JP2011526056A - 照明器具及び制御方法 - Google Patents
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Abstract
照明器具は、少なくとも一つの置換可能なモジュール(112、114)を含み、個々のモジュール(112、114)が少なくとも一つの光源(106〜110)を含む。個々のモジュール(112、114)は、少なくとも一つの光源(106〜110)の経年劣化により生じる光強度の変化を、時間の関数として予め定められたやり方で前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力を調整することにより、補償するコントローラ(102、104)を含む。
Description
本発明は、照明器具及び制御方法に関する。
LED(発光ダイオード)若しくはLEDアレイなどの、複数の照明ユニットを含む照明器具は、インテリアや野外の場所を照らすのに用いられ得る。野外の照明器具の例として、街路灯を挙げることができる。照明器具の照明ユニットが壊れると、新しい稼動ユニットで置き換えればよい。
壊れた照明ユニットが、新しい稼動ユニットで置き換えられると、モデル及びタイプが同じであったとしても、通常、新しい稼動ユニットは元の照明ユニットと全く同じではない。LEDも急速に発展しその強度も増加し続けている。従って、新しい照明ユニットは、元の照明ユニットが新しかったときよりも、通常より明るい。更に、照明器具内に未だ存在する無傷の照明ユニットは利用により経年劣化し、それらの強度は減少する。また温度も照明ユニットの経年劣化に影響する。新しい照明ユニットが、元の照明ユニットが新しかったときと同じくらい明るくても、新しい照明ユニットは、利用により既に経年劣化した照明ユニットよりも一般に明るい。
新しい照明ユニットの強度は、照明ユニットの強度を計測し、計測した強度を所望の強度と比較し、更に、照明ユニットの強度が所望のレベルで落ち着くように照明ユニットに供給される電力を制御することにより、所定のレベルに設定され得る。
しかしながら、問題点はこの解決策に関連する。解決策の構造は複雑である。更に、照明ユニットの強度の計測は、光学計測センサの汚れにより、氷、雪、及び/又は他のところから生じる光の干渉で、干渉される。
本発明の目的は、改良された照明器具及び方法を提供することである。
上記目的は、少なくとも一つの置換可能なモジュールを含み、個々のモジュールが少なくとも一つの光源を含む、照明器具により、達成される。個々のモジュールは、少なくとも一つの光源の経年劣化により生じる光強度の変化を、時間の関数として前記少なくとも一つの光源に供給される電力を調整すること、及び、供給される前記電力を予め定められたやり方で調整することにより、補償するように調整されているコントローラを含む。
本発明は、照明器具の制御方法にも関する。少なくとも一つの光源の経年劣化により生じる光強度の変化は、時間の関数として前記少なくとも一つの光源に供給される電力を調整すること、及び、供給される前記電力を予め定められたやり方で調整することにより、補償される。
本発明の好適な実施形態は、従属請求項に記載される。
本発明の方法及びシステムは、複数の利点を与える。照明器具の強度は、照明器具の寿命全体の期間、モジュールを置換すること無く、簡素な構成で望むように保持され得る。汚れ、氷、雪、若しくは他所からの干渉光は、個々でも、組み合わされても、強度の調整を妨げない。
図1により、照明器具を以下説明する。一般主要部は、例えば、モジュール112、114へ電力を供給し得る。モジュール112は、1つの光源106を含む。モジュール114の方は、2つの光源108、110を含む。光源106、108、110は、LEDであればよい。一般に、一つ若しくはそれ以上のモジュールが備わり、個々のモジュールは一つ若しくはそれ以上の光源を含み得る。モジュール専用のコントローラ102、104は、一般主要部から生じ得る交流電流を、例えば、直流電流に変換し得る。一般主要部の代わりに、電力は、照明器具システム、照明器具若しくは光源の、特別の電源から生じるものであってもよい。コントローラ102、104は、モジュール112、114に供給される電力も制御し得る。コントローラ102、104は、例えば、インパルス速度を変更することにより、電圧レベル、及び/又は、供給される電流の強さを、制御し得る。
