JP2011210889A - Resist coating method and resist coating device, and photomask blank and method of manufacturing photomask using the resist coating method - Google Patents

Resist coating method and resist coating device, and photomask blank and method of manufacturing photomask using the resist coating method Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a resist coating method and a resist coating device that speedily and uniform dry a resist coating surface by a nozzle having capillary clearance, and a photomask blank and a method of manufacturing a photomask using the resist coating method.SOLUTION: The present invention relates to: the resist coating method and the resist coating device; and the photomask blank and the method of manufacturing the photomask using the resist coating method, wherein the resist coating method in which a substrate 10 disposed with a surface 10a to be coated down is coated with a resist liquid includes guiding a resist liquid held in a liquid tank to the surface 10a to be coated by capillarity of the nozzle 24 to bring the surface 10a to be coated into contact with the liquid, relatively moving the nozzle 24 and substrate 10 in a horizontal direction to coat the surface 10a to be coated with the resist liquid 110, supplying an air current parallel with the coated surface 10a in a fixed direction at a substantially constant relative flow velocity to bring the air current into contact with the coated surface 10, and thereby drying the resist liquid 110.

Description

本発明は、レジスト塗布方法およびレジスト塗布装置、並びに該レジスト塗布方法を用いたフォトマスクブランクおよびフォトマスクの製造方法に関し、特に、比較的大型の基板に適用可能なレジスト塗布方法およびレジスト塗布装置、並びに該レジスト塗布方法を用いたフォトマスクブランクおよびフォトマスクの製造方法に関する。   The present invention relates to a resist coating method and a resist coating apparatus, and a photomask blank and a photomask manufacturing method using the resist coating method, and in particular, a resist coating method and a resist coating apparatus applicable to a relatively large substrate, The present invention also relates to a photomask blank and a photomask manufacturing method using the resist coating method.

従来、フォトレジストなどの塗布液をフォトマスクブランク用基板やシリコンウエハ等の基板に塗布する塗布装置(コータ)として、基板の中央に塗布液を滴下し、次いで基板を高速回転させることにより、遠心力の作用によって塗布液を伸展させ、基板表面に塗布膜を形成するスピンコータが使用されてきた。   Conventionally, as a coating device (coater) for applying a coating solution such as a photoresist to a substrate such as a photomask blank substrate or a silicon wafer, the coating solution is dropped on the center of the substrate, and then the substrate is rotated at a high speed to perform centrifugation. A spin coater has been used in which a coating solution is extended by the action of a force to form a coating film on a substrate surface.

しかし、上記のスピンコータは、基板の周縁部にレジストのフリンジと呼ばれる盛り上がりが発生する問題があった。また、特に、液晶表示装置や液晶表示装置製造用のフォトマスクにおいては、大型基板(例えば、少なくとも、一辺が300mm以上の方形基板)にレジストを塗布する必要があるが、スピンコータを用いて、そのような大型基板にレジストを塗布することは困難であった。よって、近年におけるパターンの高精度化や、基板サイズの大型化にともない、大型基板に均一なレジスト膜を塗布する技術の開発が望まれていた。   However, the above-described spin coater has a problem in that a rise called resist fringe occurs at the peripheral edge of the substrate. In particular, in a liquid crystal display device or a photomask for manufacturing a liquid crystal display device, it is necessary to apply a resist to a large substrate (for example, at least a rectangular substrate having a side of 300 mm or more). It has been difficult to apply a resist to such a large substrate. Therefore, development of a technique for applying a uniform resist film to a large substrate has been desired along with the recent increase in pattern accuracy and the increase in substrate size.

かかる課題を解決するため、大型基板に均一なレジスト膜を塗布する技術を用いた装置として、CAPコータ(キャピラリコータ)と呼ばれる塗布装置が提供されている。このCAPコータは、塗布液が溜められた液槽に毛管状隙間を有するノズルを沈めておき、下方を向いた状態で保持された基板の被塗布面近傍まで、ノズルを上昇させて毛管状隙間から塗布液を接液し、次いでノズルを被塗布面に亘って相対的に走査させることにより、塗布膜を形成するものである。   In order to solve such a problem, a coating apparatus called a CAP coater (capillary coater) is provided as an apparatus using a technique for coating a uniform resist film on a large substrate. In this CAP coater, a nozzle having a capillary gap is submerged in a liquid tank in which a coating liquid is stored, and the nozzle is raised to the vicinity of the surface to be coated of the substrate held in a downward direction so that the capillary gap Then, the coating liquid is contacted, and then the nozzle is relatively scanned over the surface to be coated to form a coating film.

このようなCAPコータを用いて均一なレジスト膜を得るには、毛管状隙間を有するノズルによる均一な塗布とともに、塗布されたレジスト膜を均一に乾燥させることが重要となる。
これを実現するため、例えば、ダウンフローが構成されたクリーンルーム内において、ダウンフローが被塗布面に回り込むのを抑制しながら被塗布膜を乾燥させる塗布膜の乾燥方法が提案されている(引用文献1参照)。
また、CAPコータにおいて、基板を移動させながら被塗布面にレジストを塗布後、塗布の際に移動した方向と逆方向に引き返し移動させ、この移動の間にレジスト膜を乾燥させる乾燥方法が提案されている(引用文献2参照)。
In order to obtain a uniform resist film using such a CAP coater, it is important to uniformly dry the applied resist film together with uniform application using a nozzle having a capillary gap.
In order to realize this, for example, in a clean room where a downflow is configured, a coating film drying method for drying a coating film while suppressing the downflow from wrapping around the coating surface has been proposed (references). 1).
Also, in the CAP coater, after the resist is applied to the surface to be coated while moving the substrate, a drying method is proposed in which the resist film is moved back in the direction opposite to the direction moved during coating, and the resist film is dried during this movement. (See cited document 2).

特開2003−112099号JP 2003-112099 特開2004−311884号JP 2004-311884 A

特許文献1に記載の乾燥方法では、クリーンルームに設置したレジスト塗布装置に対して、クリーンルーム設備としてのダウンフローが与える影響を抑止することができるが、被塗布面を迅速に均一に乾燥させるには不十分であり、更なる改良が望まれていた。
特許文献2に記載の乾燥方法では、被塗布面に塗布されたレジスト膜の均一な乾燥には貢献するが、基板を引き返し移動させることによって、被塗布面に対する雰囲気気体との接触方向が逆転すること、および基板の移動距離が限られている等の理由により、被塗布面を迅速に均一に乾燥させるには不十分であり、更なる改良が望まれていた。
In the drying method described in Patent Document 1, it is possible to suppress the influence of downflow as clean room equipment on the resist coating apparatus installed in a clean room, but to dry the coated surface quickly and uniformly. Insufficient and further improvements were desired.
The drying method described in Patent Document 2 contributes to uniform drying of the resist film applied to the surface to be coated, but the contact direction with the atmospheric gas on the surface to be coated is reversed by moving the substrate back. For this reason, and the movement distance of the substrate is limited, it is insufficient to quickly and uniformly dry the surface to be coated, and further improvement has been desired.

従って、本発明の目的は、上記の問題を解決して、毛管状隙間を有するノズルによりレジスト液が塗布された被塗布面をより迅速に均一に乾燥させることが可能なレジスト塗布方法およびレジスト塗布装置、並びに該レジスト塗布方法を用いたフォトマスクブランクおよびフォトマスクの製造方法を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-described problems, and to provide a resist coating method and a resist coating that can more quickly and uniformly dry a coated surface on which a resist solution is coated with a nozzle having a capillary gap. The present invention provides an apparatus, and a photomask blank and a photomask manufacturing method using the resist coating method.

上記の課題を解決するため、本発明に係るレジスト塗布方法の1つの実施態様は、被塗布面を下方に向けた状態の基板にレジスト液を塗布する方法であって、液槽に溜められたレジスト液を、ノズルの毛細管現象によって前記被塗布面に導いて前記被塗布面に接液させ、前記ノズルと前記基板とを水平方向に相対移動させることにより、前記被塗布面にレジスト液を塗布し、前記被塗布面に対し、一定方向にほぼ一定の相対流速であって前記被塗布面と平行な気流を供給し、前記気流を塗布されたレジスト液に接触させることにより、前記塗布されたレジスト液の乾燥を行うことを特徴とする。   In order to solve the above problems, one embodiment of a resist coating method according to the present invention is a method of coating a resist solution on a substrate with a surface to be coated facing downward, which is stored in a liquid tank. A resist solution is guided to the surface to be coated by capillary action of a nozzle to be in contact with the surface to be coated, and the nozzle and the substrate are moved relative to each other in the horizontal direction to apply the resist solution to the surface to be coated. The coating was performed by supplying an air flow parallel to the coated surface at a substantially constant relative flow velocity in a certain direction with respect to the coated surface, and bringing the air flow into contact with the coated resist solution. The resist solution is dried.

本実施態様で使用するレジストは、公知のネガまたはポジレジストを用いることができる。使用するレジストの粘度は、3〜20cps(センチポイズ))の範囲にあることが好ましく、5〜15cpsの範囲にあることがさらに好ましい。
本実施態様は、任意の基板に適用可能で有るが、液晶表示装置製造用のフォトマスクをはじめとするサイズが一辺300mm以上の基板に適用することができ、特に一辺が1000mmを超える基板にも適用可能である。
As the resist used in this embodiment, a known negative or positive resist can be used. The viscosity of the resist to be used is preferably in the range of 3 to 20 cps (centipoise), and more preferably in the range of 5 to 15 cps.
Although this embodiment can be applied to any substrate, it can be applied to a substrate having a side of 300 mm or more, including a photomask for manufacturing a liquid crystal display device, and particularly to a substrate having a side exceeding 1000 mm. Applicable.

「ノズルと基板とを水平方向に相対移動させること」には、ノズルを移動させる場合も、基板を移動させる場合も、両方を移動させる場合も含まれる。塗布の進行する方向と、気流の進行方向とが同一方向である場合も含まれるし、異なる場合も含まれる。   “Relatively moving the nozzle and the substrate in the horizontal direction” includes moving the nozzle, moving the substrate, and moving both. The case where the direction in which the application progresses and the direction in which the airflow advances are the same direction are also included.

「ほぼ一定の相対流速」とは、被塗布面の乾燥の進行に対して影響を与えるような相対流速の変動が生じない程度の気流速度であることをいう。「ほぼ一定の相対流速」としては、相対流速の変化が10%以内であることが好ましく、5%以内であることがさらに好ましい。   The “substantially constant relative flow velocity” means an air flow velocity that does not cause fluctuations in the relative flow velocity that affects the progress of drying of the coated surface. As the “almost constant relative flow rate”, the change in the relative flow rate is preferably within 10%, more preferably within 5%.

基板を移動させて塗布を行なっているときに、既に気流が供給されている場合において、塗布終了時に基板の移動が終了すると、その時点で、基板の被塗布面内の任意の位置に対して、供給される気流の被塗布面に対する相対流速は変化する。
しかし、相対流速の変化が十分に小さい、例えば、塗布進行中の相対流速に対して10%以内の変動であれば、ほぼ一定の相対流速であり、被塗布面内を均一に乾燥されることが可能である。なお、気流としては、フィルタを通したクリーンな乾燥空気や不活性ガスを用いることができる。
When coating is performed while moving the substrate, if the airflow has already been supplied and the movement of the substrate is completed at the end of coating, then at that point, with respect to any position within the coated surface of the substrate The relative flow velocity of the supplied air flow with respect to the application surface changes.
However, if the change in the relative flow rate is sufficiently small, for example, if the fluctuation is within 10% of the relative flow rate during the coating process, the relative flow rate is almost constant and the coated surface can be dried uniformly. Is possible. In addition, as the air flow, clean dry air or inert gas that has passed through a filter can be used.

本実施態様では、気流の進行方向が被塗布面と平行であれば、塗布の進行する方向と気流の進行方向との関係は任意に設定することができ、同一方向である場合も含まれるし、異なる方向の場合も含まれる。   In this embodiment, as long as the traveling direction of the airflow is parallel to the surface to be coated, the relationship between the direction in which the coating proceeds and the traveling direction of the airflow can be arbitrarily set, and includes the case where they are in the same direction. Also included are cases of different directions.

本実施態様によれば、一定方向でほぼ一定の相対流速の被塗布面と平行な気流を、塗布されたレジスト液に接触させることにより、塗布されたレジスト液の乾燥を行うので、迅速で均一な乾燥を実現できる。これにより、被塗布面に表れるむら(肉眼で視認可能な色相の異なる斑)を実質上消失させることができ、レジスト膜厚値の面内分布のばらつきを、従来に比べ大幅に減少させる(例えば半減)ことができる。   According to the present embodiment, the applied resist solution is dried by bringing an air flow parallel to the application surface with a substantially constant relative flow velocity in a fixed direction into contact with the applied resist solution, so that the applied resist solution is dried quickly and uniformly. Dry. As a result, unevenness appearing on the surface to be coated (spots with different hues visible to the naked eye) can be substantially eliminated, and variation in the in-plane distribution of the resist film thickness value is greatly reduced compared to the conventional case (for example, Halved).

本発明に係るレジスト塗布方法のその他の実施態様は、さらに、前記被塗布面と対向配置された整流板によって前記気流を整流して、前記被塗布面と平行な気流を供給することを特徴とする。   In another embodiment of the resist coating method according to the present invention, the airflow is further rectified by a rectifying plate disposed opposite to the coated surface, and an airflow parallel to the coated surface is supplied. To do.

