JP2008204499A - Glass substrate for information recording medium and magnetic recording medium - Google Patents

Glass substrate for information recording medium and magnetic recording medium Download PDF

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秀樹 河合
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賢一 佐々木
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a glass substrate for an information recording medium provided as a base body of a magnetic recording medium wherein operation of a magnetic head at an outer peripheral end part is stabilized especially in a LUL (Load Unload) system. <P>SOLUTION: In the glass substrate for the information recording medium, a position R1 and a position R2 apart from the position R1 by a fixed interval in a direction to an outer peripheral end surface are determined on a contour on the same principal surface side of a cross section vertical to the principal surface in a radial direction of the glass substrate, the contour descends on the substrate side from the position R1 to the position R2, the descending contour has one inflection point between positions R1 and R2, the maximum angle θ1 formed by a first tangent tangential to the contour from the position R1 to the inflection point and a reference plane of a flat part of the principal surface as a reference and the maximum angle θ2 formed by a second tangent tangential to the contour from the inflection point to the position R2 and the first tangent satisfy a certain conditional expression and the contour from the position R2 in the direction to the outer peripheral end surface exists on the substrate side of the reference plane and extends from the reference plane to the outer peripheral end surface. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、情報記録媒体用ガラス基板及び磁気記録媒体に関する。   The present invention relates to a glass substrate for an information recording medium and a magnetic recording medium.

従来、コンピュータ等に用いられる磁気ディスク用基板としては、アルミニウム基板が一般的に用いられてきた。しかし磁気ディスクの小型化・薄板化とともに高記録密度化が図られ、磁気ヘッドの低浮上化とともに磁気ヘッド機構についてもCSS(Contact Start Stop)方式からLUL(Load Unload)方式に移行しつつある。LUL方式では、CSS方式に比べ磁気ヘッドの低浮上走行が可能であるため、より高密度記録が可能となり記録の大容量化に対応することができる。CSS方式からLUL方式への移行に伴い、アルミニウム基板に比べ硬度、強度ならびに平坦性に優れたガラス基板の採用が増えつつある。   Conventionally, an aluminum substrate has been generally used as a magnetic disk substrate used in a computer or the like. However, as the magnetic disk is reduced in size and thickness, the recording density is increased, and the magnetic head mechanism is shifting from the CSS (Contact Start Stop) method to the LUL (Load Unload) method as the magnetic head is lowered. In the LUL method, since the magnetic head can be moved at a low flying height compared to the CSS method, higher density recording is possible and it is possible to cope with an increase in recording capacity. With the shift from the CSS system to the LUL system, the adoption of glass substrates that are superior in hardness, strength and flatness compared to aluminum substrates is increasing.

このLUL方式の場合、磁気ディスクが停止している時、磁気ヘッドは磁気ディスクの外側に待機して、磁気ディスクが回転した後に、ガイド機構を使って磁気ヘッドがディスクの外側からディスク面上に移動して記録・再生を行う。また、一般にCSS方式と比較してLUL方式の磁気ヘッドは低浮上走行である。このため、磁気ディスクの外周端部において、磁気ヘッドの浮上安定性を確保するため、磁気ディスクの外周端部形状をCSS方式に比べ厳密に規定する必要がある。   In this LUL method, when the magnetic disk is stopped, the magnetic head waits outside the magnetic disk, and after the magnetic disk rotates, the magnetic head is moved from the outside of the disk to the disk surface by using a guide mechanism. Move to record / playback. In general, the LUL type magnetic head has a low flying height as compared with the CSS type. For this reason, in order to ensure the flying stability of the magnetic head at the outer peripheral edge of the magnetic disk, it is necessary to strictly define the outer peripheral edge shape of the magnetic disk as compared with the CSS system.

このようなLUL方式に対応可能な磁気ディスク用ガラス基板(以降、基板とも称する。)のグライド領域(記録・再生はしないが磁気ヘッドが浮上走行する領域)の外周端位置から一定間隔離れた記録エリアの最外周端位置までの領域において、以下(1)且つ(2)を定めたものがある。
(1)基板の主表面の平坦部を基準面とし最も高点(スキージャンプ点)の値(スキージャンプ値)を±0.35μm以内する。
(2)グライド領域の外周端位置(ロールオフ点)の値(ロールオフ値)を±0.35μm以内とする。(特許文献1参照)。
特開2001−167427号公報
Recording at a certain distance from the outer peripheral end position of the glide area (the area in which the magnetic head flies but does not perform recording / reproduction) of a glass substrate for magnetic disk (hereinafter also referred to as a substrate) that is compatible with the LUL system. In the area up to the outermost peripheral end position of the area, there are those that define (1) and (2) below.
(1) Using the flat portion of the main surface of the substrate as a reference plane, the highest point (ski jump point) value (ski jump value) is within ± 0.35 μm.
(2) The value (roll-off value) of the outer peripheral end position (roll-off point) of the glide region is within ± 0.35 μm. (See Patent Document 1).
JP 2001-167427 A

しかしながら、特許文献1に記載の磁気ディスク用ガラス基板における外周端部の形状は、スキージャンプ値及びロールオフ値とこれらの値を持つ領域のみが示されてある。2.5インチ基板(φ65mm)の例では、グライド領域の外周端位置を基板の中心から31.5mmの位置とし、一定間隔離れた記録エリア内の点の位置を27.1mmの位置としている。この中心から27.1mmから31.5mmの範囲において、スキージャンプ値及びロールオフ値を持つ外周端部の形状がどのような形状であるかに関しては規定していない。このため、スキージャンプ値やロールオフ値が同じであっても、これらの値を持つ位置周辺のガラス基板面が、特にLUL時に磁気ヘッドが安定して走行できない程度に急峻な斜面となっている場合がある。このような磁気ディスク用ガラス基板に磁性膜を設けた磁気ディスクにおいては、磁気ヘッドの浮上安定性が悪くなり、磁気ディスク表面に衝突して磁気ディスク表面を傷つけたり、磁気ヘッド自体が破損したりして、ガラス基板や磁気ヘッドを備えた磁気ディスクドライブ装置が使用不能となることが考えられる。   However, the shape of the outer peripheral end of the glass substrate for magnetic disk described in Patent Document 1 shows only the ski jump value, the roll-off value, and the region having these values. In the example of a 2.5 inch substrate (φ65 mm), the outer peripheral end position of the glide region is set to a position of 31.5 mm from the center of the substrate, and the position of a point in the recording area that is separated by a fixed interval is set to a position of 27.1 mm. In the range from 27.1 mm to 31.5 mm from the center, the shape of the outer peripheral end portion having the ski jump value and the roll-off value is not defined. For this reason, even if the ski jump value and the roll-off value are the same, the glass substrate surface around the position having these values has a steep slope to the extent that the magnetic head cannot travel stably especially during LUL. There is a case. In such a magnetic disk provided with a magnetic film on a magnetic disk glass substrate, the flying stability of the magnetic head is deteriorated, and the magnetic disk surface collides with the magnetic disk surface, or the magnetic head itself is damaged. Thus, it is conceivable that the magnetic disk drive device provided with the glass substrate or the magnetic head becomes unusable.

本発明は、上記の問題を鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、外周端部での磁気ヘッドの動作を、特にLULに際して、より安定とする磁気記録媒体及び磁気記録媒体の基体として供される情報記録媒体用ガラス基板を提供することである。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a magnetic recording medium and a magnetic recording medium that make the operation of the magnetic head at the outer peripheral end more stable, particularly during LUL. It is providing the glass substrate for information recording media provided as a base | substrate of this.

上記の課題は、以下の構成により解決される。   Said subject is solved by the following structures.

