JP2011209177A - X-ray inspection device and method for operating the same - Google Patents

X-ray inspection device and method for operating the same Download PDF

Info

Publication number
JP2011209177A
JP2011209177A JP2010078468A JP2010078468A JP2011209177A JP 2011209177 A JP2011209177 A JP 2011209177A JP 2010078468 A JP2010078468 A JP 2010078468A JP 2010078468 A JP2010078468 A JP 2010078468A JP 2011209177 A JP2011209177 A JP 2011209177A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
image quality
simulated
image
quality level
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010078468A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5466560B2 (en
Inventor
Masayuki Hidaka
雅之 日高
Masahiro Yagi
将博 八木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Infivis Co Ltd
Original Assignee
Anritsu Infivis Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Infivis Co Ltd filed Critical Anritsu Infivis Co Ltd
Priority to JP2010078468A priority Critical patent/JP5466560B2/en
Publication of JP2011209177A publication Critical patent/JP2011209177A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5466560B2 publication Critical patent/JP5466560B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray inspection device capable of normally performing determination of quality even undergoing an influence of aging.SOLUTION: The X-ray inspection device includes an X-ray generator, an X-ray detector, an X-ray transmission image forming part, and a quality determination part; wherein the quality determination part has a simulated degraded-image-quality level setting means, and the simulated degraded-image-quality level setting means sets a simulated degraded-image-quality level which is a desired level of a degraded image of a non-defective image of an X-ray transmission image determined to be good based on a determination standard in order to make the X-ray inspection device into a simulated degraded condition; the X-ray inspection device is made into the simulated degraded condition by controlling at least one of the X-ray generator, the X-ray detector, the X-ray transmission image forming part correspondingly to the set simulated degraded-image-quality level; and the X-ray inspection device under the simulated degraded condition includes an operation confirmation part for confirming the quality determination to be normal.

Description

本発明は、X線発生器およびX線検出器を備えるX線検査装置、特にX線発生器およびX線検出器の経年変化を考慮して正常動作できるようにしたX線検査装置に関し、さらにはX線検査装置の動作方法に関するものである。   The present invention relates to an X-ray inspection apparatus including an X-ray generator and an X-ray detector, and more particularly to an X-ray inspection apparatus capable of operating normally in consideration of secular changes of the X-ray generator and X-ray detector, Relates to an operation method of the X-ray inspection apparatus.

従来、生肉,魚などの生鮮食品、パンなどの加工食品、医薬品、工業製品などの製品、あるいは製品を包装したパッケージ内に混入された異物(金属,ガラス,プラスチック,石,骨など)を検出したり、製品の変形(割れや欠け)を検査したり、あるいは製品の欠落(個数不足)を検査するX線検査装置がある。このようなX線検査装置は、例えば生産ラインに設置されて、ベルトコンベアのような搬送手段によって搬送されてくる製品(被検査物)を検査している。   Conventionally, it detects fresh foods such as raw meat and fish, processed foods such as bread, products such as pharmaceuticals and industrial products, or foreign substances (metal, glass, plastic, stones, bones, etc.) mixed in packages that package the products. There is an X-ray inspection apparatus for inspecting product deformation (cracking or chipping) or inspecting product missing (number shortage). Such an X-ray inspection apparatus is installed in a production line, for example, and inspects a product (inspected object) conveyed by a conveying means such as a belt conveyor.

X線検査装置は、被検査物にX線を照射するX線発生器と、被検査物を透過したX線を検出するX線検出器と、X線発生器からの濃度信号を画像処理してX線透過画像を作成し、この画像から被検査物の良否を判定する画像処理装置とを備えている。   The X-ray inspection apparatus performs image processing on an X-ray generator that irradiates the inspection object with X-rays, an X-ray detector that detects X-rays transmitted through the inspection object, and a density signal from the X-ray generator. An image processing apparatus that creates an X-ray transmission image and determines the quality of the inspection object from the image.

X線発生器は、例えば、金属製の箱体内部に設けられる円筒状のX線管が絶縁油により浸漬されており、X線管の陰極からの電子ビームを陽極ターゲットに照射させてX線を生成するようになっている。生成されるX線の線量は、X線管に流す管電流により調整される。   In the X-ray generator, for example, a cylindrical X-ray tube provided inside a metal box is immersed in insulating oil, and an X-ray is irradiated by irradiating an anode target with an electron beam from the cathode of the X-ray tube. Is supposed to generate. The dose of the generated X-ray is adjusted by the tube current flowing through the X-ray tube.

他方、X線検出器は、例えば、ライン状に配列された複数のフォトダイオードと、フォトダイオード上に設けられたシンチレータとを備えたアレイ状のラインセンサが用いられる。シンチレータはX線のエネルギーを吸収し光に変換する。シンチレータで変換された光は、フォトダイオードで濃度を表す電気信号に変換される。この電気信号は、A/D変換され、画像処理装置に送られる。   On the other hand, for the X-ray detector, for example, an arrayed line sensor including a plurality of photodiodes arranged in a line and a scintillator provided on the photodiode is used. The scintillator absorbs X-ray energy and converts it into light. The light converted by the scintillator is converted into an electric signal representing the concentration by the photodiode. This electric signal is A / D converted and sent to the image processing apparatus.

画像処理装置では、濃度を表すデジタル信号からX線透過画像を作成し、X線透過画像を画像処理して、製品の検査を行なっている。   In the image processing apparatus, an X-ray transmission image is created from a digital signal representing density, and the product is inspected by performing image processing on the X-ray transmission image.

一般に、X線検出器が発生するX線の線量およびX線検出器の感度は、時間の経過とともに変化する(経年変化)。このため、X線透過画像の画質が低下し、X線検査装置の感度が低下してくる、すなわち検査精度が落ちてくる。   In general, the dose of X-rays generated by the X-ray detector and the sensitivity of the X-ray detector change with time (aging). For this reason, the image quality of the X-ray transmission image is lowered and the sensitivity of the X-ray inspection apparatus is lowered, that is, the inspection accuracy is lowered.

したがって、X線検査装置には感度を補正する機能が備えられており、X線検査装置を作動開始する時点で、感度を補正している(感度補正)。このような感度補正を行なって、X線発生器およびX線検出器の経年変化が検査精度に与える影響を排除している(例えば、特許文献1参照)。   Therefore, the X-ray inspection apparatus has a function of correcting the sensitivity, and the sensitivity is corrected at the time when the operation of the X-ray inspection apparatus is started (sensitivity correction). Such sensitivity correction is performed to eliminate the influence of the secular change of the X-ray generator and the X-ray detector on the inspection accuracy (see, for example, Patent Document 1).

特開2001−4560号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2001-4560

しかし、X線検査装置の感度補正は、製造ラインの可動開始時、例えば始業時に行なわれたら、その動作条件のまま終業時まで稼働されることが一般的である。   However, if the sensitivity correction of the X-ray inspection apparatus is performed at the start of movement of the production line, for example, at the start of work, it is generally operated until the end of work with the operating conditions.

このような稼働では、感度補正と感度補正と短期間の間に生じる経年変化の影響によってX線検査装置の検査精度が低下したような場合には、X線検査装置で良否判定を正常に実行できなくなり、不良品が誤って良品として誤判定されてしまう恐れがあった。   In such an operation, when the inspection accuracy of the X-ray inspection apparatus is reduced due to the sensitivity correction, the sensitivity correction, and the influence of secular change during a short period of time, the X-ray inspection apparatus normally performs the pass / fail judgment. There is a risk that a defective product may be erroneously determined as a non-defective product.

このような状況が生じないように、感度補正を頻繁に行なうことが考えられるが、そのたびに製造ラインを止めなければならないので、効率的ではない。また、X線発生器の発生するX線の線量あるいはX線検出器の感度を常時監視することが考えられるが、このような機能を持たせるとX線検査装置の構成が複雑になるという問題がある。   In order to prevent such a situation from occurring, it is conceivable to frequently perform sensitivity correction, but this is not efficient because the production line must be stopped each time. Further, it is conceivable to constantly monitor the dose of X-rays generated by the X-ray generator or the sensitivity of the X-ray detector. However, if such a function is provided, the configuration of the X-ray inspection apparatus becomes complicated. There is.

したがって、本発明の目的は、感度補正後の動作条件で動作するX線検査装置が、次の感度補正までの短期間中に生じる経年変化の影響で、不良品を誤って良品として誤判定することがないことを確認できるようにしたX線検査装置を提供することにある。   Therefore, an object of the present invention is that an X-ray inspection apparatus operating under the operating condition after sensitivity correction erroneously determines a defective product as a non-defective product due to the influence of secular change that occurs during a short period until the next sensitivity correction. An object of the present invention is to provide an X-ray inspection apparatus capable of confirming that there is no problem.