個々のモジュール112、114は、それ自身のコントローラ102、104を含み、該コントローラ102、104は、モジュール112、114及び/又はそれら内部の少なくとも1つの光源106〜110の経年劣化により生じる光強度の変化を、個々の光源106〜110若しくはモジュール112、114に供給される電力を時間の関数として予め定められたやり方で調整することによって、補償する。
図2に示す解決策を以下説明する。個々のコントローラ102、104は、電源202、アジャスタ204、プロセッサ206、メモリ208、及びクロック210を含み得る。更に、個々のコントローラ102、104は、センサ212、センサ214、及び温度計216を含み得る。クロック210及び温度計216は、全体の照明器具に共通であってもよい。クロックはモジュール専用であってもよい。温度計216は、モジュール専用でもよいし、光源専用でもよい。実際の温度の代わりに、温度の関数である閾値電圧が、光源として機能するLEDから計測されてもよい。このようにすれば、独立の温度計無しで温度を計測できる。
更に、エスコートメモリとして機能し得るメモリ218は、モジュール専用でもよく、このことにより、メモリ208内に格納されるデータに対応する補償データ及び/又はストレスデータは、ここのモジュールのメモリ218内に格納され得る。データはメモリ218内に書き込み可能であり、メモリ218内のデータは電力供給導体を介して読み取り可能である。
メモリ218、及び光源106〜110として機能する少なくとも一つのLEDは、1つの置換可能照明器具コンポーネント222に統合され得る。コンポーネント222は、一つ若しくはそれ以上の電気回路を含むが、それは半導体チップであればよい。コンポーネント222は、一つのみの半導体チップを含んでもよく、その中にメモリ218及び少なくとも一つの光源106〜110が統合される。コンポーネント222は温度計220を含んでもよく、該温度計220は直接に若しくはしきい値電圧により温度を計測する。
クロック210は、個々の光源106〜110若しくはモジュール112、114が、供給される電力を調整するために利用された時間を計測してもよい。クロック210は、出力若しくは個々の電気出力範囲が、少なくとも一つの光源106〜110若しくはモジュール112、114に接続した時間を計測してもよい。
最初に、照明装置が一定の強度で照らすと仮定する。モジュール114を説明する。同様のことはモジュールの調整にも概略適用される。プロセッサ206は、時間に対する光源の照度の振る舞いに関する、メモリ208、218内に格納されたデータによって、時間の関数としてモジュール114への電源202の電力の供給を変更するように、アジャスタ204を制御し得る。一般的に、光源の強度は時間の関数として減少するので、マイクロプロセッサ206は、強度を一定に保持するためにモジュール114へより多くの電力を供給するように、アジャスタ204を制御し得る。センサ214は、電流の大きさなどの、光源106に供給される電力を計測し、プロセッサ206内にデータをインプットし得る。このように、プロセッサ206は、モジュール114に実際に供給される電力が、マイクロプロセッサ206が意図する正確な大きさのものであるか、比較し得る。
光源106〜110がモジュール112、114により制御されるならば、個々のモジュール112、114は、例えば、600ルーメンの所与の光強度レベルを有してもよい。そうであるなら、消費電流は例えば、15Aであればよい。しかしながら、この電流(及び電力)は経年劣化により変化する。
個々のプロセッサ206は、電気出力範囲の期間に基づいて光強度の変化を調整し得る。電気出力は、一つ若しくはそれ以上の出力範囲に概算され得る。従って、電流の約1.5Aがモジュール112、114に供給されたならば、例えば、夫々の6700時間後、モジュール112、114の光強度は10%減少する、ということになり得る。光強度の10%の減少が偏差値に対応するならば、そのサイズの変化若しくはそれを超えるサイズの変化は光強度で発生してはならないものであり、光強度の調整が実行される。この場合、プロセッサ206は、夫々の6700時間後、モジュール112、114へ例えば、10%高い電流を供給し得る。経年劣化と共に、変化は時間の関数として速度を落とすことも速度を上げることもある。この場合、最初の6700時間後、電力は10〜%の増加を要求されることがあるが、更なる10%は、10000時間後にのみ、若しくは更に5000時間後、要求され得る。しかしながら、光強度がいかに変化しても、所定の時間後、電力の供給が個々のモジュール内でどれだけ多く増加するかに関するデータが、メモリ208、218内に格納され得る。
