JP2011232641A - Liquid crystal display device - Google Patents

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JP2011232641A
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Japan
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guard ring
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liquid crystal
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JP2010104221A
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Japanese (ja)
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Katsuhiro Hoshina
克浩 保科
Tetsuya Iizuka
哲也 飯塚
Yuki Morita
有紀 森田
Satoru Ishida
知 石田
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Japan Display Central Inc
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Toshiba Mobile Display Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a liquid crystal display device capable of suppressing electrostatic breakdown.SOLUTION: The liquid crystal display device includes: an insulating substrate; a first substrate including gate wiring extending along a first direction above the insulating substrate, source wiring extending along a second direction crossing the first direction above the insulating substrate, a guard ring wiring which extends along at least the second direction and is spaced from the gate wiring and source wiring, a first wiring which is closest to the guard ring wiring between the source wiring and the guard ring wiring and extends along the second direction, and a second wiring which is closest to the first wiring between the source wiring and the first wiring and extends along the second direction; a second substrate facing the first substrate; and a liquid crystal layer held between the first substrate and the second substrate. The first wiring is spaced from the guard ring wiring and the second wiring, and the shortest distance between the first wiring and the guard ring wiring is longer than that between the first wiring and the second wiring.

Description

この発明は、液晶表示装置に関する。   The present invention relates to a liquid crystal display device.

近年、平面表示装置が盛んに開発されており、中でも液晶表示装置は、軽量、薄型、低消費電力などの特徴を生かして、各種分野に適用されている。   In recent years, flat display devices have been actively developed, and among them, liquid crystal display devices have been applied to various fields by taking advantage of features such as light weight, thinness, and low power consumption.

このような液晶表示装置において、製造過程あるいは製造後に帯電した静電気による静電破壊を防ぐために、基板周縁にガードリングを配置することが行われている。外部の静電気によって基板上に誘導された電荷はガードリングに集中し、他の配線に電荷が誘導されにくくなる。このため、液晶表示装置の故障の原因となる静電破壊が起こりにくくなる。しかしながら、ガードリングに誘導された電荷によって基板上の別の配線に電荷が誘導され、両者間に高電界が生じて放電が生じ、配線に接続されたスイッチング素子などが静電破壊されることがある。   In such a liquid crystal display device, a guard ring is disposed on the periphery of the substrate in order to prevent electrostatic breakdown due to static electricity charged during the manufacturing process or after manufacturing. The charges induced on the substrate by external static electricity are concentrated on the guard ring, and the charges are less likely to be induced on other wirings. For this reason, electrostatic breakdown that causes failure of the liquid crystal display device is less likely to occur. However, the charge induced in the guard ring induces a charge on another wiring on the substrate, and a high electric field is generated between the two, causing a discharge, and the switching element connected to the wiring is electrostatically destroyed. is there.

例えば、特許文献1によれば、基板端部に他の配線と電気的に絶縁されて配置されたガードリングを有する液晶表示装置用基板及びその製造方法が開示されている。特に、このガードリングは、第1の抵抗率を有する導電膜で形成された下層部と、この下層部の上に第1の抵抗率より低い第2の抵抗率を有する導電膜で形成され所定の間隔で内周部と外周部とに分離された上層部とを備えている。このような構成により、ガードリングに高電位の静電気が帯電すると、内周部と外周部との間でアーク放電が生じ、ガードリングに帯電した電位が低下し、カードリングと他の配線との間にはアーク放電が生じないようにするものである。   For example, Patent Document 1 discloses a substrate for a liquid crystal display device having a guard ring that is disposed at the edge of the substrate so as to be electrically insulated from other wiring, and a method for manufacturing the same. In particular, the guard ring is formed of a lower layer portion formed of a conductive film having a first resistivity and a conductive film having a second resistivity lower than the first resistivity on the lower layer portion. And an upper layer portion that is separated into an inner peripheral portion and an outer peripheral portion at intervals of. With such a configuration, when a high potential static electricity is charged in the guard ring, an arc discharge occurs between the inner and outer peripheral portions, the potential charged in the guard ring is lowered, and the card ring and other wiring are connected. It is intended to prevent arc discharge between them.

特開2002−287159号公報JP 2002-287159 A

この発明の目的は、静電破壊を抑制することが可能な液晶表示装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a liquid crystal display device capable of suppressing electrostatic breakdown.

この発明の一態様によれば、
絶縁基板と、前記絶縁基板の上方において第1方向に沿って延出したゲート配線と、前記絶縁基板の上方において第1方向に交差する第2方向に沿って延出したソース配線と、少なくとも第2方向に沿って延出し前記ゲート配線及び前記ソース配線から離間したガードリング配線と、前記ソース配線と前記ガードリング配線との間において前記ガードリング配線に最も近く第2方向に沿って延出した第1配線と、前記ソース配線と前記第1配線との間において前記第1配線に最も近く第2方向に沿って延出した第2配線と、を備えた第1基板と、前記第1基板に対向した第2基板と、前記第1基板と前記第2基板との間に保持された液晶層と、を備え、前記第1配線は、前記ガードリング配線及び前記第2配線から離間し、前記第1配線と前記ガードリング配線との最短距離が前記第1配線と前記第2配線との最短距離より長いことを特徴とする液晶表示装置が提供される。
According to one aspect of the invention,
An insulating substrate; a gate wiring extending along a first direction above the insulating substrate; a source wiring extending along a second direction intersecting the first direction above the insulating substrate; The guard ring wiring extending along two directions and spaced apart from the gate wiring and the source wiring, and extending along the second direction closest to the guard ring wiring between the source wiring and the guard ring wiring. A first substrate comprising: a first wiring; and a second wiring that is closest to the first wiring and extends along a second direction between the source wiring and the first wiring, and the first substrate. And a liquid crystal layer held between the first substrate and the second substrate, wherein the first wiring is separated from the guard ring wiring and the second wiring, Before the first wiring The liquid crystal display device the shortest distance between the guard ring line is equal to or longer than the shortest distance between the second wiring and the first wiring is provided.

この発明の他の態様によれば、
絶縁基板と、前記絶縁基板の上方において第1方向に沿って延出したゲート配線と、前記絶縁基板の上方において第1方向に交差する第2方向に沿って延出したソース配線と、少なくとも第2方向に沿って延出し前記ゲート配線及び前記ソース配線から離間したガードリング配線と、前記ソース配線と前記ガードリング配線との間において前記ガードリング配線に最も近く第2方向に沿って延出した第1配線と、前記絶縁基板の端辺と前記ガードリング配線との間に配置され電気的にフローティング状態の金属パターンと、を備えた第1基板と、前記第1基板に対向した第2基板と、前記第1基板と前記第2基板との間に保持された液晶層と、を備え、前記第1配線は、前記ガードリング配線及び前記金属パターンから離間し、前記第1配線と前記ガードリング配線との最短距離が前記ガードリング配線と前記金属パターンとの最短距離より長いことを特徴とする液晶表示装置が提供される。
According to another aspect of the invention,
An insulating substrate; a gate wiring extending along a first direction above the insulating substrate; a source wiring extending along a second direction intersecting the first direction above the insulating substrate; The guard ring wiring extending along two directions and spaced apart from the gate wiring and the source wiring, and extending along the second direction closest to the guard ring wiring between the source wiring and the guard ring wiring. A first substrate comprising: a first wiring; a metal pattern that is disposed between the edge of the insulating substrate and the guard ring wiring and is in an electrically floating state; and a second substrate facing the first substrate And a liquid crystal layer held between the first substrate and the second substrate, wherein the first wiring is separated from the guard ring wiring and the metal pattern, and the first wiring The liquid crystal display device the shortest distance between the guard ring line is equal to or longer than the shortest distance between the metal pattern and the guard ring line is provided.

