the glass substrate for information recording medium using the setters STa to STe in the first to fifth embodiments, respectively. 100 glass substrates GSf and GSg corresponding to the first and second comparative examples are prepared and manufactured by the method of manufacturing the glass substrate for information recording medium using the setters STf and STg in the first and second comparative examples. It was created one by one. Each of the 100 glass substrates after the cleaning step S22 is evaluated using an optical surface defect measuring apparatus (OSA), and the results of the average number of defects are shown in Table 1.

Figure 2012014751
Figure 2012014751

第1ないし第5実施例と第1および第2比較例とを比較すると、表1から理解されるように、セッタSTの上面および下面の表面粗さよりもその端部の表面粗さが小さい方が、前記S11ないしS22の各工程を経て作成された最終的なガラス基板GSは、欠陥数が少ない。そして、第1ないし第5実施例をそれぞれ比較すると、セッタSTにおける端部の断面形状がC面取りよりもR面取りの方が、前記最終的なガラス基板GSは、欠陥数が少なく、また、セッタSTにおける端部の断面形状がR0.2のR面取りよりもR0.3以上のR面取りの方が、欠陥数が少ない。したがって、セッタSTの断面形状は、その輪郭を表す輪郭線が常に微分係数を持つようになだらかに連続的に繋がっている方(前記微分係数が不連続となるような特異点がないように連続的に繋がっている方)が、前記最終的なガラス基板GSは、欠陥数が少なく、好ましい。   Comparing the first to fifth embodiments with the first and second comparative examples, as understood from Table 1, the surface roughness of the end portion is smaller than the surface roughness of the upper and lower surfaces of the setter ST. However, the final glass substrate GS produced through the steps S11 to S22 has a small number of defects. When comparing each of the first to fifth embodiments, the final glass substrate GS has a smaller number of defects when the cross-sectional shape of the end portion of the setter ST is R chamfered than C chamfered. The number of defects is smaller in the R chamfering of R0.3 or more than in the R chamfering of the end portion in ST of R0.2. Accordingly, the cross-sectional shape of the setter ST is such that the contour line representing the contour is continuously connected so that it always has a differential coefficient (continuous so that there is no singular point where the differential coefficient becomes discontinuous). The final glass substrate GS is preferable because the number of defects is small.

したがって、これら第1ないし第5実施例と第1および第2比較例とから、上述のガラス板熱処理用セッタSTは、ガラス板G(ブランク材B)から生成される所定のガラス基板GSに対し、より平滑性の向上および表面欠陥の低減を図るために、次の第1ないし第3態様が好ましい。   Therefore, from the first to fifth examples and the first and second comparative examples, the setter ST for glass plate heat treatment described above is applied to a predetermined glass substrate GS generated from the glass plate G (blank material B). In order to further improve the smoothness and reduce the surface defects, the following first to third aspects are preferable.

第1態様では、端面EDの表面粗さのRa値が0.005μm≦Ra≦0.4μmである。なお、Ra値が0.005μm未満では、その実現が困難であり、その実現を図ったとしてもコストが高くなって好ましくない。   In the first aspect, the Ra value of the surface roughness of the end surface ED is 0.005 μm ≦ Ra ≦ 0.4 μm. Note that if the Ra value is less than 0.005 μm, it is difficult to realize it, and even if it is realized, the cost increases, which is not preferable.

第2態様では、端面EDは、上表面SFaから下表面SFbに至る厚さをtとした場合に0.15t≦R≦0.5tであるR面取りで形成される。なお、0.5tを越えると端面EDの先端部が尖った形状となって端面EDが凸部を有することとなり、ガラス板Gと接触した場合に前記凸部がガラス板Gにキズを付ける虞があって好ましくない。   In the second aspect, the end surface ED is formed by R chamfering where 0.15 t ≦ R ≦ 0.5 t, where t is the thickness from the upper surface SFa to the lower surface SFb. If 0.5 t is exceeded, the end of the end surface ED has a sharp shape, and the end surface ED has a convex portion. When the end surface ED comes into contact with the glass plate G, the convex portion may damage the glass plate G. This is not desirable.