本実施態様によれば、整流板によって気流を整流することにより、被塗布面と平行な気流を確実に供給することができ、被塗布面の迅速で均一な乾燥を促進できる。   According to this embodiment, by rectifying the airflow with the current plate, the airflow parallel to the coated surface can be reliably supplied, and rapid and uniform drying of the coated surface can be promoted.

本発明に係るレジスト塗布方法のその他の実施態様は、さらに、前記被塗布面において、塗布の進行する方向と、前記気流の進行方向とが同一方向であることを特徴とする。   Another embodiment of the resist coating method according to the present invention is further characterized in that, in the surface to be coated, the direction in which the coating proceeds and the direction in which the airflow travels are the same direction.

本明細書においては、「方向」と「向き」とを下記の定義で区別して記載している。ベクトルを例にとると、「方向」は、ベクトルの矢印を考えない起点と終点とを結ぶ線上の往来を意味し、「向き」は、ベクトルの矢印を考慮した、起点から終点に向かう進み具合を意味する。つまり、「塗布の進行方向と気流の進行方向とが同一方向である」とは、塗布の進行する向きと気流の向きが、同一の向きの場合も、対向する向きの場合も含まれる。
本実施態様においては、塗布の進行方向と気流の進行方向とが同一方向なので、基板の幅方向において均一な乾燥ができる。よって、均一な被塗布面の乾燥を効率的に実現できる。
In this specification, “direction” and “direction” are distinguished from each other by the following definitions. Taking a vector as an example, `` direction '' means the traffic on the line connecting the starting point and the ending point without considering the vector arrow, and `` direction '' means the progress from the starting point to the ending point considering the vector arrow. Means. In other words, “the direction in which the application proceeds and the direction in which the air flow advances are the same” includes both the direction in which the application advances and the direction of the air flow in the same direction as well as in opposite directions.
In this embodiment, since the direction of application and the direction of airflow are the same, uniform drying can be achieved in the width direction of the substrate. Therefore, uniform drying of the coated surface can be realized efficiently.

本発明に係るレジスト塗布方法のその他の実施態様は、さらに、前記基板を水平方向に移動させることにより、前記被塗布面にレジスト液を塗布し、かつ前記基板が移動する向きに対向する向きで、前記気流を前記塗布されたレジスト液に接触させることを特徴とする。   In another embodiment of the resist coating method according to the present invention, the substrate is further moved in a horizontal direction so that a resist solution is applied to the coated surface and the substrate is opposed to the moving direction. The air flow is brought into contact with the applied resist solution.

本実施態様によれば、レジスト液が溜められた液槽やノズルを移動させずに、基板側を移動させることにより塗布を行なうことができる。よって、液槽内のレジスト液の液面が乱れて、毛細管現象により塗布挙動が乱れる恐れがない。さらに、気流を基板が移動する向きと対向する向きで塗布されたレジスト液に接触させるので、より効果的に被塗布面の乾燥を行なうことができる。この場合、塗布の進行する向きと、気流の進行する向きも同一となる。すなわち、先に塗布が行われた部分が、先に気流に接触する。   According to this embodiment, the application can be performed by moving the substrate side without moving the liquid tank or nozzle in which the resist solution is stored. Therefore, there is no possibility that the liquid level of the resist solution in the liquid tank is disturbed and the coating behavior is disturbed by the capillary phenomenon. Furthermore, since the airflow is brought into contact with the resist solution applied in the direction opposite to the direction in which the substrate moves, the coated surface can be dried more effectively. In this case, the direction in which the application proceeds and the direction in which the air flow proceeds are the same. That is, the portion where the coating has been performed first comes into contact with the airflow first.

本発明に係るレジスト塗布方法のその他の実施態様は、さらに、前記気流の供給が、前記被塗布面への塗布が終了する前に開始されることを特徴とする。   Another embodiment of the resist coating method according to the present invention is further characterized in that the supply of the airflow is started before the application to the coated surface is completed.

レジスト液が被塗布面に付けられた時点から実質的に乾燥が始まるので、本実施態様のように、被塗布面への塗布が終了する前に気流の供給を開始することによって、迅速で均一な被塗布面の乾燥を実現できる。   Since the drying starts substantially from the time when the resist solution is applied to the surface to be coated, as in this embodiment, by supplying the airflow before the coating on the surface to be coated is completed, it is possible to quickly and uniformly Can dry the coated surface.

本発明に係るレジスト塗布方法のその他の実施態様は、さらに、前記気流の供給が、前記被塗布面への塗布を開始する前に開始されることを特徴とする。   Another embodiment of the resist coating method according to the present invention is further characterized in that the supply of the airflow is started before the coating on the coated surface is started.

本実施態様によれば、被塗布面への塗布を開始する前に気流の供給が開始されるので、レジスト液が被塗布面に付けられた直後から気流に接触して乾燥が行なわれ、迅速で均一な被塗布面の乾燥をより確実に実現できる。   According to this embodiment, since the supply of the airflow is started before the application to the surface to be applied is started, the resist solution is contacted with the airflow immediately after being applied to the surface to be applied, and the drying is performed quickly. Thus, uniform drying of the coated surface can be realized more reliably.

本発明に係るレジスト塗布方法のその他の実施態様は、さらに、前記気流の流速が、前記ノズルおよび前記基板の前記相対移動の速度に対して、10倍以上であることを特徴とする。   Another embodiment of the resist coating method according to the present invention is further characterized in that a flow velocity of the airflow is 10 times or more with respect to a speed of the relative movement of the nozzle and the substrate.

本実施態様によれば、気流の流速が、ノズルおよび基板の相対移動の速度に対して10倍以上であるので、上記の「ほぼ一定の相対流速」を有する気流に該当し、常に被塗布面内を均一に乾燥することができる。   According to this embodiment, since the flow velocity of the airflow is 10 times or more than the relative movement speed of the nozzle and the substrate, it corresponds to the airflow having the “substantially constant relative flow velocity” and is always applied. The inside can be dried uniformly.

本発明に係るレジスト塗布方法のその他の実施態様は、さらに、前記気流の流速が、0.05〜1.5m/秒であることを特徴とする。   Another embodiment of the resist coating method according to the present invention is further characterized in that the flow velocity of the air flow is 0.05 to 1.5 m / sec.

気流の流速を本実施態様の範囲にとることによって、被塗布面内を迅速で均一に乾燥することができる。   By setting the flow velocity of the air flow within the range of this embodiment, the inside of the coated surface can be quickly and uniformly dried.

本発明に係るフォトマスクブランクの製造方法の1つの実施態様は、透明基板上に光学膜が成膜されたフォトマスクブランク基板にレジストを塗布する工程を含む、フォトマスクブランク製造方法であって、上記の何れかのレジスト塗布方法によってレジストを塗布することを特徴とする。   One embodiment of a photomask blank manufacturing method according to the present invention is a photomask blank manufacturing method including a step of applying a resist to a photomask blank substrate having an optical film formed on a transparent substrate, A resist is applied by any of the above resist application methods.

ここで、石英ガラス等からなる透明基板を用いることができ、光学膜には、遮光膜、半透光膜、位相シフト膜、これらに積層した反射防止膜等を含む。本実施態様では、上記と同様の作用効果を奏し、光学的に優れたフォトマスクブランクを得ることができる。   Here, a transparent substrate made of quartz glass or the like can be used, and the optical film includes a light shielding film, a semi-transparent film, a phase shift film, an antireflection film laminated thereon, and the like. In this embodiment, a photomask blank that exhibits the same effects as described above and is optically excellent can be obtained.

本発明に係るフォトマスクブランクの製造方法のその他の実施態様は、透明基板上の光学膜に、得ようとする電子デバイスに応じた転写用パターンをパターニングしてフォトマスクを製造する方法であって、上記のフォトマスクブランクを用いることを特徴とする。   Another embodiment of the method for producing a photomask blank according to the present invention is a method for producing a photomask by patterning a transfer pattern according to an electronic device to be obtained on an optical film on a transparent substrate. The photomask blank described above is used.

本実施態様によれば、所望の転写用パターンが形成された光学的に優れたフォトマスクブランクを得ることができる。   According to this embodiment, an optically excellent photomask blank on which a desired transfer pattern is formed can be obtained.

本発明に係るフォトマスクブランクの製造方法のその他の実施態様は、透明基板上に成膜された複数の光学膜をが、それぞれパターニングされたフォトマスクの製造方法であって、レジストを塗布して、前記レジストへの描画および現像工程を施すことにより、第1の光学膜をパターニングして、第1の転写用パターンを有するフォトマスク中間体を形成する工程と、該フォトマスク中間体にレジストを塗布して、前記レジストへの描画および現像工程を施すことにより、第2の光学膜をパターニングして、第2の転写用パターンを有するフォトマスクまたはフォトマスク中間体を形成する工程と、を含み、前記レジストの塗布に際して、上記の何れかのレジスト塗布方法を用いることを特徴とする。   Another embodiment of the method for manufacturing a photomask blank according to the present invention is a method for manufacturing a photomask in which a plurality of optical films formed on a transparent substrate are patterned, and a resist is applied. Performing a drawing and development process on the resist to pattern the first optical film to form a photomask intermediate having a first transfer pattern; and applying a resist to the photomask intermediate Applying, patterning and developing on the resist, and patterning the second optical film to form a photomask having a second transfer pattern or a photomask intermediate. Any of the above resist coating methods is used for coating the resist.

フォトマスクの製造工程においては、静電気による電位差によって放電が生じ、その際のエネルギーにより光学膜が溶損する静電破壊が生じる場合がある。例えば、複数の光学膜をパターニングするにあたり、2回目のパターニング時に、既にパターニングされた光学膜のパターン同士間で放電が生じて、パターン形状が壊れる恐れがある。特に、先端が尖った形状のパターンが接近している場合に、静電破壊が生じ易い。しかし、本実施態様では、適正な湿度(例えば、湿度40〜70%)の気流を供給することにより、静電破壊を未然に防止することができる。   In the photomask manufacturing process, discharge may occur due to a potential difference caused by static electricity, and electrostatic damage may occur in which the optical film melts due to energy at that time. For example, when patterning a plurality of optical films, at the time of the second patterning, discharge may occur between the patterns of the already patterned optical films, and the pattern shape may be broken. In particular, when a pattern with a sharp tip is approaching, electrostatic breakdown is likely to occur. However, in the present embodiment, electrostatic breakdown can be prevented in advance by supplying an air flow having an appropriate humidity (for example, humidity 40 to 70%).

本発明に係るレジスト液の塗布装置の1つの実施態様は、被塗布面を下方に向けた状態の基板にレジスト液を塗布するレジスト塗布装置であって、レジスト液を溜める液槽と、該液槽に溜められたレジスト液を、毛管現象によって前記基板の被塗布面に導くノズルと、を備えた塗布手段と、前記ノズルおよび前記基板の少なくとも一方を移動させることにより、両者を水平方向に相対移動させる移動手段と、気流を生じさせる気流発生源と、前記被塗布面と所定の離間距離で対向配置されたガイド面を有して、該気流を前記被塗布面と平行な流れに整流する整流板とを備えた乾燥機構と、を備え、前記塗布手段により、毛管現象でレジスト液が前記被塗布面に接液された状態で、前記移動手段により、前記ノズルおよび前記基板を水平方向に相対移動させることにより、前記被塗布面にレジスト液を塗布し、前記乾燥手段により、前記被塗布面に対し、一定方向にほぼ一定の相対流速であって前記被塗布面と平行な気流を供給し、前記気流を塗布されたレジスト液に接触させることにより、前記塗布されたレジスト液の乾燥を行うことを特徴とする。   One embodiment of a resist solution coating apparatus according to the present invention is a resist coating device for applying a resist solution to a substrate with a surface to be coated facing downward, a liquid tank for storing the resist solution, and the liquid A coating means having a nozzle that guides the resist solution stored in the tank to the coated surface of the substrate by capillary action, and moving at least one of the nozzle and the substrate to make the two relative to each other in the horizontal direction. A moving means for moving, an air flow generating source for generating an air flow, and a guide surface arranged to face the coated surface at a predetermined separation distance, and rectifies the air flow into a flow parallel to the coated surface. A drying mechanism provided with a current plate, and in a state where the resist solution is in contact with the surface to be coated by capillary action by the coating means, the nozzle and the substrate are horizontally moved by the moving means. The resist solution is applied to the surface to be coated by moving the surface, and an air flow parallel to the surface to be coated is supplied to the surface to be coated at a substantially constant relative flow velocity in a certain direction by the drying means. The applied resist solution is dried by bringing the airflow into contact with the applied resist solution.

ここで、「ノズルおよび基板の少なくとも一方を移動させることにより、両者を水平方向に相対移動させること」には、ノズルを移動させる場合と、基板を移動させる場合と、両方を移動させる場合が含まれる。また、気流の進行方向が被塗布面と平行であれば、塗布の進行する方向と気流の進行方向との関係を任意にとることができる。つまり、塗布の進行する方向と気流の進行方向とが、同一方向である場合も含まれるし、異なる方向である場合も含まれる。   Here, “moving at least one of the nozzle and the substrate to relatively move both in the horizontal direction” includes moving the nozzle, moving the substrate, and moving both. It is. Moreover, if the traveling direction of the airflow is parallel to the surface to be coated, the relationship between the direction in which the coating proceeds and the traveling direction of the airflow can be arbitrarily set. That is, the direction in which the application proceeds and the direction in which the air flow proceeds are included in the same direction or in different directions.