この発明の他の態様によれば、
絶縁基板と、前記絶縁基板の上方において第1方向に沿って延出したゲート配線と、前記絶縁基板の上方において第1方向に交差する第2方向に沿って延出したソース配線と、少なくとも第2方向に沿って延出し前記ゲート配線及び前記ソース配線から離間したガードリング配線と、前記ソース配線と前記ガードリング配線との間において前記ガードリング配線に最も近く第2方向に沿って延出した第1配線と、前記ソース配線と前記第1配線との間において前記第1配線に最も近く第2方向に沿って延出した第2配線と、前記絶縁基板の端辺と前記ガードリング配線との間に配置され電気的にフローティング状態の金属パターンと、を備えた第1基板と、前記第1基板に対向した第2基板と、前記第1基板と前記第2基板との間に保持された液晶層と、を備え、前記第1配線は、前記ガードリング配線、前記第2配線、及び、前記金属パターンから離間し、前記第1配線と前記ガードリング配線との最短距離が前記第1配線と前記第2配線との最短距離より長く、且つ、前記第1配線と前記ガードリング配線との最短距離が前記ガードリング配線と前記金属パターンとの最短距離より長いことを特徴とする液晶表示装置が提供される。
According to another aspect of the invention,
An insulating substrate; a gate wiring extending along a first direction above the insulating substrate; a source wiring extending along a second direction intersecting the first direction above the insulating substrate; The guard ring wiring extending along two directions and spaced apart from the gate wiring and the source wiring, and extending along the second direction closest to the guard ring wiring between the source wiring and the guard ring wiring. A first wiring, a second wiring that is closest to the first wiring and extends in a second direction between the source wiring and the first wiring, an edge of the insulating substrate, and the guard ring wiring; Between the first substrate and the second substrate, the second substrate facing the first substrate, and held between the first substrate and the second substrate. A liquid crystal layer, wherein the first wiring is separated from the guard ring wiring, the second wiring, and the metal pattern, and a shortest distance between the first wiring and the guard ring wiring is the first wiring. A liquid crystal display device, wherein the shortest distance between the first wiring and the guard ring wiring is longer than the shortest distance between the guard ring wiring and the metal pattern. Is provided.

この発明によれば、静電破壊を抑制することが可能な液晶表示装置を提供できる。   According to this invention, a liquid crystal display device capable of suppressing electrostatic breakdown can be provided.

図1は、この発明の一実施の形態における液晶表示装置の構成を概略的に示す図である。FIG. 1 schematically shows a configuration of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention. 図2は、図1に示した液晶表示パネルの構成及び等価回路を概略的に示す図である。FIG. 2 is a diagram schematically showing a configuration and an equivalent circuit of the liquid crystal display panel shown in FIG. 図3は、図2に示した液晶表示パネルを構成するアレイ基板の断面構造を概略的に示す図である。FIG. 3 is a diagram schematically showing a cross-sectional structure of the array substrate constituting the liquid crystal display panel shown in FIG. 図4は、図2に示した液晶表示パネルを構成するアレイ基板を概略的に示す平面図である。4 is a plan view schematically showing an array substrate constituting the liquid crystal display panel shown in FIG. 図5は、図4に示したガードリング配線と第1配線及び第2配線とを含む領域Aを拡大した図である。FIG. 5 is an enlarged view of a region A including the guard ring wiring, the first wiring, and the second wiring shown in FIG. 図6は、図4に示したガードリング配線と金属パターンとを含む領域Bを拡大した図である。FIG. 6 is an enlarged view of a region B including the guard ring wiring and the metal pattern shown in FIG.

以下、本発明の一態様について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、各図において、同一又は類似した機能を発揮する構成要素には同一の参照符号を付し、重複する説明は省略する。   Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In each figure, the same reference numerals are given to components that exhibit the same or similar functions, and duplicate descriptions are omitted.

図1は、本実施形態における液晶表示装置の構成を模式的に示す図である。   FIG. 1 is a diagram schematically illustrating a configuration of a liquid crystal display device according to the present embodiment.

すなわち、液晶表示装置1は、アクティブマトリクスタイプの液晶表示パネルLPN、液晶表示パネルLPNに接続された駆動ICチップ2及びフレキシブル配線基板3などを備えている。   That is, the liquid crystal display device 1 includes an active matrix type liquid crystal display panel LPN, a drive IC chip 2 connected to the liquid crystal display panel LPN, a flexible wiring board 3, and the like.

液晶表示パネルLPNは、アレイ基板(第1基板)ARと、アレイ基板ARに対向して配置された対向基板(第2基板)CTと、これらのアレイ基板ARと対向基板CTとの間に保持された液晶層LQと、を備えて構成されている。このような液晶表示パネルLPNは、画像を表示するアクティブエリアACTを備えている。このアクティブエリアACTは、m×n個のマトリクス状に配置された複数の画素PXによって構成されている(但し、m及びnは正の整数)。   The liquid crystal display panel LPN is held between an array substrate (first substrate) AR, a counter substrate (second substrate) CT arranged to face the array substrate AR, and the array substrate AR and the counter substrate CT. Liquid crystal layer LQ. Such a liquid crystal display panel LPN includes an active area ACT for displaying an image. The active area ACT is composed of a plurality of pixels PX arranged in a matrix of m × n (where m and n are positive integers).

駆動ICチップ2及びフレキシブル配線基板3は、アレイ基板ARに実装され、画素PXの駆動に必要な信号を供給する信号供給源として機能する。   The driving IC chip 2 and the flexible wiring board 3 are mounted on the array substrate AR and function as a signal supply source that supplies signals necessary for driving the pixels PX.

図2は、図1に示した液晶表示パネルLPNの構成及び等価回路を概略的に示す図である。   FIG. 2 is a diagram schematically showing a configuration and an equivalent circuit of the liquid crystal display panel LPN shown in FIG.

液晶表示パネルLPNは、アクティブエリアACTにおいて、n本のゲート配線G(G1〜Gn)、n本の補助容量線C(C1〜Cn)、m本のソース配線S(S1〜Sm)などを備えている。各画素PXは、ゲート配線G及びソース配線Sと電気的に接続されたスイッチング素子SW、スイッチング素子SWに電気的に接続された画素電極PE、液晶層LQを介して画素電極PEと対向するコモン電位の共通電極CEなどを備えている。保持容量Csは、例えば補助容量線Cと画素電極PEとの間に形成される。   In the active area ACT, the liquid crystal display panel LPN includes n gate lines G (G1 to Gn), n auxiliary capacitance lines C (C1 to Cn), m source lines S (S1 to Sm), and the like. ing. Each pixel PX includes a switching element SW electrically connected to the gate line G and the source line S, a pixel electrode PE electrically connected to the switching element SW, and a common facing the pixel electrode PE via the liquid crystal layer LQ. A common electrode CE having a potential is provided. The storage capacitor Cs is formed, for example, between the storage capacitor line C and the pixel electrode PE.

