JP2011243723A - Printed circuit board - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、プリント基板に係り、特に、Vカット加工の状態を判断するための導通テスト用の回路パターンを有するプリント基板に関する。 The present invention relates to a printed circuit board, and more particularly to a printed circuit board having a circuit pattern for continuity test for determining the state of V-cut processing.
プリント基板の表面には、部品実装後にプリント基板を分割し易くするために、断面がV字形のV溝が加工されている。そして、V溝の加工が適正になされているか否かを確認するために、絶縁基板上に導通テストを行うための導通テスト用回路パターンを設けて、導通テスト後に、プリント基板の分割が行われる技術がある(例えば、特許文献1参照)。図5に示すように、そのプリント基板は、絶縁基板上で両側に導通テスト用端子部を有する導電回路パターンを有し、複数のプリント配線板に分断するための線状の分断溝加工(以下、「Vカット加工」と表示)が上記導電回路パターンの導通テスト用端子部間で施されている。そして、導通テストによって、導通していなければ、適正にVカット加工されていると判断され、プリント基板は次の工程に送られる。 A V-groove having a V-shaped cross section is processed on the surface of the printed circuit board so that the printed circuit board can be easily divided after component mounting. In order to confirm whether or not the V-groove has been processed properly, a circuit pattern for continuity test is provided on the insulating substrate, and the printed circuit board is divided after the continuity test. There is a technology (for example, see Patent Document 1). As shown in FIG. 5, the printed circuit board has a conductive circuit pattern having continuity test terminal portions on both sides on an insulating substrate, and linear dividing groove processing (hereinafter referred to as “divided into a plurality of printed wiring boards”). , “V cut processing”) is performed between the continuity test terminal portions of the conductive circuit pattern. If the continuity test is not conducted, it is determined that the V-cut processing is properly performed, and the printed circuit board is sent to the next step.
ところで、特許文献1に開示の技術では、プリント基板両側の導電回路パターンを有し、その上からVカット加工をすると、銅箔切断面の残りが発生し、その銅箔残りが一部基板から浮いている状態になることがある。この銅箔が製品組み立て時、製品後の環境で銅箔の剥がれ等により、浮遊物になり、電気ショートや隙間に入り込み機械的ストレスを起こす可能性がある。したがって、このような不具合を回避する技術が求められていた。 By the way, in the technique disclosed in Patent Document 1, when the conductive circuit pattern on both sides of the printed circuit board is provided and V-cut processing is performed thereon, the remaining copper foil cut surface is generated, and the remaining copper foil is partially removed from the substrate. May be floating. When this copper foil is assembled, it may become a floating substance due to peeling of the copper foil in the environment after the product, which may cause an electrical short or a gap to cause mechanical stress. Therefore, a technique for avoiding such a problem has been demanded.
本発明の目的は、上記課題に鑑み、導通テスト用の回路パターンを有するプリント基板において、不具合発生を低減する技術を提供することにある。 In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a technique for reducing the occurrence of defects in a printed circuit board having a circuit pattern for continuity testing.
本発明に係る装置は、第1のプリント基板及び第2のプリント基板に分断するためにVカット加工が施されるとともに、前記Vカット加工の状態を判断するために、前記第1のプリント基板と前記第2のプリント基板とを電気的に連絡するように形成された導通テスト用の回路パターンを有するプリント基板に関する。このプリント基板は、前記回路パターンの外周の一部を囲うように形成された第1のスリットを備え、前記回路パターンは、前記第1のプリント基板の表面に形成された第1の導電部と、前記第2のプリント基板の表面に形成された第2の導電部と、前記第1の導電部と前記第2の導電部とを電気的に接続するように形成された導電パターンである連絡導電部と、を備え、前記連絡導電部は、前記Vカット加工がなされたときに、分離される位置に形成されており、前記第1のスリットは、前記第1の導電部の外周を囲うように、かつ、前記Vカット加工がなされた領域で前記第1のプリント基板及び前記第2のプリント基板に分断されたときに、前記第1のプリント基板に形成された前記第1の導電部が前記第1のプリント基板から分離されるように形成されている。
また、前記第1の導電部は、基板表面と基板裏面を連通する第1のスルーホールを有し、前記第2の導電部は、基板表面と基板裏面を連通する第2のスルーホールを有し、前記連絡導電部は、基板内部において前記第1のスルーホール及び前記第2のスルーホールを連絡するように形成されてもよい。
また、前記第2のプリント基板の前記第2の導電部を囲うように、かつ、前記Vカット加工がなされた領域で前記第1のプリント基板及び前記第2のプリント基板に分断されたときに、前記第2のプリント基板に形成された前記第2の導電部が、前記第2のプリント基板から分離されるように形成された第2のスリットを有してもよい。
本発明に係る別の装置は、Vカット加工の状態を判断するための導通テスト用の回路パターンを有するプリント基板に関する。このプリント基板は、前記回路パターンを囲むように形成され、前記Vカット加工されたときに、前記回路パターンを分離するように設けられたスリットを有している。
The apparatus according to the present invention is configured such that a V-cut process is performed to divide the first printed board and the second printed board, and the first printed board is used to determine the state of the V-cut process. The present invention relates to a printed circuit board having a circuit pattern for continuity testing formed so as to be in electrical communication with the second printed circuit board. The printed circuit board includes a first slit formed so as to surround a part of the outer periphery of the circuit pattern, and the circuit pattern includes a first conductive portion formed on a surface of the first printed circuit board. A second conductive part formed on the surface of the second printed circuit board, and a conductive pattern formed so as to electrically connect the first conductive part and the second conductive part. A conductive portion, wherein the connecting conductive portion is formed at a position to be separated when the V-cut processing is performed, and the first slit surrounds an outer periphery of the first conductive portion. And the first conductive portion formed on the first printed circuit board when divided into the first printed circuit board and the second printed circuit board in the region where the V-cut processing is performed. Is separated from the first printed circuit board It is formed in so that.