本発明の他の目的は、このようなX線検査装置の動作方法を提供することにある。   Another object of the present invention is to provide a method for operating such an X-ray inspection apparatus.

本発明は、次のような考えに基づいてなしたものである。すなわち、経年変化によるX線発生器およびX線検出器自体の劣化を直接に監視するのではなく、X線発生器および/またはX線検出器自体の劣化が反映されるX線透過画像の画質を監視することによって、X線発生器および/またはX線検出器自体の劣化を、間接的に認識するようにしている。   The present invention has been made based on the following idea. That is, instead of directly monitoring the deterioration of the X-ray generator and the X-ray detector itself due to secular change, the image quality of the X-ray transmission image reflecting the deterioration of the X-ray generator and / or the X-ray detector itself. By monitoring this, the deterioration of the X-ray generator and / or the X-ray detector itself is indirectly recognized.

X線発生器および/またはX線検出器が経年変化し劣化してくると、X線透過画像の画質は劣化してくる。したがって、画質の劣化が検出されれば、X線発生器および/またはX線検出器には、経年変化による劣化を生じているものと、予測することができる。   When the X-ray generator and / or the X-ray detector changes with time and deteriorates, the image quality of the X-ray transmission image deteriorates. Therefore, if the deterioration of the image quality is detected, it can be predicted that the X-ray generator and / or the X-ray detector are deteriorated due to aging.

ここに、画質の劣化とは、X線透過画像による被検査物の良否判定にあたって、画像の画素の濃度分布がより判定しにくい状態に変化することで、画質劣化度はその度合いである。   Here, the deterioration in image quality refers to the degree of deterioration in image quality when the density distribution of the pixels of the image changes to a state that is more difficult to determine when determining the quality of the inspection object based on the X-ray transmission image.

異物の有無の判定の場合には、画質の劣化により異物の無い画像領域における濃度のばらつきが増加してざらついた画像となり、このざらつきを小さい異物として誤検出することがある(良品を誤って不良品と判定する)。また、画質の劣化により画像全体の濃淡差(コントラスト)がなくなって、濃淡階調の潰れが生じると、異物の有る画像領域と異物の無い画像領域との濃淡差が小さくなり、異物を検出することができなくなる(不良品を誤って良品と判定する)。   In the determination of the presence or absence of foreign matter, the variation in density in an image area free of foreign matter increases due to image quality deterioration, resulting in a rough image. Judged as non-defective). In addition, when the gradation difference (contrast) of the entire image disappears due to the deterioration of image quality and the gradation gradation is crushed, the difference in gradation between the image area with the foreign object and the image area without the foreign object is reduced, and the foreign object is detected. (A defective product is mistakenly determined to be a good product).

被検査物の変形や欠落の場合には、画質が劣化すると、被検査物の画像領域と、被検査物以外の画像領域との境界(エッジ)が、ぼやけたり、濃淡差が小さく不鮮明になって、正しく被検査物の画像領域を抽出できなくなる。   If the inspection object is deformed or missing, if the image quality deteriorates, the boundary (edge) between the image area of the inspection object and the image area other than the inspection object will be blurred, or the difference in shading will be small and unclear. Thus, the image area of the inspection object cannot be correctly extracted.

このような画像劣化の度合い、すなわち画像劣化度は、濃度レベルの差や比で表して設定される。   The degree of such image degradation, that is, the degree of image degradation is set in terms of density level difference or ratio.

そこで、X線検査装置に画像の画質が劣化する状況を意図的に作り出せば、X線発生器および/またはX線検出器の経年変化によりX線検査装置が劣化した状態と等価な状態を模擬的に作ることができる。以下、X線検査装置のこのような状態を、模擬劣化状態というものとする。   Therefore, if a situation in which the image quality of the image deteriorates is intentionally created in the X-ray inspection apparatus, a state equivalent to the state in which the X-ray inspection apparatus deteriorates due to aging of the X-ray generator and / or X-ray detector is simulated. Can be made. Hereinafter, such a state of the X-ray inspection apparatus is referred to as a simulated deterioration state.

製造ラインの可動開始時に、X線検査装置の感度補正を行ない、その後にX線検査装置を模擬劣化状態にする。この状態でX線検査装置の良否判定が正常に実行されることを確認できれば、模擬劣化状態でも良否判定を正常に実行したのであるから、感度補正後の動作条件でX線検査装置を動作させても、次の感度補正までは良否判定を正常に実行するであろうことが保証される。   At the start of movement of the production line, sensitivity correction of the X-ray inspection apparatus is performed, and then the X-ray inspection apparatus is put into a simulated deterioration state. If it can be confirmed that the pass / fail judgment of the X-ray inspection apparatus is normally executed in this state, the pass / fail judgment is normally executed even in the simulated deterioration state. Therefore, the X-ray inspection apparatus is operated under the operating conditions after the sensitivity correction. However, it is guaranteed that the pass / fail judgment will be normally executed until the next sensitivity correction.

X線検査装置を模擬劣化状態にするに際しては、画質をどのレベルにまで劣化させるかが重要になる。本発明では、この目標レベルを、模擬劣化画質レベルというものとする。   When the X-ray inspection apparatus is put into a simulated deterioration state, it is important to what level the image quality is deteriorated. In the present invention, this target level is referred to as a simulated degraded image quality level.

模擬劣化画質レベルは、良品の画像である良品画像に基づいて正しく良品と判定される状態から、良品画像の画質を劣化させていって、不良品と判定されてしまう状態に遷移するに至る前の画質レベルである。すなわち、模擬劣化画質レベルに画質が劣化した良品画像に基づいて良否判定がなされた場合に、良品であると確実に判定されることが保証されるレベルである。   The simulated image quality level is changed from a state in which it is correctly determined to be a non-defective product based on a non-defective image that is a non-defective image to a state in which the image quality of the non-defective image is deteriorated and determined to be a defective product. Is the image quality level. That is, it is a level that is guaranteed to be reliably determined to be a non-defective product when a pass / fail determination is made based on a non-defective image whose image quality has deteriorated to the simulated deteriorated image quality level.

このような模擬劣化画質レベルは、良品画像の画質レベル(L0)から、不良品と判定されてしまう状態に遷移する遷移画質レベル(L1)までの画質劣化の度合いを、画質劣化度Cとした場合、画質劣化度Cの所定割合だけ、例えば(1/2〜4/5)Cだけ、レベルL0から劣化側に戻したレベルL2に設定される。したがって、遷移画質レベルL1と模擬劣化画質レベルL2との間には、最小で(1/5)Cのレベル差が確保される。このレベル差を、余裕度という。   Such a simulated degradation image quality level is defined as the image quality degradation degree C, which is the degree of image quality degradation from the image quality level (L0) of a non-defective image to the transition image quality level (L1) that transitions to a state that is determined to be defective. In this case, the image quality deterioration degree C is set to a level L2 that is returned from the level L0 to the deterioration side by a predetermined ratio, for example, (1/2 to 4/5) C. Therefore, a minimum (1/5) C level difference is ensured between the transition image quality level L1 and the simulated deteriorated image quality level L2. This level difference is called margin.

言い換えれば、模擬劣化画質レベルは余裕度に基づいて設定される。このような余裕度を設ける理由は、模擬劣化画質レベルL2が遷移画質レベルL1に接近しすぎると、すなわち余裕度が小さすぎると、模擬劣化状態のX線検査装置の動作確認時に、良否判定が一定せず、良否判定の確からしさを確認することができないからである。   In other words, the simulated degraded image quality level is set based on the margin. The reason for providing such a margin is that if the simulated degradation image quality level L2 is too close to the transition image quality level L1, that is, if the margin is too small, the pass / fail judgment is made when confirming the operation of the simulated degradation X-ray inspection apparatus. This is because it is not constant and the reliability of the pass / fail judgment cannot be confirmed.

模擬劣化画質レベルは、予め決定されている場合には、予め決定されているレベルを設定すればよいし、あるいはX線検査装置内で演算により求めてもよい。   If the simulated degradation image quality level is determined in advance, the level determined in advance may be set, or may be obtained by calculation in the X-ray inspection apparatus.