各ゲート配線Gは、アクティブエリアACTの外側に引き出され、ゲート配線駆動回路GDに接続されている。このようなゲート配線駆動回路GDは、アクティブエリアACTを挟んで両側に形成されても良いが、図示した例では、一方の側にのみ形成されている。各ソース配線Sは、アクティブエリアACTの外側に引き出され、ソース配線駆動回路SDに接続されている。図示した例では、各補助容量線Cは、アクティブエリアACTの外側に引き出され、アクティブエリアACTを挟んでゲート配線駆動回路GDとは反対側に形成された補助容量線駆動回路CDに接続されている。これらのゲート配線駆動回路GD、ソース配線駆動回路SD、及び、補助容量線駆動回路CDは、例えば、アレイ基板ARに形成され、駆動ICチップ2と接続されている。   Each gate line G is drawn outside the active area ACT and connected to the gate line drive circuit GD. Such a gate wiring drive circuit GD may be formed on both sides of the active area ACT, but in the illustrated example, it is formed only on one side. Each source line S is drawn outside the active area ACT and connected to the source line drive circuit SD. In the illustrated example, each auxiliary capacitance line C is drawn to the outside of the active area ACT and connected to the auxiliary capacitance line drive circuit CD formed on the opposite side of the gate line drive circuit GD across the active area ACT. Yes. The gate line driving circuit GD, the source line driving circuit SD, and the auxiliary capacitance line driving circuit CD are formed on, for example, the array substrate AR and connected to the driving IC chip 2.

図示した例では、駆動ICチップ2は、液晶表示パネルLPNのアクティブエリアACTの外側に実装されている。また、液晶表示パネルLPNには、フレキシブル配線基板を接続するための端子TA、TB、TCが形成されている。複数の端子TAは、端子TBと端子TCとの間に配置されており、各種配線を介して駆動ICチップ2に接続されている。端子TB及びTCは、液晶表示パネルLPNの周縁に配置されたガードリング配線GRに接続されている。ガードリング配線GRは、例えばコモン配線として機能し、共通電極CEと電気的に接続されている。   In the illustrated example, the drive IC chip 2 is mounted outside the active area ACT of the liquid crystal display panel LPN. The liquid crystal display panel LPN is formed with terminals TA, TB, and TC for connecting a flexible wiring board. The plurality of terminals TA are arranged between the terminal TB and the terminal TC, and are connected to the driving IC chip 2 through various wirings. The terminals TB and TC are connected to a guard ring wiring GR disposed on the periphery of the liquid crystal display panel LPN. The guard ring wiring GR functions as a common wiring, for example, and is electrically connected to the common electrode CE.

なお、本実施形態においては、液晶表示パネルLPNは、横電界モードを適用した構成であっても良いし、縦電界モードを適用した構成であっても良い。横電界モードを適用した液晶表示パネルLPNは、アレイ基板ARが画素電極PE及び共通電極CEを備え、これらの間に形成される横電界(すなわち、基板の主面にほぼ平行な電界)を主に利用して液晶層LQを構成する液晶分子をスイッチングする。また、縦電界モードを適用した液晶表示パネルLPNは、アレイ基板ARが画素電極PEを備え、対向基板CTが共通電極CEを備え、これらの間に形成される縦電界(すなわち基板の主面に略垂直な電界)を主に利用して液晶層LQを構成する液晶分子をスイッチングする。   In the present embodiment, the liquid crystal display panel LPN may have a configuration in which a horizontal electric field mode is applied, or may have a configuration in which a vertical electric field mode is applied. In the liquid crystal display panel LPN to which the horizontal electric field mode is applied, the array substrate AR includes the pixel electrode PE and the common electrode CE, and a horizontal electric field (that is, an electric field substantially parallel to the main surface of the substrate) formed therebetween is mainly used. Is used to switch the liquid crystal molecules constituting the liquid crystal layer LQ. In the liquid crystal display panel LPN to which the vertical electric field mode is applied, the array substrate AR is provided with the pixel electrode PE, the counter substrate CT is provided with the common electrode CE, and the vertical electric field formed between them (that is, on the main surface of the substrate). The liquid crystal molecules constituting the liquid crystal layer LQ are switched mainly using a substantially vertical electric field).

図3は、図2に示した液晶表示パネルLPNを構成するアレイ基板ARの断面構造を概略的に示す図である。   FIG. 3 is a diagram schematically showing a cross-sectional structure of the array substrate AR constituting the liquid crystal display panel LPN shown in FIG.

すなわち、アレイ基板ARは、ガラス板などの光透過性を有する絶縁基板20を用いて形成されている。このアレイ基板ARは、アクティブエリアACTにおいて、絶縁基板20の上面にスイッチング素子SWを備えている。ここに示したスイッチング素子SWは、トップゲート型の薄膜トランジスタ(TFT)である。このスイッチング素子SWは、半導体層SCを備えている。   That is, the array substrate AR is formed by using an insulating substrate 20 having a light transmission property such as a glass plate. The array substrate AR includes a switching element SW on the upper surface of the insulating substrate 20 in the active area ACT. The switching element SW shown here is a top-gate thin film transistor (TFT). The switching element SW includes a semiconductor layer SC.

この半導体層SCは、例えば、ポリシリコンやアモルファスシリコンなどによって形成可能であり、ここではポリシリコンによって形成されている。このような半導体層SCは、絶縁基板20の上に配置され、ゲート絶縁膜21によって覆われている。このゲート絶縁膜21は、絶縁基板20の上にも配置されている。   The semiconductor layer SC can be formed of, for example, polysilicon or amorphous silicon, and is formed of polysilicon here. Such a semiconductor layer SC is disposed on the insulating substrate 20 and covered with the gate insulating film 21. The gate insulating film 21 is also disposed on the insulating substrate 20.

スイッチング素子SWのゲート電極WGは、ゲート絶縁膜21の上に配置され、半導体層SCの直上に位置している。ゲート電極WGは、ゲート配線Gに電気的に接続されている。図示した例では、ゲート電極WGは、ゲート配線Gと一体的に形成されている。また、補助容量線Cは、ゲート電極WGと同層であるゲート絶縁膜21の上に配置されている。   The gate electrode WG of the switching element SW is disposed on the gate insulating film 21 and is located immediately above the semiconductor layer SC. The gate electrode WG is electrically connected to the gate wiring G. In the illustrated example, the gate electrode WG is formed integrally with the gate wiring G. The auxiliary capacitance line C is disposed on the gate insulating film 21 that is the same layer as the gate electrode WG.

また、アクティブエリアACTの外側において、ガードリング配線GRは、ゲート電極WGと同層であるゲート絶縁膜21の上に配置されている。   Further, outside the active area ACT, the guard ring wiring GR is disposed on the gate insulating film 21 which is the same layer as the gate electrode WG.