第3態様では、上表面SFa、端面EDおよび下表面SFbは、上表面SFaの法線方向を含む縦断面の輪郭線が常に微分係数を持つように連続して連なる。このような構成のガラス板熱処理用セッタSTは、輪郭線に微分係数の存在しない特異点がなく、その表面にいわゆる角がないので、ガラス板Gから生成される所定のガラス基板GSに対し、より平滑性の向上および表面欠陥の低減を図ることができる。   In the third aspect, the upper surface SFa, the end surface ED, and the lower surface SFb are continuously connected so that the contour line of the longitudinal section including the normal direction of the upper surface SFa always has a differential coefficient. The setter ST for heat treatment of a glass plate having such a configuration has no singular point having no differential coefficient in the contour line and has no so-called corner on the surface thereof, and therefore, for a predetermined glass substrate GS generated from the glass plate G, Smoothness can be improved and surface defects can be reduced.

続いて、第1ないし第5実施例に対応する各ガラス基板GSa〜GSeならびに第1および第2比較例に対応する各ガラス基板GSf、GSgを情報記録媒体用ガラス基板101として用いた磁気記録媒体が作成され、ハードディスクドライブが作成された。より具体的には、まず、第1ないし第5実施例に対応する各ガラス基板GSa〜GSeならびに第1および第2比較例に対応する各ガラス基板GSf、GSgのそれぞれ100枚に、磁性膜102が形成され、磁気記録媒体が作成された。磁性膜102は、ガラス基板GS側から、Ni−Alから成る厚さ約100nmの下地層、Co−Cr−Ptから成る厚さ20nmの記録層、および、DLC(Diamond Like Carbon)から成る厚さ5nmの保護膜を順次に積層することによって形成された。   Subsequently, the magnetic recording medium using the glass substrates GSa to GSe corresponding to the first to fifth examples and the glass substrates GSf and GSg corresponding to the first and second comparative examples as the glass substrate 101 for the information recording medium. Was created and a hard disk drive was created. More specifically, first, the magnetic film 102 is formed on 100 glass substrates GSa to GSe corresponding to the first to fifth embodiments and 100 glass substrates GSf and GSg corresponding to the first and second comparative examples. Was formed, and a magnetic recording medium was prepared. From the glass substrate GS side, the magnetic film 102 has an underlayer of about 100 nm made of Ni—Al, a recording layer of 20 nm made of Co—Cr—Pt, and a thickness made of DLC (Diamond Like Carbon). It was formed by sequentially laminating 5 nm protective films.

これら作製した各磁気記録媒体を用いたハードディスクドライブが作成され、所定の記録方式で読み込みおよび書き込みのテストが行われ、その間に発生したヘッドクラッシュの有無が評価された。面内記録方式の書き込み密度は、50Gビット/平方インチであり、垂直記録方式の書き込み密度は、0.5Tビット/平方インチであった。第1ないし第5実施例では、100枚の磁気記録媒体の中でヘッドクラッシュの発生は、それぞれ5枚以下であり、良好な結果であった。一方、第1および第2比較例では、100枚の磁気記録媒体の中でヘッドクラッシュの発生は、6枚以上あり、実用上問題のあるレベルであった。   A hard disk drive using each of the magnetic recording media thus produced was created, read and write tests were performed using a predetermined recording method, and the presence or absence of head crashes occurring during that time was evaluated. The writing density in the in-plane recording method was 50 Gbit / in 2 and the writing density in the perpendicular recording method was 0.5 Tbit / in 2. In the first to fifth examples, the occurrence of head crashes in each of 100 magnetic recording media was 5 or less, which was a satisfactory result. On the other hand, in the first and second comparative examples, there were six or more head crashes in 100 magnetic recording media, which was at a practically problematic level.

本発明を表現するために、上述において図面を参照しながら実施形態を通して本発明を適切且つ十分に説明したが、当業者であれば上述の実施形態を変更および/または改良することは容易に為し得ることであると認識すべきである。したがって、当業者が実施する変更形態または改良形態が、請求の範囲に記載された請求項の権利範囲を離脱するレベルのものでない限り、当該変更形態または当該改良形態は、当該請求項の権利範囲に包括されると解釈される。   In order to express the present invention, the present invention has been properly and fully described through the embodiments with reference to the drawings. However, those skilled in the art can easily change and / or improve the above-described embodiments. It should be recognized that this is possible. Therefore, unless the modifications or improvements implemented by those skilled in the art are at a level that departs from the scope of the claims recited in the claims, the modifications or improvements are not covered by the claims. To be construed as inclusive.