1. 平坦部を有する主表面と同心の外周端面と内周端面とを有するドーナツ形状の情報記録媒体用ガラス基板において、
前記情報記録媒体用ガラス基板の径方向で前記主表面に垂直な断面の同一の主表面側の輪郭線の上で、位置R1と前記位置R1から前記外周端面への方向に一定間隔離れて位置R2とを定め、
前記輪郭線は前記位置R1から前記位置R2の間から前記情報記録媒体用ガラス基板側に下降し、
下降している前記輪郭線が前記位置R2に達するまでの間に、変曲点が1つ有り、
前記位置R1から変曲点に至る前記輪郭線に接する第1の接線と前記主表面の平坦部を基準とする基準平面とが成す最大角度θ1及び前記変曲点から前記位置R2に至る前記輪郭線に接する第2の接線と前記第1の接線とが成す最大角度θ2は、以下の条件式を満たし、
0° < θ1 ≦ 5°
θ1×0.5 ≦ θ2 ≦ θ1×2
且つ、前記位置R2より前記外周端面への方向の輪郭線は、前記基準平面より基板側にあって、前記基準平面より離れる方向へ伸びて前記外周端面に至ることを特徴とする情報記録媒体用ガラス基板。
但し、
位置R1:情報記録媒体用ガラス基板の中心軸からの距離がR×0.90である位置
位置R2:情報記録媒体用ガラス基板の中心軸からの距離がR×0.975である位置
R:情報記録媒体用ガラス基板の中心軸から外周端面までの距離
最大角度θ1:基準平面から第1の接線の方向に向かう角度(プラス)とする。
最大角度θ2:第1の接線から第2の接線の方向に向かう角度(プラス)とする。
1. In a glass substrate for an information recording medium having a donut shape having an outer peripheral end surface and an inner peripheral end surface concentric with a main surface having a flat portion,
On the same main surface side contour line in the radial direction of the glass substrate for information recording medium and perpendicular to the main surface, the position R1 is spaced apart from the position R1 in the direction from the position R1 to the outer peripheral end surface. R2 is determined,
The contour line is lowered from the position R1 to the position R2 toward the information recording medium glass substrate side,
There is one inflection point until the descending contour line reaches the position R2.
The maximum angle θ1 formed by a first tangent line that contacts the contour line from the position R1 to the inflection point and a reference plane that uses the flat portion of the main surface as a reference, and the contour from the inflection point to the position R2 The maximum angle θ2 formed by the second tangent tangent to the line and the first tangent satisfies the following conditional expression:
0 ° <θ1 ≤ 5 °
θ1 × 0.5 ≦ θ2 ≦ θ1 × 2
The contour line in the direction from the position R2 to the outer peripheral end surface is closer to the substrate than the reference plane, extends in a direction away from the reference plane, and reaches the outer peripheral end surface. Glass substrate.
However,
Position R1: Position R2 where the distance from the central axis of the glass substrate for information recording medium is R × 0.90: Position R where the distance from the central axis of the glass substrate for information recording medium is R × 0.975: Maximum distance θ1 from the central axis of the glass substrate for information recording medium to the outer peripheral end surface: an angle (plus) from the reference plane toward the first tangent.
Maximum angle θ2: An angle (plus) from the first tangent to the second tangent.

2. 1に記載の情報記録媒体用ガラス基板の表面に磁性膜を有することを特徴とする磁気記録媒体。   2. 2. A magnetic recording medium comprising a magnetic film on the surface of the glass substrate for information recording medium according to 1.

3. LUL方式の磁気記録媒体であることを特徴とする2に記載の磁気記録媒体。   3. 3. The magnetic recording medium according to 2, which is an LUL type magnetic recording medium.

本発明によれば、情報記録媒体用ガラス基板の位置R1から位置R2までの形状を規定することができる。位置R1から位置R2の範囲の形状は、基準平面に対する傾斜が±5°以内とする斜面で構成されることになり、急峻な斜面を含まない。また、位置R2から外周端面の範囲の形状は、基準平面を超えることなく外周端面に至る。よって、磁気ヘッドは、外周端部分で安定して浮上走行することができる。外周端部での磁気ヘッドの安定は特にLULの際有利である。   According to the present invention, the shape from the position R1 to the position R2 of the glass substrate for information recording medium can be defined. The shape in the range from the position R1 to the position R2 is constituted by a slope whose inclination with respect to the reference plane is within ± 5 °, and does not include a steep slope. The shape in the range from the position R2 to the outer peripheral end surface reaches the outer peripheral end surface without exceeding the reference plane. Therefore, the magnetic head can fly and travel stably at the outer peripheral end portion. Stability of the magnetic head at the outer peripheral edge is particularly advantageous during LUL.

従って、磁気ヘッドの特にLULに際して記録ヘッドの動作をより安定とする磁気記録媒体及び磁気記録媒体の基体として供される記録媒体用ガラス基板を提供することができる。   Therefore, it is possible to provide a magnetic recording medium that makes the operation of the recording head more stable during the magnetic head, particularly LUL, and a glass substrate for a recording medium that serves as a base of the magnetic recording medium.

本発明を図示の実施の形態に基づいて説明するが、本発明は該実施の形態に限らない。   Although the present invention will be described based on the illustrated embodiment, the present invention is not limited to the embodiment.

図2は、本発明に係わる情報記録媒体用ガラス基板(以降、ガラス基板とも称する。)1の全体構成を示している。図2に示す様に、ガラス基板1は、中心に孔13が形成されたドーナツ状の円板形状をしている。14は外周端面、15は内周端面、10aは表主表面、10bは裏主表面を示している。また、図3は、図2で示したガラス基板1の表主表面10aの上に磁性膜2を備えている磁気記録媒体Dの一例を示す図である。磁性膜2は裏主表面10bの上にも設けることができる。   FIG. 2 shows the overall configuration of a glass substrate for information recording medium (hereinafter also referred to as a glass substrate) 1 according to the present invention. As shown in FIG. 2, the glass substrate 1 has a donut-like disk shape with a hole 13 formed in the center. Reference numeral 14 denotes an outer peripheral end face, 15 denotes an inner peripheral end face, 10a denotes a front main surface, and 10b denotes a back main surface. FIG. 3 is a diagram showing an example of the magnetic recording medium D provided with the magnetic film 2 on the front main surface 10a of the glass substrate 1 shown in FIG. The magnetic film 2 can also be provided on the back main surface 10b.

図2に示すガラス基板1の中心を通り、表主表面10aに垂直な面で切断した断面を考える。この断面において、ガラス基板1における表主表面10a側の外周端部の周辺部分を模式的に拡大して図1に示す。図1に示す形状は、裏主表面10bにおいても、加工上の誤差はあるものの、表主表面10aと同様であるため、以降では表主表面側に関して説明し、裏主表面側の説明は省略する。   Consider a cross section cut through a plane that passes through the center of the glass substrate 1 shown in FIG. 2 and is perpendicular to the front main surface 10a. In this cross section, the peripheral portion of the outer peripheral end on the front main surface 10a side in the glass substrate 1 is schematically enlarged and shown in FIG. The shape shown in FIG. 1 is the same as that of the front main surface 10a even on the back main surface 10b. To do.

図1において、BLは表主表面10a側のガラス基板1の輪郭線、SHは主表面10aの平坦部を基準とする基準平面、Rtはガラス基板1の中心軸からの距離がRである外周端面14の位置、R1は中心軸からの距離が0.9×Rの位置、R2は中心軸からの距離が0.975×Rの位置を示している。輪郭線BLは、位置R1と位置R2との間から下降している。   In FIG. 1, BL is a contour line of the glass substrate 1 on the front main surface 10 a side, SH is a reference plane based on a flat portion of the main surface 10 a, and Rt is an outer periphery whose distance from the central axis of the glass substrate 1 is R. The position of the end face 14, R 1 indicates a position with a distance of 0.9 × R from the central axis, and R 2 indicates a position with a distance of 0.975 × R from the central axis. The contour line BL is lowered from between the position R1 and the position R2.

2.5インチのガラス基板を例とすると、位置R1、位置R2、位置Rtは次の通りとなる。ガラス基板1の中心を0とすると、位置Rtは32.5mm(=R)、位置R1は29.25mm、位置R2は31.69mmとなる。特許文献1で示したロールオフを規定している径方向の位置は、上記の通り31.5mmであるので、位置R2の方がより少し外周端側となる。   Taking a 2.5 inch glass substrate as an example, position R1, position R2, and position Rt are as follows. Assuming that the center of the glass substrate 1 is 0, the position Rt is 32.5 mm (= R), the position R1 is 29.25 mm, and the position R2 is 31.69 mm. Since the position in the radial direction defining the roll-off shown in Patent Document 1 is 31.5 mm as described above, the position R2 is slightly on the outer peripheral end side.

また、Hpは位置R1と位置R2との間にある輪郭線BLの変曲点、TL1は位置R1から変曲点Hpまでの輪郭線BLに接す第1の接線の一例、TL2は変曲点Hpから位置R2までの輪郭線BLに接する第2の接線の一例を示している。   Hp is an inflection point of the contour line BL between the positions R1 and R2, TL1 is an example of a first tangent line that touches the contour line BL from the position R1 to the inflection point Hp, and TL2 is an inflection point. An example of a second tangent line in contact with the contour line BL from the point Hp to the position R2 is shown.

図1において、第1の接線TL1と基準平面SHとが成す最大角度θ1(図中の矢印が示す、基準平面SHから接線TL1に向かう方向(時計回り方向)の角度。)は、以下の条件式(1)を満足する。   In FIG. 1, the maximum angle θ1 formed by the first tangent line TL1 and the reference plane SH (the angle in the direction from the reference plane SH toward the tangent line TL1 (clockwise direction indicated by the arrow in the drawing)) is as follows. Formula (1) is satisfied.