このようなゲート電極WG、ゲート配線G、補助容量線C、及び、ガードリング配線GRは、第1層間絶縁膜22によって覆われている。この第1層間絶縁膜22は、ゲート絶縁膜21の上にも配置されている。これらのゲート絶縁膜21及び第1層間絶縁膜22は、例えば窒化シリコン(SiN)などの無機系材料によって形成されている。   The gate electrode WG, the gate line G, the auxiliary capacitance line C, and the guard ring line GR are covered with the first interlayer insulating film 22. The first interlayer insulating film 22 is also disposed on the gate insulating film 21. The gate insulating film 21 and the first interlayer insulating film 22 are formed of an inorganic material such as silicon nitride (SiN).

スイッチング素子SWのソース電極WS及びドレイン電極WDは、第1層間絶縁膜22の上に配置されている。これらのソース電極WS及びドレイン電極WDは、ゲート絶縁膜21及び第1層間絶縁膜22を貫通するコンタクトホールを介して半導体層SCにコンタクトしている。ソース電極WSは、ソース配線Sに電気的に接続されている。図示した例では、ソース電極WSは、ソース配線Sと一体的に形成されている。   The source electrode WS and the drain electrode WD of the switching element SW are disposed on the first interlayer insulating film 22. The source electrode WS and the drain electrode WD are in contact with the semiconductor layer SC through contact holes that penetrate the gate insulating film 21 and the first interlayer insulating film 22. The source electrode WS is electrically connected to the source line S. In the illustrated example, the source electrode WS is formed integrally with the source line S.

これらのゲート電極WG、ソース電極WS、及び、ドレイン電極WDは、例えば、モリブデン、アルミニウム、タングステン、チタンなどの導電材料によって形成されている。ゲート電極WG、ゲート配線G、補助容量線C、及び、ガードリング配線GRは、同一材料を用いて同一工程で形成される。ソース配線S、ソース電極WS、及び、ドレイン電極WDは、同一材料を用いて同一工程で形成される。   The gate electrode WG, the source electrode WS, and the drain electrode WD are formed of a conductive material such as molybdenum, aluminum, tungsten, or titanium. The gate electrode WG, the gate wiring G, the auxiliary capacitance line C, and the guard ring wiring GR are formed in the same process using the same material. The source wiring S, the source electrode WS, and the drain electrode WD are formed in the same process using the same material.

ソース配線S、ソース電極WS、及び、ドレイン電極WDは、第2層間絶縁膜23によって覆われている。また、この第2層間絶縁膜23は、第1層間絶縁膜22の上にも配置されている。この第2層間絶縁膜23は、例えば、紫外線硬化型樹脂や熱硬化型樹脂などの各種有機材料によって形成されている。   The source wiring S, the source electrode WS, and the drain electrode WD are covered with the second interlayer insulating film 23. The second interlayer insulating film 23 is also disposed on the first interlayer insulating film 22. The second interlayer insulating film 23 is formed of various organic materials such as an ultraviolet curable resin and a thermosetting resin.

画素電極PEは、第2層間絶縁膜23の上に配置さている。この画素電極PEは、第2層間絶縁膜23を貫通するコンタクトホールを介してドレイン電極WDに接続されている。また、画素電極PEは、補助容量線Cの直上にも位置している。このような画素電極PEは、例えば、インジウム・ティン・オキサイド(ITO)やインジウム・ジンク・オキサイド(IZO)などの光透過性を有する導電材料によって形成されている。画素電極PE及び第2層間絶縁膜23は、第1配向膜24によって覆われている。   The pixel electrode PE is disposed on the second interlayer insulating film 23. The pixel electrode PE is connected to the drain electrode WD through a contact hole that penetrates the second interlayer insulating film 23. Further, the pixel electrode PE is also located immediately above the auxiliary capacitance line C. Such a pixel electrode PE is formed of a light-transmitting conductive material such as indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO). The pixel electrode PE and the second interlayer insulating film 23 are covered with a first alignment film 24.

なお、共通電極CEは図示されていないが、横電界モードを適用した構成では、アレイ基板ARが画素電極PEと電気的に絶縁された共通電極CEを備え、縦電界モードを適用した構成では、図示しない対向基板が共通電極CEを備えている。   Although the common electrode CE is not illustrated, in the configuration in which the horizontal electric field mode is applied, the array substrate AR includes the common electrode CE that is electrically insulated from the pixel electrode PE, and in the configuration in which the vertical electric field mode is applied, A counter substrate (not shown) includes a common electrode CE.

図4は、図2に示した液晶表示パネルLPNを構成するアレイ基板ARを概略的に示す平面図である。なお、この図4においては、アクティブエリアACTの詳細については図示を省略する。   FIG. 4 is a plan view schematically showing the array substrate AR constituting the liquid crystal display panel LPN shown in FIG. In FIG. 4, the details of the active area ACT are not shown.

アレイ基板ARを構成する絶縁基板20は、略長方形状であり、第1方向Xに略平行な第1端辺20A及び第2端辺20B、第2方向Yに略平行な第3端辺20C及び第4端辺20Dを有している。このような絶縁基板20の上方には、ゲート配線G、補助容量線C、ソース配線S、ガードリング配線GR、ゲート配線駆動回路GD、ソース配線駆動回路SD、補助容量線駆動回路CD、端子TA、TB、TC、金属パターンMPなどが形成されている。   The insulating substrate 20 constituting the array substrate AR has a substantially rectangular shape, a first end side 20A and a second end side 20B substantially parallel to the first direction X, and a third end side 20C substantially parallel to the second direction Y. And a fourth end side 20D. Above the insulating substrate 20, there are a gate line G, an auxiliary capacity line C, a source line S, a guard ring line GR, a gate line drive circuit GD, a source line drive circuit SD, an auxiliary capacity line drive circuit CD, and a terminal TA. , TB, TC, metal pattern MP, and the like are formed.

ゲート配線G及び補助容量線Cは、アクティブエリアACTにおいて、第1方向Xに沿って延出している。ソース配線Sは、アクティブエリアACTにおいて、第1方向Xに交差する第2方向Yに沿って延出している。ガードリング配線GRは、アクティブエリアACTの外側に配置され、ゲート配線G、補助容量線C、及び、ソース配線Sから離間している。   The gate line G and the auxiliary capacitance line C extend along the first direction X in the active area ACT. The source line S extends along the second direction Y intersecting the first direction X in the active area ACT. The guard ring wiring GR is disposed outside the active area ACT and is separated from the gate wiring G, the auxiliary capacitance line C, and the source wiring S.

端子TA、TB、及び、TCは、絶縁基板20の第1端辺20Aの近傍に並んで配置されている。アレイ基板ARにおいて、第1端辺20AとアクティブエリアACTとの間には、駆動ICチップ2が実装されている。複数の端子TAと駆動ICチップ2との間には、両者を電気的に接続する配線W1が形成されている。   The terminals TA, TB, and TC are arranged in the vicinity of the first end side 20A of the insulating substrate 20. In the array substrate AR, the drive IC chip 2 is mounted between the first end side 20A and the active area ACT. Between the plurality of terminals TA and the driving IC chip 2, a wiring W1 that electrically connects them is formed.