The first conductive portion has a first through hole that communicates the substrate surface and the substrate back surface, and the second conductive portion has a second through hole that communicates the substrate surface and the substrate back surface. The connecting conductive portion may be formed so as to connect the first through hole and the second through hole inside the substrate.
Further, when the second printed circuit board is divided into the first printed circuit board and the second printed circuit board so as to surround the second conductive part and in the region where the V-cut processing is performed. The second conductive part formed on the second printed board may have a second slit formed so as to be separated from the second printed board.
Another apparatus according to the present invention relates to a printed circuit board having a circuit pattern for continuity testing for determining the state of V-cut processing. This printed circuit board is formed so as to surround the circuit pattern, and has a slit provided so as to separate the circuit pattern when the V-cut processing is performed.
本発明によれば、導通テスト用の回路パターンを有するプリント基板において、不具合発生を低減する技術を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the technique which reduces a malfunction occurrence can be provided in the printed circuit board which has a circuit pattern for a continuity test.
次に、本発明を実施するための形態(以下、単に「実施形態」という)を、図面を参照して具体的に説明する。 Next, modes for carrying out the present invention (hereinafter, simply referred to as “embodiments”) will be specifically described with reference to the drawings.
図1は、本実施形態に係るプリント基板1aを示した図(平面図)である。図1(a)は、プリント基板1aの全体図を示し、図1(b)は、図1(a)の導通端子測定部4が設けられる領域Xを拡大して示した図である。プリント基板1aは、左側端部近傍で、左側の捨部プリント基板1bと右側の実装プリント基板1cに分離される。捨部プリント基板1bと実装プリント基板1cの分離の為に、それらの境界部分にVカット加工部7が形成される。なお、図1では、Vカット加工部7が形成される前の状態を示している。
FIG. 1 is a diagram (plan view) illustrating a printed
導通端子測定部4の構成について図1(b)及び図2を参照して詳細に説明する。図2は、図1(b)のA−A断面図を示しており、特に、図2(a)は、Vカット加工部7が形成される前の状態を示し、図2(b)は、Vカット加工部7が形成された後の状態を示している。
The configuration of the conduction terminal measurement unit 4 will be described in detail with reference to FIGS. 1B and 2. FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 1B. In particular, FIG. 2A shows a state before the V-cut processed
主に図1(b)に示すように、導通端子測定部4は、銅等の良好な導電性金属で形成されており、捨部プリント基板1bに設けられる捨部側導通端子測定部4bと、実装プリント基板1cに設けられる実装側導通端子測定部4cと、それらを連絡するように基板内部に形成された導通パターン2とを備える。