そして、模擬劣化状態にあるX線検査装置が良否判定を正常に実行するか否かを、確認する。良否判定を正常に実行することが確認できたならば、製造ラインの稼働開始時におけるX線検査装置の動作条件で、正常な検査を行なうことが可能となる。   Then, it is confirmed whether or not the X-ray inspection apparatus in the simulated deterioration state normally executes the pass / fail determination. If it can be confirmed that the pass / fail judgment is normally executed, it is possible to perform a normal inspection under the operating conditions of the X-ray inspection apparatus at the start of operation of the production line.

したがって、本発明は、被検査物に照射するX線を発生するX線発生器と、被検査物を透過したX線を電気信号に変換するX線検出器と、X線検出器の出力する電気信号に基づいてX線透過画像を形成するX線透過画像形成部と、X線透過画像および予め設定された判定基準に基づいて、被検査物を良否判定する良否判定部とを備えるX線検査装置において、良否判定部は、模擬劣化画質レベル設定手段を有し、模擬劣化画質レベル設定手段は、X線検査装置を模擬劣化状態にするために、判定基準に基づいて良品と判定されるようなX線透過画像である良品画像の画質を劣化させる目標レベルである模擬劣化画質レベルを設定し、設定された前記模擬劣化画質レベルに対応させて、X線発生器,X線検出器,X線透過画像形成部の少なくとも一つを制御して、X線検査装置を模擬劣化状態にし、模擬劣化状態にあるX線検査装置において、良否判定部の良否判定が正常であることを確認する動作確認部をさらに備えている。   Therefore, the present invention provides an X-ray generator that generates X-rays to be irradiated on an object to be inspected, an X-ray detector that converts X-rays transmitted through the object to be inspected into an electrical signal, and an output from the X-ray detector. An X-ray comprising an X-ray transmission image forming unit that forms an X-ray transmission image based on an electrical signal, and a pass / fail determination unit that determines pass / fail of the inspection object based on the X-ray transmission image and a predetermined criterion. In the inspection apparatus, the quality determination unit includes a simulated degradation image quality level setting unit, and the simulated degradation image quality level setting unit is determined to be a non-defective product based on a determination criterion in order to put the X-ray inspection apparatus into a simulated degradation state. A simulated degradation image quality level that is a target level for degrading the image quality of a non-defective image that is an X-ray transmission image is set, and an X-ray generator, an X-ray detector, At least the X-ray transmission image forming part The X-ray inspection apparatus is controlled to be in a simulated deterioration state by controlling one, and the X-ray inspection apparatus in the simulated deterioration state further includes an operation confirmation unit for confirming whether the quality determination unit is normal. .

模擬劣化画質レベル設定手段は、模擬劣化画質レベルが、画質レベルL1に対して所定の余裕度を有するように、模擬劣化画質レベルを設定する。   The simulated degraded image quality level setting unit sets the simulated degraded image quality level so that the simulated degraded image quality level has a predetermined margin with respect to the image quality level L1.

X線発生器,X線検出器,X線透過画像形成部の制御は、以下のようにして行なわれる。   The X-ray generator, X-ray detector, and X-ray transmission image forming unit are controlled as follows.

X線発生器では、設定された模擬劣化画質レベルに対応させてX線の出力を減弱するようにX線発生器の管電流を制御する。X線発生器の管電流を制御すると、X線の照射量が小さくなり、被検査物を透過したX線の透過量も照射量に応じて小さくなるので、X線検出器の出力する電気信号も小さくなり、全体が暗い画像となる。   In the X-ray generator, the tube current of the X-ray generator is controlled so as to attenuate the X-ray output in accordance with the set simulated deterioration image quality level. When the tube current of the X-ray generator is controlled, the amount of X-ray irradiation decreases, and the amount of X-ray transmitted through the object to be inspected also decreases according to the amount of irradiation. Therefore, the electrical signal output from the X-ray detector Becomes smaller and the whole image becomes dark.

X線検出器では、設定された模擬劣化画質レベルに対応させてX線検出器のゲインを小さくするように制御する。X線検出器は、通常より小さいゲインに設定されることにより、被検査物を透過したX線の透過量に対する電気信号のレベルも小さくなり、全体が暗い画像となる。X線検出器の回路で電気信号に重畳される雑音レベルは、出力する電気信号のレベルが小さくなっても、小さくならないので、X線透過量に応じた電気信号のレベルと雑音レベルとの比(S/N比)は、小さくなりX線透過画像はざらついた画像となり、画質が劣化する。   The X-ray detector is controlled so as to reduce the gain of the X-ray detector in accordance with the set simulated deterioration image quality level. By setting the X-ray detector to a gain smaller than usual, the level of the electric signal with respect to the amount of X-rays transmitted through the object to be inspected is reduced, and the entire image becomes a dark image. The noise level superimposed on the electric signal in the circuit of the X-ray detector does not decrease even if the level of the electric signal to be output becomes small. Therefore, the ratio between the level of the electric signal corresponding to the amount of X-ray transmission and the noise level. The (S / N ratio) decreases and the X-ray transmission image becomes a rough image, and the image quality deteriorates.

X線透過画像形成部では、設定された模擬劣化画質レベルに対応させて画像形成部で形成されるX線透過画像の濃度を増減して濃淡差(コントラスト)を小さくするように制御する。具体的には、各画素の濃度を非線形変換して濃淡が潰れるようにしたり、白色ノイズ画像を重ね合わせて画質をざらつかせたりする。濃度の変換式もしくは変換テーブル、白色ノイズ画像の統計量(平均値,分散値)は、予め画質劣化度と対応するように決定され記憶している。   The X-ray transmission image forming unit controls the density difference (contrast) to be reduced by increasing or decreasing the density of the X-ray transmission image formed by the image forming unit in accordance with the set simulated deterioration image quality level. Specifically, the density of each pixel is nonlinearly transformed so that the shading is crushed, or a white noise image is overlaid to roughen the image quality. The density conversion formula or conversion table and the statistic (average value, variance value) of the white noise image are determined and stored in advance so as to correspond to the degree of image quality degradation.

動作確認部は、以上のようにして、X線検査装置を模擬劣化状態にして被検査物を検査し、X線検査装置が良否判定を正常に実行していることの確認を行なう。   As described above, the operation confirmation unit inspects the inspection object with the X-ray inspection apparatus in a simulated deterioration state, and confirms that the X-ray inspection apparatus is normally performing the pass / fail determination.

また、本発明のX線検査装置の動作方法は、X線検査装置の動作開始時に、X線透過画像形成部の感度補正を行ない、X線検査装置を模擬劣化状態にするために、判定基準に基づいて良品と判定されるようなX線透過画像である良品画像の画質を劣化させる目標レベルである模擬劣化画質レベルを設定し、設定された模擬劣化画質レベルに対応させて、X線発生器,X線検出器,X線透過画像形成部の少なくとも一つを制御して、X線検査装置を模擬劣化状態にし、模擬劣化状態にあるX線検査装置において、良否判定部の良否判定が正常であることを確認し、良否判定部の良否判定が正常であることが確認できたら、感度補正後の動作条件で、被検査物の検査を開始する。   Further, the operation method of the X-ray inspection apparatus according to the present invention is based on a criterion for correcting the sensitivity of the X-ray transmission image forming unit at the start of the operation of the X-ray inspection apparatus and putting the X-ray inspection apparatus into a simulated deterioration state. A simulated degradation image quality level, which is a target level for degrading the image quality of a non-defective image that is determined to be a non-defective image based on the image quality, is set, and X-ray generation is performed in accordance with the set simulated degradation image quality level. The X-ray inspection apparatus is controlled to be in a simulated deterioration state by controlling at least one of the detector, the X-ray detector, and the X-ray transmission image forming section. If it is confirmed that the normality is good and the good / bad determination of the good / bad determination unit is normal, the inspection of the inspection object is started under the operation condition after the sensitivity correction.

本発明によれば、感度補正後の動作条件で動作するX線検査装置が、次の感度補正までの短期間中に生じる経年変化の影響を受けても、X線検査装置を模擬劣化状態にし模擬劣化状態でX線検査装置が良否判定を正常に実行することを確認しているので、不良品を誤って良品として誤判定することがない。   According to the present invention, even if the X-ray inspection apparatus operating under the operating condition after the sensitivity correction is affected by the secular change that occurs during the short period until the next sensitivity correction, the X-ray inspection apparatus is put into a simulated deterioration state. Since it has been confirmed that the X-ray inspection apparatus normally performs the pass / fail determination in the simulated deterioration state, the defective product is not erroneously determined as a non-defective product.

