JP2011511570A - 正確な入力オフセット電圧を有する差動増幅器 - Google Patents

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Abstract

【解決手段】正確な入力オフセット電圧を有する増幅器が述べられる。一設計では、増幅器は第1及び第2不平衡差動対を含む。第1不平衡差動対は、差動入力信号を受信し、第1差動電流信号を供給する。第2不平衡差動対は、差動参照信号を受信し、差動出力信号を得るために第1差動電流信号から減算される、第2差動電流信号を供給する。第2差動電流信号は、差動入力信号が、増幅器の目標となる入力オフセット電圧に等しい際に、差動出力信号がゼロになるように、第1差動電流信号中のエラー電流に追随する。各不平衡差動対では、一方のトランジスタは他方のトランジスタのサイズのM倍であり、Mは、目標となる入力オフセット電圧が得られるように選択される。
【選択図】図3

Description

この開示は電子工学に関し、より具体的には増幅器に関する。
増幅器は、信号をバッファ及び/または増幅して所望の信号レベルを得るために一般的に用いられる。増幅器は、通信、演算、ネットワーク形成、及び家庭用電化製品などのような種々のアプリケーションにおいて広く用いられる。例えば、携帯電話のような無線通信デバイスでは、増幅器は、ディスプレイ・デバイス、カメラ、及び外部デバイスについてのデータ通信リンクを介して信号を受信するために用いられ得る。
増幅器は、データリンク上の2つの相補的な信号線間の電圧差を検出するために用いられ得る。これらの信号線は、データリンクがアクティブである際に差動信号を搬送し、データリンクがアイドルである際にはフローティングであり得る。信号線がフローティングである際、ノイズはこれらの信号線に容易に結合し、この線上に小さな差動信号を生じさせ得る。データリンクがアクティブである際には、これらの線上の実際の信号を正確に検出し、データリンクがアイドルである際には、これらの線に結合したノイズによる誤ったトリガ(false trigger)を回避することが望ましいだろう。
正確な入力オフセット電圧を有する増幅器が、本明細書において述べられる。増幅器は、入力オフセット電圧よりも大きい差動入力信号を検出でき、入力オフセット電圧よりも小さいノイズにより害されない。増幅器は、データ通信リンクの受信端(end of a data communication link)において使用され、データ受信機、受信機などと呼ばれ得る。増幅器はまた、正確な入力オフセット電圧が求められるその他のアプリケーションにも使用され得る。
一設計では、増幅器は第1及び第2不平衡差動対を含む。第1不平衡差動対は、差動入力信号を受信し、第1差動電流信号を供給する。第2不平衡差動対は、差動参照信号を受信し、差動出力信号を得るために第1差動電流信号から減算される、第2差動電流信号を供給する。第1差動電流信号は、目標となる入力オフセット電圧に差動入力信号が等しい際に、エラー電流を有し得る。第2差動電流は、温度及びその他の変動と共に、エラー電流に追随し得る。第1及び第2不平衡差動対は共に、目標となる入力オフセット電圧に差動入力信号が等しい際に、差動出力信号をゼロにし得る。第1不平衡差動対は、電流源から第1バイアス電流を受信し得る。増幅器は更に、差動入力信号を受信し、第2不平衡差動対のための第2バイアス電流を供給する第3不平衡差動対を含み得る。第2バイアス電流は、差動入力信号のコモンモード電圧のレンジにわたって第1バイアス電流に追随し得る。
一設計では、各不平衡差動対は2つのトランジスタを含み、一方のトランジスタは、他方のトランジスタのサイズのM倍である。Mは、増幅器の目標となる入力オフセット電圧を得るために選択され得る。このトランジスタは、Nチャネルの金属・酸化物・半導体(NMOS)トランジスタ、Pチャネルの金属・酸化物・半導体(PMOS)トランジスタなどであり得る。
この開示の種々の側面及び特長が、以下で更に詳細に述べられる。
図1は、プロセス及び温度依存の入力オフセット電圧を有する増幅器を示す。 図2は、図1の増幅器における、差動入力電圧に対する差動出力電流を示す。 図3は、正確な入力オフセット電圧を有する増幅器を示す。 図4Aは、図3の増幅器における、異なる温度についての差動入力電圧に対する差動出力電流を示す。 図4Bは、図3の増幅器における、異なる温度についての差動入力電圧に対する差動出力電流を示す。 図5Aは、正確な入力オフセット電圧を有する2つのNMOS増幅器を示す。 図5Bは、正確な入力オフセット電圧を有する2つのNMOS増幅器を示す。 図6は、正確な入力オフセット電圧を有するPMOS増幅器を示す。 図7は、正確な入力オフセット電圧を有するNMOS及びPMOS増幅器を示す。 図8は、信号を受信して増幅するプロセスを示す。 図9は、無線通信デバイスを示す。
図1は、入力換算オフセット電圧(input-referred offset voltage)とも呼ばれる、入力オフセット電圧を有する増幅器100の回路図を示す。増幅器100は、電流源116に結合された不平衡差動対(unbalanced differential pair)110を含む。差動対110は、2つのNMOSトランジスタ112及び114を含む。NMOSトランジスタ112は、第1入力電圧信号Vinpを受信するゲート、電流源116の第1端に結合されたソース、及び第1出力電流信号Ioutpを供給するドレインを有する。NMOSトランジスタ114は、第2入力電圧信号Vinnを受信するゲート、電流源116の第1端に結合されたソース、及び第2出力電流信号Ioutnを供給するドレインを有する。電流源116は、回路のグランドに結合された第2端を有し、NMOSトランジスタ112及び114にバイアス電流Ibiasを供給する。
図1は、差動対110がNMOSトランジスタで実装される設計を示す。差動対はまた、PMOSトランジスタ、バイポーラ接合トランジスタ(BJT)、またはその他のあるタイプのトランジスタによっても実装され得る。
増幅器100における差動入力電圧信号Vin及び差動出力電流信号Ioutは、次のように表され得る。すなわち、
Vin=Vinp−Vinn 式(1a)
Iout=Ioutp−Ioutn 式(1b)。
差動対110は平衡(balanced)されていても良く(図1には示していない)、NMOSトランジスタ112及び114は同じサイズを有し、整合(matched)されていても良い。この場合、Vinp=Vinn及びVin=0であり、バイアス電流の半分が各NMOSトランジスタを流れ、Iout=0である。