0° < θ1 ≦ 5° (1)
上記条件式(1)が規定する輪郭線BLは、位置R1から位置R2の間で基準平面SHと成す最大角度が0°を超えて5°以下の範囲で基準平面SHからガラス基板の厚み方向へ向かって離れる方向へ伸延していく。よって、輪郭線BLが示す主表面は、基準平面に対してガラス基板の厚み方向へ基準面から離れる面をなし、その面の傾斜は0°を超えて5°以下の範囲となって、急峻な面を含まない。また、主平面はガラス基板の反対側へ基準平面を超える凸形状を有さない。よって、磁気ヘッドは、ガラス基板の外周端部分で安定して浮上走行することができる。外周端部での磁気ヘッドの良好な安定は特にLULの際有利である。
0 ° <θ1 ≦ 5 ° (1)
The contour line BL defined by the conditional expression (1) is in the thickness direction of the glass substrate from the reference plane SH in a range where the maximum angle formed with the reference plane SH between the position R1 and the position R2 exceeds 0 ° and is 5 ° or less. It extends in the direction away from Therefore, the main surface indicated by the contour line BL is a surface away from the reference surface in the thickness direction of the glass substrate with respect to the reference plane, and the inclination of the surface is in the range of more than 0 ° to 5 ° or less, and is steep. It does not include a serious aspect. The main plane does not have a convex shape that exceeds the reference plane on the opposite side of the glass substrate. Therefore, the magnetic head can stably fly and travel at the outer peripheral end portion of the glass substrate. Good stability of the magnetic head at the outer peripheral edge is particularly advantageous during LUL.

更に、上記の角度範囲内で伸延する輪郭線BLは、位置R2に到達するまでに変曲点Hpを有している。この変曲点Hpを超えた後は下降角度(ガラス基板の厚み方向に向かう角度)が緩やかになり、場合によっては上昇に転じる。変局点Hpを超えた輪郭線BLにおける第2の接線TL2と第1の接線TL1とが成す最大角度θ2(図中の矢印が示す、第1の接線TL1から第2の接線TL2に向かう方向(反時計回り方向)の角度。)は、以下の条件式を満足する。   Further, the contour line BL extending within the above-mentioned angle range has an inflection point Hp before reaching the position R2. After the inflection point Hp is exceeded, the descending angle (the angle toward the thickness direction of the glass substrate) becomes gradual, and in some cases, it begins to rise. The maximum angle θ2 formed by the second tangent line TL2 and the first tangent line TL1 in the contour line BL exceeding the inflection point Hp (the direction indicated by the arrow in the drawing from the first tangent line TL1 toward the second tangent line TL2) (Counterclockwise direction)) satisfies the following conditional expression.

θ1×0.5 ≦ θ2 ≦ θ1×2 (2)
上記条件式(2)が規定する輪郭線BLは、この変曲点Hp以降の輪郭線BLは、最大角度θ1における第1の接線TL1と成す最大角度が2.5°以上10°以下、言い換えると基準平面SHと成す最大角度が−2.5°(下降方向)以上+5°(上昇方向)以下の範囲となる。よって、輪郭線BLが示す主表面は、基準平面に対する傾斜が−2.5°以上5°以下の範囲とする斜面で構成されることになり、急峻な斜面を含まない。よって、磁気ヘッドは、外周端部分で安定して浮上走行することができる。外周端部での磁気ヘッドの良好な安定は特にLULの際有利である。
θ1 × 0.5 ≦ θ2 ≦ θ1 × 2 (2)
The contour line BL defined by the conditional expression (2) is that the contour line BL after the inflection point Hp has a maximum angle of 2.5 ° to 10 ° with the first tangent TL1 at the maximum angle θ1. And the maximum angle formed with the reference plane SH is in the range of −2.5 ° (downward direction) to + 5 ° (upward direction). Therefore, the main surface indicated by the contour line BL is composed of slopes having an inclination with respect to the reference plane in the range of −2.5 ° to 5 °, and does not include a steep slope. Therefore, the magnetic head can fly and travel stably at the outer peripheral end portion. Good stability of the magnetic head at the outer peripheral edge is particularly advantageous during LUL.

従って上記条件式(1)及び(2)が規定する輪郭線BLは、輪郭線BLと表主表面10aを含む基準平面SHと成す最大角度は位置R1から位置R2の範囲内で±5°以下となる。上記の形状が形成されたガラス基板を基体として磁性膜を設けた情報記録媒体において、位置R1から位置R2において、急峻な斜面がない。従って、外周端部で磁気ヘッドは安定して浮上走行することができ、磁気ヘッドが磁気ディスク表面に衝突して、磁気ディスク表面を傷つけたり、磁気ヘッド自体が破損することがない。外周端部での磁気ヘッドの良好な安定は特にLULの際有利である。   Accordingly, the contour line BL defined by the conditional expressions (1) and (2) has a maximum angle of ± 5 ° or less within the range from the position R1 to the position R2 between the contour line BL and the reference plane SH including the front main surface 10a. It becomes. In the information recording medium in which the magnetic film is provided using the glass substrate having the above shape as a base, there is no steep slope from the position R1 to the position R2. Therefore, the magnetic head can stably fly and move at the outer peripheral edge, and the magnetic head does not collide with the surface of the magnetic disk to damage the surface of the magnetic disk or damage the magnetic head itself. Good stability of the magnetic head at the outer peripheral edge is particularly advantageous during LUL.

また、外周端面14は、後で説明する製造工程において内・外径加工工程、内周及び外周端面加工をしているため、位置R2から外周端面方向に向かって上向きに最大角度+5°で上昇する輪郭線BLであっても、基準平面SHを超えることはなく、最終的には、端面加工されている面に収束し外周端面14に至ることになる。よって、位置R2から外周端面において、磁気ヘッドがLULする際に障害となる凸部が存在しない。従って、LULに際して、磁気ヘッドは安定して移動することができる。   Further, the outer peripheral end face 14 is raised at a maximum angle + 5 ° upward from the position R2 toward the outer peripheral end face because the inner and outer diameter machining steps, the inner circumference and the outer peripheral end face are processed in the manufacturing process described later. Even the contour line BL does not exceed the reference plane SH, and eventually converges to the end surface processed surface and reaches the outer peripheral end surface 14. Accordingly, there is no convex portion that becomes an obstacle when the magnetic head performs LUL from the position R2 to the outer peripheral end face. Therefore, the magnetic head can move stably during the LUL.

また、外周端部を急峻な斜面がないことから、ガラス基板を基体とする磁気記録媒体を、例えば7200rpm程度の高速で回転させた場合、外周端部で異常空気流動を発生を抑えることができるため、回転数を安定させ、また磁気ヘッドの移動を安定させることもできる。   Further, since there is no steep slope at the outer peripheral end, when a magnetic recording medium having a glass substrate as a base is rotated at a high speed of, for example, about 7200 rpm, the occurrence of abnormal air flow at the outer peripheral end can be suppressed. Therefore, the rotational speed can be stabilized and the movement of the magnetic head can be stabilized.

上記で説明した外周端部の形状を有するガラス基板を基体とする磁気記録媒体は、LUL方式の磁気記録媒体とすることによって最もその効果を得ることができる。   The magnetic recording medium based on the glass substrate having the shape of the outer peripheral end described above can obtain the most effect by using the LUL magnetic recording medium.

本発明の情報記録媒体用ガラス基板は、磁気記録媒体に限定されるものではなく、光磁気ディスクや光ディスクなどにも用いることができる。   The glass substrate for an information recording medium of the present invention is not limited to a magnetic recording medium, and can be used for a magneto-optical disk or an optical disk.

(情報記録媒体用ガラス基板の製造工程)
情報記録媒体用ガラス基板の製造工程に関して説明する。ガラス基板の製造方法の例として、図4に示す製造フローを用いて以下で説明する。
(Manufacturing process of glass substrate for information recording medium)
The manufacturing process of the glass substrate for information recording media will be described. As an example of the manufacturing method of a glass substrate, it demonstrates below using the manufacturing flow shown in FIG.

ガラス基板の大きさに限定はない。例えば、外径が2.5インチ、1.8インチ、1インチ、0.8インチなど種々の大きさのガラス基板がある。また、ガラス基板の厚みにも限定はなく、2mm、1mm、0.63mmなど種々の厚みのガラス基板がある。   There is no limitation on the size of the glass substrate. For example, there are glass substrates of various sizes such as an outer diameter of 2.5 inches, 1.8 inches, 1 inch, and 0.8 inches. Further, the thickness of the glass substrate is not limited, and there are glass substrates having various thicknesses such as 2 mm, 1 mm, and 0.63 mm.

まず、ガラス素材を溶融し(ガラス溶融工程)、溶融ガラスを下型に流し込み、上型によってプレス成形して円板状のガラス基板前駆体を得る(プレス成形工程)。なお、円板状のガラス基板前駆体は、プレス成形によらず、例えばダウンドロー法やフロート法で形成したシートガラスを研削砥石で切り出して作製してもよい。   First, a glass material is melted (glass melting step), molten glass is poured into a lower mold, and press molding is performed with an upper mold to obtain a disk-shaped glass substrate precursor (press molding process). The disc-shaped glass substrate precursor may be produced by cutting a sheet glass formed by, for example, a downdraw method or a float method with a grinding stone, without using press molding.