本発明のX線検査装置の一実施の形態の基本構成を示す図である。It is a figure which shows the basic composition of one Embodiment of the X-ray inspection apparatus of this invention. 図1の画像処理装置の機能ブロック図である。It is a functional block diagram of the image processing apparatus of FIG. 模擬劣化画質レベルの概念を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the concept of the simulation degradation image quality level. 良否判定を説明するための図である。It is a figure for demonstrating pass / fail determination. 予め決定された模擬劣化画質レベルを設定する場合の動作を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the operation | movement in the case of setting the simulation degradation image quality level determined beforehand. 模擬劣化画質レベルの設定を示す図である。It is a figure which shows the setting of the simulation degradation image quality level. 演算された模擬劣化画質レベル設定する場合の動作を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the operation | movement in the case of setting the calculated simulation degradation image quality level.

以下、本発明に係わるX線検査装置の実施の形態を説明する。   Embodiments of the X-ray inspection apparatus according to the present invention will be described below.

(X線検査装置の基本構成)
図1に示すように、X線検査装置は、X線発生器10と、X線検出器12と、画像処理装置14とを備えている。X線発生器10は、製造ラインにおいて被検査物である製品16を搬送してくるベルトコンベア18の上方に配置され、X線検出器12はベルトコンベア18の下方であって、X線発生器10に対応した位置に配置される。
(Basic configuration of X-ray inspection equipment)
As shown in FIG. 1, the X-ray inspection apparatus includes an X-ray generator 10, an X-ray detector 12, and an image processing device 14. The X-ray generator 10 is arranged above the belt conveyor 18 that conveys the product 16 to be inspected in the production line, and the X-ray detector 12 is below the belt conveyor 18, and the X-ray generator 10 is arranged at a position corresponding to 10.

X線発生器10は、背景技術で説明したものと同じものである。X線発生器10が内蔵するX線管は、その長手方向が製品の搬送方向(X方向)と直交する幅方向(Y方向)に設けられている。X線管により生成されたX線20は、スリットにより、搬送方向と直交する方向に略三角形状のスクリーン状にして下方のX線検出器12に向けて、照射される。   The X-ray generator 10 is the same as that described in the background art. The X-ray tube built in the X-ray generator 10 is provided in the width direction (Y direction) whose longitudinal direction is orthogonal to the product conveyance direction (X direction). The X-rays 20 generated by the X-ray tube are irradiated toward the lower X-ray detector 12 in the form of a substantially triangular screen in the direction orthogonal to the transport direction by the slit.

X線検出器12は、背景技術で説明したものと同じものであり、製品16に対して照射され透過したX線を受けて、濃度を表す電気信号を出力する。電気信号は、A/D変換器でデジタル濃度信号に変換される。8ビットの場合、このデジタル濃度信号は、256階調の濃度を表示する。A/D変換器は、図示しないが、X線検出器12に内蔵させる。   The X-ray detector 12 is the same as that described in the background art, receives X-rays that have been irradiated and transmitted through the product 16, and outputs an electrical signal representing the concentration. The electric signal is converted into a digital density signal by an A / D converter. In the case of 8 bits, this digital density signal displays a density of 256 gradations. Although not shown, the A / D converter is built in the X-ray detector 12.

画像処理装置14は、デジタル濃度信号からX線透過画像を形成し、このX線透過画像を画像処理して、良品であるか不良品であるかを判定する機能を基本的に有している。   The image processing apparatus 14 basically has a function of forming an X-ray transmission image from the digital density signal and performing image processing on the X-ray transmission image to determine whether the image is a non-defective product or a defective product. .

良否判定の判定基準は、検査の内容、例えば異物の有無の検査、製品の変形(割れや欠け)の検査、製品の欠落(個数不足)の検査等に応じて選択される。   Judgment criteria for pass / fail determination are selected according to the content of inspection, for example, inspection for the presence or absence of foreign matter, inspection of product deformation (cracking or chipping), inspection of product missing (insufficient number), and the like.

異物の有無の場合には、画像処理(例:異物を強調して異物以外を平滑化する)後の画素の濃度に対する閾値であり、製品の変形や欠落の場合には、画像処理(被検査物のエッジを強調して2値化する)後の所定領域の領域数や周囲長、画素数等に対する閾値である。   In the case of the presence or absence of foreign matter, it is a threshold value for the pixel density after image processing (eg, exaggerating the foreign matter and smoothing out the foreign matter), and in the case of product deformation or missing, image processing (inspected) This is a threshold value for the number of areas, the peripheral length, the number of pixels, etc. of a predetermined area after emphasizing the edge of the object and binarizing.

(画像処理装置14の構成)
画像処理装置14は、図2に示すように、入力部22,出力部24,画像処理部26を有するパーソナルコンピュータで構成する。
(Configuration of Image Processing Device 14)
As shown in FIG. 2, the image processing apparatus 14 includes a personal computer having an input unit 22, an output unit 24, and an image processing unit 26.

入力部22は、画像処理部26への指示を入力するものであり、例えばキーボードで構成される。   The input unit 22 inputs an instruction to the image processing unit 26, and is configured by a keyboard, for example.

出力部24は、画像処理部26の出力を表示するものであり、ディスプレイやプリンタで構成される。   The output unit 24 displays the output of the image processing unit 26 and includes a display and a printer.

画像処理部26は、パーソナルコンピュータの中央演算処理部であり、ソフトウエアにより、各種処理を実行する。機能的には、図2に示すように、X線透過画像形成部28、良否判定部30、切換部32、動作確認部34で構成される。   The image processing unit 26 is a central processing unit of a personal computer, and executes various processes using software. Functionally, as shown in FIG. 2, it includes an X-ray transmission image forming unit 28, a pass / fail determination unit 30, a switching unit 32, and an operation confirmation unit 34.

X線透過画像形成部28は、X線検出器12からの濃度信号に基づいてX線透過画像を形成する。X線透過画像は、例えば480ライン(X方向)、1ライン上640個の画素で構成される。したがって、X線透過画像は、640×480画素より成る。1画素の濃度は、256階調(0:白、255:黒)の濃淡で表される。X線透過画像形成部28は、感度補正されて、最良の感度でX線透過画像を形成できるように構成されている。   The X-ray transmission image forming unit 28 forms an X-ray transmission image based on the density signal from the X-ray detector 12. The X-ray transmission image is composed of, for example, 480 lines (X direction) and 640 pixels on one line. Therefore, the X-ray transmission image is composed of 640 × 480 pixels. The density of one pixel is expressed by the light and shade of 256 gradations (0: white, 255: black). The X-ray transmission image forming unit 28 is configured so that the sensitivity is corrected and an X-ray transmission image can be formed with the best sensitivity.

良否判定部30は、X線透過画像を画像処理して、判定基準に基づき、被検査物の良否の判定を行なう。良否判定の判定基準は、検査の内容、例えば異物の有無の検査、製品の変形(割れや欠け)の検査、製品の欠落(個数不足)の検査等に応じて選択される。   The pass / fail determination unit 30 performs image processing on the X-ray transmission image and determines pass / fail of the inspection object based on the determination criterion. Judgment criteria for pass / fail determination are selected according to the content of inspection, for example, inspection for the presence or absence of foreign matter, inspection of product deformation (cracking or chipping), inspection of product missing (insufficient number), and the like.

異物の有無の場合には、画像処理(例:異物を強調して異物以外を平滑化する)後の画素の濃度に対する閾値であり、製品の変形や欠落の場合には、画像処理(被検査物のエッジを強調して2値化する)後の所定領域の領域数や周囲長、画素数等に対する閾値である。   In the case of the presence or absence of foreign matter, it is a threshold value for the pixel density after image processing (eg, exaggerating the foreign matter and smoothing out the foreign matter), and in the case of product deformation or missing, image processing (inspected) This is a threshold value for the number of areas, the peripheral length, the number of pixels, etc. of a predetermined area after emphasizing the edge of the object and binarizing.

このような良否判定部30は、模擬劣化画質レベル設定手段36を有している。模擬劣化画質レベル設定手段36は、模擬劣化画質レベルを設定する。   Such a quality determination unit 30 includes a simulated deterioration image quality level setting unit 36. The simulated degraded image quality level setting unit 36 sets a simulated degraded image quality level.

模擬劣化画質レベルの概念を、以下に詳細に説明する。図3は、良品から採取された良品画像の画質の劣化を説明するものであり。縦軸は画質の劣化の程度を示し、横軸は時間軸である。   The concept of the simulated deterioration image quality level will be described in detail below. FIG. 3 is a diagram for explaining deterioration of the image quality of a non-defective image collected from non-defective products. The vertical axis represents the degree of image quality degradation, and the horizontal axis is the time axis.