しかしながら、Vin=0ではなくVin=VosにおいてIout=0となるような、内蔵型入力オフセット(built-in input offset)を有する増幅器を備えることが望ましいかもしれない。Vosは、増幅器の入力オフセット電圧である。入力オフセット電圧を有する増幅器は、モバイル・ディスプレイ・ディジタル・インターフェース(MDDI)規格のような、あらゆるプロトコルまたは規格に基づき得るシリアルデータリンクの受信端に使用され得る。この増幅器は、データリンクの、休止状態からのウェイクアップを検知するために使用され得る。
入力オフセット電圧を得るために、差動対110は不平衡(unbalanced)とされても良く(図1に示す)、NMOSトランジスタ112及び114は異なるサイズを有していても良い。図1の設計では、NMOSトランジスタ114は、NMOSトランジスタ112より大きいM倍であり、すなわち(W/L)=M・(W/L)である。ここで、(W/L)はNMOSトランジスタ112の幅と長さの比であり、(W/L)はNMOSトランジスタ114の幅と長さの比である。
不平衡差動対110では、差動入力電圧がNMOSトランジスタ112及び114のゲートに印加される。これは、この2つのNMOSトランジスタ間のバイアス電流を均等に分割するためである。増幅器100の入力オフセット電圧は、Ioutp=Ioutn=Ibias/2となるような、VinpとVinnとの間の差である。
もしNMOSトランジスタ112及び114が飽和領域(saturation)で動作していれば、入力オフセット電圧は次のようにあたえられる。すなわち、
Figure 2011511570
ここで、Vgs1及びVgs2はそれぞれ、NMOSトランジスタ112及び114のゲート・ソース間電圧であり、Vdsat1及びVdsat2はそれぞれ、NMOSトランジスタ112及び114のオーバードライブ電圧である。MOSトランジスタのオーバードライブ電圧は、該MOSトランジスタにつきVgsから閾値Vthを差し引いたものに等しい
もしNMOSトランジスタ112及び114が弱反転領域(weak inversion)で動作していれば、入力オフセット電圧は次のようにあたえられる。すなわち、
Vos=Vgs1−Vgs2=η・V・ln(M) 式(3)
但し、
=k・T/q 式(4)
ここで、Vは温度電圧であり、Tは絶対温度(ケルビン)、ηはMOSトランジスタの非理想性係数(non-ideality factor)、kはボルツマン係数、及びqは電子電荷(クーロン)である。式(3)及び(4)は、NMOSトランジスタ112及び114の特性が、非理想性係数に従ってBJTのそれに類似していることを示す。
NMOSトランジスタ112及び114は、これらのNMOSトランジスタについての最適なサイズ、及び/またはバイアス電流を選択することにより、弱反転領域で動作させられ得る。弱反転領域は、ある与えられたバイアス電流においてトランジスタが大きいこと、または与えられたあるトランジスタサイズにおいてバイアス電流が小さいこと、を示す。例えば図1に示すような差動入力電圧信号を受信する入力差動対では、NMOSトランジスタは一般的に弱反転で動作する。
式(2)及び(3)に示すように、所望のまたは目標の入力オフセット電圧Vos-targetは、Vdsat及びMについて適切な値を選ぶことによって得られ得る。しかしながら、図1に示す設計における主たる欠点は、入力オフセット電圧の温度に対する大きな依存性である。これは、(i) 式(2)のVdsatが温度に関係し、(ii) 式(3)のVが絶対温度とリニアな関係を有するからである。よって、差動対におけるMOSトランジスタが飽和領域で動作するか弱反転領域で動作するかにかかわらず、入力オフセット電圧は一般的に、絶対温度比例(PTAT:proportional-to-absolute-temperature)特性を示す。
図2は、図1の増幅器100のVinに対するIoutのグラフを示す。グラフ210は、Vin=Vos-targetである際にIout=0となる、定格温度27セルシウス度(℃)の場合のVinに対するIoutを示す。グラフ212は、Vin=Vos-hotである際にIout=0となる、125℃の高温でのVinに対するIoutを示し、Vos-hotは高温における入力オフセット電圧である。グラフ214は、Vin=Vos-coldである際にIout=0となる、−40℃の低温でのVinに対するIoutを示し、Vos-coldは低温における入力オフセット電圧である。
図1に示す設計での入力オフセット電圧は、−40℃から125℃の動作温度範囲の間で、目標値から±20%またはそれ以上だけ逸脱し得る。更に、図1に示す設計での入力オフセット電圧は、集積回路(IC)プロセスのバラツキに、より良く追随しない。
図3は、温度、ICプロセス、及び電源電圧の変動に対して正確な入力オフセット電圧を有する増幅器300の設計の回路図である。増幅器300は、信号不平衡差動対310、エラー訂正不平衡差動対320、並びに電流源316及び326を含む。差動対310は、図1のNMOSトランジスタ112及び114並びに電流源116と同じようにして電流源316に結合されたNMOSトランジスタ312及び314を含む。NMOSトランジスタ312及び314はそれぞれ、相補的な信号電流Isignalp及びIsignalnを供給する。
差動対320は、NMOSトランジスタ322及び324を含む。NMOSトランジスタ322は、第1参照電圧Vrefpを受信するゲート、電流源326の第1端に結合されたソース、及びNMOSトランジスタ314のドレインに結合されたドレインを有する。NMOSトランジスタ324は、第2参照電圧Vrefnを受信するゲート、電流源326の第1端に結合されたソース、及びNMOSトランジスタ312のドレインに結合されたドレインを有する。NMOSトランジスタ322及び324はそれぞれ、相補的なエラー訂正電流Ierrorp及びIerrornを供給する。電流源326は、回路のグランドに結合された第2端を有し、NMOSトランジスタ322及び324のバイアス電流Ibiasを供給する。
差動対310の差動入力電圧信号Vin及び差動対320の差動参照電圧Vrefは、次のように表され得る。すなわち、
Vin=Vinp−Vinn 式(5a)
Vref=Vrefp−Vrefn 式(5b)。
差動対310からの差動信号電流Isignal、差動対320からのエラー訂正電流Ierror、及び増幅器300からの差動出力電流信号Ioutは、次のように表され得る。すなわち、
Isignal=Isignalp−Isignaln 式(6a)
Ierror=Ierrorp−Ierrorn 式(6b)
Iout=Isignal−Ierror 式(6c)。
