JP2011209879A - 評価装置および評価プログラム - Google Patents

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Abstract

【課題】製品が故障するか否かを高精度に評価する。
【解決手段】観測日時から指定時間以内に製品が故障した稼働データに対して故障ラベルを付与し、観測日時から指定時間以内に製品が故障していない稼働データに対して非故障ラベルを付与し、観測日時から指定時間以内に製品が故障したか否か不明である稼働データに対して故障ラベルおよび非故障ラベルのいずれも付与しないラベル付与部102と、ラベルが付与された稼働データとラベルが付与されていない稼働データとを用いて稼働データの分布を学習し、製品が故障する確率をモデル化した故障モデルを作成する学習部110と、故障モデルと稼働データとに基づいて、製品が故障する確率を評価する評価部120と、を備える。
【選択図】図1

Description

本発明は、評価装置および評価プログラムに関する。
PCの振動や温度を計測しPCの疲労度合を算出する技術の研究が進められている。また、PCの情報をセンサ等で取得して個々の部品またはPCの障害発生の危険度を顧客に提示する装置も提案されている。このような技術では、例えば、製品の稼働データの値が、故障に結びつかない適切な値であるかを監視するためのモデルを構築し、このモデルを用いて製品が故障するか否かを評価する。一方、ハードウェアの品質管理部門では、修理データから製品の修理率を評価する技術も蓄積されてきている。
このように製品の品質等を評価する技術に関しては、打切りを考慮した寿命データ解析、および、半教師あり学習が知られている。打ち切りを考慮した寿命データ解析では、観測打ち切りデータに関しては、観測打ち切り時刻で製品が故障しないで稼働しているという情報を用いている。この解析方法は、累積稼働時間に対する寿命のように、累積負荷に対する故障モデルの構築に用いることができるが、温度の値や加速度の値など、累積値ではない観測指標に対する故障モデルの構築には用いることができない。
半教師あり学習は、ラベルあり、ラベルなしの両方のデータを用いた機械学習の手法であり、例えば非特許文献1の技術が知られている。
K. Nigam and A. McCallum and S. Thrun and T. Mitchell, "Learning to Classify Text from Labeled and Unlabeled Documents", Proc. of the 15th National Conf. on Artificial Intelligence, pp.792-799, 1998.
しかしながら、上述のようなモデルを用いる方法の場合、出荷開始直後など故障データおよび非故障データが少ない状況では、高精度のモデル構築が困難であるという問題があった。一方、観測の打ち切りのため、故障および非故障のいずれにも分類できない稼働データが存在する場合もある。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、製品稼働直後および観測打ち切りなどにより稼働データが少ない状況であっても、製品が故障するか否かを高精度に評価することができる評価装置および評価プログラムを提供することを目的とする。
本発明は、製品の稼働データを記憶する稼働データ記憶部と、前記稼働データの観測日時から指定時間以内に製品が故障した前記稼働データに対して故障したことを表す故障ラベルを付与し、前記観測日時から指定時間以内に製品が故障していない前記稼働データに対して故障していないことを表す非故障ラベルを付与し、前記観測日時から指定時間以内に製品が故障したか否か不明である前記稼働データに対して前記故障ラベルおよび前記非故障ラベルのいずれも付与しないラベル付与部と、前記故障ラベルまたは前記非故障ラベルが付与された前記稼働データと、前記故障ラベルおよび前記非故障ラベルのいずれも付与されていない前記稼働データとを用いて前記稼働データの分布を学習し、製品が故障する確率をモデル化した故障モデルを作成する学習部と、前記故障モデルと前記稼働データとに基づいて、製品が故障する確率を評価する評価部と、を備えることを特徴とする。
また、本発明は、製品の稼働データを記憶する稼働データ記憶部を備える評価装置を、前記観測日時から指定時間以内に製品が故障した前記稼働データに対して故障したことを表すラベルを付与し、前記観測日時から指定時間以内に製品が故障していない前記稼働データに対して故障していないことを表すラベルを付与し、前記観測日時から指定時間以内に製品が故障したか否か不明である前記稼働データに対してラベルを付与しないラベル付与部と、ラベルが付与された前記稼働データとラベルが付与されていない前記稼働データとを用いて前記稼働データの分布を学習し、製品が故障する確率をモデル化した故障モデルを作成する学習部と、前記故障モデルと前記稼働データとに基づいて、製品が故障するか否かを評価する評価部と、として機能させるための評価プログラムである。
本発明によれば、製品稼働直後および観測打ち切りなどにより稼働データが少ない状況であっても、製品が故障するか否かを高精度に評価することができるという効果を奏する。
第1の実施の形態にかかる評価装置のブロック図。 稼働データのデータ構造の一例を示す図。 故障データのデータ構造の一例を示す図。 第1の実施の形態の評価装置による処理全体の流れを示すフローチャート。 第1の実施の形態の評価装置によるラベル付与処理の全体の流れを示すフローチャート。 ラベル付与処理の具体例を示す説明図。 第1の実施の形態の評価装置による確率モデル学習処理の全体の流れを示すフローチャート。 観測した稼働データ数の一例を示した図。 図8のような稼働データに対して算出される荷重値を示した図。 初期モデル算出部による初期モデル算出の一例を示す説明図。 初期モデル算出部による初期モデル算出の一例を示す説明図。 第1の実施の形態の評価装置による稼働データ評価処理の全体の流れを示すフローチャート。 故障確率順位算出処理の具体例を示す図。 第1の実施の形態の変形例によるラベル付与処理の全体の流れを示すフローチャート。 第2の実施の形態にかかる評価装置のブロック図。 第1および第2の実施の形態にかかる評価装置のハードウェア構成図。
以下に添付図面を参照して、この発明にかかる評価装置の好適な実施の形態を詳細に説明する。
(第1の実施の形態)
第1の実施の形態にかかる評価装置は、観測した稼働データに対して「故障」、「非故障」、および「ラベルなし」というラベルを付与し、ラベルなしの稼働データも用いて故障確率モデルを構築し、構築した故障確率モデルにより稼働データを評価する。これにより、出荷開始直後など稼働データが少ない状況であっても、ラベルなしの稼働データも活用することによって精度の高い判別モデルを構築することができる。すなわち、指定された指定期間内に製品が故障するかを高精度に推定することができる。
稼働データとは、製品の使用状況を表すデータとして観測されるデータである。稼働データから製品の故障確率を予測する故障確率モデルを事前に構築し、故障確率モデルを用いることにより、製品を監視して得られる稼働データから個々の製品の故障を予測することができる。このように、故障確率モデルとは稼働データによって故障製品と非故障製品を識別する確率モデルを意味する。