ガラス基板の材料としては、イオン交換による化学強化が可能なガラスであれば特に制限はない。例えば、SiO2、Na2O、CaOを主成分としたソーダライムガラス;SiO2、Al23、R2O(R=K、Na、Li)を主成分としたアルミノシリケートガラス;ボロシリケートガラス;Li2O−SiO2系ガラス;Li2O−Al23−SiO2系ガラス;R’O−Al23−SiO2系ガラス(R’=Mg、Ca、Sr、Ba)などを使用することができる。中でも、アルミノシリケートガラスやボロシリケートガラスは、耐衝撃性や耐振動性に優れるため特に好ましい。 The material of the glass substrate is not particularly limited as long as it can be chemically strengthened by ion exchange. For example, soda lime glass mainly composed of SiO 2 , Na 2 O, CaO; aluminosilicate glass mainly composed of SiO 2 , Al 2 O 3 , R 2 O (R = K, Na, Li); borosilicate Glass; Li 2 O—SiO 2 glass; Li 2 O—Al 2 O 3 —SiO 2 glass; R′O—Al 2 O 3 —SiO 2 glass (R ′ = Mg, Ca, Sr, Ba) Etc. can be used. Among these, aluminosilicate glass and borosilicate glass are particularly preferable because they are excellent in impact resistance and vibration resistance.

プレス成形したガラス基板前駆体は、カッター部にダイヤモンド砥石等を備えたコアドリル等で中心部に孔を開ける(コアリング加工工程)。   The press-molded glass substrate precursor is drilled in the center with a core drill or the like having a diamond grindstone or the like in the cutter (coring process).

次に、ガラス基板の両表面を研磨加工し、ガラス基板の全体形状、すなわちガラス基板の平行度、平坦度および厚みを予備調整する(第1ラッピング工程)。   Next, both surfaces of the glass substrate are polished to preliminarily adjust the overall shape of the glass substrate, that is, the parallelism, flatness, and thickness of the glass substrate (first lapping step).

次に、ガラス基板の外周端面および内周端面を、例えば鼓状のダイヤモンド等の研削砥石により研削することで内・外径加工する(内・外径加工工程)。この内・外径加工により、ガラス基板の外径寸法および真円度、孔の内径寸法、並びにガラス基板と孔との同心度を微調整し、また、ガラス基板の内・外周角部を、例えば、0.1mmから0.2mm程度の45°の面取りをする。この後、ガラス基板の内周端面を、研磨液を使用したブラシ研磨により面取り部の角部を曲面とし、また微細なキズ等を除去する(内周端面加工工程)。   Next, the inner and outer diameters are processed by grinding the outer peripheral end surface and the inner peripheral end surface of the glass substrate with, for example, a grinding wheel such as a drum-shaped diamond (inner / outer diameter processing step). By this inner / outer diameter processing, the outer diameter and roundness of the glass substrate, the inner diameter of the hole, and the concentricity between the glass substrate and the hole are finely adjusted. For example, a 45 ° chamfer of about 0.1 mm to 0.2 mm is performed. Thereafter, the inner peripheral end face of the glass substrate is made to have a curved corner at the chamfered portion by brush polishing using a polishing liquid, and fine scratches and the like are removed (inner peripheral end face processing step).

次に、ガラス基板の両表面を再び研磨加工して、ガラス基板の平行度、平坦度および厚みを微調整する(第2ラッピング工程)。そして、ガラス基板の外周端面を、研磨液を使用したブラシ研磨により面取り部の角部を曲面とし、また微細なキズ等を除去する(外周端面加工工程)。   Next, both surfaces of the glass substrate are polished again to finely adjust the parallelism, flatness and thickness of the glass substrate (second lapping step). Then, the outer peripheral end surface of the glass substrate is subjected to brush polishing using a polishing liquid so that the corner portion of the chamfered portion is curved, and fine scratches and the like are removed (outer peripheral end surface processing step).

コアリング加工以降の第1ラッピング工程から外周端面加工工程までの順序は、図5に示したものに限定されず、状況に応じて適宜変更することができる。例えば、ラッピング工程を一つにして最初に行ない、その後、内・外径加工工程、内周、外周端面加工工程を行っても良い。また、第1ラッピング工程、内・外径加工工程の後、第2ラッピング工程、内周、外周端面加工工程を行っても良い。   The order from the first lapping step after the coring processing to the outer peripheral end surface processing step is not limited to that shown in FIG. 5 and can be changed as appropriate according to the situation. For example, the lapping process may be performed first, and then the inner / outer diameter machining process, the inner circumference, and the outer circumference end face machining process may be performed. Further, after the first lapping step and the inner / outer diameter machining step, a second lapping step, an inner circumference and an outer circumference end face machining step may be performed.

外周端面加工工程までの製造工程で、位置R2から外周端面14の最終形状がほぼ決まる。また、主表面10aの外周端部の位置R1から位置R2の範囲の形状は、以降で説明する特に第1ポリシング工程で本発明に係わる所望の形状にすることができる。よって、ここまでの工程で形成する位置R1から位置R2の範囲の形状は、特に限定する必要はないが、以降の製造工程で所望の形状にするために大きな負担がかからないような形状とするのが好ましい。また、位置R2から外周端面14に至る外周端部の形状は、第1及び第2ポリッシングにより、位置R1から位置2に渡って形成される形状から外周端面加工により形成された形状に滑らかに連続して続く状態とすることができる。   In the manufacturing process up to the outer peripheral end face machining step, the final shape of the outer peripheral end face 14 is almost determined from the position R2. Further, the shape in the range from the position R1 to the position R2 of the outer peripheral end portion of the main surface 10a can be made into a desired shape according to the present invention particularly in the first polishing step described below. Therefore, the shape in the range from the position R1 to the position R2 formed in the steps so far does not need to be particularly limited, but it is a shape that does not impose a large burden in order to obtain a desired shape in the subsequent manufacturing process. Is preferred. Further, the shape of the outer peripheral end portion from the position R2 to the outer peripheral end face 14 is smoothly and continuously formed from the shape formed from the position R1 to the position 2 by the first and second polishing to the shape formed by the outer peripheral end face processing. Then, it can be in a state that continues.

第1及び第2ラッピング工程にてガラス基板を研磨する研磨機について説明する。研磨機は、両面研磨機と呼ばれる公知の研磨機を使用できる。両面研磨機は、互いに平行になるように上下に配置された円盤状の上定盤と下定盤とを備えており、互いに逆方向に回転する。この上下の定盤の対向するそれぞれの面にガラス基板の主表面を研磨するための複数のダイヤモンドペレットが貼り付けてある。上下の定盤の間には、下定盤の外周に円環状に設けてあるインターナルギアと下定盤の回転軸の周囲に設けてある太陽ギアとに結合して回転する複数のキャリアがある。このキャリアには、複数の穴が設けてあり、この穴にガラス基板をはめ込んで配置する。上下の定盤、インターナルギア及び太陽ギアは別駆動で動作することができる。   A polishing machine that polishes the glass substrate in the first and second lapping steps will be described. As the polishing machine, a known polishing machine called a double-side polishing machine can be used. The double-side polishing machine includes a disk-shaped upper surface plate and a lower surface plate that are arranged vertically so as to be parallel to each other, and rotate in opposite directions. A plurality of diamond pellets for polishing the main surface of the glass substrate are attached to the opposing surfaces of the upper and lower surface plates. Between the upper and lower surface plates, there are a plurality of carriers that rotate in combination with an internal gear provided in an annular shape on the outer periphery of the lower surface plate and a sun gear provided around the rotation axis of the lower surface plate. The carrier is provided with a plurality of holes, and a glass substrate is fitted into the holes. The upper and lower surface plates, the internal gear, and the sun gear can be operated by separate driving.

研磨機の研磨動作は、上下の定盤が互いに逆方向に回転し、ダイヤモンドペレットを介して定盤に挟まれているキャリアは、複数のガラス基板を保持した状態で、自転しながら定盤の回転中心に対して下定盤と同じ方向に公転する。このような動作している研磨機において、研削液を上定盤とガラス基板及び下定盤とガラス基板との間に供給することでガラス基板の研磨を行うことができる。   The polishing operation of the polishing machine is such that the upper and lower surface plates rotate in opposite directions, and the carrier sandwiched between the surface plates via the diamond pellets rotates with the surface plate holding a plurality of glass substrates. Revolves in the same direction as the lower surface plate with respect to the center of rotation. In such an operating polishing machine, the glass substrate can be polished by supplying a grinding liquid between the upper surface plate and the glass substrate, and the lower surface plate and the glass substrate.