図3に示す設計では、差動対310及び320は共に不平衡とされ、NMOSトランジスタ314はNMOSトランジスタ312よりもM倍大きく、NMOSトランジスタ324はNMOSトランジスタ322よりもM倍大きい。更に、NMOSトランジスタ322はNMOSトランジスタ312に整合され、NMOSトランジスタ324はNMOSトランジスタ314に整合される。
Mの適切な値は、定格温度において単独で(aloneの訳しかた)動作する差動対310において目標の入力オフセット電圧Vos-targetが得られるように、選択され得る。差動対310の入力オフセット電圧は、上記述べたように、温度、ICプロセス、及び電源電圧と共に変動し得る。温度、ICプロセス、及び/または電源電圧の変動により、入力オフセット電圧が目標値から逸脱する際、Vos-targetの差動入力電圧により、Isignalはゼロでは無く非ゼロの差動電流に等しくなる。この非ゼロの差動電流は、エラー電流Ierror’と呼ばれる。
差動対320は、差動対310においてVin=Vos-targetに対応するエラー電流を推定し、エラー電流と同じであるべき差動エラー訂正電流Ierrorを供給する。この差動エラー訂正電流は、図3に示すような、それぞれNMOSトランジスタ322及び324のドレインとNMOSトランジスタ314及び312のクロスカップリングにより、差動信号電流から減算される。エラー訂正電流がエラー電流に等しければ、出力電流IoutはVin=Vos-targetにおいてゼロとなるだろう。そして差動対310の入力オフセット電圧は、基本的に目標値に戻る。
差動対310のエラー電流は、温度、ICプロセス、及び電源電圧と共に変動し得る。差動対320からのエラー訂正電流は、目標の入力オフセット電圧が差動対310に印加された際にゼロの出力電流を得るために、温度、ICプロセス、及び電源電圧の変動と共に、エラー電流に整合すべきである。
差動対310に印加される目標の入力オフセット電圧で存在するエラー電流は、Vref=Vos-targetの差動参照電圧を(適切なコモンモード電圧と共に)差動対320に印加することにより推定され得る。差動対320は差動対310に整合されているので、目標の入力オフセット電圧が差動対310及び320の両方に印加されている際には、差動対320からのエラー訂正電流は、差動対310のエラー電流に厳密に整合するはずである。更に、差動対310及び320は整合しているので、エラー訂正電流は、温度、ICプロセス、及び電源電圧の変動と共に、エラー電流に追随(track)するはずである。従って、増幅器300につき、正確な入力オフセット電圧が得られる。
図4Aは、−40℃の低温での、図3の増幅器300におけるVinに対するIsignal、Ierror、及びIoutのグラフを示す。グラフ410は、差動対310についてのVinに対するIsignalを示す。グラフ410は、図2のグラフ214に一致し、Vin=Vos-coldである際にIsignal=0を有する。グラフ412は、差動対320についてのVinに対するIerrorを示す。差動対320は、VinではなくVref=Vos-targetを受信するので、IerrorはVinの関数ではなく、グラフ412は水平な直線である。グラフ414は、Vinに対するIoutを示す。Ioutは、IsignalからIerrorを減算することにより得られるから、グラフ414は、グラフ410を下にIerrorだけシフトすることにより得られる。グラフ414は、Vinの全範囲につき、図2のグラフ210に一致し、Vin=Vos-targetである際にIout=0を有する。
図4Bは、125℃の高温での、図3の増幅器300におけるVinに対するIsignal、Ierror、及びIoutのグラフを示す。グラフ420は、差動対310についてのVinに対するIsignalを示す。グラフ420は、図2のグラフ212に一致し、Vin=Vos-hotである際にIsignal=0を有する。グラフ422は、差動対320についてのVinに対するIerrorを示す。IerrorはVinの関数では無く、グラフ422は水平な直線である。グラフ424は、Vinに対するIoutを示す。IoutはIsignalからIerrorを減算することにより得られ、そしてIerrorは負であるので、グラフ424は、グラフ420を上にIerrorだけシフトすることにより得られる。グラフ424は、Vinの全範囲につき、図2のグラフ210にほぼ一致し、Vin=Vos-targetである際にIout=0を有する。
図4A及び4Bに示すように、エラー訂正電流は、信号電流におけるエラー電流を明らか(account for)するために使用され得る。更に、エラー訂正電流は、ICプロセス及び電源電圧の変動だけでなく、図4A及び4Bに示すように温度変動と共に、エラー電流に追随する。
不平衡差動対310及び320は、平衡差動対(balanced differential pairs)に置き換えられても良い。平衡差動対310は、定格入力オフセット電圧Vos=0Vを有し、平衡差動対320は、目標値Vos-targetがこの入力オフセット電圧であるように、オフセット電流を生成し得る。しかしながら、平衡差動対310及び320を用いて大きな入力オフセット電圧を得ることは難しいかもしれない。更に、全体としてのIoutカーブは、目標の入力オフセット電圧を得るために、大きな量だけ下または上に移動するだろう。これは、速度、温度、及びその他の要素に関して、性能に影響を与えるだろう。
信号差動対310に印加される差動入力電圧信号のコモンモード電圧は、rail to railで、例えば電源電圧から回路のグランドに、スイングし得る。差動対310のバイアス電流は、Vinについてのコモンモード電圧で変化し、低コモンモード電圧でターンオフし得る。他方、エラー訂正差動対320は、固定されたコモンモード電圧を有する差動参照電圧で動作する。その結果、差動対320のバイアス電流は変動せず、またはターンオフしない。エラー訂正差動対320のバイアス電流は、信号差動対310のバイアス電流に厳密に追随することが望ましいだろう。そしてこれにより、目標の入力オフセット電圧が、コモンモード電圧の幅広いレンジで得られ得る。