ガードリング配線GRは、途切れていない一連のリングとして形成される場合もあるが、ここに示した例では、その一端が端子TBに接続されるとともにその他端が端子TCに接続されており、端子TBと端子TCとの間で途切れている。なお、ガードリング配線GRのパターンについては、図示した例に限らない。   The guard ring wiring GR may be formed as a series of uninterrupted rings, but in the example shown here, one end is connected to the terminal TB and the other end is connected to the terminal TC. There is a break between TB and terminal TC. Note that the pattern of the guard ring wiring GR is not limited to the illustrated example.

このガードリング配線GRは、絶縁基板20の各端辺の近傍に相当する周縁部に配置されている。すなわち、ガードリング配線GRは、第1端辺20Aの近傍の端子TBから駆動ICチップ2の外側を通り、第3端辺20Cの近傍において第2方向Yに沿って延出し、第2端辺20Bと第3端辺20Cとが交差する角部近傍を経由して、第2端辺20Bの近傍において第1方向Xに沿って延出し、第2端辺20Bと第4端辺20Dとが交差する角部近傍を経由して、第4端辺20Dの近傍において第2方向Yに沿って延出し、さらに、駆動ICチップ2の外側を通り、第1端辺20Aの近傍の端子TCまで連続的に形成されている。   The guard ring wiring GR is disposed on the peripheral edge corresponding to the vicinity of each end side of the insulating substrate 20. That is, the guard ring wiring GR extends along the second direction Y in the vicinity of the third end side 20C from the terminal TB in the vicinity of the first end side 20A, near the third end side 20C, and the second end side. The second end side 20B and the fourth end side 20D extend along the first direction X in the vicinity of the second end side 20B via the vicinity of the corner where 20B and the third end side 20C intersect. It extends along the second direction Y in the vicinity of the fourth end side 20D through the vicinity of the intersecting corner, and further passes through the outside of the driving IC chip 2 to the terminal TC in the vicinity of the first end side 20A. It is formed continuously.

このようなガードリング配線GRの一部、たとえば、第2端辺20Bと第4端辺20Dとが交差する角部近傍には、図示しない対向基板CTに形成された共通電極CEと電気的に接続される給電部SPが形成される。この給電部SPは、共通電極CEと図示しない導電部材を介して電気的に接続される。   A part of such guard ring wiring GR, for example, in the vicinity of the corner where the second end side 20B and the fourth end side 20D intersect, is electrically connected to the common electrode CE formed on the counter substrate CT (not shown). A power feeding unit SP to be connected is formed. The power feeding unit SP is electrically connected to the common electrode CE via a conductive member (not shown).

ソース配線駆動回路SDは、アクティブエリアACTと第1端辺20Aとの間に形成され、ここでは、特に、アクティブエリアACTと駆動ICチップ2との間に形成されている。このソース配線駆動回路SDは、概ね第1方向Xに沿って延在している。このようなソース配線駆動回路SDには、アクティブエリアACTの外側に引き出されたソース配線Sが接続されている。ソース配線駆動回路SDと駆動ICチップ2との間には、両者を電気的に接続する配線W2が形成されている。   The source line drive circuit SD is formed between the active area ACT and the first end side 20A, and here, in particular, is formed between the active area ACT and the drive IC chip 2. The source line drive circuit SD extends substantially along the first direction X. A source line S drawn outside the active area ACT is connected to such a source line drive circuit SD. Between the source wiring driving circuit SD and the driving IC chip 2, a wiring W2 that electrically connects both is formed.

ゲート配線駆動回路GDは、アクティブエリアACTと第3端辺20Cに沿ったガードリング配線GRとの間に形成されている。このゲート配線駆動回路GDは、概ね第2方向Yに沿って延在している。つまり、ガードリング配線GRは、ゲート配線駆動回路GDと第3端辺20Cとの間に形成されている。このようなゲート配線駆動回路GDには、アクティブエリアACTの外側に引き出されたゲート配線Gが接続されている。   The gate wiring drive circuit GD is formed between the active area ACT and the guard ring wiring GR along the third end side 20C. The gate line driving circuit GD extends substantially along the second direction Y. That is, the guard ring wiring GR is formed between the gate wiring driving circuit GD and the third end side 20C. The gate wiring G drawn out to the outside of the active area ACT is connected to such a gate wiring driving circuit GD.

ゲート配線駆動回路GDと駆動ICチップ2との間には、両者を電気的に接続する配線W3が形成されている。このような配線W3は、ガードリング配線GRから離間し、しかもガードリング配線GRよりも内側、つまりアクティブエリアACT側に形成されている。   Between the gate wiring driving circuit GD and the driving IC chip 2, a wiring W3 that electrically connects both is formed. Such a wiring W3 is separated from the guard ring wiring GR, and is formed inside the guard ring wiring GR, that is, on the active area ACT side.

配線W3には、アクティブエリアACTのソース配線Sとアクティブエリア外のガードリング配線GRとの間において第2方向Yに沿って延出した第1配線W31及び第2配線W32が含まれる。第1配線W31は、ガードリング配線GRから離間しているが、ガードリング配線GRに最も近い配線である。第2配線W32は、ソース配線Sと第1配線W31との間において第1配線W31に最も近い配線である。つまり、絶縁基板20の第3端辺20Cからゲート配線駆動回路GDに向かって、ガードリング配線GR、第1配線W31、第2配線W32の順に並んでいる。   The wiring W3 includes a first wiring W31 and a second wiring W32 extending along the second direction Y between the source wiring S of the active area ACT and the guard ring wiring GR outside the active area. The first wiring W31 is separated from the guard ring wiring GR, but is the wiring closest to the guard ring wiring GR. The second wiring W32 is a wiring closest to the first wiring W31 between the source wiring S and the first wiring W31. That is, the guard ring wiring GR, the first wiring W31, and the second wiring W32 are arranged in this order from the third end side 20C of the insulating substrate 20 toward the gate wiring driving circuit GD.

補助容量線駆動回路CDは、アクティブエリアACTと第4端辺20Dに沿ったガードリング配線GRとの間に形成されている。この補助容量線駆動回路CDは、概ね第2方向Yに沿って延在している。つまり、ガードリング配線GRは、補助容量線駆動回路CDと第4端辺20Dとの間に形成されている。このような補助容量線駆動回路CDには、アクティブエリアACTの外側に引き出された補助容量線Cが接続されている。   The storage capacitor line drive circuit CD is formed between the active area ACT and the guard ring wiring GR along the fourth end side 20D. The storage capacitor line drive circuit CD extends substantially along the second direction Y. That is, the guard ring line GR is formed between the storage capacitor line drive circuit CD and the fourth end side 20D. An auxiliary capacitance line C drawn outside the active area ACT is connected to such an auxiliary capacitance line drive circuit CD.

補助容量線駆動回路CDと駆動ICチップ2との間には、両者を電気的に接続する配線W4が形成されている。このような配線W4も配線W3と同様に、ガードリング配線GRから離間し、しかもガードリング配線GRよりも内側、つまりアクティブエリアACT側に形成されている。   Between the auxiliary capacitance line drive circuit CD and the drive IC chip 2, a wiring W4 that electrically connects both is formed. Similar to the wiring W3, the wiring W4 is also separated from the guard ring wiring GR and is formed on the inner side of the guard ring wiring GR, that is, on the active area ACT side.