電源202により供給される出力範囲も変化し得る。この場合、電流の電圧レベル若しくは強さレベルは、適応可能である。個々のプロセッサ206は、個々の光源若しくはモジュールに供給される電気出力範囲を設定し、設定した電気出力範囲に基づいて時間の関数としてそれを調整し得る。光源106〜110がモジュール112、114により制御されるならば、個々のモジュール112、114は、例えば、二つの光強度レベルを有し得るのであり、その二つの光強度レベルは、例えば、400ルーメンと800ルーメンであればよい。より低い強度レベルでは電力はより低く(例えば、電流は約1Aであり)、より高い強度レベルでは、電力はより高い(例えば、電流は約2Aである)。個々のプロセッサ206は、所望の出力範囲を設定することにより、個々のモジュールを所望の強度レベルに制御できる。所望の出力範囲を設定することに従って、個々のモジュールに出力が供給される。より高い電力の消費、より高い温度などのために、より高い強度レベルでは、経年劣化及び光強度の減少は、一般により早くなる。供給される電力は、センサ214、及びプロセッサ206にインプットされるデータでも、計測可能である。
個々のプロセッサ206は、個々の電気出力範囲の期間の時間に基づいて、光強度の変化を補償し得る。従って、約1Aの電流がモジュール112、114に供給されるならば、例えば、毎10000時間後、モジュール112、114の光強度は10%減少する、ということになり得る。光強度の10%(若しくは固定値の40ルーメン)の減少が偏差値に対応するならば、そのサイズの変化若しくはそれを超えるサイズの変化は光強度で発生してはならないものであり、光強度の調整が実行される。この場合、毎1000時間後に、モジュール112、114へ、約10%高い電流が供給され得る。経年劣化と共に、変化は速度を落とすことも速度を上げることもある。しかしながら、光強度がいかに変化しても、所定の時間後、電力の供給が個々のモジュール内でどれだけ多く増加するかに関するデータが、メモリ208、218内に格納され得る。
それに応じて、約2Aの電流が、モジュール112、114に供給されるならば、例えば、毎5000時間後、モジュール112、114の光強度は10%減少する、ということになり得る。この例においても、光強度の10%(若しくは固定値の80ルーメン)の減少が偏差値に対応するならば、そのサイズの変化若しくはそれを超えるサイズの変化は光強度で発生してはならないものであり、光強度の調整が実行される。この場合、毎5000時間後に、モジュール112、114へ、約10%高い電流が供給され得る。上述の内容と同様に、経年劣化と共に、変化は速度を落とすことも速度を上げることもある。しかしながら、光強度がいかに変化しても、所定の時間後、電力の供給が個々のモジュール内でどれだけ多く増加するかに関するデータが、メモリ208、218内に格納され得る。
概略、コントローラ102、104は、供給される電力p及び時間tの関数として、所望の強度からの、少なくとも一つの光源106〜110及び/又はモジュールの、強度偏差dを決定し得る。これは、数学的にd=f(p,t)と表記できる。関数fは、例えば、電力と時間の間の積であっても良い。この場合、所定の偏差値は、10000Ahでよく、これは前の例での10%〜の減少に対応する。
温度Tも考慮すると、偏差dは、k≧d=f(p,t,T)として現され得る。両方の場合にて、関数fは、電力及び時間(並びに温度)に関して増加する関数である。関数fは、f(p,t,T)=ref−g(p,t,T)などの、定数項refを含むことがある。ここでrefは所望の光強度を意味し、g(p,t,T)は実際の強度を意味する。この場合、偏差dは、所望の強度と実際の強度の間の差異を示す。差異の代わりに、比率f(p,t,T)=ref/g(p,t,T)も設定し得る。偏差dが所定の偏差値kと等しい若しくはそれを超えるならば、強度は調整される。
関数fが、例えば、以下の数2の総和(=d≧k)であるならば、モジュール114、114、若しくは個々の光源106〜110の光強度は、調整され得る。