図5Aは、差動入力電圧信号のコモンモード電圧のレンジだけでなく、温度、ICプロセス、及び電源電圧の変動の全体にわたって、正確な入力オフセット電圧を有する増幅器500の設計の回路図を示す。増幅器500は、信号不平衡差動対510、エラー訂正不平衡差動対520、コモンモードセンス不平衡差動対530、及び電流源516及び536を含む。差動対510は、図3のNMOSトランジスタ312及び314並びに電流源316と同じようにして電流源516に結合されたNMOSトランジスタ512及び514を含む。NMOSトランジスタ512及び514は、相補的な信号電流Isignalp及びIsignalnをそれぞれ供給する。差動対520は、図3のNMOSトランジスタ322及び324と同じようにして結合されたNMOSトランジスタ522及び524を含む。NMOSトランジスタ522及び524は、相補的なエラー訂正電流Ierrorp及びIerrornをそれぞれ供給する。差動対530は、共通に結合されて電流源536に結合されるソースと、共通に結合されてMOSトランジスタ522及び524のソースに結合されるドレインと、それぞれ相補的な入力信号Vinp及びVinnを受信するゲートとを有するNMOSトランジスタ532及び534を含む。
差動対510、520、及び530は不平衡とされ、NMOSトランジスタ514はNMOSトランジスタ512よりもM倍大きく、NMOSトランジスタ524はNMOSトランジスタ522よりもM倍大きく、そしてNMOSトランジスタ534はNMOSトランジスタ532よりもM倍大きい。更に、NMOSトランジスタ512、522、及び532は整合され、またNMOSトランジスタ514、524、及び534もまた整合されている。
差動対510及び520は、それぞれ図3の差動対310及び320につき上記述べたように動作する。コモンモードセンス差動対530は、差動対520のバイアス電流を供給し、差動対510のバイアス電流に追随するように、このバイアス電流を生成する。差動対530は差動対510と整合されているが、共通に結合されたNMOSトランジスタ532及び534のドレインを有する。差動入力信号が差動対510及び530の両方に印加されるので、電流源536の両端に印加されるコモンモード電圧は、電流源516の両端に印加されるコモンモード電圧に等しい。よって、電流源536からのバイアス電流は、Vinについてのコモンモード電圧の全レンジにわたって、電流源516からのバイアス電流を追随し得る。
図5Bは、正確な入力オフセット電圧を有する増幅器502の設計の回路図を示す。増幅器502は、図5Aの増幅器500の回路素子の全てを含み、更にNMOSトランジスタ538を含む。NMOSトランジスタ538は、NMOSトランジスタ532のゲートに結合されたゲートと、共通に接続されて、ノードAとなるNMOSトランジスタ532のドレインに結合されたドレイン及びソースを有する。NMOSトランジスタ538は、(M−1)のサイズ(size of M-1)を有する。NMOSトランジスタ532及び538のトータルサイズは、NMOSトランジスタ534のサイズと等しい。相補的な入力信号Vinp及びVinnからの容量は、ノードAを基準にした際、同じとなるだろう。そしてこれにより、性能が向上され得る。
図5A及び5Bの差動対510、520、及び530は、不平衡差動対で実装され得る。差動対510、520、及び530はまた、平衡差動対で実装されても良い。
図6は、正確な入力オフセット電圧を有し、PMOSトランジスタで実装された増幅器600の設計の回路図を示す。増幅器600は、PMOSトランジスタ612及び614からなる信号不平衡差動対610、PMOSトランジスタ622及び624からなるエラー訂正不平衡差動対620、PMOSトランジスタ632及び634からなるコモンモードセンス不平衡差動対630、及び電流源616及び636を含む。増幅器600のPMOSトランジスタ及び電流源は、図5Aの増幅器500におけるNMOSトランジスタ及び電流源と同じようにして結合される。PMOSトランジスタ612、622及び632はMのサイズを有し、他方でPMOSトランジスタ614、624、及び634は1のサイズを有する。入力信号Vinpは、より大きなPMOSトランジスタ612及び632に印加される一方で、入力信号Vinnはより小さなPMOSトランジスタ614及び634に印加され、これは増幅器500の逆である。
図6の差動対610、620、及び630は、不平衡差動対で実装され得る。差動対610、620、及び630はまた、平衡差動対で実装されても良い。
一般的に、NMOSトランジスタで実装された増幅器(例えば図5Aの増幅器500)は、回路のグランドに近い小入力信号を検出することは出来ないかもしれない。これは、信号差動対のNMOSトランジスタをターンオンするためには、入力信号が回路のグランドよりも十分に高くなければならないからである。逆に、PMOSトランジスタで実装された増幅器(例えば図6の増幅器600)は、大きい入力信号を検出出来ないかもしれない。これは、信号差動対のPMOSトランジスタをターンオンするためには、入力信号が電源電圧よりも十分に低くなければならないからである。
図7は、NMOS及びPMOSトランジスタの両方により実装された、正確な入力オフセット電圧を有する増幅器700の設計の回路図である。増幅器700は、不平衡NMOS入力回路710、不平衡PMOS入力回路720、及び出力回路730を含む。不平衡NMOS入力回路710は、図3の増幅器300、(図7に示すように)図5Aの増幅器500、図5Bの増幅器502、またはその他のある設計で実装し得る。不平衡PMOS入力回路720は、(図7に示すように)図6の増幅器600、またはその他のある設計で実装し得る。
出力回路730では、PMOSトランジスタ732及び742は、電源電圧に結合されたソース、第1バイアス電圧Vbias1を受信するゲート、並びに不平衡PMOS入力回路710のそれぞれNMOSトランジスタ712及び714のドレインに結合されたドレインを有する。PMOSトランジスタ734及び744は、それぞれPMOSトランジスタ732及び742のドレインに結合されたソース、並びに第2バイアス電圧Vbias2を受信するゲートを有する。NMOSトランジスタ736及び746は、それぞれPMOSトランジスタ734及び744のドレインに結合されたドレイン、第3バイアス電圧Vbias3を受信するゲート、並びにそれぞれNMOSトランジスタ738及び748のドレインに結合されたソースを有する。NMOSトランジスタ738及び748は、回路のグランドに結合されたソース、共通に結合され、NMOSトランジスタ736のドレインに結合されたゲート、並びに不平衡NMOS入力回路720のそれぞれPMOSトランジスタ722及び724のドレインに結合されたドレインを有する。MOSトランジスタ744及び746のドレインが、出力電圧信号Voutを供給する。各対におけるMOSトランジスタは整合され、そして同じサイズを有する。出力回路もまた、その他の設計により実装されても良い。