配線W4にも、アクティブエリアACTのソース配線Sとアクティブエリア外のガードリング配線GRとの間において第2方向Yに沿って延出した第1配線W41及び第2配線W42が含まれる。この第1配線W41は先に説明した第1配線W31と同等であり、ガードリング配線GRから離間しているが、ガードリング配線GRに最も近い配線である。第2配線W42は先に説明した第2配線W32と同等であり、ソース配線Sと第1配線W41との間において第1配線W41に最も近い配線である。つまり、絶縁基板20の第4端辺20Dから補助容量線駆動回路CDに向かって、ガードリング配線GR、第1配線W41、第2配線W42の順に並んでいる。   The wiring W4 also includes the first wiring W41 and the second wiring W42 extending along the second direction Y between the source wiring S of the active area ACT and the guard ring wiring GR outside the active area. The first wiring W41 is equivalent to the first wiring W31 described above, and is the wiring closest to the guard ring wiring GR, although it is separated from the guard ring wiring GR. The second wiring W42 is equivalent to the second wiring W32 described above, and is the wiring closest to the first wiring W41 between the source wiring S and the first wiring W41. That is, the guard ring wiring GR, the first wiring W41, and the second wiring W42 are arranged in this order from the fourth end 20D of the insulating substrate 20 toward the storage capacitor line drive circuit CD.

金属パターンMPは、絶縁基板20のいずれかの端辺とガードリング配線GRとの間に配置されている。このような金属パターンMPは、例えば、製造番号などが刻印されたマーク、アライメントに必要なマークなどであり、いずれの配線や回路にも接続されていない。つまり、金属パターンMPは、電気的にフローティング状態にある。図示した例では、金属パターンMPは、概略四角形状に形成され、第1端辺20Aと第3端辺20Cとが交差する角部近傍に配置されている。なお、金属パターンMPが配置される位置については、図示した例に限らない。   The metal pattern MP is disposed between any end side of the insulating substrate 20 and the guard ring wiring GR. Such a metal pattern MP is, for example, a mark engraved with a production number or a mark necessary for alignment, and is not connected to any wiring or circuit. That is, the metal pattern MP is in an electrically floating state. In the illustrated example, the metal pattern MP is formed in a substantially quadrangular shape, and is disposed in the vicinity of a corner where the first end side 20A and the third end side 20C intersect. The position where the metal pattern MP is arranged is not limited to the illustrated example.

次に、ガードリング配線GRとその内側の配線との位置関係について説明する。   Next, the positional relationship between the guard ring wiring GR and the wiring inside the guard ring wiring GR will be described.

図5は、図4に示したガードリング配線GRと第1配線W31及び第2配線W32とを含む領域Aを拡大した図である。   FIG. 5 is an enlarged view of a region A including the guard ring wiring GR, the first wiring W31, and the second wiring W32 illustrated in FIG.

第1配線W31とガードリング配線GRとの最短距離dAは、第1配線W31と第2配線W32との最短距離dBよりも長い(dA>dB)。なお、ガードリング配線GR、第1配線W31、及び、第2配線W32は、同一層に配置されている場合(つまり、ゲート配線Gなどと同一層であるゲート絶縁膜21の上に配置されている場合)もあるし、異なる層に配置されている場合(つまり、いずれかの配線がゲート配線Gなどと同一層であり、別の配線がソース配線Sなどと同一層である場合)もある。いずれの場合においても、本実施形態において最短距離とは、第1方向Xと第2方向Yとで規定されるX−Y平面内における配線間の間隔に相当する。   The shortest distance dA between the first wiring W31 and the guard ring wiring GR is longer than the shortest distance dB between the first wiring W31 and the second wiring W32 (dA> dB). The guard ring wiring GR, the first wiring W31, and the second wiring W32 are disposed on the same layer (that is, disposed on the gate insulating film 21 that is the same layer as the gate wiring G and the like). In some cases (ie, one of the wirings is in the same layer as the gate wiring G and the other wiring is in the same layer as the source wiring S). . In any case, in the present embodiment, the shortest distance corresponds to an interval between wirings in the XY plane defined by the first direction X and the second direction Y.

図示した例では、最短距離dAは、ガードリング配線GRの第1配線W31と向かい合う端辺から、第1配線W31のガードリング配線GRと向かい合う端辺までの第1方向Xに沿った距離に相当し、また、最短距離dBは、第1配線W31の第2配線W32と向かい合う端辺から、第2配線W32の第1配線W31と向かい合う端辺までの第1方向Xに沿った距離に相当する。一例として、dAが約100μm程度であるのに対して、dBは約10μm程度である。   In the illustrated example, the shortest distance dA corresponds to the distance along the first direction X from the end of the guard ring wiring GR facing the first wiring W31 to the end of the first wiring W31 facing the guard ring wiring GR. The shortest distance dB corresponds to the distance along the first direction X from the end of the first wiring W31 facing the second wiring W32 to the end of the second wiring W32 facing the first wiring W31. . As an example, dB is about 10 μm while dB is about 100 μm.

なお、ここでは、ガードリング配線GRと第1配線W31及び第2配線W32との位置関係について図5を参照しながら説明したが、第4端辺20D側のガードリング配線GRと第1配線W41及び第2配線W42との位置関係についても同様であり、詳細な説明を省略する。   Here, the positional relationship between the guard ring wiring GR and the first wiring W31 and the second wiring W32 has been described with reference to FIG. 5, but the guard ring wiring GR and the first wiring W41 on the fourth end 20D side are described. This also applies to the positional relationship with the second wiring W42, and detailed description thereof is omitted.

次に、ガードリング配線GRとその外側の金属パターンMPとの位置関係について説明する。   Next, the positional relationship between the guard ring wiring GR and the metal pattern MP outside thereof will be described.

図6は、図4に示したガードリング配線GRと金属パターンMPとを含む領域Bを拡大した図である。   FIG. 6 is an enlarged view of a region B including the guard ring wiring GR and the metal pattern MP shown in FIG.

ガードリング配線GRと金属パターンMPとの最短距離dCは、先に説明した第1配線W31とガードリング配線GRとの最短距離dAよりも短い(dA>dC)。なお、ガードリング配線GR、及び、金属パターンMPは、同一層に配置されている場合もあるし、異なる層に配置されている場合もある。いずれの場合においても、本実施形態において最短距離とは、第1方向Xと第2方向Yとで規定されるX−Y平面内における間隔に相当する。   The shortest distance dC between the guard ring wiring GR and the metal pattern MP is shorter than the shortest distance dA between the first wiring W31 and the guard ring wiring GR described above (dA> dC). Note that the guard ring wiring GR and the metal pattern MP may be arranged in the same layer or in different layers. In any case, in the present embodiment, the shortest distance corresponds to an interval in the XY plane defined by the first direction X and the second direction Y.