液晶表示装置製造用のフォトマスク等の製造においては、最終製品に応じて頻繁なサイズ変更が生じる場合が多いが、本実施態様では、製造するフォトマスクのサイズが変更されても、装置上の大きな変更を必要としないという利点を有する。つまり、サイズがノズル幅以内の基板に対する塗布では、基板のサイズが変更されても、ノズル自体の交換を必要とせず、乾燥手段についても、気流発生源や整流板を交換する必要がない。   In the manufacture of a photomask for manufacturing a liquid crystal display device and the like, frequent size changes often occur depending on the final product, but in this embodiment, even if the size of the photomask to be manufactured is changed, It has the advantage of not requiring major changes. In other words, in the application to the substrate whose size is within the nozzle width, even if the size of the substrate is changed, it is not necessary to replace the nozzle itself, and it is not necessary to replace the air flow source or the current plate for the drying means.

本実施態様の塗布装置を用いれば、一定方向でほぼ一定の相対流速の被塗布面と平行な気流を、塗布されたレジスト液に接触させることにより、塗布されたレジスト液の乾燥を行うので、迅速で均一な乾燥を実現できる。これにより、被塗布面に表れるむら(肉眼で視認可能な色相の異なる斑)を実質上消失させることができ、レジスト膜厚値の面内分布のばらつきを、従来に比べ大幅に減少させる(例えば半減)ことができる。   If the coating apparatus of this embodiment is used, the applied resist solution is dried by bringing an air flow parallel to the coated surface with a substantially constant relative flow velocity in a fixed direction into contact with the applied resist solution. Quick and uniform drying can be achieved. As a result, unevenness appearing on the surface to be coated (spots with different hues visible to the naked eye) can be substantially eliminated, and variation in the in-plane distribution of the resist film thickness value is greatly reduced compared to the conventional case (for example, Halved).

本発明に係るレジスト液の塗布装置のその他の実施態様は、さらに、前記離間距離が調整可能であり、前記離間距離が前記気流の流速に応じて調整されることを特徴とする。   Another embodiment of the resist solution coating apparatus according to the present invention is further characterized in that the separation distance is adjustable, and the separation distance is adjusted according to a flow velocity of the airflow.

被塗布面と整流板のガイド面との離間距離は、大きすぎると気流の整流効果が薄れ、一方、近すぎると、整流板のガイド面の不均一要因(傷やレジスト付着などによる表面平滑性の不均一など)を敏感に拾ってしまう不都合が生じる。特に、気流の流速が速い場合には、ガイド面の不均一要因を敏感に拾う恐れが高まる。
よって、本実施態様のように、離間距離を気流の流速に応じて調整することによって、レジストの塗布工程を長く継続しても、迅速で均一な被塗布面の乾燥を安定的に維持することができる。
If the distance between the coated surface and the guide surface of the rectifying plate is too large, the air flow rectifying effect will be diminished, while if it is too close, the unevenness of the guide surface of the rectifying plate (surface smoothness due to scratches, resist adhesion, etc.) Inconveniences such as non-uniformity). In particular, when the flow velocity of the airflow is high, the risk of picking up the non-uniformity factor of the guide surface sensitively increases.
Therefore, as in this embodiment, by adjusting the separation distance according to the flow rate of the airflow, even if the resist coating process is continued for a long time, the rapid and uniform drying of the coated surface can be stably maintained. Can do.

本発明に係るレジスト液の塗布装置のその他の実施態様は、さらに、前記移動手段によって前記基板を水平方向に移動させることにより、前記ノズルおよび前記基板を水平方向に相対移動させ、かつ前記気流発生源が前記基板と一体に移動することを特徴とする。   In another embodiment of the resist solution coating apparatus according to the present invention, the nozzle and the substrate are relatively moved in the horizontal direction by moving the substrate in the horizontal direction by the moving means, and the air flow is generated. The source moves together with the substrate.

本実施態様によれば、本実施態様によれば、レジスト液が溜められた液槽やノズルを移動させずに、基板側を移動させることにより塗布を行なうことができる。よって、液槽内のレジスト液の液面が乱れて、毛細管現象により塗布挙動が乱れる恐れがない。さらに、基板の被塗布面と気流発生源との相対位置を変えずに、塗布、乾燥を行なうことができるので、常に一定の気流を被塗布面に塗布されたレジスト液に接触させることができる。   According to this embodiment, according to this embodiment, the application can be performed by moving the substrate side without moving the liquid tank or nozzle in which the resist solution is stored. Therefore, there is no possibility that the liquid level of the resist solution in the liquid tank is disturbed and the coating behavior is disturbed by the capillary phenomenon. Furthermore, since application and drying can be performed without changing the relative position between the coated surface of the substrate and the air flow generation source, a constant air flow can always be brought into contact with the resist solution coated on the coated surface. .

以上のように、本発明においては、一定方向でほぼ一定の相対流速の被塗布面と平行な気流を、塗布されたレジスト液に接触させることにより、塗布されたレジスト液の乾燥を行うので、迅速で均一な乾燥を実現でき、これにより、被塗布面に表れるむらを実質上消失させ、レジスト膜厚値の面内分布のばらつきを大幅に減少させることができる。   As described above, in the present invention, the applied resist solution is dried by contacting the applied resist solution with an air flow parallel to the application surface having a substantially constant relative flow velocity in a fixed direction. Rapid and uniform drying can be realized, whereby unevenness appearing on the surface to be coated can be substantially eliminated, and variation in the in-plane distribution of the resist film thickness value can be greatly reduced.

本発明に係るレジストの塗布装置の一実施形態を示す概略側面図である。1 is a schematic side view showing an embodiment of a resist coating apparatus according to the present invention. 本発明に係るレジストの塗布装置の一実施形態を示す概略正面図である。It is a schematic front view which shows one Embodiment of the coating device of the resist which concerns on this invention. 本発明に係るレジストの塗布手段の一実施形態を示す概略側面図である。It is a schematic side view which shows one Embodiment of the application | coating means of the resist which concerns on this invention. 本発明に係る乾燥手段の一実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows one Embodiment of the drying means which concerns on this invention. 本発明に係る整流板のその他の実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows other embodiment of the baffle plate which concerns on this invention. 本発明に係る乾燥手段のその他の実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows other embodiment of the drying means which concerns on this invention. 本発明に係る乾燥手段のその他の実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows other embodiment of the drying means which concerns on this invention. 透明基板上に複数の光学膜が成膜されたフォトマスク(半透光膜が上層にくる膜構成のフォトマスク)の製造方法の実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram showing an embodiment of a manufacturing method of a photomask (a photomask having a film configuration in which a semi-transparent film is an upper layer) in which a plurality of optical films are formed on a transparent substrate. 透明基板上に複数の光学膜を成膜されたフォトマスク(半透光膜が下層にくる膜構成のフォトマスク)の製造方法の実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows embodiment of the manufacturing method of the photomask (The photomask of the film | membrane structure which has a semi-transparent film in the lower layer) in which the some optical film was formed on the transparent substrate.

以下、本発明の各実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
はじめに、本発明に係るレジスト塗布方法およびレジスト塗布装置の一実施形態について、図1〜図3を参照して説明する。図1は、本実施形態に係る塗布装置1の側面概略図であり、図2は、図1の左側から見た正面概略図である。図3は、塗布装置1の主要構成機器である塗布手段2を示す概略断面図である。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
First, an embodiment of a resist coating method and a resist coating apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a schematic side view of a coating apparatus 1 according to this embodiment, and FIG. 2 is a schematic front view as viewed from the left side of FIG. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing the coating means 2 which is a main component device of the coating apparatus 1.

図1に示すように、塗布装置1は、ベースフレーム11に設けられた塗布手段2と、移動フレーム12に設けられた吸着手段3と、この移動フレーム12を水平面内で移動させる移動手段4と、基板10を着脱自在に保持し、吸着手段3に装着する保持手段5と、レジスト液が塗布された基板10の被塗布面を乾燥させるために気流を供給する乾燥手段100と、図示しない制御部とを備えている。   As shown in FIG. 1, a coating apparatus 1 includes a coating unit 2 provided on a base frame 11, a suction unit 3 provided on a moving frame 12, and a moving unit 4 that moves the moving frame 12 in a horizontal plane. A holding means 5 that detachably holds the substrate 10 and is attached to the suction means 3, a drying means 100 that supplies an air flow to dry the coated surface of the substrate 10 coated with the resist solution, and a control (not shown) Department.

塗布手段2は、被塗布面を下方に向けた状態の基板10に対して、レジスト液の塗布を行うものであり、塗布手段2は、矩形箱状のベースフレーム11のほぼ中央部に設けてある。
具体的には、図3に示すように、支持プレート21を昇降させるモータ駆動方式の昇降部22と、毛細管隙間23を備えたノズル24と、支持プレート21の上端部に固定され、ノズル24を塗布液20に浸漬させた状態で収納する液槽25と、ノズル24を液槽25から所定高さまで突出させるエアシリンダ駆動方式のノズル昇降部26とを備え、さらに、基板10の板厚を測定する測定手段としてリニアゲージ9を液槽25の側部に設けた構造としてある。なお、さらに詳細な説明は、図3を用いて後述する。
The coating means 2 is for applying a resist solution to the substrate 10 with the surface to be coated facing downward. The coating means 2 is provided at substantially the center of a rectangular box-shaped base frame 11. is there.
Specifically, as shown in FIG. 3, a motor-driven lift unit 22 that lifts and lowers the support plate 21, a nozzle 24 having a capillary gap 23, and an upper end portion of the support plate 21 are fixed. A liquid tank 25 that is stored in a state where it is immersed in the coating liquid 20, and an air cylinder drive type nozzle lifting / lowering unit 26 that projects the nozzle 24 to a predetermined height from the liquid tank 25, and further measures the thickness of the substrate 10. As a measuring means, a linear gauge 9 is provided on the side of the liquid tank 25. A more detailed description will be given later with reference to FIG.

本実施形態で塗布するレジストは、公知のネガ、またはポジレジストを用いることができ、使用するレジストの粘度は、3〜20cps(センチポイズ)することが好ましく、5〜15cpsとすることがさらに好ましい。なお、本実施形態では、塗布装置1をジスト液の塗布に用いているが、これに限定されるものではなく、塗布手装置1をその他の任意の塗布液の塗布に適用することができる。   A known negative or positive resist can be used as the resist applied in this embodiment, and the viscosity of the resist used is preferably 3 to 20 cps (centipoise), and more preferably 5 to 15 cps. In the present embodiment, the coating apparatus 1 is used for applying the dyst liquid. However, the present invention is not limited to this, and the coating hand apparatus 1 can be applied to application of any other coating liquid.

移動フレーム12は、対向する一対の側板と、この側板を連結する天板とが一体的に形成されており、剛性不足により基板10と塗布手段2との位置精度が狂うことがないように、十分な機械的強度を有している。
また、移動フレーム12は、リニアウェイ41を介して、ベースフレーム11と水平方向に移動自在に連結されている。
さらに、移動フレーム12は、天板のほぼ中央部に、複数の吸着孔(図示せず)が穿設された吸着板からなる吸着手段3が取り付けてある。また、移動フレーム12の一方の側板には、後述するボールスクリュウ42が螺合するナットの形成された移動部13が突設してある。
The moving frame 12 is formed integrally with a pair of opposing side plates and a top plate that connects the side plates, so that the positional accuracy between the substrate 10 and the coating means 2 is not distorted due to insufficient rigidity. It has sufficient mechanical strength.
The moving frame 12 is connected to the base frame 11 via the linear way 41 so as to be movable in the horizontal direction.
Further, the moving frame 12 is provided with an adsorbing means 3 comprising an adsorbing plate having a plurality of adsorbing holes (not shown) formed at substantially the center of the top plate. Further, one side plate of the moving frame 12 is provided with a projecting portion 13 formed with a nut into which a ball screw 42 described later is screwed.

移動手段4は、移動フレーム12の側板をガイドさせながら移動させるリニアウェイ41と、移動部13のナットに螺合するボールスクリュウ42と、ボールスクリュウ42を回転させるモータ43とからなっている。
制御部からの指示によってモータ43を回転させるとボールスクリュウ42が回転し、移動部13をボールスクリュウ42の回転方向に応じた方向へ所定の距離だけ水平移動させることができる。
The moving means 4 includes a linear way 41 that moves while guiding the side plate of the moving frame 12, a ball screw 42 that is screwed into a nut of the moving unit 13, and a motor 43 that rotates the ball screw 42.
When the motor 43 is rotated by an instruction from the control unit, the ball screw 42 rotates, and the moving unit 13 can be horizontally moved by a predetermined distance in a direction corresponding to the rotation direction of the ball screw 42.

保持手段5は、基板10の四隅の周縁部を保持する四つの保持部材55を備えている。これらの保持部材55は、保持部材55ごとに保持プレート61に固定されている。
ここで、好ましくは、保持部材55にセットされた基板10が保持部材55から外れたりしないように、押え手段(図示せず)を設けることが好ましい。この押え手段は、例えば、押えプレートが上下動しかつ水平方向に揺動するようにしてある。これにより、斜めに傾けて保持部材55にセットされた基板10を保持部材55の方向に押さえつける。
The holding means 5 includes four holding members 55 that hold the peripheral portions of the four corners of the substrate 10. These holding members 55 are fixed to the holding plate 61 for each holding member 55.
Here, it is preferable to provide a pressing means (not shown) so that the substrate 10 set on the holding member 55 is not detached from the holding member 55. For example, the presser means is configured such that the presser plate moves up and down and swings in the horizontal direction. As a result, the substrate 10 set on the holding member 55 is inclined and pressed in the direction of the holding member 55.