出力回路730は、不平衡MOS入力回路710及び720からの差動電流を合成し、出力電圧を生成する。NMOSトランジスタ712及び714、PMOSトランジスタ732及び742、並びにPMOSトランジスタ734及び744は、差動折り返しカスコード(differential folded cascode)を形成する。NMOSトランジスタ712及び714は、出力電流を生成する。PMOSトランジスタ732及び742は、高い出力インピーダンスを有する電流源を形成する。PMOSトランジスタ734及び744は、低い入力インピーダンスを有するカスコードデバイスである。よってNMOSトランジスタ712及び714からの出力電流は、このカスコードデバイスに流れ込む。PMOSトランジスタ722及び724、NMOSトランジスタ736及び746、並びにNMOSトランジスタ738及び748は、同様にして動作する別の差動折り返しカスコードを形成する。折り返しカスケード構造に入力された信号電流は、出力回路730の高い出力インピーダンスを介して、合成され、シングルエンド(single-ended)の出力電圧に変形される。
不平衡NMOS入力回路710は、中間の、及び高いコモンモード電圧を有する差動入力信号を検出出来る。不平衡PMOS入力回路720は、中間の、及び低いコモンモード電圧を有する差動入力信号を検出出来る。不平衡MOS入力回路710及び720の組み合わせにより、増幅器700は、rail-to-railのコモンモード電圧を有する差動入力信号を検出出来るようになる。エラー訂正不平衡差動対は、不平衡MOS入力回路についての正確な入力オフセット電圧を得るための、各不平衡MOS入力回路における入力オフセットのエラー訂正に使用され得る。更に、コモンモードセンス不平衡差動対は、エラー訂正不平衡差動対のバイアス電流を、信号差動対のバイアス電流に整合させるために、各不平衡MOS入力回路において使用され得る。
図8は、信号を受信して増幅するプロセス800の設計を示す。差動入力信号は、(例えば第1/信号(first/signal)不平衡差動対で)増幅されて、第1差動電流信号が得られ得る(ブロック812)。第2差動電流信号は、(例えば第2/エラー訂正(second/error correction)不平衡差動対で)差動参照信号に基づいて生成され得る(ブロック814)。第2差動電流信号は、第1差動電流信号から減算されて、差動出力信号が得られ得る(ブロック816)。
第1差動電流信号は、目標の入力オフセット電圧に差動入力信号が等しい際に、エラー電流を有し得る。第2差動電流信号は、目標の入力オフセット電圧に差動入力信号が等しい際に、ゼロの差動出力信号を得るために生成され得る。第2差動電流信号は、温度変動などと共にエラー電流に追随し得る。
第1バイアス電流が、例えば第1不平衡差動対に供給され得る(ブロック818)。第2バイアス電流は、(例えば第3/コモンモードセンス(third/common mode sense)不平衡差動対で)差動入力信号に基づいて生成され得る(ブロック820)。第2バイアス電流は、差動入力信号のコモンモード電圧のレンジ(range)にわたって、第1バイアス電流に追随し得る。第2バイアス電流は、例えば第2不平衡差動対に供給され得る(ブロック822)。
第1、第2、及び第3不平衡差動対は、NMOSトランジスタまたはPMOSトランジスタで実装され得る。差動入力信号はまた、例えば図7に示すように、相補型トランジスタで実装された第1、第2、及び第3不平衡差動対の第2の組で増幅されても良い。
本明細書で述べられた正確な入力オフセット電圧を有する増幅器は、通信、演算、ネットワーク形成、及びパーソナル電子機器などのような種々のアプリケーションに使用され得る。例えば増幅器は、無線通信デバイス、携帯電話、携帯情報端末(PDA)、携帯機器、ゲーム機、計算機器、ノート型コンピュータ、家庭用電化製品、パーソナルコンピュータ、コードレス電話などに使用され得る。無線通信デバイスでの増幅器の使用例については、以下に述べる。
図9は、無線通信システムのための無線通信デバイス900の設計のブロック図を示す。無線デバイス900は、携帯電話、端末、ハンドセット、無線モデムなどであり得る。無線通信システムは、符号分割多重アクセス(CDMA)システム、GSM(Global System for Mobile Communications)システム等であり得る。
無線デバイス900は、受信経路及び送信経路を介して、双方向通信を提供可能である。受信経路では、基地局から送信された信号はアンテナ912で受信され、受信機(RCVR)914に供給される。受信機914は、受信した信号を調整し、デジタル化し、更なる処理のためにセクション920にサンプルを供給する。送信経路では、送信機(TMTR)916は、送信されるデータをセクション920から受信し、このデータを処理し、調整し、アンテナ912を介して基地局へ送信される変調信号を生成する。受信機914及び送信機916は、CDMA、GSM等をサポートし得る。
セクション920は、例えばモデム・プロセッサ922、縮小命令セットコンピュータ/デジタル・シグナル・プロセッサ(RISC/DSP)924、コントローラ/プロセッサ926、メモリ928、音声入力/出力(I/O)回路930、ディスプレイI/O回路932、カメラI/O回路934、及び外部デバイスI/O回路936のような、種々の処理ユニット、インターフェース・ユニット、及びメモリ・ユニットを含む。モデム・プロセッサ922は、データ送信及び受信のための処理(例えば、符号化、変調、復調、復号化など)を実行し得る。RISC/DSP924は、無線デバイス900の一般的な、及び特殊な処理を実行し得る。コントローラ/プロセッサ926は、セクション920内の種々のユニットの動作を管理し得る。メモリ928は、セクション920内の種々のユニットのデータ及び/または命令を保持する。
音声I/O回路930は、マイク938から入力信号を受信し、ヘッドセット/スピーカ940に出力信号を供給し得る。ディスプレイI/O回路932は、第1データリンクを介してディスプレイ・ユニット942と通信し得る。カメラI/O回路934は、第2データリンクを介してカメラ944と通信し得る。外部デバイスI/O回路936は、第3データリンクを介して外部デバイス946と通信し得る。
図9に示すように、本明細書で述べられた増幅器は、入力オフセット電圧が望ましくまたは必要な種々のブロックにおいて使用され得る。例えば、第1データリンクの受信端におけるディスプレイI/O回路932及びディスプレイ・ユニット942、第2データリンクの受信端におけるカメラI/O回路934及びカメラ944、第3データリンクの受信端における外部デバイスI/O回路936及び外部デバイス946などで使用され得る。