図1は、第1の実施の形態にかかる評価装置100の構成の一例を示すブロック図である。図1に示すように、評価装置100は、稼働データ記憶部151と、故障データ記憶部152と、モデル記憶部153と、結果記憶部154と、収集部101と、ラベル付与部102と、学習部110と、評価部120と、出力部131と、を備えている。
評価装置100は、インターネットやLANなどのネットワーク(図示せず)を介して、複数の製品200に通信可能に接続されている。なお、図1では1つの製品200のみを記載しているが、製品200の個数は任意である。
また、図1では、評価装置100はネットワーク上のサーバ装置として設置した例を示している。評価装置100と同様の機能を製品(クライアントPC等)側に設けるものであってもよい。また、記憶部(稼働データ記憶部151、故障データ記憶部152、モデル記憶部153、結果記憶部154)全体または記憶部の一部をサーバ側に設け、それ以外の部分をクライアントPC側に設けてもよい。例えば、稼働データ記憶部151、故障データ記憶部152、およびモデル記憶部153を評価装置100内に設け、結果記憶部154をクライアントPC内に設けるように構成してもよい。
稼働データ記憶部151は、収集部101によって受信された各製品の稼働データを記憶する。稼働データは、観測日時と観測値とを含むデータであり、製品1台ごとに記憶される。図2は、稼働データのデータ構造の一例を示す図である。
図2では、製品IDと、観測日時と、温度と、鉛直方向加速度と、傾き角度と、ボタン操作回数と、電流と、電圧と、連続使用時間と、ファン回転数と、データ読込エラー発生有無と、累積使用時間と、ボタン累積操作回数と、データ読込エラー累積発生回数とを含む稼働データの例が示されている。製品IDは、各製品を識別する識別情報である。温度以下の項目は一例であり、製品の使用状況を表す項目であればあらゆる項目を稼働データに含めることができる。
故障データ記憶部152は、故障した製品の情報である故障データを記憶する。例えば、故障データは、故障した製品が修理センターで修理されたときに作成され、故障データ記憶部152に記憶される。図3は、故障データのデータ構造の一例を示す図である。
図3では、製品IDと、故障日時と、故障部品を識別する故障部品IDと、故障部品の種別を表す故障部品カテゴリーとを含む故障データの例が示されている。少なくとも故障した製品を特定できる情報(製品ID等)と、故障日時を特定できる情報とが含まれていれば、他の項目を故障データに含めてもよい。
モデル記憶部153は、学習部110により稼働データおよび故障データから学習され構築された故障確率モデルを表すパラメータを記憶する。結果記憶部154は、評価部120による評価結果を記憶する。
なお、稼働データ記憶部151、故障データ記憶部152、モデル記憶部153、および結果記憶部154は、HDD(Hard Disk Drive)、光ディスク、メモリカード、RAM(Random Access Memory)などの一般的に利用されているあらゆる記憶媒体により構成することができる。
収集部101は、各製品から稼働データを収集し、稼働データ記憶部151に保存する。収集部101は、例えばネットワークを介してリアルタイムまたは定期的に各製品から稼働データを収集し、稼働データ記憶部151に保存する。
ラベル付与部102は、稼働データ記憶部151と故障データ記憶部152とを参照し、各稼働データに対して、観測日時から指定時間内に製品が故障したか否かを表すラベルを付与する。例えば、ラベル付与部102は、稼働データの製品IDが一致し、故障日時が、観測日時から指定時間内の日時である故障データが故障データ記憶部152に保存されている場合に、当該稼働データに対して、故障したことを表すラベル「故障」を付与する。また、例えばラベル付与部102は、観測日時から指定時間以上稼働データが収集されており、かつ、故障データ記憶部152に、製品IDが一致し、故障日時が観測日時から指定時間内の日時である故障データが保存されていない稼働データに対して、故障していないことを表すラベル「非故障」を付与する。
また、ラベル付与部102は、観測打ち切りまたは稼働直後のため、指定時間内に故障したか否かを判定できない稼働データに対しては、「故障」および「非故障」のいずれのラベルも付与しない。なお、以下では、「故障」および「非故障」のいずれのラベルも付与しない稼働データに対しては、「故障」および「非故障」を判定できないこと(不明であること)を表す「ラベルなし」のラベルを付与するものとして説明する。このようなラベルの付与方法は一例であり、故障しているか否か、および、故障しているか否かを判定できないことを識別できるラベルの付与方法であればあらゆる方法を適用できる。
学習部110は、ラベルが付与された稼働データだけでなく、ラベルが付与されていない(「ラベルなし」が付与された)稼働データも用いて稼働データの分布を学習し、製品が故障する確率をモデル化した故障確率モデルを作成する。学習部110は、荷重値算出部111と、初期モデル算出部112と、期待値算出部113と、尤度最大化部114とを備えている。
荷重値算出部111は、稼働データの観測数に応じた稼働データの荷重値を算出する。故障確率モデルを構築する際に用いる稼働データのうち、故障製品の1台の稼働期間が非常に長く、他の故障製品の稼働時間が非常に短いとする。このとき、構築されるモデルは、稼働データの観測数が多い1台の故障製品に対して偏ったモデルになるおそれがある。このような場合であっても、稼働データの観測数が多い製品、すなわち、長期間稼働した製品に偏ったモデルが構築されないようにすることが望ましい。そこで、荷重値算出部111は、稼働データの観測数に応じて、各稼働データに対して荷重値を設定する。荷重値算出部111は、観測数が多いほど値が大きくなる荷重値を算出する。
初期モデル算出部112は、故障確率モデルを構築する際の初期モデルのパラメータを算出する。期待値算出部113は、ラベルが付与されていない稼働データに対し「故障」ラベル・「非故障」ラベルが付与される確率に基づいて、故障確率モデルの確からしさを表す尤度の期待値を算出する。尤度最大化部114は、尤度を最大化するような故障確率モデルのパラメータを求める。
評価部120は、構築された故障確率モデルを用いて、収集部101により収集された稼働データを評価する。評価部120は、比較部121と、順位算出部122とを備えている。
比較部121は、評価対象の稼働データが、故障製品および非故障製品のいずれの分布に近いかを評価し、製品が故障するか否かを表す評価結果を出力部131に送出する。順位算出部122は、複数の製品に対して、製品が故障する確率が大きいほど値が大きい評価値を製品ごとに求め、評価値の順位を算出する。
出力部131は、評価部120の評価結果をディスプレイなどの表示装置(図示せず)やネットワークへ出力する。
次に、このように構成された第1の実施の形態にかかる評価装置100による処理について図4を用いて説明する。図4は、第1の実施の形態の評価装置100による処理の全体の流れを示すフローチャートである。以下では、収集部101により稼働データが収集され、稼働データ記憶部151に保存されていることを前提とする。