保持プレート61は、リニアウェイ62を介して、Y方向(図1参照)に平行に対向して配設されたレール63に2個ずつ配設してあり、奥側の2個の保持プレート61は、ボールスクリュウとモータを用いた駆動手段(図示せず)によりY方向に移動させることができる。これにより、基板10の縦寸法が異なる場合に、上記駆動手段により保持プレート61をY方向に移動させ、縦寸法の異なる基板10に容易に対向することができる。
また、レール63は、X方向(図2参照)に平行に対向して配設されたリニアウェイ64を介して、両端部が回動プレート65に取り付けられており、ボールスクリュウとモータを用いた駆動手段(図示せず)によりX方向に移動させることができる。これにより、基板10の横寸法が異なる場合に、上記駆動手段により保持プレート61をX方向に移動させ、横寸法の異なる基板10に容易に対向することができる。
Two holding plates 61 are arranged on the rails 63 arranged in parallel with each other in the Y direction (see FIG. 1) via the linear way 62, and the two holding plates 61 on the back side are arranged. Can be moved in the Y direction by a driving means (not shown) using a ball screw and a motor. Thereby, when the vertical dimension of the board | substrate 10 differs, the holding plate 61 can be moved to a Y direction by the said drive means, and it can oppose easily to the board | substrate 10 from which a vertical dimension differs.
Moreover, the rail 63 is attached to the rotating plate 65 at both ends via a linear way 64 arranged in parallel and facing in the X direction (see FIG. 2), and uses a ball screw and a motor. It can be moved in the X direction by a driving means (not shown). Thereby, when the horizontal dimension of the board | substrate 10 differs, the holding plate 61 can be moved to the X direction by the said drive means, and it can face easily the board | substrate 10 from which a horizontal dimension differs.

回動プレート65は、正面側の端部が回動軸66を介して、ベースプレート69と回動自在に連結されており、奥側の端部が、ベースプレート69に突設されたストッパ68によって水平に支持されている。また、回動プレート65は、回動シリンダ67によって、所定角度回動される。この回動シリンダ67は、ロッド先端が回動プレート65と回動自在に連結され、かつ、シリンダ本体の端部がベースプレート69と回動自在に連結されている。   The rotating plate 65 has a front end rotatably connected to a base plate 69 via a rotating shaft 66, and a rear end positioned horizontally by a stopper 68 protruding from the base plate 69. It is supported by. The rotation plate 65 is rotated by a predetermined angle by a rotation cylinder 67. The rotating cylinder 67 has a rod end rotatably connected to the rotating plate 65, and an end of the cylinder body is rotatably connected to the base plate 69.

ベースプレート69は、下面の四隅に、保持手段フレーム70に貫通するガイド棒71が突設されており、底フレーム72に設けられた、エアシリンダ等の昇降手段73によって、垂直方向に移動させることができる。   The base plate 69 has guide bars 71 projecting from the holding means frame 70 at the four corners of the lower surface, and can be moved in the vertical direction by lifting means 73 such as an air cylinder provided on the bottom frame 72. it can.

乾燥手段100は、ベース部材106を介して、ベースフレーム11に設置された送風ユニット102と整流板104とを備える。送風ユニット102から吐出され、整流板104によりガイドされた気流が、概ねY方向に平行に図1の右から左へ流れる。この気流により、塗布手段2によりレジスト液が塗布された基板10の被塗布面を迅速に均一に乾燥させることができる。なお、さらに詳細な説明は、図4を用いて後述する。   The drying means 100 includes a blower unit 102 and a current plate 104 installed on the base frame 11 via a base member 106. The airflow discharged from the blower unit 102 and guided by the rectifying plate 104 flows from the right to the left in FIG. 1 substantially parallel to the Y direction. By this air flow, the coated surface of the substrate 10 coated with the resist solution by the coating means 2 can be quickly and uniformly dried. A more detailed description will be given later with reference to FIG.

<塗布装置1の動作の概要の説明>
次に、上記構成の塗布装置1の動作の概要について、図1を参照して説明する。
まず、塗布装置1において、ベースプレート69が昇降手段73によって上昇されておらず、回動プレート65が水平に支持されており、移動フレーム12が処理終了位置にあり、塗布手段2が上昇していない状態が、初期状態である。
なお、保持部材55は、基板10の縦寸法および横寸法にあわせてあらかじめ調整されている。この調整において、レール63をX方向に移動させることにより、基板10の横寸法に応じて保持部材55の位置決めを容易に行なうことができる。また、奥側の二個の保持プレート61をY方向に移動させることにより、基板10の縦寸法に応じて保持部材55の位置決めを容易に行なうことができる。
<Description of outline of operation of coating apparatus 1>
Next, an outline of the operation of the coating apparatus 1 having the above configuration will be described with reference to FIG.
First, in the coating apparatus 1, the base plate 69 is not lifted by the lifting / lowering means 73, the rotating plate 65 is supported horizontally, the moving frame 12 is at the processing end position, and the coating means 2 is not lifted. The state is the initial state.
The holding member 55 is adjusted in advance according to the vertical dimension and the horizontal dimension of the substrate 10. In this adjustment, the holding member 55 can be easily positioned according to the lateral dimension of the substrate 10 by moving the rail 63 in the X direction. Further, by moving the two holding plates 61 on the back side in the Y direction, the holding member 55 can be easily positioned according to the vertical dimension of the substrate 10.

次に、回動プレート65が、回動シリンダ67によって、手前側に起き上がるように(図1で半時計周りに)回動しながら、セット位置に移動する。そして、塗布装置1の正面側で作業する作業者が、基板10の被塗布面を塗布装置1側に向けた状態で保持部材55にセットすると、上記押え手段が基板10を保持部材55に押さえつける。これにより、塗布装置1は、斜めに傾斜した状態の保持部材55にセットされた基板10が、保持部材55から外れて落下するといった不具合を防止することができる。   Next, the rotating plate 65 is moved to the set position while being rotated by the rotating cylinder 67 so as to get up to the near side (counterclockwise in FIG. 1). Then, when an operator working on the front side of the coating apparatus 1 sets the substrate 10 on the holding member 55 with the surface to be coated facing the coating apparatus 1, the pressing means presses the substrate 10 against the holding member 55. . Thereby, the coating apparatus 1 can prevent the malfunction that the board | substrate 10 set to the holding member 55 of the state inclined diagonally remove | deviates from the holding member 55, and falls.

次に、回動プレート65は、回動シリンダ67によって、奥側に倒れるように(図1で時計周りに)回動し、回動プレート65の奥側端部がストッパ68に当接し水平に支持される。そして、基板10が水平に支持されると、押え手段が基板10の押えを解除する。
これにより、基板10は、装着位置に水平に置かれた状態になる。なお、押えを解除した状態の押え手段は、基板10の上面より低い状態となるので、基板10を上昇させても吸着手段3と当接することはない。
Next, the rotation plate 65 is rotated by the rotation cylinder 67 so as to fall to the back side (clockwise in FIG. 1), and the back end of the rotation plate 65 abuts against the stopper 68 and becomes horizontal. Supported. And if the board | substrate 10 is supported horizontally, the holding means will release the holding of the board | substrate 10. FIG.
Thereby, the board | substrate 10 will be in the state placed horizontally at the mounting position. Note that the presser unit in the state where the presser is released is lower than the upper surface of the substrate 10, and therefore does not come into contact with the suction unit 3 even if the substrate 10 is raised.

次に、移動フレーム12が、吸着手段3の吸着位置が基板10上に位置するように、移動手段4によって処理終了位置から装着位置まで移動する。なお、このとき、塗布手段2は降下した状態にある。
続いて、昇降手段73が、基板10の上面が吸着手段3と当接するまで、ベースプレート69を上昇させる。
Next, the moving frame 12 is moved from the processing end position to the mounting position by the moving means 4 so that the suction position of the suction means 3 is positioned on the substrate 10. At this time, the coating means 2 is in a lowered state.
Subsequently, the lifting / lowering means 73 raises the base plate 69 until the upper surface of the substrate 10 contacts the suction means 3.

次に、吸着手段3が吸着孔(図示せず)から吸引すると、基板10が吸着手段3に吸着され、続いて、昇降手段73が下降する。
次に、移動フレーム12が処理位置側に移動するとともに、塗布手段2が所定位置まで上昇し、基板10の被塗布面に塗布液を塗布する。この際、塗布手段2は、毛細管現象によりノズル先端まで揚げられた塗布液を被塗布面と接触させ、続いて、所望する塗布厚となるようにノズル位置を調整し、この垂直方向のクリアランスを保った状態で、移動フレーム12が処理位置を通過することにより、基板10に膜厚が均一な塗布膜を形成することができる。
Next, when the suction means 3 is sucked from the suction holes (not shown), the substrate 10 is sucked by the suction means 3, and then the elevating means 73 is lowered.
Next, as the moving frame 12 moves to the processing position side, the coating unit 2 rises to a predetermined position and coats the coating liquid on the surface to be coated of the substrate 10. At this time, the coating means 2 brings the coating liquid raised to the tip of the nozzle by capillary action into contact with the surface to be coated, and then adjusts the nozzle position so that the desired coating thickness is obtained, and this vertical clearance is set. When the moving frame 12 passes through the processing position in the maintained state, a coating film having a uniform film thickness can be formed on the substrate 10.

このとき、乾燥手段100により気流が供給され、塗布手段2によりレジスト液が塗布された基板10の被塗布面が迅速に均一に乾燥される。なお、気流の供給開始時期については、塗布を終了する前に開始することが好ましく、塗布を開始する前に開始することがさらに好ましい。
また、塗布を開始する前に気流の供給を開始する場合には、接液前から気流を供給することも可能であるし、接液後(例えば、接液してからノズルを下降させ、塗布に適切な塗布ギャップを作った時点)に気流をスタートさせることも可能である。
At this time, an air flow is supplied by the drying means 100, and the coated surface of the substrate 10 coated with the resist solution by the coating means 2 is quickly and uniformly dried. In addition, about the supply start time of airflow, it is preferable to start before ending application | coating, and it is still more preferable to start before starting application | coating.
In addition, when the supply of airflow is started before the start of coating, it is also possible to supply the airflow before the liquid contact, or after the liquid contact (for example, the nozzle is lowered after the liquid contact to apply the liquid It is also possible to start the air flow when a suitable application gap is created.

そして、移動フレーム12が処理終了位置まで移動すると、塗布手段2が降下し、移動フレーム12の移動方向を反転させて、処理終了位置から装着位置までY方向に移動する。なお、周囲の環境によって塗布されたレジストの面内分布に影響が出ない時点まで乾燥が進んだら、気流の供給を停止することができる。具体的には、塗布開始後5〜15分程度で気流の供給を停止できる。   When the moving frame 12 moves to the processing end position, the coating unit 2 descends, reverses the moving direction of the moving frame 12, and moves from the processing end position to the mounting position in the Y direction. It should be noted that the supply of airflow can be stopped once the drying has progressed to a point where the in-plane distribution of the resist applied by the surrounding environment is not affected. Specifically, the supply of airflow can be stopped about 5 to 15 minutes after the start of application.

そして、昇降手段73が、基板10に保持部材55が当接するまで、ベースプレート69を上昇させ、保持部材55が基板10と当接すると、吸着手段3が吸引を停止し、エアブローにより基板を離脱させ、基板10は保持部材55に載置される。
なお、基板10に電荷が溜まっている場合、保持部材55が絶縁性の材料で構成されていると、基板10を保持部材55に載置した際、基板10と保持部材55の当接箇所において静電破壊を起こす可能性がある。このような静電破壊を防止するために、保持部材55として金属等の導電性の材料を用いることが好ましい。
Then, the lifting and lowering means 73 raises the base plate 69 until the holding member 55 comes into contact with the substrate 10. When the holding member 55 comes into contact with the substrate 10, the suction means 3 stops the suction, and the substrate is detached by air blow. The substrate 10 is placed on the holding member 55.
In addition, in the case where charges are accumulated in the substrate 10, if the holding member 55 is made of an insulating material, when the substrate 10 is placed on the holding member 55, at the contact portion between the substrate 10 and the holding member 55. There is a possibility of causing electrostatic breakdown. In order to prevent such electrostatic breakdown, it is preferable to use a conductive material such as metal as the holding member 55.

続いて、昇降手段73がベースプレート69を降下させ停止した後、押え手段が基板10を保持部材55に押えつけ、続いて、回動プレート65を正面側に回動させる。
次に、回動プレート65の回動が停止すると、押え手段が解除され、作業者は、塗膜の形成された基板10を保持部材55から容易に取り外すことができる。
Subsequently, after the lifting / lowering means 73 lowers and stops the base plate 69, the pressing means presses the substrate 10 against the holding member 55, and then rotates the rotating plate 65 to the front side.
Next, when the rotation of the rotation plate 65 is stopped, the pressing means is released, and the operator can easily remove the substrate 10 on which the coating film is formed from the holding member 55.

このように、本実施形態の塗布装置1によれば、基板10の被塗布面を下向きにした状態で、下方から塗布液を塗る場合であっても、移動手段4側に垂直方向の誤差を生じさせる反転手段を設けておらず、基板10と塗布手段2のノズルとの垂直方向の位置精度を高めることができるので、基板10に均一な厚さの塗布膜を形成することができる。さらに、乾燥手段100による気流の供給により、基板10の被塗布面が迅速に均一に乾燥されるので、外観性能としてのむらおよびレジスト膜厚のばらつきの点で従来に比べ品質が大幅に改善される。   As described above, according to the coating apparatus 1 of the present embodiment, even when the coating liquid is applied from below with the surface to be coated of the substrate 10 facing downward, an error in the vertical direction is caused on the moving means 4 side. Since no reversing means is provided and the positional accuracy in the vertical direction between the substrate 10 and the nozzles of the coating means 2 can be increased, a coating film having a uniform thickness can be formed on the substrate 10. Furthermore, the surface to be coated of the substrate 10 is quickly and uniformly dried by supplying the airflow by the drying means 100, so that the quality is greatly improved compared to the conventional one in terms of unevenness in appearance performance and variations in resist film thickness. .