この両面研磨機を使用する際、ガラス基板に加わる定盤の加重及び定盤の回転数を所望の研磨状態に応じて適宜調整する。第1及び第2ラッピング工程における加重は、60g/cm2から120g/cm2とするのが好ましい。また、定盤の回転数は、10rpmから30rpm程度とし、上の定盤の回転数を下の定盤回転数より30%から40%程度遅くするのが好ましい。定盤による加重を大きくし、定盤の回転数を速くすると研磨量は多くなるが、加重を大きくしすぎると面粗さが良好とならず、また、回転数が速すぎると平坦度が良好とならない。また加重が小さく定盤の回転数が遅いと研磨量が少なく製造効率が低くなる。 When using this double-side polishing machine, the weight of the surface plate applied to the glass substrate and the number of rotations of the surface plate are adjusted as appropriate according to the desired polishing state. The weight in the first and second lapping steps is preferably 60 g / cm 2 to 120 g / cm 2 . Further, the rotation speed of the surface plate is preferably about 10 to 30 rpm, and the rotation speed of the upper surface plate is preferably about 30 to 40% slower than the lower surface rotation speed. Increasing the load on the surface plate and increasing the rotation speed of the surface plate increases the amount of polishing, but if the load is increased too much, the surface roughness will not be good, and if the rotation speed is too high, the flatness will be good. Not. Further, when the load is small and the rotation speed of the surface plate is slow, the polishing amount is small and the production efficiency is lowered.

第2ラッピング工程を終えた時点で、大きなうねり、欠け、ひび等の欠陥は除去され、ガラス基板の主表面の面粗さは、Rmaxが2μmから4μm、Raが0.2μmから0.4μm程度とするのが好ましい。このような面状態にしておくことで、次の化学強化工程を経て第1ポリッシング工程で研磨を効率よく行うことができる。   When the second lapping process is completed, defects such as large waviness, chipping and cracks are removed, and the surface roughness of the main surface of the glass substrate is about 2 μm to 4 μm for Rmax and about 0.2 μm to 0.4 μm for Ra. Is preferable. By setting it as such a surface state, it can polish efficiently by a 1st polishing process through the following chemical strengthening process.

尚、第1ラッピング工程では、第2ラッピング工程を効率よく行うことができるように大まかに大きなうねり、欠け、ひびを効率よく除去する。このため、第2ラッピングで使用する粗さ#1300メッシュから#1700メッシュより粗い#800メッシュから#1200メッシュ程度のダイヤモンドペレットを使用するのが好ましい。第1ラッピング工程が完了した時点での面粗さは、Rmaxが4μmから8μmで、Raが0.4μmから0.8μm程度とするのが好ましい。   In the first lapping step, roughly large undulations, chips and cracks are efficiently removed so that the second lapping step can be performed efficiently. For this reason, it is preferable to use diamond pellets of # 800 mesh to # 1200 mesh which are coarser than # 1300 mesh to # 1700 mesh used in the second wrapping. The surface roughness at the time when the first lapping step is completed is preferably such that Rmax is 4 μm to 8 μm and Ra is about 0.4 μm to 0.8 μm.

ガラス基板の内周、外周の端面は、内周及び外周端面加工工程でブラシ研磨によるポリッシング加工を行う。ブラシは、φ0.2からφ0.3mm程度のナイロン、ポリプロピレン等を使用するのが好ましい。また、研磨液は、粒径が数μm程度の酸化セリウムが好ましい。ブラシ研磨の結果、内周、外周の端面の面粗さは、Rmaxが0.2μmから0.4μmで、Raが0.02μmから0.04μm程度とするのが好ましい。内・外径加工工程及び内周及び外周端面加工工程を経たガラス基板の端面の形状は、主表面と端面とが成す角部が取り除かれ、外周端面から0.2mmから0.5mm程度の位置から主表面よりダレた状態となる。   The inner peripheral and outer peripheral end faces of the glass substrate are polished by brush polishing in the inner peripheral and outer peripheral end face processing steps. The brush is preferably made of nylon, polypropylene or the like having a diameter of about 0.2 to 0.3 mm. The polishing liquid is preferably cerium oxide having a particle size of about several μm. As a result of brush polishing, it is preferable that the surface roughness of the inner and outer end faces is such that Rmax is 0.2 μm to 0.4 μm and Ra is about 0.02 μm to 0.04 μm. The shape of the end surface of the glass substrate that has undergone the inner and outer diameter processing steps and the inner and outer peripheral end surface processing steps is such that the corner formed by the main surface and the end surface is removed, and the position is about 0.2 mm to 0.5 mm from the outer peripheral end surface. From the main surface.

ここで、Ra(中心線平均粗さ)、Rmax(最大高さ)は、JIS B0601:2001で規定されている。これらは、原子間力顕微鏡(AFM)等により測定することができる。これら規定及び測定方法は、以降で記述されるRa、Rmaxについても同じく適用する。   Here, Ra (center line average roughness) and Rmax (maximum height) are defined in JIS B0601: 2001. These can be measured by an atomic force microscope (AFM) or the like. These rules and measurement methods also apply to Ra and Rmax described below.

上記の例では、ガラス基板を研磨する際にダイヤモンドペレットと研削液を用いているが、上下の定盤の研磨面にパッドを貼り付け、研磨液を供給して研磨する方法とすることもできる。研磨剤としては、例えば、酸化セリウム、酸化ジルコニウム、酸化アルミニウム、酸化マンガン、コロイダルシリカ、ダイヤモンドなどが挙げられる。これらを水で分散化してスラリー状として使用する。パッドは硬質パッドと軟質パッドとに分けられるが、必要に応じて適宜選択して用いることができる。硬質パッドとしては、硬質ベロア、ウレタン発泡、ピッチ含有スウェード等を素材とするパッドが挙げられ、軟質パッドとしては、スウェードやベロア等を素材とするパッドが挙げられる。   In the above example, the diamond pellet and the grinding liquid are used when polishing the glass substrate. However, it is also possible to apply a polishing method by attaching a pad to the polishing surface of the upper and lower surface plates and supplying the polishing liquid. . Examples of the abrasive include cerium oxide, zirconium oxide, aluminum oxide, manganese oxide, colloidal silica, and diamond. These are dispersed in water and used as a slurry. The pad is divided into a hard pad and a soft pad, but can be appropriately selected and used as necessary. Examples of the hard pad include pads made of hard velor, urethane foam, pitch-containing suede, etc., and examples of the soft pad include pads made of suede, velor, etc.

パッドと研磨剤を使用する研磨方法は、研磨剤の粒度やパッドの種類を変えて、粗研磨から精密研磨まで対応することができる。よって、第1ラッピング工程と第2ラッピング工程で、効率よく大きなうねり、欠け、ひび等を除去し上記の面粗さを得ることができる様に研磨材、研磨材の粒度、パッドを適宜組み合わせて対応することができる。   A polishing method using a pad and a polishing agent can cope with rough polishing to precision polishing by changing the particle size of the polishing agent and the type of the pad. Therefore, in the first lapping step and the second lapping step, the abrasive material, abrasive particle size, and pad are appropriately combined so that the above-mentioned surface roughness can be obtained by efficiently removing large undulations, chips, cracks, etc. Can respond.

また、第1及び第2ラッピング工程の後、ガラス基板の表面に残った研磨剤やガラス粉を除去するための洗浄工程を行うことが好ましい。   Moreover, it is preferable to perform the washing | cleaning process for removing the abrasive | polishing agent and glass powder which remained on the surface of the glass substrate after the 1st and 2nd lapping process.

尚、第1ラッピング工程及び第2ラッピング工程で使用する研磨機は、同一構成ではあるがそれぞれの工程専用に用意された別の研磨機を用いて研磨加工を行うのが好ましい。これは、専用のダイヤモンドペレットを貼り付けているため交換が大掛かりな作業となり、また、研磨条件を再設定する等の煩雑な作業が必要となり、製造効率が低下するためである。   It should be noted that the polishing machines used in the first lapping process and the second lapping process have the same configuration, but it is preferable to perform polishing using different polishing machines prepared exclusively for the respective processes. This is because the dedicated diamond pellets are pasted, so that the replacement is a large-scale operation, and complicated operations such as resetting the polishing conditions are required, resulting in a reduction in manufacturing efficiency.

第2ラッピング工程の次に、化学強化液にガラス基板を浸漬してガラス基板に化学強化層を形成する(化学強化工程)。化学強化層を形成することで耐衝撃性、耐振動性及び耐熱性等を向上させることができる。   Following the second lapping step, the glass substrate is immersed in a chemical strengthening solution to form a chemically strengthened layer on the glass substrate (chemical strengthening step). By forming the chemical strengthening layer, impact resistance, vibration resistance, heat resistance and the like can be improved.

化学強化工程は、加熱された化学強化処理液にガラス基板を浸漬することによってガラス基板に含まれるリチウムイオン、ナトリウムイオン等のアルカリ金属イオンをそれよりイオン半径の大きなカリウムイオン等のアルカリ金属イオンによって置換するイオン交換法によって行われる。イオン半径の違いによって生じる歪みより、イオン交換された領域に圧縮応力が発生し、ガラス基板の表面が強化される。   In the chemical strengthening step, by immersing the glass substrate in a heated chemical strengthening solution, alkali metal ions such as lithium ions and sodium ions contained in the glass substrate are converted into alkali ions such as potassium ions having a larger ion radius. This is performed by the ion exchange method for substitution. Compressive stress is generated in the ion-exchanged region due to the distortion caused by the difference in ion radius, and the surface of the glass substrate is strengthened.