まず、ラベル付与部102が、稼働データ記憶部151と故障データ記憶部152とを参照して、各稼働データのラベルを生成し、生成したラベルを稼働データに付与するラベル付与処理を実行する(ステップS101)。ラベル付与処理の詳細については後述する。
次に、学習部110が、故障確率モデルを学習するか否かを判断する(ステップS102)。例えば、学習部110は、一定期間が経過するごとに、または、ユーザによるモデル作成の指定があった場合に、故障確率モデルを学習すると判断する。
故障確率モデルを学習する場合(ステップS102:Yes)、学習部110は、確率モデル学習処理を実行し、稼働データから故障確率モデルを構築する(ステップS103)。確率モデル学習処理の詳細については後述する。
確率モデル学習処理が終了後、または、ステップS102で故障確率モデルを学習しないと判断された場合(ステップS102:No)、評価部120が、故障確率モデルを用いて稼働データを評価する稼働データ評価処理を実行する(ステップS104)。稼働データ評価処理の詳細については後述する。
次に、ステップS101のラベル付与処理の詳細について図5および図6を用いて説明する。図5は、第1の実施の形態の評価装置100によるラベル付与処理の全体の流れを示すフローチャートである。
まず、ラベル付与部102は、稼働データ記憶部151からラベルを付与していない稼働データを読み込む(ステップS201)。ラベル付与部102は、読み込んだ稼働データの観測日時から指定期間以内に故障が発生したか否かを判断する(ステップS202)。観測日時から指定期間以内に故障が発生した場合(ステップS202:Yes)、ラベル付与部102は、読み込んだ稼働データに対して、「故障」ラベルを付与する(ステップS203)。
観測日時から指定期間以内に故障が発生していない場合(ステップS202:No)、ラベル付与部102は、さらに読み込んだ稼働データの観測日時から指定期間以内に故障が発生していないか否かを判断する(ステップS204)。故障が発生していない場合(ステップS204:Yes)、ラベル付与部102は、読み込んだ稼働データに対して、「非故障」ラベルを付与する(ステップS205)。
稼働データには、観測の中途打ち切りのために、稼働データの観測から指定期間以内に故障が発生するかしないかが不明となり、「故障」ラベルおよび「非故障」ラベルのいずれも付与できない期間が存在する場合がある。このように故障が発生していないと判断できない場合(ステップS204:No)、ラベル付与部102は、読み込んだ稼働データに対して、「ラベルなし」ラベルを付与する(ステップS206)。
ラベル付与部102は、付与したラベルを出力し(ステップS207)、すべての稼働データに対するラベル付与が終了したか否かを判断する(ステップS208)。終了していない場合(ステップS208:No)、ラベル付与部102は、次の稼働データを読み込んで処理を繰り返す(ステップS201)。終了した場合は(ステップS208:Yes)、ラベル付与処理を終了する。
図6は、ラベル付与処理の具体例を示す説明図である。図6の例では、指定期間を30日としている。すなわち、稼働データ観測から30日以内に故障が起こった稼働データに対して、「故障」ラベルを付与する。図6の黒の四角は、この時点で故障が発生したことを表している。また、図6の黒の丸は、この時点で観測が打ち切られたことを表している。
製品1では、すべての観測日の稼働データに対して、「故障」ラベルが付与される。製品2では、故障発生日を含む故障発生日から30日前までの期間の稼働データについては、「故障」ラベルが付与される。一方、製品2の稼働データのうち、故障発生日から30日より前の観測日の稼働データについては、「非故障」ラベルが付与される。
製品3では、稼働開始から30日経過する前に観測が打ち切られている。そのため、稼働データ観測日から30日以内に故障が起こるか否かは不明である。従って、製品3の稼働データに対しては、すべての観測日の稼働データに対して「ラベルなし」が付与される。
製品4は、観測打ち切り日を含む観測打ち切り日から30日前までの観測日の稼働データに対しては、観測日から30日以内に故障が発生するか否かがわからないため「ラベルなし」が付与される。一方、観測打ち切り日から30日以上前の観測日の稼働データに対しては、観測日から30日以内に故障は発生していないので「非故障」ラベルが付与される。
次に、ステップS103の確率モデル学習処理の詳細について図7を用いて説明する。図7は、第1の実施の形態の評価装置100による確率モデル学習処理の全体の流れを示すフローチャートである。
まず、荷重値算出部111が、稼働データの観測数に応じて、各稼働データに対して荷重値を設定する(ステップS301)。荷重値は、以下の(1)式で計算される。なお、Nは全製品数を表し、Mは製品j(1≦j≦N)の稼働データ数を表す。
Figure 2011209879
図8は、観測した稼働データ数の一例を示した図である。また、図9は、図8のような稼働データに対して(1)式により算出される荷重値を示した図である。図9の製品1の例では、全製品の稼働データ観測数=1000、製品1の稼働データ観測数=80であるため、荷重値は12.5=1000/80と算出される。後述するように、各製品の稼働データの件数をカウントする際にはこの荷重値が掛けられる。また、尤度の計算時にもこの荷重値が掛けられる。
図7に戻り、次に初期モデル算出部112が、故障確率モデルを構築する際の初期モデルを設定する(ステップS302)。学習部110は、この初期モデルをベースにしてモデルの修正を行う。
初期モデル算出部112は、「故障」ラベルおよび「非故障」ラベルが付与された稼働データのみを用いて初期モデルを設定する。すなわち、初期モデル算出部112は「ラベルなし」が付与された稼働データは用いない。
図10および図11は、初期モデル算出部112による初期モデル算出の一例を示す説明図である。初期モデル算出部112は、故障製品および非故障製品のそれぞれについて、稼働データの各項目(例:温度、加速度、電流など)の取る値の分布を項目ごとに求めて、初期モデルを構築する。故障製品の分布を求める際には、モデル構築に用いる稼働データのうち、全ての故障製品の「故障」ラベルが付与された全ての観測日時での稼働データを用いる。非故障製品の分布を求める際は、全ての製品の「非故障」ラベルが付与された全ての観測日時での稼働データを用いる。
図10の例のように、連続値を取る項目の場合は、値を区分してヒストグラムを求めてもよいし、正規分布のようなパラメトリックな分布を適用してもよい。一方、図11のような離散値を取る項目の場合は、ヒストグラムの適用が適している。
初期モデル算出部112は、稼働データの各項目の値別の出現頻度をカウントする際に、荷重値算出部111により算出された荷重値を用いて出現頻度をカウントする。そして、初期モデル算出部112は、全区間で積分して1になるように規準化した頻度分布を求める。
初期モデル算出部112は、稼働データの値の分布のパラメータの初期値を求める。以下では、稼働データの内、ある1つの収集項目i(例:温度)の分布のパラメータの初期値を求める方法について説明する。故障製品に対する初期値をθi1 ini、非故障製品に対する初期値をθi0 iniとする。また、混合係数の初期値πi0 iniおよびπi1 iniを、以下の(2)式により算出する。