ここで、iは総和のインデクス(出力範囲のインデクス)であり、Nは加算される項の数(例えば、出力範囲の数)であり、piは時間の重み係数であり、tiは出力範囲で用いられる時間であり、kは偏差値である。重み係数piは出力範囲を表す。クロックが、パルスをカウントするカウンタであるならば、重み係数piは、パルス数若しくはパルス周波数を乗じるのに用いられ得る。コントローラ102、104は、偏差dを決定できる。所定の偏差値kは、メモリ208、218内に格納される。プロセッサ206は、両方の関数f、gの値を計算する、若しくは、メモリ208、218から読み出す。この場合、それらは、所定の値として格納されている。
更に、若しくは一方で、個々のコントローラ102、104は、個々の光源106〜110の温度を計測し、計測した温度に基づいて時間の関数としてそれらに供給される電力を調整することもできる。例えば、モジュール112、114は50℃となることもあり、80℃となることもある。経年劣化及び光強度の減少は、高温ではより早い。
個々のコントローラ102、104は、個々の温度の時間の期間に基づいて、光強度の変化を補償し得る。この場合、温度計216は、照明設備及び/又は環境の温度を計測し得る。従って、モジュール112、114の温度が10000時間50℃であったならば、モジュール112、114の光強度は、10%減少し得る。モジュール112、114の温度が5000時間80℃であったならば、モジュール112、114の光強度はやはり、10%減少し得る。光強度の10%〜の減少が偏差値kに対応するならば、そのサイズの変化若しくはそれを超えるサイズの変化は光強度で発生してはならないものであり、光強度の調整が実行される。この場合、50℃の温度で1000時間が費やされた後毎に、モジュール112、114に例えば10%高い電流が供給され得る。それに対応して、80℃の温度で6250時間が費やされた後毎に、モジュール112、114に例えば10%高い電流が供給され得る。更に、前述のように、経年劣化と共に、光強度の変化はスローダウンすることもスピードアップすることもあるが、しかしながら、光強度がいかに変化しても、所定の時間後、電力の供給が個々のモジュール内でどれだけ多く増加するかに関するデータが、メモリ208、218内に格納され得る。
一つ若しくはそれ以上の所定の偏差値は個々のコントローラ102、104内に格納され得る。コントローラ102、104は、上記少なくとも一つの光源106〜110に供給される電力及び時間の関数として、所望の強度からの、上記少なくとも一つの光源106〜110の強度の偏差を、決定し得る。個々のコントローラ102、104は、偏差が所定の偏差値kを超えるとき、上記少なくとも一つの光源106〜110に供給される電力を調整し得る。光強度の変化に関するデータは、モジュール112、114の製造段階でメモリ208、218内に格納され得る。所定の偏差値kは、種々の強度レベルで種々の大きさとなり得る。
痙攣劣化により減退する強度の補償に係る作用は、リアルタイムで実行されるか、若しくは、例えば、1000時間の間隔で所定の機会に実行される。リアルタイムの操作では、常時、計測及びパワーサプライ変更要求は、判定される。所定の機会に操作する場合、コントローラ102、104は、例えば、1000時間におけるパワーレベルデータ及び/又は温度データを収集し、光源へのパワーサプライを変更する必要があるかどうか1000時間の間隔で決定し得る。作用を実行するのに、1000時間の代わりに、適切などの小弟時間が選択されても良い。
メモリ208、218に格納されたデータは、予め実行された計測によって判定される強度の推定上の進展に基づくことができる。メモリ208、218に格納されたデータは、光源の製造者により計測され及び/若しくは与えられるデータに、又は、モジュールの製造者の計測に、基づき得る。
インストールされたモジュールに関するデータを含む信号は、メモリ208、218に格納されたデータを変更するために、一般主要部に対して、又は、照明器具に係る別のパワーサプライネットワークに対して、伝送され得る。データは、光源106〜110及びモジュール112、114を予め個別に計測することにより取得され得る。或いは、データは、製造者から取得されたデータに基づいてもより。センサ212は信号を受け、信号に含まれるデータをプロセッサ206に伝送する。該プロセッサ206は、信号に含まれるデータをメモリ208、218内に格納する。新しい照明ユニットに係る信号は、受信したコントロール信号のための解釈データ、並びに、時間及び温度に対する新しい光源の振る舞いに関するデータを含んでもよい。更に、データは、新しい光源若しくはモジュールの電気コントロールを決定しても良い。このように、プロセッサ206は、電源202を調整して新しく置換されたモジュールに例えば所望の出力範囲の正しい種類の電力を供給するように、アジャスタ204を制御できる。電力は、メモリ208、218内に格納されたデータに従って、プロセッサ206、アジャスタ204及び電源202によっても調整され得る。要求されると、メモリ208、218内のデータは、更にコントロール信号により変更され得る。更に、メモリ208、218は、例えば、適切なコンピュータプログラム、受信されたコントロール信号のための解釈データ、並びに、時間及び温度に対する光源の振る舞いに関するデータを含んでもよい。