本明細書で述べられた入力オフセット電圧を有する増幅器は、IC、アナログIC、無線周波数IC(RFIC)、デジタルIC、ミックスド・シグナル(mixed-signal)IC、特定用途向け集積回路(ASIC)、プリント回路基板(PCB)、電子デバイスなどの上に実装され得る。増幅器はまた、相補型金属・酸化物・半導体(CMOS)、NMOS、PMOS、BJT、バイポーラCMOS(BiCMOS)、シリコンゲルマニウム(SiGe)、ガリウム砒素などのような、種々のICプロセス技術で製造され得る。
本明細書で述べられた増幅器を実装する装置は、スタンドアローンのデバイスであっても良いし、またはより大きなデバイスの一部であっても良い。デバイスは、(i)スタンドアローンIC、(ii)データ及び/または命令を記録するメモリICを含み得る1つまたはそれ以上のICの組、(iii)RF受信機(RFR)またはRF送信機/受信機(RTR)のようなRFIC、(iv)移動局モデム(MSM:mobile station modem)のようなASIC、(v)その他のデバイス内に組み込まれ得るモジュール、(vi)受信機、携帯電話、無線機器、ハンドセット、またはモバイルユニット、(vii)その他、であり得る。
本開示の上記の記述は、当業者が本開示を製造または使用できるようにするために与えられる。本開示の種々の変形が当業者には容易に明らかであろう。そして本明細書に定義された基本的な原理は、本開示の範囲を逸脱することなく、他の変形例に適用され得る。よって本開示は、本明細書に述べられた例及び設計に限定されることは意図されず、しかし、本明細書で述べられた原理及び新規な特長に一致する最も広い範囲に合致することを意図される。
特許請求の範囲は以下の通りである。

Claims (29)

  1. 差動入力信号を受信し、第1差動電流信号を供給するように構成された第1不平衡差動対と、
    前記第1不平衡差動対に結合され、差動参照信号を受信し、第2差動電流信号を供給するように構成された第2不平衡差動対と
    を備え、前記第2差動電流信号が前記第1差動電流信号から減算されて、差動出力信号が得られる、装置。
  2. 前記第1及び第2不平衡差動対は、目標の入力オフセット電圧に前記差動入力信号が等しい際に、供給する差動出力信号をゼロにするように構成される、請求項1の装置。
  3. 前記第1差動電流信号は、前記目標の入力オフセット電圧に前記差動入力信号が等しい際に、エラー電流を備え、
    前記第2差動電流信号は、温度の変動とともに前記エラー電流に追随する、請求項2の装置。
  4. 前記差動参照信号は、前記目標の入力オフセット電圧に基づいて設定される、請求項2の装置。
  5. 前記第1不平衡差動対は、第1及び第2トランジスタを備え、
    前記第1トランジスタは、第1のサイズを有し、
    前記第2トランジスタは、前記第1サイズのM倍である第2のサイズを有し、Mは1より大きい、請求項1の装置。
  6. 前記第2不平衡差動対は、第3及び第4トランジスタを備え、
    前記第3トランジスタは、前記第1のサイズを有し、
    前記第4トランジスタは、前記第2のサイズを有する、請求項5の装置。
  7. 前記第1不平衡差動対は、第1バイアス電流を受信するように構成され、
    前記装置は、前記第2不平衡差動対に結合され、前記差動入力信号を受信して、前記第2不平衡差動対のための第2バイアス電流を供給するように構成された第3不平衡差動対を更に備える、請求項1の装置。
  8. 前記第1不平衡差動対は、第1及び第2トランジスタを備え、
    前記第2不平衡差動対は、第3及び第4トランジスタを備え、
    前記第3不平衡差動対は、第5及び第6トランジスタを備え、
    前記第1、第3、及び第5トランジスタは、第1のサイズを有し、
    前記第2、第4、及び第6トランジスタは、前記第1のサイズのM倍の第2のサイズを有し、Mは1より大きい、請求項7の装置。
  9. 前記第5トランジスタのゲートに結合されたゲートと、共通に結合され、前記第5トランジスタのドレインに結合されたドレイン及びソースとを有する第7トランジスタを更に備え、
    前記第7トランジスタは、前記第1のサイズの(M−1)倍の第3のサイズを有する、請求項8の装置。
  10. 前記第1及び第2不平衡差動対は、Nチャネルの金属・酸化物・半導体(NMOS)トランジスタを備える、請求項1の装置。
  11. 前記第1及び第2不平衡差動対は、Pチャネルの金属・酸化物・半導体(PMOS)トランジスタを備える、請求項1の装置。
  12. 前記差動入力信号を受信し、第3差動電流信号を供給するように構成された第3不平衡差動対と、
    前記第3不平衡差動対に結合され、前記差動参照信号を受信し、第4差動電流信号を供給するように構成された第4不平衡差動対と
    を更に備え、前記第4差動電流信号が前記第3差動電流信号から減算されて、第2差動出力信号が得られ、
    前記第1及び第2不平衡差動対は、Nチャネルの金属・酸化膜・半導体(NMOS)トランジスタを備え、
    前記第3及び第4不平衡差動対は、Pチャネルの金属・酸化膜・半導体(PMOS)トランジスタを備える、請求項1の装置。
  13. 前記第1不平衡差動対は第1バイアス電流を受信するように構成され、前記第3不平衡差動対は第3バイアス電流を受信するように構成され、
    前記装置は、前記第2不平衡差動対に結合され、前記差動入力信号を受信し、前記第2不平衡差動対のための第2バイアス電流を供給するように構成された第5不平衡差動対と、
    前記第4不平衡差動対に結合され、前記差動入力信号を受信し、前記第4不平衡差動対のための第4バイアス電流を供給するように構成された第6不平衡差動対と
    を更に備える、請求項12の装置。
  14. 前記第1及び第3不平衡差動対に結合され、前記第1不平衡差動対からの前記差動出力信号と、前記第2不平衡差動対からの第2差動出力信号を受信し合成し、最終出力信号を供給するように構成された出力回路を更に備える、請求項12の装置。
  15. 差動入力信号を受信し、第1差動電流信号を供給するように構成された第1不平衡差動対と、
    前記第1不平衡差動対に結合され、差動参照信号を受信し、第2差動電流信号を供給するように構成された第2不平衡差動対と
    を備え、前記第2差動電流信号が前記第1差動電流信号から減算されて、差動出力信号が得られる、集積回路。
  16. 前記第1及び第2不平衡差動対は、目標の入力オフセット電圧に前記差動入力信号が等しい際に、供給する差動出力信号をゼロにするように構成される、請求項15の集積回路。
  17. 前記第1差動電流信号は、前記目標の入力オフセット電圧に前記差動入力信号が等しい際に、エラー電流を備え、
    前記第2差動電流信号は、温度の変動とともに前記エラー電流に追随する、請求項16の集積回路。