Figure 2011209879
ここで、Nは「故障」ラベルが付与されている稼働データの観測数、Nは、「非故障」ラベルが付与されている稼働データの観測数を表す。
図7に戻り、次に期待値算出部113および尤度最大化部114が、「故障」ラベルおよび「非故障」ラベルが付与されている稼働データに加え、「ラベルなし」のデータも用いて故障確率モデルの構築を行う(ステップS303、ステップS304)。以下に故障確率モデルを構築するアルゴリズムを説明する。説明に用いる記号を以下の(3)式に示す。
Figure 2011209879
zは、各製品の各稼働データに付与されるラベルを表す潜在変数である。「ラベルなし」の稼働データについては、zは観測されない。
故障製品と非故障製品の稼働データの項目iの混合分布を以下の(4)式で表す。
Figure 2011209879
潜在変数がすべて観測できたと仮定した場合、すなわち、ラベルなしの稼働データのラベルがすべて判明している場合の完全尤度関数は、以下の(5)式で表すことができる。
Figure 2011209879
したがって、このとき対数完全尤度関数は、以下の(6)式で表せる。
Figure 2011209879
ところが実際には、ラベルなしの稼働データの場合、潜在変数zijkcは観測できない。そこで、期待値算出部113は、潜在変数の事後分布に関して完全尤度関数の期待値を求める(ステップS303)。以下の(7)式で表される潜在変数の事後分布に関するzijkcの期待値(負担率)は、以下の(8)式で求められる。
Figure 2011209879
なお、製品jの稼働データkがラベルなしの場合は、上記(8)式で計算されるが、「非故障」ラベルおよび「故障」ラベルが付与されている場合は、それぞれ以下の(9)式および(10)式のように表される。
Figure 2011209879
完全対数尤度関数のzに関する期待値は、以下の(11)式で算出される。
Figure 2011209879
ここで、期待値算出部113は、(1)式で計算される荷重値を考慮して、以下の(12)式で表される重み付き対数尤度関数を計算する。なお、(1)式に示すように、wは稼働データがいずれの製品の稼働データであるかによって異なる値である。
Figure 2011209879
尤度最大化部114は、zに関する期待値をとり、荷重値を掛けた上記(11)式の対数完全尤度関数を最大化する(ステップS304)。Q関数を以下の(13)式のように定義する。
Figure 2011209879
ただし、θ old、π oldの値には、上記(8)式で用いているθ、πを用いる。また、(8)式より以下の(14)式が成り立つ。
Figure 2011209879
尤度最大化部114は、以下の(15)式を用いて、Q関数を混合係数πに関して最大化する。
Figure 2011209879
以下の(16)式に示す制約式を満たすため、(15)式のπ newは、以下の(17)式のようにラグランジュ未定乗数法によって求められる。
Figure 2011209879
また、尤度最大化部114は、以下の(18)式を用いて、Q関数を分布パラメータθに関して最大化する。
Figure 2011209879
以上の処理により、Q関数を最大化するθ、πが算出されたら、(14)式のθ old、π oldに代入し、(14)式の左辺の値を計算する。そして、尤度最大化部114は、(13)式で計算されるQ関数の最大化を再び行う。
学習部110は、ステップS303、ステップS304の計算を再帰的に繰り返して行い、尤度最大化計算が収束したか否かを判断する(ステップS305)。尤度最大化計算が収束していない場合(ステップS305:No)、学習部110は上記計算を繰り返す。尤度最大化計算が収束した場合(ステップS305:Yes)、学習部110は確率モデル学習処理を終了する。例えば、学習部110は、Q関数の変化幅、および、パラメータθ、πの変化幅のうち少なくとも1つが所定の閾値より小さくなったときに、尤度最大化計算が収束したと判断する。そして、学習部110は、収束したときのθ、πを故障確率モデルのパラメータ推定値とする。なお、θ old、π oldの初期値は、初期モデル算出部112で求めたθi0 ini、θi1 ini、πi0 ini、πi1 iniとする。
学習部110は、稼働データの各項目iについてそれぞれ独立に故障確率モデルのパラメータを求める。学習部110は、求めたパラメータをモデル記憶部153に記憶する。
以上のような処理により、「故障」、「非故障」、および「ラベルなし」の稼働データから、故障製品の分布および非故障製品の分布が学習される。本実施の形態によるラベルなしデータを用いた故障確率モデル構築は、特に、故障データおよび非故障データの数が少なく、ラベルなしデータの割合が大きいときに大きな効果を得られる。少数の故障データおよび非故障データのみを用いたモデルは精度が低いのに対し、ラベルがないデータの観測値についての情報も活用する本実施の形態によって、モデルの精度の向上が期待される。
図6に例示するように、製品の出荷開始直後は、故障データおよび非故障データの数が少なく、ラベルなしデータの割合が大きい、という状況に該当する。製品に対する出荷開始直後の監視は、品質管理の上で非常に重要であり、本実施の形態によって得られる高精度のモデル構築効果には意義がある。
また本実施の形態で得られるモデルは、稼働データの値の分布を見て、製品が故障に近いことを警告することに活用できる。すなわち、構築された故障確率モデルは、時系列稼働データの「値」の監視に利用できる。その際、値の時間変化に関する情報は用いていないが、時系列データの監視で広く用いられている上限値、下限値といった閾値との比較による監視よりは、高度の監視が可能である。
次に、ステップS104の稼働データ評価処理の詳細について図12を用いて説明する。図12は、第1の実施の形態の評価装置100による稼働データ評価処理の全体の流れを示すフローチャートである。
評価部120は、比較部121による故障・非故障確率比較処理(ステップS401)、および、順位算出部122による故障確率順位算出処理(ステップS402)を実行する。なお、故障・非故障確率比較処理および故障確率順位算出処理は互いに独立に実行することができる。したがって、評価部120が、故障・非故障確率比較処理および故障確率順位算出処理のうち少なくとも1つを実行するように構成してもよい。
故障・非故障確率比較処理では、比較部121は、評価対象の稼働データが、故障製品および非故障製品のいずれの分布に近いかを求める。本実施の形態ではナイーブベイズ識別を用いた識別を行い、稼働データの各収集項目iが独立であると仮定する。すなわち、以下の(19)式が成り立つものとする。
Figure 2011209879
なお、Dは稼働データの項目数であり、cは故障か非故障かを表す変数(故障のとき1、非故障のとき0)、xは、稼働データのi番目の収集項目を表す。このとき、製品jの稼働データiに対する故障または非故障のラベル付与結果は、以下の(20)式により算出する。
Figure 2011209879
なお、xijkは、j番目の製品の、i番目の稼働データ収集項目の、k番目の稼働データの値を表す。θic、πicは、学習部110で求めた値を用いる。