図3は、経年劣化の関数として光強度の調整を示す。縦軸は光強度Iであり、横軸は時間である。両方の軸は、自在に選択された線形スケールである。ライン300は、第1の所望の強度レベルI1を表し、ライン302は、第2の所望の強度レベルI2を表す。モジュール(個別の光源も含まれる)が時間0で照らし始めると、所望の強度レベル302で照射させる量で、電力が供給される。しかしながら、電力が一定を維持すると、経年劣化によりモジュールの実際の強度304が減少する。時間がt1にまで経過すると、所望の強度302からの実施の強度304の偏差が、予め定められた偏差値kの大きさにまで増大し、強度が調整され、これにより、実際の強度304は所望の強度302に(略)等しくなる。
時刻t2では、実際の強度304は、所望の強度レベル300に呼応するように調整される。所望の強度レベル300は所望の強度レベル302よりも高いので、所望の強度レベルでは電力の消費もより高い。この理由により、経年劣化もより早いものであり(実際の強度の減少部分の角度係数もより高いものであり)、調整もより頻繁に為されなければならない。
時刻t3にて、実際の強度304が落ちたが調整を求められるほどではない場合、実際の強度304は所望の強度300のレベルに計算し戻される。しかしながら、所望の強度302のレベルで調整はされなかったので、実際の強度304は所望の強度300より僅かに下を維持し得る。しかしながら、時刻t4にて調整が生じる。予め定められた偏差値kは、異なる強度レベルでは異なる大きさとなり得る。
図4は、時間の関数として、モジュール若しくは光源に供給されるパワーを示す。縦軸はエネルギE(例えば、電力と時間の積、E=pt)であり、横軸は時間である。曲線400は、モジュール若しくは光源のエネルギを現す。時刻t3まで、電力は変更無しで保持される。但し、経年劣化による調整が、時刻t1及びt2にて為されている。時刻t3にて、出力範囲はより高く上げられ、その後、より大きい出力範囲がスピードアップするにつれて、調整がより頻繁に為されなければならない。
図3及び図4は、ステップ状のインクリメントとしての電力の調整を示す。しかしながら、調整が連続して実行されるならば(即ち、偏差値kがゼロに接近するならば)、ステップ状の特性は図3の曲線から消滅し、実際の強度は所望の値に近接して追随する。図4の曲線はというと、点線402により示される連続増加関数に変化する。この場合、ステップ状の変化は、出力範囲における変化のt2及びt3にて生じ得る。
図5は、他のモジュールの光強度を増加することにより、破損したモジュールにより生じる光強度の低下が補償される実施形態を示す。コントローラ102、103、104は、光源アレイ500、502、504に接続され、夫々はLEDなどの少なくとも一つの光源を含む。光源アレイは、モジュールでも、モジュールに依存しないアレイでもよい。例えば、光源アレイ500が破損すると、コントローラ102は破損を検知する。この検知は、光源アレイ500が最早電力を消費しないという事実に基づくものであってもよく、例えば、そのことは電流計測により計測され得る。従って、コントローラ102が、光源500の電気回路の電流強度が予め定められた閾値より低いと計測すると、コントローラ102は光源アレイ500が破損したと判定する、コントローラ102は他のコントローラ103、104に破損を信号で伝え、他のコントローラ103、104は、破損に関する情報を得て、光源アレイ502、504へのより多くの電力を制御する。電力の増加は、破損した光源アレイ500の光強度若しくはそれに近接した強度に対応する、光強度の増加に対応し得る。光源アレイ502、504の増加した電力は、経年劣化による補償をより頻繁に調整すべきであるという必要を現す。