なお、図1から明らかなように、基板10をセットする際、保持手段5が回動し傾斜した状態となるので、作業者は、基板10を180度反転させなくてもすみ、傾斜した角度分だけ基板10を容易に保持部材55にセットしたり、取り外したりすることができる。
さらに、保持手段5は、回動プレート65にリニアウェイ64を介して移動自在に取り付けられたレール63と、このレールにリニアウェイ62を介して移動自在に取り付けられた保持プレート61と、この保持プレート61に取付けたれた保持部材55とを備えているので、サイズの異なる基板10に対しても、保持部材55の位置を迅速かつ容易に変更することができ、機種切替における生産性を向上させることができる。
As can be seen from FIG. 1, when the substrate 10 is set, the holding means 5 is rotated and inclined, so that the operator does not have to invert the substrate 10 by 180 degrees, and the inclined angle. The substrate 10 can be easily set or removed from the holding member 55 by the amount.
Further, the holding means 5 includes a rail 63 movably attached to the rotating plate 65 via a linear way 64, a holding plate 61 movably attached to the rail via a linear way 62, and the holding Since the holding member 55 attached to the plate 61 is provided, the position of the holding member 55 can be quickly and easily changed with respect to the substrates 10 of different sizes, and the productivity in switching the models is improved. be able to.

本実施形態は、任意のサイズの基板に適用可能で有るが、ポジレジストを用いた液晶表示装置製造用のフォトマスク、特に、サイズが一辺300mm以上の基板に適用することが好ましく、幅が1000mmを超える基板にも適用可能である。
このような液晶表示装置製造用のフォトマスクの製造においては、最終製品に応じて頻繁なサイズ変更が生じる場合が多いが、本実施形態では、製造するフォトマスクのサイズが変更されても、装置上の大きな変更を必要としないという利点を有する。つまり、サイズがノズル24の幅以内の基板10に対する塗布では、基板10のサイズが変更されても、ノズル24自体の交換を必要とせず、乾燥手段100についても、気流発生源102や整流板104を一切交換する必要がない。
Although this embodiment can be applied to a substrate having an arbitrary size, it is preferably applied to a photomask for manufacturing a liquid crystal display device using a positive resist, particularly a substrate having a size of 300 mm or more on a side and having a width of 1000 mm. It can be applied to a substrate exceeding this.
In manufacturing a photomask for manufacturing such a liquid crystal display device, frequent size changes often occur depending on the final product, but in this embodiment, even if the size of the photomask to be manufactured is changed, the device It has the advantage of not requiring the major changes above. That is, in the application to the substrate 10 whose size is within the width of the nozzle 24, even if the size of the substrate 10 is changed, it is not necessary to replace the nozzle 24 itself. There is no need to replace any.

<塗布手段2の実施形態の説明>
次に、図3を参照しながら、塗布手段2の実施形態についてさらに詳細な説明を行なう。上記のように、塗布手段2は、支持プレート21を昇降させるモータ駆動方式の昇降部22と、毛細管隙間23を備えたノズル24と、支持プレート21の上端部に固定され、ノズル24を塗布液20に浸漬させた状態で収納する液槽25と、ノズル24を液槽25から所定高さまで突出させるエアシリンダ駆動方式のノズル昇降部26と、基板10の板厚を測定するリニアゲージ9とを備える。
<Description of Embodiment of Application Unit 2>
Next, an embodiment of the application unit 2 will be described in more detail with reference to FIG. As described above, the coating means 2 is fixed to the motor-driven lift unit 22 that lifts and lowers the support plate 21, the nozzle 24 having the capillary gap 23, and the upper end of the support plate 21. A liquid tank 25 that is stored in a state immersed in the liquid tank 20, an air cylinder drive type nozzle elevating part 26 that causes the nozzle 24 to protrude from the liquid tank 25 to a predetermined height, and a linear gauge 9 that measures the thickness of the substrate 10. Prepare.

昇降部22は、制御手段によって制御されるモータ(図示せず)により、支持プレート21の高さを微調節可能な昇降機構を備えている。すなわち、昇降部22が、ノズル24と基板10の被塗布面との間隙を制御しながら、ノズル24を昇降させる昇降手段となる。
また、ノズル昇降部26は、制御手段によって制御されるエアシリンダ(図示せず)により、ノズル24を、液槽25に収納された状態から先端部を突出させる状態まで、一定の距離だけ上昇させる昇降機構を備えている。
The elevating unit 22 includes an elevating mechanism that can finely adjust the height of the support plate 21 by a motor (not shown) controlled by the control means. That is, the elevating unit 22 serves as elevating means for elevating and lowering the nozzle 24 while controlling the gap between the nozzle 24 and the surface to be coated of the substrate 10.
Moreover, the nozzle raising / lowering part 26 raises the nozzle 24 only a fixed distance from the state accommodated in the liquid tank 25 to the state which protrudes a front-end | tip part by the air cylinder (not shown) controlled by a control means. Elevating mechanism is provided.

ここで、支持プレート21の上部には、液槽25が固定され、液槽25の側面にリニアゲージ9が固定されており、さらに、ノズル24は、ノズル昇降部26によって、液槽25に対して一定の距離だけ上昇する構成としてある。したがって、昇降部22が支持プレート21の高さを制御すると、リニアゲージ9、液槽25および突出状態のノズル24の高さを同時に制御することとなる。   Here, the liquid tank 25 is fixed to the upper part of the support plate 21, and the linear gauge 9 is fixed to the side surface of the liquid tank 25. Further, the nozzle 24 is connected to the liquid tank 25 by the nozzle elevating part 26. As a result, it rises by a certain distance. Therefore, when the elevating part 22 controls the height of the support plate 21, the heights of the linear gauge 9, the liquid tank 25, and the protruding nozzle 24 are simultaneously controlled.

以上の制御により、塗布手段2は、毛細管現象によりノズル先端まで揚げられた塗布液を被塗布面と接触させ、続いて、所望する塗布厚となるようにノズル位置を調整し、この垂直方向のクリアランスを保った状態で、移動フレーム12が処理位置を通過することにより、基板10に膜厚が均一な塗布膜を形成することができる。   By the above control, the coating means 2 brings the coating liquid raised to the tip of the nozzle by capillary action into contact with the surface to be coated, and then adjusts the nozzle position so as to obtain a desired coating thickness. When the moving frame 12 passes through the processing position while maintaining the clearance, a coating film having a uniform film thickness can be formed on the substrate 10.

なお、本実施形態で使用するレジストは、公知のネガまたはポジレジストを用いることができ、レジストの粘度としては、3〜20CPS(センチポイズ))の範囲にあることが好ましく、5〜15CPSの範囲にあることがより好ましい。   The resist used in the present embodiment can be a known negative or positive resist, and the viscosity of the resist is preferably in the range of 3 to 20 CPS (centipoise), and in the range of 5 to 15 CPS. More preferably.

<乾燥手段100の実施形態の説明>
次に、本発明に係る乾燥手段100の1つの実施形態について、図4を用いて詳細に説明する。図4は、乾燥手段100に関連する塗布装置1の主要構成機器を表わした模式図であり、図4(a)は、乾燥手段100の側面を表し、図4(b)は、図4(a)における上方から見た平面を表わす。ただし、図4(b)では、吸着手段3および基板10の記載は省略してある。
<Description of Embodiment of Drying Unit 100>
Next, one embodiment of the drying means 100 according to the present invention will be described in detail with reference to FIG. FIG. 4 is a schematic diagram showing the main components of the coating apparatus 1 related to the drying means 100. FIG. 4 (a) shows a side surface of the drying means 100, and FIG. 4 (b) shows FIG. It represents a plane viewed from above in a). However, in FIG. 4B, the description of the suction means 3 and the substrate 10 is omitted.

図4には、液槽に溜められたレジスト液を毛管現象によって基板10の被塗布面に導く、塗布手段2のノズル24と、移動手段4により水平方向に移動する吸着手段3と、吸着手段3の吸引力により被塗布面が下向きになる状態で保持された基板10と、気流を生じさせる気流発生源102と、ガイド面104aが被塗布面10aと離間距離tで対向配置され、気流を被塗布面10aと平行な流れに整流する整流板104とが示されている。ここで、乾燥機構100は、主に気流発生源102と整流板104とによって構成されている。   FIG. 4 shows the nozzle 24 of the coating means 2 for guiding the resist solution stored in the liquid tank to the coated surface of the substrate 10 by capillary action, the suction means 3 moved in the horizontal direction by the moving means 4, and the suction means. The substrate 10 held in a state in which the surface to be coated is directed downward by the suction force 3, the air flow generation source 102 that generates an air flow, and the guide surface 104 a are arranged to face the surface to be coated 10 a at a separation distance t, A rectifying plate 104 that rectifies the flow parallel to the coated surface 10a is shown. Here, the drying mechanism 100 is mainly configured by an air flow generation source 102 and a rectifying plate 104.

塗布手段2のノズル24により、毛管現象でレジスト液が被塗布面10aに接液された状態で、移動手段4により、基板10を吸着した吸着手段3を水平移動させて、ノズル24および基板10を水平方向に相対移動させる。これにより、被塗布面10aにレジスト液110を塗布することができる。このとき、乾燥手段100により、被塗布面10aに対し、一定方向にほぼ一定の相対流速であって被塗布面10aと平行な気流を供給して(図4の矢印参照)、気流を塗布されたレジスト液110に接触させることにより、塗布されたレジスト液110の乾燥を行うことができる。
なお、塗布手段2のノズル24は、ベースフレーム11の中央部に設置され、乾燥機構100は、ベース部材106を介してベースフレーム11の端部に接続されているので、レジスト塗布時においては、基板10は移動するが、塗布手段2と乾燥手段100との位置関係に変化しない。
In a state where the resist solution is in contact with the coated surface 10a by capillary action by the nozzle 24 of the coating means 2, the suction means 3 that has sucked the substrate 10 is moved horizontally by the moving means 4, and the nozzle 24 and the substrate 10 are moved. Is moved relative to the horizontal direction. Thereby, the resist solution 110 can be applied to the coated surface 10a. At this time, by the drying means 100, an airflow is applied to the surface 10a to be coated at an almost constant relative flow velocity in a certain direction and parallel to the surface 10a to be coated (see the arrow in FIG. 4). The applied resist solution 110 can be dried by contacting the resist solution 110.
The nozzle 24 of the coating means 2 is installed at the center of the base frame 11, and the drying mechanism 100 is connected to the end of the base frame 11 via the base member 106. Although the substrate 10 moves, the positional relationship between the coating unit 2 and the drying unit 100 does not change.

気流発生源102は、主に駆動部102aと送風ノズル102bとから構成される。駆動部102aの内部には、電動モータで駆動されるフィルタ付きファン(図示せず)が配置され、ファンの回転によりフィルタを通過した気流が、送風ノズル102bの送風開口から吐出され、塗布手段2のノズル24側へ送られる。このフィルタを通過したクリーンな気流を、図4の矢印で示す。駆動部102aに用いるファンとしては、シロッコファン、ターボファンをはじめとする任意のタイプのファンを用いることができる。   The air flow generation source 102 mainly includes a drive unit 102a and a blower nozzle 102b. A fan with a filter (not shown) driven by an electric motor is disposed inside the driving unit 102a, and the airflow that has passed through the filter by the rotation of the fan is discharged from the air blowing opening of the air blowing nozzle 102b, and the application unit 2 To the nozzle 24 side. The clean airflow that has passed through this filter is indicated by the arrows in FIG. As a fan used for the drive unit 102a, any type of fan including a sirocco fan and a turbo fan can be used.

本実施形態では、送風ノズル102bは、気流の流れに直交する方向において4室に区分されており、各室にダンパ等を備えることによって、各室の気流の風速を調整できるようになっている。さらに、各室ごとに個別のファンを有する送風ユニットを設けて、個々の送風ユニットの気流の風速を調節可能にすることもできる。なお、送風ノズル102bを区分する数が4に限られるものではなく、任意の数に区分することができ、区分をせずに一体的な送風ノズル102bを用いることもできる。   In the present embodiment, the blow nozzle 102b is divided into four chambers in a direction orthogonal to the flow of the air flow, and by providing a damper or the like in each chamber, the air velocity of the air flow in each chamber can be adjusted. . Furthermore, it is also possible to provide a blower unit having an individual fan for each chamber so that the air velocity of the airflow of each blower unit can be adjusted. In addition, the number which divides the ventilation nozzle 102b is not restricted to four, It can divide into arbitrary numbers, The integral ventilation nozzle 102b can also be used without dividing.

供給する気流は、クリーンルーム内に充填された気体を駆動部102aのファンが吸引して吐出することにより供給することもできるし、別のガス供給源から駆動部102aのファンに気体を供給して吐出することにより供給することもできる。また、加熱手段を備えて、気流を所定の温度の保つこともできるし、保湿手段を備えて、気流を所定の湿度に保つこともできる。なお、気流の湿度については後述する。   The airflow to be supplied can be supplied by sucking and discharging the gas filled in the clean room by the fan of the drive unit 102a, or by supplying the gas from another gas supply source to the fan of the drive unit 102a. It can also be supplied by discharging. Moreover, a heating means can be provided to keep the airflow at a predetermined temperature, and a moisturizing means can be provided to keep the airflow at a predetermined humidity. The airflow humidity will be described later.