As shown mainly in FIG. 1 (b), the conduction terminal measurement unit 4 is made of a good conductive metal such as copper, and the discarding portion side conduction
捨部側導通端子測定部4bは、捨部プリント基板1bの表裏面を連通する捨部側スルーホール3bを備える。捨部側スルーホール3bによって、表面側の捨部側導通端子測定部4bと裏面側の捨部側導通端子測定部4bとが電気的に接続されている。
The discarding part side conduction
同様に、実装側導通端子測定部4cは、実装プリント基板1cの表裏面を連通する実装側スルーホール3cを備える。実装側スルーホール3cによって、表面側の実装側導通端子測定部4cと裏面側の実装側導通端子測定部4cとが電気的に接続されている。
Similarly, the mounting-side conduction
また、基板内部には、捨部側導通端子測定部4bの捨部側スルーホール3bと実装側導通端子測定部4cの実装側スルーホール3cとを接続するように、導通パターン2が2層で形成されている。そして、Vカット加工部7が形成されると、導通パターン2が分離されるようになっている。
In addition, the
さらに。実装側導通端子測定部4cの外周を囲むように、略C字形状のスリット6が形成されている。ここではスリット6は、略逆C字形状となり、捨部プリント基板1b側が開口している形状となっており、略C字形状の上下の開口端部が捨部プリント基板1b側まで延出している。つまり、スリット6がVカット加工部7が形成される位置を跨いで実装プリント基板1cから捨部プリント基板1bへ延びて形成されている。
further. A substantially C-
このような構成となっている導通端子測定部4では、図2(a)に示すように、Vカット加工部7が形成される前であれば、捨部側導通端子測定部4bと実装側導通端子測定部4cとに導通検査針5を接触させて導通テストを行えば、導通状態が検知される。一方で、図2(b)に示すように、Vカット加工部7が形成された後であれば、導通パターン2が分離され、導通検査針5を接触させて導通テストを行った場合、非導通状態が検知される。つまり、非導通状態を検知することでVカット加工部7が適正に形成されていることが判断でき、導通状態となれば、Vカット加工部7が形成されていない又は不良状態のVカット加工部7が形成されていることを判断することができる。
In the conductive terminal measuring unit 4 having such a configuration, as shown in FIG. 2A, if the V
図3にVカット加工部7が形成されたプリント基板1aを示し、特に図3(a)は、捨部プリント基板1bと実装プリント基板1cとが分断される前の状態であり、図3(b)は分断後の状態を示している。図2(b)及び図3(a)に示すような状態となって、導通テストでVカット加工部7が適正に形成されている旨が判断されたプリント基板1aは、次の工程へ送られ、所定の工程において、図3(b)に示すように、捨部プリント基板1bと実装プリント基板1cに分断される。
FIG. 3 shows a printed
このとき、略C字形状のスリット6の上下の端部を跨いでVカット加工部7が形成されて、その部分で分断されるため、導通テスト基板片8が捨部プリント基板1bと実装プリント基板1cの両基板から分離される。このようにして、Vカット加工が適正になされたか否かのテストに用いられた構造は、実装プリント基板1cから取り除かれる。そのため、導通テストに用いられる部分に起因する不具合の発生を防止できる。つまり、銅箔の剥がれ等により、浮遊物の発生を防止することができる。その結果、導通端子測定部4の浮遊物片(銅箔等)が基板上に残留し電気ショートを発生させたり、製造装置の隙間に入り込み機械的ストレス等を発生させたりすることを防止できる。
At this time, the V-cut processed
また、Vカット加工部7形成後であるが捨部プリント基板1bと実装プリント基板1cの分断前の状態において、導通パターン2が基板の内層部分に形成されていることから、導通パターン2がVカット加工部7の形成面(Vカット面)にのみ生じ、銅箔が基板の厚みより浮き上がる現象がなくなる。その結果、短絡の発生を回避できるとともに、例えば次工程への搬送中に、銅箔が不適切に分離してしまい、製造装置や別の部品等に悪影響を及ぼしたりすることも防止できる。また、内層に導通パターン2(銅箔)を設けることで、単にVカット加工の有無だけでなく溝の深さ(Vカット深さ)を判断することができる。
Further, since the
以上、本発明を実施形態をもとに説明した。この実施形態は例示であり、それらの各構成要素の組み合わせにいろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。 The present invention has been described based on the embodiments. This embodiment is an exemplification, and it will be understood by those skilled in the art that various modifications can be made to combinations of these components, and such modifications are also within the scope of the present invention.