良品から採取された良品画像の画質のレベルをL0とする。X線発生器10,X線検出器12,あるいはX線透過画像形成部28の制御によって、徐々に画質を劣化させていく。このような劣化画像に対して良否判定を行なう。   The image quality level of the non-defective image collected from the non-defective product is L0. Under the control of the X-ray generator 10, the X-ray detector 12, or the X-ray transmission image forming unit 28, the image quality is gradually deteriorated. A quality determination is performed on such a deteriorated image.

良否判定は、図4に示すように、選択された判定基準(閾値)により行なわれる。例えば、異物検査の場合は、画素濃度に対する閾値が選択される。画素濃度が暗くなっていき、閾値を超えると、異物有りの不良品であると判定される。   As shown in FIG. 4, the pass / fail judgment is performed according to a selected judgment criterion (threshold value). For example, in the case of foreign matter inspection, a threshold value for pixel density is selected. When the pixel density becomes dark and exceeds the threshold value, it is determined that the product is defective with foreign matter.

不良品であると判定される時点での図3の劣化画像のレベルを、良品画像が不良品画像に遷移したレベルであるとして遷移画質レベルというものとする。遷移画質レベルをL1とする。   The level of the deteriorated image in FIG. 3 at the time when it is determined as a defective product is referred to as a transition image quality level, assuming that the non-defective image has transitioned to a defective product image. The transition image quality level is L1.

模擬劣化画質レベルは、このような遷移画質レベルL1に達する前のレベルに設定される。図中、模擬劣化画質レベルをL2で示す。具体的には、良品画像の画質レベルL0と遷移画質レベルL1との差を、図に示すように、画質劣化度Cとした場合、レベルL0より(1/2〜4/5)Cだけ劣化側に戻したレベルを、模擬劣化画質レベルL2に設定する。この模擬劣化画質レベルL2は、遷移画質レベルL1に対し、余裕度を見込んで設定されている。すなわち、模擬劣化画質レベルL2は、遷移画質レベルL1に対し、少なくとも(1/5)Cの余裕度が確保されている。   The simulated deteriorated image quality level is set to a level before reaching the transition image quality level L1. In the figure, the simulated degraded image quality level is indicated by L2. Specifically, when the difference between the image quality level L0 and the transition image quality level L1 of the non-defective image is an image quality degradation degree C as shown in the figure, the image quality is degraded by (1/2 to 4/5) C from the level L0. The level returned to the side is set to the simulated deteriorated image quality level L2. This simulated deteriorated image quality level L2 is set with an allowance for the transition image quality level L1. That is, the simulated degradation image quality level L2 has a margin of at least (1/5) C with respect to the transition image quality level L1.

模擬劣化画質レベル設定手段36では、このような模擬劣化画質レベルを設定するが、以下の2通りの方法がある。
(1)模擬劣化画質レベル設定手段36は、予め決定された模擬劣化画質レベルが入力され、入力された模擬劣化画質レベルを設定する。
(2)模擬劣化画質レベル設定手段36は、模擬劣化画質レベルを演算し、演算された模擬劣化画質レベル設定する。
The simulated degradation image quality level setting means 36 sets such a simulated degradation image quality level. There are the following two methods.
(1) The simulated degraded image quality level setting means 36 receives a predetermined simulated degraded image quality level and sets the input simulated degraded image quality level.
(2) The simulated degraded image quality level setting unit 36 calculates the simulated degraded image quality level and sets the calculated simulated degraded image quality level.

いずれかの方法により設定された模擬劣化画質レベルは、動作確認部38に送られる。   The simulated degraded image quality level set by any method is sent to the operation check unit 38.

切換部32は、入力部22からの指示により、良否判定部30を、動作確認部34,出力部24のいずれかへの接続を切換える。   The switching unit 32 switches connection of the pass / fail determination unit 30 to either the operation confirmation unit 34 or the output unit 24 according to an instruction from the input unit 22.

動作確認部34は、X線発生器10,X線検出器12,X線透過画像形成部28の少なくとも一つを制御して、X線検査装置を模擬劣化状態にする。X線発生器10を制御して、X線の照射強度を弱めたり、X線検出器12を制御して、電気信号の信号レベルを弱めたり、あるいは、X線透過画像形成部28を制御して、X線透過画像の各画素の濃度を増減させる。   The operation confirmation unit 34 controls at least one of the X-ray generator 10, the X-ray detector 12, and the X-ray transmission image forming unit 28 to put the X-ray inspection apparatus in a simulated deterioration state. The X-ray generator 10 is controlled to decrease the X-ray irradiation intensity, the X-ray detector 12 is controlled to decrease the signal level of the electrical signal, or the X-ray transmission image forming unit 28 is controlled. Thus, the density of each pixel of the X-ray transmission image is increased or decreased.

模擬劣化状態のX線検査装置で製品の検査を行ない、動作確認部34が、X線検査装置の正常動作を確認する。動作確認の結果は、出力部に送られ表示される。   The product is inspected with the simulated X-ray inspection apparatus, and the operation confirmation unit 34 confirms the normal operation of the X-ray inspection apparatus. The result of the operation check is sent to the output unit and displayed.

(X線検査装置の動作)
X線検査装置の動作を、フローチャートを参照しながら説明する。なお、以下の説明においては、
・模擬劣化画質レベル設定手段が、予め決定された模擬劣化画質レベルを設定する場合と、
・模擬劣化画質レベル設定手段36が、模擬劣化画質レベルを演算し、演算された模擬劣化画質レベル設定する場合と、に分けて説明する。
(Operation of X-ray inspection equipment)
The operation of the X-ray inspection apparatus will be described with reference to a flowchart. In the following explanation,
-When the simulated deterioration image quality level setting means sets a predetermined simulated deterioration image quality level;
The case where the simulated degraded image quality level setting unit 36 calculates the simulated degraded image quality level and sets the calculated simulated degraded image quality level will be described separately.

まず、模擬劣化画質レベル設定手段36が、予め決定された模擬劣化画質レベルを設定する場合の動作を、図5のフローチャートを参照して説明する。
・感度補正モード(ステップS1)
製造ラインの可動開始時に、入力部22から、画像処理部26に感度補正を指示する。X線透過画像形成部28は、X線検査装置が最良の感度で動作するように、感度を補正する。感度補正の方法は、種々あるが、例えば感度補正前のX線検査装置で、X線照射時の画像濃度とX線非照射時の画像濃度とを採取し、これらの濃度から補正係数を求めて、製品検査時の実際の画像濃度を変換している(特開2001−4560号公報参照)。
First, the operation when the simulated degradation image quality level setting unit 36 sets a predetermined simulated degradation image quality level will be described with reference to the flowchart of FIG.
・ Sensitivity correction mode (step S1)
At the start of movement of the production line, the input unit 22 instructs the image processing unit 26 to perform sensitivity correction. The X-ray transmission image forming unit 28 corrects the sensitivity so that the X-ray inspection apparatus operates at the best sensitivity. There are various sensitivity correction methods. For example, with an X-ray inspection apparatus before sensitivity correction, the image density at the time of X-ray irradiation and the image density at the time of non-X-ray irradiation are sampled, and a correction coefficient is obtained from these densities. Thus, the actual image density at the time of product inspection is converted (see Japanese Patent Laid-Open No. 2001-4560).

・模擬劣化画質レベル設定モード(ステップS2)
入力部22から、模擬劣化画質レベル設定手段36に模擬劣化画質レベルの設定を指示する。同時に、入力部22の指示により、切換部32を出力部24側に切換える。
-Simulated deterioration image quality level setting mode (step S2)
The input unit 22 instructs the simulated degraded image quality level setting unit 36 to set the simulated degraded image quality level. At the same time, the switching unit 32 is switched to the output unit 24 side according to an instruction from the input unit 22.

模擬劣化画質レベルの設定に先立ち、感度補正されたX線検査装置により、良品の画像を採取する(ステップS21)。良品画像は良否判定部30で判定され、判定結果を出力部24に表示し、良品であることを確認する(ステップS22)。   Prior to setting the simulated deterioration image quality level, a non-defective image is collected by the sensitivity-corrected X-ray inspection apparatus (step S21). The quality image is determined by the quality determination unit 30, and the determination result is displayed on the output unit 24 to confirm that it is a quality product (step S22).

良品であることが確認されたならば、模擬劣化画質レベル設定手段36は、良品画像の画質レベルL0を取得する(ステップS23)。   If it is confirmed that the product is a non-defective product, the simulated degradation image quality level setting unit 36 acquires the image quality level L0 of the good product image (step S23).