整流板104は、そのガイド面104aが被塗布面10aと離間距離tで対向配置されており、ガイド面104aは平滑な表面性状を有する。図4に示すように、整流板104は、送風ノズル102bから塗布手段2のノズル24の位置まで、気流を下側から連続的にガイドするように配置されている。   The guide surface 104a of the rectifying plate 104 is disposed to face the application surface 10a with a separation distance t, and the guide surface 104a has a smooth surface property. As shown in FIG. 4, the rectifying plate 104 is disposed so as to continuously guide the airflow from the lower side from the blower nozzle 102 b to the position of the nozzle 24 of the applying means 2.

整流板104のガイド面104aと被塗布面10aとが「対向配置される」ことには、図4に示すようなガイド面104aと被塗布面10aとが平行に配置される場合(本実施形態の場合)だけでなく、例えば、図5に示すように、ガイド面104aと被塗布面10aとの間の距離が、気流発生源102側で広く、ノズル24側で狭くなったくさび状の気流の流路が形成される場合も含まれる。この場合であっても、気流の流れに直交する方向では、ガイド面104aと被塗布面10aとの間の距離が同一になっており、被塗布面10aと平行な気流を供給することができる。   The guide surface 104a of the rectifying plate 104 and the coated surface 10a are “facing each other” when the guide surface 104a and the coated surface 10a as shown in FIG. 4 are disposed in parallel (this embodiment). 5), for example, as shown in FIG. 5, a wedge-shaped airflow in which the distance between the guide surface 104a and the coated surface 10a is wide on the airflow generation source 102 side and narrowed on the nozzle 24 side. The case where the flow path is formed is also included. Even in this case, the distance between the guide surface 104a and the coated surface 10a is the same in the direction orthogonal to the flow of the air flow, and an air flow parallel to the coated surface 10a can be supplied. .

気流発生源102から離れるにつれて気流の運動エネルギーが減少するが、図5に示すような整流板104の配置によって、気流の流速の減少を補うことができる。整流板104と材料としては、樹脂、金属をはじめとする任意の材料を用いることができる。   Although the kinetic energy of the airflow decreases as the distance from the airflow generation source 102 increases, the reduction of the airflow velocity can be compensated by the arrangement of the rectifying plate 104 as shown in FIG. As the current plate 104 and the material, any material including resin and metal can be used.

被塗布面10aと整流板104のガイド面104aとの離間距離tは、大きすぎると気流の整流効果が薄れ、一方、近すぎると、整流板104のガイド面104aの不均一要因を敏感に拾ってしまう不都合が生じる。特に、気流の流速が速い場合には、ガイド面の不均一要因を敏感に拾う恐れが高まる。よって、離間距離tを気流の流速に応じて調整することができるようにすることが好ましい。このようにすることによって、迅速で均一な被塗布面の乾燥を実現する最適な気流を得ることができる。また、例えば基板がフォトマスクやフォトマスクブランク基板である場合、製品によって多数の板厚種類があり、異なる板厚みの基板のそれぞれに最適の整流を形成するためには、整流板の高さが可変であることが好ましい。   If the separation distance t between the coated surface 10a and the guide surface 104a of the rectifying plate 104 is too large, the air flow rectifying effect is weakened. On the other hand, if the separation distance t is too close, the unevenness factor of the guide surface 104a of the rectifying plate 104 is sensitively picked up. This causes inconvenience. In particular, when the flow velocity of the airflow is high, the risk of picking up the non-uniformity factor of the guide surface sensitively increases. Therefore, it is preferable that the separation distance t can be adjusted according to the flow velocity of the airflow. By doing in this way, the optimal airflow which implement | achieves quick and uniform drying of the to-be-coated surface can be obtained. Also, for example, when the substrate is a photomask or photomask blank substrate, there are many types of plate thickness depending on the product, and in order to form optimum rectification for each substrate of different plate thickness, the height of the rectifier plate is It is preferably variable.

例えば、整流版104のガイド面104aは、使用中にレジストが付着した汚れや、傷が生じることがあり、ガイド面104aが近すぎると、その凹凸(例えば数十〜数百μmの凹凸)がレジスト塗布面に反映する恐れがある。また、気流の流れに直交する方向において、気流発生源102が各室ごとに複数のファンを有する場合には、その境界付近の気流が乱れる場合がある。よって各々の状況に応じて、離間距離tを調整することにより、その影響を軽減することができる。
なお、気流の流れに直交する方向において、ガイド面104aの表面性状が不均一になって場合には、気流の流れに直交する方向における各室ごとに、気流の風速を調整して対処することもできる。
For example, the guide surface 104a of the rectifying plate 104 may be stained or scratched with resist during use. If the guide surface 104a is too close, the unevenness (for example, unevenness of several tens to several hundreds μm) may occur. There is a risk of reflection on the resist coating surface. Further, when the air flow generation source 102 has a plurality of fans for each room in the direction orthogonal to the air flow, the air flow near the boundary may be disturbed. Therefore, the influence can be reduced by adjusting the separation distance t according to each situation.
In addition, when the surface property of the guide surface 104a becomes non-uniform in the direction orthogonal to the air flow, the air velocity of the air flow should be adjusted for each room in the direction orthogonal to the air flow. You can also.

離間距離tの具体的な寸法としては、被塗布面10aと気流の相対速度の秒速値に対して、1〜50%とすることが好ましく、より好ましくは10〜50%とすることができる。例えば、被塗布面10aと気流の相対速度を0.1〜1m/秒とすると、離間距離tは10〜50mmの範囲内で選択することが望ましい。なお、気流の流速については、下記のレジストの塗布方法の説明において詳述する。   The specific dimension of the separation distance t is preferably 1 to 50%, more preferably 10 to 50% with respect to the second speed value of the relative speed of the surface to be coated 10a and the airflow. For example, when the relative velocity between the surface to be coated 10a and the airflow is 0.1 to 1 m / second, the separation distance t is preferably selected within a range of 10 to 50 mm. The flow rate of the airflow will be described in detail in the description of the resist coating method below.

本実施形態では、図4(a)に示すように、吸着手段3の両端に、クリーンルーム内のダウンフローが巻き込まれて、供給した気流に影響を与えないように、ひさし部分108が設けられている。ただし、このひさし部分108は、必ず設ける必要がある部材ではない。   In the present embodiment, as shown in FIG. 4A, eaves portions 108 are provided at both ends of the suction means 3 so that the downflow in the clean room is caught and the supplied airflow is not affected. Yes. However, the eaves portion 108 is not necessarily a member to be provided.

本実施形態においては、被塗布面10aにおいて、塗布の進行する方向と、気流の進行方向とが同一方向である。特に本実施形態では、塗布手段2のノズル24によりレジストが塗布された基板10は、被塗布面10aを下方に向けた状態で移動手段4により図面で左から右へ水平に移動する。このとき、既に気流が供給されている場合には、被塗布面10aに塗布されたレジスト液110に、図面で右から左へ流れる気流が平行に接触し、これにより被塗布面上のレジスト液は迅速に均等に乾燥される。
このとき、基板10に対して、基板10の移動速度と気流の流速が加わった相対流速で乾燥を行なうことになる。なお、気流は塗布手段2のノズル24に達すると、流れが左右に分かれて流れて、基板10が存在する領域から離れる。
In the present embodiment, in the coated surface 10a, the direction in which the application proceeds and the direction in which the air flow proceeds are the same direction. In particular, in this embodiment, the substrate 10 coated with the resist by the nozzle 24 of the coating unit 2 is moved horizontally from left to right in the drawing by the moving unit 4 with the coated surface 10a facing downward. At this time, if an airflow is already supplied, the airflow flowing from the right to the left in the drawing contacts the resist solution 110 applied to the application surface 10a in parallel. Is dried quickly and evenly.
At this time, the substrate 10 is dried at a relative flow rate obtained by adding the moving speed of the substrate 10 and the flow rate of the airflow. When the airflow reaches the nozzle 24 of the coating means 2, the flow is divided into left and right and leaves the region where the substrate 10 is present.

この気流による被塗布面10aの乾燥は、基板10が処理終了位置に達して停止し、さらに、基板10が反対向きに移動して装着位置に達するまで継続して行なわれる。移動手段4(基板10)が反対向きに移動するときには、基板10に対して、気流の流速から基板10の移動速度を減じた相対流速で乾燥を行なうことになる。このような気流による乾燥により、周囲の環境によって塗布されたレジストの面内分布に影響が出ない時点まで乾燥が進んだら、気流の供給を停止することができる。具体的には、塗布開始後5〜15分程度で気流の供給を停止でき、その後、塗布装置1から基板10を取り外すことができる。   The coating surface 10a is dried by the airflow until the substrate 10 reaches the processing end position and stops, and further, the substrate 10 moves in the opposite direction and reaches the mounting position. When the moving means 4 (substrate 10) moves in the opposite direction, the substrate 10 is dried at a relative flow rate obtained by subtracting the moving speed of the substrate 10 from the flow rate of the airflow. When drying by such an air current causes the drying to proceed to a point where the in-plane distribution of the applied resist is not affected by the surrounding environment, the supply of the air current can be stopped. Specifically, the supply of the air current can be stopped about 5 to 15 minutes after the start of coating, and then the substrate 10 can be detached from the coating apparatus 1.

本実施形態によれば、乾燥手段100の送風ノズル102b及び整流板104の幅寸法が、ノズル24の幅寸法以上なので、レジストを塗布する基板のサイズが変更されても、乾燥手段100の各部材を交換する必要はない。   According to this embodiment, since the width dimension of the blowing nozzle 102b and the current plate 104 of the drying means 100 is equal to or larger than the width dimension of the nozzle 24, each member of the drying means 100 is changed even if the size of the substrate to which the resist is applied is changed. There is no need to replace.

<乾燥手段100のその他の実施形態の説明>
図4に示す実施形態では、気流発生源102とノズル24との位置関係が変わらない状態で、基板10を移動させることにより、レジストの塗布および乾燥を行なっているが、これに限られるものではない。例えば、気流発生源102を基板10側に設置することも可能である。この場合には、移動手段4によって基板10を水平方向に移動させることにより、ノズル24および基板10を水平方向に相対移動させ、かつ気流発生源102が基板10と一体に移動するようになる。ただし、整流板104は、ノズル24から連続的に設置されている。
この場合には、基板10の被塗布面10aと気流発生源102との相対位置を変えずに、塗布、乾燥を行なうことができ、常に安定した気流を被塗布面10aに塗布されたレジスト液に接触させることができる。
<Description of Other Embodiments of Drying Unit 100>
In the embodiment shown in FIG. 4, the resist is applied and dried by moving the substrate 10 in a state where the positional relationship between the airflow generation source 102 and the nozzle 24 does not change. However, the present invention is not limited to this. Absent. For example, the airflow generation source 102 can be installed on the substrate 10 side. In this case, by moving the substrate 10 in the horizontal direction by the moving means 4, the nozzle 24 and the substrate 10 are relatively moved in the horizontal direction, and the airflow generation source 102 moves integrally with the substrate 10. However, the current plate 104 is continuously installed from the nozzle 24.
In this case, it is possible to perform coating and drying without changing the relative position between the coated surface 10a of the substrate 10 and the air flow source 102, and a resist solution in which a stable air flow is always applied to the coated surface 10a. Can be contacted.

図4に示す実施形態では、塗布の進行する方向と、気流の進行方向とが同一方向であるが、これに限られるものではない。例えば、図6に示すように、気流の流れが基板10の進行方向に対して直交する場合も考えられるし、図7に示すように、気流の進行方向が、基板10の進行方向に対して斜めの場合も考えられる。
図6に示す場合には、気流がノズル24とぶつかることがなく、図7に示す場合には、気流がノズル24と正面衝突せずに流れの方向を変えるので、よりスムーズに流れる。
何れの場合においても、基板10の側部から気流を入れるときには、基板10の幅方向の条件差が生じるので、比較的狭幅の基板の適用に適していると考えられる。
In the embodiment shown in FIG. 4, the direction in which the application proceeds and the direction in which the air flow proceeds are the same direction, but the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 6, it is conceivable that the flow of airflow is orthogonal to the traveling direction of the substrate 10, and as shown in FIG. An oblique case is also conceivable.
In the case shown in FIG. 6, the airflow does not collide with the nozzle 24, and in the case shown in FIG. 7, the airflow changes its direction without causing a frontal collision with the nozzle 24, so that the airflow flows more smoothly.
In any case, when an air flow is introduced from the side of the substrate 10, there is a difference in conditions in the width direction of the substrate 10, which is considered suitable for the application of a relatively narrow substrate.

<乾燥手段100を用いたレジスト塗布方法の実施形態の説明>
次に、上記の乾燥手段100を用いたレジスト塗布方法の1つの実施形態の説明を図4を用いて行なう。
本レジスト塗布方法では、塗布手段2により、液槽25に溜められたレジスト液をノズル24の毛細管現象によって被塗布面10aに導いて被塗布面に接液させ、移動手段4により、ノズル24と基板10とを水平方向に相対移動させることにより、被塗布面10aにレジスト液110を塗布する。このとき、乾燥手段100が、被塗布面10bに対し、一定方向にほぼ一定の相対流速であって被塗布面と平行な気流を供給し、塗布されたレジスト液110に気流を接触させることにより、塗布されたレジスト液110の乾燥を行う。
<Description of Embodiment of Resist Coating Method Using Drying Means 100>
Next, an embodiment of a resist coating method using the drying means 100 will be described with reference to FIG.
In this resist coating method, the resist solution stored in the liquid tank 25 is guided to the coated surface 10a by the capillary action of the nozzle 24 by the coating means 2, and is brought into contact with the coated surface. By relatively moving the substrate 10 in the horizontal direction, the resist solution 110 is applied to the application surface 10a. At this time, the drying means 100 supplies an air flow parallel to the surface to be coated at a substantially constant relative flow velocity in a certain direction with respect to the surface to be coated 10 b, thereby bringing the air flow into contact with the coated resist solution 110. Then, the applied resist solution 110 is dried.