化学強化処理液に特に制限はなく、公知の化学強化処理液を用いることができる。通常、カリウムイオンを含む溶融塩又はカリウムイオンとナトリウムイオンをふくむ溶融塩を用いることが一般的である。カリウムイオンやナトリウムイオンを含む溶融塩としては、カリウムやナトリウムの硝酸塩、炭酸塩、硫酸塩やこれらの混合溶融塩が挙げられる。中でも、融点が低く、ガラス基板の変形を防止できるという観点からは、硝酸塩を用いることが好ましい。   There is no restriction | limiting in particular in a chemical strengthening process liquid, A well-known chemical strengthening process liquid can be used. In general, a molten salt containing potassium ions or a molten salt containing potassium ions and sodium ions is generally used. Examples of the molten salt containing potassium ions and sodium ions include potassium and sodium nitrates, carbonates, sulfates, and mixed molten salts thereof. Among these, from the viewpoint that the melting point is low and deformation of the glass substrate can be prevented, it is preferable to use nitrate.

化学強化処理液は、上記の成分が融解する温度よりも高温になるよう加熱される。一方、化学強化処理液の加熱温度が高すぎると、ガラス基板の温度が上がりすぎ、ガラス基板の変形を招く恐れがある。このため、化学強化処理液の加熱温度はガラス基板のガラス転移点(Tg)よりも低い温度が好ましく、ガラス転移点−50℃よりも低い温度とすることが更に好ましい。   The chemical strengthening treatment liquid is heated to a temperature higher than the temperature at which the above components melt. On the other hand, when the heating temperature of the chemical strengthening treatment liquid is too high, the temperature of the glass substrate is excessively increased, and the glass substrate may be deformed. For this reason, the heating temperature of the chemical strengthening treatment liquid is preferably lower than the glass transition point (Tg) of the glass substrate, more preferably lower than the glass transition point −50 ° C.

なお、加熱された化学強化処理液に浸漬される際の熱衝撃によるガラス基板の割れや微細なクラックの発生を防止するため、化学強化処理液への浸漬に先立って、予熱槽でガラス基板を所定温度に加熱する予熱工程を有していても良い。   In addition, in order to prevent the occurrence of cracks and fine cracks in the glass substrate due to thermal shock when immersed in the heated chemical strengthening treatment liquid, the glass substrate is placed in a preheating tank prior to immersion in the chemical strengthening treatment liquid. You may have the preheating process heated to predetermined temperature.

化学強化層の厚みとしては、ガラス基板の強度向上とポリッシング工程の時間の短縮との兼ね合いから、5μm〜15μm程度の範囲が好ましい。強化層の厚みがこの範囲の場合、平坦度、機械的強度である耐衝撃性が良好なガラス基板とすることができる。   The thickness of the chemically strengthened layer is preferably in the range of about 5 μm to 15 μm in view of improving the strength of the glass substrate and shortening the time of the polishing process. When the thickness of the reinforcing layer is within this range, a glass substrate having good impact resistance, which is flatness and mechanical strength, can be obtained.

化学強化工程後の主表面10aの外周端部の形状は、化学強化工程前とほとんど変わらず、上記の5μm〜15μm程度の化学強化層がガラス基板の表面全体にほぼ一様に載った状態となる。   The shape of the outer peripheral end portion of the main surface 10a after the chemical strengthening step is almost the same as that before the chemical strengthening step, and the above-mentioned chemical strengthening layer of about 5 μm to 15 μm is almost uniformly placed on the entire surface of the glass substrate. Become.

次に、ポリッシング工程に関して説明する。ポリッシング工程では、ガラス基板の表面を精密に仕上げると伴に主表面の外周端部の形状を本発明の形状を得る様に研磨する。   Next, the polishing process will be described. In the polishing process, the surface of the glass substrate is precisely finished, and the shape of the outer peripheral end of the main surface is polished so as to obtain the shape of the present invention.

まず、第1ポリシング工程では、第2ポリッシング工程で最終的に必要とされる面粗さを効率よく得ることができるように、面粗さを向上させるとともに最終的に本発明の形状を効率よく得ることができる研磨を行う。   First, in the first polishing step, the surface roughness is improved and the shape of the present invention is finally efficiently improved so that the surface roughness finally required in the second polishing step can be efficiently obtained. Polishing can be obtained.

研磨の方法は、ラッピング工程で使用したダイヤモンドペレットと研削液に代えて、パットと研磨液を使用する以外は第1及び2ラッピング工程で使用した研磨機と同一の構成の研磨機を使用する。   The polishing method uses a polishing machine having the same configuration as the polishing machine used in the first and second lapping processes except that a pad and a polishing liquid are used instead of the diamond pellets and the grinding liquid used in the lapping process.

パッドは硬度Aで80から90程度の硬質パッドで例えば発泡ウレタンを使用するのが好ましい。パッドの硬度が研磨による発熱により柔らかくなると研磨面の形状変化が大きくなるため硬質パッドを用いるのが好ましい。研磨材は、粒径が0.6μmから2.5μmの酸化セリウム等を水に分散させてスラリー状にして用いるのが好ましい。水と研磨剤との混合比率は、概ね1:9から3:7程度が好ましい。   The pad is preferably a hard pad having a hardness A of about 80 to 90, for example, urethane foam. When the pad hardness becomes soft due to heat generated by polishing, the shape change of the polished surface increases, so it is preferable to use a hard pad. The abrasive is preferably used in the form of a slurry by dispersing cerium oxide or the like having a particle size of 0.6 to 2.5 μm in water. The mixing ratio of water and abrasive is preferably about 1: 9 to 3: 7.

定盤によるガラス基板への加重は、90g/cm2から110g/cm2とするのが好ましい。定盤によるガラス基板への加重は、外周端部の形状に大きく影響する。加重を大きくしていくと、外周端部の内側が下がり外側に向かって上がる傾向を示す。また、加重を小さくしていくと、外周端部は平面に近くなるとともに面ダレが大きくなる傾向を示す。こうした傾向を観察しながら加重を決めることができる。 The weight applied to the glass substrate by the surface plate is preferably 90 g / cm 2 to 110 g / cm 2 . The load applied to the glass substrate by the surface plate greatly affects the shape of the outer peripheral edge. As the weight is increased, the inner side of the outer peripheral end portion tends to decrease and increase toward the outer side. Further, when the weight is reduced, the outer peripheral end portion tends to be close to a plane and the surface sagging increases. The weight can be determined while observing these trends.

また、化学強化工程までに得た平坦度を維持し、さらに面粗さを向上させるように定盤の回転数を25rpmから50rpmとし、上の定盤の回転数を下の定盤回転数より30%から40%遅くするのが好ましい。   Moreover, the rotation speed of the surface plate is changed from 25 rpm to 50 rpm so that the flatness obtained until the chemical strengthening process is maintained and the surface roughness is further improved, and the rotation speed of the upper surface plate is lower than the rotation speed of the lower surface plate. It is preferable to slow by 30% to 40%.

上記の研磨条件により研磨量を30μmから40μmとするのが好ましい。30μm未満では、キズや欠陥を十分に除去ができない。また40μmを超える場合は、面粗さをRmaxが2nmから60nm、Raが2nmから4nmの範囲とすることができるが、必要以上に研磨を行うことになり製造効率が低下する。   The polishing amount is preferably 30 μm to 40 μm depending on the above polishing conditions. If it is less than 30 μm, scratches and defects cannot be removed sufficiently. On the other hand, when it exceeds 40 μm, the surface roughness can be in the range of Rmax from 2 nm to 60 nm and Ra from 2 nm to 4 nm.

第2ポリッシング工程は、第1ポリッシング工程後のガラス基板の表面を更に精密に研磨する工程である。第2ポリッシング工程で使用するパッドは、第1ポリッシング工程で使用するパッドより柔らかい硬度65から80(AskerーC)程度の軟質パッドで、例えば発泡ウレタンやスウェードを使用するのが好ましい。研磨材としては、第1ポリッシング工程と同様の酸化セリウム等を用いることができるが、ガラス基板の表面をより滑らかにするため、粒径がより細かくバラツキが少ない研磨剤を用いるのが好ましい。粒径の平均粒子径が40nmから70nmの研磨剤を水に分散させてスラリー状にして研磨液として用い、水と研磨剤との混合比率は、1:9から3:7程度が好ましい。   The second polishing step is a step of further precisely polishing the surface of the glass substrate after the first polishing step. The pad used in the second polishing step is a soft pad having a hardness of about 65 to 80 (Asker-C) softer than the pad used in the first polishing step. For example, urethane foam or suede is preferably used. As the abrasive, cerium oxide or the like similar to that in the first polishing step can be used, but it is preferable to use an abrasive having a finer particle size and less variation in order to make the surface of the glass substrate smoother. An abrasive having an average particle diameter of 40 nm to 70 nm is dispersed in water to form a slurry and used as a polishing liquid. The mixing ratio of water and abrasive is preferably about 1: 9 to 3: 7.