入力部22から、予め決定された模擬劣化画質レベルL2を、良否判定部30の模擬劣化画質レベル設定手段36に入力する。模擬劣化画質レベル設定手段36は、良品画像の画質レベルL0をベースにして、予め決定された模擬劣化画質レベルL2を設定する(ステップS24)。本例の場合、模擬劣化画質レベルは、図6に示されるように、良品画像の画質レベルL0より(1/2)Cだけ劣化側に戻ったレベルL2に設定される。なお、この場合、画質劣化度Cは、予めわかっているものとする。   A predetermined simulated degradation image quality level L2 is input from the input unit 22 to the simulated degradation image quality level setting unit 36 of the pass / fail determination unit 30. The simulated degradation image quality level setting means 36 sets a predetermined simulated degradation image quality level L2 based on the image quality level L0 of the non-defective image (step S24). In the case of this example, as shown in FIG. 6, the simulated deteriorated image quality level is set to a level L2 that is returned to the deteriorated side by (1/2) C from the image quality level L0 of the non-defective image. In this case, the image quality deterioration degree C is assumed to be known in advance.

同時に、入力部22からの指示により、切換部32は動作確認部34の側に切換えられる。模擬劣化画質レベルL2は、動作確認部34に送られる。
・動作確認モード(ステップS3)
入力部22から、画像処理部26に動作確認を指示する。これにより、切換部32は、動作確認部34側に切換えられる。
At the same time, the switching unit 32 is switched to the operation confirmation unit 34 side according to an instruction from the input unit 22. The simulated deteriorated image quality level L2 is sent to the operation check unit 34.
・ Operation check mode (step S3)
The input unit 22 instructs the image processing unit 26 to confirm the operation. Thereby, the switching part 32 is switched to the operation confirmation part 34 side.

動作確認部34では、画質を劣化させるように、X線発生器10,X線検出器12,X線透過画像形成部28の少なくとも一つを制御する。本例では、X線発生器10を制御するものとする。   The operation confirmation unit 34 controls at least one of the X-ray generator 10, the X-ray detector 12, and the X-ray transmission image forming unit 28 so as to degrade the image quality. In this example, it is assumed that the X-ray generator 10 is controlled.

動作確認部38では、設定された模擬劣化画質レベルに対応させてX線の出力を減弱するようにX線発生器10の管電流を制御する。X線発生器10の管電流を制御すると、X線の照射量が小さくなり、被検査物を透過したX線の透過量も照射量に応じて小さくなるので、X線検出器の出力する電気信号も小さくなり、全体が暗い画像となり、画質が劣化する。これにより、X線検査装置は、模擬劣化状態に置かれたことになる。   The operation confirmation unit 38 controls the tube current of the X-ray generator 10 so as to attenuate the X-ray output in accordance with the set simulated deterioration image quality level. When the tube current of the X-ray generator 10 is controlled, the amount of X-ray irradiation decreases, and the amount of X-ray transmitted through the object to be inspected decreases according to the amount of irradiation. The signal also becomes small, the whole image becomes dark, and the image quality deteriorates. As a result, the X-ray inspection apparatus is placed in a simulated deterioration state.

次に、このような模擬劣化状態のX線検査装置を動作させて、製品を検査し、良否判定部30で良否判定を行ない、良否判定が正常に実行されていることを確認する。   Next, the X-ray inspection apparatus in such a simulated deterioration state is operated to inspect the product, and the pass / fail determination unit 30 performs pass / fail determination to confirm that the pass / fail determination is executed normally.

良否判定には、良品であることがわかっている製品を用いてX線透過画像を良否判定し、良品であるときに良否判定が正常であると確認できる。当然のことながら、不良品であることがわかっている製品をも用い、良品判定と不良品判定の両方を確認してもよい。良品であることがわかっている製品および不良品であることがわかっている製品のいずれを用いるかや、いずれの順序で用いるかを、出力部24の画面に表示するようにしてもよい。   In the pass / fail judgment, an X-ray transmission image is judged pass / fail using a product known to be a non-defective product, and it can be confirmed that the pass / fail judgment is normal when the product is good. As a matter of course, a product that is known to be defective may be used, and both good product determination and defective product determination may be confirmed. It may be displayed on the screen of the output unit 24 which one of products that are known to be non-defective products and products that are known to be defective products, and in which order is used.

また、動作確認部38の動作確認結果は、出力部24に送られ表示される。   The operation confirmation result of the operation confirmation unit 38 is sent to the output unit 24 and displayed.

・通常動作モード(ステップS4)
動作確認モードでX線検査装置の良否判定が正常に実行されることが確認できたならば、入力部22から、通常動作モードの指示なされ、切換部32は出力部24側に切換えられる。
Normal operation mode (Step S4)
If it can be confirmed that the quality determination of the X-ray inspection apparatus is normally executed in the operation confirmation mode, the normal operation mode is instructed from the input unit 22, and the switching unit 32 is switched to the output unit 24 side.

製造ラインが稼働され、X線検査装置は、製造ラインの稼働開始時に行なった感度補正後の動作条件で、ベルトコンベアで搬送されてくる製品を順次検査して、良品,不良品の判定が行なわれる。   The production line is in operation, and the X-ray inspection equipment sequentially inspects the products conveyed by the belt conveyor under the operating conditions after sensitivity correction performed at the start of operation of the production line, and determines whether the product is good or defective. It is.

通常動作モードでは、次の感度補正がなされるまでの期間に、仮にX線発生器および/またはX線検出器に経年変化があり、X線検査装置に精度の低下があったとしても、正常動作を保証することができる。   In the normal operation mode, even if there is a secular change in the X-ray generator and / or the X-ray detector during the period until the next sensitivity correction is made, even if the accuracy of the X-ray inspection apparatus is reduced, it is normal. Operation can be guaranteed.

次に、模擬劣化画質レベル設定手段36が、模擬劣化画質レベルを演算し、演算された模擬劣化画質レベル設定する場合の動作を、図7のフローチャートを参照して説明する。なお、図7のフローチャートは、図5のフローチャートにおいて模擬劣化画質レベル設定モード(ステップS2)が異なるのみであるので、模擬劣化画質レベル設定モードのみを説明する。   Next, the operation when the simulated deterioration image quality level setting unit 36 calculates the simulated deterioration image quality level and sets the calculated simulated deterioration image quality level will be described with reference to the flowchart of FIG. The flowchart in FIG. 7 is different from the flowchart in FIG. 5 only in the simulated degradation image quality level setting mode (step S2), and therefore only the simulated degradation image quality level setting mode will be described.

・模擬劣化画質レベル設定モード(ステップS2)
入力部22から、模擬劣化画質レベル設定手段36に模擬劣化画質レベルの演算を指示する。同時に、入力部22の指示により、切換部32を出力部24側に切換える。
-Simulated deterioration image quality level setting mode (step S2)
The input unit 22 instructs the simulated degraded image quality level setting unit 36 to calculate the simulated degraded image quality level. At the same time, the switching unit 32 is switched to the output unit 24 side according to an instruction from the input unit 22.

模擬劣化画質レベルの演算に先立ち、感度補正されたX線検査装置により、良品の画像を採取する(ステップS21)。良品画像は良否判定部30で判定され、判定結果を出力部24に表示し、良品であることを確認する(ステップS22)。   Prior to the calculation of the simulated degradation image quality level, a non-defective image is collected by the sensitivity-corrected X-ray inspection apparatus (step S21). The quality image is determined by the quality determination unit 30, and the determination result is displayed on the output unit 24 to confirm that it is a quality product (step S22).

良品であることが確認されたならば、模擬劣化画質レベル設定手段36は、良品画像の画質レベルL0を取得する(ステップS23)。   If it is confirmed that the product is a non-defective product, the simulated degradation image quality level setting unit 36 acquires the image quality level L0 of the good product image (step S23).

続いて、模擬劣化画質レベル設定手段30は、前述した動作確認モードと同様に、X線発生器10,X線検出器12,X線透過画像形成部28の少なくとも一つを制御して、本例では、X線発生器10の管電流を低下させていき、良品画像を暗くしていき、画質を徐々に劣化させていく(ステップS24)。   Subsequently, the simulated degradation image quality level setting means 30 controls at least one of the X-ray generator 10, the X-ray detector 12, and the X-ray transmission image forming unit 28 in the same manner as in the above-described operation confirmation mode. In the example, the tube current of the X-ray generator 10 is decreased, the non-defective image is darkened, and the image quality is gradually deteriorated (step S24).