そして、周囲の環境によって塗布されたレジストの面内分布に影響が出ない時点まで乾燥が進んだら、気流の供給を停止する。例えば、塗布開始5〜15分程度で気流の供給を停止でき、その後、塗布装置1から基板10を取り外すことができる。   When the drying proceeds to a point where the in-plane distribution of the resist applied by the surrounding environment is not affected, the supply of airflow is stopped. For example, the supply of airflow can be stopped about 5 to 15 minutes after the start of application, and then the substrate 10 can be removed from the application apparatus 1.

特に、被塗布面10a平行なガイド面104aを有する整流板104によって気流を整流することにより、被塗布面10aと平行な滑らかな気流を供給することができる。これにより、被塗布面を迅速に均一の乾燥させることができ、これにより、外観性能としてのむら(目視で視認可能な色相の異なる斑)がほぼ消失し、レジスト膜厚値の面内分布を、従来の乾燥方法(例えば、特許文献2の図6に示す乾燥方法)に比べて、ほぼ半減させることができる。   In particular, by rectifying the airflow with the rectifying plate 104 having the guide surface 104a parallel to the coated surface 10a, a smooth airflow parallel to the coated surface 10a can be supplied. As a result, the surface to be coated can be quickly and uniformly dried. As a result, unevenness in appearance performance (spots with different hues that can be visually confirmed) is almost eliminated, and the in-plane distribution of the resist film thickness value is obtained. Compared with a conventional drying method (for example, the drying method shown in FIG. 6 of Patent Document 2), the amount can be reduced by almost half.

ここで、塗布の進行する方向と、気流の進行方向とは任意の方向を取ることができるが、塗布の進行する方向と、気流の進行方向とが同一となるようにすることが好ましい。この場合、図4に示すような、基板10を水平方向に移動させて被塗布面10aにレジスト液を塗布する場合には、基板10が移動する向きに対向する向きで、気流を塗布されたレジスト液110に接触させることになる。   Here, the direction in which the application progresses and the direction in which the airflow advances can take any direction, but it is preferable that the direction in which the application advances and the direction in which the airflow advances are the same. In this case, as shown in FIG. 4, when the resist solution is applied to the application surface 10a by moving the substrate 10 in the horizontal direction, the airflow is applied in the direction opposite to the direction in which the substrate 10 moves. This is brought into contact with the resist solution 110.

この場合には、レジスト液が溜められた液槽25やノズル24を移動させずに、基板10側を移動させることにより塗布を行なうので、液槽25内のレジスト液の液面が乱れて、毛細管現象により塗布挙動が乱れる恐れがない。さらに、気流を基板10が移動する向きと対向する向きで塗布されたレジスト液110に接触させるので、より効果的に被塗布面10aの乾燥を行なうことができる。
ただし、本発明はこれ限られるものではなく、基板10の移動方向と同様な向きで、気流を塗布されたレジスト液110に接触させることもできる。
In this case, since the coating is performed by moving the substrate 10 side without moving the liquid tank 25 and the nozzle 24 in which the resist liquid is stored, the liquid level of the resist liquid in the liquid tank 25 is disturbed, There is no risk of the coating behavior being disturbed by capillary action. Furthermore, since the airflow is brought into contact with the resist solution 110 applied in the direction opposite to the direction in which the substrate 10 moves, the coated surface 10a can be dried more effectively.
However, the present invention is not limited to this, and an airflow can be brought into contact with the coated resist solution 110 in the same direction as the moving direction of the substrate 10.

気流の供給を開始するタイミングとしては、被塗布面10aへの塗布が終了する前に開始することが好ましく、被塗布面10aへの塗布を開始する前に開始することがさらに好ましい。
レジスト液が被塗布面10aに付けられた時点から実質的に乾燥が始まるが、被塗布面10aへの塗布が終了する前に気流の供給を開始することによって、迅速で均一な被塗布面の乾燥を実現できる。さらに、被塗布面10aへの塗布を開始する前に気流の供給が開始する場合には、レジスト液が被塗布面10aに付けられた直後から、気流に接触して乾燥が行なわれるので、迅速で均一な被塗布面の乾燥をより確実に実現できる
The timing for starting the supply of airflow is preferably started before the application to the coated surface 10a is completed, and more preferably started before the application to the coated surface 10a is started.
Although the drying starts substantially from the time when the resist solution is applied to the coated surface 10a, the supply of the airflow is started before the application to the coated surface 10a is completed. Drying can be realized. Further, in the case where the supply of the airflow is started before the application to the coated surface 10a is started, the drying is performed in contact with the airflow immediately after the resist solution is applied to the coated surface 10a. And uniform drying of the coated surface can be realized more reliably.

被塗布面10aへの塗布を開始する前に気流の供給を開始する場合には、接液前から気流を供給することも可能であるし、接液後(例えば、接液してからノズルを下降させ、塗布に適切な塗布ギャップを作った時点)に気流をスタートさせることも可能である。   When the supply of the airflow is started before the application to the coated surface 10a is started, it is possible to supply the airflow before the liquid contact, or after the liquid contact (for example, the nozzle after the liquid contact) It is also possible to start the air flow at the point of lowering and creating a coating gap suitable for coating.

供給する気流の流速としては、ノズルおよび基板の相対移動の速度に対して、10倍以上であることが好ましく、50倍以上であることがさらに好ましい。
このような流速を取ることによって、基板10とノズル24との相対移動の有無に関わらず、ほぼ一定の相対流速を有する気流を供給することができるので、被塗布面10aを均一に乾燥することができる。
ここで、ノズルおよび基板の相対移動の速度としては、0.05〜1m/分の範囲が好ましく、0.1〜0.5m/分の範囲がさらに好ましい。気流の流速としては、0.05〜1.5m/秒であることが好ましく、0.1〜1.5m/秒であることがさらに好ましい。
The flow rate of the airflow to be supplied is preferably 10 times or more, more preferably 50 times or more the relative movement speed of the nozzle and the substrate.
By taking such a flow rate, an air flow having a substantially constant relative flow rate can be supplied regardless of the relative movement between the substrate 10 and the nozzle 24, so that the coated surface 10a can be dried uniformly. Can do.
Here, the relative movement speed of the nozzle and the substrate is preferably in the range of 0.05 to 1 m / min, and more preferably in the range of 0.1 to 0.5 m / min. The flow rate of the airflow is preferably 0.05 to 1.5 m / sec, and more preferably 0.1 to 1.5 m / sec.

<フォトマスクブランク、フォトマスクを製造する実施形態の説明>
上記のレジスト塗布方法によって、透明基板上に光学膜が成膜されたフォトマスクブランク基板にレジストを塗布することにより、フォトマスクブランクを製造することもできる。本実施形態では、石英ガラス等からなる透明基板を用いることができ、光学膜には、遮光膜、半透光膜、位相シフト膜、これらに積層した反射防止膜等が含まれる。また、このフォトマスクブランクを用いて、透明基板上の光学膜に、得ようとする電子デバイスに応じた転写用パターンをパターニングしてフォトマスクを製造することもできる。
<Description of Embodiment for Manufacturing Photomask Blank and Photomask>
A photomask blank can also be manufactured by apply | coating a resist to the photomask blank board | substrate with which the optical film was formed on the transparent substrate with said resist application method. In the present embodiment, a transparent substrate made of quartz glass or the like can be used, and the optical film includes a light shielding film, a semi-transparent film, a phase shift film, an antireflection film laminated thereon, and the like. Further, by using this photomask blank, a photomask can be manufactured by patterning a transfer pattern corresponding to the electronic device to be obtained on the optical film on the transparent substrate.

<複数の光学膜を成膜されたフォトマスクを製造する実施形態の説明>
次に、図8、9を参照しながら、上記のレジスト塗布方法を適用して、透明基板上に複数の光学膜を成膜されたフォトマスクを製造する場合の説明を行なう。
図8、9には、複数の光学膜を成膜されたフォトマスクの一例として、遮光膜に加えて、半透光膜(HTL:Half Tone Layer)が成膜されたフォトマスクの製造方法が示されている。このフォトマスクは、半透光膜を追加することで光量を調整して、グレー部を表現することができ、例えば、液晶表示装置製造においてその工数を低減することができる。
<Description of Embodiment for Manufacturing Photomask Formed with Multiple Optical Films>
Next, with reference to FIGS. 8 and 9, a description will be given of a case where a photomask having a plurality of optical films formed on a transparent substrate is manufactured by applying the above resist coating method.
8 and 9, as an example of a photomask on which a plurality of optical films are formed, there is a manufacturing method of a photomask on which a semi-transparent film (HTL: Half Tone Layer) is formed in addition to a light shielding film. It is shown. This photomask can express a gray portion by adding a semi-transparent film to express the gray portion. For example, the number of steps can be reduced in manufacturing a liquid crystal display device.

図8には、半透光膜(HTL)を後から成膜し、結果として、半透光膜が上層にくる膜構成のフォトマスクの製造工程を示し、図9には、半透光膜(HTL)を先に成膜し、結果として、半透光膜が下層にくる膜構成のフォトマスクの製造工程を示す。   FIG. 8 shows a manufacturing process of a photomask having a film configuration in which a semi-transparent film (HTL) is formed later and, as a result, the semi-transparent film is an upper layer. FIG. 9 shows a semi-transparent film. (HTL) is formed first, and as a result, a manufacturing process of a photomask having a film structure in which a semi-transparent film is disposed below is shown.

図8に示す膜構成のフォトマスクの製造工程において、下層からCr系遮光膜(CR)、反射防止膜(AR)の順で積層された透明基板(図8(a)参照)に、1回目のレジスト塗布を行ってレジスト膜を形成し、このレジスト膜上にパターン露光および現像を行って1回目のレジストパターンを形成する(図8(b)参照)。その後、このレジストパターンをマスクとしてエッチングすることにより、Cr系遮光膜(CR)および反射防止膜(AR)をパターニングし、その上に半透光膜(HTL)を積層してフォトマスク中間体を形成する(図8(c)参照)。
次に、フォトマスク中間体に2回目のレジスト塗布を行なってレジスト膜を形成し、このレジスト膜上にパターン露光および現像を行って2回目のレジストパターンを形成する(図8(d)参照)。その後、このレジストパターンをマスクとしてエッチングすることにより、半透光膜(HTL)、遮光膜(CR)および反射防止膜(AR)がパターニングされたフォトマスクまたはフォトマスク中間体を形成することができる(図8(e)参照)。
In the manufacturing process of the photomask having the film configuration shown in FIG. 8, the first time is applied to the transparent substrate (see FIG. 8A) in which the Cr-based light shielding film (CR) and the antireflection film (AR) are laminated in this order from the lower layer. A resist film is formed to form a resist film, and pattern exposure and development are performed on the resist film to form a first resist pattern (see FIG. 8B). Thereafter, by etching using this resist pattern as a mask, the Cr-based light shielding film (CR) and the antireflection film (AR) are patterned, and a semi-transparent film (HTL) is laminated thereon to form a photomask intermediate. It forms (refer FIG.8 (c)).
Next, a second resist coating is performed on the photomask intermediate to form a resist film, and pattern exposure and development are performed on the resist film to form a second resist pattern (see FIG. 8D). . Then, by etching using this resist pattern as a mask, a photomask or photomask intermediate in which the semi-transparent film (HTL), the light shielding film (CR), and the antireflection film (AR) are patterned can be formed. (See FIG. 8 (e)).

図9に示す膜構成のフォトマスクの製造工程において、下層から半透光膜(HTL)、Cr系遮光膜(CR)、反射防止膜(AR)の順で積層された透明基板(図9(a)参照)に、1回目のレジスト塗布を行なってレジスト膜を形成し、このレジスト膜上にパターン露光および現像を行って1回目のレジストパターンを形成する(図9(b)参照)。その後、このレジストパターンをマスクとしてエッチングすることにより、半透光膜(HTL)、Cr系遮光膜(CR)および反射防止膜(AR)がパターニングされたフォトマスク中間体を形成する(図9(c)参照)。
次に、フォトマスク中間体に2回目のレジスト塗布を行なってレジスト膜を形成し、このレジスト膜上にパターン露光および現像を行って2回目のレジストパターンを形成する(図9(d)参照)。その後、このレジストパターンをマスクとしてエッチングすることにより、半透光膜(HTL)、Cr系遮光膜(CR)および反射防止膜(AR)がパターニングされたフォトマスクまたはフォトマスク中間体を形成することができる(図9(e)参照)。
In the manufacturing process of the photomask having the film configuration shown in FIG. 9, a transparent substrate (FIG. 9 (FIG. 9 (A)) is laminated in the order of a semi-transparent film (HTL), a Cr-based light-shielding film (CR), and an antireflection film (AR). a)), a first resist coating is performed to form a resist film, and pattern exposure and development are performed on the resist film to form a first resist pattern (see FIG. 9B). Thereafter, by etching using this resist pattern as a mask, a photomask intermediate in which the semi-transparent film (HTL), the Cr-based light shielding film (CR), and the antireflection film (AR) are patterned is formed (FIG. 9 ( c)).
Next, a second resist coating is performed on the photomask intermediate to form a resist film, and pattern exposure and development are performed on the resist film to form a second resist pattern (see FIG. 9D). . Thereafter, by etching using this resist pattern as a mask, a photomask or photomask intermediate in which a semi-transparent film (HTL), a Cr-based light shielding film (CR), and an antireflection film (AR) are patterned is formed. (See FIG. 9E).