図示した例では、最短距離dCは、ガードリング配線GRの金属パターンMPと向かい合う端辺から、金属パターンMPのガードリング配線GRと向かい合う端辺までの第1方向Xに沿った距離に相当する。一例として、dAが約100μm程度であるのに対して、dCは約20μm程度である。   In the illustrated example, the shortest distance dC corresponds to the distance along the first direction X from the end side facing the metal pattern MP of the guard ring wiring GR to the end side facing the guard ring wiring GR of the metal pattern MP. As an example, dC is about 100 μm, whereas dC is about 20 μm.

上述した構成のアレイ基板ARを適用した場合、外部の静電気によってアレイ基板AR上に誘導される電荷は、アレイ基板ARの周縁部に配置されたガードリング配線GRに集中する。   When the array substrate AR having the above-described configuration is applied, the charges induced on the array substrate AR by external static electricity are concentrated on the guard ring wiring GR disposed on the peripheral edge of the array substrate AR.

本実施形態によれば、アレイ基板ARは、ガードリング配線GR、ガードリング配線GRの内側に隣接する配線、例えば第1配線W31、第1配線W31の内側に隣接する第2配線W32を備え、第1配線W31とガードリング配線GRとの間の最短距離dAは、第1配線W31と第2配線W32との間の最短距離dBよりも長い。つまり、第2配線W32は、第1配線W31から距離dAよりも小さい最短距離dBを隔てた位置に形成されている。   According to the present embodiment, the array substrate AR includes the guard ring wiring GR, the wiring adjacent to the inside of the guard ring wiring GR, for example, the first wiring W31, and the second wiring W32 adjacent to the inside of the first wiring W31. The shortest distance dA between the first wiring W31 and the guard ring wiring GR is longer than the shortest distance dB between the first wiring W31 and the second wiring W32. That is, the second wiring W32 is formed at a position separated from the first wiring W31 by a shortest distance dB that is smaller than the distance dA.

これにより、ガードリング配線GRに誘導された電荷がガードリング配線GRの内側に誘導されたとしても、その電荷量を分散させることができる。つまり、第1配線W31や第2配線W32に電荷が誘導されるとしても、ガードリング配線GRから第1配線W31までの距離が長く、また、誘導された電荷は第1配線W31と第2配線W32とで分散されるため、結果として、第1配線W31や第2配線W32に誘導される電荷量が少なくなる。このため、ガードリング配線GRとその内側の配線との間に高電界が生じにくくなり、両者の間の放電が抑制され、第1配線W31や第2配線W32などの各種配線に接続された薄膜トランジスタなどを含む各種回路の静電破壊を抑制することが可能となる。   As a result, even if the charge induced in the guard ring wiring GR is induced inside the guard ring wiring GR, the amount of charge can be dispersed. That is, even if charges are induced to the first wiring W31 and the second wiring W32, the distance from the guard ring wiring GR to the first wiring W31 is long, and the induced charges are the first wiring W31 and the second wiring. As a result, the amount of charge induced in the first wiring W31 and the second wiring W32 is reduced. Therefore, a high electric field is unlikely to be generated between the guard ring wiring GR and the wiring inside the guard ring wiring GR, and a discharge between them is suppressed, and the thin film transistor connected to various wirings such as the first wiring W31 and the second wiring W32. It is possible to suppress electrostatic breakdown of various circuits including the above.

同様に、ガードリング配線GRと第1配線W41との最短距離dAは、第1配線W41と第2配線W42との最短距離dBよりも長い。このため、第1配線W41及び第2配線W42に誘導される電荷量が少なくなり、同様の効果が得られる。   Similarly, the shortest distance dA between the guard ring wiring GR and the first wiring W41 is longer than the shortest distance dB between the first wiring W41 and the second wiring W42. For this reason, the amount of charge induced in the first wiring W41 and the second wiring W42 is reduced, and the same effect can be obtained.

また、本実施形態によれば、アレイ基板ARは、ガードリング配線GR、ガードリング配線GRの内側に隣接する配線、例えば第1配線W31、ガードリング配線GRの外側に隣接する金属パターンMPを備え、第1配線W31とガードリング配線GRとの間の最短距離dAは、ガードリング配線GRと金属パターンMPとの間の最短距離dCよりも長い。   In addition, according to the present embodiment, the array substrate AR includes the guard ring wiring GR, the wiring adjacent to the inside of the guard ring wiring GR, for example, the first wiring W31, and the metal pattern MP adjacent to the outside of the guard ring wiring GR. The shortest distance dA between the first wiring W31 and the guard ring wiring GR is longer than the shortest distance dC between the guard ring wiring GR and the metal pattern MP.

これにより、ガードリング配線GRに誘導された電荷は、その内側の第1配線W31よりもその外側の金属パターンMPに誘導されやすくなる。このため、ガードリング配線GRに誘導された電荷によって第1配線W31に誘導される電荷量を低減することができ、その一方で、ガードリング配線GRと金属パターンMPとの間での放電が発生しやすくなる。したがって、第1配線W31や第2配線W32などのガードリング配線GRよりも内側に配置された各種配線と、ガードリング配線GRとの間の放電が抑制され、第1配線W31や第2配線W32などの各種配線に接続された薄膜トランジスタなどを含む各種回路の静電破壊を抑制することが可能となる。   As a result, the charges induced in the guard ring wiring GR are more easily induced in the metal pattern MP on the outer side than the first wiring W31 on the inner side. Therefore, it is possible to reduce the amount of charge induced in the first wiring W31 due to the charge induced in the guard ring wiring GR, while generating a discharge between the guard ring wiring GR and the metal pattern MP. It becomes easy to do. Therefore, the discharge between the various wirings arranged inside the guard ring wiring GR such as the first wiring W31 and the second wiring W32 and the guard ring wiring GR is suppressed, and the first wiring W31 and the second wiring W32 are suppressed. It is possible to suppress electrostatic breakdown of various circuits including thin film transistors connected to various wirings.

同様に、ガードリング配線GRと第1配線W41との最短距離dAは、ガードリング配線GRと金属パターンMPとの最短距離dCよりも長い。このため、第1配線W41に誘導される電荷量を低減することができ、その一方で、ガードリング配線GRと金属パターンMPとの放電が発生しやすくなり、同様の効果が得られる。   Similarly, the shortest distance dA between the guard ring wiring GR and the first wiring W41 is longer than the shortest distance dC between the guard ring wiring GR and the metal pattern MP. For this reason, it is possible to reduce the amount of charge induced in the first wiring W41. On the other hand, the guard ring wiring GR and the metal pattern MP are likely to be discharged, and the same effect can be obtained.

なお、ガードリング配線GRと金属パターンMPとの間の放電を誘起するために、ガードリング配線GRと金属パターンMPとが最短距離dCで並走する距離が長いことが望ましい。   In order to induce a discharge between the guard ring wiring GR and the metal pattern MP, it is desirable that the distance that the guard ring wiring GR and the metal pattern MP run in parallel at the shortest distance dC is long.

なお、この発明は、上記実施形態そのものに限定されるものではなく、その実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。   In addition, this invention is not limited to the said embodiment itself, In the stage of implementation, it can change and implement a component within the range which does not deviate from the summary. Further, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of constituent elements disclosed in the embodiment. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment. Furthermore, you may combine suitably the component covering different embodiment.