このとき、良否判定部30は、劣化していく画像に基づいて良否判定を行なう(ステップS25)。判定が不良品となった画質レベルを遷移画質レベルL1として取込む(ステップS26)。   At this time, the quality determination unit 30 performs quality determination based on the image that deteriorates (step S25). The image quality level at which the determination is defective is taken in as a transition image quality level L1 (step S26).

レベルL0とレベルL1との差である画質劣化度Cを算出し(ステップS27)、余裕度を見込んで、レベルL0より(1/2〜4/5)Cだけ、例えば(1/2)Cだけ劣化側に戻したレベルを、模擬劣化画質レベルL2に設定する(ステップS28)。   The image quality degradation degree C which is the difference between the level L0 and the level L1 is calculated (step S27), and the margin is estimated, and only (1/2 to 4/5) C from the level L0, for example, (1/2) C. The level returned to the degraded side is set to the simulated degraded image quality level L2 (step S28).

以下の動作は、前述した動作確認モード(ステップS3)および通常動作モード(ステップS4)と同一である。   The following operations are the same as the operation confirmation mode (step S3) and the normal operation mode (step S4) described above.

本発明は、製品内に混入された異物を検出したり、製品の変形(割れや欠け)を検査したり、あるいは製品の欠落(個数不足)を検査するX線検査装置にてきようできる。このようなX線検査装置は、例えば生産ラインに設置されて、ベルトコンベアのような搬送手段によって搬送されてくる製品を検査をすることができる。   The present invention can be an X-ray inspection apparatus that detects foreign matters mixed in a product, inspects deformation (cracking or chipping) of a product, or inspects product missing (number shortage). Such an X-ray inspection apparatus is installed in a production line, for example, and can inspect a product conveyed by a conveying means such as a belt conveyor.

10 X線発生器
12 X線検出器
14 画像処理装置
22 入力部
24 出力部
26 画像処理部
28 X線透過画像形成部
30 良否判定部
32 切換部
34 動作確認部
36 模擬劣化画質レベル設定手段(設定手段)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 X-ray generator 12 X-ray detector 14 Image processing apparatus 22 Input part 24 Output part 26 Image processing part 28 X-ray transmissive image formation part 30 Pass / fail judgment part 32 Switching part 34 Operation | movement confirmation part 36 Simulated degradation image quality level setting means ( Setting method)

Claims (13)

被検査物に照射するX線を発生するX線発生器と、
前記被検査物を透過したX線を電気信号に変換するX線検出器と、
前記X線検出器の出力する電気信号に基づいてX線透過画像を形成するX線透過画像形成部と、
前記X線透過画像および予め設定された判定基準に基づいて、前記被検査物を良否判定する良否判定部とを備えるX線検査装置において、
前記良否判定部は、模擬劣化画質レベル設定手段を有し、前記模擬劣化画質レベル設定手段は、前記X線検査装置を模擬劣化状態にするために、前記判定基準に基づいて良品と判定されるようなX線透過画像である良品画像の画質を劣化させる目標レベルである模擬劣化画質レベルを設定し、
設定された前記模擬劣化画質レベルに対応させて、前記X線発生器,前記X線検出器,前記X線透過画像形成部の少なくとも一つを制御して、前記X線検査装置を模擬劣化状態にし、模擬劣化状態にある前記X線検査装置において、前記良否判定部の良否判定が正常であることを確認する動作確認部をさらに備える、ことを特徴とするX線検査装置。
An X-ray generator for generating X-rays to irradiate the inspection object;
An X-ray detector for converting X-rays transmitted through the inspection object into electrical signals;
An X-ray transmission image forming unit that forms an X-ray transmission image based on an electrical signal output from the X-ray detector;
In an X-ray inspection apparatus comprising: a pass / fail determination unit that determines pass / fail of the inspection object based on the X-ray transmission image and a predetermined criterion.
The pass / fail determination unit includes a simulated degradation image quality level setting unit, and the simulated degradation image quality level setting unit is determined to be a non-defective product based on the determination criterion in order to put the X-ray inspection apparatus into a simulated degradation state. Setting a simulated degradation image quality level that is a target level for degrading the image quality of a non-defective image that is such an X-ray transmission image,
The at least one of the X-ray generator, the X-ray detector, and the X-ray transmission image forming unit is controlled to correspond to the set simulated deterioration image quality level, and the X-ray inspection apparatus is in a simulated deterioration state. In the X-ray inspection apparatus in the simulated deterioration state, the X-ray inspection apparatus further includes an operation confirmation unit for confirming whether the quality determination unit is normal.
前記模擬劣化画質レベル設定手段は、前記良品画像の画質レベルL0と、前記良品画像の画質を劣化させていったときに、前記判定基準に基づいて良品から不良品へ遷移したと判定される画質レベルL1とを取得し、前記画質レベルL0と前記画質レベルL1との差である画質劣化度に基づいて、前記模擬劣化画質レベルを設定する、ことを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。   The simulated deterioration image quality level setting means determines the image quality level L0 of the non-defective image and the image quality determined to have transitioned from a non-defective product to a defective product based on the determination criterion when the image quality of the non-defective image is deteriorated. 2. The X-ray according to claim 1, wherein the level L 1 is acquired, and the simulated degradation image quality level is set based on an image quality degradation level that is a difference between the image quality level L 0 and the image quality level L 1. Inspection device. 前記模擬劣化画質レベル設定手段は、前記模擬劣化画質レベルが、前記画質レベルL1に対して所定の余裕度を有するように、前記模擬劣化画質レベルを設定する、ことを特徴とする請求項2に記載のX線検査装置。   3. The simulated degraded image quality level setting unit sets the simulated degraded image quality level so that the simulated degraded image quality level has a predetermined margin with respect to the image quality level L1. The X-ray inspection apparatus described. 前記模擬劣化画質レベル設定手段は、予め決定された前記模擬劣化画質レベルが入力され、入力された前記模擬劣化画質レベルを設定する、ことを特徴とする請求項3に記載のX線検査装置。   The X-ray inspection apparatus according to claim 3, wherein the simulated degradation image quality level setting unit receives the simulated degradation image quality level determined in advance and sets the input simulated degradation image quality level. 前記模擬劣化画質レベル設定手段は、前記模擬劣化画質レベルを演算し、演算された前記模擬劣化画質レベルを設定する、ことを特徴とする請求項3に記載のX線検査装置。   The X-ray inspection apparatus according to claim 3, wherein the simulated deterioration image quality level setting unit calculates the simulated deterioration image quality level and sets the calculated simulated deterioration image quality level. 前記動作確認部は、前記X線発生器を制御して、X線の照射強度を弱めることにより、前記良品画像の画質を前記模擬劣化画質レベルに劣化させる、ことを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載のX線検査装置。   The said operation confirmation part controls the said X-ray generator, and reduces the image quality of the said non-defective image to the said simulated degradation image quality level by weakening the irradiation intensity | strength of X-ray | X_line. The X-ray inspection apparatus according to any one of 5. 前記動作確認部は、前記X線検出器を制御して、前記電気信号の信号レベルを弱めることにより、前記良品画像の画質を前記模擬劣化画質レベルに劣化させる、ことを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載のX線検査装置。   2. The operation confirmation unit controls the X-ray detector to weaken the signal level of the electrical signal, thereby degrading the quality of the non-defective image to the simulated degradation image quality level. X-ray inspection apparatus in any one of -6. 前記動作確認部は、前記X線透過画像形成部を制御して、前記X線透過画像の各画素の濃度を増減させることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載のX線検査装置。   The X-ray inspection according to claim 1, wherein the operation confirmation unit controls the X-ray transmission image forming unit to increase or decrease the density of each pixel of the X-ray transmission image. apparatus. 前記X線透過画像形成部は、感度補正機能を有し、
前記X線透過画像形成部は、感度補正された前記X線透過画像を形成し、
前記模擬劣化画質レベル設定部は、感度補正された前記良品画像に基づいて、模擬劣化画質レベルを設定する、ことを特徴とする請求項1〜8のいずれかに記載のX線検査装置。
The X-ray transmission image forming unit has a sensitivity correction function,
The X-ray transmission image forming unit forms the X-ray transmission image whose sensitivity is corrected,
The X-ray inspection apparatus according to claim 1, wherein the simulated deterioration image quality level setting unit sets a simulated deterioration image quality level based on the quality-corrected non-defective image.
被検査物に照射するX線を発生するX線発生器と、
前記被検査物を透過したX線を電気信号に変換するX線検出器と、
前記X線検出器の出力する電気信号に基づいてX線透過画像を形成するX線透過画像形成部と、
前記X線透過画像および予め設定された判定基準に基づいて、前記被検査物を良否判定する良否判定部とを備えるX線検査装置の動作方法において、
前記X線検査装置の動作開始時に、前記X線透過画像形成部の感度補正を行ない、
前記X線検査装置を模擬劣化状態にするために、前記判定基準に基づいて良品と判定されるようなX線透過画像である良品画像の画質を劣化させる目標レベルである模擬劣化画質レベルを設定し、
設定された前記模擬劣化画質レベルに対応させて、前記X線発生器,前記X線検出器,前記X線透過画像形成部の少なくとも一つを制御して、前記X線検査装置を模擬劣化状態にし、模擬劣化状態にある前記X線検査装置において、前記良否判定部の良否判定が正常であることを確認し、
前記良否判定部の良否判定が正常であることが確認できたら、感度補正後の動作条件で、被検査物の検査を開始する、ことを特徴とするX線検査装置の動作方法。
An X-ray generator for generating X-rays to irradiate the inspection object;
An X-ray detector for converting X-rays transmitted through the inspection object into electrical signals;
An X-ray transmission image forming unit that forms an X-ray transmission image based on an electrical signal output from the X-ray detector;
In an operation method of an X-ray inspection apparatus comprising: a pass / fail determination unit that determines pass / fail of the inspection object based on the X-ray transmission image and a predetermined criterion.
At the start of operation of the X-ray inspection apparatus, sensitivity correction of the X-ray transmission image forming unit is performed,
In order to put the X-ray inspection apparatus in a simulated deterioration state, a simulated deterioration image quality level that is a target level for degrading the image quality of a non-defective image that is an X-ray transmission image that is determined to be non-defective based on the determination criterion is set. And
The at least one of the X-ray generator, the X-ray detector, and the X-ray transmission image forming unit is controlled to correspond to the set simulated deterioration image quality level, and the X-ray inspection apparatus is in a simulated deterioration state. In the X-ray inspection apparatus in the simulated deterioration state, confirm that the pass / fail judgment of the pass / fail judgment unit is normal,
An X-ray inspection apparatus operating method, comprising: inspecting an inspection object under an operation condition after sensitivity correction when it is confirmed that the quality determination by the quality determination unit is normal.
前記動作確認時に、前記X線発生器を制御して、X線の照射強度を弱めることにより、前記良品画像の画質を前記模擬劣化画質レベルに劣化させる、ことを特徴とする請求項10に記載のX線検査装置の動作方法。   The image quality of the non-defective image is degraded to the simulated degradation image quality level by controlling the X-ray generator and reducing the X-ray irradiation intensity at the time of the operation check. Method of X-ray inspection apparatus. 前記動作確認時に、前記X線検出器を制御して、前記電気信号の信号レベルを弱めることにより、前記良品画像の画質を前記模擬劣化画質レベルに劣化させる、ことを特徴とする請求項10または11に記載のX線検査装置。   11. The image quality of the non-defective image is degraded to the simulated degradation image quality level by controlling the X-ray detector and weakening the signal level of the electrical signal when the operation is confirmed. The X-ray inspection apparatus according to 11. 前記動作確認時に、前記X線透過画像形成部を制御して、前記X線透過画像の各画素の濃度を増減させることを特徴とする請求項10,11または12に記載のX線検査装置。   The X-ray inspection apparatus according to claim 10, wherein the X-ray transmission image forming unit is controlled to increase or decrease the density of each pixel of the X-ray transmission image when the operation is confirmed.
JP2010078468A 2010-03-30 2010-03-30 X-ray inspection apparatus and operation method thereof Active JP5466560B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010078468A JP5466560B2 (en) 2010-03-30 2010-03-30 X-ray inspection apparatus and operation method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010078468A JP5466560B2 (en) 2010-03-30 2010-03-30 X-ray inspection apparatus and operation method thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011209177A true JP2011209177A (en) 2011-10-20
JP5466560B2 JP5466560B2 (en) 2014-04-09