図8および図9に示す何れの製造方法においても、レジスト塗布においては、上記の乾燥手段100を用いた塗布方法が適用されている。
ここで、フォトマスクにおいては、静電気による電位差によって放電が生じ、その際のエネルギーにより光学膜が溶損する静電破壊が生じる場合があるが、特に、基板上に形成された複数の光学膜をパターニングするにあたり、2回目のパターニング時に、既にパターニングされた遮光膜等の光学膜のパターン同士間で放電が生じて、パターン形状が壊れる恐れがある。特に、先端が尖った形状のパターンが接近している場合に、静電破壊が生じ易い。図8(c)および図9(c)においては、スペースを隔てて隣接したCr系遮光膜(CR)のパターン同士間で放電が生じて、静電破壊が生じる恐れがある。
In any of the manufacturing methods shown in FIGS. 8 and 9, the coating method using the drying means 100 is applied in resist coating.
Here, in a photomask, discharge may occur due to a potential difference due to static electricity, and the optical film may be damaged due to the energy at that time. In particular, a plurality of optical films formed on a substrate may be patterned. In doing so, during the second patterning, a discharge may occur between patterns of optical films such as light-shielding films that have already been patterned, and the pattern shape may be damaged. In particular, when a pattern with a sharp tip is approaching, electrostatic breakdown is likely to occur. In FIG. 8C and FIG. 9C, there is a possibility that discharge occurs between the Cr-based light shielding film (CR) patterns adjacent to each other with a space therebetween, resulting in electrostatic breakdown.

このとき、乾燥手段100により、基板に平行な気流を供給することができるので、適正な湿度(例えば、湿度40〜70%)の気流を供給することにより、Cr系遮光膜(CR)に気流を接触させることができるので、静電破壊を未然に防止することができる。クリーンルーム内では、雰囲気自体が既にその湿度に制御されているが、上記のように、気流に適正な湿度を持たせるために、加湿手段を備えることもできる。   At this time, since the air flow parallel to the substrate can be supplied by the drying means 100, the air current is supplied to the Cr-based light-shielding film (CR) by supplying an air flow having an appropriate humidity (for example, humidity 40 to 70%). Therefore, electrostatic breakdown can be prevented in advance. In the clean room, the atmosphere itself is already controlled to the humidity. However, as described above, humidification means may be provided in order to give the airflow an appropriate humidity.

本発明に係るレジスト塗布方法およびレジスト塗布装置、並びに該レジスト塗布方法を用いたフォトマスクブランクおよびフォトマスクの製造方法の実施形態は、上記の実施形態に限られるものではなく、その他の様々な実施形態が本発明に含まれる。   Embodiments of the resist coating method and the resist coating apparatus, and the photomask blank and the photomask manufacturing method using the resist coating method according to the present invention are not limited to the above-described embodiments, but various other implementations. Forms are included in the present invention.

1 塗布装置
2 塗布手段
3 吸着手段
4 移動手段
5 保持手段
9 リニアゲージ
10 基板
10a 被塗布面
11 ベースフレーム
12 移動フレーム
13 移動部
20 塗布液
21 支持プレート
22 昇降部
23 毛細管隙間
24 ノズル
25 液槽
26 ノズル昇降部
41 リニアウェイ
42 ボールスクリュウ
43 モータ
55 保持部材
61 保持プレート
62 リニアウェイ
63 レール
64 リニアウェイ
65 回動プレート
66 回動軸
67 回動シリンダ
68 ストッパ
69 ベースプレート
70 保持手段フレーム
71 ガイド棒
72 底フレーム
73 昇降手段
91 測定端子
100 乾燥手段
102 気流発生源
102a 駆動部
102b 送風ノズル
104 整流板
104a ガイド面
106 ベース部材
108 ひさし部分
110 レジスト液
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Application | coating apparatus 2 Application | coating means 3 Adsorption means 4 Moving means 5 Holding means 9 Linear gauge 10 Substrate 10a Coating surface 11 Base frame 12 Moving frame 13 Moving part 20 Coating liquid 21 Support plate 22 Elevating part 23 Capillary gap 24 Nozzle 25 Liquid tank 26 Nozzle Elevator 41 Linear Way 42 Ball Screw 43 Motor 55 Holding Member 61 Holding Plate 62 Linear Way 63 Rail 64 Linear Way 65 Rotating Plate 66 Rotating Shaft 67 Rotating Cylinder 68 Stopper 69 Base Plate 70 Holding Means Frame 71 Guide Rod 72 Bottom frame 73 Elevating means 91 Measuring terminal 100 Drying means 102 Air flow generation source 102a Drive unit 102b Blow nozzle 104 Current plate 104a Guide surface 106 Base member 108 Eaves part 110 Resist solution

Claims (14)

被塗布面を下方に向けた状態の基板にレジスト液を塗布する方法であって、
液槽に溜められたレジスト液を、ノズルの毛細管現象によって前記被塗布面に導いて前記被塗布面に接液させ、前記ノズルと前記基板とを水平方向に相対移動させることにより、前記被塗布面にレジスト液を塗布し、
前記被塗布面に対し、一定方向にほぼ一定の相対流速であって前記被塗布面と平行な気流を供給し、前記気流を塗布されたレジスト液に接触させることにより、前記塗布されたレジスト液の乾燥を行うことを特徴とする、レジスト塗布方法。
A method of applying a resist solution to a substrate with a surface to be coated facing downward,
The resist solution stored in the liquid tank is guided to the surface to be coated by capillary action of a nozzle to come into contact with the surface to be coated, and the nozzle and the substrate are moved relative to each other in the horizontal direction to thereby apply the surface to be coated. Apply a resist solution on the surface,
The coated resist solution is supplied by supplying an air flow parallel to the coated surface at a substantially constant relative flow rate in a certain direction with respect to the coated surface, and bringing the air flow into contact with the coated resist solution. A resist coating method, characterized by performing drying.
前記被塗布面と対向配置された整流板によって前記気流を整流して、前記被塗布面と平行な気流を供給することを特徴とする、請求項1に記載のレジスト塗布方法。   2. The resist coating method according to claim 1, wherein the air flow is rectified by a rectifying plate disposed to face the coated surface, and an air flow parallel to the coated surface is supplied. 前記被塗布面において、塗布の進行する方向と、前記気流の進行方向とが同一方向であることを特徴とする請求項1または2に記載のレジスト塗布方法。   3. The resist coating method according to claim 1, wherein, in the surface to be coated, a direction in which coating proceeds and a direction in which the air flow proceeds are the same direction. 前記基板を水平方向に移動させることにより、前記被塗布面にレジスト液を塗布し、かつ、前記基板の移動する向きに対向する向きで、前記気流を前記塗布されたレジスト液に接触させることを特徴とする、請求項3に記載のレジスト塗布方法。   By moving the substrate in the horizontal direction, the resist solution is applied to the surface to be coated, and the airflow is brought into contact with the applied resist solution in a direction opposite to the moving direction of the substrate. The resist coating method according to claim 3, wherein the resist coating method is characterized. 前記気流の供給が、前記被塗布面への塗布が終了する前に開始されることを特徴とする、請求項1から4の何れか1項に記載のレジスト塗布方法。   5. The resist coating method according to claim 1, wherein the supply of the airflow is started before the coating on the coated surface is completed. 前記気流の供給が、前記被塗布面への塗布を開始する前に開始されることを特徴とする、請求項5に記載のレジスト塗布方法。   The resist coating method according to claim 5, wherein the supply of the airflow is started before the application to the surface to be coated is started. 前記気流の流速が、前記ノズルおよび前記基板の前記相対移動の速度に対して、10倍以上であることを特徴とする、請求項1から6の何れか1項に記載のレジスト塗布方法。   The resist coating method according to any one of claims 1 to 6, wherein a flow velocity of the airflow is 10 times or more with respect to a speed of the relative movement of the nozzle and the substrate. 前記気流の流速が、0.05〜1.5m/秒であることを特徴とする、請求項1から6の何れか1項に記載のレジスト塗布方法。   The resist coating method according to claim 1, wherein a flow rate of the airflow is 0.05 to 1.5 m / sec. 透明基板上に光学膜が成膜されたフォトマスクブランク基板にレジストを塗布する工程を含む、フォトマスクブランク製造方法であって、請求項1〜8の何れか1項に記載のレジスト塗布方法によってレジストを塗布することを特徴とする、フォトマスクブランクの製造方法。   It is a photomask blank manufacturing method including the process of apply | coating a resist to the photomask blank board | substrate with which the optical film was formed on the transparent substrate, Comprising: By the resist coating method of any one of Claims 1-8 A method for producing a photomask blank, comprising applying a resist. 透明基板上の光学膜に、得ようとする電子デバイスに応じた転写用パターンをパターニングしてフォトマスクを製造する方法であって、請求項9に記載のフォトマスクブランクを用いることを特徴とする、フォトマスクの製造方法。   A method of manufacturing a photomask by patterning a transfer pattern corresponding to an electronic device to be obtained on an optical film on a transparent substrate, wherein the photomask blank according to claim 9 is used. , Photomask manufacturing method. 透明基板上に形成された複数の光学膜がそれぞれパターニングされたフォトマスクの製造方法であって、
レジストを塗布して、前記レジストへの描画および現像工程を施すことにより、第1の光学膜をパターニングして、第1の転写用パターンを有するフォトマスク中間体を形成する工程と、
該フォトマスク中間体にレジストを塗布して、前記レジストへの描画および現像工程を施すことにより、第2の光学膜をパターニングして、第2の転写用パターンを有するフォトマスクまたはフォトマスク中間体を形成する工程と、
を含み、
前記レジストの塗布に際して、請求項1〜8の何れか1項に記載のレジスト塗布方法を用いることを特徴とする、フォトマスクの製造方法。
A method of manufacturing a photomask in which a plurality of optical films formed on a transparent substrate are respectively patterned,
Applying a resist, patterning the first optical film by performing a drawing and developing process on the resist, and forming a photomask intermediate having a first transfer pattern;
A photomask or photomask intermediate having a second transfer pattern by applying a resist to the photomask intermediate, patterning the resist, and developing the resist to pattern the second optical film. Forming a step;
Including
A method for producing a photomask, wherein the resist coating method according to any one of claims 1 to 8 is used for coating the resist.
被塗布面を下方に向けた状態の基板にレジスト液を塗布するレジスト塗布装置であって、
レジスト液を溜める液槽と、該液槽に溜められたレジスト液を、毛管現象によって前記基板の被塗布面に導くノズルと、を備えた塗布手段と、
前記ノズルおよび前記基板の少なくとも一方を移動させることにより、両者を水平方向に相対移動させる移動手段と、
気流を生じさせる気流発生源と、前記被塗布面と所定の離間距離で対向配置されたガイド面を有して、該気流を前記被塗布面と平行な流れに整流する整流板とを備えた乾燥機構と、
を備え、
前記塗布手段により、毛管現象でレジスト液が前記被塗布面に接液された状態で、
前記移動手段により、前記ノズルおよび前記基板を水平方向に相対移動させることにより、前記被塗布面にレジスト液を塗布し、
前記乾燥手段により、前記被塗布面に対し、一定方向にほぼ一定の相対流速であって前記被塗布面と平行な気流を供給し、前記気流を塗布されたレジスト液に接触させることにより、前記塗布されたレジスト液の乾燥を行うことを特徴とする、塗布装置。
レジスト塗布装置。
A resist coating apparatus for applying a resist solution to a substrate with a surface to be coated facing downward,
A coating means comprising: a liquid tank for storing a resist liquid; and a nozzle for guiding the resist liquid stored in the liquid tank to a surface to be coated of the substrate by capillary action;
Moving means for relatively moving both of the nozzle and the substrate in a horizontal direction by moving at least one of the nozzle and the substrate;
An airflow generation source for generating an airflow, and a rectifying plate that has a guide surface arranged to face the coated surface at a predetermined separation distance and rectifies the airflow into a flow parallel to the coated surface. A drying mechanism;
With
In the state where the resist solution is in contact with the coated surface by capillary action by the coating means,
The moving means applies the resist solution to the surface to be coated by relatively moving the nozzle and the substrate in a horizontal direction,
The drying means supplies an air flow parallel to the coated surface at a substantially constant relative flow velocity in a fixed direction with respect to the coated surface, and bringing the air flow into contact with the coated resist solution, A coating apparatus for drying a coated resist solution.
Resist coating device.
前記離間距離が調整可能であり、前記離間距離が前記気流の流速に応じて調整されることを特徴とする、請求項12に記載の塗布装置。   The coating apparatus according to claim 12, wherein the separation distance is adjustable, and the separation distance is adjusted according to a flow velocity of the airflow. 前記移動手段によって前記基板を水平方向に移動させることにより、前記ノズルおよび前記基板を水平方向に相対移動させ、かつ前記気流発生源が前記基板と一体に移動することを特徴とする、請求項12または13に記載のレジスト塗布装置。   13. The substrate is moved in the horizontal direction by the moving means, whereby the nozzle and the substrate are relatively moved in the horizontal direction, and the air flow source is moved integrally with the substrate. Or the resist coating apparatus according to 13.
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