定盤によるガラス基板への加重は、90g/cm2から110g/cm2が好ましい。定盤によるガラス基板への加重は、第1ポリッシング工程と同様に外周端部の形状に大きく影響するが、研磨速度が遅いため第1ポリッシング工程ほど効率的に形状を変化させることはできない。加重の加減による外周端部の形状の変化は、第1ポリッシング工程と同様であり、加重を大きくしていくと、外周端部の内側が下がり外側に向かって上がる傾向を示す。また、加重を小さくしていくと、外周端部は平面に近くなるとともに面ダレが大きくなる傾向を示す。外周端部の形状を得るために、こうした傾向を観察しながら加重を決めることができる。定盤の回転数を15rpmから35rpmとし、上定盤の回転数を下定盤の回転数より30%から40%遅くするのが好ましい。 The weight applied to the glass substrate by the surface plate is preferably 90 g / cm 2 to 110 g / cm 2 . The weight applied to the glass substrate by the surface plate greatly affects the shape of the outer peripheral edge as in the first polishing step, but the shape cannot be changed as efficiently as the first polishing step because the polishing rate is slow. The change in the shape of the outer peripheral end due to the increase / decrease of the weight is the same as in the first polishing step, and when the weight is increased, the inner side of the outer peripheral end tends to fall and rise outward. Further, when the weight is reduced, the outer peripheral end portion tends to be close to a plane and the surface sagging increases. In order to obtain the shape of the outer peripheral edge, the weight can be determined while observing such a tendency. The rotation speed of the surface plate is preferably 15 rpm to 35 rpm, and the rotation speed of the upper surface plate is preferably 30% to 40% slower than the rotation speed of the lower surface plate.

上記の様に第2ポリッシング工程での研磨条件を調整して本発明の外周端部の形状を得ると伴に、面粗さをRmaxが2nmから6nm、Raが0.2nmから0.4nmの範囲とすることができる。   As described above, the polishing conditions in the second polishing step are adjusted to obtain the shape of the outer peripheral edge of the present invention, and the surface roughness is Rmax from 2 nm to 6 nm and Ra is from 0.2 nm to 0.4 nm. It can be a range.

研磨量は2μmから5μmとするのが好ましい。研磨量をこの範囲とすると、表面に発生した微小な荒れやうねり、これまでの工程で生じた微小な傷痕といった微小な欠陥を効率良く除去することができる。   The polishing amount is preferably 2 to 5 μm. When the polishing amount is within this range, minute defects such as minute roughness and undulation generated on the surface and minute scratches generated in the process so far can be efficiently removed.

第1及び第2ポリッシング工程によって、ガラス基板の表面の化学強化された領域が減少する。第1及び第2ポリッシング工程の後のガラス基板の表面に化学強化された領域が残っているか否か、あるいは残っている強化された領域の厚みについては制限はない。   The first and second polishing steps reduce chemically strengthened areas on the surface of the glass substrate. There is no limitation on whether or not the chemically strengthened region remains on the surface of the glass substrate after the first and second polishing steps, or on the thickness of the remaining strengthened region.

第2ポリッシング工程の終了後、ガラス基板の洗浄及び検査を行ない、情報記録媒体用ガラス基板が完成する。   After completion of the second polishing process, the glass substrate is cleaned and inspected to complete the information recording medium glass substrate.

尚、情報記録媒体用ガラス基板の製造方法においては、上記以外の種々の工程を有していても良い。例えば、ガラス基板の内部歪みを緩和するためのアニール工程、ガラス基板の強度の信頼性確認のためのヒートショック工程、ガラス基板の表面に残った研磨剤や化学強化処理液等の異物を除去する洗浄工程、種々の検査・評価工程等を有していても良い。   In addition, in the manufacturing method of the glass substrate for information recording media, you may have various processes other than the above. For example, an annealing process for relaxing internal distortion of the glass substrate, a heat shock process for confirming the reliability of the strength of the glass substrate, and removing foreign substances such as abrasives and chemical strengthening treatment liquid remaining on the surface of the glass substrate. You may have a washing process, various inspection and evaluation processes, etc.

また、第2ポリッシング工程では、第1ポリッシング工程で使用した研磨機をそのまま用いるのではなく、同一構成ではあるがそれぞれの工程専用に用意された別の研磨機を用いて研磨を行うのが好ましい。これは、第1ポリッシング工程で使用した研磨機をそのまま用いると第1ポリッシング工程で残留した研磨剤等により第2ポリッシング工程での研磨精度が低下したり、研磨条件を再設定する等の煩雑な作業が必要となり、製造効率が低下するためである。   Further, in the second polishing step, it is preferable not to use the polishing machine used in the first polishing process as it is, but to perform polishing using another polishing machine having the same configuration but prepared for each process. . This is because, if the polishing machine used in the first polishing process is used as it is, the polishing accuracy in the second polishing process decreases due to the abrasive remaining in the first polishing process, and the polishing conditions are reset. This is because work is required and manufacturing efficiency is lowered.

次に、情報記録媒体用ガラス基板に設ける磁気記録媒体について説明する。以下、図面に基づき磁気記録媒体について説明する。   Next, the magnetic recording medium provided on the glass substrate for information recording medium will be described. Hereinafter, a magnetic recording medium will be described with reference to the drawings.

図3は磁気記録媒体の一例である磁気ディスクの斜視図である。この磁気ディスクDは、円形の情報記録媒体用ガラス基板1の表面に磁性膜2を直接形成されている。磁性膜2の形成方法としては従来公知の方法を用いることができ、例えば磁性粒子を分散させた熱硬化性樹脂を基板上にスピンコートして形成する方法や、スパッタリング、無電解めっきにより形成する方法が挙げられる。スピンコート法での膜厚は約0.3μm〜1.2μm程度、スパッタリング法での膜厚は0.04μm〜0.08μm程度、無電解めっき法での膜厚は0.05μm〜0.1μm程度であり、薄膜化および高密度化の観点からはスパッタリング法および無電解めっき法による膜形成が好ましい。   FIG. 3 is a perspective view of a magnetic disk as an example of a magnetic recording medium. In the magnetic disk D, a magnetic film 2 is directly formed on the surface of a circular glass substrate 1 for an information recording medium. As a method for forming the magnetic film 2, a conventionally known method can be used. For example, a method in which a thermosetting resin in which magnetic particles are dispersed is spin-coated on a substrate, or a method by sputtering or electroless plating is used. A method is mentioned. The film thickness by spin coating is about 0.3 μm to 1.2 μm, the film thickness by sputtering is about 0.04 μm to 0.08 μm, and the film thickness by electroless plating is 0.05 μm to 0.1 μm. From the viewpoint of thinning and densification, film formation by sputtering and electroless plating is preferable.

磁性膜に用いる磁性材料としては、特に限定はなく従来公知のものが使用できるが、高い保持力を得るために結晶異方性の高いCoを基本とし、残留磁束密度を調整する目的でNiやCrを加えたCo系合金などが好適である。具体的には、Coを主成分とするCoPt、CoCr、CoNi、CoNiCr、CoCrTa、CoPtCr、CoNiPtや、CoNiCrPt、CoNiCrTa、CoCrPtTa、CoCrPtB、CoCrPtSiOなどが挙げられる。磁性膜は、非磁性膜(例えば、Cr、CrMo、CrVなど)で分割しノイズの低減を図った多層構成(例えば、CoPtCr/CrMo/CoPtCr、CoCrPtTa/CrMo/CoCrPtTaなど)としてもよい。上記の磁性材料の他、フェライト系、鉄−希土類系や、SiO2、BNなどからなる非磁性膜中にFe、Co、FeCo、CoNiPt等の磁性粒子を分散された構造のグラニュラーなどであってもよい。また、磁性膜は、内面型および垂直型のいずれの記録形式であってもよい。 The magnetic material used for the magnetic film is not particularly limited and conventionally known materials can be used. However, in order to obtain a high coercive force, Ni having high crystal anisotropy is basically used, and Ni or A Co-based alloy to which Cr is added is suitable. Specific examples include CoPt, CoCr, CoNi, CoNiCr, CoCrTa, CoPtCr, and CoNiPt containing Co as a main component, CoNiCrPt, CoNiCrTa, CoCrPtTa, CoCrPtB, and CoCrPtSiO. The magnetic film may have a multilayer structure (for example, CoPtCr / CrMo / CoPtCr, CoCrPtTa / CrMo / CoCrPtTa) that is divided by a nonmagnetic film (for example, Cr, CrMo, CrV, etc.) to reduce noise. In addition to the above magnetic materials, granular materials such as ferrite, iron-rare earth, non-magnetic films made of SiO 2 , BN, etc. in which magnetic particles such as Fe, Co, FeCo, CoNiPt are dispersed, etc. Also good. Further, the magnetic film may be either an inner surface type or a vertical type recording format.