図6は、コントローラ102、103、104が含み得るスイッチングパワーサプライを示す。この場合、モジュール112の電気駆動力はパルス状であればよい、即ち、電流が、例えば、パルスとしてモジュール112に到着すればよい。パルス状はモジュールに供給される前に、フィルタされ直流となってもよい。スイッチングパワーサプライ600は、プログラム可能のソース600及び増幅器604を含んでもよい。プログラム可能のソース600は、例えば、プロセッサでよい。プログラム可能のソース600は、増幅器602のアウトプットにて最も高いパルス高さを決定するレファレンスを受信し得る。モジュール112への電力の供給は、レファレンスを変更することにより調整され得る。
プログラム可能のソース600は、電気駆動力に関連し、且つ、増幅器602のアウトプットにてパルス幅を決定する、パルス幅情報を受信し得る。モジュール112への電力の供給は、パルス幅情報を変更することにより、調整され得る。
プログラム可能のソース600は、電気駆動力に関連し、且つ、増幅器602のアウトプットにてパルス周波数を決定する、パルス周波数情報も受信し得る。パルス幅が一定に保持されれば、モジュール112への電力の供給は、パルス周波数を変更することにより、調整され得る。増幅器602は、増幅器602が駆動電気ポール600から取得する電力を、プログラム可能のソース600により制御される一つ若しくはそれ以上のソースに供給する。駆動電気ポール604は、パルス状の駆動電力若しくは直流電力を含むことができるが、これらは駆動電圧により予め決定されており、交流電流から電源にて生成され得る。
レファレンス、パルス幅情報及びパルス周波数情報は、キーボード、タッチスクリーン、マイクロホンなどのユーザインタフェース606を介して、プログラム可能のソース600にインプットされ得る。
図7は、電源202及び/又は増幅器602の、少なくとも一部を示し、これらにより、光源に供給される電力は調整される。抵抗700及び可変抵抗702の一定値の平行接続は、駆動電気ポール604と少なくとも1つの光源とに直列で接続し得る。可変抵抗702は、例えば、FETトランジスタ(電界効果トランジスタ)であってもよい。可変抵抗702の抵抗(電流の伝導性)が変更されると、平行接続の抵抗も変化する。可変抵抗702の抵抗が低いと(抵抗700の値よりも低いと)、大量の電流が光源に流れ得る。可変抵抗702の抵抗が高いと(抵抗700の値よりもずっと高いと)、平行接続により生成される抵抗が抵抗700の値と等しくなる。可変抵抗702の値は、コントローラ206及び/又は600が増幅器204で共に調整し得る、FET抵抗のゲート電圧で変化し得る。
図7に記載されていないが、一定値抵抗700及び可変抵抗702は、直列に接続されてもよく、そうすると、一定値抵抗700は光源への最大限電力を決定することになる。
更に図7に記載されていないが、一定値抵抗700は必ずしも必要でなく、可変抵抗702が、一定値抵抗700により決定される上限若しくは下限無しで、光源への電力を調整するものであってもよい。
図8は、方法のフロー図を示す。ステップ800では、光源106〜110の少なくとも一つの経年劣化から生じる光強度の変化が、時間の関数として所定のやり方で少なくとも一つの光源106〜110に供給される電力を調整することにより、個々のモジュール112、114内のコントローラ102、104で補償される。
コントローラ102〜104は、一時的温度の関数としても、少なくとも一つの光源106〜110に供給される電力を変更し得る。光源の温度が高ければ高い程、光源が照らす強度はより低い、というのが一般的事実である。従って、例えば、光強度を一定に保持するために、高温では、低温よりもより多くの電力が光源に供給されねばならないといえる。
本発明について、添付の図面に係る実施例を参照して明細書に記載したが、本発明がそれらに限定されず添付の請求項の範囲内で様々に変更し得ることは、明白である。
102、104・・・コントローラ、112、114・・・モジュール、106、108、110・・・光源。
Claims (29)
- 少なくとも一つの置換可能なモジュール(112、114)を含み、個々のモジュール(112、114)が少なくとも一つの光源(106〜110)を含む、照明器具であって、
個々のモジュール(112、114)は、