G ガラス板
B ブランク材
GS ガラス基板
D 磁気ディスク
101 情報記録媒体用ガラス基板
102 磁性膜
G Glass plate B Blank material GS Glass substrate D Magnetic disk 101 Glass substrate 102 for information recording medium Magnetic film

Claims (5)

処理対象のガラス板と前記ガラス板を載置したガラス板熱処理用セッタとを積層した一対の積層対体を複数さらに積層した積層体を形成し、前記積層体の状態で所定の熱処理を行うように用いられる前記ガラス板熱処理用セッタであって、
平行で互いに対向する上表面および下表面と前記上表面から前記下表面に至る端面とを備える板状体であり、
前記端面の表面粗さは、前記上表面の表面粗さおよび前記下表面の表面粗さよりも小さいこと
を特徴とするガラス板熱処理用セッタ。
Forming a laminated body by further laminating a plurality of paired laminated bodies in which a glass plate to be treated and a glass plate heat treatment setter on which the glass plate is placed are laminated, and performing a predetermined heat treatment in the state of the laminated body The setter for heat treatment of glass plate used for,
A plate-like body comprising an upper surface and a lower surface that are parallel to each other and an end surface that extends from the upper surface to the lower surface,
The glass plate heat treatment setter characterized in that the surface roughness of the end face is smaller than the surface roughness of the upper surface and the surface roughness of the lower surface.
前記端面の表面粗さのRa値は、0.005μm≦Ra≦0.4μmであること
を特徴とする請求項1に記載のガラス板熱処理用セッタ。
The glass plate heat treatment setter according to claim 1, wherein the Ra value of the surface roughness of the end face is 0.005 μm ≦ Ra ≦ 0.4 μm.
前記上表面、前記端面および前記下表面は、前記上表面の法線方向を含む縦断面の輪郭線が常に微分係数を持つように連続して連なっていること
を特徴とする請求項1または請求項2に記載のガラス板熱処理用セッタ。
The upper surface, the end surface, and the lower surface are continuously connected such that a contour line of a longitudinal section including a normal direction of the upper surface always has a differential coefficient. Item 3. A setter for heat-treating a glass sheet according to Item 2.
前記端面は、前記上表面から前記下表面に至る厚さをtとした場合に0.15t≦R≦0.5tであるR面取りで形成されていること
を特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載のガラス板熱処理用セッタ。
The end face is formed by R chamfering that satisfies 0.15t ≦ R ≦ 0.5t, where t is a thickness from the upper surface to the lower surface. The setter for glass plate heat treatment according to any one of 3.
処理対象の複数のガラス板に所定の熱処理を行う熱処理工程を少なくとも備え、情報記録媒体用ガラス基板を製造する情報記録媒体用ガラス基板の製造方法において、
前記熱処理工程は、
前記複数のガラス板と、前記ガラス板を載置するための複数のガラス板熱処理用セッタとを、前記ガラス板熱処理用セッタを最下層として、交互に積層して積層体を形成する交互積層工程と、
前記積層体を加熱する加熱工程と、
前記加熱工程後の前記積層体から、前記複数のガラス板と、前記複数のガラス板熱処理用セッタとにそれぞれ分別する積層分別工程とを備え、
前記ガラス板熱処理用セッタは、請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載のガラス板熱処理用セッタであること
を特徴とする情報記録媒体用ガラス基板の製造方法。
In the method for producing a glass substrate for information recording medium, comprising at least a heat treatment step for performing a predetermined heat treatment on a plurality of glass plates to be treated, and producing a glass substrate for information recording medium,
The heat treatment step includes
Alternating lamination step of forming a laminate by alternately laminating the plurality of glass plates and a plurality of glass plate heat treatment setters for placing the glass plates, with the glass plate heat treatment setter as the lowest layer. When,
A heating step of heating the laminate;
From the laminated body after the heating step, the plurality of glass plates, and a plurality of glass plate heat treatment setters, respectively, a lamination separation step,
The glass plate heat treatment setter is the glass plate heat treatment setter according to any one of claims 1 to 4. A method for producing a glass substrate for an information recording medium.
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