また、磁気ヘッドの滑りをよくするために磁性膜の表面に潤滑剤を薄くコーティングしてもよい。潤滑剤としては、例えば液体潤滑剤であるパーフロロポリエーテル(PFPE)をフレオン系などの溶媒で希釈したものが挙げられる。   In addition, a lubricant may be thinly coated on the surface of the magnetic film in order to improve the sliding of the magnetic head. Examples of the lubricant include those obtained by diluting perfluoropolyether (PFPE), which is a liquid lubricant, with a freon-based solvent.

さらに必要により下地層や保護層を設けてもよい。磁気ディスクにおける下地層は磁性膜に応じて選択される。下地層の材料としては、例えば、Cr、Mo、Ta、Ti、W、V、B、Al、Niなどの非磁性金属から選ばれる少なくとも一種以上の材料が挙げられる。Coを主成分とする磁性膜の場合には、磁気特性向上等の観点からCr単体やCr合金であることが好ましい。また、下地層は単層とは限らず、同一又は異種の層を積層した複数層構造としても構わない。例えば、Cr/Cr、Cr/CrMo、Cr/CrV、NiAl/Cr、NiAl/CrMo、NiAl/CrV等の多層下地層としてもよい。   Furthermore, you may provide a base layer and a protective layer as needed. The underlayer in the magnetic disk is selected according to the magnetic film. Examples of the material for the underlayer include at least one material selected from nonmagnetic metals such as Cr, Mo, Ta, Ti, W, V, B, Al, and Ni. In the case of a magnetic film containing Co as a main component, Cr alone or a Cr alloy is preferable from the viewpoint of improving magnetic characteristics. Further, the underlayer is not limited to a single layer, and may have a multi-layer structure in which the same or different layers are stacked. For example, a multilayer underlayer such as Cr / Cr, Cr / CrMo, Cr / CrV, NiAl / Cr, NiAl / CrMo, or NiAl / CrV may be used.

磁性膜の摩耗や腐食を防止する保護層としては、例えば、Cr層、Cr合金層、カーボン層、水素化カーボン層、ジルコニア層、シリカ層などが挙げられる。これらの保護層は、下地層、磁性膜など共にインライン型スパッタ装置で連続して形成できる。また、これらの保護層は、単層としてもよく、あるいは、同一又は異種の層からなる多層構成としてもよい。なお、上記保護層上に、あるいは上記保護層に替えて、他の保護層を形成してもよい。例えば、上記保護層に替えて、Cr層の上にテトラアルコキシシランをアルコール系の溶媒で希釈した中に、コロイダルシリカ微粒子を分散して塗布し、さらに焼成して二酸化ケイ素(SiO2)層を形成してもよい。 Examples of the protective layer that prevents wear and corrosion of the magnetic film include a Cr layer, a Cr alloy layer, a carbon layer, a hydrogenated carbon layer, a zirconia layer, and a silica layer. These protective layers can be formed continuously with an in-line type sputtering apparatus, such as an underlayer and a magnetic film. In addition, these protective layers may be a single layer, or may have a multilayer structure including the same or different layers. Note that another protective layer may be formed on the protective layer or instead of the protective layer. For example, in place of the protective layer, tetraalkoxysilane is diluted with an alcohol-based solvent on a Cr layer, and then colloidal silica fine particles are dispersed and applied, followed by baking to form a silicon dioxide (SiO 2 ) layer. It may be formed.

上記の様にして得られる本発明の情報記録媒体用ガラス基板を基体とした磁気記録媒体を用いることで、LUL時及び高速回転時の磁気ヘッドの動作を安定にすることができる。   By using the magnetic recording medium based on the glass substrate for information recording medium of the present invention obtained as described above, the operation of the magnetic head during LUL and high-speed rotation can be stabilized.

情報記録媒体用ガラス基板における表主表面から外周端面に至る部分の形状を模式的に示す拡大して示す図である。It is an enlarged view schematically showing the shape of the part from the front main surface to the outer peripheral end surface in the glass substrate for information recording medium. 情報記録媒体用ガラス基板の全体構成を示す図である。It is a figure which shows the whole structure of the glass substrate for information recording media. 情報記録媒体用ガラス基板の表主表面の上に磁性膜を備えている磁気記録媒体の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the magnetic recording medium provided with the magnetic film on the front main surface of the glass substrate for information recording media. 情報記録媒体用ガラス基板の製造における工程を説明するフロー図である。It is a flowchart explaining the process in manufacture of the glass substrate for information recording media.

符号の説明Explanation of symbols

1 情報記録媒体用ガラス基板(ガラス基板)
2 磁性膜
10a 表主表面
10b 裏主表面
13 孔
14 外周端面
15 内周端面
D 磁気ディスク
R1、R2、Rt 位置
BL 輪郭線
SH 基準平面
TL1 第1の接線
TL2 第2の接線
Hp 変曲点
θ1、θ2 最大角度
1 Glass substrate for information recording media (glass substrate)
2 magnetic film 10a front main surface 10b back main surface 13 hole 14 outer peripheral end surface 15 inner peripheral end surface D magnetic disk R1, R2, Rt position BL contour SH reference plane TL1 first tangent TL2 second tangent Hp inflection point θ1 , Θ2 Maximum angle

Claims (3)

平坦部を有する主表面と同心の外周端面と内周端面とを有するドーナツ形状の情報記録媒体用ガラス基板において、
前記情報記録媒体用ガラス基板の径方向で前記主表面に垂直な断面の同一の主表面側の輪郭線の上で、位置R1と前記位置R1から前記外周端面への方向に一定間隔離れて位置R2とを定め、
前記輪郭線は前記位置R1から前記位置R2の間から前記情報記録媒体用ガラス基板側に下降し、
下降している前記輪郭線が前記位置R2に達するまでの間に、変曲点が1つ有り、
前記位置R1から変曲点に至る前記輪郭線に接する第1の接線と前記主表面の平坦部を基準とする基準平面とが成す最大角度θ1及び前記変曲点から前記位置R2に至る前記輪郭線に接する第2の接線と前記第1の接線とが成す最大角度θ2は、以下の条件式を満たし、
0° < θ1 ≦ 5°
θ1×0.5 ≦ θ2 ≦ θ1×2
且つ、前記位置R2より前記外周端面への方向の輪郭線は、前記基準平面より基板側にあって、前記基準平面より離れる方向へ伸びて前記外周端面に至ることを特徴とする情報記録媒体用ガラス基板。
但し、
位置R1:情報記録媒体用ガラス基板の中心軸からの距離がR×0.90である位置
位置R2:情報記録媒体用ガラス基板の中心軸からの距離がR×0.975である位置
R:情報記録媒体用ガラス基板の中心軸から外周端面までの距離
最大角度θ1:基準平面から第1の接線の方向に向かう角度(プラス)とする。
最大角度θ2:第1の接線から第2の接線の方向に向かう角度(プラス)とする。
In a glass substrate for an information recording medium having a donut shape having an outer peripheral end surface and an inner peripheral end surface concentric with a main surface having a flat portion,
On the same main surface side contour line in the radial direction of the glass substrate for information recording medium and perpendicular to the main surface, the position R1 is spaced apart from the position R1 in the direction from the position R1 to the outer peripheral end surface. R2 is determined,
The contour line is lowered from the position R1 to the position R2 toward the information recording medium glass substrate side,
There is one inflection point until the descending contour line reaches the position R2.
The maximum angle θ1 formed by a first tangent line that contacts the contour line from the position R1 to the inflection point and a reference plane that uses the flat portion of the main surface as a reference, and the contour from the inflection point to the position R2 The maximum angle θ2 formed by the second tangent tangent to the line and the first tangent satisfies the following conditional expression:
0 ° <θ1 ≤ 5 °
θ1 × 0.5 ≦ θ2 ≦ θ1 × 2
The contour line in the direction from the position R2 to the outer peripheral end surface is closer to the substrate than the reference plane, extends in a direction away from the reference plane, and reaches the outer peripheral end surface. Glass substrate.
However,
Position R1: Position R2 where the distance from the central axis of the glass substrate for information recording medium is R × 0.90: Position R where the distance from the central axis of the glass substrate for information recording medium is R × 0.975: Maximum distance θ1 from the central axis of the glass substrate for information recording medium to the outer peripheral end surface: an angle (plus) from the reference plane toward the first tangent.
Maximum angle θ2: An angle (plus) from the first tangent to the second tangent.
請求項1に記載の情報記録媒体用ガラス基板の表面に磁性膜を有することを特徴とする磁気記録媒体。 A magnetic recording medium comprising a magnetic film on a surface of the glass substrate for information recording medium according to claim 1. LUL方式の磁気記録媒体であることを特徴とする請求項2に記載の磁気記録媒体。 The magnetic recording medium according to claim 2, wherein the magnetic recording medium is an LUL type magnetic recording medium.
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