少なくとも一つの光源(106〜110)の経年劣化により生じる光強度の変化を、時間の関数として前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力を調整すること、及び、供給される前記電力を予め定められたやり方で調整することにより、補償するように調整されているコントローラ(102、104)を含むことを特徴とする照明器具。 - 一つ若しくはそれ以上の予め定められた偏差値が個々のコントローラ(102、104)内に格納され、
前記コントローラ(102,104)は、前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力及び時間の関数として、所望の強度からの前記少なくとも一つの光源(106〜110)の強度の偏差を判定するように構成され、
個々のコントローラ(102、104)は、前記偏差が個々の予め定められた偏差値を超えると、前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力を調整するように設定されていることを特徴とする請求項1に記載の照明器具。 - 格納されるデータは、光源(106〜110)の製造者の計測、又は、製造者に与えられる計測値若しくは情報に基づくものであることを特徴とする請求項2に記載の照明器具。
- 個々のコントローラ(102、104)は、前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力を所望の出力範囲に設定し、設定された電気出力範囲の期間の時間に基づいて、前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力を調整するように、構成されていることを特徴とする請求項1に記載の照明器具。
- 個々のコントローラ(102、104)は、複数の出力範囲で前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給を行い、個々の出力範囲の期間の時間に基づいて、光強度の変化を調整するように、構成されていることを特徴とする請求項4に記載の照明器具。
- コントローラ(102、104)は、少なくとも一つの光源(106〜110)の温度を判定し、計測された温度の期間の時間に基づいて前記少なくとも一つの光源(106〜110)へ供給される電力を調整するように、構成されていることを特徴とする請求項1に記載の照明器具。
- 個々のコントローラ(102、104)は、予め定められた温度範囲として温度を判定し、個々の温度範囲の期間の時間に基づいて、光強度の変化を調整するように、構成されていることを特徴とする請求項6に記載の照明器具。
- 個々の光源(106〜110)が、LEDであることを特徴とする請求項1に記載の照明器具。
- 照明器具が、前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力を調整するために、時間を計測するように構成されている少なくとも一つのクロック(210)を含むことを特徴とする請求項1に記載の照明器具。
- クロック(210)が、電力のサプライが前記少なくとも一つの光源(106〜110)に接続する時間を計測するように構成されていることを特徴とする請求項1に記載の照明器具。
- コントローラ(102、104)が、光強度を調整するために、温度の関数として少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力を変更するように構成されていることを特徴とする請求項1に記載の照明器具。
- 照明器具が、少なくとも一つの光源(106〜110)及びメモリ(218)を含む少なくとも一つの統合されたコンポーネント(222)を含み、
前記メモリ内では、予め定められたやり方で時間の関数として前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力を調整するために、データが格納されることを特徴とする請求項1に記載の照明器具。 - 統合されたコンポーネント(222)が、一つの半導体チップを含むことを特徴とする請求項12に記載の照明器具。
- モジュール(112、114)の光源(106〜110)が破損すると、少なくとも一つの他のモジュール(112、114)のコントローラ(102、104)が光源(106〜110)への電力を増加するように構成されていることを特徴とする請求項1に記載の照明器具。
- コントローラ(102、104)は、プログラム可能のソース(600)及び増幅器(602)を含み、