また、複数の観測点での以下の(21)式を満たす稼働データkを用いて製品jが故障か非故障かを判別する場合は、比較部121は、以下の(22)式によって識別結果を求める。
Figure 2011209879
なお、ナイーブベイズ識別法(または単純ベイズ分類法)は、機械学習のひとつの手法であり、比較的よい識別性能が実験で得られることが知られている(例えば、P. Domingos and M. Pazzani, "On The Optimality of The Simple Bayesian Classifier under Zero-One Loss", Machine Learning, 29, pp.103-130, 1997.)。なお、識別方法はナイーブベイズ識別法に限られるものではなく、例えばロジスティック回帰モデルなどを用いてもよい。
故障確率順位算出処理では、順位算出部122は、複数の製品の稼働状況の比較を行い、製品jの稼働状況の相対的な評価を行う。順位算出部122は、以下の(23)式に示すように、事後故障確率の対数をとり、判別に用いる稼働データの観測数|K|で割った値を評価結果として用いる。
Figure 2011209879
図13は、故障確率順位算出処理の具体例を示す図である。図13の例では、クライアントPCなどの製品200で評価結果Rを計算し、評価結果をサーバに送信する。すなわち、図13は、評価部120の機能を製品200が備える例を示している。この例では、例えば構築した故障確率モデルが各製品200に送信され、各製品200が、送信された故障確率モデルを用いて自装置の稼働データから評価結果を算出する。このような構成により負荷分散の効果が得られる。
結果記憶部154は、送信された評価部120の評価結果Rを記憶する。他の製品200の評価結果は、他の製品200で計算され、送信された評価結果が評価装置100の結果記憶部154に保持される。評価装置100の順位算出部122は、評価結果の相対順位を計算して(ソート処理、順位決定)、製品200に算出した順位を返す。なお、別の形態として、クライアントPC(製品200)が結果記憶部154を保持するように構成してもよい。
評価装置100内に評価部120を備える場合は、出力部131が、評価部120の評価結果をディスプレイなどの表示装置やネットワークへ出力する。
(変形例)
本変形例では、ラベル付与部102が「故障」ラベルおよび「非故障」ラベルを付与する際に用いる、稼働データの観測から故障発生までの指定期間を可変の値とする。
図6の例では、稼働データ観測から30日以内に故障が起こった稼働データに対して、「故障」ラベルを付与し、故障から30日より前の観測日の稼働データについては、「非故障」ラベルが付与される。本変形例では、この稼働データの観測から故障発生までの指定期間(図6では30日)を任意の可変の値とする。
上記の指定期間は、稼働データを観測したときに「何日以内に故障するか、しないか」ということを意味するので、構築する識別モデルの使われ方によって設定値を変えられるのが望ましい。これにより、例えば、通常の稼働データの監視では「30日以内に故障するか、しないか」という監視を行い、出荷開始直後など詳細な監視を行いたいときには「7日以内に故障するか、しないか」という短期間の監視を行うことができる。
図14は、第1の実施の形態の変形例によるラベル付与処理の全体の流れを示すフローチャートである。図14では、ステップS502で、観測からの指定期間を任意の値に指定できるようにする点が、図5のフローチャートと異なっている。その他の処理は図5と同様であるため説明を省略する。
このように、第1の実施の形態にかかる評価装置では、観測した稼働データに対して「故障」、「非故障」、および「ラベルなし」というラベルを付与し、ラベルなしの稼働データも用いて故障確率モデルを構築し、構築した故障確率モデルにより稼働データを評価する。これにより、出荷開始直後など稼働データが少ない状況であっても、精度の高い故障・非故障判別モデルの構築を実現できる。また、この構築モデルを用いることにより、各ユーザの使用状況に対して、故障および非故障のいずれの使い方に近いかの判別分析や、全ユーザの中での故障確率ランク付けといった評価が可能になる。
(第2の実施の形態)
第1の実施の形態では、図6に示すように、観測打ち切り日から30日以内の観測日の稼働データに対しては、観測日から30日以内に故障が発生するか発生しないかはわからないため「ラベルなし」が付与される。
しかし、例えば観測打ち切り日(X日とする)から25日前の観測日(Y日とする)の稼働データについては、観測後25日間は故障していないことがわかっていて、観測打ち切り後5日間について故障か非故障かがわからない。従って、この場合は、Y日から30日以内に故障する確率は、X日から30日以内に故障する確率よりも、低いといえる。本実施の形態ではこのような状況を考慮し、「ラベルなし」が付与された稼働データについて、故障確率モデル構築時の扱い方を第1の実施の形態から変更する。
図15は、第2の実施の形態にかかる評価装置1500の構成の一例を示すブロック図である。図15に示すように、第2の実施の形態では、期待値算出部1513の機能が第1の実施の形態と異なっている。その他の構成および機能は、第1の実施の形態にかかる評価装置100の構成を表すブロック図である図1と同様であるので、同一符号を付し、ここでの説明は省略する。
以下では、故障確率が時間によらず一定(1日間に故障する確率をPとする)であると仮定する。「故障」ラベルおよび「非故障」ラベルを付与する際の、稼働データの観測から故障発生までの指定期間(上記例では30日)をTとする。ここで、製品jの観測打ち切り日Xから、指定期間Tが観測日Yより経過するY+T日までの、期間τ=Y+T−X日以内に製品jが故障する確率は、以下の(24)式により表される。期間Tの間の故障確率と期間τの間の故障確率の比は以下の(25)式により表される。(25)式では、1日間に故障する確率は非常に小さい(P<<1)として近似している。
Figure 2011209879
そこで、本実施の形態では、ラベルなしデータに対する(14)式を次の(26)式および(27)式に変更する。
Figure 2011209879
この変更により、(T−τ=X−Y)の期間は非故障であるという製品jに関する情報を利用することになり、モデルの高精度化が期待できる。
次に、第1および第2の実施の形態にかかる評価装置のハードウェア構成について図16を用いて説明する。図16は、第1および第2の実施の形態にかかる評価装置のハードウェア構成を示す説明図である。
第1および第2の実施の形態にかかる評価装置は、CPU(Central Processing Unit)51などの制御装置と、ROM(Read Only Memory)52やRAM(Random Access Memory)53などの記憶装置と、ネットワークに接続して通信を行う通信I/F54と、HDD(Hard Disk Drive)、CD(Compact Disc)ドライブ装置などの外部記憶装置と、ディスプレイ装置などの表示装置と、キーボードやマウスなどの入力装置と、各部を接続するバス61を備えており、通常のコンピュータを利用したハードウェア構成となっている。