  18. 前記第1不平衡差動対は、第1及び第2トランジスタを備え、
    前記第1トランジスタは、第1のサイズを有し、
    前記第2トランジスタは、前記第1サイズのM倍である第2のサイズを有し、Mは1より大きい、請求項15の集積回路。
  19. 前記第2不平衡差動対は、第3及び第4トランジスタを備え、
    前記第3トランジスタは、前記第1のサイズを有し、
    前記第4トランジスタは、前記第2のサイズを有する、請求項18の集積回路。
  20. 前記第1不平衡差動対は、第1バイアス電流を受信するように構成され、
    前記集積回路は、前記第2不平衡差動対に結合され、前記差動入力信号を受信して、前記第2不平衡差動対のための第2バイアス電流を供給するように構成された第3不平衡差動対を更に備える、請求項15の集積回路。
  21. データ通信リンクを介して差動入力信号を受信し、第1差動電流信号を供給するように構成された第1不平衡差動対と、
    前記第1不平衡差動対に結合され、差動参照信号を受信し、第2差動電流信号を供給するように構成された第2不平衡差動対と
    を備える増幅器を備え、前記第2差動電流信号が前記第1差動電流信号から減算されて、差動出力信号が得られる、無線機器。
  22. 差動入力信号及び第1バイアス電流を受信し、第1差動電流信号を供給するように構成された第1差動対と、
    前記第1差動対に結合され、差動参照信号を受信し、第2差動電流信号を供給するように構成された第2差動対と、
    前記第2差動対に結合され、前記差動入力信号を受信し、前記第2差動対のための第2バイアス電流を供給するように構成された第3差動対と
    を備え、前記第2差動電流信号が前記第1差動電流信号から減算されて、差動出力信号が得られる、装置。
  23. 前記第1、第2、及び第3差動対は、不平衡差動対である、請求項22の装置。
  24. 前記第1、第2、及び第3差動対の各々は、第1及び第2トランジスタを備え、
    前記第1トランジスタは、第1のサイズを有し、
    前記第2トランジスタは、前記第1のサイズのM倍である第2のサイズを有し、Mは1より大きい、請求項23の装置。
  25. 前記第1、第2、及び第3差動対は、平衡差動対である、請求項22の装置。
  26. 第1差動電流信号を得るために、差動入力信号を増幅する手段と、
    差動参照信号に基づいて、第2差動電流信号を生成する手段と、
    差動出力信号を得るために、前記第1差動電流信号から前記第2差動電流信号を減算する手段と
    を備え、前記差動出力信号は、目標の入力オフセット電圧に前記差動入力信号が等しい際に、ゼロに等しくされる、装置。
  27. 前記第1差動電流信号は、前記目標の入力オフセット電圧に前記差動入力信号が等しい際に、エラー電流を備え、
    前記第2差動電流信号を生成する手段は、温度の変動とともに前記エラー電流に追随する前記第2差動電流信号を生成する手段を備える、請求項26の装置。
  28. 前記差動入力信号を増幅する手段に第1バイアス電流を供給する手段と、
    前記差動入力信号に基づいて、前記差動入力信号のコモンモード電圧のレンジにわたって前記第1バイアス電流に追随する第2バイアス電流を生成する手段と、
    前記第2差動電流信号を生成する手段に前記第2バイアス電流を供給する手段と
    を更に備える請求項26の装置。
  29. 第1差動電流信号を得るために、差動入力信号を増幅することと、
    差動参照信号に基づいて、第2差動電流信号を生成することと、
    差動出力信号を得るために、前記第1差動電流信号から前記第2差動電流信号を減算することと
    を備え、前記差動出力信号は、目標の入力オフセット電圧に前記差動入力信号が等しい際に、ゼロに等しくされる、方法。
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Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7869285B2 (en) * 2008-02-26 2011-01-11 Micron Technology, Inc Low voltage operation bias current generation circuit
US8183922B2 (en) 2009-11-17 2012-05-22 Atmei Rousset S.A.S. Differential pair with constant offset
US8237497B2 (en) * 2010-04-06 2012-08-07 Mediatek Inc. Amplifier for processing differential input using amplifier circuits with different driving capabilities and/or different frequency compensation characteristics
DE102011076977A1 (de) * 2011-06-06 2012-12-06 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln eines Messwerts eines chemosensitiven Feldeffekttransistors
US8765563B2 (en) 2012-09-28 2014-07-01 Intel Corporation Trench confined epitaxially grown device layer(s)
KR20140079046A (ko) * 2012-12-18 2014-06-26 에스케이하이닉스 주식회사 차동 증폭 회로
US9203351B2 (en) * 2013-03-15 2015-12-01 Megachips Corporation Offset cancellation with minimum noise impact and gain-bandwidth degradation
US9680430B2 (en) * 2013-04-22 2017-06-13 Samsung Display Co., Ltd. Mismatched differential circuit
US9344305B2 (en) 2013-04-22 2016-05-17 Samsung Display Co., Ltd. PVT tolerant differential circuit
CN103338011B (zh) * 2013-06-17 2016-04-06 聚辰半导体(上海)有限公司 一种用于放大器失调电压修调的低温漂修调电路