Family

ID=44940393

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010078468A Active JP5466560B2 (en) 2010-03-30 2010-03-30 X-ray inspection apparatus and operation method thereof

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5466560B2 (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014020793A (en) * 2012-07-12 2014-02-03 Anritsu Sanki System Co Ltd Conveyance device and x-ray inspection device
JP2014041019A (en) * 2012-08-21 2014-03-06 Ishida Co Ltd X-ray inspection device
JP2015059795A (en) * 2013-09-18 2015-03-30 株式会社イシダ Damage inspection device
JP2018028514A (en) * 2016-08-19 2018-02-22 株式会社イシダ X-ray inspection device
DE102019133105A1 (en) 2018-12-13 2020-06-18 Anritsu Infivis Co., Ltd. ARTICLE INSPECTION DEVICE

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001004560A (en) * 1999-06-16 2001-01-12 Shimadzu Corp X-ray inspecting device
JP2002181736A (en) * 2000-12-15 2002-06-26 Shimadzu Corp Apparatus for inspecting foreign matter
JP2005338666A (en) * 2004-05-31 2005-12-08 Nec Corp Image pattern correction method, simulated image generation method using the same and pattern appearance inspection method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001004560A (en) * 1999-06-16 2001-01-12 Shimadzu Corp X-ray inspecting device
JP2002181736A (en) * 2000-12-15 2002-06-26 Shimadzu Corp Apparatus for inspecting foreign matter
JP2005338666A (en) * 2004-05-31 2005-12-08 Nec Corp Image pattern correction method, simulated image generation method using the same and pattern appearance inspection method

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014020793A (en) * 2012-07-12 2014-02-03 Anritsu Sanki System Co Ltd Conveyance device and x-ray inspection device
JP2014041019A (en) * 2012-08-21 2014-03-06 Ishida Co Ltd X-ray inspection device
JP2015059795A (en) * 2013-09-18 2015-03-30 株式会社イシダ Damage inspection device
JP2018028514A (en) * 2016-08-19 2018-02-22 株式会社イシダ X-ray inspection device
WO2018034170A1 (en) * 2016-08-19 2018-02-22 株式会社イシダ X-ray inspection device
US10422757B2 (en) 2016-08-19 2019-09-24 Ishida Co., Ltd. X-ray inspection device
DE102019133105A1 (en) 2018-12-13 2020-06-18 Anritsu Infivis Co., Ltd. ARTICLE INSPECTION DEVICE
US11193815B2 (en) 2018-12-13 2021-12-07 Anritsu Corporation Article inspection apparatus
DE102019133105B4 (en) 2018-12-13 2024-05-02 Anritsu Corporation ARTICLE CHECKING DEVICE

Also Published As

Publication number Publication date
JP5466560B2 (en) 2014-04-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5466560B2 (en) X-ray inspection apparatus and operation method thereof
JP4317566B2 (en) X-ray inspection apparatus and method for generating image processing procedure of X-ray inspection apparatus
EP2045596B1 (en) X-ray apparatus and method for determining appropriate calibration positions of a conveyor by means of a histogram
JP2010230452A (en) Method for inspecting defect and defect inspection system
JP2007333562A (en) X-ray foreign matter detector
JP5580609B2 (en) X-ray foreign object detection device and X-ray foreign object detection method
US8198596B2 (en) Imaging system and image defect correcting method
JP6574797B2 (en) X-ray inspection equipment
JP6546208B2 (en) X-ray inspection device
CN116223543A (en) X-ray inspection device, X-ray inspection system, and X-ray inspection method
WO2018034170A1 (en) X-ray inspection device
JP2005003480A (en) X-ray examination apparatus
JP6483427B2 (en) X-ray inspection equipment
JPH1026592A (en) X-ray type foreign matter inspecting apparatus
JP6388826B2 (en) X-ray inspection equipment
JP5346250B2 (en) Light-emitting device inspection device, light-emitting device inspection system, and light-emitting device inspection method
JP5654252B2 (en) X-ray inspection equipment
JP2011007638A (en) Device and system of inspecting light emitting apparatus
JP7102303B2 (en) X-ray inspection device and X-ray generator height adjustment method
JP6901294B2 (en) X-ray inspection equipment
JP4669250B2 (en) X-ray inspection equipment
JP6774895B2 (en) X-ray inspection equipment
JP2008224483A (en) X-ray inspection device
JP2013205338A (en) X-ray inspection apparatus
JP6678612B2 (en) X-ray inspection equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130306

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131213

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140107

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140124

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5466560

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250