第1および第2の実施の形態にかかる評価装置で実行される評価プログラムは、インストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでCD−ROM(Compact Disk Read Only Memory)、フレキシブルディスク(FD)、CD−R(Compact Disk Recordable)、DVD(Digital Versatile Disk)等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録されてコンピュータプログラムプロダクトとして提供される。
また、第1および第2の実施の形態にかかる評価装置で実行される評価プログラムを、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納し、ネットワーク経由でダウンロードさせることにより提供するように構成してもよい。また、第1および第2の実施の形態にかかる評価装置で実行される評価プログラムをインターネット等のネットワーク経由で提供または配布するように構成してもよい。
また、第1および第2の実施の形態の評価プログラムを、ROM等に予め組み込んで提供するように構成してもよい。
第1および第2の実施の形態にかかる評価装置で実行される評価プログラムは、上述した各部(収集部、ラベル付与部、学習部、評価部、出力部)を含むモジュール構成となっており、実際のハードウェアとしてはCPU51(プロセッサ)が上記記憶媒体から評価プログラムを読み出して実行することにより上記各部が主記憶装置上にロードされ、上述した各部が主記憶装置上に生成されるようになっている。
なお、本発明は、上記実施の形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化することができる。また、上記実施の形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成することができる。例えば、実施の形態に示される全構成要素からいくつかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施の形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
51 CPU
52 ROM
53 RAM
54 通信I/F
61 バス
100、1500 評価装置
101 収集部
102 ラベル付与部
110 学習部
111 荷重値算出部
112 初期モデル算出部
113、1513 期待値算出部
114 尤度最大化部
120 評価部
121 比較部
122 順位算出部
131 出力部
151 稼働データ記憶部
152 故障データ記憶部
153 モデル記憶部
154 結果記憶部
200 製品

Claims (7)

  1. 製品の稼働データを記憶する稼働データ記憶部と、
    前記稼働データの観測日時から指定時間以内に製品が故障した前記稼働データに対して故障したことを表す故障ラベルを付与し、前記観測日時から指定時間以内に製品が故障していない前記稼働データに対して故障していないことを表す非故障ラベルを付与し、前記観測日時から指定時間以内に製品が故障したか否か不明である前記稼働データに対して前記故障ラベルおよび前記非故障ラベルのいずれも付与しないラベル付与部と、
    前記故障ラベルまたは前記非故障ラベルが付与された前記稼働データと、前記故障ラベルおよび前記非故障ラベルのいずれも付与されていない前記稼働データとを用いて前記稼働データの分布を学習し、製品が故障する確率をモデル化した故障モデルを作成する学習部と、
    前記故障モデルと前記稼働データとに基づいて、製品が故障する確率を評価する評価部と、
    を備えることを特徴とする評価装置。
  2. 前記学習部は、
    前記稼働データに対する前記故障モデルの確からしさを表す尤度の期待値を算出する期待値算出部と、
    前記期待値を最大化する前記故障モデルのパラメータを算出する尤度最大化部と、を備えること、
    を特徴とする請求項1に記載の評価装置。
  3. 前記学習部は、
    前記稼働データの観測数が大きい製品ほど値が大きい荷重値を製品ごとに算出する荷重値算出部をさらに備え、
    前記期待値算出部は、前記稼働データごとに前記荷重値で重み付けした前記期待値を算出すること、
    を特徴とする請求項2に記載の評価装置。
  4. 前記期待値算出部は、ラベルが付与されていない前記稼働データに対して、指定時間と前記観測日時から前記稼働データの観測が打ち切られるまでの時間との差分が小さい前記稼働データほど、故障していないことを表すラベルの確からしさが大きくなる前記期待値を算出すること、
    を特徴とする請求項2に記載の評価装置。
  5. 前記評価部は、前記故障モデルと前記稼働データとに基づいて、製品が故障する確率と製品が故障しない確率とを算出し、製品が故障する確率が、製品が故障しない確率より大きい場合に、製品が故障すると評価すること、
    を特徴とする請求項1に記載の評価装置。
  6. 前記評価部は、さらに、前記故障モデルと前記稼働データとに基づいて、製品が故障する確率が大きいほど値が大きい評価値を製品ごとに算出し、前記評価値の順位を算出すること、
    を特徴とする請求項1に記載の評価装置。
  7. 製品の稼働データを記憶する稼働データ記憶部を備える評価装置を、
    前記観測日時から指定時間以内に製品が故障した前記稼働データに対して故障したことを表すラベルを付与し、前記観測日時から指定時間以内に製品が故障していない前記稼働データに対して故障していないことを表すラベルを付与し、前記観測日時から指定時間以内に製品が故障したか否か不明である前記稼働データに対してラベルを付与しないラベル付与部と、
    ラベルが付与された前記稼働データとラベルが付与されていない前記稼働データとを用いて前記稼働データの分布を学習し、製品が故障する確率をモデル化した故障モデルを作成する学習部と、
    前記故障モデルと前記稼働データとに基づいて、製品が故障するか否かを評価する評価部と、
    として機能させるための評価プログラム。
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Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013109483A (ja) * 2011-11-18 2013-06-06 Fuji Xerox Co Ltd 障害予測システム、障害予測装置及びプログラム
WO2014147865A1 (en) 2013-03-18 2014-09-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Information processing system, control program, and information processing device
WO2015029150A1 (ja) * 2013-08-28 2015-03-05 株式会社 日立製作所 保守サービス方法および保守サービスシステム
JP2015516620A (ja) * 2012-03-12 2015-06-11 ノキア ソリューションズ アンド ネットワークス オサケユキチュア 通信ネットワークにおけるサービスアクセス経験品質問題の予想及び根本原因の推奨