1…液晶表示装置
LPN…液晶表示パネル AR…アレイ基板 CT…対向基板 LQ…液晶層
ACT…アクティブエリア PX…画素
G…ゲート配線 C…補助容量線 S…ソース配線
GD…ゲート配線駆動回路 SD…ソース配線駆動回路 CD…補助容量線駆動回路
TA…端子 TB…端子 TC…端子
GR…ガードリング配線
MP…金属パターン
W31…第1配線 W32…第2配線
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Liquid crystal display device LPN ... Liquid crystal display panel AR ... Array substrate CT ... Opposite substrate LQ ... Liquid crystal layer ACT ... Active area PX ... Pixel G ... Gate wiring C ... Auxiliary capacity line S ... Source wiring GD ... Gate wiring drive circuit SD ... Source wiring drive circuit CD ... Auxiliary capacitance line drive circuit TA ... Terminal TB ... Terminal TC ... Terminal GR ... Guard ring wiring MP ... Metal pattern W31 ... First wiring W32 ... Second wiring

Claims (5)

絶縁基板と、前記絶縁基板の上方において第1方向に沿って延出したゲート配線と、前記絶縁基板の上方において第1方向に交差する第2方向に沿って延出したソース配線と、少なくとも第2方向に沿って延出し前記ゲート配線及び前記ソース配線から離間したガードリング配線と、前記ソース配線と前記ガードリング配線との間において前記ガードリング配線に最も近く第2方向に沿って延出した第1配線と、前記ソース配線と前記第1配線との間において前記第1配線に最も近く第2方向に沿って延出した第2配線と、を備えた第1基板と、
前記第1基板に対向した第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に保持された液晶層と、を備え、
前記第1配線は、前記ガードリング配線及び前記第2配線から離間し、前記第1配線と前記ガードリング配線との最短距離が前記第1配線と前記第2配線との最短距離より長いことを特徴とする液晶表示装置。
An insulating substrate; a gate wiring extending along a first direction above the insulating substrate; a source wiring extending along a second direction intersecting the first direction above the insulating substrate; The guard ring wiring extending along two directions and spaced apart from the gate wiring and the source wiring, and extending along the second direction closest to the guard ring wiring between the source wiring and the guard ring wiring. A first substrate comprising: a first wiring; and a second wiring extending in the second direction closest to the first wiring between the source wiring and the first wiring;
A second substrate facing the first substrate;
A liquid crystal layer held between the first substrate and the second substrate,
The first wiring is separated from the guard ring wiring and the second wiring, and the shortest distance between the first wiring and the guard ring wiring is longer than the shortest distance between the first wiring and the second wiring. A characteristic liquid crystal display device.
絶縁基板と、前記絶縁基板の上方において第1方向に沿って延出したゲート配線と、前記絶縁基板の上方において第1方向に交差する第2方向に沿って延出したソース配線と、少なくとも第2方向に沿って延出し前記ゲート配線及び前記ソース配線から離間したガードリング配線と、前記ソース配線と前記ガードリング配線との間において前記ガードリング配線に最も近く第2方向に沿って延出した第1配線と、前記絶縁基板の端辺と前記ガードリング配線との間に配置され電気的にフローティング状態の金属パターンと、を備えた第1基板と、
前記第1基板に対向した第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に保持された液晶層と、を備え、
前記第1配線は、前記ガードリング配線及び前記金属パターンから離間し、前記第1配線と前記ガードリング配線との最短距離が前記ガードリング配線と前記金属パターンとの最短距離より長いことを特徴とする液晶表示装置。
An insulating substrate; a gate wiring extending along a first direction above the insulating substrate; a source wiring extending along a second direction intersecting the first direction above the insulating substrate; The guard ring wiring extending along two directions and spaced apart from the gate wiring and the source wiring, and extending along the second direction closest to the guard ring wiring between the source wiring and the guard ring wiring. A first substrate comprising: a first wiring; and an electrically floating metal pattern disposed between an edge of the insulating substrate and the guard ring wiring;
A second substrate facing the first substrate;
A liquid crystal layer held between the first substrate and the second substrate,
The first wiring is separated from the guard ring wiring and the metal pattern, and the shortest distance between the first wiring and the guard ring wiring is longer than the shortest distance between the guard ring wiring and the metal pattern. Liquid crystal display device.
絶縁基板と、前記絶縁基板の上方において第1方向に沿って延出したゲート配線と、前記絶縁基板の上方において第1方向に交差する第2方向に沿って延出したソース配線と、少なくとも第2方向に沿って延出し前記ゲート配線及び前記ソース配線から離間したガードリング配線と、前記ソース配線と前記ガードリング配線との間において前記ガードリング配線に最も近く第2方向に沿って延出した第1配線と、前記ソース配線と前記第1配線との間において前記第1配線に最も近く第2方向に沿って延出した第2配線と、前記絶縁基板の端辺と前記ガードリング配線との間に配置され電気的にフローティング状態の金属パターンと、を備えた第1基板と、
前記第1基板に対向した第2基板と、
前記第1基板と前記第2基板との間に保持された液晶層と、を備え、
前記第1配線は、前記ガードリング配線、前記第2配線、及び、前記金属パターンから離間し、前記第1配線と前記ガードリング配線との最短距離が前記第1配線と前記第2配線との最短距離より長く、且つ、前記第1配線と前記ガードリング配線との最短距離が前記ガードリング配線と前記金属パターンとの最短距離より長いことを特徴とする液晶表示装置。
An insulating substrate; a gate wiring extending along a first direction above the insulating substrate; a source wiring extending along a second direction intersecting the first direction above the insulating substrate; The guard ring wiring extending along two directions and spaced apart from the gate wiring and the source wiring, and extending along the second direction closest to the guard ring wiring between the source wiring and the guard ring wiring. A first wiring, a second wiring that is closest to the first wiring and extends in a second direction between the source wiring and the first wiring, an edge of the insulating substrate, and the guard ring wiring; A first substrate comprising: a metal pattern disposed between and electrically floating;
A second substrate facing the first substrate;
A liquid crystal layer held between the first substrate and the second substrate,
The first wiring is separated from the guard ring wiring, the second wiring, and the metal pattern, and a shortest distance between the first wiring and the guard ring wiring is between the first wiring and the second wiring. A liquid crystal display device, wherein the liquid crystal display device is longer than a shortest distance, and a shortest distance between the first wiring and the guard ring wiring is longer than a shortest distance between the guard ring wiring and the metal pattern.
前記第2基板は、前記ガードリング配線と電気的に接続された共通電極を備えたことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の液晶表示装置。   4. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the second substrate includes a common electrode that is electrically connected to the guard ring wiring. 5. 前記第1基板は、さらに、第2方向に沿って延在した駆動回路を備え、
前記ガードリング配線は、前記駆動回路と第2方向に沿った前記絶縁基板の端辺との間に形成されたことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の液晶表示装置。
The first substrate further includes a drive circuit extending along the second direction,
4. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the guard ring wiring is formed between the drive circuit and an edge of the insulating substrate along the second direction. 5. .
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