図4に変形例に係るプリント基板11aを示す。プリント基板11aは、Vカット加工部17が形成される部分で、第1の実装プリント基板11bと第2の実装プリント基板11cとに分離される。そして、導通端子測定部14が、第1の実装プリント基板11bと第2の実装プリント基板11cとを導通パターン22によって連絡するように形成されている。
FIG. 4 shows a printed
さらに、第1の実装プリント基板11bに設けられる第1の導通端子測定部14bを囲むように、略C字形状の第1のスリット16bが形成されている。第1のスリット16bにおいて、略C字形状の端部が、Vカット加工部17が形成される位置を越えて第2の実装プリント基板11c側に延びている。
Further, a substantially C-shaped
同様に、第2の実装プリント基板11cに設けられる第2の導通端子測定部14cを囲むように、略逆C字形状の第2のスリット16cが形成されている。第2のスリット16cにおいて、略逆C字形状の端部が、Vカット加工部17が形成される位置を越えて第1の実装プリント基板11b側に延びている。
Similarly, a substantially inverted C-shaped
そして、Vカット加工部17が形成され、その部分でプリント基板11aが第1の実装プリント基板11bと第2の実装プリント基板11cとに分断されると、第1の導通テスト基板片18bと第2の導通テスト基板片18cとは、第1の実装プリント基板11bや第2の実装プリント基板11cから分離される。
Then, when the V-cut processed
このような構成によって、上述の実施形態と同様の効果が得られ、捨て部が無い構成のプリント基板11aにおいても、プリント基板11aを分割したときに導通端子測定部14(第1及び第2の導通テスト基板片18b、18c)を取り除くことができる。
With such a configuration, the same effect as that of the above-described embodiment can be obtained, and even in the printed
なお、上述の実施形態と変形例では、導通パターン2、22が基板内部に形成される構成について説明した。しかし、導通パターンが基板表面に形成される構成のプリント基板についても適用することができる。また、スリット6、16の形状は、プリント基板が分断されたときに、導通テスト基板片が分離される形状であればよく、例えば、”>”字形状等がある。
In the embodiment and the modification described above, the configuration in which the
1a、11a プリント基板
1b 捨部プリント基板
1c 実装プリント基板
2、22 導通パターン
3b 捨部側スルーホール
3c 実装側スルーホール
4 導通端子測定部
4b 捨部側導通端子測定部
4c 実装側導通端子測定部
5 導通検査針
6 スリット
7、17 Vカット加工部
8 導通テスト基板片
11b 第1の実装プリント基板
11c 第2の実装プリント基板
14b 第1の導通端子測定部
14c 第2の導通端子測定部
16b 第1のスリット
16c 第2のスリット
18b 第1の導通テスト基板片
18c 第2の導通テスト基板片
1a, 11a Printed
Claims (4)
前記回路パターンの外周の一部を囲うように形成された第1のスリットを備え、
前記回路パターンは、
前記第1のプリント基板の表面に形成された第1の導電部と、
前記第2のプリント基板の表面に形成された第2の導電部と、
前記第1の導電部と前記第2の導電部とを電気的に接続するように形成された導電パターンである連絡導電部と、を備え、
前記連絡導電部は、前記Vカット加工がなされたときに、分離される位置に形成されており、
前記第1のスリットは、前記第1の導電部の外周を囲うように、かつ、前記Vカット加工がなされた領域で前記第1のプリント基板及び前記第2のプリント基板に分断されたときに、前記第1のプリント基板に形成された前記第1の導電部が前記第1のプリント基板から分離されるように形成されている
ことを特徴とするプリント基板。 A V-cut process is performed to divide the first printed board and the second printed board, and the first printed board and the second printed board are used to determine the state of the V-cut process. A printed circuit board having a circuit pattern for continuity testing formed so as to be in electrical communication with
A first slit formed so as to surround a part of the outer periphery of the circuit pattern;
The circuit pattern is
A first conductive portion formed on a surface of the first printed circuit board;
A second conductive portion formed on the surface of the second printed circuit board;
A connecting conductive portion that is a conductive pattern formed so as to electrically connect the first conductive portion and the second conductive portion;
The connection conductive part is formed at a position where the connection conductive part is separated when the V-cut processing is performed,
When the first slit is divided into the first printed circuit board and the second printed circuit board so as to surround the outer periphery of the first conductive portion and in the region where the V-cut processing is performed. The printed circuit board, wherein the first conductive portion formed on the first printed circuit board is separated from the first printed circuit board.
前記第2の導電部は、基板表面と基板裏面を連通する第2のスルーホールを有し、
前記連絡導電部は、基板内部において前記第1のスルーホール及び前記第2のスルーホールを連絡するように形成されている
ことを特徴とする請求項1に記載のプリント基板。 The first conductive portion has a first through hole that communicates the front surface and the back surface of the substrate,
The second conductive portion has a second through hole that communicates the front surface and the back surface of the substrate,
The printed circuit board according to claim 1, wherein the connecting conductive portion is formed so as to connect the first through hole and the second through hole inside the substrate.
前記回路パターンの外周の一部を囲むように形成され、前記Vカット加工されたときに、前記回路パターンを分離するように設けられたスリットを有していることを特徴とするプリント基板。 A printed circuit board having a circuit pattern for continuity testing for determining the state of V-cut processing,
A printed board having a slit formed so as to surround a part of an outer periphery of the circuit pattern and provided to separate the circuit pattern when the V-cut processing is performed.
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