JP2017027124A (ja) * 2015-07-16 2017-02-02 株式会社リコー 情報処理システム、情報処理装置、プログラム及び故障予測ロジック組込方法
KR20170048185A (ko) * 2015-10-26 2017-05-08 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 시계열 데이터 처리 방법, 시계열 데이터 처리 프로그램, 및, 시계열 데이터 처리 장치
JP2017126158A (ja) * 2016-01-13 2017-07-20 日本電信電話株式会社 2値分類学習装置、2値分類装置、方法、及びプログラム
JP2017151686A (ja) * 2016-02-24 2017-08-31 日本電信電話株式会社 分析データ選択装置および分析データ選択方法
JP2017211930A (ja) * 2016-05-27 2017-11-30 ファナック株式会社 寿命故障条件を学習する機械学習装置,故障予知装置,機械システムおよび機械学習方法
JP2018072029A (ja) * 2016-10-25 2018-05-10 ファナック株式会社 学習モデル構築装置、故障予測システム、学習モデル構築方法及び学習モデル構築プログラム
JP2019008675A (ja) * 2017-06-27 2019-01-17 ファナック株式会社 故障予測装置及び機械学習装置
JP2020042398A (ja) * 2018-09-07 2020-03-19 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置及び解析システム
JP2020135739A (ja) * 2019-02-25 2020-08-31 株式会社東芝 障害予兆検知システム
JP2021081774A (ja) * 2019-11-14 2021-05-27 Necプラットフォームズ株式会社 管理システム、管理方法およびプログラム

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5586718B2 (ja) 2012-06-19 2014-09-10 株式会社東芝 制御プログラム、ホスト装置の制御方法、情報処理装置およびホスト装置
US9183238B2 (en) 2013-03-15 2015-11-10 Google Inc. Providing task-based information
JP2014228887A (ja) * 2013-05-17 2014-12-08 株式会社東芝 稼働データ分析装置およびその方法、ならびにプログラム
JP2019066399A (ja) * 2017-10-04 2019-04-25 三菱電機株式会社 半導体装置仕分けシステムおよび半導体装置
JP7080065B2 (ja) * 2018-02-08 2022-06-03 株式会社Screenホールディングス データ処理方法、データ処理装置、データ処理システム、およびデータ処理プログラム
US11394626B2 (en) 2018-12-06 2022-07-19 Sap Se Digital services framework
US11496584B2 (en) * 2018-12-06 2022-11-08 Sap Se Extraction and distribution of content packages in a digital services framework
US11532490B2 (en) * 2019-08-22 2022-12-20 Micron Technology, Inc. Semiconductor packages with indications of die-specific information

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009070071A (ja) * 2007-09-12 2009-04-02 Toshiba Corp 学習型プロセス異常診断装置、およびオペレータ判断推測結果収集装置
JP2010049551A (ja) * 2008-08-22 2010-03-04 Toshiba Corp 障害監視装置および障害監視方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5971596A (en) * 1995-06-16 1999-10-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Constraint condition evaluation method and constraint condition evaluation system
US5767406A (en) * 1996-09-30 1998-06-16 Ford Motor Company Method to specify random vibration tests for product durability validation
US8050964B2 (en) * 1999-05-06 2011-11-01 Etagz, Inc. Computer-readable medium product label apparatus and method
US20040024657A1 (en) * 2000-03-20 2004-02-05 Siemens Energy & Automation Method, system and apparatus for providing product information over the internet
US6704664B2 (en) * 2001-12-18 2004-03-09 Visteon Global Technologies, Inc. Fatigue sensitivity determination procedure
US6963277B2 (en) * 2002-03-26 2005-11-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of and system for monitoring behavior of group of persons, and computer program product
US6909994B2 (en) * 2002-11-25 2005-06-21 General Electric Company Method, system and computer product for performing failure mode and effects analysis throughout the product life cycle
US20050222815A1 (en) * 2004-03-31 2005-10-06 Kevin Tolly System and method for testing and certifying products