EP2830214B1 (en) * 2013-07-11 2018-11-21 Samsung Display Co., Ltd. PVT tolerant differential circuit
KR20160068562A (ko) * 2014-12-05 2016-06-15 에스케이하이닉스 주식회사 증폭 성능을 향상시킬 수 있는 버퍼 회로
US9450540B2 (en) * 2015-01-12 2016-09-20 Qualcomm Incorporated Methods and apparatus for calibrating for transconductance or gain over process or condition variations in differential circuits
US10698066B2 (en) * 2018-04-13 2020-06-30 Texas Instruments Incorporated Calibration of hall device sensitivity using an auxiliary hall device
JP6890629B2 (ja) * 2019-05-08 2021-06-18 華邦電子股▲ふん▼有限公司Winbond Electronics Corp. 差動アンプ
TWI743755B (zh) 2020-04-23 2021-10-21 瑞昱半導體股份有限公司 發射器裝置與校正方法
CN114884477B (zh) * 2022-07-08 2022-10-14 深圳芯能半导体技术有限公司 一种误差放大器电路、变换器

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08242125A (ja) * 1994-12-23 1996-09-17 Motorola Inc 増幅器回路
JPH10126183A (ja) * 1996-10-21 1998-05-15 Oki Electric Ind Co Ltd 差動増幅器およびリミッタ増幅器

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5612050B2 (ja) * 1974-05-30 1981-03-18
US4109214A (en) * 1977-05-31 1978-08-22 Motorola, Inc. Unbalanced-to-balanced signal converter circuit
JPH088457B2 (ja) 1992-12-08 1996-01-29 日本電気株式会社 差動増幅回路
US5552734A (en) * 1993-10-27 1996-09-03 Nec Corporation Local oscillator frequency multiplier and mixing circuit comprising a squaring circuit
US5517134A (en) 1994-09-16 1996-05-14 Texas Instruments Incorporated Offset comparator with common mode voltage stability
DE69518737T2 (de) * 1994-10-28 2001-05-31 Koninkl Philips Electronics Nv Regelbarer verstärker, empfänger mit regelbarem verstärker und verfahren zur steuerung von signalamplituden
US5530444A (en) 1995-01-05 1996-06-25 Analog Devices, Inc. Differential amplifiers which can form a residue amplifier in sub-ranging A/D converters
US5648735A (en) 1996-04-23 1997-07-15 Analog Devices, Inc. Comparator with a predetermined output state in dropout
US6111437A (en) 1998-05-29 2000-08-29 Lucent Technologies Inc. Wide common-mode differential receiver with precision input referred offset
US6871057B2 (en) * 2000-03-08 2005-03-22 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Mixer circuit
US6617926B2 (en) 2001-06-29 2003-09-09 Intel Corporation Tail current node equalization for a variable offset amplifier

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08242125A (ja) * 1994-12-23 1996-09-17 Motorola Inc 増幅器回路
JPH10126183A (ja) * 1996-10-21 1998-05-15 Oki Electric Ind Co Ltd 差動増幅器およびリミッタ増幅器

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6012037091; 木村克治: '超低電圧バイポーラ線形トランスコンダクタンスアンプの構成方法' 電子情報通信学会技術研究報告 CAS95-68 , 199509, p71-84, 電子情報通信学会 *
JPN6012037092; 木村克治: '低電圧MOS OTAの構成方法' 電子情報通信学会技術研究報告 CAS95-69 , 199509, p85-97, 電子情報通信学会 *

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Publication number Publication date
US20090189694A1 (en) 2009-07-30
KR20100108611A (ko) 2010-10-07
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