前記プログラム可能のソース(600)は、レファレンスを受信し、前記レファレンスに基づいて少なくとも一つの光源に電力を供給するように前記増幅器(602)を制御することを特徴とする請求項1に記載の照明器具。 - 少なくとも一つの光源(106〜110)の経年劣化により生じる光強度の変化を、時間の関数として前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力を調整すること、及び、供給される前記電力を予め定められたやり方で調整することにより、個々のモジュール(112、114)内のコントローラ(102、104)によって、補償することを特徴とする照明器具の制御方法。
- 前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力及び時間の関数として、個々のコントローラ(102、104)により、所望の強度からの前記少なくとも一つの光源(106〜110)の強度の偏差を判定し、
前記偏差が少なくとも一つの予め定められた偏差値を超えると、予め定められた量により前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力を調整する、
ことを特徴とする請求項16に記載の方法。 - 予め定められた偏差値は、光源(106〜110)の製造者の計測、又は、照明器具の製造者に与えられる計測値若しくは情報に基づくものであることを特徴とする請求項17に記載の方法。
- 個々のコントローラ(102、104)により、前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力を所望の出力範囲に設定し、
設定された電気出力範囲の時間の期間に基づいて、前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力を調整する、
ことを特徴とする請求項16に記載の方法。 - 個々のコントローラ(102、104)により、複数の出力範囲で前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給を行い、
個々の出力範囲の時間の期間に基づいて、光強度の変化を調整する、
ことを特徴とする請求項19に記載の方法。 - 少なくとも一つの光源(106〜110)の温度を判定し、
計測された温度の時間の期間に基づいて前記少なくとも一つの光源(106〜110)へ供給される電力を調整する、
ことを特徴とする請求項16に記載の方法。 - 予め定められた温度範囲として温度を判定し、
個々の温度範囲の時間の期間に基づいて、光強度の変化を調整する、
ことを特徴とする請求項21に記載の方法。 - 個々の光源(106〜110)が、LEDであることを特徴とする請求項16に記載の方法。
- 前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力を調整するために、クロック(210)により時間を計測する
ことを特徴とする請求項16に記載の方法。 - 電力のサプライが前記少なくとも一つの光源(106〜110)に接続する時間を計測する、
ことを特徴とする請求項24に記載の方法。 - 光強度を調整するために、温度の関数として少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力を変更する、
ことを特徴とする請求項16に記載の方法。 - 照明器具が、
少なくとも一つの光源(106〜110)及びメモリ(218)を含む少なくとも一つの統合されたコンポーネント(222)を含み、
前記メモリ内にはデータが格納され、
前記データは、予め定められたやり方で時間の関数として前記少なくとも一つの光源(106〜110)に供給される電力を調整するために、用いられる、
ことを特徴とする請求項16に記載の方法。 - モジュール(112、114)の光源(106〜110)が破損すると、少なくとも一つの他のモジュール(112、114)の少なくとも一つの光源(106〜110)の電力を増加する、
ことを特徴とする請求項16に記載の方法。 - コントローラ(102、104)は、プログラム可能のソース(600)及び増幅器(602)を含み、
レファレンスは、前記プログラム可能のソース(600)により受信され、
前記増幅器(602)は、前記レファレンスに基づいて少なくとも一つの光源に電力を供給するように制御される
ことを特徴とする請求項16に記載の方法。
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