GB2434442A (en) * 2006-01-16 2007-07-25 Ingenia Holdings Verification of performance attributes of packaged integrated circuits
US7962302B2 (en) * 2008-12-08 2011-06-14 International Business Machines Corporation Predicting wafer failure using learned probability
JP4764490B2 (ja) * 2009-03-30 2011-09-07 株式会社東芝 ハードウェア使用状況に応じたユーザー評価装置
WO2011036756A1 (ja) * 2009-09-24 2011-03-31 株式会社東芝 電子機器システム
US20120084220A1 (en) * 2010-10-01 2012-04-05 Intertek Consumer Goods Na Product certification system and method
WO2012044923A1 (en) * 2010-10-01 2012-04-05 Intertek Consumer Goods Na Product certification system and method

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009070071A (ja) * 2007-09-12 2009-04-02 Toshiba Corp 学習型プロセス異常診断装置、およびオペレータ判断推測結果収集装置
JP2010049551A (ja) * 2008-08-22 2010-03-04 Toshiba Corp 障害監視装置および障害監視方法

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013109483A (ja) * 2011-11-18 2013-06-06 Fuji Xerox Co Ltd 障害予測システム、障害予測装置及びプログラム
JP2015516620A (ja) * 2012-03-12 2015-06-11 ノキア ソリューションズ アンド ネットワークス オサケユキチュア 通信ネットワークにおけるサービスアクセス経験品質問題の予想及び根本原因の推奨
US9619170B2 (en) 2013-03-18 2017-04-11 Kabushiki Kaisha Toshiba Information processing system having a data migration log
US10089027B2 (en) 2013-03-18 2018-10-02 Toshiba Memory Corporation Information processing system
US9811277B2 (en) 2013-03-18 2017-11-07 Toshiba Memory Corporation Information processing system
WO2014147865A1 (en) 2013-03-18 2014-09-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Information processing system, control program, and information processing device
WO2015029150A1 (ja) * 2013-08-28 2015-03-05 株式会社 日立製作所 保守サービス方法および保守サービスシステム
JPWO2015029150A1 (ja) * 2013-08-28 2017-03-02 株式会社日立製作所 保守サービス方法および保守サービスシステム
JP2017027124A (ja) * 2015-07-16 2017-02-02 株式会社リコー 情報処理システム、情報処理装置、プログラム及び故障予測ロジック組込方法
KR20170048185A (ko) * 2015-10-26 2017-05-08 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 시계열 데이터 처리 방법, 시계열 데이터 처리 프로그램, 및, 시계열 데이터 처리 장치
US10956451B2 (en) 2015-10-26 2021-03-23 SCREEN Holdings Co., Ltd. Time-series data processing method, recording medium having recorded thereon time-series data processing program, and time-series data processing device
KR101907269B1 (ko) * 2015-10-26 2018-10-11 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 시계열 데이터 처리 방법, 시계열 데이터 처리 프로그램, 및, 시계열 데이터 처리 장치
JP2017126158A (ja) * 2016-01-13 2017-07-20 日本電信電話株式会社 2値分類学習装置、2値分類装置、方法、及びプログラム
JP2017151686A (ja) * 2016-02-24 2017-08-31 日本電信電話株式会社 分析データ選択装置および分析データ選択方法
CN107436595A (zh) * 2016-05-27 2017-12-05 发那科株式会社 机械学习装置、故障预测装置、机械系统及机械学习方法
CN107436595B (zh) * 2016-05-27 2020-01-21 发那科株式会社 机械学习装置、故障预测装置、机械系统及机械学习方法
JP2017211930A (ja) * 2016-05-27 2017-11-30 ファナック株式会社 寿命故障条件を学習する機械学習装置,故障予知装置,機械システムおよび機械学習方法
JP2018072029A (ja) * 2016-10-25 2018-05-10 ファナック株式会社 学習モデル構築装置、故障予測システム、学習モデル構築方法及び学習モデル構築プログラム
JP2019008675A (ja) * 2017-06-27 2019-01-17 ファナック株式会社 故障予測装置及び機械学習装置
JP2020042398A (ja) * 2018-09-07 2020-03-19 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置及び解析システム
JP7236231B2 (ja) 2018-09-07 2023-03-09 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置及び解析システム
JP2020135739A (ja) * 2019-02-25 2020-08-31 株式会社東芝 障害予兆検知システム
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